CN110226075A - 检测装置 - Google Patents

检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN110226075A
CN110226075A CN201780084710.9A CN201780084710A CN110226075A CN 110226075 A CN110226075 A CN 110226075A CN 201780084710 A CN201780084710 A CN 201780084710A CN 110226075 A CN110226075 A CN 110226075A
Authority
CN
China
Prior art keywords
similarity
data
calculated
unit
phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN201780084710.9A
Other languages
English (en)
Inventor
堀淳二
阪田恒次
桥口拓弥
望月敬太
渡边清高
笹井浩之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of CN110226075A publication Critical patent/CN110226075A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
    • D—TEXTILES; PAPER
    • D01—NATURAL OR MAN-MADE THREADS OR FIBRES; SPINNING
    • D01H—SPINNING OR TWISTING
    • D01H13/00—Other common constructional features, details or accessories
    • D01H13/32—Counting, measuring, recording or registering devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • D—TEXTILES; PAPER
    • D07—ROPES; CABLES OTHER THAN ELECTRIC
    • D07B—ROPES OR CABLES IN GENERAL
    • D07B1/00—Constructional features of ropes or cables
    • D07B1/14—Ropes or cables with incorporated auxiliary elements, e.g. for marking, extending throughout the length of the rope or cable
    • D07B1/145—Ropes or cables with incorporated auxiliary elements, e.g. for marking, extending throughout the length of the rope or cable comprising elements for indicating or detecting the rope or cable status
    • D—TEXTILES; PAPER
    • D07—ROPES; CABLES OTHER THAN ELECTRIC
    • D07B—ROPES OR CABLES IN GENERAL
    • D07B2301/00—Controls
    • D07B2301/55—Sensors
    • D07B2301/5531—Sensors using electric means or elements
    • D07B2301/5572—Sensors using electric means or elements optical

Landscapes

  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Spinning Or Twisting Of Yarns (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

相位计算部(12)计算以由相似度计算部(11)计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的偏角作为第1相位。相位计算部(12)计算以由相似度计算部(11)计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的偏角作为第2相位。周期计算部(13)根据由相位计算部(12)计算出的第1相位和第2相位，计算长条体上形成的图案的周期。异常检测部(14)根据由周期计算部(13)计算出的周期检测长条体的异常。

Description

检测装置
技术领域
本发明涉及以长条体为检测对象的检测装置。
背景技术
在专利文献1中记载有检查绳索的装置。专利文献1所述的装置具有光源和受光元件。在光源与受光元件之间配置有绳索。在专利文献1所述的装置中，根据受光元件接收到的光量计算绳索的直径。使计算出的直径的峰值间隔与绳股的间隔一致，由此计算绳索的位置。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：国际公开第2011/108173号
发明内容
发明要解决的课题
在专利文献1所述的装置中，当绳索的移动速度变动时，无法区分是绳索的移动速度变动还是绳索的绳股间距变动。即，在专利文献1所述的装置采用的检测方法中，当绳索的移动速度变动时，无法检测绳索中产生的异常，例如间距异常。
本发明正是为了解决上述课题而完成的。本发明的目的在于提供一种检测装置，在长条体的移动速度变动的情况下，也能够检测长条体的异常。
用于解决课题的手段
本发明的检测装置具有：数据取得单元，其取得表面具有周期性图案的长条体的第1表面数据和第2表面数据；存储单元，其存储第1基准数据和第2基准数据；相似度计算单元，其计算由数据取得单元取得的第1表面数据与第1基准数据的第1相似度、由数据取得单元取得的第1表面数据与第2基准数据的第2相似度、由数据取得单元取得的第2表面数据与第1基准数据的第3相似度和由数据取得单元取得的第2表面数据与第2基准数据的第4相似度；相位计算单元，其计算以由相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的偏角作为第1相位，计算以由相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的偏角作为第2相位；周期计算单元，其根据由相位计算单元计算出的第1相位和第2相位，计算长条体上形成的图案的周期；以及第1异常检测单元，其根据由周期计算单元计算出的周期，检测长条体的异常。
本发明的检测装置具有：数据取得单元，其取得表面具有周期性图案的长条体的多个表面数据；存储单元，其存储第1基准数据和第2基准数据；选择单元，其从由数据取得单元取得的表面数据中选择第1表面数据和第2表面数据；相似度计算单元，其计算由选择单元选择出的第1表面数据与第1基准数据的第1相似度、由选择单元选择出的第1表面数据与第2基准数据的第2相似度、由选择单元选择出的第2表面数据与第1基准数据的第3相似度和由选择单元选择出的第2表面数据与第2基准数据的第4相似度；相位计算单元，其计算以由相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的偏角作为第1相位，计算以由相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的偏角作为第2相位；周期计算单元，其根据由相位计算单元计算出的第1相位和第2相位，计算长条体上形成的图案的周期；以及第1异常检测单元，其根据由周期计算单元计算出的周期，检测长条体的异常。
本发明的检测装置具有：数据取得单元，其取得表面具有周期性图案的第1长条体的第1表面数据和表面具有与第1长条体的表面形成的图案相同的图案的第2长条体的第2表面数据；存储单元，其存储第1基准数据和第2基准数据；相似度计算单元，其计算由数据取得单元取得的第1表面数据与第1基准数据的第1相似度、由数据取得单元取得的第1表面数据与第2基准数据的第2相似度、由数据取得单元取得的第2表面数据与第1基准数据的第3相似度和由数据取得单元取得的第2表面数据与第2基准数据的第4相似度；相位计算单元，其计算以由相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的偏角作为第1相位，计算以由相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的偏角作为第2相位；以及第1异常检测单元，其根据由相位计算单元计算出的第1相位和第2相位，检测第1长条体或第2长条体产生了异常的情况。
发明效果
本发明的检测装置例如具有相似度计算单元、相位计算单元、周期计算单元和第1异常检测单元。相位计算单元计算第1相似度向量的偏角作为第1相位，计算第2相似度向量的偏角作为第2相位。周期计算单元根据由相位计算单元计算出的第1相位和第2相位，计算长条体上形成的图案的周期。第1异常检测单元根据由周期计算单元计算出的周期检测长条体的异常。如果是本发明的检测装置，则在长条体的移动速度变动的情况下，也能够检测长条体的异常。
附图说明
图1是示出本发明的实施方式1中的检测装置的例子的图。
图2是从图1所示的箭头A的方向观察长条体的图。
图3是示出由受光元件取得的受光图像的处理方法的图。
图4是示出控制装置的例子的图。
图5是用于说明数据处理部的功能的图。
图6是示出基准数据的例子的图。
图7是用于说明相位计算部的功能的图。
图8是示出本发明的实施方式1中的检测装置的动作例的流程图。
图9是用于说明传感器头的另一例的图。
图10是示出由受光元件取得的受光图像的处理方法的图。
图11是用于说明传感器头的另一例的图。
图12是用于说明传感器头的另一例的图。
图13是示出由摄像机拍摄到的图像数据的处理方法的图。
图14是示出本发明的实施方式2中的控制装置的例子的图。
图15是示出本发明的实施方式2中的检测装置的动作例的流程图。
图16是用于说明选择部的功能的图。
图17是示出本发明的实施方式3中的检测装置的例子的图。
图18是从图17所示的箭头A的方向观察长条体的图。
图19是示出由受光元件取得的受光图像的处理方法的图。
图20是示出控制装置的例子的图。
图21是用于说明相位计算部的功能的图。
图22是示出控制装置的硬件结构的例子的图。
具体实施方式
参照附图对本发明进行说明。适当简化或省略重复的说明。在各图中，相同的标号表示相同的部分或相当的部分。
实施方式1
图1是示出本发明的实施方式1中的检测装置的例子的图。检测装置是用于检测长条体的异常的装置。长条体例如包含绳索1。图2是从图1所示的箭头A的方向观察长条体的图。
为了容易说明，如图1和图2所示，设定x轴、y轴和z轴。y轴是朝向长条体的长度方向的轴。x轴与y轴和z轴正交。z轴与y轴和x轴正交。x轴、y轴和z轴是为了表示三维空间上的坐标而设定的轴。图2相当于从+z方向观察长条体的图。
长条体在长度方向上移动。例如，绳索1向+y方向或-y方向移动。作为这样移动的绳索1的例子，可举出电梯中使用的缆绳。绳索1也可以向+y方向和-y方向双方移动。另外，检测装置设为检测对象的长条体不限于绳索1。
绳索1具有多个绳股。绳索1是通过捻合多个绳股而形成的。因此，绳索1在表面具有周期性图案。本检测装置检测异常的对象是表面具有周期性图案的长条体。“图案”例如包含形状、图形、颜色和颜色的深浅。图1和图2示出捻合8条绳股而形成绳索1的例子。在绳索1的表面有规则地排列有通过捻合多个绳股而形成的凹凸。理想的绳索1的截面形状每隔捻合间距除以绳股数量而得到的距离而相同。上述截面是与绳索1的长度方向正交的方向的截面。捻合间距除以绳股数量而得到的距离是绳股间距，即图案的周期。
在本实施方式所示的例子中，检测装置计算长条体上形成的图案的周期，判定有无异常。检测装置例如具有传感器头2和控制装置3。
传感器头2是取得长条体的表面数据的单元的一例。“表面数据”是与长条体的表面的图案有关的数据。在本实施方式所示的例子中，传感器头2同时取得长条体的2个部位的表面数据。例如，传感器头2取得表示绳索1中的通过第1位置的部分的表面形成的凹凸的数据作为第1表面数据。同时，传感器头2取得表示绳索1中的通过第2位置的部分的表面形成的凹凸的数据作为第2表面数据。第2位置是与第1位置不同的位置。例如，第2位置是从第1位置起在y轴方向上分开一定距离的位置。图1示出传感器头2是光学式外形测定器的例子。传感器头2例如具有光源4、光源5、受光元件6和受光元件7。
光源4对绳索1的表面照射光。图1和图2示出光源4向与绳索1的长度方向正交的方向照射激光的例子。从光源4照射的光照射到绳索1中的通过第1位置的部分的表面。在图1和图2所示的例子中，从光源4照射的光以横穿绳索1的方式呈直线状从绳索1的一侧的端部照射到另一侧的端部。
光源5对绳索1的表面照射光。光源5与从光源4照射的光平行地照射光。光源5照射光的时刻与光源4照射光的时刻相同。图1和图2示出光源5向与绳索1的长度方向正交的方向照射激光的例子。从光源5照射的光照射到绳索1中的通过第2位置的部分的表面。即，从光源5照射的光在从来自光源4的光照射到绳索1的位置起在y轴方向上分开一定距离的位置处照射到绳索1。在图1和图2所示的例子中，从光源5照射的光以横穿绳索1的方式呈直线状从绳索1的一侧的端部照射到另一侧的端部。
受光元件6接收从光源4照射的光中的由绳索1的表面反射后的光。受光元件6相对于光源4照射光的方向倾斜配置。受光元件6接收由绳索1的表面反射后的来自光源4的光中的相对于绳索1的长度方向以一定角度倾斜反射后的光。
受光元件7接收从光源5照射的光中的由绳索1的表面反射后的光。受光元件7相对于光源5照射光的方向倾斜配置。受光元件7接收由绳索1的表面反射后的来自光源5的光中的相对于绳索1的长度方向以一定角度倾斜反射后的光。例如，受光元件7接收在绳索1的表面以与受光元件6接收的光相同的角度反射后的光。
图1和图2所示的光a是从光源4朝向绳索1照射的光。例如，光a以y＝L1照射到绳索1的表面。光b和光c是由绳索1的表面反射后的光a中的、以由受光元件6进行接收的角度反射后的光。光b是由绳股的最外侧鼓出的部分反射后的光。光c是由相邻的绳股形成的槽的部分反射后的光。受光元件6接收光b和光c等，由此，传感器头2取得表示来自光源4的光照射的部分的截面形状的数据作为第1表面数据。
图1和图2所示的光d是从光源5朝向绳索1照射的光。例如，光d以y＝L2照射到绳索1的表面。光e和光f是由绳索1的表面反射后的光d中的、以由受光元件7进行接收的角度反射后的光。光e是由绳股的最外侧鼓出的部分反射后的光。光f是由相邻的绳股形成的槽的部分反射后的光。受光元件7接收光e和光f等，由此，传感器头2取得表示来自光源5的光照射的部分的截面形状的数据作为第2表面数据。
图3是示出由受光元件6和受光元件7取得的受光图像的处理方法的图。图3的上段示出受光元件6的受光图像和受光元件7的受光图像。图3的下段示出从受光元件6的受光图像转换而成的第1表面数据P1和从受光元件7的受光图像转换而成的第2表面数据P2。图3的下段的横轴示出第1表面数据P1和第2表面数据P2在x方向上分别包含多个数据。表面数据包含的数据的个数任意决定。
在本实施方式所示的例子中，控制装置3根据由传感器头2取得的第1表面数据和第2表面数据，检测绳索1中产生的间距异常。即，控制装置3检测长条体的表面形成的图案的周期异常。图1示出控制装置3通过信号线8而与传感器头2连接的例子。可以将传感器头2和控制装置3配置在相同的壳体内。传感器头2也可以具有控制装置3具有的功能的一部分。
图4是示出控制装置3的例子的图。控制装置3例如具有存储部9、数据处理部10、相似度计算部11、相位计算部12、周期计算部13和异常检测部14。
在存储部9中存储有2个基准数据。在以下的说明中，将存储部9中存储的一个基准数据记作第1基准数据。将存储部9中存储的另一个基准数据记作第2基准数据。
数据处理部10对从传感器头2接收到的第1表面数据进行加工，输出加工后的数据作为最终的第1表面数据。数据处理部10对从传感器头2接收到的第2表面数据进行加工，输出加工后的数据作为最终的第2表面数据。在本实施方式所示的例子中，数据处理部10构成取得长条体的表面数据的单元的一部分。优选在检测绳索1的间距异常后，采用从由传感器头2取得的表面数据中去除特定频率成分后的数据作为最终的表面数据。通过进行这种数据处理，能够增强绳索1在表面具有的周期性图案的成分。
图5是用于说明数据处理部10的功能的图。图5示出数据处理部10进行数据处理后的第1表面数据P1和第2表面数据P2。数据处理部10例如对图3所示的第1表面数据P1进行低频成分去除处理，由此取得图5所示的第1表面数据P1。数据处理部10例如对图3所示的第2表面数据P2进行低频成分去除处理，由此取得图5所示的第2表面数据P2。在图5所示的例子中，从图3所示的第1表面数据P1和第2表面数据P2中去除绳索1的直径的影响。
数据处理部10的功能也可以设置在传感器头2中。此外，取得长条体的表面数据的单元也可以不具有数据处理部10的功能。在本实施方式所示的例子中，来自数据处理部10的输出成为来自取得长条体的表面数据的单元的最终输出。如果不具有数据处理部10，则来自传感器头2的输出成为来自取得长条体的表面数据的单元的最终输出。
从光源4和光源5同时输出光。在时刻t在位置L1取得的第1表面数据P1能够记作P(t,L1)。在相同时刻t在位置L2取得的第2表面数据P2能够记作P(t,L2)。第1表面数据P(t,L1)和第2表面数据P(t,L2)如下所述能够利用n行1列的矩阵进行表记。n例如为2以上的整数。图5示出n＝150的例子。
【数学式1】
图6是示出基准数据的例子的图。如上所述，绳索1在表面具有周期性图案。例如，具有与绳索1的表面形成的图案的周期相同的周期的正弦波作为第1基准数据存储在存储部9中。具有与绳索1的表面形成的图案的周期相同的周期的余弦波作为第2基准数据存储在存储部9中。第1基准数据Ref1和第2基准数据Ref2如下所述能够利用n行1列的矩阵进行表记。图6示出n＝150的例子。
【数学式2】
在本实施方式中，对第1表面数据P(t,L1)、第2表面数据P(t,L2)、第1基准数据Ref1和第2基准数据Ref2是多维的向量数据即元素数n的向量的例子进行说明。如图6所示的例子那样，优选第1基准数据Ref1与第2基准数据Ref2的内积为0。图6所示的第1基准数据Ref1和第2基准数据Ref2是处于正交关系的正弦波。但是，第1基准数据Ref1与第2基准数据Ref2的内积也可以不是0。第1基准数据Ref1和第2基准数据Ref2不限于图6所示的例子。
相似度计算部11计算表面数据与基准数据的相似度。例如，相似度计算部11计算第1相似度、第2相似度、第3相似度和第4相似度。第1相似度是从数据处理部10输出的第1表面数据与存储部9中存储的第1基准数据的相似度。第2相似度是从数据处理部10输出的第1表面数据与存储部9中存储的第2基准数据的相似度。第3相似度是从数据处理部10输出的第2表面数据与存储部9中存储的第1基准数据的相似度。第4相似度是从数据处理部10输出的第2表面数据与存储部9中存储的第2基准数据的相似度。
例如，相似度计算部11计算第1表面数据P(t,L1)与第1基准数据Ref1的相关系数ρ1(t,L1)作为第1相似度。相似度计算部11计算第1表面数据P(t,L1)与第2基准数据Ref2的相关系数ρ2(t,L1)作为第2相似度。相似度计算部11计算第2表面数据P(t,L2)与第1基准数据Ref1的相关系数ρ1(t,L2)作为第3相似度。相似度计算部11计算第2表面数据P(t,L2)与第2基准数据Ref2的相关系数ρ2(t,L2)作为第4相似度。
图7是用于说明相位计算部12的功能的图。相位计算部12计算相似度向量S的偏角作为相位θ。在本实施方式所示的例子中，相位计算部12计算与第1表面数据有关的相似度向量S(t,L1)的相位θ(t,L1)。相似度向量S(t,L1)是以由相似度计算部11计算出的相关系数ρ1(t,L1)和相关系数ρ2(t,L1)为元素的向量。相位θ(t,L1)是相似度向量S(t,L1)的偏角。此外，相位计算部12计算与第2表面数据有关的相似度向量S(t,L2)的相位θ(t,L2)。相似度向量S(t,L2)是以由相似度计算部11计算出的相关系数ρ1(t,L2)和相关系数ρ2(t,L2)为元素的向量。相位θ(t,L2)是相似度向量S(t,L2)的偏角。
图7示出在以与第1基准数据Ref1之间的相似度为横轴且以与第2基准数据Ref2之间的相似度为纵轴的正交平面上，描绘相似度向量S(t,L1)和相似度向量S(t,L2)的例子。例如，当绳索1向-y方向移动时，相似度向量S(t,L1)和相似度向量S(t,L2)向图7所示的B方向旋转。相似度向量S(t,L1)的轨迹是半径最大为1的圆状。同样，相似度向量S(t,L2)的轨迹是半径最大为1的圆状。当绳索1移动与1绳股间距对应的距离时，相似度向量S(t,L1)和相似度向量S(t,L2)旋转一圈。
周期计算部13计算绳索1的表面形成的图案的周期。在本实施方式所示的例子中，如上所述，上述周期与绳索1的绳股间距一致。如图7所示，相似度向量S的始点为原点。相似度向量S的终点是以该相似度向量的元素即由相似度计算部11计算出的2个相似度为坐标的点。相位θ表示相似度向量S的朝向。周期计算部13能够通过下式计算绳索1的绳股间距SP。
【数学式3】
如上式所示，周期计算部13根据由相位计算部12计算出的相位θ(t,L1)和相位θ(t,L2)计算绳股间距SP。例如，周期计算部13计算与y轴方向的位置变化对应的相位的位置变化率，由此求出绳股间距SP。
异常检测部14检测绳索1中产生的异常。异常检测部14例如根据由周期计算部13计算出的周期，检测长条体上形成的图案的周期异常。例如，在存储部9中预先存储有用于判定图案的周期正常的基准范围。如果由周期计算部13计算出的周期进入上述基准范围，则异常检测部14判定为绳索1中未产生间距异常。如果由周期计算部13计算出的周期未进入上述基准范围，则异常检测部14判定为绳索1中产生了间距异常。
图8是示出本发明的实施方式1中的检测装置的动作例的流程图。图8示出上述处理流程。在由异常检测部14检测到间距异常后，也可以从控制装置3发出警报。
如果是本实施方式所示的例子，则在绳索1的移动速度变动的情况下，也能够检测绳索1的异常。本检测装置还具有耐噪声性较高这样的优点。
下面，对本检测装置能够具有的其他功能进行说明。
控制装置3也可以还具有速度计算部15和位置计算部16。速度计算部15计算绳索1移动的速度。速度计算部15能够通过下式计算时刻t的绳索1的移动速度V。
【数学式4】
例如在一定的周期内反复进行图8所示的动作。上式所示的Δt是取得表面数据的时间间隔。如上式所示，速度计算部15根据由相位计算部12计算出的相位θ(t,L1)和相位θ(t,L2)计算绳索1的移动速度。例如，速度计算部15计算与相位θ(t,L1)或相位θ(t,L2)的时间经过对应的变化，由此求出绳索1的移动速度。
位置计算部16计算绳索1中产生的异常的位置。位置计算部16根据由速度计算部15计算出的绳索1的移动速度V进行上述位置的计算。例如，位置计算部16对由速度计算部15计算出的绳索1的移动速度V进行积分，由此能够确定绳索1从表面数据的取得开始位置起移动多少。位置计算部16根据由异常检测部14检测到异常时的移动距离，计算检测到的异常在绳索1上的位置。如果是上述计算方法，则即使绳索1的绳股间距未知或变动，也能够进行位置的计算。
控制装置3也可以还具有无效部17。无效部17使异常检测部14的异常检测无效。如图7所示，相似度向量S(t,L1)的轨迹为圆状。如果在绳索1的表面整洁地排列有通过捻合多个绳股而形成的凹凸，则相似度向量S(t,L1)的轨迹持续描绘以原点为中心的相同的圆。
另一方面，当在控制装置3接受的信号中存在无法忽略的较大噪声等而在信号传输中产生异常时，相似度向量S(t,L1)的轨迹以接近原点的方式变化。因此，如果预先对相似向量S(t,L1)的范数设定正常范围，则能够检测已取得的表面数据的可靠性降低。上述正常范围例如被设定成0.3～1。相似度向量S(t,L2)也是同样的。
例如，无效部17根据相似度向量S(t,L1)的范数，使异常检测部14检测异常的功能无效。如果相似度向量S(t,L1)的范数从上述正常范围偏离，则无效部17视为未被异常检测部14检测到异常。无效部17也可以根据相似度向量S(t,L2)的范数，使异常检测部14检测异常的功能无效。例如，如果相似度向量S(t,L2)的范数从上述正常范围偏离，则无效部17视为未被异常检测部14检测到异常。无效部17也可以在相似度向量S(t,L1)的范数和相似度向量S(t,L2)的范数双方从上述正常范围偏离的情况下，使异常检测部14的异常检测无效。
在通过无效部17使异常检测部14的异常检测功能无效的期间内，位置计算部16也可以使用紧前计算出的绳股间距SP计算绳索1的移动距离。由此，能够进行适当的插值。
控制装置3也可以还具有异常检测部18。异常检测部18检测与异常检测部14检测的异常不同的绳索1的异常。例如，异常检测部18检测绳索1的表面形成的图案的异常。
如上所述，相似度向量S(t,L1)的轨迹为圆状。在信号传输未产生异常的情况下，如果在绳索1的表面整洁地排列有通过捻合多个绳股而形成的凹凸，则相似度向量S(t,L1)的轨迹持续描绘以原点为中心的相同的圆。另一方面，当绳股的间隔不均匀等而在捻合中产生不良时，相似度向量S(t,L1)的轨迹以接近原点的方式变化。因此，如果预先对相似向量S(t,L1)的范数设定正常范围，则能够检测绳索1的表面形成的图案产生了异常的情况。上述正常范围例如被设定成0.6～1。相似度向量S(t,L2)也是同样的。
例如，异常检测部18根据相似度向量S(t,L1)的范数，检测绳索1的图案产生了异常的情况。如果相似度向量S(t,L1)的范数从上述正常范围偏离，则异常检测部18检测出绳索1的图案产生了异常。如果是本实施方式所示的例子，则异常检测部18检测出绳索1的形状异常。异常检测部18也可以根据相似度向量S(t,L2)的范数，检测绳索1的图案产生了异常的情况。例如，如果相似度向量S(t,L2)的范数从上述正常范围偏离，则异常检测部18检测绳索1的形状异常。异常检测部18也可以在相似度向量S(t,L1)的范数和相似度向量S(t,L2)的范数双方从上述正常范围偏离的情况下，检测绳索1的形状异常。
在由异常检测部18检测到图案的异常的情况下，也可以使存储部9存储能够确认该异常的数据。例如，在由异常检测部18检测到图案的异常时，使存储部9存储为了检测该异常而使用的表面数据。如后所述，传感器头2也可以具有摄像机以取得表面数据。在由异常检测部18检测到图案的异常的情况下，也可以使存储部9存储由摄像机拍摄到的图像数据。
图9是用于说明传感器头2的另一例的图。图9所示的传感器头2例如具有光源4、光源5和受光元件6。图9示出利用1个受光元件6接收由绳索1的表面反射后的来自光源4的光和由绳索1的表面反射后的来自光源5的光双方的例子。在图9所示的例子中，优选光源5将波长与来自光源4的光的波长不同的光照射到绳索1。
图10是示出由受光元件6取得的受光图像的处理方法的图。图10的上段示出受光元件6的受光图像。图10的下段示出从受光元件6的受光图像转换而成的第1表面数据P1和第2表面数据P2。图10的下段的横轴示出第1表面数据P1和第2表面数据P2在x方向上分别包含多个数据。表面数据包含的数据的个数任意决定。
如果是图9和图10所示的例子，则传感器头2不需要具有多个受光元件。此外，如果来自光源4的光的波长和来自光源5的光的波长不同，则能够容易地进行表面数据的提取处理。
传感器头2不限于光学式外形测定器。图11和图12是用于说明传感器头2的另一例的图。图11和图12所示的传感器头2例如具有摄像机20。传感器头2也可以取得根据由摄像机20拍摄绳索1的表面的图像数据而得到的数据作为表面数据。
在由摄像机20拍摄到的图像数据中不包含与高度有关的信息。传感器头2也可以取得表示对绳索1的表面赋予的颜色和颜色的深浅的数据作为表面数据。例如，传感器头2取得表示对绳索1的表面中的x1≦x≦xr和L1≦y≦LM的范围赋予的颜色和颜色的深浅的数据。该数据相当于M个表面数据。传感器头2从M个表面数据中输出预先设定的2个表面数据作为第1表面数据和第2表面数据。
图13是示出由摄像机20拍摄到的图像数据的处理方法的图。图13示出取得表示对绳索1中的通过y＝Lα的位置的部分的表面赋予的颜色和颜色的深浅的数据作为第1表面数据Pα的例子。同样，图13示出取得表示对绳索1中的通过y＝Lβ的位置的部分的表面赋予的颜色和颜色的深浅的数据作为第2表面数据Pβ的例子。
实施方式2
在本实施方式中，对用于提高绳股间距SP的计算精度的例子进行说明。本实施方式中的检测装置例如与图11所示的例子相同。检测装置例如具有传感器头2和控制装置3。传感器头2例如具有摄像机20。
传感器头2例如取得表示对绳索1的表面赋予的颜色和颜色的深浅的数据作为表面数据。传感器头2从由摄像机20取得的图像数据中取得M个表面数据。M例如为3以上的自然数。
图14是示出本发明的实施方式2中的控制装置3的例子的图。在图14所示的例子中，控制装置3具有存储部9、数据处理部10、选择部19、相似度计算部11、相位计算部12、周期计算部13和异常检测部14。控制装置3也可以不具有数据处理部10。控制装置3也可以还具有速度计算部15、位置计算部16、无效部17和异常检测部18。
在存储部9中存储有第1基准数据Ref1和第2基准数据Ref2。例如，第1基准数据Ref1能够利用n行1列的矩阵进行表记。第2基准数据Ref2能够利用n行1列的矩阵进行表记。
数据处理部10将从传感器头2接收到的各表面数据加工成能够与基准数据进行比较的表面数据。例如，数据处理部10分别对从传感器头2接收到的表面数据进行偏置去除处理。从数据处理部10输出例如进行偏置去除处理后的M个表面数据P(t,L1)、P(t,L2)、…、P(t,LM)。表面数据P(t,L1)是表示对绳索1中的在时刻t通过y＝L1的部分的表面赋予的颜色和颜色的深浅的数据。表面数据P(t,L2)是表示对绳索1中的在时刻t通过y＝L2的部分的表面赋予的颜色和颜色的深浅的数据。表面数据P(t,LM)是表示对绳索1中的在时刻t通过y＝LM的部分的表面赋予的颜色和颜色的深浅的数据。预先设定L1～LM的值。
选择部19在从数据处理部10输出的M个表面数据中，根据预先设定的条件选择第1表面数据P(t,Lα)和第2表面数据P(t,Lβ)。
相似度计算部11计算由选择部19选择出的表面数据与基准数据的相似度。即，相似度计算部11计算第1相似度、第2相似度、第3相似度和第4相似度。第1相似度是由选择部19选择出的第1表面数据与存储部9中存储的第1基准数据的相似度。第2相似度是由选择部19选择出的第1表面数据与存储部9中存储的第2基准数据的相似度。第3相似度是由选择部19选择出的第2表面数据与存储部9中存储的第1基准数据的相似度。第4相似度是由选择部19选择出的第2表面数据与存储部9中存储的第2基准数据的相似度。
相位计算部12的功能与实施方式1中公开的功能相同。周期计算部13的功能与实施方式1中公开的功能相同。异常检测部14的功能与实施方式1中公开的功能相同。
图15是示出本发明的实施方式2中的检测装置的动作例的流程图。如上所述，从数据处理部10输出M个表面数据(S201)。选择部19在从数据处理部10输出的M个表面数据中选择第1表面数据P(t,Lα)和第2表面数据P(t,Lβ)(S202)。
例如，相似度计算部11针对从数据处理部10输出的各表面数据，计算与第1基准数据之间的相似度和与第2基准数据之间的相似度。图15示出计算相关系数ρ1作为与第1基准数据之间的相似度，计算相关系数ρ2作为与第2基准数据之间的相似度的例子。接着，针对各表面数据，计算以相关系数ρ1和相关系数ρ2为元素的相似度向量S。进而，针对各表面数据，计算相似度向量S的范数。
选择部19例如根据计算出的相似度向量S的范数，选择第1表面数据P(t,Lα)和第2表面数据P(t,Lβ)。图16是用于说明选择部19的功能的图。选择部19例如选择从数据处理部10输出的M个表面数据中的相似度向量S的范数最大的表面数据和第2大的表面数据，作为第1表面数据P(t,Lα)和第2表面数据P(t,Lβ)。这里，Lβ>Lα。
在S202中选择第1表面数据P(t,Lα)和第2表面数据P(t,Lβ)后，进行与图8的S103～S106所示的处理相同的处理。在图15所示的例子中，在S202中已经计算出ρ1(t,Lα)、ρ2(t,Lα)、ρ1(t,Lβ)和ρ2(t,Lβ)。在由选择部19选择第1表面数据P(t,Lα)和第2表面数据P(t,Lβ)后，相位计算部12计算相似度向量S(t,Lα)的相位θ(t,Lα)(S203)。相似度向量S(t,Lα)是以由相似度计算部11计算出的相关系数ρ1(t,Lα)和相关系数ρ2(t,Lα)为元素的向量。相位θ(t,Lα)是相似度向量S(t,Lα)的偏角。此外，相位计算部12计算相似度向量S(t,Lβ)的相位θ(t,Lβ)(S203)。相似度向量S(t,Lβ)是以由相似度计算部11计算出的相关系数ρ1(t,Lβ)和相关系数ρ2(t,Lβ)为元素的向量。相位θ(t,Lβ)是相似度向量S(t,Lβ)的偏角。
周期计算部13例如根据由相位计算部12计算出的相位θ(t,Lα)和相位θ(t,Lβ)，通过下式计算绳股间距SP。
【数学式5】
异常检测部14根据由周期计算部13计算出的周期，检测长条体上形成的图案的周期异常。例如，异常检测部14在由周期计算部13计算出的周期从基准范围偏离的情况下，判定为绳索1产生了间距异常。
如果是本实施方式所示的例子，则在绳索1的移动速度变动的情况下，也能够检测绳索1的异常。如果是本实施方式所示的例子，则能够提高绳股间距SP的计算精度。
为了减少噪声的影响，选择部19也可以通过与上述方法不同的方法选择第1表面数据P(t,Lα)和第2表面数据P(t,Lβ)。例如，首先，选择部19选择从数据处理部10输出的M个表面数据中的、相似度向量S的范数为基准值以上的表面数据。上述基准值预先存储在存储部9中。例如，基准值为0.3。选择部19从相似度向量S的范数为基准值以上的表面数据中，选择所成的角度最大的2个表面数据作为第1表面数据P(t,Lα)和第2表面数据P(t,Lβ)。
本实施方式中未公开的特征可以采用实施方式1中公开的任意特征。
实施方式3
如上所述，对于作为本检测装置的检测对象的长条体的例子，可举出电梯中使用的缆绳。电梯的轿厢例如被多条缆绳悬吊于井道中。在电梯的轿厢被多条缆绳进行悬吊的情况下，优选针对任何缆绳都作用相同的张力。
例如，当仅对1条缆绳作用较大的张力时，在该缆绳中产生伸长。在产生了伸长的缆绳中，绳股间距变长。即，在该缆绳中产生间距异常。在本实施方式中，对检测装置以多条长条体为检测对象的例子进行说明。
图17是示出本发明的实施方式3中的检测装置的例子的图。图18是从图17所示的箭头A的方向观察长条体的图。图18示出与绳索1平行地配置绳索21的例子。
绳索21与绳索1同样在长度方向上移动。例如，绳索21向+y方向或-y方向移动。绳索21也可以向+y方向和-y方向双方移动。绳索21具有多个绳股。绳索21是通过捻合多个绳股而形成的。绳索21在表面具有与绳索1的表面形成的图案相同的图案。
检测装置例如具有传感器头2和控制装置3。传感器头2例如具有光源4和受光元件6。在本实施方式所示的例子中，光源4针对绳索1的表面和绳索21的表面双方同时照射光。图17和图18示出光源4向与绳索1的长度方向和绳索21的长度方向正交的方向照射激光的例子。从光源4照射的光以相同高度照射到绳索1和绳索21。在图17和图18所示的例子中，从光源4照射的光以横穿绳索1的方式呈直线状从绳索1的一侧的端部照射到另一侧的端部。同样，从光源4照射的光以横穿绳索21的方式呈直线状从绳索21的一侧的端部照射到另一侧的端部。
受光元件6接收从光源4照射的光中的由绳索1的表面反射后的光。此外，受光元件6接收从光源4照射的光中的由绳索21的表面反射后的光。受光元件6相对于光源4照射光的方向倾斜配置。受光元件6接收由绳索1的表面反射后的来自光源4的光中的、相对于绳索1的长度方向以一定角度倾斜反射后的光。同样，受光元件6接收由绳索21的表面反射后的来自光源4的光中的、相对于绳索1的长度方向以一定角度倾斜反射后的光。
图17和图18所示的光a是从光源4朝向绳索1照射的光。例如，光a以y＝L1照射到绳索1的表面。光b和光c是由绳索1的表面反射后的光a中的、以由受光元件6进行接收的角度反射后的光。受光元件6接收光b和光c等，由此，传感器头2取得表示绳索1中的来自光源4的光照射的部分的截面形状的数据作为第1表面数据。
同样，图17和图18所示的光g是从光源4朝向绳索21照射的光。例如，光g以y＝L1照射到绳索21的表面。光h和光i是由绳索21的表面反射后的光g中的、以由受光元件6进行接收的角度反射后的光。受光元件6接收光h和光i等，由此，传感器头2取得表示绳索21中的来自光源4的光照射的部分的截面形状的数据作为第2表面数据。
图19是示出由受光元件6取得的受光图像的处理方法的图。图19的上段示出受光元件6的受光图像。图19的下段示出从受光元件6的受光图像转换而成的第1表面数据P3和第2表面数据P4。图19的下段的横轴示出第1表面数据P3和第2表面数据P4在x方向上分别包含多个数据。表面数据包含的数据的个数任意决定。
图20是示出控制装置3的例子的图。控制装置3例如具有存储部9、数据处理部10、相似度计算部11、相位计算部12和异常检测部14。控制装置3也可以不具有数据处理部10。控制装置3也可以还具有无效部17和异常检测部18。
在存储部9中存储有第1基准数据Ref1和第2基准数据Ref2。例如，第1基准数据Ref1能够利用n行1列的矩阵进行表记。第2基准数据Ref2能够利用n行1列的矩阵进行表记。
数据处理部10例如对从传感器头2接收到的第1表面数据进行加工，输出加工后的数据作为最终的第1表面数据。数据处理部10例如对从传感器头2接收到的第2表面数据进行加工，输出加工后的数据作为最终的第2表面数据。
相似度计算部11计算表面数据与基准数据的相似度。例如，相似度计算部11计算从数据处理部10输出的第1表面数据P3(t,L1)与第1基准数据Ref1的相关系数ρ1(t,L1(P3))作为第1相似度。相似度计算部11计算从数据处理部10输出的第1表面数据P3(t,L1)与第2基准数据Ref2的相关系数ρ2(t,L1(P3))作为第2相似度。相似度计算部11计算从数据处理部10输出的第2表面数据P4(t,L1)与第1基准数据Ref1的相关系数ρ1(t,L1(P4))作为第3相似度。相似度计算部11计算从数据处理部10输出的第2表面数据P4(t,L1)与第2基准数据Ref2的相关系数ρ2(t,L1(P4))作为第4相似度。
图21是用于说明相位计算部12的功能的图。相位计算部12计算相似度向量S的偏角作为相位θ。在本实施方式所示的例子中，相位计算部12计算与第1表面数据有关的相似度向量S3(t,L1)的相位θ3(t,L1)。相似度向量S3(t,L1)是以由相似度计算部11计算出的相关系数ρ1(t,L1(P3))和相关系数ρ2(t,L1(P3))为元素的向量。相位θ3(t,L1)是相似度向量S3(t,L1)的偏角。此外，相位计算部122计算与第2表面数据有关的相似度向量S4(t,L1)的相位θ4(t,L1)。相似度向量S4(t,L1)是以由相似度计算部11计算出的相关系数ρ1(t,L1(P4))和相关系数ρ2(t,L1(P4))作为元素的向量。相位θ4(t,L1)是相似度向量S4(t,L1)的偏角。
在电梯的轿厢被绳索1和绳索21悬吊于井道中的情况下，绳索1移动的速度和绳索21移动的速度相同。如果绳索1的绳股间距和绳索21的绳股间距相同，则相似度向量S3(t,L1)和相似度向量S4(t,L1)所成的角度恒定而与上述速度无关。相似度向量S3(t,L1)和相似度向量S4(t,L1)所成的角度是相位θ4(t,L1)与相位θ3(t,L1)之差即相位差。
在本实施方式所示的例子中，异常检测部14根据由相位计算部12计算出的相位θ4(t,L1)和相位θ3(t,L1)，检测绳索1或绳索21产生了异常的情况。例如，异常检测部14检测绳索1的表面形成的图案或绳索21的表面形成的图案的周期异常。例如，在存储部9中预先存储有用于判定图案的周期正常的基准范围。如果相位θ4(t,L1)与相位θ3(t,L1)之差进入上述基准范围，则异常检测部14判定为绳索1和绳索21双方未产生间距异常。如果相位θ4(t,L1)与相位θ3(t,L1)之差未进入上述基准范围，则异常检测部14判定为绳索1或绳索21中的任意一方中产生了间距异常。
如果是本实施方式所示的例子，则检测装置能够将多条长条体作为检测对象。此外，如果是本实施方式所示的例子，则在绳索1和绳索21的移动速度变动的情况下，也能够检测产生了异常的情况。
在本实施方式所示的例子中，在控制装置3还具有异常检测部18的情况下，异常检测部18根据相似度向量S3(t,L1)的范数，检测绳索1的图案产生了异常的情况。例如，如果相似度向量S3(t,L1)的范数从正常范围偏离，则异常检测部18检测到绳索1的图案产生了异常。此外，异常检测部18根据相似度向量S4(t,L1)的范数，检测绳索21的图案产生了异常的情况。例如，如果相似度向量S4(t,L1)的范数从正常范围偏离，则异常检测部18检测到绳索21的图案产生了异常。
在本实施方式所示的例子中，说明了从光源4照射的光以相同高度照射到绳索1和绳索21的例子。如果传感器头2能够取得不同高度的表面数据，则在本实施方式所示的例子中，控制装置3也可以还具有周期计算部13、速度计算部15和位置计算部16。
该情况下，传感器头2例如具有光源4、光源5、受光元件6和受光元件7。光源4对绳索1的表面照射光。受光元件6接收从光源4照射的光中的由绳索1的表面反射后的光。光源5对绳索21的表面照射光。从光源5照射的光在从来自光源4的光照射到绳索1的位置起在y轴方向上分开一定距离的位置处照射到绳索21。受光元件7接收从光源5照射的光中的由绳索21的表面反射后的光。传感器头2也可以具有摄像机20。
此外，速度计算部15根据由相位计算部12计算出的相位θ(t,L1)和相位θ(t,L2)计算绳索1和绳索21的移动速度。在该例子中，L2表示来自光源5的光照射到绳索21的高度。位置计算部16根据由异常检测部14检测到异常时的移动距离，计算检测到的异常在绳索1上的位置或在绳索21上的位置。
本实施方式中未公开的特征可以采用实施方式1或2中公开的任意特征。
实施方式4
在能够应用本检测装置的电梯中具有限速器以检测轿厢的速度。限速器例如具有限速绳索、限速绳轮和编码器。限速绳索卷绕在限速绳轮上，与电梯的轿厢联动地移动。即，当轿厢移动时，限速绳索移动。此外，当限速绳索移动时，限速绳轮旋转。编码器输出与限速绳轮的旋转方向和旋转角度对应的旋转信号。从编码器输出的旋转信号用于控制轿厢。
在实施方式1～3所示的例子中，速度计算部15计算绳索1的移动速度V。如果电梯的轿厢被绳索1进行悬吊，则绳索1的移动速度V与轿厢的移动速度一致。因此，在电梯中，也可以代替限速器而使用速度计算部15检测轿厢的速度。该情况下，电梯也可以不具有限速器。此外，在电梯中，也可以与限速器一起使用速度计算部15检测轿厢的速度。
在限速器中，可能由于限速绳索与限速绳轮之间产生的滑动而产生检测误差。在限速器中，可能由于限速绳轮的磨损而产生检测误差。如果是本检测装置，则能够以非接触的方式取得表面数据。因此，能够高精度地检测轿厢的速度。进而，如果不需要具有限速器，则能够简化电梯的结构。
标号9～19所示的各部示出控制装置3具有的功能。图22是示出控制装置3的硬件结构的例子的图。控制装置3作为硬件资源例如具有包含处理器22和存储器23的处理电路。存储部9具有的功能通过存储器23实现。控制装置3通过处理器22执行存储器23中存储的程序，由此实现标号9～19所示的各部的功能。
处理器22也称作CPU(Central Processing Unit：中央处理单元)、中央处理装置、处理装置、运算装置、微处理器、微计算机或DSP。作为存储器23，也可以采用半导体存储器、磁盘、软盘、光盘、高密度盘、迷你盘或DVD。能够采用的半导体存储器包含RAM、ROM、闪存、EPROM和EEPROM等。
也可以通过硬件实现控制装置3具有的各功能的一部分或全部。作为实现控制装置3的功能的硬件，也可以采用单一电路、复合电路、程序化的处理器、并行程序化的处理器、ASIC、FPGA或它们的组合。
产业上的可利用性
本发明的检测装置能够应用于将在表面具有周期性图案的长条体作为检测对象的装置。
标号说明
1 绳索
2 传感器头
3 控制装置
4 光源
5 光源
6 受光元件
7 受光元件
8 信号线
9 存储部
10 数据处理部
11 相似度计算部
12 相位计算部
13 周期计算部
14 异常检测部
15 速度计算部
16 位置计算部
17 无效部
18 异常检测部
19 选择部
20 摄像机
21 绳索
22 处理器
23 存储器

Claims (11)

1.一种检测装置，该检测装置具有：
数据取得单元，其取得表面具有周期性图案的长条体的第1表面数据和第2表面数据；
存储单元，其存储第1基准数据和第2基准数据；
相似度计算单元，其计算由所述数据取得单元取得的第1表面数据与所述第1基准数据的第1相似度、由所述数据取得单元取得的第1表面数据与所述第2基准数据的第2相似度、由所述数据取得单元取得的第2表面数据与所述第1基准数据的第3相似度和由所述数据取得单元取得的第2表面数据与所述第2基准数据的第4相似度；
相位计算单元，其计算以由所述相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的偏角作为第1相位，计算以由所述相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的偏角作为第2相位；
周期计算单元，其根据由所述相位计算单元计算出的第1相位和第2相位，计算所述长条体上形成的图案的周期；以及
第1异常检测单元，其根据由所述周期计算单元计算出的周期，检测所述长条体的异常。
2.一种检测装置，该检测装置具有：
数据取得单元，其取得表面具有周期性图案的长条体的多个表面数据；
存储单元，其存储第1基准数据和第2基准数据；
选择单元，其从由所述数据取得单元取得的表面数据中选择第1表面数据和第2表面数据；
相似度计算单元，其计算由所述选择单元选择出的第1表面数据与所述第1基准数据的第1相似度、由所述选择单元选择出的第1表面数据与所述第2基准数据的第2相似度、由所述选择单元选择出的第2表面数据与所述第1基准数据的第3相似度和由所述选择单元选择出的第2表面数据与所述第2基准数据的第4相似度；
相位计算单元，其计算以由所述相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的偏角作为第1相位，计算以由所述相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的偏角作为第2相位；
周期计算单元，其根据由所述相位计算单元计算出的第1相位和第2相位，计算所述长条体上形成的图案的周期；以及
第1异常检测单元，其根据由所述周期计算单元计算出的周期，检测所述长条体的异常。
3.根据权利要求2所述的检测装置，其中，
所述选择单元选择由所述数据取得单元取得的表面数据中的、以与所述第1基准数据之间的相似度和与所述第2基准数据之间的相似度为元素的相似度向量的范数最大的表面数据和第2大的表面数据，作为第1表面数据和第2表面数据。
4.根据权利要求2所述的检测装置，其中，
所述选择单元从由所述数据取得单元取得的表面数据中的、以与所述第1基准数据之间的相似度和与所述第2基准数据之间的相似度为元素的相似度向量的范数为基准值以上的表面数据中，选择所成的角度最大的2个表面数据作为第1表面数据和第2表面数据。
5.根据权利要求1～4中的任意一项所述的检测装置，其中，
所述检测装置还具有：
速度计算单元，其根据由所述相位计算单元计算出的第1相位和第2相位，计算所述长条体的速度；以及
位置计算单元，其根据由所述速度计算单元计算出的速度，计算由所述第1异常检测单元检测到的异常在所述长条体上的位置。
6.根据权利要求1～5中的任意一项所述的检测装置，其中，
所述检测装置还具有第2异常检测单元，该第2异常检测单元根据以由所述相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的范数和以由所述相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的范数中的至少任意一方，检测所述长条体的图案产生了异常的情况。
7.根据权利要求1～6中的任意一项所述的检测装置，其中，
所述数据取得单元具有：
第1光源，其对所述长条体照射光；
第2光源，其对所述长条体照射波长与来自所述第1光源的光的波长不同的光；以及
受光元件，其接收由所述长条体反射后的来自所述第1光源的光和由所述长条体反射后的来自所述第2光源的光。
8.一种检测装置，该检测装置具有：
数据取得单元，其取得表面具有周期性图案的第1长条体的第1表面数据和表面具有与所述第1长条体的表面形成的图案相同的图案的第2长条体的第2表面数据；
存储单元，其存储第1基准数据和第2基准数据；
相似度计算单元，其计算由所述数据取得单元取得的第1表面数据与所述第1基准数据的第1相似度、由所述数据取得单元取得的第1表面数据与所述第2基准数据的第2相似度、由所述数据取得单元取得的第2表面数据与所述第1基准数据的第3相似度和由所述数据取得单元取得的第2表面数据与所述第2基准数据的第4相似度；
相位计算单元，其计算以由所述相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的偏角作为第1相位，计算以由所述相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的偏角作为第2相位；以及
第1异常检测单元，其根据由所述相位计算单元计算出的第1相位和第2相位，检测所述第1长条体或所述第2长条体产生了异常的情况。
9.根据权利要求8所述的检测装置，其中，
所述检测装置还具有第2异常检测单元，该第2异常检测单元根据以由所述相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的范数，检测所述第1长条体的图案产生了异常的情况，根据以由所述相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的范数，检测所述第2长条体的图案产生了异常的情况。
10.根据权利要求8或9所述的检测装置，其中，
所述数据取得单元具有：
光源，其对所述第1长条体和所述第2长条体照射光；以及
受光元件，其接收由所述第1长条体反射后的来自所述光源的光和由所述第2长条体反射后的来自所述光源的光。
11.根据权利要求1～10中的任意一项所述的检测装置，其中，
所述检测装置还具有无效单元，该无效单元根据以由所述相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的范数和以由所述相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的范数中的至少任意一方，使所述第1异常检测单元的异常检测无效。
CN201780084710.9A 2017-02-06 2017-02-06 检测装置 Withdrawn CN110226075A (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2017/004225 WO2018142613A1 (ja) 2017-02-06 2017-02-06 検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110226075A true CN110226075A (zh) 2019-09-10

Family

ID=63039448

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201780084710.9A Withdrawn CN110226075A (zh) 2017-02-06 2017-02-06 检测装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11099138B2 (zh)
JP (1) JP6590088B2 (zh)
KR (1) KR20190104184A (zh)
CN (1) CN110226075A (zh)
DE (1) DE112017006997T5 (zh)
WO (1) WO2018142613A1 (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7134793B2 (ja) * 2018-08-29 2022-09-12 オーチス エレベータ カンパニー エレベータロープ伸び計測装置及びエレベータロープ伸び計測方法
CN109341538A (zh) * 2018-10-17 2019-02-15 太原科技大学 一种测量轴承偏移量的测量方法
JP7318395B2 (ja) * 2019-07-30 2023-08-01 株式会社明電舎 エレベータ用ワイヤロープの速度検出装置、エレベータ用ワイヤロープの速度検出方法
WO2024171431A1 (ja) * 2023-02-17 2024-08-22 三菱電機株式会社 情報処理装置、検出方法、及び検出プログラム

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101087991A (zh) * 2004-12-22 2007-12-12 国立大学法人电气通信大学 三维形状测量装置
CN102589474A (zh) * 2010-12-13 2012-07-18 旭硝子株式会社 表面形状的评价方法和表面形状的评价装置
CN103429985A (zh) * 2011-01-19 2013-12-04 诺威量测设备股份有限公司 用于测量三维结构的光学系统和方法
WO2016157290A1 (ja) * 2015-03-27 2016-10-06 三菱電機株式会社 検出装置
CN106068450A (zh) * 2014-01-22 2016-11-02 蒂阿马公司 用于检测特别是折射缺陷的方法和装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3641816A1 (de) * 1986-12-06 1988-06-16 Robert Prof Dr Ing Massen Verfahren und anordnung zur messung und/oder ueberwachung von eigenschaften von garnen und seilen
KR20050005335A (ko) * 2003-07-01 2005-01-13 엘지전선 주식회사 꼬인 케이블의 피치를 측정하기 위한 방법 및 장치
JP4803323B2 (ja) * 2010-02-25 2011-10-26 Ｊｆｅスチール株式会社 ワイヤロープピッチの測定方法とワイヤロープピッチ測定装置およびワイヤロープの製造方法
WO2011108173A1 (ja) 2010-03-03 2011-09-09 三菱電機株式会社 ロープ検査装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101087991A (zh) * 2004-12-22 2007-12-12 国立大学法人电气通信大学 三维形状测量装置
CN102589474A (zh) * 2010-12-13 2012-07-18 旭硝子株式会社 表面形状的评价方法和表面形状的评价装置
CN103429985A (zh) * 2011-01-19 2013-12-04 诺威量测设备股份有限公司 用于测量三维结构的光学系统和方法
CN106068450A (zh) * 2014-01-22 2016-11-02 蒂阿马公司 用于检测特别是折射缺陷的方法和装置
WO2016157290A1 (ja) * 2015-03-27 2016-10-06 三菱電機株式会社 検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20190104184A (ko) 2019-09-06
JPWO2018142613A1 (ja) 2019-11-07
DE112017006997T5 (de) 2019-10-17
WO2018142613A1 (ja) 2018-08-09
JP6590088B2 (ja) 2019-10-16
US20190345648A1 (en) 2019-11-14
US11099138B2 (en) 2021-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110226075A (zh) 检测装置
CN106461763B (zh) 测距装置以及该测距装置中使用的固体摄像元件
JP6072814B2 (ja) 光学マルチライン法を用いた３ｄ口腔測定
US20170307360A1 (en) Status determination device and status determination method
CN106413562A (zh) X射线管故障预兆检测装置、x射线管故障预兆检测方法及x射线摄像装置
JP2017508151A5 (zh)
CN109073755A (zh) 相干激光雷达装置
CN105338919B (zh) 利用多条光纤的光学形状感测
CN107250715B (zh) 检测装置
CN105612117A (zh) 用于对线至加工机的供给进行控制的紧凑型设备
KR101833396B1 (ko) 프레넬 회절 보더 프로파일들을 평가하여 오브젝트의 적어도 하나의 에지의 포지션을 결정하는 방법
JP2020099698A (ja) 編組のピッチの非侵襲的測定
US20190063904A1 (en) Device for measuring parameters of a rope
CN108209899A (zh) 测定装置及测定方法
JP2016506516A (ja) 光学要素
US7227641B2 (en) Method and apparatus for measuring a pitch of stranded cable
US9958262B2 (en) System for measuring three-dimensional profile of transparent object or refractive index by fringe projection
US20220390528A1 (en) Magnetic detection system, magnetic signal waveform pattern classification method, and waveform pattern distribution generation method for magnetic detection system
KR20230004108A (ko) 회전체의 회전 운동 모션을 측정하는 방법 및 장치
JP7146092B2 (ja) 検査装置及び方法、並びにプログラム及び記録媒体
JP2018063157A (ja) 形状測定装置
US20210199473A1 (en) Measurement device
US20210330286A1 (en) Catheter system
JP6285633B2 (ja) セパレート式エンコーダ
Shlyakhtenko et al. Method of determining the skewness of the weft thread in fabric

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20190910

WW01 Invention patent application withdrawn after publication