JP5943778B2 - 座厚測定装置、プログラム、記録媒体、及び方法 - Google Patents

座厚測定装置、プログラム、記録媒体、及び方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5943778B2
JP5943778B2 JP2012186986A JP2012186986A JP5943778B2 JP 5943778 B2 JP5943778 B2 JP 5943778B2 JP 2012186986 A JP2012186986 A JP 2012186986A JP 2012186986 A JP2012186986 A JP 2012186986A JP 5943778 B2 JP5943778 B2 JP 5943778B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
seat
seat thickness
measuring device
thickness measuring
coil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012186986A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014044128A (ja
Inventor
優一郎 綛谷
優一郎 綛谷
祐子 難波江
祐子 難波江
真一 西沢
真一 西沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
Priority to JP2012186986A priority Critical patent/JP5943778B2/ja
Publication of JP2014044128A publication Critical patent/JP2014044128A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5943778B2 publication Critical patent/JP5943778B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、コイルばねの座厚測定に供する座厚測定装置、プログラム、記録媒体、及び方法に関する。
従来、特許文献1にコイルばね形状測定装置と形状測定方法が記載されている。この装置及び方法は、コイルばねの軸方向に広がるスリット光をコイルばねの表面に照射するレーザと、コイルばねをその軸回りに回転させる回転ステージと、コイルばねの表面からの反射光を撮影するCMOSカメラと、コイルばねをその軸回りに回転させたときに複数の回転角のそれぞれについてCMOSカメラで撮影される撮影画像から、コイルばねの素線の座標値を算出するコンピュータとを備えている。
この形状測定装置によると、コイルばねの撮影画像からコイルばねの位置を特定し、コイルばねの形状測定を行うことができる。
しかし、この装置及び方法では、CMOSカメラで撮影される撮影画像から、コイルばねの素線の座標値を算出するため、画像処理や固定治具の反射像の消去を必要とし、処理が煩雑になるという問題があった。
また、コイルばねの座厚測定については考慮されていなかった。
特開2010−101693号公報
解決しようとする問題点は、コイルばねの形状測定を行うことはできるが、画像処理等により処理が煩雑となり、コイルばねの座厚測定については考慮されていなかった点である。
本発明の座厚測定装置は、画像処理を必要とせずコイルばねの座厚測定を簡単に行わせることを可能とするため、コイル端部が平坦な座面に形成された座部を有するコイルばねの座厚を測定する座厚測定装置であって、前記コイルばねのコイル径方向の一側から前記座部の外表面にレーザー光を照射し反射する測定点の座標値を前記座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で検出するレーザー変位センサと、前記複数の測定点の座標値群に基づいて前記座厚を演算する演算部とを備えたことを特徴とする。
本発明の座厚測定プログラムは、コイル端部が平坦な座面に形成された座部を有するコイルばねの座厚を求める機能をコンピュータに実現させる座厚測定プログラムであって、前記機能は、前記座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で取得した座標値群に基づいて前記座厚を演算することを特徴とする。
本発明の座厚測定プログラム記録媒体は、コイル端部が平坦な座面に形成された座部を有するコイルばねの座厚を求める機能をコンピュータに実現させる座厚測定プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な座厚測定プログラム記録媒体であって、前記機能は、前記座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で取得した座標値群に基づいて前記座厚を演算することを特徴とする。
本発明の座厚測定方法は、コイル端部が平坦な座面に形成された座部を有するコイルばねの座厚を求める座厚測定方法であって、前記座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で取得した座標値群に基づいて前記座厚を求めることを特徴とする。
本発明の座厚測定装置は、上記構成であるから、レーザー光を照射し反射する測定点の座標値を座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で検出した座標値群に基づいて座厚を演算することができ、画像処理を不要とし、座厚の測定処理を簡単且つ確実に行わせることができる。
本発明の座厚測定プログラムは、上記構成であるから、座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で検出した座標値群に基づいて座厚を演算する機能をコンピュータに実現させ、画像処理を不要とし、座厚の測定処理を簡単且つ確実に行わせることができる。
本発明の座厚測定プログラム記録媒体は、上記構成であるから、座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で検出した座標値群に基づいて座厚を演算する機能をコンピュータに実現させるプログラムを記録し、コンピュータに読み取らせることで、画像処理を不要とし、座厚の測定処理を簡単且つ確実に行わせることができ、汎用性を高めることができる。
本発明の座厚測定方法は、上記構成であるから、座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で検出した座標値群に基づいて座厚を求めることができる。
座厚測定装置の概念図である。(実施例1) センサの移動距離とセンサ測定値とを示す説明図である。(実施例1) 端点の除外を示す説明図である。(実施例1) 円形断面の近似を示す説明図である。(実施例1) 近似円から外れたデータの除外を示す説明図である。(実施例1) 外れたデータ除外後の円近似を示す説明図である。(実施例1) 座面厚さを示す説明図である。(実施例1) 座厚検出のフローチャートである。(実施例1) 座標値群を示す概念図である。(実施例1) 座標値群、中心位置、及び座厚を示す概念図である。(実施例1)
画像処理を必要とせずコイルばねの座厚測定を簡単に行わせることを可能にするという目的を、図1のように、コイル端部が平坦な座面3bに形成された座部3cを有するコイルばね3の座厚を検出する座厚測定装置1であって、前記コイル径方向の一側から前記座部3cの外表面にレーザー光を照射し反射する測定点の座標値を前記座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で検出するレーザー変位センサ5と、前記複数の測定点の座標値群に基づいて前記座厚を演算する演算部7とを備えることにより実現した。
[座厚測定装置]
図1は、座厚測定装置の概念図、図2は、センサの移動距離とセンサ測定値とを示す説明図、図3は、端点の除外を示す説明図、図4は、円形断面の近似を示す説明図、図5は、近似円から外れたデータの除外を示す説明図、図6は、外れたデータ除外後の円近似を示す説明図、図7は、座面厚さを示す説明図である。
図1のように、本発明実施例1の座厚測定装置1は、コイルばね3の座厚測定を行うものである。コイルばね3は、例えば円形断面の素線3aで形成され、コイル端部が平坦な座面3bに形成された座部3cを有している。
座厚測定装置1は、レーザー変位センサ5と、演算部7とを備えている。演算部7の演算結果は、表示部8に出力され、演算結果として座厚が表示される。
レーザー変位センサ5は、反射型レーザー変位計で構成されている。このレーザー変位センサ5は、アクチュエータ11に昇降可能に支持されている。レーザー変位センサ5及びアクチュエータ11は、制御部13によって制御されるようになっている。レーザー変位センサ5は、制御部13により予め設定されたタイミングでレーザー光を照射し、反射光を受光して測定点の座標値を測定し、演算部7へ出力する。
アクチュエータ11は、例えばボールねじで構成され、制御部13により予め設定されたタイミングでレーザー変位センサ5を下方から上方へ駆動し、且つアクチュエータ11自体もコイルばね3の周りを周回するように駆動される。アクチュエータ11が、ボールねじで構成されていることから、レーザー変位センサ5を下方から上方へ駆動することでボールねじのバックラッシュの影響を受けずに正確に駆動することができる。
制御部13は、コンピュータで構成され、CPU、ROM、RAMなどを備えている。
前記駆動により、レーザー変位センサ5は、コイルばね3のコイル軸方向(X軸方向)の一側に沿って直線的に相対移動し、垂直方向の下方から上方へ座部3cに沿って図2のように各測定点を検出するように移動する。
この相対移動により座部3cの外表面にレーザー光を照射し反射する測定点の座標値を、座部3cに沿って一定間隔で検出する。この検出により複数の測定点で座標値が連続的に検出される。
座部3cに沿った複数の測定点の座標値群は、座部3cのX軸方向での断面における外表面の円弧に対応し、例えば図2のようになる。
演算部7は、コンピュータで構成され、CPU、ROM、RAMなどを備えている。この演算部7は、制御部13と同一又は別々のコンピュータの何れでも構成することができる。演算部7には、後述する座厚測定プログラムがインストールされている。
座厚測定プログラムは、素線3aで形成されコイル端部が平坦な座面3bに形成された座部3cを有するコイルばね3の座厚を求める機能をコンピュータに実現させるものであり、本実施例では、後述のフローチャートのように座厚を演算する。
なお、座厚測定プログラムは、これを記録した座厚測定プログラム記録媒体を用い、コンピュータで構成された演算部7に読み取らせることで、コイルばね3の座厚の演算を実現することもできる。
演算部7は、図3ように、複数の測定点の座標値群15から端点15aを除外する。この端点15aは、両端の1点づつに限らず端点からそれぞれ数点、例えば2点等とすることもできる。端点15aはデータとして乱れやすいため、これを除外して正確な演算を可能とする。
演算部7は、端点15aを除外した座標値群15から図4のように素線3a(図1)の円形の断面形状15bを近似してから座厚を演算する。このとき、演算部7は、近似した円形の断面形状15bから外れた図4で示す座標値データ15cを除外して図5の座標値群15とし、再度図6のように近似を行う。
このように、端点15aや円形の断面形状15bから外れた座標値データ15cを除外することにより、座標値群15の測定点が少ない座部3cにおいても、より正確な測定を行わせることができる。
なお、一度除外した端点15aであっても、図4のように最初の近似円から大きくずれていない場合は、これを含めて図6の再度の近似を行わせることもでき、可能な限りデータを増やして誤差を抑制することができる。
そして、図7のように、円形の断面形状15bの近似から中心位置Oを演算し、この中心位置Oに基づき座厚を演算する。
表示部8は、演算部7の演算結果により、座厚を視覚的に出力表示する。座厚の演算結果は、印刷出力することもできる。
したがって、制御部13の制御でレーザー変位センサ5によるレーザーの照射によりコイルばね3の座部3cに沿って測定点のデータを取得し、かかるデータから演算部7により座標値群15を検出し、図3〜図6のように円形の断面形状15bを近似し、素線3aの円形断面の中心位置Oを検出し、巻端部の先端の座厚を演算することができる。なお、座標値群を、コイル周方向に沿って所定間隔で複数群検出し、座厚をコイル周方向に沿って複数箇所演算することもできる。
[座厚測定プログラム及び方法]
図8は、座厚測定のフローチャート、図9は、座標値群を示す概念図、図10は、座標値群、中心位置、及び座厚を示す概念図である。
前記演算部7でのデータの処理が開始されると、図8のステップS1(以下、各ステップをSにより略称する。)において、「データ群をX値の小さいものから測定値P、P、・・・P(X、Y)とし、全ての処理はPから順に行なう」処理が実行される。前記のように、X,Y座標軸のX軸は、コイル軸方向、Y軸は、コイル径方向に設定している。この処理により、レーザー変位センサ5が動作し、測定点の測定が行われS2へ移行する。
S2では、「測定値の読み込み」の処理が実行され、測定された測定値P1−n(X1−n、Y1−n)が一つずつ読み込まれ、S3へ移行する。なお、測定値P1−n(X1−n、Y1−n)は、P(X、Y)からP(X、Y)までの測定値を意味する。
S3では、「判断対象の測定値を前後の測定値と比較し、異常値はないか?」の判断処理により、異常値であると判断されれば(No)、S4へ移行し、異常値ではないと判断されれば(Yes)、その測定値の記憶が行われS5へ移行する。異常値か否かの判断では、例えば予め測定した素線3aの直径から、ある測定値Yの前後の測定点のY方向の測定値Ym−1、Ym+1、とその間の測定点の測定値Yとの間の差の閾値am−1、閾値am+1を設定する。測定値Ym−1、Ym+1間の比較も同様に行い、精度を向上させることができる。この閾値am−1、閾値am+1と実際の測定値間の差とを比較することで判断対象の測定値が前後の測定値に対し異常値か否かが判断される。なお、異常値判断の閾値は一定の値とすることもできる。レーザー変位センサ5を構成する反射型レーザー変位計では、測定原理的に、測定する表面の状態などにより異常値となる場合が存在する。この異常値を予め排除し、より精度の高い近似を行わせることができる。
S4では、「測定値を、前後の測定値の平均値とする」の処理により、前後の二つの測定点の測定値の平均が測定値として記憶されステップS5ヘ移行する。例えば、測定値P、Pの平均値をPとし、同様に、順次前後の平均により、P、・・・Pn−1(Xn−1、Yn−1)を決める。このように、異常値を取り除き、測定値を前後の二つの測定点の座標値の平均とすることで、測定値のばらつきが抑制され、より精度の高い近似を行わせることができる。なお、測定値P、Pの平均値を測定値Pとし、同様に、順次前後の平均により、測定値P、・・・Pn-1(Xn-1、Yn-1)を決定することもできる。
S5では、「全ての測定値について上記処理を行ったか?」の判断処理が行われ、全ての測定値P1−n(X1−n、Y1−n)について処理が完了していなければ(No)、S2へ戻り、S2,S3,S4,S5の処理が繰り返される。本実施例では、巻端部の先端の座部3cの測定値群が、全ての測定値となる。但し、素線3aに沿って一定間隔により測定された複数群を全ての測定値とすることもできる。この場合、巻端部に沿って座厚の変化を測定することができる。S5において、全ての測定値について処理が完了したと判断されれば(Yes)、S6へ移行する。
したがって、例えば図9にXY座標で概念的に示すように、座部に対応する測定値群を得ることができる。
S6では、「Pa(Xa、Ya)〜Pb(Xb、Yb)に対して円近似を行い、近似円を生成するa>1、b<n、a<b」の処理により、図4のように、最小二乗法により最初の近似円を生成し、S7へ移行する。この円近似では、図4のように、複数の測定点の座標値群15から端点15aが除外されている。
S7では、「測定値の読み込み」の処理により、測定値が順に読み込まれ、S8へ移行する。
S8では、「測定値と生成した近似円との距離がL(定義値)を越えているか?」の判断処理により、越えていれば(Yes)、S9へ移行し、越えていなければ(No)、S10へそのまま移行する。この処理により、S3の異常値の除外よりもさらに厳密な除外を行わせることができる。
S9では、「測定値を除外する」の処理により、図4で示すような座標値データ15cを除外し、S10へ移行する。
S10では、「全ての測定値について上記処理を行ったか?」の判断処理が行われ、前記前後の測定値の平均として特定された全ての測定値P1-n(X1-n、Y1-n)について処理が完了していなければ(No)、S7へ戻り、S7,S8,S9,S10の処理が繰り返される。全ての測定値P1-n(X1-n、Y1-n)について処理が完了していれば(Yes)、S11へ移行する。
S11では、「残った測定値群に対して円近似を行い近似円を生成する。*近似円中心座標をO(Xo,Yo)、近似円の半径をRとする」の処理により、前記図4で示す座標値データ15c等を除外して図5のように残った座標値群15に対して図6のように再度近似円を生成し、図7のように、中心位置Oを演算する。この近似円の半径がRとされる。
この中心位置Oの演算により、図10のように座面厚さ(座厚)が演算される。
図10の演算では、座標値群15が中心位置O(Xo,Yo)を跨いで測定されており、下端点のX軸座標をX、中心位置OのX軸座標をX、近似円の半径Rとし、
座厚=X-X+R
としている。
したがって、例えば図2に概念的に示すような座部の座標値群から座厚を演算することができる。
本発明実施例の座厚測定装置1は、円形断面形状を有する素線3aで形成されコイル端部が平坦な座面3bに形成された座部3cを有するコイルばね3の座厚を検出する座厚測定装置1であって、コイル径方向の一側から座部3cの外表面にレーザー光を照射し反射する測定点の座標値を座部3cのコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点の座標値群に基づいて座厚を演算することができ、画像処理を不要とし、処理を簡単且つ確実に行わせて座厚を得ることができる。
レーザー変位センサ5を使用するから、撮影画像からの測定に比較してより高精度な測定ができ、角度特性も良い。
[その他]
上記実施例では、コイルばね3の素線3aを円形断面としたが、例えば楕円断面等にも同様に適用することができる。
1 座厚測定装置
3 コイルばね
3a 素線
3b 座面
3c 座部
5 レーザー変位センサ
7 演算部
8 表示部
11 アクチュエータ
13 制御部
O 断面中心位置(断面中央位置)

Claims (9)

  1. コイル端部が平坦な座面に形成された座部を有するコイルばねの座厚を検出する座厚測定装置であって、
    前記コイル径方向の一側から前記座部の外表面にレーザー光を照射し反射する測定点の座標値を前記座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で検出するレーザー変位センサと、
    前記複数の測定点の座標値群に基づいて前記座厚を演算する演算部と、
    を備えたことを特徴とする座厚測定装置。
  2. 請求項1記載の座厚測定装置であって、
    前記演算部は、前記コイルばねを形成する素線の断面形状を近似してから前記座厚を演算する、
    ことを特徴とする座厚測定装置。
  3. 請求項2記載の座厚測定装置であって、
    前記演算部は、前記座標値群の端点側の座標値データを除外して前記近似を行う、
    ことを特徴とする座厚測定装置。
  4. 請求項2又は3記載の座厚測定装置であって、
    前記演算部は、前記近似した断面形状から外れた座標値データを除外して前記近似を行う、
    ことを特徴とする座厚測定装置。
  5. 請求項2〜4のいずれか1項記載の座厚測定装置であって、
    前記断面形状の近似から断面中央位置を演算し、この断面中央位置に基づき前記座厚を演算する、
    ことを特徴とする座厚測定装置。
  6. 請求項1〜5の何れか1項記載の座厚測定装置であって、
    前記演算部の演算結果を表示する表示部を備えた、
    ことを特徴とする座厚測定装置。
  7. コイル端部が平坦な座面に形成された座部を有するコイルばねの座厚を求める機能をコンピュータに実現させる座厚測定プログラムであって、
    前記機能は、前記座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で取得した座標値群に基づいて前記座厚を演算する、
    ことを特徴とする座厚測定プログラム。
  8. コイル端部が平坦な座面に形成された座部を有するコイルばねの座厚を求める機能をコンピュータに実現させる座厚測定プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な座厚測定プログラム記録媒体であって、
    前記機能は、前記座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で取得した座標値群に基づいて前記座厚を演算する、
    ことを特徴とするコンピュータにより読み取り可能な座厚測定プログラム記録媒体。
  9. コイル端部が平坦な座面に形成された座部を有するコイルばねの座厚を求める座厚測定方法であって、
    前記座部のコイル軸方向に沿った断面における外表面の複数の測定点で取得した座標値群に基づいて前記座厚を求める、
    ことを特徴とする座厚測定方法。
JP2012186986A 2012-08-27 2012-08-27 座厚測定装置、プログラム、記録媒体、及び方法 Active JP5943778B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012186986A JP5943778B2 (ja) 2012-08-27 2012-08-27 座厚測定装置、プログラム、記録媒体、及び方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012186986A JP5943778B2 (ja) 2012-08-27 2012-08-27 座厚測定装置、プログラム、記録媒体、及び方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014044128A JP2014044128A (ja) 2014-03-13
JP5943778B2 true JP5943778B2 (ja) 2016-07-05

Family

ID=50395491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012186986A Active JP5943778B2 (ja) 2012-08-27 2012-08-27 座厚測定装置、プログラム、記録媒体、及び方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5943778B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108318500A (zh) * 2018-01-25 2018-07-24 昆山升甫电子制品有限公司 一种滑动式检测的aoi设备

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6340237B2 (ja) * 2014-04-15 2018-06-06 日本発條株式会社 ばね端末検出装置、プログラム、記録媒体、及び方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07111342B2 (ja) * 1991-04-06 1995-11-29 茨城県 コイルばねの形状計測方法と装置
JP5256400B2 (ja) * 2008-10-22 2013-08-07 中央発條株式会社 コイルばねの形状測定装置と形状測定方法
JP6013088B2 (ja) * 2012-08-27 2016-10-25 日本発條株式会社 中心位置検出装置、プログラム、記録媒体、及び方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108318500A (zh) * 2018-01-25 2018-07-24 昆山升甫电子制品有限公司 一种滑动式检测的aoi设备
CN108318500B (zh) * 2018-01-25 2021-02-02 昆山升甫电子制品有限公司 一种滑动式检测的aoi设备

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014044128A (ja) 2014-03-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6013088B2 (ja) 中心位置検出装置、プログラム、記録媒体、及び方法
JP6481350B2 (ja) ボールねじ測定装置
JP4821934B1 (ja) 3次元形状計測装置およびロボットシステム
JP6001662B2 (ja) 形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物の製造方法、形状測定プログラム及び一時的でないコンピュータ読取り媒体
KR101892944B1 (ko) 공구 형상 측정 장치
TWI420081B (zh) 測距系統及測距方法
JP6296206B2 (ja) 形状測定装置及び形状測定方法
JP5964788B2 (ja) データ生成方法及びデータ生成装置
JP5923054B2 (ja) 形状検査装置
JP5943778B2 (ja) 座厚測定装置、プログラム、記録媒体、及び方法
JP7223939B2 (ja) 形状測定機及びその制御方法
JP6590088B2 (ja) 検出装置
JP5964803B2 (ja) データ処理方法及びデータ処理装置
US9664604B2 (en) Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article
JP2014153092A (ja) 測定装置および物品の製造方法
KR101110848B1 (ko) Lvs를 이용한 개선 부재 최외각점 위치 측정 방법 및 장치
JP6079664B2 (ja) 被測定物の表面測定装置およびその表面測定方法
JP2019049509A (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
JP2010169636A (ja) 形状測定装置
JP2008209313A (ja) 歪計測方法等
JP2019211348A (ja) 長尺材の曲がり検出システム
JP2016095243A (ja) 計測装置、計測方法、および物品の製造方法
JP5087165B1 (ja) 表面検査装置を調整するためのデータを出力する調整装置、調整データ出力方法及びプログラム
JP2014102136A5 (ja)
JP6532158B2 (ja) 面形状歪測定装置及び面形状歪の測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150406

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160316

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160329

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160406

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160510

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160524

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5943778

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250