WO2017221573A1 - 磁気記録媒体 - Google Patents

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WO2017221573A1
WO2017221573A1 PCT/JP2017/017764 JP2017017764W WO2017221573A1 WO 2017221573 A1 WO2017221573 A1 WO 2017221573A1 JP 2017017764 W JP2017017764 W JP 2017017764W WO 2017221573 A1 WO2017221573 A1 WO 2017221573A1
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magnetic
magnetic recording
recording medium
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友博 森谷
中田 仁志
島津 武仁
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富士電機株式会社
国立大学法人東北大学
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    • G11B5/7379Seed layer, e.g. at least one non-magnetic layer is specifically adapted as a seed or seeding layer

Definitions

  • the present invention relates to a magnetic recording medium. Specifically, the present invention relates to a magnetic recording medium used in a hard disk magnetic recording device (HDD).
  • HDD hard disk magnetic recording device
  • Perpendicular magnetic recording is used as a technology for realizing high density magnetic recording.
  • the perpendicular magnetic recording medium includes at least a nonmagnetic substrate and a magnetic recording layer formed of a hard magnetic material.
  • the perpendicular magnetic recording medium is optionally formed of a soft magnetic material, and a soft magnetic backing layer that plays a role of concentrating the magnetic flux generated by the magnetic head on the magnetic recording layer, and a hard magnetic material of the magnetic recording layer. It may further include an underlayer for orienting in the direction, a protective layer for protecting the surface of the magnetic recording layer, and the like.
  • the granular magnetic material includes magnetic crystal grains and nonmagnetic crystal grain boundaries segregated so as to surround the periphery of the magnetic crystal grains. Individual magnetic crystal grains in the granular magnetic material are magnetically separated by nonmagnetic crystal grain boundaries.
  • Patent Document 1 forms a seed layer having a discontinuous island-like structure containing FePt on an underlayer containing MgO, SiN, or TiC, It proposes to form a magnetic recording layer having a granular structure comprising an upper in L1 0 type FePtX magnetic crystal grains thereof and the non-magnetic grain boundary.
  • L1 0 type FePtX magnetic crystal grains in the magnetic recording layer is formed a FePt particles constituting the seed layer as a starting point, the non-magnetic grain boundary of the magnetic recording layer is formed on the area where the base layer is exposed ing.
  • Patent Document 2 Japanese Patent Laying-Open No. 2013-232269 is composed of a recording layer made of FePt and SiO 2 and FePt and C for the purpose of reducing the size of a recording bit in a magnetic recording medium for microwave-assisted recording.
  • a magnetic recording medium having a magnetic recording layer composed of a resonance layer has been proposed.
  • the recording layer made of FePt and SiO 2 has a structure in which SiO 2 is not segregated at the FePt crystal grain boundary, and crystal grains are continuously connected.
  • Patent Document 3 proposes a magnetic recording medium for microwave-assisted recording including a magnetic recording layer having a laminated structure with a magnetic artificial lattice film as the uppermost layer.
  • a magnetic recording layer having a desired distribution of anisotropic magnetic field (Hk) can be obtained by placing a magnetic artificial lattice film as the uppermost layer and placing a magnetic layer having a granular structure thereunder.
  • Hk anisotropic magnetic field
  • a granular structure comprising lowermost magnetic recording layer of the three-layer structure, the magnetic crystal grains of the L1 1 type CoPt based ordered alloy, and a non-magnetic grain boundaries (Ti 0.8 Si 0.2) O 2
  • sample C5 An example with sample (sample C5) is disclosed.
  • Patent Document 4 proposes to reduce the content of nonmagnetic crystal grain boundaries in the magnetic recording layer as the thickness of the magnetic recording layer increases. is doing.
  • a magnetic recording medium including a magnetic layer or a magnetic recording layer having a granular structure in which magnetic crystal grains are well separated.
  • the magnetic recording layer includes a first magnetic layer that is a continuous film made of an ordered alloy, and magnetic crystal grains made of an ordered alloy. And a second magnetic layer having a granular structure composed of a nonmagnetic crystal grain boundary, wherein the seed layer is made of a material selected from the group consisting of an NaCl type compound, a spinel type compound, and a perovskite type compound. It is a medium.
  • the NaCl type compound may be selected from the group consisting of MgO, ZnO, CaO, SrO, TiN, CrN and ZrN.
  • the spinel type compound may be selected from the group consisting of MgAl 2 O 4 , FeAl 2 O 4 , ZnAl 2 O 4 , MgAl 2 O 4 , FeCr 2 O 4 and MgCr 2 O 4 .
  • the perovskite type compound has a general formula ABO 3 (wherein A is selected from the group consisting of Ba, Pb, Sr, Mg, and Ca, and B is selected from the group consisting of Ti, Zr, Hf, and Sn). You may have.
  • the nonmagnetic crystal grain boundary of the second magnetic layer may include an oxide. The oxide can be selected from the group consisting of TiO 2 , SiO 2 , and Al 2 O 3 .
  • the ordered alloy of the first magnetic layer and the ordered alloy of the second magnetic layer are each independently selected from the group consisting of at least one element selected from the group consisting of Fe and Co and Pt and Pd. An alloy with at least one element may be used.
  • Each of the ordered alloy of the first magnetic layer and the ordered alloy of the second magnetic layer further includes at least one element selected from the group consisting of Ru, Rh, Ir, Ni, Mn, Cu, Au, and Ag. But you can.
  • the magnetic recording layer having the above-described configuration has a coercive force in the perpendicular direction larger than that of a conventional magnetic recording layer in which an ordered alloy-oxide granular structure layer is formed on an ordered alloy-C granular structure layer.
  • FIG. 1 It is a schematic sectional drawing of the magnetic-recording medium of one structural example of this invention. It is a figure which shows the isolation
  • the magnetic recording medium of one configuration example of the present invention includes a substrate, a seed layer, and a magnetic recording layer.
  • the magnetic recording layer includes a first magnetic layer that is a continuous film made of an ordered alloy, and a second magnetic layer having a granular structure made of magnetic crystal grains made of the ordered alloy and nonmagnetic crystal grain boundaries.
  • the seed layer is made of a material selected from the group consisting of NaCl-type compounds, spinel-type compounds, and perovskite-type compounds.
  • the magnetic recording medium of this configuration example is known in the art such as an adhesion layer, a soft magnetic backing layer, and / or a heat sink layer between the substrate and the seed layer or between the substrate and the underlayer. It may further include a layer.
  • the magnetic recording medium of this configuration example may further include a layer known in the art such as a protective layer and / or a liquid lubricant layer on the magnetic recording layer.
  • FIG. 1 shows one configuration example of a magnetic recording medium including a substrate 10, an underlayer 20, a seed layer 30, and a magnetic recording layer 40 including a first magnetic layer 42 and a second magnetic layer 44.
  • the substrate 10 may be various substrates having a smooth surface.
  • the substrate 10 can be formed using a material generally used for magnetic recording media. Materials that can be used include Al alloys plated with NiP, MgO single crystals, MgAl 2 O 4 , SrTiO 3 , tempered glass, crystallized glass and the like.
  • An adhesion layer (not shown) that may be optionally provided is used to enhance adhesion between a layer formed on the adhesion layer and a layer formed below the adhesion layer.
  • the layer formed under the adhesion layer includes the substrate 10.
  • the material for forming the adhesion layer includes metals such as Ni, W, Ta, Cr, and Ru, and alloys containing the aforementioned metals.
  • the adhesion layer may be a single layer or may have a laminated structure of a plurality of layers.
  • a preferable adhesion layer in this configuration example is made of CrTi.
  • the description “sputtering method” includes any technique known in the art, such as a DC magnetron sputtering method and an RF magnetron sputtering method.
  • a soft magnetic backing layer (not shown) that may be optionally provided controls the magnetic flux from the magnetic head to improve the recording / reproducing characteristics of the magnetic recording medium.
  • Materials for forming the soft magnetic backing layer include NiFe alloys, Sendust (FeSiAl) alloys, crystalline materials such as CoFe alloys, microcrystalline materials such as FeTaC, CoFeNi, CoNiP, and Co alloys such as CoZrNb and CoTaZr. Includes amorphous material.
  • the optimum value of the thickness of the soft magnetic underlayer depends on the structure and characteristics of the magnetic head used for magnetic recording.
  • the soft magnetic backing layer When the soft magnetic backing layer is formed by continuous film formation with other layers, it is preferable that the soft magnetic backing layer has a thickness in the range of 10 nm to 500 nm (including both ends) from the viewpoint of productivity.
  • the soft magnetic backing layer can be formed using any method known in the art such as sputtering or vacuum deposition.
  • a heat sink layer (not shown) may be optionally provided.
  • the heat sink layer is a layer for effectively absorbing excess heat of the magnetic recording layer 40 generated during the heat-assisted magnetic recording.
  • the heat sink layer can be formed using a material having high thermal conductivity and specific heat capacity.
  • a material includes Cu simple substance, Ag simple substance, Au simple substance, or an alloy material mainly composed of them.
  • “mainly” means that the content of the material is 50% by mass or more.
  • the heat sink layer can be formed using an Al—Si alloy, a Cu—B alloy, or the like.
  • the optimum value of the heat sink layer thickness varies depending on the amount of heat and heat distribution during heat-assisted magnetic recording, the layer configuration of the magnetic recording medium, and the thickness of each component layer. In the case of forming by continuous film formation with other constituent layers, the film thickness of the heat sink layer is preferably 10 nm or more and 100 nm or less in consideration of productivity.
  • the heat sink layer can be formed using any method known in the art, such as a sputtering method or a vacuum evaporation method. Usually, the heat sink layer is formed using a sputtering method.
  • the heat sink layer can be provided directly below the adhesion layer, directly below the soft magnetic backing layer, directly below the seed layer 30 in consideration of characteristics required for the magnetic recording medium.
  • the underlayer 20 which may be optionally provided is provided to block the influence of the crystal structure of the layer formed thereunder on the crystal orientation of the magnetic recording layer 40 and the size of the magnetic crystal grains. Is a layer. Further, when the soft magnetic backing layer is provided, the underlayer 20 is required to be nonmagnetic in order to suppress the magnetic influence on the soft magnetic backing layer.
  • Materials for forming the underlayer 20 include metals such as Pt, Cr and Ta, NiW alloys, and alloys based on Cr such as CrTi, CrZr, CrTa and CrW.
  • the underlayer 20 can be formed using any method known in the art such as sputtering.
  • the seed layer 30 has a function of controlling the grain size and crystal orientation of the magnetic crystal grains in the magnetic recording layer 40 that is the upper layer.
  • the seed layer 30 may have a function of ensuring adhesion between the layer under the seed layer 30 and the magnetic recording layer 40.
  • the material for forming the seed layer 30 includes a NaCl type compound, a spinel type compound, and a perovskite type compound.
  • NaCl-type compounds that can be used include oxides such as MgO, ZnO, CaO and SrO, and nitrides such as TiN, CrN and ZrN.
  • Spinel type compounds that can be used include MgAl 2 O 4 , FeAl 2 O 4 , ZnAl 2 O 4 , MgAl 2 O 4 , FeCr 2 O 4 and MgCr 2 O 4 .
  • Perovskite type compounds that can be used have the general formula ABO 3 , A is selected from the group consisting of Ba, Pb, Sr, Mg, and Ca, and B is a group consisting of Ti, Zr, Hf, and Sn Selected from.
  • the NaCl-type compound, spinel-type compound, and perovskite-type compound may have a stoichiometric composition or a non-stoichiometric composition.
  • the seed layer 30 can be formed using any method known in the art such as sputtering (including RF magnetron sputtering, DC magnetron sputtering, etc.).
  • the seed layer 30 may be a single layer or may have a stacked structure of a plurality of layers.
  • a seed layer 30 having a stacked structure of a first layer made of ZnO and a second layer made of MgO may be used.
  • the seed layer 30 has a thickness of 1 nm to 50 nm, preferably 2 nm to 10 nm. Further, in the seed layer 30 having a stacked structure of the first layer made of ZnO and the second layer made of MgO, the ZnO first layer preferably has a thickness in the range of 1 nm to 20 nm. The two layers preferably have a thickness in the range of 1 nm to 20 nm. By having a film thickness within the above-described range, the seed layer 30 having an excellent crystalline surface can be obtained.
  • the magnetic recording layer 40 of this configuration example includes a first magnetic layer 42 which is a continuous film made of an ordered alloy, and a second magnetic layer 44 having a granular structure made up of magnetic crystal grains made of the ordered alloy and nonmagnetic crystal grain boundaries. And have.
  • the first magnetic layer 42 has a function of promoting the separation of magnetic crystal grains in the second magnetic layer having a granular structure.
  • the first magnetic layer 42 preferably has a thickness of 1 nm or more, more preferably 2 nm or more, and most preferably in the range of 2 nm to 10 nm.
  • the first magnetic layer 42 is a continuous film having a non-granular structure that does not contain a non-magnetic compound. Further, the first magnetic layer 42 having a film thickness within the above range is a continuous film. In addition, the first magnetic layer 42 having a film thickness within the above range promotes the separation of the magnetic crystal grains in the second magnetic layer 44 without increasing the surface roughness of the second magnetic layer 44. .
  • continuous means that the membrane is not composed of a plurality of independent parts but is composed of an integral part so as to cover the surface of the lower layer. That is, the seed layer having a discontinuous island-shaped structure containing FePt disclosed in US Patent Application Publication No. 2013/0170075 (Patent Document 1) is not regarded as “continuous”.
  • the continuous film may include a defect.
  • the “continuous film” may have a “network” or “mesh” structure including a plurality of independent pinholes.
  • the “continuous membrane” may have a “maze-like” or “maize-like” structure in which a regular alloy is disposed in a portion that becomes a “passage” and a “wall” portion is a defect.
  • the second magnetic layer 44 having a granular structure is formed on the first magnetic layer 42.
  • the material of the nonmagnetic crystal grain boundary of the second magnetic layer is separated from the magnetic crystal grain, and a good nonmagnetic crystal grain boundary is formed. Therefore, the quality of the granular structure of the second magnetic layer 44 is improved, and good magnetic properties of the magnetic recording medium are brought about.
  • the first magnetic layer 42 includes at least one first element selected from the group consisting of Fe and Co, and at least one second element selected from the group consisting of Pt, Pd, Au, Ir, and Rh. It consists of an ordered alloy containing.
  • the ordered alloy of the first magnetic layer 42 may further include at least one element selected from the group consisting of Ru, Rh, Ir, Ni, Mn, Cu, Au, and Ag. Desirable property modulation includes a decrease in temperature required for ordering of the ordered alloy and a decrease in heating temperature during recording by heat-assisted magnetic recording due to a decrease in Curie temperature.
  • ordered alloy of the first magnetic layer 42 preferably has an L1 0 ordered structure.
  • the first magnetic layer 42 can be formed by depositing a predetermined material by a sputtering method. In the formation of the first magnetic layer 42, a target containing the elements constituting the ordered alloy described above at a predetermined ratio can be used. Alternatively, the first magnetic layer 42 may be formed by using a plurality of targets containing a single element and adjusting the power applied to each target to control the ratio of the elements. It is preferable to heat the substrate when forming the first magnetic layer 42. The substrate temperature at this time is in the range of 300 ° C. to 600 ° C. By employing the substrate temperature within this range, the degree of order of the ordered alloy in the first magnetic layer 42 can be improved.
  • the second magnetic layer 44 preferably has a thickness in the range from 2 nm to 20 nm, more preferably from 4 nm to 20 nm. By having the film thickness within the above-mentioned range, a high coercivity in the direction perpendicular to the plane can be realized.
  • the magnetic crystal grains of the second magnetic layer 44 include at least one first element selected from the group consisting of Fe and Co, and at least one type selected from the group consisting of Pt, Pd, Au, Ir, and Rh. It consists of an ordered alloy containing a second element.
  • the ordered alloy of the second magnetic layer 44 may further include at least one element selected from the group consisting of Ru, Rh, Ir, Ni, Mn, Cu, Au, and Ag. Desirable property modulation includes a decrease in temperature required for ordering of the ordered alloy and a decrease in heating temperature during recording by heat-assisted magnetic recording due to a decrease in Curie temperature.
  • ordered alloy of the second magnetic layer 44 preferably has an L1 0 ordered structure.
  • the nonmagnetic grain boundaries of the second magnetic layer 44 are formed using an oxide or carbide.
  • Oxides that can be used include TiO 2 , SiO 2 , and Al 2 O 3 .
  • Carbides that can be used include BC, TiC, and SiC.
  • the second magnetic layer 44 can be formed by depositing a predetermined material by a sputtering method.
  • a target including a material for forming magnetic crystal grains and a material for forming nonmagnetic crystal grain boundaries at a predetermined ratio can be used.
  • a magnetic crystal grain and a nonmagnetic crystal grain boundary are prepared by adjusting a power applied to each target using a target containing a material that forms a magnetic crystal grain and a target containing a material that forms a nonmagnetic crystal grain boundary.
  • the second magnetic layer 44 may be formed by controlling the composition ratio of
  • a plurality of targets separately including elements constituting the ordered alloy of the magnetic crystal grains may be used.
  • the substrate temperature at this time is in the range of 300 ° C. to 600 ° C. By employing the substrate temperature within this range, the degree of order of the ordered alloy in the second magnetic layer 44 can be improved.
  • a protective layer (not shown) which may be optionally provided can be formed using a material conventionally used in the field of magnetic recording media.
  • the protective layer can be formed using a non-magnetic metal such as Pt, a carbon-based material such as diamond-like carbon, or a silicon-based material such as silicon nitride.
  • the protective layer may be a single layer or may have a laminated structure.
  • the protective layer having a stacked structure may be, for example, a stacked structure of two types of carbon-based materials having different characteristics, a stacked structure of a metal and a carbon-based material, or a stacked structure of a metal oxide film and a carbon-based material.
  • the protective layer can be formed using any method known in the art, such as sputtering, CVD, and vacuum deposition.
  • a liquid lubricant layer (not shown) which may be optionally provided can be formed using a material conventionally used in the field of magnetic recording media.
  • a perfluoropolyether lubricant can be used.
  • the liquid lubricant layer can be formed using, for example, a coating method such as a dip coating method or a spin coating method.
  • Example 1 A chemically strengthened glass substrate having a smooth surface (N-10 glass substrate manufactured by HOYA) was washed to prepare a substrate 10. The cleaned substrate 10 was introduced into the sputtering apparatus. Hereinafter, in each stage, a stacked body including the layers formed up to the previous stage is referred to as a “layered substrate”.
  • a Ta adhesion layer having a film thickness of 5 nm was formed by RF magnetron sputtering using a Ta target disposed at a position 180 mm from the substrate 10 in Ar gas at a pressure of 0.20 Pa. The power applied to the target was 200W.
  • an underlayer 20 having a thickness of 10 nm was formed by an RF magnetron sputtering method using a Pt target arranged at a position 320 mm from the laminated substrate in Ar gas at a pressure of 0.44 Pa.
  • the power applied to the target was 300W.
  • a ZnO film having a thickness of 10 nm was formed by an RF magnetron sputtering method using a ZnO target placed at a position 180 mm from the laminated substrate in Ar gas at a pressure of 0.20 Pa.
  • the power applied to the ZnO target was 500W.
  • an MgO film having a thickness of 10 nm is formed by RF magnetron sputtering using an MgO target placed at a position 240 mm from the laminated substrate in Ar gas at a pressure of 0.18 Pa.
  • the ZnO film and the MgO film A seed layer 30 having a laminated structure was obtained.
  • the power applied to the MgO target was 500W.
  • the substrate to be laminated was heated to 450 ° C.
  • the FePt first magnetic layer 42 having a film thickness of 2 nm was formed by RF magnetron sputtering using an FePt target placed at a position 240 mm from the laminated substrate in Ar gas at a pressure of 0.90 Pa.
  • the power applied to the target was 300W.
  • a 4 nm thick FePt—TiO 2 second magnetic layer 44 was formed.
  • a magnetic recording medium having the magnetic recording layer 40 having a laminated structure of the FePt first magnetic layer 42 which is a continuous film and the FePt—TiO 2 second magnetic layer 44 having a granular structure was obtained.
  • the power applied to the TiO 2 target was 500 W, and the power applied to the FePt target was 198 W.
  • the obtained second magnetic layer 44 contained 25% by volume of TiO 2 .
  • Example 2 A magnetic recording medium was obtained by repeating the procedure of Example 1 except that the second magnetic layer 44 was formed as follows.
  • the obtained magnetic recording medium had a magnetic recording layer 40 having a laminated structure of an FePt first magnetic layer 42 which is a continuous film and an FePt—SiO 2 second magnetic layer 44 having a granular structure.
  • a film thickness of 4 nm is obtained by RF magnetron sputtering using a FePt target and a SiO 2 target placed at a position 240 mm from the laminated substrate in Ar gas at a pressure of 0.90 Pa in a state where the laminated substrate is heated to 450 ° C.
  • a second FePt—SiO 2 magnetic layer 44 was formed.
  • the power applied to the SiO 2 target was 500 W, and the power applied to the FePt target was 212 W.
  • the obtained second magnetic layer 44 contained 25% by volume of SiO 2 .
  • Example 3 A magnetic recording medium was obtained by repeating the procedure of Example 1 except that the second magnetic layer 44 was formed as follows.
  • the obtained magnetic recording medium had a magnetic recording layer 40 having a laminated structure of an FePt first magnetic layer 42 which is a continuous film and an FePt—Al 2 O 3 second magnetic layer 44 having a granular structure.
  • a film is formed by RF magnetron sputtering using an FePt target and an Al 2 O 3 target placed at a position of 240 mm from the laminated substrate in Ar gas at a pressure of 0.90 Pa while the laminated substrate is heated to 450 ° C.
  • a 4 nm thick FePt—Al 2 O 3 second magnetic layer 44 was formed.
  • the power applied to the Al 2 O 3 target was 500 W, and the power applied to the FePt target was 187 W.
  • the obtained second magnetic layer 44 contained 25% by volume of Al 2 O 3 .
  • Example 1 (Comparative Example 1) Except that the first magnetic layer 42 was not formed, the procedure of Example 1 was repeated to obtain a magnetic recording medium.
  • the obtained magnetic recording medium had a magnetic recording layer 40 composed only of the FePt—TiO 2 second magnetic layer 44 having a granular structure.
  • Example 2 A magnetic recording medium was obtained by repeating the procedure of Example 2 except that the thickness of the first magnetic layer 42 was changed to 0.5 nm.
  • the obtained magnetic recording medium had a magnetic recording layer 40 composed of an island-shaped first magnetic layer 42 and an FePt—SiO 2 second magnetic layer 44 having a granular structure.
  • Example 3 (Comparative Example 3) Except that the first magnetic layer 42 was not formed, the procedure of Example 2 was repeated to obtain a magnetic recording medium.
  • the obtained magnetic recording medium had a magnetic recording layer 40 composed only of the FePt—SiO 2 second magnetic layer 44 having a granular structure.
  • Example 4 The procedure of Example 3 was repeated except that the first magnetic layer 42 was not formed to obtain a magnetic recording medium.
  • the obtained magnetic recording medium had a magnetic recording layer 40 composed only of the FePt—Al 2 O 3 second magnetic layer 44 having a granular structure.
  • the magnetization curve in the perpendicular direction was measured using a vibrating sample magnetometer (VSM), and the coercive force Hc_out in the perpendicular direction was obtained.
  • VSM vibrating sample magnetometer
  • Hc_out coercive force
  • Nonmagnetic grain boundary of the second magnetic layer 44 is compared with Comparative Example 1 and Example 1 is a TiO 2
  • Example 2 nonmagnetic grain boundary of the second magnetic layer 44 is SiO 2
  • Comparative Example 2 In comparison between Comparative Example 3 and Comparative Example 3 and Comparative Example 4 where the nonmagnetic crystal grain boundary of the second magnetic layer 44 is Al 2 O 3 , the following can be seen.
  • FePt—X TiO 2 , SiO 2 , or Al 2 O formed on the first magnetic layer 42 which is a continuous film of FePt. 3
  • the magnetic crystal grains of the second magnetic layer 44 having a granular structure were sufficiently separated and had sufficiently small dimensions.
  • the second magnetic layer 44 which does not have the first magnetic layer 42 and is formed directly on the MgO seed layer 30 has a clear crystal. Grain boundaries were not observed.
  • X TiO 2 , SiO 2 , or Al 2 O 3
  • this result is due to the wettability of the oxide, which is the nonmagnetic grain boundary material of the second magnetic layer 44. More specifically, when the oxide is deposited on the FePt continuous film, it is considered that the oxide easily moves and does not hinder the formation of FePt crystal grains. On the other hand, when the oxide is deposited on the MgO layer, the oxide cannot move from the deposited position, and it is considered that the formation of FePt crystal grains is inhibited.
  • the second magnetic layer 44 is directly formed on the MgO seed layer 30, it can be seen that the L1 0 type ordered of FePt alloy in the magnetic recording layer 40 is not in progress. Although details are unknown, it is considered that this result is also caused by the wettability of the oxide which is the nonmagnetic grain boundary material of the second magnetic layer 44. More specifically, by the oxide deposited on the FePt continuous film is easily moved, it is believed not to inhibit L1 0 type ordered of FePt. On the other hand, an oxide deposited on the MgO layer can not move from the attached position, believes inhibited L1 0 type ordered of FePt.
  • Example 5 The procedure of Example 1 was repeated to obtain a magnetic recording medium except that the first magnetic layer 42 was formed as follows and the thickness of the second magnetic layer 44 was changed to 3 nm.
  • the obtained magnetic recording medium had a magnetic recording layer 40 having a laminated structure of an FePt—C first magnetic layer 42 having a granular structure and an FePt—TiO 2 second magnetic layer 44 having a granular structure.
  • the substrate to be laminated was heated to 450 ° C.
  • the FePt—C first magnetic layer 42 having a thickness of 2 nm was formed by RF magnetron sputtering using an FePt target and a C target placed at a position 240 mm from the laminated substrate in Ar gas at a pressure of 0.90 Pa.
  • the power applied to the FePt target was 100W.
  • the power applied to the C target was 500W.
  • the obtained first magnetic layer 42 contained 40% by volume of C.
  • Example 6 The procedure of Example 3 was repeated except that the first magnetic layer 42 was formed in the same procedure as in Comparative Example 5 and the film thickness of the second magnetic layer 44 was changed to 3 nm. Obtained.
  • the obtained magnetic recording medium had a magnetic recording layer 40 having a laminated structure of an FePt—C first magnetic layer 42 having a granular structure and an FePt—Al 2 O 3 second magnetic layer 44 having a granular structure. .
  • Example 1 and Comparative Example 5 in which the nonmagnetic crystal grain boundary of the second magnetic layer 44 is TiO 2
  • Example 3 in which the nonmagnetic crystal grain boundary of the second magnetic layer 44 is Al 2 O 3
  • the magnetic recording media of Examples 1 and 3 having the first magnetic layer 42 made of a continuous film of FePt are Comparative Examples 5 and 6 having the first magnetic layer 42 of the FePt—C granular structure. It can be seen that the normalized value of FePt (001) peak integrated intensity is larger than that of the magnetic recording medium.
  • the magnetic recording media of Examples 1 and 3 had a larger coercive force Hc_out in the perpendicular direction and a smaller coercive force Hc_in in the in-plane direction than the magnetic recording media of Comparative Examples 5 and 6. .
  • the magnetic recording media of Examples 1 and 3 had a larger magnetic anisotropy constant Ku than the magnetic recording media of Comparative Examples 5 and 6. From these results, the easy axis of magnetization of the FePt ordered alloy in the magnetic recording layer is formed by forming the second magnetic layer 44 having the FePt-X granular structure on the first magnetic layer 42 formed of a continuous film of FePt. It can be seen that the alignment in the direction perpendicular to the plane is promoted.

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Abstract

本発明の目的は、磁性結晶粒が良好に分離されているグラニュラー構造を有する磁性層または磁気記録層を含む磁気記録媒体を提供することである。本発明の磁気記録媒体は、基板と、シード層と、磁気記録層とを含み、磁気記録層は、規則合金からなる連続膜である第1磁性層と、規則合金からなる磁性結晶粒と非磁性結晶粒界とからなるグラニュラー構造を有する第2磁性層とを有し、シード層は、NaCl型化合物、スピネル型化合物、およびペロブスカイト型化合物からなる群から選択される材料からなる。

Description

磁気記録媒体
 本発明は、磁気記録媒体に関する。具体的には、ハードディスク磁気記録装置(HDD)に用いられる磁気記録媒体に関する。
 磁気記録の高密度化を実現する技術として、垂直磁気記録方式が採用されている。垂直磁気記録媒体は、非磁性基板と、硬質磁性材料から形成される磁気記録層を少なくとも含む。垂直磁気記録媒体は、任意選択的に、軟磁性材料から形成されて、磁気ヘッドが発生する磁束を磁気記録層に集中させる役割を担う軟磁性裏打ち層、磁気記録層の硬質磁性材料を目的の方向に配向させるための下地層、磁気記録層の表面を保護する保護層などをさらに含んでもよい。
 良好な磁気特性を得ることを目的として、グラニュラー磁性材料を用いて垂直磁気記録媒体の磁気記録層を形成することが提案されている。グラニュラー磁性材料は、磁性結晶粒と、磁性結晶粒の周囲を取り囲むように偏析した非磁性結晶粒界とを含む。グラニュラー磁性材料中の個々の磁性結晶粒は、非磁性結晶粒界によって磁気的に分離されている。
 近年、垂直磁気記録媒体の記録密度のさらなる向上を目的として、グラニュラー磁性材料中の磁性結晶粒の粒径を縮小させる必要に迫られている。一方で、磁性結晶粒の粒径の縮小は、記録された磁化(信号)の熱安定性を低下させる。そのため、磁性結晶粒の粒径の縮小による熱安定性の低下を補償するために、グラニュラー磁性材料中の磁性結晶粒を、より高い結晶磁気異方性を有する材料を用いて形成することが求められている。求められる高い結晶磁気異方性を有する材料として、種々のL10型規則合金を提案されている。代表的なL10型規則合金は、FePt、CoPt、FePd、CoPdなどを含む。
 L10型規則合金を含むグラニュラー構造を有する磁気記録層の磁性結晶粒の分離を、磁気記録層の下に形成される層によって向上させる試みがなされてきている。たとえば、米国特許出願公開第2013/0170075号明細書(特許文献1)は、MgO、SiNまたはTiCを含む下地層の上に、FePtを含む不連続な島状構造を有するシード層を形成し、その上にL10型FePtX磁性結晶粒と非磁性結晶粒界とを含むグラニュラー構造を有する磁気記録層を形成することを提案している。この提案では、シード層を構成するFePt粒子を起点として磁気記録層のL10型FePtX磁性結晶粒が形成され、下地層が露出している区域に磁気記録層の非磁性結晶粒界が形成されている。
 また、特開2013-232269号公報(特許文献2)は、マイクロ波アシスト記録用磁気記録媒体における記録ビットの寸法の縮小を目的として、FePtおよびSiO2からなる記録層と、FePtおよびCからなる共鳴層とからなる磁気記録層を有する磁気記録媒体を提案している。この提案においては、FePtおよびSiO2からなる記録層は、SiO2がFePtの結晶粒界に偏析することなく、結晶粒が連続的につながった構造を有している。
 さらに、特開2014-081981号公報(特許文献3)は、磁性人工格子膜を最上層とする積層構造を有する磁気記録層を含むマイクロ波アシスト記録用磁気記録媒体を提案している。この提案では、磁性人工格子膜を最上層とし、その下にグラニュラー構造を有する磁性層を配置することによって、所望される異方性磁界(Hk)の分布を有する磁気記録層が得られると報告されている。1つの構成例として、3層構造の磁気記録層の最下層が、L11型CoPt基規則合金の磁性結晶粒と、(Ti0.8Si0.2)O2の非磁性結晶粒界とを含むグラニュラー構造を有する例(サンプルC5)が開示されている。
 一方、L10型規則合金に垂直磁気記録に適した配向を付与するために、MgOなどのシード層が一般的に用いられる。しかしながら、MgOシード層の上に、L10型規則合金からなる磁性結晶粒と酸化物からなる非磁性結晶粒界とを含むグラニュラー構造を有する磁気記録層を形成するのが難しいことが知られている。この問題点に対して、特開2015-005326号公報(特許文献4)は、磁気記録層中の非磁性結晶粒界の含有量を、磁気記録層の膜厚の増大につれて減少させることを提案している。
米国特許出願公開第2013/0170075号明細書 特開2013-232269号公報 特開2014-081981号公報 特開2015-005326号公報
R. F. Penoyer、「Automatic Torque Balance for Magnetic Anisotropy Measurements」、The Review of Scientific Instruments、1959年8月、第30巻第8号、pp.711-714 近角聰信、「強磁性体の物理(下)-磁気特性と応用-」、第1版、裳華房、1984年3月、10-21頁
 依然として、磁性結晶粒が良好に分離されているグラニュラー構造を有する磁性層または磁気記録層を含む磁気記録媒体に対する要求が存在する。
 本発明の1つの構成例は、基板と、シード層と、磁気記録層とを含み、前記磁気記録層は、規則合金からなる連続膜である第1磁性層と、規則合金からなる磁性結晶粒と非磁性結晶粒界とからなるグラニュラー構造を有する第2磁性層とを有し、前記シード層は、NaCl型化合物、スピネル型化合物、およびペロブスカイト型化合物からなる群から選択される材料から磁気記録媒体である。ここで、NaCl型化合物は、MgO、ZnO、CaO、SrO、TiN、CrNおよびZrNからなる群から選択されてもよい。スピネル型化合物は、MgAl24、FeAl24、ZnAl24、MgAl24、FeCr24およびMgCr24からなる群から選択されてもよい。ペロブスカイト型化合物は、一般式ABO3(式中、AはBa、Pb、Sr、Mg、およびCaからなる群から選択され、BはTi、Zr、Hf、およびSnからなる群から選択される)を有してもよい。また、第2磁性層の非磁性結晶粒界は、酸化物を含んでもよい。酸化物は、TiO2、SiO2、およびAl23からなる群から選択することができる。
 さらに、第1磁性層の規則合金および第2磁性層の規則合金は、それぞれ独立的に、FeおよびCoからなる群から選択される少なくとも一種の元素と、PtおよびPdからなる群から選択される少なくとも一種の元素との合金であってもよい。第1磁性層の規則合金および第2磁性層の規則合金のそれぞれは、Ru、Rh、Ir、Ni、Mn、Cu、Au、およびAgからなる群から選択される少なくとも1種の元素をさらに含んでもよい。
 前述の構成を採用することにより、磁性結晶粒が良好に分離されているグラニュラー構造を有する磁性層を含む磁気記録層を有する磁気記録媒体を提供することができる。前述の構成の磁気記録層は、規則合金-Cグラニュラー構造層の上に規則合金-酸化物グラニュラー構造層を形成した従来型の磁気記録層よりも大きな面直方向の保磁力を有する。
本発明の1つの構成例の磁気記録媒体の概略断面図である。 磁気記録層中の磁性結晶粒の分離状態を示す図であり、(a)は実施例1の磁気記録層のSEM写真であり、(b)は実施例2の磁気記録層のSEM写真であり、(c)は実施例3の磁気記録層のSEM写真であり、(d)は比較例1の磁気記録層のTEM写真であり、(e)は比較例3の磁気記録層のTEM写真である。
 本発明の1つの構成例の磁気記録媒体は、基板と、シード層と、磁気記録層とを含む。磁気記録層は、規則合金からなる連続膜である第1磁性層と、規則合金からなる磁性結晶粒と非磁性結晶粒界とからなるグラニュラー構造を有する第2磁性層とを有する。シード層は、NaCl型化合物、スピネル型化合物、およびペロブスカイト型化合物からなる群から選択される材料からなる。また、本構成例の磁気記録媒体は、基板とシード層との間、または基板と下地層との間に、密着層、軟磁性裏打ち層、および/またはヒートシンク層のような当該技術において知られている層をさらに含んでもよい。加えて、本構成例の磁気記録媒体は、磁気記録層の上に、保護層および/または液体潤滑剤層のような当該技術において知られている層をさらに含んでもよい。図1に、基板10、下地層20、シード層30、ならびに、第1磁性層42と第2磁性層44とからなる磁気記録層40を含む磁気記録媒体の1つの構成例を示す。
 基板10は、表面が平滑である様々な基板であってもよい。たとえば、磁気記録媒体に一般的に用いられる材料を用いて、基板10を形成することができる。用いることができる材料は、NiPメッキを施したAl合金、MgO単結晶、MgAl24、SrTiO3、強化ガラス、結晶化ガラス等を含む。
 任意選択的に設けてもよい密着層(不図示)は、密着層の上に形成される層と密着層の下に形成される層との密着性を高めるために用いられる。密着層の下に形成される層としては基板10を含む。密着層を形成するための材料はNi、W、Ta、Cr、Ruなどの金属、前述の金属を含む合金を含む。密着層は、単一の層であってもよいし、複数の層の積層構造を有してもよい。本構成例において好ましい密着層は、CrTiから構成される。本明細書において、「スパッタ法」という記載は、DCマグネトロンスパッタ法、RFマグネトロンスパッタ法など当該技術において知られている任意の技術を含む。
 任意選択的に設けてもよい軟磁性裏打ち層(不図示)は、磁気ヘッドからの磁束を制御して、磁気記録媒体の記録・再生特性を向上させる。軟磁性裏打ち層を形成するための材料は、NiFe合金、センダスト(FeSiAl)合金、CoFe合金などの結晶質材料、FeTaC,CoFeNi,CoNiPなどの微結晶質材料、CoZrNb、CoTaZrなどのCo合金を含む非晶質材料を含む。軟磁性裏打ち層の膜厚の最適値は、磁気記録に用いる磁気ヘッドの構造および特性に依存する。他の層と連続成膜で軟磁性裏打ち層を形成する場合、生産性との兼ね合いから、軟磁性裏打ち層が10nm~500nmの範囲内(両端を含む)の膜厚を有することが好ましい。軟磁性裏打ち層は、スパッタ法、真空蒸着法などの当該技術において知られている任意の方法を用いて形成することができる。
 本構成例の磁気記録媒体を熱アシスト磁気記録用磁気記録媒体として使用する場合、任意選択的に、ヒートシンク層(不図示)を設けてもよい。ヒートシンク層は、熱アシスト磁気記録時に発生する磁気記録層40の余分な熱を効果的に吸収するための層である。ヒートシンク層は、熱伝導率および比熱容量が高い材料を用いて形成することができる。そのような材料は、Cu単体、Ag単体、Au単体、またはそれらを主体とする合金材料を含む。ここで、「主体とする」とは、当該材料の含有量が50質量%以上であることを示す。また、強度などの観点から、Al-Si合金、Cu-B合金などを用いて、ヒートシンク層を形成することができる。さらに、センダスト(FeSiAl)合金、軟磁性のCoFe合金などを用いてヒートシンク層を形成し、ヒートシンク層に軟磁性裏打ち層の機能であるヘッドの発生する垂直方向磁界を磁気記録層40に集中させる機能を付与することもできる。ヒートシンク層の膜厚の最適値は、熱アシスト磁気記録時の熱量および熱分布、ならびに磁気記録媒体の層構成および各構成層の厚さによって変化する。他の構成層との連続成膜で形成する場合などは、生産性との兼ね合いから、ヒートシンク層の膜厚は10nm以上100nm以下であることが好ましい。ヒートシンク層は、スパッタ法、真空蒸着法などの当該技術において知られている任意の方法を用いて形成することができる。通常の場合、ヒートシンク層は、スパッタ法を用いて形成される。ヒートシンク層は、磁気記録媒体に求められる特性を考慮して、密着層の直下、軟磁性裏打ち層の直下、シード層30の直下などに設けることができる。
 任意選択的に設けてもよい下地層20は、その下に形成される層の結晶構造が、磁気記録層40の結晶配向性および磁性結晶粒のサイズなどに及ぼす影響を遮断するために設けられる層である。また、軟磁性裏打ち層を設ける場合、軟磁性裏打ち層に対する磁気的影響を抑制するために、下地層20は非磁性であることが要求される。下地層20を形成するための材料は、Pt、CrおよびTaなどの金属、NiW合金、およびCrTi、CrZr、CrTa、およびCrWなどのCrをベースとする合金を含む。下地層20は、スパッタ法などの当該技術において知られている任意の方法を用いて形成することができる。
 シード層30は、上層である磁気記録層40中の磁性結晶粒の粒径および結晶配向を制御する機能を有する。また、シード層30は、シード層30の下にある層と磁気記録層40との間の密着性を確保する機能を合わせて有してもよい。シード層30を形成するための材料は、NaCl型化合物、スピネル型化合物、およびペロブスカイト型化合物を含む。使用することができるNaCl型化合物は、MgO、ZnO、CaOおよびSrOのような酸化物、ならびに、TiN、CrNおよびZrNのような窒化物を含む。使用することができるスピネル型化合物は、MgAl24、FeAl24、ZnAl24、MgAl24、FeCr24およびMgCr24を含む。使用することができるペロブスカイト型化合物は、一般式ABO3を有し、AはBa、Pb、Sr、Mg、およびCaからなる群から選択され、BはTi、Zr、Hf、およびSnからなる群から選択される。NaCl型化合物、スピネル型化合物、およびペロブスカイト型化合物は、化学量論組成であっても、非化学量論組成であってもよい。シード層30は、スパッタ法(RFマグネトロンスパッタ法、DCマグネトロンスパッタ法などを含む)などの当該技術において知られている任意の方法を用いて形成することができる。
 シード層30は、単一層であってもよいし、複数の層の積層構造を有してもよい。たとえば、ZnOからなる第1層と、MgOからなる第2層との積層構造を有するシード層30を用いてもよい。
 シード層30は、1nm以上50nm以下、好ましくは2nm以上10nm以下の膜厚を有する。また、ZnOからなる第1層と、MgOからなる第2層との積層構造を有するシード層30においては、ZnO第1層が1nmから20nmの範囲内の膜厚を有することが好ましく、MgO第2層が1nmから20nmの範囲内の膜厚を有することが好ましい。前述の範囲内の膜厚を有することによって、優れた結晶性の表面を有するシード層30を得ることができる。
 本構成例の磁気記録層40は、規則合金からなる連続膜である第1磁性層42と、規則合金からなる磁性結晶粒と非磁性結晶粒界とからなるグラニュラー構造を有する第2磁性層44とを有する。
 第1磁性層42は、グラニュラー構造を有する第2磁性層中の磁性結晶粒の分離を促進する機能を有する。前述の機能を実現するために、第1磁性層42は、好ましくは1nm以上、より好ましくは2nm以上、最も好ましくは2nmから10nmまでの範囲内の膜厚を有する。第1磁性層42は、非磁性化合物を含まない非グラニュラー構造の連続膜である。また、前述の範囲内の膜厚を有する第1磁性層42は、連続膜となる。加えて、前述の範囲内の膜厚を有する第1磁性層42は、第2磁性層44の表面粗さを増大させることなしに、第2磁性層44中の磁性結晶粒の分離を促進する。
 本明細書における「連続」とは、膜が、複数の独立した部分ではなく、下の層の表面を覆うように、一体の部分から構成されていることを意味する。すなわち、米国特許出願公開第2013/0170075号明細書(特許文献1)に開示される、FePtを含む不連続な島状構造を有するシード層は、「連続」であるとはみなされない。一方、連続膜は、欠損部を含んでもよい。言い換えると、「連続膜」は、複数の独立したピンホールを含む「ネットワーク」または「網目状」構造を有してもよい。あるいはまた、「連続膜」は、「通路」となる部分に規則合金が配置され、「壁」の部分が欠損部である、「迷路状」または「メイズ状」構造を有してもよい。
 第1磁性層42が連続膜である場合、グラニュラー構造を有する第2磁性層44は、第1磁性層42の上に形成される。この場合には、第2磁性層の非磁性結晶粒界の材料が磁性結晶粒から分離し、良好な非磁性結晶粒界が形成される。よって、第2磁性層44のグラニュラー構造の品質が向上し、磁気記録媒体の良好な磁気特性をもたらす。
 第1磁性層42は、FeおよびCoからなる群から選択される少なくとも1種の第1元素と、Pt、Pd、Au、IrおよびRhからなる群から選択される少なくとも1種の第2元素とを含む規則合金からなる。特性変調のために、第1磁性層42の規則合金は、Ru、Rh、Ir、Ni、Mn、Cu、Au、およびAgからなる群から選択される少なくとも1種の元素をさらに含んでもよい。望ましい特性変調は、規則合金の規則化に必要な温度の低下、およびキュリー温度の低下による熱アシスト磁気記録による記録時の加熱温度の低下を含む。また、第1磁性層42の規則合金は、L10型規則構造を有することが好ましい。
 第1磁性層42は、スパッタ法により所定の材料を堆積させることによって形成することができる。第1磁性層42の形成において、前述の規則合金を構成する元素を所定の比率で含むターゲットを用いることができる。あるいはまた、単一の元素を含む複数のターゲットを用い、それぞれのターゲットに印加する電力を調整して元素の比率を制御することによって、第1磁性層42を形成してもよい。第1磁性層42を形成する際に基板を加熱することが好ましい。この際の基板温度は、300℃~600℃の範囲内である。この範囲内の基板温度を採用することによって、第1磁性層42中の規則合金の規則度を向上させることができる。
 第2磁性層44は、好ましくは2nmから20nmまで、より好ましくは4nmから20nmまでの範囲内の膜厚を有する。前述の範囲内の膜厚を有することにより、高い面直方向の保磁力を実現することができる。
 第2磁性層44の磁性結晶粒は、FeおよびCoからなる群から選択される少なくとも1種の第1元素と、Pt、Pd、Au、IrおよびRhからなる群から選択される少なくとも1種の第2元素とを含む規則合金からなる。特性変調のために、第2磁性層44の規則合金は、Ru、Rh、Ir、Ni、Mn、Cu、Au、およびAgからなる群から選択される少なくとも1種の元素をさらに含んでもよい。望ましい特性変調は、規則合金の規則化に必要な温度の低下、およびキュリー温度の低下による熱アシスト磁気記録による記録時の加熱温度の低下を含む。また、第2磁性層44の規則合金は、L10型規則構造を有することが好ましい。
 第2磁性層44の非磁性結晶粒界は、酸化物または炭化物を用いて形成される。使用できる酸化物は、TiO2、SiO2、およびAl23を含む。使用できる炭化物は、BC、TiC、およびSiCを含む。
 第2磁性層44は、スパッタ法により所定の材料を堆積させることによって形成することができる。第2磁性層44の形成において、磁性結晶粒を形成する材料と非磁性結晶粒界を形成する材料とを所定の比率で含むターゲットを用いることができる。あるいはまた、磁性結晶粒を形成する材料を含むターゲットと非磁性結晶粒界を形成する材料を含むターゲットとを用い、それぞれのターゲットに印加する電力を調整して磁性結晶粒および非磁性結晶粒界の構成比率を制御することによって、第2磁性層44を形成してもよい。ここで、磁性結晶粒を形成する材料を含むターゲットに代えて、磁性結晶粒の規則合金を構成する元素を別個に含む複数のターゲットを用いてもよい。第2磁性層44を形成する際に基板を加熱することが好ましい。この際の基板温度は、300℃~600℃の範囲内である。この範囲内の基板温度を採用することによって、第2磁性層44中の規則合金の規則度を向上させることができる。
 任意選択的に設けてもよい保護層(不図示)は、磁気記録媒体の分野で慣用的に使用されている材料を用いて形成することができる。具体的には、Ptなどの非磁性金属、ダイアモンドライクカーボンなどの炭素系材料、あるいは窒化シリコンなどのシリコン系材料を用いて、保護層を形成することができる。また、保護層は、単層であってもよく、積層構造を有してもよい。積層構造の保護層は、たとえば、特性の異なる2種の炭素系材料の積層構造、金属と炭素系材料との積層構造、または金属酸化物膜と炭素系材料との積層構造であってもよい。保護層は、スパッタ法、CVD法、真空蒸着法などの当該技術において知られている任意の方法を用いて形成することができる。
 任意選択的に設けてもよい液体潤滑剤層(不図示)は、磁気記録媒体の分野で慣用的に使用されている材料を用いて形成することができる。たとえば、パーフルオロポリエーテル系の潤滑剤などを用いることができる。液体潤滑剤層は、たとえば、ディップコート法、スピンコート法などの塗布法を用いて形成することができる。
(実施例1)
 表面が平滑な化学強化ガラス基体(HOYA社製N-10ガラス基体)を洗浄し、基板10を準備した。洗浄後の基板10をスパッタ装置内に導入した。以下、それぞれの段階において、前段階までに形成した層を含む積層体を「被積層基板」と称する。圧力0.20PaのArガス中で、基板10から180mmの位置に配置したTaターゲットを用いるRFマグネトロンスパッタ法により、膜厚5nmのTa密着層を形成した。ターゲットに印加した電力は200Wであった。
 次に、圧力0.44PaのArガス中で、被積層基板から320mmの位置に配置したPtターゲットを用いたRFマグネトロンスパッタ法により、膜厚10nmの下地層20を形成した。ターゲットに印加した電力は300Wであった。
 次に、圧力0.20PaのArガス中で、被積層基板から180mmの位置に配置したZnOターゲットを用いたRFマグネトロンスパッタ法により、膜厚10nmのZnO膜を形成した。ZnOターゲットに印加した電力は500Wであった。続いて、圧力0.18PaのArガス中で、被積層基板から240mmの位置に配置したMgOターゲットを用いたRFマグネトロンスパッタ法により、膜厚10nmのMgO膜を形成し、ZnO膜およびMgO膜の積層構造を有するシード層30を得た。MgOターゲットに印加した電力は500Wであった。
 次に、被積層基板を450℃に加熱した。圧力0.90PaのArガス中で、被積層基板から240mmの位置に配置したFePtターゲットを用いたRFマグネトロンスパッタ法により、膜厚2nmのFePt第1磁性層42を形成した。ターゲットに印加した電力は300Wであった。
 続いて、被積層基板を450℃に加熱した状態で、圧力0.90PaのArガス中で、被積層基板から240mmの位置に配置したFePtターゲットおよびTiO2ターゲットを用いたRFマグネトロンスパッタ法により、膜厚4nmのFePt-TiO2第2磁性層44を形成した。以上のように、連続膜であるFePt第1磁性層42と、グラニュラー構造を有するFePt-TiO2第2磁性層44との積層構造である磁気記録層40を有する磁気記録媒体を得た。TiO2ターゲットに印加した電力は500Wであり、FePtターゲットに印加した電力は198Wであった。得られた第2磁性層44は、25体積%のTiO2を含有した。
(実施例2)
 第2磁性層44を以下のようにして形成したことを除いて、実施例1の手順を繰り返して、磁気記録媒体を得た。得られた磁気記録媒体は、連続膜であるFePt第1磁性層42と、グラニュラー構造を有するFePt-SiO2第2磁性層44との積層構造である磁気記録層40を有した。
 被積層基板を450℃に加熱した状態で、圧力0.90PaのArガス中で、被積層基板から240mmの位置に配置したFePtターゲットおよびSiO2ターゲットを用いたRFマグネトロンスパッタ法により、膜厚4nmのFePt-SiO2第2磁性層44を形成した。SiO2ターゲットに印加した電力は500Wであり、FePtターゲットに印加した電力は212Wであった。得られた第2磁性層44は、25体積%のSiO2を含有した。
(実施例3)
 第2磁性層44を以下のようにして形成したことを除いて、実施例1の手順を繰り返して、磁気記録媒体を得た。得られた磁気記録媒体は、連続膜であるFePt第1磁性層42と、グラニュラー構造を有するFePt-Al23第2磁性層44との積層構造である磁気記録層40を有した。
 被積層基板を450℃に加熱した状態で、圧力0.90PaのArガス中で、被積層基板から240mmの位置に配置したFePtターゲットおよびAl23ターゲットを用いたRFマグネトロンスパッタ法により、膜厚4nmのFePt-Al23第2磁性層44を形成した。Al23ターゲットに印加した電力は500Wであり、FePtターゲットに印加した電力は187Wであった。得られた第2磁性層44は、25体積%のAl23を含有した。
(比較例1)
 第1磁性層42を形成しなかったことを除いて、実施例1の手順を繰り返して、磁気記録媒体を得た。得られた磁気記録媒体は、グラニュラー構造を有するFePt-TiO2第2磁性層44のみからなる磁気記録層40を有した。
(比較例2)
 第1磁性層42の膜厚を0.5nmに変更したことを除いて、実施例2の手順を繰り返して、磁気記録媒体を得た。得られた磁気記録媒体は、島状構造の第1磁性層42と、グラニュラー構造を有するFePt-SiO2第2磁性層44とからなる磁気記録層40を有した。
(比較例3)
 第1磁性層42を形成しなかったことを除いて、実施例2の手順を繰り返して、磁気記録媒体を得た。得られた磁気記録媒体は、グラニュラー構造を有するFePt-SiO2第2磁性層44のみからなる磁気記録層40を有した。
(比較例4)
 第1磁性層42を形成しなかったことを除いて、実施例3の手順を繰り返して、磁気記録媒体を得た。得られた磁気記録媒体は、グラニュラー構造を有するFePt-Al23第2磁性層44のみからなる磁気記録層40を有した。
(評価1)
 実施例1~3、ならびに比較例1および3の磁気記録媒体に関して、走査型電子顕微鏡(SEM)または透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて、磁気記録層40(より具体的には第2磁性層44)の構造を解析した。図2(a)に実施例1の磁気記録媒体のSEM写真を示し、図2(b)に実施例2の磁気記録媒体のSEM写真を示し、図2(c)に実施例3の磁気記録媒体のSEM写真を示した。また、図2(d)に比較例1の磁気記録媒体のTEM写真を示し、図2(e)に比較例3の磁気記録媒体のTEM写真を示した。
 実施例1~3および比較例1~4の磁気記録媒体に関して、X線回折法(XRD)を用いて、磁気記録層40の結晶性を評価した。具体的には、2θ=24.0~24.2付近のFePt(001)ピークの積分強度(単位はカウント毎秒(cps)×角度(deg.)である)を測定した。結果を第1表に示す。
 さらに、実施例1~3および比較例1~4の磁気記録媒体に関して、振動試料磁力計(VSM)を用いて面直方向の磁化曲線を測定し、面直方向の保磁力Hc_outを求めた。結果を第1表に示す。本明細書における「面直方向」とは、磁気記録媒体の主面の法線の方向を意味する。本明細書における「面内方向」とは、磁気記録媒体の主面に平行な方向を意味する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 第2磁性層44の非磁性結晶粒界がTiO2である実施例1と比較例1との比較、第2磁性層44の非磁性結晶粒界がSiO2である実施例2、比較例2、および比較例3の比較、および第2磁性層44の非磁性結晶粒界がAl23である実施例3と比較例4との比較において、以下のことが分かる。
 (1) 図2(a)~(c)から明らかなように、FePtの連続膜である第1磁性層42の上に形成したFePt-X(X=TiO2、SiO2、またはAl23)グラニュラー構造を有する第2磁性層44の磁性結晶粒は、十分に分離されており、かつ充分に小さい寸法を有した。これに対して、図2(d)および(e)から明らかなように、第1磁性層42を持たず、MgOシード層30の上に直接形成された第2磁性層44では、明確な結晶粒界が観察されなかった。以上の結果から、FePt-X(X=TiO2、SiO2、またはAl23)グラニュラー構造中の磁性結晶粒の分離に対して、FePtの連続膜である第1磁性層42が有効であることが分かった。詳細は不明であるが、この結果は、第2磁性層44の非磁性結晶粒界材料である酸化物の濡れ性に起因するものと考えている。より具体的には、酸化物がFePt連続膜上に付着した場合、酸化物は容易に移動して、FePtの結晶粒の形成を阻害しないと考えている。一方、酸化物がMgO層上に付着した場合、酸化物は付着した位置から移動することができず、FePtの結晶粒の形成を阻害したと考えている。
 (2) 第1表から、FePtの連続膜である第1磁性層42の上にFePt-Xグラニュラー構造を有する第2磁性層44を形成することにより、磁気記録層40中のFePt合金のL10型規則化が促進されることが分かる。一方、島状構造の第1磁性層42の上にFePt-SiO2グラニュラー構造を有する第2磁性層44を形成した比較例2において、FePt(001)ピークの積分強度が小さいことが分かる。このことは、第2磁性層中のFePt合金のL10型規則化が不充分であることを示す。さらに、MgOシード層30の上に直接形成された第2磁性層44では、磁気記録層40中のFePt合金のL10型規則化が進行していないことが分かる。詳細は不明であるが、この結果もまた、第2磁性層44の非磁性結晶粒界材料である酸化物の濡れ性に起因するものと考えている。より具体的には、FePt連続膜上に付着した酸化物が容易に移動することによって、FePtのL10型規則化を阻害しないと考えている。一方、MgO層上に付着した酸化物は付着した位置から移動することができず、FePtのL10型規則化を阻害したと考えている。
 (3) 第1表から、FePtの連続膜である第1磁性層42の上にFePt-Xグラニュラー構造を有する第2磁性層44を形成することにより、磁気記録層40中のFePt規則合金の磁化容易軸が面直方向に配向して、大きな面直方向の保磁力Hc_outが得られることが分かる。一方、比較例1および3の磁気記録媒体においては、MgOシード層30の上に第2磁性層44が直接形成されたことにより、磁気記録層40中のFePt合金の規則化そのものが進行しておらず、面直方向の保磁力Hc_outが観測されなかった。また、比較例4の磁気記録媒体においては、磁気記録層40中のFePt合金のL10型規則化が若干進行したものの、得られた面直方向の保磁力Hc_outは極めて小さかった。この結果から、FePtの連続膜である第1磁性層42の存在により、垂直磁気記録方式に好適な大きな面直方向の保磁力Hc_outが得られることが分かる。また、島状構造の第1磁性層42の上にFePt-SiO2グラニュラー構造を有する第2磁性層44を形成した比較例2の磁気記録媒体は、著しく小さい面直方向の保磁力Hc_outを示す。したがって、FePt第1磁性層42が、MgOシード層30の表面を覆う連続膜であることが重要であることが分かる。
(比較例5)
 第1磁性層42を以下のようにして形成したこと、および第2磁性層44の膜厚を3nmに変更したことを除いて、実施例1の手順を繰り返して、磁気記録媒体を得た。得られた磁気記録媒体は、グラニュラー構造を有するFePt-C第1磁性層42と、グラニュラー構造を有するFePt-TiO2第2磁性層44との積層構造である磁気記録層40を有した。
 被積層基板を450℃に加熱した。圧力0.90PaのArガス中で、被積層基板から240mmの位置に配置したFePtターゲットおよびCターゲットを用いたRFマグネトロンスパッタ法により、膜厚2nmのFePt-C第1磁性層42を形成した。FePtターゲットに印加した電力は100Wであった。Cターゲットに印加した電力は500Wであった。得られた第1磁性層42は、40体積%のCを含んだ。
(比較例6)
 第1磁性層42を比較例5と同様の手順で形成したこと、および第2磁性層44の膜厚を3nmに変更したことを除いて、実施例3の手順を繰り返して、磁気記録媒体を得た。得られた磁気記録媒体は、グラニュラー構造を有するFePt-C第1磁性層42と、グラニュラー構造を有するFePt-Al23第2磁性層44との積層構造である磁気記録層40を有した。
(評価2)
 比較例5および6の磁気記録媒体に関して、X線回折法(XRD)を用いて、磁気記録層40の結晶性を評価した。具体的には、2θ=24.0~24.2付近のFePt(001)ピークの積分強度を測定した。加えて、膜厚の効果を排除した比較のために、実施例1および3ならびに比較例5および6の磁気記録媒体について、FePt(001)ピークの積分強度を磁気記録層40の総膜厚で除算して得られる積分強度の規格化値(単位はカウント毎秒(cps)×角度(deg.)/ナノメートル(nm)である)を測定した。結果を第2表に示す。
 さらに、比較例5および6の磁気記録媒体に関して、振動試料磁力計(VSM)を用いて面直方向の磁化曲線を測定し、面直方向の保磁力Hc_outを求めた。さらに、実施例1および3ならびに比較例5および6の磁気記録媒体について、VSMを用いて面内方向の磁化曲線を測定し、面内方向の保磁力Hc_inを求めた。結果を第2表に示す。
 また、実施例1および3ならびに比較例5および6の磁気記録媒体について、PPMS装置(Quantum Design社製;Physical Property Measurement System)を用いて自発磁化の磁場印加角度依存性を評価し、磁気異方性定数Kuを決定した。磁気異方性定数Kuの決定には、R. F. Penoyer、「Automatic Torque Balance for Magnetic Anisotropy Measurements」、The Review of Scientific Instruments、1959年8月、第30巻第8号、711-714(非特許文献1)、ならびに近角聰信、強磁性体の物理(下)裳華房、10-21(非特許文献2)に記載の手法を用いた。結果を第2表に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 第2磁性層44の非磁性結晶粒界がTiO2である実施例1と比較例5との比較、および第2磁性層44の非磁性結晶粒界がAl23である実施例3と比較例6との比較において、FePtの連続膜からなる第1磁性層42を有する実施例1および3の磁気記録媒体は、FePt-Cグラニュラー構造の第1磁性層42を有する比較例5および6の磁気記録媒体よりも大きなFePt(001)ピーク積分強度の規格化値を有することが分かる。このことから、FePtの連続膜からなる第1磁性層42の上に、FePt-X(X=TiO2、SiO2、またはAl23)グラニュラー構造を有する第2磁性層44を形成することによって、第1磁性層42のFePt合金および第2磁性層44の磁性結晶粒中のFePt合金のL10型規則化が促進されることが分かる。
 加えて、実施例1および3の磁気記録媒体は、比較例5および6の磁気記録媒体に比較して、より大きな面直方向の保磁力Hc_outおよびより小さい面内方向の保磁力Hc_inを有した。また、実施例1および3の磁気記録媒体は、比較例5および6の磁気記録媒体に比較して、より大きな磁気異方性定数Kuを有した。これらの結果から、FePtの連続膜からなる第1磁性層42の上に、FePt-Xグラニュラー構造を有する第2磁性層44を形成することによって、磁気記録層中のFePt規則合金の磁化容易軸の面直方向への配向が促進されることが分かる。
  10 基板
  20 下地層
  30 シード層
  40 磁気記録層
    42 第1磁性層
    44 第2磁性層

Claims (8)

  1.  基板と、シード層と、磁気記録層とを含む磁気記録媒体であって、前記磁気記録層は、規則合金からなる連続膜である第1磁性層と、規則合金からなる磁性結晶粒と非磁性結晶粒界とからなるグラニュラー構造を有する第2磁性層とを有し、前記シード層は、NaCl型化合物、スピネル型化合物、およびペロブスカイト型化合物からなる群から選択される材料からなることを特徴とする磁気記録媒体。
  2.  前記NaCl型化合物は、MgO、ZnO、CaO、SrO、TiN、CrNおよびZrNからなる群から選択され、前記スピネル型化合物は、MgAl24、FeAl24、ZnAl24、MgAl24、FeCr24およびMgCr24からなる群から選択され、前記ペロブスカイト型化合物は、一般式ABO3(式中、AはBa、Pb、Sr、Mg、およびCaからなる群から選択され、BはTi、Zr、Hf、およびSnからなる群から選択される)を有することを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体。
  3.  前記第2磁性層の非磁性結晶粒界は、酸化物を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の磁気記録媒体。
  4.  前記酸化物は、TiO2、SiO2、およびAl23からなる群から選択されることを特徴とする請求項3に記載の磁気記録媒体。
  5.  前記第2磁性層の規則合金は、FeおよびCoからなる群から選択される少なくとも1種の元素と、PtおよびPdからなる群から選択される少なくとも1種の元素との合金であることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の磁気記録媒体。
  6.  前記第2磁性層の規則合金は、Ru、Rh、Ir、Ni、Mn、Cu、Au、およびAgからなる群から選択される少なくとも1種の元素をさらに含むことを特徴とする請求項5に記載の磁気記録媒体。
  7.  前記第1磁性層の規則合金は、FeおよびCoからなる群から選択される少なくとも1種の元素と、PtおよびPdからなる群から選択される少なくとも1種の元素との合金であることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の磁気記録媒体。
  8.  前記第1磁性層の規則合金は、Ru、Rh、Ir、Ni、Mn、Cu、Au、およびAgからなる群から選択される少なくとも1種の元素をさらに含むことを特徴とする請求項7に記載の磁気記録媒体。
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