WO2015190131A1 - 硬化性樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、及び繊維強化樹脂成形品 - Google Patents

硬化性樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、及び繊維強化樹脂成形品 Download PDF

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智弘 下野
和郎 有田
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Definitions

  • the present invention is a curable resin composition excellent in various physical properties such as heat resistance, flame retardancy, moisture resistance and solder resistance, and dielectric properties in a cured product, and the cured product, semiconductor sealing material, semiconductor device, prepreg, circuit board,
  • the present invention relates to a buildup film, a buildup substrate, a fiber reinforced composite material, and a fiber reinforced resin molded product.
  • resins such as epoxy resins, cyanate ester resins, bismaleimide-triazine resins, and benzoxazine resins are used as resin materials for electronic components used in semiconductor sealing materials and insulating layers for multilayer printed boards. These resin materials are required to have various performances such as heat resistance, heat decomposition resistance, flame resistance, moisture resistance, solder resistance, and dielectric properties.
  • the benzoxazine resin has excellent heat resistance and dielectric properties in the cured product.
  • a benzoxazine resin obtained by reacting bisphenol, formalin and aniline see Patent Document 1
  • a polymer compound having a benzoxazine ring in the main chain see Patent Document 2 and Patent Document 3
  • the benzoxazine resin described in Patent Document 1 does not have sufficient heat resistance, flame resistance, moisture resistance, solder resistance, and dielectric properties, and is based on the high molecular weight compounds described in Patent Documents 2 and 3.
  • Benzoxazine resin has poor fluidity, moldability as a semiconductor encapsulating material, and poor impregnation into glass cloth in prepreg production, and the curable composition has poor handling properties in the above-mentioned electronic material applications and is heat resistant. There was a problem that the property was insufficient. Therefore, there has been a demand for the development of a resin composition having a good performance balance that is excellent in all of heat resistance, fluidity, moisture and solder resistance, flame retardancy, and dielectric properties.
  • the problem to be solved by the present invention is a curable resin composition having excellent fluidity and excellent physical properties such as heat resistance, moisture resistance, solder resistance, flame resistance and dielectric properties in a cured product, and its curing.
  • An object is to provide a semiconductor encapsulating material, a semiconductor device, a prepreg, a circuit board, a buildup film, a buildup board, a fiber reinforced composite material, and a fiber reinforced resin molded product.
  • the present inventors combined a resin having a benzoxazine structure with an epoxy resin, and specified the total number of moles of the benzoxazine structure and the number of moles of epoxy groups in the epoxy resin.
  • the curable resin composition obtained by setting the ratio is excellent in fluidity, and the cured product obtained by curing the composition has heat resistance, moisture solder resistance, flame resistance and dielectric properties. Since it was excellent in various physical properties, it was found that it was highly useful as a resin material for electronic members, and the present invention was completed.
  • the present invention provides a resin (A) having a benzoxazine structure represented by the following structural formula (A1) and an epoxy resin (B) in a total mole of the benzoxazine structure represented by the structural formula (A1).
  • a curable resin containing a ratio [( ⁇ ) / ( ⁇ )] of 0.1 to 0.5, where ⁇ is the number and ⁇ is the number of moles of epoxy groups in the epoxy resin (B). Relates to the composition.
  • Ar 1 represents a tetravalent aromatic group
  • Ar 2 represents a divalent aromatic group
  • L represents a divalent linking group
  • x is an average value of the number of repetitions and represents 0.25 to 5.0
  • O * 1 atom and C * 1 atom indicates that it is bound to a carbon atom adjacent to the aromatic group represented by Ar 1, aromatic O * 2 atoms and C * 2 atoms represented by Ar 2 It is bonded to the adjacent carbon atom of the group.
  • the present invention further relates to a cured product obtained by curing the curable resin composition.
  • the present invention further relates to a semiconductor sealing material containing the curable resin composition and an inorganic filler.
  • the present invention further relates to a semiconductor device obtained by heat-curing the semiconductor sealing material.
  • the present invention further relates to a prepreg obtained by impregnating a reinforcing substrate with a solution obtained by diluting the curable resin composition in an organic solvent and semi-curing the resulting impregnated substrate.
  • the present invention further relates to a circuit board obtained by obtaining a varnish obtained by diluting the curable resin composition in an organic solvent, and molding the resulting varnish and a copper foil.
  • the present invention further relates to a build-up film obtained by applying a solution obtained by diluting the curable resin composition in an organic solvent on a base film and drying it.
  • the present invention further provides a build-up obtained by applying the build-up film to a circuit board on which a circuit is formed, and forming irregularities on the circuit board obtained by heat-curing, and then plating the circuit board. Regarding the substrate.
  • the present invention further relates to a fiber-reinforced composite material containing the curable resin composition and reinforcing fibers.
  • the present invention further relates to the fiber-reinforced composite material according to the above item, wherein the volume content of the reinforcing fiber is in the range of 40 to 85%.
  • the present invention further relates to a fiber reinforced resin molded product obtained by curing the fiber reinforced composite material.
  • the present invention further relates to a resin having the above benzoxazine structure.
  • a curable resin composition excellent in heat resistance, moisture resistance, solder resistance, flame retardancy, and dielectric properties in a cured product, and the cured product, semiconductor sealing material, semiconductor device, prepreg, circuit board, build An up film, a build-up substrate, a fiber reinforced composite material, and a fiber reinforced resin molded product can be provided.
  • FIG. 1 is a GPC chart of the resin (A-1) having a benzoxazine structure obtained in Example 1.
  • FIG. 2 is a 13 C-NMR chart of the resin (A-1) having a benzoxazine structure obtained in Example 1.
  • FIG. 3 is an FD-MS spectrum of the resin (A-1) having a benzoxazine structure obtained in Example 1.
  • the curable resin composition of the present invention comprises a resin (A) having an benzoxazine structure and an epoxy resin (B), the total number of moles of the benzoxazine structure represented by the structural formula (A1) being ⁇ , B) is a composition containing a ratio [( ⁇ ) / ( ⁇ )] of 0.1 to 0.5, where ⁇ is the number of moles of epoxy groups in B.
  • the resin (A) having the benzoxazine structure is represented by the following structural formula (A1).
  • Ar 1 represents a tetravalent aromatic group
  • Ar 2 represents a divalent aromatic group
  • L represents a divalent linking group.
  • x is an average value of the number of repetitions, and the average value is 0.25 to 5.0.
  • O * 1 atom and C * 1 atom indicates that it is bound to a carbon atom adjacent to the aromatic group represented by Ar 1, aromatic O * 2 atoms and C * 2 atoms represented by Ar 2 It shows bonding to the adjacent carbon atom of the group.
  • the resin (A1) having the benzoxazine structure has a so-called dihydrooxazine structure that includes one nitrogen atom and one oxygen atom in the six-membered ring. As described above, the resin having such a dihydrooxazine structure. Although it has the characteristics of excellent heat resistance and dielectric properties, it does not have sufficient heat decomposition resistance, flame retardancy, and moisture resistance and solder resistance.
  • the total number of moles of the benzoxazine structure represented by the structural formula (A1) of the resin (A1) having the benzoxazine structure and the epoxy resin (B) is ⁇
  • the epoxy resin (B) When the number of moles of the epoxy group is ⁇ , the curable resin composition containing the ratio [( ⁇ ) / ( ⁇ )] in a ratio of 0.1 to 0.5 has excellent fluidity, and It has been found that the cured product is excellent in heat resistance, low dielectric constant, low dielectric loss tangent, flame retardancy, and moisture resistance and solder resistance.
  • L represents a divalent linking group.
  • the divalent linking group represented by L is a divalent hydrocarbon group or a divalent hydrocarbon group in which one or more hydrogen atoms contained in the divalent hydrocarbon group are substituted with a hydroxyl group, an alkoxy group, or a halogen atom. Groups and the like.
  • the “divalent hydrocarbon group” referred to in the present invention is a hydrocarbon obtained by removing two hydrogens from a hydrocarbon group, and is represented by “—R— (R is a hydrocarbon)”.
  • the “hydrocarbon” indicates an aliphatic saturated hydrocarbon, an aliphatic unsaturated hydrocarbon, an aromatic hydrocarbon, or a combination thereof.
  • L represents a divalent hydrocarbon group
  • L is an alkylene group, an alkenylene group, an alkynylene group, a cycloalkylene group, an arylene group, an aralkylene group (a divalent group having an alkylene group and an arylene group, for example, “ -R-Ar-R- (wherein R is an aliphatic hydrocarbon group and Ar is an aromatic hydrocarbon group).
  • examples of the alkylene group include a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a butylene group, a pentylene group, and a hexylene group.
  • examples of the alkenylene group include a vinylene group, a 1-methylvinylene group, a propenylene group, a butenylene group, and a pentenylene group.
  • examples of the alkynylene group include an ethynylene group, a propynylene group, a butynylene group, a pentynylene group, and a hexynylene group.
  • Examples of the cycloalkylene group include a cyclopropylene group, a cyclobutylene group, a cyclopentylene group, and a cyclohexylene group.
  • Examples of the arylene group include a phenylene group, a tolylene group, a xylylene group, and a naphthylene group.
  • the aralkylene group is represented by “—R—Ar—R— (wherein R is an aliphatic hydrocarbon group and Ar is an aromatic hydrocarbon group)”, and has 7 to 20 carbon atoms having the above alkylene group and arylene group. Groups and the like.
  • L represents a divalent group in which one or more hydrogen atoms contained in the hydrocarbon group are substituted with a hydroxyl group, an alkoxy group, or a halogen atom
  • L is a hydroxyl group-containing alkylene group or an alkoxy group-containing alkylene group.
  • Halogenated alkylene group hydroxyl group-containing alkenylene group, alkoxy group-containing alkenylene group, halogenated alkenylene group, hydroxyl group-containing alkynylene group, alkoxy group-containing alkynylene group, halogenated alkynylene group, hydroxyl group-containing cycloalkylene group, alkoxy group-containing cycloalkylene group
  • Examples of the hydroxyl group-containing alkylene group include a hydroxyethylene group and a hydroxypropylene group.
  • Examples of the alkoxy group-containing alkylene group include a methoxyethylene group, a methoxypropylene group, an allyloxymethylene group, an allyloxypropylene group, a propargyloxymethylene group, and a propargyloxypropylene group.
  • halogenated alkylene group examples include a chloromethylene group, a chloroethylene group, a chloropropylene group, a bromomethylene group, a bromoethylene group, a bromopropylene group, a fluoromethylene group, a fluoroethylene group, and a fluoropropylene group.
  • Examples of the hydroxyl group-containing alkenylene group include a hydroxybutenylene group and a hydroxypentenylene group.
  • Examples of the alkoxy group-containing alkenylene group include a methoxybutenylene group and an ethoxyhexenylene group.
  • Examples of the halogenated alkenylene group include a chloropropenylene group and a bromopentenylene group.
  • Examples of the hydroxyl group-containing alkynylene group include a hydroxypentynylene group and a hydroxyhexynylene group.
  • Examples of the alkoxy group-containing alkynylene group include an ethoxyhexynylene group and a methoxyheptynylene group.
  • Examples of the halogenated alkynylene group include a chlorohexynylene group and a fluorooctynylene group.
  • Examples of the hydroxyl group-containing cycloalkylene group include a hydroxycyclohexanylene group.
  • Examples of the alkoxy group-containing cycloalkylene group include a methoxycyclopentanylene group.
  • Examples of the halogenated cycloalkylene group include a dichlorocyclopentanylene group.
  • Examples of the hydroxyl group-containing arylene group include a hydroxyphenylene group.
  • Examples of the alkoxy group-containing arylene group include a methoxyphenylene group, an ethoxyphenylene group, an allyloxyphenylene group, and a propargyloxyphenylene group.
  • Examples of the halogenated arylene group include a chlorophenyl group, a bromophenyl group, a fluorophenyl group, a chloronaphthyl group, a bromonaphthyl group, and a fluoronaphthyl group.
  • L may be an unsaturated hydrocarbon group-containing arylene group.
  • unsaturated hydrocarbon group-containing arylene group examples include vinyl phenylene, allyl phenylene, ethynyl phenylene, and propargyl phenylene.
  • L is preferably a divalent linking group represented by any one of the following structural formula (A2-1), structural formula (A2-2), an alkylene group, an arylene group, or an aralkylene group.
  • L 1 represents a divalent linking group.
  • R 1 is independently a hydrogen atom, a hydrocarbon group, an alkoxy group, a hydroxyl group, a halogen atom, or one or more hydrogen atoms contained in a hydrocarbon group or an alkoxy group is substituted with either a hydroxyl group or a halogen atom.
  • I represents an integer of 1 to 4
  • j represents an integer of 1 to 4.
  • a * 1 represents the point of attachment to the N * 1 atom or N * 2 atom in the structural formula (A1).
  • L 1 is composed of a divalent linking group.
  • the divalent linking group represented by L 1 include an alkylene group, an ether group (—O— group), a carbonyl group (—CO— group), an ester group (—COO— group), an amide group (—CONH— group). And imino group (—C ⁇ N— group), azo group (—N ⁇ N— group), sulfide group (—S— group), sulfone group (—SO 3 — group) and the like.
  • L 1 is preferably composed of any one of an alkylene group and an ether group because of excellent flame retardancy and dielectric properties in the cured product.
  • R 1 is a hydrocarbon group, an alkoxy group, a hydrogen atom, a hydroxyl group, or a substituent in which one or more hydrogen atoms contained in a hydrocarbon group or an alkoxy group are substituted with either a hydroxyl group or a halogen atom. Or a halogen atom.
  • substituent R 1 When the substituent R 1 is composed of a hydrocarbon group, examples of the substituent R 1 include an alkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, an aryl group, and an aralkyl group.
  • Examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, and a cyclohexyl group.
  • Examples of the alkenyl group include a vinyl group, 1-methylvinyl group, propenyl group, butenyl group, pentenyl group and the like.
  • Examples of the alkynyl group include ethynyl group, propynyl group, butynyl group, pentynyl group, hexynyl group and the like.
  • aryl group examples include a phenyl group, a tolyl group, a xylyl group, and a naphthyl group.
  • Aralkyl groups include benzyl, phenylethyl, phenylpropyl, tolylmethyl, tolylethyl, tolylpropyl, xylylmethyl, xylylethyl, xylylpropyl, naphthylmethyl, naphthylethyl, naphthylpropyl, etc. Can be mentioned.
  • examples of the substituent R 1 include a methoxy group, an ethoxy group, a proxy group, a butoxy group, a pentanoxy group, a hexanoxy group, and a cyclohexanoxy group.
  • the substituent R 1 is composed of a substituent in which one or more hydrogen atoms contained in the hydrocarbon group are substituted with either a hydroxyl group or a halogen atom
  • the substituent R 1 is a hydroxyl group-containing alkyl group.
  • Examples of the hydroxyl group-containing alkyl group include a hydroxyethyl group and a hydroxypropyl group.
  • Examples of the halogenated alkyl group include a chloromethyl group, a chloroethyl group, a chloropropyl group, a bromomethyl group, a bromoethyl group, a bromopropyl group, a fluoromethyl group, a fluoroethyl group, and a fluoropropyl group.
  • Examples of the hydroxyl group-containing alkenyl group include 1-hydroxy-2,3-propenyl group, 2-hydroxy-4,5-pentenyl group and the like.
  • Examples of the halogenated alkenyl group include 1-chloro-3,4-butenyl group, 2-bromo-4,5-hexenyl group and the like.
  • Examples of the hydroxyl group-containing alkynyl group include 2-hydroxy-4,5-pentynyl group, 2-hydroxy-3,4-hexynyl and the like.
  • Examples of the halogenated alkynyl group include a 1-chloro-3,4-butynyl group and a 3-bromo-5,6-hexynyl group.
  • Examples of the hydroxyl group-containing aryl group include a hydroxyphenyl group and a hydroxynaphthyl group.
  • Examples of the halogenated aryl group include a chlorophenyl group, a bromophenyl group, a fluorophenyl group, a chloronaphthyl group, a bromonaphthyl group, and a fluoronaphthyl group.
  • Examples of the hydroxyl group-containing aralkyl group include a hydroxybenzyl group and a hydroxyphenethyl group.
  • Examples of the halogenated aralkyl group include a chlorobenzyl group and a bromophenethyl group.
  • the substituent R 1 is composed of a substituent in which one or more hydrogen atoms contained in the alkoxy group are substituted with either a hydroxyl group or a halogen atom
  • the substituent R 1 includes a hydroxyl group-containing alkoxy group, And halogenated alkoxy groups.
  • hydroxyl group-containing alkoxy group examples include a hydroxyethyloxy group.
  • a chloropropyloxy group etc. are mentioned as a halogenated alkoxy group.
  • substituent R 1 When the substituent R 1 is composed of a halogen atom, examples of the substituent R 1 include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.
  • the substituent R 1 may be an alkoxy group-containing alkyl group, an alkoxy group-containing aryl group, or an unsaturated hydrocarbon group-containing aryl group.
  • alkoxy group-containing alkyl group include a methoxyethyl group, a methoxypropyl group, an allyloxymethyl group, an allyloxypropyl group, a propargyloxymethyl group, and a propargyloxypropyl group.
  • the alkoxy group-containing aryl group include a methoxyphenyl group, an ethoxyphenyl group, an allyloxyphenyl group, and a propargyloxyphenyl group.
  • the unsaturated hydrocarbon group-containing aryl group include vinylphenyl, allylphenyl, ethynylphenyl, propargylphenyl and the like.
  • the linking group L 1 that connects two aromatic rings may be bonded to any carbon atom constituting the aromatic ring, but the flame retardancy in the cured product and
  • the linking group L 1 is preferably bonded to the para-position or both the meta-position relative to a * 1 . More preferably, the linking group L 1 is bonded to the para position with respect to a * 1 .
  • the bonding position of the two aromatic rings on the biphenyl skeleton may be any, but since the flame retardancy and dielectric properties of the cured product are excellent, the two aromatic rings
  • the rings are preferably bonded to the para position or both the meta position with respect to a * 1 . More preferably, both are bonded to the para position.
  • Ar 1 included in the structural formula (1) will be described.
  • Ar 1 is a tetravalent aromatic group.
  • Examples of the tetravalent aromatic group represented by Ar 1 include groups represented by the following structural formulas (A3-1) to (A3-4) in addition to a benzene ring, a naphthalene ring, and an anthracene ring.
  • L2 represents a divalent linking group
  • each R2 independently represents a hydrogen atom, a hydrocarbon group, an alkoxy group, a hydroxyl group, a halogen atom, or A substituent in which one or more hydrogen atoms contained in a hydrocarbon group or an alkoxy group are substituted with either a hydroxyl group or a halogen atom is shown.
  • K is an integer of 1 to 3
  • l is an integer of 1 to 3
  • m is an integer of 1 to 2
  • n is an integer of 1 to 4.
  • b * 1 and c * 1 are the bonding points with the O * 1 atom and the C * 1 atom represented by the structural formula (A1), respectively, and the structural formulas (A3-1) to (A3-4) It shows that it is bonded to the adjacent carbon atom of the aromatic group represented by
  • L2 represents a divalent linking group as described above.
  • Examples of the divalent linking group represented by L2 include those similar to L1.
  • L2 is preferably an alkylene group or an ether group because it is excellent in flame retardancy and dielectric properties in the cured product as in the case of L1.
  • R 2 in the structural formulas (A3-1) to (A3-4) is each independently contained in a hydrogen atom, a hydrocarbon group, an alkoxy group, a hydroxyl group, or a hydrocarbon group, an alkoxy group.
  • the above hydrogen atom is a hydroxyl group, a substituent substituted with a halogen atom, or a halogen atom.
  • the substituent represented by R 2 include the same substituents as R 1 .
  • the substituent R 2 is preferably composed of a hydrogen atom, an alkyl group, and an aralkyl group, and has a benzoxazine structure excellent in heat resistance and moisture and solder resistance. It is more preferable that it is composed of hydrogen atoms.
  • the linking group L 2 linking the two aromatic rings may be bonded to any carbon atom constituting the aromatic ring, but the flame retardancy in the cured product and Since the dielectric properties are excellent, the linking group L 2 is preferably bonded to the para-position or both the meta-position with respect to b * 1 . More preferably, both are bonded to the para position.
  • the bonding position of the two aromatic rings on the biphenyl skeleton may be any, but the two aromatic fragrances have excellent flame retardancy and dielectric properties in the cured product.
  • the rings are preferably bonded to the para position or both the meta position with respect to b * 1 . More preferably, both are bonded to the para position.
  • Ar 2 is a divalent aromatic group.
  • Examples of the divalent aromatic group represented by Ar 2 include aromatic groups represented by the following structural formulas (A4-1) to (A4-2) and aromatic groups having an anthracene ring.
  • R 3 is each independently any substituent selected from the group consisting of a hydrogen atom, a hydrocarbon group, an alkoxy group, and a hydroxyl group, or a hydrocarbon 1 or more hydrogen atoms contained in a group or an alkoxy group represent a substituent substituted with either a hydroxyl group or a halogen atom, or a halogen atom.
  • P represents an integer of 1 to 4
  • q represents an integer of 1 to 6.
  • b * 2 and c * 2 are points of attachment to the O * 2 atom and the C * 2 atom represented by the structural formula (A1), respectively, and the structural formulas (A4-1) to (A4-2) It shows that it is bonded to the adjacent carbon atom of the aromatic group represented by
  • each R 3 independently represents a hydrogen atom, a hydrocarbon group, an alkoxy group, a hydroxyl group, a halogen atom, or one or more hydrogen atoms contained in a hydrocarbon group or an alkoxy group, either a hydroxyl group or a halogen atom.
  • the substituents substituted with are shown.
  • the substituent represented by R 3 include those similar to R 1 and R 2 .
  • the substituent R 3 is preferably composed of a hydrogen atom, an alkyl group, and an aralkyl group, and has a benzoxazine structure excellent in heat resistance and moisture resistance and solder resistance. It is more preferable that the resin is composed of hydrogen atoms.
  • the resin (A) having a benzoxazine structure preferably has a repeating number x of the above structural formula (A1) of 0.25 or more and less than 2.0 because it gives a curable resin composition having excellent fluidity.
  • the repeating number x of the structural formula (A1) is 2 or more
  • the resin (A) having a benzoxazine structure may have the same or different kind of aromatic group Ar 1 in the structure.
  • the aromatic compounds represented by structural formulas (A3-1) to (A3-4) are included in the structure. may have all radicals Ar 1, it may have only a portion thereof.
  • the resin (A) having a benzoxazine structure may have the same or different types of linking groups L in the structure when the number x of the structural formula (A1) is 2 or more.
  • the resin (A) having a benzoxazine structure has an alkylene group, an arylene group, or the structural formula (A2-1) in the structure when the repeating number x of the structural formula (A1) is 4. All of the linking groups L represented by (A2-2) may be included, or only a part thereof may be included.
  • the epoxy resin (B) used for the curable resin composition of this invention is demonstrated.
  • the epoxy resin (B) is, for example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol sulfide type epoxy resin, phenylene ether type epoxy resin, naphthylene ether type.
  • epoxy resins (B) it is preferable to use an epoxy resin having an average functional group number of 2 to 4 in that a cured product having excellent heat resistance can be obtained.
  • epoxy resins include tetramethyl biphenol type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, polyhydroxynaphthalene type epoxy resin, novolak type epoxy resin, naphthol novolak type epoxy resin, naphthol aralkyl type.
  • An epoxy resin, a naphthol-phenol co-condensed novolak type epoxy resin, and a naphthol-cresol co-condensed novolac type epoxy resin dicyclopentadiene-phenol addition reaction type epoxy resin can be mentioned.
  • naphthol novolak type epoxy resin naphthol aralkyl type epoxy resin, naphthol-phenol co-condensed novolac type epoxy resin, naphthol-cresol co-condensed novolac type epoxy resin, in that a cured product having further excellent dielectric properties can be obtained.
  • a naphthylene novolac type epoxy resin, a naphthylene aralkyl type epoxy resin, a naphthylene-phenol co-condensed novolac type epoxy resin, a naphthylene-cresol co-condensed novolac type epoxy resin, or a naphthylene ether type epoxy resin is preferred.
  • the curable resin composition of the present invention essentially contains the resin (A) having the benzoxazine structure detailed above and the epoxy resin (B) in a specific functional group ratio.
  • a curing agent for epoxy resin can be used in combination.
  • the ratio In the range where [( ⁇ ) / ( ⁇ )] is 0.1 to 0.5, a curing agent for epoxy resin may be used in combination.
  • curing agents such as amine compounds, amide compounds, and acid anhydride compounds
  • amine compounds examples include diaminodiphenylmethane, diaminodiphenyl ether, diethylenetriamine, triethylenetetramine, diaminodiphenylsulfone, isophoronediamine, and guanidine derivatives.
  • amide compound examples include dimers of dicyandiamide and linolenic acid.
  • polyamide resins synthesized from ethylenediamine and the like, and acid anhydride compounds include phthalic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride Methyl nadic acid anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, and the like.
  • the curable resin composition of the present invention can be used in combination with other thermosetting resins in addition to the resin (A) and epoxy resin (B) having the benzoxazine structure described in detail above.
  • thermosetting resin when using a thermosetting resin together, it is good to use another thermosetting resin together in the range with which the curable composition has the effect of this invention.
  • the ratio In the range where [( ⁇ ) / ( ⁇ )] is 0.1 to 0.5, other thermosetting resins may be used in combination.
  • thermosetting resins described above examples include cyanate ester resins, resins having a benzoxazine structure other than the structural formula (A1), maleimide compounds, active ester resins, vinyl benzyl compounds, acrylic compounds, styrene and maleic acid.
  • An anhydride copolymer may be mentioned.
  • the amount used is not particularly limited as long as the effects of the present invention are not impaired, but in the range of 1 to 50 parts by mass in 100 parts by mass of the curable resin composition. Preferably there is.
  • cyanate ester resin examples include bisphenol A type cyanate ester resin, bisphenol F type cyanate ester resin, bisphenol E type cyanate ester resin, bisphenol S type cyanate ester resin, bisphenol sulfide type cyanate ester resin, and phenylene ether type cyanate ester resin.
  • cyanate ester resins bisphenol A-type cyanate ester resins, bisphenol F-type cyanate ester resins, bisphenol E-type cyanate ester resins, and polyhydroxynaphthalene-type cyanate ester resins are particularly preferred in that a cured product having excellent heat resistance can be obtained.
  • a naphthylene ether type cyanate ester resin or a novolak type cyanate ester resin is preferably used, and a dicyclopentadiene-phenol addition reaction type cyanate ester resin is preferred in that a cured product having excellent dielectric properties can be obtained.
  • the resin having a benzoxazine structure other than the structural formula (A1) is not particularly limited.
  • a reaction product of bisphenol F, formalin and aniline Fa type benzoxazine resin), diaminodiphenylmethane and formalin Reaction product of phenol (Pd benzoxazine resin), reaction product of bisphenol A, formalin and aniline, reaction product of dihydroxydiphenyl ether, formalin and aniline, reaction product of diaminodiphenyl ether, formalin and phenol, dicyclo
  • Examples include a reaction product of pentadiene-phenol addition type resin with formalin and aniline, a reaction product of phenolphthalein with formalin and aniline, a reaction product of diphenyl sulfide, formalin and aniline. These may be used alone or in combination of two or more.
  • maleimide compound examples include various compounds represented by any of the following structural formulas (i) to (iii).
  • R is an m-valent organic group
  • ⁇ and ⁇ are each a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group, or an aryl group, and s is an integer of 1 or more.
  • R is a hydrogen atom, an alkyl group, an aryl group, an aralkyl group, a halogen atom, a hydroxyl group or an alkoxy group, s is an integer of 1 to 3, and t is an average of 0 to 10 repeating units.
  • R is a hydrogen atom, an alkyl group, an aryl group, an aralkyl group, a halogen atom, a hydroxyl group or an alkoxy group, s is an integer of 1 to 3, and t is an average of 0 to 10 repeating units.
  • the active ester resin is not particularly limited, but generally, ester groups having high reaction activity such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and heterocyclic hydroxy compounds are contained in one molecule. A compound having two or more is preferably used.
  • the active ester resin is preferably obtained by a condensation reaction between a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and / or a thiol compound.
  • an active ester resin obtained from a carboxylic acid compound or a halide thereof and a hydroxy compound is preferred, and an active ester resin obtained from a carboxylic acid compound or a halide thereof and a phenol compound and / or a naphthol compound is preferred. More preferred.
  • the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, pyromellitic acid, and the like, or a halide thereof.
  • phenol compounds or naphthol compounds include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, dihydroxydiphenyl ether, phenolphthalein, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m -Cresol, p-cresol, catechol, ⁇ -naphthol, ⁇ -naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucin Benzenetriol, dicyclopentadiene-phenol addition resin, and the like.
  • the active ester resin examples include an active ester resin containing a dicyclopentadiene-phenol addition structure, an active ester resin containing a naphthalene structure, an active ester resin that is an acetylated product of phenol novolac, and an activity that is a benzoylated product of phenol novolac.
  • An ester resin or the like is preferable, and an active ester resin having a dicyclopentadiene-phenol addition structure and an active ester resin having a naphthalene structure are more preferable because they are excellent in improving peel strength.
  • examples of the active ester resin containing a dicyclopentadiene-phenol addition structure include compounds represented by the following general formula (iv).
  • R represents a phenyl group or a naphthyl group
  • u represents 0 or 1
  • n represents an average of 0.05 to 2.5 repeating units.
  • R is preferably a naphthyl group
  • u is preferably 0, and n is preferably 0.25 to 1.5.
  • Curing of the curable resin composition of the present invention proceeds even without a catalyst, but a catalyst (C) can also be used in combination.
  • These catalysts (C) include tertiary amine compounds such as imidazole and dimethylaminopyridine; phosphorus compounds such as triphenylphosphine; boron trifluoride amine complexes such as boron trifluoride and boron trifluoride monoethylamine complexes; Examples thereof include organic acid compounds such as dipropionic acid; benzoxazine compounds such as thiodiphenol benzoxazine and sulfonyl benzoxazine; sulfonyl compounds; phenolic hydroxyl group-containing compounds.
  • phenolic hydroxyl group-containing compound examples include phenol, cresol, dihydroxybenzene, bisphenol A type, bisphenol F type, bisphenol E type, bisphenol S type, bisphenol sulfide, dihydroxyphenylene ether, phenol novolac resin, cresol novolac resin, and aromatic.
  • a non-halogen flame retardant containing substantially no halogen atom may be blended.
  • non-halogen flame retardant examples include a phosphorus flame retardant, a nitrogen flame retardant, a silicone flame retardant, an inorganic flame retardant, an organic metal salt flame retardant, and the like. It is not intended to be used alone, and a plurality of the same type of flame retardants may be used, or different types of flame retardants may be used in combination.
  • the phosphorous flame retardant can be either inorganic or organic.
  • the inorganic compounds include red phosphorus, monoammonium phosphate, diammonium phosphate, triammonium phosphate, ammonium phosphates such as ammonium polyphosphate, and inorganic nitrogen-containing phosphorus compounds such as phosphate amide. .
  • the red phosphorus is preferably surface-treated for the purpose of preventing hydrolysis and the like.
  • the surface treatment method include (i) magnesium hydroxide, aluminum hydroxide, zinc hydroxide, water A method of coating with an inorganic compound such as titanium oxide, bismuth oxide, bismuth hydroxide, bismuth nitrate or a mixture thereof; (ii) an inorganic compound such as magnesium hydroxide, aluminum hydroxide, zinc hydroxide, titanium hydroxide; and A method of coating with a mixture of a thermosetting resin such as a phenol resin, (iii) thermosetting of a phenol resin or the like on a coating of an inorganic compound such as magnesium hydroxide, aluminum hydroxide, zinc hydroxide, or titanium hydroxide
  • a method of double coating with a resin may be used.
  • the organic phosphorus compounds include, for example, general-purpose organic phosphorus compounds such as phosphate ester compounds, phosphonic acid compounds, phosphinic acid compounds, phosphine oxide compounds, phosphorane compounds, organic nitrogen-containing phosphorus compounds, and 9,10-dihydro -9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, 10- (2,5-dihydrooxyphenyl) -10H-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, 10- (2,7- And cyclic organic phosphorus compounds such as dihydrooxynaphthyl) -10H-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide and derivatives obtained by reacting them with compounds such as epoxy resins and phenol resins.
  • general-purpose organic phosphorus compounds such as phosphate ester compounds, phosphonic acid compounds, phosphinic acid compounds, phosphine oxide compounds, phosphorane compounds, organic nitrogen-containing phosphorus compounds
  • the amount of these phosphorus-based flame retardants is appropriately selected depending on the type of phosphorus-based flame retardant, the other components of the curable resin composition, and the desired degree of flame retardancy.
  • an organophosphorus compound it is preferably blended in the range of 0.1 to 10.0 parts by mass, and in the range of 0.5 to 6.0 parts by mass. Is more preferable.
  • hydrotalcite, magnesium hydroxide, boron compound, zirconium oxide, black dye, calcium carbonate, zeolite, zinc molybdate, activated carbon, etc. may be used in combination with the phosphorus flame retardant. Good.
  • nitrogen-based flame retardant examples include triazine compounds, cyanuric acid compounds, isocyanuric acid compounds, and phenothiazines, and triazine compounds, cyanuric acid compounds, and isocyanuric acid compounds are preferable.
  • triazine compound examples include melamine, acetoguanamine, benzoguanamine, melon, melam, succinoguanamine, ethylene dimelamine, melamine polyphosphate, triguanamine, and the like.
  • Guanylmelamine sulfate, melem sulfate, melam sulfate (2) Cocondensates of phenols such as phenol, cresol, xylenol, butylphenol and nonylphenol with melamines such as melamine, benzoguanamine, acetoguanamine and formguanamine and formaldehyde, (3)
  • a mixture of a co-condensate and a phenol resin such as a phenol formaldehyde condensate, (4) those obtained by further modifying the previous period (2), (3) with paulownia oil, isomerized linseed oil or the like.
  • cyanuric acid compound examples include cyanuric acid and melamine cyanurate.
  • the blending amount of the nitrogen-based flame retardant is appropriately selected depending on the type of the nitrogen-based flame retardant, the other components of the curable resin composition, and the desired degree of flame retardancy. It is preferable to mix in the range of 0.05 to 10 parts by mass, in the range of 0.1 to 5 parts by mass, in 100 parts by mass of the curable resin composition containing all of the flame retardant and other fillers and additives. It is more preferable to mix with.
  • a metal hydroxide, a molybdenum compound or the like may be used in combination.
  • the silicone flame retardant is not particularly limited as long as it is an organic compound containing a silicon atom, and examples thereof include silicone oil, silicone rubber, and silicone resin.
  • the amount of the silicone flame retardant is appropriately selected depending on the type of the silicone flame retardant, the other components of the curable resin composition, and the desired degree of flame retardancy. It is preferable to add in the range of 0.05 to 20 parts by mass in 100 parts by mass of the curable resin composition containing all of the flame retardant and other fillers and additives.
  • inorganic flame retardant examples include metal hydroxide, metal oxide, metal carbonate compound, metal powder, boron compound, and low melting point glass.
  • metal hydroxide examples include aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, dolomite, hydrotalcite, calcium hydroxide, barium hydroxide, and zirconium hydroxide.
  • metal oxide examples include zinc molybdate, molybdenum trioxide, zinc stannate, tin oxide, aluminum oxide, iron oxide, titanium oxide, manganese oxide, zirconium oxide, zinc oxide, molybdenum oxide, cobalt oxide, bismuth oxide, Examples thereof include chromium oxide, nickel oxide, copper oxide, and tungsten oxide.
  • metal carbonate compound examples include zinc carbonate, magnesium carbonate, calcium carbonate, barium carbonate, basic magnesium carbonate, aluminum carbonate, iron carbonate, cobalt carbonate, and titanium carbonate.
  • metal powder examples include aluminum, iron, titanium, manganese, zinc, molybdenum, cobalt, bismuth, chromium, nickel, copper, tungsten, and tin.
  • Examples of the boron compound include zinc borate, zinc metaborate, barium metaborate, boric acid, and borax.
  • low melting point glass examples include, for example, Ceeley (Bokusui Brown), hydrated glass SiO 2 —MgO—H 2 O, PbO—B 2 O 3 system, ZnO—P 2 O 5 —MgO system, P 2 O 5. Glassy compounds such as —B 2 O 3 —PbO—MgO, P—Sn—O—F, PbO—V 2 O 5 —TeO 2 , Al 2 O 3 —H 2 O, and lead borosilicate Can be mentioned.
  • the blending amount of the inorganic flame retardant is appropriately selected according to the type of inorganic flame retardant, other components of the curable resin composition, and the desired degree of flame retardancy. It is preferably blended in the range of 0.05 to 20 parts by weight, in the range of 0.5 to 15 parts by weight, in 100 parts by weight of the curable resin composition containing all of the flame retardant and other fillers and additives. It is more preferable to mix with.
  • organometallic salt flame retardant examples include ferrocene, acetylacetonate metal complex, organometallic carbonyl compound, organocobalt salt compound, organosulfonate metal salt, metal atom and aromatic compound or heterocyclic compound. And the like.
  • the amount of the organometallic salt flame retardant is appropriately selected depending on the type of the organometallic salt flame retardant, the other components of the curable resin composition, and the desired degree of flame retardancy.
  • the curable resin composition of the present invention can contain an inorganic filler (D) as necessary.
  • the inorganic filler (D) include fused silica, crystalline silica, alumina, silicon nitride, and aluminum hydroxide.
  • fused silica When particularly increasing the blending amount of the inorganic filler, it is preferable to use fused silica.
  • the fused silica can be used in either a crushed shape or a spherical shape. However, in order to increase the blending amount of the fused silica and suppress an increase in the melt viscosity of the molding material, it is preferable to mainly use a spherical shape.
  • the filling rate is preferably high in consideration of flame retardancy, and is particularly preferably 20% by mass or more with respect to the total mass of the curable resin composition.
  • electroconductive fillers such as silver powder and copper powder, can be used.
  • the curable resin composition of the present invention may contain various compounding agents such as a silane coupling agent, a release agent, a pigment, and an emulsifier, if necessary.
  • the curable resin composition of the present invention is excellent in various physical properties such as heat resistance, moisture resistance and solder resistance, flame retardancy, and dielectric properties in a cured product, so that a semiconductor sealing material, a semiconductor device, a prepreg, a printed circuit board, a build An up substrate, a build-up film, a fiber reinforced composite material, a fiber reinforced resin molded product, a conductive paste, and the like can be given.
  • the curable resin composition, and a compounding agent such as a curing accelerator and an inorganic filler are extruded as necessary.
  • fused silica is usually used as the inorganic filler, but when used as a high thermal conductive semiconductor encapsulant for power transistors and power ICs, crystalline silica, alumina, nitridation having higher thermal conductivity than fused silica.
  • High filling such as silicon, or fused silica, crystalline silica, alumina, silicon nitride, or the like may be used.
  • the filling rate is preferably in the range of 30 to 95% by mass of inorganic filler per 100 parts by mass of the curable resin composition. Among them, flame retardancy, moisture resistance and solder crack resistance are improved, linear expansion coefficient In order to achieve a lowering of 70 parts by mass, 70 parts by mass or more is more preferable, and 80 parts by mass or more is more preferable. 2.
  • the above-mentioned semiconductor sealing material is molded using a casting, transfer molding machine, injection molding machine or the like, and further 50 to 200 ° C. And heating for 2 to 10 hours.
  • a curable resin composition varnished by blending the following organic solvent is used as a reinforcing substrate (paper, glass cloth, glass nonwoven fabric, aramid paper, aramid).
  • a method for obtaining a prepreg from the curable resin composition of the present invention a curable resin composition varnished by blending the following organic solvent is used as a reinforcing substrate (paper, glass cloth, glass nonwoven fabric, aramid paper, aramid). Examples thereof include a method obtained by impregnating a cloth, a glass mat, a glass roving cloth, etc.) and then heating at a heating temperature according to the solvent type used, preferably 50 to 170 ° C.
  • the mass ratio of the resin composition and the reinforcing base used at this time is not particularly limited, but it is usually preferable that the resin content in the prepreg is 20 to 60 mass%.
  • organic solvent used here examples include methyl ethyl ketone, acetone, dimethylformamide, methyl isobutyl ketone, methoxy propanol, cyclohexanone, methyl cellosolve, ethyl diglycol acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, etc.
  • a polar solvent having a boiling point of 160 ° C. or lower such as methyl ethyl ketone, acetone, dimethylformamide, etc.
  • the non-volatile content is preferably 40 to 80% by mass.
  • Printed Circuit Board As a method for obtaining a printed circuit board from the curable resin composition of the present invention, the above prepreg is laminated by a conventional method, and copper foil is appropriately laminated at 170 to 300 ° C. under a pressure of 1 to 10 MPa. For example, a method of heating and pressing for 10 minutes to 3 hours can be mentioned.
  • the method of obtaining a build-up substrate from the curable resin composition of the present invention comprises the following steps. First, the curable resin composition containing rubber, filler, and the like appropriately blended is applied to a circuit board on which a circuit is formed using a spray coating method, a curtain coating method, or the like, and then cured (step 1). Then, after drilling a predetermined through-hole part, etc., if necessary, the surface is treated with a roughening agent, the surface is washed with hot water to form irregularities, and a metal such as copper is plated (process) 2).
  • a step of repeating such an operation sequentially as desired, and alternately building up and forming a resin insulating layer and a conductor layer having a predetermined circuit pattern (step 3).
  • the through-hole portion is formed after the outermost resin insulating layer is formed.
  • the build-up board of the present invention is obtained by subjecting a copper foil with a resin obtained by semi-curing the resin composition on a copper foil to thermocompression bonding at 170 to 300 ° C. on a wiring board on which a circuit is formed. It is also possible to produce a build-up substrate by forming the chemical surface and omitting the plating process.
  • Build-up film As a method for obtaining a build-up film from the curable resin composition of the present invention, for example, a curable resin composition is applied on a support film and then dried, and then a resin composition layer is formed on the support film. The method of forming is mentioned.
  • the curable resin composition of the present invention is used for a build-up film, the film is softened under the lamination temperature condition (usually 70 ° C. to 140 ° C.) in the vacuum laminating method, and is applied to the circuit board simultaneously with the lamination of the circuit board. It is important to exhibit fluidity (resin flow) that allows resin filling in existing via holes or through holes, and it is preferable to blend the above-described components so as to exhibit such characteristics.
  • the diameter of the through hole of the circuit board is usually 0.1 to 0.5 mm, and the depth is usually 0.1 to 1.2 mm, and it is preferable that the resin can be filled in this range.
  • the above-described method for producing a build-up film is prepared by preparing the curable resin composition varnished by blending the following organic solvent, and then applying the composition to the surface of the support film (Y). Further, it can be produced by drying the organic solvent by heating or blowing hot air to form the layer (X) of the curable resin composition.
  • organic solvent used herein examples include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, and cyclohexanone, acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, and carbitol acetate, cellosolve, butyl carbitol, and the like.
  • ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, and cyclohexanone
  • acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, and carbitol acetate, cellosolve, butyl carbitol, and the like.
  • Carbitols, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, dimethylformamide, dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone, etc. are preferably
  • the thickness of the layer (X) to be formed is usually not less than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 ⁇ m, the thickness of the resin composition layer is preferably 10 to 100 ⁇ m.
  • the layer (X) of the said resin composition in this invention may be protected with the protective film mentioned later. By protecting with a protective film, it is possible to prevent dust and the like from being attached to the surface of the resin composition layer and scratches.
  • the above-mentioned support film and protective film are made of polyolefin such as polyethylene, polypropylene and polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyester such as polyethylene naphthalate, polycarbonate, polyimide, and further. Examples thereof include metal foil such as pattern paper, copper foil, and aluminum foil.
  • the support film and the protective film may be subjected to a release treatment in addition to the mud treatment and the corona treatment.
  • the thickness of the support film is not particularly limited, but is usually 10 to 150 ⁇ m, and preferably 25 to 50 ⁇ m.
  • the thickness of the protective film is preferably 1 to 40 ⁇ m.
  • the support film (Y) described above is peeled off after being laminated on a circuit board or after forming an insulating layer by heat curing. If the support film (Y) is peeled after the curable resin composition layer constituting the build-up film is heat-cured, adhesion of dust and the like in the curing step can be prevented. In the case of peeling after curing, the support film is usually subjected to a release treatment in advance.
  • a multilayer printed circuit board can be manufactured using the build-up film obtained as described above.
  • the layer (X) is protected with a protective film
  • the layer (X) is peeled and then laminated on one or both sides of the circuit board so as to be in direct contact with the circuit board, for example, by a vacuum laminating method.
  • the laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll. If necessary, the build-up film and the circuit board may be heated (preheated) as necessary before lamination.
  • the laminating conditions are preferably a pressure bonding temperature (lamination temperature) of 70 to 140 ° C., and a pressure bonding pressure of 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 ⁇ 10 4 to 107.9 ⁇ 104 N / m 2).
  • Lamination is preferably performed under a reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less.
  • each component constituting the curable resin composition is uniformly mixed to prepare a varnish, and then this is made from the reinforced fiber. It can be produced by impregnating the resulting reinforcing substrate and then polymerizing it.
  • the curing temperature at the time of carrying out such a polymerization reaction is preferably in the temperature range of 50 to 250 ° C., in particular, after curing at 50 to 100 ° C. to obtain a tack-free cured product,
  • the treatment is preferably performed at a temperature of 120 to 200 ° C.
  • the reinforced fiber may be any of a twisted yarn, an untwisted yarn, or a non-twisted yarn, but the untwisted yarn and the untwisted yarn are preferable because both the formability and mechanical strength of the fiber-reinforced plastic member are compatible.
  • the form of a reinforced fiber can use what the fiber direction arranged in one direction, and a textile fabric.
  • the woven fabric can be freely selected from plain weaving, satin weaving, and the like according to the site and use. Specifically, since it is excellent in mechanical strength and durability, carbon fiber, glass fiber, aramid fiber, boron fiber, alumina fiber, silicon carbide fiber and the like can be mentioned, and two or more of these can be used in combination.
  • carbon fiber is preferable from the viewpoint that the strength of the molded product is particularly good.
  • the carbon fiber various types such as polyacrylonitrile-based, pitch-based, and rayon-based can be used. Among these, a polyacrylonitrile-based one that can easily obtain a high-strength carbon fiber is preferable.
  • the amount of the reinforcing fibers used when the reinforcing substrate made of reinforcing fibers is impregnated into a fiber-reinforced composite material is such that the volume content of the reinforcing fibers in the fiber-reinforced composite material is 40 to 85%. The amount is preferably in the range.
  • Fiber reinforced resin molded product A method for obtaining a fiber reinforced molded product from the curable resin composition of the present invention includes a hand lay-up method, a spray-up method, a male laying fiber aggregate on a mold, and multiple layers of the varnish.
  • a base made of reinforcing fibers is impregnated with varnish, stacked, molded, covered with a flexible mold that can apply pressure to the molded product, and hermetically sealed with vacuum ( Reinforcement by vacuum bag method for molding, SMC press method in which varnish containing reinforcing fiber is formed into a sheet shape by compression molding using a mold, RTM method in which the varnish is injected into a mating die filled with fibers
  • SMC press method in which varnish containing reinforcing fiber is formed into a sheet shape by compression molding using a mold
  • RTM method in which the varnish is injected into a mating die filled with fibers
  • examples thereof include a method of producing a prepreg in which fibers are impregnated with the varnish, and baking this in a large autoclave.
  • the fiber reinforced resin molded product obtained above is a molded product having a reinforced fiber and a cured product of the curable resin composition.
  • the amount of the reinforced fiber in the fiber reinforced molded product is: It is preferably in the range of 40 to 70% by mass, particularly preferably in the range of 50 to 70% by mass from the viewpoint of strength.
  • Conductive paste examples of a method for obtaining a conductive paste from the curable resin composition of the present invention include a method of dispersing fine conductive particles in the curable resin composition.
  • the conductive paste can be a paste resin composition for circuit connection or an anisotropic conductive adhesive depending on the type of fine conductive particles used.
  • the said curable resin composition of this invention which can be used for various uses can be manufactured by mixing resin (A) which has a benzoxazine structure, and an epoxy resin (B).
  • resin (A) which has the benzoxazine structure which comprises the curable composition of this invention is demonstrated.
  • -Manufacturing method of resin which has benzoxazine structure Resin (A) which has the benzoxazine structure of this invention, diamine compound (P), aromatic dihydroxy compound (Q), aromatic monohydroxy compound (R), It is produced by a method of reacting with formaldehyde (S).
  • Examples of the diamine compound (P) used here include those represented by the following structural formula (P1).
  • L is a divalent aliphatic hydrocarbon group, a divalent aromatic hydrocarbon group, a divalent group having an aliphatic hydrocarbon group and an aromatic hydrocarbon group, or a hydrogen atom possessed by these hydrocarbon groups.
  • linking group L examples include an alkylene group, an alkenylene group, an alkynylene group, a cycloalkylene group, an arylene group, an aralkylene group, a hydroxyl group-containing alkylene group, an alkoxy group-containing alkylene group, a halogenated alkylene group, and a hydroxyl group-containing alkenylene group.
  • specific groups represented by an alkylene group, an alkenylene group and the like are as described above.
  • the linking group L may be a linking group represented by the following structural formulas (P1-1) and (P1-2).
  • L 1 represents a divalent linking group.
  • R 1 is independently a hydrogen atom, a hydrocarbon group, an alkoxy group, a hydroxyl group, a halogen atom, or one or more hydrogen atoms contained in a hydrocarbon group or an alkoxy group is substituted with either a hydroxyl group or a halogen atom.
  • I represents an integer of 1 to 4
  • j represents an integer of 1 to 4.
  • d * represents the point of attachment to the N atom in the above formula (P1).
  • aromatic dihydroxy compound (Q) used in the above reaction examples include dihydroxybenzenes such as 1,2-benzenediol, 1,3-benzenediol, 1,4-benzenediol; 1,2-dihydroxynaphthalene, 1,4- Dihydroxynaphthalene such as dihydroxynaphthalene, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 1,7-dihydroxynaphthalene, 2,3-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, 2,7-dihydroxynaphthalene, etc. Can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.
  • aromatic monohydroxy compound (R) used in the above reaction will be described.
  • aromatic dihydroxy compound (R) used in the above reaction include those represented by the following structural formulas (R1) and (R2).
  • R 3 each independently represents one or more hydrogen atoms contained in a hydrogen atom, a hydrocarbon group, an alkoxy group, a hydroxyl group, a halogen atom, or a hydrocarbon group or an alkoxy group.
  • the atom represents a substituent substituted with either a hydroxyl group or a halogen atom.
  • P represents an integer of 1 to 4
  • q represents an integer of 1 to 6.
  • the bonding position of the OH group and the H atom is not particularly limited, but is bonded to adjacent carbon atoms of the aromatic ring.
  • aromatic monohydroxy compounds examples include phenol and naphthol. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, naphthol is preferable because it is excellent in flame retardancy and dielectric properties in a cured product.
  • Formaldehyde (S) may be used in the form of either formalin in a solution state or paraformaldehyde in a solid state.
  • the reaction ratio of the diamine compound (P), the aromatic dihydroxy compound (Q), the aromatic monohydroxy compound (R), and the formaldehyde (S) is an aromatic ratio relative to 1 mol of the amino group of the diamine compound (P).
  • Group dihydroxy compound (Q) is in the range of 0.25 to 0.90 mol
  • aromatic monohydroxy compound (R) is in the range of 0.10 to 0.75 mol
  • formaldehyde is 1.5 to 2 mol.
  • the range of 0.5 mol is preferable because the resin having the target benzoxazine structure is generated more efficiently.
  • reaction of the diamine compound (P), the aromatic dihydroxy compound (Q), the aromatic monohydroxy compound (R), and formaldehyde (S) may be performed in the presence of a catalyst as necessary.
  • a catalyst examples include various catalysts usually used in the production of dihydrooxazine compounds.
  • amide compounds such as N, N-dimethylformamide
  • pyridine N, N-dimethyl-4- Pyridine compounds such as aminopyridine
  • amine compounds such as triethylamine and tetramethylethylenediamine
  • quaternary ammonium salts such as tetrabutylammonium bromide
  • organic acid compounds such as acetic acid, trifluoroacetic acid, paratoluenesulfonic acid and trifluoromethanesulfonic acid
  • water Alkali metal hydroxides or carbonates such as potassium oxide, potassium carbonate, sodium carbonate
  • phenolic compounds such as dibutylhydroxytoluene
  • Gold Catalyst and the like may be used alone or in combination of two or more.
  • the reaction of the diamine compound (P), the aromatic dihydroxy compound (Q), the aromatic monohydroxy compound (R), and formaldehyde (S) may be performed in an organic solvent as necessary.
  • the organic solvent used herein include alcohol compounds such as water, methanol, ethanol, and isopropanol; ether compounds such as dioxane, tetrahydrofuran, and diethyl ether; acetic acid compounds such as acetic acid and trifluoroacetic acid; acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, Ketone compounds such as cyclohexanone; Acetic ester compounds such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate; Carbitol compounds such as cellosolve and butyl carbitol; Dichloromethane, chloroform, carbon tetrachloride,
  • the reaction of the diamine compound (P), the aromatic dihydroxy compound (Q), the aromatic monohydroxy compound (R), and formaldehyde (S) can be performed, for example, under a temperature condition of 50 to 100 ° C. After completion of the reaction, the aqueous layer and the organic layer are separated, and then the organic solvent is dried under reduced pressure from the organic layer, thereby obtaining the desired resin having a benzoxazine structure.
  • GPC Measured under the following conditions. Measuring device: “HLC-8220 GPC” manufactured by Tosoh Corporation Column: Guard column “HXL-L” manufactured by Tosoh Corporation + “TSK-GEL G2000HXL” manufactured by Tosoh Corporation + “TSK-GEL G2000HXL” manufactured by Tosoh Corporation + Tosoh Corporation “TSK-GEL G3000HXL” + “TSK-GEL G4000HXL” manufactured by Tosoh Corporation Detector: RI (Differential refraction diameter)
  • Data processing “GPC-8020 Model II version 4.10” manufactured by Tosoh Corporation Measurement conditions: Column temperature 40 ° C Developing solvent Tetrahydrofuran Flow rate 1.0 ml / min Standard: The following monodisperse polystyrene having a known molecular weight was used in accordance with the above measurement manual of “GPC-8020 Model II version 4.10”.
  • FIG. 1 shows a GPC chart of a resin (A-1) having a benzoxazine structure
  • FIG. 2 shows a 13 C-NMR
  • FIG. 3 shows an FD-MS spectrum.
  • Example 4 to Comparative Example 8 Preparation of composition and cured product The following compounds were mixed as shown in Tables 1 and 2 and molded in a press at a temperature of 200 ° C for 10 minutes, and then at a temperature of 200 ° C. After time, it was cured to obtain a cured product having a thickness of 0.8 mm.
  • the physical property evaluation results of the obtained cured product are shown in Table 1 and Table 2, respectively.
  • A-1 resin having a benzoxazine structure obtained in Example 1
  • A-2 resin having a benzoxazine structure obtained in Example 2
  • A-3 benzoxazine obtained in Example 3
  • Resin having structure A′-1 Resin having benzoxazine structure obtained in Comparative Example 1
  • B-1 Bisphenol A type epoxy resin / average functional group number 2 “EPICLON 850S” manufactured by DIC Corporation B-2: Naphthalene type epoxy resin / average functional group number 2 “EPICLON HP-4032SS” manufactured by DIC Corporation B-3: Naphthalene type epoxy resin / average functional group number 4 “EPICLON HP-4700” manufactured by DIC Corporation B-4: naphthylene ether type epoxy resin / average functional group number 3 "EPICLON HP-6000" manufactured by DIC Corporation B-5: Cresol novolac type epoxy resin / average functional group number 7 "EPICLON N-680" manufactured by DIC Corporation C-1: Phenol novolac resin “PHENOLITE TD-21
  • ⁇ Glass transition temperature> A cured product having a thickness of 0.8 mm was cut into a size having a width of 5 mm and a length of 54 mm.
  • a viscoelasticity measuring device DMA: solid viscoelasticity measuring device “RSAII” manufactured by Rheometric Co., Ltd., rectangular tension method: frequency 1 Hz, heating rate 3 ° C./min
  • the tan ⁇ change rate is the highest was evaluated as the glass transition temperature.
  • test piece 1 at 1 GHz after being stored in an indoor room at 23 ° C. and 50% humidity for 24 hours after absolutely dry using an impedance material analyzer “HP4291B” manufactured by Agilent Technologies, Inc.
  • the dielectric constant and tangent were measured.
  • ⁇ Hygroscopic resistance> A cured product having a thickness of 0.8 mm was cut into a size of 25 mm in width and 75 mm in length to obtain a test piece 2. The test piece 2 was left in an atmosphere of 85 ° C./85% RH for 168 hours, and the change in mass before and after the treatment was measured.

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Abstract

 流動性に優れ、硬化物における耐熱性、耐湿耐半田性、難燃性及び誘電特性の諸物性に優れる硬化性樹脂組成物等を提供する。 下記構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)と、エポキシ樹脂(B)を、構造式(A1)のベンゾオキサジン構造の合計モル数をα、エポキシ樹脂(B)中のエポキシ基のモル数をβとしたとき、その比率[β/α]が0.1~0.5で含有する硬化性樹脂組成物。

Description

硬化性樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、及び繊維強化樹脂成形品
 本発明は硬化物における耐熱性、難燃性、耐湿耐半田性、及び誘電特性の諸物性に優れる硬化性樹脂組成物と、その硬化物、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、及び繊維強化樹脂成形品に関する。
 半導体封止材料や多層プリント基板用絶縁層などに用いられる電子部品用樹脂材料には、エポキシ樹脂、シアネートエステル樹脂、ビスマレイミド-トリアジン樹脂、ベンゾオキサジン樹脂など様々な樹脂が用いられている。これら樹脂材料には、耐熱性や耐熱分解性、難燃性、耐湿耐半田性、誘電特性など様々な性能が求められる。
 上記種々の樹脂材料のうちベンゾオキサジン樹脂は、硬化物における耐熱性及び誘電特性に優れる特徴を有する。具体的には、ビスフェノールとホルマリンとアニリンとを反応させて得られるベンゾオキサジン樹脂(特許文献1参照)、ベンゾオキサジン環を主鎖中に有する高分子化合物(特許文献2及び特許文献3参照)などが知られている。しかしながら、特許文献1記載のベンゾオキサジン樹脂は、耐熱性や難燃性、耐湿耐半田性、誘電特性が十分なものではなく、また、特許文献2及び3に記載の高分子量化合物を基本とするベンゾオキサジン樹脂は、流動性が悪く、半導体封止材料としての成形性やプリプレグ作製におけるガラスクロスへの含浸性に劣るなど、その硬化性組成物は上記電子材料用途においてハンドリング性が悪く、かつ耐熱性も不十分という問題があった。そのため、耐熱性、流動性、耐湿耐半田性、難燃性及び誘電特性の何れにも優れる性能バランスの良い樹脂組成物の開発が求められていた。
特開平11-12258号公報 特開2003-64180号公報 特開2008-291070号公報
 従って、本発明が解決しようとする課題は、流動性に優れ、かつ、硬化物における耐熱性、耐湿耐半田性、難燃性及び誘電特性の諸物性に優れる硬化性樹脂組成物と、その硬化物、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、及び繊維強化樹脂成形品を提供することにある。
 本発明者らは上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂と、エポキシ樹脂とを組み合わせ、ベンゾオキサジン構造の合計モル数とエポキシ樹脂中のエポキシ基のモル数を特定の比率とすることで得られる硬化性樹脂組成物が、流動性に優れ、かつ、その組成物を硬化させることにより得られる硬化物が、耐熱性、耐湿耐半田性、難燃性及び誘電特性の諸物性に優れることから、電子部材用の樹脂材料として有用性が高いことを見出し、本発明を完成するに至った。
 即ち、本発明は、下記構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)と、エポキシ樹脂(B)とを、構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造の合計モル数をα、エポキシ樹脂(B)中のエポキシ基のモル数をβとしたとき、その比率[(β)/(α)]が0.1~0.5となる割合で含有する硬化性樹脂組成物に関する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
[ただし、構造式(A1)において、
 Arは、4価の芳香族基を示し、
 Arは、2価の芳香族基を示し、
 Lは、2価の連結基を示し、
 xは、繰り返し数の平均値であり、0.25~5.0を示し、
 O*1原子とC*1原子はArで表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示し、O*2原子とC*2原子はArで表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示す。]
 本発明は更に、上記硬化性樹脂組成物を硬化させて得られる硬化物に関する。
 本発明は更に、上記硬化性樹脂組成物と、無機充填材とを含有する半導体封止材料に関する。
 本発明は更に、上記半導体封止材料を加熱硬化させて得られる半導体装置に関する。
 本発明は更に、上記硬化性樹脂組成物を有機溶剤に希釈したものを補強基材に含浸し、得られる含浸基材を半硬化させることにより得られるプリプレグに関する。
 本発明は更に、上記硬化性樹脂組成物を有機溶剤に希釈したワニスを得、これを板状に賦形したものと銅箔とを加熱加圧成型することにより得られる回路基板に関する。
 本発明は更に、上記硬化性樹脂組成物を有機溶剤に希釈したものを基材フィルム上に塗布し、乾燥させることにより得られるビルドアップフィルムに関する。
 本発明は更に、上記ビルドアップフィルムを回路が形成された回路基板に塗布し、加熱硬化させて得られる回路基板に凹凸を形成し、次いで前記回路基板にめっき処理を行うことにより得られるビルドアップ基板に関する。
 本発明は更に、上記硬化性樹脂組成物と、強化繊維とを含有する繊維強化複合材料に関する。
 本発明は更に、上記強化繊維の体積含有率が40~85%の範囲内である前項記載の繊維強化複合材料に関する。
 本発明は更に、上記繊維強化複合材料を硬化させてなる繊維強化樹脂成形品に関する。
 本発明は更に、上記ベンゾオキサジン構造を有する樹脂に関する。
 本発明によれば、硬化物における耐熱性、耐湿耐半田性、難燃性及び誘電特性に優れる硬化性樹脂組成物と、その硬化物、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、及び繊維強化樹脂成形品を提供することができる。
図1は、実施例1で得られたベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-1)のGPCチャート図である。 図2は、実施例1で得られたベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-1)の13C-NMRチャート図である。 図3は、実施例1で得られたベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-1)のFD-MSスペクトルである。
<硬化性樹脂組成物>
 以下、本発明を詳細に説明する。
 本発明の硬化性樹脂組成物は、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)とエポキシ樹脂(B)とを、構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造の合計モル数をα、エポキシ樹脂(B)中のエポキシ基のモル数をβとしたとき、その比率[(β)/(α)]が0.1~0.5となる割合で含有する組成物である。
<ベンゾオキサジン構造を有する樹脂>
 上記ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)は、下記構造式(A1)で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007
 但し、構造式(A1)において、Arは、4価の芳香族基を示し、Arは、2価の芳香族基を示し、Lは、2価の連結基を示している。xは、繰り返し数の平均値であり、その平均値は0.25~5.0である。O*1原子とC*1原子はArで表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示し、O*2原子とC*2原子はArで表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示している。
 上記ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A1)が有する、六員環中に窒素原子と酸素原子を一つずつ含む構造は所謂ジヒドロオキサジン構造であり、前述の通り、このようなジヒドロオキサジン構造を有する樹脂は、耐熱性や誘電特性に優れる特徴を有する反面、耐熱分解性や難燃性、耐湿耐半田性は十分なものではない。本願発明では、上記ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A1)と、エポキシ樹脂(B)とを、構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造の合計モル数をα、エポキシ樹脂(B)中のエポキシ基のモル数をβとしたとき、その比率[(β)/(α)]が0.1~0.5となる割合で含有する硬化性樹脂組成物が、流動性に優れ、かつ、その硬化物において、耐熱性、低誘電率、低誘電正接、難燃性及び耐湿耐半田性に優れることを見出したものである。
 1.連結基L
 上記のように、Lは2価の連結基を示している。Lが示す2価の連結基としては、2価の炭化水素基、又は2価の炭化水素基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、アルコキシ基、又はハロゲン原子で置換された2価の基等が挙げられる。本発明でいう「2価の炭化水素基」とは、炭化水素基から2つの水素を取り除いた炭化水素のことで、「-R-(Rは炭化水素)」で表されるものを示す。また、「炭化水素」とは、脂肪族飽和炭化水素、脂肪族不飽和炭化水素、芳香族炭化水素、またはこれらを組み合わせたものを示す。
 Lが2価の炭化水素基を示す場合、Lとしては、アルキレン基、アルケニレン基、アルキニレン基、シクロアルキレン基、アリーレン基、アラルキレン基(アルキレン基及びアリーレン基を有する2価の基で、例えば「-R-Ar-R-(Rは脂肪族炭化水素基、Arは芳香族炭化水素基)」で表されるもの)などを挙げることができる。
 かかる場合、アルキレン基としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基、ペンチレン基、へキシレン基等が挙げられる。アルケニレン基としては、ビニレン基、1-メチルビニレン基、プロペニレン基、ブテニレン基、ペンテニレン基等が挙げられる。アルキニレン基としては、エチニレン基、プロピニレン基、ブチニレン基、ペンチニレン基、へキシニレン基等が挙げられる。シクロアルキレン基としては、シクロプロピレン基、シクロブチレン基、シクロペンチレン基、シクロへキシレン基等が挙げられる。アリーレン基としては、フェニレン基、トリレン基、キシリレン基、ナフチレン基等が挙げられる。アラルキレン基としては、「-R-Ar-R-(Rは脂肪族炭化水素基、Arは芳香族炭化水素基)」で表され、上記アルキレン基とアリーレン基を有する炭素数7~20のアラルキレン基等が挙げられる。
 Lが、炭化水素基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、アルコキシ基、又はハロゲン原子で置換された2価の基を示す場合、Lとしては、水酸基含有アルキレン基、アルコキシ基含有アルキレン基、ハロゲン化アルキレン基、水酸基含有アルケニレン基、アルコキシ基含有アルケニレン基、ハロゲン化アルケニレン基、水酸基含有アルキニレン基、アルコキシ基含有アルキニレン基、ハロゲン化アルキニレン基、水酸基含有シクロアルキレン基、アルコキシ基含有シクロアルキレン基、ハロゲン化シクロアルキレン基、水酸基含有アリーレン基、アルコキシ基含有アリーレン基、ハロゲン化アリーレン基、水酸基含有アラルキレン基、アルコキシ基含有アラルキレン基、ハロゲン化アラルキレン基が挙げられる。
 水酸基含有アルキレン基としては、ヒドロキシエチレン基、ヒドロキシプロピレン基等が挙げられる。アルコキシ基含有アルキレン基としては、メトキシエチレン基、メトキシプロピレン基、アリルオキシメチレン基、アリルオキシプロピレン基、プロパルギルオキシメチレン基、プロパルギルオキシプロピレン基などが挙げられる。ハロゲン化アルキレン基としては、クロロメチレン基、クロロエチレン基、クロロプロピレン基、ブロモメチレン基、ブロモエチレン基、ブロモプロピレン基、フルオロメチレン基、フルオロエチレン基、フルオロプロピレン基等が挙げられる。
 水酸基含有アルケニレン基としては、ヒドロキシブテニレン基、ヒドロキシペンテニレン基等が挙げられる。アルコキシ基含有アルケニレン基としては、メトキシブテニレン基、エトキシヘキセニレン基等が挙げられる。ハロゲン化アルケニレン基としては、クロロプロペニレン基、ブロモペンテニレン基等が挙げられる。
 水酸基含有アルキニレン基としては、ヒドロキシペンチニレン基、ヒドロキシヘキシニレン基等が挙げられる。アルコキシ基含有アルキニレン基としては、エトキシヘキシニレン基、メトキシへプチニレン基等が挙げられる。ハロゲン化アルキニレン基としては、クロロヘキシニレン基、フルオロオクチニレン基等が挙げられる。
 水酸基含有シクロアルキレン基としては、ヒドロキシシクロヘキサニレン基等が挙げられる。アルコキシ基含有シクロアルキレン基としては、メトキシシクロペンタニレン基等が挙げられる。ハロゲン化シクロアルキレン基としては、ジクロロシクロペンタニレン基等が挙げられる。
 水酸基含有アリーレン基としては、ヒドロキシフェニレン基等が挙げられる。アルコキシ基含有アリーレン基としては、メトキシフェニレン基、エトキシフェニレン基、アリルオキシフェニレン基、プロパルギルオキシフェニレン基等が挙げられる。ハロゲン化アリーレン基としては、クロロフェニル基、ブロモフェニル基、フルオロフェニル基、クロロナフチル基、ブロモナフチル基、フルオロナフチル基等が挙げられる。
 上記のほか、Lとしては不飽和炭化水素基含有アリーレン基であってもよい。不飽和炭化水素基含有アリーレン基としては、ビニルフェニレン、アリルフェニレン、エチニルフェニレン、プロパルギルフェニレン等が挙げられる。
 なお、上記Lとしては下記構造式(A2-1)、下記構造式(A2-2)、アルキレン基、アリーレン基、またはアラルキレン基のいずれかで示される2価の連結基であることが好ましい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000008
 ただし、式(A2-1)、(A2-2)において、Lは2価の連結基を示している。Rは、それぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基、ハロゲン原子、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基を示している。また、iは1~4の整数を示し、jは1~4の整数を示している。a*1は、上記構造式(A1)においてN*1原子、またはN*2原子との結合点を示している。
 上記のように、Lは2価の連結基から構成される。Lの示す2価の連結基としては、アルキレン基、エーテル基(-O-基)、カルボニル基(-CO-基)、エステル基(-COO-基)、アミド基(-CONH-基)、イミノ基(-C=N-基)、アゾ基(-N≡N-基)、スルフィド基(-S-基)、スルホン基(-SO-基)などが挙げられる。
 上記の中でも、Lとしては、硬化物における難燃性及び誘電特性に優れることからアルキレン基、エーテル基の何れからか構成されることが好ましい。
 次に、Rについて説明する。上記のように、Rは炭化水素基、アルコキシ基、水素原子、水酸基、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基、又はハロゲン原子から構成される。
 置換基Rが、炭化水素基から構成される場合、置換基Rとしては、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アリール基、アラルキル基などを挙げることができる。
 アルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、へキシル基、シクロへキシル基等が挙げられる。アルケニル基としては、ビニル基、1-メチルビニル基、プロペニル基、ブテニル基、ペンテニル基等が挙げられる。アルキニル基としては、エチニル基、プロピニル基、ブチニル基、ペンチニル基、へキシニル基等が挙げられる。アリール基としては、フェニル基、トリル基、キシリル基、ナフチル基等が挙げられる。アラルキル基としては、ベンジル基、フェニルエチル基、フェニルプロピル基、トリルメチル基、トリルエチル基、トリルプロピル基、キシリルメチル基、キシリルエチル基、キシリルプロピル基、ナフチルメチル基、ナフチルエチル基、ナフチルプロピル基等が挙げられる。
 置換基Rがアルコキシ基から構成される場合、置換基Rとしては、メトキシ基、エトキシ基、プロキシ基、ブトキシ基、ペンタノキシ基、へキサノキシ基、シクロヘキサノキシ基等が挙げられる。
 置換基Rが、炭化水素基に含まれる1つ以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基から構成される場合、置換基Rとしては、水酸基含有アルキル基、ハロゲン化アルキル基、水酸基含有アルケニル基、ハロゲン化アルケニル基、水酸基含有アルキニル基、ハロゲン化アルキニル基、水酸基含有アリール基、ハロゲン化アリール基、水酸基含有アラルキル基、ハロゲン化アラルキル基、などが挙げられる。
 水酸基含有アルキル基としては、ヒドロキシエチル基、ヒドロキシプロピル基等が挙げられる。ハロゲン化アルキル基としては、クロロメチル基、クロロエチル基、クロロプロピル基、ブロモメチル基、ブロモエチル基、ブロモプロピル基、フルオロメチル基、フルオロエチル基、フルオロプロピル基等が挙げられる。
 水酸基含有アルケニル基としては、1-ヒドロキシ-2,3-プロペニル基、2-ヒドロキシ-4,5-ペンテニル基等が挙げられる。ハロゲン化アルケニル基としては、1-クロロ-3,4-ブテニル基、2-ブロモ-4,5-ヘキセニル基等が挙げられる。
 水酸基含有アルキニル基としては、2-ヒドロキシ-4,5-ペンチニル基、2-ヒドロキシ-3,4-ヘキシニル等が挙げられる。ハロゲン化アルキニル基としては、1-クロロ-3,4-ブチニル基、3-ブロモ-5,6-ヘキシニル基等が挙げられる。
 水酸基含有アリール基としては、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基等が挙げられる。ハロゲン化アリール基としては、クロロフェニル基、ブロモフェニル基、フルオロフェニル基、クロロナフチル基、ブロモナフチル基、フルオロナフチル基等が挙げられる。
 水酸基含有アラルキル基としては、ヒドロキシベンジル基、ヒドロキシフェネチル基等が挙げられる。ハロゲン化アラルキル基としては、クロロベンジル基、ブロモフェネチル基等が挙げられる。
 置換基Rが、アルコキシ基に含まれる1つ以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基から構成される場合、置換基Rとしては、水酸基含有アルコキシ基、ハロゲン化アルコキシ基などが挙げられる。
 水酸基含有アルコキシ基としては、ヒドロキシエチルオキシ基等が挙げられる。ハロゲン化アルコキシ基としては、クロロプロピルオキシ基等が挙げられる。
 置換基Rがハロゲン原子から構成される場合、置換基Rとしては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられる。
 上記のほか、置換基Rは、アルコキシ基含有アルキル基、アルコキシ基含有アリール基、不飽和炭化水素基含有アリール基であってもよい。アルコキシ基含有アルキル基としては、メトキシエチル基、メトキシプロピル基、アリルオキシメチル基、アリルオキシプロピル基、プロパルギルオキシメチル基、プロパルギルオキシプロピル基などが挙げられる。アルコキシ基含有アリール基としては、メトキシフェニル基、エトキシフェニル基、アリルオキシフェニル基、プロパルギルオキシフェニル基等が挙げられる。不飽和炭化水素基含有アリール基としては、ビニルフェニル、アリルフェニル、エチニルフェニル、プロパルギルフェニル等が挙げられる。
 上記の中でも置換基Rとしては、水素原子、アルキル基、アラルキル基であることが好ましく、耐熱性及び耐湿耐半田性に優れるベンゾオキサジン構造を有する樹脂が得られることから、置換基Rとしては水素原子から構成されることがさらに好ましい。
 なお、上記構造式(A2-1)において、2つの芳香環を連結する連結基Lは、芳香環を構成する何れの炭素原子に結合していても良いが、硬化物における難燃性及び誘電特性に優れることから、連結基Lは、a*1に対してともにパラ位、又はともにメタ位の位置に結合されていることが好ましい。より好ましくは、連結基Lが、a*1に対してともにパラ位の位置に結合されている場合である。
 なお、上記構造式(A2-2)において、ビフェニル骨格上における2つの芳香環の結合位置は、何れであっても良いが、硬化物における難燃性及び誘電特性に優れることから、2つの芳香環は、a*1に対してともにパラ位、又はともにメタ位に結合されていることが好ましい。より好ましくは、ともにパラ位の位置に結合されている場合である。
 2.芳香族基Ar
 次に、上記構造式(1)に含まれるArついて説明する。上述のようにArは4価の芳香族基である。Arの示す4価の芳香族基としては、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環のほか、下記構造式(A3-1)~(A3-4)で示される基などが挙げられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000009
 ただし、式(A3-1)~(A3-4)において、L2は、2価の連結基を示し、R2は、それぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基、ハロゲン原子、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基を示している。また、kは1~3の整数、lは1~3の整数、mは1~2の整数、nは1~4の整数を示している。b*1、c*1は、それぞれ、上記構造式(A1)で示されるO*1原子、C*1原子との結合点であり、上記構造式(A3-1)~(A3-4)で表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示している。
 上記構造式(A3-1)~(A3-4)において、上述のようにL2は2価の連結基を示している。L2の示す2価の連結基としては、L1と同様のものが挙げられる。なお、L2としては、L1の場合と同様に硬化物における難燃性及び誘電特性に優れることからアルキレン基、エーテル基であることが好ましい。
 上述のように上記構造式(A3-1)~(A3-4)のRは、それぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基、又はハロゲン原子である。
 Rが示す具体的な置換基としては、Rと同様のものが挙げられる。なお、置換基Rとしては、置換基Rの場合と同様に、水素原子、アルキル基、アラルキル基から構成されることが好ましく、耐熱性及び耐湿耐半田性に優れるベンゾオキサジン構造を有する樹脂が得られることから、水素原子から構成されることがさらに好ましい。
 なお、上記構造式(A3-1)において、2つの芳香環を連結する連結基Lは、芳香環を構成する何れの炭素原子に結合していても良いが、硬化物における難燃性及び誘電特性に優れることから、連結基Lは、b*1に対してともにパラ位、又はともにメタ位の位置に結合されていることが好ましい。より好ましくは、ともにパラ位に結合されている場合である。
 なお、上記構造式(A3-2)において、ビフェニル骨格上における2つの芳香環の結合位置は、何れであっても良いが、硬化物における難燃性及び誘電特性に優れることから、2つの芳香環は、b*1に対してともにパラ位、又はともにメタ位に結合されていることが好ましい。より好ましくは、ともにパラ位に結合されている場合である。
 3.芳香族基Ar
 次に、上記構造式(1)に含まれるArついて説明する。上述のようにArは2価の芳香族基である。Arの示す2価の芳香族基としては、下記構造式(A4-1)~(A4-2)で示される芳香族基やアントラセン環を有する芳香族基などが挙げられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000010
 ただし、式(A4-1)、(A4-2)において、Rは、それぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基の群より選択されるいずれかの置換基、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基、又はハロゲン原子を示している。また、pは1~4の整数を示し、qは1~6の整数を示している。b*2、c*2は、それぞれ、上記構造式(A1)で示されるO*2原子、C*2原子との結合点であり、上記構造式(A4-1)~(A4-2)で表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示している。
 上記のように、Rはそれぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基、ハロゲン原子、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基を示している。
 Rの示す具体的な置換基としては、R、Rと同様のものが挙げられる。なお、置換基Rとしては、置換基R、Rの場合と同様に、水素原子、アルキル基、アラルキル基から構成されることが好ましく、耐熱性及び耐湿耐半田性に優れるベンゾオキサジン構造を有する樹脂が得られることから、水素原子から構成されることがさらに好ましい。
 ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)は、上記構造式(A1)の繰り返し数xが、流動性に優れる硬化性樹脂組成物を与えることから0.25以上、2.0未満であることが好ましい。なお、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)が、上記構造式(A1)の繰り返し数xが2以上の場合、その構造中に同一または異なる種類の芳香族基Arを有していてもよい。例えば、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)は、上記構造式(A1)の繰り返し数xが4の場合に、その構造中に構造式(A3-1)~(A3-4)で示される芳香族基Arを全て有していても良いし、その一部のみを有していてもよい。
 さらに、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)は、上記構造式(A1)の繰り返し数xが2以上の場合に、その構造中に同一または異なる種類の連結基Lを有していてもよい。例えば、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)は、上記構造式(A1)の繰り返し数xが4の場合に、その構造中に、アルキレン基、アリーレン基、または上記構造式(A2-1)、(A2-2)で示される連結基Lを全て有していても良いし、その一部のみを有していてもよい。
<エポキシ樹脂>
 本発明の硬化性樹脂組成物に用いられるエポキシ樹脂(B)について説明する。上記エポキシ樹脂(B)は、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールスルフィド型エポキシ樹脂、フェニレンエーテル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、テトラメチルビフェニル型エポキシ樹脂、ポリヒドロキシナフタレン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、トリフェニルメタン型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン-フェノール付加反応型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、ナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール-フェノール共縮ノボラック型エポキシ樹脂、ナフトール-クレゾール共縮ノボラック型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、芳香族炭化水素ホルムアルデヒド樹脂変性フェノール樹脂型エポキシ樹脂、ビフェニル変性ノボラック型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。
 これらのエポキシ樹脂(B)の中でも、特に耐熱性に優れる硬化物が得られる点においては、平均官能基数が2~4であるエポキシ樹脂を用いることが好ましい。そのような、エポキシ樹脂としては、テトラメチルビフェノール型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、ポリヒドロキシナフタレン型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、ナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール-フェノール共縮ノボラック型エポキシ樹脂、ナフトール-クレゾール共縮ノボラック型エポキシ樹脂ジシクロペンタジエン-フェノール付加反応型エポキシ樹脂を挙げることができる。上記の中でも、さらに誘電特性に優れる硬化物が得られるという点において、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、ナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール-フェノール共縮ノボラック型エポキシ樹脂、ナフトール-クレゾール共縮ノボラック型エポキシ樹脂、ナフチレンノボラック型エポキシ樹脂、ナフチレンアラルキル型エポキシ樹脂、ナフチレン-フェノール共縮ノボラック型エポキシ樹脂、ナフチレン-クレゾール共縮ノボラック型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂であることが好ましい。
<硬化性樹脂組成物>
 本発明の硬化性樹脂組成物は、上記で詳述したベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)とエポキシ樹脂(B)とを特定の官能基比で含有することを必須とするものであるが、これに加え、エポキシ樹脂用硬化剤を併用できるものである。なお、エポキシ樹脂用硬化剤を併用する場合は、硬化性組成物が本発明の効果を奏する範囲においてエポキシ樹脂硬化剤を併用するとよい。具体的には、構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造の合計モル数をα、上記ベンゾオキサジン構造と反応するエポキシ樹脂(B)のエポキシ基のモル数をγとしたとき、その比率[(γ)/(α)]が0.1~0.5となる範囲において、エポキシ樹脂用硬化剤を併用するとよい。
 ここで用いることのできるエポキシ樹脂用硬化剤としては、例えばアミン系化合物、アミド系化合物、酸無水物系化合物などの硬化剤を使用できる。具体的には、アミン系化合物としてはジアミノジフェニルメタン、ジアミノジフェニルエーテル、ジエチレントリアミン、トリエチレンテトラミン、ジアミノジフェニルスルホン、イソホロンジアミン、グアニジン誘導体等が挙げられ、アミド系化合物としては、ジシアンジアミド、リノレン酸の2量体とエチレンジアミンとより合成されるポリアミド樹脂等が挙げられ、酸無水物系化合物としては、無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、無水マレイン酸、テトラヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、無水メチルナジック酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸等が挙げられる。
 また、本発明の硬化性樹脂組成物は、上記で詳述したベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)とエポキシ樹脂(B)に加え、その他の熱硬化性樹脂を併用できる。なお、熱硬化性樹脂を併用する場合は、硬化性組成物が本発明の効果を奏する範囲においてその他の熱硬化性樹脂を併用するとよい。具体的には、構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造の合計モル数をα、上記ベンゾオキサジン構造と反応するエポキシ樹脂(B)のエポキシ基のモル数をγとしたとき、その比率[(γ)/(α)]が0.1~0.5となる範囲において、その他の熱硬化性樹脂を併用するとよい。
 上記した他の熱硬化性樹脂としては、例えば、シアネートエステル樹脂、上記構造式(A1)以外のベンゾオキサジン構造を有する樹脂、マレイミド化合物、活性エステル樹脂、ビニルベンジル化合物、アクリル化合物、スチレンとマレイン酸無水物の共重合物などが挙げられる。上記した他の熱硬化性樹脂を併用する場合、その使用量は本発明の効果を阻害しなければ特に制限をうけないが、硬化性樹脂組成物100質量部中1~50質量部の範囲であることが好ましい。
 上記シアネートエステル樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールF型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールE型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールS型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールスルフィド型シアネートエステル樹脂、フェニレンエーテル型シアネートエステル樹脂、ナフチレンエーテル型シアネートエステル樹脂、ビフェニル型シアネートエステル樹脂、テトラメチルビフェニル型シアネートエステル樹脂、ポリヒドロキシナフタレン型シアネートエステル樹脂、フェノールノボラック型シアネートエステル樹脂、クレゾールノボラック型シアネートエステル樹脂、トリフェニルメタン型シアネートエステル樹脂、テトラフェニルエタン型シアネートエステル樹脂、ジシクロペンタジエン-フェノール付加反応型シアネートエステル樹脂、フェノールアラルキル型シアネートエステル樹脂、ナフトールノボラック型シアネートエステル樹脂、ナフトールアラルキル型シアネートエステル樹脂、ナフトール-フェノール共縮ノボラック型シアネートエステル樹脂、ナフトール-クレゾール共縮ノボラック型シアネートエステル樹脂、芳香族炭化水素ホルムアルデヒド樹脂変性フェノール樹脂型シアネートエステル樹脂、ビフェニル変性ノボラック型シアネートエステル樹脂、アントラセン型シアネートエステル樹脂等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。
 これらのシアネートエステル樹脂の中でも、特に耐熱性に優れる硬化物が得られる点においては、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールF型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールE型シアネートエステル樹脂、ポリヒドロキシナフタレン型シアネートエステル樹脂、ナフチレンエーテル型シアネートエステル樹脂、ノボラック型シアネートエステル樹脂を用いることが好ましく、誘電特性に優れる硬化物が得られる点においては、ジシクロペンタジエン-フェノール付加反応型シアネートエステル樹脂が好ましい。
 上記構造式(A1)以外のベンゾオキサジン構造を有する樹脂としては、特に制限はないが、例えば、ビスフェノールFとホルマリンとアニリンの反応生成物(F-a型ベンゾオキサジン樹脂)やジアミノジフェニルメタンとホルマリンとフェノールの反応生成物(P-d型ベンゾオキサジン樹脂)、ビスフェノールAとホルマリンとアニリンの反応生成物、ジヒドロキシジフェニルエーテルとホルマリンとアニリンの反応生成物、ジアミノジフェニルエーテルとホルマリンとフェノールの反応生成物、ジシクロペンタジエン-フェノール付加型樹脂とホルマリンとアニリンの反応生成物、フェノールフタレインとホルマリンとアニリンの反応生成物、ジフェニルスルフィドとホルマリンとアニリンの反応生成物などが挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。
 上記マレイミド化合物としては、例えば、下記構造式(i)~(iii)の何れかで表される各種の化合物等が挙げられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000011
 (式中Rはm価の有機基であり、α及びβはそれぞれ水素原子、ハロゲン原子、アルキル基、アリール基の何れかであり、sは1以上の整数である。)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000012
 (式中Rは水素原子、アルキル基、アリール基、アラルキル基、ハロゲン原子、水酸基、アルコキシ基の何れかであり、sは1~3の整数、tは繰り返し単位の平均で0~10である。)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000013
 (式中Rは水素原子、アルキル基、アリール基、アラルキル基、ハロゲン原子、水酸基、アルコキシ基の何れかであり、sは1~3の整数、tは繰り返し単位の平均で0~10である。)これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。
 上記活性エステル樹脂としては、特に制限はないが、一般にフェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N-ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましく用いられる。前記活性エステル樹脂は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物と、ヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。特に耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物又はそのハライドとヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル樹脂が好ましく、カルボン酸化合物又はそのハライドと、フェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル樹脂がより好ましい。カルボン酸化合物としては、例えば安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等、又はそのハライドが挙げられる。フェノール化合物又はナフトール化合物としては、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、ジヒドロキシジフェニルエーテル、フェノールフタレイン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o-クレゾール、m-クレゾール、p-クレゾール、カテコール、α-ナフトール、β-ナフトール、1,5-ジヒドロキシナフタレン、1,6-ジヒドロキシナフタレン、2,6-ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエン-フェノール付加型樹脂等が挙げられる。
 活性エステル樹脂として、具体的にはジシクロペンタジエン-フェノール付加構造を含む活性エステル系樹脂、ナフタレン構造を含む活性エステル樹脂、フェノールノボラックのアセチル化物である活性エステル樹脂、フェノールノボラックのベンゾイル化物である活性エステル樹脂等が好ましく、なかでもピール強度の向上に優れるという点で、ジシクロペンタジエン-フェノール付加構造を含む活性エステル樹脂、ナフタレン構造を含む活性エステル樹脂がより好ましい。ジシクロペンタジエン-フェノール付加構造を含む活性エステル樹脂として、より具体的には下記一般式(iv)で表される化合物が挙げられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000014
 式(iv)中、Rはフェニル基又はナフチル基であり、uは0又は1を表し、nは繰り返し単位の平均で0.05~2.5である。なお、樹脂組成物の硬化物の誘電正接を低下させ、耐熱性を向上させるという観点から、Rはナフチル基が好ましく、uは0が好ましく、また、nは0.25~1.5が好ましい。
 本発明の硬化性樹脂組成物の硬化は無触媒でも進行するが、触媒(C)も併用できる。これら触媒(C)としてはイミダゾール、ジメチルアミノピリジンなどの3級アミン化合物;トリフェニルホスフィンなどの燐系化合物;3フッ化ホウ素、3フッ化ホウ素モノエチルアミン錯体などの3フッ化ホウ素アミン錯体;チオジプロピオン酸等の有機酸化合物;チオジフェノールベンズオキサジン、スルホニルベンズオキサジン等のベンズオキサジン化合物;スルホニル化合物;フェノール性水酸基含有化合物などが例示できる。上記フェノール性水酸基含有化合物は、例えば、フェノール、クレゾール、ジヒドロキシベンゼン、ビスフェノールA型、ビスフェノールF型、ビスフェノールE型、ビスフェノールS型、ビスフェノールスルフィド、ジヒドロキシフェニレンエーテル、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、芳香族炭化水素ホルムアルデヒド樹脂変性フェノール樹脂、ナフチレンエーテル樹脂、ジシクロペンタジエンフェノール付加型樹脂、フェノールアラルキル樹脂、ナフトールアラルキル樹脂、トリメチロールメタン樹脂、テトラフェニロールエタン樹脂、ナフトールノボラック樹脂、ナフトール-フェノール共縮ノボラック樹脂、ナフトール-クレゾール共縮ノボラック樹脂、ビフェニル変性フェノール樹脂(ビスメチレン基でフェノール核が連結された多価フェノール化合物)、ビフェニル変性ナフトール樹脂(ビスメチレン基でフェノール核が連結された多価ナフトール化合物)、アミノトリアジン変性フェノール樹脂(メラミンやベンゾグアナミンなどでフェノール核が連結された多価フェノール化合物)等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。これら触媒(C)の添加量は、硬化性樹脂組成物100質量部中0.001~15質量部の範囲であることが好ましい。
 また、本発明の硬化性樹脂組成物に高い難燃性が求められる用途に用いる場合には、実質的にハロゲン原子を含有しない非ハロゲン系難燃剤を配合してもよい。
 上記非ハロゲン系難燃剤は、例えば、リン系難燃剤、窒素系難燃剤、シリコーン系難燃剤、無機系難燃剤、有機金属塩系難燃剤等が挙げられ、それらの使用に際しても何等制限されるものではなく、単独で使用しても、同一系の難燃剤を複数用いても良く、また、異なる系の難燃剤を組み合わせて用いることも可能である。
 上記リン系難燃剤は、無機系、有機系のいずれも使用することができる。無機系化合物としては、例えば、赤リン、リン酸一アンモニウム、リン酸二アンモニウム、リン酸三アンモニウム、ポリリン酸アンモニウム等のリン酸アンモニウム類、リン酸アミド等の無機系含窒素リン化合物が挙げられる。
 また、上記赤リンは、加水分解等の防止を目的として表面処理が施されていることが好ましく、表面処理方法としては、例えば、(i)水酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、水酸化亜鉛、水酸化チタン、酸化ビスマス、水酸化ビスマス、硝酸ビスマス又はこれらの混合物等の無機化合物で被覆処理する方法、(ii)水酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、水酸化亜鉛、水酸化チタン等の無機化合物、及びフェノール樹脂等の熱硬化性樹脂の混合物で被覆処理する方法、(iii)水酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、水酸化亜鉛、水酸化チタン等の無機化合物の被膜の上にフェノール樹脂等の熱硬化性樹脂で二重に被覆処理する方法等が挙げられる。
 上記有機リン系化合物は、例えば、リン酸エステル化合物、ホスホン酸化合物、ホスフィン酸化合物、ホスフィンオキシド化合物、ホスホラン化合物、有機系含窒素リン化合物等の汎用有機リン系化合物の他、9,10-ジヒドロ-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキシド、10-(2,5―ジヒドロオキシフェニル)-10H-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキシド、10-(2,7-ジヒドロオキシナフチル)-10H-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキシド等の環状有機リン化合物及びそれをエポキシ樹脂やフェノール樹脂等の化合物と反応させた誘導体等が挙げられる。
 これらリン系難燃剤の配合量としては、リン系難燃剤の種類、硬化性樹脂組成物の他の成分、所望の難燃性の程度によって適宜選択されるものであるが、例えば、非ハロゲン系難燃剤及びその他の充填材や添加剤等全てを配合した硬化性樹脂組成物100質量部中、赤リンを非ハロゲン系難燃剤として使用する場合には0.1~2.0質量部の範囲で配合することが好ましく、有機リン化合物を用いる場合には同様に0.1~10.0質量部の範囲で配合することが好ましく、0.5~6.0質量部の範囲で配合することがより好ましい。
 また上記リン系難燃剤を使用する場合、該リン系難燃剤にハイドロタルサイト、水酸化マグネシウム、ホウ素化合物、酸化ジルコニウム、黒色染料、炭酸カルシウム、ゼオライト、モリブデン酸亜鉛、活性炭等を併用してもよい。
 上記窒素系難燃剤は、例えば、トリアジン化合物、シアヌル酸化合物、イソシアヌル酸化合物、フェノチアジン等が挙げられ、トリアジン化合物、シアヌル酸化合物、イソシアヌル酸化合物が好ましい。
 上記トリアジン化合物は、例えば、メラミン、アセトグアナミン、ベンゾグアナミン、メロン、メラム、サクシノグアナミン、エチレンジメラミン、ポリリン酸メラミン、トリグアナミン等の他、例えば、(1)硫酸グアニルメラミン、硫酸メレム、硫酸メラムなどの硫酸アミノトリアジン化合物、(2)フェノール、クレゾール、キシレノール、ブチルフェノール、ノニルフェノール等のフェノール類と、メラミン、ベンゾグアナミン、アセトグアナミン、ホルムグアナミン等のメラミン類及びホルムアルデヒドとの共縮合物、(3)前記(2)の共縮合物とフェノールホルムアルデヒド縮合物等のフェノール樹脂類との混合物、(4)前期(2)、(3)を更に桐油、異性化アマニ油等で変性したもの等が挙げられる。
 上記シアヌル酸化合物は、例えば、シアヌル酸、シアヌル酸メラミン等を挙げることができる。
 上記窒素系難燃剤の配合量としては、窒素系難燃剤の種類、硬化性樹脂組成物の他の成分、所望の難燃性の程度によって適宜選択されるものであるが、例えば、非ハロゲン系難燃剤及びその他の充填材や添加剤等全てを配合した硬化性樹脂組成物100質量部中、0.05~10質量部の範囲で配合することが好ましく、0.1~5質量部の範囲で配合することがより好ましい。
 また上記窒素系難燃剤を使用する際、金属水酸化物、モリブデン化合物等を併用してもよい。
 上記シリコーン系難燃剤は、ケイ素原子を含有する有機化合物であれば特に制限がなく使用でき、例えば、シリコーンオイル、シリコーンゴム、シリコーン樹脂等が挙げられる。上記シリコーン系難燃剤の配合量としては、シリコーン系難燃剤の種類、硬化性樹脂組成物の他の成分、所望の難燃性の程度によって適宜選択されるものであるが、例えば、非ハロゲン系難燃剤及びその他の充填材や添加剤等全てを配合した硬化性樹脂組成物100質量部中、0.05~20質量部の範囲で配合することが好ましい。また上記シリコーン系難燃剤を使用する際、モリブデン化合物、アルミナ等を併用してもよい。
 上記無機系難燃剤は、例えば、金属水酸化物、金属酸化物、金属炭酸塩化合物、金属粉、ホウ素化合物、低融点ガラス等が挙げられる。
 上記金属水酸化物は、例えば、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、ドロマイト、ハイドロタルサイト、水酸化カルシウム、水酸化バリウム、水酸化ジルコニウム等を挙げることができる。
 上記金属酸化物は、例えば、モリブデン酸亜鉛、三酸化モリブデン、スズ酸亜鉛、酸化スズ、酸化アルミニウム、酸化鉄、酸化チタン、酸化マンガン、酸化ジルコニウム、酸化亜鉛、酸化モリブデン、酸化コバルト、酸化ビスマス、酸化クロム、酸化ニッケル、酸化銅、酸化タングステン等を挙げることができる。
 上記金属炭酸塩化合物は、例えば、炭酸亜鉛、炭酸マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸バリウム、塩基性炭酸マグネシウム、炭酸アルミニウム、炭酸鉄、炭酸コバルト、炭酸チタン等を挙げることができる。
 上記金属粉は、例えば、アルミニウム、鉄、チタン、マンガン、亜鉛、モリブデン、コバルト、ビスマス、クロム、ニッケル、銅、タングステン、スズ等を挙げることができる。
 上記ホウ素化合物は、例えば、ホウ酸亜鉛、メタホウ酸亜鉛、メタホウ酸バリウム、ホウ酸、ホウ砂等を挙げることができる。
 上記低融点ガラスは、例えば、シープリー(ボクスイ・ブラウン社)、水和ガラスSiO-MgO-HO、PbO-B系、ZnO-P-MgO系、P-B-PbO-MgO系、P-Sn-O-F系、PbO-V-TeO系、Al-HO系、ホウ珪酸鉛系等のガラス状化合物を挙げることができる。
 上記無機系難燃剤の配合量としては、無機系難燃剤の種類、硬化性樹脂組成物の他の成分、所望の難燃性の程度によって適宜選択されるものであるが、例えば、非ハロゲン系難燃剤及びその他の充填材や添加剤等全てを配合した硬化性樹脂組成物100質量部中、0.05~20質量部の範囲で配合することが好ましく、0.5~15質量部の範囲で配合することがより好ましい。
 上記有機金属塩系難燃剤は、例えば、フェロセン、アセチルアセトナート金属錯体、有機金属カルボニル化合物、有機コバルト塩化合物、有機スルホン酸金属塩、金属原子と芳香族化合物又は複素環化合物がイオン結合又は配位結合した化合物等が挙げられる。
 上記有機金属塩系難燃剤の配合量としては、有機金属塩系難燃剤の種類、硬化性樹脂組成物の他の成分、所望の難燃性の程度によって適宜選択されるものであるが、例えば、非ハロゲン系難燃剤及びその他の充填材や添加剤等全てを配合した硬化性樹脂組成物例えば、硬化性樹脂組成物100質量部中、0.005~10質量部の範囲で配合することが好ましい。
 本発明の硬化性樹脂組成物は、必要に応じて無機充填材(D)を配合することができる。上記無機充填材(D)は、例えば、溶融シリカ、結晶シリカ、アルミナ、窒化珪素、水酸化アルミ等が挙げられる。上記無機充填材の配合量を特に大きくする場合は溶融シリカを用いることが好ましい。上記溶融シリカは破砕状、球状のいずれでも使用可能であるが、溶融シリカの配合量を高め且つ成形材料の溶融粘度の上昇を抑制するためには、球状のものを主に用いる方が好ましい。更に球状シリカの配合量を高めるためには、球状シリカの粒度分布を適当に調整することが好ましい。その充填率は難燃性を考慮して、高い方が好ましく、硬化性樹脂組成物の全質量に対して20質量%以上が特に好ましい。また導電ペーストなどの用途に使用する場合は、銀粉や銅粉等の導電性充填剤を用いることができる。
 本発明の硬化性樹脂組成物は、この他、必要に応じて、シランカップリング剤、離型剤、顔料、乳化剤等の種々の配合剤を添加することができる。
<硬化性樹脂組成物の用途>
 本発明の硬化性樹脂組成物は、硬化物における耐熱性、耐湿耐半田性、難燃性及び誘電特性の諸物性に優れることから、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、プリント回路基板、ビルドアップ基板、ビルドアップフィルム、繊維強化複合材料、繊維強化樹脂成形品、導電ペースト等が挙げられる。
 1.半導体封止材料
 本発明の硬化性樹脂組成物から半導体封止材料を得る方法としては、前記硬化性樹脂組成物、及び硬化促進剤、及び無機充填剤等の配合剤とを必要に応じて押出機、ニ-ダ、ロ-ル等を用いて均一になるまで充分に溶融混合する方法が挙げられる。その際、無機充填剤としては、通常、溶融シリカが用いられるが、パワートランジスタ、パワーIC用高熱伝導半導体封止材として用いる場合は、溶融シリカよりも熱伝導率の高い結晶シリカ,アルミナ,窒化ケイ素などの高充填化、または溶融シリカ、結晶性シリカ、アルミナ、窒化ケイ素などを用いるとよい。その充填率は硬化性樹脂組成物100質量部当たり、無機充填剤を30~95質量%の範囲で用いることが好ましく、中でも、難燃性や耐湿性や耐ハンダクラック性の向上、線膨張係数の低下を図るためには、70質量部以上がより好ましく、80質量部以上であることがさらに好ましい。
 2.半導体装置
 本発明の硬化性樹脂組成物から半導体装置を得る半導体パッケージ成形としては、上記半導体封止材料を注型、或いはトランスファー成形機、射出成形機などを用いて成形し、さらに50~200℃で2~10時間の間、加熱する方法が挙げられる。
 3.プリプレグ
 本発明の硬化性樹脂組成物からプリプレグを得る方法としては、下記有機溶剤を配合してワニス化した硬化性樹脂組成物を、補強基材(紙、ガラス布、ガラス不織布、アラミド紙、アラミド布、ガラスマット、ガラスロービング布など)に含浸したのち、用いた溶剤種に応じた加熱温度、好ましくは50~170℃で加熱することによって、得る方法が挙げられる。この時用いる樹脂組成物と補強基材の質量割合としては、特に限定されないが、通常、プリプレグ中の樹脂分が20~60質量%となるように調製することが好ましい。
 ここで用いる有機溶剤としては、メチルエチルケトン、アセトン、ジメチルホルムアミド、メチルイソブチルケトン、メトキシプロパノール、シクロヘキサノン、メチルセロソルブ、エチルジグリコールアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等が挙げられ、その選択や適正な使用量は用途によって適宜選択し得るが、例えば、下記のようにプリプレグからプリント回路基板をさらに製造する場合には、メチルエチルケトン、アセトン、ジメチルホルムアミド等の沸点が160℃以下の極性溶剤を用いることが好ましく、また、不揮発分が40~80質量%となる割合で用いることが好ましい。
 4.プリント回路基板
 本発明の硬化性樹脂組成物からプリント回路基板を得る方法としては、上記プリプレグを、常法により積層し、適宜銅箔を重ねて、1~10MPaの加圧下に170~300℃で10分~3時間、加熱圧着させる方法が挙げられる。 
 5.ビルドアップ基板
 本発明の硬化性樹脂組成物からビルドアップ基板を得る方法は、以下の工程からなる。まず、ゴム、フィラーなどを適宜配合した上記硬化性樹脂組成物を、回路を形成した回路基板にスプレーコーティング法、カーテンコーティング法等を用いて塗布した後、硬化させる工程(工程1)。その後、必要に応じて所定のスルーホール部等の穴あけを行った後、粗化剤により処理し、その表面を湯洗することによって凹凸を形成させ、銅などの金属をめっき処理する工程(工程2)。このような操作を所望に応じて順次繰り返し、樹脂絶縁層及び所定の回路パターンの導体層を交互にビルドアップして形成する工程(工程3)。なお、スルーホール部の穴あけは、最外層の樹脂絶縁層の形成後に行う。また、本発明のビルドアップ基板は、銅箔上で当該樹脂組成物を半硬化させた樹脂付き銅箔を、回路を形成した配線基板上に、170~300℃で加熱圧着することで、粗化面を形成、メッキ処理の工程を省き、ビルドアップ基板を作製することも可能である。
 6.ビルドアップフィルム
 本発明の硬化性樹脂組成物からビルドアップフィルムを得る方法としては、例えば、支持フィルム上に硬化性樹脂組成物を塗布したのち、乾燥させて、支持フィルムの上に樹脂組成物層を形成する方法が挙げられる。本発明の硬化性樹脂組成物をビルドアップフィルムに用いる場合、該フィルムは、真空ラミネート法におけるラミネートの温度条件(通常70℃~140℃)で軟化し、回路基板のラミネートと同時に、回路基板に存在するビアホール或いはスルーホール内の樹脂充填が可能な流動性(樹脂流れ)を示すことが肝要であり、このような特性を発現するよう上記各成分を配合することが好ましい。
 ここで、回路基板のスルーホールの直径は通常0.1~0.5mm、深さは通常0.1~1.2mmであり、通常この範囲で樹脂充填を可能とするのが好ましい。なお回路基板の両面をラミネートする場合はスルーホールの1/2程度充填されることが望ましい。
 上記したビルドアップフィルムを製造する方法は、具体的には、下記有機溶剤を配合してワニス化した硬化性樹脂組成物を調製した後、支持フィルム(Y)の表面に、上記組成物を塗布し、更に加熱、あるいは熱風吹きつけ等により有機溶剤を乾燥させて硬化性樹脂組成物の層(X)を形成させることにより製造することができる。
 ここで用いる有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリドン等を用いることが好ましく、また、不揮発分30~60質量%となる割合で使用することが好ましい。
 形成される層(X)の厚さは、通常、導体層の厚さ以上とする。回路基板が有する導体層の厚さは通常5~70μmの範囲であるので、樹脂組成物層の厚さは10~100μmの厚みを有するのが好ましい。なお、本発明における上記樹脂組成物の層(X)は、後述する保護フィルムで保護されていてもよい。保護フィルムで保護することにより、樹脂組成物層表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。
 前記した支持フィルム及び保護フィルムは、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル、ポリカーボネート、ポリイミド、更には離型紙や銅箔、アルミニウム箔等の金属箔などを挙げることができる。なお、支持フィルム及び保護フィルムはマッド処理、コロナ処理の他、離型処理を施してあってもよい。支持フィルムの厚さは特に限定されないが、通常10~150μmであり、好ましくは25~50μmの範囲で用いられる。また保護フィルムの厚さは1~40μmとするのが好ましい。
 上記した支持フィルム(Y)は、回路基板にラミネートした後に、或いは加熱硬化することにより絶縁層を形成した後に、剥離される。ビルドアップフィルムを構成する硬化性樹脂組成物層が加熱硬化した後に支持フィルム(Y)を剥離すれば、硬化工程でのゴミ等の付着を防ぐことができる。硬化後に剥離する場合、通常、支持フィルムには予め離型処理が施される。
 上記のようにして得られたビルドアップフィルムを用いて多層プリント回路基板を製造することができる。例えば、層(X)が保護フィルムで保護されている場合はこれらを剥離した後、層(X)を回路基板に直接接するように回路基板の片面又は両面に、例えば真空ラミネート法によりラミネートする。ラミネートの方法はバッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。また必要により、ラミネートを行う前にビルドアップフィルム及び回路基板を必要により加熱(プレヒート)しておいてもよい。ラミネートの条件は、圧着温度(ラミネート温度)を70~140℃とすることが好ましく、圧着圧力を1~11kgf/cm2(9.8×104~107.9×104N/m2)とすることが好ましく、空気圧を20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートすることが好ましい。
 7.繊維強化複合材料
 本発明の硬化性樹脂組成物から繊維強化複合材料を得る方法としては、硬化性樹脂組成物を構成する各成分を均一に混合してワニスを調整し、次いでこれを強化繊維からなる強化基材に含浸した後、重合反応させることにより製造することができる。
 かかる重合反応を行う際の硬化温度は、具体的には、50~250℃の温度範囲であることが好ましく、特に、50~100℃で硬化させ、タックフリー状の硬化物にした後、更に、120~200℃の温度条件で処理することが好ましい。
 ここで、強化繊維は、有撚糸、解撚糸、又は無撚糸などいずれでも良いが、解撚糸や無撚糸が、繊維強化プラスチック製部材の成形性と機械強度を両立することから、好ましい。さらに、強化繊維の形態は、繊維方向が一方向に引き揃えたものや、織物が使用できる。織物では、平織り、朱子織りなどから、使用する部位や用途に応じて自由に選択することができる。具体的には、機械強度や耐久性に優れることから、炭素繊維、ガラス繊維、アラミド繊維、ボロン繊維、アルミナ繊維、炭化ケイ素繊維などが挙げられ、これらの2種以上を併用することもできる。これらの中でもとりわけ成形品の強度が良好なものとなる点から炭素繊維が好ましく、かかる、炭素繊維は、ポリアクリロニトリル系、ピッチ系、レーヨン系などの各種のものが使用できる。中でも、容易に高強度の炭素繊維が得られるポリアクリロニトリル系のものが好ましい。ここで、ワニスを強化繊維からなる強化基材に含浸して繊維強化複合材料とする際の強化繊維の使用量は、該繊維強化複合材料中の強化繊維の体積含有率が40~85%の範囲となる量であることが好ましい。
 8.繊維強化樹脂成形品
 本発明の硬化性樹脂組成物から繊維強化成形品を得る方法としては、型に繊維骨材を敷き、前記ワニスを多重積層してゆくハンドレイアップ法やスプレーアップ法、オス型・メス型のいずれかを使用し、強化繊維からなる基材にワニスを含浸させながら積み重ねて成形、圧力を成形物に作用させることのできるフレキシブルな型をかぶせ、気密シールしたものを真空(減圧)成型する真空バッグ法、あらかじめ強化繊維を含有するワニスをシート状にしたものを金型で圧縮成型するSMCプレス法、繊維を敷き詰めた合わせ型に前記ワニスを注入するRTM法などにより、強化繊維に前記ワニスを含浸させたプリプレグを製造し、これを大型のオートクレーブで焼き固める方法などが挙げられる。なお、上記で得られた繊維強化樹脂成形品は、強化繊維と硬化性樹脂組成物の硬化物とを有する成形品であり、具体的には、繊維強化成形品中の強化繊維の量は、40~70質量%の範囲であることが好ましく、強度の点から50~70質量%の範囲であることが特に好ましい。
 9.導電ペースト
 本発明の硬化性樹脂組成物から導電ペーストを得る方法としては、例えば、微細導電性粒子を該硬化性樹脂組成物中に分散させる方法が挙げられる。上記導電ペーストは、用いる微細導電性粒子の種類によって、回路接続用ペースト樹脂組成物や異方性導電接着剤とすることができる。
 <硬化性樹脂組成物の製造方法>
 上記、各種用途に用いることのできる本発明の硬化性樹脂組成物は、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)と、エポキシ樹脂(B)を混合することにより製造することができる。以下に、本発明の硬化性組成物を構成するベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)の製造方法について説明する。
 ・ベンゾオキサジン構造を有する樹脂の製造方法
 本発明のベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)は、ジアミン化合物(P)と、芳香族ジヒドロキシ化合物(Q)と、芳香族モノヒドロキシ化合物(R)と、ホルムアルデヒド(S)とを反応させる方法により製造される。
 ここで用いるジアミン化合物(P)としては、例えば、下記構造式(P1)で表されるものが挙げられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000015
 ただし、Lは、2価の脂肪族炭化水素基、2価の芳香族炭化水素基、脂肪族炭化水素基及び芳香族炭化水素基を有する2価の基、又はこれら炭化水素基が有する水素原子の1つまたは複数が、水酸基、アルコキシ基、又はハロゲン原子で置換された連結基を表す。
 上記の具体的な連結基Lとしては、アルキレン基、アルケニレン基、アルキニレン基、シクロアルキレン基、アリーレン基、アラルキレン基、水酸基含有アルキレン基、アルコキシ基含有アルキレン基、ハロゲン化アルキレン基、水酸基含有アルケニレン基、アルコキシ基含有アルケニレン基、ハロゲン化アルケニレン基、水酸基含有アルキニレン基、アルコキシ基含有アルキニレン基、ハロゲン化アルキニレン基、水酸基含有シクロアルキレン基、アルコキシ基含有シクロアルキレン基、ハロゲン化シクロアルキレン基、水酸基含有アリーレン基、アルコキシ基含有アリーレン基、ハロゲン化アリーレン基、水酸基含有アラルキレン基、アルコキシ基含有アラルキレン基、ハロゲン化アラルキレン基などが挙げられる。上記において、アルキレン基、アルケニレン基などが示す具体的な基については、上述の通りである。
 また、連結基Lは、下記構造式(P1-1)、(P1-2)で示される連結基であってよい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000016
 ただし、式(P1-1)、(P1-2)において、Lは2価の連結基を示している。Rは、それぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基、ハロゲン原子、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基を示している。また、iは1~4の整数を示し、jは1~4の整数を示している。dは、上記式(P1)においてN原子との結合点を示している。
 なお、Lが示す具体的な連結基、およびRが示す具体的な置換基については、上述の通りである。
 次に、上記反応で用いる芳香族ジヒドロキシ化合物(Q)について説明する。上記反応で用いる芳香族ジヒドロキシ化合物(Q)としては、1,2-ベンゼンジオール、1,3-ベンゼンジオール、1,4-ベンゼンジオール等のジヒドロキシベンゼン;1,2-ジヒドロキシナフタレン、1,4-ジヒドロキシナフタレン、1,5-ジヒドロキシナフタレン、1,6-ジヒドロキシナフタレン、1,7-ジヒドロキシナフタレン、2,3-ジヒドロキシナフタレン、2,6-ジヒドロキシナフタレン、2,7-ジヒドロキシナフタレン等のジヒドロキシナフタレン等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。
 次に、上記反応で用いる芳香族モノヒドロキシ化合物(R)について説明する。上記反応で用いる芳香族ジヒドロキシ化合物(R)としては、例えば、下記構造式(R1)、(R2)で表されるものが挙げられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000017
 ただし、式(R1)、(R2)、において、Rは、それぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基、ハロゲン原子、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基を示している。また、pは1~4の整数を示し、qは1~6の整数を示している。OH基と、H原子の結合位置については特に限定されないが、芳香環の隣接した炭素原子にそれぞれ結合している。
 なお、Rが示す具体的な置換基については、上述の通りである。
 そのような芳香族モノヒドロキシ化合物としては、例えば、フェノール、ナフトール、等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。中でも、硬化物における難燃性及び誘電特性に優れることからナフトールが好ましい。
 次に、ホルムアルデヒド(S)について説明する。ホルムアルデヒド(S)は、溶液の状態であるホルマリン、或いは固形の状態であるパラホルムアルデヒドのどちらの形態で用いても良い。
 ジアミン化合物(P)と、芳香族ジヒドロキシ化合物(Q)と、芳香族モノヒドロキシ化合物(R)と、ホルムアルデヒド(S)との反応割合は、ジアミン化合物(P)のアミノ基1モルに対し、芳香族ジヒドロキシ化合物(Q)が0.25~0.90モルの範囲となり、芳香族モノヒドロキシ化合物(R)が0.10~0.75モルの範囲であり、かつ、ホルムアルデヒドが1.5~2.5モルの範囲であることが、目的のベンゾオキサジン構造を有する樹脂がより効率的に生成することから好ましい。
 さらに、ジアミン化合物(P)と、芳香族ジヒドロキシ化合物(Q)と、芳香族モノヒドロキシ化合物(R)と、ホルムアルデヒド(S)との反応は、必要に応じて触媒の存在下で行っても良い。ここで用いる触媒は、ジヒドロオキサジン化合物を製造する際に通常用いられる各種の触媒が挙げられ、具体的には、N,N-ジメチルホルムアミド等のアミド化合物;ピリジン、N,N-ジメチル―4-アミノピリジン等のピリジン化合物;トリエチルアミン、テトラメチルエチレンジアミン等のアミン化合物;テトラブチルアンモニウムブロミド等の4級アンモニウム塩;酢酸、トリフルオロ酢酸、パラトルエンスルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸等の有機酸化合物;水酸化カリウム、炭酸カリウム、炭酸ナトリウム等のアルカリ金属水酸化物又は炭酸塩;ジブチルヒドロキシトルエン等のフェノール性化合物;パラジウム、テトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム、ヨウ化銅、四塩化錫、ニッケル、プラチナ等の金属触媒等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。
 さらに、ジアミン化合物(P)と、芳香族ジヒドロキシ化合物(Q)と、芳香族モノヒドロキシ化合物(R)と、ホルムアルデヒド(S)との反応は、必要に応じて有機溶媒中で行っても良い。ここで用いる有機溶媒は、例えば、水、メタノール、エタノール、イソプロパノール等のアルコール化合物;ジオキサン、テトラヒドロフラン、ジエチルエーテル等のエーテル化合物;酢酸、トリフルオロ酢酸等の酢酸化合物;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン化合物;酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル化合物;セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール化合物;ジクロロメタン、クロロホルム、四塩化炭素、ジクロロエタン、クロロベンゼン等の塩素化炭化水素化合物;シクロヘキサン、ベンゼン、トルエン、キシレン等の炭化水素化合物;ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリドン等のアミド化合物;アニリン等のアミン化合物;ジメチルスルホキシド、アセトニトリル等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上の混合溶媒としても良い。
 なお、ジアミン化合物(P)と、芳香族ジヒドロキシ化合物(Q)と、芳香族モノヒドロキシ化合物(R)と、ホルムアルデヒド(S)との反応は、例えば50~100℃の温度条件下で行うことが出来、反応終了後は水層と有機層とを分離した後、有機層から有機溶媒を減圧乾燥させるなどして、目的のベンゾオキサジン構造を有する樹脂を得ることが出来る。
 次に本発明を実施例、比較例により具体的に説明するが、以下において「部」及び「%」は特に断わりのない限り質量基準である。尚、軟化点測定、融点測定、GPC測定、13C-NMR、MSスペクトル、IRは以下の条件にて測定した。
 GPC:以下の条件により測定した。
 測定装置 :東ソー株式会社製「HLC-8220 GPC」、
 カラム:東ソー株式会社製ガードカラム「HXL-L」
    +東ソー株式会社製「TSK-GEL G2000HXL」
    +東ソー株式会社製「TSK-GEL G2000HXL」
    +東ソー株式会社製「TSK-GEL G3000HXL」
    +東ソー株式会社製「TSK-GEL G4000HXL」
 検出器: RI(示差屈折径)
 データ処理:東ソー株式会社製「GPC-8020モデルIIバージョン4.10」
 測定条件: カラム温度  40℃
       展開溶媒   テトラヒドロフラン
       流速     1.0ml/分
 標準  : 上記「GPC-8020モデルIIバージョン4.10」の測定マニュアルに準拠して、分子量が既知の下記の単分散ポリスチレンを用いた。
  (使用ポリスチレン)
   東ソー株式会社製「A-500」
   東ソー株式会社製「A-1000」
   東ソー株式会社製「A-2500」
   東ソー株式会社製「A-5000」
   東ソー株式会社製「F-1」
   東ソー株式会社製「F-2」
   東ソー株式会社製「F-4」
   東ソー株式会社製「F-10」
   東ソー株式会社製「F-20」
   東ソー株式会社製「F-40」
   東ソー株式会社製「F-80」
   東ソー株式会社製「F-128」
 試料  : 樹脂固形分換算で1.0質量%のテトラヒドロフラン溶液をマイクロフィルターでろ過したもの(50μl)。
 13C-NMR:日本電子株式会社製「JNM-ECA500」により測定した。
 磁場強度:500MHz
 パルス幅:3.25μsec
 積算回数:8000回
   溶媒:DMSO-d6
 試料濃度:30質量%
 FD-MS:日本電子株式会社製「JMS-T100GC AccuTOF」を用いて 測定した。
 測定範囲:m/z=4.00~2000.00
 変化率:51.2mA/min
 最終電流値:45mA
 カソード電圧:-10kV
 記録間隔:0.07sec
 IR:サーモフィッシャーサイエンティフィック社製「Nicolet iS10」を用い、KBr法で測定した。
〔実施例1〕ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-1)の合成
 滴下ロート、温度計、攪拌装置、加熱装置、冷却還流管を取り付けた4つ口フラスコに窒素ガスを流しながら、4,4’-ジアミノジフェニルメタン 396.5g(2.0モル)、フェノール 188.2g(2.0モル)、ビスフェノールA 228.3g(1.0モル)を仕込み、トルエン 910gに溶解させた後、42%ホルムアルデヒド水溶液572.0g(8.0モル)を加えて、攪拌しながら80℃まで昇温し、80℃で5時間反応させた。反応後、分液ロートに移し、水層を除去した。その後有機層から溶媒を加熱減圧下に除去し、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-1)を884gを得た。次に、得られたベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-1)について、GPC測定と、13C-NMR測定と、FD-MS測定と、IR測定を行った。ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-1)のGPCチャートを図1に、13C-NMRを図2に、FD-MSスペクトルを図3に示す。ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-1)の数平均分子量は1070であり、図3に示すように、FD-MSスペクトルからM=909、1383、1857などのピークが得られたこと、図には示さないが、IRスペクトルから950cm-1の吸収が得られたことから、目的のベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-1)が得られていることを確認した。
〔実施例2〕ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-2)の合成
 滴下ロート、温度計、攪拌装置、加熱装置、冷却還流管を取り付けた4つ口フラスコに窒素ガスを流しながら、4,4’-ジアミノジフェニルメタン 396.5g(2.0モル)、フェノール 188.2g(2.0モル)、4,4’-ジヒドロキシジフェニルエーテル 202.2g(1.0モル)を仕込み、トルエン 883gに溶解させた後、42%ホルムアルデヒド水溶液572.0g(8.0モル)を加えて、攪拌しながら80℃まで昇温し、80℃で5時間反応させた。反応後、分液ロートに移し、水層を除去した。その後有機層から溶媒を加熱減圧下に除去し、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂樹脂(A-2)を848gを得た。
〔実施例3〕ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-3)の合成
 滴下ロート、温度計、攪拌装置、加熱装置、冷却還流管を取り付けた4つ口フラスコに窒素ガスを流しながら、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル 400.5g(2.0モル)、フェノール 188.2g(2.0モル)、ビスフェノールA 228.3g(1.0モル)を仕込み、トルエン 913gに溶解させた後、42%ホルムアルデヒド水溶液572.0g(8.0モル)を加えて、攪拌しながら80℃まで昇温し、80℃で5時間反応させた。反応後、分液ロートに移し、水層を除去した。その後有機層から溶媒を加熱減圧下に除去し、ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A-3)を892g得た。
〔比較例1〕ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A’-1)の合成
 滴下ロート、温度計、攪拌装置、加熱装置、冷却還流管を取り付けた4つ口フラスコに窒素ガスを流しながら、4,4’-ジアミノジフェニルメタン 456.0g(2.3モル)、ビスフェノールA 525.1g(2.3モル)を仕込み、クロロホルムに溶解させた後、パラホルムアルデヒド308.5g(9.8モル)を加えて、生成する水を除去しながら、還流下で6時間反応させた。その後、クロロホルムに溶解させたフェノール 188.2g(2.0モル)を加え、さらに還流下で2時間反応させた後、反応後の溶液を多量のメタノールで洗浄し、40℃で減圧乾燥することによりベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A’-1)を1143g得た。ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A’-1)の数平均分子量は4150であった。
〔実施例4~比較例8〕組成物及び硬化物の作製
 下記化合物を表1、2に示したとおりに混合し、プレスで200℃の温度で10分間成型した後、200℃の温度で5時間後硬化して厚さ0.8mmの硬化物を得た。得られた硬化物の物性評価結果をそれぞれ表1、表2に示す。
 ・A-1:実施例1で得られたベンゾオキサジン構造を有する樹脂
 ・A-2:実施例2で得られたベンゾオキサジン構造を有する樹脂
 ・A-3:実施例3で得られたベンゾオキサジン構造を有する樹脂
 ・A’-1:比較例1で得られたベンゾオキサジン構造を有する樹脂
 ・B-1:ビスフェノールA型エポキシ樹脂/平均官能基数2
            DIC株式会社製「EPICLON 850S」
 ・B-2:ナフタレン型エポキシ樹脂/平均官能基数2
            DIC株式会社製「EPICLON HP-4032SS」
 ・B-3:ナフタレン型エポキシ樹脂/平均官能基数4
            DIC株式会社製「EPICLON HP-4700」
 ・B-4:ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂/平均官能基数3
            DIC株式会社製「EPICLON HP-6000」
 ・B-5:クレゾールノボラック型エポキシ樹脂/平均官能基数7
      DIC株式会社製「EPICLON N-680」
 ・C-1:フェノールノボラック樹脂
            DIC株式会社製「PHENOLITE TD-2131」
 ・D-1:溶融シリカ
      電気化学株式会社「FB3SDC」
<ガラス転移温度>
 厚さ0.8mmの硬化物を幅5mm、長さ54mmのサイズに切り出し、これを試験片1とした。この試験片1を粘弾性測定装置(DMA:レオメトリック社製固体粘弾性測定装置「RSAII」、レクタンギュラーテンション法:周波数1Hz、昇温速度3℃/分)を用いて、弾性率変化が最大となる(tanδ変化率が最も大きい)温度をガラス転移温度として評価した。
<誘電率および正接の測定>
 JIS-C-6481に準拠し、アジレント・テクノロジー株式会社製インピーダンス・マテリアル・アナライザ「HP4291B」により、絶乾後23℃、湿度50%の室内に24時間保管した後の試験片1の1GHzでの誘電率および正接を測定した。
<耐吸湿性>
 厚さ0.8mmの硬化物を幅25mm、長さ75mmのサイズに切り出し、試験片2とした。この試験片2を用いて85℃/85%RHの雰囲気下168時間放置し、処理前後の質量変化を測定した
<ハンダリフロー性>
 試験片2を10個作製した後、85℃/85%RHの雰囲気下168時間放置し、吸湿処理を行った後、これを260℃のハンダ浴に10秒間浸漬させた際、クラックの発生した試験片の数を数えた。
<難燃性>
 厚さ0.8mmの硬化物を幅12.7mm、長さ127mmに切り出し、試験片3とした。この試験片3を用いてUL-94試験法に準拠し、試験片5本を用いて、燃焼試験を行った。
 *1:試験片5本の合計燃焼時間(秒)
 *2:1回の接炎における最大燃焼時間(秒)
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000018
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000019

Claims (20)

  1.  下記構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)と、エポキシ樹脂(B)とを、前記構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造の合計モル数をα、エポキシ樹脂(B)中のエポキシ基のモル数をβとしたとき、その比率[(β)/(α)]が0.1~0.5となる割合で含有する硬化性樹脂組成物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
    [ただし、構造式(A1)において、
     Arは、4価の芳香族基を示し、
     Arは、2価の芳香族基を示し、
     Lは、2価の連結基を示し、
     xは、繰り返し数の平均値であり、0.25~5.0を示し、
     O*1原子とC*1原子はArで表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示し、O*2原子とC*2原子はArで表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示す。]
  2.  前記連結基Lが、2価の炭化水素基、又は2価の炭化水素基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、アルコキシ基、若しくはハロゲン原子で置換された基の何れかである請求項1に記載の硬化性樹脂組成物。
  3.  前記連結基Lが、下記構造式(A2-1)、下記構造式(A2-2)、アルキレン基、アリーレン基、およびアラルキレン基の群より選択されるいずれかの2価の連結基である請求項1に記載の硬化性樹脂組成物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
    [ただし、構造式(A2-1)~(A2-2)において、
     Lは、2価の連結基を示し、
     Rは、それぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基、ハロゲン原子、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基を示し、
     iは1~4の整数を示し、jは1~4の整数を示し、
     a*1は、前記構造式(A1)においてN*1原子、またはN*2原子との結合点を示す。]
  4.  前記Arが、下記構造式(A3-1)~(A3-4)の群より選択されるいずれかの4価の芳香族基である請求項3に記載の硬化性樹脂組成物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
    [ただし、構造式(A3-1)~(A3-4)において、
     Lは、2価の連結基を示し、
     Rは、それぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基、ハロゲン原子、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基を示し、
     kは1~3の整数、lは1~3の整数、mは1~2の整数、nは1~4の整数を示し b*1、c*1は、それぞれ、前記構造式(A1)で示されるO*1原子、C*1原子との結合点であり、構造式(A3-1)~(A3-4)で表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示す。]
  5.  前記L、Lは、それぞれ独立してアルキレン基、アラルキレン基、エーテル結合、カルボニル基、エステル基、アミド基、イミノ基、アゾ基、スルフィド基、及びスルホン基の群より選択される何れかの連結基である請求項3、4のいずれかに記載の硬化性樹脂組成物。
  6.  前記Arが、下記構造式(A4-1)、および下記構造式(A4-2)の群より選択されるいずれかの芳香族基である請求項3に記載の硬化性樹脂組成物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
    [ただし、構造式(A4-1)~(A4-2)において、
     Rは、それぞれ独立して水素原子、炭化水素基、アルコキシ基、水酸基、ハロゲン原子置換基、又は炭化水素基、アルコキシ基に含まれる1以上の水素原子が、水酸基、ハロゲン原子のいずれかで置換された置換基を示し、
     pは1~4の整数を示し、qは1~6の整数を示し、
     b*2、c*2は、それぞれ前記構造式(A1)で示されるO*2原子、C*2原子との結合点であり、構造式(A4-1)~(A4-2)で表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示す。]
  7.  前記ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)は、前記構造式(A1)の繰り返し数xが2以上の場合に、前記構造式(A2-1)、前記構造式(A2-2)、前記アルキレン基、前記アリーレン基、および前記アラルキレン基の群より選択される1種以上の2価の連結基Lを複数有する請求項4に記載の硬化性樹脂組成物。
  8.  前記ベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)は、前記構造式(A1)の繰り返し数xが2以上の場合に、前記構造式(A3-1)~(A3-4)の群より選択される1種以上の芳香族基Arを複数有する請求項4に記載の硬化性樹脂組成物。
  9.  前記エポキシ樹脂(B)の平均官能基数が2~4である請求項1に記載の硬化性樹脂組成物。
  10.  請求項1~9の何れか一つに記載の硬化性樹脂組成物を硬化させて得られる硬化物。
  11.  請求項1~9の何れか一つに記載の硬化性樹脂組成物と、無機充填材とを含有する半導体封止材料。
  12.  請求項11に記載の半導体封止材料を加熱硬化させて得られる半導体装置。
  13.  請求項1~9の何れか一つに記載の硬化性樹脂組成物を有機溶剤に希釈したものを補強基材に含浸し、得られる含浸基材を半硬化させることにより得られるプリプレグ。
  14.  請求項13に記載のプリプレグを板状に賦形したものを銅箔と積層し、加熱加圧成型して得られる回路基板。
  15.  請求項1~9の何れか一つに記載の硬化性樹脂組成物を有機溶剤に希釈したものを基材フィルム上に塗布し、乾燥させることにより得られるビルドアップフィルム。
  16.  請求項15に記載のビルドアップフィルムを回路が形成された回路基板に塗布し、加熱硬化させて得られる回路基板に凹凸を形成し、次いで前記回路基板にめっき処理を行うことにより得られるビルドアップ基板。
  17.  請求項1~9の何れか一つに記載の硬化性樹脂組成物と、強化繊維とを含有する繊維強化複合材料。
  18.  前記強化繊維の体積含有率が40~85%の範囲内である請求項17記載の繊維強化複合材料。
  19.  請求項17~18の何れかに記載の繊維強化複合材料を硬化させてなる繊維強化成形品。
  20. 下記構造式(A1)で表されるベンゾオキサジン構造を有する樹脂(A)。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
    [ただし、構造式(A1)において、
     Arは、4価の芳香族基を示し、
     Arは、2価の芳香族基を示し、
     Lは、2価の連結基を示し、
     xは、繰り返し数の平均値であり、0.25以上、2.0未満を示し、
     O*1原子とC*1原子はArで表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示し、O*2原子とC*2原子はArで表される芳香族基の隣接した炭素原子に結合していることを示す。]
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