WO2015133441A1 - ガスバリア性積層体 - Google Patents

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gas barrier
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ald
oxide layer
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瞬也 南郷
雄介 小賦
真平 奥山
成 川原
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東洋製罐グループホールディングス株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a gas barrier laminate in which a thin film by an atomic layer deposition method is formed on an inorganic film.
  • Patent Document 1 It is known that an inorganic barrier layer made of silicon oxide or the like is formed on the surface of a plastic substrate as a means for improving characteristics of various plastic substrates, particularly gas barrier properties (Patent Document 1).
  • organic electroluminescence organic electroluminescence
  • solar cells solar cells
  • touch panels electronic papers
  • a high moisture barrier property is required for a plastic substrate such as a film for sealing the substrate or the circuit board.
  • the inorganic barrier layer described above exhibits a high gas barrier property as compared with an organic film formed by a so-called gas barrier resin, etc., but due to the nature of the film, structural defects such as pinholes and cracks are unavoidable, An M—OH bond (bonding defect) serving as a gas passage exists in the MOM network constituting the film (M is a metal atom forming the inorganic barrier layer). For this reason, the inorganic barrier layer alone cannot satisfy the high barrier properties required in the field of organic EL and the like, and further improvement of the gas barrier properties is required.
  • the present applicant has previously proposed a gas barrier laminate in which a moisture trap layer having a cationic polymer as a matrix is provided on an inorganic barrier layer provided on a base film (Japanese Patent Application No. 2013-022253).
  • Japanese Patent Application No. 2013-022253 Japanese Patent Application No. 2013-022253
  • it is required to suppress a decrease in barrier property due to structural defects of the inorganic barrier layer and further improve the gas barrier property.
  • Patent Document 2 A gas barrier laminate has also been proposed (Patent Document 2). According to such a technique, defects existing in an inorganic film are repaired by forming a film on the inorganic film by an atomic layer deposition method, thereby greatly improving gas barrier properties such as moisture barrier properties.
  • an ALD film can form a very dense film, it is known that the ALD film itself has a very high barrier property, but particularly has a water vapor permeability of 10 ⁇ 4 g / m 2 / day or less. In order to ensure, generally a film thickness of about 10 nm or more is required.
  • a film forming method using an atomic layer deposition method (hereinafter sometimes referred to as an ALD method) has a drawback that the film forming speed is low. That is, the ALD method supplies a gas of a metal compound such as an Al compound and water vapor as a reaction gas, forms a monomolecular film of the metal oxide, then purges the reactive gas, and then reacts again with the reactive gas. Is performed by repeating the operation of stacking the metal oxide films. Therefore, it takes a considerable amount of time to achieve the desired high barrier property, and thus the productivity is low. The fact is that its practical use is hindered.
  • an object of the present invention is to provide a gas barrier laminate in which a film formed by an atomic layer deposition method is formed on an inorganic film and has not only high gas barrier properties but also excellent productivity.
  • Another object of the present invention is to provide a gas barrier laminate in which the barrier property against moisture is maintained at a high level over a long period of time.
  • the inventors of the present invention have conducted many experiments on gas barrier properties when a film is formed on an inorganic film by an atomic layer deposition method. The inventors have found that the gas barrier property of the inorganic film can be remarkably improved even when the thickness is extremely thin, and have completed the present invention.
  • a gas barrier laminate in which an ultrathin metal oxide film is formed on an inorganic oxide layer by an atomic layer deposition method, and the inorganic oxide layer includes at least one of Si and Al. It is made of metal oxide or metal oxynitride, and the ratio (d1 / d2) of the thickness d1 of the inorganic oxide layer to the thickness d2 of the ultrathin metal oxide film is 3 to 50, A gas barrier laminate is provided.
  • the thickness d2 of the ultrathin metal oxide film is in the range of 0.5 to 9 nm, (2) The density of the ultrathin metal oxide is 4.2 g / cm 3 or more, (3) the inorganic oxide layer is formed on a plastic substrate; (4) The MOH / MO ratio (M is Si or Al) of the inorganic oxide layer is 0.1 or less, (5) The ultrathin metal oxide film contains Ti, Zr, Hf or Al, (6) The inorganic oxide layer is formed of an oxide containing Si, and a cationic material is formed on the ultrathin metal oxide film. Is preferred.
  • the gas barrier laminate of the present invention has a laminated structure in which a film (ALD film) by an atomic layer deposition method is formed on an inorganic oxide layer formed on the surface of a substrate such as a plastic substrate.
  • the inorganic oxide layer is formed with an oxide or oxynitride of Si or Al, and the ALD film formed thereon is extremely thin, not more than 1/3 of the thickness of the inorganic oxide layer. This is a remarkable feature. That is, the ratio (d1 / d2) between the thickness d1 of the inorganic oxide layer and the thickness d2 of the ALD film (ultra-thin metal oxide film) is 3 to 50. Thus, since the ALD film is extremely thin, the film formation time may be short.
  • the thickness of the monoatomic layer obtained in one cycle If the thickness is 0.2 nm, the number of cycles required for film formation may be 45 or less. Therefore, the gas barrier laminate of the present invention exhibits high productivity while having an ALD film.
  • the gas barrier laminate of the present invention exhibits extremely high gas barrier properties while the ALD film formed on the inorganic oxide layer is extremely thin.
  • the gas barrier film of the present invention in which the ALD film is formed on the inorganic oxide layer (SiO x layer) according to the present invention, such an ALD film is formed.
  • the moisture barrier property water vapor barrier property
  • the gas barrier property is remarkably improved even though the ALD film is extremely thin.
  • the reason why such a gas barrier property is significantly improved is not clearly elucidated, but it is probably due to the formation of an ALD film in which defects such as pinholes in the inorganic oxide layer are extremely thin.
  • the present inventors think that it is for repair. That is, when an ALD film is formed inside a defect of an inorganic oxide, oxide molecules having a higher density than the inorganic oxide layer selectively penetrate and a source gas called a precursor such as a metal alkoxide. Reacts with OH groups present in the defective portion of the inorganic oxide layer, so that this defect is repaired, and it is presumed that remarkably high gas barrier properties are brought about by repairing such a defect. .
  • the present invention has a remarkable effect when a layer containing a cationic material (moisture trap layer) is provided on the inorganic oxide layer containing Si via the ALD film.
  • a layer containing a cationic material moisture trap layer
  • the alkali resistance is poor on the inorganic oxide layer containing Si
  • the Si—O—Si network breaks due to contact with the cation. Bonding defects will be enlarged.
  • the cation permeates with time, so that the defect expands, and this causes a decrease in the barrier property against oxygen and the barrier property against moisture.
  • the bond defect of the inorganic oxide layer is repaired by the ALD film, and direct contact between the cationic material and the inorganic oxide layer is avoided.
  • the deterioration of the inorganic oxide layer over time due to the cationic material is effectively avoided, and the water trapping ability due to the layer containing the cationic material is also exhibited to show a high level of moisture barrier property. This suppresses the deterioration of these barrier properties over time, and can achieve a high level of gas barrier properties over a long period of time.
  • the gas barrier laminate of the present invention is not only significantly improved in gas barrier properties such as moisture barrier properties, but is also excellent in productivity, and thus is useful as a substrate and a sealing layer for various electronic devices. Practical application to electroluminescence (organic EL) panels is expected. Furthermore, since the ALD film that improves gas barrier properties and durability is extremely thin, there is an advantage that these effects can be achieved without making the thickness of the laminated structure unnecessarily thick. It is extremely useful industrially.
  • the schematic sectional drawing which shows the basic layer structure of the gas-barrier laminated body of this invention.
  • the schematic sectional drawing which shows the suitable example of the layer structure of the gas-barrier laminated structure of this invention.
  • this laminate as a whole is represented by a predetermined substrate 1 and an inorganic oxide layer formed on the surface of the substrate 1. 3 and an ultrathin film 5 (hereinafter referred to as an ALD film) formed by an atomic layer deposition method.
  • ALD film ultrathin film 5
  • the base material 1 that is the base of the inorganic oxide layer 3 is not particularly limited, and may be, for example, metal or glass, but is usually a plastic for the purpose of the present invention to realize high gas barrier properties.
  • a substrate is used.
  • Such a plastic-based plastic may be formed from a known thermoplastic or thermosetting resin.
  • Such resins include, but are not limited to, low density polyethylene, high density polyethylene, polypropylene, poly 1-butene, poly 4-methyl-1-pentene or ethylene, propylene, 1- Random or block copolymers of ⁇ -olefins such as butene and 4-methyl-1-pentene, olefin resins such as cyclic olefin copolymers; ethylene / vinyl acetate copolymers, ethylene / vinyl alcohol copolymers, Ethylene / vinyl resins such as ethylene / vinyl chloride copolymer; Styrene resins such as polystyrene, acrylonitrile / styrene copolymer, ABS, ⁇ -methylstyrene / styrene copolymer; polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, chloride Vinyl / vinylidene chloride copolymer, polymethyl acrylate, poly Vinyl resins such as methyl meth
  • Polyester resin Polycarbonate resin; Polyphenylene oxide resin; Polyimide resin; Polyamideimide resin; Polyetherimide resin; Fluororesin; Allyl resin; Polyurethane resin; Polysulfone resin; Polyethersulfone resin; A biodegradable resin such as polylactic acid; and the like, and further, a blend thereof, or a resin obtained by appropriately copolymerizing these resins or having a multilayer structure. May be.
  • polyester resins such as PET and PEN are suitable among the above, and polycarbonates and polyimide resins are preferable in applications where heat resistance is also required.
  • the above-mentioned various resins may contain a resin compounding agent known per se, for example, an antioxidant or a lubricant.
  • the form of the plastic substrate is not particularly limited as long as the barrier property against moisture and oxygen is sufficiently exhibited, and may have an appropriate form according to the application. Or the case where it has the form of a film thru
  • Such a plastic substrate is molded by known molding means such as injection or co-injection molding, extrusion or co-extrusion molding, film or sheet molding, compression moldability, cast polymerization, etc., depending on the form and type of plastic. can do.
  • the inorganic oxide layer 3 formed on the substrate 1 is formed by physical vapor deposition typified by sputtering, vacuum vapor deposition, ion plating, or chemical vapor deposition typified by plasma CVD. It is formed from an oxide or oxynitride (SiO x or SiO x N y ), or an oxide or oxynitride of Al (Al 2 O x or Al 2 O x N y ).
  • Si oxides or oxynitrides and Al oxides and oxynitrides may be mixed, and in particular, the barrier property against water vapor is high and the film formation by vapor deposition is easy.
  • the inorganic oxide layer 3 is formed of an oxide containing Si.
  • the film physical properties can be easily controlled by the film forming conditions, and the film can be formed evenly on uneven surfaces.
  • it is preferably formed by plasma CVD.
  • a base material 1 on which an inorganic oxide layer is to be formed is placed in a plasma processing chamber that is maintained at a predetermined degree of vacuum and shielded by a metal wall, and the film forming metal or the metal is included.
  • a compound gas (reaction gas) and an oxidizing gas (usually oxygen or NO x gas) are appropriately supplied to the plasma processing chamber using a gas supply pipe together with a carrier gas such as argon or helium.
  • Glow discharge is generated by a microwave electric field or a high frequency electric field, plasma is generated by the electric energy, and a decomposition reaction product of the compound is deposited on the surface of the substrate 1.
  • film formation is performed by irradiating the plasma processing chamber with microwaves using a waveguide or the like. The film is formed by applying a high-frequency electric field to this electrode.
  • an organic aluminum compound such as trialkylaluminum or an organic silicon compound is used.
  • organic silicon compound is preferably used. Is done.
  • organosilicon compounds examples include hexamethyldisilane, vinyltrimethylsilane, methylsilane, dimethylsilane, trimethylsilane, diethylsilane, propylsilane, phenylsilane, methyltriethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane.
  • Tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane and other organic silane compounds, octamethylcyclotetrasiloxane, 1,1,3,3-tetramethyldisiloxane, hexamethyl Organic siloxane compounds such as disiloxane are used.
  • aminosilane, silazane, and the like can also be used.
  • a film mainly composed of Si oxynitride can be formed.
  • organometallic compound mentioned above can be used individually or in combination of 2 or more types.
  • Such MOH / MO ratio values can be adjusted according to the film formation atmosphere and film formation conditions. For example, when film formation is performed by the CVD method, microwaves for glow discharge and high frequency output are used. By increasing the thickness, the degree of oxidation of the film can be increased, the value of the MOH / MO ratio can be adjusted within the above range, and pinholes can be reduced.
  • the MOH / MO ratio it is ideal to set the MOH / MO ratio to zero. However, if the MOH / MO ratio is too small, the flexibility of the film is remarkably lowered, and the film becomes brittle and easily cracked. It is preferable to keep it, and it is particularly preferable to keep it at 0.005 or more.
  • the value of the MOH / MO ratio of the inorganic oxide layer 3 is set within the above range and the bonding defects are reduced to some extent, the effect of improving the gas barrier property by the ALD film 5 described later is maximized. To be demonstrated.
  • the CVD method can increase the degree of oxidation of the film and adjust the MOH / MO ratio within the above range by increasing the output for glow discharge. In this case, however, the interaction (chemical bond or hydrogen bond) with the substrate due to the OH group in the inorganic oxide is reduced, and the adhesion to the plastic substrate may be impaired.
  • film formation is performed by a CVD method at a low output, and the amount of organic components in the film located in the vicinity of the interface with the plastic substrate 1 is increased. It is preferable to improve the adhesion with the plastic substrate 1 by increasing the affinity with the substrate at this portion. After film formation at a low output, film formation at a high output may be performed to reduce bonding defects, and the MOH / MO ratio may be adjusted within the above range.
  • the thickness d1 of the inorganic oxide layer 3 described above varies depending on the application of the gas barrier laminate 10 and the required level of gas barrier properties, but generally 10 ⁇ 2 g / m 2 / day or less, In particular, the thickness should be such that water vapor permeability of 10 ⁇ 3 g / m 2 / day or less can be secured, and the thickness should be about 4 to 500 nm, particularly about 30 to 400 nm.
  • the ALD film 5 formed on the inorganic oxide layer 3 is an ultrathin metal oxide film formed by an atomic layer deposition method (ALD method), and in particular, an inorganic oxide layer 3 such as a pinhole.
  • the film is preferably made of a metal oxide having a film density of 4.2 g / cm 3 or more in that it penetrates into the defect and repairs the defect.
  • metal oxides examples include titanium dioxide, zirconium dioxide, hafnium dioxide, zinc oxide, gallium oxide, vanadium oxide, niobium pentoxide, tantalum pentoxide, tungsten trioxide, aluminum oxide, and the like.
  • An oxide can be used alone or in combination of two or more.
  • the alkali resistance is particularly high among the above metal oxides.
  • this ALD film 5 is immersed in a 0.1N sodium hydroxide aqueous solution at 30 ° C. for 1 hour, a weight loss of 0.05% or less, particularly 0.03% or less, shows high alkali resistance.
  • Ti, Zr, Hf, or Al oxides, particularly Zr or Ti oxides are preferred, and Zr oxides are optimal in view of the effect of improving reactivity and gas barrier properties. It is.
  • the metal X alkoxide gas is used as a raw material, and the raw material gas (referred to as a precursor) is supplied onto the inorganic oxide layer 3.
  • MOH M is Si, Al
  • M—O—X M—O—X
  • an inert gas such as Ar is used as a purge gas to purge the by-produced alcohol and an unreacted precursor.
  • a reactive gas O 3 , H 2 O, etc.
  • an X—O—X network is formed on the surface of the inorganic oxide layer 3, and an ultrathin film of the metal X oxide is formed.
  • the target ALD film 5 is formed. That is, in the second cycle, the precursor supply, purge, and reaction gas supply are repeated again.
  • the metal X alkoxide or amide compound is used as the precursor.
  • the vapor pressure is high. It is preferable to use tetratertiary butyl alkoxide capable of forming a film at a low temperature.
  • the ALD film 5 is formed on the inorganic oxide layer 3, but the ultrathin film 5 is formed starting from MOH present on the inorganic oxide layer 3, and this MOH is It exists as a bonding terminal on the surface of the inorganic oxide layer 3.
  • a large amount of MOH at the bond terminal is present on the inner wall portion inside the defect such as a pinhole, which is present on the inorganic oxide layer 3 in many ways. Since the ALD source gas and reaction gas can enter deep inside such defects, film formation proceeds particularly inside the defects. That is, in the present invention, the film formation proceeds from the inside of the defect portion where a large amount of OH groups at the bond terminals are present, so that defects on the inorganic oxide layer 3 are selectively repaired by the ALD film 5. For example, if the film density is 4.2 g / cm 3 or more, the gas barrier property of the inorganic oxide layer 3 can be greatly improved even though the ALD film 5 is very thin.
  • the ratio (d1 / d2) between the thickness d1 of the inorganic oxide layer 3 and the thickness d2 of the ALD film 5 is set in the range of 3 to 50, particularly 6 to 50, and this thickness ratio is satisfied.
  • the thickness d2 of the ALD film 5 is set. That is, as the thickness d1 of the inorganic oxide layer 3 increases, the thickness d2 of the ALD film 5 is set to be thicker. If the thickness d1 of the inorganic oxide layer 3 is thin, the thickness d2 of the ALD film 5 satisfies the above condition. So that it is set thinner. That is, as the thickness d1 of the inorganic oxide layer 3 is increased, the gas barrier property of the layer 3 is higher.
  • the thickness of the ALD film 5 is increased and the thickness d1 of the inorganic oxide layer 3 is thin, the defect portion of the crack is small and only the repair of the pinhole defect is required.
  • the thickness d2 of 5 may be thinner.
  • the thickness d2 of the ALD film 5 is set in the range of 0.5 to 9 nm, and the thickness d2 of the inorganic oxide layer 3 is set based on this. Is desirable. That is, the ALD film 5 having the thickness d2 within the above range can be formed with the number of cycles of the manufacturing process described above being 45 or less, and high productivity can be secured.
  • the gas barrier laminate 10 of the present invention has a basic structure in which the ALD film 5 is provided on the inorganic oxide layer 3 as described above, but the gas barrier properties such as moisture barrier properties are impaired.
  • an organic layer is appropriately provided on the ALD film 5, thereby imparting properties such as surface smoothness, printability, weather resistance, and surface protection.
  • Such an organic layer may be formed of any resin as long as high adhesion to the ALD film 5 can be ensured.
  • a polyolefin resin, a polyester resin, a cycloolefin resin, (meth) Acrylic resin, urethane resin, epoxy resin, halogen resin and the like can be used.
  • an oxygen barrier layer made of an ethylene-vinyl alcohol copolymer or an aromatic polyamide is further provided on the organic layer to further improve the barrier property against oxygen. It is also possible to provide an oxygen-absorbing layer containing a transition metal such as iron or cobalt. Alternatively, in order to further improve the barrier property against water vapor, a water vapor absorbing layer in which zeolite or the like is dispersed in polyolefin or cycloolefin can be provided. Each of these layers can be easily formed by known means, for example, coextrusion, coating, dry lamination using an appropriate adhesive, and the like. Furthermore, the gas barrier layer can be further improved by forming an inorganic oxide layer by vapor deposition on the organic layer or the like. Such an inorganic oxide layer may be the same as the inorganic oxide layer 3 described above.
  • a layer containing a cationic material as the organic layer appropriately formed on the ALD film 5 is most effective in maximizing the effects of the present invention. preferable.
  • An example of such a layer structure is shown in FIG. That is, in FIG. 2, a moisture trap layer 7 is provided on the ALD film 5 in the gas barrier laminate 10, and the moisture trap layer 7 contains a cationic material.
  • the moisture trap layer 7 compensates the moisture barrier property of the inorganic oxide layer 3 by absorbing moisture by the cationic material contained in this layer, and exhibits a high moisture barrier property. As described above, if such a moisture trap layer 7 is directly provided on the inorganic oxide layer 3, the inorganic oxide layer 3 is eroded by the cationic material, and as a result, against oxygen, moisture, and the like. Barrier properties will deteriorate over time. In the present invention, since the ALD film 5 is provided between the moisture trap layer 7 and the inorganic oxide layer 3, the moisture trap layer 7 can be effectively prevented from being eroded by the cationic material therein. It is.
  • the cationic material used for forming the moisture trap layer 7 is not particularly limited as long as it has a hygroscopic ability.
  • the moisture trap layer 7 can be formed by dispersing an alkali compound in a resin.
  • this cationic material in order to ensure a high moisture barrier property, it is preferable to use this cationic material as a continuous layer, and for this purpose, it is optimal to use a cationic polymer.
  • Such a cationic polymer has a cationic group that can be positively charged in water, such as a primary to tertiary amino group, a quaternary ammonium group, a pyridyl group, an imidazole group, and a quaternary pyridinium group in the molecule.
  • a cationic group that can be positively charged in water, such as a primary to tertiary amino group, a quaternary ammonium group, a pyridyl group, an imidazole group, and a quaternary pyridinium group in the molecule.
  • the cationic group has a strong nucleophilic action and supplements water by hydrogen bonding, so that the moisture trap layer 7 can be formed as a hygroscopic matrix.
  • the amount of the cationic group in the cationic polymer is generally 20% or more, especially 30% to 45% when the moisture absorption rate of the formed hygroscopic matrix (JIS K-7209-1984) is 80% RH and 30 ° C. atmosphere. % May be used.
  • cationic polymers examples include allylamine, ethyleneimine, vinylbenzyltrimethylamine, amine monomers such as [4- (4-vinylphenyl) -methyl] -trimethylamine, vinylbenzyltriethylamine; vinylpyridine, vinylimidazole, and the like.
  • At least one cationic monomer typified by a nitrogen-containing heterocyclic monomer; and salts thereof; is optionally polymerized or copolymerized with another copolymerizable monomer; If necessary, those obtained by partial neutralization by acid treatment are used.
  • Examples of other copolymerizable monomers include, but are not limited to, styrene, vinyl toluene, vinyl xylene, ⁇ -methyl styrene, vinyl naphthalene, ⁇ -halogenated styrenes, acrylonitrile, acrolein. , Methyl vinyl ketone, vinyl biphenyl and the like.
  • a monomer having a functional group capable of introducing a cationic functional group such as styrene, bromobutyl styrene, vinyl toluene, chloromethyl styrene, vinyl pyridine, vinyl
  • a cationic polymer can also be obtained by using imidazole, ⁇ -methylstyrene, vinylnaphthalene or the like, followed by treatment such as amination or alkylation (quaternary ammonium chloride) after polymerization.
  • polyallylamine is particularly preferable from the viewpoint of film formability and the like.
  • the polymerization for forming the cationic polymer is generally carried out by radical polymerization by heating using a polymerization initiator.
  • the polymerization initiator is not particularly limited, but octanoyl peroxide, lauroyl peroxide, t-butylperoxy-2-ethylhexanoate, benzoyl peroxide, t-butylperoxyisobutyrate, t-butylperoxide. Typical examples are organic peroxides such as oxylaurate, t-hexylperoxybenzoate, and di-t-butyl peroxide.
  • a cationic monomer (or a monomer capable of introducing a cationic group) is generally used.
  • Body It is used in an amount of about 0.1 to 20 parts by weight, particularly about 0.5 to 10 parts by weight per 100 parts by weight.
  • a cationic polymer is obtained.
  • a monomer capable of introducing a cationic functional group is used, amination, alkylation treatment, etc. are performed after the polymerization.
  • a cationic group introduction treatment may be performed.
  • the moisture trap layer 7 containing the above-described cationic polymer is easily produced by applying a coating liquid in which the cationic polymer is dispersed or dissolved in an organic solvent on the ALD film 5 and drying it.
  • introduction of a crosslinked structure ensures mechanical strength without deteriorating the hygroscopic capacity and at the same time improves dimensional stability. Is preferable. That is, when a crosslinked structure is introduced, when the moisture trap layer 7 absorbs water, the molecules of the cationic polymer are bound to each other by crosslinking, and the function of suppressing volume change due to swelling (moisture absorption) is achieved. Will be enhanced.
  • the above cross-linked structure can be introduced by blending a cross-linking agent into the coating liquid for forming the moisture trap layer 7.
  • a cross-linking agent e.g., a siloxane structure or a polyalicyclic structure is introduced into the crosslinked structure, and a network structure of a space suitable for moisture absorption is formed.
  • a cross-linking agent into which a siloxane structure is introduced can improve the adhesion with the ALD film 5.
  • a crosslinking agent for example, a crosslinkable functional group (for example, epoxy group) that can react with a cationic group of a cationic polymer, and a siloxane structure can be formed in the crosslinked structure through hydrolysis and dehydration condensation.
  • a compound having a functional group for example, an alkoxysilyl group
  • X-SiR 1 n (OR 2 ) 3-n (1)
  • X is an organic group having an epoxy group at the terminal
  • R 1 and R 2 are each a methyl group, an ethyl group, or an isopropyl group
  • n is 0, 1, or 2; Is preferably used.
  • the silane compound of the formula (1) has an epoxy group and an alkoxysilyl group as functional groups, and the epoxy group undergoes an addition reaction with a functional group (for example, NH 2 ) of the cationic polymer.
  • a functional group for example, NH 2
  • the alkoxysilyl group generates a silanol group (SiOH group) by hydrolysis, and forms a siloxane structure through a condensation reaction, and finally grows to form a crosslinked structure between the cationic polymer chains.
  • SiOH group silanol group
  • silanol groups generated by hydrolysis of alkoxysilyl groups are firmly bonded by dehydration condensation with, for example, XOH groups present on the surface of the ALD film 5, such as ZrOH groups.
  • the coating liquid used for forming the moisture trap layer 7 becomes alkaline, and as a result, addition reaction between the cationic group and the epoxy group, dehydration between the silanol groups or the XOH group on the surface of the ALD film 5 is performed. Condensation is also accelerated quickly. Therefore, by using the compound of the formula (1) as a cross-linking agent as described above, the cross-linking structure is introduced into the matrix, and at the same time, the adhesion with the ALD film 5 is enhanced without using any special adhesive. Is possible.
  • the organic group X having an epoxy group in the above formula (1) is typically a ⁇ -glycidoxyalkyl group, such as ⁇ -glycidoxypropyltrimethoxysilane or ⁇ -glycidide.
  • Xylpropylmethyldimethoxysilane is preferably used as the crosslinking agent.
  • the epoxy group in the said Formula (1) is an alicyclic epoxy group like an epoxy cyclohexyl group is also suitable as a crosslinking agent.
  • an alicyclic ring is included in the cross-linked structure of the matrix together with the siloxane structure.
  • a structure is introduced. The introduction of such an alicyclic structure can more effectively exert the function of a matrix that forms a network structure of a space suitable for moisture absorption.
  • a compound having a plurality of epoxy groups and alicyclic groups for example, the following formula (2):
  • G is a glycidyl group;
  • A is a divalent hydrocarbon group having an aliphatic ring, for example, a cycloalkylene group.
  • the diglycidyl ester represented by these can be used as a crosslinking agent.
  • a typical example of such a diglycidyl ester is represented by the following formula (2-1).
  • the diglycidyl ester of the formula (2-1) does not have an alkoxysilyl group, the function of improving the adhesion with the ALD film 5 is poor, but an alicyclic structure is introduced into the crosslinked structure. This is effective in that a network structure of a space suitable for moisture absorption is formed in the matrix.
  • the above-mentioned crosslinking agent is preferably used in an amount of 5 to 60 parts by weight, particularly 15 to 50 parts by weight, based on 100 parts by weight of the cationic polymer, and at least 70% by weight or more of such a crosslinking agent.
  • 80% by weight or more is the silane compound of the formula (1) described above.
  • the solvent used in the coating composition containing the various components described above is not particularly limited as long as it can be volatilized and removed by heating at a relatively low temperature.
  • methanol, ethanol, propyl alcohol, Alcoholic solvents such as butanol, ketone solvents such as acetone and methyl ethyl ketone, mixed solvents of these solvents and water, or aromatic hydrocarbon solvents such as water, benzene, toluene and xylene can be used.
  • the above-mentioned solvent is used in such an amount that the coating composition has a viscosity suitable for coating.
  • the nonionic polymer can be blended in an appropriate amount.
  • nonionic polymers examples include polyvinyl alcohol, ethylene-propylene copolymers, saturated aliphatic hydrocarbon polymers such as polybutylene, styrene polymers such as styrene-butadiene copolymers, polyvinyl chloride, or These include various comonomers (for example, styrene monomers such as vinyltoluene, vinylxylene, chlorostyrene, chloromethylstyrene, ⁇ -methylstyrene, ⁇ -halogenated styrene, ⁇ , ⁇ , ⁇ '-trihalogenated styrene, And monoolefins such as ethylene and butylene, and conjugated diolefins such as butadiene and isoprene).
  • styrene monomers such as vinyltoluene, vinylxylene, chlorostyrene, chloromethylstyrene, ⁇ -methylstyrene,
  • the above-described coating composition is applied to the surface of the ALD film 5, for example, and the solvent is removed by heating for several seconds to several minutes, depending on the ability of the oven at a temperature of about 80 to 160 ° C.
  • the crosslinking agent reacts with the cationic polymer or the XOH group on the surface of the ALD film 5 to form a moisture trap layer 7 in which the crosslinked structure is introduced into the matrix and has excellent adhesion to the ALD film 5. it can.
  • the thickness of the moisture trap layer 7 is not particularly limited, and can be set to an appropriate thickness depending on the application and the required level of moisture barrier. In general, the water vapor permeability is 10 ⁇ . In order to exhibit the super barrier property of 6 g / m 2 / day or less, it is sufficient to have a thickness of at least 1 ⁇ m, particularly about 2 to 20 ⁇ m. That is, in the moisture trap layer 7 described above, since the moisture trap layer 7 has a dual function of moisture absorption and confinement as described later, the moisture trap layer 7 is formed on the ALD film 5 on the inorganic oxide layer 3. Only by forming one layer of the moisture trap layer 7 having an appropriate thickness, the above-described super barrier property can be exhibited against moisture.
  • a moisture absorbent is dispersed in the moisture trap layer 7 described above, whereby the moisture barrier property can be further improved.
  • a hygroscopic agent those having an ultimate humidity lower than that of the above-mentioned cationic polymer are preferably used, and in particular, those having an ultimate humidity of 6% or less under an environmental condition of a humidity of 80% RH and a temperature of 30 ° C. are suitable. used.
  • the moisture reached by the hygroscopic agent is higher than that of the cationic polymer, the moisture absorbed in the hygroscopic matrix is not sufficiently confined, and the release of moisture is likely to occur. It will disappear.
  • the hygroscopic agent as described above generally has a water absorption rate of 50% or more (JIS K-7209-1984) in an atmosphere of 80% humidity and 30 ° C. temperature, and there are inorganic and organic ones.
  • inorganic hygroscopic agents include clay minerals such as zeolite, alumina, activated carbon, and montmorillonite, silica gel, calcium oxide, and magnesium sulfate.
  • examples of the organic hygroscopic agent include a crosslinked product of an anionic polymer or a partially neutralized product thereof.
  • anionic polymer examples include carboxylic acid monomers (such as (meth) acrylic acid and maleic anhydride), sulfonic acid monomers (such as halogenated vinyl sulfonic acid, styrene sulfonic acid, and vinyl sulfonic acid), and phosphones.
  • carboxylic acid monomers such as (meth) acrylic acid and maleic anhydride
  • sulfonic acid monomers such as halogenated vinyl sulfonic acid, styrene sulfonic acid, and vinyl sulfonic acid
  • phosphones examples include those obtained by polymerizing or copolymerizing at least one of an anionic monomer represented by an acid monomer (such as vinyl phosphoric acid) and salts of these monomers with other monomers. be able to.
  • organic moisture absorbents are effective.
  • fine particles of crosslinked poly (meth) acrylic acid Na are typical organic moisture absorbents.
  • the particle size is small hygroscopic agent from the viewpoint of showing a high moisture absorption (e.g., average primary particle diameter D 50 at reduced volume as measured by a laser diffraction scattering method 100nm or less
  • a high moisture absorption e.g., average primary particle diameter D 50 at reduced volume as measured by a laser diffraction scattering method 100nm or less
  • an organic polymer hygroscopic agent having a small particle size is most suitable.
  • the organic polymer hygroscopic agent has extremely good dispersibility in the matrix of the cationic polymer and can be uniformly dispersed, and as a polymerization method for producing this, emulsion polymerization, suspension polymerization, etc.
  • the particle shape can be made into a fine and uniform spherical shape, and by blending this to some extent, extremely high transparency can be secured.
  • Such transparency is presumably because fine and spherical hygroscopic particles are distributed in the vicinity of the interface with the ALD film 5 and light scattering at the interface is suppressed.
  • ensuring the transparency is a great advantage when the gas barrier laminate 10 is used for a substrate such as an organic EL panel or a sealing layer.
  • the above-mentioned reached humidity is remarkably low, and not only shows high hygroscopicity, but also volume change due to swelling can be extremely reduced by cross-linking, and therefore, while suppressing the volume change, It is most suitable for reducing the humidity to the place where the environmental atmosphere is completely dry or near dry.
  • crosslinked polyacrylic acid K fine particles in which 80% or more of the carboxyl groups are neutralized with a potassium salt are also preferably used.
  • the hygroscopic agent as described above exhibits its characteristics sufficiently, effectively improves the moisture barrier property and effectively suppresses the dimensional change due to swelling, and at the same time, for example, from the barrier property exhibited by the inorganic oxide layer 3.
  • it is dispersed in an amount of 50 parts by weight or more, particularly 100 to 900 parts by weight, more preferably 200 to 600 parts by weight per 100 parts by weight of the cationic polymer. Is preferred.
  • Such a hygroscopic agent may be dispersed by dispersing the hygroscopic agent in the coating liquid for forming the moisture trap layer 7 described above.
  • the ALD film 5 enhances the gas barrier properties of the inorganic oxide layer 3, for example, the moisture barrier property and the oxygen barrier property, and is excellent in productivity. And can be suitably used as a film for sealing electronic circuits such as various electronic devices such as organic EL elements, solar cells, and electronic paper.
  • the substrate 1 PET, PEN, polycarbonate, polyimide
  • an organic EL light-emitting element or solar cell photovoltaic device having a transparent electrode formed thereon and a light-emitting layer or the like is formed thereon. An element can also be formed.
  • the MOH / MO ratio represents the quality of the film. The smaller the value, the fewer the bonding defects in the film and the denser the film.
  • the MOH / MO ratio is measured by measuring the film formation surface of the substrate on which the film has been formed with a Fourier transform infrared spectrophotometer.
  • the aluminum oxide film there is an infrared absorption peak near 950 ⁇ 1130 cm -1, determined absorption peak height of the AlOH based around wavenumber 1130 cm -1 to (B1), further absorption peak of AlO groups around wave number 950 cm -1 The height (B2) was determined, and the infrared absorbance ratio (B) of AlOH / AlO was determined from B1 / B2.
  • the water vapor permeability below the measurement limit of the water vapor permeability measuring apparatus is measured by the following method based on the method described in JP 2010-286285 A.
  • a 300 nm thick Ca thin film (water-corrosive metal thin film) is formed on the surface of the inorganic barrier layer of the gas barrier laminate of the sample by vacuum vapor deposition using a vacuum vapor deposition apparatus (JEE-400, manufactured by JEOL Ltd.).
  • an Al vapor deposition film water impermeable metal thin layer having a thickness of 540 nm was formed so as to cover the Ca thin film, thereby preparing a sample piece.
  • the Ca thin film was formed in six circular portions of 1 mm ⁇ by using metal calcium as a vapor deposition source and vacuum vapor deposition through a predetermined mask. Further, the Al vapor deposition film was formed by removing the above-mentioned mask in a vacuum state and subsequently performing vacuum vapor deposition from an Al vapor deposition source in the apparatus.
  • the sample formed as described above was attached to a gas-impermeable cup filled with silica gel (moisture absorption capacity 300 mg / g) as a hygroscopic agent, and fixed with a fixing ring to obtain an evaluation unit.
  • the evaluation unit thus prepared was held in a constant temperature and humidity chamber adjusted to an atmosphere of 40 ° C.
  • the barrier effect of the ALD film was evaluated according to the following evaluation criteria by applying an ultrathin metal oxide film (ALD film) 5 on the inorganic oxide layer by the ALD method.
  • ALD film ultrathin metal oxide film
  • the barrier property is improved more than twice as much as the barrier property calculated by simply adding the barrier property of the inorganic oxide layer and the barrier property of the ALD film (the water vapor permeability is 1/3 or less).
  • A The barrier property is improved by 10 times or more than the barrier property calculated by simply adding the barrier property of the inorganic oxide layer and the barrier property of the ALD film (the water vapor permeability is 1/10 or less).
  • X The barrier property is improved by less than twice the barrier property calculated by simple addition of the barrier property of the inorganic oxide layer and the barrier property of the ALD film (water vapor permeability is greater than 1/3).
  • the alkali resistance of the ALD film was evaluated according to the following procedure. Using an X-ray fluorescence analyzer (manufactured by Rigaku Corporation, ZSX100e), the fluorescence X-ray intensity of the metal oxide on the ALD film 5 of the obtained ALD film 5-coated PET film was measured. The ALD film 5 coated PET film was immersed in a 0.1N sodium hydroxide aqueous solution at 30 ° C. for 1 hour, and then the fluorescent X-ray intensity of the metal oxide on the ALD film 5 was measured in the same manner. The reduction rate (X)% after immersion of the ALD film 5 in the alkaline solution was calculated by the following formula.
  • the evaluation criteria are as follows. A: The reduction rate is 0.03% or less. ⁇ : The reduction rate is more than 0.03% and less than 0.05%. X: The reduction rate is 0.05 or more.
  • the ultimate humidity of the cationic polymer and the hygroscopic agent was measured by the following method. After drying at 140 ° C. for 1 hour, in a 30 ° C. 80% RH atmosphere, a moisture impervious steel foil laminated cup having an internal volume of 85 cm 3 , 0.5 g of a measurement object and a wireless thermohygrometer (High Glocron: KN Laboratories) was put, and the container mouth was heat sealed with an aluminum foil laminated film lid. Thereafter, the temperature was aged at 30 ° C., and the relative humidity inside the container one day later was defined as the ultimate humidity.
  • a CVD apparatus having the following specifications was used as the film forming apparatus.
  • High frequency output power supply frequency 27.12 MHz, maximum output 2 kW
  • Matching box Metal type cylindrical plasma deposition chamber Diameter 300mm, Height 450mm Vacuum pump for evacuating the film formation chamber
  • a polyethylene terephthalate (PET) film of 120 mm square and 100 ⁇ m thickness was used.
  • PET film is placed on the power supply electrode in the film formation chamber of the CVD apparatus, and 3 sccm of hexamethyldisiloxane is used as a raw material gas from the gas outlet near the power supply electrode while exhausting from the exhaust port with a vacuum pump.
  • a high frequency was oscillated with a high frequency oscillator at an output of 300 W, plasma treatment was performed for 50 seconds, and a silicon oxide film was formed on one surface of the PET film.
  • Zirconium oxide ALD film (ultra-thin metal oxide film); After a silicon oxide film was formed on the surface of the PET film, argon gas was introduced into the vacuum film formation chamber at 60 sccm for 5 seconds to purge excess gas during the silicon oxide film coating. Thereafter, zirconium tetratertiarybutoxide as a source gas was introduced together with argon gas as a carrier gas at 20 sccm for 2 seconds (the supply rate of the source material excluding the carrier gas was 0.01 g / min). Next, argon gas was introduced at 60 sccm for 5 seconds, and after purging the vacuum film formation chamber, water vapor was introduced as a reactive gas at 10 sccm for 2 seconds.
  • ALD film ultra-thin Zr oxide layer
  • Example 1-2 gas barrier lamination was performed in the same manner as in Example 1 except that, in the silicon oxide film forming step, ammonia gas was introduced at 10 sccm in addition to the above gas as a source gas to form a silicon oxynitride layer. Got the body.
  • Example 1-1 a gas barrier laminate was obtained in the same manner as in Example 1 except that an ALD film (ultra-thin Zn oxide layer) was formed using diethyl zinc as the ALD source gas.
  • ALD film ultra-thin Zn oxide layer
  • Example 1-1 a gas barrier laminate was obtained in the same manner as in Example 1 except that tetrakisdimethylaminotitanium was used as the ALD source gas to form an ALD film (ultra-thin Ti oxide layer).
  • Example 1-1 a gas barrier laminate was obtained in the same manner as in Example 1, except that an ALD film (ultra-thin Hf oxide layer) was formed using tetrakisethylmethylaminohafnium as the ALD source gas. .
  • Example 1-1 a gas barrier laminate was obtained in the same manner as in Example 1 except that in the silicon oxide film forming step, the output of the high-frequency oscillator was changed to 100 W.
  • Example 1-1 a gas barrier laminate was obtained in the same manner as in Example 1 except that the ALD cycle was changed to 80 times in the ALD film (ultra-thin Zr oxide layer) deposition step.
  • Example 1-1 a gas barrier laminate was obtained in the same manner as in Example 1 except that the ALD film (ultra-thin Zr oxide layer) deposition step was performed with 5 ALD cycles.
  • ALD film ultra-thin Zr oxide layer
  • Example 1-9 In Example 1-1, except that the plasma treatment time is 10 seconds in the silicon oxide film forming step and the ALD cycle is two times in the ultrathin zirconium oxide film forming step, A gas barrier laminate was obtained in the same manner.
  • Example 1-10 Aluminum oxide film formation; As a film forming apparatus, a high-frequency magnetron sputtering apparatus provided with the following components was used. High frequency output power supply: frequency 27.12 MHz, maximum output 2 kW Matching box Metal type cylindrical plasma deposition chamber: Diameter 300mm, Height 450mm Vacuum type pump for evacuating the film forming chamber Further, the same PET film as that used in Example 1 was used as the plastic substrate.
  • An aluminum target is installed on the power supply electrode in the film formation chamber, a PET film is installed on the counter electrode side, and while exhausting from the exhaust port with a vacuum pump, argon gas is 100 sccm from the gas outlet near the power supply electrode, After introducing 25 sccm of oxygen, a high frequency was oscillated at a power of 300 W by a high frequency oscillator and a sputtering process was performed for 300 seconds to coat an aluminum oxide film on one surface of the PET film.
  • ALD film (ultra-thin Zr oxide layer) deposition
  • argon gas was introduced into the vacuum film formation chamber at 60 sccm for 5 seconds to purge excess gas during the aluminum oxide film coating.
  • zirconium tetratertiarybutoxide as a source gas was introduced together with argon gas as a carrier gas at 20 sccm for 2 seconds (the supply rate of the source material excluding the carrier gas was 0.01 g / min).
  • argon gas was introduced at 60 sccm for 5 seconds, and after purging the vacuum film formation chamber, water vapor was introduced as a reactive gas at 10 sccm for 2 seconds. Up to this point, one cycle of ALD was performed, and a total of 20 cycles were repeated to obtain a PET film having an ultrathin zirconium oxide layer of 20 atoms on the aluminum oxide layer, that is, a gas barrier laminate.
  • Example 1-11 In Example 1-1, a gas barrier laminate was obtained in the same manner as in Example 1-1, except that an ultrathin aluminum oxide film was formed using trimethylaluminum as the ALD source gas.
  • Example 1-1 a gas barrier laminate was obtained in the same manner as in Example 1-1 except that the ultrathin zirconium oxide film forming step was performed with 100 ALD cycles.
  • Example 1-1 In Example 1-1, except that the plasma treatment time is 100 seconds in the silicon oxide film forming step and the ALD cycle is 5 times in the ultrathin zirconium oxide film forming step, A gas barrier laminate was obtained in the same manner.
  • Example 2 The following examples and comparative examples are for evaluating barrier properties when a moisture trap layer containing a cationic material is provided on an ALD film.
  • Example 2-1 Creation of a gas barrier laminate having the layer structure shown in FIG. 3;
  • a silicon oxide layer 3 thickness 42 nm
  • a zirconium oxide ALD film 5 thickness 4.1 nm
  • polyallylamine manufactured by Nitto Bo Medical, PAA-15C, aqueous solution, solid content 15%
  • a cationic polymer was diluted with water to a solid content of 5% by weight to obtain a polymer solution.
  • ⁇ -glycidoxypropyltrimethoxysilane was used as a crosslinking agent and dissolved in water so as to be 5% by weight to prepare a crosslinking agent solution.
  • the polymer solution and the crosslinking agent solution are mixed so that ⁇ -glycidoxypropyltrimethoxysilane is 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of polyallylamine, and further, as a moisture absorbent,
  • the polyacrylic acid Na cross-linked product is added to the polyallylamine in an amount of 420 parts by weight, and further adjusted with water so that the solid content is 5%.
  • As the cross-linked product of polyacrylic acid Na Tufic HU-820E (water dispersion, solid content 13%, average particle size D 50 : 70 nm) manufactured by Toyobo Co., Ltd. was used.
  • the coating liquid obtained above was applied onto the ALD film on the previously formed PET film by a bar coater.
  • the coated film was heat-treated in a box-type electric oven under conditions of a peak temperature of 120 ° C. and a peak temperature holding time of 10 seconds to form a moisture trap layer 7 having a thickness of 4 ⁇ m to obtain a coating film.
  • a 12 ⁇ m-thickness is formed on the moisture trap layer 7 of the coating film via an adhesive resin layer 8 of a 4 ⁇ m-thick urethane adhesive.
  • Dry laminate with a silicon oxide film 3 (water vapor permeability at 40 ° C. and 90% RH: 0.1 g / m 2 / day) formed on one side of a PET film so that the silicon oxide film 3 is on the outside
  • aging was performed under vacuum at 50 ° C. for 3 days to obtain a gas barrier laminate structure 11 having a layer structure as shown in FIG.
  • Example 2-2> A gas barrier laminate structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD film 5 was formed using tetrakisdimethylaminotitanium as the ALD source gas in Example 2-1.
  • Example 2-3 a gas barrier multilayer structure 11 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the ALD film 5 was formed using tetrakisethylmethylaminohafnium as the ALD source gas.
  • Example 2-4 In Example 1, a gas barrier multilayer structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD film 5 was formed using trimethylaluminum as the ALD source gas.
  • Example 2-5> the gas barrier laminate structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the output of the high frequency oscillator was set to 100 W in the silicon oxide film forming step.
  • Example 2-6> In Example 2-1, except that the plasma processing time was 100 seconds in the silicon oxide film forming step, and the ALD film 5 was formed in the ALD film forming process with five ALD cycles, the example 2 1 was used to obtain a gas barrier laminate structure 11.
  • Example 2-7 the gas barrier multilayer structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD film 5 was formed by setting the ALD cycle to 100 in the ALD film forming step.
  • Example 2-8> the gas barrier multilayer structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD cycle was changed to 80 times in the ALD film formation step.
  • Example 2-9> the gas barrier multilayer structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD cycle was 45 times in the ALD film forming step.
  • Example 2-10> the gas barrier multilayer structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD cycle was changed to 5 times in the ALD film forming step.
  • Example 2-11> In Example 2-1, the same method as in Example 2-1, except that the plasma treatment time is 10 seconds in the silicon oxide film forming step and the ALD cycle is twice in the ALD film forming process. Thus, a gas barrier laminate structure 11 was obtained.
  • Example 2-12> the gas barrier laminate structure was produced in the same manner as in Example 2-1, except that the moisture trap layer 7 was formed by blending the hygroscopic agent to 50 parts by weight with respect to polyallylamine. 11 was obtained.
  • Example 2-13> a gas barrier laminate structure was produced in the same manner as in Example 2-1, except that the moisture trap layer 7 was formed by blending the hygroscopic agent to 1000 parts by weight with respect to polyallylamine. 11 was obtained.
  • Example 2-14> In Example 2-1, the polymer solution and the crosslinking agent solution were mixed so that the crosslinking agent ⁇ -glycidoxypropyltrimethoxysilane was 7 parts by weight with respect to polyallylamine, and the moisture absorbent was A gas barrier laminate structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the moisture trap layer 7 was formed by blending to 375 parts by weight with respect to allylamine.
  • Example 2-15> the polymer solution and the crosslinking agent solution were mixed so that the crosslinking agent ⁇ -glycidoxypropyltrimethoxysilane was 50 parts by weight with respect to polyallylamine, and the moisture absorbent was A gas barrier laminate structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the moisture trap layer 7 was formed by blending to 525 parts by weight with respect to allylamine.
  • Example 2-16> ⁇ -glycidoxypropyltrimethoxysilane as a cross-linking agent was not blended, and the moisture trap layer 7 was mixed by mixing the hygroscopic agent to 150 parts by weight with respect to polyallylamine. Except for the formation, 11 gas barrier laminate structures were obtained in the same manner as in Example 2-1.
  • Example 2-17> a gas barrier laminate structure was produced in the same manner as in Example 2-1, except that polyethylene imine (manufactured by Junsei Chemical Co., Ltd., polyethylene imine 10000) was used as the cationic polymer to form the moisture trap layer 7. Body 11 was obtained.
  • polyethylene imine manufactured by Junsei Chemical Co., Ltd., polyethylene imine 10000
  • Example 2-18> gas barrier properties were obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the moisture trap layer 7 was formed using ⁇ - (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane as a crosslinking agent. A laminated structure 11 was obtained.
  • Example 2-19> In Example 2-1, the polymer solution and the crosslinking agent solution were mixed so that ⁇ -glycidoxypropyltrimethoxysilane, which is a crosslinking agent, was 16 parts by weight with respect to polyallylamine. , 2-cyclohexanedicarboxylate diglycidyl was blended in an amount of 4 parts by weight with respect to polyallylamine to form the moisture trap layer 7, and the gas barrier laminate structure 11 was formed in the same manner as in Example 2-1. Obtained.
  • Example 2-20> the solvent in the coating solution was a water / acetone mixed solvent (80/20 by weight) instead of water, and diglycidyl 1,2-cyclohexanedicarboxylate was used as polyallylamine 100 as a crosslinking agent.
  • Example 2-1 except that the moisture trap layer 7 was formed by blending so as to be 20 parts by weight with respect to parts by weight, and further blending so that the hygroscopic agent would be 180 parts by weight with respect to polyallylamine.
  • a gas barrier laminate structure 11 was obtained in the same manner as above.
  • Example 2-21 An ion exchange resin (Amberlite 200CT, manufactured by Organo) was used to convert the Na salt-type carboxyl group of the crosslinked polyacrylic acid Na (HU-820E) into an H-type carboxyl group, and then a 1N aqueous solution of potassium hydroxide.
  • a crosslinked product of polyacrylic acid K having a potassium salt type carboxyl group water dispersion, solid content 10%, average particle diameter D 50 : 70 nm, neutralization rate 80%).
  • a gas barrier laminate structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the moisture trap layer 7 was formed using the above-mentioned crosslinked polyacrylic acid K as a hygroscopic agent.
  • Example 2-1 a gas barrier multilayer structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD film 5 was not provided.
  • Example 2-6 the gas barrier laminate structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD film 5 was not provided.
  • Example 2-7 a gas barrier multilayer structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD film 5 was not provided.
  • Example 2-12 a gas barrier laminate structure 11 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the ALD film 5 was not provided.
  • the layer structures are shown in Tables 2 and 3, and the evaluation results of various characteristics measured by the above-described methods are shown in Tables 4 and 5. .
  • Tables 2 and 3 the layer structures are shown in Tables 2 and 3, and the evaluation results of various characteristics measured by the above-described methods are shown in Tables 4 and 5. .
  • Tables 4 and 5 the evaluation results of various characteristics measured by the above-described methods are shown in Tables 4 and 5. .
  • Ex. Are examples, Com. Shows a comparative example.
  • the symbol of each material used is as follows.
  • C-Polymer Cationic polymer
  • K-PolyAc K salt-type polyacrylic acid crosslinked particles
  • ⁇ -GPrTMS ⁇ -glycidoxypropyltrimethoxysilane
  • ⁇ -EpCyEtTMS ⁇ - (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane
  • 1,2-CyDCADG Diglycidyl 1,2-cyclohexanedicarboxylate
  • the amount of the hygroscopic agent in the table is shown as an amount per 100 parts by weight of the cationic polymer.
  • Plastic base material 3 Inorganic oxide layer 5: ALD film (ultra-thin metal oxide film by atomic layer deposition method) 7: Moisture trap layer 10: Gas barrier laminate

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Abstract

本発明のガスバリア性積層体10は、無機酸化物層3上に原子層堆積法による極薄金属酸化物膜(ALD膜)5が形成されており、無機酸化物層3がSi及びAlの少なくとも一方を含む金属酸化物若しくは金属酸窒化物から形成されており、無機酸化物層3の厚みd1とALD膜5の厚みd2との比(d1/d2)が3~50であることを特徴とする。このガスバリア性積層体10は、高いガスバリア性を有しているばかりか、生産性にも優れている。

Description

ガスバリア性積層体
 本発明は、原子層堆積法による薄膜が無機膜上に形成されているガスバリア性積層体に関するものである。
 各種プラスチック基材の特性、特にガスバリア性を改善するための手段として、プラスチック基材の表面に、ケイ素酸化物などからなる無機バリア層を形成することが知られている(特許文献1)。
 ところで、近年において開発され、実用されている各種の電子デバイス、例えば有機エレクトロルミネッセンス(有機EL)、太陽電池、タッチパネル、電子ペーパーなどでは、電荷のリークを嫌うため、その回路基板などを形成するプラスチック基材或いは回路基板を封止するフィルムなどのプラスチック基材に対して高い水分バリア性が要求されている。上記で述べた無機バリア層は、所謂ガスバリア性樹脂などによって形成される有機膜に比して高いガスバリア性を示すのであるが、膜の性質上、どうしてもピンホールやクラック等の構造的欠陥や、膜を構成するM-O-Mネットワーク中にガスの通り道となるM-OH結合(結合欠陥)が存在している(Mは、無機バリア層を形成している金属原子である)。このため、この無機バリア層単独では、有機EL等の分野で要求されているハイバリア性を満足させることができず、ガスバリア性のさらなる向上が求められている。
 例えば、本出願人は、先に、基材フィルム上に設けられた無機バリア層の上に、カチオン性ポリマーをマトリックスとする水分トラップ層を設けたガスバリア性積層体を提案している(特願2013-022253号)。しかし、かかるガスバリア性積層体においても、無機バリア層が有する構造的欠陥によるバリア性の低下を抑制し、さらにガスバリア性を向上することが求められている。
 また、最近では、原子層堆積法(Atomic Layer Deposition)と呼ばれる成膜法の研究も進められており、かかる方法により形成される膜を無機膜上に形成することにより、水分バリア性が向上したガスバリア性積層体も提案されている(特許文献2)。
 かかる技術は、無機膜中に存在する欠陥を、該無機膜上に原子層堆積法による膜を形成することにより修復して水分バリア性等のガスバリア性を大きく向上させるというものである。
 ALD膜は非常に緻密な膜を形成することができるため、それ単体でも非常に高いバリア性を示すことが知られているが、特に10-4g/m/day以下の水蒸気透過度を確保する場合、一般には10nm程度以上の膜厚が必要である。しかしながら、原子層堆積法(以下、ALD法と呼ぶことがある)による成膜法は、成膜速度が遅いという欠点がある。
 即ち、ALD法は、Al化合物等の金属化合物のガスと水蒸気等とを反応ガスとして供給し、該金属酸化物の単分子膜を形成し、次いで反応性ガスをパージした後、再び反応性ガスを供給し、該金属酸化物膜を積み重ねていくという操作を繰り返して行うものであり、このため、目的とするハイバリア性を実現するにはかなりの時間がかかり、このため、生産性が低く、その実用化が妨げられているのが実情である。
特開2000-255579号公報 特開2011-241421号公報
 従って、本発明の目的は、無機膜上に原子層堆積法による膜が形成され、高いガスバリア性を有しているばかりか、生産性にも優れたガスバリア性積層体を提供することにある。
 本発明の他の目的は、特に水分に対するバリア性が長期にわたって高いレベルに維持されているガスバリア性積層体を提供することにある。
 本発明者等は、無機膜上に原子層堆積法による膜を形成した場合のガスバリア性について多くの実験を行った結果、ある種の条件を満足する場合には、原子層堆積法による膜の厚みを極薄とした場合にも無機膜のガスバリア性を著しく向上させ得るという知見を見出し、本発明を完成させるに至った。
 本発明によれば、無機酸化物層上に原子層堆積法による極薄金属酸化物膜が形成されているガスバリア性積層体であって、該無機酸化物層がSi及びAlの少なくとも一方を含む金属酸化物若しくは金属酸窒化物から形成されており、該無機酸化物層の厚みd1と極薄金属酸化物膜の厚みd2との比(d1/d2)が3~50であることを特徴とするガスバリア性積層体が提供される。
 本発明のガスバリア性積層体においては、
(1)前記極薄金属酸化物膜の厚みd2が0.5~9nmの範囲にあること、
(2)前記極薄金属酸化物の密度が4.2g/cm以上であること、
(3)前記無機酸化物層がプラスチック基材上に形成されていること、
(4)前記無機酸化物層のMOH/MO比(MはSiまたはAl)が0.1以下であること、
(5)前記極薄金属酸化物膜がTi、Zr、Hf或いはAlを含んでいること、
(6)前記無機酸化物層が、Siを含む酸化物により形成されており、前記極薄金属酸化物膜の上には、カチオン性材料が形成されていること、
が好ましい。
 本発明のガスバリア性積層体は、プラスチック基材などの基材表面に形成された無機酸化物層上に原子層堆積法による膜(ALD膜)が形成された積層構造を有するものであるが、無機酸化物層がSi或いはAlの酸化物若しくは酸窒化物が形成されており、さらに、この上に形成されたALD膜が、該無機酸化物層の厚みの1/3以下の極薄であるという点に顕著な特徴を有している。即ち、無機酸化物層の厚みd1とALD膜(極薄金属酸化物膜)の厚みd2との比(d1/d2)が3~50である。
 このように、ALD膜が極薄であるため、その成膜時間は短くてよく、例えば無機酸化物層との反応及びパージを1サイクルとしたとき、1サイクルで得られる単原子層の厚さを0.2nmとしたなら成膜に要するサイクル数は45以下でよく、従って、本発明のガスバリア性積層体は、ALD膜を備えていながら高い生産性を示す。
 さらに、本発明のガスバリア性積層体は、無機酸化物層上に形成されているALD膜が極薄でありながら、極めて高いガスバリア性を示す。例えば、後述する実施例からも理解されるように、本発明に従ってALD膜が無機酸化物層(SiO層)上に形成されている本発明のガスバリア性膜では、このようなALD膜が形成されていないものに比して、水分バリア性(水蒸気バリア性)が3倍以上、特に40倍以上も向上している。即ち、ALD膜が極薄であるにもかかわらず、ガスバリア性の著しい向上がもたらされることは全く意外であると言わざるを得ない。
 本発明において、このようなガスバリア性の著しい向上がもたらされる理由は、明確に解明されているわけではないが、おそらく、無機酸化物層のピンホール等の欠陥が極薄のALD膜の形成により修復されるためであると本発明者等は考えている。
 即ち、無機酸化物の欠陥の内部に、ALD膜を成膜する際に、無機酸化物層よりも高密度の酸化物の分子が選択的に侵入すると共に、金属アルコキシドなどのプリカーサーと呼ばれる原料ガスが、無機酸化物層の欠陥部分に存在しているOH基と反応するため、この欠陥が修復され、このような欠陥の修復により、著しく高いガスバリア性がもたらされているものと推定される。
 特に、本発明では、Siを含む無機酸化物層上に、上記のALD膜を介してカチオン性材料を含む層(水分トラップ層)を設けた場合に顕著な効果を奏する。
 即ち、Siを含む無機酸化物層上は、耐アルカリ性が悪いため、この層上にカチオン性材料を含む層が形成されると、カチオンとの接触により、Si-O-Siネットワークの破断等により結合欠陥が拡大することとなる。特にピンホール等の欠陥部分では、経時と共にカチオンが浸透していくため、欠陥が拡大し、これが酸素に対するバリア性の低下ばかりか、水分に対するバリア性も低下していく要因となる。しかるに、本発明では、無機酸化物層の結合欠陥がALD膜により修復されているばかりか、カチオン性材料と無機酸化物層との直接の接触が回避されている。この結果として、カチオン性材料による無機酸化物層の経時劣化が有効に回避されるばかりか、カチオン性材料を含む層による水分トラップ能力も如何なく発揮されて高いレベルの水分バリア性を示し、さらには、これらバリア性の経時による低下も抑制され、長期にわたって高いレベルのガスバリア性が実現できるのである。
 本発明のガスバリア性積層体は、水分バリア性等のガスバリア性が著しく向上しているばかりか、生産性にも優れているため、各種電子デバイスの基板や封止層として有用であり、特に有機エレクトロルミネッセンス(有機EL)パネルへの実用化が期待される。
 さらに、ガスバリア性の向上や耐久性向上をもたらすALD膜は極薄であるため、この積層構造体の厚みを必要以上に厚くせずに、これらの効果がもたらされるという利点もあり、本発明は工業上、極めて有用である。
本発明のガスバリア性積層体の基本層構造を示す概略断面図。 本発明のガスバリア性積層構造体の層構造の好適例を示す概略断面図。 実施例(実験2)で作成したガスバリア性積層構造体の層構造を示す概略断面図。
<ガスバリア性積層体の基本層構造>
 本発明のガスバリア性積層体の基本層構造を示す図1を参照して、全体として10で示すこの積層体は、所定の基材1と、基材1の表面に形成された無機酸化物層3と原子層堆積法により形成された極薄膜5(以下、ALD膜と呼ぶ)とを有している。
基材1;
 無機酸化物層3の下地となる基材1としては、特に制限されず、例えば金属やガラスであってもよいが、高いガスバリア性を実現させるという本発明の目的からいって、通常は、プラスチック基材が使用される。このようなプラスチック基材のプラスチックは、それ自体公知の熱可塑性或いは熱硬化性の樹脂から形成されたものであってよい。
 このような樹脂の例としては、これに限定されるものではないが、例えば低密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ1-ブテン、ポリ4-メチル-1-ペンテンあるいはエチレン、プロピレン、1-ブテン、4-メチル-1-ペンテン等のα-オレフィン同志のランダムあるいはブロック共重合体、環状オレフィン共重合体などのオレフィン系樹脂;エチレン・酢酸ビニル共重合体、エチレン・ビニルアルコール共重合体、エチレン・塩化ビニル共重合体等のエチレン・ビニル系樹脂;ポリスチレン、アクリロニトリル・スチレン共重合体、ABS、α-メチルスチレン・スチレン共重合体等のスチレン系樹脂;ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、塩化ビニル・塩化ビニリデン共重合体、ポリアクリル酸メチル、ポリメタクリル酸メチル等のビニル系樹脂;ナイロン6、ナイロン6-6、ナイロン6-10、ナイロン11、ナイロン12等のポリアミド樹脂;ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂;ポリカーボネート樹脂;ポリフエニレンオキサイド樹脂;ポリイミド樹脂;ポリアミドイミド樹脂;ポリエーテルイミド樹脂;フッ素樹脂;アリル樹脂;ポリウレタン樹脂;セルロース樹脂;ポリスルホン樹脂;ポリエーテルスルホン樹脂;ケトン樹脂;アミノ樹脂;ポリ乳酸などの生分解性樹脂;等を例示することができ、さらに、これらのブレンド物や、これら樹脂が適宜共重合により変性されたものであってもよいし、多層構造を有していてもよい。
 特に、透明性が要求される用途においては、上記の中でもPETやPENなどのポリエステル樹脂が好適であり、更に耐熱性も要求される用途においては、ポリカーボネートやポリイミド樹脂が好適である。
 勿論、上述した各種の樹脂には、それ自体公知の樹脂配合剤、例えば酸化防止剤、滑剤等が配合されていてもよい。
 また、プラスチック基材の形態は、水分や酸素に対するバリア性が十分に発揮されるようなものであれば特に制限されず、用途に応じた適宜の形態を有していればよいが、板状或いはフィルム乃至シートの形態を有している場合が最も一般的である。
 さらに、その厚み等は、用途に応じた特性(例えば可撓性、柔軟性、強度等)、適宜の範囲に設定される。
 このようなプラスチック基材は、その形態やプラスチックの種類に応じて、射出乃至共射出成形、押出乃至共押出成形、フィルム乃至シート成形、圧縮成形性、注型重合等の公知の成形手段により成形することができる。
無機酸化物層3;
 基材1上に形成される無機酸化物層3は、スパッタリング、真空蒸着、イオンプレーティングなどに代表される物理蒸着や、プラズマCVDに代表される化学蒸着などによって形成されるが、特に、Siの酸化物や酸窒化物(SiOやSiO)、或いはAlの酸化物や酸窒化物(AlやAl)から形成される。勿論、Siの酸化物や酸窒化物とAlの酸化物と酸窒化物とが混在するものであってもよく、特に水蒸気に対するバリア性が高いことや、蒸着による成膜が容易であるという点で、Siを含む酸化物により無機酸化物層3が形成されていることが好適である。
 本発明においては、特に、プラスチック製の基材に対して高い密着性を確保でき、さらに、成膜条件により膜物性を容易にコントロールすることができ、しかも凹凸を有する面にも均一に成膜されるという観点から、プラズマCVDにより形成されることが好ましい。
 プラズマCVDによる成膜は、所定の真空度に保持され且つ金属壁でシールドされたプラズマ処理室内に、無機酸化物層を形成すべき基材1を配置し、膜形成する金属若しくは該金属を含む化合物のガス(反応ガス)及び酸化性ガス(通常酸素やNOのガス)を、適宜、アルゴン、ヘリウム等のキャリアガスと共に、ガス供給管を用いて該プラズマ処理室に供給し、この状態でマイクロ波電界や高周波電界などによってグロー放電を発生させ、その電気エネルギーによりプラズマを発生させ、上記化合物の分解反応物を基材1の表面に堆積させることにより行われる。
 尚、マイクロ波電界による場合は、導波管等を用いてマイクロ波をプラズマ処理室内に照射することにより成膜が行われ、高周波電界による場合は、プラズマ処理室内の基材1を一対の電極の間に位置するように配置し、この電極に高周波電界を印加して成膜が行われる。
 上記の反応ガスとしては、一般に、トリアルキルアルミニウムなどの有機アルミニウム化合物や有機ケイ素化合物等のガスが使用されるが、有機アルミニウムは自己発火性を有するなど取扱い難いため、有機ケイ素化合物が好適に使用される。
 このような有機ケイ素化合物の例としては、ヘキサメチルジシラン、ビニルトリメチルシラン、メチルシラン、ジメチルシラン、トリメチルシラン、ジエチルシラン、プロピルシラン、フェニルシラン、メチルトリエトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン等の有機シラン化合物、オクタメチルシクロテトラシロキサン、1,1,3,3-テトラメチルジシロキサン、ヘキサメチルジシロキサン等の有機シロキサン化合物等が使用される。また、これら以外にも、アミノシランやシラザンなどを用いることもでき、この場合には、Siの酸窒化物を主体とする膜を形成することができる。
 尚、上述した有機金属化合物は、単独でも或いは2種以上の組合せでも用いることができる。
 本発明においては、上記のようにして形成される無機酸化物層3のMOH/MO比(M=SiまたはAl)が0.1以下に調整されていることが好ましい。即ち、このモル比は、無機酸化物層3に存在している結合欠陥の割合を示すものであり、このモル比が大きいほど(MOHが多い)結合欠陥が多く、モル比が小さいほど(MOHが少ない)結合欠陥が少ないことを示す。即ち、結合欠陥が存在している部分では、M-O-Mのネットワークが切れてMOHが生成しているからである。
 このようなMOH/MO比の値は、成膜雰囲気や成膜条件によって調整することができ、例えば、CVD法により成膜を行う場合には、グロー放電のためのマイクロ波や高周波の出力を高くすることにより、膜の酸化度を高め、MOH/MO比の値を上記範囲内に調整し、ピンホールを少なくすることができる。
 尚、MOH/MO比をゼロにすることが理想的であるが、MOH/MO比が小さすぎる場合、膜の可撓性が著しく低下し、脆く割れやすくなるため、少なくともは0.001以上に留めておくことが好ましく、0.005以上に留めておくことが特に好ましい。
 即ち、本発明では、無機酸化物層3のMOH/MO比の値が上記範囲内に設定され、結合欠陥がある程度低減されている場合に、後述するALD膜5によるガスバリア性向上効果が最大限に発揮される。
 また、本発明において、CVD法ではグロー放電のための出力を高出力とすることにより、膜の酸化度を高め、MOH/MO比の値を上記範囲内に調整することができることは上述したとおりであるが、この場合、無機酸化物中のOH基による基材とのインタラクション(化学的結合や水素結合)が少なくなり、プラスチック製の基材に対する密着性が損なわれることがある。かかる不都合を回避するため、成膜開始時は、低出力でCVD法による成膜を行い、プラスチック製の基材1との界面近傍に位置する膜中の有機成分の量を増大させ、これにより、この部分での基材との親和性を高めることで、プラスチック製の基材1との密着性を高めるのがよい。低出力で成膜を行った後は、高出力で成膜を行い、結合欠陥を少なくし、MOH/MO比が上記範囲内となるように調整すればよい。
 さらに、上述した無機酸化物層3の厚みd1は、ガスバリア性積層体10の用途や要求されるガスバリア性のレベルによっても異なるが、一般的には、10-2g/m/day以下、特に10-3g/m/day以下の水蒸気透過度が確保できる程度の厚みとするのがよく、4乃至500nm、特に30乃至400nm程度の厚みを有していればよい。
ALD膜5;
 上記の無機酸化物層3上に形成されるALD膜5は、原子層堆積法(ALD法)によって形成される極薄の金属酸化物膜であり、特に、ピンホールなどの無機酸化物層3の欠陥内部に侵入して該欠陥を修復するという点で、膜密度4.2g/cm以上の金属酸化物により形成されていることが好ましい。
 このような金属酸化物の例としては、二酸化チタン、二酸化ジルコニウム、二酸化ハフニウム、酸化亜鉛、酸化ガリウム、酸化バナジウム、五酸化ニオブ、五酸化タンタル、三酸化タングステン、酸化アルミニウム等が例示でき、これら金属酸化物を単独でも或いは2種類以上を組み合わせて用いることが出来る。
 特に、後述する図3に示されているように、ALD膜5の上にカチオン性材料を含む層(水分トラップ層7)を設ける場合には、上記の金属酸化物の中でも特に耐アルカリ性の高いものが、カチオン性材料による無機酸化物層3の浸食を防止する上で好ましい。
 例えば、このALD膜5を0.1Nの水酸化ナトリウム水溶液に、30℃で1時間浸漬したときの重量減少が0.05%以下、特に0.03%以下にあるものが高い耐アルカリ性を示す。具体的には、上記の金属酸化物の中でも、Ti、Zr、Hf或いはAlの酸化物、特にZr或いはTiの酸化物が好ましく、反応性とガスバリア性向上効果を考慮すると、Zr酸化物が最適である。
 ALD膜5を形成するには、上記金属Xのアルコキシドのガスを原料として使用し、該原料ガス(プリカーサーと呼ばれる)を無機酸化物層3上に供給する。これにより、無機酸化物層3に存在しているMOH(MはSi,Al)とプリカーサーとが反応し、M-O-Xにより原料ガスの金属が無機酸化物層3の表面に結合することとなる。
 次いで、Ar等の不活性ガスをパージガスとして使用し、副生したアルコールと未反応のプリカーサーをパージする。
 この後に、反応ガス(O, HO等)をパージしながら供給する。これにより、無機酸化物層3の表面には、X-O-Xのネットワークが形成され、上記金属Xの酸化物の超薄膜が形成されることとなる。
 上記のプロセスを1サイクルとして、繰り返し行うことにより、目的とするALD膜5が形成されることとなる。即ち、2サイクル目では、再度、プリカーサーの供給、パージ、反応ガスの供給を繰り返すわけである。
 尚、上記のようにしてALD膜5を形成するに際して、プリカーサーとしては、前記金属Xのアルコキシドやアミド化合物が使用されるが、特に耐熱性の低いプラスチック基材を用いる場合は、蒸気圧が高く、低温で成膜が可能なテトラターシャリーブチルアルコキシドの使用が好ましい。
 このようにして無機酸化物層3上にALD膜5が形成されるのであるが、かかる極薄膜5は、無機酸化物層3上に存在するMOHを起点として形成されており、このMOHは、無機酸化物層3表面に結合末端として存在する。また、無機酸化物層3上に少なからず存在する、ピンホール等の欠陥内部の内壁部には結合末端のMOHが多量に存在している。ALDの原料ガス及び反応ガスは、こうした欠陥の奥深くにも入り込むことが出来るため、欠陥の内部で特に成膜が進行する。即ち、本発明では、結合末端のOH基が多量に存在する欠陥部内部から成膜が進行することで、無機酸化物層3上の欠陥が選択的にALD膜5によって修復される。
 例えば、膜密度が4.2g/cm以上であれば、ALD膜5の厚みが極めて薄いにも関わらず、無機酸化物層3のガスバリア性を大きく向上させることができるのである。
 本発明において、無機酸化物層3の厚みd1とALD膜5の厚みd2との比(d1/d2)が3~50、特に6~50の範囲に設定され、このような厚み比を満足するように、ALD膜5の厚みd2が設定される。即ち、無機酸化物層3の厚みd1が厚いほどALD膜5の厚みd2を厚く設定し、無機酸化物層3の厚みd1が薄ければ、ALD膜5の厚みd2は、上記条件を満足するように、より薄く設定される。
 即ち、無機酸化物層3の厚みd1が厚いほど、該層3のガスバリア性は高いが、反面、クラックの欠陥が多くなり、このような欠陥がガスバリア性に与える影響が大きく、これを回避するために、ALD膜5の厚みも厚くなり、無機酸化物層3の厚みd1が薄い場合には、クラックの欠陥部も少なく、ピンホールの欠陥に対する修復だけで良いため、その修復に要するALD膜5の厚みd2はより薄くてもよいこととなる。
 また、本発明では、生産性を高めるという観点から、ALD膜5の厚みd2を0.5~9nmの範囲に設定し、これに基づいて、無機酸化物層3の厚みd2等を設定することが望ましい。即ち、厚みd2が上記範囲内にあるようなALD膜5は、前述した製造プロセスのサイクル数が45以下で成膜でき、高い生産性を確保することができるからである。
その他の層;
 本発明のガスバリア性積層体10は、上述したように、無機酸化物層3上にALD膜5が設けられているという基本構造を有しているが、例えば水分バリア性等のガスバリア性が損なわれず且つ生産性が大きく損なわれない限りにおいて、ALD膜5の上に、適宜有機層を設け、これにより、表面平滑性、印刷適性、耐候性、表面保護等の特性を付与することができる。
 このような有機層は、ALD膜5に対して高い密着性を確保し得るものであれば任意の樹脂で形成されていてよく、例えば、ポリオレフィン系樹脂、ポリエステル樹脂、シクロオレフィン樹脂、(メタ)アクリル樹脂、ウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、ハロゲン系樹脂などを使用できる。
 また、上記のような有機層を形成した後、さらに、その上に、酸素に対するバリア性をさらに向上させるために、エチレン-ビニルアルコール共重合体や芳香族ポリアミドなどからなる酸素バリア層を設けることもできるし、鉄、コバルト等の遷移金属を含む酸素吸収性層を設けることも可能である。あるいは水蒸気に対するバリア性をさらに向上させるために、ポリオレフィンやシクロオレフィンにゼオライト等を分散させた水蒸気吸収性層を設けることも可能である。
 これらの各層は、公知の手段、例えば、共押出、コーティング、適当な接着剤を用いてのドライラミネーション等により容易に形成することができる。
 さらに、上記の有機層等の上に、無機酸化物層を蒸着により形成してガスバリア層をより向上させることもできる。かかる無機酸化物層は、前述した無機酸化物層3と同じものであってよい。
<ガスバリア性積層体の好適な層構造>
 本発明のガスバリア性積層体においては、ALD膜5の上に適宜形成される上記の有機層として、カチオン性材料を含む層を設けることが、本発明の効果を最大限に発揮させる上で最も好ましい。このような層構造の例は、図2に示されている。
 即ち、図2においては、ガスバリア性積層体10におけるALD膜5の上に水分トラップ層7が設けられており、この水分トラップ層7には、カチオン性材料が含まれている。
水分トラップ層7;
 この水分トラップ層7は、この層に含まれているカチオン性材料による吸湿により、無機酸化物層3の水分バリア性を補い、高い水分バリア性を発揮させるものである。先にも説明したように、このような水分トラップ層7を無機酸化物層3上に直接設けてしまうと、カチオン性材料により無機酸化物層3が浸食され、この結果、酸素や水分などに対するバリア性が経時的に低下してしまう。本発明では、かかる水分トラップ層7と無機酸化物層3との間にALD膜5が設けられているため、水分トラップ層7を中のカチオン性材料による浸食を有効に回避することができるわけである。
 水分トラップ層7の形成に用いるカチオン性材料としては、吸湿能を有している限り、特に制限されず、例えばアルカリ化合物を樹脂に分散させることにより水分トラップ層7を形成することも可能であるが、一般的には、高い水分バリア性を確保するために、このカチオン性材料を連続層とすることが好ましく、このために、カチオン性ポリマーを用いることが最適である。
 このようなカチオン性ポリマーは、水中で正の電荷となり得るカチオン性基、例えば、1~3級アミノ基、4級アンモニウム基、ピリジル基、イミダゾール基、4級ピリジニウム基などを分子中に有しているポリマーである。このようなカチオン性ポリマーは、カチオン性基が、求核作用が強く、かつ水素結合により水を補足するため、吸湿性マトリックスとして水分トラップ層7を形成することができる。
 カチオン性ポリマー中のカチオン性基量は、一般に、形成される吸湿性マトリックスの吸水率(JIS K-7209-1984)が湿度80%RH及び30℃雰囲気下において20%以上、特に30%~45%となるような量であればよい。
 また、カチオン性ポリマーとしては、アリルアミン、エチレンイミン、ビニルベンジルトリメチルアミン、[4-(4-ビニルフェニル)-メチル]-トリメチルアミン、ビニルベンジルトリエチルアミン等のアミン系単量体;ビニルピリジン、ビニルイミダゾール等の含窒素複素環系単量体;及び、それらの塩類;に代表されるカチオン性単量体の少なくとも1種を、適宜、共重合可能な他の単量体と共に、重合乃至共重合し、さらに必要により、酸処理により部分中和させて得られるものが使用される。
 尚、共重合可能な他の単量体としては、これに限定されるものではないが、スチレン、ビニルトルエン、ビニルキシレン、α-メチルスチレン、ビニルナフタレン、α-ハロゲン化スチレン類、アクリロニトリル、アクロレイン、メチルビニルケトン、ビニルビフェニル等を挙げることができる。
 また、上記のカチオン性単量体を使用する代わりに、カチオン性官能基を導入し得る官能基を有する単量体、例えば、スチレン、ブロモブチルスチレン、ビニルトルエン、クロロメチルスチレン、ビニルピリジン、ビニルイミダゾール、α-メチルスチレン、ビニルナフタレン等を使用し、重合後に、アミノ化、アルキル化(第4級アンモニウム塩化)などの処理を行ってカチオン性ポリマーを得ることもできる。
 本発明においては、上記のカチオン性ポリマーの中でも、特にポリアリルアミンが成膜性等の観点から好適である。
 上述したカチオン性ポリマーを形成するための重合は、一般には、重合開始剤を用いての加熱によるラジカル重合により実施される。
 重合開始剤としては、特に制限されず、オクタノイルパーオキシド、ラウロイルパーオキシド、t-ブチルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、ベンゾイルパ-オキシド、t-ブチルパーオキシイソブチレート、t-ブチルパーオキシラウレート、t-ヘキシルパーオキシベンゾエート、ジ-t-ブチルパーオキシド等の有機過酸化物が代表的であり、一般に、前述したカチオン性単量体(或いはカチオン性基を導入し得る単量体)100重量部に対して、0.1~20重量部、特に0.5~10重量部程度の量で使用される。
 上記のようにして重合を行うことによりカチオン性ポリマーが得られるが、カチオン性の官能基を導入可能な単量体が使用されている場合には、重合後に、アミノ化、アルキル化処理などのカチオン性基導入処理を行えばよい。
 本発明において、上述したカチオン性ポリマーを含む水分トラップ層7は、カチオン性ポリマーが有機溶剤に分散乃至溶解されているコーティング液をALD膜5上に塗布し、乾燥することにより容易に作製されるが、このようなカチオン性ポリマーを用いて形成される層には、架橋構造を導入しておくことが、吸湿能力を低下させることなく機械的強度を確保すると同時に、寸法安定性を向上させる上で好ましい。即ち、架橋構造が導入されていると、水分トラップ層7が水を吸収したとき、カチオン性ポリマーの分子が架橋によって互いに拘束されることとなり、膨潤(水分吸収)による体積変化を抑制する機能が高められることとなる。
 上記の架橋構造は、水分トラップ層7を形成するためのコーティング液中に架橋剤を配合しておくことにより導入することができる。この架橋剤の種類により、架橋構造にシロキサン構造または多脂環構造が導入され、吸湿に適した空間の網目構造を形成する。特にシロキサン構造が導入される架橋剤ではALD膜5との密着性を高めることができる。
 架橋剤としては、例えばカチオン性ポリマーが有しているカチオン性基と反応し得る架橋性官能基(例えば、エポキシ基)と、加水分解と脱水縮合を経て架橋構造中にシロキサン構造を形成し得る官能基(例えば、アルコシシリル基)を有している化合物を使用することができ、特に、下記式(1):
  X-SiR (OR3-n     (1)
  式中、Xは、末端にエポキシ基を有する有機基であり、
     R及びRは、それぞれ、メチル基、エチル基、もしくはイソ
    プロピル基であり、
     nは、0、1、もしくは2である、
で表されるシラン化合物が好適に使用される。
 式(1)のシラン化合物は、官能基としてエポキシ基とアルコキシシリル基とを有しており、エポキシ基がカチオン性ポリマーの官能基(例えばNH)と付加反応する。一方アルコキシシリル基は、加水分解によりシラノール基(SiOH基)を生成し、縮合反応を経てシロキサン構造を形成して成長することにより、最終的にカチオン性ポリマー鎖間に架橋構造を形成する。これにより、カチオン性ポリマーのマトリックスには、シロキサン構造を有する架橋構造が導入されることとなる。一方、アルコキシシリル基の加水分解により生成するシラノール基は、例えばALD膜5の表面に存在するXOH基、例えばZrOH基と脱水縮合して強固に結合する。
 しかも、本発明においては、水分トラップ層7の形成に用いるコーティング液は、アルカリ性となり、この結果、カチオン性基とエポキシ基の付加反応やシラノール基間或いはALD膜5の表面のXOH基との脱水縮合も速やかに促進される。
 従って、上記のような式(1)の化合物を架橋剤として使用することにより、マトリックス中に架橋構造を導入すると同時に、格別の密着剤を用いることなく、ALD膜5との密着性を高めることが可能となる。
 本発明においては、上記式(1)中のエポキシ基を有する有機基Xとしては、γ-グリシドキシアルキル基が代表的であり、例えばγ-グリシドキシプロピルトリメトキシシランやγ-グリシドキシプロピルメチルジメトキシシランが架橋剤として好適に使用される。
 また、上記式(1)中のエポキシ基が、エポキシシクロヘキシル基のような脂環式エポキシ基であるものも架橋剤として好適である。例えば、β-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシランのような脂環式エポキシ基を有する化合物を架橋剤として使用した場合には、マトリックスの架橋構造中に、シロキサン構造と共に、脂環構造が導入される。このような脂環構造の導入は、吸湿に適した空間の網目構造を形成するというマトリックスの機能を更に効果的に発揮させることができる。
 さらに、本発明においては、架橋構造中に脂環構造を導入するために、複数のエポキシ基と脂環基とを有している化合物、例えば、下記式(2):
  G-O(C=O)-A-(C=O)O-G   (2)
  式中、Gは、グリシジル基であり、
     Aは、脂肪族環を有する2価の炭化水素基、例えばシクロアルキ
    レン基である、
で表されるジグリシジルエステルを、架橋剤として使用することができる。このようなジグリシジルエステルの代表的なものは、下記の式(2-1)で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
 即ち、式(2-1)のジグリシジルエステルは、アルコキシシリル基を有していないため、ALD膜5との密着性を高める機能は乏しいが、架橋構造中に脂環構造を導入するため、マトリックス中に吸湿に適した空間の網目構造を形成するという点では効果的である。
 本発明において、上述した架橋剤は、カチオン性ポリマー100重量部当り、5乃至60重量部、特に15乃至50重量部の量で使用することが望ましく、このような架橋剤の少なくとも70重量%以上、好ましくは80重量%以上が、前述した式(1)のシラン化合物であること望ましい。
 架橋剤の使用量が多すぎると、機械強度的に脆くなりハンドリング性が損なわれたり、塗料にした際に増粘が速く有効なポットライフが確保できなくなるおそれがあり、また、少なすぎると、これに伴い、厳しい環境下(例えば高湿度下)に曝された場合の耐性(例えば機械的強度)が確保できなくなるおそれがある。さらに、前述した式(1)のシラン化合物の使用割合が少ないと、ALD膜5との密着性が低下してしまう。
 本発明において、上述した各種成分を含むコーティング組成物に使用される溶媒としては、比較的低温での加熱により揮散除去し得るものであれば特に制限されず、例えば、メタノール、エタノール、プロピルアルコール、ブタノール等のアルコール性溶媒、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン溶媒、或いはこれら溶媒と水との混合溶媒、或いは水、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素系溶媒などを使用することができるが、特にコーティング組成物中の架橋剤中のアルコキシシリル基を有するシラン化合物の加水分解を促進させるために、水或いは水を含む混合溶媒を使用することが望ましい。
 尚、上述した溶媒は、コーティング組成物がコーティングに適した粘度となるような量で使用されるが、コーティング組成物の粘度調整のため、或いは形成される吸湿性マトリックスの吸水率を適宜の範囲に調整するため、非イオン性重合体を適宜の量で配合することもできる。
 このような非イオン性重合体としては、ポリビニルアルコール、エチレン-プロピレン共重合体、ポリブチレン等の飽和脂肪族炭化水素系ポリマー、スチレンーブタジエン共重合体等のスチレン系ポリマー、ポリ塩化ビニル、或いは、これらに、各種のコモノマー(例えばビニルトルエン、ビニルキシレン、クロロスチレン、クロロメチルスチレン、α-メチルスチレン、α-ハロゲン化スチレン、α,β,β´-トリハロゲン化スチレン等のスチレン系モノマーや、エチレン、ブチレン等のモノオレフィンや、ブタジエン、イソプレン等の共役ジオレフィンなど)を、共重合させたものなどを挙げることができる。
 本発明においては、上述したコーティング組成物を、例えばALD膜5の表面に塗布し、80~160℃程度の温度でオーブンの能力にも依るが、数秒から数分間の加熱により、溶媒が除去され、さらに、架橋剤がカチオン性ポリマーやALD膜5の表面のXOH基と反応し、架橋構造がマトリックス中に導入され且つALD膜5との密着性に優れた水分トラップ層7を形成することができる。
 このような水分トラップ層7の厚みは特に制限されるものではなく、その用途や要求される水分バリアの程度に応じて適宜の厚みに設定することができるが、一般に、水蒸気透過度が10-6g/m/day以下となるような超バリア性を発揮させるには、少なくとも1μm以上、特に2乃至20μm程度の厚みを有していれば十分である。
 即ち、上述した水分トラップ層7では、水分トラップ層7が、後述するように水分の吸収と閉じ込めとの2重の機能を有しているため、無機酸化物層3上のALD膜5上に、適度な厚みの水分トラップ層7を一層形成するのみで、水分に対して上記のような超バリア性を発揮することができる。
 また、本発明においては、上述した水分トラップ層7中には、吸湿剤が分散されていることが好ましく、これにより、水分バリア性を一層向上させることができる。かかる吸湿剤としては、前述したカチオン性ポリマーよりも到達湿度が低いものが好適に使用され、特に、湿度80%RH及び温度30℃の環境条件での到達湿度が6%以下のものが好適に使用される。
 即ち、この吸湿剤の到達湿度がカチオン性ポリマーよりも高いと、吸湿性マトリックスに吸収された水分の閉じ込めが十分でなく、水分の放出等を生じ易くなるため、水分バリア性の著しい向上が望めなくなってしまう。
 上記のような吸湿剤は、一般に湿度80%RH及び温度30℃雰囲気下において50%以上の吸水率(JIS K-7209-1984)を有しており、無機系及び有機系のものがある。
 無機系の吸湿剤としては、ゼオライト、アルミナ、活性炭、モンモリロナイト等の粘土鉱物、シリカゲル、酸化カルシウム、硫酸マグネシウムなどを挙げることができる。
 有機系の吸湿剤としては、アニオン系ポリマー若しくはその部分中和物の架橋物を挙げることができる。このアニオン系ポリマーとしては、カルボン酸系単量体((メタ)アクリル酸や無水マレイン酸など)、スルホン酸系単量体(ハロゲン化ビニルスルホン酸、スチレンスルホン酸、ビニルスルホン酸など)、ホスホン酸系単量体(ビニルリン酸など)及びこれら単量体の塩類等に代表されるアニオン性単量体の少なくとも1種を、重合或いは他の単量体と共重合させて得られるものを挙げることができる。特に透明性が求められる用途においては、有機系の吸湿剤が有効である。例えば、架橋ポリ(メタ)アクリル酸Naの微細粒子などが代表的な有機系吸湿剤である。
 本発明においては、比表面積が大となり、高い吸湿性を示すという観点から粒径が小さな吸湿剤が好ましく(例えば、レーザ回折散乱法で測定した体積換算での平均一次粒子径D50が100nm以下、特に80nm以下)、特に粒径の小さな有機系ポリマーの吸湿剤が最適である。
 即ち、有機系ポリマーの吸湿剤は、カチオン性ポリマーのマトリックスに対する分散性が極めて良好であり、均一に分散させることができるばかりか、これを製造するための重合法として乳化重合や懸濁重合などを採用することにより、その粒子形状を微細で且つ揃った球形状とすることができ、これをある程度以上配合することにより、極めて高い透明性を確保することが可能となるからである。このような透明性は、おそらく、ALD膜5との界面の近傍に微細で且つ球形状の吸湿剤粒子が層状に分布し、この界面での光の散乱などが抑制されるためと考えられる。特に透明性の確保は、このガスバリア性積層体10を有機ELパネルなどの基板や封止層の用途に使用するときは大きな利点となる。
 また、有機系の微細な吸湿剤では、前述した到達湿度が著しく低く、高い吸湿性を示すばかりか、架橋によって膨潤による体積変化も極めて少なくすることができ、従って、体積変化を抑制しながら、環境雰囲気を絶乾状態もしくは絶乾状態に近いところまで湿度を低下させる上で最適である。
 このような有機系の吸湿剤の微粒子としては、例えば架橋ポリアクリル酸Na微粒子(平均粒子径約70nm)がコロイド分散液(pH=10.4)の形で東洋紡株式会社よりタフチックHU-820Eの商品名で市販されている。また、カルボキシル基の80%以上がカリウム塩で中和されている架橋ポリアクリル酸K微粒子も好適に使用される。
 本発明において、上記のような吸湿剤は、その特性を十分に発揮させ、水分バリア性の著しい向上及び膨潤による寸法変化を有効に抑制させると同時に、例えば無機酸化物層3が示すバリア性よりも高い水分バリア性を長期間にわたって確保するという観点から、カチオン性ポリマー100重量部当り、50重量部以上、特に100乃至900重量部、より好ましくは200乃至600重量部の量で分散されていることが好適である。
 尚、このような吸湿剤の分散は、前述した水分トラップ層7を形成するためのコーティング液中に、この吸湿剤を分散させておけばよい。
<用途>
 本発明のガスバリア性積層体10は、ALD膜5により無機酸化物層3のガスバリア性、例えば水分に対するバリア性や酸素に対するバリア性が高められており、しかも、生産性にも優れていることから、各種の電子デバイス、例えば有機EL素子、太陽電池、電子ペーパーなどの電子回路を封止するためのフィルムとして好適に使用することができ、さらには、基材1としてPET、PEN、ポリカーボネート、ポリイミド樹脂等の透明性に優れたプラスチック製のフィルムが使用されている場合には、この上に、透明電極を形成し、その上に発光層などを有する有機ELの発光素子や太陽電池の光発電素子を形成することもできる。
 本発明のガスバリア性積層体の優れた性能を、以下の実験例により説明する。
<MOH/MO比の測定>
 MOH/MO比は膜の品質を表し、値が小さい程、膜中の結合欠陥が少なく緻密な膜である。MOH/MO比の測定は、成膜をした基材の成膜面をフーリエ変換赤外分光光度計で測定して算出する。
 差スペクトル法により赤外吸収スペクトルを測定した結果、ケイ素酸化膜では、930~1060cm-1付近に赤外吸収ピークがあり、波数930cm-1付近のSiOH基の吸収ピーク高さ(A1)を求め、更に波数1060cm-1付近のSiO基の吸収ピーク高さ(A2)を求め、A1/A2からSiOH/SiOの赤外吸光度比(A)を求めた。アルミ酸化膜では、950~1130cm-1付近に赤外吸収ピークがあり、波数1130cm-1付近のAlOH基の吸収ピーク高さ(B1)を求め、更に波数950cm-1付近のAlO基の吸収ピーク高さ(B2)を求め、B1/B2からAlOH/AlOの赤外吸光度比(B)を求めた。
<膜厚及び膜密度の測定>
 X線反射率分析法によって、成膜面に極浅い角度でX線を入射させ、その入射角対鏡面方向に反射したX線強度プロファイルを測定し、得られたプロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、膜厚及び膜密度を決定した。
<水蒸気バリア性の測定>
 成膜をしたプラスチック基材の40℃、相対湿度90%RHにおける水蒸気透過度(HO透過度)を、水蒸気透過度測定装置(Modern Control社製、PERMATRAN-W 3/30)を用いて測定した。
 また、水蒸気透過度測定装置の測定限界未満の水蒸気透過度は、特開2010―286285号公報に記載の方法に基づき、以下のような方法で測定している。
 試料のガスバリア性積層体の無機バリア層面に、真空蒸着装置(日本電子株式会社製、JEE-400)を用いて、真空蒸着により300nmの厚みのCa薄膜(水腐食性金属の薄膜)を形成し、さらに、Ca薄膜を覆うように540nmの厚みのAl蒸着膜(水不透過性金属薄層)を成膜して試料片を作製した。
 尚、Ca薄膜は、金属カルシウムを蒸着源として使用し、所定のマスクを介しての真空蒸着により、1mmφの円形部分6箇所に形成した。また、Al蒸着膜は、上記のマスクを真空状態のまま取り去り、装置内のAl蒸着源から引き続き真空蒸着を行うことにより成膜した。
 上記のようにして形成された試料を、吸湿剤としてシリカゲル(吸湿能力
300mg/g)を充填したガス不透過性カップに装着し、固定リングで固定して評価用ユニットとした。
 このようにして作製された評価用ユニットを、40℃90%に雰囲気調整された恒温恒湿槽に520~720時間保持した後、レーザー顕微鏡(Carl Zeiss社製、レーザスキャン顕微鏡)により試料のCa薄膜の腐食状態を観察し、金属カルシウムの腐食量から水蒸気透過度を算出した。この水蒸気透過度は、HO透過度或いは初期透湿度と示すことがある。
<ALD膜によるバリア効果の評価>
 ガスバリア積層体において、無機酸化物層上にALD法により極薄金属酸化物膜(ALD膜)5を施すことで、下記の評価基準によりALD膜のバリア効果を評価した。
  〇:無機酸化物層のバリア性とALD膜のバリア性の単純な足し合わせで計算されるバリア性よりも、バリア性が2倍以上に向上している(水蒸気透過度が1/3以下となっている)。
  ◎:無機酸化物層のバリア性とALD膜のバリア性の単純な足し合わせで計算されるバリア性よりも、バリア性が10倍以上に向上している(水蒸気透過度が1/10以下となっている)。
  ×:無機酸化物層のバリア性とALD膜のバリア性の単純な足し合わせで計算されるバリア性よりも、バリア性の向上が2倍未満である(水蒸気透過度が1/3より大きい)。
<ALD膜の耐アルカリ性の評価>
 下記の手順に従って、ALD膜の耐アルカリ性を評価した。
 蛍光X線分析装置(理学電機製、ZSX100e)を用いて、得られたALD膜5被覆PETフィルムの、ALD膜5上の金属酸化物の蛍光X線強度を測定した。
 上記ALD膜5被覆PETフィルムを、0.1Nの水酸化ナトリウム水溶液に30℃で1時間浸漬した後に、同様にALD膜5上の金属酸化物の蛍光X線強度を測定した。
 ALD膜5のアルカリ溶液浸漬後の減少率(X)%を、下記式により算出した。
  (X)=100-((2)/(1)×100)
 評価基準は、次のとおりである。
  ◎:減少率が0.03%以下である。
  〇:減少率が0.03%を超え0.05%未満である。
  ×:減少率が0.05以上である。
<到達湿度の評価>
 カチオン性ポリマー、吸湿剤の到達湿度を、以下のような方法で測定してした。
 140℃で1時間乾燥させた後、30℃80%RH雰囲気下で、内容積85cmの水分不透過性のスチール箔積層カップに、測定物0.5gとワイヤレス式温湿度計(ハイグロクロン:KNラボラトリーズ製)を入れ、アルミ箔積層フィルム蓋で容器口部をヒートシールした。その後、30℃で経時し、1日後の容器内部の相対湿度を到達湿度とした。
<水分バリア性の経時劣化の評価>
 試料のガスバリア性積層体を、85℃に調整した恒温恒湿オーブンに、7日連続で保管した後、上記水蒸気透過度の測定法にて、水蒸気透過度(経時劣化後の透湿度)を算出し、保管前の水蒸気透過度(初期透湿度)と同様に評価した。
<実験1>
 以下の実施例及び比較例は、図1に示す層構造を有するガスバリア性積層体についてのバリア性の向上効果を評価するために行ったものである。
(実施例1-1)
ケイ素酸化物の成膜(無機酸化物層);
 成膜装置として、以下の仕様を有するCVD装置を使用した。
   高周波出力電源:周波数27.12MHz、最大出力2kW
   マッチングボックス
   金属型円筒形プラズマ成膜室:直径300mm、高さ450mm
   成膜室を真空にするための真空式ポンプ
 プラスチック基材として、120mm角で100μmの厚みのポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムを用いた。
 CVD装置の成膜室内の給電電極にPETフィルムを設置し、真空式ポンプで排気口より排気を行いながら、該給電電極の近傍のガス吹き出し口から原料ガスとして、ヘキサメチルジシロキサンを3sccm、酸素を45sccm導入後、高周波発振器により300Wの出力で高周波を発振させ、50秒間プラズマ処理を行い、PETフィルムの一方の面にケイ素酸化膜を成膜した。
ジルコニウム酸化物のALD膜(極薄金属酸化物膜);
 PETフィルムの表面にケイ素酸化膜を成膜した後、真空成膜室にアルゴンガスを60sccmで5秒間導入し、前記ケイ素酸化膜被膜時の余剰ガスをパージした。
 その後、原料ガスとしてジルコニウムテトラターシャリブトキシドをキャリアガスのアルゴンガスと共に、20sccmで2秒間導入した(キャリアガスを除いた原料の供給量は0.01g/minとした)。
 次にアルゴンガスを60sccmで5秒間導入し、真空成膜室内をパージした後、反応ガスとして水蒸気を10sccmで2秒間導入した。ここまでをALDの1サイクルとし、計20サイクル繰り返すことで、ケイ素酸化物層上に原子20層分の極薄ジルコニウム酸化物のALD膜(極薄Zr酸化物層)を有するPETフィルム、即ちガスバリア積層体を得た。
(実施例1-2)
 実施例1-1において、ケイ素酸化物成膜工程で、原料ガスとして前記ガスに加えてアンモニアガスを10sccmで導入し、ケイ素酸窒化物層とする以外は実施例1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(実施例1-3)
 実施例1-1において、ALD原料ガスとしてジエチル亜鉛を用いてALD膜(極薄Zn酸化物層)を成膜する以外は、実施例1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(実施例1-4)
 実施例1-1において、ALD原料ガスとしてテトラキスジメチルアミノチタンを用いてALD膜(極薄Ti酸化物層)を成膜する以外は、実施例1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(実施例1-5)
 実施例1-1において、ALD原料ガスとしてテトラキスエチルメチルアミノハフニウムを用いてALD膜(極薄Hf酸化物層)を成膜する以外は、実施例1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(実施例1-6)
 実施例1-1において、ケイ素酸化物成膜工程で、高周波発振器の出力を100Wとする以外は実施例1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(実施例1-7)
 実施例1-1において、ALD膜(極薄Zr酸化物層)成膜工程で、ALDサイクルを80回とする以外は、実施例1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(実施例1-8)
 実施例1-1において、ALD膜(極薄Zr酸化物層)成膜工程で、ALDサイクルを5回とする以外は、実施例1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(実施例1-9)
 実施例1-1において、ケイ素酸化物成膜工程で、プラズマ処理の時間を10秒とし、極薄ジルコニウム酸化物成膜工程で、ALDサイクルを2回とする以外は、実施例1-1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(実施例1-10)
アルミ酸化物の成膜;
 成膜装置として、以下の部品を備えた高周波マグネトロンスパッタリング装置を使用した。
   高周波出力電源:周波数27.12MHz、最大出力2kW
   マッチングボックス
   金属型円筒形プラズマ成膜室:直径300mm、高さ450mm
   成膜室を真空にするための真空式ポンプ
 また、プラスチック基材としては、実施例1で用いたものと同じPETフィルムを用いた。
 成膜室内の給電電極にアルミニウムターゲットを設置し、対向電極側にPETフィルムを設置し、真空式ポンプで排気口より排気を行いながら、該給電電極の近傍のガス吹き出し口からアルゴンガスを100sccm、酸素を25sccm導入後、高周波発振器により300Wの出力で高周波を発振させ、300秒間スパッタリング処理を行い、PETフィルムの一方の面にアルミ酸化膜を被覆した。
ALD膜(極薄Zr酸化物層)の成膜;
 基材上にアルミ酸化膜を被覆後、真空成膜室にアルゴンガスを60sccmで5秒間導入し、前記アルミ酸化膜被膜時の余剰ガスをパージした。
 その後、原料ガスとしてジルコニウムテトラターシャリブトキシドをキャリアガスのアルゴンガスと共に、20sccmで2秒間導入した(キャリアガスを除いた原料の供給量は0.01g/minとした)。
 次にアルゴンガスを60sccmで5秒間導入し、真空成膜室内をパージした後、反応ガスとして水蒸気を10sccmで2秒間導入した。ここまでをALDの1サイクルとし、計20サイクル繰り返すことで、アルミ酸化物層上に原子20層分の極薄ジルコニウム酸化物層を有するPETフィルム、即ちガスバリア積層体を得た。
(実施例1-11)
 実施例1-1において、ALD原料ガスとしてトリメチルアルミニウムを用いて極薄アルミ酸化物を成膜する以外は、実施例1-1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(比較例1-1)
 実施例1-1において、極薄ジルコニウム酸化物成膜工程で、ALDサイクルを100回とする以外は、実施例1-1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
(比較例1-2)
 実施例1-1において、ケイ素酸化物成膜工程で、プラズマ処理の時間を100秒とし、極薄ジルコニウム酸化物成膜工程で、ALDサイクルを5回とする以外は、実施例1-1と同様の方法でガスバリア積層体を得た。
 上記で作製された各ガスバリア性積層体について、各層の物性及び水蒸気透過度(水分バリア性)を測定し、積層体で計算される水蒸気透過度と実測の水蒸気透過度を比較してALDによるバリア向上効果を評価し、その結果を表1に示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
<実験2>
 以下の実施例及び比較例は、ALD膜の上にカチオン性材料を含む水分トラップ層を設けたときのバリア性の評価を行うためのものである。
(実施例2-1)
 図3に示す層構成のガスバリア性積層体の作成;
 実験1で行われた実施例1-1と全く同様にして、PETフィルム1の片面に、ケイ素酸化物層3(厚み42nm)及びジルコニウム酸化物のALD膜5(厚み4.1nm)を形成した。
 一方、カチオン性ポリマーとしてポリアリルアミン(ニットーボーメディカル製、PAA-15C、水溶液品、固形分15%)を、固形分5重量%になるように水で希釈し、ポリマー溶液を得た。
 また、架橋剤として、γ-グリシドキシプロピルトリメトキシシランを用い、5重量%になるように水に溶かして架橋剤溶液を調製した。
 次いで、ポリアリルアミン100重量部に対してγ-グリシドキシプロピルトリメトキシシランが20重量部になるように、ポリマー溶液と架橋剤溶液とを混合し、さらに、この混合溶液に、吸湿剤として、ポリアクリル酸Naの架橋物を、ポリアリルアミンに対して420重量部になるように加え、更に固形分が5%になるよう水で調整した上で良く撹拌し、水分トラップ層用のコーティング液を調製した。
 尚、上記のポリアクリル酸Naの架橋物としては、東洋紡社製、タフチックHU-820E(水分散品、固形分13%、平均粒径D50:70nm)を用いた。
 上記で得られたコーティング液をバーコーターにより、先に形成されたPETフィルム上のALD膜上に塗布した。塗布後の上記フィルムをボックス型の電気オーブンにより、ピーク温度120℃、ピーク温度保持時間10秒の条件で熱処理し、厚み4μmの水分トラップ層7を形成し、コーティングフィルムを得た。
 次いで、窒素濃度99.95%以上に調整したグローブボックス内にて、前記コーティングフィルムの水分トラップ層7上に、厚さ4μmのウレタン系接着剤の接着樹脂層8を介して、厚さ12μmのPETフィルムの片面にケイ素酸化物膜3(40℃90%RHでの水蒸気透過率:0.1g/m/day)を形成したものを、ケイ素酸化物膜3が外側になるようにドライラミネートし、吸湿しないように接着樹脂層8を硬化するため、50℃×3日間真空下にてエージングを行い、図3に示すような層構造のガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-2>
 実施例2-1において、ALD原料ガスとしてテトラキスジメチルアミノチタンを用いてALD膜5を成膜する以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-3>
 実施例2-1において、ALD原料ガスとしてテトラキスエチルメチルアミノハフニウムを用いてALD膜5を成膜する以外は、実施例1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-4>
 実施例1において、ALD原料ガスとしてトリメチルアルミニウムを用いてALD膜5を成膜する以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-5>
 実施例1において、ケイ素酸化物成膜工程で、高周波発振器の出力を100Wとする以外は実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-6>
 実施例2-1において、ケイ素酸化物成膜工程で、プラズマ処理の時間を100秒とし、ALD膜成膜工程で、ALDサイクルを5回としてALD膜5を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-7>
 実施例2-1において、ALD膜成膜工程で、ALDサイクルを100回としてALD膜5を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-8>
 実施例2-1において、ALD膜成膜工程で、ALDサイクルを80回とする以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-9>
 実施例2-1において、ALD膜成膜工程で、ALDサイクルを45回とする以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-10>
 実施例2-1において、ALD膜成膜工程で、ALDサイクルを5回とする以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-11>
 実施例2-1において、ケイ素酸化物成膜工程で、プラズマ処理の時間を10秒とし、ALD膜成膜工程で、ALDサイクルを2回とする以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-12>
 実施例2-1において、吸湿剤がポリアリルアミンに対して50重量部になるように配合して水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-13>
 実施例2-1において、吸湿剤がポリアリルアミンに対して1000重量部になるように配合して水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-14>
 実施例2-1において、架橋剤であるγ-グリシドキシプロピルトリメトキシシランがポリアリルアミンに対して7重量部になるようにポリマー溶液と架橋剤溶液とを混合し、さらに、吸湿剤がポリアリルアミンに対して375重量部になるように配合して水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-15>
 実施例2-1において、架橋剤であるγ-グリシドキシプロピルトリメトキシシランがポリアリルアミンに対して50重量部になるようにポリマー溶液と架橋剤溶液とを混合し、さらに、吸湿剤がポリアリルアミンに対して525重量部になるように配合して水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-16>
 実施例2-1において、架橋剤であるγ-グリシドキシプロピルトリメトキシシランを配合せず、さらに、吸湿剤がポリアリルアミンに対して150重量部になるように混合して水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体を11得た。
<実施例2-17>
 実施例2-1において、カチオン性ポリマーとして、ポリエチレンイミン(純正化学製、ポリエチレンイミン10000)を用いて水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-18>
 実施例2-1において、架橋剤として、β-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシランを用いて水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-19>
 実施例2-1において、架橋剤であるγ-グリシドキシプロピルトリメトキシシランをポリアリルアミンに対して16重量部になるようにポリマー溶液と架橋剤溶液とを混合し、さらに架橋剤として、1,2―シクロヘキサンジカルボン酸ジグリシジルをポリアリルアミンに対して4重量部になるように配合して水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-20>
 実施例2-1において、コーティング液中の溶媒を、水の替わりに水/アセトン混合溶媒(重量比で80/20)を用い、架橋剤として、1,2―シクロヘキサンジカルボン酸ジグリシジルをポリアリルアミン100重量部に対して20重量部になるように配合し、さらに、吸湿剤がポリアリルアミンに対して180重量部になるように配合して水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<実施例2-21>
 イオン交換樹脂(オルガノ製、アンバーライト200CT)を用いて、上記ポリアクリル酸Naの架橋物(HU-820E)のNa塩型カルボキシル基をH型カルボキシル基に変換した後、水酸化カリウムの1N水溶液を用いて、カリウム塩型カルボキシル基を有するポリアクリル酸Kの架橋物(水分散品、固形分10%、平均粒径D50:70nm、中和率80%)を得た。
 吸湿剤として、上記のポリアクリル酸Kの架橋物を用いて水分トラップ層7を形成した以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<比較例2-1>
 実施例2-1において、ALD膜5を設けなかった以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<比較例2-2>
 実施例2-6において、ALD膜5を設けなかった以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<比較例2-3>
 実施例2-7において、ALD膜5を設けなかった以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
<比較例2-4>
 実施例2-12において、ALD膜5を設けなかった以外は、実施例2-1と同様の方法でガスバリア性積層構造体11を得た。
 上記の実施例及び比較例で作製された試料のガスバリア積層構造体11について、層構造を表2及び3に示し、前述した方法で測定した各種特性の評価結果を表4、表5に示した。
 尚、表中、Ex.は実施例、Com.は比較例を示す。
 また、用いた各材料の略号は、次のとおりである。
  C-Polymer:カチオン性ポリマー
  K-PolyAc:K塩型ポリアクリル酸架橋粒子
  γ-GPrTMS:γ-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン
  β-EpCyEtTMS:
   β-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン
 1,2-CyDCADG:
   1,2-シクロヘキサンジカルボン酸ジグリシジル
 さらに、表中の吸湿剤の量は、カチオン性ポリマー100重量部当りの量で示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000006
  1:プラスチック基材
  3:無機酸化物層
  5:ALD膜(原子層堆積法による極薄金属酸化物膜)
  7:水分トラップ層
 10:ガスバリア性積層体

Claims (7)

  1.  無機酸化物層上に原子層堆積法による極薄金属酸化物膜が形成されているガスバリア性積層体であって、該無機酸化物層がSi及びAlの少なくとも一方を含む金属酸化物若しくは金属酸窒化物から形成されており、該無機酸化物層の厚みd1と極薄金属酸化物膜の厚みd2との比(d1/d2)が3~50であることを特徴とするガスバリア性積層体。
  2.  前記極薄金属酸化物膜の厚みd2が0.5~9nmの範囲にある請求項5に記載のガスバリア性積層体。
  3.  前記極薄金属酸化物の密度が4.2g/cm以上である請求項1に記載のガスバリア性積層体。
  4.  前記無機酸化物層がプラスチック基材上に形成されている請求項1に記載のガスバリア性積層体。
  5.  前記無機酸化物層のMOH/MO比(MはSiまたはAl)が0.1以下である請求項1に記載のガスバリア性積層体。
  6.  前記極薄金属酸化物膜がTi、Zr、Hf或いはAlを含んでいる請求項1に記載のガスバリア性積層体。
  7.  前記無機酸化物層が、Siを含む酸化物により形成されており、前記極薄金属酸化物膜の上には、カチオン性材料が形成されている請求項1に記載のガスバリア性積層体。
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