WO2015107907A1 - ダイヤモンド結晶、ダイヤモンド素子、磁気センサー、磁気計測装置、および、センサーアレイの製造方法 - Google Patents

ダイヤモンド結晶、ダイヤモンド素子、磁気センサー、磁気計測装置、および、センサーアレイの製造方法 Download PDF

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nitrogen
plane
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波多野 睦子
孝之 岩崎
憲和 水落
牧野 俊晴
宙光 加藤
山崎 聡
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独立行政法人科学技術振興機構
独立行政法人産業技術総合研究所
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    • G01R33/323Detection of MR without the use of RF or microwaves, e.g. force-detected MR, thermally detected MR, MR detection via electrical conductivity, optically detected MR

Definitions

  • the present invention relates to a technique for enabling high-sensitivity magnetic measurement, and more particularly to a diamond crystal capable of high-sensitivity magnetic measurement at room temperature and in the atmosphere, a magnetic sensor using the same, and the like.
  • Diamond can be said to be a specific crystal lattice in which the color center in the crystal behaves like “trapped atoms” at room temperature and in the atmosphere.
  • nitrogen (N) substituted with carbon is used.
  • an atomic vacancy (V) located adjacent to this nitrogen, and has a spin S 1.
  • Non-Patent Document 1 by D Le Sage et al.
  • Non-Patent Document 2 by JR Maze et al.
  • sensors using NV - center at room temperature It has been reported that the magnetic detection limit far exceeds that of Hall elements and impedance sensors, and is comparable to that of SQUID in theoretical calculations (see Non-Patent Document 3 by VM Acosta et al.).
  • FIG. 2 is a diagram for explaining the principle of magnetic detection using the NV ⁇ center.
  • the NV ⁇ center can have three electron spin states of
  • is the energy difference between the
  • is the gyromagnetic ratio
  • B is the magnetic field strength.
  • the NV ⁇ center in the ground state When the NV ⁇ center in the ground state is irradiated with green light, it emits red fluorescence. However, if the ground state has an electron spin of
  • FIG. 3 is a diagram for conceptually explaining how the luminance decrease point of red fluorescence during frequency sweep of microwaves changes depending on the magnetic field strength.
  • the horizontal axis is the frequency of the microwave (GHz)
  • the vertical axis is the red fluorescence luminance (arbitrary scale)
  • the split ( ⁇ f) of the microwave frequencies (f1, f2) increases in proportion to the magnetic field strength.
  • Non-Patent Document 4 Based on such a principle, the result of measuring a two-dimensional distribution of a weak magnetic field of about 1 mT has also been reported (see Non-Patent Document 4 by S. Hong), and in principle it is possible to measure a magnetic field at the fT level. There is also a report that it is (see Non-Patent Document 3).
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-110489
  • Patent Document 2 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-121747
  • Patent Document 3 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-121748
  • the present invention has been made in view of such problems, and the object thereof is suitable for enabling two-dimensional magnetic measurement with higher sensitivity at room temperature and in the atmosphere. It is an object of the present invention to provide a diamond crystal, and a diamond element, a magnetic sensor, and a magnetic measuring device using the same.
  • the diamond crystal of the first aspect according to the present invention is a composite of nitrogen (N) substituted with carbon atoms and vacancies (V) adjacent to the nitrogen on the surface or in the vicinity of the surface. It has an NV region including a body (NV center), and the NV region has a donor concentration equal to or higher than the concentration of the NV center.
  • the diamond crystal according to the second aspect of the present invention includes an NV region including a composite (NV center) of nitrogen (N) substituted with a carbon atom and vacancies (V) adjacent to the nitrogen on or near the surface.
  • the crystal plane of the NV region is a ⁇ 111 ⁇ plane or a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with respect to the ⁇ 111 ⁇ plane, and the main axis of the NV center is orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane ⁇ 111 > Axis.
  • the donor concentration is in the range of 10 ⁇ 10 15 cm ⁇ 3 to 10 ⁇ 10 19 cm ⁇ 3 .
  • the NV region is formed in a nitrogen-doped diamond crystal film grown by a CVD method or a high temperature high pressure method (HPHT method).
  • the element using the diamond according to the first aspect of the present invention includes a first complex (NV center) including a nitrogen (N) substituted with a carbon atom of the diamond and a vacancy (V) adjacent to the nitrogen.
  • NV center a first complex
  • N nitrogen
  • V vacancy
  • a second region having a donor concentration higher than that of the first region is formed in contact with the region.
  • the first regions are two-dimensionally periodically arranged in a plane, and a second region having a donor concentration higher than that of the first region is formed on each side surface or the periphery of the first region. ing.
  • the second region is made of n-type diamond, and the first region is made of i-type or p-type diamond.
  • the second region is made of n-type diamond, and the first region is a depletion region formed by a pn junction.
  • the second region has an n + type conductivity type with a donor level of 1 ⁇ 10 18 cm ⁇ 3 or more.
  • An element using diamond according to the second aspect of the present invention includes a first complex (NV center) including a nitrogen (N) substituted with a carbon atom of the diamond and a vacancy (V) adjacent to the nitrogen.
  • NV center a first complex
  • N nitrogen
  • V vacancy
  • An electrode for applying a positive potential is provided on one main surface side of the region through an insulating film.
  • the first regions are two-dimensionally periodically arranged in a plane, and an electrode for applying a positive potential is provided on one main surface side of each of the first regions via an insulating film. It has been.
  • a second region having an NV center concentration lower than that of the first region is formed in contact with the first region.
  • the crystal plane of the first region is a ⁇ 111 ⁇ plane or a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with respect to the ⁇ 111 ⁇ plane, and the main axis of the NV center is orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane. ⁇ 111> axis.
  • the first region has a donor concentration equal to or higher than the concentration of the NV center of the first region.
  • the donor concentration is in the range of 10 ⁇ 10 15 cm ⁇ 3 to 10 ⁇ 10 19 cm ⁇ 3 .
  • the diamond is a diamond film formed on a substrate by a CVD method or a high temperature high pressure method (HPHT method).
  • an electric field generation unit having at least two electrodes provided to face each other is further provided on the upper or lower surface side or side surface side of the diamond crystal part including the first region.
  • the periodic arrangement of the first region is, for example, a square in which the center of the first region is located at each lattice point of a two-dimensional square lattice when the plane is viewed from above. It is a periodic array.
  • the periodic arrangement of the first region may be, for example, six regular hexagonal vertices centered on the center position of the specific first region when the plane is viewed from above. Each is a hexagonal packed arrangement in which the center of the other first region is located.
  • the magnetic sensor according to the present invention is an optical signal emitted from the surface of each of the above-described diamond element and the first region of the diamond element, the optical signal generated due to electron spin resonance at the NV center. It has an optical sensor to detect.
  • a magnetic measurement apparatus is a magnetic measurement apparatus including the above-described magnetic sensor, a sample stage provided to face the diamond element, and an optical system that irradiates the diamond element with blue-green light; A microwave generation unit for irradiating the diamond element with a variable frequency microwave; and a signal processing unit for processing an optical signal generated due to the electron spin resonance at the NV center detected by the optical sensor. Magnetic measuring device.
  • the magnetic measurement device preferably further includes an electric field generation unit having at least two electrodes provided to face each other on the upper and lower surfaces or the side surfaces of the diamond crystal part including the first region. Yes.
  • a columnar portion periodically arranged in a two-dimensional manner is formed as a first region on the surface of a plate-like diamond, and the diamond is formed in each of the first regions.
  • a second region having a higher donor concentration than the first region is formed.
  • an electrode for applying a positive potential may be provided on the back side of the first region via an insulating film.
  • the sensor array manufacturing method is a heterogeneous-conductivity-type joint composed of diamond on the main surface of a plate-like diamond, and in the region of the joint, diamond carbon atoms A plurality of junctions of different conductivity types in which a composite (NV center) of nitrogen (N) substituted with nitrogen and vacancies (V) adjacent to the nitrogen is formed.
  • NV center composite of nitrogen
  • V nitrogen and vacancies
  • NV center the complex (NV center) of nitrogen (N) substituted with carbon atoms and vacancies (V) adjacent to the nitrogen is in a negatively charged state (NV ⁇ ). It becomes possible.
  • the NV - center spin state can be aligned in one direction, resulting in sharper peaks in optically detected magnetic resonance (ODMR) signals and improved contrast. To do.
  • the NV center generated in the diamond crystal can be maintained in a negatively charged state (NV ⁇ ).
  • the magnetic sensor provided with the diamond element according to the present invention can perform two-dimensional magnetic measurement at room temperature and in the atmosphere with higher sensitivity than conventional ones.
  • NV center nitrogen-hole composite_body
  • FIG. 6 is a diagram for explaining the relationship between the magnetic field direction and the main axis of the NV center when they are in different ⁇ 111> directions (FIG. 5B).
  • FIG. 5 is a diagram showing an ODMR signal obtained from a sample in which a NV - center is formed at a high concentration in a diamond thin film having a main surface of (111) formed by a CVD method. It is a band figure for demonstrating the basic concept of the sensor array of the 1st aspect which concerns on this invention. It is a figure for demonstrating an example of the band figure of the sensor array of the 1st aspect which concerns on this invention. It is a band figure for demonstrating the basic concept of the sensor array of the 2nd aspect which concerns on this invention. It is a figure for demonstrating notionally the 1st process example which manufactures the sensor array which concerns on this invention.
  • the present invention is directed to a diamond crystal, the same effect is expected in other wide band gap semiconductors such as silicon carbide.
  • the diamond element according to the present invention will be described as a sensor array in which the first region including the NV center is two-dimensionally periodically arranged in a plane.
  • the present invention is not limited to this. It may not be a thing and it may have a single 1st field, and the use is not limited to a sensor.
  • the diamond crystal of the first aspect according to the present invention is preferably a plate-like diamond crystal, and at least on the surface or in the vicinity of the surface, nitrogen (N) substituted with carbon atoms and vacancies adjacent to the nitrogen ( V) has an NV region containing a complex (NV center), and this NV region has a donor concentration higher than the concentration of the NV center.
  • NV 0 center that is electrically neutral is formed in an undoped diamond crystal, and the NV 0 center is negatively charged by a method such as heat treatment after generating defects by electron beam irradiation or the like. - If the diamond crystals forming the center, when this irradiated with light, NV - part of the central becomes NV 0 centers, after light irradiation NV - center and the NV 0 centers ratio of approximately 7: about 3 It is known that
  • the NV ⁇ center is formed on the n-type diamond crystal formed by the CVD method. It has been clarified that the charged state is maintained, that is, the NV ⁇ center exists stably even after light irradiation.
  • NV - around the formed n-type diamond crystals (FIG. 4 (A)) and Ann doped diamond crystals (FIG. 4 (B)), after irradiation with light of wavelength 532 nm
  • NV - it is a diagram showing a result of measuring the emission in the light irradiation wavelength 593nm from the center and NV 0 centers.
  • the horizontal axis is the number of photons observed during light irradiation at a wavelength of 593 nm
  • the vertical axis is the number of events in which each photon number is observed. From this measurement result, it exists in the diamond crystal after light irradiation. to NV - you can know the center and NV 0 centers ratio of.
  • the results shown in FIG. 4A show that the concentration of the NV ⁇ center is approximately 1 ⁇ 10 11 cm ⁇ 3 and phosphorus (P) is doped at a concentration of approximately 1 ⁇ 10 15 cm ⁇ 3 . From n-type diamond crystals.
  • the signal from the NV ⁇ center is observed from the undoped diamond crystal (FIG. 4B), and the ratio (NV ⁇ center: NV 0 center) is 0.74: 0.26. That is, the NV ⁇ center in this undoped diamond crystal is 26% NV 0 center by light irradiation.
  • the donor concentration in the NV region may be higher than the concentration at the NV center in the region, for example, 1 ⁇ 10 12 cm ⁇ 3 or more.
  • 10 ⁇ It is preferably in the range of 10 15 cm ⁇ 3 to 10 ⁇ 10 19 cm ⁇ 3 .
  • P phosphorus
  • N nitrogen
  • As arsenic
  • S sulfur
  • a composite of boron (B) and hydrogen (H) may be used.
  • Such a diamond crystal may be a natural one or artificially synthesized by a high temperature / high pressure method (HPHT method) or a CVD method (chemical vapor deposition method) using microwave plasma, for example, on a diamond substrate.
  • HPHT method high temperature / high pressure method
  • CVD method chemical vapor deposition method
  • Diamond synthesized by the CVD method can easily introduce a dopant such as phosphorus that becomes n-type during growth, and nitrogen that is an NV center can also be introduced during film formation.
  • the diamond crystal is preferably an Ib type diamond crystal, and is preferably a single crystal from the viewpoint of aligning the plane orientation of the NV region and a long phase coherence time of electron spin.
  • the plane orientation is preferably a ⁇ 110 ⁇ plane, a ⁇ 100 ⁇ plane, or a ⁇ 111 ⁇ plane, and particularly preferably a ⁇ 111 ⁇ plane for reasons described later.
  • the crystal face has a slight off angle from the ⁇ 111 ⁇ face.
  • the off-angle is appropriately determined, but generally it is preferably within ⁇ 10 °.
  • the diamond crystal of the second aspect according to the present invention is preferably a plate-like diamond crystal, and at least on the surface or in the vicinity of the surface, nitrogen (N) substituted with carbon atoms and vacancies adjacent to the nitrogen ( V) having an NV region containing the composite (NV center), and the crystal plane of this NV region is a ⁇ 111 ⁇ plane or a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with respect to the ⁇ 111 ⁇ plane,
  • the central principal axis is the ⁇ 111> axis orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane.
  • the main axis of the NV center is the [111] axis orthogonal to the (111) plane.
  • the donor concentration in the NV region is equal to or higher than the concentration of the NV center in the region, and in order to realize efficient electron supply to the NV 0 center, 10 ⁇ 10 15 cm ⁇ 3 to 10 ⁇ It is preferably in the range of 10 19 cm ⁇ 3 .
  • the NV region is formed in a nitrogen-doped diamond crystal film grown by, for example, a CVD method or an HPHT method.
  • the NV center in the diamond crystal has C 3v symmetry with the ⁇ 111> axis as the main axis, and any of the four carbons (C) adjacent to the vacancy (V) is nitrogen ( N), there are four equivalent orientations, and a dipole is randomly formed with respect to four equivalent ⁇ 111> axes.
  • FIG. 5 shows a case where the main axis of the NV center is in the same direction ([111] direction) when the magnetic field is generated in the direction of [111] (FIG. 5A). It is a figure explaining the relationship between the magnetic field direction and the principal axis of NV center when it exists in the ⁇ 111> direction different from [111] (FIG.5 (B)). In the former case, the angle ⁇ formed by the main axis of the NV center (that is, the axial direction of the dipole) and the magnetic field direction is zero, and in the latter case, the angle ⁇ is approximately 109 °.
  • the spin states of these NV ⁇ centers should be aligned in one direction, in other words, the axes of the NV centers should be aligned. Is required.
  • the plane orientation of the NV region is the ⁇ 111 ⁇ plane (or a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with the ⁇ 111 ⁇ plane)
  • the main axis at the NV center is It became clear that it can be aligned with the ⁇ 111> axis orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane.
  • the ⁇ 111 ⁇ plane is used to include a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with respect to the ⁇ 111 ⁇ plane.
  • FIG. 6 shows a result of alignment of an NV - centered principal axis in a diamond thin film whose main surface is formed by the CVD method with the [111] axis, and results in optically detected magnetic resonance (ODMR). It is a figure which shows the experimental result which confirmed that the peak position of the (Resonance) signal was also prepared.
  • such a diamond crystal does not need to be grown by a CVD method, and may be a nitrogen-doped diamond crystal grown by another method such as an HPHT method. In addition to doping nitrogen during the crystal growth of diamond, it may be doped by ion implantation after crystal growth.
  • Table 1 is a table summarizing the results of examining the proportions of the NV central axes for each diamond synthesis method (and nitrogen doping method).
  • Samples A, B, and D are all diamond synthesized by a CVD method on a (111) plane diamond substrate.
  • the CVD conditions are such that the dilution concentration of methane with respect to hydrogen is 0.25 to 1%, and the gas pressure, power, and substrate temperature are in the range of 130 Torr to 20 kPa, 400 to 3,700 W, and 850 to 1100 ° C., respectively. It is preferable to set to.
  • samples A and D formed NV centers by doping nitrogen during the crystal growth of diamond.
  • an NV center was formed by growing nitrogen crystals and then doping nitrogen ( 15 N) by ion implantation.
  • 15 N doping nitrogen
  • the ion implantation it is preferable to implant 15 N ions at an acceleration voltage of about 30 keV while annealing the substrate to a temperature of about 600 ° C.
  • the dose is set to 10 9 to 10 16 cm ⁇ 2 and, in order to reduce crystal defects, annealing is preferably performed in an Ar atmosphere at a temperature of about 1000 ° C. for about 2 hours after ion implantation.
  • Samples C and E respectively, a diamond synthesized by IIa HPHT method and Ib HPHT method, sample C, as in the sample B, doped with nitrogen (15 N) by an ion implantation method after the crystal growth of diamond As a result, an NV center was formed.
  • Sample E was doped with nitrogen during the crystal growth of diamond, and further formed a NV center by electron beam irradiation after crystal growth of diamond. This electron beam irradiation is performed under the conditions of an acceleration voltage of 0.5 MeV and an electron beam concentration of 1.5 ⁇ 10 16 cm ⁇ 2. After the electron beam irradiation, 1000 nm in an Ar atmosphere is used to reduce crystal defects. Annealing is performed at a temperature of 2 ° C. for 2 hours.
  • FIG. 6 (A) is a confocal laser fluorescence microscope image, and each of the circle marks in this figure is a single NV - center.
  • FIG 6 (B) These single NV - a ODMR signal from the center, any single NV - also from the center, the signal having a peak at the same frequency is obtained. Incidentally, such a ODMR measuring 50 single NV - was performed on the center, any of a single NV - center, the same spectrum as that shown in was obtained FIG 6 (B).
  • the NV center in the diamond crystal has C 3v symmetry with the ⁇ 111> axis as the main axis, and when a dipole is randomly formed with respect to four equivalent ⁇ 111> axes,
  • the ODMR signal also changes depending on the direction of the applied magnetic field. For example, if a magnetic field is applied from four different directions [111], [1-1-1], [-11-1], and [ ⁇ 1-11], the ODMR obtained under each magnetic field application condition The signals are different from each other.
  • “ ⁇ 1” means “first bar”.
  • the plane orientation of the NV region is the ⁇ 111 ⁇ plane and the main axis of the NV center is aligned with the ⁇ 111> axis orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane, the above four different types are obtained as shown in FIG. Even if a magnetic field is applied from the direction, the drop frequency (resonance frequency) of the ODMR signal is the same.
  • FIG. 7 (A) is obtained from a sample in which an NV ⁇ center is formed at a relatively high concentration (approximately 1 ⁇ 10 14 cm ⁇ 3 ) in a diamond thin film whose main surface is formed by CVD (111).
  • the horizontal axis represents the microwave frequency (MHz), and the vertical axis represents the ODMR red fluorescence intensity (arbitrary scale).
  • the main axis of the NV ⁇ center formed in this diamond thin film is the ⁇ 111> axis orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane. In other words, all of the NV ⁇ center principal axes are aligned with the ⁇ 111> axis orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane.
  • the confocal laser microscope is used to observe light emission from a single NV center while irradiating a high frequency (2.55-2.85 GHz) and applying a magnetic field of [111]. It is the result of irradiating about 16 mT in the direction and measuring at room temperature.
  • a sample in which the main axis of the NV center is aligned with a specific ⁇ 111> axis (here, [111] axis) out of four equivalent ⁇ 111> axes is obtained as follows, for example.
  • Nitrogen gas, methane gas, and hydrogen gas are introduced into a reaction chamber on a diamond substrate having an Ib type (111) surface (with an off angle of 10 degrees or less) synthesized by a high temperature and high pressure method, and plasma is obtained by microwave CVD.
  • the film is formed inside.
  • the CVD conditions are, for example, a total gas pressure of 25 Torr, a gas flow rate of 400 sccm, a microwave power of 750 W, and a mixing ratio of methane and hydrogen of about 0.05%.
  • the substrate temperature is about 800 ° C.
  • the diamond film obtained by such a CVD method is mainly oriented in the (111) plane, and an NV center having [111], which is the ⁇ 111> axis orthogonal to the (111) plane, is generated in the film. Is done. Nitrogen is desirably introduced during film formation.
  • Such a diamond crystal may have a ⁇ 111 ⁇ plane as a main surface, and may be a natural one, a CVD using a high-temperature high-pressure method (HPHT) or microwave plasma, or an artificially synthesized one. It is preferably an Ib type diamond crystal, and can be obtained, for example, by homoepitaxially growing a diamond thin film by a CVD method on a diamond substrate having a ⁇ 111 ⁇ plane as a main surface.
  • the diamond thin film is preferably a single crystal, but the same effect can be obtained even if it is polycrystalline or nanodiamond.
  • Nitrogen is preferably introduced at the time of CVD film formation, but nitrogen can also be introduced by ion implantation after film formation.
  • the NV region preferably has a donor concentration equal to or higher than the concentration of the NV center. Further, the donor concentration in the NV region may be higher than the concentration at the NV center of the region, for example, 1 ⁇ 10 12 cm ⁇ 3 or more.
  • P phosphorus
  • N nitrogen
  • S sulfur
  • a composite of boron (B) and hydrogen (H) may be used.
  • the sensor array according to the first aspect of the present invention is an element using diamond, which is a composite (NV center) of nitrogen (N) in which diamond carbon atoms are substituted and vacancies (V) adjacent to the nitrogen. And a second region having a higher donor concentration than the first region.
  • the first regions are two-dimensionally periodically arranged in a plane, and a second region having a donor concentration higher than that of the first region is formed on each side surface or around the first region. .
  • the energy band of the first region is curved due to the presence of the second region, and electron injection due to diffusion from the second region is likely to occur due to the band curvature.
  • the electrons injected into the first region are captured by the NV center (NV 0 center) in an electrically neutral state in the first region, and a negative charge that enables magnetic detection with high spatial resolution and high sensitivity.
  • NV center NV 0 center
  • FIG. 8 is a band diagram for explaining the basic concept of the sensor array according to the first aspect of the present invention.
  • the first region described above is a substantially undoped p ⁇ type diamond
  • the second region surrounding the first region is an n + type diamond.
  • the energy band of the first region is bent due to the presence of the second region, and this band bending causes electron injection due to diffusion from the second region. That's fine. Therefore, for example, the second region may be made of n-type diamond, and the first region may be made of i-type or p-type diamond.
  • the second region may be made of n-type diamond, and the first region may be a depletion region formed by a pn junction.
  • NV center of nitrogen (N) substituted with diamond carbon atoms and vacancy (V) adjacent to the nitrogen is formed in the junction region. It is possible to form a depletion region formed in the junction of the different conductivity type formed.
  • FIGS. 8A and 8B show band diagrams of n ⁇ type diamond and n + type diamond, respectively, and NV ⁇ centers formed in at least the first region.
  • the energy level (NV - level) of is located in the band gap of the diamond crystal.
  • the first region (n ⁇ type) having the band diagram shown in FIG. 8A (a) has a higher donor concentration than the first region as shown in FIG. 8A (b).
  • the energy band in the first region is curved in the boundary region with the second region.
  • the NV ⁇ center formed in the diamond crystal is stable at room temperature, but when subjected to a disturbance such as light irradiation, the trapped electrons are released and become the NV 0 center. Once the NV 0 center is reached, it remains in the crystal with the NV 0 center until the electrons are captured again.
  • the energy band in the first region is curved, and electrons are diffused and injected from the second region by this band bending. Electron capture to the NV 0 center is possible.
  • the curvature of the energy band occurs only in the boundary region with the second region.
  • the first region is reduced in density by reducing the width of the first region.
  • the energy band can be bent substantially throughout the first region. In other words, it is possible to realize “depletion” over the entire width of the first region by narrowing the width of the first region.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining an example of a band diagram of the sensor array according to the first aspect of the present invention.
  • the first region is i-type (or low-concentration p-type: p ⁇ -type), and this first region is surrounded by the n + -type second region.
  • the energy band is curved throughout the first region (FIG. 9A).
  • the curvature of the energy band is a central region of an i-type (or low-concentration p ⁇ -type) first region, and the periphery thereof is an n + -type.
  • the columnar pillar (FIGS.
  • FIGS. 9B and 9A serving as the second region and the central region of the first region are i-type (or low-concentration p ⁇ -type) regions around the n + -type.
  • This can be realized by, for example, forming a prismatic pillar (FIGS. 9B and 9B) that is the second region.
  • the first region is separated from the boundary between the first region and the second region. On the side, a depletion layer of about 0.5 ⁇ m is formed from both boundaries. Therefore, when the width of the first region is about 1.0 ⁇ m, the above-described effect can be achieved in almost the entire region of the first region.
  • the width of the first region is about 0.4 ⁇ m, and when the acceptor concentration in the first region is about 3 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3. If the width of the first region is about 0.7 ⁇ m, the above-described effect can be obtained over almost the entire region of the first region.
  • the plane orientation of the first region is the ⁇ 111 ⁇ plane, and the main axis of the NV center is aligned with the ⁇ 111> axis orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane.
  • the first region preferably has a donor concentration equal to or higher than the concentration of the NV center of the first region, and the second region has an n + type conductivity having a donor level of 1 ⁇ 10 18 cm ⁇ 3 or more. It is preferable to have a mold.
  • P phosphorus
  • N nitrogen
  • As arsenic
  • S sulfur
  • a composite of boron (B) and hydrogen (H) may be used.
  • the concentration of the NV center in the second region is preferably lower than the concentration of the NV center in the first region.
  • the above-mentioned diamond is preferably a nitrogen-doped diamond film formed on a substrate by a CVD method, for example.
  • a diamond film is obtained, for example, as follows. Nitrogen gas, methane gas, and hydrogen gas are introduced into a reaction chamber on a diamond substrate having an Ib type (111) surface (with an off angle of 10 degrees or less) synthesized by a high temperature and high pressure method, and plasma is obtained by microwave CVD. The film is formed inside.
  • the CVD conditions are, for example, a total gas pressure of 25 Torr, a gas flow rate of 400 sccm, a microwave power of 750 W, and a mixing ratio of methane and hydrogen of about 0.05%.
  • the substrate temperature is about 800 ° C.
  • the diamond film obtained by such a CVD method is mainly oriented in the (111) plane, and an NV center having [111], which is the ⁇ 111> axis orthogonal to the (111) plane, is generated in the film. Is done. Nitrogen is desirably introduced during film formation.
  • each of the first regions may be configured such that an electrode for applying a positive potential is provided on one main surface side (back surface side) via an insulating film.
  • columnar portions that are two-dimensionally periodically arranged on the surface of a plate-like diamond are formed as first regions, and diamonds are formed in each of the first regions.
  • NV center a complex of nitrogen (N) substituted with carbon atoms and vacancies (V) adjacent to the nitrogen, and surrounding each of the first regions;
  • a second region having a higher donor concentration than the region is formed and the energy band of the first region is curved as described above.
  • the sensor array according to the second aspect of the present invention is an element using diamond, which is a composite (NV center) of nitrogen (N) substituted with diamond carbon atoms and vacancy (V) adjacent to the nitrogen. ),
  • An electrode for applying a positive potential is provided on one main surface side (back surface side) of the first region including an insulating film.
  • the first regions are two-dimensionally periodically arranged in a plane, and an electrode for applying a positive potential is provided on one main surface side (back surface side) of each of the first regions via an insulating film.
  • a second region having an NV center concentration lower than that of the first region is formed in contact with the first region.
  • FIG. 10 is a band diagram for explaining the basic concept of the sensor array according to the second aspect of the present invention. Again, it is assumed that the first region is a substantially undoped n ⁇ -type diamond.
  • the NV ⁇ center formed in the diamond crystal tends to become the NV 0 center by releasing the trapped electrons when subjected to a disturbance such as light irradiation.
  • the energy band of the first region is curved near the interface with the insulating film, and the NV 0 center captures electrons again. Increases the probability.
  • the plane orientation of the first region is the ⁇ 111 ⁇ plane, and the main axis of the NV center is aligned with the ⁇ 111> axis orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane.
  • the first region preferably has a donor concentration equal to or higher than the concentration of the NV center of the first region.
  • P phosphorus
  • N nitrogen
  • As arsenic
  • S sulfur
  • a composite of boron (B) and hydrogen (H) may be used.
  • the concentration of the NV center in the second region is preferably lower than the concentration of the NV center in the first region.
  • the above diamond is preferably a diamond thin film formed on a substrate by a CVD method, for example.
  • a columnar portion that is two-dimensionally periodically arranged on the surface of a plate-like diamond is formed as a first region, and a diamond is formed in each of the first regions.
  • a second region having an NV center concentration lower than that of the region is formed, and an electrode for applying a positive potential is provided on each back surface side of the first region via an insulating film.
  • FIG. 11 is a diagram for conceptually explaining a process example for manufacturing the sensor array according to the present invention.
  • a diamond substrate 10 having a main surface of (111) is prepared (FIG. 11A), and the first region described above is arranged on the main surface of the diamond substrate 10 in order to periodically arrange the first regions in a plane. 1 mask 12 is formed (FIG. 11B). Then, the periphery of the region covered with the first mask 12 is removed by etching to form the columnar portions 11 periodically arranged in a two-dimensional manner (FIG. 11C).
  • the substrate 10 is, for example, a p-type single crystal diamond substrate doped with boron (B). In the case of p-type, the substrate 10 is p ⁇ -type (for example, the boron concentration is 10 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or less). (Doping amount) is preferable, and a resistivity (i-type) close to that of an intrinsic semiconductor is more preferable.
  • nitrogen (N) is ion-implanted in a state where the substrate surface around the columnar part 11 is protected by the second mask 13 to form an NV center in the columnar part 11 serving as the first region (FIG. 11 ( D)).
  • a single NV center can be formed in each of the columnar portions 11. Note that the same effect can be obtained even if nitrogen (N) is introduced to the whole without forming the second mask 13.
  • the surface of the columnar portion 11 and a partial region of the surface of the diamond substrate 10 are protected by the third masks 14 a and 14 b (FIG. 11E), and around the columnar portion 11.
  • An n + type diamond doped with phosphorus (P) is crystal-grown by a CVD method (FIG. 11F), after which the third masks 14a and 14b are removed, and a first region including the NV center is formed.
  • a sensor array that is two-dimensionally periodically arranged in a plane is obtained (FIG. 11G).
  • the pillars 16 are separated from each other.
  • a partial region on the surface of the diamond substrate 10 is protected by the third mask 14b.
  • the width of the columnar portion 11 serving as the first region is about 0.5 ⁇ m
  • the interval between the pillars 16 is about 1 ⁇ m.
  • FIG. 12 is a diagram for conceptually explaining another process example for manufacturing the sensor array according to the present invention.
  • a single crystal diamond substrate 10a having a main surface of (111) is prepared (FIG. 12A), and the main surface of the diamond substrate 10a is, for example, p-type (or i-type) by CVD.
  • a single crystal diamond thin film 10b is formed (FIG. 12B).
  • the single crystal diamond thin film 10b is p - type (for example, doped with a boron concentration of 10 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or less) or has a resistivity close to that of an intrinsic semiconductor in the case of p - type. It is preferable.
  • the diamond substrate 10a and the diamond thin film 10b correspond to the diamond substrate 10 described above.
  • the first mask 12 is formed on the main surface of the diamond substrate 10 in order to periodically arrange the first regions in a plane in a two-dimensional manner.
  • FIG. 12C the periphery of the region covered with the first mask 12 is removed by etching to form columnar portions 11 that are two-dimensionally periodically arranged (FIG. 12D).
  • the shape of the columnar part is not particularly limited, and the cross section may be a rectangle or a circle, but from the viewpoint of isotropic, the cross section is a circle, that is, a circle.
  • the columnar pillar 16 is preferable.
  • the above-described periodic arrangement of the first region is, for example, a square periodic arrangement in which the center of the first region is located at each lattice point of the two-dimensional square lattice when the diamond surface is viewed from above.
  • the periodic arrangement of the above-described first region has other first hexagonal vertices centered on the center position of the specific first region.
  • FIG. 13 is a diagram for conceptually explaining another process example for manufacturing the sensor array according to the present invention.
  • the single crystal diamond thin film 10b is formed by the CVD method, not by the ion implantation method. During film formation, nitrogen is doped to generate NV centers.
  • a single-crystal diamond substrate 10a having a main surface of (111) is prepared (FIG. 13A), and the main surface of the diamond substrate 10a is doped with nitrogen (N) by a CVD method.
  • a single crystal diamond thin film 10b is formed (FIG. 13B).
  • the diamond substrate 10a and the diamond thin film 10b correspond to the diamond substrate 10 described above.
  • a mixed gas of hydrogen, methane, and nitrogen is used as a process gas. Nitrogen is taken in during the CVD reaction, and an NV center has already been generated in the single-crystal diamond thin film 10b after film formation.
  • annealing may be performed after irradiation with an electron beam or ion implantation of helium.
  • a first mask 12 is formed on the main surface of the diamond film 10b in order to periodically arrange the first regions in a plane in a two-dimensional manner (FIG. 13C), and is covered with the first mask.
  • the periphery of the region is removed by etching to form the columnar portions 11 that are two-dimensionally periodically arranged (FIG. 13D).
  • the first mask 12 is not removed, and n + type diamond doped with phosphorus (P) is grown around the columnar portion 11 by the CVD method to form the second region 15 (FIG. 13). (E)).
  • a sensor array is obtained in which the first region 11 including the NV center is surrounded by the second region 15 and periodically arranged two-dimensionally in a plane ( FIG. 13 (F)).
  • the sensor array according to the present invention only needs to bend the energy band of the first region due to the presence of the second region and cause electron injection due to diffusion from the second region by this band bending.
  • the second region may be made of n-type diamond
  • the first region may be a depletion region formed in a different conductivity type junction including a pn junction.
  • the junction of such heterologous conductivity type is described as a so-called pn junction may be a "pn junction” or "in junction”.
  • Such a sensor array has a pn junction made of diamond on the main surface of a plate-like diamond, and nitrogen (N) in which carbon atoms of diamond are substituted in a depletion region formed in the pn junction. ) And a vacancy (V) complex (NV center) adjacent to the nitrogen is formed to form a plurality of pn junctions.
  • FIG. 14 is a diagram for conceptually explaining a process example for manufacturing such a sensor array.
  • a single crystal diamond substrate 10 having a main surface of (100) is prepared (FIG. 14A), and this diamond is prepared.
  • a p-type (or i-type) single crystal diamond thin film 17 is formed on the main surface of the substrate 10 by CVD (FIG. 14B).
  • the single crystal diamond thin film 10b is p - type (for example, doped with a boron concentration of 10 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or less) or has a resistivity close to that of an intrinsic semiconductor in the case of p - type. It is preferable.
  • a mixed gas of hydrogen, methane, and nitrogen is used as a process gas.
  • nitrogen (N) to form the NV center is introduced into the film during the CVD process.
  • the present invention is not limited to this, and the NV center can be formed in the film also by nitrogen ion implantation after the CVD film is formed.
  • a mask 18 is formed on the main surface of the p-type diamond film 17 (FIG. 14C), and the periphery of the region covered with the mask 18 is removed by etching, and the columnar portions periodically arranged two-dimensionally. 17a is formed (FIG. 14D). Thereafter, the mask 18 is not removed, and n + type diamond 19 doped with phosphorus (P) is grown around the columnar portion 17a by the CVD method to form a second region (FIG. 14E). ). Thereafter, when the mask 18 is removed, a nitrogen (N) in which a carbon atom of the diamond is substituted into a depletion region formed of a diamond on a main surface of the plate-like diamond and formed of the diamond. ) And a hole (V) complex (NV center) adjacent to the nitrogen, a sensor array having a plurality of pn junctions is obtained (FIG. 14F).
  • FIG. 15 is also a diagram for conceptually explaining a process example for manufacturing the sensor array.
  • a single crystal diamond substrate 10 having a main surface of (111) is prepared (FIG. 15A).
  • a p-type (or i-type) single crystal diamond thin film 17 is formed on the main surface 10 by CVD (FIG. 15B).
  • the single crystal diamond thin film 10b is p - type (for example, doped with a boron concentration of 10 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or less) or has a resistivity close to that of an intrinsic semiconductor in the case of p - type. It is preferable.
  • a mixed gas of hydrogen, methane, and nitrogen is used as a process gas.
  • nitrogen (N) to form the NV center is introduced into the film during the CVD process.
  • the present invention is not limited to this, and the NV center can be formed in the film also by nitrogen ion implantation after the CVD film is formed.
  • a mask 18 is formed on the main surface of the p-type diamond film 17 (FIG. 15C), and n + -type diamond 19 doped with phosphorus (P) is formed around the region covered with the mask 18.
  • a second region is formed by crystal growth using a CVD method (FIG. 15D).
  • nitrogen in which a carbon atom of the diamond is substituted into a depletion region formed in the pn junction portion, which is a pn junction portion made of diamond, is formed on the main surface of the plate-like diamond.
  • a sensor array having a plurality of pn junctions in which a complex of N) and a hole (V) adjacent to the nitrogen (NV center) is formed is obtained (FIG. 15E).
  • FIG. 16 is also a diagram for conceptually explaining a process example for manufacturing the sensor array.
  • a single crystal diamond substrate 10 having a main surface of (111) is prepared (FIG. 16A).
  • a p-type (or i-type) single crystal diamond thin film 17 is formed on the main surface 10 by CVD (FIG. 16B).
  • the single crystal diamond thin film 10b is p - type (for example, doped with a boron concentration of 10 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or less) or has a resistivity close to that of an intrinsic semiconductor in the case of p - type. It is preferable.
  • a mixed gas of hydrogen, methane, and nitrogen is used as a process gas.
  • nitrogen (N) to form the NV center is introduced into the film during the CVD process.
  • the present invention is not limited to this, and the NV center can be formed in the film also by nitrogen ion implantation after the CVD film is formed.
  • an n + -type single crystal diamond thin film 19 doped with phosphorus (P) is formed on the main surface of the p-type diamond film 17 by the CVD method (FIG. 16C), and this n-type single crystal is further formed.
  • a mask 18 is formed on the main surface of the diamond thin film 19 (FIG. 16D), and the periphery of the region covered with the mask 18 is removed by etching (FIG. 16E). After that, when the mask 18 is removed, nitrogen (in which a carbon atom of the diamond is substituted into a depletion region formed in the pn junction portion, which is a pn junction portion made of diamond, is formed on the main surface of the plate-like diamond.
  • a sensor array having a plurality of pn junctions in which a complex of N) and a hole (V) adjacent to the nitrogen (NV center) is formed is obtained (FIG. 16F).
  • the magnetic sensor used in the magnetic measurement apparatus according to the present invention is an optical signal emitted from the surfaces of the sensor array 20 and the first region of the sensor array, and is caused by the electron spin resonance at the NV center.
  • the optical sensor 21 which detects the optical signal produced in this way is provided.
  • FIG. 17 is a block diagram for explaining an outline of a configuration example of the magnetic measurement apparatus according to the present invention.
  • This magnetic measuring device is provided so as to face the sensor array 20, a sample stage 22 for placing a specimen 23, an optical system 24 for irradiating the sensor array 20 with blue-green light, and a frequency to the sensor array 20.
  • a microwave generation unit 25 for irradiating a variable microwave and a signal processing unit 26 for processing an optical signal generated due to NV-centered electron spin resonance detected by the optical sensor 21 are provided.
  • the optical system 24 includes a light source 24a, an irradiation lens 24b, and a dichroic mirror 24c.
  • the light source 24a is connected to a module 27 that serves as a microwave source and a sensor interface.
  • green light of 638 nm is emitted, and the green light is irradiated to the sensor array 20 positioned below by the dichroic mirror 24c.
  • the frequency-variable microwave receives a signal from the control circuit 28 connected to the module 27 and irradiates the sensor array 20 via the microwave generator 25.
  • FIG. 17 Although the aspect which provided the electric field production
  • FIG. 17
  • Such an electric field generation unit 29 is, for example, an electric field generation unit having at least two electrodes provided opposite to each other on the upper or lower surface side or side surface side of the diamond crystal portion including the first region.
  • FIG. 18 is a diagram for explaining how the line width of the ODMR signal becomes sharp when an electric field is applied to the sensor array 20.
  • an electric field is applied to the sensor array 20 in the range of +200 V to -200 V, but the line width of the ODMR signal increases as the applied voltage (absolute value) increases regardless of whether the electric field is positive or negative. It can be clearly seen how sharpens.
  • the diamond element according to the present invention can be applied not only as a magnetic sensor or a magnetic measurement device, but also as a temperature sensor, an electric field sensor, a current sensor, an acceleration sensor, and a measurement device using the same. It is.
  • the diamond crystal according to the first aspect of the present invention includes an NV region including a composite (NV center) of nitrogen (N) substituted with a carbon atom and vacancies (V) adjacent to the nitrogen on or near the surface.
  • the NV region has a donor concentration equal to or higher than the concentration of the NV center.
  • the donor concentration in the NV region is 1 ⁇ 10 12 cm ⁇ 3 or more.
  • the donor is phosphorus (P).
  • the plane orientation of the NV region is a ⁇ 111 ⁇ plane or a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with respect to the ⁇ 111 ⁇ plane.
  • the NV region is a diamond film formed on a diamond substrate by a CVD method.
  • the diamond crystal according to the second aspect of the present invention includes an NV region including a composite (NV center) of nitrogen (N) substituted with a carbon atom and vacancies (V) adjacent to the nitrogen on or near the surface.
  • the crystal plane of the NV region is a ⁇ 111 ⁇ plane or a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with respect to the ⁇ 111 ⁇ plane, and the main axis of the NV center is orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane ⁇ 111 > Axis.
  • the NV region has a donor concentration equal to or higher than the concentration at the NV center.
  • the donor concentration in the NV region is 1 ⁇ 10 12 cm ⁇ 3 or more.
  • the donor is phosphorus (P).
  • the NV region is a diamond film formed on a diamond substrate by a CVD method.
  • the diamond element according to the first aspect of the present invention is in contact with a first region including a composite (NV center) of nitrogen (N) substituted with a carbon atom of diamond and a vacancy (V) adjacent to the nitrogen.
  • a second region having a donor concentration higher than that of the first region is formed.
  • the first regions are two-dimensionally periodically arranged in a plane, and a second region having a donor concentration higher than that of the first region is formed on each side surface or the periphery of the first region. ing.
  • the second region is made of n-type diamond
  • the first region is made of i-type or p-type diamond.
  • the second region has an n + type conductivity type with a donor level of 1 ⁇ 10 18 cm ⁇ 3 or more.
  • the donor is phosphorus (P).
  • the plane orientation of the first region is a ⁇ 111 ⁇ plane or a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with respect to the ⁇ 111 ⁇ plane, and the main axis of the NV center is orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane ⁇ 111 > Axis.
  • the first region has a donor concentration equal to or higher than the concentration of the NV center of the first region.
  • each of the first regions is surrounded by a second region having a concentration of the NV center lower than that of the first region.
  • the diamond is a diamond film formed on a substrate by a CVD method.
  • an electrode for applying a positive potential is provided on one main surface side (back surface side) via an insulating film.
  • the diamond element according to the second aspect of the present invention is one main region of a first region including a complex (NV center) of nitrogen (N) substituted with carbon atoms of diamond and vacancy (V) adjacent to the nitrogen.
  • An electrode for applying a positive potential is provided on the surface side (back surface side) through an insulating film.
  • the first regions are two-dimensionally periodically arranged in a plane, and an electrode for applying a positive potential is an insulating film on one main surface side (back surface side) of each of the first regions. Is provided.
  • the plane orientation of the first region is a ⁇ 111 ⁇ plane or a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with respect to the ⁇ 111 ⁇ plane, and the main axis of the NV center is orthogonal to the ⁇ 111 ⁇ plane. ⁇ 111> axis.
  • the first region has a donor concentration equal to or higher than the concentration of the NV center of the first region.
  • the donor is phosphorus (P).
  • each of the first regions is surrounded by a second region having a concentration of the NV center lower than that of the first region.
  • the diamond is a diamond film formed on a substrate by a CVD method.
  • an electric field generating unit having at least two electrodes provided to face each other on the upper and lower surfaces or the side surfaces of the diamond crystal portion including the first region.
  • the periodic array of the first region is, for example, a square periodic array in which the center of the first region is located at each lattice point of a two-dimensional square lattice when the plane is viewed from above. It is.
  • the periodic arrangement of the first region may be, for example, other than each of the six vertices of the regular hexagon having the center position of the specific first region as the center point when the plane is viewed from above. This is a hexagonal packing arrangement in which the center of the first region is located.
  • the magnetic sensor according to the present invention is an optical signal emitted from the surface of each of the above-described diamond element and the first region of the diamond element, the optical signal generated due to electron spin resonance at the NV center. It has an optical sensor to detect.
  • the magnetic measurement device is a magnetic measurement device including the magnetic sensor, and includes a sample stage provided to face the sensor array, and an optical system for irradiating the diamond element with blue-green light.
  • a microwave generation unit that irradiates the diamond element with a frequency-variable microwave; a signal processing unit that processes an optical signal generated due to the electron spin resonance at the NV center detected by the optical sensor; It has.
  • the magnetic measurement device preferably further includes an electric field generation unit having at least two electrodes provided to face each other on the upper and lower surfaces or the side surfaces of the diamond crystal part including the first region. Yes.
  • a columnar portion periodically arranged in a two-dimensional manner is formed as a first region on the surface of a plate-like diamond, and the diamond is formed in each of the first regions.
  • a second region having a higher donor concentration than the first region is formed.
  • a columnar portion periodically arranged in a two-dimensional manner is formed as a first region on the surface of a plate-like diamond, and the diamond is formed in each of the first regions.
  • the second region is formed so as to have a lower NV center concentration than the first region.
  • the periodic array of the first region is a square periodic array in which the center of the first region is located at each lattice point of a two-dimensional square lattice when the plane is viewed from above.
  • the other first region is added to each of the six vertices of a regular hexagon centered at the center position of the specific first region.
  • the crystal plane of the first region is a ⁇ 111 ⁇ plane or a plane having an off angle within ⁇ 10 ° with respect to the ⁇ 111 ⁇ plane.
  • the second region is an n-type diamond
  • the first region is an i-type or p-type diamond.
  • the second region is an n + type diamond having a donor level of 1 ⁇ 10 18 cm ⁇ 3 or more.
  • the donor concentration in the first region is controlled to be equal to or higher than the concentration of the NV center in the first region.
  • the diamond is formed as a diamond film formed on the substrate by a CVD method.
  • a method for producing a sensor array comprising: a main surface of a plate-like diamond, a heterogeneous conductivity type joint composed of diamond, wherein carbon atoms of the diamond are formed in the joint region; A plurality of junctions of different conductivity types in which a complex (NV center) of substituted nitrogen (N) and vacancy (V) adjacent to the nitrogen is formed is formed.
  • NV center complex
  • V vacancy
  • NV center of nitrogen (N) substituted with carbon atoms and vacancies (V) adjacent to the nitrogen is in a negatively charged state (NV ⁇ ).
  • the spin state at the NV ⁇ center can be aligned in one direction, and the peak of the optically detected magnetic resonance (ODMR) signal is sharpened, and the contrast is improved.
  • ODMR optically detected magnetic resonance
  • the NV center generated in the diamond crystal can be maintained in a negatively charged state (NV ⁇ ).
  • the magnetic sensor provided with the diamond element according to the present invention can perform two-dimensional magnetic measurement at room temperature and in the atmosphere with higher sensitivity than conventional ones.
  • the above-mentioned effect is not only for diamond elements using a composite (NV center) of nitrogen (N) substituted with carbon atoms of diamond and vacancies (V) adjacent to the nitrogen, but also carbon of diamond.
  • the same effect can be obtained even in a diamond element using a complex of an element such as Si, P or Ge substituted with an atom and a hole (V) adjacent to the substituted element.
  • the diamond element according to the present invention is not limited to application as a magnetic sensor or a magnetic measurement device, but can be applied as various sensors such as a temperature sensor, an electric field sensor, a current sensor, an acceleration sensor, and a measurement device using the same. It is.

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Abstract

 常温且つ大気中における2次元的な磁気測定を高感度で行うことを可能とする技術の提供。 本発明に係るダイヤモンド結晶は、表面乃至表面近傍に、炭素原子を置換した窒素と該窒素に隣接する空孔の複合体(NV中心)を含むNV領域を有し、該NV領域はNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している、乃至は、NV領域の結晶が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面であり、NV中心の主軸が{111}面に直交する<111>軸である、ことを特徴とする。このようなダイヤモンド結晶によれば、NV中心のほぼ100%を負電荷の状態(NV)とすること、また、NV中心のスピン状態を一方向に揃えることが可能となり、ODMR信号のピークもシャープになる。さらに、本発明に係るセンサーアレイによれば、上記ダイヤモンド結晶中に生成したNV中心を、負電荷の状態(NV)に維持することが可能となる。

Description

ダイヤモンド結晶、ダイヤモンド素子、磁気センサー、磁気計測装置、および、センサーアレイの製造方法
 本発明は、高感度磁気測定を可能とするための技術に関し、より詳細には、常温且つ大気中での高感度な磁気測定を可能とするダイヤモンド結晶およびそれを用いた磁気センサー等に関する。
 ダイヤモンドは、結晶中のカラーセンターが、室温・大気中において、云わば“低温・真空中の原子(trapped atoms)”のように振る舞う特異的な結晶格子と言える。このような特異的な結晶格子であるダイヤモンド中に形成される窒素-空孔複合体(NV中心)はカラーセンターの1種であり、図1に示すように、炭素を置換した窒素(N)と、この窒素の隣接に位置する原子空孔(V)を伴い、スピンS=1をもつ。
 このNV中心が電子を捕獲して負電荷の状態にあるNV中心は、固体で唯一、室温での光による単一スピンの操作・検出が可能で、コヒーレンス時間が長いという特長があり、高空間分解能かつ高感度な磁気センサーへの応用が期待されており(D Le Sageらによる非特許文献1やJ. R. Mazeらによる非特許文献2などを参照)、NV中心を利用したセンサーの常温における磁気検出限界は、ホール素子やインピーダンスセンサの検出限界をはるかに凌ぎ、理論計算上はSQUIDのそれにに匹敵するとの報告がある(V. M. Acostaらによる非特許文献3を参照)。
 図2は、NV中心を利用した磁気検出の原理を説明するための図である。NV中心は、基底状態において、|0>、|1>、または|-1>の3つの電子スピン状態をとり得る(三重項状態)。図中に示したΔは|0>状態と|±1>状態のエネルギー差、γは磁気回転比、Bは磁場強度である。
 基底状態にあるNV中心に緑色光を照射すると赤色の蛍光を発するが、基底状態が|1>または|-1>の電子スピンをもつ場合には、励起後の電子の一部が一重項状態を経て基底状態に戻るために蛍光過程は生じ難くなる。これら|1>と|-1>の電子スピン状態のエネルギー分離(2γB)は、磁場強度Bに比例するから、NV中心を利用したセンサーに2.8GHz前後の周波数のマイクロ波を照射し、このマイクロ波の周波数を掃引すると、赤色蛍光の輝度低下点として、磁場強度を検出することができる。
 図3は、マイクロ波の周波数掃引時の赤色蛍光の輝度低下点が磁場強度に依存して変化する様子を概念的に説明するための図である。この図において、横軸はマイクロ波の周波数(GHz)、縦軸は赤色蛍光輝度(任意スケール)であり、磁場Bを0~12GHzの範囲で変化させた場合に、赤色蛍光の輝度低下点のマイクロ波周波数(f1、f2)のスプリット(Δf)が、磁場強度に比例して大きくなる様子が概念的に示されている。
 このような原理に基づき、1mT程度の微弱な磁場の2次元的な分布を計測した結果も報告され(S.Hongによる非特許文献4を参照)、原理的にはfTレベルの磁場測定も可能であるとの報告もある(非特許文献3を参照)。
特開2012-110489号公報 特開2012-121747号公報 特開2012-121748号公報
D Le Sage et al. Nature Vol.496, pp.486-489 (2013) J. R. Maze, et al. Nature Vol.455, pp.644-647 (2008) V. M. Acosta et al., Phys. Rev. B Vol.80, pp.115202 (2009) S.Hong, MRS BUL.Vol.38 (Feb.2013)
 近年、広範囲の領域の磁場を2次元的に且つ高感度に測定することが求められており、上記NV中心をはじめとするダイヤモンド中のカラーセンターを磁気センシングに用いることが検討されていることは上述のとおりである(特許文献1:特開2012-110489号公報、特許文献2:特開2012-121747号公報、特許文献3:特開2012-121748号公報も参照)。
 しかしながら、このような要求に応えるための技術は未だ確立されてはおらず、特に、磁気センサーとして用いるダイヤモンドはどのようなものが好ましいのか、2次元的な高感度磁気測定のためのセンサーアレイはどのような構造が好ましいのかといった課題についての更なる検討が求められている。
 本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、常温且つ大気中において、2次元的な磁気測定をより高感度で行うことを可能とするために好適なダイヤモンド結晶、および、それを用いたダイヤモンド素子、磁気センサー、磁気計測装置を提供することにある。
 上述の課題を解決するために、本発明に係る第1の態様のダイヤモンド結晶は、表面乃至表面近傍に、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含むNV領域を有し、該NV領域はNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している、ことを特徴とする。
 本発明に係る第2の態様のダイヤモンド結晶は、表面乃至表面近傍に、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含むNV領域を有し、前記NV領域の結晶面が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面であり、前記NV中心の主軸が前記{111}面に直交する<111>軸である、ことを特徴とする。
 好ましくは、前記ドナー濃度は、10×1015cm-3~10×1019cm-3の範囲にある。また、好ましくは、前記NV領域は、CVD法若しくは高温高圧法(HPHT法)により成長させた窒素ドープのダイヤモンド結晶膜に形成されている。
 本発明に係る第1の態様のダイヤモンドを用いた素子は、前記ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含む第1領域に接して、該第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域が形成されている、ことを特徴とする。
 好ましくは、前記第1領域が平面内で2次元的に周期配列されており、前記第1領域のそれぞれの側面若しくは周囲に、該第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域が形成されている。
 また、好ましくは、前記第2領域はn型のダイヤモンドからなり、前記第1領域はi型乃至はp型のダイヤモンドからなる。他の好ましい態様では、前記第2領域はn型のダイヤモンドからなり、前記第1領域は、pn接合により形成される空乏領域である。
 また、好ましくは、前記第2領域はドナーレベルが1×1018cm-3以上のn型の導電型を有している。
 本発明に係る第2の態様のダイヤモンドを用いた素子は、前記ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含む第1領域の一方主面側に、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられている、ことを特徴とする。
 好ましくは、前記第1領域が平面内で2次元的に周期配列されており、前記第1領域のそれぞれの一方主面側には、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられている。
 好ましくは、前記第1領域に接して、該第1領域よりも低いNV中心濃度を有する第2領域が形成されている。
 また、好ましくは、前記第1領域の結晶面が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面であり、前記NV中心の主軸が前記{111}面に直交する<111>軸である。
 また、好ましくは、前記第1領域は、該第1領域のNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している。また、好ましくは、前記ドナー濃度は、10×1015cm-3~10×1019cm-3の範囲にある。
 また、好ましくは、前記ダイヤモンドは、基板上にCVD法若しくは高温高圧法(HPHT法)で形成されたダイヤモンド膜である。
 さらに、好ましくは、前記第1領域を含むダイヤモンド結晶部の上下面側若しくは側面側に、互いに対向して設けられた少なくとも2つの電極を有する電界生成部を更に備えている。
 本発明に係るダイヤモンド素子において、前記第1領域の周期配列は、例えば、前記平面を上方から眺めたときに、2次元正方格子の各格子点に前記第1領域の中心が位置している正方周期配列である。
 また、本発明に係るダイヤモンド素子において、第1領域の周期配列は、例えば、前記平面を上方から眺めたときに、特定の第1領域の中心位置を中心点とする正六角形の6つの頂点のそれぞれに他の第1領域の中心が位置している六方充填配列である。
 本発明に係る磁気センサーは、上述のダイヤモンド素子と、該ダイヤモンド素子の前記第1領域のそれぞれの表面から射出する光信号であって、前記NV中心の電子スピン共鳴に起因して生じる光信号を検知する光センサーを備えている。
 本発明に係る磁気計測装置は、上述の磁気センサーを備えた磁気計測装置であって、前記ダイヤモンド素子に対向して設けられた試料ステージと、前記ダイヤモンド素子に青緑色光を照射する光学系と、前記ダイヤモンド素子に周波数可変のマイクロ波を照射するマイクロ波生成部と、前記光センサーで検知した前記NV中心の電子スピン共鳴に起因して生じた光信号を処理する信号処理部と、を備えた磁気計測装置である。
 本発明に係る磁気計測装置は、好ましくは、前記第1領域を含むダイヤモンド結晶部の上下面側若しくは側面側に、互いに対向して設けられた少なくとも2つの電極を有する電界生成部を更に備えている。
 本発明に係る第1の態様のセンサーアレイの製造方法は、板状のダイヤモンドの表面に2次元的に周期配列する柱状部を第1領域として形成し、該第1領域のそれぞれに、前記ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を形成し、前記第1領域のそれぞれの周囲を取り囲む第2領域であって、前記第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域を形成する、ことを特徴とする。また、他の態様として、前記第1領域の裏面側に、正電位を印加するための電極を、絶縁膜を介して設けることとしてもよい。
 本発明に係る第2の態様のセンサーアレイの製造方法は、板状のダイヤモンドの主面上に、ダイヤモンドからなる異種導電型の接合部であって、該接合部の領域に、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)が形成された異種導電型の接合部を複数形成する、ことを特徴とする。なお、この異種導電型の接合部に電流を注入する手段もしくは電圧を印加する手段を備える態様としてもよい。
 本発明に係るダイヤモンド結晶によれば、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)のほぼ100%を負電荷の状態(NV)とすることが可能となる。これに加えて、NV中心のスピン状態を一方向に揃えることが可能となり、その結果、光検出磁気共鳴(ODMR:Optically Detected Magnetic Resonance)信号のピークがシャープになることに加え、コントラストも向上する。
 さらに、本発明に係るダイヤモンド素子によれば、上記ダイヤモンド結晶中に生成したNV中心を、負電荷の状態(NV)に維持することが可能となる。
 その結果、本発明に係るダイヤモンド素子を備えた磁気センサーにより、常温且つ大気中における2次元的な磁気測定を、従来のものに比較して高感度で行うことが可能となる。
ダイヤモンド中に形成される窒素-空孔複合体(NV中心)を説明するための図である。 NV中心を利用した磁気検出の原理を説明するための図である。 マイクロ波の周波数掃引時の赤色蛍光の輝度低下点が磁場強度に依存して変化する様子を概念的に説明するための図である。 NV中心を形成したn型のダイヤモンド結晶(図4(A))およびアン・ドープのダイヤモンド結晶(図4(B))の、波長532nmの光照射後のNV中心およびNV中心からの、波長593nmの光照射中の発光(フォトルミネッセンス)を測定した結果を示す図である。 [111]の方向に磁場が生じている場合に、NV中心の主軸がこれと同じ方向([111]方向)にある場合(図5(A))と、NV中心の主軸が[111]とは異なる<111>方向にある場合(図5(B))の、磁場方向とNV中心の主軸との関係を説明する図である。 CVD法で成膜された主面が(111)面のダイヤモンド薄膜中に形成されたNV中心の主軸が[111]軸に揃う結果、光検出磁気共鳴信号のピーク位置も揃っていることを確認した実験結果を示す図である。 CVD法で成膜された主面が(111)面のダイヤモンド薄膜中に高濃度でNV中心を形成した試料から得たODMR信号を示す図である。 本発明に係る第1の態様のセンサーアレイの基本概念を説明するためのバンド図である。 本発明に係る第1の態様のセンサーアレイのバンド図の一例を説明するための図である。 本発明に係る第2の態様のセンサーアレイの基本概念を説明するためのバンド図である。 本発明に係るセンサーアレイを製造する第1のプロセス例を概念的に説明するための図である。 本発明に係るセンサーアレイを製造する第2のプロセス例を概念的に説明するための図である。 本発明に係るセンサーアレイを製造する第3のプロセス例を概念的に説明するための図である。 本発明に係るセンサーアレイを製造する第4のプロセス例を概念的に説明するための図である。 本発明に係るセンサーアレイを製造する第4の他のプロセス例を概念的に説明するための図である。 本発明に係るセンサーアレイを製造する第4の他のプロセス例を概念的に説明するための図である。 本発明に係る磁気計測装置の構成例の概略を説明するためのブロック図である。 本発明に係るセンサーアレイに電界を印加した場合に、ODMR信号の線幅がシャープになる様子を説明するための図である。
 以下に、図面を参照して、本発明に係るダイヤモンド結晶、および、これを用いたダイヤモンド素子、磁気センサー、磁気計測装置について説明する。
 なお、本件発明はダイヤモンド結晶を対象とするが、同様の効果は、炭化珪素等の他のワイドバンドギャップ半導体においても期待される。また、以降の説明では、本発明に係るダイヤモンド素子を、NV中心を含む第1領域が平面内で2次元的に周期配列された態様のセンサーアレイとして説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、単一の第1領域を有するものであってもよく、また、その用途がセンサーに限定されるものでもない。
 [ダイヤモンド結晶](第1の態様)
 本発明に係る第1の態様のダイヤモンド結晶は、好ましくは板状のダイヤモンド結晶であって、少なくともその表面乃至表面近傍に、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含むNV領域を有しており、このNV領域はNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している。
 アン・ドープのダイヤモンド結晶中に電気的に中性のNV中心を形成し、これを電子線照射等により欠陥を生じさせた後に熱処理する等の手法によりNV中心を負に帯電させてNV中心を形成したダイヤモンド結晶の場合、これに光を照射すると、NV中心の一部がNV中心となり、光照射後のNV中心とNV中心の比が、概ね、7:3程度となってしまうことが知られている。
 しかし、本発明者らが検討したところによれば、CVD法で成膜したn型のダイヤモンド結晶に上記NV中心を形成したダイヤモンド結晶の場合、これに光を照射してもNV中心はその帯電状態を維持すること、すなわち、光照射後においてもNV中心は安定に存在していることが明らかとなった。
 図4は、NV中心を形成したn型のダイヤモンド結晶(図4(A))およびアン・ドープのダイヤモンド結晶(図4(B))の、波長532nmの光を照射した後の、NV中心およびNV中心からの波長593nmの光照射中の発光を測定した結果を示す図である。この図において、横軸は波長593nmの光照射中に観測された光子数、縦軸はそれぞれの光子数が観測されたイベント数であり、この測定結果から、光照射後のダイヤモンド結晶中に存在するNV中心およびNV中心の比率を知ることができる。なお、図4(A)に示した結果は、NV中心の濃度が概ね1×1011cm-3であり、燐(P)が概ね1×1015cm-3の濃度でドープされているn型のダイヤモンド結晶からのものである。
 n型のダイヤモンド結晶(図4(A))からは、NV中心からの信号のみが観測され、光照射後においてもNV中心はその帯電状態を維持していること、すなわち、光照射後においてもNV中心は安定に存在していることが分かる。
 これに対して、アン・ドープのダイヤモンド結晶(図4(B))からは、NV中心からの信号に加え、NV中心からの信号が観測されており、その比(NV中心:NV中心)は0.74:0.26となっている。つまり、このアン・ドープのダイヤモンド結晶中のNV中心は、光照射により26%がNV中心となっている。
 このような現象は、光照射により一旦はNV中心の一部から電子が放出されてNV中心となっても、ダイヤモンド結晶中にドープされたドナーから放出された電子がこのNV中心に捕獲されて再びNV中心となるためであると理解される。従って、光照射後においてもNV中心を安定に存在させるためには、結晶中のドナー濃度は、NV領域のNV中心の濃度以上であることが効果的である。
 NV領域のドナー濃度は当該領域のNV中心の濃度以上であればよく、例えば1×1012cm-3以上であり、NV中心への効率的な電子供給を実現するためには、10×1015cm-3~10×1019cm-3の範囲にあることが好ましい。
 また、上記ドナーは、一般には燐(P)とされるが、炭素を置換してP1センター(電荷0、スピンS=1/2)として結晶中に存在する窒素(N)不純物であってもよく、砒素(As)や硫黄(S)のほか、硼素(B)と水素(H)の複合体などであってもよい。
 このようなダイヤモンド結晶は、天然のものでも高温高圧法(HPHT法)やマイクロ波プラズマなどを用いたCVD法(化学気相成長法)で人工的に合成されたものでもよく、例えばダイヤモンド基板上にCVD等の手法で育成された薄膜結晶であってもよい。CVD法で合成したダイヤモンドは、成長中にn型となるリンなどのドーパントを導入しやすく、また、NV中心となる窒素も製膜中に導入することができるので、CVD法を用いることが効果的である。また、このダイヤモンド結晶は、好ましくはIb型のダイヤモンド結晶であり、上記NV領域の面方位を揃える、電子スピンの位相コヒーレンス時間が長いという観点から、単結晶であることが好ましいが、多結晶あるいはナノ結晶であっても同様の効果が得られる。その面方位は、{110}面、{100}面、{111}面が好ましく、特に、後述の理由により、{111}面であることが好ましい。
 なお、CVDにより窒素ドープのダイヤモンド膜を結晶成長させる場合を考えると、実用上は、{111}面から僅かにオフ角を有する結晶面のものであることが有用である場合が多い。この場合のオフ角は適宜定められるが、一般には、±10°以内であることが好ましい。
 [ダイヤモンド結晶](第2の態様)
 本発明に係る第2の態様のダイヤモンド結晶は、好ましくは板状のダイヤモンド結晶であって、少なくともその表面乃至表面近傍に、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含むNV領域を有しており、このNV領域の結晶面が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面であり、NV中心の主軸が前記{111}面に直交する<111>軸である。
 つまり、NV領域の面方位が(111)面である場合には、NV中心の主軸は、(111)面に直交する[111]軸である。
 このダイヤモンド結晶においても、NV領域のドナー濃度は当該領域のNV中心の濃度以上であり、NV中心への効率的な電子供給を実現するためには、10×1015cm-3~10×1019cm-3の範囲にあることが好ましい。また、NV領域は、例えば、CVD法やHPHT法により成長させた窒素ドープのダイヤモンド結晶膜に形成されている。
 図1に示したように、ダイヤモンド結晶中のNV中心は、<111>軸を主軸とするC3v対称性をもち、空孔(V)に隣接する4つの炭素(C)の何れが窒素(N)と置換されるかにより4つの等価な配向が存在し、等価な4本の<111>軸に対してランダムにダイポールを形成することとなる。
 図5は、[111]の方向に磁場が生じている場合に、NV中心の主軸がこれと同じ方向([111]方向)にある場合(図5(A))と、NV中心の主軸が[111]とは異なる<111>方向にある場合(図5(B))の、磁場方向とNV中心の主軸との関係を説明する図である。前者の場合にはNV中心の主軸(つまりダイポールの軸方向)と磁場方向とが成す角度θはゼロであり、後者の場合には角度θは概ね109°となる。
 ダイポールが等価な4本の<111>軸に対してランダムにダイポールを形成し、上記角度θが4つとも異なれば、4本の共鳴線が現れることとなる。仮に、[111]の方向に磁場が生じているとすると、等価な4本の<111>軸のうちの1つの軸はθ=0であり、他の3つの軸が磁場方向と成す角度θは何れも概ね109°となって3本の共鳴周波数は同じとなるから、スペクトル中に現れる共鳴線の数は2となり、当該2本の共鳴線の強度比は1:3となる。
 このように、ダイポールがランダムに形成されてしまうと、ダイヤモンド結晶からの蛍光強度は、結晶への入射光や外部磁場等の向きによって変化する傾向がある。このため、ダイヤモンド結晶中のNV中心を利用した高感度な磁気センサーを実現するためには、これらNV中心のスピン状態を一方向に揃えること、換言すれば、NV中心の軸を揃えることが必要となる。
 この点につき本発明者らが検討した結果、NV領域の面方位を{111}面(若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面)とすれば、NV中心の主軸を、この{111}面に直交する<111>軸に揃えることができることが明らかとなった。なお、以下では、{111}面という場合には、当該{111}面と±10°以内のオフ角を有する面をも含む意味で用いる。
 図6は、CVD法で成膜された主面が(111)面のダイヤモンド薄膜中に形成されたNV中心の主軸が[111]軸に揃う結果、光検出磁気共鳴(ODMR:Optically Detected Magnetic Resonance)信号のピーク位置も揃っていることを確認した実験結果を示す図である。
 上述のように、このようなダイヤモンド結晶は、CVD法で成長させたものである必要はなく、HPHT法のような他の方法で成長させた窒素ドープのダイヤモンド結晶であっても良い。また、ダイヤモンドの結晶成長中に窒素をドーピングすることはもとより、結晶成長させた後にイオン注入法などによりドーピングするようにしても良い。
 表1は、NV中心軸が揃う割合につき、ダイヤモンドの合成方法(および窒素のドーピング方法)ごとに調べた結果を纏めた表である。
 試料A,B,Dは何れも、主面が(111)面のダイヤモンド基板上にCVD法で合成したダイヤモンドである。なお、CVD時の条件は、水素に対するメタンの希釈濃度を0.25~1%とし、ガス圧力、パワー、基板温度は、それぞれ、130Torr~20kPa、400~3,700W、850~1100℃の範囲に設定することが好ましい。
 これらの試料のうち、試料AとDではダイヤモンドの結晶成長中に窒素をドーピングすることでNV中心を形成した。また、試料Bではダイヤモンドを結晶成長させた後にイオン注入法により窒素(15N)をドーピングすることでNV中心を形成した。なお、イオン注入は、基板を600℃程度の温度となるようにアニールしながら、15Nイオンを30keV程度の加速電圧で打ち込むことが好ましい。また、ドーズ量は10~1016cm-2とし、さらに、結晶欠陥低減のために、イオン注入後にAr雰囲気中で1000℃程度の温度で2時間程度のアニールを行うことが好ましい。
 試料CおよびEは、それぞれ、IIa HPHT法およびIb HPHT法で合成したダイヤモンドであり、試料Cは、試料Bと同様に、ダイヤモンドを結晶成長させた後にイオン注入法により窒素(15N)をドーピングすることでNV中心を形成した。また、試料Eは、ダイヤモンドの結晶成長中に窒素をドーピングし、さらに、ダイヤモンドを結晶成長させた後に電子線照射によりNV中心を形成した。なお、この電子線照射は、加速電圧を0.5MeV、電子線濃度を1.5×1016cm-2の条件でおこない、電子線照射後には、結晶欠陥低減のため、Ar雰囲気中で1000℃の温度で2時間のアニールを行っている。
 表1に示した結果によれば、ダイヤモンドの結晶成長中に窒素をドーピングすることでNV中心を形成した試料AおよびDにおいて、99%を超える高い比率でNV中心軸が[111]方向に揃っている。なお、表中、「NV中心」の項目において「シングル」と記載されているものは観測されたNV中心が単一であったことを意味し、「アンサンブル」と記載されているものは観測されたNV中心が」多数あったことを意味している。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 図6(A)は共焦点レーザー蛍光顕微鏡像であり、この図中に丸マークで示されたものは、それぞれが、単一のNV中心である。図6(B)はこれら単一NV中心からのODMR信号であって、何れの単一NV中心からも、同一の周波数にピークをもつ信号が得られている。なお、このようなODMR測定を50個の単一NV中心について行ったが、何れの単一NV中心も、図6(B)に示したものと同様のスペクトルが得られた。この結果は、主面が(111)面のダイヤモンド薄膜中に形成された単一NV中心は何れも、その主軸が、(111)面に直交する<111>軸である[111]に揃っていることを意味する。なお、図6(B)のスペクトルは、共焦点レーザー顕微鏡を用いて、単一NV中心からの発光を観測しながら、高周波(2.55-2.85 GHz)を照射し、磁場を[111]方向に約7mTを照射し、室温で測定した結果である。
 上述のとおり、ダイヤモンド結晶中のNV中心は<111>軸を主軸とするC3v対称性をもち、等価な4本の<111>軸に対してランダムにダイポールを形成した場合には、これに印加される磁場の方向によりODMR信号も変化する。例えば、磁場を、[111]、[1-1-1]、[-11-1]、[-1-11]の異なる4つの方向から印加したとすると、各磁場印加条件下で得られるODMR信号は互いに異なるものとなる。なお、上記表示において、「-1」は、「イチ・バー」を意味している。
 しかし、NV領域の面方位を{111}面とし、NV中心の主軸を、{111}面に直交する<111>軸に揃えると、図6(B)に示した様に、上記4つの異なる方向から磁場を印加しても、ODMR信号の落ち込み周波数(共鳴周波数)は同じものとなっている。
 図7(A)は、CVD法で成膜された主面が(111)面のダイヤモンド薄膜中に比較的高い濃度(概ね1×1014cm-3)でNV中心を形成した試料から得たODMR信号を示す図で、横軸はマイクロ波周波数(MHz)、縦軸はODMR赤色蛍光強度(任意スケール)である。このダイヤモンド薄膜中に形成されたNV中心の主軸は、上記{111}面に直交する<111>軸となっている。つまり、NV中心の主軸は何れも、{111}面に直交する<111>軸に揃っている。NV中心の主軸が、上記{111}面に直交する<111>軸に揃っている場合には、図7(B)の(a)や(b)に示すように、磁場の印加方向を{111}面に直交する<111>軸方向からずらしても、複数の信号が現れることはない。
 しかし、図7(C)に示すように、NV中心が等価な4本の<111>軸に対してランダムにダイポールを形成している場合には、{111}面に直交する<111>軸を有するNV中心からの信号と、それ以外の3つの<111>軸を有するNV中心からの信号とは異なる。そして、図7(D)に示すように磁場の印加方向を{111}面に直交する<111>軸方向からずらすと、互いに分裂した4本のODMR信号が現れることになる。
 なお、図7(A)~(D)のスペクトルは、共焦点レーザー顕微鏡を用いて、単一NV中心からの発光を観測しながら、高周波(2.55-2.85 GHz)を照射し、磁場を[111]方向に約16mTを照射し、室温で測定した結果である。
 上記NV中心の主軸が4つの等価な<111>軸のうちの特定の<111>軸(ここでは[111]軸)に揃うサンプルは、例えば、下記のようにして得られる。高温高圧方法で合成されたIb型で(111)面(オフ角は10度以内)を有するダイヤモンド基板上に、反応室に窒素ガス、メタンガス、水素ガスを導入し、マイクロ波CVD法により、プラズマ中で成膜する。CVD条件は、例えば、トータルガス圧を25Torr、ガスのフローレートを400sccm、マイクロ波のパワーは750W、メタンと水素の混合比を0.05%程度とする。また、基板温度は800℃程度とする。このようなCVD法により得られたダイヤモンド膜は(111)面に主に配向し、この(111)面に直交する<111>軸である[111]を主軸とするNV中心が膜中に生成される。なお、窒素は成膜中に導入するのが望ましい。
 このようなダイヤモンド結晶は、{111}面を主面とするものであればよく、天然のものでも高温高圧法(HPHT)やマイクロ波プラズマなどを用いたCVDでも人工的に合成されたものでもよく、好ましくはIb型のダイヤモンド結晶であり、例えば、{111}面を主面とするダイヤモンド基板上に、CVD法によりダイヤモンド薄膜をホモエピタキシャル成長させることにより得ることができる。またダイヤモンド薄膜は、単結晶であるほうが望ましいが、多結晶、あるいはナノダイヤモンドであっても同様の効果が得られる。窒素はCVD成膜時に導入するのが望ましいが、成膜後に窒素をイオン注入によっても導入することも可能である。
 このような第2の態様のダイヤモンド結晶においても、NV領域はNV中心の濃度以上のドナー濃度を有していることが好ましい。また、NV領域のドナー濃度は当該領域のNV中心の濃度以上であればよく、例えば1×1012cm-3以上である。
 さらに、上記ドナーは、一般には燐(P)とされるが、炭素を置換してP1センター(電荷0、スピンS=1/2)として結晶中に存在する窒素(N)不純物であってもよく、砒素(As)や硫黄(S)のほか、硼素(B)と水素(H)の複合体などであってもよい。
 [センサーアレイ](第1の態様)
 本発明に係る第1の態様のセンサーアレイは、ダイヤモンドを用いた素子であって、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含む第1領域に接して、該第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域が形成されていることを特徴としている。好ましくは、第1領域が平面内で2次元的に周期配列されており、第1領域のそれぞれの側面若しくは周囲に、該第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域が形成されている。
 このような態様とすることにより、第1領域のエネルギーバンドは第2領域の存在により湾曲を受け、このバンド湾曲により第2領域からの拡散による電子注入が生じ易くなる。第1領域に注入された電子は、第1領域内において電気的に中性な状態にあるNV中心(NV中心)に捕獲され、高空間分解能かつ高感度な磁気検出を可能とする負電荷状態のNV中心(NV中心)の密度の低下を抑制する効果を奏する。
 図8は、本発明に係る第1の態様のセンサーアレイの基本概念を説明するためのバンド図である。
 なお、ここでは、上述の第1領域が略アン・ドープのp型のダイヤモンドであり、これを取り囲む第2領域がn型のダイヤモンドであると仮定している。しかし、本発明に係る第1の態様のセンサーアレイは、第1領域のエネルギーバンドを第2領域の存在により湾曲させ、このバンド湾曲により第2領域からの拡散による電子注入を生じさせるものであればよい。従って、例えば、第2領域はn型のダイヤモンドからなり、第1領域はi型乃至はp型のダイヤモンドからなるものであってもよい。また、第2領域はn型のダイヤモンドからなり、第1領域は、pn接合により形成される空乏領域であってもよい。要するに、異種導電型の接合部であって、該接合部の領域に、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)が形成された異種導電型の接合部を形成し、この接合部に形成される空乏領域である態様であってよい。
 図8(A)の(a)および(b)には、n型のダイヤモンドおよびn型のダイヤモンドのそれぞれのバンド図を示しており、少なくとも第1領域内に形成されているNV中心のエネルギー準位(NVレベル)は、ダイヤモンド結晶のバンドギャップ中に位置している。
 図8(A)の(a)に示したバンド図を有する第1領域(n型)が、図8(A)の(b)に示したような第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域(n型)で取り囲まれると、図8(B)にバンド図を示したように、第1領域内のエネルギーバンドは、第2領域との境界領域において湾曲を受ける。
 ダイヤモンド結晶中に形成されたNV中心は、室温では安定とされているものの、光照射などの外乱を受けた場合には、捕獲されていた電子が放出されてNV中心となってしまう傾向があり、一旦、NV中心となると、再び電子を捕獲するまではNV中心のまま結晶中に存在することとなる。
 このようなNV中心を再びNV中心として高空間分解能かつ高感度な磁気検出を可能とするNV中心とするためには、NV中心に電子を捕獲させる必要がある。
 本発明では、第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域で取り囲むことにより、第1領域内のエネルギーバンドを湾曲させ、このバンド湾曲により第2領域から電子を拡散により注入させることで、上記NV中心への電子捕獲を可能としている。
 なお、図8に示した概念図では、第2領域との境界領域のみでエネルギーバンドの湾曲が生じているが、第1領域の幅を狭くすることにより、あるいは第1の領域を低濃度のp型、あるいはi層にすることにより、実質的に、第1領域内の全域においてエネルギーバンドの湾曲を生じさせることが可能である。換言すれば、第1領域の幅を狭くすることにより、第1領域の幅全体にわたる「空乏化」を実現することが可能である。
 図9は、本発明に係る第1の態様のセンサーアレイのバンド図の一例を説明するための図である。この図に示した例では、第1の領域をi型(乃至は低濃度のp型:p型)とし、この第1の領域はn型の第2領域で取り囲まれており、実質的に、第1領域内の全域においてエネルギーバンドの湾曲が生じている(図9(A))。このようなエネルギーバンドの湾曲は、例えば、図9(B)に図示したように、中心部をi型(乃至は低濃度のp型)の第1領域とし、その周りがn型の第2領域となっている円柱状のピラー(図9(B)(a))や、中心部をi型(乃至は低濃度のp型)の第1領域とし、その周りがn型の第2領域となっている角柱状のピラー(図9(B)(b))を形成すること等により実現することができる。
 例えば、第2領域のドナー濃度が1×1018cm-3程度で第1領域のアクセプター濃度が1×1016cm-3程度の場合、第1領域と第2領域の境界から、第1領域側に約0.5μmの空乏層が両方の境界から形成される。従って、第1領域の幅を1.0μm程度とすると第1領域のほぼ全域において上述の効果を奏することができる。また、第1領域のアクセプター濃度が1×1017cm-3程度の場合には第1領域の幅を0.4μm程度、第1領域のアクセプター濃度が3×1016cm-3程度の場合には第1領域の幅を0.7μm程度とすると、第1領域のほぼ全域において上記効果を奏することができる。
 このような態様のセンサーアレイにおいても、第1領域の面方位を{111}面とし、NV中心の主軸を{111}面に直交する<111>軸に揃えることが好ましい。
 また、第1領域は、該第1領域のNV中心の濃度以上のドナー濃度を有していることが好ましく、第2領域はドナーレベルが1×1018cm-3以上のn型の導電型を有していることが好ましい。
 その場合、ドナーは一般には燐(P)とされるが、炭素を置換してP1センター(電荷0、スピンS=1/2)として結晶中に存在する窒素(N)不純物であってもよく、砒素(As)や硫黄(S)のほか、硼素(B)と水素(H)の複合体などであってもよい。
 また、第2領域のNV中心の濃度は、第1領域のNV中心の濃度よりも低いことが好ましい。
 また、上述のダイヤモンドは、例えば、基板上にCVD法で形成された窒素ドープのダイヤモンド膜であることが好ましい。このようなダイヤモンド膜は、例えば、下記のようにして得られる。高温高圧方法で合成されたIb型で(111)面(オフ角は10度以内)を有するダイヤモンド基板上に、反応室に窒素ガス、メタンガス、水素ガスを導入し、マイクロ波CVD法により、プラズマ中で成膜する。CVD条件は、例えば、トータルガス圧を25Torr、ガスのフローレートを400sccm、マイクロ波のパワーは750W、メタンと水素の混合比を0.05%程度とする。また、基板温度は800℃程度とする。このようなCVD法により得られたダイヤモンド膜は(111)面に主に配向し、この(111)面に直交する<111>軸である[111]を主軸とするNV中心が膜中に生成される。なお、窒素は成膜中に導入するのが望ましい。
 さらに、第1領域のそれぞれは、一方主面側(裏面側)に、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられている態様としてもよい。斯かる電極を設けて正電位を印加することにより、上述したエネルギーバンドの湾曲効果と同様、NV中心が再び電子を捕獲する確率を高めることができる。この点については後述する。
 上述した第1の態様のセンサーアレイを製造するには、例えば、板状のダイヤモンドの表面に2次元的に周期配列する柱状部を第1領域として形成し、該第1領域のそれぞれに、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を形成し、第1領域のそれぞれの周囲を取り囲む第2領域であって、第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域を形成して、上述したように第1領域のエネルギーバンドを湾曲させる。
 [センサーアレイ](第2の態様)
 本発明に係る第2の態様のセンサーアレイは、ダイヤモンドを用いた素子であって、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含む第1領域の一方主面側(裏面側)に、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられていることを特徴としている。好ましくは、第1領域は平面内で2次元的に周期配列されており、第1領域のそれぞれの一方主面側(裏面側)に、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられている。また、好ましくは、第1領域に接して、該第1領域よりも低いNV中心濃度を有する第2領域が形成されている。
 図10は、本発明に係る第2の態様のセンサーアレイの基本概念を説明するためのバンド図である。ここでも、上述の第1領域が略アン・ドープのn型のダイヤモンドであると仮定している。
 図10(A)に示したバンド図を有する第1領域の裏面側に酸化膜等の絶縁膜を介して電極が設け、この電極に正電位を印加すると、図10(B)にバンド図を示したように、第1領域内のエネルギーバンドは、絶縁膜との界面近傍において湾曲を受ける。
 上述のように、ダイヤモンド結晶中に形成されたNV中心は、光照射などの外乱を受けた場合に、捕獲されていた電子が放出されてNV中心となってしまう傾向がある。
 本発明に係る第2の態様のセンサーアレイでは、電極に正電位を印加することにより、絶縁膜との界面近傍において第1領域のエネルギーバンドを湾曲させて、NV中心が再び電子を捕獲する確率を高めている。
 このような態様のセンサーアレイにおいても、第1領域の面方位を{111}面とし、NV中心の主軸を{111}面に直交する<111>軸に揃えることが好ましい。
 また、第1領域は、該第1領域のNV中心の濃度以上のドナー濃度を有していることが好ましい。
 その場合、ドナーは一般には燐(P)とされるが、炭素を置換してP1センター(電荷0、スピンS=1/2)として結晶中に存在する窒素(N)不純物であってもよく、砒素(As)や硫黄(S)のほか、硼素(B)と水素(H)の複合体などであってもよい。
 また、第2領域のNV中心の濃度は、第1領域のNV中心の濃度よりも低いことが好ましい。
 また、上述のダイヤモンドは、例えば、基板上にCVD法で形成されたダイヤモンド薄膜であることが好ましい。
 上述した第2の態様のセンサーアレイを製造するには、例えば、板状のダイヤモンドの表面に2次元的に周期配列する柱状部を第1領域として形成し、該第1領域のそれぞれに、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を形成し、第1領域のそれぞれの周囲を取り囲む第2領域であって、第1領域よりも低いNV中心濃度を有する第2領域を形成し、第1領域のそれぞれの裏面側に、正電位を印加するための電極を絶縁膜を介して設ける。
 [センサーアレイの製造プロセス例:その1]
 図11は、本発明に係るセンサーアレイを製造するプロセス例を概念的に説明するための図である。
 先ず、主面が(111)のダイヤモンド基板10を準備し(図11(A))、上述の第1領域を平面内で2次元的に周期配列させるべく、このダイヤモンド基板10の主面に第1のマスク12を形成する(図11(B))。そして、この第1のマスク12で被覆された領域の周囲をエッチングにより除去し、2次元的に周期配列した柱状部11を形成する(図11(C))。なお、この基板10は、例えば、ボロン(B)をドープしたp型の単結晶ダイヤモンド基板であり、p型の場合にはp型(例えば、ボロン濃度が10×1016cm-3以下のドープ量のもの)であることが好ましく、乃真性半導体に近い抵抗率のもの(i型)であることがより好ましい。
 続いて、柱状部11の周囲の基板表面を第2のマスク13で保護した状態で、窒素(N)をイオン注入し、第1領域となる柱状部11にNV中心を形成する(図11(D))。なお、このイオン注入の工程では、柱状部11のそれぞれに単一のNV中心を形成することも可能である。なお、第2のマスク13を形成せず、全体に窒素(N)を導入しても同様の効果が得られる。
 第2のマスク13を除去した後、柱状部11の表面およびダイヤモンド基板10の表面の一部領域を第3のマスク14a、14bで保護し(図11(E))、柱状部11の周囲に燐(P)をドープしたn型のダイヤモンドをCVD法により結晶成長させ(図11(F))、その後に第3のマスク14a、14bを除去して、NV中心を含む第1領域が、第2の領域15で取り囲まれた状態で、平面内で2次元的に周期配列されたセンサーアレイを得る(図11(G))。
 なお、図11に示したプロセス例では、第1領域となる柱状部11とこれを取り囲む第2の領域15からなるピラー16相互間の干渉を抑制するために、ピラー16を互いに離間すべく、ダイヤモンド基板10の表面の一部領域を第3のマスク14bで保護することとしている。例えば、第1領域となる柱状部11の幅が0.5μm程度である場合、ピラー16の間隔は1μm程度とする。
 [センサーアレイの製造プロセス例:その2]
 図12は、本発明に係るセンサーアレイを製造する他のプロセス例を概念的に説明するための図である。
 主面が(111)の単結晶ダイヤモンド基板10aを準備し(図12(A))、このダイヤモンド基板10aの主面に、CVD法により、例えば、導電型がp型(乃至はi型)の単結晶ダイヤモンド薄膜10bを形成する(図12(B))。なお、単結晶ダイヤモンド薄膜10bは、p型の場合にはp型(例えば、ボロン濃度が10×1016cm-3以下のドープ量のもの)乃至は真性半導体に近い抵抗率のものであることが好ましい。このダイヤモンド基板10aとダイヤモンド薄膜10bが、上述のダイヤモンド基板10に相当する。
 この後の工程は、図11を用いて説明したものと同様であり、第1領域を平面内で2次元的に周期配列させるべく、ダイヤモンド基板10の主面に第1のマスク12を形成し(図12(C))、この第1のマスク12で被覆された領域の周囲をエッチングにより除去して2次元的に周期配列した柱状部11を形成する(図12(D))。
 続いて、柱状部11の周囲の基板表面を第2のマスク13で保護した状態で、窒素(N)をイオン注入し、第1領域となる柱状部11にNV中心を形成し(図12(E))、第2のマスク13を除去した後に柱状部11の表面およびダイヤモンド基板10の表面の一部領域を第3のマスク14a、14bで保護し(図12(F))、柱状部11の周囲に燐(P)をドープしたn型のダイヤモンドをCVD法により結晶成長させ(図12(G))、その後に第3のマスク14a、14bを除去して、NV中心を含む第1領域が、第2の領域15で取り囲まれた状態で、平面内で2次元的に周期配列されたセンサーアレイを得る(図12(H))。
 ここで、上記の柱状部の形状に特別な制限はなく、その横断面は矩形であってもよく円形であってもよいが、等方性という観点からは、横断面が円形、つまり、円柱状のピラー16とすることが好ましい。
 上述の第1領域の周期配列は、例えば、ダイヤモンド表面を上方から眺めたときに、2次元正方格子の各格子点に第1領域の中心が位置している正方周期配列である。
 また、上述の第1領域の周期配列は、例えば、ダイヤモンド表面を上方から眺めたときに、特定の第1領域の中心位置を中心点とする正六角形の6つの頂点のそれぞれに他の第1領域の中心が位置している六方充填配列である。
 [センサーアレイの製造プロセス例:その3]
 図13は、本発明に係るセンサーアレイを製造する他のプロセス例を概念的に説明するための図で、このプロセス例では、イオン注入法によらず、CVD法により単結晶ダイヤモンド薄膜10bを成膜する際に窒素をドーピングしてNV中心を生成させる。
 主面が(111)の単結晶ダイヤモンド基板10aを準備し(図13(A))、このダイヤモンド基板10aの主面に、CVD法により、窒素(N)をドープした、主面が(111)の単結晶ダイヤモンド薄膜10bを形成する(図13(B))。この、ダイヤモンド基板10aとダイヤモンド薄膜10bが、上述のダイヤモンド基板10に相当する。単結晶ダイヤモンド薄膜10bの成膜には、プロセスガスとして、水素、メタン、窒素の混合ガスを用いる。CVD反応中に窒素が取り込まれ、成膜後の単結晶ダイヤモンド薄膜10bには既にNV中心が生成されている。なお、単結晶ダイヤモンド薄膜10b中のNV中心の濃度を更に増大させるために、電子線を照射したり、或いはヘリウムをイオン注入するなどの後にアニールを行うようにしてもよい。
 続いて、第1領域を平面内で2次元的に周期配列させるべく、ダイヤモンド膜10bの主面に第1のマスク12を形成し(図13(C))、この第1のマスクで被覆された領域の周囲をエッチングにより除去して2次元的に周期配列した柱状部11を形成する(図13(D))。その後、上記第1のマスク12を除去せず、柱状部11の周囲に燐(P)をドープしたn型のダイヤモンドをCVD法により結晶成長させて第2の領域15を形成する(図13(E))。その後に第1のマスク12を除去すると、NV中心を含む第1領域11が、第2の領域15で取り囲まれた状態で、平面内で2次元的に周期配列されたセンサーアレイが得られる(図13(F))。
 [センサーアレイの製造プロセス例:その4]
 上述したように、本発明に係るセンサーアレイは、第1領域のエネルギーバンドを第2領域の存在により湾曲させ、このバンド湾曲により第2領域からの拡散による電子注入を生じさせるものであればよい。従って、第2領域はn型のダイヤモンドからなり、第1領域は、pn接合をはじめとする異種導電型の接合部に形成される空乏領域である態様であってもよい。以降の説明では、このような異種導電型の接合部を、いわゆるpn接合として説明するが、「pn接合」や「in接合」であってもよい。また、この異種導電型の接合部に電流を注入する手段もしくは電圧を印加する手段を備える態様としてもよい。
 このようなセンサーアレイは、板状のダイヤモンドの主面上に、ダイヤモンドからなるpn接合部であって、該pn接合部に形成される空乏化領域に、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)が形成されたpn接合部を複数形成することにより製造することができる。
 図14は、このようなセンサーアレイを製造するプロセス例を概念的に説明するための図で、主面が(100)の単結晶ダイヤモンド基板10を準備し(図14(A))、このダイヤモンド基板10の主面に、CVD法により、例えば、導電型がp型(乃至はi型)の単結晶ダイヤモンド薄膜17を形成する(図14(B))。なお、単結晶ダイヤモンド薄膜10bは、p型の場合にはp型(例えば、ボロン濃度が10×1016cm-3以下のドープ量のもの)乃至は真性半導体に近い抵抗率のものであることが好ましい。単結晶ダイヤモンド薄膜17の成膜には、プロセスガスとして、水素、メタン、窒素の混合ガスを用いる。この場合、NV中心を形成するための窒素(N)は、CVDプロセス中に膜中に導入される。これに限らず、CVD膜形成後の窒素イオン注入によっても膜中にNV中心を形成することができる。
 続いて、p型ダイヤモンド膜17の主面にマスク18を形成し(図14(C))、このマスク18で被覆された領域の周囲をエッチングにより除去して2次元的に周期配列した柱状部17aを形成する(図14(D))。その後、上記マスク18を除去せず、柱状部17aの周囲に燐(P)をドープしたn型のダイヤモンド19をCVD法により結晶成長させて第2の領域を形成する(図14(E))。その後にマスク18を除去すると、板状のダイヤモンドの主面上に、ダイヤモンドからなるpn接合部であって、該pn接合部形成される空乏化領域に、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)が形成されたpn接合部を複数備えたセンサーアレイが得られる(図14(F))。
 図15もまた、上記センサーアレイを製造するプロセス例を概念的に説明するための図で、主面が(111)の単結晶ダイヤモンド基板10を準備し(図15(A))、このダイヤモンド基板10の主面に、CVD法により、例えば、導電型がp型(乃至はi型)の単結晶ダイヤモンド薄膜17を形成する(図15(B))。なお、単結晶ダイヤモンド薄膜10bは、p型の場合にはp型(例えば、ボロン濃度が10×1016cm-3以下のドープ量のもの)乃至は真性半導体に近い抵抗率のものであることが好ましい。単結晶ダイヤモンド薄膜17の成膜には、プロセスガスとして、水素、メタン、窒素の混合ガスを用いる。この場合、NV中心を形成するための窒素(N)は、CVDプロセス中に膜中に導入される。これに限らず、CVD膜形成後の窒素イオン注入によっても膜中にNV中心を形成することができる。
 続いて、p型ダイヤモンド膜17の主面にマスク18を形成し(図15(C))、このマスク18で被覆された領域の周囲に燐(P)をドープしたn型のダイヤモンド19をCVD法により結晶成長させて第2の領域を形成する(図15(D))。その後にマスク18を除去すると、板状のダイヤモンドの主面上に、ダイヤモンドからなるpn接合部であって、該pn接合部に形成される空乏化領域に、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)が形成されたpn接合部を複数備えたセンサーアレイが得られる(図15(E))。
 図16もまた、上記センサーアレイを製造するプロセス例を概念的に説明するための図で、主面が(111)の単結晶ダイヤモンド基板10を準備し(図16(A))、このダイヤモンド基板10の主面に、CVD法により、例えば、導電型がp型(乃至はi型)の単結晶ダイヤモンド薄膜17を形成する(図16(B))。なお、単結晶ダイヤモンド薄膜10bは、p型の場合にはp型(例えば、ボロン濃度が10×1016cm-3以下のドープ量のもの)乃至は真性半導体に近い抵抗率のものであることが好ましい。単結晶ダイヤモンド薄膜17の成膜には、プロセスガスとして、水素、メタン、窒素の混合ガスを用いる。この場合、NV中心を形成するための窒素(N)は、CVDプロセス中に膜中に導入される。これに限らず、CVD膜形成後の窒素イオン注入によっても膜中にNV中心を形成することができる。
 続いて、p型ダイヤモンド膜17の主面にCVD法により、燐(P)をドープしたn型の単結晶ダイヤモンド薄膜19を形成し(図16(C))、さらに、このn型単結晶ダイヤモンド薄膜19の主面にマスク18を形成し(図16(D))、このマスク18で被覆された領域の周囲をエッチングで除去する(図16(E))。その後にマスク18を除去すると、板状のダイヤモンドの主面上に、ダイヤモンドからなるpn接合部であって、該pn接合部に形成される空乏化領域に、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)が形成されたpn接合部を複数備えたセンサーアレイが得られる(図16(F))。
 図14~16に例示したプロセス以外のものであっても、上記pn接合部を複数備えたセンサーアレイが得られることは、当業者にとって自明である。
 [磁気計測装置]
 本発明に係る磁気計測装置に用いられる磁気センサーは、上述のセンサーアレイ20と、該センサーアレイの第1領域のそれぞれの表面から射出する光信号であって、前記NV中心の電子スピン共鳴に起因して生じる光信号を検知する光センサー21を備えている。
 図17は、本発明に係る磁気計測装置の構成例の概略を説明するためのブロック図である。この磁気計測装置は、センサーアレイ20に対向して設けられた、検体23を載置するための試料ステージ22と、センサーアレイ20に青緑色光を照射する光学系24と、センサーアレイ20に周波数可変のマイクロ波を照射するマイクロ波生成部25と、前記光センサー21で検知したNV中心の電子スピン共鳴に起因して生じた光信号を処理する信号処理部26と、を備えている。
 この図に示した構成例では、光学系24は、光源24a、照射レンズ24b、および、ダイクロックミラー24cを備えており、光源24aからは、マイクロ波源とセンサーインターフェースを兼ねるモジュール27に接続された制御回路28からの信号を受けて638nmの緑色光が射出され、当該緑色光はダイクロックミラー24cにより、下方に位置するセンサーアレイ20に照射される。
 周波数可変のマイクロ波は、モジュール27に接続された制御回路28からの信号を受けて、マイクロ波生成部25を介して、センサーアレイ20へと照射される。
 なお、図17には、磁気計測装置100に、センサーアレイ20に電界を印加するための電界生成部29を設けた態様を示したが、電界生成部29を設けない態様としてもよい。
 このような電界生成部29は、例えば、第1領域を含むダイヤモンド結晶部の上下面側若しくは側面側に、互いに対向して設けられた少なくとも2つの電極を有する電界生成部である。
 図18は、センサーアレイ20に電界を印加した場合に、ODMR信号の線幅がシャープになる様子を説明するための図である。この図に示した例では、+200V~-200Vの範囲でセンサーアレイ20に電界を印加したが、電界の正負の何れにおいても、印加電圧(の絶対値)が大きくなるにつれて、ODMR信号の線幅がシャープになる様子が明瞭に確認できる。
 この現象は、電界の印加により、センサーアレイ20の第1領域中のNV中心の電子スピンの密度分布が変化し、その結果、電子スピンと核スピンの相互作用の大きさが変化したためであると考えられる。このようなODMR信号の線幅減少は、磁場センサーの感度を顕著に向上させることを可能とする。なお、本発明に係るダイヤモンド素子は、磁気センサーや磁気計測装置としての応用にとどまらず、温度センサー、電界センサー、電流センサー、加速度センサーなどの各種センサーおよびこれを用いた計測装置としての応用も可能である。
 以上、本発明の実施の態様を、図面を参照して説明したが、本発明に包含される態様を整理すると、例えば、下記のとおりとなる。
 本発明に係る第1の態様のダイヤモンド結晶は、表面乃至表面近傍に、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含むNV領域を有し、該NV領域はNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している、ことを特徴とする。
 好ましくは、前記NV領域のドナー濃度が1×1012cm-3以上である。
 例えば、前記ドナーは燐(P)である。
 好ましくは、前記NV領域の面方位が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面である。
 また、好ましくは、前記NV領域は、ダイヤモンド基板上にCVD法で形成されたダイヤモンド膜である。
 本発明に係る第2の態様のダイヤモンド結晶は、表面乃至表面近傍に、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含むNV領域を有し、前記NV領域の結晶面が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面であり、前記NV中心の主軸が前記{111}面に直交する<111>軸である、ことを特徴とする。
 好ましくは、前記NV領域はNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している。
 また、好ましくは、前記NV領域のドナー濃度が1×1012cm-3以上である。
 例えば、前記ドナーは燐(P)である。
 好ましくは、前記NV領域は、ダイヤモンド基板上にCVD法で形成されたダイヤモンド膜である。
 本発明に係る第1の態様のダイヤモンド素子は、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含む第1領域に接して、該第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域が形成されている、ことを特徴とする。
 好ましくは、前記第1領域が平面内で2次元的に周期配列されており、前記第1領域のそれぞれの側面若しくは周囲に、該第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域が形成されている。
 また、好ましくは、前記第2領域はn型のダイヤモンドからなり、前記第1領域はi型乃至はp型のダイヤモンドからなる。
 また、好ましくは、前記第2領域はドナーレベルが1×1018cm-3以上のn型の導電型を有している。
 例えば、前記ドナーは燐(P)である。
 好ましくは、前記第1領域の面方位が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面であり、前記NV中心の主軸が前記{111}面に直交する<111>軸である。
 また、好ましくは、前記第1領域は、該第1領域のNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している。
 また、好ましくは、前記第1領域のそれぞれは、前記NV中心の濃度が該第1領域よりも低い第2領域で取り囲まれている。
 また、好ましくは、前記ダイヤモンドは、基板上にCVD法で形成されたダイヤモンド膜である。
 さらに、好ましくは、前記第1領域のそれぞれは、一方主面側(裏面側)に、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられている。
 本発明に係る第2の態様のダイヤモンド素子は、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含む第1領域の一方主面側(裏面側)に、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられている、ことを特徴とする。
 好ましくは、前記第1領域が平面内で2次元的に周期配列されており、前記第1領域のそれぞれの一方主面側(裏面側)には、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられている。
 また、好ましくは、前記第1領域の面方位が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面であり、前記NV中心の主軸が前記{111}面に直交する<111>軸である。
 また、好ましくは、前記第1領域は、該第1領域のNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している。
 例えば、前記ドナーは燐(P)である。
 好ましくは、前記第1領域のそれぞれは、前記NV中心の濃度が該第1領域よりも低い第2領域で取り囲まれている。
 また、好ましくは、前記ダイヤモンドは、基板上にCVD法で形成されたダイヤモンド膜である。
 本発明において、好ましくは、前記第1領域を含むダイヤモンド結晶部の上下面側若しくは側面側に、互いに対向して設けられた少なくとも2つの電極を有する電界生成部を更に備えている。
 また、本発明において、前記第1領域の周期配列は、例えば、前記平面を上方から眺めたときに、2次元正方格子の各格子点に前記第1領域の中心が位置している正方周期配列である。
 さらに、本発明において、前記第1領域の周期配列は、例えば、前記平面を上方から眺めたときに、特定の第1領域の中心位置を中心点とする正六角形の6つの頂点のそれぞれに他の第1領域の中心が位置している六方充填配列である。
 本発明に係る磁気センサーは、上述のダイヤモンド素子と、該ダイヤモンド素子の前記第1領域のそれぞれの表面から射出する光信号であって、前記NV中心の電子スピン共鳴に起因して生じる光信号を検知する光センサーを備えている。
 また、本発明に係る磁気計測装置は、上記磁気センサーを備えた磁気計測装置であって、前記センサーアレイに対向して設けられた試料ステージと、前記ダイヤモンド素子に青緑色光を照射する光学系と、前記前記ダイヤモンド素子に周波数可変のマイクロ波を照射するマイクロ波生成部と、前記光センサーで検知した前記NV中心の電子スピン共鳴に起因して生じた光信号を処理する信号処理部と、を備えている。
 本発明に係る磁気計測装置は、好ましくは、前記第1領域を含むダイヤモンド結晶部の上下面側若しくは側面側に、互いに対向して設けられた少なくとも2つの電極を有する電界生成部を更に備えている。
 本発明に係る第1の態様のセンサーアレイの製造方法は、板状のダイヤモンドの表面に2次元的に周期配列する柱状部を第1領域として形成し、該第1領域のそれぞれに、前記ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を形成し、前記第1領域のそれぞれの周囲を取り囲む第2領域であって、前記第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域を形成する、ことを特徴とする。
 本発明に係る第2の態様のセンサーアレイの製造方法は、板状のダイヤモンドの表面に2次元的に周期配列する柱状部を第1領域として形成し、該第1領域のそれぞれに、前記ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を形成し、前記第1領域のそれぞれの周囲を取り囲む第2領域であって、前記第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域を形成し、前記第1領域の一方主面側(裏面側)に、正電位を印加するための電極を絶縁膜を介して設ける、ことを特徴とする。
 好ましくは、前記第2領域を、前記第1領域よりも低いNV中心濃度を有するように形成する。
 例えば、前記第1領域の周期配列を、前記平面を上方から眺めたときに、2次元正方格子の各格子点に前記第1領域の中心が位置している正方周期配列とする。
 また、例えば、前記第1領域の周期配列を、前記平面を上方から眺めたときに、特定の第1領域の中心位置を中心点とする正六角形の6つの頂点のそれぞれに他の第1領域の中心が位置している六方充填配列とする。
 好ましくは、前記第1領域の結晶面を、{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面とする。
 また、好ましくは、前記第2領域をn型のダイヤモンドとし、前記第1領域をi型乃至はp型のダイヤモンドとする。
 また、好ましくは、前記第2領域を、ドナーレベルが1×1018cm-3以上のn型のダイヤモンドとする。
 また、好ましくは、前記第1領域のドナー濃度を、該第1領域のNV中心の濃度以上となるように制御する。
 さらに、好ましくは、前記ダイヤモンドを、基板上にCVD法で形成されたダイヤモンド膜として形成する。
 本発明に係る他の態様のセンサーアレイの製造方法は、板状のダイヤモンドの主面上に、ダイヤモンドからなる異種導電型の接合部であって、該接合部の領域に、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)が形成された異種導電型の接合部を複数形成する、ことを特徴とする。なお、この異種導電型の接合部に電流を注入する手段もしくは電圧を印加する手段を備える態様としてもよい。
 本発明に係るダイヤモンド結晶によれば、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)のほぼ100%を負電荷の状態(NV)とすること、また、NV中心のスピン状態を一方向に揃えることが可能となり、光検出磁気共鳴(ODMR:Optically Detected Magnetic Resonance)信号のピークがシャープになることに加え、コントラストも向上する。
 さらに、本発明に係るダイヤモンド素子によれば、上記ダイヤモンド結晶中に生成したNV中心を、負電荷の状態(NV)に維持することが可能となる。
 その結果、本発明に係るダイヤモンド素子を備えた磁気センサーにより、常温且つ大気中における2次元的な磁気測定を、従来のものに比較して高感度で行うことが可能となる。
 なお、上述の効果は、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を利用したダイヤモンド素子等についてだけでなく、ダイヤモンドの炭素原子を置換したSiやPやGeなどの元素と該置換元素に隣接する空孔(V)の複合体を利用したダイヤモンド素子等でも同様の効果が得られる。また、本発明に係るダイヤモンド素子は、磁気センサーや磁気計測装置としての応用にとどまらず、温度センサー、電界センサー、電流センサー、加速度センサーなどの各種センサーおよびこれを用いた計測装置としての応用も可能である。
 10、10a ダイヤモンド基板
 10b ダイヤモンド薄膜
 11 第1の領域(柱状部)
 12 第1のマスク
 13 第2のマスク
 14a、14b 第3のマスク
 15 第2の領域
 16 ピラー
 17 p型乃至i型ダイヤモンド薄膜
 17a 柱状部
 18 マスク
 19 n型ダイヤモンド膜
 20 センサーアレイ
 21 光センサー
 22 試料ステージ
 23 検体
 24 光学系
 24a 光源
 24b 照射レンズ
 24c ダイクロックミラー
 25 マイクロ波生成部
 26 信号処理部
 27 モジュール
 28 制御回路
 29 電界生成部
 100 磁気計測装置

Claims (26)

  1.  表面乃至表面近傍に、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含むNV領域を有し、該NV領域はNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している、ことを特徴とするダイヤモンド結晶。
  2.  表面乃至表面近傍に、炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含むNV領域を有し、前記NV領域の結晶面が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面であり、前記NV中心の主軸が前記{111}面に直交する<111>軸である、ことを特徴とするダイヤモンド結晶。
  3.  前記ドナー濃度は、10×1015cm-3~10×1019cm-3の範囲にある、請求項1または2に記載のダイヤモンド結晶。
  4.  前記NV領域は、CVD法若しくは高温高圧法(HPHT法)により成長させた窒素ドープのダイヤモンド結晶膜に形成されている、請求項1~3の何れか1項に記載のダイヤモンド結晶。
  5.  請求項1~4の何れか1項に記載のダイヤモンド結晶を用いたダイヤモンド素子。
  6.  ダイヤモンドを用いた素子であって、前記ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含む第1領域に接して、該第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域が形成されている、ことを特徴とするダイヤモンド素子。
  7.  前記第1領域が平面内で2次元的に周期配列されており、前記第1領域のそれぞれの側面若しくは周囲に、該第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域が形成されている、請求項6に記載のダイヤモンド素子。
  8.  前記第2領域はn型のダイヤモンドからなり、前記第1領域はi型乃至はp型のダイヤモンドからなる、請求項6または7に記載のダイヤモンド素子。
  9.  前記第2領域はn型のダイヤモンドからなり、前記第1領域は、pn接合により形成される空乏領域である、請求項6に記載のダイヤモンド素子。
  10.  前記第2領域はドナーレベルが1×1018cm-3以上のn型の導電型を有している、請求項6~9の何れか1項に記載のダイヤモンド素子。
  11.  ダイヤモンドを用いた素子であって、前記ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を含む第1領域の一方主面側に、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられている、ことを特徴とするダイヤモンド素子。
  12.  前記第1領域が平面内で2次元的に周期配列されており、前記第1領域のそれぞれの一方主面側には、正電位を印加するための電極が絶縁膜を介して設けられている、請求項11に記載のダイヤモンド素子。
  13.  前記第1領域に接して、該第1領域よりも低いNV中心濃度を有する第2領域が形成されている、請求項6~12の何れか1項に記載のダイヤモンド素子。
  14.  前記第1領域の結晶面が{111}面若しくは{111}面と±10°以内のオフ角を有する面であり、前記NV中心の主軸が前記{111}面に直交する<111>軸である、請求項6~13の何れか1項に記載のダイヤモンド素子。
  15.  前記第1領域は、該第1領域のNV中心の濃度以上のドナー濃度を有している、請求項6~14の何れか1項に記載のダイヤモンド素子。
  16.  前記ドナー濃度は、10×1015cm-3~10×1019cm-3の範囲にある、請求項6~15の何れか1項に記載のダイヤモンド結晶。
  17.  前記ダイヤモンドは、基板上にCVD法若しくは高温高圧法(HPHT法)で形成されたダイヤモンド膜である、請求項6~16の何れか1項に記載のダイヤモンド素子。
  18.  前記第1領域を含むダイヤモンド結晶部の上下面側若しくは側面側に、互いに対向して設けられた少なくとも2つの電極を有する電界生成部を更に備えている、請求項6~17の何れか1項に記載のダイヤモンド素子。
  19.  前記第1領域の周期配列は、前記平面を上方から眺めたときに、2次元正方格子の各格子点に前記第1領域の中心が位置している正方周期配列である、請求項7~10または12~18の何れか1項に記載のダイヤモンド素子。
  20.  前記第1領域の周期配列は、前記平面を上方から眺めたときに、特定の第1領域の中心位置を中心点とする正六角形の6つの頂点のそれぞれに他の第1領域の中心が位置している六方充填配列である、請求項7~10または12~18の何れか1項に記載のダイヤモンド素子。
  21.  請求項6~20の何れかに記載のダイヤモンド素子を用いた磁気センサーであって、前記第1領域のそれぞれの表面から射出する光信号であって、前記NV中心の電子スピン共鳴に起因して生じる光信号を検知する光センサーを備えている、磁気センサー。
  22.  請求項21に記載の磁気センサーを備えた磁気計測装置であって、前記ダイヤモンド素子に対向して設けられた試料ステージと、前記ダイヤモンド素子に青緑色光を照射する光学系と、前記ダイヤモンド素子に周波数可変のマイクロ波を照射するマイクロ波生成部と、前記光センサーで検知した前記NV中心の電子スピン共鳴に起因して生じた光信号を処理する信号処理部と、を備えた磁気計測装置。
  23.  前記第1領域を含むダイヤモンド結晶部の上下面側若しくは側面側に、互いに対向して設けられた少なくとも2つの電極を有する電界生成部を更に備えている、請求項22に記載の磁気計測装置。
  24.  板状のダイヤモンドの表面に2次元的に周期配列する柱状部を第1領域として形成し、該第1領域のそれぞれに、前記ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)を形成し、前記第1領域のそれぞれの周囲を取り囲む第2領域であって、前記第1領域よりも高いドナー濃度を有する第2領域を形成する、ことを特徴とするセンサーアレイの製造方法。
  25.  前記第1領域の一方主面側に、正電位を印加するための電極を、絶縁膜を介して設ける、ことを特徴とする請求項24に記載のセンサーアレイの製造方法。
  26.  板状のダイヤモンドの主面上に、ダイヤモンドからなる異種導電型の接合部であって、該接合部の領域に、ダイヤモンドの炭素原子を置換した窒素(N)と該窒素に隣接する空孔(V)の複合体(NV中心)が形成された異種導電型の接合部を複数形成する、ことを特徴とするセンサーアレイの製造方法。
     
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Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016008961A (ja) * 2014-06-26 2016-01-18 ルネサスエレクトロニクス株式会社 磁気計測装置
JP2016114563A (ja) * 2014-12-17 2016-06-23 ルネサスエレクトロニクス株式会社 磁気計測装置
WO2016177490A1 (de) * 2015-05-04 2016-11-10 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum messen eines elektrischen stroms und stromsensor
JP2017146158A (ja) * 2016-02-16 2017-08-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 磁気計測装置
JP2017162910A (ja) * 2016-03-08 2017-09-14 国立大学法人東京工業大学 半導体装置および測定装置
WO2018155504A1 (ja) 2017-02-21 2018-08-30 住友電気工業株式会社 ダイヤモンド磁気センサー
JP2018136316A (ja) * 2017-02-21 2018-08-30 日新電機株式会社 検出装置及び検出方法、並びに、それを用いた電圧電流検出装置
JP2018141706A (ja) * 2017-02-28 2018-09-13 日本電信電話株式会社 磁場検出装置および方法
CN109219756A (zh) * 2016-06-10 2019-01-15 罗伯特·博世有限公司 传感器装置、用于校准传感器装置的方法和用于检测测量参量的方法
JP2019506356A (ja) * 2015-12-22 2019-03-07 エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド 磁気測定用途に最適化された窒素含有単結晶ダイヤモンド材料
WO2019168097A1 (ja) * 2018-03-02 2019-09-06 国立大学法人京都大学 センサ素子、測定装置、センサ素子の製造方法、電子回路素子、および量子情報素子
JP2019184296A (ja) * 2018-04-04 2019-10-24 スミダコーポレーション株式会社 微小電流検知装置
JP2019211271A (ja) * 2018-06-01 2019-12-12 株式会社日立製作所 探針製造装置、及び方法
JP2020045252A (ja) * 2018-09-14 2020-03-26 株式会社東芝 ダイヤモンド基板、量子デバイス、量子システム、及び、ダイヤモンド基板の製造方法
WO2020071383A1 (ja) * 2018-10-02 2020-04-09 国立大学法人京都大学 センサ素子、測定装置および測定方法
JP2020183332A (ja) * 2019-05-08 2020-11-12 株式会社デンソー ダイヤモンド層の製造方法
JP2021512219A (ja) * 2018-01-26 2021-05-13 エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド 合成ダイヤモンド材料
WO2021172240A1 (ja) * 2020-02-27 2021-09-02 国立大学法人京都大学 ダイヤモンド、センサ素子、およびダイヤモンドの製造方法
WO2021172166A1 (ja) * 2020-02-28 2021-09-02 スミダコーポレーション株式会社 磁場測定装置および磁場測定方法
CN114047556A (zh) * 2021-11-15 2022-02-15 中国电子科技集团公司第十三研究所 基于金刚石nv色心的磁力探测头及磁力探测系统
WO2022210566A1 (ja) * 2021-03-31 2022-10-06 住友電気工業株式会社 単結晶ダイヤモンド及びその製造方法、並びに、単結晶ダイヤモンドプレートの製造方法
WO2022264754A1 (ja) * 2021-06-16 2022-12-22 信越化学工業株式会社 ダイヤモンド基板及びその製造方法
EP4112786A1 (en) 2021-07-02 2023-01-04 Shin-Etsu Polymer Co., Ltd. Method of manufacturing diamond substrate
EP4112787A1 (en) 2021-07-02 2023-01-04 Shin-Etsu Polymer Co., Ltd. Method of manufacturing diamond substrate
JP7530284B2 (ja) 2020-12-22 2024-08-07 矢崎総業株式会社 センサ
WO2024162167A1 (ja) * 2023-02-01 2024-08-08 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ダイヤモンド半導体装置

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10620251B2 (en) 2016-06-28 2020-04-14 Massachusetts Institute Of Technology Spin-based electrometry with solid-state defects
DE102017205268A1 (de) * 2017-03-29 2018-10-04 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Fertigen einer Kristallkörpereinheit für eine Sensorvorrichtung, Verfahren zum Herstellen einer Sensorvorrichtung, System und Verfahren zum Erfassen einer Messgröße sowie Sensorvorrichtung
DE102017206279A1 (de) * 2017-04-12 2018-10-18 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Fertigen einer Kristallkörpereinheit für eine Sensorvorrichtung, Verfahren zum Herstellen einer Sensorvorrichtung, Verfahren zum Erfassen einer Messgröße, Kristallkörpereinheit und Sensorvorrichtung
CN107356820A (zh) * 2017-06-07 2017-11-17 南京邮电大学 一种基于脉冲光探测磁共振的电磁场近场成像系统及方法
WO2019080001A1 (zh) * 2017-10-25 2019-05-02 深圳先进技术研究院 金刚石纳米针结构及其制备方法与应用
KR101958929B1 (ko) * 2017-10-25 2019-07-02 한국과학기술연구원 다이아몬드 양자노드와 이를 생성하는 방법 및 이에 따라 생성된 다이아몬드 양자노드를 제어하는 방법과 장치
WO2019132973A1 (en) * 2017-12-29 2019-07-04 Halliburton Energy Services, Inc. Nitrogen-vacancy-based downhole sensing
CN108333207B (zh) * 2018-03-19 2020-03-31 中国科学技术大学 一种零场顺磁共振的测量方法以及测量系统
CN108983121B (zh) * 2018-06-06 2020-07-03 中北大学 集成odmr功能部件的金刚石nv磁强计及制作工艺
DE102019117423A1 (de) 2019-06-27 2020-12-31 Universität Leipzig Verfahren zur Erzeugung zumindest eines deterministischen Farbzentrums in einer Diamantschicht
WO2021023229A1 (en) 2019-08-05 2021-02-11 Goldway Technology Limited Diamond authentication process and system therefore
WO2021067587A1 (en) 2019-10-02 2021-04-08 X Development Llc Magnetometry based on electron spin defects
DE102021101580A1 (de) * 2020-01-30 2021-08-05 Elmos Semiconductor Se Sensorelement mit räumlicher Dichtemodulation der NV-Zentren-Dichte
US11156675B2 (en) * 2020-03-05 2021-10-26 Honeywell International Inc. Magnetometer device based on electrical pumping in nitrogen-vacancy centers in diamond
CN111584382B (zh) * 2020-04-27 2023-02-24 哈尔滨工业大学 利用金刚石nv色心原位表征异质界面状态的方法
WO2022056232A1 (en) 2020-09-10 2022-03-17 X Development Llc Magnetometry based on electron spin defects
KR102565160B1 (ko) * 2020-11-05 2023-08-11 한국표준과학연구원 다이아몬드 질소-빈자리 센서를 이용한 온도 측정 장치 및 제작 방법
CN112362683B (zh) * 2020-11-10 2022-04-08 之江实验室 一种金刚石中自旋缺陷浓度的精确标定方法
US11531073B2 (en) 2020-12-31 2022-12-20 X Development Llc Fiber-coupled spin defect magnetometry
US11774384B2 (en) 2021-01-15 2023-10-03 X Development Llc Spin defect magnetometry pixel array
EP4334708A1 (en) * 2021-05-05 2024-03-13 The University of Melbourne Solid state electric field sensor
CN113237859A (zh) * 2021-05-11 2021-08-10 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 金刚石薄膜荧光高效收集装置
CN113933906B (zh) * 2021-11-15 2024-02-13 中国电子科技集团公司第十三研究所 金刚石nv色心磁力探测模块及磁力探测系统
CN115008777B (zh) * 2022-06-10 2023-06-30 安徽省国盛量子科技有限公司 一种温度传感宽场探头的制作方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011529018A (ja) * 2008-07-23 2011-12-01 エレメント シックス リミテッド ダイヤモンド材料
JP2012110489A (ja) 2010-11-24 2012-06-14 Sumitomo Electric Ind Ltd 磁気計測装置、及び、磁気センサ素子の製造方法
JP2012121747A (ja) 2010-12-07 2012-06-28 Sumitomo Electric Ind Ltd ダイヤモンド基板、その製造方法及び製造装置
JP2012121748A (ja) 2010-12-07 2012-06-28 Sumitomo Electric Ind Ltd ダイヤモンド及びこれを用いた磁気センサー
WO2012152617A1 (en) * 2011-05-06 2012-11-15 Element Six Limited Diamond sensors, detectors, and quantum devices

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009073736A1 (en) * 2007-12-03 2009-06-11 President And Fellows Of Harvard College Spin based magnetometer
US9082673B2 (en) * 2009-10-05 2015-07-14 Zena Technologies, Inc. Passivated upstanding nanostructures and methods of making the same
US9910104B2 (en) * 2015-01-23 2018-03-06 Lockheed Martin Corporation DNV magnetic field detector
GB2562957A (en) * 2016-01-21 2018-11-28 Lockheed Corp Magnetometer with light pipe
GB2562193B (en) * 2016-01-21 2021-12-22 Lockheed Corp Diamond nitrogen vacancy sensor with common RF and magnetic fields generator

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011529018A (ja) * 2008-07-23 2011-12-01 エレメント シックス リミテッド ダイヤモンド材料
JP2012110489A (ja) 2010-11-24 2012-06-14 Sumitomo Electric Ind Ltd 磁気計測装置、及び、磁気センサ素子の製造方法
JP2012121747A (ja) 2010-12-07 2012-06-28 Sumitomo Electric Ind Ltd ダイヤモンド基板、その製造方法及び製造装置
JP2012121748A (ja) 2010-12-07 2012-06-28 Sumitomo Electric Ind Ltd ダイヤモンド及びこれを用いた磁気センサー
WO2012152617A1 (en) * 2011-05-06 2012-11-15 Element Six Limited Diamond sensors, detectors, and quantum devices

Non-Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A. TALLAIRE ET AL.: "High quality thick CVD diamond films homoepitaxially grown on 111)- oriented substrates", DIAMOND AND RELATED MATERIALS, vol. 41, pages 34 - 40, XP055213201 *
D LE SAGE ET AL., NATURE, vol. 496, 2013, pages 486 - 489
J. R. MAZE ET AL., NATURE, vol. 455, 2008, pages 644 - 647
S. HONG, MRS BUL., vol. 38, February 2013 (2013-02-01)
V. M. ACOSTA ET AL., PHYS. REV. B, vol. 80, 2009, pages 115202
YUSEI DOI ET AL.: "Pin Diamond Handotai eno Denryu Chunyu ni yoru Tan'itsu NV Chushin no Denka Seigyo", DIAMOND SYMPOSIUM KOEN YOSHISHU, vol. 26, 2012, pages 116 - 117, XP008184604 *

Cited By (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016008961A (ja) * 2014-06-26 2016-01-18 ルネサスエレクトロニクス株式会社 磁気計測装置
JP2016114563A (ja) * 2014-12-17 2016-06-23 ルネサスエレクトロニクス株式会社 磁気計測装置
WO2016177490A1 (de) * 2015-05-04 2016-11-10 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum messen eines elektrischen stroms und stromsensor
US10488470B2 (en) 2015-05-04 2019-11-26 Robert Bosch Gmbh Method for measuring an electrical current and current sensor
US11396715B2 (en) 2015-12-22 2022-07-26 Element Six Technologies Limited Nitrogen containing single crystal diamond materials optimized for magnetometry applications
JP2019506356A (ja) * 2015-12-22 2019-03-07 エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド 磁気測定用途に最適化された窒素含有単結晶ダイヤモンド材料
JP2017146158A (ja) * 2016-02-16 2017-08-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 磁気計測装置
US10502796B2 (en) 2016-02-16 2019-12-10 Renesas Electronics Corporation Magnetometer
JP2017162910A (ja) * 2016-03-08 2017-09-14 国立大学法人東京工業大学 半導体装置および測定装置
CN109219756A (zh) * 2016-06-10 2019-01-15 罗伯特·博世有限公司 传感器装置、用于校准传感器装置的方法和用于检测测量参量的方法
WO2018155504A1 (ja) 2017-02-21 2018-08-30 住友電気工業株式会社 ダイヤモンド磁気センサー
JP7225545B2 (ja) 2017-02-21 2023-02-21 日新電機株式会社 検出装置及び検出方法
CN110325869A (zh) * 2017-02-21 2019-10-11 住友电气工业株式会社 金刚石磁传感器
JP7136076B2 (ja) 2017-02-21 2022-09-13 住友電気工業株式会社 ダイヤモンド磁気センサー
JP2018136316A (ja) * 2017-02-21 2018-08-30 日新電機株式会社 検出装置及び検出方法、並びに、それを用いた電圧電流検出装置
JPWO2018155504A1 (ja) * 2017-02-21 2019-12-12 住友電気工業株式会社 ダイヤモンド磁気センサー
US11181590B2 (en) 2017-02-21 2021-11-23 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Diamond magnetic sensor
EP3629044A1 (en) 2017-02-21 2020-04-01 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Diamond magnetic sensor
JP2018141706A (ja) * 2017-02-28 2018-09-13 日本電信電話株式会社 磁場検出装置および方法
JP2021512219A (ja) * 2018-01-26 2021-05-13 エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド 合成ダイヤモンド材料
JP2019152524A (ja) * 2018-03-02 2019-09-12 国立大学法人京都大学 センサ素子、測定装置、センサ素子の製造方法、電子回路素子、および量子情報素子
WO2019168097A1 (ja) * 2018-03-02 2019-09-06 国立大学法人京都大学 センサ素子、測定装置、センサ素子の製造方法、電子回路素子、および量子情報素子
US11335779B2 (en) 2018-03-02 2022-05-17 Kyoto University Sensor element, measuring device, method for manufacturing sensor element, electronic circuit element, and quantum information element
JP2019184296A (ja) * 2018-04-04 2019-10-24 スミダコーポレーション株式会社 微小電流検知装置
JP7396787B2 (ja) 2018-04-04 2023-12-12 スミダコーポレーション株式会社 微小電流検出装置および微小電流検出方法
JP7066531B2 (ja) 2018-06-01 2022-05-13 株式会社日立製作所 探針製造装置、及び方法
JP2019211271A (ja) * 2018-06-01 2019-12-12 株式会社日立製作所 探針製造装置、及び方法
US11015264B2 (en) 2018-09-14 2021-05-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Diamond substrate, quantum device, quantum system, and method for manufacturing diamond substrate
JP7158966B2 (ja) 2018-09-14 2022-10-24 株式会社東芝 ダイヤモンド基板、量子デバイス、量子システム、及び、ダイヤモンド基板の製造方法
JP2020045252A (ja) * 2018-09-14 2020-03-26 株式会社東芝 ダイヤモンド基板、量子デバイス、量子システム、及び、ダイヤモンド基板の製造方法
JPWO2020071383A1 (ja) * 2018-10-02 2021-09-02 国立大学法人京都大学 センサ素子、測定装置および測定方法
JP7371932B2 (ja) 2018-10-02 2023-10-31 国立大学法人京都大学 測定装置および測定方法
WO2020071383A1 (ja) * 2018-10-02 2020-04-09 国立大学法人京都大学 センサ素子、測定装置および測定方法
JP2020183332A (ja) * 2019-05-08 2020-11-12 株式会社デンソー ダイヤモンド層の製造方法
JP7131474B2 (ja) 2019-05-08 2022-09-06 株式会社デンソー ダイヤモンド層の製造方法
WO2021172240A1 (ja) * 2020-02-27 2021-09-02 国立大学法人京都大学 ダイヤモンド、センサ素子、およびダイヤモンドの製造方法
JP2021135216A (ja) * 2020-02-28 2021-09-13 スミダコーポレーション株式会社 磁場測定装置および磁場測定方法
JP7369344B2 (ja) 2020-02-28 2023-10-26 スミダコーポレーション株式会社 磁場測定装置および磁場測定方法
WO2021172166A1 (ja) * 2020-02-28 2021-09-02 スミダコーポレーション株式会社 磁場測定装置および磁場測定方法
JP7530284B2 (ja) 2020-12-22 2024-08-07 矢崎総業株式会社 センサ
WO2022210566A1 (ja) * 2021-03-31 2022-10-06 住友電気工業株式会社 単結晶ダイヤモンド及びその製造方法、並びに、単結晶ダイヤモンドプレートの製造方法
WO2022264754A1 (ja) * 2021-06-16 2022-12-22 信越化学工業株式会社 ダイヤモンド基板及びその製造方法
EP4112786A1 (en) 2021-07-02 2023-01-04 Shin-Etsu Polymer Co., Ltd. Method of manufacturing diamond substrate
EP4112787A1 (en) 2021-07-02 2023-01-04 Shin-Etsu Polymer Co., Ltd. Method of manufacturing diamond substrate
CN114047556A (zh) * 2021-11-15 2022-02-15 中国电子科技集团公司第十三研究所 基于金刚石nv色心的磁力探测头及磁力探测系统
CN114047556B (zh) * 2021-11-15 2024-01-30 中国电子科技集团公司第十三研究所 基于金刚石nv色心的磁力探测头及磁力探测系统
WO2024162167A1 (ja) * 2023-02-01 2024-08-08 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ダイヤモンド半導体装置

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