JP7369344B2 - 磁場測定装置および磁場測定方法 - Google Patents
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Description
2 高周波磁場発生器
3 静磁場発生部
4 磁場伝達部
5 照射装置(検出装置の一例の一部)
6 受光装置(検出装置の一例の一部)
12 高周波電源
21 測定制御部
22 演算部
Claims (5)
- 結晶構造を有し、結晶格子における欠陥および不純物の配列方向に応じて異なる周波数のマイクロ波で電子スピン量子操作の可能な磁気共鳴部材と、
前記磁気共鳴部材にマイクロ波の磁場を印加する高周波磁場発生器と、
前記高周波磁場発生器に前記マイクロ波の電流を導通させる高周波電源と、
互いに異なる複数の測定位置で被測定磁場を感受し、前記複数の測定位置で感受した前記被測定磁場に対応する印加磁場を前記結晶格子における欠陥および不純物の複数の配列方向に対応する互いに異なる方向から、それぞれ前記磁気共鳴部材に印加する磁場伝達部と、
前記磁気共鳴部材から、前記印加磁場に対応する物理的事象を検出する検出装置と、
前記高周波電源を制御し、前記検出装置により検出された、前記複数の測定位置に対応する前記物理的事象の検出値を特定する測定制御部と、
前記検出値に基づいて前記複数の測定位置での前記被測定磁場を演算する演算部と、
を備えることを特徴とする磁場測定装置。 - 前記測定制御部は、(a)所定の測定シーケンスで前記高周波電源を制御して、前記複数の測定位置のうちの1つに対応する前記物理的事象の検出値を特定し、(b)前記複数の測定位置と同数の前記測定シーケンスを順番に実行して、前記複数の測定位置に対応する前記物理的事象の検出値を特定することを特徴とする請求項1記載の磁場測定装置。
- 前記測定制御部は、前記測定シーケンスにおいて、前記高周波電源の電流の周波数を、前記測定位置に対応する周波数とすることを特徴とする請求項2記載の磁場測定装置。
- 前記磁場伝達部は、1次側コイルおよび2次側コイルを備えたフラックストランスフォーマーであり、前記1次側コイルで互いに異なる複数の測定位置で被測定磁場を感受し、前記2次側コイルで前記印加磁場を前記結晶格子における欠陥および不純物の複数の配列方向に対応する互いに異なる方向から前記磁気共鳴部材に印加することを特徴とする請求項1から請求項3のうちのいずれか1項記載の磁場測定装置。
- 磁場伝達部で、(a)互いに異なる複数の測定位置で被測定磁場を感受し、(b)前記複数の測定位置で感受した前記被測定磁場に対応する印加磁場を、結晶構造を有し結晶格子における欠陥および不純物の配列方向に応じて異なる周波数のマイクロ波で電子スピン量子操作の可能な磁気共鳴部材に、前記結晶格子における欠陥および不純物の複数の配列方向に対応する互いに異なる方向から印加するステップと、
前記磁気共鳴部材から前記印加磁場に対応する物理的事象を検出し、前記複数の測定位置に対応する前記物理的事象の検出値を特定するステップと、
前記検出値に基づいて前記複数の測定位置での前記被測定磁場を演算するステップと、
を備えることを特徴とする磁場測定方法。
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Citations (6)
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---|---|---|---|---|
JP2012110489A (ja) | 2010-11-24 | 2012-06-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 磁気計測装置、及び、磁気センサ素子の製造方法 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012110489A (ja) | 2010-11-24 | 2012-06-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 磁気計測装置、及び、磁気センサ素子の製造方法 |
JP2014515000A (ja) | 2011-05-24 | 2014-06-26 | エレメント シックス リミテッド | ダイヤモンドセンサ、検出器及び量子装置 |
WO2014058012A1 (ja) | 2012-10-12 | 2014-04-17 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ナノダイヤモンド粒子およびその製造方法ならびに蛍光分子プローブおよびタンパク質の構造解析方法 |
WO2015107907A1 (ja) | 2014-01-20 | 2015-07-23 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ダイヤモンド結晶、ダイヤモンド素子、磁気センサー、磁気計測装置、および、センサーアレイの製造方法 |
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