JP6454241B2 - 電子スピン共鳴装置 - Google Patents
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Description
図1には、第1実施形態に係る電子スピン共鳴装置(ESR装置)の一例が示されている。このESR装置は、縦検出ESR法(LOD−ESR法)を実現する装置である。第1実施形態に係るESR装置は、変調されたマイクロ波によって電子スピン共鳴を励起し、位相検波(ロックイン検波)によって縦検出ESR信号(LOD−ESR信号)を検出する。
図5には、第2実施形態に係るESR装置の一例が示されている。このESR装置は、電流検出ESR法(EDMR法)を実現する装置である。第2実施形態に係るESR装置は、変調されたマイクロ波によって電子スピン共鳴を励起し、ロックイン検波によってEDMR信号を検出する。
図6には、第3実施形態に係るESR装置の一例が示されている。このESR装置は、光検出ESR法(ODMR法)を実現する装置である。第3実施形態に係るESR装置は、変調されたマイクロ波によって電子スピンを励起し、位相検波(ロックイン検波)によってODMR信号を検出する。
Claims (7)
- マイクロ波信号を生成するマイクロ波生成手段と、
変調周波数Fm、及び、パルスシーケンスの繰り返し周波数Fpに従うパルス列信号を生成するパルス列信号生成手段と、
前記マイクロ波信号に対して前記パルス列信号を作用させて励起信号を生成する励起信号生成手段と、
サンプルを収容し前記励起信号が送り込まれる電子スピン共鳴室と、
前記サンプルで生じる電子スピン共鳴が反映された検出信号に対して前記変調周波数Fmを用いてロックイン検波を行うことにより、解析対象信号を生成する検波手段と、
を含み、
前記繰り返し周波数Fpと前記変調周波数Fmは、Fp=2n×Fm(但し、nは1以上の整数)の関係を満たす、
ことを特徴とする電子スピン共鳴装置。 - マイクロ波信号を発生するマイクロ波生成手段と、
基準パルス列が繰り返し周波数Fpで繰り返されるパルス列信号であって、変調周波数Fmを有する変調信号により変調されたパルス列信号を発生するパルス列信号生成手段と、
前記マイクロ波信号を前記パルス列信号によって変調することにより励起信号を生成する励起信号生成手段と、
サンプルを収容し前記励起信号が供給される電子スピン共鳴室と、
前記サンプルで生じる電子スピン共鳴が反映された検出信号を発生する検出手段と、
前記検出信号に対して前記変調信号に基づいてロックイン検波を行うことにより、解析対象信号を生成する検波手段と、
を含み、
前記繰り返し周波数Fpと前記変調周波数Fmは、Fp=2n×Fm(但し、nは1以上の整数)の関係を満たし、且つ前記基準パルス列の繰り返しと前記変調信号による変調が同期している
ことを特徴とする電子スピン共鳴装置。 - 請求項1又は請求項2に記載の電子スピン共鳴装置において、
前記パルス列信号生成手段は、
前記繰り返し周波数Fpに従って、パルスシーケンスを構成するパルスパターンを繰り返し生成するパルスパターン生成手段と、
前記変調周波数Fmでオン及びオフを繰り返す変調信号を生成する変調信号生成手段と、
前記パルスパターンが連なった原パルス列に対して前記変調信号を作用させることにより、前記パルス列信号を生成する手段と、
を含む、
ことを特徴とする電子スピン共鳴装置。 - 請求項3に記載の電子スピン共鳴装置において、
前記パルスパターン生成手段及び前記変調信号生成手段は、同期して動作する、
ことを特徴とする電子スピン共鳴装置。 - 請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の電子スピン共鳴装置において、
前記変調周波数Fmが固定される条件下で、測定状況に応じて、前記繰り返し周波数Fpが可変設定される、
ことを特徴とする電子スピン共鳴装置。 - 請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の電子スピン共鳴装置において、
前記検出信号は、縦磁化の検出、サンプルにおける電気的特性の検出、及び、サンプルにおける光学的特性の検出、のいずれかによって検出される、
ことを特徴とする電子スピン共鳴装置。 - 請求項3又は請求項4に記載の電子スピン共鳴装置において、
前記パルスパターンは時間間隔τをもった2つのパルスを含み、
前記時間間隔τを測定ごとに変化させる手段を更に含む、
ことを特徴とする電子スピン共鳴装置。
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