WO2015098201A1 - 電子部品用チタン銅 - Google Patents

電子部品用チタン銅 Download PDF

Info

Publication number
WO2015098201A1
WO2015098201A1 PCT/JP2014/074126 JP2014074126W WO2015098201A1 WO 2015098201 A1 WO2015098201 A1 WO 2015098201A1 JP 2014074126 W JP2014074126 W JP 2014074126W WO 2015098201 A1 WO2015098201 A1 WO 2015098201A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
concentration
copper
titanium
rolling direction
bending
Prior art date
Application number
PCT/JP2014/074126
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
弘泰 堀江
Original Assignee
Jx日鉱日石金属株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jx日鉱日石金属株式会社 filed Critical Jx日鉱日石金属株式会社
Priority to KR1020167018555A priority Critical patent/KR101793854B1/ko
Priority to US15/108,338 priority patent/US10351932B2/en
Priority to EP14873824.8A priority patent/EP3088541B1/en
Priority to CN201480070238.XA priority patent/CN106103754B/zh
Publication of WO2015098201A1 publication Critical patent/WO2015098201A1/ja

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C9/00Alloys based on copper
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22FCHANGING THE PHYSICAL STRUCTURE OF NON-FERROUS METALS AND NON-FERROUS ALLOYS
    • C22F1/00Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22FCHANGING THE PHYSICAL STRUCTURE OF NON-FERROUS METALS AND NON-FERROUS ALLOYS
    • C22F1/00Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working
    • C22F1/08Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working of copper or alloys based thereon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/02Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of metals or alloys
    • H01B1/026Alloys based on copper
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21BROLLING OF METAL
    • B21B3/00Rolling materials of special alloys so far as the composition of the alloy requires or permits special rolling methods or sequences ; Rolling of aluminium, copper, zinc or other non-ferrous metals
    • B21B2003/005Copper or its alloys

Definitions

  • the present invention relates to titanium copper suitable as a member for electronic parts such as connectors.
  • titanium copper a titanium-containing copper alloy
  • titanium copper has a relatively high strength and is most excellent in the copper alloy in terms of stress relaxation characteristics.
  • Titanium copper is an age-hardening type copper alloy.
  • a supersaturated solid solution of Ti which is a solute atom, is formed by solution treatment and heat treatment is performed at a low temperature for a relatively long time from that state, a modulation structure that is a periodic variation of Ti concentration in the parent phase is caused by spinodal decomposition.
  • the problem is that the strength and the bending workability are contradictory. That is, if the strength is improved, the bending workability is impaired, and conversely, if the bending workability is emphasized, a desired strength cannot be obtained.
  • Patent Document 1 a third element such as Fe, Co, Ni, Si or the like is added (Patent Document 1), and the concentration of the impurity element group that dissolves in the parent phase is regulated, and the second element (Cu—Ti— X-type particles) are precipitated in a predetermined distribution form to increase the regularity of the modulation structure (Patent Document 2), and the density of the trace additive elements and second-phase particles effective to refine the crystal grains is specified.
  • Patent Document 3 refining crystal grains (Patent Document 4), controlling crystal orientation (Patent Document 5), etc.
  • Patent Document 6 proposes a technique for controlling fluctuations in Ti concentration in the matrix due to spinodal decomposition.
  • a heat treatment (sub-aging treatment) is performed after the final solution treatment, spinodal decomposition is caused in advance, and then cold rolling at a conventional level, aging treatment at a conventional level, or a temperature lower and shorter than that. It is described that the Ti concentration fluctuation is increased by increasing the Ti concentration by performing the aging treatment.
  • an object of the present invention is to control the fluctuation of Ti concentration in titanium copper from a viewpoint different from the conventional one, and to improve the strength and the bending workability.
  • the present inventor found that the coefficient of variation in the fluctuation curve of Ti concentration obtained by line analysis of the Ti concentration in the parent phase of titanium copper by EDX, and the 10-point average height, are significant in strength and bending workability. I found out that it had an impact. And it discovered that the balance of these characteristics could be improved by controlling these parameters appropriately.
  • the present invention has been completed against the background of the above findings, and is specified by the following.
  • the present invention contains 2.0 to 4.0% by mass of Ti, and the third element is Fe, Co, Mg, Si, Ni, Cr, Zr, Mo, V, Nb, Mn, B, and
  • the titanium-copper for electronic parts contains at least one type selected from the group consisting of P in an amount of 0 to 0.5% by mass with the balance being copper and unavoidable impurities.
  • the coefficient of variation in the fluctuation curve of the Ti concentration obtained when line analysis of Ti in the matrix phase is performed by EDX for crystal grains with 100> orientation is 0.2 to 0.8, and the cross section parallel to the rolling direction is Titanium copper having the number of second phase particles having a size of 3 ⁇ m or more in observation of the structure per observation field of 10,000 ⁇ m 2 is 35 or less.
  • the point average height is 2.0 to 17.0% by mass.
  • the average crystal grain size in the observation of the structure of the cross section parallel to the rolling direction is 2 to 30 ⁇ m.
  • the present invention is a copper-stretched product provided with titanium copper according to the present invention.
  • the present invention is an electronic component including titanium copper according to the present invention.
  • titanium copper having an improved balance between strength and bending workability can be obtained.
  • an electronic component such as a highly reliable connector can be obtained.
  • FIG. 1 is an example of a fluctuation curve of Ti concentration obtained when line analysis of Ti in the matrix of titanium copper according to the present invention is performed by EDX.
  • FIG. 2 is an example of a mapping image of Ti in the parent phase of titanium copper.
  • Ti concentration in the titanium copper according to the present invention is set to 2.0 to 4.0 mass%. Titanium copper increases strength and electrical conductivity by dissolving Ti in a Cu matrix by solution treatment and dispersing fine precipitates in the alloy by aging treatment. When the Ti concentration is less than 2.0% by mass, fluctuations in the Ti concentration do not occur or become small, and precipitation of precipitates becomes insufficient, so that a desired strength cannot be obtained. When the Ti concentration exceeds 4.0% by mass, bending workability deteriorates and the material is easily cracked during rolling. Considering the balance between strength and bending workability, the preferable Ti concentration is 2.5 to 3.5% by mass.
  • a third element selected from the group consisting of Fe, Co, Mg, Si, Ni, Cr, Zr, Mo, V, Nb, Mn, B, and P.
  • the strength can be further improved.
  • these third elements can be contained in a total amount of 0 to 0.5% by mass, and considering the balance between strength and bending workability, the total amount of one or more of the above elements is 0.1 to 0.4% by mass. % Content is preferable.
  • the average line shown in FIG. 1 represents a value (average value) obtained by dividing the total value of Ti concentration (mass%) at each measurement point measured by line analysis by the number of measurement points. Furthermore, the variation coefficient and the ten-point average height of the Ti concentration (mass%) can be measured from the fluctuation curve of the Ti concentration as shown in FIG.
  • the ten-point average height of the Ti concentration is within the measurement distance of the measurement data, with the average line as a reference, the average value of the absolute values (Yp) of the highest peak from the highest peak to the fifth peak, and the lowest valley It is defined as the sum of the absolute values of the elevations (Yv) of the valley bottom up to the fifth.
  • the peak value marked with a circle is used for calculating the 10-point average height.
  • the absolute value of the altitude of the highest peak from the highest peak is 4.53, 2.31, 3.20, 4.41, 7.88 in order from the left side of the graph, and the average value is 4.466. is there.
  • the absolute value of the altitude of the bottom from the lowest valley bottom to the bottom is 3.10, 2.60, 3.80, 2.30, 4.10 from the left side of the graph, and the average value is 3. 186. Therefore, the ten-point average height in this case is obtained as 7.652% by mass.
  • the measurement distance is 150 nm or more from the viewpoint of preventing measurement errors.
  • the same analysis is repeated five times in different observation fields, and the average value is used as the measurement value of the coefficient of variation and the ten-point average height.
  • the fluctuation state of Ti concentration varies greatly depending on the direction of analysis. This is because the Ti concentration parts are regularly arranged at intervals of several tens of nm.
  • Ti mapping is performed in advance, and line analysis is performed aiming at a region where the density of Ti increases. As shown in FIG. 2, it is preferable to perform line analysis in the direction of the arrow (solid line) from the mapping of Ti. Further, when line analysis is performed in the direction of the arrow (dotted line), the density of Ti becomes light, which is not preferable.
  • one of the characteristics is that the variation coefficient of Ti concentration in the matrix phase of titanium copper is large. As a result, it is considered that the titanium copper is given a stickiness and the strength and bending workability are improved.
  • the coefficient of variation in the Ti concentration fluctuation curve described above is 0.2 or more, preferably 0.25 or more, more preferably 0.3 or more, Even more preferably, it is 0.35 or more.
  • the coefficient of variation in the Ti concentration fluctuation curve described above is 0.8 or less, preferably 0.7 or less, more preferably 0.6 or less. Yes, even more preferably 0.5 or less.
  • the ten-point average height of the Ti concentration has some correlation with the variation coefficient of the Ti concentration, and the ten-point average height tends to increase as the variation coefficient increases. However, by appropriately controlling not only the coefficient of variation but also the 10-point average height, further balance improvement between strength and bending workability can be expected.
  • the ten-point average height of the Ti concentration (mass%) in the matrix is preferably 2.0 mass% or more, and preferably 4.0 mass% or more. More preferably, it is still more preferably 5.0% by mass or more. Further, the ten-point average height of the Ti concentration (mass%) in the matrix is preferably 17.0 mass% or less, more preferably 15.0 mass% or less, and 13.0 mass% or less. Even more preferably.
  • the titanium-copper according to the present invention also has a feature that there are few coarse second-phase particles despite a large variation coefficient of Ti concentration. Coarse second phase particles have an adverse effect on strength and bending workability, so it is preferable to control, coupled with the effect of improving characteristics by optimizing the coefficient of variation, the strength and bending workability are remarkably excellent. Titanium copper is obtained.
  • the second phase particles are a crystallized product generated in the solidification process of melt casting, a precipitate generated in the subsequent cooling process, a precipitate generated in the cooling process after hot rolling, and a cooling process after solution treatment. And a precipitate generated in the aging treatment process, and typically has a Cu-Ti-based composition.
  • the size of the second phase particles is defined as the diameter of the maximum circle that can be surrounded by precipitates when the cross section parallel to the rolling direction is observed with an electron microscope.
  • the number of second phase particles having a size of 3 ⁇ m or more per observation visual field of 10,000 ⁇ m 2 is 35 or less.
  • the number of second phase particles having a size of 3 ⁇ m or more per observation visual field of 10,000 ⁇ m 2 is preferably 30 or less, more preferably 25 or less, and even more preferably 20 or less, 15 It is even more preferable that the number is 10 or less, and even more preferable that the number is 10 or less.
  • the number of second phase particles having a size of 3 ⁇ m or more per observation visual field of 10,000 ⁇ m 2 is preferably 0, but it is difficult to keep the coefficient of variation within a specified range. Typically three or more.
  • the titanium-copper according to the present invention has a 0.2% proof stress in a direction parallel to the rolling direction of 1000 MPa or more when subjected to a tensile test according to JIS-Z2241, and a sheet width (w).
  • the upper limit of 0.2% proof stress is not particularly restricted in terms of the intended strength of the present invention, but it takes time and effort, and there is a risk of cracking during hot rolling if the Ti concentration is increased to obtain high strength. Therefore, the 0.2% proof stress of the titanium copper according to the present invention is generally 1400 MPa or less, typically 1300 MPa or less, and more typically 1200 MPa or less.
  • the preferable average crystal grain size is 30 ⁇ m or less, more preferably 20 ⁇ m or less, and still more preferably 10 ⁇ m or less.
  • the average crystal grain size is preferably 2 ⁇ m or more.
  • the average crystal grain size is represented by the equivalent circle diameter in the structure observation of the cross section parallel to the rolling direction by observation with an optical microscope or electron microscope.
  • the plate thickness can be 0.5 mm or less, and in a typical embodiment, the thickness is 0.03 to 0.3 mm. In a more typical embodiment, the thickness can be 0.08 to 0.2 mm.
  • Titanium copper according to the present invention can be processed into various copper products, such as plates, strips, tubes, bars and wires.
  • the titanium-copper according to the present invention can be suitably used as a material for electronic parts such as, but not limited to, connectors, switches, autofocus camera modules, jacks, terminals (for example, battery terminals), and relays.
  • Titanium copper according to the present invention can be manufactured by carrying out appropriate heat treatment and cold rolling, particularly in the final solution treatment and the subsequent steps.
  • the final solution treatment described in Patent Document 6 ⁇ heat treatment (sub-aging treatment) ⁇ cold rolling ⁇ aging treatment, titanium copper production procedure, the heat treatment after the final solution treatment in two stages can be manufactured.
  • a suitable manufacture example is demonstrated one by one for every process.
  • Cu includes one or more selected from the group consisting of Fe, Co, Mg, Si, Ni, Cr, Zr, Mo, V, Nb, Mn, B, and P in total 0 to 0 It is desirable to add in an amount of 0.5% by mass, and then add Ti in an amount of 2.0 to 4.0% by mass to produce an ingot.
  • First solution treatment> Thereafter, it is preferable to perform the first solution treatment after appropriately repeating cold rolling and annealing.
  • the reason why the solution treatment is performed in advance is to reduce the burden in the final solution treatment. That is, in the final solution treatment, it is not a heat treatment for dissolving the second phase particles, but is already in solution, so it is only necessary to cause recrystallization while maintaining that state.
  • the first solution treatment may be performed at a heating temperature of 850 to 900 ° C. for 2 to 10 minutes. In this case, it is preferable to increase the heating rate and the cooling rate as much as possible so that the second phase particles do not precipitate. Note that the first solution treatment may not be performed.
  • the rolling reduction of the intermediate rolling is preferably 70 to 99%.
  • the rolling reduction is defined by ⁇ ((thickness before rolling ⁇ thickness after rolling) / thickness before rolling) ⁇ 100% ⁇ .
  • ⁇ Final solution treatment> In the final solution treatment, it is desirable to completely dissolve the precipitate, but if heated to a high temperature until it completely disappears, the crystal grains are likely to coarsen, so the heating temperature is close to the solid solution limit of the second phase particle composition.
  • the temperature at which the solid solubility limit of Ti becomes equal to the addition amount when the addition amount of Ti is in the range of 2.0 to 4.0% by mass is about 730 to 840 ° C. About 800 ° C. at 0.0 mass%). And if it heats rapidly to this temperature and a cooling rate is also made quick by water cooling etc., generation
  • Heating is performed at a temperature 0 to 30 ° C higher, preferably 0 to 20 ° C higher than the temperature at which the solid solubility limit of Ti is the same as the addition amount.
  • the shorter the heating time in the final solution treatment the more the crystal grains can be prevented from coarsening.
  • the heating time can be, for example, 30 seconds to 10 minutes, and typically 1 minute to 8 minutes. Even if the second phase particles are generated at this point, if they are finely and uniformly dispersed, they are almost harmless to strength and bending workability. However, since the coarse particles tend to grow further in the final aging treatment, the second phase particles at this point must be made as small as possible even if they are formed.
  • a preliminary aging treatment is performed.
  • cold rolling is usually performed after the final solution treatment, but in order to obtain titanium copper according to the present invention, after the final solution treatment, it is immediately preliminarily performed without performing cold rolling. It is important to perform an aging treatment.
  • the pre-aging treatment is a heat treatment performed at a lower temperature than the aging treatment in the next step, and the generation of coarse precipitates is suppressed by continuously performing the pre-aging treatment and the aging treatment described later, in the titanium copper matrix. It is possible to dramatically increase the coefficient of variation of the Ti concentration.
  • the pre-aging treatment is preferably performed in an inert atmosphere such as Ar, N 2 , H 2 or the like in order to suppress the generation of the surface oxide film.
  • the heating temperature in the pre-aging treatment is too low or too high. According to the results of investigation by the present inventors, it is preferable to heat at a material temperature of 150 to 250 ° C. for 10 to 20 hours, more preferably at a material temperature of 160 to 230 ° C. for 10 to 18 hours, and at 170 to 200 ° C. Even more preferred is heating for 12-16 hours.
  • ⁇ Aging treatment> An aging process is performed following the preliminary aging process. After the preliminary aging treatment, it may be cooled to room temperature once. Considering the production efficiency, it is desirable that after the preliminary aging treatment, the temperature is raised to the aging treatment temperature without cooling and the aging treatment is continuously performed. There is no difference in the characteristics of titanium copper obtained by any method. However, since the preliminary aging is intended to precipitate the second phase particles uniformly in the subsequent aging treatment, cold rolling should not be performed between the preliminary aging treatment and the aging treatment.
  • the aging treatment should be performed at a slightly lower temperature than the conventional aging treatment, and 0.5 to 0.5 at a material temperature of 300 to 450 ° C. It is preferable to heat for ⁇ 20 hours, more preferably for 2 to 18 hours at a material temperature of 350 to 440 ° C, and even more preferably for 3 to 15 hours at a material temperature of 375 to 430 ° C.
  • the aging treatment is preferably performed in an inert atmosphere such as Ar, N 2 and H 2 for the same reason as the preliminary aging treatment.
  • the final cold rolling is performed.
  • the strength of titanium copper can be increased by the final cold working, in order to obtain a good balance between high strength and bending workability as intended by the present invention, the rolling reduction is 10 to 50%, preferably 20%. It is desirable to make it 40%.
  • strain relief annealing From the viewpoint of improving sag resistance at high temperature exposure, it is desirable to perform strain relief annealing after the final cold rolling. This is because dislocations are rearranged by performing strain relief annealing.
  • the conditions for strain relief annealing may be conventional conditions. However, excessive strain relief annealing is not preferable because coarse particles precipitate and the strength decreases.
  • the strain relief annealing is preferably performed at a material temperature of 200 to 600 ° C. for 10 to 600 seconds, more preferably at 250 to 550 ° C. for 10 to 400 seconds, and even more preferably at 300 to 500 ° C. for 10 to 200 seconds. .
  • steps such as grinding, polishing, and shot blast pickling for removing oxide scale on the surface can be appropriately performed between the above steps.
  • Titanium copper specimens containing the alloy components shown in Table 1 (Tables 1-1 and 1-2), the balance being copper and inevitable impurities, were prepared under various manufacturing conditions, and Ti in each matrix was replaced with Ti.
  • hot rolling was performed at 900 to 950 ° C. to obtain a hot rolled sheet having a thickness of 15 mm.
  • cold rolling was performed to obtain a strip thickness (2 mm), and a primary solution treatment was performed on the strip.
  • the conditions for the primary solution treatment were heating at 850 ° C. for 10 minutes, and then water cooling.
  • the heating conditions at this time were such that the material temperature was such that the solid solubility limit of Ti was the same as the addition amount (Ti concentration: 3.0% by mass, about 800 ° C., Ti concentration: 2.0% by mass, about 730 ° C., Ti concentration: 4 0.0 mass% and about 840 ° C.) as a standard.
  • preliminary aging treatment and aging treatment were continuously performed in the Ar atmosphere under the conditions described in Table 1.
  • no cooling was performed after the preliminary aging treatment.
  • final cold rolling was performed under the conditions described in Table 1
  • strain relief annealing was performed under each heating condition described in Table 1 to obtain test pieces of invention examples and comparative examples.
  • preliminary aging treatment, aging treatment or strain relief annealing was omitted.
  • a scanning transmission electron microscope (JEOL Ltd., model: JEM-2100F) was used, and for the detector, an energy dispersive X-ray analyzer (EDX, manufactured by JEOL Ltd., model: JED-2300) was used.
  • the measurement was performed at an inclination angle of 0 °, an acceleration voltage of 200 kV, and an electron beam spot diameter of 0.2 nm.
  • the EDX line analysis was performed by setting the measurement distance of the mother phase to 150 nm, the number of measurement points per 150 nm of the measurement distance of the mother phase: 150, and the interval between the measurement points of the mother phase: 1 nm.
  • the measurement position of the parent phase was selected as an arbitrary position where the second phase particles do not exist.
  • the direction of line analysis Ti was mapped in advance, and the direction in which the density of Ti concentration was increased was selected following the solid line in FIG. From the obtained Ti concentration fluctuation curve, the coefficient of variation of Ti concentration and the ten-point average height were determined according to the method described above.
  • the average crystal grain size of each product sample was measured by cutting the rolled surface with FIB to expose a cross section parallel to the rolling direction, and then observing the cross section with an electron microscope (manufactured by Philips). XL30 SFEG), the number of crystal grains per unit area was counted, and the average equivalent circle diameter of the crystal grains was determined. Specifically, a frame of 100 ⁇ m ⁇ 100 ⁇ m was created, and the number of crystal grains present in this frame was counted. Note that all the crystal grains crossing the frame were counted as 1 ⁇ 2. The average value of the area per crystal grain is obtained by dividing the frame area of 10,000 ⁇ m 2 by the total.
  • Inventive example 6 has 0.2% proof stress lower than that of inventive example 1 because the reduction ratio in the final cold rolling is smaller than that of inventive example 1, but it still can ensure good 0.2% proof stress and bending workability. It was.
  • Invention Example 7 improved the 0.2% proof stress while maintaining high bending workability by making the rolling reduction in the final cold rolling higher than Invention Example 1.
  • Invention Example 8 although the stress relief annealing was omitted with respect to invention example 1, good 0.2% proof stress and bending workability could still be secured.
  • the heating temperature in strain relief annealing was higher than that in Invention Example 1, but good 0.2% proof stress and bending workability could still be secured.
  • Invention Example 10 the heating coefficient in preliminary aging, aging, and strain relief annealing was higher than that in Invention Example 1, so that the variation coefficient of Ti concentration and the ten-point average height increased. Since the ten-point average height deviated from the specified range, the 0.2% proof stress was inferior to that of Invention Example 1, but a good 0.2% proof stress and bending workability could still be secured.
  • Invention Example 11 is an example in which the Ti concentration in titanium copper was lowered to the lower limit compared to Invention Example 1. Although the coefficient of variation of Ti concentration decreased and the 0.2% yield strength decreased, good 0.2% yield strength and bending workability could still be secured.
  • Invention Example 12 is an example in which the 0.2% proof stress was higher than Invention Example 1 by increasing the Ti concentration in titanium copper to the upper limit compared to Invention Example 1.
  • Inventive Examples 13 to 18 are examples in which various third elements were added to Inventive Example 1, but good 0.2% proof stress and bending workability could still be secured.
  • Comparative Example 1 since the final solution treatment temperature was too low, the mixing of unrecrystallized regions and recrystallized regions occurred, and the variation coefficient of Ti concentration decreased. Therefore, bending workability was bad.
  • Comparative Example 2 since the preliminary aging treatment was not performed, the increase in the variation coefficient of Ti concentration was insufficient, and the bending workability was poor.
  • Comparative Examples 3 to 4 correspond to titanium copper described in Patent Document 6.
  • Comparative Example 8 is a case where it can be evaluated that the final solution treatment ⁇ cold rolling ⁇ aging treatment was performed. Although the variation coefficient of Ti concentration was within the specified range, 0.2% proof stress and bending workability were reduced with respect to Inventive Example 1 due to increased precipitation of coarse second-phase particles. In Comparative Example 9, since the aging heating temperature was too low, the variation coefficient of Ti concentration was low, and 0.2% proof stress and bending workability were reduced as compared with Invention Example 1. In Comparative Example 10, since the aging heating temperature was too high, the Ti concentration coefficient of variation was excessively increased due to overaging, and a part of the stable phase that could not withstand fluctuations was precipitated as coarse particles. Therefore, 0.2% proof stress and bending workability were reduced with respect to Invention Example 1.
  • Comparative Example 11 since the heating temperature for strain relief annealing was too high, the variation coefficient of Ti concentration increased excessively, and some stable phases that could not withstand fluctuations were precipitated as coarse particles. Therefore, 0.2% proof stress and bending workability were reduced with respect to Invention Example 1.
  • Comparative Example 12 is an example in which only the aging treatment was performed after the final solution treatment, but a large number of coarse second phase particles were precipitated. Therefore, 0.2% proof stress and bending workability were reduced with respect to Invention Example 1.
  • Comparative Example 13 since the amount of the third element added was too large, cracking occurred during hot rolling, and thus the test piece could not be manufactured.
  • Comparative Example 14 since the Ti concentration was too low, the variation coefficient of the Ti concentration became small, the strength became insufficient, and the bending workability deteriorated. In Comparative Example 15, because the Ti concentration was too high, cracking occurred during hot rolling, and thus the test piece could not be produced.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Non-Insulated Conductors (AREA)

Abstract

 チタン銅において、Ti濃度のゆらぎを従来とは別の観点で制御し、強度及び曲げ加工性の向上を図る。Tiを2.0~4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0~0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における<100>方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の揺らぎ曲線における変動係数が0.2~0.8であり、且つ、圧延方向に平行な断面の組織観察における大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm2当たりの個数が35個以下であるチタン銅。

Description

電子部品用チタン銅
 本発明はコネクタ等の電子部品用部材として好適なチタン銅に関する。
 近年では携帯端末などに代表される電子機器の小型化が益々進み、従ってそれに使用されるコネクタは狭ピッチ化、低背化及び狭幅化の傾向が著しい。小型のコネクタほどピン幅が狭く、小さく折り畳んだ加工形状となるため、使用する部材には、必要なバネ性を得るための高い強度が求められる。この点、チタンを含有する銅合金(以下、「チタン銅」と称する。)は、比較的強度が高く、応力緩和特性にあっては銅合金中最も優れているため、特に強度が要求される信号系端子用部材として、古くから使用されてきた。
 チタン銅は時効硬化型の銅合金である。溶体化処理によって溶質原子であるTiの過飽和固溶体を形成させ、その状態から低温で比較的長時間の熱処理を施すと、スピノーダル分解によって、母相中にTi濃度の周期的変動である変調構造が発達し、強度が向上する。この際、問題となるのは、強度と曲げ加工性が相反する特性である点である。すなわち、強度を向上させると曲げ加工性が損なわれ、逆に、曲げ加工性を重視すると所望の強度が得られないということである。一般に、冷間圧延の圧下率を高くするほど、導入される転位が多くなって転位密度が高くなるため、析出に寄与する核生成サイトが増え、時効処理後の強度を高くすることができるが、圧下率を高くしすぎると曲げ加工性が悪化する。このため、強度及び曲げ加工性の両立を図ることが課題とされてきた。
 そこで、Fe、Co、Ni、Siなどの第三元素を添加する(特許文献1)、母相中に固溶する不純物元素群の濃度を規制し、これらを第二相粒子(Cu-Ti-X系粒子)として所定の分布形態で析出させて変調構造の規則性を高くする(特許文献2)、結晶粒を微細化させるのに有効な微量添加元素と第二相粒子の密度を規定する(特許文献3)、結晶粒を微細化する(特許文献4)、結晶方位を制御する(特許文献5)などの観点から、チタン銅の強度と曲げ加工性の両立を図ろうとする技術が提案されている。
 また、特許文献6にはスピノーダル分解に起因するチタンの変調構造が発達していくにつれ、チタン濃度のゆらぎが大きくなり、これによってチタン銅に粘りを与えて強度及び曲げ加工性が向上することが記載されている。そこで、特許文献6においてはスピノーダル分解に起因する母相中のTi濃度のゆらぎを制御する技術が提案されている。特許文献6においては、最終の溶体化処理の後に熱処理(亜時効処理)を入れ、予めスピノーダル分解を起こし、その後に、従来レベルの冷間圧延、従来レベルの時効処理あるいはそれより低温・短時間の時効処理を行うことでTi濃度のゆらぎを大きくし、チタン銅の高強度化を図ることが記載されている。
特開2004-231985号公報 特開2004-176163号公報 特開2005-97638号公報 特開2006-265611号公報 特開2012-188680号公報 特開2012-097306号公報
 このように、従来は強度及び曲げ加工性の両面から特性の改善を図る努力が多くなされてきたが、電子機器の小型化によって搭載されるコネクタ等の電子部品の小型化も更に進展している。このような技術トレンドに追随するためにはチタン銅の強度及び曲げ加工性を更に高い次元で達成することが必要となる。強度及び曲げ加工性のバランス向上にはスピノーダル分解に起因するTi濃度のゆらぎを大きくすることが有効であることが示されているが、未だ改善の余地が残されている。
 そこで、本発明はチタン銅において、Ti濃度のゆらぎを従来とは別の観点で制御し、強度及び曲げ加工性の向上を図ることを目的とする。
 本発明者は、チタン銅の母相中のTi濃度をEDXによりライン分析することで得られるTi濃度の揺らぎ曲線における変動係数、更には十点平均高さが、強度及び曲げ加工性に有意に影響を与えていることを見出した。そして、これらのパラメータを適切に制御することによって、これらの特性のバランスを向上可能であることを見出した。本発明は以上の知見を背景として完成したものであり、以下によって特定される。
 本発明は一側面において、Tiを2.0~4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0~0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における<100>方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の揺らぎ曲線における変動係数が0.2~0.8であり、且つ、圧延方向に平行な断面の組織観察における大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm2当たりの個数が35個以下であるチタン銅である。
 本発明に係るチタン銅の一実施形態においては、圧延方向に平行な断面における<100>方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の揺らぎ曲線における十点平均高さが2.0~17.0質量%である。
 本発明に係るチタン銅の別の一実施形態においては、圧延方向に平行な断面の組織観察における平均結晶粒径が2~30μmである。
 本発明に係るチタン銅の更に別の一実施形態においては、圧延方向に平行な方向での0.2%耐力が900MPa以上であり、且つ、板幅(w)/板厚(t)=3.0となる曲げ幅で曲げ半径(R)/板厚(t)=0としてBadway(曲げ軸が圧延方向と同一方向)のW曲げ試験を実施したときに屈曲部にクラックを生じない。
 本発明は別の一側面において、本発明に係るチタン銅を備えた伸銅品である。
 本発明は更に別の一側面において、本発明に係るチタン銅を備えた電子部品である。
 本発明によれば強度及び曲げ加工性のバランスが向上したチタン銅が得られる。本発明に係るチタン銅を材料とすることで信頼性の高いコネクタ等の電子部品が得られる。
図1は、本発明に係るチタン銅の母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の揺らぎ曲線の一例である。 図2はチタン銅の母相中のTiのマッピング像の例である。
(1)Ti濃度
 本発明に係るチタン銅においては、Ti濃度を2.0~4.0質量%とする。チタン銅は、溶体化処理によりCuマトリックス中へTiを固溶させ、時効処理により微細な析出物を合金中に分散させることにより、強度及び導電率を上昇させる。
 Ti濃度が2.0質量%未満になると、Ti濃度のゆらぎが生じないか又は小さくなると共に析出物の析出が不充分となり所望の強度が得られない。Ti濃度が4.0質量%を超えると、曲げ加工性が劣化し、圧延の際に材料が割れやすくなる。強度及び曲げ加工性のバランスを考慮すると、好ましいTi濃度は2.5~3.5質量%である。
(2)第三元素
 本発明に係るチタン銅においては、Fe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択される第三元素の1種以上を含有させることにより、強度を更に向上させることができる。但し、第三元素の合計濃度が0.5質量%を超えると、曲げ加工性が劣化し、圧延の際に材料が割れやすくなる。そこで、これら第三元素は合計で0~0.5質量%含有することができ、強度及び曲げ加工性のバランスを考慮すると、上記元素の1種以上を総量で0.1~0.4質量%含有させることが好ましい。
(3)Ti濃度の揺らぎ曲線の変動係数及び十点平均高さ
 本発明においては、圧延方向に平行な断面における<100>方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析することでTi濃度の揺らぎ曲線の変動係数及び十点平均高さを求める。Tiの濃度の揺らぎ曲線は具体的には圧延方向に平行な断面に対する走査型透過電子顕微鏡(STEM)を用いたエネルギー分散型X線分光法(EDX)により作成する(STEM-EDX分析)。STEM-EDX分析によりチタン銅の<100>方位の結晶粒について母相をライン分析すると、図1に示すようなTi濃度が周期的に変化している様子が観察できる。図1に示す平均線は、ライン分析により測定した各測定箇所でのTi濃度(質量%)の合計値を測定箇所数で割った値(平均値)を表す。更に、図1に示すようなTiの濃度の揺らぎ曲線から、Ti濃度(質量%)の変動係数及び十点平均高さを測定することができる。
 Ti濃度の変動係数は測定データの測定距離内で、Ti濃度の標準偏差及び平均値を算出し、変動係数=標準偏差/平均値で算出される値である。変動係数が大きいということはTi濃度の変化が大きいことを指し、変動係数が小さいということはTi濃度の変化が小さいことを指す。
 Ti濃度の十点平均高さは測定データの測定距離内で、平均線を基準にして、最も高い山頂から5番目までの山頂の標高(Yp)の絶対値の平均値と、最も低い谷底から5番目までの谷底の標高(Yv)の絶対値の平均値との和として定義される。例えば、図1においては、○印でマークされたピーク値が十点平均高さの算出に使用される。最も高い山頂から5番目までの山頂の標高の絶対値はグラフの左側から順に4.53、2.31、3.20、4.41、7.88であり、その平均値は4.466である。また、最も低い谷底から5番目までの谷底の標高の絶対値はグラフの左側から順に3.10、2.60、3.80、2.30、4.10であり、その平均値は3.186である。従って、この場合の十点平均高さは7.652質量%と求まる。
 測定距離は測定誤差を防止する観点から150nm以上とする。同様の分析を異なる観察視野で5回繰り返し、平均値を変動係数及び十点平均高さの測定値とする。ライン分析は、分析する方向によってTi濃度のゆらぎ状態が大きく異なる。それはTiの濃縮部が数十nm間隔で規則的に配列しているためである。そこでライン分析を行う前に、予めTiのマッピングを行い、Tiの濃淡が大きくなる領域を狙いライン分析を行う。図2に示すように、Tiのマッピングから矢印(実線)の方向にライン分析を実施するのが好ましい。また、矢印(点線)の方向でライン分析を行うと、Tiの濃淡が薄くなり好ましくない。
 本発明においてはチタン銅の母相中のTi濃度の変動係数が大きいことが特徴の一つである。これによってチタン銅には粘りが与えられて強度及び曲げ加工性が向上すると考えられる。本発明に係るチタン銅の一実施形態においては、前述したTi濃度の揺らぎ曲線における変動係数が0.2以上であり、好ましくは0.25以上であり、より好ましくは0.3以上であり、更により好ましくは0.35以上である。
 但し、母相中のTi濃度(質量%)の変動係数が大きくなりすぎると、粗大な第二相粒子が析出しやすくなって逆に強度や曲げ加工性が低下する傾向にある。そのため、本発明に係るチタン銅の一実施形態においては、前述したTi濃度の揺らぎ曲線における変動係数が0.8以下であり、好ましくは0.7以下であり、より好ましくは0.6以下であり、更により好ましくは0.5以下である。
 Ti濃度の十点平均高さは、Ti濃度の変動係数と多少の相関を有しており、変動係数が大きくなるにつれて十点平均高さも大きく傾向が見られる。しかしながら、変動係数のみならず十点平均高さを適切に制御することにより、強度と曲げ加工性の更なるバランス向上が期待できる。強度と曲げ加工性のバランスを考慮すると、母相中のTi濃度(質量%)の十点平均高さは2.0質量%以上であることが好ましく、4.0質量%以上であることがより好ましく、5.0質量%以上であることが更により好ましい。また、母相中のTi濃度(質量%)の十点平均高さは17.0質量%以下であることが好ましく、15.0質量%以下であることがより好ましく、13.0質量%以下であることが更により好ましい。
(4)第二相粒子
 本発明に係るチタン銅においては、Ti濃度の変動係数が大きいにもかかわらず、粗大な第二相粒子が少ないという特徴も有する。粗大な第二相粒子は強度や曲げ加工性に悪影響を与えることから、制御することが好ましいところ、変動係数の好適化による特性向上との効果と相まって、強度及び曲げ加工性が顕著に優れたチタン銅が得られる。本発明において、第二相粒子とは、溶解鋳造の凝固過程に生ずる晶出物及びその後の冷却過程で生ずる析出物、熱間圧延後の冷却過程で生ずる析出物、溶体化処理後の冷却過程で生ずる析出物、及び時効処理過程で生ずる析出物のことを言い、典型的にはCu-Ti系の組成をもつ。第二相粒子の大きさは、電子顕微鏡による観察で圧延方向に平行な断面を組織観察したとき、析出物に包囲されることのできる最大円の直径として定義される。
 本発明に係るチタン銅の一実施形態においては、大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm2当たりの個数が35個以下である。大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm2当たりの個数は30個以下であるのが好ましく、25個以下であるのがより好ましく、20個以下であるのが更により好ましく、15個以下であるのが更により好ましく、10個以下であるのが更により好ましい。大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm2当たりの個数は0であるのが望ましいが、変動係数を規定範囲に収めることが難しくなるので、一般的には1個以上であり、典型的には3個以上である。
(5)0.2%耐力及び曲げ加工性
 本発明に係るチタン銅は一実施形態において、JIS-Z2241に従う引張試験を行ったときに圧延方向に平行な方向での0.2%耐力が900MPa以上であり、且つ、板幅(w)/板厚(t)=3.0となる曲げ幅で曲げ半径(R)/板厚(t)=0としてBadway(曲げ軸が圧延方向と同一方向)のW曲げ試験をJIS-H3130に従って実施したときに屈曲部にクラックを生じない。
 本発明に係るチタン銅は好ましい一実施形態において、JIS-Z2241に従う引張試験を行ったときに圧延方向に平行な方向での0.2%耐力が1000MPa以上であり、且つ、板幅(w)/板厚(t)=3.0となる曲げ幅で曲げ半径(R)/板厚(t)=0としてBadway(曲げ軸が圧延方向と同一方向)のW曲げ試験をJIS-H3130に従って実施したときに屈曲部にクラックを生じない。
 本発明に係るチタン銅はより好ましい一実施形態において、JIS-Z2241に従う引張試験を行ったときに圧延方向に平行な方向での0.2%耐力が1050MPa以上であり、且つ、板幅(w)/板厚(t)=3.0となる曲げ幅で曲げ半径(R)/板厚(t)=0としてBadway(曲げ軸が圧延方向と同一方向)のW曲げ試験をJIS-H3130に従って実施したときに屈曲部にクラックを生じない。
 本発明に係るチタン銅は更により好ましい一実施形態において、JIS-Z2241に従う引張試験を行ったときに圧延方向に平行な方向での0.2%耐力が1100MPa以上であり、且つ、板幅(w)/板厚(t)=3.0となる曲げ幅で曲げ半径(R)/板厚(t)=0としてBadway(曲げ軸が圧延方向と同一方向)のW曲げ試験をJIS-H3130に従って実施したときに屈曲部にクラックを生じない。
 0.2%耐力の上限値は、本発明が目的とする強度の点からは特に規制されないが、手間及び費用がかかる上、高強度を得るためにTi濃度を高めると熱間圧延時に割れる危険性があるため、本発明に係るチタン銅の0.2%耐力は一般には1400MPa以下であり、典型的には1300MPa以下であり、より典型的には1200MPa以下である。
(6)結晶粒径
 チタン銅の強度及び曲げ加工性を向上させるためには、結晶粒が小さいほどよい。そこで、好ましい平均結晶粒径は30μm以下、より好ましくは20μm以下、更により好ましくは10μm以下である。下限については特に制限はないが、結晶粒径の判別が困難となるほど微細化しようとすると未再結晶粒が存在する混粒となるために却って曲げ加工性が悪化しやすい。そこで、平均結晶粒径は2μm以上が好ましい。本発明において、平均結晶粒径は光学顕微鏡か電子顕微鏡による観察で圧延方向に平行な断面の組織観察における円相当径で表す。
(7)チタン銅の板厚
 本発明に係るチタン銅の一実施形態においては、板厚を0.5mm以下とすることができ、典型的な実施形態においては厚みを0.03~0.3mmとすることができ、より典型的な実施形態においては厚みを0.08~0.2mmとすることができる。
(8)用途
 本発明に係るチタン銅は種々の伸銅品、例えば板、条、管、棒及び線に加工することができる。本発明に係るチタン銅は、限定的ではないが、コネクタ、スイッチ、オートフォーカスカメラモジュール、ジャック、端子(例えばバッテリー端子)、リレー等の電子部品の材料として好適に使用することができる。
(9)製造方法
 本発明に係るチタン銅は、特に最終の溶体化処理及びそれ以降の工程で適切な熱処理及び冷間圧延を実施することにより製造可能である。具体的には、特許文献6に記載の最終溶体化処理→熱処理(亜時効処理)→冷間圧延→時効処理というチタン銅の製造手順に対して、最終溶体化処理後の熱処理を二段階にすることにより製造可能である。以下に、好適な製造例を工程毎に順次説明する。
<インゴット製造>
 溶解及び鋳造によるインゴットの製造は、基本的に真空中又は不活性ガス雰囲気中で行う。溶解において添加元素の溶け残りがあると、強度の向上に対して有効に作用しない。よって、溶け残りをなくすため、FeやCr等の高融点の第三元素は、添加してから十分に攪拌したうえで、一定時間保持する必要がある。一方、TiはCu中に比較的溶け易いので第三元素の溶解後に添加すればよい。従って、Cuに、Fe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択される1種又は2種以上を合計で0~0.5質量%含有するように添加し、次いでTiを2.0~4.0質量%含有するように添加してインゴットを製造することが望ましい。
<均質化焼鈍及び熱間圧延>
 インゴット製造時に生じた凝固偏析や晶出物は粗大なので均質化焼鈍でできるだけ母相に固溶させて小さくし、可能な限り無くすことが望ましい。これは曲げ割れの防止に効果があるからである。具体的には、インゴット製造工程後には、900~970℃に加熱して3~24時間均質化焼鈍を行った後に、熱間圧延を実施するのが好ましい。液体金属脆性を防止するために、熱延前及び熱延中は960℃以下とし、且つ、元厚から全体の圧下率が90%までのパスは900℃以上とするのが好ましい。
<第一溶体化処理>
 その後、冷延と焼鈍を適宜繰り返してから第一溶体化処理を行うのが好ましい。ここで予め溶体化を行っておく理由は、最終の溶体化処理での負担を軽減させるためである。すなわち、最終の溶体化処理では、第二相粒子を固溶させるための熱処理ではなく、既に溶体化されてあるのだから、その状態を維持しつつ再結晶のみ起こさせればよいので、軽めの熱処理で済む。具体的には、第一溶体化処理は加熱温度を850~900℃とし、2~10分間行えばよい。そのときの昇温速度及び冷却速度においても極力速くし、ここでは第二相粒子が析出しないようにするのが好ましい。なお、第一溶体化処理は行わなくても良い。
<中間圧延>
 最終の溶体化処理前の中間圧延における圧下率を高くするほど、最終の溶体化処理における再結晶粒を均一かつ微細に制御できる。従って、中間圧延の圧下率は好ましくは70~99%である。圧下率は{((圧延前の厚み-圧延後の厚み)/圧延前の厚み)×100%}で定義される。
<最終の溶体化処理>
 最終の溶体化処理では、析出物を完全に固溶させることが望ましいが、完全に無くすまで高温に加熱すると、結晶粒が粗大化しやすいので、加熱温度は第二相粒子組成の固溶限付近の温度とする(Tiの添加量が2.0~4.0質量%の範囲でTiの固溶限が添加量と等しくなる温度は730~840℃程度であり、例えばTiの添加量が3.0質量%では800℃程度)。そしてこの温度まで急速に加熱し、水冷等によって冷却速度も速くすれば粗大な第二相粒子の発生が抑制される。従って、典型的には、730~840℃のTiの固溶限が添加量と同じになる温度に対して-20℃~+50℃の温度に加熱し、より典型的には730~840℃のTiの固溶限が添加量と同じになる温度に比べて0~30℃高い温度、好ましくは0~20℃高い温度に加熱する。
 また、最終の溶体化処理での加熱時間は短いほうが結晶粒の粗大化を抑制できる。加熱時間は例えば30秒~10分とすることができ、典型的には1分~8分とすることができる。この時点で第二相粒子が発生しても微細かつ均一に分散していれば、強度と曲げ加工性に対してほとんど無害である。しかし粗大なものは最終の時効処理で更に成長する傾向にあるので、この時点での第二相粒子は生成してもなるべく少なく、小さくしなければならない。
<予備時効>
 最終の溶体化処理に引き続いて、予備時効処理を行う。従来は最終の溶体化処理の後は冷間圧延を行うことが通例であったが、本発明に係るチタン銅を得る上では最終の溶体化処理の後、冷間圧延を行わずに直ちに予備時効処理を行うことが重要である。予備時効処理は次工程の時効処理よりも低温で行われる熱処理であり、予備時効処理及び後述する時効処理を連続して行うことにより粗大な析出物の発生を抑制しながらチタン銅の母相中のTi濃度の変動係数を飛躍的に大きくすることが可能となる。予備時効処理は表面酸化皮膜の発生を抑制するためにAr、N2、H2等の不活性雰囲気で行うことが好ましい。
 予備時効処理における加熱温度が低すぎても高すぎても上記利点を得るのは困難である。本発明者による検討結果によれば、材料温度150~250℃で10~20時間加熱することが好ましく、材料温度160~230℃で10~18時間加熱することがより好ましく、170~200℃で12~16時間加熱することが更により好ましい。
<時効処理>
 予備時効処理に引き続いて、時効処理を行う。予備時効処理後、いったん室温まで冷却してもよい。製造効率を考えると、予備時効処理の後、冷却せずに時効処理温度まで昇温して、連続して時効処理を実施することが望ましい。何れの方法であっても得られるチタン銅の特性に違いはない。但し、予備時効はその後の時効処理で均一に第二相粒子を析出させることを目的としているため、予備時効処理と時効処理の間には冷間圧延は実施するべきではない。
 予備時効処理によって溶体化処理で固溶させたTiが少し析出していることから、時効処理は慣例の時効処理よりもやや低温で実施するべきであり、材料温度300~450℃で0.5~20時間加熱することが好ましく、材料温度350~440℃で2~18時間加熱することがより好ましく、材料温度375~430℃で3~15時間加熱することが更により好ましい。時効処理は予備時効処理と同様の理由により、Ar、N2、H2等の不活性雰囲気で行うことが好ましい。
<最終の冷間圧延>
 上記時効処理後、最終の冷間圧延を行う。最終の冷間加工によってチタン銅の強度を高めることができるが、本発明が意図するような高強度と曲げ加工性の良好なバランスを得るためには圧下率を10~50%、好ましくは20~40%とすることが望ましい。
<歪取焼鈍>
 高温暴露時の耐へたり性を向上する観点からは、最終の冷間圧延後に歪取焼鈍を実施することが望まれる。歪取焼鈍を行うことで転位が再配列するからである。歪取焼鈍の条件は慣用の条件でよいが、過度の歪取焼鈍を行うと粗大粒子が析出して強度が低下するため好ましくない。歪取焼鈍は材料温度200~600℃で10~600秒行うことが好ましく、250~550℃で10~400秒行うことがより好ましく、300~500℃で10~200秒行うことが更により好ましい。
 なお、当業者であれば、上記各工程の合間に適宜、表面の酸化スケール除去のための研削、研磨、ショットブラスト酸洗等の工程を行なうことができることは理解できるだろう。
 以下に本発明の実施例(発明例)を比較例と共に示すが、これらは本発明及びその利点をよりよく理解するために提供するものであり、発明が限定されることを意図するものではない。
 表1(表1-1および1-2)に示す合金成分を含有し残部が銅及び不可避的不純物からなるチタン銅の試験片を種々の製造条件で作製し、それぞれの母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の変動係数及び十点平均高さ、更には0.2%耐力及び曲げ加工性を調査した。
 まず、真空溶解炉にて電気銅2.5kgを溶解し、第三元素を表1に示す配合割合でそれぞれ添加した後、同表に示す配合割合のTiを添加した。添加元素の溶け残りがないよう添加後の保持時間にも十分に配慮した後に、これらをAr雰囲気で鋳型に注入して、それぞれ約2kgのインゴットを製造した。
 上記インゴットに対して950℃で3時間加熱する均質化焼鈍の後、900~950℃で熱間圧延を行い、板厚15mmの熱延板を得た。面削による脱スケール後、冷間圧延して素条の板厚(2mm)とし、素条での第一次溶体化処理を行った。第一次溶体化処理の条件は850℃で10分間加熱とし、その後、水冷した。次いで、表1に記載の最終冷間圧延における圧下率及び製品板厚の条件に応じて圧下率を調整して中間の冷間圧延を行った後、急速加熱が可能な焼鈍炉に挿入して最終の溶体化処理を行い、その後、水冷した。このときの加熱条件は材料温度がTiの固溶限が添加量と同じになる温度(Ti濃度3.0質量%で約800℃、Ti濃度2.0質量%で約730℃、Ti濃度4.0質量%で約840℃)を基準として表1に記載の通りとした。次いで、Ar雰囲気中で表1に記載の条件で予備時効処理及び時効処理を連続して行った。ここでは予備時効処理の後に冷却を行なわなかった。酸洗による脱スケール後、表1に記載の条件で最終冷間圧延を行い、最後に表1に記載の各加熱条件で歪取焼鈍を行って発明例及び比較例の試験片とした。試験片によっては予備時効処理、時効処理又は歪取焼鈍を省略した。
 作製した製品試料について、次の評価を行った。
(イ)0.2%耐力
 JIS13B号試験片を作製し、この試験片に対してJIS-Z2241に従って引張試験機を用いて圧延方向と平行な方向の0.2%耐力を測定した。
(ロ)曲げ加工性
 板幅(w)/板厚(t)=3.0となる曲げ幅でBadway(曲げ軸が圧延方向と同一方向)のW曲げ試験をJIS-H3130に従って実施し、割れが発生しない最小の曲げ半径(MBR)と厚さ(t)の比である最小曲げ半径比(MBR/t)を求めた。このとき、割れの有無は、屈曲部断面を機械研磨で鏡面に仕上げ、光学顕微鏡で観察して屈曲部にクラックが生じていたか否かで判断した。
(ハ)STEM-EDX分析
 各試験片について、圧延面を収束イオンビーム(FIB)にて切断することで圧延方向に平行な断面を露出させ、試料厚みを100nm以下程度まで薄く加工した。その後、EBSDにて<100>方位粒を特定し、その結晶粒の母相内について観察した。尚、<100>方位の結晶粒を観察するのは、Ti濃度の濃淡が最も密になるためである。観察は走査型透過電子顕微鏡(日本電子株式会社 型式:JEM-2100F)を用いて、検出器はエネルギー分散型X線分析計(EDX、日本電子社製、型式:JED-2300)を用い、試料傾斜角度0°、加速電圧200kV、電子線のスポット径0.2nmで行なった。そして、母相の測定距離:150nmとし、母相の測定距離150nm当たりの測定箇所数:150箇所、母相の測定箇所の間隔:1nmとすることによりEDXライン分析を行った。第二相粒子の影響による測定誤差を防ぐため、母相の測定位置は、第二相粒子が存在しない任意の位置を選択した。また、ライン分析の方向については、予めTiのマッピングを行い、図2の実線に倣って、Ti濃度の濃淡が大きくなる方向を選択した。
 得られたTi濃度のゆらぎ曲線から、先述した方法に従って、Ti濃度の変動係数及び十点平均高さを求めた。
(ニ)結晶粒径
 また、各製品試料の平均結晶粒径の測定は、圧延面をFIBにて切断することで、圧延方向に平行な断面を露出した後、断面を電子顕微鏡(Philips社製 XL30 SFEG)を用いて観察し、単位面積当たりの結晶粒の数をカウントして、結晶粒の平均の円相当径を求めた。具体的には、100μm×100μmの枠を作成し、この枠の中に存在する結晶粒の数をカウントした。なお、枠を横切っている結晶粒については、すべて1/2個としてカウントした。枠の面積10000μm2をその合計で除したものが結晶粒1個当たりの面積の平均値である。その面積を持つ真円の直径が円相当径であるので、これを平均結晶粒径とした。
(ホ)粗大第二相粒子の個数密度
 各製品試料の圧延面をFIBにて切断することで、圧延方向に平行な断面を露出した後、断面を電子顕微鏡(Philips社製 XL30 SFEG)を用いて観察し、先述した定義に従って、それぞれ面積10000μm2中に存在する大きさ3μm以上の第二相粒子の数を数えて任意の10箇所の平均を求めた。
(考察)
 表1(表1-1および1-2)に試験結果を示す。発明例1では最終溶体化処理、予備時効、時効、最終冷間圧延の条件がそれぞれ適切であったことから、Ti濃度の変動係数が大きくなった一方で、粗大な第二相粒子は抑制され、0.2%耐力及び曲げ加工性の高い次元での両立が達成されていることが分かる。
 発明例2は予備時効の加熱温度を発明例1よりも低くしたことでTi濃度の変動係数が低下した。発明例1に比べて0.2%耐力は低下したが、依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性を確保できた。
 発明例3は予備時効の加熱温度を発明例1よりも高くしたことでTi濃度の変動係数が上昇した。発明例1に比べて0.2%耐力が低下したが、依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性のバランスを維持できた。
 発明例4は時効の加熱温度を発明例1よりも低くしたことでTi濃度の変動係数が低下した。発明例1に比べて0.2%耐力は低下したが、依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性を確保できた。
 発明例5は時効の加熱温度を発明例1よりも高くしたことでTi濃度の変動係数が上昇した。発明例1に比べて0.2%耐力が低下したが、依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性を確保できた。
 発明例6は最終冷間圧延における圧下率を発明例1よりも小さくしたことで0.2%耐力が発明例1よりも低下したが依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性を確保できた。
 発明例7は最終冷間圧延における圧下率を発明例1よりも高くしたことで高い曲げ加工性を維持しながらも0.2%耐力が向上した。
 発明例8では発明例1に対して歪取焼鈍を省略したが、依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性を確保できた。
 発明例9では発明例1に対して歪取焼鈍における加熱温度を高くしたが、依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性を確保できた。
 発明例10は予備時効、時効及び歪取焼鈍における加熱温度を発明例1よりも高くしたことでTi濃度の変動係数及び十点平均高さが上昇した。十点平均高さが規定範囲を逸脱したことで、発明例1よりは0.2%耐力は劣るが、依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性を確保できた。
 発明例11は発明例1に対してチタン銅中Ti濃度を下限にまで低くした例である。Ti濃度の変動係数が低下して0.2%耐力に低下が見られたが、依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性を確保できた。
 発明例12は発明例1に対してチタン銅中のTi濃度を上限にまで高くしたことで0.2%耐力が発明例1よりも上昇した例である。
 発明例13~18は発明例1に対して種々の第三元素を添加した例であるが、依然として良好な0.2%耐力及び曲げ加工性を確保できた。
 比較例1は最終の溶体化処理温度が低すぎたことで未再結晶領域と再結晶領域が混在する混粒化が起き、Ti濃度の変動係数が低下した。そのため曲げ加工性が悪かった。
 比較例2では予備時効処理を行わなかったことからTi濃度の変動係数の上昇が不十分となり、曲げ加工性が悪かった。
 比較例3~4は、特許文献6に記載のチタン銅に相当する。予備時効処理と時効処理を連続で行わなかったことからTi濃度の変動係数の上昇が不十分となり、曲げ加工性が悪かった。
 比較例5は予備時効処理を行ったものの加熱温度が低すぎたことからTi濃度の変動係数が十分に上昇せず、曲げ加工性が悪かった。
 比較例6は予備時効における加熱温度が高すぎたために、過時効となってTi濃度の変動係数が過剰に上昇し、ゆらぎに耐えられなくなった一部の安定相が粗大粒子として析出したため曲げ加工性が低下した。
 比較例7は時効処理を行わなかったことからスピノーダル分解が不十分となってTi濃度の変動係数が低くなった。そのため、発明例1に対して0.2%耐力及び曲げ加工性が低下した。
 比較例8は最終溶体化処理→冷間圧延→時効処理を行ったと評価できるケースである。Ti濃度の変動係数は規定範囲に収まったが、粗大第二相粒子の析出が多くなったことで、発明例1に対して0.2%耐力及び曲げ加工性が低下した。
 比較例9は時効の加熱温度が低すぎたことからTi濃度の変動係数が低くなり、発明例1に対して0.2%耐力及び曲げ加工性が低下した。
 比較例10は時効の加熱温度が高すぎたために、過時効となってTi濃度の変動係数が過剰に上昇し、ゆらぎに耐えられなくなった一部の安定相が粗大粒子として析出した。そのため、発明例1に対して0.2%耐力及び曲げ加工性が低下した。
 比較例11は歪取焼鈍の加熱温度が高すぎたためにTi濃度の変動係数が過剰に上昇し、ゆらぎに耐えられなくなった一部の安定相が粗大粒子として析出した。そのため、発明例1に対して0.2%耐力及び曲げ加工性が低下した。
 比較例12は最終溶体化処理の後、時効処理のみを行った例であるが、粗大第二相粒子が多数析出した。そのため、発明例1に対して0.2%耐力及び曲げ加工性が低下した。
 比較例13は第三元素の添加量が多すぎたことで熱間圧延で割れが発生したため、試験片の製造ができなかった。
 比較例14はTi濃度が低すぎたことでTi濃度の変動係数が小さくなり、強度不足となると共に曲げ加工性も劣化した。
 比較例15はTi濃度が高すぎたことで熱間圧延で割れが発生したため、試験片の製造ができなかった。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002

Claims (6)

  1.  Tiを2.0~4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0~0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における<100>方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の揺らぎ曲線における変動係数が0.2~0.8であり、且つ、圧延方向に平行な断面の組織観察における大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm2当たりの個数が35個以下であるチタン銅。
  2.  圧延方向に平行な断面における<100>方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の揺らぎ曲線における十点平均高さが2.0~17.0質量%である請求項1に記載のチタン銅。
  3.  圧延方向に平行な断面の組織観察における平均結晶粒径が2~30μmである請求項1又は2に記載のチタン銅。
  4.  圧延方向に平行な方向での0.2%耐力が900MPa以上であり、且つ、板幅(w)/板厚(t)=3.0となる曲げ幅で曲げ半径(R)/板厚(t)=0としてBadway(曲げ軸が圧延方向と同一方向)のW曲げ試験を実施したときに屈曲部にクラックを生じない請求項1~3の何れか一項に記載のチタン銅。
  5.  請求項1~4の何れか一項に記載のチタン銅を備えた伸銅品。
  6.  請求項1~4の何れか一項に記載のチタン銅を備えた電子部品。
PCT/JP2014/074126 2013-12-27 2014-09-11 電子部品用チタン銅 WO2015098201A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020167018555A KR101793854B1 (ko) 2013-12-27 2014-09-11 전자 부품용 티탄구리
US15/108,338 US10351932B2 (en) 2013-12-27 2014-09-11 Copper-titanium alloy for electronic component
EP14873824.8A EP3088541B1 (en) 2013-12-27 2014-09-11 Copper-titanium alloy for electronic component
CN201480070238.XA CN106103754B (zh) 2013-12-27 2014-09-11 电子零件用钛铜

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013-272845 2013-12-27
JP2013272845A JP5718443B1 (ja) 2013-12-27 2013-12-27 電子部品用チタン銅

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2015098201A1 true WO2015098201A1 (ja) 2015-07-02

Family

ID=53277422

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2014/074126 WO2015098201A1 (ja) 2013-12-27 2014-09-11 電子部品用チタン銅

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10351932B2 (ja)
EP (1) EP3088541B1 (ja)
JP (1) JP5718443B1 (ja)
KR (1) KR101793854B1 (ja)
CN (1) CN106103754B (ja)
TW (1) TWI518192B (ja)
WO (1) WO2015098201A1 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BRPI0810567B1 (pt) 2007-04-23 2020-05-05 New Power Concepts Llc máquina de ciclo stirling
JP6151637B2 (ja) * 2013-12-27 2017-06-21 Jx金属株式会社 電子部品用チタン銅
JP6151636B2 (ja) * 2013-12-27 2017-06-21 Jx金属株式会社 電子部品用チタン銅
JP6165071B2 (ja) * 2014-01-30 2017-07-19 Jx金属株式会社 電子部品用チタン銅
JP6192552B2 (ja) * 2014-01-30 2017-09-06 Jx金属株式会社 電子部品用チタン銅
JP6662685B2 (ja) * 2016-03-31 2020-03-11 Jx金属株式会社 めっき層を有するチタン銅箔
KR102119552B1 (ko) * 2016-12-02 2020-06-05 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 구리 합금 선재 및 구리 합금 선재의 제조 방법
JP6609589B2 (ja) * 2017-03-30 2019-11-20 Jx金属株式会社 層状組織を有する高強度チタン銅条および箔
JP6609590B2 (ja) * 2017-03-30 2019-11-20 Jx金属株式会社 層状組織を有する高強度チタン銅条および箔
JP6310130B1 (ja) * 2017-09-22 2018-04-11 Jx金属株式会社 電子部品用チタン銅
JP6310131B1 (ja) * 2017-09-22 2018-04-11 Jx金属株式会社 電子部品用チタン銅
JP6745859B2 (ja) * 2018-11-09 2020-08-26 Jx金属株式会社 チタン銅箔、伸銅品、電子機器部品及びオートフォーカスカメラモジュール
JP6878541B2 (ja) * 2019-09-25 2021-05-26 Jx金属株式会社 ベーパーチャンバー用チタン銅合金板及びベーパーチャンバー
CN113005324B (zh) * 2021-02-23 2021-12-07 江西理工大学 一种铜钛合金及其制备方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004176163A (ja) 2002-11-29 2004-06-24 Nikko Metal Manufacturing Co Ltd 銅合金
JP2004231985A (ja) 2003-01-28 2004-08-19 Nikko Metal Manufacturing Co Ltd 曲げ性に優れた高強度銅合金
JP2005097638A (ja) 2003-09-22 2005-04-14 Nikko Metal Manufacturing Co Ltd 曲げ加工性に優れた高強度銅合金
JP2006265611A (ja) 2005-03-23 2006-10-05 Nikko Kinzoku Kk チタン銅及びその製造方法
JP2012012631A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Jx Nippon Mining & Metals Corp チタン銅、伸銅品、電子部品及びコネクタ
JP2012077338A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Jx Nippon Mining & Metals Corp チタン銅及びこれを用いた伸銅品、電子部品及びコネクタ
JP2012097306A (ja) 2010-10-29 2012-05-24 Jx Nippon Mining & Metals Corp 銅合金、伸銅品、電子部品及びコネクタ
JP2012188680A (ja) 2011-03-08 2012-10-04 Jx Nippon Mining & Metals Corp 電子部品用チタン銅
WO2014064970A1 (ja) * 2012-10-25 2014-05-01 Jx日鉱日石金属株式会社 高強度チタン銅
WO2014064969A1 (ja) * 2012-10-25 2014-05-01 Jx日鉱日石金属株式会社 高強度チタン銅

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4193171B2 (ja) * 2002-09-19 2008-12-10 三菱マテリアル株式会社 加工性に優れた含Ti銅合金板または条製造用鋳塊の製造方法
TW200730643A (en) 2005-08-03 2007-08-16 Nippon Mining Co High-strength copper alloy for electronic component use and electronic component thereof
CN101535512A (zh) * 2006-09-13 2009-09-16 古河电气工业株式会社 触点材料用铜基析出型合金板材及其制造方法
CN100532599C (zh) * 2007-08-01 2009-08-26 苏州有色金属研究院有限公司 一种抗疲劳的Cu-Ti合金及其生产方法
CN102686755A (zh) * 2009-11-25 2012-09-19 Jx日矿日石金属株式会社 电子零件用钛铜
JP4761586B1 (ja) 2010-03-25 2011-08-31 Jx日鉱日石金属株式会社 高強度チタン銅板及びその製造方法
JP5214701B2 (ja) * 2010-10-18 2013-06-19 Jx日鉱日石金属株式会社 強度、導電率及び曲げ加工性に優れたチタン銅及びその製造方法
JP5718021B2 (ja) 2010-10-29 2015-05-13 Jx日鉱日石金属株式会社 電子部品用チタン銅
JP5461467B2 (ja) 2011-03-29 2014-04-02 Jx日鉱日石金属株式会社 強度、導電率及び曲げ加工性に優れたチタン銅及びその製造方法
JP6247812B2 (ja) 2012-03-30 2017-12-13 Jx金属株式会社 チタン銅及びその製造方法
JP5718436B1 (ja) 2013-11-18 2015-05-13 Jx日鉱日石金属株式会社 電子部品用チタン銅

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004176163A (ja) 2002-11-29 2004-06-24 Nikko Metal Manufacturing Co Ltd 銅合金
JP2004231985A (ja) 2003-01-28 2004-08-19 Nikko Metal Manufacturing Co Ltd 曲げ性に優れた高強度銅合金
JP2005097638A (ja) 2003-09-22 2005-04-14 Nikko Metal Manufacturing Co Ltd 曲げ加工性に優れた高強度銅合金
JP2006265611A (ja) 2005-03-23 2006-10-05 Nikko Kinzoku Kk チタン銅及びその製造方法
JP2012012631A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Jx Nippon Mining & Metals Corp チタン銅、伸銅品、電子部品及びコネクタ
JP2012077338A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Jx Nippon Mining & Metals Corp チタン銅及びこれを用いた伸銅品、電子部品及びコネクタ
JP2012097306A (ja) 2010-10-29 2012-05-24 Jx Nippon Mining & Metals Corp 銅合金、伸銅品、電子部品及びコネクタ
JP2012188680A (ja) 2011-03-08 2012-10-04 Jx Nippon Mining & Metals Corp 電子部品用チタン銅
WO2014064970A1 (ja) * 2012-10-25 2014-05-01 Jx日鉱日石金属株式会社 高強度チタン銅
WO2014064969A1 (ja) * 2012-10-25 2014-05-01 Jx日鉱日石金属株式会社 高強度チタン銅

Also Published As

Publication number Publication date
TWI518192B (zh) 2016-01-21
US20160326611A1 (en) 2016-11-10
KR20160096696A (ko) 2016-08-16
US10351932B2 (en) 2019-07-16
CN106103754A (zh) 2016-11-09
JP2015127437A (ja) 2015-07-09
JP5718443B1 (ja) 2015-05-13
EP3088541B1 (en) 2019-05-01
TW201525161A (zh) 2015-07-01
KR101793854B1 (ko) 2017-11-03
EP3088541A4 (en) 2017-06-28
CN106103754B (zh) 2019-01-22
EP3088541A1 (en) 2016-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5718443B1 (ja) 電子部品用チタン銅
JP5718436B1 (ja) 電子部品用チタン銅
JP6125409B2 (ja) 電子部品用チタン銅
JP6151636B2 (ja) 電子部品用チタン銅
JP5226056B2 (ja) 銅合金、伸銅品、電子部品及びコネクタ
JP6125410B2 (ja) 電子部品用チタン銅
JP6080823B2 (ja) 電子部品用チタン銅
JP6151637B2 (ja) 電子部品用チタン銅
JP2016138334A (ja) 電子部品用チタン銅
JP2016130370A (ja) 電子部品用チタン銅
JP5319578B2 (ja) 電子部品用チタン銅の製造方法
JP6192552B2 (ja) 電子部品用チタン銅
JP6165071B2 (ja) 電子部品用チタン銅
EP3460081B1 (en) Titanium copper for electronic components
JP6310131B1 (ja) 電子部品用チタン銅
JP2016117952A (ja) 電子部品用チタン銅
JP2016117951A (ja) 電子部品用チタン銅
JP2016138335A (ja) 電子部品用チタン銅
JP2016145424A (ja) 電子部品用チタン銅

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 14873824

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 15108338

Country of ref document: US

REEP Request for entry into the european phase

Ref document number: 2014873824

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2014873824

Country of ref document: EP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20167018555

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A