WO2015053002A1 - 半導体モジュール - Google Patents

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WO2015053002A1
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electrode
wire
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青島　正貴
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Toyota Motor Corp
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Definitions

  • the technology disclosed in this specification relates to a semiconductor module.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-295794 discloses a semiconductor device including a pair of semiconductor elements arranged in the vertical direction.
  • the pair of semiconductor elements are arranged so that the respective emitter electrodes face each other.
  • Each semiconductor element is connected to a control terminal via a wire.
  • the control terminals are arranged side by side with an interval in the vertical direction.
  • an object of the present specification is to provide a semiconductor module that can be miniaturized.
  • the semiconductor module disclosed in the present specification is arranged with a first semiconductor element having a first signal electrode formed on the surface thereof and a distance from the first semiconductor element, and is arranged on the first semiconductor element side. And a second semiconductor element having a second signal electrode formed on a surface thereof.
  • the semiconductor module further includes a first signal lead electrically connected to the first signal electrode and a second signal lead electrically connected to the second signal electrode. .
  • the first signal lead and the second signal lead are arranged so that their height positions are aligned in the height direction from the first semiconductor element toward the second semiconductor element.
  • the first signal lead and the second signal lead are arranged so that their height positions are aligned in the height direction from the first semiconductor element to the second semiconductor element. Therefore, the width of the semiconductor module in this direction can be reduced.
  • the semiconductor module includes an insulating member disposed between the first semiconductor element and the second semiconductor element, a first signal pattern formed on a surface of the insulating member on the first semiconductor element side, and a first of the insulating member. And a second signal pattern formed on the surface of the semiconductor element side.
  • the first signal electrode is electrically connected to the first signal lead via the first signal pattern
  • the second signal electrode is electrically connected to the second signal lead via the second signal pattern. It is connected to the.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II in FIG. It is a perspective view which expands and shows a part of component of a semiconductor module. It is a perspective view which expands and shows a part of component of a semiconductor module. It is sectional drawing corresponding to FIG. 2 of the semiconductor module of other embodiment. It is a longitudinal cross-sectional view of the semiconductor module of further another embodiment. It is VII-VII sectional drawing of FIG. It is a perspective view which expands and shows a part of component of a semiconductor module. It is a longitudinal cross-sectional view of the semiconductor module of further another embodiment. Furthermore, it is sectional drawing corresponding to FIG. 2 of the semiconductor module of other embodiment.
  • the semiconductor module 2 includes a pair of semiconductor elements 3 (first semiconductor element 31 and second semiconductor element 32) and a plurality of signal leads 5 (first signal elements). A lead 51 and a second signal lead 52).
  • the first semiconductor element 31 and the second semiconductor element 32, and the first signal lead 51 and the second signal lead 52 are separated in the vertical direction (z direction) to make the drawing easier to see. Is shown.
  • the semiconductor module 2 includes an emitter lead 53 and a collector lead 54 corresponding to each semiconductor element 3. Further, the semiconductor module 2 includes a sealing resin 6 that seals the whole.
  • an IGBT Insulated Gate Bipolar Transistor
  • the 1st semiconductor element 31 and the 2nd semiconductor element 32 are arrange
  • the first semiconductor element 31 is disposed above the second semiconductor element 32.
  • the pair of semiconductor elements 3 (first semiconductor element 31 and second semiconductor element 32) have a front surface 33 and a back surface 34, respectively, and are arranged so that the front surfaces 33 face each other.
  • the surface 33 of the first semiconductor element 31 faces downward, and the surface 33 of the second semiconductor element 32 faces upward (the back surface 34 of the first semiconductor element 31 faces upward, and the back surface of the second semiconductor element 32 34 is pointing down.)
  • An emitter electrode (not shown) is formed on the front surface 33 of the semiconductor element 3, and a collector electrode (not shown) is formed on the back surface 34.
  • An emitter lead 53 is disposed at a position adjacent to each emitter electrode. Each emitter electrode is connected to an adjacent emitter lead 53 by solder 22.
  • a collector lead 54 is disposed at a position adjacent to each collector electrode. Each collector electrode is connected to an adjacent collector lead 54 by solder 23. That is, each semiconductor element 3 is disposed between the emitter lead 53 and the collector lead 54.
  • the collector lead 54 functions as a heat sink. The heat generated from each semiconductor element 3 (the first semiconductor element 31 and the second semiconductor element 32) is released to the outside through the collector lead 54 (heat sink).
  • a plate-like insulating member 7 is disposed between the upper and lower emitter leads 53.
  • Metal layers are formed on the front and back surfaces of the insulating member 7.
  • the metal layers on the front surface and the back surface of the insulating member 7 are fixed to the emitter leads 53 by solder 24.
  • the upper and lower emitter leads 53 are insulated by the insulating member 7.
  • a cooler (not shown) for cooling the semiconductor element 3 is disposed outside each of the collector leads 54. Further, a sealing resin 6 for sealing the semiconductor element 3 is filled between the upper and lower collector leads 54.
  • the upper first semiconductor element 31 has a plurality of first signal electrodes 41 formed on the surface 33 thereof, and the lower second semiconductor element 32 has a plurality of first electrodes formed on the surface 33 thereof.
  • a two-signal electrode 42 is provided.
  • Each signal electrode 4 (first signal electrode 41 and second signal electrode 42) is formed adjacent to the emitter electrode.
  • the signal electrode 4 is an electrode for transmitting and receiving control signals between the semiconductor element 3 and an external device (not shown).
  • the plurality of signal electrodes 4 are formed side by side in a plan view.
  • the first signal electrode 41 and the second signal electrode 42 are formed to be shifted laterally so as not to overlap each other in plan view.
  • the first signal electrodes 41 and the second signal electrodes 42 are alternately arranged in plan view.
  • the first signal electrode 41 and the second signal electrode 42 are configured not to overlap in the vertical direction (z direction).
  • Each signal lead 5 is partially covered with the sealing resin 6, and a part thereof protrudes from the sealing resin 6 to the outside.
  • Each signal lead 5 (first signal lead 51 and second signal lead 52) is made of each signal electrode 4 (first signal electrode 41 and second wire 44) by a metal wire (first wire 43 and second wire 44).
  • the second signal electrode 42) is connected.
  • the first signal lead 51 is electrically connected to the first signal electrode 41 via the first wire 43
  • the second signal lead 52 is electrically connected to the second signal electrode 42 via the second wire 44. It is connected to the.
  • the signal leads 5 are arranged so as to extend in parallel with an interval.
  • the first signal leads and the second signal leads are alternately arranged. Therefore, the first wire 43 and the second wire 44 are alternately arranged. As shown in FIG.
  • the first wire 43 is curved so as to protrude downward.
  • One end of the first wire 43 is connected to the first signal electrode 41 from the lower side of the first signal electrode 41, and the other end is connected to the first signal lead 51 from the lower side of the first signal lead 51. It is connected to the.
  • the second wire 44 is curved so as to protrude upward.
  • One end of the second wire 44 is connected to the second signal electrode 42 from the upper side of the second signal electrode 42, and the other end is connected to the second signal lead 52 from the upper side of the second signal lead 52.
  • the signal leads 5 are arranged in a line in the horizontal direction (y direction) as shown in FIG. Further, each signal lead 5 (first signal lead 51 and second signal lead 52) is directed from the outside of the sealing resin 6 toward a region sandwiched between the semiconductor elements 3 (that is, along the x direction). ) (See FIG. 1). Each signal lead 5 (first signal lead 51 and second signal lead 52) is in the vertical direction (z direction), that is, in the height direction from the first semiconductor element 31 to the second semiconductor element 32. These are arranged so that their height positions are aligned. In the present specification, “consisting of height positions” is not strictly limited to the same height, but is a concept including a state in which the heights differ to some extent.
  • the deviations in the height positions of the plurality of signal leads 5 are preferably within the range of manufacturing errors from the viewpoint of miniaturization of the semiconductor module.
  • the range of manufacturing error is preferably in the range of 0 to 100 ⁇ m. That is, it is preferable that the difference between the height positions of the signal leads 5 is within 100 ⁇ m at most.
  • Each signal lead 5 (the first signal lead 51 and the second signal lead 52) is the same as the first signal lead 51 when viewed along the direction in which the signal leads 5 are arranged (y direction). It is preferable that the second signal leads 52 overlap at least partially. The overlapping of the signal leads 5 when viewed along the y direction reduces the deviation of the height position of each signal lead 5 in the z direction.
  • the semiconductor module 2 since the height positions of the plurality of signal leads 5 in the vertical direction (z direction) are aligned, the width in the vertical direction can be reduced. Therefore, the semiconductor module 2 can be downsized.
  • the first signal electrodes 41 and the second signal electrodes 42 are alternately arranged in a plan view.
  • the present invention is not limited to this configuration, and as shown in FIG. A plurality of first signal electrodes 41 may be formed on one side and the second signal electrodes 42 may be formed on the other side.
  • the configuration for electrically connecting the signal electrode 4 and the signal lead 5 is not limited to the above embodiment.
  • the signal electrode 4 and the signal lead 5 may be electrically connected via a signal pattern 9. 6 and FIG. 7, the same components as those in FIG. 1 and FIG.
  • the semiconductor module 2 includes an insulating member 72 disposed between the pair of semiconductor elements 3, and a signal pattern 9 (a first pattern disposed on the front and back surfaces of the insulating member 72, respectively). A signal pattern 91 and a second signal pattern 92).
  • the insulating member 72 is formed from a ceramic having insulating properties.
  • the insulating member 72 is disposed between the first semiconductor element 31 and the second semiconductor element 32.
  • a first signal pattern 91 is formed on the front surface (upper surface) of the insulating member 72, and a second signal pattern 92 is formed on the rear surface (lower surface). That is, the first signal pattern 91 is formed on the surface of the insulating member 72 on the first semiconductor element 31 side, and the second signal pattern 92 is formed on the surface of the insulating member 72 on the second semiconductor element 32 side. Yes.
  • An emitter pattern 153 is formed on the front and back surfaces of the insulating member 72.
  • the signal pattern 9 and the emitter pattern 153 are made of a metal such as aluminum or copper. The signal pattern 9 and the emitter pattern 153 are separated from each other.
  • the signal pattern 9 is electrically connected to the signal electrode 4 (first signal electrode 41 and second signal electrode 42) via metal solder (first solder 93 and second solder 94). .
  • the first signal pattern 91 is fixed to the first signal electrode 41 by the first solder 93.
  • the second signal pattern 92 is fixed to the second signal electrode 42 by the second solder 94.
  • the signal lead 5 (the first signal lead 51 and the second signal lead 52) is a signal pattern 9 (the first signal pattern 91 and the second signal lead) by a metal wire (the first wire 143 and the second wire 144).
  • Signal pattern 92 One end of the first wire 143 is connected to the first signal pattern 91 from the upper side of the first signal pattern 91, and the other end is connected to the first signal lead 51 from the upper side as shown in FIG. It is connected to one signal lead 51.
  • One end of the second wire 144 is connected to the second signal pattern 92 from the lower side of the second signal pattern 92, and the other end is the lower side of the second signal lead 52 as shown in FIG. To the second signal lead 52.
  • the first wire 143 extends upward from the first signal pattern 91 and the first signal lead 51.
  • the second wire 144 extends downward from the second signal pattern 92 and the second signal lead 52.
  • the first signal lead 51 is electrically connected to the first signal electrode 41 via the first wire 143, the first signal pattern 91, and the first solder 93.
  • the second signal lead 52 is electrically connected to the second signal electrode 42 via the second wire 144, the second signal pattern 92, and the second solder 94.
  • the emitter pattern 153 is fixed to the surface 33 of each semiconductor element 3 by solder 122. As a result, the emitter electrode on the surface side of each semiconductor element 3 is electrically connected to the emitter pattern 153.
  • the wires (the first wire 143 and the second wire 143) are connected.
  • the contact between the wires 144) can be prevented. That is, if the signal pattern 9 is not interposed, the first wire 143 and the second wire 144 may intersect with each other, and the wires 143 and 144 may contact each other. However, since the first wire 143 and the second wire 144 do not intersect with each other through the signal pattern 9, it is possible to prevent the wires 143 and 144 from contacting each other.
  • the wire is used when the signal electrode 4 and the signal lead 5 are electrically connected.
  • the wire is not necessarily used.
  • the signal lead 5 first signal lead 51 and second signal lead 52
  • the signal pattern 9 first signal pattern 91 and second signal pattern 92.
  • a connected configuration may be used. 9, the same components as those in FIG. 6 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
  • the first signal lead 51 is bent upward, and the second signal lead 52 is bent downward.
  • One end of the first signal lead 51 covers the upper surface of the first signal pattern 91, and one end of the second signal lead 52 covers the lower surface of the second signal pattern 92.
  • the first signal lead 51 is fixed to the first signal pattern 91 by solder (not shown), and the second signal lead 52 is fixed to the second signal pattern 92 by solder (not shown).
  • the arrangement of the plurality of signal leads 5 is not limited to the above embodiment.
  • the plurality of signal leads 5 may be arranged in a state where the positions of the tip portions are shifted in the longitudinal direction. 10, the same components as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • the position of the tip is shifted in three stages.
  • the signal lead 5 far from the semiconductor element 3 is formed longer than the signal lead 5 close to the semiconductor element 3.
  • the first signal leads 51 and the second signal leads 52 are alternately arranged.
  • the direction in which the plurality of signal leads 5 (the first signal lead 51 and the second signal lead 52) extends and the direction in which the wires (the first wire 43 and the second wire 44) extend intersect each other. .
  • the IGBT is used as the semiconductor element 3.
  • the present invention is not limited to this, and a MOSFET or the like may be used as the semiconductor element 3.

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

　半導体モジュール２は、表面３３に第１信号用電極４１が形成されている第１半導体素子３１と、第１半導体素子３１に対して間隔を開けて配置されており、第１半導体素子側の表面３３に第２信号用電極４２が形成されている第２半導体素子３２と、第１信号用電極４１に電気的に接続されている第１信号用リード５１と、第２信号用電極４２に電気的に接続されている第２信号用リード５２と、を備えている。第１信号用リード５１と第２信号用リード５２は、第１半導体素子３１から第２半導体素子３２に向かう方向において、それぞれの高さ位置が揃うように配置されている。

Description

半導体モジュール
　本明細書に開示の技術は、半導体モジュールに関する。
　特許文献１（日本国特開２００９－２９５７９４号公報）には、上下方向に並べて配置された一対の半導体素子を備える半導体装置が開示されている。一対の半導体素子は、それぞれのエミッタ電極が対向するように配置されている。各半導体素子は、それぞれワイヤを介して制御用の端子に接続されている。制御用の各端子は、上下方向に間隔をあけて並べて配置されている。
　特許文献１に開示の技術では、各半導体素子の制御用の各端子が上下方向に間隔をあけて並べて配置されているので、半導体装置全体の上下方向の高さが高くなり、装置が大型化してしまう問題があった。そこで本明細書は、小型化を図ることができる半導体モジュールを提供することを目的とする。
　本明細書に開示する半導体モジュールは、表面に第１信号用電極が形成されている第１半導体素子と、第１半導体素子に対して間隔を開けて配置されており、第１半導体素子側の表面に第２信号用電極が形成されている第２半導体素子と、を備えている。また、半導体モジュールは、第１信号用電極に電気的に接続されている第１信号用リードと、第２信号用電極に電気的に接続されている第２信号用リードと、を備えている。第１信号用リードと第２信号用リードは、第１半導体素子から第２半導体素子に向かう高さ方向において、それぞれの高さ位置が揃うように配置されている。
　このような構成によれば、第１信号用リードと第２信号用リードが、第１半導体素子から第２半導体素子に向かう高さ方向において、それぞれの高さ位置が揃うように配置されているので、この方向における半導体モジュールの幅を小さくすることができる。
　上記半導体モジュールは、第１半導体素子と第２半導体素子の間に配置されている絶縁部材と、絶縁部材の第１半導体素子側の表面に形成された第１信号用パターンと、絶縁部材の第２半導体素子側の表面に形成された第２信号用パターンと、をさらに備えている。第１信号用電極が第１信号用パターンを介して第１信号用リードに電気的に接続されており、第２信号用電極が第２信号用パターンを介して第２信号用リードに電気的に接続されている。
実施形態の半導体モジュールの縦断面図である。 図１のII－II断面図である。 半導体モジュールの構成要素の一部を拡大して示す斜視図である。 半導体モジュールの構成要素の一部を拡大して示す斜視図である。 他の実施形態の半導体モジュールの図２に対応する断面図である。 更に他の実施形態の半導体モジュールの縦断面図である。 図６のVII－VII断面図である。 半導体モジュールの構成要素の一部を拡大して示す斜視図である。 更に他の実施形態の半導体モジュールの縦断面図である。 更に他の実施形態の半導体モジュールの図２に対応する断面図である。
　以下、実施形態について添付図面を参照して説明する。図１～図３に示すように、実施形態に係る半導体モジュール２は、一対の半導体素子３（第１半導体素子３１および第２半導体素子３２）と、複数の信号用リード５（第１信号用リード５１および第２信号用リード５２）とを備えている。なお図３では、図面を見易くするために、第１半導体素子３１および第２半導体素子３２、並びに、第１信号用リード５１および第２信号用リード５２を上下方向（ｚ方向）に離した状態で示している。また、半導体モジュール２は、各半導体素子３に対応するエミッタ用リード５３およびコレクタ用リード５４を備えている。また、半導体モジュール２は、全体を封止する封止樹脂６を備えている。
　本実施形態では半導体素子３としてＩＧＢＴ（Insulated Gate Bipolar Transistor）を用いている。第１半導体素子３１および第２半導体素子３２は、上下方向（ｚ方向）に間隔をあけて配置されている。図１に示す例では、第１半導体素子３１が第２半導体素子３２より上側に配置されている。一対の半導体素子３（第１半導体素子３１および第２半導体素子３２）は、それぞれ表面３３および裏面３４を有しており、それぞれの表面３３が対向するように配置されている。すなわち、第１半導体素子３１の表面３３が下方を向き、第２半導体素子３２の表面３３が上方を向いている（第１半導体素子３１の裏面３４が上方を向き、第２半導体素子３２の裏面３４が下方を向いている。）。半導体素子３の表面３３にはエミッタ電極（図示省略）が形成されており、裏面３４にはコレクタ電極（図示省略）が形成されている。各エミッタ電極に隣接する位置には、エミッタ用リード５３が配置されている。各エミッタ電極は、はんだ２２により隣接するエミッタ用リード５３に接続されている。各コレクタ電極に隣接する位置には、コレクタ用リード５４が配置されている。各コレクタ電極は、はんだ２３により隣接するコレクタ用リード５４に接続されている。すなわち、各半導体素子３は、エミッタ用リード５３とコレクタ用リード５４の間に配置されている。コレクタ用リード５４は、ヒートシンクとして機能する。各半導体素子３（第１半導体素子３１および第２半導体素子３２）から発生する熱がコレクタ用リード５４（ヒートシンク）を介して外部に放出される。
　上下のエミッタ用リード５３の間には板状の絶縁部材７が配置されている。絶縁部材７の表面及び裏面には、金属層が形成されている。絶縁部材７の表面及び裏面の金属層は、はんだ２４により各エミッタ用リード５３に固定されている。上下のエミッタ用リード５３の間は、絶縁部材７により絶縁されている。
　各コレクタ用リード５４の外側には、半導体素子３を冷却するための冷却器（図示省略）が配置される。また、上下のコレクタ用リード５４の間には、半導体素子３を封止する封止樹脂６が充填されている。
　上側の第１半導体素子３１は、その表面３３に形成された複数の第１信号用電極４１を有しており、下側の第２半導体素子３２は、その表面３３に形成された複数の第２信号用電極４２を有している。各信号用電極４（第１信号用電極４１および第２信号用電極４２）は、エミッタ電極に隣接して形成されている。信号用電極４は、半導体素子３と外部装置（図示省略）との間で制御信号の送受信をするための電極である。複数の信号用電極４は、図２に示すように、平面視において間隔をあけて並べて形成されている。第１信号用電極４１および第２信号用電極４２は、平面視において互いに重ならないように横にずらして形成されている。本実施形態では、平面視において第１信号用電極４１および第２信号用電極４２が交互に並んで配置されている。これにより、第１信号用電極４１および第２信号用電極４２が上下方向（ｚ方向）に重ならないように構成されている。
　各信号用リード５は、部分的に封止樹脂６に覆われているとともに、その一部が封止樹脂６から外部に突出している。各信号用リード５（第１信号用リード５１および第２信号用リード５２）は、金属のワイヤ（第１ワイヤ４３および第２ワイヤ４４）により各信号用電極４（第１信号用電極４１および第２信号用電極４２）に接続されている。第１信号用リード５１は第１ワイヤ４３を介して第１信号用電極４１に電気的に接続され、第２信号用リード５２は第２ワイヤ４４を介して第２信号用電極４２に電気的に接続されている。信号用リード５は、間隔をあけて平行に延びるように配置されている。第１信号用リードおよび第２信号用リードは交互に並んで配置されている。したがって、第１ワイヤ４３および第２ワイヤ４４は、交互に配置されている。図３に示すように、第１ワイヤ４３は、下側に凸となるように湾曲している。第１ワイヤ４３の一端は、第１信号用電極４１の下側から第１信号用電極４１に接続されており、他端は、第１信号用リード５１の下側から第１信号用リード５１に接続されている。第２ワイヤ４４は、上側に凸となるように湾曲している。第２ワイヤ４４の一端は、第２信号用電極４２の上側から第２信号用電極４２に接続されており、他端は、第２信号用リード５２の上側から第２信号用リード５２に接続されている。
　各信号用リード５（第１信号用リード５１および第２信号用リード５２）は、図４に示すように、横方向（ｙ方向）に一列に並んで配置されている。また、各信号用リード５（第１信号用リード５１と第２信号用リード５２）は、封止樹脂６の外側から各半導体素子３に挟まれた領域に向かって（すなわちｘ方向に沿って）延びている（図１参照）。また、各信号用リード５（第１信号用リード５１と第２信号用リード５２）は、上下方向（ｚ方向）、すなわち、第１半導体素子３１から第２半導体素子３２に向かう高さ方向において、それぞれの高さ位置が揃うように配置されている。本明細書において高さ位置が揃うとは、厳密に同一の高さに限定されるものではなく、ある程度高さが異なる状態も含む概念である。複数の信号用リード５の高さ位置のずれは、半導体モジュールの小型化を図る観点から、製造誤差の範囲内に収まることが好ましい。製造誤差の範囲は、０～１００μｍの範囲であることが好ましい。すなわち、各信号用リード５の高さ位置の違いが最大でも、１００μｍ以内に収まることが好ましい。また、各信号用リード５（第１信号用リード５１と第２信号用リード５２）は、各信号用リード５が並ぶ方向（ｙ方向）に沿って見たときに第１信号用リード５１と第２信号用リード５２が少なくとも部分的に重複していることが好ましい。各信号用リード５がｙ方向に沿って見たときに重複することにより、ｚ方向における各信号用リード５の高さ位置のずれが小さくなる。
　上記の構成を備える半導体モジュール２によれば、複数の信号用リード５の上下方向（ｚ方向）の高さ位置が揃うので、上下方向の幅を小さくすることができる。したがって、半導体モジュール２の小型化を図ることができる。
　以上、一実施形態について説明したが、具体的な態様は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、上記実施形態では第１信号用電極４１および第２信号用電極４２が平面視において交互に並んでいたが、この構成に限定されるものではなく、図５に示すように、平面視において複数の第１信号用電極４１が一方側に集めて形成され、第２信号用電極４２が他方側に集めて形成されている構成であってもよい。なお図５において図２と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。このような構成によっても、第１信号用電極４１および第２信号用電極４２が上下方向（ｚ方向）に重ならない。第１信号用電極４１および第２信号用電極４２の位置をずらすことにより、第１ワイヤ４３および第２ワイヤ４４が互いに接触するのを避けることができる。
　また、信号用電極４と信号用リード５とを電気的に接続する構成は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、図６及び図７に示すように、信号用電極４と信号用リード５とは、信号用パターン９を介して電気的に接続されていてもよい。図６及び図７において図１及び図２と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。図６及び図７に示す実施形態では、半導体モジュール２は、一対の半導体素子３の間に配置された絶縁部材７２と、絶縁部材７２の表裏面にそれぞれ配置された信号用パターン９（第１信号用パターン９１及び第２信号用パターン９２）とを備えている。絶縁部材７２は、絶縁性を有するセラミックスから形成されている。絶縁部材７２は、第１半導体素子３１と第２半導体素子３２との間に配置されている。絶縁部材７２の表面（上面）に第１信号用パターン９１が形成されており、裏面（下面）に第２信号用パターン９２が形成されている。すなわち、絶縁部材７２の第１半導体素子３１側の表面に第１信号用パターン９１が形成されており、絶縁部材７２の第２半導体素子３２側の表面に第２信号用パターン９２が形成されている。また、絶縁部材７２の表裏面には、エミッタ用パターン１５３が形成されている。信号用パターン９およびエミッタ用パターン１５３は、アルミニウム又は銅などの金属から形成されている。信号用パターン９とエミッタ用パターン１５３は互いに離間している。
　信号用パターン９は、金属のはんだ（第１はんだ９３及び第２はんだ９４）を介して信号用電極４（第１信号用電極４１及び第２信号用電極４２）に電気的に接続されている。第１信号用パターン９１は、第１はんだ９３により第１信号用電極４１に固定されている。第２信号用パターン９２は、第２はんだ９４により第２信号用電極４２に固定されている。
　信号用リード５（第１信号用リード５１および第２信号用リード５２）は、金属のワイヤ（第１ワイヤ１４３および第２ワイヤ１４４）により信号用パターン９（第１信号用パターン９１および第２信号用パターン９２）に接続されている。第１ワイヤ１４３の一端は、第１信号用パターン９１の上側から第１信号用パターン９１に接続されており、他端は、図８に示すように、第１信号用リード５１の上側から第１信号用リード５１に接続されている。第２ワイヤ１４４の一端は、第２信号用パターン９２の下側から第２信号用パターン９２に接続されており、他端は、図８に示すように、第２信号用リード５２の下側から第２信号用リード５２に接続されている。第１ワイヤ１４３は、第１信号用パターン９１および第１信号用リード５１から上方に延びている。第２ワイヤ１４４は、第２信号用パターン９２および第２信号用リード５２から下方に延びている。第１信号用リード５１は、第１ワイヤ１４３、第１信号用パターン９１および第１はんだ９３を介して第１信号用電極４１に電気的に接続される。第２信号用リード５２は、第２ワイヤ１４４、第２信号用パターン９２および第２はんだ９４を介して第２信号用電極４２に電気的に接続される。
　エミッタ用パターン１５３は、はんだ１２２によりに各半導体素子３の表面３３にそれぞれ固定されている。これにより各半導体素子３の表面側のエミッタ電極がエミッタ用パターン１５３に電気的に接続される。
　このような構成によれば、信号用パターン９を介して信号用電極４と信号用リード５とを電気的に接続することにより、図８に示すように、ワイヤ（第１ワイヤ１４３および第２ワイヤ１４４）同士の接触を防ぐことができる。すなわち、信号用パターン９を介していないと、第１ワイヤ１４３および第２ワイヤ１４４が互いに交差することにより、両ワイヤ１４３、１４４が接触する可能性がある。しかし、信号用パターン９を介することにより、第１ワイヤ１４３および第２ワイヤ１４４が互いに交差しないので、両ワイヤ１４３、１４４の接触を防ぐことができる。
　また、上記実施形態では信号用電極４と信号用リード５とを電気的に接続するときにワイヤを用いていたが、必ずしもワイヤを用いなくてもよい。例えば、図９に示すように、信号用リード５（第１信号用リード５１及び第２信号用リード５２）が信号用パターン９（第１信号用パターン９１および第２信号用パターン９２）に直接接続されている構成であってもよい。図９において図６と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。図９に示す実施形態では、第１信号用リード５１が上方に屈曲し、第２信号用リード５２が下方に屈曲している。第１信号用リード５１の一端部が第１信号用パターン９１の上面を覆っており、第２信号用リード５２の一端部が第２信号用パターン９２の下面を覆っている。第１信号用リード５１がはんだ（図示省略）により第１信号用パターン９１に固定され、第２信号用リード５２がはんだ（図示省略）により第２信号用パターン９２に固定されている。
　また、複数の信号用リード５（第１信号用リード５１及び第２信号用リード５２）の配置は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、図１０に示すように、複数の信号用リード５は、先端部の位置が長手方向にずれた状態で配置されていてもよい。図１０において図２と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。本実施形態では、先端部の位置が３段階でずれている。半導体素子３から近い信号用リード５より半導体素子３から遠い信号用リード５が長く形成されている。第１信号用リード５１及び第２信号用リード５２は交互に配置されている。また、複数の信号用リード５（第１信号用リード５１及び第２信号用リード５２）が延びる方向と、ワイヤ（第１ワイヤ４３および第２ワイヤ４４）が延びる方向とは互いに交差している。
　また、上記実施形態では半導体素子３としてＩＧＢＴを用いていたが、これに限定されるものではなく、半導体素子３としてＭＯＳＦＥＴ等を用いてもよい。
　以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
２；半導体モジュール
３；半導体素子
４；信号用電極
５；信号用リード
６；封止樹脂
７；絶縁部材
９；信号用パターン
２２；はんだ
２３；はんだ
２４；はんだ
３１；第１半導体素子
３２；第２半導体素子
３３；表面
３４；裏面
３５；エミッタ電極
３６；コレクタ電極
４１；第１信号用電極
４２；第２信号用電極
４３；第１ワイヤ
４４；第２ワイヤ
５１；第１信号用リード
５２；第２信号用リード
５３；エミッタ用リード
５４；コレクタ用リード（ヒートシンク）
７２；絶縁部材
９１；第１信号用パターン
９２；第２信号用パターン
９３；第１はんだ
９４；第２はんだ
１４３；第１ワイヤ
１４４；第２ワイヤ
１５３；エミッタ用パターン

Claims (2)

  1. 　表面に第１信号用電極が形成されている第１半導体素子と、
    　第１半導体素子に対して間隔を開けて配置されており、第１半導体素子側の表面に第２信号用電極が形成されている第２半導体素子と、
    　第１信号用電極に電気的に接続されている第１信号用リードと、
    　第２信号用電極に電気的に接続されている第２信号用リードと、を備え、
    　第１信号用リードと第２信号用リードは、第１半導体素子から第２半導体素子に向かう高さ方向において、それぞれの高さ位置が揃うように配置されている、半導体モジュール。
  2. 　第１半導体素子と第２半導体素子の間に配置されている絶縁部材と、
    　絶縁部材の第１半導体素子側の表面に形成された第１信号用パターンと、
    　絶縁部材の第２半導体素子側の表面に形成された第２信号用パターンと、をさらに備え、
    　第１信号用電極が第１信号用パターンを介して第１信号用リードに電気的に接続されており、
    　第２信号用電極が第２信号用パターンを介して第２信号用リードに電気的に接続されている、請求項１に記載の半導体モジュール。
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