DE112014004620T5 - Halbleitermodul - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 105
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 21
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 18
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 6
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 6
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005549 size reduction Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/0401—Bonding areas specifically adapted for bump connectors, e.g. under bump metallisation [UBM]
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/04042—Bonding areas specifically adapted for wire connectors, e.g. wirebond pads
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0555—Shape
- H01L2224/05552—Shape in top view
- H01L2224/05554—Shape in top view being square
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
- H01L2224/061—Disposition
- H01L2224/0612—Layout
- H01L2224/0613—Square or rectangular array
- H01L2224/06134—Square or rectangular array covering only portions of the surface to be connected
- H01L2224/06135—Covering only the peripheral area of the surface to be connected, i.e. peripheral arrangements
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L2224/13—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
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- H01L2224/13099—Material
- H01L2224/131—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/2612—Auxiliary members for layer connectors, e.g. spacers
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- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
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- H01L2224/291—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29101—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of less than 400°C
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- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
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- H01L2224/81417—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
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- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
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Abstract
Ein Halbleitermodul 2 umfasst: einen ersten Halbleiterchip 31, der eine Oberfläche 33 umfasst, die mit einer ersten Signalelektrode 41 versehen ist; einen zweiten Halbleiterchip 32, der getrennt von dem ersten Halbleiterchip 31 angeordnet ist und eine Oberfläche 33 auf der Seite zu dem ersten Halbleiterchip 31 umfasst, die mit einer zweiten Signalelektrode versehen ist; eine erste Signalleitung 51, die elektrisch mit der ersten Signalelektrode 41 verbunden ist; und eine zweite Signalleitung 52, die elektrisch mit der zweiten Signalelektrode 42 verbunden ist. Die erste Signalleitung 51 und die zweite Signalleitung 52 sind derart angeordnet, dass eine Höhenposition der ersten Signalleitung 51 und eine Höhenposition der zweiten Signalleitung 52 in einer Höhenrichtung übereinstimmen, die in Richtung des zweiten Halbleiterchips 32 von dem ersten Halbleiterchip 31 ist.
Description
- Technisches Gebiet
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Halbleitermodul.
- Hintergrund der Erfindung
- Eine Patentdruckschrift 1 (
japanische Patentveröffentlichung Nr. 2009-295794 - Kurzzusammenfassung der Erfindung
- Technisches Problem
- In der in der Patentdruckschrift 1 offenbarten Technik sind die Steuerungsanschlüsse für jeden der Halbleiterchips benachbart zueinander mit einem Intervall dazwischen in der Oben-Unten-Richtung angeordnet, wobei als Ergebnis hiervon eine Höhe einer Gesamtheit der Halbleitervorrichtung in der Oben-Unten-Richtung hoch wird, wobei es ein Problem gegeben hat, dass die Vorrichtung eine große Größe aufweisen musste. Somit zielt die vorliegende Offenbarung darauf ab, ein Halbleitermodul bereitzustellen, dessen Größe verringert werden kann.
- Lösung für das technische Problem
- Ein hier offenbartes Halbleitermodul kann umfassen: einen ersten Halbleiterchip, der eine Oberfläche umfasst, die mit einer ersten Signalelektrode versehen ist, und einen zweiten Halbleiterchip, der getrennt von dem ersten Halbleiterchip angeordnet ist und eine Oberfläche auf der Seite zu dem ersten Halbleiterchip umfasst, die mit einer zweiten Signalelektrode versehen ist. Ferner kann das Halbleitermodul eine erste Signalleitung, die elektrisch mit der ersten Signalelektrode verbunden ist, und eine zweite Signalleitung umfassen, die elektrisch mit der zweiten Signalelektrode verbunden ist. Die erste Signalleitung und die zweite Signalleitung können derart angeordnet sein, dass eine Höhenposition der ersten Signalleitung und eine Höhenposition der zweiten Signalleitung in einer Höhenrichtung übereinstimmen, die in Richtung des zweiten Halbleiterchips von dem ersten Halbleiterchip ist.
- Gemäß einer derartigen Konfiguration kann, da die erste Signalleitung und die zweite Signalleitung angeordnet sind, um zugehörige Höhenpositionen aufzuweisen, die in der Höhenrichtung von dem ersten Halbleiterchip in Richtung des zweiten Halbleiterchips übereinstimmen, eine Breite des Halbleitermoduls in dieser Richtung klein gemacht werden.
- Das vorstehend beschriebene Halbleitermodul kann ferner einen Isolator, der zwischen dem ersten Halbleiterchip und dem zweiten Halbleiterchip angeordnet ist, ein erstes Signalmuster, das auf einer Oberfläche des Isolators auf der Seite zu dem ersten Halbleiterchip bereitgestellt ist, und ein zweites Signalmuster umfassen, das auf einer Oberfläche des Isolators auf der Seite zu dem zweiten Halbleiterchip bereitgestellt ist. Die erste Signalelektrode kann elektrisch mit der ersten Signalleitung durch das erste Signalmuster verbunden sein, und die zweite Signalelektrode kann elektrisch mit der zweiten Signalleitung über das zweite Signalmuster verbunden sein.
- Kurzbeschreibung der Zeichnung
-
1 zeigt eine vertikale Querschnittsdarstellung eines Halbleitermoduls gemäß einem Ausführungsbeispiel. -
2 zeigt eine II-II-Querschnittsdarstellung aus1 . -
3 zeigt eine perspektivische Darstellung, die eine vergrößerte Darstellung eines Teils von einen Bestandteil bildenden Merkmalen des Halbleitermoduls zeigt. -
4 zeigt eine perspektivische Darstellung, die eine vergrößerte Darstellung eines Teils von einen Bestandteil bildenden Merkmalen des Halbleitermoduls zeigt. -
5 zeigt eine Querschnittsdarstellung eines Halbleitermoduls gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel, die2 entspricht. -
6 zeigt eine vertikale Querschnittsdarstellung eines Halbleitermoduls noch eines weiteren Ausführungsbeispiels. -
7 zeigt eine VII-VII-Querschnittsdarstellung aus6 . -
8 zeigt eine perspektivische Darstellung, die eine vergrößerte Darstellung eines Teils von einen Bestandteil bildenden Merkmalen des Halbleitermoduls zeigt. -
9 zeigt eine vertikale Querschnittsdarstellung eines Halbleitermoduls noch eines weiteren Ausführungsbeispiels. -
10 zeigt eine Querschnittsdarstellung eines Halbleitermoduls noch eines weiteren Ausführungsbeispiels, die2 entspricht. - Beschreibung der Ausführungsbeispiele
- Nachstehend werden Ausführungsbeispiele unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung beschrieben. Wie es in
1 bis3 gezeigt ist, umfasst ein Halbleitermodul2 gemäß einem Ausführungsbeispiel ein Paar von Halbleiterchips3 (erster Halbleiterchip31 und zweiter Halbleiterchip32 ) und eine Vielzahl von Signalleitungen5 (erste Signalleitungen51 und zweite Signalleitungen52 ). Es ist anzumerken, dass in3 der erste Halbleiterchip31 und der zweite Halbleiterchip32 sowie die ersten Signalleitungen51 und die zweiten Signalleitungen52 in einem Zustand gezeigt sind, bei dem sie in einer Oben-Unten-Richtung (z-Richtung) für eine einfachere Betrachtung getrennt sind. Ferner umfasst das Halbleitermodul2 Emitterleitungen53 und Kollektorleitungen54 , die jeweils den Halbleiterchips3 entsprechen. Ferner umfasst das Halbleitermodul2 ein Versiegelungsharz6 , das eine Gesamtheit hiervon versiegelt. - In dem Ausführungsbeispiel werden IGBTs (Bipolartransistoren mit isolierter Gateelektrode) als die Halbleiterchips
3 verwendet. Der erste Halbleiterchips31 und der zweite Halbleiterchip32 sind mit einem Intervall dazwischen in der Oben-Unten-Richtung (z-Richtung) angeordnet. In dem in1 gezeigten Beispiel ist der erste Halbleiterchip31 über dem zweiten Halbleiterchip32 angeordnet. Jeder des Paares von Halbleiterchips3 (erster Halbleiterchip31 und zweiter Halbleiterchip32 ) umfasst eine vordere Oberfläche33 und eine hintere Oberfläche34 , wobei sie derart angeordnet sind, dass zugehörige vordere Oberflächen33 einander gegenüberliegen. Das heißt, die vordere Oberfläche33 des ersten Halbleiterchips31 blickt nach unten und die vordere Oberfläche33 des zweiten Halbleiterchips32 blickt nach oben (die hintere Oberfläche34 des ersten Halbleiterchips blickt nach oben und die hintere Oberfläche34 des zweiten Halbleiterchips32 blickt nach unten). Eine Emitterelektrode (in der Zeichnung weggelassen) ist auf der vorderen Oberfläche33 bereitgestellt und eine Kollektorelektrode (in der Zeichnung weggelassen) ist auf der hinteren Oberfläche34 jedes Halbleiterchips3 bereitgestellt. Eine Emitterleitung53 ist bei einer Position angeordnet, die benachbart zu jeder Emitterelektrode ist. Jede Emitterelektrode ist mit der zugehörigen benachbarten Emitterleitung53 durch ein Lötmittel22 verbunden. Eine Kollektorleitung54 ist bei einer Position angeordnet, die benachbart zu jeder Kollektorelektrode ist. Jede Kollektorelektrode ist mit der zugehörigen benachbarten Kollektorleitung54 durch ein Lötmittel23 verbunden. Das heißt, jeder Halbleiterchip3 ist zwischen einer zugehörigen Emitterleitung53 und einer zugehörigen Kollektorleitung54 angeordnet. Die Kollektorleitungen54 fungieren als Wärmesenken. Eine Wärme, die jeweils in den Halbleiterchips3 (erster Halbleiterchip31 und zweiter Halbleiterchip32 ) erzeugt wird, wird über die Kollektorleitungen54 (Wärmesenken) nach außen abgegeben. - Ein plattenförmiger Isolator
7 ist zwischen den oberen und unteren Emitterleitungen53 angeordnet. Metallschichten sind jeweils auf vorderen und hinteren Oberflächen des Isolators7 bereitgestellt. Die Metallschichten auf den vorderen und hinteren Oberflächen des Isolators7 sind an entsprechenden Emitterleitungen53 über Lötmittel24 fixiert. Die oberen und unteren Emitterleitungen53 sind durch den Isolator7 isoliert. - Eine Kühleinrichtung (in der Zeichnung weggelassen) zur Kühlung der Halbleiterchips
3 ist bei einer Außenseite jeder der Kollektorleitungen54 angeordnet. Ferner ist das Versiegelungsharz6 zur Versiegelung des Halbleiterchips3 zwischen den oberen und unteren Kollektorleitungen54 eingefüllt. - Der obere erste Halbleiterchip
31 umfasst eine Vielzahl von ersten Signalelektroden41 , die auf der zugehörigen vorderen Oberfläche33 bereitgestellt sind, und der untere zweite Halbleiterchip32 umfasst eine Vielzahl von zweiten Signalelektroden42 , die auf der zugehörigen vorderen Oberfläche33 bereitgestellt sind. Jede der Signalelektroden4 (erste Signalelektroden41 und zweite Signalelektroden42 ) ist benachbart zu einer zugehörigen entsprechenden Emitterelektrode bereitgestellt. Die Signalelektroden4 sind Elektroden für ein Senden und Empfangen von Steuerungssignalen zwischen den Halbleiterchips3 und externen Vorrichtungen (in der Zeichnung weggelassen). Die Vielzahl von Signalelektroden4 ist benachbart zueinander mit Intervallen dazwischen in einer Draufsicht bereitgestellt, wie es in2 gezeigt ist. Die ersten Signalelektroden41 und die zweiten Signalelektroden42 sind bereitgestellt, um seitlich versetzt zu sein, sodass sie einander in der Draufsicht nicht überlappen bzw. überschneiden. In dem vorliegenden Ausführungsbeispiel sind die ersten Signalelektroden41 und die zweiten Signalelektroden42 angeordnet, um in der Draufsicht abwechselnd zueinander zu sein. Aufgrund dessen sind die ersten Signalelektroden41 und die zweiten Signalelektroden42 konfiguriert, um einander in der Oben-Unten-Richtung (z-Richtung) nicht zu überlappen bzw. zu überschneiden. - Jede der Signalleitungen
5 ist teilweise durch das Versiegelungsharz6 bedeckt und weist einen Teil auf, der zu der Außenseite des Versiegelungsharzes6 herausragt. Jede der Signalleitungen5 (erste Signalleitungen51 und zweite Signalleitungen52 ) ist mit einer entsprechenden Signalelektrode4 (erste Signalelektrode41 oder zweite Signalelektrode42 ) über einen Metalldraht (erster Draht43 oder zweiter Draht44 ) verbunden. Die ersten Signalleitungen51 sind elektrisch mit den ersten Signalelektroden41 über die ersten Drähte43 verbunden, und die zweiten Signalleitungen52 sind elektrisch mit den zweiten Signalelektroden42 über die zweiten Drähte44 verbunden. Die Signalleitungen5 sind angeordnet, um sich parallel mit Intervallen dazwischen zu erstrecken. Die ersten Signalleitungen und die zweiten Signalleitungen sind abwechselnd angeordnet. Dementsprechend sind die ersten Drähte43 und die zweiten Drähte44 abwechselnd angeordnet. Wie es in3 gezeigt ist, sind die ersten Drähte43 gebogen, um nach unten zu ragen. Die einen Enden der ersten Drähte43 sind mit den ersten Signalelektroden41 von unterhalb der ersten Signalelektroden41 verbunden, und die zugehörigen anderen Enden sind mit den ersten Signalleitungen51 von unterhalb der ersten Signalleitungen51 verbunden. Die zweiten Drähte sind gebogen, um nach oben zu ragen. Die einen Enden der zweiten Drähte44 sind mit den zweiten Signalelektroden42 von oberhalb der Signalelektroden42 verbunden, und die zugehörigen anderen Enden sind mit den zweiten Signalleitungen52 von oberhalb der zweiten Signalleitungen52 verbunden. - Die jeweiligen Signalleitungen
5 (erste Signalleitungen51 und zweite Signalleitungen52 ) sind in einer Linie entlang einer seitlichen Richtung (y-Richtung) angeordnet, wie es in4 gezeigt ist. Ferner erstrecken sich die jeweiligen Signalleitungen5 (erste Signalleitungen51 und zweite Signalleitungen52 ) von der Außenseite des Versiegelungsharzes6 in Richtung eines Bereichs, der zwischen den Halbleiterchips3 (d. h. entlang einer x-Richtung) angeordnet ist (siehe1 ). Ferner sind die Signalleitungen5 (erste Signalleitungen51 und zweite Signalleitungen52 ) derart angeordnet, dass zugehörige Höhenpositionen in einer Höhenrichtung entlang der Oben-Unten-Richtung (z-Richtung) übereinstimmen, d. h. in der Höhenrichtung von dem ersten Halbleiterchip31 in Richtung des zweiten Halbleiterchips32 . In der vorliegenden Beschreibung ist der Zustand, dass ”die Höhenpositionen übereinstimmen”, nicht streng auf eine identische Höhe begrenzt, sondern ist ein Konzept, das einen Zustand umfasst, in dem Höhen sich ein wenig unterscheiden können. Eine Abweichung der Höhenpositionen unter der Vielzahl von Signalleitungen5 liegt vorzugsweise in einem Bereich eines Herstellungsfehlers von einem Standpunkt eines Erreichens einer Größenverringerung in dem Halbleitermodul. Der Bereich eines Herstellungsfehlers ist vorzugsweise ein Bereich von 0 bis 100 μm. Das heißt, eine Differenz zwischen den Höhenpositionen der Signalleitungen5 ist vorzugsweise kleiner oder gleich 100 μm im Maximum. Ferner sind die Signalleitungen5 (erste Signalleitungen51 und zweite Signalleitungen52 ) vorzugsweise derart konfiguriert, dass die ersten Signalleitungen51 und die zweiten Signalleitungen52 einander zumindest teilweise überlappen bzw. überschneiden, wenn sie entlang einer Richtung betrachtet werden, entlang der die Signalleitungen5 ausgerichtet sind (y-Richtung). Indem die Signalleitungen5 sich überlappen, wenn sie entlang der y-Richtung betrachtet werden, wird die Abweichung in den Höhenpositionen der Signalleitungen5 in der z-Richtung kleiner. - Gemäß dem Halbleitermodul
2 , das die vorstehend beschriebene Konfiguration aufweist, kann eine zugehörige Breite in der Oben-Unten-Richtung klein gemacht werden, indem veranlasst wird, dass die Höhenpositionen der Vielzahl von Signalleitungen5 in der Oben-Unten-Richtung (z-Richtung) übereinstimmen. Dementsprechend kann die Größenverringerung des Halbleitermoduls2 erreicht werden. - Vorstehend ist ein Ausführungsbeispiel beschrieben worden, wobei jedoch die spezifische Konfiguration nicht auf das vorstehend beschriebene Ausführungsbeispiel begrenzt ist. Beispielsweise werden die ersten Signalelektroden
41 und die zweiten Signalelektroden42 abwechselnd in der Draufsicht in dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel ausgerichtet, wobei jedoch keine Einschränkung auf diese Konfiguration vorliegt. Wie es in5 gezeigt ist, kann die Konfiguration eine Vielzahl von ersten Signalelektroden41 aufweisen, die angeordnet sind, indem sie auf einer Seite angesammelt sind, wobei die zweiten Signalelektroden angeordnet sind, indem sie auf der anderen Seite in der Draufsicht angesammelt sind. Es ist anzumerken, dass die Konfigurationen gemäß5 , die identisch zu2 sind, mit den gleichen Bezugszeichen versehen werden, wobei eine Beschreibung hiervon weggelassen wird. Auch gemäß einer derartigen Konfiguration überlappen die ersten Signalelektroden41 und die zweiten Signalelektroden42 sich nicht in der Oben-Unten-Richtung (z-Richtung). Es kann verhindert werden, dass die ersten Drähte43 und die zweiten Drähte44 einen Kontakt miteinander herstellen, indem die Positionen der ersten Signalelektroden41 und der zweiten Signalelektroden42 versetzt werden. - Ferner ist die Konfiguration, die die Signalelektroden
4 und die Signalleitungen5 elektrisch verbindet, nicht auf das vorstehend beschriebene Ausführungsbeispiel begrenzt. Beispielsweise können, wie es in6 und7 gezeigt ist, die Signalelektroden4 und die Signalleitungen5 durch Signalmuster9 elektrisch verbunden werden. Die Konfigurationen gemäß6 und7 , die identisch zu1 und2 sind, werden mit den gleichen Bezugszeichen versehen, wobei eine Beschreibung hiervon weggelassen wird. In dem in6 und7 gezeigten Ausführungsbeispiel umfasst das Halbleitermodul2 den Isolator72 , der zwischen dem Paar von Halbleiterchips3 angeordnet ist, und die Signalmuster9 (erste Signalmuster91 und zweite Signalmuster92 ), die jeweils auf den Oberflächen des Isolators72 angeordnet sind. Der Isolator72 ist aus isolierenden Keramikmaterialien konfiguriert. Der Isolator72 ist zwischen dem ersten Halbleiterchip31 und dem zweiten Halbleiterchip32 angeordnet. Die ersten Signalmuster91 sind auf der vorderen Oberfläche (obere Oberfläche) des Isolators72 bereitgestellt, und die zweiten Signalmuster92 sind auf der hinteren Oberfläche (untere Oberfläche) des Isolators72 bereitgestellt. Das heißt, die ersten Signalmuster91 sind auf der Oberfläche des Isolators72 auf der Seite zu dem ersten Halbleiterchip31 bereitgestellt, und die zweiten Signalmuster92 sind auf der Oberfläche des Isolators72 auf der Seite zu dem zweiten Halbleiterchip32 bereitgestellt. Ferner sind Emittermuster153 auf den vorderen und hinteren Oberflächen des Isolators72 bereitgestellt. Die Signalmuster91 und die Emittermuster153 sind aus einem Metall, wie beispielsweise Aluminium oder Kupfer, konfiguriert. Die Signalmuster9 und die Emittermuster153 sind voneinander getrennt. - Die Signalmuster
9 sind elektrisch mit den Signalelektroden4 (erste Signalelektroden41 oder zweite Signalelektroden42 ) über ein Metalllötmittel (erste Lötmittel93 oder zweite Lötmittel94 ) verbunden. Die ersten Signalmuster91 sind an den ersten Signalelektroden41 durch die ersten Lötmittel93 fixiert. Die zweiten Signalmuster92 sind an den zweiten Signalelektroden42 durch die zweiten Lötmittel94 fixiert. - Die Signalleitungen
5 (erste Signalleitungen51 oder zweite Signalleitungen52 ) sind mit den Signalmustern9 (erste Signalmuster91 oder zweite Signalmuster92 ) durch Metalldrähte (erste Drähte143 oder zweite Drähte144 ) verbunden. Die einen Enden der ersten Drähte143 sind mit den ersten Signalmustern91 von oberhalb der ersten Signalmuster91 verbunden, und die zugehörigen anderen Enden sind mit den ersten Signalleitungen51 von oberhalb der ersten Signalleitungen51 verbunden, wie es in8 gezeigt ist. Die einen Enden der zweiten Drähte144 sind mit den zweiten Signalmustern92 von unterhalb der zweiten Signalmuster92 verbunden, und die zugehörigen anderen Enden sind mit den zweiten Signalleitungen52 von unterhalb der zweiten Signalleitungen52 verbunden. Die ersten Drähte143 erstrecken sich von den ersten Signalmustern91 und den ersten Signalleitungen51 nach oben. Die zweiten Drähte144 erstrecken sich von den zweiten Signalmustern92 und den zweiten Signalleitungen52 nach unten. Die ersten Signalleitungen51 sind elektrisch mit den ersten Signalelektroden41 über die ersten Drähte143 , die ersten Signalmuster91 und die ersten Lötmittel93 verbunden. Die zweiten Signalleitungen52 sind elektrisch mit den zweiten Signalelektroden42 über die zweiten Drähte144 , die zweiten Signalmuster92 und die zweiten Lötmittel94 verbunden. - Die Emittermuster
153 sind jeweils an den vorderen Oberflächen33 der Halbleiterchips3 durch Lötmittel122 fixiert. Aufgrund dessen sind die Emitterelektroden auf den vorderen Oberflächenseiten der Halbleiterchips3 elektrisch mit den Emittermustern153 verbunden. - Gemäß einer derartigen Konfiguration können Kontakte zwischen den Drähten (erste Drähte
143 und zweite Drähte144 ) verhindert werden, indem die Signalelektroden4 und die Signalleitungen5 über die Signalmuster9 elektrisch verbunden werden, wie es in8 gezeigt ist. Das heißt, ohne das Eingreifen der Signalmuster9 gibt es eine Möglichkeit, dass die Drähte143 und144 einen Kontakt herstellen, indem sich die ersten Drähte143 und die zweiten Drähte144 einander schneiden. Mit dem Eingreifen der Signalmuster9 kann jedoch der Kontakt zwischen den Drähten143 und144 verhindert werden, da die ersten Drähte143 und die zweiten Drähte144 einander nicht schneiden. - Ferner werden in dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel die Drähte verwendet, um die Signalelektroden
4 und die Signalleitungen5 elektrisch zu verbinden, wobei jedoch nicht notwendigerweise Drähte verwendet werden müssen. Beispielsweise können, wie es in9 gezeigt ist, die Signalleitungen5 (erste Signalleitungen51 und zweite Signalleitungen52 ) konfiguriert sein, um direkt mit den Signalmustern9 (erste Signalmuster91 und zweite Signalmuster92 ) verbunden zu werden. In9 werden die Konfigurationen, die identisch zu6 sind, mit den gleichen Bezugszeichen versehen, wobei eine Beschreibung hiervon weggelassen wird. In dem in9 gezeigten Ausführungsbeispiel biegen sich die ersten Signalleitungen51 nach oben, wobei sich die zweiten Signalleitungen52 nach unten biegen. Die einen Enden der ersten Signalleitungen51 decken obere Oberflächen der ersten Signalmuster91 ab, und die einen Enden der zweiten Signalleitungen52 decken untere Oberflächen der zweiten Signalmuster52 ab. Die ersten Signalleitungen51 sind an den ersten Signalmustern91 durch Lötmittel (in der Zeichnung weggelassen) fixiert, wobei die zweiten Signalleitungen52 an den zweiten Signalmustern92 durch Lötmittel (in der Zeichnung weggelassen) fixiert sind. - Ferner ist die Anordnung der Vielzahl von Signalleitungen
5 (erste Signalleitungen51 und zweite Signalleitungen52 ) nicht auf die vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiele begrenzt. Beispielsweise kann, wie es in10 gezeigt ist, die Vielzahl von Signalleitungen5 in einem Zustand angeordnet sein, bei dem Positionen zugehöriger ferner Enden in einer longitudinalen Richtung bzw. Längsrichtung versetzt sind. In10 werden die Konfigurationen, die zu2 identisch sind, mit den gleichen Bezugszeichen versehen, wobei eine Beschreibung hiervon weggelassen wird. In dem vorliegenden Ausführungsbeispiel sind die Positionen der fernen Enden in drei Stufen versetzt. Die Signalleitungen5 , die weiter von den Halbleiterchips3 entfernt sind, können länger gemacht werden als die Signalleitungen5 , die näher bei den Halbleiterchips3 sind. Die ersten Signalleitungen51 und die zweiten Signalleitungen52 sind abwechselnd angeordnet. Ferner schneiden sich eine Richtung, entlang der sich die Vielzahl von Signalleitungen5 (erste Signalleitungen51 und zweite Signalleitungen52 ) erstreckt, und eine Richtung, entlang der sich die Drähte (erste Drähte43 und zweite Drähte44 ) erstrecken, einander. - Ferner werden in den vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen IGBTs als die Halbleiterchips
3 verwendet, wobei jedoch keine Einschränkung hierauf besteht, wobei MOSFETs oder dergleichen als die Halbleiterchips3 verwendet werden können. - Spezifische Beispiele der vorliegenden Erfindung sind ausführlich beschrieben worden, wobei diese jedoch lediglich beispielhafte Angaben sind und somit den Umfang der Patentansprüche nicht begrenzen. Die in den Patentansprüchen beschriebene Technologie umfasst Modifikationen und Variationen der spezifischen Beispiele, die vorstehend präsentiert sind. Technische Merkmale, die in der Beschreibung und der Zeichnung beschrieben sind, können alleine oder in verschiedenen Kombinationen nützlich sein, wobei sie nicht auf die Kombinationen begrenzt sind, die ursprünglich beansprucht sind. Ferner kann die Technologie, die in der Beschreibung und der Zeichnung beschrieben ist, gleichzeitig eine Vielzahl von Zielen erreichen, wobei eine technische Bedeutung hiervon in einem Erreichen irgendeines von derartigen Zielen liegt.
- Bezugszeichenliste
-
- 2
- Halbleitermodul
- 3
- Halbleiterchip
- 4
- Signalelektrode
- 5
- Signalleitung
- 6
- Versiegelungsharz
- 7
- Isolator
- 9
- Signalmuster
- 22
- Lötmittel
- 23
- Lötmittel
- 24
- Lötmittel
- 31
- erster Halbleiterchip
- 32
- zweiter Halbleiterchip
- 33
- vordere Oberfläche
- 34
- hintere Oberfläche
- 35
- Emitterelektrode
- 36
- Kollektorelektrode
- 41
- erste Signalelektrode
- 42
- zweite Signalelektrode
- 43
- erster Draht
- 44
- zweiter Draht
- 51
- erste Signalleitung
- 52
- zweite Signalleitung
- 53
- Emitterleitung
- 54
- Kollektorleitung (Wärmesenke)
- 72
- Isolator
- 91
- erstes Signalmuster
- 92
- zweites Signalmuster
- 93
- erstes Lötmittel
- 94
- zweites Lötmittel
- 143
- erster Draht
- 144
- zweiter Draht
- 153
- Emittermuster
Claims (2)
- Halbleitermodul mit einem ersten Halbleiterchip, der eine Oberfläche umfasst, die mit einer ersten Signalelektrode versehen ist; einem zweiten Halbleiterchip, der getrennt von dem ersten Halbleiterchip angeordnet ist und eine Oberfläche auf einer Seite zu dem ersten Halbleiterchip umfasst, die mit einer zweiten Signalelektrode versehen ist; einer ersten Signalleitung, die elektrisch mit der ersten Signalelektrode verbunden ist; und einer zweiten Signalleitung, die elektrisch mit der zweiten Signalelektrode verbunden ist, wobei die erste Signalleitung und die zweite Signalleitung derart angeordnet sind, dass eine Höhenposition der ersten Signalleitung und eine Höhenposition der zweiten Signalleitung in einer Höhenrichtung übereinstimmen, die in Richtung des zweiten Halbleiterchips von dem ersten Halbleiterchip ist.
- Halbleitermodul nach Anspruch 1, ferner mit: einem Isolator, der zwischen dem ersten Halbleiterchip und dem zweiten Halbleiterchip angeordnet ist; einem ersten Signalmuster, das auf einer Oberfläche des Isolators auf der Seite zu dem ersten Halbleiterchip bereitgestellt ist; und einem zweiten Signalmuster, das auf einer Oberfläche des Isolators auf einer Seite zu dem zweiten Halbleiterchip bereitgestellt ist, wobei die erste Signalelektrode elektrisch mit der ersten Signalleitung durch das erste Signalmuster verbunden ist und die zweite Signalelektrode elektrisch mit der zweiten Signalleitung durch das zweite Signalmuster verbunden ist.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013-210188 | 2013-10-07 | ||
JP2013210188A JP2015076440A (ja) | 2013-10-07 | 2013-10-07 | 半導体モジュール |
PCT/JP2014/072455 WO2015053002A1 (ja) | 2013-10-07 | 2014-08-27 | 半導体モジュール |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112014004620T5 true DE112014004620T5 (de) | 2016-07-14 |
Family
ID=52812822
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE112014004620.5T Withdrawn DE112014004620T5 (de) | 2013-10-07 | 2014-08-27 | Halbleitermodul |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20160260691A1 (de) |
JP (1) | JP2015076440A (de) |
CN (1) | CN105612616A (de) |
DE (1) | DE112014004620T5 (de) |
WO (1) | WO2015053002A1 (de) |
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---|---|---|---|---|
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-
2013
- 2013-10-07 JP JP2013210188A patent/JP2015076440A/ja active Pending
-
2014
- 2014-08-27 CN CN201480055188.8A patent/CN105612616A/zh active Pending
- 2014-08-27 WO PCT/JP2014/072455 patent/WO2015053002A1/ja active Application Filing
- 2014-08-27 US US14/912,547 patent/US20160260691A1/en not_active Abandoned
- 2014-08-27 DE DE112014004620.5T patent/DE112014004620T5/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105612616A (zh) | 2016-05-25 |
JP2015076440A (ja) | 2015-04-20 |
US20160260691A1 (en) | 2016-09-08 |
WO2015053002A1 (ja) | 2015-04-16 |
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