WO2015004863A1 - スイッチトキャパシタ回路及びその駆動方法 - Google Patents

スイッチトキャパシタ回路及びその駆動方法 Download PDF

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WO2015004863A1
WO2015004863A1 PCT/JP2014/003335 JP2014003335W WO2015004863A1 WO 2015004863 A1 WO2015004863 A1 WO 2015004863A1 JP 2014003335 W JP2014003335 W JP 2014003335W WO 2015004863 A1 WO2015004863 A1 WO 2015004863A1
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capacitor
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level shift
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徳永 祐介
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パナソニック株式会社
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Definitions

  • the present disclosure relates to a switched capacitor circuit and a driving method thereof, and more particularly, to a switched capacitor circuit that performs a correlation level shift operation.
  • Non-Patent Document 1 As an inverting amplifier that performs high-speed operation, a method of using an inverter as an amplifier as it is has been proposed (Non-Patent Document 1).
  • An inverter amplifier is suitable for a high-speed inverting amplifier because it can drive a large current during non-linear operation.
  • the gain is about 30 dB at most, and even if it is incorporated in an integrator, a sample hold circuit, or the like, it is impossible to achieve high accuracy by itself.
  • Non-Patent Document 2 a correlated level shifting (hereinafter referred to as CLS) technique has been proposed (Non-Patent Document 2).
  • CLS correlated level shifting
  • FIG. 26 is a configuration diagram of a conventional switched capacitor circuit disclosed in Non-Patent Document 2.
  • the switched capacitor circuit disclosed in the figure incorporates CLS technology and operates as a double amplifier.
  • This switched capacitor circuit includes capacitors 1001, 1002 and 1004, an operational amplifier 1003, switches 1005, 1006, 1007 and 1008, a reference voltage source 1009, an input terminal 1010, and an output terminal 1011.
  • the switching is performed in turn in the sampling period, the transfer period, and the CLS period by the on / off control of each switch.
  • each period since it is a switched capacitor circuit, each period must not overlap each other at the same time.
  • the operation of the switched capacitor circuit will be described for each period.
  • 27A, 27B, and 27C are circuit diagrams showing connection relationships in the sampling period, transfer period, and CLS period of the switched capacitor circuit disclosed in Non-Patent Document 2, respectively.
  • the switches 1005 and 1006 are connected to the input terminal 1010, the switch 1007 is short-circuited, and the reference voltage source 1009 and the capacitor 1004 are connected by one of the switches 1008, As a result, the output terminal of the operational amplifier 1003 and the output terminal 1011 are connected.
  • the capacitor 1001 stores C ⁇ Vin [C] charge with the left side in the figure as the positive electrode.
  • the capacitor 1002 stores C ⁇ Vin [C] charges with the right side in the figure as the positive electrode.
  • the switch 1005 is connected to the reference voltage source 1009, the switch 1006 is connected to the output terminal 1011, the switch 1007 is opened, and the connection relationship of the switch 1008 is maintained.
  • all charges accumulated in the capacitor 1001 are to be transferred to the capacitor 1002. That is, the voltage across the capacitor 1002 tends to be 2 Vin [V]. Further, the capacitor 1004 is also driven by the operational amplifier 1003, and the voltage between both ends tends to be 2Vin [V].
  • the connection relationship of the switches 1005, 1006, and 1007 is maintained, the output terminal of the operational amplifier 1003 and the capacitor 1004 are connected by one of the switches 1008, and the other is opened. Is done.
  • Non-Patent Document 2 since the switched capacitor circuit disclosed in Non-Patent Document 2 described above uses a differential operational amplifier, there is a problem that it is impossible to increase the circuit operation speed, reduce power consumption, and reduce the circuit area. Have.
  • the present disclosure provides a switched capacitor circuit and a driving method thereof that are capable of high-speed circuit operation, low power consumption, and small area, and that are highly accurate.
  • a switched capacitor circuit includes a first input terminal to which an input voltage is input, a first output terminal from which an output voltage is output, a first terminal, and a second terminal.
  • a sampling capacitor disposed so that the input voltage is applied to the first terminal, a second input terminal, and a second output terminal, wherein the second input terminal is the second input terminal. It is possible to switch the connection between the inverting amplifier connected to the terminal, the fifth terminal as one capacitor electrode, the fourth terminal as the other capacitor electrode, and either the fifth terminal or the fourth terminal.
  • a first level shift capacitor having a third terminal, the fifth terminal being connected to the first output terminal, an eighth terminal being one capacitive electrode, and a seventh terminal being the other capacitive electrode; Connection switching to either the eighth terminal or the seventh terminal is possible
  • the ninth terminal is connected to the second terminal, the tenth terminal is connected to the first output terminal, the eleventh terminal, the eleventh terminal and the first terminal 4 terminals and the seventh terminal can be switched between short circuit and open, and the offset voltage having the same voltage value as the short circuit voltage of the inverting amplifier when the second input terminal and the second output terminal are short-circuited. Is provided from the eleventh terminal. *
  • the switched capacitor circuit and the driving method thereof since a single-ended inverting amplifier is used instead of a differential operational amplifier, high-speed operation, low power consumption, and a small area can be realized. In addition, a highly accurate integration operation and sample hold operation in which an offset voltage is not applied to the output voltage are possible.
  • FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an example of an integrator to which a switched capacitor having a double amplifier is applied.
  • FIG. 2A is a circuit diagram showing a connection relation in a sampling period of an integrator to which a switched capacitor having a double amplifier is applied.
  • FIG. 2B is a circuit diagram illustrating a connection relationship in a transfer period of an integrator to which a switched capacitor having a double amplifier is applied.
  • FIG. 2C is a circuit diagram showing a connection relationship in a CLS period of an integrator to which a switched capacitor having a double amplifier is applied.
  • FIG. 3 is a functional block diagram of the switched capacitor circuit according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is a circuit configuration diagram of the switched capacitor circuit according to the first embodiment.
  • FIG. 5A is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the sampling period of the switched capacitor circuit according to the first embodiment.
  • FIG. 5B is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the transfer period of the switched capacitor circuit according to the first embodiment.
  • FIG. 5C is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the CLS period of the switched capacitor circuit according to the first embodiment.
  • FIG. 5D is an equivalent circuit diagram of a current path in a transient state from the transfer period to the CLS period of the switched capacitor circuit according to the first embodiment.
  • FIG. 6A is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the first CLS period of the switched capacitor circuit according to the second embodiment.
  • FIG. 6B is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the second CLS period of the switched capacitor circuit according to the second embodiment.
  • FIG. 7 is a functional block diagram of a switched capacitor circuit according to a comparative example.
  • FIG. 8 is a circuit configuration diagram of a switched capacitor circuit according to a comparative example.
  • FIG. 9A is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the sampling period of the switched capacitor circuit according to the comparative example.
  • FIG. 9B is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the transfer period of the switched capacitor circuit according to the comparative example.
  • FIG. 9C is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the CLS period of the switched capacitor circuit according to the comparative example.
  • FIG. 9A is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the sampling period of the switched capacitor circuit according to the comparative example.
  • FIG. 9B is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the transfer period of the switched capacitor circuit according to the comparative example.
  • FIG. 9C
  • FIG. 10A is a graph comparing the integration characteristics of the switched capacitor circuits using the CLS technique according to the first and second embodiments.
  • FIG. 10B is a graph comparing output voltages per one integration of the switched capacitor circuit using the CLS technique according to the first and second embodiments.
  • FIG. 11 is a functional block diagram of the switched capacitor circuit according to the third embodiment.
  • FIG. 12 is a circuit configuration diagram of the switched capacitor circuit according to the third embodiment.
  • FIG. 13A is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the sampling period of the switched capacitor circuit according to the third embodiment.
  • FIG. 13B is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the transfer period of the switched capacitor circuit according to the third embodiment.
  • FIG. 13C is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the first CLS period of the switched capacitor circuit according to the third embodiment.
  • FIG. 13D is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the second CLS period of the switched capacitor circuit according to the third embodiment.
  • FIG. 14 is a functional block diagram of the switched capacitor circuit according to the fourth embodiment.
  • FIG. 15 is a circuit configuration diagram of a switched capacitor circuit according to the fourth embodiment.
  • FIG. 16A is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the sampling period of the switched capacitor circuit according to the fourth embodiment.
  • FIG. 16B is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the transfer period of the switched capacitor circuit according to the fourth embodiment.
  • FIG. 16C is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the first CLS period of the switched capacitor circuit according to the fourth embodiment.
  • FIG. 16D is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the second CLS period of the switched capacitor circuit according to the fourth embodiment.
  • FIG. 17 is a circuit configuration diagram of the inverting amplifier according to the fifth embodiment.
  • FIG. 18 is a circuit configuration diagram of an inverting amplifier according to a modification of the fifth embodiment.
  • FIG. 19A is a configuration diagram of the storage capacitor section according to the sixth embodiment and the seventh embodiment.
  • FIG. 19B is a configuration diagram of a storage capacitor section according to a modification of the sixth embodiment and a modification of the seventh embodiment.
  • FIG. 20A is a first timing chart of the control signal according to Embodiment 6.
  • FIG. 20A is a first timing chart of the control signal according to Embodiment 6.
  • FIG. 20B is a first timing chart of the control signal according to Embodiment 7.
  • FIG. 21A is a second timing chart of the control signal according to the sixth embodiment.
  • FIG. 21B is a second timing chart of the control signal according to Embodiment 7.
  • FIG. 22 is a block configuration diagram of a ⁇ modulator including the integrator of the present disclosure.
  • FIG. 23 is a block configuration diagram of a sensor circuit including the ⁇ modulator of the present disclosure.
  • FIG. 24 is a block configuration diagram of an image sensor including the AD converter according to the present disclosure.
  • FIG. 25A is an external view illustrating an example of a digital still camera.
  • FIG. 25B is a block configuration diagram of a digital camera including the imaging device of the present disclosure.
  • FIG. 26 is a configuration diagram of a conventional switched capacitor circuit disclosed in Non-Patent Document 2.
  • FIG. 27A is a circuit diagram showing a connection relationship in the sampling period of the conventional switched capacitor circuit disclosed in Non-Patent Document 2.
  • FIG. 27B is a circuit diagram showing a connection relationship in the transfer period of the conventional switched capacitor circuit disclosed in Non-Patent Document 2.
  • FIG. 27C is a circuit diagram illustrating a connection relationship in the CLS period of the conventional switched capacitor circuit disclosed in Non-Patent Document 2.
  • Non-Patent Document 2 In the conventional switched capacitor circuit disclosed in Non-Patent Document 2, only an example of double amplification is disclosed. First, the problem to be solved by the present invention will be described after generalizing the above prior art to an integration circuit.
  • FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an example of an integrator to which a switched capacitor having a double amplifier is applied.
  • the integrator 100 shown in the figure includes capacitors 101, 102 and 104, an operational amplifier 103, switches 105, 106, 107, 108 and 109, a reference voltage source 110, an input terminal 111, and an output terminal 112. It consists of.
  • transition is made in order to a sampling period, a transfer period, and a CLS period by on / off control of each switch. Since the switched capacitor circuit is a basic operation, the periods must not overlap each other at the same time.
  • the operation of the integrator 100 will be described for each period.
  • 2A, 2B, and 2C are circuit diagrams showing connection relationships in the sampling period, transfer period, and CLS period of an integrator to which a switched capacitor having a double amplifier is applied, respectively.
  • the switches 105 and 109 are short-circuited, the switches 106 and 108 are opened, the reference voltage source 110 and the capacitor 104 are connected by one of the switches 107, and the other of the switches 107 is connected.
  • the output terminal of the operational amplifier 103 and the output terminal 112 are connected.
  • the capacitor 101 stores Cs ⁇ Vin [C] charges with the left side in the figure as the positive electrode.
  • the capacity 102 holds the past state.
  • the initial charge of the capacitor 102 is 0 [C].
  • the switches 105 and 109 are open, the switches 106 and 108 are short-circuited, and the switch 107 is kept connected.
  • all charges accumulated in the capacitor 101 are transferred to the capacitor 102. That is, the voltage across the capacitor 102 tends to be Cs ⁇ Vin / Ci [V].
  • the capacitor 104 is also driven by the operational amplifier 103, and the voltage across the capacitor 104 tends to be Cs ⁇ Vin / Ci [V].
  • the gain of the operational amplifier 103 is not sufficient, the voltage at the negative input terminal of the operational amplifier 103 (that is, the virtual ground voltage of the system) will rise. For this reason, the charge of the capacitor 101 is not completely transferred to the capacitor 102, and the voltage of the output terminal 112 is not exactly Cs ⁇ Vin / Ci [V]. This occurs because the voltage at the output terminal of the operational amplifier 103 is about Cs ⁇ Vin / Ci [V], and the voltage at the negative input terminal of the operational amplifier 103 is greatly deviated from the voltage of the reference voltage source 110.
  • the switches 105 and 109 are kept open, the switches 106 and 108 are kept short-circuited, and the output terminal of the operational amplifier 103 and the capacitor 104 are connected by one of the switches 107.
  • the other of the switch 107 is opened.
  • the integrator 100 shown in FIG. 1 uses the differential operational amplifier 103, it is not sufficient from the viewpoint of high-speed operation, low power consumption, and a small area. Again, using a single-ended inverting amplifier is superior from the above viewpoint.
  • the present disclosure solves the above-described problem, and is a switched capacitor circuit and a driving method thereof that are capable of high-speed operation, low power consumption, small area, and high accuracy, and further, the switched capacitor circuit.
  • An object of the present invention is to provide an integrator to which
  • a switched capacitor circuit includes a first input terminal to which an input voltage is input, a first output terminal from which an output voltage is output, a first terminal, and a second terminal.
  • a sampling capacitor disposed so that the input voltage is applied to the first terminal, a second input terminal, and a second output terminal, wherein the second input terminal is the second input terminal. It is possible to switch the connection between the inverting amplifier connected to the terminal, the fifth terminal as one capacitor electrode, the fourth terminal as the other capacitor electrode, and either the fifth terminal or the fourth terminal.
  • a first level shift capacitor having a third terminal, the fifth terminal being connected to the first output terminal, an eighth terminal being one capacitive electrode, and a seventh terminal being the other capacitive electrode; Connection switching to either the eighth terminal or the seventh terminal is possible
  • the ninth terminal is connected to the second terminal, the tenth terminal is connected to the first output terminal, the eleventh terminal, the eleventh terminal and the first terminal 4 terminals and the seventh terminal can be switched between short circuit and open, and the offset voltage having the same voltage value as the short circuit voltage of the inverting amplifier when the second input terminal and the second output terminal are short-circuited. Is provided from the eleventh terminal.
  • the inverting amplifier In the sampling period, the inverting amplifier generates the short-circuit voltage by short-circuiting the second input terminal and the second output terminal, and the sampling capacitor generates a potential difference between the input voltage and the short-circuit voltage.
  • the transfer period in which the charge accumulated in the sampling capacitor is sampled and transferred, the charge is transferred to the storage capacitor by opening the second input terminal and the second output terminal, and the third
  • the first level shift capacitor and the second level shift capacitor are the eleventh terminal and the eleventh terminal, respectively. The potential difference from the first output terminal is sampled.
  • the third terminal and the fifth terminal are opened, the sixth terminal and the eighth terminal are opened, and the first level.
  • a shift capacitor is electrically connected in series between the third terminal, the fourth terminal, and the fifth terminal, and the second level shift capacitor is connected to the sixth terminal, the seventh terminal, and the eighth terminal.
  • the first level shift capacitor and the second level shift capacitor constitute a series capacitor between the first output terminal and the second output terminal.
  • the first level shift capacitor and the second level shift capacitor are electrically connected in series between the first output terminal and the second output terminal in the level shift period.
  • the voltage level of the second output terminal of the inverting amplifier always crosses the virtual ground voltage in the process where the entire circuit goes to a new equilibrium state.
  • the second input terminal voltage and the second output terminal voltage of the inverting amplifier become equal to the virtual ground voltage by adjusting the storage capacitor, the first level shift capacitor, and the second level shift capacitor. It is possible to create an equilibrium state.
  • the floating of the virtual ground voltage of the system is largely suppressed, so that the charge of the sampling 11 is almost completely transferred to the storage capacitor. Therefore, even when a low gain inverting amplifier is used, highly accurate charge transfer can be achieved.
  • a level shift period in which the voltage level of the second output terminal shifts is divided into a first level shift period and a second level shift period.
  • the first level shift period the third terminal and the fifth level shift period are divided.
  • the first level shift capacitor is electrically connected in series between the third terminal, the fourth terminal, and the fifth terminal, and the sixth terminal in the second level shift period.
  • the eighth terminal are opened, and the second level shift capacitor is electrically inserted in series between the sixth terminal, the seventh terminal, and the eighth terminal.
  • a switched capacitor circuit includes a first input terminal to which an input voltage is input, a first output terminal from which an output voltage is output, a first terminal, and a second terminal.
  • a first clamp capacitor having a sampling capacitor disposed so that the input voltage is applied to the first terminal, a third terminal and a fourth terminal, wherein the third terminal is connected to the second terminal
  • An inverting amplifier having a second input terminal and a second output terminal, wherein the second input terminal is connected to the fourth terminal, a fifth terminal and a sixth terminal, and the fifth terminal.
  • a second clamp capacitor connected to the second output terminal, a seventh terminal that is one of the capacitance electrodes, and an eighth terminal that can be switched to one of the seventh terminal and the other electrode.
  • a first level shift capacitor having the seventh terminal connected to the first output terminal A ninth terminal that is one of the capacitive electrodes and a tenth terminal that can be switched to either the ninth terminal or the other electrode, and the ninth terminal is connected to the eighth terminal.
  • the tenth terminal has a second level shift capacitor capable of switching between connection and release with the sixth terminal, an eleventh terminal and a twelfth terminal, and the eleventh terminal is connected to the second terminal.
  • the twelfth terminal includes a storage capacitor connected to the first output terminal.
  • the inverting amplifier In the sampling period, the inverting amplifier generates the short-circuit voltage by short-circuiting the second input terminal and the second output terminal, and the first clamp capacitor and the second clamp capacitor are short-circuited.
  • the potential difference between the voltage and the reference voltage is sampled, and the charge is accumulated by opening the second input terminal and the second output terminal in a transfer period in which the charge accumulated in the sampling capacitor is transferred.
  • the first clamp capacitor is electrically connected in series between the second terminal and the second input terminal, and the second clamp capacitor is connected to the fifth terminal or the sixth terminal.
  • the seventh terminal and the eighth terminal are short-circuited, and the ninth terminal and the tenth terminal are short-circuited, whereby the first level shift capacitor has the reference voltage and the In the first level shift period in which the potential difference with respect to one output terminal is sampled and the voltage level of the second output terminal is shifted, the second clamp capacitor is electrically connected between the second output terminal and the tenth terminal.
  • the seventh terminal and the eighth terminal are opened, and the first level shift capacitor is electrically inserted in series between the eighth terminal and the first output terminal.
  • the second level shift capacitor samples the potential difference between the ninth terminal and the reference voltage, and in the second level shift period in which the voltage level of the second output terminal shifts, the ninth terminal and the 10 terminals are opened, and the second level shift capacitor is electrically connected in series between the ninth terminal and the sixth terminal.
  • the voltage held in the first level shift capacitor becomes the “raised bottom effect”, and the voltage at the second output terminal of the inverting amplifier is substantially equal to the voltage across the second level shift capacitor. become.
  • the voltage rise at the second input terminal of the inverting amplifier is suppressed.
  • the voltage held in the second level shift capacitor becomes the “raised bottom effect”, and the voltage at the second output terminal of the inverting amplifier is further smaller than the voltage across the second level shift capacitor. Voltage. Therefore, the voltage rise at the second input terminal of the inverting amplifier is suppressed. Therefore, even when a low gain inverting amplifier is used, highly accurate charge transfer can be achieved.
  • the thirteenth terminal is connected to the second output terminal, and the fourteenth terminal is connected to and released from the sixth terminal and the tenth terminal.
  • a third clamp capacitor that can be switched is provided.
  • the inverting amplifier In the sampling period, the inverting amplifier generates the short-circuit voltage by short-circuiting the second input terminal and the second output terminal, and the first clamp capacitor, the second clamp capacitor, and the third clamp Capacitance means that the potential difference between the short-circuit voltage and the reference voltage is sampled, and the second input terminal and the second output terminal are opened during a transfer period in which charges accumulated in the sampling capacitor are transferred.
  • the charge is transferred to the storage capacitor, the first clamp capacitor is electrically inserted in series between the second terminal and the second input terminal, and the second clamp capacitor is connected to the fifth terminal.
  • the sixth terminal is opened, and the third clamping capacitor has the thirteenth terminal or the fourteenth terminal opened, the seventh terminal and the eighth terminal are short-circuited, and the ninth terminal
  • the first level shift capacitor samples the potential difference between the reference voltage and the first output terminal, and the voltage level of the second output terminal is shifted.
  • the second clamp capacitor is electrically connected in series between the second output terminal and the tenth terminal, the seventh terminal and the eighth terminal are opened, A first level shift capacitor is electrically connected in series between the eighth terminal and the first output terminal, and at the same time, the second level shift capacitor generates a potential difference between the ninth terminal and the reference voltage.
  • the second clamp capacitor is configured such that the fifth terminal or the sixth terminal is opened, and the third clamp capacitor is It is electrically connected in series between the second output terminal and the tenth terminal, the seventh terminal and the eighth terminal are opened, and the second level shift capacitor is the ninth terminal and the sixth terminal. Electrically inserted in series between the terminals.
  • the inverting amplifier includes an inverter circuit.
  • the inverting amplifier can be composed of a low-gain, but one-input, one-output type element, which enables high-speed operation of the circuit, low power consumption, and a small area.
  • the inverter circuit includes a switched current type bias circuit.
  • the current flowing into the inverting amplifier can be increased / decreased depending on the time, and a large current is applied only in the initial period and the transfer period of the sampling period, which is a period in which a large current at the initial stage of settling is necessary, and thereafter gradually. It is possible to perform an inverter operation to reduce the current. Therefore, it is possible to reduce power consumption while maintaining the settling speed.
  • the present invention can be realized as various devices including such a switched capacitor circuit.
  • the present invention can be realized as an integrator including the switched capacitor circuit, a sample hold circuit, a sensor circuit, an analog-digital converter, an image sensor including the analog-digital converter, and a digital camera including the image sensor.
  • FIG. 3 is a functional block diagram of the switched capacitor circuit according to the first embodiment.
  • the switched capacitor circuit 200 shown in the figure includes a sampling capacitor unit 201, an inverting amplifier unit 202, a first CLS unit 203, a second CLS unit 204, a storage capacitor unit 205, and an offset compensation unit 206.
  • the operation of the switched capacitor circuit 200 transitions in turn into a sampling period, a transfer period, and a CLS period as the drive unit 209 controls each unit.
  • the periods should not overlap each other at the same time.
  • the sampling capacitor unit 201 has an input end and an output end. In the sampling period, the input end is connected to the input terminal 207, and samples the potential difference between the input voltage applied to the input terminal 207 and the first reference voltage. In addition, the sampling capacitor unit 201 is disconnected from the input terminal 207 and connected to the reference voltage source 214 in the transfer period and the CLS period, and is applied with the first reference voltage.
  • the input end and the output end are short-circuited, and the short-circuit voltage is applied to the first CLS unit 203 and the second CLS unit 204 during the sampling period and the transfer period.
  • the first CLS unit 203 has an input end and an output end, and samples a potential difference between the short-circuit voltage of the offset compensation unit 206 and the voltage at the output end of the inverting amplification unit 202 in the sampling period and the transfer period. In the CLS period, the capacitor that holds the potential difference is inserted between the output terminal of the second CLS unit 204 and the output terminal 208.
  • the second CLS unit 204 has an input end and an output end, and samples a potential difference between the short-circuit voltage of the offset compensation unit 206 and the voltage at the output end of the inverting amplification unit 202 in the sampling period and the transfer period.
  • the capacitor that holds the potential difference is inserted between the output terminal of the inverting amplifier 202 and the input terminal of the first CLS unit 203.
  • the path from the output terminal of the sampling capacitor unit 201 to the output terminal 208 including the storage capacitor unit 205 is opened, and the path is connected in the transfer period and the CLS period.
  • the drive unit 209 controls connection and release between the above-described terminals and insertion of a capacitor.
  • FIG. 4 is a circuit configuration diagram of the switched capacitor circuit according to the first embodiment.
  • the switched capacitor circuit 200 shown in the figure exemplifies the circuit configuration of each part (excluding the drive unit 209) constituting the switched capacitor circuit 200 shown in FIG.
  • the input terminal 207 is a first input terminal
  • the output terminal 208 is a first output terminal.
  • the sampling capacitor unit 201 includes a capacitor 211, a switch 212 that connects or opens the input terminal 207 and the first electrode of the capacitor 211, and a switch 213 that connects or opens the first electrode of the capacitor 211 and the reference voltage source 214. Is done.
  • the reference voltage source 214 is set with a reference voltage, and in this embodiment, the reference voltage is 0V.
  • the capacitor 211 is a sampling capacitor that has a first terminal and a second terminal, and is arranged so that an input voltage is applied to the first terminal.
  • the inverting amplification unit 202 includes a single-ended inverting amplifier 221 and a switch 222 that connects or opens the input terminal and the output terminal of the inverting amplifier 221.
  • the inverting amplifier 221 is an inverting amplifier having a second input terminal and a second output terminal, and the second input terminal is connected to the second terminal.
  • the first CLS unit 203 includes a capacitor 231, a switch 232 that connects or opens the first electrode of the capacitor 231 and the output terminal of the second CLS unit 204, the first electrode of the capacitor 231, and the offset compensation unit 206.
  • the switch 233 connects or opens the output terminal
  • the switch 234 connects or opens the input terminal and the output terminal of the first CLS unit 203.
  • the first CLS unit 203 includes a fifth terminal that is a second electrode, a fourth terminal that is a first electrode, and a third terminal that can be switched to one of the fifth terminal and the fourth terminal.
  • a first level shift capacitor having a fifth terminal connected to the first output terminal.
  • the second CLS unit 204 includes a capacitor 241, a switch 242 that connects or opens the second electrode of the capacitor 241 and the output terminal of the inverting amplifier 221, a first electrode of the capacitor 241, and an output terminal of the offset compensation unit 206. And a switch 244 for connecting or releasing the first electrode of the capacitor 241 and the output terminal of the inverting amplifier 221.
  • the second CLS unit 204 includes an eighth terminal that is the second electrode, a seventh terminal that is the first electrode, and a sixth terminal that can be switched to one of the eighth terminal and the seventh terminal.
  • a second level shift capacitor having an eighth terminal connected to the third terminal and a sixth terminal connected to the second output terminal.
  • the storage capacitor unit 205 includes a capacitor 251 and a switch 252 that connects or opens the first electrode of the capacitor 251 and the input terminal of the inverting amplifier 221.
  • the storage capacitor unit 205 has a ninth terminal and a tenth terminal, and is arranged so that the ninth terminal is connected to the second terminal and the tenth terminal is connected to the first output terminal. Storage capacity.
  • the offset compensation unit 206 includes an inverting amplifier 261 that outputs a self-feedback voltage similar to that of the inverting amplifier 221. Specifically, the self-feedback voltage is output by short-circuiting the input terminal and the output terminal.
  • the offset compensator 206 has an eleventh terminal, and can switch between a short circuit and an open circuit between the eleventh terminal, the fourth terminal, and the seventh terminal, and the second input terminal and the second output terminal are short-circuited. In this case, the offset compensation circuit outputs an offset voltage having the same voltage value as the short circuit voltage of the inverting amplifier 221 from the 11th terminal.
  • the switching is performed in turn in the sampling period, the transfer period, and the CLS period by the on / off control of each switch.
  • each period must not overlap each other at the same time.
  • the operation of the switched capacitor circuit 200 will be described for each period.
  • the inverting amplifier 261 is a replica of the inverting amplifier 221, and the input terminal and the output terminal are short-circuited, and the short-circuit voltage Vx [V] becomes the bias voltage of the capacitor 231 and the capacitor 241.
  • the short circuit voltage Vx [V] is also a virtual ground voltage of the inverting amplifier 221
  • the voltage at the output terminal 208 is a voltage to which an offset of Vx [V] is added.
  • the operation of the switched capacitor circuit 200 will be described for each period.
  • FIG. 5A, FIG. 5B, and FIG. 5C are circuit diagrams showing connection relationships in the sampling period, transfer period, and CLS period of the switched capacitor circuit according to the first embodiment, respectively.
  • the switches 212, 222, 233, 234, 242 and 243 are short-circuited, and the switches 213, 232, 244 and 252 are opened.
  • the switches 212, 222, 232, and 244 are opened, and the switches 213, 233, 234, 242, 243, and 252 are short-circuited.
  • the inverting amplifier 221 tries to transfer the charge corresponding to CsVin [C] from the capacitor 211 to the capacitor 251.
  • the gain of the inverting amplifier 221 is A and the variation voltage of the output voltage of the inverting amplifier 221 from the virtual ground voltage is ⁇ V
  • the input terminal voltage of the inverting amplifier 221 is ⁇ V / A. Accordingly, the potential difference between both ends of the capacitor 251 is ⁇ V + ⁇ V / A when the second electrode (right side) is positive, and the potential difference between both ends of the capacitors 231 and 241 is ⁇ V when the second electrode (right side) is positive.
  • the switches 212, 222, 233, 234, 242 and 243 are opened, and the switches 213, 232, 244 and 252 are short-circuited. Since the inverting amplifier 221 cannot respond at the moment when this connection relationship is established, the output voltage of the inverting amplifier 221 instantaneously shifts to - ⁇ V. Accordingly, the input voltage of the inverting amplifier 221 starts a state transition so as to approach the new virtual ground voltage + ⁇ V / A. At this time, the current flowing in the direction of the current path shown in FIG. 5C increases the voltage across the capacitor 251 and decreases the voltage across the capacitors 231 and 241.
  • FIG. 5D is an equivalent circuit diagram of a current path in a transient state from the transfer period to the CLS period of the switched capacitor circuit according to the first embodiment. For ease of explanation, only the minimum necessary circuit elements are shown in FIG.
  • the voltage across the capacitor 251 is ⁇ V + ⁇ V / A + Cs ⁇ V / ( The voltage across ACi) is held.
  • the capacitance value of the capacitor 211 is Cs
  • the capacitance value of the capacitor 251 is Ci.
  • the capacitor 231 has a positive voltage on the second electrode (upper side) and ⁇ V ⁇ Cs ⁇ V / (ACls 1 ).
  • the capacitor 241 has a positive voltage on the second electrode (upper side) and a voltage across ⁇ V ⁇ Cs ⁇ V / (ACls 2 ).
  • the capacitance value of the capacitor 231 is Cls 1 and the capacitance value of the capacitor 241 is Cls 2 .
  • the condition that the error from the virtual ground voltage of the output voltage of the inverting amplifier 221 is also zero is that the voltage of the capacitor 251 is equal to the sum of the voltage of the capacitor 231 and the voltage of the capacitor 241. It is expressed as 1.
  • the drive unit 209 has the capacitor 231 and the capacitor between the output terminal 208 and the output terminal of the inverting amplifier 221. 241 are electrically inserted in series.
  • the voltage level of the output terminal of the inverting amplifier 221 always crosses the virtual ground voltage in the process of the entire circuit toward a new equilibrium state.
  • the floating of the virtual ground voltage of the system is largely suppressed, so that the charge of the capacitor 211 is almost completely transferred to the capacitor 251. Therefore, as a result, the voltage across the capacitor 251 is almost equal to Cs ⁇ Vin / Ci [V], and high-accuracy charge transfer can be achieved despite using a low gain inverting amplifier.
  • the driving unit 209 supplies a control signal synchronously in each period to each unit included in the switched capacitor circuit 200 illustrated in FIG. 4, thereby obtaining a sampling period, a transfer period, and a CLS.
  • a control signal synchronously in each period to each unit included in the switched capacitor circuit 200 illustrated in FIG. 4, thereby obtaining a sampling period, a transfer period, and a CLS.
  • it is assumed to transit to the period it is not limited to this control method.
  • other switches may execute the switching operation asynchronously and autonomously in response to the on / off switching timing of the switches provided in each unit or in conjunction with the timing.
  • Embodiment 2 high-accuracy charge transfer is achieved by a control method different from that of the first embodiment using the circuit configuration of the switched capacitor circuit 200 according to the first embodiment. That is, the opening / closing timing of each switch executed by the drive unit 209 in the switched capacitor circuit 200 is different from that in the first embodiment.
  • the operation of the driver 209 in this embodiment has a sampling period, a transfer period, a first CLS period, and a second CLS period. As in the first embodiment, the periods should not overlap each other at the same time.
  • the same operation as that in the sampling period in the first embodiment is executed. That is, as shown in FIG. 5A, the switches 212, 222, 233, 234, 242 and 243 are short-circuited and the switches 213, 232, 244 and 252 are opened.
  • the input terminal and the output terminal of the inverting amplifier 221 are short-circuited, and the short-circuit voltage is equal to the virtual ground voltage Vx [V].
  • the charge of Cs (Vin ⁇ Vx) [C] is accumulated in the capacitor 211 with the left side being positive.
  • the charge of the capacitor 251 holds the past state.
  • the initial charge of the capacitor 251 is assumed to be 0 [C].
  • the switches 233, 234, 242 and 243 are short-circuited from the viewpoint of surely initializing the capacitors 231 and 241.
  • the same operation as that in the transfer period in the first embodiment is executed. That is, as shown in FIG. 5B, the switches 212, 222, 232, and 244 are opened, and the switches 213, 233, 234, 242, 243, and 252 are short-circuited.
  • the inverting amplifier 221 tries to transfer the charge corresponding to CsVin [C] from the capacitor 211 to the capacitor 251.
  • the gain of the inverting amplifier 221 is A and the variation voltage of the output voltage of the inverting amplifier 221 from the virtual ground voltage is ⁇ V
  • the input terminal voltage of the inverting amplifier 221 is ⁇ V / A. Accordingly, the potential difference between both ends of the capacitor 251 is ⁇ V + ⁇ V / A when the second electrode (right side) is positive, and the potential difference between both ends of the capacitors 231 and 241 is ⁇ V when the second electrode (right side) is positive.
  • FIGS. 6A and 6B are circuit diagrams showing connection relationships in the first CLS period and the second CLS period of the switched capacitor circuit according to the second embodiment, respectively.
  • the switches 212, 222, 233, 234 and 244 are opened, and the switches 213, 232, 242, 243 and 252 are short-circuited.
  • the switches 212, 222, 233, 234, 242 and 243 are opened, and the switches 213, 232, 244 and 252 are short-circuited.
  • FIG. 7 is a functional block diagram of a switched capacitor circuit according to a comparative example.
  • the switched capacitor circuit 800 shown in the figure includes a sampling capacitor unit 801, an inverting amplifier unit 802, a CLS unit 803, a storage capacitor unit 804, an offset compensation unit 805, an input terminal 807, and an output terminal 808. And a drive unit 806.
  • the operation of the switched capacitor circuit 800 transitions in turn into a sampling period, a transfer period, and a CLS period by the driver 806 controlling each part.
  • FIG. 8 is a circuit configuration diagram of a switched capacitor circuit according to a comparative example.
  • the switched capacitor circuit 900 shown in the figure exemplifies the circuit configuration of each part (excluding the drive unit 806) constituting the switched capacitor circuit 800 shown in FIG.
  • the switched capacitor circuit 900 includes capacitors 911, 932, and 941, inverting amplifiers 923 and 951, switches 912, 913, 921, 932, and 942, a reference voltage source 914, an input terminal 807, and an output terminal 808. Is done.
  • the sampling capacitor unit 801 includes a capacitor 911, a switch 912 that connects or opens the input terminal 807 and the first electrode of the capacitor 911, and a switch 913 that connects or opens the first electrode of the capacitor 911 and the reference voltage source 914. Is done.
  • the inverting amplification unit 802 includes a single-ended inverting amplifier 923 and a switch 921 that connects or opens the input terminal and the output terminal 808 of the inverting amplifier 923.
  • the CLS unit 803 includes a capacitor 931 and a switch 932 that connects or opens the first electrode of the capacitor 931 and the output terminals of the inverting amplifiers 923 and 951.
  • the storage capacitor unit 804 includes a capacitor 941 and a switch 942 that connects or opens the second electrode of the capacitor 941 and the output terminal 808.
  • the offset compensation unit 805 includes an inverting amplifier 951 that outputs a self-feedback voltage similar to that of the inverting amplifier 923. Specifically, the self-feedback voltage is output by short-circuiting the input terminal and the output terminal.
  • the drive unit 806 shown in FIG. 7 controls the operation of the switches 912, 913, 921, 932, and 942 of each unit, although not shown in the circuit configuration of FIG.
  • the switching is performed in turn in the sampling period, the transfer period, and the CLS period by the on / off control of each switch.
  • the operation of the switched capacitor circuit 900 will be described for each period.
  • 9A, 9B, and 9C are circuit diagrams showing connection relationships in the sampling period, transfer period, and CLS period of the switched capacitor circuit according to the comparative example, respectively.
  • the switches 912 and 921 are short-circuited, the switches 913 and 942 are opened, and the output terminal of the inverting amplifier 951 and the capacitor 931 are connected by one of the switches 932.
  • the other output terminal 932 connects the second output terminal of the inverting amplifier 923 and the output terminal 808.
  • the inverting amplifier 923 is short-circuited between the input terminal and the output terminal, and the short-circuit voltage is equal to Vx [V].
  • the first terminal (left side in the figure) of the capacitor 911 is the positive electrode, and Cs (Vin ⁇ Vx) The charge of [C] is accumulated.
  • the capacitor 941 holds the past state.
  • the initial charge of the capacitor 941 is set to 0 [C].
  • the switches 912 and 921 are opened, the switches 913 and 942 are short-circuited, and the switch 932 maintains the connection.
  • all charges corresponding to Cs ⁇ Vin [C] accumulated in the capacitor 911 are about to be transferred to the capacitor 941. That is, the voltage across the capacitor 941 tends to be Cs ⁇ Vin / Ci [V].
  • the capacitor 931 is also driven by the inverting amplifier 923, and the voltage between both ends of the capacitor 931 tends to become Cs ⁇ Vin / Ci [V].
  • the gain of the inverting amplifier 923 is not sufficient, the voltage at the input terminal of the inverting amplifier 923 (that is, the virtual ground voltage of the system) rises from Vx [V]. For this reason, the electric charge of the capacitor 911 is not completely transferred to the capacitor 941, and the voltage of the output terminal 808 is not exactly Cs ⁇ Vin / Ci + Vx [V]. This occurs because the voltage at the output terminal of the inverting amplifier 923 becomes approximately Cs ⁇ Vin / Ci + Vx [V], which is greatly deviated from the virtual ground voltage Vx [V].
  • the switches 912 and 921 are kept open, the switches 913 and 942 are kept short-circuited, and the output terminal of the inverting amplifier 923 and the capacitor 931 are connected by one of the switches 932. Are connected and the other of the switches 932 is opened.
  • a capacitor 931 is inserted between the output terminal of the inverting amplifier 923 and the output terminal 808. Since the capacitor 931 holds the voltage across Cs ⁇ Vin / Ci [V], this becomes the “raised bottom effect” (level shift effect), and the inverting amplifier was about Cs ⁇ Vin / Ci + Vx [V].
  • the voltage at the output terminal 923 is substantially equal to the virtual ground voltage Vx [V].
  • the voltage across the capacitor 941 is almost equal to Cs ⁇ Vin / Ci [V], and high-accuracy charge transfer can be achieved despite the use of an inverting amplifier with a low gain.
  • FIG. 10A is a graph comparing the integration characteristics of the switched capacitor circuits using the CLS technique according to the first and second embodiments.
  • FIG. 10B is a graph comparing output voltages per one integration of the switched capacitor circuit using the CLS technique according to the first and second embodiments.
  • the switched capacitor circuit 200 (CLS 1.0) using the CLS technique according to the first embodiment
  • the gain of the inverting amplifier is 20 dB
  • high-precision integration is performed for each integration operation.
  • a value is obtained, and the number of integrations and the integration value have a substantially linear relationship.
  • the characteristics are greatly improved.
  • the integration characteristic is inferior to that of CLS 1.0 when the gain of the inverting amplifier is 20 dB. This is because the voltage at the output terminal of the inverting amplifier 221 cannot be set to 0 ( ⁇ Vpp), and therefore does not reach CLS1.0 in principle from the viewpoint of higher accuracy.
  • an integrated value with higher accuracy is obtained than the conventional integrator (inverting amplifier gain: 20 dB) and the switched capacitor circuit 900 using the CLS technique according to the comparative example, and the number of integrations and the integration value are almost linear. It has become a relationship.
  • CLS 1.0 characteristics are greatly improved even when a low gain inverting amplifier of 30 dB or less is used, compared to a conventional integrator having the same low gain inverting amplifier.
  • the driving unit 209 requires a four-phase clock in order to control opening and closing of the switches in the sampling period, the transfer period, the first CLS period, and the second CLS period.
  • the driving unit 209 may be a three-phase clock in order to control opening and closing of the switches in the sampling period, the transfer period, and the CLS period. Therefore, CLS1.0 according to Embodiment 1 can suppress power consumption.
  • the present embodiment is different from the switched capacitor circuit 200 according to the second embodiment in that the first and second clamp circuits are arranged instead of the offset compensation unit. As a result, similar to the first and second embodiments, the conventional problem can be solved.
  • FIG. 11 is a functional block diagram of the switched capacitor circuit according to the third embodiment.
  • the switched capacitor circuit 300 shown in the figure includes a sampling capacitor unit 301, a first clamp capacitor unit 302, an inverting amplifier unit 303, a second clamp capacitor unit 304, a first CLS unit 305, A second CLS unit 306, a storage capacitor unit 307, an input terminal 308, an output terminal 309, and a drive unit 310 are provided.
  • the operation of the switched capacitor circuit 300 transitions in turn to a sampling period, a transfer period, a first CLS period, and a second CLS period as the driver 310 controls each part.
  • the periods should not overlap each other at the same time.
  • the sampling capacitor unit 301 has an input end and an output end. In the sampling period, the input end is connected to the input terminal 308, and samples the potential difference between the input voltage applied to the input terminal 308 and the first reference voltage. In the sampling capacitor unit 301, the input terminal is disconnected from the input terminal 308 in the transfer period, the first CLS period, and the second CLS period, and the first reference voltage is applied to the input terminal.
  • the first clamp capacitor 302 samples a potential difference between the first reference voltage and the voltage at the input terminal of the inverting amplifier 303 in the sampling period.
  • a capacitor that holds the potential difference is inserted in series between the output terminal of the sampling capacitor unit 301 and the input terminal of the inverting amplifier unit 303.
  • the inverting amplification unit 303 has an input end and an output end, the input end and the output end are short-circuited during the sampling period, and the short-circuit is released during the transfer period, the first CLS period, and the second CLS period.
  • the second clamp capacitor unit 304 samples the potential difference between the output terminal of the inverting amplifier unit 303 and the first reference voltage in the sampling period. In the transfer period, the second clamp capacitor unit 304 short-circuits the output terminal of the inverting amplifier unit 303 and the input terminal of the second CLS unit 306 and simultaneously holds the potential difference. Further, in the first CLS period, the capacitor holding the potential difference is inserted in series between the output terminal of the inverting amplifier 303 and the input terminal of the first CLS unit 305. In the second CLS period, the capacitor is inserted in series between the output terminal of the inverting amplifier 303 and the input terminal of the second CLS unit 306.
  • the first CLS unit 305 has an input terminal and an output terminal, and samples the potential difference between the voltage at the output terminal of the inverting amplifier 303 and the first reference voltage in the sampling period and the transfer period. In the first CLS period, the capacitor that holds the potential difference is inserted between the output terminal of the second CLS unit 306 and the output terminal 309.
  • the second CLS unit 306 has an input end and an output end, and samples the potential difference between the voltage at the output end of the inverting amplification unit 202 and the first reference voltage in the sampling period and the transfer period. In the second CLS period, the capacitor that holds the potential difference is inserted between the output terminal of the inverting amplifier 303 and the input terminal of the first CLS unit 305.
  • the path from the output terminal of the sampling capacitor unit 301 to the output terminal 309 including the storage capacitor unit 307 is opened, and the path is connected in the transfer period, the first CLS period, and the second CLS period. .
  • the drive unit 310 controls connection and release between the above-described terminals and insertion of a capacitor.
  • FIG. 12 is a circuit configuration diagram of the switched capacitor circuit according to the third embodiment.
  • the switched capacitor circuit 300 shown in the figure exemplifies the circuit configuration of each part (excluding the drive unit 310) constituting the switched capacitor circuit 300 shown in FIG.
  • the input terminal 308 is a first input terminal
  • the output terminal 309 is a first output terminal.
  • the sampling capacitor unit 301 includes a capacitor 311, a switch 312 that connects or opens the input terminal 308 and the first electrode of the capacitor 311, and a switch 313 that connects or opens the first electrode of the capacitor 311 and the reference voltage source 314. Is done.
  • the reference voltage source 314 is set with a reference voltage, and in this embodiment, the reference voltage is 0V.
  • the capacitor 311 has a first terminal and a second terminal, and is a sampling capacitor arranged so that an input voltage is applied to the first terminal.
  • the first clamp capacitor 302 includes a capacitor 321 and a switch 322 that connects or opens the first electrode of the capacitor 321 and the reference voltage source 314.
  • the capacitor 321 is a first clamp capacitor having a third terminal and a fourth terminal, the third terminal being connected to the second terminal.
  • the inverting amplification unit 303 includes a single-ended inverting amplifier 331 and a switch 332 that connects or opens the input terminal and the output terminal of the inverting amplifier 331.
  • the inverting amplifier 331 is an inverting amplifier having a second input terminal and a second output terminal, the second input terminal being connected to the fourth terminal.
  • the second clamp capacitor unit 304 includes a capacitor 341, switches 342 and 343 that connect or open the second electrode of the capacitor 341 and the input terminal of the second CLS unit 306, and the input terminal of the second CLS unit 306.
  • the switch 344 connects or opens the reference voltage source 314.
  • the capacitor 341 has a fifth terminal and a sixth terminal, and is a second clamp capacitor in which the fifth terminal is connected to the second output terminal.
  • the capacitor 341 samples the potential difference between the short-circuit voltage of the inverting amplifier 331 and the reference voltage when the second input terminal and the second output terminal are in a short-circuit state.
  • the first CLS unit 305 connects the capacitor 351, the switch 352 that connects or opens the first electrode of the capacitor 351 and the output terminal of the second CLS unit 306, and the first electrode of the capacitor 351 and the reference voltage source 314.
  • the switch 353 is opened and the switch 354 is connected or opened to the output terminal of the second CLS unit 306 and the output terminal 309.
  • the first CLS unit 305 includes a seventh terminal having a second electrode and an eighth terminal capable of switching the connection to either the seventh terminal or the first electrode.
  • the seventh terminal is the first terminal.
  • a first level shift capacitor connected to the output terminal.
  • the capacitor 351 shifts the voltage level of the second output terminal when electrically connected in series between the second electrode of the capacitor 361 and the first output terminal.
  • the second CLS unit 306 includes a capacitor 361, a switch 362 that connects or opens the output terminal of the second clamp capacitor unit 304 and the input terminal of the first CLS unit 305, the first electrode of the capacitor 361, and a reference voltage
  • the switch 363 connects or opens the source 314 and the switch 364 connects or opens the first electrode of the capacitor 361 and the output terminal of the second clamp capacitor 304.
  • the second CLS unit 306 includes a ninth terminal that is a second electrode, and a tenth terminal that can switch connection to either the ninth terminal or the first electrode, and the ninth terminal is an eighth terminal.
  • the second level shift capacitor is connected to the terminal, and the tenth terminal can be switched between connection and release with the sixth terminal.
  • the capacitor 361 shifts the voltage level of the second output terminal when electrically connected in series between the eighth terminal and the sixth terminal of the capacitor 351.
  • the storage capacitor unit 307 includes a capacitor 371 and a switch 372 that connects or opens the first electrode of the capacitor 371 and the first electrode of the capacitor 321.
  • the capacitor 371 has an eleventh terminal and a twelfth terminal.
  • the storage capacitor is arranged so that the eleventh terminal is connected to the second terminal and the twelfth terminal is connected to the first output terminal. It is.
  • the switching is performed in turn in the sampling period, the transfer period, the first CLS period, and the second CLS period by the on / off control of each switch.
  • the operation of the switched capacitor circuit 300 will be described for each period.
  • FIG. 13A, FIG. 13B, FIG. 13C, and FIG. 13D are circuit diagrams showing connection relationships in the sampling period, transfer period, first CLS period, and second CLS period of the switched capacitor circuit according to the third embodiment, respectively.
  • the switches 312, 322, 332, 343, 353, 354, 362 and 363 are short-circuited, and the switches 313, 342, 352, 364 and 372 are opened.
  • the capacitor 321 receives a voltage across Vx [V] with the right side being positive.
  • the capacitor 341 is positive on the left side and is applied with a voltage across Vx [V].
  • the capacitor 311 accumulates the charge of Cs (Vin ⁇ Vx) [C] with the left side being a plus.
  • the capacitance value of the capacitor 311 is Cs.
  • the charge of the capacitor 371 retains the past state.
  • the initial charge of the capacitor 371 is assumed to be 0 [C].
  • the switches 353, 354, 362, and 363 may be short-circuited or opened, but it is more preferable to short-circuit from the viewpoint of surely initializing the capacitors 351 and 361.
  • the inverting amplifier 331 tries to transfer the charge corresponding to CsVin [C] from the capacitor 311 to the capacitor 371.
  • the gain of the inverting amplifier 331 is A and the variation voltage of the output voltage of the inverting amplifier 331 from the virtual ground voltage is ⁇ V
  • the input terminal voltage of the inverting amplifier 331 is ⁇ V / A. Therefore, the potential difference between both ends of the capacitor 371 becomes ⁇ V + ⁇ V / A when the second electrode (right side) is positive, and the potential difference between both ends of the capacitors 351 and 361 becomes ⁇ V when the second electrode (right side) is positive.
  • the switches 312, 322, 342, 344, 353, 354 and 364 are opened, and the switches 313, 343, 352, 362, 363 and 372 are short-circuited. .
  • the CLS accuracy at this time is approximately the same as the CLS accuracy according to the comparative example.
  • the switches 312, 322, 332, 342, 344, 353, 354, 362 and 363 are opened, and the switches 313, 343, 352, 364 and 372 are short-circuited.
  • a capacitor 361 is further inserted between the first electrode of the capacitor 351 and the output terminal of the inverting amplifier 331. Since the voltage at both ends of ⁇ Vp is held in the capacitor 361, this becomes the “raised bottom effect” (level shift effect), and the voltage at the output end of the inverting amplifier 331 that is ⁇ Vp is further reduced by ⁇ Vpp ( ⁇ ⁇ Vp). It becomes.
  • the present embodiment is different from the switched capacitor circuit 300 according to the third embodiment in that a third clamp capacitor is added. Thereby, it is possible to solve the conventional problem with higher accuracy as compared with the third embodiment.
  • FIG. 14 is a functional block diagram of the switched capacitor circuit according to the fourth embodiment.
  • the switched capacitor circuit 400 shown in the figure includes a sampling capacitor unit 401, a first clamp capacitor unit 402, an inverting amplifier unit 403, a second clamp capacitor unit 404, a first CLS unit 405, The second CLS unit 406, the third clamp capacitor unit 407, the storage capacitor unit 408, the input terminal 409, the output terminal 410, and the drive unit 420 are provided.
  • the operation of the switched capacitor circuit 400 transitions in turn into a sampling period, a transfer period, a first CLS period, and a second CLS period as the driver 420 controls each part. In the switched capacitor circuit 400, the periods must not overlap each other at the same time.
  • the sampling capacitor unit 401, the first clamp capacitor unit 402, the inverting amplifier unit 403, the second clamp capacitor unit 404, the first CLS unit 405, the second CLS unit 406, and the storage capacitor unit 408 are respectively implemented.
  • the sampling capacitor 301, the first clamp capacitor 302, the inverting amplifier 303, the second clamp capacitor 304, the first CLS unit 305, the second CLS unit 306, and the storage capacitor 307 according to the third embodiment It is the same composition as.
  • the third clamp capacitor unit 407 samples the potential difference between the output terminal of the inverting amplifier 403 and the first reference voltage in the sampling period.
  • the third clamp capacitor unit 407 holds the potential difference in the transfer period. Further, the potential difference is held in the first CLS period.
  • the capacitor is inserted in series between the output terminal of the inverting amplification unit 403 and the input terminal of the second CLS unit 406.
  • the drive unit 420 controls the connection and release between the terminals described above, and the insertion of a capacitor.
  • FIG. 15 is a circuit configuration diagram of the switched capacitor circuit according to the fourth embodiment.
  • the switched capacitor circuit 400 shown in the figure exemplifies the circuit configuration of each part (excluding the drive unit 420) constituting the switched capacitor circuit 400 shown in FIG.
  • the input terminal 409 is a first input terminal
  • the output terminal 410 is a first output terminal.
  • sampling capacitor 401 The sampling capacitor 401, the first clamp capacitor 402, the inverting amplifier 403, the second clamp capacitor 404, the first CLS 405, the second CLS 406, and the storage capacitor 408 are specifically described. Description of a typical circuit configuration is omitted.
  • the third clamp capacitor unit 407 includes a capacitor 471 and a switch 472 that connects or opens the second electrode of the capacitor 471 and the input terminal of the second CLS unit 406.
  • the third clamp capacitor 407 has a thirteenth terminal and a fourteenth terminal, the thirteenth terminal is connected to the second output terminal, and the fourteenth terminal is connected to and released from the sixth terminal and the tenth terminal. This is a third clamp capacity that can be switched.
  • the capacitor 471 samples the potential difference between the short-circuit voltage of the inverting amplifier 431 and the reference voltage when the second input terminal and the second output terminal are in a short-circuit state.
  • switches 412, 413, 422, 432, 442-444, 452-454, 462-464, 472 of each part are not shown. And 482 are controlled.
  • the switching is performed in turn in the sampling period, the transfer period, the first CLS period, and the second CLS period by the on / off control of each switch.
  • the operation of the switched capacitor circuit 400 will be described for each period.
  • FIG. 16A, FIG. 16B, FIG. 16C, and FIG. 16D are circuit diagrams showing connection relationships in the sampling period, transfer period, first CLS period, and second CLS period of the switched capacitor circuit according to the fourth embodiment, respectively.
  • the switches 412, 422, 432, 443, 453, 454, 462, 463, and 472 are short-circuited, and the switches 413, 442, 452, 464, and 482 are opened. .
  • the capacitor 421 receives a voltage across Vx [V] with the right side being positive.
  • the capacitor 441 is positive on the left side and is applied with a voltage across Vx [V].
  • the capacitor 411 accumulates the charge of Cs (Vin ⁇ Vx) [C] with the left side being a plus.
  • the capacitance value of the capacitor 411 is Cs.
  • the charge of the capacitor 481 retains the past state.
  • the initial charge of the capacitor 481 is set to 0 [C].
  • the switches 453, 454, 462, and 463 may be short-circuited or opened, but it is more preferable to short-circuit from the viewpoint of surely initializing the capacitors 451 and 461.
  • the switches 412, 422, 432, 443, 444, 452, 464 and 472 are opened, and the switches 413, 442, 453, 454, 462, 463 and 482 are Shorted.
  • the inverting amplifier 431 tries to transfer the charge corresponding to CsVin [C] from the capacitor 411 to the capacitor 481.
  • the gain of the inverting amplifier 431 is A and the variation voltage of the output voltage of the inverting amplifier 431 from the virtual ground voltage is ⁇ V
  • the input terminal voltage of the inverting amplifier 431 is ⁇ V / A. Therefore, the potential difference between both ends of the capacitor 481 is ⁇ V + ⁇ V / A when the second electrode (right side) is positive, and the potential difference between both ends of the capacitors 451 and 461 is ⁇ V when the second electrode (right side) is positive.
  • the switches 412, 422, 442, 444, 453, 454, 464 and 472 are opened, and the switches 413, 443, 452, 462, 463 and 482 are short-circuited. Is done.
  • the CLS accuracy at this time is approximately the same as the CLS accuracy according to the comparative example.
  • the switches 412, 422, 432, 442, 444, 453, 454, 462, and 463 are opened, and the switches 413, 443, 452, 464, 472, and 482 are opened. Are short-circuited.
  • the clamp operation of the output voltage of the inverting amplifier 431 is replaced with the capacitor 441 of the second clamp capacitor unit 404 in which the accumulated charge fluctuates in response to the virtual ground fluctuation of ⁇ V ⁇ ⁇ Vp in the first CLS period.
  • the capacitor 471 of the third clamp capacitor unit 407 having no charge fluctuation is caused to function.
  • a capacitor 461 is further inserted between the first electrode of the capacitor 451 and the output terminal of the inverting amplifier 431, compared to the first CLS period.
  • the fourth clamp capacitor unit and the fifth CLS corresponding to the third CLS period and the fourth CLS period subsequent to the second CLS period are provided.
  • the clamp capacity portion By arranging the clamp capacity portion, a more accurate CLS technique can be realized.
  • Embodiment 5 a configuration of an inverting amplification unit that realizes low power consumption and high speed will be described.
  • the inverting amplifiers according to Embodiments 1 to 4 are configured with, for example, inverter circuits. Examples of the inverter circuit constituting the inverting amplifier include a switched current type bias circuit.
  • FIG. 17 is a circuit configuration diagram of the inverting amplifier according to the fifth embodiment.
  • description will be made using an inverting amplifier 303 composed of an inverting amplifier 331 and a switch 332 according to the third embodiment.
  • the inverting amplification unit 303 includes a constant current source 502, NMOS transistors 503, 504A, 504B, and 506, a PMOS transistor 505, and a capacitor 507.
  • the NMOS transistors 504A and 504B constituting the switch 332 are controlled by the control signal 501 and are turned on only during the sampling period ⁇ 1, and are turned off during other periods.
  • a current mirror composed of NMOS transistors 503 and 506 causes a current equal to the current flowing from the constant current source 502 to flow in the diode-connected PMOS transistor 505.
  • the gate voltages of the NMOS transistor 506 and the PMOS transistor 505 at this time are stored as the voltage across the capacitor 507.
  • the voltage across the capacitor 507 at this time corresponds to the short circuit voltage Vx [V]. That is, in the sampling period, the currents flowing through the PMOS transistor 505 and the NMOS transistor 506 are always kept constant by the currents flowing from the constant current source 502. Therefore, stable characteristics that are not dependent on variations in process, temperature, and power supply voltage, Stable current consumption can be realized. Accordingly, since one single-ended inverter circuit is used, high-speed operation, low power consumption, and a small area can be realized.
  • the advantage of the above-described switched current type bias circuit is that the DC current is fixed by the constant current source 502 and the W / L ratio of the PMOS transistor 505 and the NMOS transistor 506 is increased, thereby reducing power consumption and speed. It is the point which can be compatible.
  • FIG. 18 is a circuit configuration diagram of an inverting amplification unit according to a modification of the fifth embodiment.
  • the inverting amplifier 303 includes a constant current source 502, NMOS transistors 503, 552-554, 556, 558 and 560-575, PMOS transistors 555, 557 and 559, and a capacitor 507.
  • the NMOS transistors 552-554 and 561-575 constituting the switch 332 are controlled by a control signal 551 in which the sampling period is equally divided into three.
  • the periods ⁇ 1 and ⁇ 4 are driven by four PMOS and NMOS transistors, respectively, and the periods ⁇ 2 and ⁇ 5 are driven by two PMOS and NMOS transistors, respectively, and periods ⁇ 3 and ⁇ 6, respectively.
  • the transistors that operate in the phases of ⁇ 3 and ⁇ 6 are always driven in all phases, so there is no need to control them with a switch.
  • the control switch is omitted in FIG. 18, a control switch may be used.
  • the driving capability of the sampling period is divided into three stages, but the number is not limited. There may be two stages, four stages, or more.
  • a storage capacitor unit can be configured as shown in FIG. 19A.
  • FIG. 19A is a configuration diagram of the storage capacitor section according to the sixth embodiment.
  • the storage capacitor unit 205 shown in the figure includes a capacitor 253 and a switch 254 arranged in parallel with the capacitor 253.
  • the switch 254 is short-circuited or opened by a reset signal 591 from the drive unit 209.
  • the activation timing of the reset signal 591 is the timing shown in the timing chart 511 of FIG. 20A or FIG. 21A. The timing shown in the chart 521 is obtained.
  • FIG. 20A is a first timing chart of the control signal according to the sixth embodiment.
  • the first timing chart shown in FIG. 20A is a case where the switched capacitor circuit 200 according to Embodiment 1 is applied as an integrator.
  • FIG. 21A is a second timing chart of the control signal according to the sixth embodiment.
  • the first timing chart shown in FIG. 21A uses the switched capacitor circuit 200 according to the second embodiment, the switched capacitor circuit 300 according to the third embodiment, and the switched capacitor circuit 400 according to the fourth embodiment as an integrator. If applicable.
  • the reset signal 591 is set to High once before the integration operation is started, and then Low is maintained. By setting the reset signal 591 to High, the charge of the capacitor 253 is initialized to 0 [C] at the time of reset.
  • a storage capacitor unit can be configured as shown in FIG. 19B.
  • FIG. 19B is a configuration diagram of a storage capacitor unit according to a modification of the sixth embodiment.
  • the storage capacitor unit 205 shown in the figure connects the capacitor 253, a switch 254 a that connects one terminal of the capacitor 253 and the reference voltage source 598, and connects the other terminal of the capacitor 253 and the reference voltage source 599. And a switch 254b.
  • the switches 254a and 254b are short-circuited or opened by a reset signal 591 from the drive unit 209.
  • the activation timing of the reset signal 591 is the timing shown in the timing chart 511 in FIG. 20A or the timing chart 521 in FIG. 21A.
  • the voltage of the capacitor 253 is initialized to a constant voltage defined by the reference voltage sources 598 and 599 at the time of reset by the configuration of the storage capacitor unit 205 and the start timing of the reset signal 591.
  • the storage capacitor unit can be configured as shown in FIG. 19A.
  • the activation timing of the reset signal 591 is the timing shown in the timing chart 512 of FIG. 20B or the timing of FIG. 21B. The timing shown in the chart 522 is obtained.
  • FIG. 20B is a first timing chart of the control signal according to the seventh embodiment.
  • the first timing chart shown in FIG. 20B is for the case where the switched capacitor circuit 200 according to Embodiment 1 is applied as a sample hold circuit.
  • FIG. 21B is a second timing chart of the control signal according to the seventh embodiment.
  • the first timing chart shown in FIG. 21B is a sample-and-hold circuit for the switched capacitor circuit 200 according to the second embodiment, the switched capacitor circuit 300 according to the third embodiment, and the switched capacitor circuit 400 according to the fourth embodiment. It is a thing when applying as.
  • a reset period is required at the time of initialization and between the CLS period and the sampling period.
  • the storage capacitor unit can be configured as shown in FIG. 19B.
  • the switches 254a and 254b are short-circuited or opened by a reset signal 591 from the drive unit 209.
  • the activation timing of the reset signal 591 is the timing shown in the timing chart 512 of FIG. 20B or the timing chart 522 of FIG. 21B.
  • the voltage of the capacitor 253 is initialized to a constant voltage defined by the reference voltage sources 598 and 599 at the time of reset by the configuration of the storage capacitor unit 205 and the start timing of the reset signal 591.
  • FIG. 22 is a block configuration diagram of a ⁇ modulator including the integrator according to the present disclosure.
  • the integrator according to the sixth embodiment and its modification can be applied to the ⁇ modulator 600 shown in FIG.
  • the configuration of the ⁇ modulator disclosed in FIG. 22 is described in, for example, Non-Patent Document 3 (MAP Pertijs, et al., “A CMOS Smart Temperature Sensor Witha 3 ⁇ Internal of ⁇ 0.1 ° C. From ⁇ 55.
  • the integrator of the ⁇ modulator described in “° C. to 125 ° C.”, IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 40, no. 12, pp. 2805-2815, Dec. 2005.) It has been replaced with.
  • the ⁇ modulator 600 includes an integrator 601 of the present disclosure and a clock synchronous comparator 602. Since the integrator 601 of the present disclosure can realize a high-speed and high-precision integration operation while maintaining a low current consumption, the ⁇ modulator 600 as a whole can be highly accurate.
  • a temperature sensor can be realized by using the ⁇ modulator 600 shown in FIG. 22 for the AD converter.
  • FIG. 23 is a block configuration diagram of a sensor circuit including the ⁇ modulator of the present disclosure.
  • the temperature sensor circuit disclosed in FIG. 23 is obtained by replacing the AD converter of the temperature sensor circuit proposed in Non-Patent Document 3 with the AD converter 700 of the present disclosure.
  • the temperature sensor circuit described in the figure includes an AD converter 700, a bias circuit 701, and a bipolar core 702.
  • the AD converter 700 includes a ⁇ modulator 600 of the present disclosure and a decimation filter 711.
  • the accuracy of the entire system is determined by the AD converter 700.
  • Embodiment 9 In this embodiment, an imaging element and a digital camera using the AD converter described in Embodiment 8 will be described.
  • the AD converter 700 shown in FIG. 23 can be applied to the image sensor.
  • FIG. 24 is a block configuration diagram of an image sensor including the AD converter according to the present disclosure.
  • the image sensor 720 shown in the figure includes AD converter arrays 721 and 722, a light receiving element array 723 in which a plurality of light receiving elements are arranged in a matrix, a controller 724, and a peripheral circuit 725.
  • AD converter arrays 721 and 722 are arranged above and below the light receiving element array 723.
  • AD converters are arranged in the order of thousands. As a result, the total power consumption of these AD converters is large, and it is difficult to increase the number of pixels due to problems of heat and battery life.
  • the current consumption can be reduced to the minimum necessary level. As a result, it is possible to increase the number of pixels, reduce heat generation, and extend battery life. Moreover, it can contribute to a reduction in area. As described above, by using the AD converter 700 incorporating the integrator using the switched capacitor circuit of the present disclosure, it is possible to realize a high-speed and high-accuracy imaging device while maintaining low current consumption.
  • the present disclosure may be realized as a digital camera such as a digital still camera or a digital video camera or a mobile phone including the imaging device 720.
  • the imaging element 720 is suitable for use as an imaging device in the imaging apparatus such as the digital still camera shown in FIG. 25A and the camera module for mobile devices such as a mobile phone.
  • FIG. 25B is a block configuration diagram of a digital camera including the imaging device of the present disclosure.
  • the digital camera 750 according to the present embodiment includes an optical system including a lens 790, an imaging device 760, a camera signal processing circuit 770, a system controller 780, and the like.
  • the lens 790 forms image light from the subject on the imaging surface of the imaging device 760.
  • the imaging device 760 outputs an image signal obtained by converting the image light imaged on the imaging surface by the lens 790 into an electrical signal in units of pixels.
  • the imaging element 720 according to the present embodiment is used as the imaging device 760.
  • the camera signal processing circuit 770 performs various signal processing on the image signal output from the imaging device 760.
  • the system controller 780 controls the imaging device 760 and the camera signal processing circuit 770.
  • the switched capacitor circuit and the driving method thereof according to the first to ninth embodiments and the modifications thereof, and the device using the switched capacitor circuit have been described.
  • the present invention is limited to this embodiment. It is not a thing.
  • each processing unit included in the AD converter and the imaging device according to the above-described embodiment is typically realized as a system LSI that is an integrated circuit. These may be individually made into one chip, or may be made into one chip so as to include a part or all of them.
  • circuits are not limited to LSI, and may be realized by a dedicated circuit or a general-purpose processor.
  • An FPGA Field Programmable Gate Array
  • reconfigurable processor that can reconfigure the connection and setting of circuit cells inside the LSI may be used.
  • division of functional blocks in the block diagram is an example, and a plurality of functional blocks can be realized as one functional block, a single functional block can be divided into a plurality of functions, or some functions can be transferred to other functional blocks. May be.
  • functions of a plurality of functional blocks having similar functions may be processed in parallel or time-division by a single hardware or software.
  • MOS transistors In the above description, an example using MOS transistors is shown, but other types of transistors may be used.
  • the circuit configuration shown in the circuit diagram is an example, and the present invention is not limited to the circuit configuration. That is, like the above circuit configuration, a circuit that can realize a characteristic function of the present invention is also included in the present invention.
  • the present invention includes a device in which a device such as a switching device (transistor), a resistor, or a capacitor is connected in series or in parallel to a certain device within a range in which a function similar to the above circuit configuration can be realized. It is.
  • the term “connected” in the above embodiment is not limited to the case where two terminals (nodes) are directly connected, and the two terminals ( Node) is connected through an element.

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Abstract

 スイッチトキャパシタ回路(200)は、第1端子と第2端子とを有し第1端子に入力電圧が印加されるように配置された容量(211)と、第2入力端子が第2端子と接続された反転増幅器(221)と、第3端子と第4端子と第5端子とを有し第5端子が出力端子(208)と接続された容量(231)と、第6端子と第7端子と第8端子とを有し第8端子が第3端子と接続され第6端子が第2出力端子と接続された容量(241)と、第2端子と出力端子(208)との間に直列接続された容量(251)と、反転増幅器(221)の短絡電圧値を有するオフセット電圧を第4端子及び第7端子に出力するオフセット補償部(206)とを備える。

Description

スイッチトキャパシタ回路及びその駆動方法
 本開示は、スイッチトキャパシタ回路及びその駆動方法に関し、特に、相関レベルシフト動作を行うスイッチトキャパシタ回路に関する。
 従来のスイッチトキャパシタ回路を用いた積分器及びサンプルホールド回路においては、スイッチトキャパシタ回路の反転アンプのゲインにより、それらの精度が決定される。しかしながら、一般に、高ゲインアンプには大きな消費電流や遅い動作速度に難点があるため、上記積分器及びサンプルホールド回路を、高ゲインアンプを用いて高精度化する場合には、消費電力や速度の課題がある。
 これに対して、高速動作を行う反転アンプとして、インバータをそのままアンプとして用いる手法が提案されている(非特許文献1)。インバータ型アンプは非線形動作時に大電流駆動を行うことができるため、高速反転アンプに適する。しかしながら、ゲインは高々30dB程度であり、積分器やサンプルホールド回路等に組み込んでも、それら単体では高精度を実現することは不可能である。
 これを解決するために、相関レベルシフト(Correlated Level Shifting:以下、CLSと記す)技術が提案されている(非特許文献2)。このCLS技術を、例えば、積分回路やサンプルホールド回路に適用する場合、蓄積容量に並列に接続された補償容量が充電された後に、当該補償容量がアンプ出力端子と積分容量との間に直列に接続し直される。これにより、出力電圧の「上げ底」(レベルシフト)が実現される。この場合、「上げ底」(レベルシフト)の底の部分に位置するアンプ出力端の電圧を自己フィードバック状態とほぼ等しくできる。このため、出力変動による入力換算オフセットが最小化され、低いゲインのアンプを用いているにもかかわらず、あたかも高いゲインのアンプを用いたに等しい高精度積分器を実現することができる。
 図26は、非特許文献2に開示された従来のスイッチトキャパシタ回路の構成図である。同図に開示されたスイッチトキャパシタ回路は、CLS技術を組み込んでおり、2倍増幅器として動作する。このスイッチトキャパシタ回路は、容量1001、1002及び1004と、演算増幅器1003と、スイッチ1005、1006、1007及び1008と、基準電圧源1009と、入力端子1010と、出力端子1011とで構成される。動作にあたっては、各スイッチのオンオフ制御により、サンプリング期間、転送期間、及びCLS期間に順番に遷移する。なお、スイッチトキャパシタ回路であるため、各期間は同一時刻で互いに重なり合ってはならない。以下、上記スイッチトキャパシタ回路の動作を、上記期間ごとに説明する。
 図27A、図27B及び図27Cは、それぞれ、非特許文献2に開示されたスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間、転送期間、及びCLS期間における接続関係を表す回路図である。
 まず、図27Aに示されるように、サンプリング期間では、スイッチ1005及び1006は入力端子1010と接続され、スイッチ1007は短絡され、スイッチ1008の一方により基準電圧源1009と容量1004とが接続され、他方により演算増幅器1003の出力端と出力端子1011とが接続される。このとき、入力端子1010の電圧をVin[V]、基準電圧源1009の基準電圧を0[V]とすると、容量1001には図中左側を正極としてC・Vin[C]の電荷が蓄積される。一方、容量1002には図中右側を正極としてC・Vin[C]の電荷が蓄積される。
 次に、図27Bに示されるように、転送期間では、スイッチ1005は基準電圧源1009と接続され、スイッチ1006は出力端子1011と接続され、スイッチ1007は開放され、スイッチ1008の接続関係は維持される。このとき、容量1001に蓄積された電荷は、全て容量1002に転送されようとする。つまり、容量1002の両端電圧は2Vin[V]になろうとする。また、容量1004も演算増幅器1003に駆動されて、その両端電圧は2Vin[V]になろうとする。
 しかしながら、演算増幅器1003のゲインが充分でない場合、演算増幅器1003の負入力端子の電圧(すなわち、システムの仮想接地電圧)が浮き上がってしまう。このため、容量1001の電荷は、完全には容量1002に転送されず、出力端子1011の電圧は正確に2Vin[V]とはならない。これは、演算増幅器1003の出力端電圧が約2Vin[V]となり、仮想接地電圧(=基準電圧源1009の電圧)から大きくずれてしまうため生じる。
 次に、図27Cに示されるように、CLS期間では、スイッチ1005、1006及び1007の接続関係は維持され、スイッチ1008の一方により演算増幅器1003の出力端と容量1004とが接続され、他方は開放される。このとき、演算増幅器1003の出力端と出力端子1011との間に容量1004が挿入される。容量1004には約2Vin[V]の両端電圧があるため、これが「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、約2Vin[V]であった演算増幅器1003の出力端の電圧は基準電圧源1009の電圧(=0V)とほぼ等しい電圧になる。これにより、演算増幅器1003の負入力端電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが大きく抑制されるので、容量1001の電荷はほぼ完全に容量1002に転送される。よって、結果的に、容量1002の両端電圧は、ほとんど2Vinと等しくなり、低いゲインの演算増幅器を用いているにもかかわらず、高精度な2倍増幅動作を達成できる。
Y.Chae,et al.,"A 2.1M Pixels,120 Frames/s CMOS Image Sensor With Column-Parallel ΔΣADC Architecture", IEEE J.Solid-State Circuits, vol.46,no.1,pp.236-247,Jan.2011. B.R.Gregoire,et al.,"An Over-60dB True Rail-to-Rail Performance Using Correlated Level Shifting and an Opamp With Only 30dB Loop Gain", IEEE J.Solid-State Circuits, vol.43,no.12,pp.2620-2630,Dec.2008.
 しかしながら、前述した非特許文献2に開示されたスイッチトキャパシタ回路では、差動型の演算増幅器を用いているため、回路動作の高速化、低消費電力化及び回路の小面積化ができないという課題を有する。
 そこで、本開示は、回路動作の高速化、低消費電力化及び小面積化が可能であり、かつ、高精度であるスイッチトキャパシタ回路及びその駆動方法を提供する。
 上記目的を達成するために、本開示の一形態に係るスイッチトキャパシタ回路は、入力電圧が入力される第1入力端子と、出力電圧が出力される第1出力端子と、第1端子と第2端子とを有し、前記第1端子に前記入力電圧が印加されるように配置されたサンプリング容量と、第2入力端子と第2出力端子とを有し、前記第2入力端子が前記第2端子と接続された反転増幅器と、一方の容量電極である第5端子と、他方の容量電極である第4端子と、前記第5端子及び前記第4端子のいずれかへの接続切替が可能な第3端子とを有し、前記第5端子が前記第1出力端子と接続された第1レベルシフト容量と、一方の容量電極である第8端子と、他方の容量電極である第7端子と、前記第8端子及び前記第7端子のいずれかへの接続切替が可能な第6端子とを有し、前記第8端子が前記第3端子と接続され、前記第6端子が前記第2出力端子と接続された第2レベルシフト容量と、第9端子と第10端子とを有し、前記第9端子が前記第2端子と接続され、前記第10端子が前記第1出力端子と接続された蓄積容量と、第11端子を有し、前記第11端子と前記第4端子及び前記第7端子との短絡及び開放の切替が可能であり、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが短絡された場合の前記反転増幅器の短絡電圧と同じ電圧値のオフセット電圧を前記第11端子から出力するオフセット補償回路とを備える。 
 本開示に係るスイッチトキャパシタ回路及びその駆動方法によれば、差動型の演算増幅器でなく、シングルエンド型の反転増幅器を用いていることから、高速動作、低消費電力及び小面積を実現でき、かつ、出力電圧にオフセット電圧が印加されない高精度な積分動作及びサンプルホールド動作が可能となる。
図1は、2倍増幅器を有するスイッチトキャパシタを適用した積分器の一例を示す回路構成図である。 図2Aは、2倍増幅器を有するスイッチトキャパシタを適用した積分器のサンプリング期間における接続関係を表す回路図である。 図2Bは、2倍増幅器を有するスイッチトキャパシタを適用した積分器の転送期間における接続関係を表す回路図である。 図2Cは、2倍増幅器を有するスイッチトキャパシタを適用した積分器のCLS期間における接続関係を表す回路図である。 図3は、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路の機能ブロック図である。 図4は、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路の回路構成図である。 図5Aは、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間における接続関係を表す回路図である。 図5Bは、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路の転送期間における接続関係を表す回路図である。 図5Cは、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路のCLS期間における接続関係を表す回路図である。 図5Dは、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路の転送期間からCLS期間への過渡状態における電流パスの等価回路図である。 図6Aは、実施の形態2に係るスイッチトキャパシタ回路の第1CLS期間における接続関係を表す回路図である。 図6Bは、実施の形態2に係るスイッチトキャパシタ回路の第2CLS期間における接続関係を表す回路図である。 図7は、比較例に係るスイッチトキャパシタ回路の機能ブロック図である。 図8は、比較例に係るスイッチトキャパシタ回路の回路構成図である。 図9Aは、比較例に係るスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間における接続関係を表す回路図である。 図9Bは、比較例に係るスイッチトキャパシタ回路の転送期間における接続関係を表す回路図である。 図9Cは、比較例に係るスイッチトキャパシタ回路のCLS期間における接続関係を表す回路図である。 図10Aは、実施の形態1及び2に係るCLS技術を用いたスイッチトキャパシタ回路の積分特性を比較したグラフである。 図10Bは、実施の形態1及び2に係るCLS技術を用いたスイッチトキャパシタ回路の1積分あたりの出力電圧を比較したグラフである。 図11は、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路の機能ブロック図である。 図12は、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路の回路構成図である。 図13Aは、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間における接続関係を表す回路図である。 図13Bは、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路の転送期間における接続関係を表す回路図である。 図13Cは、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路の第1CLS期間における接続関係を表す回路図である。 図13Dは、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路の第2CLS期間における接続関係を表す回路図である。 図14は、実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路の機能ブロック図である。 図15は、実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路の回路構成図である。 図16Aは、実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間における接続関係を表す回路図である。 図16Bは、実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路の転送期間における接続関係を表す回路図である。 図16Cは、実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路の第1CLS期間における接続関係を表す回路図である。 図16Dは、実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路の第2CLS期間における接続関係を表す回路図である。 図17は、実施の形態5に係る反転増幅部の回路構成図である。 図18は、実施の形態5の変形例に係る反転増幅部の回路構成図である。 図19Aは、実施の形態6及び実施の形態7に係る蓄積容量部の構成図である。 図19Bは、実施の形態6の変形例及び実施の形態7の変形例に係る蓄積容量部の構成図である。 図20Aは、実施の形態6に係る制御信号の第1のタイミングチャートである。 図20Bは、実施の形態7に係る制御信号の第1のタイミングチャートである。 図21Aは、実施の形態6に係る制御信号の第2のタイミングチャートである。 図21Bは、実施の形態7に係る制御信号の第2のタイミングチャートである。 図22は、本開示の積分器を備えるΔΣ変調器のブロック構成図である。 図23は、本開示のΔΣ変調器を備えるセンサ回路のブロック構成図である。 図24は、本開示のAD変換器を備える撮像素子のブロック構成図である。 図25Aは、デジタルスチルカメラの一例を示す外観図である。 図25Bは、本開示の撮像素子を備えるデジタルカメラのブロック構成図である。 図26は、非特許文献2に開示された従来のスイッチトキャパシタ回路の構成図である。 図27Aは、非特許文献2に開示された従来のスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間における接続関係を表す回路図である。 図27Bは、非特許文献2に開示された従来のスイッチトキャパシタ回路の転送期間における接続関係を表す回路図である。 図27Cは、非特許文献2に開示された従来のスイッチトキャパシタ回路のCLS期間における接続関係を表す回路図である。
 (発明の基礎となった知見)
 本発明者は、以下の課題を見出した。
 非特許文献2に開示された従来のスイッチトキャパシタ回路では、2倍増幅の例のみが開示されている。そこで、まず、上記従来技術を積分回路に一般化した上で、本発明にて解決する課題を説明する。
 図1は、2倍増幅器を有するスイッチトキャパシタを適用した積分器の一例を示す回路構成図である。同図に示された積分器100は、容量101、102及び104と、演算増幅器103と、スイッチ105、106、107、108及び109と、基準電圧源110と、入力端子111と、出力端子112とで構成される。積分器100の動作においては、各スイッチのオンオフ制御により、サンプリング期間、転送期間及びCLS期間に順番に遷移する。なお、スイッチトキャパシタ回路を基本動作とするため、各期間は同一時刻で互いに重なり合ってはならない。以下、上記積分器100の動作を、上記期間ごとに説明する。
 図2A、図2B及び図2Cは、それぞれ、2倍増幅器を有するスイッチトキャパシタを適用した積分器のサンプリング期間、転送期間、及びCLS期間における接続関係を表す回路図である。
 まず、図2Aに示されるように、サンプリング期間では、スイッチ105及び109は短絡、スイッチ106及び108は開放、スイッチ107の一方により基準電圧源110と容量104とが接続され、スイッチ107の他方により演算増幅器103の出力端と出力端子112とが接続される。このとき、入力端子111の電圧をVin[V]、基準電圧源110の基準電圧を0Vとすると、容量101には図中左側を正極としてCs・Vin[C]の電荷が蓄積される。一方、容量102は、過去の状態を保持している。ここでは、説明を簡単にするため、容量102の初期電荷を0[C]とする。
 次に、図2Bに示されるように、転送期間では、スイッチ105及び109は開放、スイッチ106及び108は短絡、スイッチ107は接続を維持する。このとき、容量101に蓄積された電荷は、全て容量102に転送されようとする。つまり、容量102の両端電圧は、Cs・Vin/Ci[V]になろうとする。また、容量104も演算増幅器103に駆動され、その両端電圧はCs・Vin/Ci[V]になろうとする。
 しかしながら、演算増幅器103のゲインが充分でない場合、演算増幅器103の負入力端子の電圧(すなわち、システムの仮想接地電圧)が浮き上がってしまう。このため、容量101の電荷は、完全には容量102に転送されず、出力端子112の電圧は、正確にCs・Vin/Ci[V]とはならない。これは、演算増幅器103の出力端の電圧が約Cs・Vin/Ci[V]となり、演算増幅器103の負入力端子の電圧が基準電圧源110の電圧から大きくずれてしまうため生じる。
 次に、図2Cに示されるように、CLS期間では、スイッチ105及び109は開放を維持、スイッチ106及び108は短絡を維持、スイッチ107の一方により演算増幅器103の出力端と容量104とが接続され、スイッチ107の他方は開放される。このとき、演算増幅器103の出力端と出力端子112との間に容量104が挿入される。容量104には約Cs・Vin/Ci[V]の両端電圧があるため、これが「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、約Cs・Vin/Ci[V]であった演算増幅器103の出力端の電圧は基準電圧源110の基準電圧(=0V)とほぼ等しい電圧になる。これにより、演算増幅器103の負入力端電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが大きく抑制されるので、容量101の電荷は、ほぼ完全に容量102に転送される。よって、結果的に、容量102の両端電圧は、ほとんどCs・Vin/Ci[V]と等しくなり、低いゲインの演算増幅器を用いているにもかかわらず、高精度な電荷転送を達成できる。
 以降、上記サンプリング期間から上記CLS期間を繰り返すことで、低いゲインの演算増幅器を用いているにもかかわらず、高精度な積分動作を達成できる。
 しかしながら、図1に示された積分器100では、差動型の演算増幅器103が用いられているため、高速動作、低消費電力及び小面積という観点からは十分でない。やはり、シングルエンド型の反転増幅器を用いる方が上記観点では優れている。
 そこで、本開示は、上記課題を解決するものであり、高速動作、低消費電力、小面積が可能であり、かつ、高精度であるスイッチトキャパシタ回路及びその駆動方法、さらには、当該スイッチトキャパシタ回路を適用した積分器を提供することを目的とする。
 上記目的を達成するために、本開示の一形態に係るスイッチトキャパシタ回路は、入力電圧が入力される第1入力端子と、出力電圧が出力される第1出力端子と、第1端子と第2端子とを有し、前記第1端子に前記入力電圧が印加されるように配置されたサンプリング容量と、第2入力端子と第2出力端子とを有し、前記第2入力端子が前記第2端子と接続された反転増幅器と、一方の容量電極である第5端子と、他方の容量電極である第4端子と、前記第5端子及び前記第4端子のいずれかへの接続切替が可能な第3端子とを有し、前記第5端子が前記第1出力端子と接続された第1レベルシフト容量と、一方の容量電極である第8端子と、他方の容量電極である第7端子と、前記第8端子及び前記第7端子のいずれかへの接続切替が可能な第6端子とを有し、前記第8端子が前記第3端子と接続され、前記第6端子が前記第2出力端子と接続された第2レベルシフト容量と、第9端子と第10端子とを有し、前記第9端子が前記第2端子と接続され、前記第10端子が前記第1出力端子と接続された蓄積容量と、第11端子を有し、前記第11端子と前記第4端子及び前記第7端子との短絡及び開放の切替が可能であり、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが短絡された場合の前記反転増幅器の短絡電圧と同じ電圧値のオフセット電圧を前記第11端子から出力するオフセット補償回路とを備える。
 この構成によれば、差動型の演算増幅器でなく、シングルエンド型の反転増幅器を用いていることから、高速動作、低消費電力及び小面積を実現しつつ、出力電圧にオフセット電圧が印加されない高精度なスイッチトキャパシタ回路を実現できる。
 また、サンプリング期間において、前記反転増幅器は、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが短絡されて前記短絡電圧を生成し、前記サンプリング容量は、前記入力電圧と前記短絡電圧との電位差をサンプリングし、前記サンプリング容量に蓄積された電荷が転送される転送期間において、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが開放されることにより前記電荷が前記蓄積容量に転送され、前記第3端子と前記第5端子とが短絡され前記第6端子と前記第8端子とが短絡されることにより、前記第1レベルシフト容量と前記第2レベルシフト容量とは、それぞれ、前記第11端子と前記第1出力端子との間の電位差をサンプリングする。
 また、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトするレベルシフト期間において、前記第3端子と前記第5端子とが開放され、前記第6端子と前記第8端子とが開放され、前記第1レベルシフト容量が前記第3端子及び前記第4端子と前記第5端子との間に電気的に直列挿入され、前記第2レベルシフト容量が前記第6端子及び前記第7端子と前記第8端子との間に電気的に直列挿入されることにより、前記第1レベルシフト容量と前記第2レベルシフト容量とは、前記第1出力端子と前記第2出力端子との間に直列容量を構成する。
 上記構成によれば、レベルシフト期間において、第1出力端子と第2出力端子との間に、第1レベルシフト容量と第2レベルシフト容量とが電気的に直列挿入される。このとき、回路全体が新たな平衡状態に向かう過程で、反転増幅器の第2出力端子の電圧レベルは必ず仮想接地電圧を跨ぐ。この現象を利用して、蓄積容量、第1レベルシフト容量及び第2レベルシフト容量を調整することにより、反転増幅器の第2入力端子電圧と第2出力端子電圧とが仮想接地電圧と等しくなるポイントで平衡状態を作ることが可能となる。これにより、システムの仮想接地電圧の浮き上がりが大きく抑制されるので、サンプリング11の電荷は、ほぼ完全に蓄積容量に転送される。よって、低いゲインの反転増幅器を用いた場合でも、高精度な電荷転送を達成できる。
 また、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトするレベルシフト期間は、第1レベルシフト期間と第2レベルシフト期間とに分割され、前記第1レベルシフト期間において、前記第3端子と前記第5端子とが開放され、前記第1レベルシフト容量が前記第3端子及び前記第4端子と前記第5端子との間に電気的に直列挿入され、前記第2レベルシフト期間において、前記第6端子と前記第8端子とが開放され、前記第2レベルシフト容量が前記第6端子及び前記第7端子と前記第8端子との間に電気的に直列挿入される。
 これにより、第1レベルシフト期間では、第1レベルシフト容量に保持されている電圧が「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、反転増幅器の第2出力端子の電圧が第2レベルシフト容量の両端電圧とほぼ等しい電圧になる。これにより、反転増幅器の第2入力端子の電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが抑制される。さらに、第2レベルシフト期間では、第2レベルシフト容量に保持されている電圧が「上げ底効果」となり、反転増幅器の第2出力端子の電圧が、第2レベルシフト容量の両端電圧よりもさらに小さい電圧となる。よって、反転増幅器の第2入力端子の電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが抑制される。よって、低いゲインの反転増幅器を用いた場合でも、高精度な電荷転送を達成できる。
 また、本開示の一形態に係るスイッチトキャパシタ回路は、入力電圧が入力される第1入力端子と、出力電圧が出力される第1出力端子と、第1端子と第2端子とを有し、前記第1端子に前記入力電圧が印加されるように配置されたサンプリング容量と、第3端子と第4端子とを有し、前記第3端子が前記第2端子と接続された第1クランプ容量と、第2入力端子と第2出力端子とを有し、前記第2入力端子が前記第4端子と接続された反転増幅器と、第5端子と第6端子とを有し、前記第5端子が前記第2出力端子と接続された第2クランプ容量と、一方の容量電極である第7端子と、前記第7端子及び他方の電極のいずれかへの接続切替が可能な第8端子とを有し、前記第7端子が前記第1出力端子と接続された第1レベルシフト容量と、一方の容量電極である第9端子と、前記第9端子及び他方の電極のいずれかへの接続切替が可能な第10端子とを有し、前記第9端子が前記第8端子と接続され、前記第10端子が前記第6端子との接続及び開放の切替が可能な第2レベルシフト容量と、第11端子と第12端子とを有し、前記第11端子が前記第2端子と接続され、前記第12端子が前記第1出力端子と接続された蓄積容量とを備える。
 この構成によれば、差動型の演算増幅器でなく、1つのシングルエンド型の反転増幅器を用いていることから、高速動作、低消費電力及び小面積を実現しつつ、出力電圧にオフセット電圧が印加されない高精度なスイッチトキャパシタ回路を実現できる。
 また、サンプリング期間において、前記反転増幅器は、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが短絡されて前記短絡電圧を生成し、前記第1クランプ容量と前記第2クランプ容量とは、前記短絡電圧と基準電圧との電位差をサンプリングし、前記サンプリング容量に蓄積された電荷が転送される転送期間において、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが開放されることにより前記電荷が前記蓄積容量に転送され、前記第1クランプ容量は、前記第2端子と前記第2入力端子との間に電気的に直列挿入され、前記第2クランプ容量は、前記第5端子または前記第6端子が開放され、前記第7端子と前記第8端子とが短絡され前記第9端子と前記第10端子とが短絡されることにより、前記第1レベルシフト容量は、前記基準電圧と前記第1出力端子との間の電位差をサンプリングし、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第1レベルシフト期間において、前記第2クランプ容量が前記第2出力端子と前記第10端子の間に電気的に直列挿入され、前記第7端子と前記第8端子とが開放され、前記第1レベルシフト容量が前記第8端子と前記第1出力端子との間に電気的に直列挿入されると同時に、前記第2レベルシフト容量が前記第9端子と前記基準電圧との間の電位差をサンプリングし、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第2レベルシフト期間において、前記第9端子と前記第10端子が開放され、前記第2レベルシフト容量が前記第9端子と前記第6端子との間に電気的に直列挿入される。
 これにより、第1レベルシフト期間では、第1レベルシフト容量に保持されている電圧が「上げ底効果」となり、反転増幅器の第2出力端子の電圧が第2レベルシフト容量の両端電圧とほぼ等しい電圧になる。これにより、反転増幅器の第2入力端子の電圧の浮き上がりが抑制される。さらに、第2レベルシフト期間では、第2レベルシフト容量に保持されている電圧が「上げ底効果」となり、反転増幅器の第2出力端子の電圧が、第2レベルシフト容量の両端電圧よりもさらに小さい電圧となる。よって、反転増幅器の第2入力端子の電圧の浮き上がりが抑制される。よって、低いゲインの反転増幅器を用いた場合でも、高精度な電荷転送を達成できる。
 また、さらに、第13端子と第14端子とを有し、前記第13端子が前記第2出力端子と接続され、前記第14端子が前記第6端子及び前記第10端子との接続及び開放の切替が可能な第3クランプ容量を備える。
 また、サンプリング期間において、前記反転増幅器は、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが短絡されて前記短絡電圧を生成し、前記第1クランプ容量と前記第2クランプ容量と前記第3クランプ容量とは、前記短絡電圧と基準電圧との電位差をサンプリングし、前記サンプリング容量に蓄積された電荷が転送される転送期間において、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが開放されることにより前記電荷が前記蓄積容量に転送され、前記第1クランプ容量は、前記第2端子と前記第2入力端子との間に電気的に直列挿入され、前記第2クランプ容量は、前記第5端子または前記第6端子が開放され、前記第3クランプ容量は、前記第13端子または前記第14端子が開放され、前記第7端子と前記第8端子とが短絡され前記第9端子と前記第10端子とが短絡されることにより、前記第1レベルシフト容量は、前記基準電圧と前記第1出力端子との間の電位差をサンプリングし、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第1レベルシフト期間において、前記第2クランプ容量が前記第2出力端子と前記第10端子との間に電気的に直列挿入され、前記第7端子と前記第8端子とが開放され、前記第1レベルシフト容量が前記第8端子と前記第1出力端子の間に電気的に直列挿入されると同時に、前記第2レベルシフト容量が前記第9端子と前記基準電圧との間の電位差をサンプリングし、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第2レベルシフト期間において、前記第2クランプ容量は、前記第5端子または前記第6端子が開放され、前記第3クランプ容量が前記第2出力端子と前記第10端子との間に電気的に直列挿入され、前記第7端子と前記第8端子とが開放され、前記第2レベルシフト容量が前記第9端子と前記第6端子の間に電気的に直列挿入される。
 第2レベルシフト期間では、反転増幅器の出力電圧のクランプ動作については、第1レベルシフト期間にて蓄積電荷が変動した第2のクランプ容量に替わり、電荷変動の無い第3のクランプ容量に機能させる。これにより、第2レベルシフト期間において第2のクランプ容量を機能させた構成と比較して、反転増幅器の第2入力端子の電圧がより小さくなる。よって、低いゲインの反転増幅器を用いた場合でも、より高精度な電荷転送を達成できる。
 また、前記反転増幅器は、インバータ回路を含む。
 これにより、反転増幅器を、低ゲインではあるが1入力1出力型の素子により構成できるので、回路の高速動作、低消費電力及び小面積が可能となる。
 また、前記インバータ回路は、スイッチトカレント型のバイアス回路を備える。
 これにより、反転増幅器の電流のばらつきを抑制することが可能となる。
 また、前記インバータ回路は、ダイナミック電流型回路である。
 これにより、反転増幅器に流れ込む電流を、時間によって増減させることができ、セトリング初期の大電流が必要な期間であるサンプリング期間の初期及び転送期間でのみ、大電流を印加し、それ以後は徐々に電流を少なくするというインバータ動作をすることが可能となる。よって、セトリング速度を維持しつつ消費電力を低減することが可能となる。
 また、本発明は、このようなスイッチトキャパシタ回路を備える各種機器として実現できる。例えば、本発明は、上記スイッチトキャパシタ回路を備える積分器、サンプルホールド回路、センサ回路、アナログデジタル変換器、当該アナログデジタル変換器を備える撮像素子、及び、当該撮像素子を備えるデジタルカメラとして実現できる。
 さらに、本発明は、このようなスイッチトキャパシタ回路として実現できるだけでなく、スイッチトキャパシタ回路に含まれる特徴的な手段をステップとするスイッチトキャパシタ回路の駆動方法として実現できる。
 以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して詳しく説明する。なお、図中の同一又は相当部分には同一の符号を付しその説明は繰り返さない。
 なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも本発明の一具体例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。本発明は、請求の範囲によって特定される。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、本発明の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、本発明の課題を達成するのに必ずしも必要ではないが、より好ましい形態を構成するものとして説明される。
 (実施の形態1)
 図3は、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路の機能ブロック図である。同図に記載されたスイッチトキャパシタ回路200は、サンプリング容量部201と、反転増幅部202と、第1のCLS部203と、第2のCLS部204と、蓄積容量部205と、オフセット補償部206と、入力端子207と、出力端子208と、駆動部209とを備える。スイッチトキャパシタ回路200の動作は、駆動部209が各部を制御することにより、サンプリング期間、転送期間及びCLS期間に順番に遷移する。なお、スイッチトキャパシタ回路200は、各期間が同一時刻で互いに重なり合ってはならない。
 サンプリング容量部201は入力端及び出力端を有し、サンプリング期間では、入力端が入力端子207と接続され、入力端子207に印加される入力電圧と第1の基準電圧との電位差をサンプリングする。また、サンプリング容量部201は、転送期間及びCLS期間では、入力端が入力端子207と非接続となり、基準電圧源214と接続され、第1の基準電圧が印加される。
 反転増幅部202は入力端及び出力端を有し、サンプリング期間では、入力端と出力端とが短絡され、転送期間及びCLS期間では、当該短絡が解放される。
 オフセット補償部206は、入力端と出力端とが短絡され、サンプリング期間及び転送期間では、当該短絡電圧が第1のCLS部203及び第2のCLS部204に印加される。
 第1のCLS部203は入力端及び出力端を有し、サンプリング期間及び転送期間では、オフセット補償部206の短絡電圧と反転増幅部202の出力端の電圧との電位差をサンプリングする。また、CLS期間では、上記電位差を保持した容量が、第2のCLS部204の出力端と出力端子208との間に挿入される。
 第2のCLS部204は入力端及び出力端を有し、サンプリング期間及び転送期間では、オフセット補償部206の短絡電圧と反転増幅部202の出力端の電圧との電位差をサンプリングする。また、CLS期間では、上記電位差を保持した容量が、反転増幅部202の出力端と第1のCLS部203の入力端との間に挿入される。
 また、サンプリング期間では、蓄積容量部205を含んだ、サンプリング容量部201の出力端から出力端子208に至る経路が開放され、転送期間およびCLS期間では、当該経路が接続される。
 駆動部209は、上述した各端子間の接続及び開放、ならびに、容量の挿入を制御する。
 図4は、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路の回路構成図である。同図に示されたスイッチトキャパシタ回路200は、図3に示されたスイッチトキャパシタ回路200を構成する各部(駆動部209を除く)の回路構成を例示したものである。ここで、入力端子207は第1入力端子であり、出力端子208は第1出力端子である。
 サンプリング容量部201は、容量211と、入力端子207及び容量211の第1電極を接続または開放するスイッチ212と、容量211の第1電極及び基準電圧源214を接続または開放するスイッチ213とで構成される。なお、基準電圧源214は、基準電圧が設定されており、本実施の形態では、基準電圧は0Vである。容量211は、第1端子と第2端子とを有し、第1端子に入力電圧が印加されるように配置されたサンプリング容量である。
 反転増幅部202は、シングルエンド型の反転増幅器221と、反転増幅器221の入力端及び出力端を接続または開放するスイッチ222とで構成される。反転増幅器221は、第2入力端子と第2出力端子とを有し、第2入力端子が第2端子と接続された反転増幅器である。
 第1のCLS部203は、容量231と、容量231の第1電極と第2のCLS部204の出力端とを接続または開放するスイッチ232と、容量231の第1電極とオフセット補償部206の出力端とを接続または開放するスイッチ233と、第1のCLS部203の入力端と出力端とを接続または開放するスイッチ234とで構成される。第1のCLS部203は、第2電極である第5端子と、第1電極である第4端子と、第5端子及び第4端子のいずれかへの接続切替が可能な第3端子とを有し、第5端子が第1出力端子と接続された第1レベルシフト容量である。
 第2のCLS部204は、容量241と、容量241の第2電極と反転増幅器221の出力端とを接続または開放するスイッチ242と、容量241の第1電極とオフセット補償部206の出力端とを接続または開放するスイッチ243と、容量241の第1電極と反転増幅器221の出力端とを接続または開放するスイッチ244とで構成される。第2のCLS部204は、第2電極である第8端子と、第1電極である第7端子と、第8端子及び第7端子のいずれかへの接続切替が可能な第6端子とを有し、第8端子が第3端子と接続され、第6端子が第2出力端子と接続された第2レベルシフト容量である。容量231と容量241との直列接続が反転増幅器221の出力端と出力端子208との間の電気経路上に配置されたときに、第2出力端子の電圧レベルをシフトする。
 蓄積容量部205は、容量251と、容量251の第1電極及び反転増幅器221の入力端を接続または開放するスイッチ252とで構成される。蓄積容量部205は、第9端子と第10端子とを有し、第9端子が第2端子に接続されるよう、かつ、第10端子が第1出力端子に接続されるように配置された蓄積容量である。
 オフセット補償部206は、反転増幅器221と同様の自己フィードバック電圧を出力する反転増幅器261で構成される。具体的には、入力端と出力端とが短絡接続されることにより自己フィードバック電圧を出力する。オフセット補償部206は、第11端子を有し、当該第11端子と第4端子及び第7端子との短絡及び開放の切替が可能であり、第2入力端子と第2出力端子とが短絡された場合の反転増幅器221の短絡電圧と同じ電圧値のオフセット電圧を第11端子から出力するオフセット補償回路である。
 また、図3に示された駆動部209は、図4の回路構成としては図示していないが、各部のスイッチ212、213、222、232-234、242-244、及び252の動作を制御する。
 スイッチトキャパシタ回路200の動作においては、各スイッチのオンオフ制御により、サンプリング期間、転送期間及びCLS期間に順番に遷移する。なお、スイッチトキャパシタ回路であるため、各期間は同一時刻で互いに重なり合ってはならない。以下、上記スイッチトキャパシタ回路200の動作を、上記期間ごとに説明する。なお、反転増幅器261は、反転増幅器221のレプリカであり、入力端と出力端とが短絡され、その短絡電圧Vx[V]は、容量231及び容量241のバイアス電圧となる。また、短絡電圧Vx[V]は、反転増幅器221の仮想接地電圧でもあるため、出力端子208の電圧は、Vx[V]のオフセットが付加された電圧となる。以下、上記スイッチトキャパシタ回路200の動作を、上記期間ごとに説明する。
 図5A、図5B及び図5Cは、それぞれ、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間、転送期間、及びCLS期間における接続関係を表す回路図である。
 まず、図5Aに示されるように、サンプリング期間では、スイッチ212、222、233、234、242及び243は短絡され、スイッチ213、232、244及び252は開放される。
 このとき、反転増幅器221は入力端と出力端とが短絡されており、その短絡電圧は仮想接地電圧Vx[V]に等しい。このとき、入力端子207の電圧をVin[V]とすると、容量211には左側をプラスとしてCs(Vin-Vx)[C]の電荷が蓄積される。なお、容量211の静電容量値をCsとしている。一方、容量251の電荷は過去の状態が保持されている。ここでは、説明を簡単にするために容量251の初期電荷を0[C]とする。なお、このとき、スイッチ233、234、242及び243は、短絡及び開放のいずれでも良いが、容量231及び241の初期化を確実に実施する観点から、短絡する方がより好ましい。
 次に、図5Bに示されるように、転送期間では、スイッチ212、222、232及び244は開放され、スイッチ213、233、234、242、243及び252は短絡される。
 このとき、基準電圧源214の電圧を0[V]とすると、反転増幅器221によって、容量211からCsVin[C]に相当する電荷が容量251に転送されようとする。ここで、反転増幅器221のゲインをAとし、反転増幅器221の出力電圧の仮想接地電圧からの変動電圧をΔVとすると、反転増幅器221の入力端電圧は-ΔV/Aとなる。従って、容量251の両端電位差は、第2電極(右側)を正としてΔV+ΔV/Aとなり、容量231及び241の両端電位差は、各々第2電極(右側)を正としてΔVとなる。
 次に、図5Cに示されるように、CLS期間では、スイッチ212、222、233、234、242及び243は開放され、スイッチ213、232、244及び252は短絡される。この接続関係となった瞬間には反転増幅器221は応答できないため、反転増幅器221の出力電圧は瞬間的に-ΔVにシフトする。したがって、反転増幅器221の入力電圧は、新たな仮想接地電圧+ΔV/Aに近づくように状態遷移を始める。このとき、図5Cに示した電流パスの向きに流れる電流は、容量251の両端電圧を増加させ、容量231及び241の両端電圧を減少させる。
 このことは重要なことを示唆している。すなわち、回路全体が新たな平衡状態に向かう過程で必ず仮想接地電圧を跨ぐため、容量251、231及び241を上手く調整することで、ちょうど反転増幅器221の入力端電圧と出力端電圧とが仮想接地電圧と等しくなるポイントで平衡状態を作ることができることを示している。
 図5Dは、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路の転送期間からCLS期間への過渡状態における電流パスの等価回路図である。なお、説明を容易にするため、同図には必要最小限の回路素子のみが表されている。
 反転増幅器221の入力端が仮想接地電圧と等しいとき(すなわち、仮想接地電圧との誤差が0のとき)、容量251の両端電圧は、第2電極(右側)を正として、ΔV+ΔV/A+CsΔV/(ACi)の両端電圧が保持される。ここで、容量211の静電容量値をCsとし、容量251の静電容量値をCiとする。
 また、容量231には、第2電極(上側)を正としてΔV-CsΔV/(ACls)、容量241には、第2電極(上側)を正としてΔV-CsΔV/(ACls)の両端電圧がそれぞれ保持される。ここで、容量231の静電容量値をClsとし、容量241の静電容量値をClsとする。このとき、反転増幅器221の出力電圧の仮想接地電圧からの誤差も0となる条件は、容量251の電圧と、容量231の電圧及び容量241の電圧の和とが等しいことであるから以下の式1のように表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
    
 上記式1を展開してまとめると、以下の式2のように表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 以上のように、反転増幅器221の出力端の電圧レベルをΔVから-ΔVへシフトさせるCLS期間では、駆動部209は、出力端子208と反転増幅器221の出力端との間に、容量231と容量241とを電気的に直列挿入する。このとき、回路全体が新たな平衡状態に向かう過程で、反転増幅器221の出力端の電圧レベルは必ず仮想接地電圧を跨ぐ。これに着目して、容量251、231及び241を上記式2の条件となるよう調整することにより、反転増幅器221の入力端電圧と出力端電圧とが仮想接地電圧Vx[V]と等しくなるポイントで平衡状態を作ることが可能となる。これにより、システムの仮想接地電圧の浮き上がりが大きく抑制されるので、容量211の電荷は、ほぼ完全に容量251に転送される。よって、結果的に、容量251の両端電圧は、ほとんどCs・Vin/Ci[V]と等しくなり、低いゲインの反転増幅器を用いているにもかかわらず、高精度な電荷転送を達成できる。
 上記構成によれば、差動型の演算増幅器でなく、1個のシングルエンド型の反転増幅器を用いていることから、高速動作、低消費電力及び小面積を実現しつつ、出力電圧にオフセット電圧が印加されない高精度なスイッチトキャパシタ回路を実現できる。
 なお、本実施の形態において、駆動部209は、図4に示されたスイッチトキャパシタ回路200が有する各部に対して各期間で同期的に制御信号を供給することにより、サンプリング期間、転送期間及びCLS期間に遷移するとしたが、この制御方式に限られない。例えば、各部が備えるスイッチのオンオフの切り換えタイミングを受けて、または、当該タイミングに連動してその他のスイッチが非同期的かつ自律的に切り換え動作を実行してもよい。
 (実施の形態2)
 本実施の形態では、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路200の回路構成を用い、実施の形態1と異なる制御方法により、高精度な電荷転送を達成するものである。つまり、スイッチトキャパシタ回路200における駆動部209が実行する各スイッチの開閉タイミングが、実施の形態1と比較して異なる。本実施の形態における駆動部209の動作にあたっては、サンプリング期間、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間を有する。なお、実施の形態1と同様、各期間は同一時刻で互いに重なり合ってはならない。
 まず、サンプリング期間では、実施の形態1におけるサンプリング期間と同様の動作が実行される。すなわち、図5Aに示されるように、スイッチ212、222、233、234、242及び243は短絡され、スイッチ213、232、244及び252は開放される。
 このとき、反転増幅器221は入力端と出力端とが短絡されており、その短絡電圧は仮想接地電圧Vx[V]に等しい。このとき、容量211には左側をプラスとしてCs(Vin-Vx)[C]の電荷が蓄積される。一方、容量251の電荷は過去の状態が保持されている。ここでは、説明を簡単にするために容量251の初期電荷を0[C]とする。なお、このとき、スイッチ233、234、242及び243は、容量231及び241の初期化を確実に実施する観点から、短絡されている。
 次に、転送期間では、実施の形態1における転送期間と同様の動作が実行される。すなわち、図5Bに示されるように、スイッチ212、222、232及び244は開放され、スイッチ213、233、234、242、243及び252は短絡される。
 このとき、反転増幅器221によって、容量211からCsVin[C]に相当する電荷が容量251に転送されようとする。ここで、反転増幅器221のゲインをAとし、反転増幅器221の出力電圧の仮想接地電圧からの変動電圧をΔVとすると、反転増幅器221の入力端電圧は-ΔV/Aとなる。従って、容量251の両端電位差は、第2電極(右側)を正としてΔV+ΔV/Aとなり、容量231及び241の両端電位差は、各々第2電極(右側)を正としてΔVとなる。
 この場合、反転増幅器221のゲインが充分でない場合、反転増幅器221の入力端の電圧(すなわち、システムの仮想接地電圧)がVx[V]から浮き上がってしまう。このため、容量211の電荷は、完全には容量251に転送されず、出力端子208の電圧は、正確にCs・Vin/Ci+Vx[V]とはならない。これは、反転増幅器221の出力端の電圧が、仮想接地電圧Vx[V]から大きくずれてしまうため生じる。
 図6A及び図6Bは、それぞれ、実施の形態2に係るスイッチトキャパシタ回路の第1CLS期間及び第2CLS期間における接続関係を表す回路図である。
 次に、第1CLS期間では、スイッチ212、222、233、234及び244は開放され、スイッチ213、232、242、243及び252は短絡される。
 このとき、反転増幅器221の出力端と出力端子208との間に、容量231が挿入される。容量231には、ΔVの両端電圧が保持されているため、これが「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、ΔVであった反転増幅器221の出力端の電圧が、容量241の両端電圧ΔVp(<<ΔV)とほぼ等しい電圧になる。これにより、反転増幅器221の入力端の電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが抑制される。
 次に、第2CLS期間では、スイッチ212、222、233、234、242及び243は開放され、スイッチ213、232、244及び252は短絡される。
 このとき、第1CLS期間と比較して、さらに、容量231の第1電極と反転増幅器221の出力端との間に、容量241が挿入される。容量241には、ΔVpの両端電圧が保持されているため、これが「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、ΔVpであった反転増幅器221の出力端の電圧が、さらに小さいΔVpp(<<ΔVp)となる。このときの反転増幅器221の入力端の電圧は-ΔVpp/Aとなり、-Vp/Aよりも充分に小さくなる。これにより、後述する比較例のCLS技術よりもさらに高精度を達成できる。これにより、反転増幅器221の入力端の電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが抑制される。
 また、サンプリング期間~第2CLS期間が繰り返されることにより、低いゲインの演算増幅器を用いているにもかかわらず、高精度な積分動作を達成できる。
 上記構成によれば、差動型の演算増幅器でなく、シングルエンド型の反転増幅器を用いていることから、高速動作を実現しつつ高精度なスイッチトキャパシタ回路を実現できる。
 なお、容量231及び241と同様の接続関係を有する容量がさらに多段接続された回路構成において、第2CLS期間に後続する第3CLS期間、第4CLS期間などを実行することにより、より高精度なCLS技術が可能となる。
 (比較例)
 ここで、上記実施の形態1及び2に係るスイッチトキャパシタ回路の性能を比較するため、比較例に係るスイッチトキャパシタ回路を示しておく。
 図7は、比較例に係るスイッチトキャパシタ回路の機能ブロック図である。同図に記載されたスイッチトキャパシタ回路800は、サンプリング容量部801と、反転増幅部802と、CLS部803と、蓄積容量部804と、オフセット補償部805と、入力端子807と、出力端子808と、駆動部806とを備える。スイッチトキャパシタ回路800の動作は、駆動部806が各部を制御することにより、サンプリング期間、転送期間及びCLS期間に順番に遷移する。
 図8は、比較例に係るスイッチトキャパシタ回路の回路構成図である。同図に示されたスイッチトキャパシタ回路900は、図7に示されたスイッチトキャパシタ回路800を構成する各部(駆動部806を除く)の回路構成を例示したものである。スイッチトキャパシタ回路900は、容量911、932及び941と、反転増幅器923及び951と、スイッチ912、913、921、932及び942と、基準電圧源914と、入力端子807と、出力端子808とで構成される。
 サンプリング容量部801は、容量911と、入力端子807及び容量911の第1電極を接続または開放するスイッチ912と、容量911の第1電極及び基準電圧源914を接続または開放するスイッチ913とで構成される。
 反転増幅部802は、シングルエンド型の反転増幅器923と、反転増幅器923の入力端及び出力端子808を接続または開放するスイッチ921とで構成される。
 CLS部803は、容量931と、容量931の第1電極と反転増幅器923及び951の出力端とを接続または開放するスイッチ932とで構成される。
 蓄積容量部804は、容量941と、容量941の第2電極及び出力端子808を接続または開放するスイッチ942とで構成される。
 オフセット補償部805は、反転増幅器923と同様の自己フィードバック電圧を出力する反転増幅器951で構成される。具体的には、入力端と出力端とが短絡接続されることにより自己フィードバック電圧を出力する。
 また、図7に示された駆動部806は、図8の回路構成としては図示していないが、各部のスイッチ912、913、921、932及び942の動作を制御する。
 スイッチトキャパシタ回路900の動作においては、各スイッチのオンオフ制御により、サンプリング期間、転送期間及びCLS期間に順番に遷移する。以下、上記スイッチトキャパシタ回路900の動作を、上記期間ごとに説明する。
 図9A、図9B及び図9Cは、それぞれ、比較例に係るスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間、転送期間、及びCLS期間における接続関係を表す回路図である。
 まず、図9Aに示されるように、サンプリング期間では、スイッチ912及び921は短絡され、スイッチ913及び942は開放され、スイッチ932の一方により反転増幅器951の出力端と容量931とが接続され、スイッチ932の他方により反転増幅器923の第2出力端子と出力端子808とが接続される。このとき、反転増幅器923は入力端子と出力端子とが短絡されており、その短絡電圧はVx[V]に等しい。ここで、入力端子807の電圧をVin[V]とし、基準電圧源914の基準電圧を0[V]とすると、容量911の第1端子(図中左側)を正極としてCs(Vin-Vx)[C]の電荷が蓄積される。一方、容量941は過去の状態を保持している。ここでは、説明を簡単にするために容量941の初期電荷を0[C]とする。
 次に、図9Bに示されるように、転送期間では、スイッチ912及び921は開放され、スイッチ913及び942は短絡され、スイッチ932は接続を維持する。このとき、容量911に蓄積されたCs・Vin[C]に相当する電荷は、全て容量941に転送されようとする。つまり、容量941の両端電圧はCs・Vin/Ci[V]になろうとする。また、容量931も反転増幅器923に駆動されて、その両端電圧はCs・Vin/Ci[V]になろうとする。
 しかしながら、反転増幅器923のゲインが充分でない場合、反転増幅器923の入力端子の電圧(すなわち、システムの仮想接地電圧)がVx[V]から浮き上がってしまう。このため、容量911の電荷は、完全には容量941に転送されず、出力端子808の電圧は、正確にCs・Vin/Ci+Vx[V]とはならない。これは、反転増幅器923の出力端子の電圧が約Cs・Vin/Ci+Vx[V]となり、仮想接地電圧Vx[V]から大きくずれてしまうため生じる。
 次に、図9Cに示されるように、CLS期間では、スイッチ912及び921は開放を維持し、スイッチ913及び942は短絡を維持し、スイッチ932の一方により反転増幅器923の出力端と容量931とが接続され、スイッチ932の他方は開放される。このとき、反転増幅器923の出力端子と出力端子808との間に、容量931が挿入される。容量931には、約Cs・Vin/Ci[V]の両端電圧が保持されているため、これが「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、約Cs・Vin/Ci+Vx[V]であった反転増幅器923の出力端子の電圧が、仮想接地電圧Vx[V]とほぼ等しい電圧になる。これにより、反転増幅器923の入力端子の電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが大きく抑制されるので、容量911の電荷は、ほぼ完全に容量941に転送される。よって、結果的に、容量941の両端電圧は、ほとんどCs・Vin/Ci[V]と等しくなり、低いゲインの反転増幅器を用いているにもかかわらず、高精度な電荷転送を達成できる。
 (性能比較)
 以下、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路200を用いた積分器(以下CLS1.0と記す場合がある)、実施の形態2に係るスイッチトキャパシタ回路200を用いた積分器(以下CLS2.0と記す場合がある)、及び比較例に係るスイッチトキャパシタ回路900を用いた積分器の性能を比較する。
 図10Aは、実施の形態1及び2に係るCLS技術を用いたスイッチトキャパシタ回路の積分特性を比較したグラフである。また、図10Bは、実施の形態1及び2に係るCLS技術を用いたスイッチトキャパシタ回路の1積分あたりの出力電圧を比較したグラフである。
 図10A及び図10Bに表された従来の積分器(反転増幅器ゲイン:60dB)では、1回の積分動作ごとに高精度な積分値が得られており、積分回数と積分値とはほぼ線形の関係となっている。これに対して、従来の積分器(反転増幅器ゲイン:20dB)では、積分回数と積分値との線形特性は崩れ、積分を18回実行した場合の積分値が目標積分電圧(1.8V)から逸脱している。
 これに対して、実施の形態1に係るCLS技術を用いたスイッチトキャパシタ回路200(CLS1.0)では、反転増幅器のゲインが20dBである場合には、1回の積分動作ごとに高精度な積分値が得られており、積分回数と積分値とはほぼ線形の関係となっている。同じ低ゲインの反転増幅器を有する従来の積分器と比較して、30dB以下の低いゲインの反転増幅器を用いても、特性が大幅に改善されている。
 また、実施の形態2に係るCLS技術を用いたスイッチトキャパシタ回路200(CLS2.0)では、反転増幅器のゲインが20dBである場合には、CLS1.0よりも積分特性は劣る。これは、反転増幅器221の出力端の電圧を0とはできない(ΔVpp)ため、高精度化という観点では、原理的にCLS1.0に及ばない。しかしながら、従来の積分器(反転増幅器ゲイン:20dB)及び比較例に係るCLS技術を用いたスイッチトキャパシタ回路900よりも高精度な積分値が得られており、積分回数と積分値とはほぼ線形の関係となっている。CLS1.0においても、同じ低ゲインの反転増幅器を有する従来の積分器と比較して、30dB以下の低いゲインの反転増幅器を用いても、特性が大幅に改善されている。
 実施の形態2に係るCLS2.0の場合、駆動部209は、サンプリング期間、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間におけるスイッチの開閉を制御するため、四相クロックを必要とする。これに対して、実施の形態1に係るCLS1.0の場合、駆動部209は、サンプリング期間、転送期間及びCLS期間におけるスイッチの開閉を制御するため三相クロックでよい。よって、実施の形態1に係るCLS1.0の方が消費電力を抑制できる。
 一方、実施の形態1に係るCLS1.0の場合、上記式2に反転増幅器のゲインAが含まれているため、最適条件の設定が厳しく、スイッチトキャパシタ回路200の製造プロセスのバラツキの影響を受け易い。これに対して、実施の形態2に係るCLS2.0の場合、CLS技術を実行するにあたり、反転増幅器のゲインAの調整は含まれていないため、CLS1.0よりも量産性に優れている。
 (実施の形態3)
 本実施の形態では、実施の形態2に係るスイッチトキャパシタ回路200に対して、オフセット補償部のかわりに第1及び第2のクランプ回路が配置されている点が構成として異なる。これにより、実施の形態1及び2と同様に、従来の課題を解決することが可能となる。
 図11は、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路の機能ブロック図である。同図に記載されたスイッチトキャパシタ回路300は、サンプリング容量部301と、第1のクランプ容量部302と、反転増幅部303と、第2のクランプ容量部304と、第1のCLS部305と、第2のCLS部306と、蓄積容量部307と、入力端子308と、出力端子309と、駆動部310とを備える。スイッチトキャパシタ回路300の動作は、駆動部310が各部を制御することにより、サンプリング期間、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間に順番に遷移する。なお、スイッチトキャパシタ回路300では、各期間が同一時刻で互いに重なり合ってはならない。
 サンプリング容量部301は入力端及び出力端を有し、サンプリング期間では、入力端が入力端子308と接続され、入力端子308に印加される入力電圧と第1の基準電圧との電位差をサンプリングする。また、サンプリング容量部301は、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間では、入力端が入力端子308と非接続となり、入力端には第1の基準電圧が印加される。
 第1のクランプ容量部302は、サンプリング期間では、第1の基準電圧と反転増幅部303の入力端の電圧との電位差をサンプリングする。また、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間では、上記電位差を保持する容量が、サンプリング容量部301の出力端と反転増幅部303の入力端との間に直列挿入される。
 反転増幅部303は入力端及び出力端を有し、サンプリング期間では、入力端と出力端とが短絡され、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間では、当該短絡が解放される。
 第2のクランプ容量部304は、サンプリング期間では、反転増幅部303の出力端と第1の基準電圧との電位差をサンプリングする。また、第2のクランプ容量部304は、転送期間では、反転増幅部303の出力端と第2のCLS部306の入力端とを短絡すると同時に上記電位差を保持する。また、第1CLS期間では、上記電位差が保持された容量が、反転増幅部303の出力端と第1のCLS部305の入力端との間に直列挿入される。また、第2CLS期間では、上記容量が、反転増幅部303の出力端と第2のCLS部306の入力端との間に直列挿入される。
 第1のCLS部305は入力端及び出力端を有し、サンプリング期間及び転送期間では、反転増幅部303の出力端の電圧と第1の基準電圧との電位差をサンプリングする。また、第1CLS期間では、上記電位差を保持した容量が、第2のCLS部306の出力端と出力端子309との間に挿入される。
 第2のCLS部306は入力端及び出力端を有し、サンプリング期間及び転送期間では、反転増幅部202の出力端の電圧と第1の基準電圧との電位差をサンプリングする。また、第2CLS期間では、上記電位差を保持した容量が、反転増幅部303の出力端と第1のCLS部305の入力端との間に挿入される。
 また、サンプリング期間では、蓄積容量部307を含んだ、サンプリング容量部301の出力端から出力端子309に至る経路が開放され、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間では、当該経路が接続される。
 駆動部310は、上述した各端子間の接続及び開放、ならびに、容量の挿入を制御する。
 図12は、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路の回路構成図である。同図に示されたスイッチトキャパシタ回路300は、図11に示されたスイッチトキャパシタ回路300を構成する各部(駆動部310を除く)の回路構成を例示したものである。ここで、入力端子308は第1入力端子であり、出力端子309は第1出力端子である。
 サンプリング容量部301は、容量311と、入力端子308及び容量311の第1電極を接続または開放するスイッチ312と、容量311の第1電極及び基準電圧源314を接続または開放するスイッチ313とで構成される。なお、基準電圧源314は、基準電圧が設定されており、本実施の形態では、基準電圧は0Vである。容量311は、第1端子と第2端子とを有し、第1端子に入力電圧が印加されるように配置されたサンプリング容量である。
 第1のクランプ容量部302は、容量321と、容量321の第1電極及び基準電圧源314を接続または開放するスイッチ322とで構成される。容量321は、第3端子と第4端子とを有し、第3端子が第2端子と接続された第1クランプ容量である。
 反転増幅部303は、シングルエンド型の反転増幅器331と、反転増幅器331の入力端及び出力端を接続または開放するスイッチ332とで構成される。反転増幅器331は、第2入力端子と第2出力端子とを有し、第2入力端子が第4端子と接続された反転増幅器である。
 第2のクランプ容量部304は、容量341と、容量341の第2電極及び第2のCLS部306の入力端を接続または開放するスイッチ342及び343と、第2のCLS部306の入力端及び基準電圧源314を接続または開放するスイッチ344とで構成される。容量341は、第5端子と第6端子とを有し、第5端子が第2出力端子と接続された第2クランプ容量である。容量341は、第2入力端子と第2出力端子とが接続された短絡状態であるときに、反転増幅器331の短絡電圧と基準電圧との電位差をサンプリングする。
 第1のCLS部305は、容量351と、容量351の第1電極及び第2のCLS部306の出力端を接続または開放するスイッチ352と、容量351の第1電極及び基準電圧源314を接続または開放するスイッチ353と、第2のCLS部306の出力端及び出力端子309を接続または開放するスイッチ354とで構成される。第1のCLS部305は、第2電極第ある第7端子と、当該第7端子及び第1電極のいずれかへの接続切替が可能な第8端子とを有し、第7端子が第1出力端子と接続された第1レベルシフト容量である。容量351は、容量361の第2電極と第1出力端子との間に電気的に直列挿入されたときに、第2出力端子の電圧レベルをシフトする。
 第2のCLS部306は、容量361と、第2のクランプ容量部304の出力端及び第1のCLS部305の入力端を接続または開放するスイッチ362と、容量361の第1電極及び基準電圧源314を接続または開放するスイッチ363と、容量361の第1電極及び第2のクランプ容量部304の出力端を接続または開放するスイッチ364とで構成される。第2のCLS部306は、第2電極である第9端子と、当該第9端子及び第1電極のいずれかへの接続切替が可能な第10端子とを有し、第9端子が第8端子と接続され、第10端子が第6端子との接続及び開放の切替が可能な第2レベルシフト容量である。容量361は、容量351の第8端子と第6端子との間に電気的に直列挿入されたときに、第2出力端子の電圧レベルをシフトする。
 蓄積容量部307は、容量371と、容量371の第1電極及び容量321の第1電極を接続または開放するスイッチ372とで構成される。容量371は、第11端子と第12端子とを有し、第11端子が第2端子に接続されるよう、かつ、第12端子が第1出力端子に接続されるように配置された蓄積容量である。
 また、図11に示された駆動部310は、図12の回路構成としては図示していないが、各部のスイッチ312、313、322、332、342-344、352-354、362-364及び372の動作を制御する。
 スイッチトキャパシタ回路300の動作においては、各スイッチのオンオフ制御により、サンプリング期間、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間に順番に遷移する。以下、上記スイッチトキャパシタ回路300の動作を、上記期間ごとに説明する。
 図13A、図13B、図13C及び図13Dは、それぞれ、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間における接続関係を表す回路図である。
 まず、図13Aに示されるように、サンプリング期間では、スイッチ312、322、332、343、353、354、362及び363は短絡され、スイッチ313、342、352、364及び372は開放される。
 このとき、反転増幅器331は入力端と出力端とが短絡されており、その短絡電圧は仮想接地電圧Vx[V]に等しい。そのため、基準電圧源314の電圧を0[V]とすると、容量321は右側を正としてVx[V]の両端電圧がかかる。一方、容量341は左側を正としてVx[V]の両端電圧がかかる。また、入力端子308の電圧をVin[V]とすると、容量311には左側をプラスとしてCs(Vin-Vx)[C]の電荷が蓄積される。なお、容量311の静電容量値をCsとしている。一方、容量371の電荷は過去の状態が保持されている。ここでは、説明を簡単にするために容量371の初期電荷を0[C]とする。なお、このとき、スイッチ353、354、362及び363は、短絡及び開放のいずれでも良いが、容量351及び361の初期化を確実に実施する観点から、短絡する方がより好ましい。
 次に、図13Bに示されるように、転送期間では、スイッチ312、322、332、343、344、352及び364は開放され、スイッチ313、342、353、354、362、363及び372は短絡される。
 このとき、基準電圧源314の電圧を0[V]とすると、反転増幅器331によって、容量311からCsVin[C]に相当する電荷が容量371に転送されようとする。ここで、反転増幅器331のゲインをAとし、反転増幅器331の出力電圧の仮想接地電圧からの変動電圧をΔVとすると、反転増幅器331の入力端電圧は-ΔV/Aとなる。従って、容量371の両端電位差は、第2電極(右側)を正としてΔV+ΔV/Aとなり、容量351及び361の両端電位差は、各々第2電極(右側)を正としてΔVとなる。
 次に、図13Cに示されるように、第1CLS期間では、スイッチ312、322、342、344、353、354及び364は開放され、スイッチ313、343、352、362、363及び372は短絡される。
 このとき、反転増幅器331の出力端と出力端子309との間に、容量351が挿入される。容量351には、ΔVの両端電圧が保持されているため、これが「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、ΔVであった反転増幅器331の出力端の電圧が、容量361の両端電圧ΔVp(<<ΔV)とほぼ等しい電圧になる。これにより、反転増幅器331の入力端の電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが抑制される。このときのCLS精度は、比較例に係るCLS精度と同程度である。
 次に、第2CLS期間では、スイッチ312、322、332、342、344、353、354、362及び363は開放され、スイッチ313、343、352、364及び372は短絡される。
 このとき、第1CLS期間と比較して、さらに、容量351の第1電極と反転増幅器331の出力端との間に、容量361が挿入される。容量361には、ΔVpの両端電圧が保持されているため、これが「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、ΔVpであった反転増幅器331の出力端の電圧が、さらに小さいΔVpp(<<ΔVp)となる。このときの反転増幅器331の入力端の電圧は-ΔVpp/Aとなり、-Vp/Aよりも充分に小さくなる。これにより、比較例のCLS技術よりもさらに高精度を達成できる。よって、反転増幅器331の入力端の電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが抑制される。
 また、上記サンプリング期間から上記第2CLS期間が繰り返されることにより、低いゲインの演算増幅器を用いているにもかかわらず、高精度な積分動作を達成できる。
 上記構成によれば、差動型の演算増幅器でなく、シングルエンド型の反転増幅器を用いていることから、高速動作を実現しつつ高精度なスイッチトキャパシタ回路を実現できる。
 なお、容量351及び361と同様の接続関係を有する容量がさらに多段接続された回路構成において、第2CLS期間に後続する第3CLS期間、第4CLS期間、を実行することにより、より高精度なCLS技術が可能となる。
 (実施の形態4)
 本実施の形態では、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路300に対して、さらに、第3のクランプ容量部を付加する点が構成として異なる。これにより、実施の形態3と比較して、より高精度に従来の課題を解決することが可能となる。
 図14は、実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路の機能ブロック図である。同図に記載されたスイッチトキャパシタ回路400は、サンプリング容量部401と、第1のクランプ容量部402と、反転増幅部403と、第2のクランプ容量部404と、第1のCLS部405と、第2のCLS部406と、第3のクランプ容量部407と、蓄積容量部408と、入力端子409と、出力端子410と、駆動部420とを備える。スイッチトキャパシタ回路400の動作は、駆動部420が各部を制御することにより、サンプリング期間、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間に順番に遷移する。なお、スイッチトキャパシタ回路400では、各期間が同一時刻で互いに重なり合ってはならない。
 サンプリング容量部401、第1のクランプ容量部402、反転増幅部403、第2のクランプ容量部404、第1のCLS部405、第2のCLS部406、及び蓄積容量部408は、それぞれ、実施の形態3に係るサンプリング容量部301、第1のクランプ容量部302、反転増幅部303、第2のクランプ容量部304、第1のCLS部305、第2のCLS部306、及び蓄積容量部307と同様の構成である。
 第3のクランプ容量部407は、サンプリング期間では、反転増幅部403の出力端と第1の基準電圧との電位差をサンプリングする。また、第3のクランプ容量部407は、転送期間では、上記電位差を保持する。また、第1CLS期間では、上記電位差を保持する。また、第2CLS期間では、上記容量が、反転増幅部403の出力端と第2のCLS部406の入力端との間に直列挿入される。
 駆動部420は、上述した各端子間の接続及び開放、ならびに、容量の挿入を制御する。
 図15は、実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路の回路構成図である。同図に示されたスイッチトキャパシタ回路400は、図14に示されたスイッチトキャパシタ回路400を構成する各部(駆動部420を除く)の回路構成を例示したものである。ここで、入力端子409は第1入力端子であり、出力端子410は第1出力端子である。
 なお、サンプリング容量部401、第1のクランプ容量部402、反転増幅部403、第2のクランプ容量部404、第1のCLS部405、第2のCLS部406、及び蓄積容量部408の、具体的な回路構成については、説明を省略する。
 第3のクランプ容量部407は、容量471と、容量471の第2電極及び第2のCLS部406の入力端を接続または開放するスイッチ472とで構成される。第3のクランプ容量部407は、第13端子と第14端子とを有し、第13端子が第2出力端子と接続され、第14端子が第6端子及び第10端子との接続及び開放の切替が可能な第3クランプ容量である。容量471は、第2入力端子と第2出力端子とが接続された短絡状態であるときに、反転増幅器431の短絡電圧と基準電圧との電位差をサンプリングする。
 また、図14に示された駆動部420は、図15の回路構成としては図示していないが、各部のスイッチ412、413、422、432、442-444、452-454、462-464、472及び482の動作を制御する。
 スイッチトキャパシタ回路400の動作においては、各スイッチのオンオフ制御により、サンプリング期間、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間に順番に遷移する。以下、上記スイッチトキャパシタ回路400の動作を、上記期間ごとに説明する。
 図16A、図16B、図16C及び図16Dは、それぞれ、実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路のサンプリング期間、転送期間、第1CLS期間及び第2CLS期間における接続関係を表す回路図である。
 まず、図16Aに示されるように、サンプリング期間では、スイッチ412、422、432、443、453、454、462、463及び472は短絡され、スイッチ413、442、452、464及び482は開放される。
 このとき、反転増幅器431は入力端と出力端とが短絡されており、その短絡電圧は仮想接地電圧Vx[V]に等しい。そのため、基準電圧源414の電圧を0[V]とすると、容量421は右側を正としてVx[V]の両端電圧がかかる。一方、容量441は左側を正としてVx[V]の両端電圧がかかる。また、入力端子409の電圧をVin[V]とすると、容量411には左側をプラスとしてCs(Vin-Vx)[C]の電荷が蓄積される。なお、容量411の静電容量値をCsとしている。一方、容量481の電荷は過去の状態が保持されている。ここでは、説明を簡単にするために容量481の初期電荷を0[C]とする。なお、このとき、スイッチ453、454、462及び463は、短絡及び開放のいずれでも良いが、容量451及び461の初期化を確実に実施する観点から、短絡する方がより好ましい。
 次に、図16Bに示されるように、転送期間では、スイッチ412、422、432、443、444、452、464及び472は開放され、スイッチ413、442、453、454、462、463及び482は短絡される。
 このとき、基準電圧源414の電圧を0[V]とすると、反転増幅器431によって、容量411からCsVin[C]に相当する電荷が容量481に転送されようとする。ここで、反転増幅器431のゲインをAとし、反転増幅器431の出力電圧の仮想接地電圧からの変動電圧をΔVとすると、反転増幅器431の入力端電圧は-ΔV/Aとなる。従って、容量481の両端電位差は、第2電極(右側)を正としてΔV+ΔV/Aとなり、容量451及び461の両端電位差は、各々第2電極(右側)を正としてΔVとなる。
 次に、図16Cに示されるように、第1CLS期間では、スイッチ412、422、442、444、453、454、464及び472は開放され、スイッチ413、443、452、462、463及び482は短絡される。
 このとき、反転増幅器431の出力端と出力端子410との間に、容量451が挿入される。容量451には、ΔVの両端電圧が保持されているため、これが「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、ΔVであった反転増幅器431の出力端の電圧が、容量461の両端電圧ΔVp(<<ΔV)とほぼ等しい電圧になる。これにより、反転増幅器431の入力端の電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが抑制される。このときのCLS精度は、比較例に係るCLS精度と同程度である。
 次に、図16Dに示されるように、第2CLS期間では、スイッチ412、422、432、442、444、453、454、462及び463は開放され、スイッチ413、443、452、464、472及び482は短絡される。
 このとき、反転増幅器431の出力電圧のクランプ動作については、第1のCLS期間にてΔV→ΔVpの仮想接地変動に対応して蓄積電荷が変動した第2のクランプ容量部404の容量441に替わり、電荷変動の無い第3のクランプ容量部407の容量471に機能させる。第2CLS期間では、第1CLS期間と比較して、さらに、容量451の第1電極と反転増幅器431の出力端との間に、容量461が挿入される。容量461には、ΔVpの両端電圧が保持されているため、これが「上げ底効果」(レベルシフト効果)となり、ΔVpであった反転増幅器431の出力端の電圧が、さらに小さいΔVppp(<<ΔVp)となる。このときの反転増幅器431の入力端の電圧は-ΔVppp/Aとなり、-Vp/Aよりも充分に小さくなる。これにより、比較例のCLS技術よりもさらに高精度を達成できる。なお、第2のCLS期間において第3のクランプ容量部407を用いているため、ΔVppp<ΔVppとなり、実施の形態3に係るCLS技術よりも、より高精度を達成できる。
 よって、反転増幅器431の入力端の電圧(=システムの仮想接地電圧)の浮き上がりが抑制される。
 また、上記サンプリング期間から上記第2CLS期間が繰り返されることにより、低いゲインの演算増幅器を用いているにもかかわらず、高精度な積分動作を達成できる。
 上記構成によれば、差動型の演算増幅器でなく、シングルエンド型の反転増幅器を用いていることから、高速動作を実現しつつ高精度なスイッチトキャパシタ回路を実現できる。
 なお、容量451及び461と同様の接続関係を有する容量がさらに多段接続された回路構成において、第2CLS期間に後続する第3CLS期間及び第4CLS期間に対応させて第4のクランプ容量部及び第5のクランプ容量部を配置することにより、より高精度なCLS技術が可能となる。
 (実施の形態5)
 本実施の形態では、低消費電力化と高速化とを実現する反転増幅部の構成について説明する。実施の形態1~4に係る反転増幅器は、例えば、インバータ回路で構成される。上記反転増幅器を構成するインバータ回路は、例えば、スイッチトカレント型のバイアス回路が挙げられる。
 図17は、実施の形態5に係る反転増幅部の回路構成図である。以下、同図に示すように、実施の形態3に係る反転増幅器331及びスイッチ332で構成される反転増幅部303を用いて説明する。
 反転増幅部303は、定電流源502と、NMOSトランジスタ503、504A、504B及び506と、PMOSトランジスタ505と、容量507とで構成される。ここで、スイッチ332を構成するNMOSトランジスタ504A及び504Bは、制御信号501で制御され、サンプリング期間φ1の期間だけオンされ、それ以外の期間ではオフされる。サンプリング期間φ1では、NMOSトランジスタ503と506とで構成されるカレントミラーによって、定電流源502から流れる電流と等しい電流がダイオード接続されたPMOSトランジスタ505に流れる。そして、このときのNMOSトランジスタ506及びPMOSトランジスタ505のゲート電圧が、容量507の両端電圧として保存される。このときの容量507の両端電圧は、短絡電圧Vx[V]に相当する。つまり、サンプリング期間では、定電流源502から流れる電流により、PMOSトランジスタ505及びNMOSトランジスタ506に流れる電流が常に一定に保たれるため、プロセス、温度および電源電圧の変動に依存しない安定した特性、特に安定した消費電流を実現できる。よって、1個のシングルエンド型のインバータ回路を用いていることから、高速動作、低消費電力及び小面積を実現できる。
 また、サンプリング期間φ1以外の期間では、PMOSトランジスタ505及びNMOSトランジスタ506のゲート電圧が容量507でバイアスされたインバータ動作が実行される。
 上述したスイッチトカレント型のバイアス回路の利点は、定電流源502によって直流電流を固定しつつ、PMOSトランジスタ505及びNMOSトランジスタ506のW/L比を大きくすることで、低消費電力化と高速化とを両立できる点である。
 また、さらなる低消費電力化のためには、反転増幅器に流れ込む電流を、時間によって増減させることが効果的である。すなわち、セトリング初期の大電流が必要な期間であるサンプリング期間の初期及び転送期間でのみ、大電流を印加し、それ以後は徐々に電流を少なくするというダイナミック電流型のインバータ動作をすることで、セトリング速度を維持しつつ消費電力を低減することが可能となる。
 図18は、実施の形態5の変形例に係る反転増幅部の回路構成図である。同図において、反転増幅部303は、定電流源502と、NMOSトランジスタ503、552-554、556、558及び560-575と、PMOSトランジスタ555、557及び559と、容量507とで構成される。スイッチ332を構成するNMOSトランジスタ552-554及び561-575は、サンプリング期間が3等分された制御信号551で制御される。具体的には、φ1及びφ4の期間は、それぞれ、4個のPMOS及びNMOSトランジスタで駆動され、φ2及びφ5の期間は、それぞれ、2個のPMOS及びNMOSトランジスタで駆動され、φ3及びφ6の期間は、それぞれ、1個のPMOS及びNMOSトランジスタで駆動される。本実施の形態5においては、φ3とφ6の位相で動作するトランジスタ(最後段のPMOSトランジスタ559とNMOSトランジスタ560)は全ての位相で常に駆動されているため、特にスイッチで制御する必要はなく、図18では制御スイッチを省略したが、制御スイッチを用いてもよい。
 なお、図18の例では、サンプリング期間の駆動能力を3段階に分けているが、その数の限定はしない。2段階であっても4段階であっても、それ以上であっても良い。
 (実施の形態6)
 実施の形態1~4に係るスイッチトキャパシタ回路を積分器に適用する場合、図19Aに示されるように蓄積容量部を構成することができる。
 図19Aは、実施の形態6に係る蓄積容量部の構成図である。同図に示された蓄積容量部205は、容量253と、容量253に並列に配置されたスイッチ254とを備える。スイッチ254は、駆動部209からのリセット信号591によって短絡または開放される。
 リセット信号591がHighの時に、スイッチ254が短絡され、リセット信号591がLowの時に、スイッチ254が開放されるとすると、リセット信号591の起動タイミングは、図20Aのタイミングチャート511または図21Aのタイミングチャート521に表されたタイミングとなる。
 図20Aは、実施の形態6に係る制御信号の第1のタイミングチャートである。図20Aに示された第1のタイミングチャートは、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路200を積分器として適用する場合のものである。
 一方、図21Aは、実施の形態6に係る制御信号の第2のタイミングチャートである。図21Aに示された第1のタイミングチャートは、実施の形態2に係るスイッチトキャパシタ回路200、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路300、及び実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路400を積分器として適用する場合のものである。
 図20A及び図21Aに表されたように、積分動作の開始前に、一回だけリセット信号591をHighにし、それ以後はLowを維持すればよい。リセット信号591をHighにすることにより、リセット時に容量253の電荷が0[C]に初期化される。
 また、実施の形態1~4に係るスイッチトキャパシタ回路を積分器に適用する場合、図19Bに示されるように、蓄積容量部を構成することも可能である。
 図19Bは、実施の形態6の変形例に係る蓄積容量部の構成図である。同図に示された蓄積容量部205は、容量253と、容量253の一方の端子と基準電圧源598とを接続するスイッチ254aと、容量253の他方の端子と基準電圧源599とを接続するスイッチ254bとを備える。スイッチ254a及び254bは、駆動部209からのリセット信号591により短絡または開放される。リセット信号591の起動タイミングは、図20Aのタイミングチャート511または図21Aのタイミングチャート521に表されたタイミングとなる。蓄積容量部205の上記構成及びリセット信号591の上記起動タイミングにより、リセット時に容量253の電圧が、基準電圧源598及び599で規定される一定電圧に初期化される。
 (実施の形態7)
 実施の形態1~4に係るスイッチトキャパシタ回路をサンプルホールド回路に適用する場合、図19Aに示されるように蓄積容量部を構成することができる。
 リセット信号591がHighの時に、スイッチ254が短絡され、リセット信号591がLowの時に、スイッチ254が開放されるとすると、リセット信号591の起動タイミングは、図20Bのタイミングチャート512または図21Bのタイミングチャート522に表されたタイミングとなる。
 図20Bは、実施の形態7に係る制御信号の第1のタイミングチャートである。図20Bに示された第1のタイミングチャートは、実施の形態1に係るスイッチトキャパシタ回路200をサンプルホールド回路として適用する場合のものである。
 一方、図21Bは、実施の形態7に係る制御信号の第2のタイミングチャートである。図21Bに示された第1のタイミングチャートは、実施の形態2に係るスイッチトキャパシタ回路200、実施の形態3に係るスイッチトキャパシタ回路300、及び実施の形態4に係るスイッチトキャパシタ回路400をサンプルホールド回路として適用する場合のものである。
 図20B及び図21Bに表されたように、初期化時、ならびに、CLS期間とサンプリング期間との間にリセット期間が必要となる。
 また、実施の形態1~4に係るスイッチトキャパシタ回路をサンプルホールド回路に適用する場合、図19Bに示されるように蓄積容量部を構成することができる。
 スイッチ254a及び254bは、駆動部209からのリセット信号591により短絡または開放される。リセット信号591の起動タイミングは、図20Bのタイミングチャート512または図21Bのタイミングチャート522に表されたタイミングとなる。蓄積容量部205の上記構成及びリセット信号591の上記起動タイミングにより、リセット時に容量253の電圧が、基準電圧源598及び599で規定される一定電圧に初期化される。
 (実施の形態8)
 本実施の形態では、上記実施の形態1~7で説明したスイッチトキャパシタ回路、積分器及びサンプルホールド回路のいずれかを用いた機器について説明する。
 図22は、本開示の積分器を備えるΔΣ変調器のブロック構成図である。実施の形態6及びその変形例に係る積分器を、図22に示されたΔΣ変調器600に適用することができる。図22に開示されたΔΣ変調器の構成は、例えば、非特許文献3(M.A.P.Pertijs,et al.,“A CMOS Smart Temperature Sensor Witha 3σ Innaccuracy of ±0.1℃ From -55℃ to 125℃”, IEEE J.Solid-State Circuits, vol.40,no.12,pp.2805-2815,Dec.2005.)に記載されたΔΣ変調器の積分器を、本開示の積分器に置き換えたものである。ΔΣ変調器600は、本開示の積分器601と、クロック同期型コンパレータ602とを備える。本開示の積分器601により、低消費電流を維持しつつ高速かつ高精度な積分動作を実現できるため、ΔΣ変調器600全体を高精度化することが可能となる。
 さらに、図22に示されたΔΣ変調器600をAD変換器に用いることで、温度センサを実現できる。
 図23は、本開示のΔΣ変調器を備えるセンサ回路のブロック構成図である。図23に開示された温度センサ回路は、非特許文献3で提案されている温度センサ回路のAD変換器を、本開示のAD変換器700に置き換えたものである。同図に記載された温度センサ回路は、AD変換器700と、バイアス回路701と、バイポーラコア702とを備える。AD変換器700は、本開示のΔΣ変調器600と、デシメーションフィルタ711とを備える。上記構成の温度センサ回路において、システム全体の精度はAD変換器700によって決定される。本開示のスイッチトキャパシタ回路による積分器601を組み込んだAD変換器700を用いることで、低消費電流を維持しつつ高速かつ高精度な温度センサ回路を実現できる。
 (実施の形態9)
 本実施の形態では、上記実施の形態8で説明したAD変換器を用いた撮像素子及びデジタルカメラについて説明する。図23に示されたAD変換器700を撮像素子に適用することが可能である。
 図24は、本開示のAD変換器を備える撮像素子のブロック構成図である。同図に示された撮像素子720は、AD変換器アレイ721及び722と、複数の受光素子が行列状に配置された受光素子アレイ723と、コントローラ724と、周辺回路725とを備える。
 一般にCMOSイメージセンサに搭載される撮像素子の画素数は受光素子の感度で決まるが、AD変換器の消費電力も重要な要素である。一般的なカラム並列型のAD変換器の場合、受光素子アレイ723の上下にAD変換器アレイ721及び722が配置される。また、各AD変換器アレイ721及び722には、数千個のオーダーで、AD変換器が配置されている。これにより、こられのAD変換器での合計消費電力は大きく、熱及びバッテリ寿命の問題で画素数の拡大が難しい。
 これに対して、上述したAD変換器700を用いることで、消費電流を必要最小限度まで絞ることができる。これにより、画素数の拡大、発熱の低減及びバッテリ寿命の延長を実現できる。また、小面積化に貢献できる。このように、本開示のスイッチトキャパシタ回路による積分器を組み込んだAD変換器700を用いることで、低消費電流を維持しつつ高速かつ高精度な撮像素子を実現できる。
 さらに、本開示は、上記撮像素子720を備える、デジタルスチルカメラ又はデジタルビデオカメラ等のデジタルカメラ又は携帯電話として実現してもよい。撮像素子720は、図25Aに示されたデジタルスチルカメラ、さらには、携帯電話等のモバイル機器向けカメラモジュール等の撮像装置において、その撮像デバイスとして用いて好適なものである。
 図25Bは、本開示の撮像素子を備えるデジタルカメラのブロック構成図である。同図に示されたように、本実施の形態に係るデジタルカメラ750は、レンズ790を含む光学系、撮像デバイス760、カメラ信号処理回路770及びシステムコントローラ780等によって構成されている。レンズ790は、被写体からの像光を撮像デバイス760の撮像面に結像する。撮像デバイス760は、レンズ790によって撮像面に結像された像光を画素単位で電気信号に変換して得られる画像信号を出力する。この撮像デバイス760として、本実施の形態に係る撮像素子720が用いられる。
 カメラ信号処理回路770は、撮像デバイス760から出力される画像信号に対して種々の信号処理を行う。システムコントローラ780は、撮像デバイス760やカメラ信号処理回路770に対する制御を行う。
 上記構成により、低消費電力の特性が反映されたバッテリ寿命の延長、かつ高精度なデジタルカメラ750を実現できる。
 以上、上記実施の形態1~9及びそれらの変形例に係るスイッチトキャパシタ回路及びその駆動方法、ならびに当該スイッチトキャパシタ回路を用いた機器について説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。
 また、上記実施の形態に係るAD変換器及び撮像素子に含まれる各処理部は典型的には集積回路であるシステムLSIとして実現される。これらは個別に1チップ化されてもよいし、一部又は全てを含むように1チップ化されてもよい。
 また、集積回路化はLSIに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセッサで実現してもよい。LSI製造後にプログラムすることが可能なFPGA(Field Programmable Gate Array)、又はLSI内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサを利用してもよい。
 また、上記各実施の形態1~9及びそれらの変形例に係る、スイッチトキャパシタ回路、AD変換器、及びそれらの変形例の機能又は構成のうち少なくとも一部を組み合わせてもよい。
 また、上記で用いた数字は、全て本発明を具体的に説明するために例示するものであり、本発明は例示された数字に制限されない。さらに、High/Lowにより表されるスイッチング状態は、本発明を具体的に説明するために例示するものであり、例示されたスイッチング状態の異なる組み合わせにより、同等な結果を得ることも可能である。また、トランジスタ等のn型及びp型等は、本発明を具体的に説明するために例示するものであり、これらを反転させることで、同等の結果を得ることも可能である。また、構成要素間の接続関係は、本発明を具体的に説明するために例示するものであり、本発明の機能を実現する接続関係はこれに限定されない。
 また、ブロック図における機能ブロックの分割は一例であり、複数の機能ブロックを一つの機能ブロックとして実現したり、一つの機能ブロックを複数に分割したり、一部の機能を他の機能ブロックに移してもよい。また、類似する機能を有する複数の機能ブロックの機能を単一のハードウェア又はソフトウェアが並列又は時分割に処理してもよい。
 また、上記説明では、MOSトランジスタを用いた例を示したが、他の種類のトランジスタを用いてもよい。
 また、上記回路図に示す回路構成は、一例であり、本発明は上記回路構成に限定されない。つまり、上記回路構成と同様に、本発明の特徴的な機能を実現できる回路も本発明に含まれる。例えば、上記回路構成と同様の機能を実現できる範囲で、ある素子に対して、直列又は並列に、スイッチング素子(トランジスタ)、抵抗素子、又は容量素子等の素子を接続したものも本発明に含まれる。言い換えると、上記実施の形態における「接続される」とは、2つの端子(ノード)が直接接続される場合に限定されるものではなく、同様の機能が実現できる範囲において、当該2つの端子(ノード)が、素子を介して接続される場合も含む。
 更に、本発明の主旨を逸脱しない限り、上記実施の形態1~9及びそれらの変形例に対して当業者が思いつく範囲内の変更を施した各種変形例も本発明に含まれる。
 本発明は、低消費電力かつ高精度が要求されるAD変換器、温度センサ、撮像素子、デジタルカメラ、及び電池等に有用である。
 100  積分器
 101、102、104、211、231、241、251、253、311、321、341、351、361、371、411、421、441、451、461、471、481、507、911、931、941、1001、1002、1004  容量
 103、1003  演算増幅器
 105、106、107、108、109、212、213、222、232、233、234、242、243、244、252、254、254a、254b、312、313、322、332、342、343、344、352、353、354、362、363、364、372、412、413、422、432、442、443、444、452、453、454、462、463、464、472、482、912、913、921、932、942、1005、1006、1007、1008  スイッチ
 110、214、314、414、598、599、914、1009  基準電圧源
 111、207、308、409、807、1010  入力端子
 112、208、309、410、808、1011  出力端子
 200、300、400、800、900  スイッチトキャパシタ回路
 201、301、401、801  サンプリング容量部
 202、303、403、802  反転増幅部
 203、405、305  第1のCLS部
 204、406、306  第2のCLS部
 205、307、408、804  蓄積容量部
 206、805  オフセット補償部
 209、310、420、806  駆動部
 221、261、331、431、923、951  反転増幅器
 302、402  第1のクランプ容量部
 304、404  第2のクランプ容量部
 407  第3のクランプ容量部
 501、551  制御信号
 502  定電流源
 503、504A、504B、506、552、553、554、556、558、560、561、562、563、564、565、566、567、568、569、570、571、572、573、574、575  NMOSトランジスタ
 505、555、557、559  PMOSトランジスタ
 511、512、521、522  タイミングチャート
 591  リセット信号
 592  サンプリング信号
 593  転送信号
 594  CLS信号
 594a  第1CLS信号
 594b  第2CLS信号
 600  ΔΣ変調器
 601  積分器
 602  クロック同期型コンパレータ
 700  AD変換器
 701  バイアス回路
 702  バイポーラコア
 711  デシメーションフィルタ
 720  撮像素子
 721、722  AD変換器アレイ
 723  受光素子アレイ
 724  コントローラ
 725  周辺回路
 750  デジタルカメラ
 760  撮像デバイス
 770  カメラ信号処理回路
 780  システムコントローラ
 790  レンズ
 803  CLS部

Claims (23)

  1.  入力電圧が入力される第1入力端子と、
     出力電圧が出力される第1出力端子と、
     第1端子と第2端子とを有し、前記第1端子に前記入力電圧が印加されるように配置されたサンプリング容量と、
     第2入力端子と第2出力端子とを有し、前記第2入力端子が前記第2端子と接続された反転増幅器と、
     一方の容量電極である第5端子と、他方の容量電極である第4端子と、前記第5端子及び前記第4端子のいずれかへの接続切替が可能な第3端子とを有し、前記第5端子が前記第1出力端子と接続された第1レベルシフト容量と、
     一方の容量電極である第8端子と、他方の容量電極である第7端子と、前記第8端子及び前記第7端子のいずれかへの接続切替が可能な第6端子とを有し、前記第8端子が前記第3端子と接続され、前記第6端子が前記第2出力端子と接続された第2レベルシフト容量と、
     第9端子と第10端子とを有し、前記第9端子が前記第2端子と接続され、前記第10端子が前記第1出力端子と接続された蓄積容量と、
     第11端子を有し、前記第11端子と前記第4端子及び前記第7端子との短絡及び開放の切替が可能であり、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが短絡された場合の前記反転増幅器の短絡電圧と同じ電圧値のオフセット電圧を前記第11端子から出力するオフセット補償回路とを備える
     スイッチトキャパシタ回路。
  2.  サンプリング期間において、
     前記反転増幅器は、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが短絡されて前記短絡電圧を生成し、
     前記サンプリング容量は、前記入力電圧と前記短絡電圧との電位差をサンプリングし、
     前記サンプリング容量に蓄積された電荷が転送される転送期間において、
     前記第2入力端子と前記第2出力端子とが開放されることにより前記電荷が前記蓄積容量に転送され、
     前記第3端子と前記第5端子とが短絡され前記第6端子と前記第8端子とが短絡されることにより、前記第1レベルシフト容量と前記第2レベルシフト容量とは、それぞれ、前記第11端子と前記第1出力端子との間の電位差をサンプリングする
     請求項1に記載のスイッチトキャパシタ回路。
  3.  前記第2出力端子の電圧レベルがシフトするレベルシフト期間において、
     前記第3端子と前記第5端子とが開放され、前記第6端子と前記第8端子とが開放され、前記第1レベルシフト容量が前記第3端子及び前記第4端子と前記第5端子との間に電気的に直列挿入され、前記第2レベルシフト容量が前記第6端子及び前記第7端子と前記第8端子との間に電気的に直列挿入されることにより、前記第1レベルシフト容量と前記第2レベルシフト容量とは、前記第1出力端子と前記第2出力端子との間に直列容量を構成する
     請求項1または2に記載のスイッチトキャパシタ回路。
  4.  前記第2出力端子の電圧レベルがシフトするレベルシフト期間は、第1レベルシフト期間と第2レベルシフト期間とに分割され、
     前記第1レベルシフト期間において、
     前記第3端子と前記第5端子とが開放され、前記第1レベルシフト容量が前記第3端子及び前記第4端子と前記第5端子との間に電気的に直列挿入され、
     前記第2レベルシフト期間において、
     前記第6端子と前記第8端子とが開放され、前記第2レベルシフト容量が前記第6端子及び前記第7端子と前記第8端子との間に電気的に直列挿入される
     請求項1または2に記載のスイッチトキャパシタ回路。
  5.  入力電圧が入力される第1入力端子と、
     出力電圧が出力される第1出力端子と、
     第1端子と第2端子とを有し、前記第1端子に前記入力電圧が印加されるように配置されたサンプリング容量と、
     第3端子と第4端子とを有し、前記第3端子が前記第2端子と接続された第1クランプ容量と、
     第2入力端子と第2出力端子とを有し、前記第2入力端子が前記第4端子と接続された反転増幅器と、
     第5端子と第6端子とを有し、前記第5端子が前記第2出力端子と接続された第2クランプ容量と、
     一方の容量電極である第7端子と、前記第7端子及び他方の電極のいずれかへの接続切替が可能な第8端子とを有し、前記第7端子が前記第1出力端子と接続された第1レベルシフト容量と、
     一方の容量電極である第9端子と、前記第9端子及び他方の電極のいずれかへの接続切替が可能な第10端子とを有し、前記第9端子が前記第8端子と接続され、前記第10端子が前記第6端子との接続及び開放の切替が可能な第2レベルシフト容量と、
     第11端子と第12端子とを有し、前記第11端子が前記第2端子と接続され、前記第12端子が前記第1出力端子と接続された蓄積容量とを備える
     スイッチトキャパシタ回路。
  6.  サンプリング期間において、
     前記反転増幅器は、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが短絡されて前記短絡電圧を生成し、
     前記第1クランプ容量と前記第2クランプ容量とは、前記短絡電圧と基準電圧との電位差をサンプリングし、
     前記サンプリング容量に蓄積された電荷が転送される転送期間において、
     前記第2入力端子と前記第2出力端子とが開放されることにより前記電荷が前記蓄積容量に転送され、
     前記第1クランプ容量は、前記第2端子と前記第2入力端子との間に電気的に直列挿入され、
     前記第2クランプ容量は、前記第5端子または前記第6端子が開放され、
     前記第7端子と前記第8端子とが短絡され前記第9端子と前記第10端子とが短絡されることにより、前記第1レベルシフト容量は、前記基準電圧と前記第1出力端子との間の電位差をサンプリングし、
     前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第1レベルシフト期間において、
     前記第2クランプ容量が前記第2出力端子と前記第10端子の間に電気的に直列挿入され、
     前記第7端子と前記第8端子とが開放され、前記第1レベルシフト容量が前記第8端子と前記第1出力端子との間に電気的に直列挿入されると同時に、前記第2レベルシフト容量が前記第9端子と前記基準電圧との間の電位差をサンプリングし、
     前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第2レベルシフト期間において、
     前記第9端子と前記第10端子が開放され、前記第2レベルシフト容量が前記第9端子と前記第6端子との間に電気的に直列挿入される
     請求項5に記載のスイッチトキャパシタ回路。
  7.  さらに、
     第13端子と第14端子とを有し、前記第13端子が前記第2出力端子と接続され、前記第14端子が前記第6端子及び前記第10端子との接続及び開放の切替が可能な第3クランプ容量を備える
     請求項5に記載のスイッチトキャパシタ回路。
  8.  サンプリング期間において、
     前記反転増幅器は、前記第2入力端子と前記第2出力端子とが短絡されて前記短絡電圧を生成し、
     前記第1クランプ容量と前記第2クランプ容量と前記第3クランプ容量とは、前記短絡電圧と基準電圧との電位差をサンプリングし、
     前記サンプリング容量に蓄積された電荷が転送される転送期間において、
     前記第2入力端子と前記第2出力端子とが開放されることにより前記電荷が前記蓄積容量に転送され、
     前記第1クランプ容量は、前記第2端子と前記第2入力端子との間に電気的に直列挿入され、
     前記第2クランプ容量は、前記第5端子または前記第6端子が開放され、
     前記第3クランプ容量は、前記第13端子または前記第14端子が開放され、
     前記第7端子と前記第8端子とが短絡され前記第9端子と前記第10端子とが短絡されることにより、前記第1レベルシフト容量は、前記基準電圧と前記第1出力端子との間の電位差をサンプリングし、
     前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第1レベルシフト期間において、
     前記第2クランプ容量が前記第2出力端子と前記第10端子との間に電気的に直列挿入され、
     前記第7端子と前記第8端子とが開放され、前記第1レベルシフト容量が前記第8端子と前記第1出力端子の間に電気的に直列挿入されると同時に、前記第2レベルシフト容量が前記第9端子と前記基準電圧との間の電位差をサンプリングし、
     前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第2レベルシフト期間において、
     前記第2クランプ容量は、前記第5端子または前記第6端子が開放され、
     前記第3クランプ容量が前記第2出力端子と前記第10端子との間に電気的に直列挿入され、
     前記第7端子と前記第8端子とが開放され、前記第2レベルシフト容量が前記第9端子と前記第6端子の間に電気的に直列挿入される
     請求項7に記載のスイッチトキャパシタ回路。
  9.  前記反転増幅器は、インバータ回路を含む
     請求項1~8のいずれか1項に記載のスイッチトキャパシタ回路。
  10.  前記インバータ回路は、スイッチトカレント型のバイアス回路を備える
     請求項9に記載のスイッチトキャパシタ回路。
  11.  前記インバータ回路は、ダイナミック電流型回路である
     請求項9または10に記載のスイッチトキャパシタ回路。
  12.  請求項1~3及び9~11のいずれか1項に記載のスイッチトキャパシタ回路を備える積分器であって、
     さらに、前記蓄積容量に蓄えられた電荷を放電する初期化機構を具備し、
     サンプリング期間、前記サンプリング期間においてサンプリングされた電圧が転送される転送期間、及び、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトするレベルシフト期間が、前記サンプリング期間、前記転送期間及び前記レベルシフト期間の順に繰り返し実行され、
     前記初期化機構は、最初の前記サンプリング期間が開始される前のみに作動する
     積分器。
  13.  請求項1、2及び4~11のいずれか1項に記載のスイッチトキャパシタ回路を備える積分器であって、
     さらに、前記蓄積容量に蓄えられた電荷を放電する初期化機構を具備し、
     サンプリング期間、前記サンプリング期間においてサンプリングされた電圧が転送される転送期間、ならびに、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第1レベルシフト期間及び第2レベルシフト期間が、前記サンプリング期間、前記転送期間、前記第1レベルシフト期間及び前記第2レベルシフト期間の順に繰り返し実行され、
     前記初期化機構は、最初の前記サンプリング期間が開始される前のみに作動する
     積分器。
  14.  請求項1~3及び9~11のいずれか1項に記載のスイッチトキャパシタ回路を備えるサンプルホールド回路であって、
     さらに、前記蓄積容量に蓄えられた電荷を放電する初期化機構を具備し、
     サンプリング期間、前記サンプリング期間においてサンプリングされた電圧が転送される転送期間、及び、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトするレベルシフト期間が、前記サンプリング期間、前記転送期間及び前記レベルシフト期間の順に実行され、
     前記レベルシフト期間と前記サンプリング期間との間において、前記初期化機構が作動する
     サンプルホールド回路。
  15.  請求項1、2及び4~11のいずれか1項に記載のスイッチトキャパシタ回路を備えるサンプルホールド回路であって、
     さらに、前記蓄積容量に蓄えられた電荷を放電する初期化機構を具備し、
     サンプリング期間、前記サンプリング期間においてサンプリングされた電圧が転送される転送期間、ならびに、前記第2出力端子の電圧レベルがシフトする第1レベルシフト期間及び第2レベルシフト期間が、前記サンプリング期間、前記転送期間、前記第1レベルシフト期間及び前記第2レベルシフト期間の順に繰り返し実行され、
     前記第2レベルシフト期間と前記サンプリング期間との間において、前記初期化機構が作動する
     サンプルホールド回路。
  16.  請求項12に記載の積分器、請求項13に記載の積分器、請求項14に記載のサンプルホールド回路、及び請求項15に記載のサンプルホールド回路のうちいずれかを具備する
     センサ回路。
  17.  請求項12に記載の積分器、請求項13に記載の積分器、請求項14に記載のサンプルホールド回路、及び請求項15に記載のサンプルホールド回路のうちいずれかを具備する
     アナログデジタル変換器。
  18.  請求項17に記載のアナログデジタル変換器を具備する
     撮像素子。
  19.  請求項18に記載の撮像素子を具備する
     デジタルカメラ。
  20.  入力電圧端子から入力された入力電圧の電圧レベルを変換し、当該変換された電圧を出力電圧端子から出力するスイッチトキャパシタ回路の駆動方法であって、
     前記入力電圧の印加が可能なサンプリング容量と前記出力電圧端子との間に配置された蓄積容量を介した電気経路を開放した状態で、前記反転増幅器の入力端子と出力端子とが短絡された状態の前記反転増幅器の短絡電圧と前記入力電圧との電位差を前記サンプリング容量によりサンプリングするサンプリングステップと、
     前記サンプリングステップの後、(1)前記反転増幅器の入力端子と出力端子とを開放し、かつ、前記電気経路を接続して前記サンプリング容量から前記蓄積容量へ電荷を転送し、(2)第1レベルシフト容量の第1端子及び第2レベルシフト容量の第1端子と前記反転増幅器の出力端子とを接続し、第1レベルシフト容量の第2端子及び第2レベルシフト容量の第2端子と前記短絡電圧を出力するオフセット補償回路とを接続して、前記出力電圧端子と前記オフセット補償回路との間の電位差をサンプリングする転送ステップと、
     前記転送ステップの後、前記電気経路を接続した状態で、(1)前記出力電圧端子と前記第2レベルシフト容量の第1端子とを接続し、前記第2レベルシフト容量の第2端子と前記オフセット補償回路とを開放して当該第2端子と前記第2レベルシフト容量の第1端子とを接続し、かつ、(2)前記第2レベルシフト容量の第2端子と前記オフセット補償回路とを開放して当該第2端子と前記反転増幅器の出力端子とを接続して、前記反転増幅器の出力端子の電圧をレベルシフトするレベルシフトステップとを含む
     スイッチトキャパシタ回路の駆動方法。
  21.  入力電圧端子から入力された入力電圧の電圧レベルを変換し、当該変換された電圧を出力電圧端子から出力するスイッチトキャパシタ回路の駆動方法であって、
     前記入力電圧の印加が可能なサンプリング容量と前記出力電圧端子との間に配置された蓄積容量を介した電気経路を開放した状態で、前記反転増幅器の入力端子と出力端子とが短絡された状態の前記反転増幅器の短絡電圧と前記入力電圧との電位差を前記サンプリング容量によりサンプリングするサンプリングステップと、
     前記サンプリングステップの後、(1)前記反転増幅器の入力端子と出力端子とを開放し、かつ、前記電気経路を接続して前記サンプリング容量から前記蓄積容量へ電荷を転送し、(2)第1レベルシフト容量の第1端子及び第2レベルシフト容量の第1端子と前記反転増幅器の出力端子とを接続し、第1レベルシフト容量の第2端子及び第2レベルシフト容量の第2端子と前記短絡電圧を出力するオフセット補償回路とを接続して、前記出力電圧端子と前記オフセット補償回路との間の電位差をサンプリングする転送ステップと、
     前記転送ステップの後、前記電気経路を接続した状態で、前記第1レベルシフト容量の第2端子と前記オフセット補償回路とを開放し、前記出力電圧端子と前記反転増幅器の出力端子との間に前記第1レベルシフト容量を電気的に直列挿入することにより、前記反転増幅器の出力端子の電圧をレベルシフトする第1レベルシフトステップと、
     前記第1レベルシフトステップの後、前記電気経路を接続した状態で、前記第2レベルシフト容量の第2端子と前記オフセット補償回路とを開放し、前記第1レベルシフト容量の第2端子と前記反転増幅器の出力端子との間に前記第2レベルシフト容量を電気的に直列挿入することにより、前記反転増幅器の出力端子の電圧をレベルシフトする第2レベルシフトステップとを含む
     スイッチトキャパシタ回路の駆動方法。
  22.  入力電圧端子から入力された入力電圧の電圧レベルを変換し、当該変換された電圧を出力電圧端子から出力するスイッチトキャパシタ回路の駆動方法であって、
     (1)前記出力電圧端子に接続され、反転増幅器の出力端子の電圧レベルをシフトするための第1レベルシフト容量の両端子及び第2レベルシフト容量の両端子を短絡し、かつ、(2)前記入力電圧の印加が可能なサンプリング容量と前記出力電圧端子との間に配置された蓄積容量を介した電気経路を開放した状態で、前記入力電圧と基準電圧との電位差を前記サンプリング容量によりサンプリングし、かつ、前記反転増幅器の入力端子と出力端子とが短絡された状態の前記反転増幅器の短絡電圧と前記基準電圧との電位差を、それぞれ、第1クランプ容量及び第2クランプ容量によりサンプリングするサンプリングステップと、
     前記サンプリングステップの後、前記サンプリング容量の両端子のうち前記入力電圧の印加が可能な入力印加端子を前記基準電圧に設定し、前記第1クランプ容量を前記反転増幅器の入力端子と前記サンプリング容量の両端子のうち前記入力印加端子と異なる端子との間に電気的に直列挿入し、前記電気経路を接続して前記サンプリング容量から前記蓄積容量へ電荷を転送し、前記第1レベルシフト容量及び前記第2レベルシフト容量のそれぞれに前記基準電圧と前記反転増幅器の出力端子の電圧との電位差を保持する転送ステップと、
     前記転送ステップの後、前記第1レベルシフト容量の第2端子と基準電圧端子とを開放し、前記出力電圧端子と前記第2のクランプ容量の他方の端子との間に前記第1レベルシフト容量を電気的に直列挿入することにより、前記反転増幅器の出力端子の電圧をレベルシフトする第1レベルシフトステップと、
     前記第1レベルシフトステップの後、前記第2レベルシフト容量の第2端子と基準電圧端子とを開放し、前記第1レベルシフト容量の第2端子と前記第2のクランプ容量の他方の端子との間に前記第2レベルシフト容量を電気的に直列挿入することにより、前記反転増幅器の出力端子の電圧をレベルシフトする第2レベルシフトステップとを含む
     スイッチトキャパシタ回路の駆動方法。
  23.  入力電圧端子から入力された入力電圧の電圧レベルを変換し、当該変換された電圧を出力電圧端子から出力するスイッチトキャパシタ回路の駆動方法であって、
     (1)前記出力電圧端子に接続され、反転増幅器の出力端子の電圧レベルをシフトするための第1レベルシフト容量の両端子及び第2レベルシフト容量の両端子を短絡し、かつ、(2)前記入力電圧の印加が可能なサンプリング容量と前記出力電圧端子との間に配置された蓄積容量を介した電気経路を開放した状態で、前記入力電圧と基準電圧との電位差を前記サンプリング容量によりサンプリングし、かつ、前記反転増幅器の入力端子と出力端子とが短絡された状態の前記反転増幅器の短絡電圧と前記基準電圧との電位差を、それぞれ、第1クランプ容量、第2クランプ容量及び第3クランプ容量によりサンプリングするサンプリングステップと、
     前記サンプリングステップの後、前記サンプリング容量の両端子のうち前記入力電圧の印加が可能な入力印加端子を前記基準電圧に設定し、前記第1クランプ容量を前記反転増幅器の入力端子と前記サンプリング容量の両端子のうち前記入力印加端子と異なる端子との間に電気的に直列挿入し、前記電気経路を接続して前記サンプリング容量から前記蓄積容量へ電荷を転送し、前記第1レベルシフト容量及び前記第2レベルシフト容量のそれぞれに前記基準電圧と前記反転増幅器の出力端子の電圧との電位差を保持する転送ステップと、
     前記転送ステップの後、前記第1レベルシフト容量の第2端子と基準電圧端子とを開放し、前記出力電圧端子と前記第2のクランプ容量の他方の端子との間に前記第1レベルシフト容量を電気的に直列挿入することにより、前記反転増幅器の出力端子の電圧をレベルシフトする第1レベルシフトステップと、
     前記第1レベルシフトステップの後、前記第2レベルシフト容量の第2端子と基準電圧端子とを開放し、前記第1レベルシフト容量の第2端子と前記第3のクランプ容量の他方の端子との間に前記第2レベルシフト容量を電気的に直列挿入することにより、前記反転増幅器の出力端子の電圧をレベルシフトする第2レベルシフトステップとを含む
     スイッチトキャパシタ回路の駆動方法。
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