WO2014013832A1 - 分波器およびこの分波器を備えるモジュール - Google Patents

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WO2014013832A1
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terminal
transmission
saw filter
reception
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秀司 大和
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株式会社村田製作所
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    • H03H9/70Multiple-port networks for connecting several sources or loads, working on different frequencies or frequency bands, to a common load or source
    • H03H9/72Networks using surface acoustic waves
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    • HELECTRICITY
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    • H03H9/46Filters
    • H03H9/64Filters using surface acoustic waves
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    • H03H9/6433Coupled resonator filters
    • H03H9/644Coupled resonator filters having two acoustic tracks
    • H03H9/6456Coupled resonator filters having two acoustic tracks being electrically coupled
    • H03H9/6459Coupled resonator filters having two acoustic tracks being electrically coupled via one connecting electrode

Definitions

  • the present invention relates to a duplexer including a SAW filter element for transmission and a SAW filter element for reception, and a module including the duplexer.
  • a duplexer including a SAW filter element for transmission and a SAW filter element for reception has been provided (see, for example, Patent Document 1).
  • a ladder-type transmission SAW filter that outputs an unbalanced transmission signal input from an unbalanced transmission terminal 502 to a common terminal 503 on one main surface of the piezoelectric substrate 501.
  • An element 504 and a longitudinally coupled resonator type receiving SAW filter element 507 that outputs an unbalanced reception signal input to the common terminal 503 to the balanced reception terminals 505 and 506 in a balanced state are formed.
  • the transmission SAW filter element 504 has series arm resonators 504a to 504c connected in series between the transmission terminal 502 and the common terminal 503, and one end side connected between the series arm resonators 504a to 504c and the other end side thereof.
  • Parallel arm resonators 504d and 504e connected to the ground terminal 508 are provided, and each of the resonators 504a to 504e is formed by disposing reflectors on both sides in the traveling direction of the surface acoustic wave of the comb electrode.
  • the receiving SAW filter element 507 is connected to the common terminal 503 via a resonator 507a functioning as a transfer device, and is connected to a subsequent stage of the longitudinally coupled resonator type filter element 507b. And a longitudinally coupled resonator type filter element 507c.
  • the longitudinally coupled resonator type filter element 507b is formed by arranging three comb electrodes in the traveling direction of the surface acoustic wave and arranging reflectors on both sides in the parallel direction of the comb electrodes.
  • one end side of each comb electrode on both sides is connected to the longitudinally coupled resonator type filter element 507c in the subsequent stage, and the other end side is connected to the ground terminal 509. Connected to and grounded.
  • one end side of the central comb electrode is connected to the ground terminal 509 and grounded, and the other end side is connected to the common terminal 503 via the resonator 507a, and an unbalanced reception signal is input.
  • the longitudinally coupled resonator type filter element 507c is formed by arranging four comb electrodes in the traveling direction of the surface acoustic wave and arranging reflectors on both sides of the comb electrodes in the juxtaposed direction. Of the four comb electrodes forming the longitudinally coupled resonator type filter element 507c, one end of each comb electrode on both sides is connected to the ground terminal 509 and grounded, and the other end is coupled to the previous vertical coupling. The output of the resonator type filter element 507b is input.
  • each of the central comb electrodes is connected to the receiving terminals 505 and 506, and the other end side is connected to the ground terminal 509 and grounded, and a reception signal in a balanced state is output from the receiving terminals 505 and 506.
  • a shield electrode 510 connected to the ground terminal 509 and grounded is formed on one main surface of the piezoelectric substrate 501 so as to surround the reception SAW filter element 507, so that the transmission SAW filter element 504 and the reception are received.
  • the isolation characteristics with the SAW filter element 507 for use are improved.
  • a longitudinally coupled resonator type filter element is output from each of the receiving terminals 505 and 506 so as to output a reception signal in an equilibrium state in which the amplitude is substantially equal and the phase is shifted by approximately 180 °. 507b and 507c are configured.
  • JP 2010-178306 A paragraphs 0011 to 0018, FIG. 1, abstract, etc.
  • the receiving SAW is provided on one main surface of the piezoelectric substrate 501. Since the shield electrode 510 needs to be formed so as to surround the filter element 507, there is a problem that the duplexer 500 is increased in size.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and can improve the isolation characteristics between the transmission filter element and the reception filter element without increasing the size of the duplexer.
  • the purpose is to provide.
  • a duplexer includes a transmission SAW filter element that outputs an unbalanced transmission signal of a first frequency band input from an unbalanced transmission terminal to a common terminal; A receiving SAW filter element for outputting an unbalanced received signal of the second frequency band input to the common terminal to the balanced first and second receiving terminals in a balanced state, and the receiving SAW filter
  • the element includes a first filter path from the common terminal to the first reception terminal, and a second filter path from the common terminal to the second reception terminal, and the first and second filters Of the filter paths, one of the filter paths having poor attenuation characteristics of the transmission signal band at each of the first and second reception terminals when the transmission signal is input to the common terminal is the other filter path. It is characterized by being located away from remote the transmission terminal.
  • the reception SAW filter element includes a first filter path from the common terminal to the first reception terminal, and a second filter path from the common terminal to the second reception terminal.
  • the other filter path is the other filter path. It is arranged farther from the transmission terminal than the path. That is, among the first and second filter paths included in the reception SAW filter element, a filter path that has good attenuation characteristics in the transmission signal band and is not easily affected by the transmission signal input to the transmission SAW filter element is a transmission terminal.
  • a filter path that is poor in attenuation characteristics in the transmission signal band and is easily affected by the transmission signal input to the transmission SAW filter element is disposed away from the transmission terminal.
  • the transmission signal input to the transmission terminal interferes with the reception signal input to the reception SAW filter element when the reception SAW filter element is disposed closer than the transmission terminal. Can be suppressed. Therefore, by arranging both filter paths as described above, both filters are caused by interference between the transmission signals input to the transmission SAW filter elements in the first and second filter paths of the reception SAW filter elements. Since the degree of adverse effects in the path can be approached, the isolation characteristics in the differential mode of the duplexer can be improved. Therefore, the isolation characteristic between the transmitting SAW filter element and the receiving SAW filter element is improved without increasing the size of the duplexer by providing shield means such as a shield electrode as in the prior art. be able to.
  • the ladder-type SAW filter element for transmission and the SAW filter element for reception of the longitudinally coupled resonator type include a piezoelectric substrate having a rectangular shape in plan view formed on one main surface thereof, and the SAW filter element for transmission includes
  • the reception SAW filter element is formed in one region of the one principal surface divided by an imaginary line orthogonal to a pair of opposite sides of the piezoelectric substrate, and the receiving SAW filter element is the other of the one principal surface divided by the imaginary line.
  • the common terminal is disposed in the vicinity where one of the pair of opposite sides intersects the virtual line, and the transmission terminal is located near the other side of the pair of opposite sides in the one region from the virtual line.
  • the one filter path is arranged at a far end position, and the one end of the one filter path is far from the virtual line at one end of the pair of opposite sides in the other area.
  • the other filter path is arranged near one side of the set of opposite sides, and the receiving terminal of the other filter path is far from the virtual line near the other side of the set of opposite sides in the other region. It is good to arrange
  • the module of the present invention is characterized by comprising the duplexer according to claim 1 or 2 and a module substrate on which the duplexer is mounted.
  • the invention configured as described above provides a module having a practical configuration in which a duplexer whose isolation characteristics are improved without being increased in size is mounted on a module substrate, thereby being reduced in size. be able to.
  • the attenuation amount of the transmission signal at each of the first and second reception terminals when the transmission signal is input to the common terminal among the first and second filter paths of the reception SAW filter element is Since one smaller filter path is arranged farther from the transmission terminal than the other filter path, the transmission input to the transmission SAW filter element in each of the first and second filter paths of the reception SAW filter element It is possible to approach the degree of adverse effects in both filter paths due to signal interference, and without increasing the size of the duplexer by providing shielding means such as a shield electrode as in the past, The isolation characteristic between the receiving filter element and the receiving filter element can be improved.
  • FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the module of the present invention
  • FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of the module of FIG. 3 is a plan view showing one main surface on which the filter element of the element substrate included in the duplexer is formed
  • FIG. 4 is a schematic diagram showing a circuit configuration of the SAW filter element for transmission
  • FIG. 5 is a SAW filter for reception. It is a schematic diagram which shows the circuit structure of an element.
  • FIG. 6 is a diagram showing the isolation characteristics in the first filter path of the receiving SAW filter element
  • FIG. 7 is a chart showing the isolation characteristics in the second filter path of the receiving SAW filter element
  • FIG. 8 is a differential. It is a figure which shows the isolation characteristic of the splitter in mode. 1 to 5 show only main components according to the present invention, and other components are not shown.
  • a module 1 shown in FIGS. 1 and 2 is mounted on a mother board provided in a communication portable terminal such as a mobile phone or a portable information terminal.
  • a demultiplexer having a transmission filter 14 and a reception filter 15 is provided.
  • Device 10 duplexer
  • module substrate 2 matching circuit 3
  • ground electrode 4 various electronic components (not shown) such as switch ICs, filters, resistors, capacitors, and coils, and resin layer 7. It is formed as a high frequency antenna switch module.
  • the module 1 is mounted on the mother board, the module 1 is connected to various signal lines and power lines such as the antenna line ANT, the ground line GND, the transmission signal line Tx, and the reception signal line Rx provided in the mother board.
  • signal lines and power lines such as the antenna line ANT, the ground line GND, the transmission signal line Tx, and the reception signal line Rx provided in the mother board.
  • the module substrate 2 is integrally formed as a ceramic laminate by laminating and firing a plurality of dielectric layers formed of ceramic green sheets. That is, the ceramic green sheet forming each dielectric layer is a sheet in which a slurry in which a mixed powder such as alumina and glass is mixed with an organic binder and a solvent is formed into a sheet by a molding machine. So that it can be fired at a low temperature. Then, via holes are formed on the ceramic green sheet cut into a predetermined shape by laser processing, etc., and the formed via holes are filled with a conductive paste containing Ag, Cu, etc. Via conductors are formed, various electrode patterns are formed by printing with a conductive paste, and each dielectric layer is formed.
  • via conductors and electrode patterns are appropriately formed in each dielectric layer, so that wiring for connecting the duplexer 10 mounted on the module substrate 2 and electronic components such as the chip coil 3a to the module substrate 2 A pattern 5, a ground electrode 4, a mounting electrode 6 and the like are formed. That is, the electrode pattern and the via conductor are appropriately provided in each dielectric layer to form the ground electrode 4, the wiring pattern 5, the mounting electrode 6, and the like, so that the duplexer 10 mounted on the module substrate 2 and Electronic components such as the chip coil 3a and the mounting electrode 6 are electrically connected to each other.
  • a circuit element such as a capacitor or a coil is formed by the electrode pattern and via conductor formed in each dielectric layer, or a filter circuit or a matching circuit 3 is formed by the formed circuit element such as a capacitor or coil. May be.
  • the matching circuit 3 is formed by a chip coil 3a which is a chip component mounted on the mounting surface 2a of the module substrate 2, and is demultiplexed to the output side of the transmission filter 14 and the input side of the reception filter 15. It is connected via the common terminal 17c of the vessel 10.
  • the ground electrode 4 is disposed below the duplexer 10, provided on the mounting surface 2 a of the module substrate 2, and electrically connected to the ground line GND.
  • the ground electrode 4 is connected to the ground terminal electrode of the duplexer 10 by a connection electrode such as a solder ball (not shown).
  • the resin layer 7 is provided on the mounting surface 2 a so as to cover the side surface and the upper surface of the duplexer 10, and other electronic components are similarly covered with the resin layer 7.
  • the duplexer 10 has a wafer level-chip size package (WL-CSP) structure, an element substrate 11 (corresponding to the “piezoelectric substrate” of the present invention) having a rectangular shape in plan view, an insulating layer 12, and a cover layer. 13 and a transmission filter 14 and a reception filter 15 having different high-frequency signal passbands.
  • WL-CSP wafer level-chip size package
  • the element substrate 11 is formed of a piezoelectric body such as lithium niobate, lithium tantalate, or quartz.
  • a SAW (surface acoustic wave) filter element is configured by providing a comb-shaped electrode (IDT electrode) or a reflector formed of Al, Cu, or the like in a predetermined region of the one principal surface 11a of the element substrate 11.
  • a SAW filter element 14a included in the transmission filter 14 and a SAW filter element 15a included in the reception filter 15 are formed by the SAW filter elements including comb electrodes and reflectors.
  • a comb electrode or a terminal electrode 16 connected to a reflector forming the SAW filter element for transmission 14a and the SAW filter element for reception 15a are provided on one main surface 11a of the element substrate 11.
  • the electrode 17 is connected to each terminal electrode 16 through the insulating layer 12, whereby the transmission terminal 17 a connected to the input side of the transmission filter 14 (transmission SAW filter element 14 a) is connected to the duplexer 10.
  • the first and second reception terminals 17b1 and 17b2 connected to the output side of the reception filter 15 (reception SAW filter element 15a), and the output side of the transmission filter element 14 and the input side of the reception filter element 15
  • a common terminal 17c (antenna terminal) and a ground terminal 17d are provided on one main surface 11a of the element substrate 11.
  • the insulating layer 12 is disposed so as to surround a predetermined region in which the comb electrode and the reflector of the main surface 11a of the element substrate 11 are provided.
  • the insulating layer 12 has a resin layer formed of a photosensitive epoxy resin or polyimide resin on one main surface 11a of the element substrate 11 on which the comb electrodes, the reflectors, and the terminal electrodes 16 are provided. Later, through a photolithography process, the resin layer is removed from a predetermined region where the comb electrode and the reflector are provided and the region of the terminal electrode 16.
  • the cover layer 13 is laminated on the insulating layer 12 to form a space surrounded by the insulating layer 12 between the cover layer 13 and the element substrate 11, and the transmitting SAW filter element 14a and the receiving SAW are formed in the formed space.
  • a filter element 15a is arranged.
  • the cover layer 13 is filled with a paste of Cu or Al in a connection hole of a resin layer that is laminated on the insulating layer 12 with a photosensitive epoxy resin or polyimide resin through a photolithography process. It forms by forming the electrode 17 connected to the terminal electrode 16 by performing via fill plating.
  • the electrode 17 connected to the terminal electrode 16 and exposed from the cover layer 13 forms a transmission terminal 17a, reception terminals 17b1 and 17b2, a common terminal 17c, and a ground terminal 17d.
  • the terminals 17a to 17d are mounted for mounting.
  • Solder balls 18 are formed to form the duplexer 10.
  • the cover layer 13 faces the mounting surface 2 a of the module substrate 2, and the upper surface formed by the other main surface of the element substrate 11 is exposed from the resin layer 7 and mounted on the mounting surface 2 a. ing.
  • the transmission SAW filter element 14a included in the transmission filter 14 outputs an unbalanced transmission signal of the first frequency band F1 input from the unbalanced transmission terminal 17a to the common terminal 17c.
  • a resonator having a comb electrode and a reflector is connected in a ladder shape in one region of one main surface 11a divided by a virtual line VL orthogonal to a pair of opposite sides of a pair of element substrates 11. It is formed by.
  • the SAW filter element 14a for transmission is between the transmission terminal electrode 16a connected to the electrode 17 forming the transmission terminal 17a and the common terminal electrode 16c connected to the electrode 17 forming the common terminal 17c.
  • the series arm resonators P1 to P5 connected in series, and one end side connected between the series arm resonators P1 to P5, and the other end side is connected to the electrode 17 forming the ground terminal 17d.
  • parallel arm resonators P6 to P9 connected to each other.
  • Each of the resonators P1 to P9 is formed by disposing reflectors on both sides of the comb electrode in the traveling direction of the surface acoustic wave.
  • the reception SAW filter element 15a included in the reception filter 15 is in a state where the unbalanced reception signal of the second frequency band F2 input to the common terminal 17c is balanced to the balanced first and second reception terminals 17b1 and 17b2.
  • longitudinally coupled resonator type filter elements S1 and S2 are connected in parallel to the other region of the one principal surface 11a divided by the virtual line VL of the element substrate 11. Is formed.
  • the receiving SAW filter element 15a has a common terminal and a first filter path C1 extending from the common terminal electrode 16c to the first receiving terminal electrode 16b1 connected to the electrode 17 forming the first receiving terminal 17b1.
  • the first and second filter paths C1 and C2 the transmission signals at the first and second reception terminals 17b1 and 17b2 when the transmission signal of the first frequency band F1 is input to the common terminal 17c.
  • the second filter path C2 having a poor band attenuation characteristic is arranged farther from the transmission terminal 17a than the first filter path C1.
  • the first filter path C1 is connected to the common terminal electrode 16c via the resonator P21, and the filter element S1 is connected to the first receiving terminal electrode 16b1 at the subsequent stage via the resonator P22.
  • S2 are provided in parallel
  • the second filter path C2 is connected to the common terminal electrode 16c via the resonator P21 and is connected to the second receiving terminal electrode 16b2 at the subsequent stage via the resonator P23.
  • Filter elements S3 and S4 are provided in parallel. As shown in FIGS. 3 and 4, each of the filter elements S1 to S4 is formed by arranging three comb electrodes in parallel in the traveling direction of the surface acoustic wave.
  • each comb electrode is connected to the subsequent resonators P22 and P23, and the other end is connected to the ground terminal electrode 16d and grounded. ing.
  • one end of the center comb electrode is connected to the ground terminal electrode 16d and grounded, and the common terminal electrode 16c is connected to the other end of the resonator.
  • a reception signal in an unbalanced state connected via P21 is input.
  • the outputs of the filter elements S1 and S2 are output from the first reception terminal electrode 16b1 to the first reception terminal 17b1 via the resonator P22, and the outputs of the filter elements S3 and S4 are output via the resonator P23.
  • the signal is output from the second reception terminal electrode 16b2 to the second reception terminal 17b2.
  • the common terminal 17c (common terminal electrode 16c) is disposed in the vicinity where one of a pair of opposite sides of the element substrate 11 intersects the virtual line VL, and the transmission terminal 17a (transmission terminal electrode 16a).
  • the transmission terminal 17a transmission terminal electrode 16a
  • the first filter path C1 of the receiving SAW filter element 15a is an element in the other region of the one major surface 11a in which the first receiving terminal 17b1 (first receiving terminal electrode 16b1) is divided by the virtual line VL.
  • the second filter path C2 of the receiving SAW filter element 15a is disposed at an end position far from the virtual line VL on the other side of the pair of opposite sides of the substrate 11, and the second filter path C2 of the receiving SAW filter element 15a has its second receiving terminal 17b2 (second receiving terminal 17b2).
  • the terminal electrode 16b2) is arranged at a position far from the virtual line VL on one side of a pair of opposite sides of the element substrate 11 in the other region of the one principal surface 11a divided by the virtual line VL.
  • a longitudinally coupled resonator type filter is used so that balanced reception signals having substantially the same amplitude and a phase shift of approximately 180 ° are output from the receiving terminal electrodes 16b1 and 16b2.
  • Elements S1 to S4 are configured. Further, as shown in FIG. 3, the resonator P21 and the other end side of the center comb electrode of each filter element S1 to S4 are electrically connected via a wire W. Further, the resonators P21 to P23 have the same configuration as the above-described resonators P1 to P9, and thus the description of the configuration is omitted.
  • via holes are formed on a ceramic green sheet formed in a predetermined shape with a laser or the like, and a conductor paste is filled inside or via fill plating is performed to form a via conductor (wiring pattern 5) for interlayer connection.
  • Electrode patterns such as the mounting electrode 2a, the ground electrode 4, the land-like wiring pattern 5 and the mounting electrode 6 on the mounting surface 2a are printed with a conductive paste to form each dielectric layer constituting the module substrate 2.
  • a ceramic green sheet is prepared. Each ceramic green sheet is provided with a plurality of via conductors and electrode patterns so that a large number of module substrates 2 can be formed at a time.
  • each dielectric layer is laminated to form a laminate.
  • substrate 2 after baking is formed so that the area
  • the assembly of the module substrates 2 is formed by firing the laminate at a low temperature.
  • various electronic components such as the duplexer 10 and the chip coil 3 a are mounted on the mounting surface 2 a of the assembly of the module substrates 2.
  • the mounting surface 2 a of the assembly of the module substrates 2 is filled with resin so as to cover the side surfaces of the duplexer 10, and the resin layer 7 is provided on each module substrate 2 by heat curing.
  • an assembly of modules 1 is formed.
  • the assembly of the modules 1 is divided individually, and the module 1 is completed.
  • the transmission signal output from the transmission signal line Tx of the mother board to the transmission terminal 17a of the duplexer 10 via the mounting electrode 6 and the wiring pattern 5 is transmitted to the transmission filter element 14.
  • the A reception signal input from the antenna line ANT of the mother board to the common terminal 17c of the duplexer 10 via the mounting electrode 6 and the wiring pattern 5 (matching circuit 3) is input to the reception filter element 15.
  • Predetermined filtering is performed, the signal is output from the reception terminal 17 b to the module substrate 2, and is output to the reception signal line Rx of the mother substrate via the wiring pattern 5 and the mounting electrode 6.
  • the module substrate 2 provided with the wiring pattern 5 and the module 1 including the duplexer 10 having the WL-CSP structure are not limited to the above-described manufacturing method, and may be formed by a known general manufacturing method.
  • the module substrate 2 can be formed of a printed circuit board, LTCC, alumina substrate, glass substrate, composite material substrate, single layer substrate, multilayer substrate, etc. using resin, ceramic, polymer material, etc. What is necessary is just to form the module board
  • isolation characteristics Next, the isolation characteristics of the duplexer 10 will be described.
  • the isolation characteristics shown in FIGS. 6 to 8 indicate the magnitudes of signals observed at the first and second reception terminals 17b1 and 17b2 when a signal having an arbitrary frequency is input to the transmission terminal 17a. It is a thing.
  • the solid lines in FIGS. 6 to 8 indicate the first and second when the transmission signal of the first frequency band F1 is input to the common terminal 17c among the first and second filter paths C1 and C2.
  • the broken lines in FIGS. 6 to 8 show the isolation characteristics when the second filter path C2 having a poor attenuation characteristic of the transmission signal band is arranged farther from the transmission terminal 17a than the first filter path C1. Show.
  • the first filter path C1 has better attenuation characteristics of the transmission signal in the first frequency band F1 than the second filter path C2, but the first filter path C1 is the second filter path C1.
  • the isolation characteristic in the first frequency band F1 of the first filter path C1 deteriorates by about 1.1 dB (solid line ⁇ broken line in FIG. 6).
  • the second filter path C2 which has inferior attenuation characteristics of the transmission signal in the first frequency band F1 than the first filter path C1
  • the isolation characteristic in the first frequency band F1 of the second filter path C2 is improved by about 1.6 dB (solid line ⁇ broken line in FIG. 7).
  • the isolation characteristic in the first frequency band F1 in the differential mode of the device 10 is improved by about 1.3 dB (solid line ⁇ broken line in FIG. 8).
  • the reception SAW filter element 15a includes the first filter path C1 from the common terminal 17c to the first reception terminal 17b1, and the common terminal 17c to the second reception terminal 17b2. And a second filter path C2.
  • the filter path C2 is arranged farther from the transmission terminal 17a than the other filter path C1. That is, among the first and second filter paths C1 and C2 included in the reception SAW filter element 15a, a filter having excellent transmission signal attenuation characteristics and being hardly affected by the transmission signal input to the transmission SAW filter element 14a.
  • the path C1 is disposed near the transmission terminal 17a, the attenuation characteristic of the transmission signal is poor, and the filter path C2 that is easily affected by the transmission signal input to the transmission SAW filter element 14a is disposed away from the transmission terminal 17a. Yes.
  • the transmission signal input to the transmission terminal 17a is input to the reception SAW filter element 15a when the reception SAW filter element 15a is disposed farther than the transmission SAW filter element 15a is disposed near the transmission terminal 17a. Interference with the received signal can be suppressed. Therefore, by arranging both filter paths C1 and C2 as described above, the transmission input to the transmission SAW filter element 14a in each of the first and second filter paths C1 and C2 of the reception SAW filter element 15a. Since the degree of adverse effects in both filter paths C1 and C2 due to signal interference can be approached, the isolation characteristics of the duplexer 10 in the differential mode can be improved. Therefore, the isolation characteristic between the transmission SAW filter element 14a and the reception SAW filter element 15a can be reduced without increasing the size of the duplexer 10 by providing a shield means such as a shield electrode as in the prior art. Improvements can be made.
  • the duplexer 10 having a practical configuration in which the transmitting SAW filter element 14a and the receiving SAW filter element 15a are arranged in a well-balanced manner on the main surface 11a of the element substrate 11 is provided. be able to.
  • the duplexer 10 with improved isolation characteristics on the module substrate 2 without increasing the size, it is possible to provide the module 1 having a practical configuration that is reduced in size.
  • cover layer 13 is laminated and disposed on the insulating layer 12 disposed so as to surround a predetermined region of the one principal surface 11a of the element substrate 11 formed of the piezoelectric substrate, whereby the element substrate 11 and the cover layer 13 are arranged.
  • a duplexer 10 including SAW filter elements 14a and 15b formed by providing comb-tooth electrodes in a predetermined region of the element substrate 11 in a space formed by being surrounded by an insulating layer 12 includes a cover layer. 13 faces the mounting surface 2 a, and the upper surface formed by the other main surface of the element substrate 11 is exposed from the resin layer 7 and mounted on the mounting surface 2 a of the module substrate 2.
  • the duplexer 10 including the SAW filter elements 14a and 15 does not have a structure in which a chip component including the SAW filter elements 14a and 15b is provided on a package substrate formed of a resin material or a ceramic material as in the related art. Since the element substrate 11 formed by providing the comb electrodes directly on the piezoelectric substrate is formed in a wafer level-chip size package (WL-CSP) structure, the duplexer 10 is provided on the module substrate 2. Can be further reduced in height and size.
  • WL-CSP wafer level-chip size package
  • the resin layer 7 is also formed by filling the resin between the mounting surface 2a and the cover layer 13 of the duplexer 10. Therefore, the mounting strength of the duplexer 10 can be improved by the resin filled between the mounting surface 2a and the cover layer 13, and the strength of the cover layer 13 of the duplexer 10 can be improved.
  • the chip coil 3a is mounted on the mounting surface 2a of the module substrate 2 in order to form the matching circuit 3 connected to the transmission filter element 14 and the reception filter element 15, but the transmission filter element 14 or a chip component such as a chip capacitor is mounted on the mounting surface 2a together with the chip coil 3a or in place of the chip coil 3a according to the configuration of the circuit connected to the reception filter element 15 or 14. Also good.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications other than those described above can be made without departing from the spirit of the present invention. You may combine.
  • the first frequency band F1 is set to a band lower than the second frequency band F2, but the first frequency band F1 is set to a band higher than the second frequency band F2.
  • the first and second frequency bands F1 and F2 may be set as appropriate according to the frequency band used for communication in a communication device or the like in which the duplexer 10 is used.
  • the attenuation characteristics of the transmission signal in the first frequency band F1 of each of the first and second filter paths C1 and C2 can be derived by analyzing in advance by simulation or by analyzing with a network analyzer. . Further, in order to output an unbalanced received signal in a balanced state by adjusting the phase or the like, each filter path C1, C2 has the number of teeth and the length of the comb electrode constituting each filter path C1, C2. Therefore, based on the design of the filter paths C1 and C2, the attenuation characteristics of the transmission signal of the first frequency band F1 in the filter paths C1 and C2 are derived by calculation (simulation). You can also
  • the configuration of the duplexer 10 is not limited to the WL-CSP structure described above, and may be formed in a so-called CSP structure having a package substrate, or the duplexer 10 may be formed without providing the cover layer 13 described above.
  • the structure directly mounted on the mounting surface 2a of the module substrate 2 may be used.
  • the module in which one duplexer is mounted on the module substrate has been described as an example.
  • a module is formed by mounting two or more duplexers on the module substrate.
  • a switch IC may be mounted on the module substrate, and a duplexer to be used may be selected and switched by the switch IC from a plurality of duplexers mounted on the module substrate.
  • the transmission filter 14 and the reception filter 15 are arranged in the same space, but two spaces surrounded by the insulating layer 12 are formed between the element substrate 11 and the cover layer 13.
  • the transmission filter 14 and the reception filter 15 may be arranged in each space.
  • the transmission filter 14 and the reception filter 15 are separated from each other in structure. For example, heat generated by applying power to the transmission filter 14 affects the characteristics of the reception filter 15. This can be suppressed, and the isolation characteristics between the transmission filter 14 and the reception filter 15 can be further improved.
  • the present invention can be widely applied to a duplexer including a transmission SAW filter element and a reception SAW filter element.

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Abstract

 分波器を大型化することなく、送信用フィルタ素子と受信用フィルタ素子との間のアイソレーション特性の向上を図ることができる技術を提供することを目的とする。 送信信号の減衰特性に優れ、送信用SAWフィルタ素子14aに入力された送信信号の影響を受けにくいフィルタ経路C1が送信端子17aの近くに配置され、送信信号帯域の減衰特性が悪く、送信用SAWフィルタ素子14aに入力された送信信号の影響を受けやすいフィルタ経路C2が送信端子17aから離れて配置されているので、分波器10のディファレンシャルモードにおけるアイソレーション特性の向上を図ることができ、従来のようにシールド電極等のシールド手段を設けたりすることにより分波器10を大型化することなく、送信用SAWフィルタ素子14aと受信用SAWフィルタ素子15aとの間のアイソレーション特性の向上を図ることができる。

Description

分波器およびこの分波器を備えるモジュール
 本発明は、送信用SAWフィルタ素子および受信用SAWフィルタ素子を備える分波器およびこの分波器を備えるモジュールに関する。
 従来、送信用SAWフィルタ素子および受信用SAWフィルタ素子を備える分波器が提供されている(例えば特許文献1参照)。図9に示す従来の分波器500では、圧電基板501の一主面に、非平衡な送信端子502から入力された非平衡な送信信号を共通端子503に出力するラダー型の送信用SAWフィルタ素子504と、共通端子503に入力された非平衡な受信信号を平衡な受信端子505,506に平衡な状態で出力する縦結合共振子型の受信用SAWフィルタ素子507とが形成されている。
 送信用SAWフィルタ素子504は、送信端子502と共通端子503との間に直列に接続された直列腕共振子504a~504cと、各直列腕共振子504a~504c間に一端側が接続され他端側が接地端子508に接続された並列腕共振子504d,504eとを備え、各共振子504a~504eは、くし歯電極の弾性表面波の進行方向における両側に反射器が配置されて形成されている。受信用SAWフィルタ素子507は、共通端子503に移送器として機能する共振子507aを介して接続された縦結合共振子型フィルタ素子507bと、縦結合共振子型フィルタ素子507bの後段に接続された縦結合共振子型フィルタ素子507cとを備えている。
 縦結合共振子型フィルタ素子507bは、弾性表面波の進行方向に3つのくし歯電極が並設され、くし歯電極の並設方向における両側に反射器が配置されて形成されている。また、縦結合共振子型フィルタ素子507bを形成する3つのくし歯電極のうち、両側のくし歯電極それぞれの一端側が後段の縦結合共振子型フィルタ素子507cに接続され、他端側が接地端子509に接続されて接地されている。また、中央のくし歯電極の一端側が接地端子509に接続されて接地され、他端側に共通端子503が共振子507aを介して接続されて非平衡な状態の受信信号が入力される。
 縦結合共振子型フィルタ素子507cは、弾性表面波の進行方向に4つのくし歯電極が並設され、くし歯電極の並設方向における両側に反射器が配置されて形成されている。また、縦結合共振子型フィルタ素子507cを形成する4つのくし歯電極のうち、両側のくし歯電極それぞれの一端側が接地端子509に接続されて接地され、それぞれの他端側に前段の縦結合共振子型フィルタ素子507bの出力が入力される。また、中央側のくし歯電極それぞれの一端側が受信端子505,506に接続され、他端側が接地端子509に接続されて接地されて、受信端子505,506から平衡な状態の受信信号が出力される。
 また、圧電基板501の一主面に、接地端子509に接続されて接地されたシールド電極510が、受信用SAWフィルタ素子507を囲むように形成されることにより、送信用SAWフィルタ素子504と受信用SAWフィルタ素子507との間のアイソレーション特性の向上が図られている。なお、受信用SAWフィルタ素子507では、受信端子505,506それぞれから、振幅がほぼ等しく、位相がほぼ180°ずれた平衡な状態の受信信号が出力されるように、縦結合共振子型フィルタ素子507b,507cが構成されている。
特開2010-178306号公報(段落0011~0018、図1、要約書など)
 ところで、上記した従来の分波器500では、送信用SAWフィルタ素子504と受信用SAWフィルタ素子507との間のアイソレーション特性の向上を図るために、圧電基板501の一主面に受信用SAWフィルタ素子507を囲むようにシールド電極510が形成されている必要があるため分波器500が大型化するという問題があった。
 この発明は、上記した課題に鑑みてなされたものであり、分波器を大型化することなく、送信用フィルタ素子と受信用フィルタ素子との間のアイソレーション特性の向上を図ることができる技術を提供することを目的とする。
 上記した目的を達成するために、本発明の分波器は、非平衡な送信端子から入力された第1の周波数帯域の非平衡な送信信号を共通端子に出力する送信用SAWフィルタ素子と、前記共通端子に入力された第2の周波数帯域の非平衡な受信信号を平衡な第1、第2の受信端子に平衡な状態で出力する受信用SAWフィルタ素子とを備え、前記受信用SAWフィルタ素子は、前記共通端子から前記第1の受信端子に至る第1のフィルタ経路と、前記共通端子から前記第2の受信端子に至る第2のフィルタ経路とを備え、前記第1、第2のフィルタ経路のうち、前記共通端子に前記送信信号が入力されたときの前記第1、第2の受信端子それぞれにおける前記送信信号帯域の減衰特性が悪い一方の前記フィルタ経路が、他方の前記フィルタ経路よりも前記送信端子から離れて配置されていることを特徴としている。
 このように構成された発明では、受信用SAWフィルタ素子は、共通端子から第1の受信端子に至る第1のフィルタ経路と、共通端子から第2の受信端子に至る第2のフィルタ経路とを備えている。そして、第1、第2のフィルタ経路のうち、共通端子に送信信号が入力されたときの第1、第2の受信端子それぞれにおける送信信号に対する減衰特性が悪い一方のフィルタ経路が、他方のフィルタ経路よりも送信端子から離れて配置されている。すなわち、受信用SAWフィルタ素子が備える第1、第2のフィルタ経路のうち、送信信号帯域における減衰特性が良く、送信用SAWフィルタ素子に入力された送信信号の影響を受けにくいフィルタ経路が送信端子の近くに配置され、送信信号帯域における減衰特性が悪く、送信用SAWフィルタ素子に入力された送信信号の影響を受けやすいフィルタ経路が送信端子から離れて配置されている。
 一般的に、受信用SAWフィルタ素子が送信端子の近くに配置されるよりも離れて配置された方が、送信端子に入力された送信信号が受信用SAWフィルタ素子に入力された受信信号に干渉するのを抑制することができる。そのため、上記したように両フィルタ経路が配置されることにより、受信用SAWフィルタ素子の第1、第2のフィルタ経路それぞれに送信用SAWフィルタ素子に入力された送信信号が干渉することによる両フィルタ経路における悪影響の程度を近付けることができるので、分波器のディファレンシャルモードにおけるアイソレーション特性の向上を図ることができる。したがって、従来のようにシールド電極等のシールド手段を設けたりすることにより分波器を大型化することなく、送信用SAWフィルタ素子と受信用SAWフィルタ素子との間のアイソレーション特性の向上を図ることができる。
 また、ラダー型の前記送信用SAWフィルタ素子および縦結合共振子型の前記受信用SAWフィルタ素子がその一主面に形成された平面視矩形状の圧電基板を備え、前記送信用SAWフィルタ素子は、前記圧電基板の一組の対辺に直交する仮想線により区分される前記一主面の一方領域に形成され、前記受信用SAWフィルタ素子は、前記仮想線により区分される前記一主面の他方領域に形成され、前記共通端子は、前記一組の対辺の一方と前記仮想線が交わる付近に配置され、前記送信端子は、前記一方領域における前記一組の対辺の他方寄りで前記仮想線から遠い端部位置に配置され、前記一方のフィルタ経路は、該一方のフィルタ経路の前記受信端子が前記他方領域における前記一組の対辺の一方寄りで前記仮想線から遠い端部位置に配置されて前記一組の対辺の一方寄りに配置され、前記他方のフィルタ経路は、該他方のフィルタ経路の前記受信端子が前記他方領域における前記一組の対辺の他方寄りで前記仮想線から遠い端部位置に配置されて前記一組の対辺の他方寄りに配置されているとよい。
 このように構成すると、圧電基板の一主面に、送信用SAWフィルタ素子および受信用SAWフィルタ素子がバランスよく配置された実用的な構成の分波器を提供することができる。
 また、本発明のモジュールは、請求項1または2に記載の分波器と、前記分波器が実装されるモジュール基板とを備えことを特徴としている。
 このように構成された発明では、大型化することなくアイソレーション特性の向上が図られた分波器がモジュール基板に実装されることにより小型化が図られた実用的な構成のモジュールを提供することができる。
 本発明によれば、受信用SAWフィルタ素子の第1、第2のフィルタ経路のうち、共通端子に送信信号が入力されたときの第1、第2の受信端子それぞれにおける送信信号の減衰量が小さい一方のフィルタ経路が、他方のフィルタ経路よりも送信端子から離れて配置されているので、受信用SAWフィルタ素子の第1、第2のフィルタ経路それぞれに送信用SAWフィルタ素子に入力された送信信号が干渉することによる両フィルタ経路における悪影響の程度を近付けることができ、従来のようにシールド電極等のシールド手段を設けたりすることにより分波器を大型化することなく、送信用フィルタ素子と受信用フィルタ素子との間のアイソレーション特性の向上を図ることができる。
本発明のモジュールの一実施形態を示す図である。 図1のモジュールの電気的構成を示すブロック図である。 分波器が備える素子基板のSAWフィルタ素子が形成された一主面を示す平面図である。 送信用SAWフィルタ素子の回路構成を示す模式図である。 受信用SAWフィルタ素子の回路構成を示す模式図である。 受信用SAWフィルタ素子の第1のフィルタ経路におけるアイソレーション特性を示す図である。 受信用SAWフィルタ素子の第2のフィルタ経路におけるアイソレーション特性を示す図である。 ディファレンシャルモードにおける分波器のアイソレーション特性を示す図である。 従来の分波器を示す図である。
 本発明の分波器を備えるモジュールの一実施形態について、図1~図8を参照して説明する。図1は本発明のモジュールの一実施形態を示す図、図2は図1のモジュールの電気的構成を示すブロック図である。また、図3は分波器が備える素子基板のフィルタ素子が形成された一主面を示す平面図、図4は送信用SAWフィルタ素子の回路構成を示す模式図、図5は受信用SAWフィルタ素子の回路構成を示す模式図である。
 また、図6は受信用SAWフィルタ素子の第1のフィルタ経路におけるアイソレーション特性を示す図、図7は受信用SAWフィルタ素子の第2のフィルタ経路におけるアイソレーション特性を示す図、図8はディファレンシャルモードにおける分波器のアイソレーション特性を示す図である。なお、図1~図5では、本発明にかかる主要な構成のみ図示されており、その他の構成は図示省略されている。
 (モジュール)
 図1および図2に示すモジュール1は、携帯電話や携帯情報端末などの通信携帯端末が備えるマザー基板に搭載されるものであり、この実施形態では、送信フィルタ14および受信フィルタ15を有する分波器10(デュプレクサ)と、モジュール基板2と、整合回路3と、グランド電極4と、スイッチICやフィルタ、抵抗、コンデンサ、コイルなどの各種の電子部品(図示省略)と、樹脂層7とを備え、高周波アンテナスイッチモジュールとして形成されている。
 また、分波器10およびチップコイル3aなどの電子部品は、モジュール基板2の実装面2a上に設けられた電極2bに実装されて、モジュール基板2に設けられた配線パターン5を介してモジュール基板2の裏面に形成された複数の実装用電極6に電気的に接続される。そして、モジュール1がマザー基板に実装されることにより、マザー基板が備えるアンテナラインANTやグランドラインGND、送信信号ラインTx、受信信号ラインRxなどの各種信号ラインおよび電源ラインとモジュール1とが接続されて、マザー基板とモジュール1との間で送受信信号の入出力が行われる。
 モジュール基板2は、この実施形態では、セラミックグリーンシートにより形成された複数の誘電体層が積層されて焼成されることで一体的にセラミック積層体として形成される。すなわち、各誘電体層を形成するセラミックグリーンシートは、アルミナおよびガラスなどの混合粉末が有機バインダおよび溶剤などと一緒に混合されたスラリーが成型器によりシート化されたものであり、約1000℃前後の低い温度で、所謂、低温焼成できるように形成されている。そして、所定形状に切り取られたセラミックグリーンシートに、レーザー加工などによりビアホールが形成され、形成されたビアホールにAgやCuなどを含む導体ペーストが充填されたり、ビアフィルめっきが施されることにより層間接続用のビア導体が形成され、導体ペーストによる印刷により種々の電極パターンが形成されて、各誘電体層が形成される。
 また、各誘電体層に、ビア導体および電極パターンが適宜形成されることで、モジュール基板2に、モジュール基板2に実装された分波器10とチップコイル3aなどの電子部品とを接続する配線パターン5や、グランド電極4、実装用電極6などが形成される。すなわち、電極パターンおよびビア導体が各誘電体層に適宜設けられて、グランド電極4や配線パターン5、実装用電極6などが形成されることで、モジュール基板2に実装される分波器10およびチップコイル3aなどの電子部品と、実装用電極6とが相互に電気的に接続される。このとき、各誘電体層に形成される電極パターンおよびビア導体によりコンデンサやコイルなどの回路素子を形成したり、形成されたコンデンサやコイルなどの回路素子によりフィルタ回路や整合回路3などを形成してもよい。
 整合回路3は、この実施形態では、モジュール基板2の実装面2aに実装されたチップ部品であるチップコイル3aにより形成されており、送信フィルタ14の出力側および受信フィルタ15の入力側に分波器10の共通端子17cを介して接続される。
 グランド電極4は、分波器10の下方に配置されてモジュール基板2の実装面2aに設けられ、グランドラインGNDと電気的に接続される。なお、グランド電極4は、図示しないはんだボールなどの接続電極により、分波器10のグランド用端子電極と接続される。
 樹脂層7は、分波器10の側面および上面を被覆するように実装面2a上に設けられており、他の電子部品も同様に樹脂層7で被覆されている。
 (分波器)
 分波器10は、ウェハレベル-チップサイズパッケージ(WL-CSP)構造を有し、平面視矩形状の素子基板11(本発明の「圧電基板」に相当)と、絶縁層12と、カバー層13と、高周波信号の通過帯域が異なる送信フィルタ14および受信フィルタ15とを備えている。
 素子基板11は、この実施形態では、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム、水晶などの圧電体により形成されている。また、素子基板11の一主面11aの所定領域に、AlやCuなどにより形成されたくし歯電極(IDT電極)や反射器が設けられてSAW(弾性表面波)フィルタ素子が構成されており、くし歯電極や反射器により構成されたSAWフィルタ素子により、送信フィルタ14が備える送信用SAWフィルタ素子14aおよび受信フィルタ15が備える受信用SAWフィルタ素子15aが形成されている。
 また、素子基板11の一主面11aには、送信用SAWフィルタ素子14aおよび受信用SAWフィルタ素子15aを形成するくし歯電極や反射器に接続される端子電極16が設けられている。そして、各端子電極16に絶縁層12を貫通して電極17が接続されることにより、分波器10に、送信フィルタ14(送信用SAWフィルタ素子14a)の入力側に接続される送信端子17aと、受信フィルタ15(受信用SAWフィルタ素子15a)の出力側に接続される第1、第2の受信端子17b1,17b2と、送信フィルタ素子14の出力側および受信フィルタ素子15の入力側に接続される共通端子17c(アンテナ端子)と、接地端子17dとが設けられている。
 絶縁層12は、素子基板11の一主面11aのくし歯電極および反射器が設けられた所定領域を囲繞して配置される。具体的には、絶縁層12は、くし歯電極、反射器および端子電極16が設けられた素子基板11の一主面11aに、感光性のエポキシ系樹脂やポリイミド系樹脂により樹脂層を形成した後に、フォトリソグラフィの工程を経て、くし歯電極および反射器が設けられた所定領域および端子電極16の領域の樹脂層を取り除くことにより形成される。
 カバー層13は、絶縁層12に積層配置されて素子基板11との間に絶縁層12により囲繞された空間を形成し、当該形成された空間内に、送信用SAWフィルタ素子14aおよび受信用SAWフィルタ素子15aが配置される。具体的には、カバー層13は、例えば、絶縁層12に感光性のエポキシ系樹脂やポリイミド系樹脂によりフォトリソグラフィの工程を経て積層された樹脂層の接続孔に、CuやAlのペーストを充填したりビアフィルめっきを施したりして端子電極16に接続される電極17を形成することで形成される。そして、端子電極16に接続されて、カバー層13から露出する電極17により、送信端子17a、受信端子17b1,17b2、共通端子17c、接地端子17dが形成され、各端子17a~17dに実装用のはんだボール18が形成されて分波器10が形成される。
 なお、分波器10は、カバー層13がモジュール基板2の実装面2aに対向し、素子基板11の他方の主面により形成される上面が樹脂層7から露出して実装面2aに実装されている。
 次に、送信フィルタ14および受信フィルタ15の構成について詳細に説明する。
 送信フィルタ14が備える送信用SAWフィルタ素子14aは、非平衡な送信端子17aから入力された第1の周波数帯域F1の非平衡な送信信号を共通端子17cに出力するものであり、図3および図4に示すように、素子基板11の一組の対辺に直交する仮想線VLにより区分される一主面11aの一方領域にくし歯電極および反射器を有する共振子がラダー型に接続されることにより形成されている。具体的には、送信用SAWフィルタ素子14aは、送信端子17aを形成する電極17に接続される送信端子電極16aと、共通端子17cを形成する電極17に接続される共通端子電極16cとの間に、直列に接続された直列腕共振子P1~P5と、各直列腕共振子P1~P5間に一端側が接続され他端側が、接地端子17dを形成する電極17に接続される接地端子電極16dに接続された並列腕共振子P6~P9とを備えている。また、各共振子P1~P9は、くし歯電極の弾性表面波の進行方向における両側に反射器が配置されて形成されている。
 受信フィルタ15が備える受信用SAWフィルタ素子15aは、共通端子17cに入力された第2の周波数帯域F2の非平衡な受信信号を平衡な第1、第2の受信端子17b1,17b2に平衡な状態で出力するものであり、図3および図4に示すように、素子基板11の仮想線VLにより区分される一主面11aの他方領域に縦結合共振子型フィルタ素子S1,S2が並列に接続されることにより形成されている。また、受信用SAWフィルタ素子15aは、共通端子電極16cから、第1の受信端子17b1を形成する電極17に接続される第1の受信端子電極16b1に至る第1のフィルタ経路C1と、共通端子電極16cから、第2の受信端子17b2を形成する電極17に接続される第2の受信端子電極16b2に至る第2の経路とを備えている。そして、第1、第2のフィルタ経路C1,C2のうち、共通端子17cに第1の周波数帯域F1の送信信号が入力されたときの第1、第2の受信端子17b1,17b2それぞれにおける送信信号帯域の減衰特性が悪い第2のフィルタ経路C2が、第1のフィルタ経路C1よりも送信端子17aから離れて配置されている。
 具体的には、第1のフィルタ経路C1には、共通端子電極16cに共振子P21を介して接続され、後段の第1の受信端子電極16b1に共振子P22を介して接続されるフィルタ素子S1,S2が並列に設けられ、第2のフィルタ経路C2には、共通端子電極16cに共振子P21を介して接続され、後段の第2の受信端子電極16b2に共振子P23を介して接続されるフィルタ素子S3,S4が並列に設けられている。各フィルタ素子S1~S4は、図3および図4に示すように、弾性表面波の進行方向に3つのくし歯電極が並設されて形成されている。各フィルタ素子S1~S4を形成する3つのくし歯電極のうち、両側のくし歯電極それぞれの一端側が後段の共振子P22,P23に接続され、他端側が接地端子電極16dに接続されて接地されている。また、各フィルタ素子S1~S4を形成する3つのくし歯電極のうち、中央のくし歯電極の一端側が接地端子電極16dに接続されて接地され、他端側に共通端子電電極16cが共振子P21を介して接続されて非平衡な状態の受信信号が入力される。
 そして、各フィルタ素子S1,S2の出力が共振子P22を介して第1の受信端子電極16b1から第1の受信端子17b1に出力され、各フィルタ素子S3,S4の出力が共振子P23を介して第2の受信端子電極16b2から第2の受信端子17b2に出力される。
 また、図3に示すように、共通端子17c(共通端子電極16c)は、素子基板11の一組の対辺の一方と仮想線VLが交わる付近に配置され、送信端子17a(送信端子電極16a)は、仮想線VLにより区分される一主面11aの一方領域における素子基板11の一組の対辺の他方寄りで仮想線VLから遠い端部位置に配置されている。また、受信用SAWフィルタ素子15aの第1のフィルタ経路C1は、その第1の受信端子17b1(第1の受信端子電極16b1)が仮想線VLにより区分される一主面11aの他方領域における素子基板11の一組の対辺の他方寄りで仮想線VLから遠い端部位置に配置され、受信用SAWフィルタ素子15aの第2のフィルタ経路C2は、その第2の受信端子17b2(第2の受信端子電極16b2)が仮想線VLにより区分される一主面11aの他方領域における素子基板11の一組の対辺の一方寄りで仮想線VLから遠い位置に配置されている。
 なお、受信用SAWフィルタ素子15aでは、受信端子電極16b1,16b2それぞれから、振幅がほぼ等しく、位相がほぼ180°ずれた平衡な状態の受信信号が出力されるように、縦結合共振子型フィルタ素子S1~S4が構成されている。また、図3に示すように、共振子P21と、各フィルタ素子S1~S4の中央のくし歯電極の他端側とはワイヤWを介して電気的に接続されている。また、共振子P21~P23は、上記した共振子P1~P9と同様の構成を有するためその構成についての説明は省略する。
 (製造方法)
 次に、図1のモジュール1の製造方法の一例についてその概略を説明する。
 まず、所定形状に形成されたセラミックグリーンシートに、レーザーなどでビアホールを形成し、内部に導体ペーストを充填したり、ビアフィルめっきを施すことにより層間接続用のビア導体(配線パターン5)が形成され、実装面2aの実装用の電極2a、グランド電極4、ランド状の配線パターン5および実装用電極6などの電極パターンが導体ペーストにより印刷されて、モジュール基板2を構成する各誘電体層を形成するためのセラミックグリーンシートが準備される。なお、それぞれのセラミックグリーンシートには、一度に大量のモジュール基板2を形成できるように、ビア導体や電極パターンが複数設けられている。
 次に、各誘電体層が積層されて積層体が形成される。そして、焼成後に個々のモジュール基板2に分割するための溝が、各モジュール基板2の領域を囲むように形成される。続いて、積層体が低温焼成されることによりモジュール基板2の集合体が形成される。
 続いて、個々のモジュール基板2に分割される前に、モジュール基板2の集合体の実装面2aに、分波器10およびチップコイル3aなどの種々の電子部品が実装される。次に、モジュール基板2の集合体の実装面2aに、分波器10の側面を被覆するように樹脂が充填されて、これが加熱硬化されることにより樹脂層7が各モジュール基板2に設けられてモジュール1の集合体が形成される。その後、モジュール1の集合体が個々に分割されて、モジュール1が完成する。
 このように形成されたモジュール1では、マザー基板の送信信号ラインTxから、実装用電極6および配線パターン5を介して分波器10の送信端子17aに出力された送信信号は、送信フィルタ素子14に入力されて所定のフィルタ処理が施されて、共通端子17cからモジュール基板2側に出力され、配線パターン5(整合回路3)および実装用電極6を介してマザー基板のアンテナラインANTに出力される。また、マザー基板のアンテナラインANTから、実装用電極6および配線パターン5(整合回路3)を介して分波器10の共通端子17cに入力された受信信号は、受信フィルタ素子15に入力されて所定のフィルタ処理が施されて、受信端子17bからモジュール基板2側に出力され、配線パターン5および実装用電極6を介してマザー基板の受信信号ラインRxに出力される。
 なお、配線パターン5が設けられたモジュール基板2や、WL-CSP構造を有する分波器10を備えるモジュール1は、上記した製造方法に限らず、周知の一般的な製造方法により形成すればよく、モジュール基板2は、樹脂やセラミック、ポリマー材料などを用いた、プリント基板、LTCC、アルミナ系基板、ガラス基板、複合材料基板、単層基板、多層基板などで形成することができ、モジュール1の使用目的に応じて、適宜最適な材質を選択してモジュール基板2を形成すればよい。
 (アイソレーション特性)
 次に、分波器10のアイソレーション特性について説明する。なお、図6~図8に示すアイソレーション特性は、送信端子17aに任意の周波数の信号が入力されたときに第1、第2の受信端子17b1,17b2において観測される信号の大きさを示したものである。
 また、図6~図8中の実線は、第1、第2のフィルタ経路C1,C2のうち、共通端子17cに第1の周波数帯域F1の送信信号が入力されたときの第1、第2の受信端子17b1,17b2それぞれにおける送信信号帯域の減衰特性が悪い第2のフィルタ経路C2が、第1のフィルタ経路C1よりも送信端子17aに近付けて配置されているときのアイソレーション特性を示し、図6~図8中の破線は、送信信号帯域の減衰特性が悪い第2のフィルタ経路C2が、第1のフィルタ経路C1よりも送信端子17aから離れて配置されているときのアイソレーション特性を示す。
 図6に示すように、第1のフィルタ経路C1は、第1の周波数帯域F1の送信信号の減衰特性が第2のフィルタ経路C2よりも優れているが、第1のフィルタ経路C1が第2のフィルタ経路C2よりも送信端子17aに近付けて配置されることにより、第1のフィルタ経路C1の第1の周波数帯域F1におけるアイソレーション特性が約1.1dB劣化する(図6中の実線→破線)。一方、図7に示すように、第1のフィルタ経路C1よりも第1の周波数帯域F1の送信信号の減衰特性が劣る第2のフィルタ経路C2が、第1のフィルタ経路C1よりも送信端子17aから離れて配置されることにより、第2のフィルタ経路C2の第1の周波数帯域F1におけるアイソレーション特性が約1.6dB程度改善される(図7中の実線→破線)。
 したがって、受信用SAWフィルタ素子15aの第1のフィルタ経路C1および第2のフィルタ経路C2それぞれの第1の周波数帯域F1におけるアイソレーション特性のバランスが良くなるため、図8に示すように、分波器10のディファレンシャルモードにおける第1の周波数帯域F1でのアイソレーション特性が約1.3dB程度改善される(図8中の実線→破線)。
 以上のように、この実施形態では、受信用SAWフィルタ素子15aは、共通端子17cから第1の受信端子17b1に至る第1のフィルタ経路C1と、共通端子17cから第2の受信端子17b2に至る第2のフィルタ経路C2とを備えている。そして、第1、第2のフィルタ経路C1,C2のうち、共通端子17cに送信信号が入力されたときの第1、第2の受信端子17b1,17b2それぞれにおける送信信号帯域の減衰特性が悪い一方のフィルタ経路C2が、他方のフィルタ経路C1よりも送信端子17aから離れて配置されている。すなわち、受信用SAWフィルタ素子15aが備える第1、第2のフィルタ経路C1,C2のうち、送信信号の減衰特性に優れ、送信用SAWフィルタ素子14aに入力された送信信号の影響を受けにくいフィルタ経路C1が送信端子17aの近くに配置され、送信信号の減衰特性が悪く、送信用SAWフィルタ素子14aに入力された送信信号の影響を受けやすいフィルタ経路C2が送信端子17aから離れて配置されている。
 一般的に、受信用SAWフィルタ素子15aが送信端子17aの近くに配置されるよりも離れて配置された方が、送信端子17aに入力された送信信号が受信用SAWフィルタ素子15aに入力された受信信号に干渉するのを抑制することができる。そのため、上記したように両フィルタ経路C1,C2が配置されることにより、受信用SAWフィルタ素子15aの第1、第2のフィルタ経路C1,C2それぞれに送信用SAWフィルタ素子14aに入力された送信信号が干渉することによる両フィルタ経路C1,C2における悪影響の程度を近付けることができるので、分波器10のディファレンシャルモードにおけるアイソレーション特性の向上を図ることができる。したがって、従来のようにシールド電極等のシールド手段を設けたりすることにより分波器10を大型化することなく、送信用SAWフィルタ素子14aと受信用SAWフィルタ素子15aとの間のアイソレーション特性の向上を図ることができる。
 また、上記したように構成すると、素子基板11の一主面11aに、送信用SAWフィルタ素子14aおよび受信用SAWフィルタ素子15aがバランスよく配置された実用的な構成の分波器10を提供することができる。
 また、大型化することなくアイソレーション特性の向上が図られた分波器10がモジュール基板2に実装されることにより小型化が図られた実用的な構成のモジュール1を提供することができる。
 また、圧電基板により形成された素子基板11の一主面11aの所定領域を囲繞して配置された絶縁層12にカバー層13が積層配置されることにより、素子基板11とカバー層13との間に絶縁層12により囲繞されて形成された空間内に、素子基板11の所定領域にくし歯電極が設けられることにより形成されたSAWフィルタ素子14a,15bを備える分波器10が、カバー層13が実装面2aに対向し、素子基板11の他方の主面により形成される上面が樹脂層7から露出してモジュール基板2の実装面2a上に実装されている。
 したがって、SAWフィルタ素子14a,15を備える分波器10が、従来のように樹脂材料やセラミック材料で形成されたパッケージ基板上にSAWフィルタ素子14a,15bを備えるチップ部品が設けられた構造ではなく、圧電基板上に直接くし歯電極が設けられて形成された素子基板11が切り出されたウェハレベル-チップサイズパッケージ(WL-CSP)構造に形成されているため、モジュール基板2に分波器10が実装されて形成されるモジュール1のさらなる低背化および小型化を図ることができる。
 なお、モジュール基板2の実装面2a上に分波器10が実装された状態で、実装面2aと、分波器10のカバー層13との間にも樹脂が充填されて樹脂層7が形成されているので、実装面2aとカバー層13との間に充填された樹脂により分波器10の実装強度を向上できると共に、分波器10のカバー層13の強度を向上することがきる。
 なお、この実施形態では、送信フィルタ素子14および受信フィルタ素子15に接続される整合回路3を形成するために、チップコイル3aがモジュール基板2の実装面2aに実装されているが、送信フィルタ素子14または受信フィルタ素子15に接続される回路の構成に応じて、チップコイル3aと一緒に、または、チップコイル3aに換えて、チップ抵抗やチップコンデンサなどのチップ部品を実装面2aに実装してもよい。
 なお、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて、上記したもの以外に種々の変更を行なうことが可能であり、上記した実施形態が備える構成をどのように組み合わせてもよい。例えば、上記した実施形態では、第1の周波数帯域F1が第2の周波数帯域F2よりも低い帯域に設定されているが、第1の周波数帯域F1を第2の周波数帯域F2よりも高い帯域に設定してもよく、第1、第2の周波数帯域F1,F2は、分波器10が使用される通信機器等における通信に用いられる周波数帯域に応じて適宜設定すればよい。
 また、第1、第2のフィルタ経路C1,C2それぞれの第1の周波数帯域F1の送信信号の減衰特性は、事前にシミュレーションにより解析したり、ネットワークアナライザにより解析したりして導出することができる。また、非平衡な受信信号を位相等を調整して平衡な状態で出力するために、各フィルタ経路C1,C2は、それぞれのフィルタ経路C1,C2を構成するくし歯電極の歯数や長さ等が異なるように構成されているため、各フィルタ経路C1,C2の設計に基づいて、それぞれのフィルタ経路C1,C2における第1の周波数帯域F1の送信信号の減衰特性を計算(シミュレーション)により導出することもできる。
 また、分波器10の構成は上記したWL-CSP構造に限らず、所謂、パッケージ基板を有するCSP構造に形成してもよいし、上記したカバー層13を設けずに、分波器10が直接モジュール基板2の実装面2aに実装される構成でもよい。
 また、上記した実施形態では、モジュール基板に1個の分波器が搭載されたモジュールを例に挙げて説明したが、モジュール基板に2個以上の分波器を搭載してモジュールを形成してもよく、この場合、モジュール基板にスイッチICを搭載して、モジュール基板に搭載された複数の分波器から、使用する分波器をスイッチICにより選択して切換えるようにするとよい。
 また、上記した実施形態では、送信フィルタ14および受信フィルタ15は同一の空間に配置されているが、素子基板11とカバー層13との間に絶縁層12により囲まれる空間を2個形成し、各空間に送信フィルタ14および受信フィルタ15をそれぞれ配置してもよい。このように構成すると、送信フィルタ14および受信フィルタ15が構造上分離して配置されることにより、例えば送信フィルタ14に電力が印加されることにより発生した熱が、受信フィルタ15の特性に影響を与えるのを抑制することができると共に、送信フィルタ14および受信フィルタ15間のアイソレーション特性の向上をさらに図ることができる。
 本発明は、送信用SAWフィルタ素子および受信用SAWフィルタ素子を備える分波器に広く適用することができる。
 1  モジュール
 2  モジュール基板
 10  分波器
 11  素子基板(圧電基板)
 11a  一主面
 14a  送信用SAWフィルタ素子
 15a  受信用SAWフィルタ素子
 17a  送信端子
 17b1  第1の受信端子
 17b2  第2の受信端子
 17c  共通端子
 C1  第1のフィルタ経路
 C2  第2のフィルタ経路
 F1  第1の周波数帯域
 F2  第2の周波数帯域

Claims (3)

  1.  非平衡な送信端子から入力された第1の周波数帯域の非平衡な送信信号を共通端子に出力する送信用SAWフィルタ素子と、
     前記共通端子に入力された第2の周波数帯域の非平衡な受信信号を平衡な第1、第2の受信端子に平衡な状態で出力する受信用SAWフィルタ素子とを備え、
     前記受信用SAWフィルタ素子は、
     前記共通端子から前記第1の受信端子に至る第1のフィルタ経路と、
     前記共通端子から前記第2の受信端子に至る第2のフィルタ経路とを備え、
     前記第1、第2のフィルタ経路のうち、前記共通端子に前記送信信号が入力されたときの前記第1、第2の受信端子それぞれにおける前記送信信号帯域の減衰特性が悪い一方の前記フィルタ経路が、他方の前記フィルタ経路よりも前記送信端子から離れて配置されている
     ことを特徴とする分波器。
  2.  ラダー型の前記送信用SAWフィルタ素子および縦結合共振子型の前記受信用SAWフィルタ素子がその一主面に形成された平面視矩形状の圧電基板を備え、
     前記送信用SAWフィルタ素子は、前記圧電基板の一組の対辺に直交する仮想線により区分される前記一主面の一方領域に形成され、
     前記受信用SAWフィルタ素子は、前記仮想線により区分される前記一主面の他方領域に形成され、
     前記共通端子は、前記一組の対辺の一方と前記仮想線が交わる付近に配置され、
     前記送信端子は、前記一方領域における前記一組の対辺の他方寄りで前記仮想線から遠い端部位置に配置され、
     前記一方のフィルタ経路は、該一方のフィルタ経路の前記受信端子が前記他方領域における前記一組の対辺の一方寄りで前記仮想線から遠い端部位置に配置されて前記一組の対辺の一方寄りに配置され、
     前記他方のフィルタ経路は、該他方のフィルタ経路の前記受信端子が前記他方領域における前記一組の対辺の他方寄りで前記仮想線から遠い端部位置に配置されて前記一組の対辺の他方寄りに配置されている
     ことを特徴とする請求項1に記載の分波器。
  3.  請求項1または2に記載の分波器と、
     前記分波器が実装されるモジュール基板とを備えるモジュール。
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