WO2012063406A1 - 荷電粒子線装置 - Google Patents

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sound absorber
cover
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武藤 大輔
眞徳 渡部
松島 勝
中川 周一
昌弘 赤津
裕介 丹波
岡田 聡
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株式会社 日立ハイテクノロジーズ
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    • H01J2237/0216Means for avoiding or correcting vibration effects

Definitions

  • the present invention relates to a charged particle beam apparatus in which image disturbance occurs due to acoustic excitation. It relates to a soundproof cover for reducing noise and vibration from the external environment, and is intended especially for use in a clean room.
  • a soundproof cover is installed as a means for interrupting transmission of sound waves irradiated to the apparatus for the purpose of preventing an image failure caused by irradiation of installation environment sound.
  • the soundproof cover takes into account the property of sound waves to wrap around, and in addition, in view of workability and cost reduction, it usually forms a hexahedral surface having upper, lower, left, and upper surfaces.
  • Patent Document 1 discloses a technique for covering a sound absorbing material with a dustproof fiber and attaching it to an exterior cover.
  • Patent Document 2 discloses a sound absorbing structure made of a box member having a large number of small holes.
  • the present invention provides a sound absorbing structure for a soundproof cover structure for a charged particle beam device, and a charged particle beam device in which the sound absorbing structure is arranged so that a sound absorbing effect can be obtained efficiently. For the purpose.
  • One or both of the second sound absorbers specialized for the second frequency region based on the wave frequency are provided in the cover of the charged particle beam apparatus.
  • the present invention it is possible to configure a soundproof cover that efficiently absorbs the natural vibration of the charged particle beam device and the acoustic standing wave generated in the cover, and the charged particle beam device including the soundproof cover is installed. It is possible to reduce image disturbance caused by environmental sound.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating Example 1.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating Example 2.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining a third embodiment.
  • FIG. 10 is a diagram for explaining a fourth embodiment. It is a figure explaining the acoustic standing wave which generate
  • FIG. 10 is a diagram for explaining a fifth embodiment. It is the figure which showed sectional drawing of the charged particle beam apparatus which has a sample conveyance apparatus.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating Example 6.
  • FIG. 10 is a three-dimensional view of a configuration described in a sixth embodiment.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating Example 7.
  • the charged particle beam device referred to below is a general-purpose scanning electron microscope, length measuring device (CD-SEM), review device, defect inspection device, sample processing device using a charged particle beam, etc. It refers to a device that performs processing, and refers to all devices in which a failure occurs due to minute vibrations of the device.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an overall configuration of a scanning electron microscope which is an example of a charged particle beam apparatus.
  • the scanning electron microscope of FIG. 1 includes a column having an electron optical system composed of optical elements such as an electron gun 100, a lens 101, a scanning deflector 102, an objective lens 103, a sample 104, a secondary particle detector 105, and an observation target.
  • the stage 106 for moving the sample stage holding the sample to be in the XY plane, the electron optical system control unit 107 for controlling various optical elements included in the electron optical system, and the output signal of the secondary particle detector 105 are quantized.
  • the electron optical system, the electron optical system control unit 107, the A / D conversion unit 108, the stage 104, and the stage control unit 109 described above constitute a scanning electron microscope that is an imaging unit for SEM images.
  • the sample 104 is set on the sample stage 106 by a loader (not shown) that conveys the sample, and is conveyed from the sample preparation chamber 115 into the electron microscope 116.
  • the primary electron beam 117 emitted from the electron gun 100 is focused by the lens 101, deflected by the scanning deflector 102, focused by the objective lens 103, and irradiated on the sample 104.
  • secondary particles 118 such as secondary electrons and reflected electrons are generated according to the shape and material of the sample.
  • the generated secondary particles 118 are detected by the secondary particle detector 105 and then converted into a digital signal by the A / D converter 108.
  • the output signal of the secondary particle detector converted into a digital signal may be referred to as an image signal.
  • the output signal of the A / D conversion unit 108 is input to the image processing unit 111 to form an SEM image.
  • the image processing unit 111 executes various image processing such as defect detection and defect analysis by image comparison.
  • the overall control unit 110 is a control unit that comprehensively controls the entire apparatus.
  • the overall control unit 110 interprets inputs from the operation unit 112 and the storage unit 113, and includes an electron optical system control unit 107, a stage control unit 109, an image processing unit 111, and the like. And the processing result is output to a display unit (not shown) included in the operation unit 112 and the storage unit 113 as necessary.
  • Part or all of the overall control unit 110 and the image processing unit 111 described above can be realized by either hardware or software.
  • it can be realized by integrating a plurality of arithmetic units for executing necessary processes on a wiring board or in one semiconductor chip or package.
  • it can be realized by causing a high-speed general-purpose CPU to execute a program that performs processing configured by software such as image processing.
  • FIG. 2 is an external view showing an example of a charged particle beam apparatus.
  • An outer cover 202 is provided on the outer periphery of the electron microscope 201 so as to surround the whole.
  • the exterior cover 202 is made of a steel plate or resin material.
  • An operation door 203 and an operation window 204 are attached to the exterior cover 202 for operation and can be opened and closed.
  • the operation window 204 is made of a material such as a steel plate, resin, or glass.
  • An observation window 205 for observing the inside is attached.
  • the observation window 205 is made of a glass or resin material so that the inside can be monitored.
  • the operation door 203, the operation window 204, and the observation window 205 are a part of the exterior cover 202, and these are collectively referred to as the exterior cover 202.
  • the observation window 205 may be made of a metal material as long as it can be opened and closed.
  • the sample preparation chamber 206 may naturally be included in the exterior cover.
  • the overall control unit 110, the image processing unit 111, and the like are partially or wholly configured by hardware, so that the portion configured by hardware is surrounded by the same exterior casing as the electron microscope. Alternatively, it may be handled as a separate casing surrounded by an exterior plate different from the electron microscope.
  • the loader or the control board with the cooling fan that transports the sample should be either a separate housing or partitioned within the housing so that no vibration source is included in the same housing. It seems better to have a wall.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of the electron microscope and the exterior cover shown in FIG.
  • a charged particle beam apparatus having a cover 301 and a load plate 302 is shown.
  • a load plate 302 is installed via a vibration isolation table 304 to a gantry 303 having a plurality of columns installed on the ground, and a column 306 including an electron optical system and a sample are installed.
  • the charged particle beam apparatus main body 300 including the sample chamber 307 to be placed is constructed on the load plate 302.
  • the cover 301 is configured on the outside thereof, and covers the gantry 303, the load plate 302, and the apparatus main body 300.
  • the apparatus generates heat, but an opening 305 is provided at the bottom of the cover 301 for the purpose of discharging the heat.
  • the sound absorbing body includes a part of the structure of the soundproof cover integrally formed with the soundproof cover, in addition to a part having a sound absorbing structure formed independently of the soundproof cover.
  • sound absorbers are generally made of an organic porous material, but these organic porous materials are dusty and cannot be used in a clean room. Therefore, by forming the sound absorber from a metallic material, the dust generation can be reduced as much as possible so that there is no problem even if it is used in a clean room.
  • the sound absorber 400 as shown in FIG. 4 may be formed of a metal material.
  • FIG. 4 specifically illustrates the sound absorber 400 using a perforated plate.
  • a front plate 402 provided with an opening 401 is fixed to a back plate 403 by a partition wall 404, and the front plate 402, the back plate 403, and A structure having a cavity 405 formed by the partition 404 is formed.
  • a soundproof cover specialized for the frequency of the noise can be formed.
  • the sound absorption frequency can be adjusted by embedding a cylindrical object in the opening 401 so that the length of the hole of the opening 401 can be varied.
  • the noise frequency referred to here is the frequency of the vibration to be absorbed, for example, the natural frequency of the device or the frequency of the acoustic standing wave inside the cover. These can be estimated in advance from the size and mass of the device and cover. Therefore, a high sound absorption effect can be obtained by adjusting the absorption frequency of the sound absorber to these noise frequencies.
  • the sound absorber 400 can be more effectively soundproofed by designing the sound absorber 400 so that the frequency of the maximum value matches the frequency of the sound absorption target. Can do. It is desirable that the frequency of the maximum value and the frequency of the sound absorption target coincide with each other. However, even if the frequency is not exactly the same, the sound absorption target frequency has a sound absorption rate of 70% or more at the maximum value. If this is done, the effects of the present invention are sufficiently obtained.
  • a frequency band having a sound absorption rate of 70% or more at the maximum value is set as an absorption frequency band, and a sound absorption structure specialized for a specific frequency band is a sound absorption coefficient of 70% or more in a specific frequency body.
  • one opening 401 is indicated for one cavity 405, but a plurality of openings 401 may be provided for one cavity 405. That is, the interval between the adjacent openings 401 may be shorter than the interval between the adjacent partition walls 404. At that time, by making the interval between the partition walls 404 shorter than the wavelength of the sound wave at the sound absorption frequency, the surface plate 402 becomes difficult to be vibrated by the sound wave, and inherently occurs due to energy dissipation due to friction between the air and the member in the opening 401. This is effective because it can exhibit the sound absorbing performance.
  • the sound absorber as described above is used as a sound absorber for a soundproof cover, for example, by arranging so as to effectively absorb a specific frequency as shown in the following embodiments, thereby providing a soundproof cover specialized for the specific frequency. Can do.
  • the sound absorber is arranged inside the soundproof cover.
  • an apparatus main body such as a scanning electron microscope, a sample chamber in which a sample is placed, a load plate, a frame, and the like that support these.
  • a power source and a control board for operating the apparatus main body may be included. Therefore, the empty space inside the soundproof cover is limited, and it is necessary to efficiently absorb noise.
  • the sound absorber is arranged near the opening of the soundproof cover as shown in the following examples.
  • the opening here refers to the gap between the cover provided for heat dissipation, piping, and wiring and the outside of the device.
  • the vicinity of the opening absorbs external noise that enters through the opening when the sound absorber is installed. This refers to the range where the effect is achieved. “To produce an effect” means, for example, a sound absorption rate of 70% or more.
  • a plurality of sound absorbers having different absorption frequency bands are arranged inside the soundproof cover. Different absorption frequency bands indicate that the maximum value of the absorption frequency is different, for example.
  • FIG. 5 shows an example of the arrangement of sound absorbers.
  • the sound absorbing body 501 is installed in a space formed between the inner surface of the cover 301 and the support column 303.
  • the sound absorber 501 may have a structure specialized for frequency components close to the natural frequency of the apparatus main body 300.
  • a sound absorber may be arranged around the entrance.
  • a sound absorber may be disposed so as to surround the opening.
  • the installation range of the sound absorber may be anywhere as long as it is within the range shown in FIG. 5, and Examples 2 to 5 are shown as specific examples.
  • FIG. 6 shows a modification of the first embodiment shown in FIG. 5.
  • a sound absorber 601 is attached to the inside of the cover near the opening 305.
  • the sound absorbing surface 602 is installed so as to face inward.
  • the sound absorbing surface is, for example, the surface on the surface plate 402 side in FIG. 4, and the inward direction is a state facing the space side where the sound is to be absorbed, that is, the space side where the apparatus main body 300 is installed.
  • the state in which the sound absorber is disposed in the vicinity of the opening 305 indicates a state in which the sound absorber is disposed in a range in which the effect of absorbing external noise entering from the opening is achieved. It means a state where a part of the sound absorber faces at least a part.
  • the sound absorber 501 may be arranged in any manner in a horizontal plane. That is, you may arrange
  • FIG. 7 is one of the modifications of the first embodiment shown in FIG. 5, and in this example, a sound absorbing body is attached to a column constituting the gantry 303. Further, the sound absorbing surface 602 is installed so as to face the cover inner surface, that is, facing the cover 301.
  • FIG. 8 is one of the modifications of the first embodiment shown in FIG. 5 and shows the cross section between the adjacent struts and the top view in FIG. 5 in an easy-to-understand manner.
  • the sound absorber 801 is installed in a space formed between adjacent columns among the plurality of columns constituting the gantry 303.
  • the sound absorbing body 801 is arranged in a wall shape so as to connect adjacent struts.
  • the sound absorbing surface 802 of the sound absorbing body 801 faces the inner and outer surfaces of the space surrounded by the mount 303 as shown in FIG. 8, not only the sound wave entering from the opening 305 but also the column of the mount 50 is used. Since sound waves in the enclosed space are also absorbed, it is more effective. That is, the first sound absorbing surface of the sound absorbing body 801 having a plurality of sound absorbing surfaces is installed to face the inner surface of the cover 301, and the second sound absorbing surface is installed in the same direction as the inner surface of the cover 301. As a result, as shown in FIG. 8, the first sound absorbing surface and the second sound absorbing surface are installed in opposite directions.
  • Embodiments 1 to 4 by installing the sound absorber having the natural frequency of the apparatus main body in the absorption band in the space formed between the inner surface of the cover and the column of the gantry, the opening that usually exists in the lower part of the cover The sound wave that leaks from the unit 305 can be absorbed by the sound absorber before reaching the main body of the frequency component close to the natural frequency of the apparatus main body 300. As a result, the vibration of the apparatus main body 300 is reduced and the image is reduced. It is possible to suppress obstacles.
  • the sound absorber having the natural frequency of the apparatus main body in the absorption frequency band has been described.
  • the sound absorber is not limited to the natural frequency as long as it is specialized for a specific frequency.
  • FIG. 10 shows an example in which two sound absorbers having different functions are installed inside the soundproof cover.
  • a soundproof cover such as a charged particle beam device
  • an acoustic standing wave as shown in FIG. 9 is generated in a space surrounded by the cover 301.
  • the generation of this acoustic standing wave is about 100 to 500 Hz, which is lower than the natural frequency of the charged particle beam apparatus main body 300 having the general cover 301 and load plate 302.
  • the arrangement of the sound absorber specialized for the natural frequency of the device has been described. However, in the configuration described so far, the acoustic standing wave can be efficiently absorbed due to the difference in the sound absorption frequency. I can't.
  • the thickness of the sound absorber installed there can be made thicker than the sound absorber described in the first to fourth embodiments. It is.
  • a second sound absorber 1003 having a sound absorbing performance specialized for the frequency of the acoustic standing wave in the cover is installed inside the cover vertically above the load plate 302.
  • the installation position of the second sound absorber 1003 may be anywhere as long as there is a space for installation inside the soundproof cover, but there are many cases where the space above the load plate is vacant as described above. It is good to install in the part which is an upper surface and is located above the surface which a load board makes. For example, it can be installed on the ceiling surface of the cover 301.
  • the second sound absorbing body 1003 has an absorption frequency band different from that of the first sound absorbing body 1001 specialized in the natural frequency of the device, so that the opening diameter, the opening length, the hole area ratio, the size of the cavity portion, and the like. Is designed.
  • the two sound absorbers having different functions are provided inside the cover in this manner, noises having different frequencies can be absorbed simultaneously, so that a higher sound absorbing effect can be expected. Further, the first sound absorber having a high frequency absorption frequency band is located near the opening 305 of the cover 301, and the second sound absorber having a low frequency absorption frequency band is located far from the opening 305 of the cover 301. By arranging, the sound absorber can be efficiently arranged in a limited space, and thus the entire apparatus can be saved in space.
  • the second sound absorber 1003 has a structure specialized in the frequency of the acoustic standing wave, but is not limited to the acoustic standing wave, and may have a structure specialized in the frequency of another noise source.
  • the sixth embodiment and the seventh embodiment will be described as another modification in accordance with the structure of a charged particle beam apparatus having a sample transport device 40 typified by a semiconductor measurement / inspection / observation apparatus.
  • FIG. 11 shows a general charged particle beam apparatus having a cover 1101 and a sample transport device 1102.
  • the cover 1101 has an opening 1103 in which one of the side surfaces is open.
  • a gantry 1104 having a plurality of columns is arranged on the bottom surface of the cover 1101, and the charged particle beam apparatus main body 1100 is fixed on the gantry 1104 via a vibration isolation table 1105 and the like.
  • the apparatus main body 1100 is covered with a cover in directions other than the opening 1103, and the sample loading / unloading unit 1106 is provided in the direction of the opening 1103.
  • a sample transport apparatus 1102 that transports a sample to the inside of the apparatus main body 1100 via a sample carry-in / out section 1106.
  • the opening 1103 is installed on the front side.
  • FIG. 12 is an example in which a sound absorbing structure is attached to the charged particle beam apparatus having the cover and the sample transport apparatus 1102 described in FIG.
  • the sound absorber 1201 is arranged so as to protrude from the wall surface on the side facing the opening 1103 of the sample transport apparatus 1102 to the apparatus main body 1100 side through the opening 1103. It has become.
  • the sound absorbing surface 1202 is installed so as to be substantially perpendicular to the wall surface on the apparatus main body side of the sample transport device 1102 and substantially parallel to the ceiling surface or the floor surface of the cover 1101.
  • the sound absorbing surface 1202 is disposed in the gap 1109 between the cover 1101 and the sample transport device 1102 so as to face the outside of the cover, so that it effectively absorbs noise entering from the outside of the gap 1109. be able to.
  • the length of the sound absorbing surface 1202 in the direction perpendicular to the wall surface of the sample transport device 1102 on the apparatus main body is at least longer than the length of the gap 1109 in the same direction. It is necessary to be installed so as to protrude.
  • a frequency component close to the natural frequency of the apparatus main body 1100 is transmitted to the apparatus main body 1100 with respect to the sound wave that leaks from the gap between the cover 1101 and the sample transport apparatus 1102 and enters the inside through the opening 1103. It can be absorbed by the sound absorber 1201 before reaching, and as a result, the vibration of the apparatus main body 1100 can be reduced and image disturbance can be suppressed.
  • FIG. 13 is a three-dimensional representation of the state in which FIG. 12 is separated into the cover 1101 and the sample transport device 1102.
  • FIG. 13 shows an example in which the sound absorber 1201 is attached to the sample transport device 1102, it may be formed integrally with the wall surface of the sample transport device. Further, the sound absorber 1201 may be fixed to the cover 1101 or the sample carry-in unit 1106. Further, the sound absorber 1201 may be fixed to the floor surface of the cover independently of the sample transport device 1102 and the cover 1101.
  • FIG. 14 shows a second sound absorber 1403 having a sound absorbing performance specialized for the frequency of the acoustic standing wave generated in the cover, as compared with the sixth embodiment described in FIG. The example which installed is shown.
  • the installation position of the second sound absorber 1403 is not limited to the ceiling surface of the cover 1101 and may be the side surface of the cover. Also in the present embodiment, by providing two sound absorbers having different functions in the cover as in the fifth embodiment, it is possible to absorb noise having different frequency bands and to expect a higher sound absorption effect.
  • the sound absorbers can be arranged efficiently in a limited space inside the cover, Without significantly increasing the installation space and cost, it is possible to configure a soundproof cover that can be used in a charged particle beam device and has a high sound absorption effect.

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Abstract

従来、防音カバー、特にクリーンルームで用いられる防音カバーにおいて、環境騒音によってもたらされる騒音の周波数を想定し、当該周波数に特化した構造によって騒音を吸収するものはなく、効率的に吸音を行うことができなかった。そこで、荷電粒子線装置の持つ固有振動数を基準とする第一の周波数領域に対して吸音性能が特化した第一の吸音体(1001)と、カバー(301)内に発生する音響定在波の周波数を基準とした第二の周波数領域に対して特化した第二の吸音体(1003)のどちらか一方、或いはその両方を荷電粒子線装置のカバー内に対して設けることを特徴とする荷電粒子線装置を提供する。

Description

荷電粒子線装置
 本発明は、音響加振されることによって像障害が発生する荷電粒子線装置に関する。外部環境からの騒音や振動を低減するための防音カバーに関するもので、特にクリーンルームなどで使用されることを想定したものである。
 電子線を用いた高倍率の観察を行う電子顕微鏡などの荷電粒子線装置では、外部からの微小な音圧や振動によって像の揺れが発生し、振動による障害が、高倍率化に伴って顕在化している。このため、設置環境音が照射されることによって発生する像障害を防ぐことを目的に、装置へ照射される音波の伝達を遮断する手段として防音カバーが設置される。防音カバーは音波の回り込む性質を考慮し、さらに施工性や低コスト化を鑑みて通常は上下,左右,上下面を有する6面体構造の表面を形成する。
 このカバーの防音性能を向上するには、カバー内部を吸音することが有効で、有機多孔質材料をカバー内面に張り巡らすのが効果的である。しかしながら、荷電粒子線装置はクリーンルーム内で使われることが一般的であり、これら有機材料の飛沫による発塵性がクリーンルームの防塵性を阻害して問題となる場合がある。そのため防塵繊維で吸音材を覆って外装カバーに取り付ける技術が特許文献1に開示されている。
 また、一般に音響工学の分野では、フラスコ型の容器の形状の口部における空気振動に起因して容器の形状に依存した共鳴周波数が存在することが知られている。これはヘルムホルツ共鳴原理とよばれ、この原理を利用して吸音する技術がある。この技術を利用したものとして、特許文献2には、多数の小孔を備えた箱部材からなる吸音構造体が開示されている。
特開2006-79870号公報 特開2008-138505号公報
 従来、防音カバー、特にクリーンルームで用いられる防音カバーにおいて、環境騒音によってもたらされる騒音の周波数を想定し、当該周波数に特化した構造によって騒音を吸収するものはなく、効率的に吸音を行うことができなかった。そのため、本発明は、荷電粒子線装置用防音カバー構造について、効率的に吸音できる吸音構造体と、吸音効果が効率的に得られるように前記吸音構造体を配置した荷電粒子線装置を提供することを目的とする。
 上記課題を解決するために、荷電粒子線装置の持つ固有振動数を基準とする第一の周波数領域に対して吸音性能が特化した第一の吸音体と、カバー内に発生する音響定在波の周波数を基準とした第二の周波数領域に対して特化した第二の吸音体のどちらか一方、或いはその両方を荷電粒子線装置のカバー内に対して設ける。
 本発明により、荷電粒子線装置の持つ固有振動、およびカバー内で発生する音響定在波を効率的に吸収する防音カバーを構成することができ、この防音カバーを備えた荷電粒子線装置は設置環境音によって引き起こされる像障害を低減することができる。
走査電子顕微鏡の全体構成を示した図である。 カバーを含めた走査電子顕微鏡の外観を示した図である。 走査電子顕微鏡の断面図を示した図である。 吸音体の構造を示した図である。 実施例1を説明する図である。 実施例2を説明する図である。 実施例3を説明する図である。 実施例4を説明する図である。 カバー内で発生する音響定在波について説明する図である。 実施例5を説明する図である。 試料搬送装置をもつ荷電粒子線装置の断面図を示した図である。 実施例6を説明する図である。 実施例6で説明する構成の立体図である。 実施例7を説明する図である。
 以下でいう荷電粒子線装置とは、汎用の走査電子顕微鏡,測長装置(CD-SEM),レビュー装置,欠陥検査装置,荷電粒子線を用いた試料加工装置等、高精度の検査,観察,加工をする装置を指し、装置の微小な振動によって、障害が発生する装置全般をいう。
 図1は、荷電粒子線装置の一例である走査電子顕微鏡の全体構成を示す模式図である。図1の走査電子顕微鏡は、電子銃100,レンズ101,走査偏向器102,対物レンズ103,試料104,二次粒子検出器105などの光学要素により構成される電子光学系を有するカラム、観察対象となる試料を保持する試料台をXY面内に移動させるステージ106、当該電子光学系に含まれる各種の光学要素を制御する電子光学系制御部107、二次粒子検出器105の出力信号を量子化するA/D変換部108、ステージ106を制御するステージ制御部109、全体制御部110,画像処理部111,ディスプレイ,キーボード,マウスなどのポインティングデバイスからなる操作部112、HDD,メモリ等の記憶部113,光学式顕微鏡114などにより構成されている。また、以上説明した電子光学系,電子光学系制御部107,A/D変換部108,ステージ104,ステージ制御部109は、SEM画像の撮像手段であるところの走査電子顕微鏡を構成する。
 まず試料を搬送するローダ(図示省略)によって試料104が試料ステージ106に設置され、試料準備室115から電子顕微鏡116内に搬送される。
 電子銃100から発射された一次電子線117は、レンズ101で集束され、走査偏向器102で偏向された後、対物レンズ103で集束されて、試料104に照射される。一次電子線117が照射された試料104から、試料の形状や材質に応じて二次電子や反射電子等の二次粒子118が発生する。発生した二次粒子118は、二次粒子検出器105で検出された後、A/D変換部108でデジタル信号に変換される。デジタル信号に変換された二次粒子検出器の出力信号を画像信号と称する場合もある。A/D変換部108の出力信号は、画像処理部111に入力されSEM画像を形成する。画像処理部111は、画像比較による欠陥検出や欠陥解析等の各種画像処理を実行する。
 レンズ101,走査偏向器102,対物レンズ103など、電子光学系内部の光学要素の制御は、電子光学系制御部107で行われる。試料の位置制御は、ステージ制御部109で制御されたステージ106で実行される。全体制御部110は、装置全体を統括的に制御する制御部であり、操作部112,記憶部113からの入力を解釈し、電子光学系制御部107,ステージ制御部109,画像処理部111等を制御し、必要に応じて操作部112に含まれる表示部(図示省略)、記憶部113に処理結果を出力する。
 以上説明した全体制御部110,画像処理部111の一部または全部は、ハードウェア,ソフトウェアいずれの方式でも実現可能である。ハードウェアにより構成する場合には、必要な処理を実行する複数の演算器を配線基板上あるいは1つの半導体チップないしパッケージ内に集積することにより実現できる。ソフトウェアにより構成する場合には、画像処理等ソフトウェアで構成する処理を行うプログラムを高速な汎用CPUに実行させることにより実現できる。
 図2は、荷電粒子線装置の一例を示す外観図である。電子顕微鏡201の外周には、全体を包囲するように外装カバー202が設けられる。外装カバー202は、鋼板や樹脂の材質で構成される。また、外装カバー202には、操作用に操作扉203や操作窓204が取り付けられ、開閉可能になっている。操作窓204は、鋼板・樹脂・ガラス等の材質で構成される。また内部を観察するための観察窓205が取り付けてある。観察窓205は、内部が監視できるようにガラスや樹脂の材質で構成される。操作扉203,操作窓204,観察窓205は、外装カバー202の一部品であり、これらをまとめて外装カバー202とする。なお、観察窓205は、開閉式であれば金属の材質で構成してもよい。
 なお、図2では外装カバーに電子顕微鏡本体だけが入った図としたが、当然ながら、試料準備室206が外装カバー内部に含まれてもよい。また上記したように、全体制御部110や画像処理部111等は部分的にまたは全部がハードウェアで構成されるので、ハードウェアで構成された部分については電子顕微鏡と同じ外装筐体として囲まれてもよいし、電子顕微鏡とは別の外装板で囲まれた別筐体として扱われてもよい。ただし、防音または除震が必要なのは電子顕微鏡本体なので、同一筐体内に振動源を含まないように、試料搬送するローダや冷却ファンを有する制御基板等は別筐体とするか、筐体内に仕切り壁をつけたほうがよいと思われる。
 図3は図2に示した電子顕微鏡と外装カバーの断面図である。カバー301と荷重板302を有する荷電粒子線装置を示す。図3のように、地面の上に据え付けられた複数の支柱を備えた架台303に対し、除振台304を介して荷重板302が設置されており、電子光学系を含むカラム306と試料が載置される試料室307からなる前記荷電粒子線装置本体300はこの荷重板302の上に構築されている。カバー301はその外側に構成されており、架台303,荷重板302、および装置本体300を覆っている。一般に、装置は熱を発生するが、この熱を排出することを目的として、カバー301の下部には開口部305が設けられている。
 次に、防音カバーに取り付ける吸音体の構造について説明する。以下でいう吸音体とは防音カバーと独立に成形された吸音構造を持つ部品に加え、防音カバーと一体成形された防音カバーの構造の一部も含む。従来吸音体は有機多孔質材料からなるものが一般的であったが、これらの有機多孔質材料は発塵性があり、クリーンルーム内で使うことはできない。そこで、吸音体を金属性材料で構成することにより、クリーンルーム内で使用しても問題のないよう、発塵性を極力低減できる。
 例えば図4のような吸音体400を金属材料で形成するとよい。図4は多孔板を用いた吸音体400を具体的に説明したもので、開口部401を設けた表面板402を背面板403に対して隔壁404で固定し、表面板402と背面板403および隔壁404で形成される空洞部405を有した構造となっている。
 このような構造において、表面板402側から到来した音波によって開口部401を満たす空気が空洞部405に押し込まれると、空洞部405の圧力が上昇し、逆に開口部401を満たす空気を押し戻そうとする。このようにして、開口部401を満たす空気をおもり、空洞部405の空気をバネとする単振動系を形成し、開口部401における空気と部材との摩擦によってエネルギが散逸して、ある特定の周波数で高い吸音性能を有す。その特定の周波数は開口部401の開口径,開口長さ,開孔率,空洞部の厚さによって決まる。これらを防音カバーの中で発生する主な騒音の周波数に合わせて設計することで、騒音の周波数に特化した防音カバーを形成することができる。また、開口部401に筒状の物体を埋め込んで開口部401の穴部の長さが可変にできるようにすると吸音周波数を調整可能となりより効果的である。
 なお、ここでいう騒音の周波数とは吸音対象とする振動の周波数であり、例えば装置の固有周波数やカバー内部の音響定在波の周波数が挙げられる。これらは装置やカバーの大きさ,質量等から予め推測可能である。したがって、これらの騒音周波数に吸音体の吸収周波数を合わせることで高い吸音効果が得られる。
 吸音体400の吸音率が特定の周波数で極大値を有していれば、吸音体400を当該極大値の周波数と吸音対象の周波数が一致するように設計することでより効果的に防音することができる。なお、当該極大値の周波数と吸音対象の周波数は一致していることが望ましいが、完全に同一の周波数でなくても、吸音対象の周波数において、当該極大値で70%以上の吸音率を有していれば十分に本発明の効果を奏する。よって以下では当該極大値での70%以上の吸音率を有する周波数帯を吸収周波数帯とし、特定の周波数帯に特化した吸音構造とは、特定の周波数体において吸音率が70%以上のものをいう。
 また、図4では一つの空洞部405に対して一つの開口401を有するように表示してあるが、一つの空洞部405に対して複数の開口401を有するように構成してもよい。すなわち隣り合う開口401の間隔を隣り合う隔壁404の間隔より短くするとよい。その際、隔壁404の間隔を吸音周波数における音波の波長よりも短くすることによって、表面板402が音波によって加振されにくくなり、開口部401における空気と部材との摩擦によるエネルギの散逸によって生じる本来の吸音性能を発揮させることができるため効果的である。
 以上のような吸音体を、防音カバーの吸音体として、例えば以下の実施例に示すように特定周波数を効果的に吸音するように配置することにより、特定周波数に特化した防音カバーとすることができる。
 次にこの吸音体を防音カバーの内部に配置する例について説明する。防音カバーの内部には走査電子顕微鏡などの装置本体と、試料を載置する試料室、これらを支持する荷重板,架台等が存在する。さらに、装置本体を動作させるための電源や制御板が含まれていることもある。したがって、防音カバーの内部の空きスペースは限られており、騒音を効率的に吸収する必要がある。このためには上に述べたような特定の周波数を吸収周波数帯に持つ吸音体を、カバー内部に効果的に配置することが重要となる。
 そこで、本発明に係る荷電粒子線装置では、以下の実施例で示すように、吸音体を防音カバーの開口部付近に配置することとした。ここでいう開口部とは放熱,配管,配線の都合で設けられたカバーと装置外部との隙間を指し、開口部付近とは、吸音体を設置したときこの開口部から侵入する外部騒音を吸収する効果を奏する範囲をいう。効果を奏するとは、例えば吸音率が70%以上のことをいう。さらに、防音カバー内部に異なる吸収周波数帯をもつ複数の吸音体を配置した。異なる吸収周波数帯とは、例えば吸収周波数の極大値が異なることを指す。
 これらの構成によって、カバー全体の体積を小さく抑えることができるので、設置場所を少なくすることができる。
 以下では吸音体の配置場所について具体的に例を挙げて説明するが、吸音体の配置は以下の実施例に限定されるものではなく、また、以下の実施例の変形または組合せに係るものであってもよい。
 図5は吸音体の配置の一例を示したものである。図5では吸音体501がカバー301の内面と架台303の支柱の間にできる空間に設置されたことを特徴とする構造となっている。この吸音体501は装置本体300の固有振動数に近い周波数成分に特化した構造であるとよい。
 このような構成とすることにより、通常、カバー301の下部に存在する開口部305から漏れて内部に侵入する音波を吸収することができる。特に、装置本体300の固有振動数に近い周波数成分の音波を装置本体300へ到達する前に吸音体501で吸収することができ、結果的に装置本体300の振動を低減して像障害を抑えることができる。
 また外部騒音の侵入口が開口部305以外にもある場合には当該侵入口のまわりに吸音体を配置するとよい。例えばカバー301の側面にケーブルを通すための開口部がある場合には、当該開口部の周りを囲むように吸音体を配置すればよい。
 なお、吸音体の設置範囲は図5に示した範囲であればどこでもよく、その具体例として実施例2から5を示す。
 図6は図5に示した実施例1における変形例の一つで、この例では開口部305付近のカバーの内側に対して吸音体601を取り付けている。さらに、吸音面602を内向きとなるように設置している。吸音面とは例えば図4の表面板402側の面であり、内向きとは吸音するべき空間側、すなわち装置本体300が設置された空間側を向いた状態をいう。また、開口部305付近に吸音体が配置された状態とは、この開口部から侵入する外部騒音を吸収する効果を奏する範囲に吸音体を配置した状態を指し、具体的には、開口部の少なくとも一部に吸音体の一部が面している状態のことをいう。
 なお、図6では断面図だけを示しているが、吸音体501は水平面内にどのように配置されていてもよい。すなわち、架台の対向面にだけ配置してもよいし、また、カバーの開口部付近に全周にわたって配置してもよい。
 当該構成によって、実施例1の例より簡便に吸音効果を得ることができる。また、吸音体を設置する面積が少ないので、コストを下げることができる。
 図7は図5に示した実施例1における変形例の一つで、この例では架台303を構成する支柱に対して吸音体を取り付けている。さらに、吸音面602がカバー内面に対向するように、すなわちカバー301に対向して設置されている。
 本実施例によっても、実施例2と同等の効果を得ることが期待できる。
 図8は、図5に示した実施例1における変形例の一つで、図5において隣り合う支柱の間の断面、および上面図を判りやすく示したものである。吸音体801は、架台303を構成する複数の支柱のうち、それぞれ隣り合う支柱の間にできる空間に設置されている。言い換えれば、隣り合う支柱をつなぐように壁状に吸音体801が配置される。このように配置することで実施例3に比べて広い面積に吸音体を設置することが可能であるため、より吸音効果を高めることができる。また、カバー内の限られた空間を有効利用することができる。なお、図8では4本の支柱の間全てに吸音体を配置した例を示したが、機器の配置の都合上、複数の支柱の間のうち一部に吸音体が配置されていなくてもよい。この場合支柱の間全てに吸音体を設置した場合に比べて吸音効果は低下する。したがって別の実施例で示す方法と合わせて吸音効果を補うとよい。
 またこの場合、図8のように吸音体801の吸音面802が架台303で囲まれた空間の内外両面を向いた構造とすると、開口部305から侵入する音波だけでなく、架台50の支柱で囲まれる空間内の音波も吸収されるため、より効果的である。すなわち、複数の吸音面を持つ吸音体801の第一の吸音面はカバー301の内面と対向するように設置され、第二の吸音面はカバー301の内面と同じ向きに設置される。その結果、図8に示すように第一の吸音面と第二の吸音面は逆方向に向けて設置される。
 以上実施例1から4に示したとおり、装置本体の固有周波数を吸収帯に持つ吸音体をカバーの内面と架台の支柱の間にできる空間に設置することで、通常、カバー下部に存在する開口部305から漏れて進入する音波について、装置本体300の固有振動数に近い周波数成分を本体へ到達する前に吸音体で吸収することができ、結果的に装置本体300の振動を低減して像障害を抑えることができる。
 なお、実施例1から4では装置本体の固有周波数を吸収周波数帯に持つ吸音体について説明したが、特定周波数に特化した吸音体であれば、固有周波数に限られず、例えば、次に図9を用いて説明するような音響定在波の周波数に特化した吸音体であってもよい。
 図10を用いて作用の異なる2つの吸音体を防音カバー内部に設置した例を示す。荷電粒子線装置等の防音カバーにおいて、カバー301で囲まれた空間には、図9に示すような音響定在波が発生する。この音響定在波の発生は、100~500Hz程度であり一般的なカバー301と荷重板302を有する荷電粒子線装置本体300の固有周波数よりも低い。実施例1から4では装置の固有周波数に特化した吸音体の配置について説明したが、これまでに述べた構成では、吸音周波数の違いが原因でこの音響定在波を効率的に吸収することができない。低い周波数で吸音性能を特化させるには吸音材の厚さを厚くする必要があるが、一般的に荷電粒子線装置では荷重板302より下方には別の機器が設置されている場合が多く、吸音体の設置スペースの確保が難しい。一方、荷重板302よりも鉛直上方は、下方よりも比較的広い空間があるため、そこに設置する吸音体の厚さは、実施例1から4で述べた吸音体よりも厚くすることが可能である。
 そこで、図10のように荷重板302よりも鉛直上方のカバー内側に対し、カバー内の音響定在波の周波数に対して吸音性能が特化した第二の吸音体1003を設置する。第二の吸音体1003の設置位置は、防音カバー内部において設置のためのスペースがある位置であればどこでもよいが、上記のように荷重板より上方はスペースが空いている場合が多く、防音カバーの内面であって荷重板のなす面より上方に位置する部分に設置するのがよい。例えば、カバー301の天井面に設置することもできる。
 第二の吸音体1003は、装置の固有周波数に特化した第一の吸音体1001とは異なる吸収周波数帯をもつように、開口径,開口長さ,開孔率,空洞部の大きさ等が設計されている。
 このように作用の異なる2つの吸音体をカバー内部に設けることで、周波数の異なる騒音を同時に吸音できるため、より高い吸音効果が期待できる。さらに、高周波数の吸収周波数帯を持つ第一の吸音体をカバー301の開口部305の近くに、低周波数の吸収周波数帯を持つ第二の吸収体をカバー301の開口部305から遠い位置に配置することで、限られた空間内に効率的に吸音体を配置することができるので、装置全体が省スペース化できる。
 なお、ここでは装置の固有周波数に特化した第一の吸音体1001と合わせて設置する例を示したが、固有周波数の振動が問題にならない場合には、第一の音響定在波の周波数に特化した第二の吸音体1003だけの設置であってもよい。
 また、ここでは第二の吸音体1003は音響定在波の周波数に特化した構造としたが、音響定在波に限らず、他の騒音源の周波数に特化した構造としてもよい。
 以下、実施例6,実施例7については、別の変形例として、半導体計測・検査・観察装置等に代表される、試料搬送装置40を有する荷電粒子線装置の構造に即して説明する。
 図11に、カバー1101と試料搬送装置1102を有する一般的な荷電粒子線装置を示す。図11のように、カバー1101は、側面のうち一面が全て開いた開口部1103を有している。このカバー1101の底面に対して複数の支柱を有する架台1104が配置され、荷電粒子線装置本体1100は架台1104の上に除振台1105などを介して固定されている。装置本体1100は、開口部1103以外の方向はカバーでおおわれており、試料搬入出部1106が開口部1103の方向になるよう設けられている。これとは別に装置本体1100の内部に対して試料搬入出部1106を経由して試料を搬送する試料搬送装置1102と呼ばれる装置があり、この試料搬送装置1102は前記カバー1101の開口部1103に対して正面に、この開口部1103を塞ぐように設置される。
 図12は図11で説明したカバーと試料搬送装置1102を有する荷電粒子線装置において吸音構造を取り付けた例である。この例では、吸音体1201は、前記試料搬送装置1102の開口部1103に対向する側の壁面から前記開口1103を通って前記装置本体1100側に突出するよう配置されたことを特徴とする構造となっている。
 このとき、吸音面1202が、試料搬送装置1102の装置本体側の壁面に対して略垂直方向に、かつ、カバー1101の天井面または床面に略平行方向になるように、設置される。このようにして設置されたとき吸音面1202はカバー1101と試料搬送装置1102の隙間1109に、カバーの外部を向くように配置されるので、隙間1109の外部から侵入する騒音を効果的に吸音することができる。
 また、効率的に吸音するためには、試料搬送装置1102の装置本体側の壁面に対して垂直方向の吸音面1202の長さは、少なくとも同方向の隙間1109の長さより長く、カバー1101の内部に突出するように設置される必要がある。
 このような構造とすることにより、カバー1101と試料搬送装置1102の隙間から漏れて開口部1103を通って内部に侵入する音波について、装置本体1100の固有振動数に近い周波数成分を装置本体1100へ到達する前に吸音体1201で吸収することができ、結果的に装置本体1100の振動を低減して像障害を抑えることができる。
 図13は図12をカバー1101と試料搬送装置1102に分離した状態を立体的に表現したものである。図13には、吸音体1201が試料搬送装置1102に取り付けられた例を示しているが、試料搬送装置の壁面と一体成形されていてもよい。また、吸音体1201はカバー1101や試料搬入部1106に固定されていてもよい。また、吸音体1201を試料搬送装置1102やカバー1101とは独立にカバーの床面に固定してもよい。
 図14は図12で説明した実施例6に対して、さらにカバー内に発生する音響定在波の周波数に対して吸音性能が特化した第二の吸音体1403をカバー1101の天井面内側に設置した実施例を示したものである。第二の吸音体1403の設置位置はカバー1101の天井面に限られず、カバー側面であってもよい。本実施例においても、実施例5と同様に作用の異なる二つの吸音体をカバー内部に設けることで、周波数帯が異なる騒音を吸収することができ、より高い吸音効果が期待できる。
 以上のように、金属製の吸音体を、各実施例および、その組合せによって示される配置とすることで、カバー内部の限られた空間において効率的に吸音体を配置することができ、重量や設置スペース,コストを大幅に増大させることなく、荷電粒子線装置で使用可能な吸音効果が高い防音カバーを構成することができる。
300,1100 装置本体
400 吸音体

Claims (21)

  1.  試料の画像を取得する走査電子顕微鏡を少なくとも有する装置本体と、
     前記装置本体の周囲に配置されるカバーとを備え、
     前記装置本体の固有周波数、または前記カバーの内部に発生する音響定在波の周波数を吸音周波数帯にもつ吸音体を前記カバーの内部に設けられたことを特徴とする荷電粒子線装置。
  2.  請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
     前記装置本体は、前記走査電子顕微鏡を支持する荷重板と、当該荷重板を支える複数の支柱を備えた架台とを備え、
     前記吸音体は、前記カバーと前記支柱との間に配置されることを特徴とする荷電粒子線装置。
  3.  請求項2に記載の荷電粒子線装置において、
     前記吸音体は、前記カバーの内側または前記支柱に設置されることを特徴とする荷電粒子線装置。
  4.  請求項2に記載の荷電粒子線装置において、
     前記吸音体は、前記架台を形成する複数の支柱の間に配置されることを特徴とする荷電粒子線装置。
  5.  請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
     前記吸音体は、複数の吸音面を備えることを特徴とする荷電粒子線装置。
  6.  請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
     前記吸音体は、金属性材料からなることを特徴とする荷電粒子線装置。
  7.  請求項6に記載の荷電粒子線装置において、
     前記吸音体は複数の開口部を有する多孔板を有し、
     前記開口部の長さが可変であることを特徴とする荷電粒子線装置。
  8.  請求項6に記載の荷電粒子線装置において、
     前記吸音体は複数の開口部を有する多孔板と、前記多孔板に対向して設けられる背面板と、前記多孔板と前記背面板の間に構成される空洞部を仕切る複数の仕切り板からなり、
     前記仕切り板の間隔は前記吸音体の吸音周波数帯における音波の波長よりも短いことを特徴とする荷電粒子線装置。
  9.  請求項1に記載の荷電粒子線装置において、さらに、
     前記装置本体の試料搬入出部に対向する位置に設置された試料搬送装置を備え、
     前記カバーは、前記装置本体の試料搬入出部に対向する面に開口を有し、
     前記吸音体は、前記試料搬送装置の前記装置本体側の壁面から前記開口を通って前記装置本体側に突出するよう配置されることを特徴とする荷電粒子線装置。
  10.  請求項9に記載の荷電粒子線装置において、
     前記吸音体は、前記試料搬送装置の前記装置本体側の壁面に対して略垂直方向であって、前記カバーの天井面に対して略平行方向になるように設置されることを特徴とする荷電粒子線装置。
  11.  請求項9に記載の荷電粒子線装置において、
     前記吸音体の吸音面は前記カバーの内面と対向するように設けられることを特徴とする荷電粒子線装置。
  12.  試料の画像を取得する走査電子顕微鏡を少なくとも有する装置本体と、
     前記装置本体の側面および天井面を覆うように配置されるカバーとを備え、
     前記カバーの内部に吸音周波数帯の異なる第一の吸音体と第二の吸音体を備えることを特徴とする荷電粒子線装置。
  13.  請求項12に記載の荷電粒子線装置において、
     前記第一の吸音体は前記装置本体の固有周波数である第一の周波数領域を吸音周波数帯に持ち、前記第二の吸音体は前記カバーの内部に発生する音響定在波の周波数である第二の周波数領域を吸音周波数帯に持つことを特徴とする荷電粒子線装置。
  14.  請求項12に記載の荷電粒子線装置において、
     前記装置本体は、前記走査電子顕微鏡を支持する荷重板と、当該荷重板を支える複数の支柱を備えた架台とを備え、
     前記第一の吸音体が、前記カバーと前記支柱との間に配置されたことを特徴とする荷電粒子線装置。
  15.  請求項14に記載の荷電粒子線装置において、
     前記第一の吸音体は、前記カバーの内側または前記支柱に設置されることを特徴とする荷電粒子線装置。
  16.  請求項14に記載の荷電粒子線装置において、
     前記第一の吸音体が、前記架台を形成する複数の支柱の間に配置されることを特徴とする荷電粒子線装置。
  17.  請求項12に記載の荷電粒子線装置において、
     前記第一の吸音体は、複数の吸音面を備えることを特徴とする荷電粒子線装置。
  18.  請求項14に記載の荷電粒子線装置において、
     前記第一の吸音体は前記荷重板の下部に配置され、前記第二の吸音体は前記荷重板の上部に配置されることを特徴とする荷電粒子線装置。
  19.  請求項12に記載の荷電粒子線装置において、
     前記第一の吸音体または前記第二の吸音体は、金属性材料からなることを特徴とする荷電粒子線装置。
  20.  請求項19に記載の荷電粒子線装置において、
     前記第一の吸音体または前記第二の吸音体は、複数の開口部を有する多孔板を有し、
     前記開口部の長さが可変であることを特徴とする荷電粒子線装置。
  21.  請求項19に記載の荷電粒子線装置において、
     前記第一の吸音体または前記第二の吸音体は複数の開口部を有する多孔板と、前記多孔板に対向して設けられる背面板と、前記多孔板と前記背面板の間に構成される空洞部を仕切る複数の仕切り板からなり、
     前記仕切り板の間隔は前記第一の吸音体または前記第二の吸音体の吸音周波数帯における音波の波長よりも短いことを特徴とする荷電粒子線装置。
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