JPH08329874A - 走査電子顕微鏡 - Google Patents

走査電子顕微鏡

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Publication number
JPH08329874A
JPH08329874A JP7133156A JP13315695A JPH08329874A JP H08329874 A JPH08329874 A JP H08329874A JP 7133156 A JP7133156 A JP 7133156A JP 13315695 A JP13315695 A JP 13315695A JP H08329874 A JPH08329874 A JP H08329874A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cover
load plate
sample
inner cover
optical system
Prior art date
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Pending
Application number
JP7133156A
Other languages
English (en)
Inventor
Kaname Takahashi
要 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP7133156A priority Critical patent/JPH08329874A/ja
Publication of JPH08329874A publication Critical patent/JPH08329874A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【構成】架台8上で除振装置7により支えられた荷重板
6に設置された電子光学系2,試料室3および試料ステ
ージ5全体を覆い、荷重板6に固定した内側カバー10
と内側カバー10全体を覆い架台8に固定した外側カバ
ー11を有する。 【効果】音波は外側カバー11により減衰されて内側カ
バー10に伝達し、さらに内側カバー10で減衰される
ため、内側カバー10内部の電子光学系2と試料ステー
ジ5に音波は伝わらず、音波障害が発生しない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は走査電子顕微鏡における
音波障害を防止した装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の装置は、騒音による空気振動が荷
重板に設置された電子光学系と試料ステージに直接伝わ
り、電子線と試料の間に相対変位が生じて、音波障害が
発生していた。この音波障害を防ぐため、電子光学系,
試料ステージおよび真空ポンプ等をカバーで覆い、空気
振動が直接伝わりにくくする方法が用いられている。
【0003】このようなカバーとして、実公平6−24124
号公報に記載のように、荷重板上の真空ポンプを覆うカ
バーを架台に固定し、荷重板と接触しないようにするこ
とで、カバーの受けた空気振動を荷重板上の電子光学系
と試料ステージに伝えにくくしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、カ
バーの許容音圧値以上の音波を装置が受けた場合、カバ
ーで減衰しきれなかった音波がカバー内部の電子光学系
と試料ステージに伝わり、音波障害が発生する。そこで
カバーの許容音圧値を上げるため、カバーを厚くする方
法があるが、厚みに対する減衰効果には限界がある。ま
たカバーを減衰材料で構成する方法もあるが、上記方法
と同様に減衰効果には限界がある。一方、カバーに設け
られた孔から外部の音波がカバー内部に侵入し、カバー
の減衰効果が発揮できない問題も生じている。
【0005】本発明の目的は、カバーの遮音効果を向上
することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は荷重板上の電子光学系と試料ステージ全体
を覆い、荷重板に固定した内側カバーと、内側カバー全
体を覆い、架台に固定した外側カバーの二重カバーを設
けた。さらに外側カバーと内側カバーは接触しない形状
であり、それらを固定した架台と荷重板は除振装置によ
り振動的に絶縁されているため、外側カバーと内側カバ
ーも振動的に絶縁した状態となっている。
【0007】またさらに、内側カバーが防振材を介して
荷重板に固定されているため、内側カバーと荷重板は振
動的に絶縁した状態となっている。
【0008】
【作用】カバーの許容音圧値以上の音波は外側カバーで
減衰されて、内側カバーに伝わり、さらに内側カバーで
減衰されて、内側カバー内部にある電子光学系と試料ス
テージに音波が伝わる。したがって、外側カバーの許容
音圧値を越える音波に対して、内側カバーが遮音できる
音圧値であれば音波障害は発生しない。
【0009】さらに、外側カバーと内側カバーは除振装
置により振動的に絶縁されているため、音波により発生
する外側カバーの振動は内側カバーに伝わらない。その
結果、内側カバーの遮音効果も向上する。
【0010】また、内側カバーが防振材により荷重板と
振動的に絶縁しているため、外側カバーが減衰した音波
により発生する内側カバーの振動は荷重板に伝わらな
い。その結果、カバーの遮音効果がさらに向上する。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1により説明す
る。電子線1は電子光学系2により細く絞られ試料4に
照射される。電子光学系2と試料4は真空ポンプ9によ
り高真空に保たれた試料室3内に配置される。また、試
料室3内には試料4を移動する試料ステージ5が取り付
いている。試料室3は荷重板6の上に搭載され、荷重板
6は除振装置7により架台8とは絶縁されるように支持
される。そのため架台8に伝わる床振動や空気振動は除
振装置7により減衰されて荷重板6に伝わる。内側カバ
ー10は荷重板6上に架台8とは接しない状態で固定さ
れ、電子光学系2,試料室3および試料ステージ5を覆
う形状となっている。外側カバー11は架台8に固定さ
れ、内側カバー10と接触しない状態で内側カバー10
全体を覆う形状となっている。
【0012】図1より電子光学系2,試料室3および試
料ステージ5は外側カバー11と内側カバー10に全体
を覆われているため、カバーの許容音圧値以上の音波
は、外側カバー11で減衰されて内側カバー10に伝わ
り、さらに内側カバー10で減衰されるため、電子光学
系2,試料室3および試料ステージ5に直接伝わらな
い。その結果、電子線1と試料4の間に相対変位は生じ
ず、音波障害は発生しない。さらに外側カバー11と内
側カバー10は接触せずに、除振装置7によりそれぞれ
絶縁された形で固定されているため、音波により発生す
る外側カバー11の振動は内側カバー10には伝わらな
い。その結果、内側カバー10は外側カバー11により
減衰された音波のみを受ける。
【0013】本実施例によれば、外側カバー11と内側
カバー10がそれぞれ絶縁された状態で固定されている
ため、カバーの遮音効果が向上し、外側カバー11の許
容音圧値以上の騒音に対しても、音波障害が発生しにく
い。
【0014】
【発明の効果】本発明によれば、二重カバーが各々振動
的に絶縁された状態で固定されるため、カバーの遮音効
果が向上し、騒音が大きい設置環境でも音波障害が発生
しにくい。
【0015】また、内側のカバーが、荷重板と絶縁され
ているため、さらにカバーの遮音効果が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の走査電子顕微鏡の鏡体全体
の断面図。
【符号の説明】
1…電子線、2…電子光学系、3…試料室、4…試料、
5…試料ステージ、6…荷重板、7…除振装置、8…架
台、9…真空ポンプ、10…内側カバー、11…外側カ
バー。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】架台上で振動を減衰する除振装置により支
    えられている荷重板と、前記荷重板上には、電子線を収
    束して試料上を二次元的に走査させる電子光学系と、前
    記試料上より放出される二次電子を検出し電気信号に変
    換させる二次電子検出器と、前記電子光学系と前記二次
    電子検出器が取り付き、真空ポンプにより高真空に維持
    されている試料室と、前記試料室内で前記試料を移動さ
    せる試料ステージが配置されている電子線装置におい
    て、前記電子光学系,前記二次電子検出器,前記試料
    室,前記試料ステージの荷重板上のユニット全体を覆う
    形状で前記荷重板に固定するカバーと、前記カバーと接
    触しないでカバー全体を覆う形状で前記架台に固定する
    カバーによる二重カバーを有することを特徴とする走査
    電子顕微鏡。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記荷重板上の前記ユ
    ニット全体を覆う形状の内側カバーを、防振材を介して
    前記荷重板に固定する走査電子顕微鏡。
JP7133156A 1995-05-31 1995-05-31 走査電子顕微鏡 Pending JPH08329874A (ja)

Priority Applications (1)

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JP7133156A JPH08329874A (ja) 1995-05-31 1995-05-31 走査電子顕微鏡

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JP7133156A JPH08329874A (ja) 1995-05-31 1995-05-31 走査電子顕微鏡

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JPH08329874A true JPH08329874A (ja) 1996-12-13

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ID=15098015

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JP7133156A Pending JPH08329874A (ja) 1995-05-31 1995-05-31 走査電子顕微鏡

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JP (1) JPH08329874A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9970459B2 (en) 2013-03-29 2018-05-15 Ebara Corporation Vacuum pump connecting apparatus and method for installing vacuum pump connecting apparatus

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