WO2012056806A1 - 発電装置、熱発電方法および太陽光発電方法 - Google Patents

発電装置、熱発電方法および太陽光発電方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2012056806A1
WO2012056806A1 PCT/JP2011/069476 JP2011069476W WO2012056806A1 WO 2012056806 A1 WO2012056806 A1 WO 2012056806A1 JP 2011069476 W JP2011069476 W JP 2011069476W WO 2012056806 A1 WO2012056806 A1 WO 2012056806A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
power generation
wavelength
heat
conversion element
infrared
Prior art date
Application number
PCT/JP2011/069476
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
松本 貴裕
Original Assignee
スタンレー電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by スタンレー電気株式会社 filed Critical スタンレー電気株式会社
Priority to EP11835947.0A priority Critical patent/EP2634817A4/en
Priority to US13/882,409 priority patent/US9467088B2/en
Priority to JP2012540726A priority patent/JP5830468B2/ja
Publication of WO2012056806A1 publication Critical patent/WO2012056806A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02SGENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
    • H02S10/00PV power plants; Combinations of PV energy systems with other systems for the generation of electric power
    • H02S10/30Thermophotovoltaic systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0236Special surface textures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/054Optical elements directly associated or integrated with the PV cell, e.g. light-reflecting means or light-concentrating means
    • H01L31/0543Optical elements directly associated or integrated with the PV cell, e.g. light-reflecting means or light-concentrating means comprising light concentrating means of the refractive type, e.g. lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/054Optical elements directly associated or integrated with the PV cell, e.g. light-reflecting means or light-concentrating means
    • H01L31/0547Optical elements directly associated or integrated with the PV cell, e.g. light-reflecting means or light-concentrating means comprising light concentrating means of the reflecting type, e.g. parabolic mirrors, concentrators using total internal reflection
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/52PV systems with concentrators

Definitions

  • the present invention relates to an apparatus for generating electric power using heat source and solar energy, and more particularly to a small-sized electric generator having high conversion efficiency.
  • Patent Documents 1 to 3 disclose thermoelectric conversion elements that convert thermal energy into electrical energy. These thermal conversion elements have a configuration in which a p-type semiconductor material and an n-type semiconductor material are joined by a metal or the like. When the junction is heated, electric power is generated by the Seebeck effect. Bi-Te based materials are used as the p-type and n-type semiconductor materials.
  • Non-Patent Documents 1 to 3 solar cells using silicon semiconductors or compound semiconductors are disclosed as devices for converting solar energy into electrical energy.
  • Patent Document 4 discloses a solar heat collecting power generation technology that converts sunlight into heat, vaporizes water with the heat, and rotates a turbine to generate power.
  • a receiver in which a heat medium (sodium nitrite 40%, sodium nitrate 7%, potassium nitrate 53%) is arranged, and sunlight is collected to collect light.
  • a heat medium sodium nitrite 40%, sodium nitrate 7%, potassium nitrate 53%) is arranged, and sunlight is collected to collect light.
  • a heliostat or the like is used.
  • JP-A-8-111546 Japanese Patent Laid-Open No. 11-317547 JP 2005-260089 A International Publication WO2009 / 104347
  • thermoelectric conversion elements described in Patent Documents 1 to 3 since the figure of merit of the semiconductor material is not high, the efficiency of converting heat into electricity can be obtained only about several percent to 10%.
  • Bi and Te are expensive and are toxic heavy metals, which increases the cost of the thermoelectric conversion element and has a large environmental load.
  • Non-Patent Documents 1 to 3 have a power generation efficiency of 20%, and the solar cells using compound semiconductors still have a power generation efficiency of 30%.
  • the silicon semiconductor solar cells described in Non-Patent Documents 1 to 3 have a power generation efficiency of 20%, and the solar cells using compound semiconductors still have a power generation efficiency of 30%.
  • the solar cells using compound semiconductors still have a power generation efficiency of 30%.
  • a large number of different types of compound semiconductor films having different band gaps are stacked, and thus manufacturing costs are increased.
  • the solar thermal power generation system described in Patent Document 4 has a large-scale device configuration.
  • the power generation efficiency is less than 30%, which increases the power generation cost.
  • An object of the present invention is to provide a power generator that is small and has high power generation efficiency.
  • the following power generator is provided. That is, a power generation device having a heat-light conversion element that converts heat into infrared light and a semiconductor power generation cell that converts infrared light into electrical energy, wherein the heat-light conversion element has a wavelength greater than a predetermined infrared wavelength. It contains a material having a higher reflectance on the long wavelength side than that on the short wavelength side, and emits infrared light when the material is heated.
  • heat is converted into infrared light having a predetermined wavelength, and the infrared light is converted into electrical energy by the semiconductor power generation element, so loss due to Stokes shift can be reduced. Therefore, power generation can be performed with high efficiency.
  • the graph for showing the principle of the infrared-light radiation of the material which has the predetermined reflective characteristic of this invention The graph which shows the Stokes shift at the time of converting sunlight and infrared light into electrical energy with a semiconductor power generation cell.
  • 1 is a cross-sectional view of a thermoelectric generator according to Embodiment 1.
  • FIG. 1 is a perspective view of a thermoelectric generator according to Embodiment 1.
  • FIG. The perspective view which shows the state which fixed the multiple thermoelectric generator of Embodiment 1 to the heat source, and connected the several thermoelectric generator in series.
  • FIG. The graph which shows the infrared-light spectrum which the thermoelectric conversion element of the thermoelectric generator of Embodiment 1 radiates
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a thermoelectric generator system according to Embodiment 1.
  • FIG. The block diagram which shows the structure of the solar power generation device of Embodiment 2.
  • FIG. Sectional drawing of the heat-light conversion element of the solar power generation device of FIG.
  • the block diagram which shows the structure of the solar power generation device of Embodiment 3.
  • FIG. Sectional drawing of the heat-light conversion element of the solar power generation device of FIG.
  • the graph which shows the measurement result of the power generation efficiency of the solar power generation device of Embodiment 2,3.
  • the graph which shows the reflective characteristic of the infrared radiation material of FIG. The graph which shows the wavelength dependence of the refractive index and extinction coefficient (absorption rate) of the cermet film
  • membrane of FIG. The graph which shows the reflection characteristic at the time of laminating
  • the graph which shows the reflective characteristic of a graphite compound which equips the surface with the micro uneven structure of this embodiment The graph which shows the reflective characteristic of a graphite compound which equips the surface with the micro uneven structure of this embodiment.
  • a power generator according to an embodiment of the present invention will be described.
  • a material whose reflectance on the long wavelength side is higher than the reflectance on the short wavelength side than the predetermined infrared wavelength emits infrared light of the predetermined infrared wavelength when heated This material (hereinafter referred to as infrared radiation material) is used for the heat-light conversion element. Heat is converted into infrared light by heating the infrared radiation material. The converted infrared light is converted into electrical energy by a semiconductor power generation cell having a band gap in the infrared region.
  • the cutoff wavelength on the long wavelength side of the emissivity is a wavelength at which the emissivity rapidly decreases as the wavelength increases and becomes an emissivity of 0 in the graph of the wavelength dependence of emissivity.
  • the cut-off wavelength may be obtained by extrapolating the slope curve.
  • Infrared radiation material is an ideal black body with the long-wavelength cut-off wavelength of the emissivity at the temperature of the infrared radiation material at the time of radiation It is designed to be positioned on the longer wavelength side than the cutoff wavelength on the shorter wavelength side of the radiation. As a result, infrared light having a wavelength band equal to or longer than the cutoff wavelength on the short wavelength side of black body radiation and equal to or shorter than the longer wavelength side cutoff wavelength of the emissivity of the infrared radiation material is emitted.
  • the cut-off wavelength on the short wavelength side of black body radiation is a wavelength at which the spectrum intensity sharply decreases and the spectrum intensity becomes 0 as the wavelength becomes shorter in the black body radiation spectrum. Because of the Planck's radiation law, the spectral intensity is never completely zero, so here, for convenience, a wavelength that is 1/100 or less of the blackbody radiation spectral peak intensity is a short wavelength where the spectral intensity is zero. (If the measured value is to be evaluated, the cut-off wavelength may be obtained by covering the slope curve of the spectrum.)
  • the infrared light spectrum emitted from the infrared radiation material of the heat-light conversion element is longer than the ideal black body radiation spectrum wavelength at the temperature of the infrared radiation material at the time of radiation. Since light (long wavelength infrared light) longer than the cutoff wavelength on the wavelength side can be completely suppressed, by setting this cutoff wavelength to the same value as the energy gap of the semiconductor power generation cell, It is possible to convert and absorb heat into infrared light having an energy gap or more with an efficiency of approximately 100%.
  • the infrared light emitted from the heat-light conversion element of the present invention is efficiently absorbed by the semiconductor power generation cell. Can be converted into electrical energy with high efficiency.
  • the heat-light conversion element and the semiconductor power generation cell are disposed to face each other with a space therebetween, and the space is decompressed to a predetermined degree of vacuum. Thereby, it is possible to prevent the energy of the heat-light conversion element from being lost due to air convection heat transfer.
  • the heating method of the heat-light conversion element may be any method.
  • Thermoelectric power generation can be performed by transferring heat to the thermo-optic conversion element by heat conduction or radiation.
  • solar power generation can be performed by irradiating the heat-light conversion element with sunlight and heating the heat-light conversion element.
  • the heat-light conversion element can be fixed on the substrate, and heat can be conducted to the heat-light conversion element through the substrate.
  • a condensing optical system that collects sunlight toward the heat-light conversion element is arranged.
  • Examples of the infrared radiation material having the above-described reflectance characteristics of the heat-light conversion element include a metal oxide laminate, a cermet film (for example, a cermet film in which tungsten fine particles are dispersed in magnesium oxide), and a surface.
  • a graphite compound having a concavo-convex structure (for example, one having a periodic micrometer order concavo-convex structure and a periodic nanometer order concavo-convex structure) can be used.
  • the surface of these infrared radiation materials may be provided with an antireflection film.
  • a tin oxide layer or a film of a low refractive index material containing MgF 2 can be used as the antireflection film.
  • the heat-light conversion element is heated by sunlight, and is converted into infrared light by the heat-light conversion element with high efficiency.
  • the converted infrared light is led to a semiconductor power generation cell (solar cell) and converted into electrical energy.
  • solar cell semiconductor power generation cell
  • sunlight can be converted into electric energy with high efficiency using a semiconductor power generation cell having a band gap in the infrared light region.
  • a material (infrared radiation material) having a predetermined reflection characteristic is used for a heat-light conversion element that converts sunlight into infrared light.
  • the predetermined reflection characteristic is a high reflectance (ideally a reflectance close to 100%) in which a light reflectance of a predetermined wavelength or more is a predetermined reflectance or more, and reflects light having a wavelength shorter than the predetermined wavelength.
  • the reflectivity is a low reflectivity (ideally a reflectivity of approximately 0%) below a predetermined reflectivity.
  • the infrared radiation material of FIG. 1 has a reflectance of approximately 100% for a wavelength region of 3 ⁇ m or more, and a reflectance of approximately 0% for a wavelength region of 2 ⁇ m or less. That is, the reflectance graph 10 decreases rapidly as the wavelength is shortened in the vicinity of the wavelength from 3 ⁇ m to 2 ⁇ m, and the cutoff wavelength ⁇ Rcutoff obtained by extrapolating the slope curve of the graph is about 2 ⁇ m. As shown in FIG.
  • the spectrum of sunlight is generally located in the wavelength region of 300 nm to 1500 nm, so that the cutoff wavelength of the reflectance of the infrared radiation material is longer than the long wavelength side end (1500 nm) of the spectrum of sunlight.
  • ⁇ Rcutoff about 2 ⁇ m is located on the longer wavelength side. Therefore, when this infrared radiation material is irradiated with sunlight, it can be absorbed almost 100% without reflecting sunlight. The infrared radiation material is heated by the absorbed solar energy.
  • the infrared radiation material When the infrared radiation material is placed in a vacuum, the heat of the infrared radiation material is not dissipated in the air, so the infrared radiation material absorbs the absorbed solar energy with the efficiency of approximately 100% as shown by the thick solid line in FIG. Radiates as infrared light of spectrum 11 as shown in the graph. That is, the infrared radiation material is heated by sunlight and can convert heat into infrared light. This principle is based on Kirchhoff's law in blackbody radiation. This will be further described.
  • P (total) P (conduction) + P (radiation) (1)
  • P (total) the total input energy
  • P (conduction) the energy lost through the substrate contact body, such as the substrate support
  • P (radiation) the substrate heated. It is the energy lost by radiating light to the external space at temperature.
  • Equation (2) the term of P (radiation) in the equation (1) can be expressed by the following equation (2).
  • ⁇ ( ⁇ ) is the emissivity at each wavelength
  • ⁇ ⁇ 5 / (exp ( ⁇ / ⁇ T) ⁇ 1) is Planck's radiation law
  • 3.747 ⁇ 10 8 W ⁇ m 4 / m 2
  • 1.4387 ⁇ 10 4 ⁇ mK.
  • ⁇ ( ⁇ ) can be expressed as reflectance R ( ⁇ ) by the following equation (3) according to Kirchhoff's law.
  • the emissivity ⁇ ( ⁇ ) is expressed by 1 ⁇ R ( ⁇ ) from the above equation (3).
  • a heat radiation state in which a material having an emissivity ⁇ ( ⁇ ) of approximately 0% in an infrared light region having a wavelength of 3 ⁇ m or more and approximately 100% in a wavelength region of 2 ⁇ m or less in a vacuum is heated in the following (4 ) Expression.
  • ⁇ ( ⁇ 0 ) is a function indicating a step-like behavior that is almost 0 from the long wavelength to the predetermined wavelength ⁇ 0 and takes 1 in the region from the predetermined wavelength ⁇ 0 to the short wavelength. is there.
  • the obtained radiation spectrum has a shape obtained by convolving the step function emissivity and the black body radiation spectrum 13 (thick broken line graph in FIG. 1), and the calculation result is the spectrum 11 in FIG. That is, the infrared radiation spectrum 11 radiated from the infrared radiation material is a region surrounded by the cutoff region on the long wavelength side of the change curve 12 of the emissivity ⁇ ( ⁇ ) and the black body radiation spectrum 13. And a wavelength band between the short wavelength cutoff wavelength ⁇ Bcutoff of blackbody radiation and the long wavelength cutoff wavelength ⁇ ⁇ cutoff of emissivity .
  • solar energy located at a wavelength of 300 nm to 1500 nm is once converted into infrared radiation, and the infrared radiation is converted into electrical energy by the semiconductor power generation cell.
  • the difference referred to as Stokes shift
  • a semiconductor power generation cell absorbs all of solar energy having a wavelength of 300 nm to 1500 nm
  • a semiconductor having a band gap in the vicinity of a wavelength of 1500 nm for example, a power generation cell of an InGaAs semiconductor (short wavelength) is used.
  • the band gap energy at a wavelength of 1500 nm is about 0.8 eV, and as shown in FIG. 2, the energy difference (Stokes shift) from sunlight with a wavelength of 300 nm (band gap energy 4.1 eV) becomes large, resulting in a large loss. That is, a semiconductor power generation cell having a band gap energy of about 0.8 eV can only absorb 0.8 eV of high energy ultraviolet light (wavelength 300 nm, band gap energy 4.1 eV) included in sunlight.
  • infrared radiation (spectrum 11 in FIG. 1) is generated by sunlight using an infrared radiation material having a predetermined reflectance characteristic as shown by the change curve 10 in FIG.
  • the wavelength of this infrared radiation light is in the range of 0.5 to 1 eV as shown in FIG. 2, and thus, for example, semiconductor (InGaAs semiconductor (long wavelength)) power generation having a band gap energy of 0.5 eV
  • semiconductor InGaAs semiconductor (long wavelength)
  • the Stokes shift loss can be suppressed to about 0.5 eV at the maximum.
  • a straight line 31 indicates an energy loss due to heat conduction of the substrate supporting the infrared radiation material
  • a curve 32 indicates a total energy loss due to infrared radiation and heat conduction.
  • the sunlight energy is mostly used to increase the temperature of the substrate that supports the infrared radiation material. .
  • the radiation loss is suppressed in the low temperature region and the input energy is used to increase the temperature of the substrate due to the emissivity ⁇ characteristic of the infrared radiation material in FIG.
  • the temperature of the substrate and the infrared radiation material increases.
  • it enters an energy region in which infrared light can be radiated region in which the reflectance at a wavelength of 2 ⁇ m or less in FIG.
  • the energy obtained as the infrared radiation is obtained by subtracting the straight line 31 corresponding to the loss due to heat conduction from the curve 32 in FIG. 3, and is the amount indicated by the length of the dotted arrow 33 in FIG. This result clearly shows that the higher the temperature, the greater the proportion of infrared radiation.
  • thermoelectric generator Next, the principle of the thermoelectric generator of the present invention will be described.
  • the solar power generation device described above is configured to heat infrared radiation material of the heat-light conversion element by sunlight and emit infrared light, but the thermoelectric power generation device directly transfers heat to the infrared radiation material, Infrared light is emitted.
  • any method such as heat conduction or radiation may be used.
  • heat conduction a heat-light conversion element is brought into close contact with a heat source, and heat energy is transferred to the infrared radiation material by heat conduction and heated.
  • the infrared radiation material as already described with reference to FIG. 2 in the principle of the solar power generation device, a material having a reflectance higher on the longer wavelength side than a predetermined infrared wavelength than the reflectance on the shorter wavelength side is used. Use. Thereby, the infrared radiation spectrum 11 of FIG. 1 can be radiated.
  • thermoelectric generators unlike solar power generators, it is not necessary to set the cutoff wavelength ⁇ Rcutoff of the reflectance of the infrared radiation material according to the sunlight spectrum because it is not heated by sunlight.
  • the reflectance cutoff wavelength ⁇ Rcutoff is shifted to the short wavelength side.
  • the cutoff wavelength lambda Rcutoff reflectance is set to 8 [mu] m
  • the case of 1000 ° C. the heat source to set the cut-off wavelength lambda Rcutoff of reflectance 2.5 [mu] m.
  • the energy gap of the cells that can efficiently generate power at room temperature is located at a short wavelength of about 1500 nm or less as described in the solar power generation apparatus.
  • the high-temperature heat source that emits can generate power more efficiently than the low-temperature heat source.
  • thermoelectric generator of the present invention heats the infrared radiation material of the heat-light conversion element by the heat source, emits infrared light, and converts the infrared light into electricity by the semiconductor power generation cell. Generate electricity.
  • thermoelectric generator of the present invention will be described with reference to FIGS. 4 is a cross-sectional view of the thermoelectric generator 50, and FIG. 5 is a perspective view.
  • FIG. 6 is a perspective view showing a state in which the thermoelectric generator 50 is fixed to the heat source 51.
  • thermoelectric generator of the present invention includes the thermo-optic conversion element 2 and the semiconductor power generation cell 3 that are arranged to face each other, a vacuum vessel 11 that seals the periphery thereof, and a reflective film 7 that is arranged on the inner wall of the vacuum vessel 11. ing.
  • the heat-light conversion element 2 includes a base material 20 and an infrared radiation material layer 21 mounted on the surface of the base material 20 on the semiconductor power generation cell 3 side as described in FIG.
  • the infrared radiation material layer 21 has an infrared radiation having a reflection characteristic in which the reflectance on the longer wavelength side than the predetermined infrared wavelength is higher than the reflectance on the short wavelength side. It is composed of materials. It is particularly desirable that the reflectance on the shorter wavelength side than the predetermined infrared wavelength is 5% or less, and the reflectance on the longer wavelength side than the predetermined wavelength is 95% or more.
  • the infrared radiation material layer 21 is a single layer or a multilayer structure of an infrared radiation material, and emits infrared light with high efficiency when heated.
  • the material (infrared radiation material) layer 21 whose reflectivity (emissivity) changes in a stepwise manner as described above, (i) a laminate of one or more metal oxides, (ii) oxide or nitridation
  • a thin film (so-called cermet film) containing fine particles of metal or semiconductor, (iii) a graphite compound substrate having a fine concavo-convex structure on the surface, or the like can be used.
  • the base material 20 can be made of a highly heat conductive material (for example, W or Cu).
  • the semiconductor power generation cell 3 uses a cell having an energy gap close to the infrared wavelength emitted by the infrared radiation material layer 21 of the heat-light conversion element 2 in order to reduce the Stokes shift.
  • a cell having an energy gap close to the infrared wavelength emitted by the infrared radiation material layer 21 of the heat-light conversion element 2 in order to reduce the Stokes shift.
  • an InGaAs semiconductor power generation cell having an energy gap of about 2.5 ⁇ m is used.
  • the reflective film 7 plays a role of reflecting the infrared light emitted by the heat-light conversion element 2 and entering the semiconductor power generation cell 3.
  • an Au film, an Ag film, a dielectric multilayer film, or the like can be used as the reflective film 7.
  • the actual degree of vacuum is about 10 ⁇ 3 to 10 ⁇ 4 Pa.
  • the vacuum vessel 11 is made of a material that has a low thermal conductivity and can withstand the high temperature of the heat source (for example, a metal such as quartz glass, a low thermal conductivity aluminum sintered body, a low thermal conductivity stainless steel material). Further, by depositing the getter 6 on the tube wall, it is possible to maintain the degree of vacuum inside for a long period of time, thereby extending the life of the thermoelectric generator. Further, when the reflective film 7 includes a Ti film, Ti has a getter function, so that it can also be used as a getter.
  • the size of the semiconductor power generation cell 3 is approximately the same as that of the heat-light conversion element 2, but the area of the upper surface of the semiconductor power generation cell 3 is that of the heat-light conversion element 2 as shown in FIG. 8. It may be smaller than the area of the lower surface.
  • the infrared light emitted from the heat-light conversion element 2 can be condensed on the semiconductor power generation cell 3 by making the vacuum vessel 11 hemispherical.
  • thermoelectric generator 50 The operation of each part of the thermoelectric generator 50 in FIG. 4 will be described.
  • the one or more thermoelectric generators 50 are fixed to the heat source 51 with a high heat conductive material (for example, ceramic paste) so that the heat conversion element 2 is in close contact with the heat source 51.
  • the heat of the heat source 51 is conducted to the infrared radiation material layer 21 to heat the infrared radiation material layer 21.
  • the heated infrared radiation material layer 21 emits infrared light having a predetermined wavelength with high efficiency. Infrared light is irradiated directly or on the inner wall of the vacuum vessel 1 to irradiate the semiconductor power generation cell 3.
  • FIG. Comparing FIG. 9 and FIG. 10 the peak wavelength of the infrared light spectrum emitted by the infrared radiation material layer 21 of the present invention is closer to the absorption band 81 of the semiconductor power generation cell 3 than the black body radiation spectrum. Therefore, it can be seen that the area of the spectrum overlapping with the band 81 is large and is efficiently absorbed.
  • FIG. 11 shows, for each temperature, the power generation efficiency of the thermoelectric generator of the present invention and the power generation efficiency of the thermoelectric generator using the black body radiation material instead of the infrared radiation material layer.
  • the thermoelectric generator of the present invention is 100 times more efficient in the low temperature region of 400 ° C. and more than three times more effective in the high temperature region of 700 ° C. than the thermoelectric generator using the black body radiation material. I understand that.
  • thermoelectric generators 50 are fixed in advance on a single substrate 52 with a high thermal conductivity material, and the substrate 52 is fixed to the heat source 51 with a high thermal conductivity material. It is also possible to do.
  • a power generation system 66 can be configured by sequentially connecting a booster 61, a DC / AC converter 62, and a protection and switching circuit 63 to one or more thermoelectric generators 50.
  • the booster circuit 61 boosts the voltage of DC power extracted from one or more thermoelectric generators 50 to a predetermined voltage (for example, 100 V).
  • the DC / AC converter 62 converts the power boosted by the booster circuit 61 into AC power having a predetermined frequency (for example, 50 Hz or 60 Hz).
  • the protection and switching circuit 63 selectively supplies this AC power to one of the load circuit 64 and the power company transmission line 65, or supplies surplus power from the load circuit 64 to the transmission line 65.
  • the electric power generated by the power generation system 66 can be used by supplying it to a predetermined load circuit in a factory or home where the power generation system 66 is disposed. It can also be supplied to the power company's transmission line 65 for sale.
  • the protection and switching circuit 63 is not only a switching operation, but also serves as a protective relay that protects the power generation system 66 by separating it from the load circuit 64 and the transmission line 65 when an abnormal large current flows through the load circuit 64 or the transmission line 65. Also works.
  • thermoelectric generator 50 of the present invention since one size is the size of the thermoelectric generator 2 and the semiconductor power generation cell 3, a plurality of these can be used to form a small power generation system 66.
  • thermoelectric generator 50 can be attached to a heat source of various sizes from a small heat source to a large heat source, it is possible to generate power with high efficiency by using a difficult heat source that can be used as a heat source for power generation using a conventional steam turbine.
  • the thermoelectric generator 50 can be fixed to the side wall of a blast furnace or a waste incinerator and power can be generated by surplus heat.
  • thermoelectric generator since it is a principle that uses infrared light radiation, waste that becomes an environmental burden such as exhaust gas does not occur in the process of power generation, and an environment-friendly thermoelectric generator can be provided.
  • Embodiment 2 As Embodiment 2, the structure of the solar power generation device of the present invention will be described with reference to FIG.
  • the solar power generation device of FIG. 13 includes a vacuum vessel 1 whose inner wall surface is a spheroid shape, and a heat-light conversion element 2 and a semiconductor power generation cell 3 that are respectively arranged at an elliptical focal position in the internal space of the vacuum vessel 1. ing.
  • a window 4 for transmitting sunlight is disposed on one wall surface on the long axis of the vacuum vessel 1.
  • the window 4 is preferably formed of a material that transmits the sunlight spectrum in a wide range including the ultraviolet light region having a large energy.
  • the window 4 made of quartz glass is used.
  • a lens 5 is disposed outside the vacuum vessel 1 at a position facing the window 4.
  • the lens 5 collects sunlight on the heat-light conversion element 2.
  • a lens 5 having a condensing magnification of 20 times or more is used as the lens 5, and a polycarbonate lens having a high transmittance is used as the material.
  • the aperture diameter of the window 4 is designed to a size that does not block the light beam collected by the lens 5 in consideration of the aperture and magnification of the lens 5.
  • the inner wall of the vacuum vessel 1 is covered with a reflective film 7.
  • a short circuit that transmits approximately 100% of sunlight inside the window 4 and reflects approximately 100% of the infrared light generated from the infrared radiation material 21.
  • a pass filter may be coated. This can be realized by a generally used dielectric multilayer coating method.
  • the material of the reflective film 7 and the degree of vacuum of the vacuum container 1 are the same as in the first embodiment.
  • the operation of the getter 6 is the same as that of the first embodiment.
  • the heat-light conversion element 2 includes a base material 20, an infrared radiation material layer 21 mounted on each of the upper surface and the lower surface of the base material 20, and the infrared radiation material layer 21. And an antireflection layer 22 laminated thereon.
  • the structure of the infrared radiation material layer 21 is the same as that of the first embodiment. A configuration without the antireflection layer 22 is also possible. Since the heat-light conversion element 2 and the semiconductor power generation cell 3 are respectively arranged at the focal positions of the spheroid vacuum container 1, infrared light emitted from both surfaces of the heat-light conversion element 2 The light is reflected by the inner wall and collected on the semiconductor power generation cell 3.
  • the infrared radiation material constituting the infrared radiation material layer 21 has reflection characteristics similar to those of the infrared radiation material of the first embodiment. Further, in order to absorb the sunlight spectrum with high efficiency, The reflectance R ( ⁇ ) is lower on the short wavelength side than the vicinity of the predetermined wavelength ⁇ 0 at the end of the long wavelength region. Reflectance on the short wavelength side of the predetermined wavelength lambda 0 is 5% or less, the reflectance on the long wavelength side of the predetermined wavelength lambda 0 is particularly preferably 95% or more.
  • the predetermined wavelength ⁇ 0 is set to a wavelength between 1 ⁇ m and 5 ⁇ m.
  • a metal oxide laminate, a cermet film, a graphite compound substrate having a fine uneven structure, and the like can be used. It will be described later.
  • the semiconductor power generation cell 3 uses a cell having an energy gap close to the infrared wavelength emitted by the heat-light conversion element 2 in order to reduce the Stokes shift.
  • an InGaAs semiconductor power generation cell having an energy gap of about 2.5 ⁇ m is used.
  • the size of the semiconductor power generation cell 3 is set to the same size as the heat-light conversion element 2. Infrared light is reflected by the inner wall of the vacuum vessel 1 and condensed on the heat-light conversion element 2, so that the surface image of the heat-light conversion element 2 is just mapped onto the upper surface of the semiconductor power generation cell 3. is there.
  • it is about 1 cm 2 as an example.
  • Sunlight is collected by the lens 5, passes through the window 4, and is collected on the upper surface of the heat-light conversion element 2.
  • the light passes through the antireflection layer 22 and reaches the infrared radiation material layer 21.
  • the heat-light conversion element 2 disposed inside the vacuum vessel 1 is designed to reduce energy loss due to heat conduction, it is heated to a high temperature by sunlight.
  • the infrared radiation material layer 21 having a predetermined reflection characteristic radiates infrared light having a predetermined wavelength with high efficiency as described with reference to FIGS. 1 and 3.
  • the infrared light spectrum is a spectrum with a tail on the short wavelength side as shown in FIGS.
  • Infrared light respectively emitted from the infrared radiation material layers 21 on both surfaces of the heat-light conversion element 2 is reflected by the reflection film 7 on the inner wall of the vacuum vessel 1 and is disposed at the focal point of the elliptical rotator 1.
  • 3 is condensed on the upper surface of the substrate. Since the semiconductor power generation cell 3 has an energy gap close to the emitted infrared light, it efficiently absorbs infrared light and generates power. The converted electricity can be taken out from the terminals 3a and 3b.
  • Embodiment 3 As Embodiment 3, the photovoltaic power generation apparatus of FIG. 15 will be described.
  • the vacuum vessel 101 of Embodiment 3 is spherical, and the heat-light conversion element 102 and the semiconductor power generation cell 3 are respectively located at 1 / 4a and 4 / 4a from the window 4 in the optical axis direction as shown in FIG. Has been placed. That is, the semiconductor power generation cell 3 is arranged on the wall surface of the vacuum vessel 101. This position is a position obtained from paraxial ray approximate calculation. Thereby, the infrared light radiated from the heat-light conversion element 102 can be reflected by the inner wall of the vacuum vessel 101 and condensed on the semiconductor power generation cell 3.
  • the heat-light conversion element 102 includes the infrared radiation material layer 21 and the antireflection layer 22 only on the upper surface side (side facing the window 4) of the base material 20.
  • the vacuum vessel 101 is spherical, so that infrared light radiated from the lower surface side cannot be condensed on the semiconductor power generation cell 3.
  • the lower surface of the substrate 20 is coated with a material layer 120 having a low emissivity over the entire wavelength region, for example, an Ag layer, in order to suppress radiation loss due to black body radiation from the lower surface of the substrate 20. ing.
  • the geometric shape of the vacuum vessel is not limited to these and is not limited.
  • Various objects such as an object surface rotating body can be used.
  • the efficiency ⁇ can be obtained from the infrared radiation spectrum S (x) (here, x is energy) emitted from the infrared radiation material layer 21 and the following equation (5) as shown in FIG.
  • cells having high band gap energy and low band gap energy may be stacked as in the case of a compound semiconductor power generation cell conventionally used.
  • a conversion efficiency of nearly 90% it is possible to obtain a conversion efficiency of nearly 90%.
  • a single junction cell (InGaAs) was used with a solar simulator at AM 1.5 (100 mW / cm 2 irradiation intensity) and a light collection magnification of 10 times.
  • the discrepancy between the conversion efficiency (42.3%) of the experimental result and the theoretically predicted conversion efficiency (54.6%) described above is due to the reflection loss (3%) at the condenser lens 5 and the vacuum container. 1 incident loss (3%), reflection loss of solar infrared conversion element 2 (2%), light guide / reflection loss (5%) in reflection film 7, reflection loss on semiconductor power generation cell 3 (5) %) And the wavelength dependency (5%) of the spectral sensitivity characteristics of the semiconductor power generation cell.
  • the reflection loss at the condenser lens 5 (5%), the incident loss to the vacuum vessel 1 (3%), the light guide / reflection loss (5%) in the reflective film 7 and the semiconductor power generation cell 3
  • the reflection loss (5%) can be reduced to approximately 0% by adopting a non-reflective coating or optimizing the geometric shape of the vacuum vessel 1.
  • the reflection loss on the semiconductor power generation cell 3 can be reduced to approximately 0% by using a texture structure or the like generally used in the solar cell technology.
  • thermoelectric generator 2 of the first embodiment thermoelectric generator 2 of the first embodiment
  • thermoelectric generator 2 of the solar power generator of the second and third embodiments thermoelectric generator 2 of the solar power generator of the second and third embodiments
  • an infrared radiation material layer 21 is formed by sequentially laminating a CrO layer as an infrared radiation material layer 21 and a SnO 2 layer as an antireflection film 22 on a base material 20.
  • a CrO layer as an infrared radiation material layer 21
  • a SnO 2 layer as an antireflection film 22
  • Cu is used as the base material
  • the film thickness of the CrO layer that is the infrared radiation material layer 21 is about 100 nm
  • the film thickness of the SnO 2 layer that is the antireflection film 22 is about 50 nm.
  • the wavelength ⁇ Rcutoff at which the reflectance changes stepwise can be changed.
  • Example 2 of infrared radiation material A thin film (so-called cermet film) containing fine particles of metal or semiconductor in a dielectric that is an oxide or a nitride can be used as the infrared radiation material layer 21.
  • MgO melting point: 3100K
  • W 3700K
  • Re 3500K
  • a material in which MgO and W are simultaneously sputtered on both surfaces of a W substrate 20 and a cermet film (thickness of about 800 mm) containing W fine particles in MgO is used as the infrared radiation material layer 21 is used.
  • a cermet film (thickness of about 800 mm) containing W fine particles in MgO is used as the infrared radiation material layer 21 is used.
  • the reflection characteristics can be maintained even in the temperature range of 3000 K, and an efficient and long-life heat-light conversion element 2 can be obtained.
  • the cermet film In order to increase the adhesion between the cermet film (infrared radiation material layer 21) and the W base material 20, the cermet film has a high concentration of W metal in the region close to the W base material 20, It is also possible to adopt a concentration gradient film in which the concentration of W metal decreases with increasing distance.
  • the concentration ratio (volume ratio of W to MgO) of the cermet film (infrared radiation material layer 21) is preferably about 5 to 50%.
  • FIG. 21 shows the wavelength dependence of the refractive index and extinction coefficient (absorption rate) of the cermet film 21 of MgO + W (800 ⁇ ).
  • the result of calculating the wavelength dependence of the reflectance based on this optical constant is shown in FIG.
  • W and MgO materials are used, the reflection characteristics as shown in FIG. 22 can be stably maintained even in a high temperature region of 3000 K, and the thermo-optic conversion element 2 that is stable even at high temperature heating can be provided.
  • the antireflection film 22 a low refractive index of MgF 2 or the like by depositing a (visible region at about 1.4) material on the cermet film, more reflectivity in the visible region, as shown in FIG. 23 Thus, it is possible to obtain a reflectance curve in which Thereby, the more efficient heat-light conversion element 2 is obtained.
  • Example 3 of infrared radiation material A graphite compound substrate having a fine concavo-convex structure on the surface can be used as the infrared radiation material layer 21. Since the melting point of the graphite compound exceeds 4000 K, it is possible to obtain a stable infrared radiation material layer 21 that is not easily deteriorated even at high temperature heating.
  • This concavo-convex structure is a structure in which a periodic nanometer-order concavo-convex structure is formed on a periodic micrometer-order concavo-convex structure.
  • a regular periodic structure (uneven structure) on the order of micrometers produces a two-dimensional photonic crystal effect, which increases the reflection of long wavelength components of a predetermined wavelength (for example, 2 ⁇ m) and suppresses absorption. Is obtained.
  • the reflectance is close to 1 at a predetermined wavelength (for example, 2 ⁇ m) or more, and the reflectance is close to 0 at a shorter wavelength.
  • a predetermined wavelength for example, 2 ⁇ m
  • the infrared radiation material layer 21 having a high reflectance of 95% or more at a wavelength of 5 ⁇ m rising from the extent can be provided.
  • a method for forming a nanometer-order fine structure as shown in FIG. 24 or FIG. 25 on the surface of the graphite compound substrate will be described.
  • a micrometer-order concavo-convex structure is formed as a first step, and this is further processed in a second step to form a nanometer-order concavo-convex structure on the surface of the micrometer-order concavo-convex structure.
  • the average reflectance at a wavelength of 0.3-2 ⁇ m can be lowered (about 20-30%), and the average reflectance at a wavelength of 2-15 ⁇ m can be reduced. Can be high.
  • the average reflectance at a wavelength of 0.3-2 ⁇ m can be further lowered (1.5% or less), and the average at a wavelength of 2-15 ⁇ m
  • the reflectance can be further increased.
  • a concavo-convex structure having a regular period of micrometer order is formed.
  • a formation method photolithography using a metal mask and an etching technique are used.
  • an etching technique plasma etching using H 2 and O 2 gas capable of etching a carbon-based material, reactive ion etching (RIE) capable of realizing a higher aspect ratio, or the like is used.
  • RIE reactive ion etching
  • a rough concavo-convex structure on the order of micrometers can be produced on a graphite compound substrate by applying mechanical micromachining and polishing techniques using a cutting tooth having a very steep inclination and a grindstone. .
  • a nanometer-order periodic structure is formed by further performing hydrogen plasma etching using microwave plasma on the micrometer-order uneven structure produced in the first step.
  • the hydrogen plasma etching conditions can be, for example, RF power: 100 to 1000 W, pressure: 1 to 100 torr, hydrogen flow rate: 5 to 500 sccm, etching time: 1 to 100 min. Since the conditions of the hydrogen plasma treatment depend on the apparatus, the above parameter values are examples.
  • the reactive gas used for the etching in the second step is not limited to H 2 gas, and the same effect can be expected even when Ar, N 2 , O 2 , CF 4 or the like is used.
  • the spectrophotometer having an integrating sphere whose inner surface is coated with BaSO 4 particles or the like in order to collect all the surface reflected light in the region of 0.3 to 2 ⁇ m.
  • an FTIR (Fourier Transform Infrared Spectrometer) spectrometer with an integrating sphere coated with gold on the inner surface was used to collect all infrared reflected light.
  • the infrared radiation material layer 21 may be any layer having a predetermined step-like reflection characteristic, and is not limited to the material layers of Examples 1 to 3 described above.
  • the following materials (a) to (d) can be used.
  • a structure in which a chromium film is formed on a nickel substrate by a predetermined method such as electroplating for example, see G. Zajac, et al. J. Appl. Phys. 51, 5544 (1980).

Abstract

 小型で、発電効率が高い発電装置を提供する。 本発明の発電装置50は、熱を赤外光に変換する熱光変換素子2と、赤外光を電気エネルギーに変換する半導体発電セル3とを有する。熱光変換素子2は、所定の赤外波長よりも長波長側の反射率が短波長側の反射率よりも高い材料を含み、該材料が加熱されることにより赤外光を放射する。熱源の熱を熱光変換素子2に受け渡すことにより、赤外光を放射させる。これを半導体発電セル3で電気エネルギーに変換し、熱発電を行うことができる。熱光変換素子を加熱するために、太陽光を前記熱光変換素子に向かって集光する集光光学系をさらに有する構成とすることにより、太陽光発電を行うことも可能である。

Description

発電装置、熱発電方法および太陽光発電方法
 本発明は、熱源や太陽光のエネルギーを用いて発電を行う装置に関し、特に、小型で変換効率の高い発電装置に関する。
 熱エネルギーを電気エネルギーに変換する熱電変換素子が、特許文献1~3に開示されている。これらの熱変換素子は、p型半導体材料とn型半導体材料を金属等により接合した構成であり、接合部が加熱されると、ゼーベック効果により電力を発生する。p型およびn型半導体材料としては、Bi-Te系の材料が用いられる。
 一方、太陽光エネルギーを電気エネルギーに変換する装置として、非特許文献1~3に記載されているように、シリコン半導体や化合物半導体を利用した太陽電池が開示されている。
 さらに、特許文献4には、太陽光を熱に変換して、その熱で水を蒸気化し、タービンを回転させて発電する太陽熱集熱発電技術が開示されている。この技術では、太陽光を集熱するために、内部に熱媒体(亜硝酸ナトリウム40%、硝酸ナトリウム7%、硝酸カリウム53%)が配置されたレシーバーや、太陽光を追尾して光を集めるためのヘリオスタット等を用いる。
特開平8-111546号公報 特開平11-317547号公報 特開2005-260089号公報 国際公開WO2009/104347号
A.wang,et al.,Appl.Phys.Lett.57,602(1990). M.Yamaguchi et al,Solar Energy Materials & Solar Cells 90,3068(2006). K.Araki et al,Solar Energy Materials & Solar Cells 90,3312(2006).
 特許文献1~3に記載の熱電変換素子は、半導体材料の性能指数が高くないため、熱を電気に変換する効率が数%~10%程度しか得られない。また、BiやTeは高価であり、しかも有害重金属であるため、熱電変換素子のコストが上昇するとともに、環境負荷も大きい。
 一方、非特許文献1~3に記載のシリコン半導体の太陽電池は発電効率が20%、化合物半導体を用いた太陽電池は発電効率が30%とまだ十分ではない。後者は、広帯域な太陽光スペクトルを効率良く吸収するために、バンドギャップを変化させた異種の化合物半導体膜を多数積層させるため、製造コストがかかる。
 特許文献4に記載の太陽熱集熱発電システムは、大掛かりな装置構成となる。発電効率は30%未満であり、発電コストが高くなる。
 本発明の目的は、小型で、発電効率が高い発電装置を提供することにある。
 上記目的を達成するために、本発明の第1の態様によれば、以下のような発電装置が提供される。すなわち、熱を赤外光に変換する熱光変換素子と、赤外光を電気エネルギーに変換する半導体発電セルとを有する発電装置であって、熱光変換素子は、所定の赤外波長よりも長波長側の反射率が短波長側の反射率よりも高い材料を含み、該材料が加熱されることにより赤外光を放射する。
 熱光変換素子を加熱するために、太陽光を前記熱光変換素子に向かって集光する集光光学系をさらに有する構成とすることにより、太陽光発電を行うことも可能である。
 本発明によれば、熱を所定の波長の赤外光に変換して、赤外光を半導体発電素子で電気エネルギーに変換するため、ストークスシフトによる損失を低減することができる。よって、高効率で発電を行うことができる。
本発明の所定の反射特性を有する材料の赤外光放射の原理を示すためのグラフ。 太陽光と赤外光を半導体発電セルで電気エネルギーに変換する際のストークスシフトを示すグラフ。 所定の反射特性を有する材料の赤外放射と熱伝導との関係を示すグラフ。 実施形態1の熱発電装置の断面図。 実施形態1の熱発電装置の斜視図。 実施形態1の熱発電装置を熱源に複数固定し、複数の熱発電装置を直列に接続した状態を示す斜視図。 図1の熱発電装置の熱光変換素子の層構造を示す断面図。 実施形態1の熱発電装置の別の形状例の断面図。 実施形態1の熱発電装置の熱光変換素子の放射する赤外光スペクトルと、半導体発電セルの吸収帯域81を示すグラフ。 比較例の黒体放射スペクトルと、半導体発電セルの吸収帯域81を示すグラフ。 図9の赤外光スペクトルの半導体発電セルによる吸収率と、図10の比較例の黒体放射スペクトルの半導体発電セルによる吸収率とを示すグラフ。 実施形態1の熱発電システムの構成を示すブロック図。 実施形態2の太陽光発電装置の構成を示すブロック図。 図13の太陽光発電装置の熱光変換素子の断面図。 実施形態3の太陽光発電装置の構造を示すブロック図。 図15の太陽光発電装置の熱光変換素子の断面図。 本実施形態の熱光変換素子の放射する赤外線のスペクトルの一例を示すグラフ。 実施形態2,3の太陽光発電装置の発電効率の測定結果を示すグラフ。 図14の熱光変換素子の赤外線放射材料の断面構造を示す写真。 図19の赤外線放射材料の反射特性を示すグラフ。 本実施形態のMgO+W(800Å)のサーメット膜21の屈折率と消衰係数(吸収率)の波長依存性を示すグラフ。 図21のサーメット膜の反射特性を示すグラフ。 図21のサーメット膜に反射防止膜を積層した場合の反射特性を示すグラフ。 本実施形態の微小な凹凸構造を表面に備えるグラファイト化合物の表面形状を示す写真。 本実施形態の微小な凹凸構造を表面に備えるグラファイト化合物の表面形状の別の例を示す写真。 本実施形態の微小な凹凸構造を表面に備えるグラファイト化合物の反射特性を示すグラフ。 本実施形態の微小な凹凸構造を表面に備えるグラファイト化合物の反射特性を示すグラフ。 太陽光のスペクトルを示すグラフ。
 本発明の一実施の形態の発電装置について説明する。
 本発明では、所定の赤外波長よりも長波長側の反射率が短波長側の反射率よりも高い材料が、加熱されることにより所定の赤外波長の赤外光を放射することを利用し、この材料(以下、赤外放射材料と呼ぶ)を熱光変換素子に用いる。赤外放射材料を加熱することにより熱を赤外光に変換する。変換された赤外光は、赤外域にバンドギャップを有する半導体発電セルにより電気エネルギーに変換する。
 赤外放射材料から放射される赤外光の波長は、この赤外放射材料の放射率(=1-(反射率))の長波長側カットオフ波長以下である。(なお、放射率の長波長側カットオフ波長とは、放射率の波長依存特性のグラフにおいて、波長が大きくなるにつれ放射率が急激に低減し、放射率0となる波長である。放射率の傾斜曲線を外挿してカットオフ波長を求めてもよい。)赤外放射材料は、放射率の長波長側カットオフ波長が、その放射時の当該赤外放射材料の温度における理想的な黒体放射の短波長側のカットオフ波長よりも長波長側に位置するように設計されている。これにより、黒体放射の短波長側のカットオフ波長以上、赤外放射材料の放射率の長波長側カットオフ波長以下の波長帯域の赤外光が放射される。(なお、黒体放射の短波長側のカットオフ波長とは、黒体放射スペクトルにおいて、波長が短くなるにつれスペクトル強度が急激に低減し、スペクトル強度が0となる波長である。ただし、物理的にはプランクの放射則より、スペクトル強度が完全に0になることはないので、ここでは便宜的に黒体放射スペクトルピーク強度の1/100以下となった波長をスペクトル強度が0となる短波長側のカットオフ波長とする。また、実測値を評価する場合には、スペクトルの傾斜曲線を外装してカットオフ波長を求めてもよい。)
 このように本発明では、熱光変換素子の赤外放射材料の放射する赤外光スペクトルが、その放射時の赤外放射材料の温度における理想的な黒体放射スペクトル波長と比較して、長波長側のカットオフ波長以上の光(長波長赤外光)を完全に抑制したものとすることができるため、このカットオフ波長を半導体発電セルのエネルギーギャップと同程度の値に設定することによって、熱をエネルギーギャップ以上の赤外光に略100%の効率で変換並びに吸収させることが可能となる。よって、黒体放射による赤外光を半導体発電セルに吸収させ電気エネルギーに変換する場合と比較して、本発明の熱光変換素子から放射される赤外光を半導体発電セルに効率よく吸収させることができるため、高効率で電気エネルギーに変換できる。
 熱光変換素子と半導体発電セルは、空間を挟んで対向配置され、空間は、所定の真空度に減圧されていることが好ましい。これにより、熱光変換素子のエネルギーが空気の対流熱伝達により損失するのを防止できる。
 熱光変換素子の加熱方法は、どのような方法でもよい。熱伝導や輻射により熱光変換素子に熱を受け渡すことにより、熱発電を行うことができる。また、太陽光を熱光変換素子に照射して、熱光変換素子を加熱することにより太陽光発電を行うことができる。例えば、熱発電の場合、熱光変換素子を基板上に固定し、基板を介して熱を熱光変換素子に伝導する構成にすることができる。また、太陽光発電の場合、太陽光を熱光変換素子に向かって集光する集光光学系を配置する構成とする。
 熱光変換素子の上述の反射率特性を有する赤外放射材料としては、金属酸化物の積層体や、サーメット膜(例えば、酸化マグネシウムの中に、タングステン微粒子が分散したサーメット膜)や、表面に凹凸構造を備えたグラファイト化合物(例えば、周期的なマイクロメートルオーダーの凹凸構造と、周期的なナノメートルオーダーの凹凸構造とを備えるもの)を用いることができる。これらの赤外放射材料の表面には、反射防止膜を備える構成としてもよい。例えば、反射防止膜として、酸化錫層や、MgFを含む低屈折率材料の膜を用いることができる。
<本発明の原理>
(太陽光発電装置)
 以下、本発明の発電装置の原理について説明する。まず、発電装置が、太陽光発電装置である場合の原理について説明する。
 本発明では、太陽光により熱光変換素子を加熱して、熱光変換素子により赤外光に高効率で変換する。変換された赤外光を半導体発電セル(太陽電池)に導き電気エネルギーに変換する。これにより赤外光域にバンドギャップを有する半導体発電セルを用いて、高効率で太陽光を電気エネルギーに変換することができる。また、太陽光を赤外光に変換する熱光変換素子には、所定の反射特性を有する材料(赤外放射材料)を用いる。所定の反射特性とは、所定の波長以上の光反射率が所定の反射率以上の高反射率(理想的には100%に近い反射率)であり、所定波長よりも短波長の光の反射率が所定の反射率以下の低反射率(理想的には略0%の反射率)である。この材料を用いることにより、高効率で太陽光を赤外光に変換することができる。
 太陽光を赤外光に変換する原理について説明する。
 赤外放射材料の反射率R(λ)の一例を図1の実線のグラフ10で示す。図1の赤外放射材料は、3μm以上の波長領域については略100%の反射率であり、2μm以下の波長領域で略0%の反射率を有する。すなわち、反射率のグラフ10は、波長3μmから2μm付近で波長が短くなるにつれ急激に低減し、グラフの傾斜曲線を外挿したカットオフ波長λRcutoffは約2μmである。太陽光のスペクトルは、図28に示すように概ね300nm~1500nmの波長領域に位置するので、太陽光のスペクトルの長波長側端部(1500nm)よりも赤外放射材料の反射率のカットオフ波長λRcutoff=約2μmの方が長波長側に位置する。よって、この赤外放射材料に太陽光を照射すると、太陽光を反射することなく略100%吸収することが出来る。吸収した太陽光エネルギーにより赤外放射材料は加熱される。
 赤外放射材料を真空中に配置した場合、赤外放射材料の熱は空気中に散逸されないため、赤外放射材料は、吸収した太陽光エネルギーを略100%の効率で図1の太い実線のグラフに示すようなスペクトル11の赤外光として放射する。すなわち、赤外放射材料は太陽光により加熱され、熱を赤外光に変換することができる。この原理は、黒体放射におけるキルヒホッフの法則に基づく。これをさらに説明する。
 自然対流熱伝達の無い条件下(例えば真空中)における加熱基材の入力エネルギーに対するエネルギー損失は平衡状態では以下の(1)式で与えられる。
  P(total)=P(conduction)+P(radiation)     ・・・(1)
 (1)式において、P(total)は全入力エネルギー、P(conduction)は基材の支持体等、基材の接触体を経て損失されるエネルギー、P(radiation)は基材が加熱された温度で外部空間に光を放射して損失するエネルギーである。
 (1)式におけるP(radiation)の項は一般的に、下記(2)式で表すことができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 (2)式において、ε(λ)は各波長における放射率、αλ-5/(exp(β/λT)-1)はプランクの放射則であり、α=3.747×108 Wμm/m、β=1.4387×10 μmK である。
 また、ε(λ)はキルヒホッフの法則によって以下の(3)式により、反射率R(λ)で表すことができる。
  ε(λ)=1-R(λ)     ・・・(3)
 (2)式と(3)式により、仮に反射率が全ての波長に亘って1である材料は、(3)式より、ε(λ)=0となり、ひいては、(2)式における積分値が0となるため、放射による損失が起こらなくなる。このことは、(1)式が、下記(1)’式となることを意味する。
 P(total)=P(conduction)     ・・・・(1)’
 すなわち、少量の入力エネルギーでも、光放射による損失が無いため、基材が非常に高い温度まで達することを意味している。
 一方、図1の点線で示すグラフ12のように、放射率ε(λ)は、上記(3)式より1-R(λ)で表される。放射率ε(λ)が、3μm以上の波長を有する赤外光領域で略0%で、2μm以下の波長領域で略100%の材料を、真空中で加熱した熱放射状態は以下の(4)式で表現できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 (4)式において、θ(λ-λ)は、長波長から所定波長λまではほぼ0であり、所定波長λから短波長の領域では1を取る階段関数的振る舞いを示す関数である。
 得られる放射スペクトルは、階段関数的放射率と黒体放射スペクトル13(図1の太い破線のグラフ)を畳み込んだ形状となり、計算結果は、図1のスペクトル11となる。即ち、赤外放射材料から放射される赤外光の放射スペクトル11は、放射率ε(λ)の変化曲線12の長波長側のカットオフ付近と、黒体放射スペクトル13とで囲まれた領域に沿った形状のピークを有するスペクトルとなり、その波長帯域は、黒体放射の短波長側カットオフ波長λBcutoffと放射率の長波長側カットオフ波長λεcutoffとの間となる。
 上記(4)式の物理的意味は、入力エネルギーの小さい低温領域では輻射損失が抑えられており、(4)式のP(radiation)の項が0となるため、エネルギー損失がP(conduction)のみとなり、非常に効率良く材料の温度が上昇することを示す。基材温度が高温になり、黒体放射スペクトル13のピーク波長が所定波長λを越えるような温度領域になると、材料に入力したエネルギーを赤外放射スペクトル11として損失するようになる。よって、この原理を利用することによって、以下に記載するように、太陽光エネルギーを60%以上の効率で、電気エネルギーに変換することが可能となる。
 本発明では、波長300nm-1500nmに位置する太陽光エネルギーを一旦赤外放射光に変換させ、赤外放射光を半導体発電セルで電気エネルギーに変換する。これより、半導体発電セルの半導体のバンドギャップと、半導体発電セルに入射するエネルギーとの差異(ストークスシフトと呼ばれる)を小さくできるというメリットがある。例えば、波長300nm-1500nmの太陽光エネルギーを半導体発電セルに全て吸収させようとすると、波長1500nm付近にバンドギャップを有する半導体(例えばInGaAs半導体(短波長)の発電セル)を利用することになるが、波長1500nmのバンドギャップエネルギーは0.8eV程度であり、図2に示すように波長300nm(バンドギャップエネルギー4.1eV)の太陽光とはエネルギー差(ストークスシフト)が大きくなり、損失が大きい。すなわち、バンドギャップエネルギーは0.8eV程度の半導体発電セルは、太陽光に含まれる高エネルギー紫外光(波長300nm、バンドギャップエネルギー4.1eV)のうち0.8eVのエネルギーしか吸収できない。
 そこで、上述したように、本発明では図1の変化曲線10に示したような所定の反射率特性を有する赤外放射材料によって、太陽光により赤外放射光(図1のスペクトル11)を発生させる。この赤外放射光の波長は、エネルギーで表すと、図2のように0.5~1eVの範囲にあるので、例えば0.5eVのバンドギャップエネルギーを有する半導体(InGaAs半導体(長波長))発電セルを用いて変換した場合、ストークスシフト損失を最大でも0.5eV程度に抑えることが可能となる。本手法を利用することによって、簡単な装置構成で太陽光エネルギーを60%以上の効率で、電気エネルギーに変換することが可能となる。太陽光発電装置の具体的な構成については、後で詳しく説明する。
 次に、図1の変化曲線10のような反射特性を有する赤外放射材料の温度と、損失するエネルギー(赤外光放射および熱伝導によるエネルギー損失)との関係を図3を用いて説明する。図3において、直線31は、赤外放射材料を支持する基材の熱伝導によるエネルギー損失分を示し、曲線32は赤外線放射と熱伝導による全エネルギー損失を示す。
 赤外放射材料1cmに太陽光を集光した場合、図3に示す曲線のグラフ32のように温度が上昇する。なお、図3は、太陽光はAM1.5の強度(0.1W/cm)とし、これをレンズ等を用いて上記反射特性の赤外放射材料に集光させて測定したものである。赤外放射材料の温度は、0.1mmΦ程度の熱電対を、当該赤外放射材料を支持する基材に密着させて測定した。
 図3に示すように、太陽光の入力エネルギー密度が弱い領域(0~0.1W/cm)では太陽光エネルギーが、殆ど赤外放射材料を支持する基材の温度上昇に利用されている。これは、図1の赤外放射材料の放射率εの特性により、低温度領域では放射損失が抑制され、入力エネルギーが基材の温度上昇に用いられるためである。太陽光エネルギーが基材に強く集光され、エネルギー密度が上がると、基材および赤外放射材料の温度が上昇する。これにより、赤外光を放射可能なエネルギー領域(図1における波長2μm以下の反射率が低下した領域)に入るため、ある温度領域から基材温度の上昇はそれほど変化せず、赤外光放射に入力エネルギー分のほとんどが回るようになる。この温度領域(エネルギー)は、図1で赤外放射材料の反射率が落ち込む波長(エネルギー)と対応し、ウイーンの変位則から凡そ、T=2898(μmK)/λRcutoff(μm)=1160 K(ただし、λRcutoff=2.5μmの場合)、と見積もることが出来る。
 赤外線放射として得られるエネルギーは、図3の曲線32から熱伝導による損失分の直線31を差し引いたものとなり、図3の点線の矢印33の長さで示す量となり、各温度で異なる。この結果から明らかに、高温になればなるほど赤外線放射の割合は増大することが分かる。太陽光から赤外光への変換効率は、1100K(図3のΔT=800K)の温度では97%以上の高効率である。
 このように、図1の変化曲線10のように所定の反射特性の赤外放射材料を用いることにより、太陽光から赤外光へ高効率で変換することができる。このため、上記赤外線放射材料を用いれば、赤外光を半導体発電セルに導光し光電変換することにより、従来よりもストークスシフトを低減した形で、高効率に発電を行うことができる。
(熱発電装置)
 つぎに、本発明の熱発電装置の原理について説明する。上述の太陽光発電装置は、太陽光により熱光変換素子の赤外放射材料を加熱し、赤外光を放射させる構成であるが、熱発電装置は、赤外放射材料に直接熱を受け渡し、赤外光を放射させる。
 赤外放射材料に直接熱を受け渡す方法としては、熱伝導や輻射等どのような方法を用いてもよい。例えば、熱伝導を用いる場合、熱源に熱光変換素子を密着させ、赤外放射材料に熱伝導により熱エネルギーを受け渡し加熱する。赤外放射材料としては、太陽光発電装置の原理において図2を用いてすでに説明したように、所定の赤外波長よりも長波長側の反射率が短波長側の反射率よりも高い材料を用いる。これにより、図1の赤外放射スペクトル11を放射させることができる。
 熱発電装置の場合、太陽光発電装置とは異なり、太陽光で加熱しないため、赤外放射材料の反射率のカットオフ波長λRcutoffを太陽光スペクトルに合わせて設定する必要はないが、赤外放射材料を加熱する熱源の温度に合わせて、赤外放射材料の反射率のカットオフ波長λRcutoffを設定する。すなわち、熱源が低温である場合、図1の黒体放射スペクトル13のピーク波長λmaxが、ウイーンの変位則(λmax=2898(μmK)/T(K))により長波長側にシフトするため、図1に示す反射率のカットオフ波長λRcutoffを長波長側にシフトさせ、放射率ε(λ)の変化曲線12と黒体放射スペクトル13が重なる波長帯域が生じるようにする。高温の熱源の場合は、反射率のカットオフ波長λRcutoffを短波長側にシフトさせる。具体的には、例えば100℃の熱源の場合、反射率のカットオフ波長λRcutoffを8μmに設定し、1000℃の熱源の場合、反射率のカットオフ波長λRcutoffを2.5μmに設定する。
 現状の半導体発電セルの中で、室温で効率よく発電可能なセルのエネルギーギャップは、太陽光発電装置で説明したように1500nm程度以下の短波長に位置するため、短波長の赤外放射スペクトル11が放射される高温熱源の方が低温熱源よりも高効率で発電することができる。
 赤外放射材料が高温になるほど赤外線放射の割合が増大するのは、図3を用いて太陽光発電で説明した通りである。
 このように本発明の熱発電装置は、熱源により、熱光変換素子の赤外放射材料を加熱し、赤外光を放射させ、この赤外光を半導体発電セルにより電気に変換することにより熱発電を行う。
 <実施形態1>
 以下、実施形態1として、本発明の熱発電装置を図4、図5等を用いて説明する。図4は、熱発電装置50の断面図、図5は斜視図である。図6は、熱発電装置50を熱源51に固定した状態を示す斜視図である。
 本発明の熱発電装置は、対向配置された熱光変換素子2および半導体発電セル3と、これらの周囲を密閉する真空容器11と、真空容器11の内壁に配置された反射膜7とを備えている。
 熱光変換素子2は、図7にその構造を記載したように、基材20と、基材20の半導体発電セル3側の面に搭載された赤外放射材料層21とを備えている。赤外放射材料層21は、図1の変化曲線10で示したように、所定の赤外波長よりも長波長側の反射率が短波長側の反射率よりも高い反射特性を有する赤外放射材料により構成されている。所定の赤外波長よりも短波長側の反射率は5%以下、所定の波長よりも長波長側の反射率は95%以上であることが特に望ましい。赤外放射材料層21は、赤外放射材料の単層または多層構造であり、加熱されることにより赤外光を高効率で放射する。
 このように階段状に反射率(放射率)が変化する材料(赤外放射材料)層21の具体例として、(i)1層以上の金属酸化物の積層体、(ii)酸化物もしくは窒化物である誘電体中に、金属もしくは半導体の微粒子を含有した薄膜(いわゆるサーメット膜)、(iii)表面に微細な凹凸構造を有するグラファイト化合物基板、等を用いることができる。これらの材料については、後で詳しく説明する。
 基材20は、高熱伝導性の材料(例えば、WまたはCu)を用いることができる。
 半導体発電セル3は、ストークスシフトを低減するために、熱光変換素子2の赤外放射材料層21が放射する赤外線波長に近いエネルギーギャップを有するものを用いる。例えば、エネルギーギャップが2.5μm程度のInGaAs半導体の発電セルを用いる。
 反射膜7は、熱光変換素子2が放射した赤外光を反射して半導体発電セル3に入射する役割を果たす。例えば、反射膜7として、Au膜、Ag膜、誘電体多層膜等を用いることができる。真空容器1の内部空間の真空度は、高ければ高いほど対流熱伝達を抑え、熱光変換素子2が高効率に熱を赤外光に変換できるため望ましい。実際の真空度としては10-3~10-4Pa程度で足りる。真空容器11は、熱伝導率が低く、熱源の高温に耐えられる材質(例えば、石英ガラスや、低熱伝導アルミニウム焼結体、低熱伝導ステンレス鋼材等の金属)で構成されている。また、ゲッター6を管壁に蒸着しておくことによって中の真空度を長期間維持することが可能となり、熱発電装置の寿命を延ばすことができる。また、反射膜7がTi膜を含む構成とすると、Tiがゲッター機能を有するので、ゲッターを兼用することができる。
 図4では、半導体発電セル3の大きさは、熱光変換素子2と同じ程度の大きさとしているが、図8に示すように、半導体発電セル3の上面の面積が熱光変換素子2の下面の面積よりも小さくてもよい。図8の場合、真空容器11を半球形状にすることにより、熱光変換素子2から発せられた赤外光を半導体発電セル3に集光することができる。
 図4の熱発電装置50の各部の動作を説明する。図6のように、1つまたは複数の熱発電装置50は、熱変換素子2が熱源51に密着するように、高熱伝導材料(例えばセラミックペースト)により熱源51に固定される。これにより、熱源51の熱は、赤外放射材料層21に伝導し、赤外放射材料層21を加熱する。加熱された赤外放射材料層21は、高効率で所定の波長の赤外光を放射する。赤外光は、直接または真空容器1の内壁で反射されて半導体発電セル3に照射される。
 赤外放射材料層21の材料が、カットオフ波長λRcutoff=4.0μmの場合、赤外放射材料層21の温度に応じて、図9のようなスペクトルの赤外光が放射される。半導体発電セル3のバンドギャップが波長2.5μmとすると、赤外放射スペクトルのうち帯域81で示した波長2.5μm以下のエネルギーが半導体発電セル3に吸収され、電気エネルギーに変換される。変換後の電気は、半導体発電セル3の端子3a,3bから外部に取り出すことができる。複数の熱発電装置50を熱源51に固定している場合には、端子3a、3bを図6のように直列、または並列に接続する。
 比較例として、黒体放射スペクトルを図10に示す。図9と図10とを比較すると、黒体放射スペクトルよりも、本発明の赤外放射材料層21が放射する赤外光スペクトルの方が、ピーク波長が半導体発電セル3の吸収帯域81に近いため、帯域81と重なり合うスペクトルの面積が大きく、効率よく吸収されることがわかる。
 図11に、本発明の熱発電装置の発電効率と、黒体放射材料を赤外放射材料層に代えて用いた熱発電装置の発電効率とを温度ごとに示す。図11のように本発明の熱発電装置は、黒体放射材料を用いた熱発電装置と比較して、400℃の低温領域では100倍、700℃の高温領域では3倍以上の効率を有することがわかる。
 また、図12に示したように、1枚の基板52上に複数の熱発電装置50を予め高熱伝導性材料により固定しておき、基板52を熱源51に高熱伝導性材料により固定する構成とすることも可能である。
 図12のように、1以上の熱発電装置50に、昇圧装置61と、DC/ACコンバータ62と、保護および切り替え回路63とを順に接続することにより発電システム66を構成できる。昇圧回路61は、1以上の熱発電装置50から取り出した直流電力の電圧を所定の電圧(例えば100V)まで昇圧する。DC/ACコンバータ62は、昇圧回路61で昇圧された電力を、所定の周波数(例えば、50Hzまたは60Hz)の交流電力に変換する。保護および切り替え回路63は、この交流電力を、負荷回路64および電力会社の送電線65の一方に選択的に供給するか、または、負荷回路64の余剰電力を送電線65に供給する。これにより、発電システム66が発電した電力を、発電システム66が配置されている工場や家庭内の所定の負荷回路に供給して使用することができる。また、電力会社の送電線65に供給し、売電することができる。保護および切り替え回路63は、切り替え動作のみならず、負荷回路64または送電線65に異常な大電流が流れた場合に、負荷回路64および送電線65から発電システム66を切り離して保護する保護継電器としても動作する。
 本発明の熱発電装置50は、1個のサイズが熱発電素子2や半導体発電セル3の大きさであるので、これらを複数用いて小型な発電システム66を構成することができる。
 熱発電装置50は、小さな熱源から大きな熱源まで様々な大きさ形状の熱源に取り付けることができるため、従来の蒸気タービンを用いる発電の熱源として利用な困難な熱源を利用して高効率に発電できる。例えば、溶鉱炉やごみ焼却炉の側壁に熱発電装置50を固定して余剰な熱により発電を行うことができる。
 また、赤外光放射を利用する原理であるため、発電の過程で排気ガス等の環境負荷になる廃棄物が生じず、環境に配慮した熱発電装置が提供できる。
 <実施形態2>
 実施形態2として、本発明の太陽光発電装置の構成を図13を用いて説明する。
 図13の太陽光発電装置は、内壁面が回転楕円体形状の真空容器1と、真空容器1の内部空間の楕円焦点位置にそれぞれ配置された熱光変換素子2および半導体発電セル3とを備えている。真空容器1の長軸上の一方の壁面には、太陽光を透過させるための窓4が配置されている。窓4は、太陽光のスペクトルをエネルギーの大きな紫外光域を含めて広範囲で透過する材質で形成されていることが望ましく、例えば、石英ガラス製の窓4を用いる。
 真空容器1の外側には、窓4と対向する位置にレンズ5が配置されている。レンズ5は、太陽光を熱光変換素子2に集光する。レンズ5は、0.1W/cm(AM1.5)の太陽光を、2W/cm以上に集光するものであることが望ましい。図3より、太陽光を約2W/cm以上に集光することにより、熱光変換素子2の赤外放射材料の温度が約1100K以上になり(温度上昇ΔT=800K以上)、高効率で赤外光を放射することができるからである。例えば、レンズ5として、集光倍率20倍以上のものを用い、材質としては透過率の高いポリカーボネートレンズを用いる。窓4の開口径は、レンズ5の口径および倍率等を考慮し、レンズ5が集光した光束を遮蔽しないサイズに設計する。
 真空容器1の内壁は、反射膜7で覆われている。発生した赤外光の反射率を更に向上させるためには、窓4の内側に、太陽光を略100%透過して、赤外放射材料21から発生した赤外光を略100%反射するショートパスフィルターをコーティングしてもよい。これは一般的に利用されている誘電体多層膜コーティング手法によって実現することができる。反射膜7の材質および真空容器1の真空度は、実施形態1と同様である。ゲッター6の作用も実施形態1と同様である。
 熱光変換素子2は、図14にその構造を記載したように、基材20と、基材20の上面および下面にそれぞれ搭載された赤外放射材料層21と、赤外放射材料層21の上に積層された反射防止層22とを備えている。赤外放射材料層21の構造は、実施形態1と同様である。反射防止層22を備えない構成とすることも可能である。熱光変換素子2および半導体発電セル3は、それぞれ回転楕円体の真空容器1の焦点位置に配置されているため、熱光変換素子2の両面から放射された赤外光は、真空容器1の内壁で反射されて半導体発電セル3上に集光される。
 赤外放射材料層21を構成する赤外放射材料は、実施形態1の赤外放射材料と同様の反射特性を有し、さらに、太陽光スペクトルを高効率で吸収するために、太陽光スペクトルの長波長領域の端部の所定波長λ近傍よりも短波長側では、反射率R(λ)が低い。所定の波長λより短波長側の反射率は、5%以下であり、所定の波長λよりも長波長側の反射率は、95%以上であることが特に望ましい。所定波長λは、1μm~5μmの間の波長に設定する。赤外放射材料の例としては、実施形態1と同様に、金属酸化物の積層体や、サーメット膜、微細な凹凸構造を有するグラファイト化合物基板等を用いることができるが、これらの具体例については後述する。
 半導体発電セル3は、ストークスシフトを低減するために、熱光変換素子2が放射する赤外線波長に近いエネルギーギャップを有するものを用いる。ここでは、エネルギーギャップが2.5μm程度に存在するInGaAs半導体発電セルを用いる。ここで、半導体発電セル3の大きさは、熱光変換素子2と同じ程度の大きさとする。真空容器1の内壁により赤外線が反射され、熱光変換素子2の上に集光されることにより、熱光変換素子2の表面の像が、ちょうど半導体発電セル3の上面に写像されるためである。ここでは、一例として約1cmとする。
 図13の太陽光発電装置の動作を説明する。太陽光は、レンズ5により集光され、窓4を透過して熱光変換素子2の上面に集光される。反射防止層22を透過して赤外放射材料層21に到達する。真空容器1内部に配置されている熱光変換素子2は、熱伝導によるエネルギー損失が小さくなるように設計されているため、太陽光により高温に加熱される。これにより、所定の反射特性を有する赤外放射材料層21は、図1および図3を用いてその原理を説明したように、高効率で所定の波長の赤外光を放射する。赤外光スペクトルは、図1並びに図2に示すような短波長側にテールを引いたスペクトルとなる。
 熱光変換素子2の両面の赤外放射材料層21からそれぞれ放射された赤外光は、真空容器1の内壁で反射膜7により反射され、楕円回転体1の焦点に配置された半導体発電セル3の上面に集光される。半導体発電セル3は、放射された赤外光に近いエネルギーギャップを有するため、赤外光を効率よく吸収し、発電する。変換後の電気は、端子3a,3bから外部に取り出すことができる。
 <実施形態3>
 実施形態3として、図15の太陽光発電装置について説明する。
 図15の太陽光発電装置は、図13の太陽光発電装置とは、真空容器101の形状と、熱光変換素子102の構造が異なっている。
 実施形態3の真空容器101は、球形であり、熱光変換素子102および半導体発電セル3は、図15に示すように、窓4から光軸方向に1/4aおよび4/4aの位置にそれぞれ配置されている。すなわち、半導体発電セル3は、真空容器101の壁面に配置されている。この位置は、近軸光線近似計算から求めた位置である。これにより、熱光変換素子102から放射された赤外光を、真空容器101の内壁で反射して、半導体発電セル3に集光することができる。
 なお、熱光変換素子102は、図16に示すように、基材20の上面側(窓4に対向する側)にのみ、赤外放射材料層21と反射防止層22を備えている。これは、真空容器101が球形であるため、下面側から放射した赤外光を半導体発電セル3に集光できないからである。また、基材20の下面には、基材20の下面からの黒体放射による輻射損失を抑制するために、輻射率が全波長域に亘って低い材料層120、例えばAg層等によりコーティングされている。
 他の構成および各部の作用効果については、実施形態2の太陽光発電装置と同様であるので説明を省略する。
 なお、実施形態2および3では、回転楕円体の真空容器1および球体の真空容器101をそれぞれ用いる例について説明したが、真空容器の幾何学的形状は、これらに限定されるものではなく、放物面回転体等種々のものを用いることが可能である。より効率の良い集光を行うためには、熱光変換素子12、102から大きな角度で放射される赤外光も半導体発電セルに集光することが望ましい。このため、既存の光学シミュレーター等を利用して詳細に真空容器の形状や熱光変換素子や半導体発電セルの形状をシミュレーションし、多少湾曲させる等の工夫をすることが望ましい。
 ここで、本発明の太陽光発電装置に太陽光を集光して得られる発電量の理論的効率ηについて説明する。効率ηは、図17のように赤外放射材料層21から放射される赤外光放射スペクトルS(x)(ここでxはエネルギー)、および、次式(5)から求めることができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 半導体発電セル3のInGaAsのバンドギャップエネルギーEg=0.5eVとすると、η=0.35/0.45=0.78となり、おおよそ78%の効率を、単一の太陽光発電装置で得ることが出来る。
 なお、効率の良い発電を得るためには、従来利用されている化合物半導体発電セルと同様に高いバンドギャップエネルギーと低いバンドギャップエネルギーを有するセルを積層させればよい。この様な手法をとることによって、90%近くの変換効率を得ることが可能となる。
 現実的には、半導体発電セル3はバンドギャップエネルギーEg=0.5eVを全て利用することはできず、おおよそ6~7割のエネルギーを利用出来るので、実際には、78%×(0.6~0.7)=46.8%~54.6%の効率を実現することが出来ると考えられる。
 一方、本発明の太陽光発電装置の変換効率を評価するために、ソーラーシミュレーターを用いて、AM1.5(100mW/cm照射強度)、集光倍率10倍において、単接合セル(InGaAs)を用いた本発明の太陽光発電装置の電流電圧特性を測定したところ、図18に示すように短絡電流密度Isc=1776mA/cm、開放電圧Voc=0.34V、曲線因子FF=0.70の特性が得られた。この電流電圧特性から求めた最終的な変換効率は42.3%であった。この実験結果の変換効率(42.3%)と、上述の理論的に予測された変換効率(54.6%)との不一致は、集光レンズ5での反射損失(3%)、真空容器1への入射損失(3%)、太陽光赤外変換素子2の反射損失(2%)、反射膜7における導光・反射損失(5%)、半導体発電セル3上での反射損失(5%)並びに半導体発電セルの分光感度特性の波長依存性(5%)等の理由による。これらの損失のうち、集光レンズ5での反射損失(5%)、真空容器1への入射損失(3%)、反射膜7における導光・反射損失(5%)並びに半導体発電セル3上での反射損失(5%)は、無反射コートの採用や真空容器1の幾何学的形状の最適化を図ることによって略0%まで低減することができる。また、半導体発電セル3上での反射損失は、太陽電池技術で一般的に利用されているテクスチャー構造等を利用することによって略0%まで低減することが出来る。
 上述した本発明の太陽光発電装置を用いることにより、高効率、低コスト、長寿命の太陽光発電を行うことが可能になる。
 <赤外放射材料の例1>
 実施形態1の熱発電装置および実施形態2,3の太陽光発電装置の熱発電素子2に用いる赤外放射材料層21の具体例について以下説明する。
 まず、赤外放射材料層21として、1層以上の金属酸化物の積層体を用いる場合の具体例について説明する。図19に示したように、基材20上に、順に、赤外放射材料層21としてのCrO層と、反射防止膜22としてのSnO層を積層したものを、赤外放射材料層21として用いることができる。より具体的には、基材20としては、Cuを用い、赤外放射材料層21であるCrO層の膜厚は約100nm、反射防止膜22であるSnO層の膜厚は約50nmとする。CrO層と基材20との間に、さらにCr層を挟むことも可能である。これら各層は、スパッタリング法等により形成することができる。
 図19の赤外放射材料層21の反射率は、図20のように、λRcutoff=2μm付近で、階段状に変化する。
 また、CrO層とSnO層の、CrとOの比率、SnとOの比率、ならびに、膜厚を変化させることにより、反射率が階段状に変化する波長λRcutoffを変化させることができる。
 <赤外線放射材料の例2>
 酸化物もしくは窒化物である誘電体中に、金属もしくは半導体の微粒子を含有した薄膜(いわゆるサーメット膜)を赤外放射材料層21として用いることができる。サーメット膜を構成する誘電体としては、MgO(融点3100K)が、金属としては、W(3700K)、Mo(2900K)、Re(3500K)が、高融点であるため好ましい。
 例えば、W基材20の両面に、MgOとWを同時にスパッタリングして、MgO中にW微粒子が含有されたサーメット膜(厚さ800Å程度)を赤外放射材料層21として形成したものを用いることができる。これによって3000Kの温度領域でも反射特性を維持することができ、効率の良いかつ長寿命な熱光変換素子2を得ることができる。
 なお、サーメット膜(赤外放射材料層21)とW基材20との密着性を上げるために、サーメット膜として、W基材20に近い領域ではW金属の濃度が高く、W基材20から離れるに従ってW金属の濃度が低くなっていく濃度傾斜膜の構成とすることも可能である。
 また、W基材20とサーメット膜(赤外線放射材料層21)との間に、Mo金属層を厚さ1000Å程度で蒸着等により形成すると、W基材と本サーメット膜との密着性は強固なものとなる。ただし、Mo金属の融点は2900Kと低いため、これより低い温度領域(例えば、2500K)で使用する。
 サーメット膜(赤外線放射材料層21)の濃度比率(MgOに対するWの体積比率)は、約5~50%であることが望ましい。
 図21に、MgO+W(800Å)のサーメット膜21の屈折率と消衰係数(吸収率)の波長依存性を示す。本光学定数に基づいて反射率の波長依存性を計算した結果を図22に示す。図22のように本サーメット膜は、波長λRcutoff=0.9μm付近で反射率が変化している。また、W並びにMgO材料を利用しているため、3000Kの高温領域でも図22のような反射特性を安定して維持することができ、高温加熱においても安定な熱光変換素子2を提供できる。
 また、サーメット膜のMgとOの比率、MgOとWの比率、ならびに、膜厚を変化させることにより、λRcutoffを変化させることができるので、所望する赤外線の波長に応じてこれらの値を設計する。
 また、反射防止膜22として、MgF等の低屈折率(可視領域で1.4程度)材料を本サーメット膜上に成膜することによって、図23に示すように可視の領域においてより反射率を低減させた反射率曲線を得ることが可能となる。これにより、より効率の良い熱光変換素子2が得られる。なお、図23の反射率曲線は、上記MgO+W(800Å)サーメット膜上にMgF(屈折率=1.38)の膜厚を1000Å堆積させた条件で計算されたものである。
 <赤外線放射材料の例3>
 表面に微細な凹凸構造を有するグラファイト化合物基板を赤外放射材料層21として用いることができる。グラファイト化合物の融点は4000Kを越えるので、高温加熱においても劣化しにくい安定な赤外放射材料層21を得ることができる。
 ここでは、例えば図24または図25のような凹凸構造を形成する。この凹凸構造は、周期的なマイクロメートルオーダーの凹凸構造の上に、周期的なナノメートルオーダーの凹凸構造が重ねて形成された構造である。マイクロメートルオーダーの規則的周期構造(凹凸構造)により、2次元フォトニック結晶的効果が生み出され、所定の波長(例えば2μm)以上の長波長成分の反射を増大し、かつ、吸収を抑制する効果が得られる。このマイクロメートルオーダーの凹凸構造の上にさらにナノメートルオーダーの凹凸構造を形成することにより、所定の波長(例えば2μm)以上で反射率が1に近く、それより短い波長では反射率が0に近い材料となる。具体的には、図26の黒線に示すように、0.3~1.5μmの波長領域で反射率が1%未満であり、かつ、図27の黒線で示すようにλRcutoff=2μm程度から立ち上がり5μmの波長で95%以上の高い反射率を有する赤外放射材料層21を提供することができる。
 ここでグラファイト化合物基材の表面に、図24または図25のようなナノメートルオーダーの微細構造を形成する方法について説明する。以下の方法では、第1工程としてマイクロメートルオーダーの凹凸構造を形成し、これを第2工程でさらに加工することにより、マイクロメートルオーダーの凹凸構造の表面に、ナノメートルオーダーの凹凸構造を形成する。第1工程でマイクロメートルオーダーの凹凸構造を形成することにより、波長0.3~2μmの平均反射率を低く(20~30%程度)することができるとともに、波長2~15μmの平均反射率を高くすることができる。第2工程で、さらにナノメートルオーダーの凹凸構造を形成することにより、波長0.3~2μmの平均反射率をさらに低く(1.5%以下)にすることができ、波長2~15μmの平均反射率をさらに高くすることができる。
 まず、第1工程として、マイクロメートルオーダーの規則的周期の凹凸構造を形成する。形成方法としては、メタルマスクを利用したフォトリソグラフィーとエッチング技術を用いる。エッチング技術としては、カーボン系材料をエッチング可能なHならびにOガスを利用したプラズマエッチングや、より高いアスペクト比を実現可能なリアクティブイオンエッチング(RIE)等を用いる。その後、メタルマスク部分を酸洗浄で除去する。
 この他、非常に急峻な傾斜を有する切削歯並びに砥石を利用した機械的微細加工ならびに研磨技術を施すことによっても、グラファイト化合物基板上にマイクロメートルオーダーの大局的な凹凸構造を作製することができる。
 第2工程では、第1工程によって作製されたマイクロメートルオーダーの凹凸構造に対して、更に、マイクロ波プラズマを利用した水素プラズマエッチング等を施すことによってナノメートルオーダーの周期構造を形成する。水素プラズマエッチング条件は、例えば、RFパワー:100~1000W、圧力:1~100torr、水素流量:5~500sccm、エッチング時間:1~100min、の範囲とすることができる。なお、水素プラズマ処理の条件は、装置に依存するので、上記パラメータの値は一例である。
 第2工程のエッチングに使用する反応性ガスは、Hガスに限らず、Ar、N、O、CF等を用いても同様の効果を期待できる。
 なお、上述した図26、図27の反射スペクトルの測定は、0.3~2μmの領域については、表面反射光をすべて集めるためにBaSO粒子等を内面にコートした積分球を有する分光光度計を使用し、1~15μmの領域の反射測定については、赤外反射光を全て集めるために金を内面にコートした積分球を有するFTIR(フーリエ変換赤外分光器)分光器を使用した。
 <赤外線放射材料の他の例>
 赤外放射材料層21としては、所定の階段状の反射特性を有する層であればよく、上記した例1~3の材料層に限定されるものではない。例えば、以下の(a)~(d)に示す材料を用いることも可能である。
 (a)ニッケル基板の上に電気メッキ等の所定の手法によりクロム膜を形成した構造(例えば、G.Zajac、et al.J.Appl.Phys.51、5544(1980).参照)
 (b)アルミを陽極酸化することにより得た、表面に多孔質ナノ構造を有する酸化アルミナ。孔径、孔深さ等を制御することにより反射率を制御することができる。(例えば、A.Anderson、et al.J.Appl.Phys.51、754(1980).参照)
 (c)CrとCrのサーメット膜の上に、反射防止膜としてCrを積層した構造(例えば、J.C.C.Fan and S.A.Spura、Appl.Phys.ett.30、511(1977).)
 (d)Wの表面にマイクロキャビティ構造を作製し反射率を制御した構造(例えば、F.Kusunoki et al.、Jpn.J.Appl.Phys.43、8A、5253(2004).)
 (e)金属基材上に、窒化膜and/or酸化膜を形成して反射率を制御した構造(例えば、C.E.Kennedy、NREL/TP-520-31267)
 1…真空容器、2…熱光変換素子、3…半導体発電セル、4…窓、5…レンズ、6…ゲッター、7…反射膜、101…真空容器、102…熱光変換素子

Claims (26)

  1.  熱を赤外光に変換する熱光変換素子と、前記赤外光を電気エネルギーに変換する半導体発電セルとを有し、
     熱光変換素子は、所定の赤外波長よりも長波長側の反射率が短波長側の反射率よりも高い材料を含み、該材料が加熱されることにより前記赤外光を放射することを特徴とする発電装置。
  2.  請求項1に記載の発電装置において、前記赤外光の波長は、前記材料の放射率の長波長側カットオフ波長以下であることを特徴とする発電装置。
  3.  請求項2に記載の発電装置において、放射される前記材料の放射率の長波長側カットオフ波長は、その放射時の当該材料の温度における理想的な黒体放射の短波長側のカットオフ波長よりも長波長側に位置することを特徴とする発電装置。
  4.  請求項3に記載の発電装置において、前記赤外光の波長帯域は、前記黒体放射の短波長側のカットオフ波長以上、前記材料の放射率の長波長側カットオフ波長以下であることを特徴とする発電装置。
  5.  請求項1ないし4のいずれか1項に記載の発電装置において、前記熱光変換素子の前記材料の放射する前記赤外光のピーク波長は、その放射時の前記材料の温度における理想的な黒体放射のピーク波長よりも短波長であることを特徴とする発電装置。
  6.  請求項1ないし5のいずれか1項に記載の発電装置において、前記熱光変換素子と前記半導体発電セルは、空間を挟んで対向配置され、前記空間は、所定の真空度に減圧されていることを特徴とする発電装置。
  7.  請求項1ないし6のいずれか1項に記載の発電装置において、前記熱光変換素子は、前記熱を当該熱光変換素子に受け渡す基板上に固定されていることを特徴とする発電装置。
  8.  請求項1ないし6のいずれか1項に記載の発電装置において、前記熱光変換素子を加熱するために、太陽光を前記熱光変換素子に向かって集光する集光光学系をさらに有することを特徴とする発電装置。
  9.  請求項1ないし6、および、8のいずれか1項に記載の発電装置において、前記所定の赤外波長は、太陽光の長波長側端部であることを特徴とする発電装置。
  10.  請求項1項に記載の発電装置において、前記所定の赤外波長は、1μm以上5μm以下であることを特徴とする発電装置。
  11.  請求項1ないし10のいずれか1項に記載の発電装置において、前記材料は、金属酸化物の積層体であることを特徴とする発電装置。
  12.  請求項1ないし10のいずれか1項に記載に発電装置において、前記材料の上に反射防止膜を積層したことを特徴とする発電装置。
  13.  請求項12に記載の発電装置において、前記反射防止膜として、酸化錫層を含む膜が配置されていることを特徴とする発電装置。
  14.  請求項1ないし10のいずれか1項に記載の発電装置において、前記材料は、サーメット膜であることを特徴とする発電装置。
  15.  請求項14に記載の発電装置において、前記赤外光放射材料は、酸化マグネシウムの中に、タングステン微粒子が分散したサーメット膜を含むことを特徴とする発電装置。
  16.  請求項14または15に記載に発電装置において、前記材料の上には、反射防止膜として、MgFを含む低屈折率材料の膜が配置されていることを特徴とする発電装置。
  17.  請求項1ないし10のいずれか1項に記載の発電装置において、前記赤外光放射材料は、表面に凹凸構造を備えたグラファイト化合物であることを特徴とする発電装置。
  18.  請求項17に記載の発電装置において、前記グラファイト化合物の凹凸構造は、周期的なマイクロメートルオーダーの凹凸構造と、周期的なナノメートルオーダーの凹凸構造とを含むことを特徴とする発電装置。
  19.  請求項6に記載の発電装置において、前記熱光変換素子と前記半導体発電セルの外周部を密閉する容器を備えることを特徴とする発電装置。
  20.  請求項7に記載の発電装置において、前記熱光変換素子は、真空容器内に配置され、
     前記真空容器には、前記集光光学系から光を透過するための窓が備えられていることを特徴とする発電装置。
  21.  請求項20に記載の発電装置において、前記窓は、真空内壁側に、太陽光を透過し、前記熱光変換素子から発生した前記赤外光を反射する光学的フィルターが備えられていることを特徴とする発電装置。
  22.  請求項20に記載の発電装置において、前記真空容器は、回転楕円体であり、前記熱光変換素子および前記半導体発電セルは、前記回転楕円体の2つの焦点位置にそれぞれ配置され、
     前記熱光変換素子は、基材と、当該基材の両面に配置された前記材料の層とを含む構成であることを特徴とする発電装置。
  23.  請求項20に記載の発電装置において、前記真空容器は、球体であり、前記熱光変換素子および前記半導体発電セルは、前記球体の直径方向に沿って、壁面から直径の1/4、4/4の位置にそれぞれ配置され、
     前記熱光変換素子は、基材と、当該基材の片面に配置された前記材料の層とを含む構成であることを特徴とする発電装置。
  24.  熱源の熱を、所定の赤外波長に反射率のカットオフ波長を有する材料に伝導し、
     前記材料から放射された赤外光を半導体発電セルを用いて電気エネルギーに変換することを特徴とする熱発電方法。
  25.  太陽光を、所定の赤外波長に反射率のカットオフ波長を有する材料に集光し、
     前記材料から放射された赤外光を半導体発電セルを用いて電気エネルギーに変換することを特徴とする太陽光発電方法。
  26.  請求項25に記載の太陽光発電方法において、前記所定の赤外波長は、太陽光の長波長側端部であることを特徴とする太陽光発電方法。
PCT/JP2011/069476 2010-10-29 2011-08-29 発電装置、熱発電方法および太陽光発電方法 WO2012056806A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP11835947.0A EP2634817A4 (en) 2010-10-29 2011-08-29 Power generation device, thermal power generation method and solar power generation method
US13/882,409 US9467088B2 (en) 2010-10-29 2011-08-29 Power generation device, thermal power generation method and solar power generation method
JP2012540726A JP5830468B2 (ja) 2010-10-29 2011-08-29 発電装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010-244056 2010-10-29
JP2010244056 2010-10-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2012056806A1 true WO2012056806A1 (ja) 2012-05-03

Family

ID=45993536

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2011/069476 WO2012056806A1 (ja) 2010-10-29 2011-08-29 発電装置、熱発電方法および太陽光発電方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9467088B2 (ja)
EP (1) EP2634817A4 (ja)
JP (1) JP5830468B2 (ja)
WO (1) WO2012056806A1 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014136671A1 (ja) * 2013-03-08 2014-09-12 国立大学法人京都大学 熱輻射光源
WO2015122503A1 (ja) * 2014-02-14 2015-08-20 日本発條株式会社 集光型太陽電池装置用又は太陽熱発電装置用反射シート、及び集光型太陽電池装置用又は太陽熱発電装置用反射部材
US20160118930A1 (en) * 2013-06-25 2016-04-28 Mie-ae Kim Device and method for photovoltaic power generation using optical beam uniformly condensed by using flat mirrors and cooling method by direct contact
WO2016158909A1 (ja) * 2015-03-31 2016-10-06 大阪瓦斯株式会社 熱光発電機
KR101723148B1 (ko) * 2015-10-20 2017-04-05 임채영 태양광 발전용 태양전지 유닛 및 그 제조방법
WO2017073564A1 (ja) * 2015-10-26 2017-05-04 京セラ株式会社 熱光変換素子
JP2017184566A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 大阪瓦斯株式会社 熱光発電装置及び熱光発電システム
JP2017184567A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 大阪瓦斯株式会社 熱光発電装置及び熱光発電システム
WO2017170768A1 (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 新日鐵住金株式会社 熱光変換部材
JP2019054637A (ja) * 2017-09-14 2019-04-04 株式会社プランテック 発電構造、熱光起電力発電方法
US10701762B2 (en) * 2016-03-24 2020-06-30 Ngk Insulators, Ltd. Heat radiation device, and processing device using heat radiation device

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9520335B2 (en) * 2014-06-13 2016-12-13 Tokyo Metropolitan University Wavelength selective heat radiation material selectively radiating heat radiation light corresponding to infrared ray transmission wavelength region of resin member and method for manufacturing the same
DE202014005769U1 (de) * 2014-07-14 2014-09-02 Peter Gerlach Energie-Leuchtmittel Kraftwerk
WO2017132509A1 (en) * 2016-01-27 2017-08-03 University Of South Florida Thermal rectifying antenna complex (trac)
CN111623886B (zh) * 2020-06-04 2021-11-02 北京航天长征飞行器研究所 一种空间光电环境模拟系统及红外太阳模拟器
CN114584043B (zh) * 2022-02-22 2023-03-24 昆山杜克大学 一种热电系统

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08111546A (ja) 1994-10-11 1996-04-30 Yamaha Corp 熱電材料及び熱電変換素子
JPH11317547A (ja) 1998-03-05 1999-11-16 Agency Of Ind Science & Technol 熱電変換材料及びその製造方法
JP2001196622A (ja) * 2000-01-11 2001-07-19 Toyota Motor Corp 発電装置
JP2003332607A (ja) * 2002-05-07 2003-11-21 Univ Tohoku 波長選択性太陽光吸収材料及びその製造方法
JP2004363248A (ja) * 2003-06-03 2004-12-24 Toyota Motor Corp 熱光発電装置
JP2005260089A (ja) 2004-03-12 2005-09-22 Toshiba Corp 熱電変換モジュール、及びその製造方法
WO2009104347A1 (ja) 2008-02-22 2009-08-27 三井造船株式会社 ハイブリッド太陽熱発電装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6047491B2 (ja) * 1979-10-12 1985-10-22 松下電器産業株式会社 赤外線加熱装置
JPS60198081A (ja) * 1984-03-19 1985-10-07 服部ヒ−テイング工業株式会社 遠赤外線ヒ−タ−
JPH07116639B2 (ja) 1990-08-30 1995-12-13 株式会社フジクラ 赤外線放射用部材およびその製造方法
US5611870A (en) * 1995-04-18 1997-03-18 Edtek, Inc. Filter array for modifying radiant thermal energy
US5601661A (en) * 1995-07-21 1997-02-11 Milstein; Joseph B. Method of use of thermophotovoltaic emitter materials
JP3495205B2 (ja) * 1996-10-16 2004-02-09 日本電熱計器株式会社 加熱装置
US7166797B1 (en) * 2001-08-23 2007-01-23 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Tandem filters using frequency selective surfaces for enhanced conversion efficiency in a thermophotovoltaic energy conversion system
US20030214258A1 (en) * 2002-05-14 2003-11-20 R. Mcintosh Devon Selective emitter with electrical stabilization and switching
JP2007081341A (ja) * 2005-09-16 2007-03-29 Canon Inc 処理装置
US20080116779A1 (en) * 2006-11-20 2008-05-22 The Aerospace Corporation Micro-nanostructured films for high efficiency thermal light emitters
GB0708030D0 (en) * 2007-04-25 2007-06-06 Strep Ltd Solar cell
JP5385054B2 (ja) * 2009-08-26 2014-01-08 スタンレー電気株式会社 放熱材料及びその製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08111546A (ja) 1994-10-11 1996-04-30 Yamaha Corp 熱電材料及び熱電変換素子
JPH11317547A (ja) 1998-03-05 1999-11-16 Agency Of Ind Science & Technol 熱電変換材料及びその製造方法
JP2001196622A (ja) * 2000-01-11 2001-07-19 Toyota Motor Corp 発電装置
JP2003332607A (ja) * 2002-05-07 2003-11-21 Univ Tohoku 波長選択性太陽光吸収材料及びその製造方法
JP2004363248A (ja) * 2003-06-03 2004-12-24 Toyota Motor Corp 熱光発電装置
JP2005260089A (ja) 2004-03-12 2005-09-22 Toshiba Corp 熱電変換モジュール、及びその製造方法
WO2009104347A1 (ja) 2008-02-22 2009-08-27 三井造船株式会社 ハイブリッド太陽熱発電装置

Non-Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A. ANDERSON ET AL., J. APPL. PHYS., vol. 51, 1980, pages 754
A. WANG ET AL., APPL. PHYS. LETT., vol. 57, 1990, pages 602
C.E. KENNEDY: "Review of Mid- to High- Temperature Solar Selective Absorber Materials", TECHNICAL REPORT - NREL/TP-520-31267, 2002, XP007919405 *
F. KUSUNOKI ET AL., JPN. J. APPL. PHYS., vol. 43, no. 8A, 2004, pages 5253
G. ZAJAC ET AL., J. APPL. PHYS., vol. 51, 1980, pages 5544
GITTLEMAN ET AL.: "Optical properties and selective solar absorption of composite material films", THIN SOLID FILMS, vol. 45, 1977, pages 9 - 18, XP025698745 *
J. C .C. FAN; S. A. SPURA, APPL. PHYS. ETT., vol. 30, 1977, pages 511
K. ARAKI ET AL., SOLAR ENERGY MATERIALS & SOLAR CELLS, vol. 90, 2006, pages 3312
M. YAMAGUCHI ET AL., SOLAR ENERGY MATERIALS & SOLAR CELLS, vol. 90, 2006, pages 3068
NICHOLAS P. SERGEANT ET AL.: "High performance solar-selective absorbers using coated sub- wavelength gratings", OPTICS EXPRESS, vol. 18, no. 6, 3 March 2010 (2010-03-03), pages 5525 - 5540, XP055089179 *
RUMYANTSEV ET AL.: "Structural Features of a Solar TPV System", STRUCTURAL FEATURES OF A SOLAR TPV SYSTEM, SIXTH CONFERENCE ON THERMOPHOTOVOLTAIC GENERATION OF ELECTRICITY, vol. 738, 2004, pages 79 - 87, XP055089161 *
See also references of EP2634817A4
YUGAMI H ET AL.: "Solar thermophotovoltaic using AI2O3/Er3AI5O12 eutectic composite selective emitter", PHOTOVOLTAIC SPECIALISTS CONFERENCE, 2000. CONFERENCE RECORD OF THE TWENTY-EIGHTH IEEE, 2000, pages 1214 - 1217, XP055089168 *
ZHANG ET AL.: "New cermet film structures with much improved selectivity for solar thermal applications", APPLIED PHYSICS LETTERS, vol. 60, no. 5, 1992, pages 545 - 547, XP000295595 *

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014136671A1 (ja) * 2013-03-08 2014-09-12 国立大学法人京都大学 熱輻射光源
US10103686B2 (en) * 2013-06-25 2018-10-16 Mie-ae Kim Device and method for photovoltaic power generation using optical beam uniformly condensed by using flat mirrors and cooling method by direct contact
US20160118930A1 (en) * 2013-06-25 2016-04-28 Mie-ae Kim Device and method for photovoltaic power generation using optical beam uniformly condensed by using flat mirrors and cooling method by direct contact
WO2015122503A1 (ja) * 2014-02-14 2015-08-20 日本発條株式会社 集光型太陽電池装置用又は太陽熱発電装置用反射シート、及び集光型太陽電池装置用又は太陽熱発電装置用反射部材
WO2016158909A1 (ja) * 2015-03-31 2016-10-06 大阪瓦斯株式会社 熱光発電機
JP2016195492A (ja) * 2015-03-31 2016-11-17 大阪瓦斯株式会社 熱光発電機
KR101723148B1 (ko) * 2015-10-20 2017-04-05 임채영 태양광 발전용 태양전지 유닛 및 그 제조방법
WO2017073564A1 (ja) * 2015-10-26 2017-05-04 京セラ株式会社 熱光変換素子
JP6190087B1 (ja) * 2015-10-26 2017-08-30 京セラ株式会社 熱光変換素子
US10701762B2 (en) * 2016-03-24 2020-06-30 Ngk Insulators, Ltd. Heat radiation device, and processing device using heat radiation device
JP2017184566A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 大阪瓦斯株式会社 熱光発電装置及び熱光発電システム
WO2017170768A1 (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 新日鐵住金株式会社 熱光変換部材
JPWO2017170768A1 (ja) * 2016-03-31 2019-01-31 新日鐵住金株式会社 熱光変換部材
JP2017184567A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 大阪瓦斯株式会社 熱光発電装置及び熱光発電システム
US10978988B2 (en) 2016-03-31 2021-04-13 Nippon Steel Corporation Selective emitter for thermophotovoltaic power generator
JP2019054637A (ja) * 2017-09-14 2019-04-04 株式会社プランテック 発電構造、熱光起電力発電方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20130213460A1 (en) 2013-08-22
JP5830468B2 (ja) 2015-12-09
EP2634817A1 (en) 2013-09-04
EP2634817A4 (en) 2017-06-07
US9467088B2 (en) 2016-10-11
JPWO2012056806A1 (ja) 2014-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5830468B2 (ja) 発電装置
JP5424889B2 (ja) 太陽光熱電変換
Wu et al. Metamaterial-based integrated plasmonic absorber/emitter for solar thermo-photovoltaic systems
Weinstein et al. A hybrid electric and thermal solar receiver
WO2015116268A2 (en) Spectrally-engineered solar thermal photovoltaic devices
JP2014534940A (ja) 赤外光反射コーティングを備えたガラス管、ガラス管を製造する方法、ガラス管を備えたヒートレシーバ管、ヒートレシーバ管を備えた放物面トラフコレクタ、及び放物面トラフコレクタの使用
Salvi et al. Technological advances to maximize solar collector energy output: a review
Andreev et al. Solar thermophotovoltaic converters based on tungsten emitters
WO2013141180A1 (ja) 光選択吸収膜、集熱管、および太陽熱発電装置
JP6193688B2 (ja) 太陽光−熱変換装置及び太陽熱発電装置
WO2017170768A1 (ja) 熱光変換部材
AU2015263966A1 (en) Full spectrum electro-magnetic energy system
Talebzadeh et al. Ellipsoidal optical cavities for enhanced thermophotovoltaics
Zhou Enhancing Thermophotovoltaics Via Selective Thermal Emitters and Radiative Thermal Management
Wang et al. Application of micro/nanoscale thermal radiation to thermophotovoltaic system
JP6513957B2 (ja) 太陽熱集熱管、太陽光−熱変換装置及び太陽熱発電装置
Nayal Study of Solar Thermophotovoltaic (STPV) Energy Conversion with Selective Metafilm Coatings and GaSb Cell Separated by Glass Microspheres
JP2011096770A (ja) 反射防止膜及び熱光起電力発電用エミッタ
Huang Spectral engineering for solar-thermal and thermal-radiative systems
Zhou et al. Recent advances of spectrally selective absorbers: Materials, nanostructures, and photothermal power generation
Weinstein et al. Conceptual Design for a Hybrid Electric and Thermal Solar (HEATS) Receiver for Efficient and Dispatchable Solar Electricity
Khuwaileh An Ultra Compact High Efficiency Thermo-Photovoltaic System for Electricity Generation
Biter et al. A TPV system using a gold filter with CuInSe 2 solar cells
Wang Nano-Engineering Metamaterials and Metafilms for High-Efficiency Solar Energy Harvesting and Conversion
Khosroshahi et al. SPECTRALLY SELECTIVE SI/SIO 2 BASED FILTERS FOR THERMOPHOTOVOLTAIC DEVICES

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 11835947

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2012540726

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13882409

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2011835947

Country of ref document: EP