WO2011025283A2 - ＺｎＯ계 바리스터 조성물 - Google Patents

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Definitions

  • the present invention relates to a varistor composition, and more particularly, to a ZnO-based varistor composition comprising zinc oxide (ZnO) as a main component.
  • ZnO zinc oxide
  • ZnO-based varistors formed of ZnO-Bi-based or ZnO-Pr-based materials of the varistors have better voltage nonlinearity and better surge current resistance than SiC-based varistors and SrTiO 3- based varistors. Due to its excellent ability to protect electronic devices from current, it is widely used as a material for surge protection devices.
  • the ZnO-Bi varistor is composed of Bi 2 O 3 , Sb 2 O 3 , Mn, Co, Ni, Cr, glass frit, Al, K and the like.
  • the Bi 2 O 3 component is weak in electro-static discharge (ESD) resistance
  • ZnO-Bi-based varistors containing the same have disadvantages of poor ESD characteristics.
  • the Sb 2 O 3 component is classified as a carcinogen and its concentration is regulated
  • ZnO-Bi-based varistors containing the same have disadvantages of not being free to manufacture.
  • ZnO-Pr-based varistors have a good voltage nonlinearity, but have a drawback of greater leakage current than ZnO-Bi-based varistors.
  • manufacturing costs are high.
  • ZnO-type varistors have high dielectric constants of up to several hundreds, in order to have a small capacitance, the electrode area must be considerably reduced. However, reducing the electrode area to have a small capacitance results in a reduction in surge resistance, which also makes the varistor manufacturing process quite difficult. Accordingly, there is a need for a ZnO type varistor composition having a low dielectric constant.
  • the present invention is to solve the above problems of the prior art, Bi 2 O 3 which negatively affects the electrostatic discharge (ESD) characteristics of the varistor, Sb 2 O 3 as an environmental regulatory component and high temperature sintering are required It is composed of new components that replace the Pr-based components, which cause an increase in manufacturing cost, and have excellent overall physical properties such as nonlinearity required for varistors. In particular, it has a small capacitance and ensures a low clamping voltage. It is an object to provide a varistor composition which is possible.
  • the present invention provides a ZnO-based varistor composition which does not include Bi 2 O 3 , Sb 2 O 3, and Pr 6 O 11, and includes Ca, Co, Cr, and La, and optionally includes Mg. .
  • the ZnO-based varistor composition based on the total metal atoms contained in the composition, Zn 35 ⁇ 98 at%, Ca 0.2 ⁇ 30 at%, Mg 0 ⁇ 30 at%, Co 0.2 ⁇ 5 at%, Cr 0.05 ⁇ 3 at % And La 0.05-3 at%.
  • the varistor composition of the present invention has excellent physical properties required for varistors such as nonlinear coefficient, clamping voltage ratio, and surge absorption capacity, and in particular, provides excellent ESD characteristics because it does not contain Bi 2 O 3 .
  • the environmental regulation component Sb 2 O 3 provides excellent work safety, and does not contain a Pr-based component that requires a high temperature sintering to increase the manufacturing cost can reduce the manufacturing cost of the varistor.
  • the varistor composition of the present invention can have a low capacitance while having a small capacitance, it is possible to manufacture a varistor that does not cause a signal delay even in an electronic product having a signal speed of several hundred MHz to several GHz.
  • Figure 1 shows a graph evaluating the characteristics of the ZnO-based varistors prepared in Examples 1 to 4 of the present invention.
  • FIG. 2 is an SEM image of ZnO-based varistors prepared in Examples 1 and 2.
  • FIG. 2 is an SEM image of ZnO-based varistors prepared in Examples 1 and 2.
  • Figure 3 shows a graph evaluating the characteristics of the ZnO-based varistors prepared in Examples 10 to 14 of the present invention.
  • Figure 4 shows a graph evaluating the characteristics of the ZnO-based varistors prepared in Examples 15 to 19 of the present invention.
  • Figure 5 shows a graph evaluating the characteristics of the ZnO-based varistors prepared in Examples 20 to 24 of the present invention.
  • Figure 6 shows a graph evaluating the characteristics of the ZnO-based varistors prepared in Examples 25 to 29 of the present invention.
  • FIG. 7 shows I-V curves of ZnO-based varistors prepared in Examples 35, 37-39, and 41 of the present invention.
  • the present invention relates to a ZnO-based varistor composition, which does not include Bi 2 O 3 , Sb 2 O 3, and Pr 6 O 11, and contains Ca, Co, Cr, and La, and optionally includes Mg. .
  • the ZnO-based varistor composition based on the total metal atoms contained in the composition, Zn 35 ⁇ 98 at%, Ca 0.2 ⁇ 30 at%, Mg 0 ⁇ 30 at%, Co 0.2 ⁇ 5 at%, Cr 0.05 ⁇ 3 at % And La 0.05-3 at%.
  • Mg among the components of the ZnO-based varistor composition is optionally included. Therefore, "0" in the composition ratio of Mg means that Mg is not included.
  • the overall physical properties required for the varistor composition may be excellent, and a composition exhibiting excellent nonlinearity may be obtained. It is also possible to obtain a composition having a small capacitance and a low clamping voltage.
  • CaCO an added form of Ca 3 And / or CaCO 3 Is trapped in the mouth or distributed mostly at the grain boundaries without producing ZnO and reactants.
  • the nonlinearity is greatly improved because the interface state density induced by CoOx, CrOx and LaOx, which are components that improve nonlinearity, is effectively formed at the grain boundaries.
  • the overall physical properties required for the varistor composition are excellent, and in particular, a composition having a small capacitance and a low clamping voltage can be obtained.
  • MgO and / or MgCO 3 an added form of Mg, has a dielectric constant of 9.8 and 8.1, which forms a solid solution with ZnO, effectively lowering the dielectric constant depending on the amount of addition, and not decreasing nonlinearity.
  • Co When Co is included in the ZnO-based varistor composition at 0.2-5 at%, a composition having excellent nonlinearity is obtained. If Co is included in less than 0.2 at%, the effect of Co addition is not obtained, and if it exceeds 5 at%, an increase in leakage current, a decrease in nonlinearity, and an increase in resistivity of ZnO itself may result in poor varistor characteristics.
  • La is included in the ZnO-based varistor composition at 0.05 to 3 at%, an excellent composition in terms of resistivity is obtained. If La is included in less than 0.05 at%, the effect of adding La can not be obtained, if more than 3 at% may cause a problem that the non-linearity is lowered and the leakage current increases.
  • the ZnO-based varistor composition is based on the total metal atoms contained in the composition Zn 89 ⁇ 98 at%, Ca 0.2 ⁇ 10 at%, Co 0.2 ⁇ 5 at%, Cr 0.05 ⁇ 3 at% and La 0.05 ⁇ 3 at% It may include, in this case Mg may be included as 0 ⁇ 10.5 at%.
  • Zn, Ca, Co, Cr and La are included as Zn 92 ⁇ 98 at%, Ca 0.2 ⁇ 4 at%, Co 0.2 ⁇ 2.5 at%, Cr 0.05 ⁇ 1 at% and La 0.05 ⁇ 0.5 at% More preferred.
  • the varistor composition having the composition as described above can be particularly used in the production of high performance ZnO varistors, because the nonlinear characteristics and the clamping characteristics can be greatly improved.
  • the ZnO-based varistor composition based on the total metal atoms contained in the composition, Zn 35 ⁇ 98 at%, Ca 0.2 ⁇ 30 at%, Mg 1 ⁇ 30 at%, Co 0.2 ⁇ 5 at%, Cr 0.05 ⁇ 3 at % And La 0.05-3 at%. More preferably, it may include Zn 45-97 at%, Ca 0.2-30 at%, Mg 1-30 at%, Co 0.2-2.5 at%, Cr 0.05-1 at% and La 0.05-0.5 at% have.
  • Such compositions can be preferably used in the manufacture of varistors having a low clamping voltage, in particular with a small capacitance.
  • ZnO-based varistor composition of the present invention may further comprise Al 0.005 ⁇ 0.2 at% based on the total atomic weight of the composition.
  • the ZnO-based varistor composition of the present invention may further include other metal atoms in the range of 0.01 to 30 at% based on the total metal atoms included in the composition in addition to the above components.
  • the other metal atoms may include Mn, Zr, Li, Na, K, Ga, and the like, and these may be included alone or in combination of two or more.
  • Zn is added as ZnO to the ZnO-based varistor composition of the present invention
  • Ca may be added in one or two or more mixed forms selected from the group consisting of CaCO 3 , CaO, and the like
  • Mg may be added in one or two or more mixed forms selected from MgO and MgCO 3
  • Co may be added in one or two or more mixed forms selected from the group consisting of Co 3 O 4 , CoO, and the like
  • Cr may be added selected from the group consisting of Cr 2 O 3 and the like
  • La may be added selected from the group consisting of La 2 O 3 and the like.
  • ZnO-based varistor made of the varistor composition of the above, and also provides an electrical device comprising the ZnO-based varistor.
  • It may be prepared by applying an electrode to the sintered body and package processing.
  • the manufacturing method may be carried out by employing a method known in the art, except for using a novel composition.
  • ZnO powder 93.7843g Zn 96.6 at%), CaCO 3 4.7022g (Ca 2.0 at%), Co 3 O 4 0.9487g (Co 1.0 at%), Cr 2 O 3 0.1796g (Cr 0.2 at%) 0.3851 g La 2 O 3 (La 0.2 at%) was weighed, and the weighed material was added to a ball mill containing partially stabilized zirconia (PSZ) with ion-exchanged water three times the weight of the weighed material, and mixed, Pulverized. Thereafter, dehydration and drying were performed to prepare granulated powder. The granulated powder thus obtained was calcined at a temperature of 700 ° C. for 2 hours in the air, and sufficiently ground to prepare a calcined powder.
  • PSZ partially stabilized zirconia
  • BM2 manufactured by SEKISUI
  • BM-SZ manufactured by SEKISUI
  • DOP dioctyl phthalate
  • the slurry was formed on a PET film (polyethylene telephthalate) into a sheet shape having a thickness of about 25 ⁇ m, and then cut into predetermined dimensions to form a plurality of ceramic sheets.
  • a PET film polyethylene telephthalate
  • the Pd paste was screen printed on the surface of the ceramic sheet, stretched from one end surface of each ceramic sheet, and an electrode pattern was formed in a rectangle so that the other end was located on the ceramic sheet.
  • the ceramic sheet in which the electrode pattern was formed was laminated
  • the obtained laminate was cut into 1.6 mm long and 0.8 mm wide, accommodated in Zr Saggar, subjected to binder removal at 400 ° C. in air, and then calcined at 1200 ° C. in air for 3 hours to produce a ceramic sintered body. It was. Then, Ag paste was prepared, Ag paste was applied to both ends of the ceramic sintered body, and then baked at a temperature of 800 ° C. to form an external electrode to prepare a laminated varistor.
  • V1mA Varistor voltage
  • ⁇ nonlinearity index
  • tan ⁇ electrical dielectric loss coefficient
  • the varistor composition of the present invention is excellent in non-linearity, not only the varistor voltage is high but also the dielectric loss coefficient exhibited an appropriate value exhibited excellent characteristics.
  • the nonlinear coefficient is very high as 100.
  • a laminated varistor was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the powder composition was changed as in Table 1 below.
  • V1mA Varistor voltage
  • ⁇ nonlinearity index
  • tan ⁇ electrical dielectric loss coefficient
  • a laminated varistor was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the powder composition was changed as in Table 2 below.
  • V1mA Varistor voltage (V1mA), nonlinear index ( ⁇ ), leakage current, density, etc. of the varistor device manufactured by the above method were measured, and the results are shown in Table 3 below.
  • the varistor composition of the present invention has excellent nonlinearity, high varistor voltage, low leakage current, high density, and excellent characteristics.
  • a laminated varistor was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the powder composition was changed as in Table 4 below.
  • V1mA Varistor voltage
  • ⁇ nonlinear index
  • ⁇ electrical dielectric loss coefficient
  • resistivity resistivity
  • a laminated varistor was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the powder composition was changed as in Table 5 below.
  • V1mA The varistor voltage (V1mA), the nonlinear index ( ⁇ ), the electrical dielectric loss coefficient (tan ⁇ ), the resistivity, and the like of the varistor device manufactured by the above method were measured and shown in FIG. 4.
  • the varistor composition of the present invention exhibited preferable values in nonlinearity, dielectric loss coefficient value, and resistivity.
  • a laminated varistor was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the powder composition was changed as in Table 6 below.
  • V1mA The varistor voltage (V1mA), the nonlinear index ( ⁇ ), the electrical dielectric loss coefficient (tan ⁇ ), the resistivity, and the like of the varistor device manufactured by the above method were measured, and the results are shown in FIG. 5.
  • the varistor composition of the present invention exhibited preferable values in nonlinearity, leakage current and specific resistance even when Al was contained in a small amount.
  • a laminated varistor was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the powder composition was changed as in Table 7 below.
  • V1mA Varistor voltage
  • ⁇ nonlinear index
  • tan ⁇ electrical dielectric loss coefficient
  • resistivity resistivity
  • a laminated varistor was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the sintering temperature and the sintering time were changed as shown in Table 8 below.
  • the varistor composition of the present invention exhibited the most desirable properties in terms of density, voltage, nonlinearity and leakage current when sintered at 1200 ° C. for 3 hours.
  • the powder composition was changed as shown in Table 9 below, except that the prepared slurry was formed in a sheet shape having a thickness of about 33 ⁇ m on a PET film (polyethylene telephthalate), and a laminated varistor was manufactured in the same manner as in Example 1.
  • Table 9 The powder composition was changed as shown in Table 9 below, except that the prepared slurry was formed in a sheet shape having a thickness of about 33 ⁇ m on a PET film (polyethylene telephthalate), and a laminated varistor was manufactured in the same manner as in Example 1.
  • V1mA The relative density, varistor voltage (V1mA), leakage current (IL), nonlinear index ( ⁇ ), dielectric constant ( ⁇ ), and ZnO of the varistor element manufactured by the above method Specific resistance ( ⁇ ) was measured and shown in Table 10 below.
  • Example 35 87.6 10 One - 98.8 0.580 - 81 547 0.8
  • Example 36 85.6 10 3 - 96.9 0.594 - 31 468 1.1
  • Example 40 68.6 10 20 - 92.0 - - - 132 1.7
  • Example 41 58.6 10 30 - 93.0 - - -
  • the varistor made of the varistor composition of the present invention was found to have a high density, a high varistor voltage, a small leakage current, and a specific resistance.
  • the nonlinearity is excellent (see FIG. 7) and has a very low dielectric constant depending on the composition, thereby making it possible to manufacture a varistor having a small capacitance without being constrained by the area of the electrode.
  • a method of measuring the specific resistance of the ZnO particles may be measured as a method of estimating the degree of improving the high current characteristic and the clamping voltage characteristic of the varistor.
  • 8 and 10 show IZI measured in the range of 1 MHz to 3 GHz using an RF impedance / Material Analyzer (Agilent E4991A). In the graph, the lowest value of IZI represents the resistance of the ZnO particles, and the lower the value, the better the characteristics. As shown in Figure 8 and 10, the specific resistance of the ZnO particles in the present invention exhibited excellent overall characteristics.
  • the powder composition was changed as shown in Table 11 below, and the prepared slurry was formed in a sheet shape having a thickness of about 20 ⁇ m on a PET film (polyethylene telephthalate), and the sintering temperature was 1180 ° C., the same as in Example 1 above.
  • a laminated varistor was produced by the method.
  • the varistor composition of the present invention can be confirmed that the electrical properties are superior to the existing Bi-based composition, the ESD resistance is excellent and the change rate is stable to 3% or less after the application of ESD.

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Abstract

본 발명은 산화아연(ZnO)을 주성분으로 하며, 칼슘(Ca)을 함유한 화합물을 부성분으로 포함하는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물에 관한 것이다. 상기 바리스터 조성물은 비선형계수, 클램핑 전압비, 써어지 흡수능 등의 면에서 우수하며, 특히, Bi2O3를 포함하지 않기 때문에 우수한 ESD(Electro-Static Discharge) 특성을 제공한다. 또한, 환경규제 성분인 Sb2O3를 포함하지 않으므로 우수한 작업안전성을 제공하며, 고온소결이 요구되어 제조원가 상승을 야기하는 Pr계 성분을 포함하지 않으므로 바리스터의 제조단가를 낮출 수 있다. 특히, 본 발명의 바리스터 조성물은 작은 정전용량을 가지면서도 낮은 클램핑(clamping) 전압을 가지는 것이 가능한 특징을 갖는다.

Description

ＺｎＯ계 바리스터 조성물
본 발명은 바리스터 조성물에 관한 것으로서, 특히 산화아연(ZnO)을 주성분으로 포함하는 ZnO계 바리스터 조성물에 관한 것이다.
바리스터의 재료 조성계 중 ZnO-Bi계 재료나 ZnO-Pr계 재료로 형성된 ZnO계 바리스터는, SiC계 바리스터나 SrTiO3계 바리스터에 비해서 전압 비선형성이 뛰어나고 서지(serge) 전류내량이 양호하기 때문에, 서지 전류에서 전자기기를 보호하는 능력이 우수하여 서지 방호(防護)소자의 재료로 많이 사용되고 있다.
상기 ZnO-Bi계 바리스터는 Bi2O3, Sb2O3, Mn, Co, Ni, Cr, glass frit, Al, K 등의 성분으로 구성된다. 그런데, 상기 Bi2O3성분은 ESD(Electro-Static Discharge) 내성이 약하기 때문에, 이를 포함하는 ZnO-Bi계 바리스터도 ESD 특성이 좋지 못한 단점을 갖는다. 또한, 상기 Sb2O3성분은 발암물질로 분류되어 농도가 규제되고 있기 때문에, 이를 포함하는 ZnO-Bi계 바리스터도 제조가 자유롭지 못한 단점을 갖는다. 또한, ZnO-Pr계 바리스터는 전압 비선형성은 양호하나, ZnO-Bi계 바리스터에 비해서 누설전류가 크다는 결점이 있으며, 귀금속 계열의 원료인 Pr계 성분을 포함하고 있어 고온소결(1200℃ 이상)이 요구되고, 고가의 성분(Pd 등)을 다량 사용하므로 제조 단가가 높다는 단점이 있다.
한편, 최근에 전자기기의 경박 단소화 및 고기능화 추세에 따른 전자부품의 표면실장화(SMD, Surface-Mount Device)화 및 소형화에 의하여 고밀도 실장이 급속히 진행되고 있다. SMD화된 전자제품에서 회로의 신호 속도는 수백 MHz 내지 수GHz 이므로 이와 같은 빠른 신호속도에서는 신호지연을 방지하기 위해서 바리스터의 정전용량을 상당히 낮추어야 하며, 필요에 따라서는 1pF이하로 낮출 필요성도 있다.
ZnO형 바리스터의 경우 수백에 이르는 높은 비유전율을 갖기 때문에, 작은 정전용량을 갖기 위해서는 전극면적을 상당히 감소시켜야 한다. 그러나, 작은 정전용량을 갖도록 전극면적을 감소시키면 서지저항이 감소되는 결과를 초래하며, 바리스터 제조 공정도 상당히 까다로워진다. 따라서, 저유전율을 갖는 ZnO형 바리스터 조성물의 필요성이 대두되고 있다.
본 발명은, 종래기술의 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로서, 바리스터의 ESD(Electro-Static Discharge) 특성에 부정적인 영향을 미치는 Bi2O3, 환경규제 성분인 Sb2O3 및 고온소결이 요구되고 제조원가의 상승을 야기하는 Pr계 성분을 대체하는 새로운 성분들로 구성되며, 바리스터에 요구되는 비선형성 등 전반적인 물성이 우수하고, 특히, 작은 정전용량을 가지면서 낮은 클램핑(clamping) 전압을 확보하는 것이 가능한 바리스터 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은, Bi2O3, Sb2O3 및 Pr6O11을 포함하지 않으며, Ca, Co, Cr 및 La를 포함하고 Mg를 선택적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물을 제공한다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물은, 조성물에 포함되는 총 금속원자를 기준으로 Zn 35~98 at%, Ca 0.2~30 at%, Mg 0~30 at%, Co 0.2~5 at%, Cr 0.05~3 at% 및 La 0.05~3 at%를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명은,
상기의 바리스터 조성물로 제조된 ZnO계 바리스터를 제공한다.
본 발명의 바리스터 조성물은 비선형계수, 클램핑 전압비, 써어지 흡수능 등의 바리스터에 요구되는 물성이 우수하며, 특히, Bi2O3를 포함하지 않기 때문에 우수한 ESD 특성을 제공한다. 또한, 환경규제 성분인 Sb2O3를 포함하지 않으므로 우수한 작업안전성을 제공하며, 고온소결이 요구되어 제조원가의 상승을 야기하는 Pr계 성분을 포함하지 않으므로 바리스터의 제조단가를 낮출 수 있다. 특히, 본 발명의 바리스터 조성물은 작은 정전용량을 가지면서 낮은 클램핑(clamping) 전압을 가질 수 있기 때문에 신호 속도가 수백 MHz 내지 수GHz인 전자제품에서도 신호의 지연을 야기하지 않는 바리스터를 제조할 수 있다.
도1은 본 발명의 실시예1 내지 4에서 제조된 ZnO계 바리스터의 특성을 평가한 그래프를 도시한 것이다.
도2는 실시예1 및 2에서 제조된 ZnO계 바리스터의 SEM 이미지이다.
도3은 본 발명의 실시예10 내지 14에서 제조된 ZnO계 바리스터의 특성을 평가한 그래프를 도시한 것이다.
도4는 본 발명의 실시예15 내지 19에서 제조된 ZnO계 바리스터의 특성을 평가한 그래프를 도시한 것이다.
도5는 본 발명의 실시예20 내지 24에서 제조된 ZnO계 바리스터의 특성을 평가한 그래프를 도시한 것이다.
도6은 본 발명의 실시예25 내지 29에서 제조된 ZnO계 바리스터의 특성을 평가한 그래프를 도시한 것이다.
도7은 본 발명의 실시예35, 37~39, 및 41에서 제조된 ZnO계 바리스터의 I-V 커브를 도시한 것이다.
도8은 본 발명의 실시예35~41에서 제조된 ZnO계 바리스터의 IZI(Ω)-Freq. 그래프를 도시한 것이다.
도9는 본 발명의 실시예44 및 47~51에서 제조된 ZnO계 바리스터의 I-V 커브를 도시한 것이다.
도10은 본 발명의 실시예44 및 47~51에서 제조된 ZnO계 바리스터의 IZI(Ω)-Freq. 그래프를 도시한 것이다.
본 발명은, Bi2O3, Sb2O3 및 Pr6O11을 포함하지 않으며, Ca, Co, Cr 및 La를 포함하고 Mg를 선택적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물에 관한 것이다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물은, 조성물에 포함되는 총 금속원자를 기준으로 Zn 35~98 at%, Ca 0.2~30 at%, Mg 0~30 at%, Co 0.2~5 at%, Cr 0.05~3 at% 및 La 0.05~3 at%를 포함할 수 있다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물의 구성성분 중 Mg는 선택적으로 포함된다. 따라서, 상기 Mg의 조성비에서 "0"은 Mg가 포함되지 않는 경우를 의미한다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물에서 Ca가 0.2~30 at%로 포함되는 경우, 바리스터 조성물에 요구되는 전반적인 물성이 우수해지며, 특히 우수한 비선형성을 나타내는 조성물을 얻을 수 있다. 또한, 작은 정전용량을 가지면서 낮은 클램핑(clamping) 전압을 갖는 조성물을 얻는 것도 가능해진다.
Ca의 첨가형태인 CaCO3 및/또는 CaCO3는 ZnO와 반응물을 생성하지 않고 입내에 포획되거나 입계에 대부분 분포된다. Ca가 입계에 분포되는 경우, 비선형성을 개선하는 성분인 CoOx, CrOx, LaOx에 의해 유도되는 계면상태밀도가 입계에 효과적으로 형성됨으로써 비선형성이 크게 개선된다.
상기에서 Ca가 0.2 at% 미만으로 포함되면, Ca 첨가 효과를 얻을 수 없으며, 30 at%를 초과하는 경우에는 상대적으로 Zn의 함량이 줄어들어 조성물의 소결이 잘 이루어지지 않으므로 소결밀도가 저하되며, 바리스터의 전체적인 물성도 저하될 수 있다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물에 Mg가 포함되는 경우, 바리스터 조성물에 요구되는 전반적인 물성이 우수해지며, 특히, 작은 정전용량을 가지면서 낮은 클램핑(clamping) 전압을 갖는 조성물을 얻을 수 있다.
Mg의 첨가형태인 MgO 및/또는 MgCO3는 자체 유전율이 9.8과 8.1로서 ZnO와 고용체(solid solution)을 형성하면서 첨가량에 따라 효과적으로 유전율을 낮출 뿐만 아니라, 비선형성은 떨어뜨리지 않는 기능을 발휘한다.
그러나 Mg가 30 at%를 초과하는 경우에는 상대적으로 Zn의 함량이 줄어들어 조성물의 소결이 잘 이루어지지 않아서 소결밀도가 저하되고, 바리스터의 물성도 저하될 수 있다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물에서 Co가 0.2~5 at%로 포함되는 경우, 비선형성이 우수한 조성물이 얻어진다. 상기에서 Co가 0.2 at% 미만으로 포함되면, Co 첨가 효과를 얻을 수 없으며, 5 at%를 초과하면 누설전류 증가, 비선형성 저하 및 ZnO 자체 비저항 증가가 초래되어 바리스터 특성이 나빠질 수 있다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물에서 Cr이 0.05~3 at%로 포함되는 경우, 비저항 면에서 우수한 조성물이 얻어진다. 상기에서 Cr이 0.05 at% 미만으로 포함되면, Cr 첨가 효과를 얻을 수 없으며, 3 at%를 초과하는 경우에는 비선형성 저하와 누설전류 증가가 초래될 수 있다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물에서 La가 0.05~3 at%로 포함되는 경우, 비저항 면에서 우수한 조성물이 얻어진다. 상기에서 La가 0.05 at% 미만으로 포함되면, La 첨가 효과를 얻을 수 없으며, 3 at%를 초과하는 경우에는 비선형성이 저하되고 누설전류가 증가하는 문제가 발생할 수 있다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물은 조성물에 포함되는 총 금속원자를 기준으로 Zn 89~98 at%, Ca 0.2~10 at%, Co 0.2~5 at%, Cr 0.05~3 at% 및 La 0.05~3 at%를 포함할 수 있으며, 이 경우 Mg는 0~10.5 at%로 포함될 수 있다. 상기에서 Zn, Ca, Co, Cr 및 La는 각각 Zn 92~98 at%, Ca 0.2~4 at%, Co 0.2~2.5 at%, Cr 0.05~1 at% 및 La 0.05~0.5 at%로 포함되는 것이 더욱 바람직하다. 상기와 같은 조성을 갖는 바리스터 조성물은 특히, 비선형 특성과 클램핑(clamping) 특성을 크게 향상시킬 수 있으므로 고성능 ZnO 바리스터의 제조에 바람직하게 사용될 수 있다.
상기 ZnO계 바리스터 조성물은, 조성물에 포함되는 총 금속원자를 기준으로 Zn 35~98 at%, Ca 0.2~30 at%, Mg 1~30 at%, Co 0.2~5 at%, Cr 0.05~3 at% 및 La 0.05~3 at%를 포함할 수 있다. 더욱 바람직하게는, Zn 45~97 at%, Ca 0.2~30 at%, Mg 1~30 at%, Co 0.2~2.5 at%, Cr 0.05~1 at% 및 La 0.05~0.5 at%를 포함할 수 있다. 상기와 같은 조성물은 특히, 작은 정전용량을 가지면서 낮은 클램핑(clamping) 전압을 갖는 바리스터의 제조에 바람직하게 사용될 수 있다.
본 발명의 ZnO계 바리스터 조성물은 조성물의 전체 원자량을 기준으로 Al 0.005~0.2 at%를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 ZnO계 바리스터 조성물은 상기 성분 외에 조성물에 포함되는 총 금속원자를 기준으로 다른 금속원자를 0.01~30 at%의 범위에서 더 포함할 수 있다. 상기 다른 금속원자로는 Mn, Zr, Li, Na, K, Ga 등을 들 수 있으며, 이들은 1종 단독 또는 2종 이상이 함께 포함될 수 있다.
본 발명의 ZnO계 바리스터 조성물에 Zn은 ZnO로 첨가되며; Ca는 CaCO3, CaO 등으로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합 형태로 첨가될 수 있으며; Mg는 MgO 및 MgCO3 중에서 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합 형태로 첨가될 수 있으며; Co는 Co3O4, CoO 등으로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합 형태로 첨가될 수 있으며; Cr은 Cr2O3 등으로 이루어진 군으로부터 선택하여 첨가될 수 있으며; La는 La2O3 등으로 이루어진 군으로부터 선택하여 첨가될 수 있다.
본 발명은,
상기의 바리스터 조성물로 제조된 ZnO계 바리스터를 제공하며, 상기 ZnO계 바리스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기소자도 제공한다.
본 발명의 ZnO계 바리스터 조성물을 사용하여 제조되는 ZnO계 바리스터는,
Bi2O3, Sb2O3 및 Pr6O11을 포함하지 않으며, 조성물에 포함되는 총 금속원자를 기준으로 Zn 35~98 at%, Ca 0.2~30 at%, Mg 0~30 at%, Co 0.2~5 at%, Cr 0.05~3 at% 및 La 0.05~3 at%를 포함하는 ZnO계 바리스터 조성물을 분쇄 및 하소하여 하소분말을 제조하는 단계;
상기 하소분말에 바인더를 넣고 성형한 후 소결하는 단계; 및
상기 소결체에 전극을 도포하고 패키지 처리를 하는 단계를 포함하여 제조될 수 있다. 상기 제조방법은 신규한 조성을 사용하는 것을 제외하고는 이 분야에 공지된 방법을 채용하여 실시할 수 있다.
이하에서, 실시예를 통하여 본 발명을 보다 상세히 설명한다. 그러나, 하기의 실시예는 본 발명을 더욱 구체적으로 설명하기 위한 것으로서, 본 발명의 범위가 하기의 실시예에 의하여 한정되는 것은 아니다. 하기의 실시예는 본 발명의 범위 내에서 당업자에 의해 적절히 수정, 변경될 수 있다.
실시예1: 적층형 바리스터의 제조
주성분인 ZnO 분말 93.7843g(Zn 96.6 at%), CaCO3 4.7022g(Ca 2.0 at%), Co3O4 0.9487g(Co 1.0 at%), Cr2O3 0.1796g(Cr 0.2 at%) 및 La2O3 0.3851g(La 0.2 at%)을 칭량하여, 상기 칭량물을 상기 칭량물 중량의 3배의 이온교환수와 함께 부분 안정화 지르코니아(PSZ)가 포함된 볼 밀에 투입하여 혼합하고, 분쇄하였다. 그런 다음, 탈수·건조처리를 행하여 조립분을 제조하고, 얻어진 조립분을 대기 중에서 700℃의 온도에서 2시간 동안 하소처리하고 충분히 분쇄하여 하소분말을 제조하였다.
이어서, 가소분말에 유기바인더로서 BM2(SEKISUI 사제) 및 BM-SZ(SEKISUI 사제), 유기가소제로서 디옥틸 프탈레이트(DOP), 유기용제로서 톨루엔 및 에탄올을 소정량 첨가하고, 습식 분쇄해 세라믹 시트 형성용 슬러리를 제조하였다.
다음으로, 닥터 블레이드법을 사용해, 이 슬러리를 PET필름(폴리에틸렌 텔레프탈레이트) 상에 두께 약 25μm의 시트 모양으로 형성한 후, 소정 치수로 절단해 다수의 세라믹 시트를 형성하였다.
다음으로, Pd 페이스트를 상기 세라믹 시트의 표면에 스크린 인쇄하고, 각 세라믹 시트의 1단면으로부터 연신하고, 타단은 세라믹 시트 상에 위치하도록 장방형으로 전극 패턴을 형성하였다. 그리고, 이와 같이 전극 패턴이 형성된 세라믹 시트를 적층하고, 이들 적층된 세라믹 시트를 전극 패턴이 형성되지 않은 세라믹 시트(보호층)에 끼워 넣어 압착해서 적층체를 형성하였다.
상기 얻어진 적층체를 세로 1.6mm, 가로 0.8mm로 절단해서 Zr Saggar에 수용하고, 공기 중에서 400℃의 온도에서 탈바인더 처리를 행한 후, 공기 중에서 1200℃의 온도에서 3시간 소성해 세라믹 소결체를 제작하였다. 그런 다음, Ag 페이스트를 준비하고, Ag페이스트를 세라믹 소결체의 양단에 도포한 다음, 800℃의 온도에서 소부처리 하고 외부 전극을 형성하여 적층형 바리스터를 제작하였다.
상기의 방법으로 제작된 바리스터 소자의 바리스터 전압(V1mA) 및 비직선지수(α), 전기적 유전손실계수(tanδ) 등을 측정하고, 이를 도1에 나타내었다. 상기에서 제조된 세라믹 시트의 SEM 이미지를 도2에 나타내었다.
도1에서 확인되는 바와 같이, 본 발명의 바리스터 조성물은 비선형성이 우수하며, 바리스터 전압이 높을 뿐만 아니라 유전 손실계수도 적정 값을 나타내어 우수한 특성을 나타내었다. 특히, Ca가 2.0 at%로 포함되는 경우에, 비선형 계수가 100으로 매우 높은 값을 나타내었다
실시예2 내지 4: 적층형 바리스터의 제조
파우더 조성을 하기 표1과 같이 변경한 것을 제외하고는 상기 실시예1과 동일한 방법으로 적층형 바리스터를 제작하였다.
표 1
조성 POWDER
ZnO CaCO3 Co3O4 Cr2O3 La2O3
At% Zn98.6-x at% Ca x:0.5~3.0 at% Co 1.0 at% Cr 0.2 at% La 0.2 at%
실시예2 Ca 0.5 at% 97.2538g 1.2006g 0.9689g 0.1835g 0.3933g
실시예3 Ca 1.0 at% 96.0810g 2.3842g 0.9621g 0.1822g 0.3905g
실시예4 Ca 3.0 at% 91.5506g 6.9567g 0.9357g 0.1772g 0.3798g
상기의 방법으로 제작된 바리스터 소자의 바리스터 전압(V1mA) 및 비직선지수(α), 전기적 유전손실계수(tanδ) 등을 측정하고, 이를 도1에 나타내었다. 상기에서 제조된 세라믹 시트의 SEM 이미지를 도2에 나타내었다.
실시예5 내지 9: 적층형 바리스터의 제조
파우더 조성을 하기 표2와 같이 변경한 것을 제외하고는 상기 실시예1과 동일한 방법으로 적층형 바리스터를 제작하였다.
표 2
성분 POWDER
Zn Ca Co Cr La
97.6-x at% 2.0 at% x:0.5~5.0 at% 0.2 at% 0.2 at%
실시예5 97.1 at% 2.0 at% 0.5 at% 0.2 at% 0.2 at%
실시예6 95.6 at% 2.0 at% 2.0 at% 0.2 at% 0.2 at%
실시예7 94.6 at% 2.0 at% 3.0 at% 0.2 at% 0.2 at%
실시예8 93.6 at% 2.0 at% 4.0 at% 0.2 at% 0.2 at%
실시예9 92.6 at% 2.0 at% 5.0 at% 0.2 at% 0.2 at%
상기의 방법으로 제작된 바리스터 소자의 바리스터 전압(V1mA) 및 비직선지수(α), 누설전류, 밀도 등을 측정하고, 이를 하기 표3에 나타내었다.
표 3
성분 밀도(g/cm3) Vn(V/cm) α IL(μA/cm2)
실시예5 Co 0.5 at% 94.3 4028 68 0.25
실시예1 Co 1.0 at% 94.3 4281 78 0.18
실시예6 Co 2.0 at% 93.9 4575 66 0.23
실시예7 Co 3.0 at% 93.1 4386 28 0.30
실시예8 Co 4.0 at% 93.5 4373 35 0.25
실시예9 Co 5.0 at% 93.9 4852 54 0.36
상기 표3에서 확인되는 바와 같이, 본 발명의 바리스터 조성물은 비선형성이 우수하며, 바리스터 전압이 높을 뿐만 아니라 누설전류도 낮은 값을 나타내며, 밀도도 높아서 우수한 특성을 보였다.
실시예10 내지 14: 적층형 바리스터의 제조
파우더 조성을 하기 표4와 같이 변경한 것을 제외하고는 상기 실시예1과 동일한 방법으로 적층형 바리스터를 제작하였다.
표 4
성분 POWDER
Zn Ca Co Cr La
96.8-x at% 2.0 at% 1.0 at% x:0.1~3.0 at% 0.2 at%
실시예10 96.7 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.1 at% 0.2 at%
실시예11 96.3 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.5 at% 0.2 at%
실시예12 95.8 at% 2.0 at% 1.0 at% 1.0 at% 0.2 at%
실시예13 94.8 at% 2.0 at% 1.0 at% 2.0 at% 0.2 at%
실시예14 93.8 at% 2.0 at% 1.0 at% 3.0 at% 0.2 at%
상기의 방법으로 제작된 바리스터 소자의 바리스터 전압(V1mA) 및 비직선지수(α), 전기적 유전손실계수(tanδ), 비저항 등을 측정하고, 이를 도3에 나타내었다. 도3에서 확인되는 바와 같이, 본 발명의 바리스터 조성물은 비선형성이 우수하며, 유전 손실계수 및 비저항 값도 적정 값을 나타내어 우수한 특성을 나타내었다.
실시예15 내지 19: 적층형 바리스터의 제조
파우더 조성을 하기 표5와 같이 변경한 것을 제외하고는 상기 실시예1과 동일한 방법으로 적층형 바리스터를 제작하였다.
표 5
성분 POWDER
Zn Ca Co Cr La
96.8-x at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% x:0.1~3.0 at%
실시예15 96.7 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.1 at%
실시예16 96.3 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.5 at%
실시예17 95.8 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 1.0 at%
실시예18 94.8 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 2.0 at%
실시예19 93.8 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 3.0 at%
상기의 방법으로 제작된 바리스터 소자의 바리스터 전압(V1mA) 및 비직선지수(α), 전기적 유전손실계수(tanδ), 비저항 등을 측정하고, 이를 도4에 나타내었다. 도4에서 확인되는 바와 같이, 본 발명의 바리스터 조성물은 비선형성, 유전 손실계수 값 및 비저항 등에 있어서 바람직한 값을 나타내었다.
실시예20 내지 24: 적층형 바리스터의 제조
파우더 조성을 하기 표6과 같이 변경한 것을 제외하고는 상기 실시예1과 동일한 방법으로 적층형 바리스터를 제작하였다.
표 6
성분 POWDER
Zn Ca Co Cr La Al
96.6-x at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% x:0.01~0.20 at%
실시예20 96.59 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 0.01 at%
실시예21 96.58 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 0.02 at%
실시예22 96.55 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 0.05 at%
실시예23 96.50 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 0.10 at%
실시예24 96.40 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 0.20 at%
상기의 방법으로 제작된 바리스터 소자의 바리스터 전압(V1mA) 및 비직선지수(α), 전기적 유전손실계수(tanδ), 비저항 등을 측정하고, 이를 도5에 나타내었다. 도5에서 확인되는 바와 같이, 본 발명의 바리스터 조성물은 Al이 소량으로 함유되었을 때도 비선형성, 누설전류 및 비저항 등에 있어서 바람직한 값을 나타내었다.
실시예25 내지 29: 적층형 바리스터의 제조
파우더 조성을 하기 표7과 같이 변경한 것을 제외하고는 상기 실시예1과 동일한 방법으로 적층형 바리스터를 제작하였다.
표 7
성분 POWDER
Zn Ca Co Cr La Zr
96.6-x at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% x:0.1~3.0 at%
실시예25 96.5 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 0.1 at%
실시예26 96.1 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 0.5 at%
실시예27 95.6 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 1.0 at%
실시예28 94.6 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 2.0 at%
실시예29 93.6 at% 2.0 at% 1.0 at% 0.2 at% 0.2 at% 3.0 at%
상기의 방법으로 제작된 바리스터 소자의 바리스터 전압(V1mA) 및 비직선지수(α), 전기적 유전손실계수(tanδ), 비저항 등을 측정하고, 이를 도6에 나타내었다. 도6에서 확인되는 바와 같이, 본 발명의 바리스터 조성물은 Zr이 소량으로 함유되었을 때도 비선형성, 누설전류 및 비저항 등에 있어서 바람직한 값을 나타내었다.
실시예30 내지 34: 적층형 바리스터의 제조
소결온도와 소결시간을 하기 표8과 같이 변경한 것을 제외하고는 실시예1과 동일한 방법으로 적층형 바리스터를 제작하였다.
표 8
소결온도(℃) 소결시간(h) 밀도(g/cm3) Vn(V/cm) α IL(μA/cm2)
실시예30 1100 3 89.8 - - -
실시예1 1200 3 94.3 4281 78 0.18
실시예31 1300 3 97.3 1009 41 7
실시예32 1350 3 96.7 745 18 36
실시예33 1200 1 92.8 4836 51 0.31
실시예34 1200 5 96.6 2822 46 0.28
상기 표8에서 확인되는 바와 같이, 본 발명의 바리스터 조성물은 1200℃에서 3시간 동안 소결하는 경우에 밀도, 전압, 비선형성 및 누설전류의 면에서 가장 바람직한 특성을 나타냈다.
실시예35~51: 적층형 바리스터의 제조
파우더 조성을 하기 표9와 같이 변경하고, 제조된 슬러리를 PET필름(폴리에틸렌 텔레프탈레이트) 상에 두께 약 33μm의 시트 모양으로 형성한 것을 제외하고,상기 실시예1과 동일한 방법으로 적층형 바리스터를 제작하였다.
표 9
POWDER
ZnO CaCO3 MgO Co3O4 Cr2O3 La2O3 Al2O3
Zn at% Ca at% Mg at% Co at% Cr at% La at% Al at%
실시예35 87.6 10 1 1 0.2 0.2 -
실시예36 85.6 10 3 1 0.2 0.2 -
실시예37 83.6 10 5 1 0.2 0.2 -
실시예38 81.1 10 7.5 1 0.2 0.2 -
실시예39 78.6 10 10 1 0.2 0.2 -
실시예40 68.6 10 20 1 0.2 0.2 -
실시예41 58.6 10 30 1 0.2 0.2 -
실시예42 66.6 2 30 1 0.2 0.2 -
실시예43 58.6 30 10 1 0.2 0.2 -
실시예44 38.6 30 30 1 0.2 0.2 -
실시예45 66.59 2 30 1 0.2 0.2 0.01
실시예46 58.59 10 30 1 0.2 0.2 0.01
실시예47 38.59 30 30 1 0.2 0.2 0.01
실시예48 38.58 30 30 1 0.2 0.2 0.02
실시예49 38.57 30 30 1 0.2 0.2 0.03
실시예50 38.55 30 30 1 0.2 0.2 0.05
실시예51 38.50 30 30 1 0.2 0.2 0.10
상기의 방법으로 제작된 바리스터 소자의 상대밀도, 바리스터 전압(V1mA), 누설전류(IL), 비선형지수(α), 유전율(ε), ZnO의 비저항(ρ)을 측정하여 하기 표10에 나타내었다.
표 10
실시예(시편두께) Powder 조성의 특징 물성 측정 결과
ZnO CaCO3 MgO Al2O3 상대밀도(%) Vn(V/㎛) IL(μA/cm2) α ε ρ
Zn at% Ca at% Mg at% Al at% 1MHz (Ωcm)
실시예35 87.6 10 1 - 98.8 0.580 - 81 547 0.8
실시예36 85.6 10 3 - 96.9 0.594 - 31 468 1.1
실시예37 83.6 10 5 - 95.5 0.693 - 84 392 1.1
실시예38 81.1 10 7.5 - 92.9 0.836 - 157 329 1.2
실시예39 78.6 10 10 - 90.9 - - 46 269 1.4
실시예40 68.6 10 20 - 92.0 - - - 132 1.7
실시예41 58.6 10 30 - 93.0 - - - 82 2.1
실시예42 66.6 2 30 - 92.0 - - - 79 1.9
실시예43 58.6 30 10 - 94.0 2.19 0.8 45 25 2.1
실시예44 38.6 30 30 - 94.7 2.06 3 56 35 2.2
실시예45 66.59 2 30 0.01 95.0 1.38 0.2 79 127 1.9
실시예46 58.59 10 30 0.01 95.3 1.40 0.3 62 89 1.9
실시예47 38.59 30 30 0.01 97.0 2.35 0.08 162 35 2.2
실시예48 38.58 30 30 0.02 95.4 1.87 0.5 88 42 4.0
실시예49 38.57 30 30 0.03 94.5 1.73 3 59 45 4.2
실시예50 38.55 30 30 0.05 95.4 1.77 89 15 44 3.4
실시예51 38.50 30 30 0.10 96.1 1.22 313 9 52 4.3
상기 표1에서 확인되는 바와 같이, 본 발명의 바리스터 조성물로 제조된 바리스터는 밀도가 높고, 바리스터 전압도 높으며, 누설전류가 작으며, 비저항도 적정값을 나타냄을 확인하였다. 특히, 비선형성이 우수하며(도7 참조), 조성에 따라 매우 낮은 유전율을 가지므로 전극의 면적에 구속되지 않고 작은 정전용량을 갖는 바리스터를 제조할 수 있음을 확인하였다.
본 발명에서 바리스터의 고전류 특성과 클램핑 전압 특성을 향상시킬 수 있는 정도를 가늠할 수 있는 방법으로는 ZnO 입자의 비저항을 측정하는 방법을 들 수 있다. 도8 및 도10에는 RF impedance/Material Analyzer (Agilent E4991A)를 이용하여 1MHz~3GHz 범위에서 IZI를 측정하여 나타내었다. 상기 그래프에서 IZI의 최저값이 ZnO 입자의 저항을 나타내며, 이 값이 낮을수록 특성이 우수하다. 도8 및 도10에 나타난 바와 같이, 본 발명에서 ZnO 입자의 비저항은 전체적으로 우수한 특성을 나타내었다.
실시예52: 적층형 바리스터의 제조
파우더 조성을 하기 표11과 같이 변경하고, 제조된 슬러리를 PET필름(폴리에틸렌 텔레프탈레이트) 상에 두께 약 20μm의 시트 모양으로 형성하고, 소결온도를 1180℃로 한 것을 제외하고,상기 실시예1과 동일한 방법으로 적층형 바리스터를 제작하였다.
표 11
POWDER
ZnO CaCO3 MgO Co3O4 Cr2O3 La2O3 Al2O3
Zn at% Ca at% Mg at% Co at% Cr at% La at% Al at%
실시예52 89.6 4 5 1 0.2 0.2 -
상기에서 제조된 바리스터의 전기적 특성 및 ESD 특성을 통상의 방법으로 평가하고, 그 결과를 하기 표12 및 표13에 나타내었다.
표 12
테스트 조건 전기적 특성
적층구분 유지시간 P-Vn(V) N-Vn(V) P-Alpha P-Alpha P-IL(㎛) N-IL(㎛) Cp(pF) R(MΩ)
20㎛, 3/1 1hr 11.2 11.3 18.5 18.8 1.554 1.520 160.2 454.7
20㎛, 3/1 3hr 6.8 6.9 13.8 13.9 4.647 4.365 148.0 1.02
표 13
테스트 조건 ESD 감쇄파형 ESD 내성
8kV 15kV
적층구분 유지시간 + - + -
20㎛, 3/1 1hr 213.6 37.3 19.7 2.21 2.26 1.40 0.56
20㎛, 3/1 3hr 193.1 32.5 12.0 2.39 2.26 3.00 2.48
상기 시험결과로부터 본 발명의 바리스터 조성물은 기존의 Bi계 조성보다 전기적 특성이 우수하고, ESD 내성이 우수하며 ESD 인가 후 변화율이 3%이하로 안정적임을 확인할 수 있다.

Claims (8)

  1. Bi2O3, Sb2O3 및 Pr6O11을 포함하지 않으며, Ca, Co, Cr 및 La를 포함하고 Mg를 선택적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물.
  2. 청구항1에 있어서, 조성물에 포함되는 총 금속원자를 기준으로 Zn 35~98 at%, Ca 0.2~30 at%, Mg 0~30 at%, Co 0.2~5 at%, Cr 0.05~3 at% 및 La 0.05~3 at%를 포함하는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물.
  3. 청구항2에 있어서, Mg가 1~30 at%로 포함되는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물.
  4. 청구항2에 있어서, 조성물의 전체 원자량을 기준으로 Al 0.005~0.2 at%를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물.
  5. 청구항2에 있어서, Zn, Ca, Mg, Co, Cr 및 La 이외의 다른 금속원자가 조성물의 전체 원자량을 기준으로 0.01~30 at%로 더 첨가되는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물.
  6. 청구항5 있어서, 상기 다른 금속원자가 Mn, Zr, Li, Na, K 및 Ga으로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것임을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물.
  7. 청구항1에 있어서, Zn은 ZnO로 첨가되고; Ca는 CaCO3 및 CaO 중에서 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합 형태로 첨가되며; Mg는 MgO 및 MgCO3 중에서 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합 형태로 첨가되며; Cr은 Cr2O3로 첨가되며; La는 La2O3로 첨가되는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터 조성물.
  8. 청구항 1의 바리스터 조성물로 제조되는 것을 특징으로 하는 ZnO계 바리스터.
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