WO2010140508A1 - タンタル部材の浸炭処理方法及びタンタル部材 - Google Patents

タンタル部材の浸炭処理方法及びタンタル部材 Download PDF

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WO2010140508A1
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tantalum
carburizing
container
chamber
tantalum container
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PCT/JP2010/058799
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純久 阿部
将成 渡辺
修 田村
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東洋炭素株式会社
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    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C8/00—Solid state diffusion of only non-metal elements into metallic material surfaces; Chemical surface treatment of metallic material by reaction of the surface with a reactive gas, leaving reaction products of surface material in the coating, e.g. conversion coatings, passivation of metals
    • C23C8/60—Solid state diffusion of only non-metal elements into metallic material surfaces; Chemical surface treatment of metallic material by reaction of the surface with a reactive gas, leaving reaction products of surface material in the coating, e.g. conversion coatings, passivation of metals using solids, e.g. powders, pastes
    • C23C8/62—Solid state diffusion of only non-metal elements into metallic material surfaces; Chemical surface treatment of metallic material by reaction of the surface with a reactive gas, leaving reaction products of surface material in the coating, e.g. conversion coatings, passivation of metals using solids, e.g. powders, pastes only one element being applied
    • C23C8/64—Carburising

Definitions

  • the present invention relates to a method for subjecting a member such as a tantalum container made of tantalum or a tantalum alloy and a lid to carburizing treatment for infiltrating carbon from the surface of the member toward the inside, and a tantalum member obtained by the method. is there.
  • Silicon carbide is said to be able to realize high temperature, high frequency, withstand voltage and environmental resistance that cannot be achieved with conventional semiconductor materials such as silicon (Si) and barium arsenic (BaAs). It is expected as a semiconductor material for next-generation power devices and high-frequency devices.
  • Patent Document 1 tantalum having a tantalum carbide layer formed on the surface of a single crystal silicon carbide substrate is thermally annealed and a single crystal of silicon carbide is grown on a single crystal silicon carbide substrate. It has been proposed to use the container as a chamber. A single crystal silicon carbide substrate is housed in a tantalum container having a tantalum carbide layer on the surface, and the surface is planarized by thermally annealing the surface or growing a silicon carbide single crystal on the surface, In addition, it has been reported that a single crystal silicon carbide substrate or a silicon carbide single crystal layer with few defects can be formed.
  • Patent Document 2 and Patent Document 3 when carbon is infiltrated into the surface of tantalum or tantalum alloy to form tantalum carbide on the surface, Ta 2 O 5 which is a natural oxide film on the surface is sublimated and removed. After that, it has been proposed to penetrate carbon.
  • a first object of the present invention is a method for carburizing a tantalum member that is small in deformation due to carburizing treatment, has a good flatness of a flat portion, and can be uniformly carburized, and a tantalum member obtained by the method, Another object is to provide a carburizing jig used in the method.
  • the second object of the present invention is to carburize a tantalum container having an opening, and carburizing by the carburizing process of the tantalum container that can prevent the opening from expanding due to the carburizing process. It is to provide a tantalum container.
  • the carburizing method according to the first aspect of the present invention is a method for performing a carburizing process in which carbon is infiltrated from the surface of the member into the tantalum member made of tantalum or a tantalum alloy having a flat portion. , By supporting the flat portion by a plurality of support rods having a tapered tip, the step of placing the tantalum member in the chamber in which the carbon source is present, and heating and reducing the pressure in the chamber, And a carburizing process in which carbon from a carbon source is permeated from the surface of the tantalum member.
  • the planar portion is supported by a plurality of support rods having tip portions formed in a tapered shape, and carburized. Since the tip end portion of the support rod is formed in a tapered shape, the area where the tip end portion of the support rod and the flat portion contact can be reduced. In the portion where the tip of the support bar comes into contact, carbon from the carbon source becomes difficult to carburize or, as will be described later, when the support bar is a carbon source, it may adhere to the flat part. In the first aspect of the present invention, the tip end portion of the support rod is formed in a tapered shape, and the contact area can be reduced, so that the carburizing treatment can be performed uniformly.
  • the flat portion is supported by the plurality of support rods, the deformation of the tantalum member due to the carburizing process can be reduced, and the flatness of the flat portion is kept good. Carburizing treatment can be performed in the state.
  • a plurality of support rods are arranged in a distributed manner so that the entire flat portion is supported almost uniformly by the tip portions of the support rods.
  • a plurality of support rods are arranged in a dispersed manner, and it is preferable that one or more support rods are supported by an area of 1500 mm 2 of the plane portion. .
  • transformation by a carburizing process can be made still smaller and the flatness of a plane part can be made into a further favorable state.
  • the support rod preferably functions as a carbon source.
  • the carbon source can be disposed near the tantalum member, carbon can be sufficiently supplied to the surface of the tantalum member, and a more uniform carburizing process can be performed.
  • the tip of the support rod is formed in a tapered shape whose diameter becomes narrower as it approaches the tip. For this reason, the area of the front-end
  • the support rod is a carbon source
  • the flat portion of the tantalum member and the tip of the support rod are fixed, and after the carburizing process, the flat portion of the tantalum member The tip may not be removable.
  • the carbon concentration is high at the portion where the tip of the support rod contacts, and uniform carburizing may not be possible.
  • the chamber functions as a carbon source. Since the chamber covers the periphery of the tantalum member, the entire surface of the tantalum member can be uniformly carburized by the chamber functioning as a carbon source.
  • the support rod or chamber functions as a carbon source
  • graphite can be used as the carbon source. Since the chamber and the support rod are heat-treated at a high temperature, an isotropic graphite material is preferably used as the graphite. Further, a high-purity graphite material that has been subjected to high-purity treatment using a halogen-containing gas or the like is more preferable.
  • the ash content in the graphite material is preferably 20 ppm or less, more preferably 5 ppm or less.
  • the bulk density is preferably 1.6 or more, and more preferably 1.8 or more. The upper limit of the bulk density is 2.1, for example.
  • petroleum-based or coal-based coke is pulverized into several to several tens of ⁇ m as a filler, and a binder such as pitch, coal tar, coal tar pitch is added thereto. Knead.
  • the obtained kneaded product is pulverized to several ⁇ m to several tens of ⁇ m so as to be larger than the pulverized particle size of the raw material filler to obtain a pulverized product.
  • the pulverized product is molded, fired and graphitized to obtain a graphite material.
  • the base portion of the support bar is supported by the support base, whereby a plurality of support bars are provided on the support base, and the support base is placed on the bottom surface portion in the chamber. It is preferable that a plurality of support rods are arranged in the chamber.
  • the support base may function as a carbon source.
  • the carbon source graphite such as isotropic graphite material is preferably used as described above.
  • the tantalum member according to the first aspect of the present invention is a tantalum container having a flat portion and a side wall portion extending in a substantially vertical direction from the flat portion, and an opening is formed by an end portion of the side wall portion.
  • the tantalum container is carburized by the carburizing method according to the first aspect of the present invention, the tantalum container is disposed in the chamber so that the opening of the tantalum container faces downward, and a plurality of planar portions inside the tantalum container are provided. It is preferable to support with this support rod.
  • the tantalum member according to the first aspect of the present invention is characterized by being carburized by the method according to the first aspect of the present invention.
  • a jig for carburizing treatment of the first aspect of the present invention is a jig used in the carburizing method of the first aspect of the present invention, and includes a plurality of support bars and a support base that supports the plurality of support bars. And the support rod and the support base are made of a graphite material. As described above, it is preferable to use an isotropic graphite material as the graphite material.
  • the carburizing method according to the second aspect of the present invention is a tantalum or tantalum alloy having a bottom surface portion and a side wall portion extending in a substantially vertical direction from the bottom surface portion, and an opening is formed by an end portion of the side wall portion.
  • the tantalum container is subjected to a carburizing treatment for infiltrating carbon from the surface of the container toward the inside, and the opening of the tantalum container is positioned downward in the chamber in which the carbon source exists. It is characterized by comprising a step of arranging a tantalum container and a step of performing carburization treatment by infiltrating carbon from a carbon source from the surface of the tantalum container by heating the chamber under reduced pressure.
  • the tantalum container is placed in the chamber so that the opening of the tantalum container is downward, and carburization is performed.
  • the opening of the tantalum container gradually expands as the carburizing process proceeds, and the tantalum container opens onto the tantalum container.
  • the lid made of tantalum or tantalum alloy cannot be closed. If the tantalum container and the lid are not properly fitted, the sealing inside the tantalum container cannot be maintained. Therefore, when silicon carbide (SiC) single crystal reacts with silicon (Si) gas, silicon gas leaks. This causes a problem that the silicon carbide single crystal cannot be processed or grown in a good state.
  • the second aspect of the present invention when carburizing the tantalum container having an opening, it is possible to suppress the opening from being greatly expanded by the carburizing process. Further, distortion of the opening can be suppressed. For this reason, the fitting state with the lid placed on the tantalum container can be kept good, and the hermeticity in the container can be improved.
  • the tantalum container is disposed in the chamber so that a gap is formed below the end of the side wall of the tantalum container.
  • a gap is formed below the end of the side wall of the tantalum container.
  • carbon from the carbon source can be sufficiently supplied also to the inside of the tantalum container.
  • the carburizing process inside the tantalum container can be performed in the same manner as the outside of the tantalum container, and the carburizing process can be performed uniformly on the entire surface of the tantalum container.
  • the gap below the end of the side wall of the tantalum container is preferably 1 mm or more, more preferably in the range of 2 mm to 20 mm, although it depends on the size and shape of the tantalum container. If the gap is too small, carbon cannot be sufficiently supplied to the inside of the tantalum container, and the carburizing treatment inside the tantalum container may be insufficient. Moreover, even if the gap becomes larger than the above upper limit value, the effect of increasing the gap beyond that cannot be obtained.
  • the method of supporting the tantalum container in the chamber includes a method of supporting the bottom surface inside the tantalum container.
  • the bottom surface portion inside the tantalum container can be supported by a support member provided in the chamber.
  • a carbon source is present in the chamber, but the chamber itself may function as a carbon source.
  • the carbon source for example, graphite can be used. Therefore, it can function as a carbon source by using a chamber having at least a surface formed of graphite. Since the chamber is heat-treated at a high temperature, an isotropic graphite material is preferably used as the graphite. Further, a high-purity graphite material that has been subjected to high-purity treatment using a halogen-containing gas or the like is more preferable.
  • the ash content in the graphite material is preferably 20 ppm or less, more preferably 5 ppm or less.
  • the bulk density is preferably 1.6 or more, and more preferably 1.8 or more.
  • the upper limit of the bulk density is 2.1, for example.
  • a method for producing isotropic graphite material petroleum-based or coal-based coke is pulverized into several to several tens of ⁇ m as a filler, and a binder such as pitch, coal tar, coal tar pitch is added thereto. Knead.
  • the obtained kneaded product is pulverized to several ⁇ m to several tens of ⁇ m so as to be larger than the pulverized particle size of the raw material filler to obtain a pulverized product.
  • the pulverized product is molded, fired and graphitized to obtain a graphite material. Thereafter, a high-purity treatment is performed using a halogen-containing gas or the like, and the amount of ash in the graphite material is set to 20 ppm or less, whereby contamination of impurity elements from the graphite material into the tantalum container can be suppressed.
  • a support member that is provided so as to be located inside the tantalum container and supports the bottom surface portion inside the tantalum container may function as a carbon source.
  • the support member provided inside the tantalum container functions as a carbon source, so that sufficient carbon can be supplied inside the tantalum container, and the surface inside the tantalum container is uniformly carburized in the same manner as the surface outside the tantalum container. can do.
  • Examples of the supporting member that functions as a carbon source include a supporting member formed from the above graphite material.
  • the tantalum container of the present invention is characterized by being carburized by the method of the second aspect of the present invention.
  • the method of the second aspect of the present invention it is possible to suppress the opening of the tantalum container from being expanded by carburizing treatment, and to suppress distortion of the opening.
  • the tantalum container having a good fitting state with the lid and having a high hermeticity can be obtained.
  • the deformation of the tantalum member due to the carburizing process is small, the flatness of the flat portion is good, and the carburizing process can be performed uniformly.
  • the second aspect of the present invention when carburizing a tantalum container having an opening, it is possible to suppress the opening from expanding due to the carburizing process and to suppress distortion of the opening. For this reason, the airtightness when the lid is fitted to the tantalum container can be enhanced.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view for illustrating a carburizing method of an embodiment according to the first aspect of the present invention.
  • FIG. 2 is a plan view showing the position of the support bar in the embodiment shown in FIG.
  • FIG. 3 is a perspective view showing a tantalum container used in the embodiment shown in FIG. 4 is a perspective view showing a tantalum lid used in the tantalum container shown in FIG.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of the tantalum container shown in FIG.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of the tantalum lid shown in FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in which the tantalum lid shown in FIG. 6 is attached to the tantalum container shown in FIG.
  • FIG. 8 is a plan view showing the position of the support bar in another embodiment according to the first aspect of the present invention.
  • FIG. 9 is a plan view showing the position of the support bar in still another embodiment according to the first aspect of the present invention.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view for explaining a carburizing method in a comparative example.
  • FIG. 11 is a plan view showing the position of the support bar in the comparative example shown in FIG.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view showing a method for carburizing a tantalum lid in still another embodiment according to the first aspect of the present invention.
  • FIG. 13 is a cross-sectional view for illustrating the carburizing process in the embodiment according to the first aspect of the present invention.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view for explaining a carburizing method in a comparative example.
  • FIG. 11 is a plan view showing the position of the support bar in the comparative example shown in FIG.
  • FIG. 12 is a cross-sectional
  • FIG. 14 is a cross-sectional view for illustrating a carburizing method according to an embodiment of the second aspect of the present invention.
  • FIG. 15 is a plan view showing the position of the support bar in the embodiment shown in FIG.
  • FIG. 16 is a perspective view showing a tantalum container used in the embodiment shown in FIG.
  • FIG. 17 is a perspective view showing a lid used for the tantalum container shown in FIG. 18 is a cross-sectional view of the tantalum container shown in FIG. 19 is a cross-sectional view of the lid shown in FIG. 20 is a cross-sectional view showing a state where the lid shown in FIG. 19 is attached to the tantalum container shown in FIG.
  • FIG. 15 is a plan view showing the position of the support bar in the embodiment shown in FIG.
  • FIG. 16 is a perspective view showing a tantalum container used in the embodiment shown in FIG.
  • FIG. 17 is a perspective view showing a lid used for the tantalum container shown in FIG. 18 is a cross
  • FIG. 21 is a cross-sectional view for explaining a carburizing method in a comparative example.
  • FIG. 22 is a plan view showing the positions of the graphite blocks in the comparative example shown in FIG.
  • FIG. 23 is a diagram showing the position of the opening of the tantalum container before and after the carburizing process in the example according to the second aspect of the present invention.
  • FIG. 24 is a diagram showing the position of the opening of the tantalum container before and after the carburizing process in the comparative example.
  • FIG. 25 is a cross-sectional view for illustrating the carburizing process in the embodiment according to the second aspect of the present invention.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view for illustrating a carburizing method according to an embodiment of the first aspect of the present invention.
  • the tantalum container 1 is disposed in a chamber 3 including a chamber container 3a and a chamber lid 3b.
  • FIG. 3 is a perspective view showing the tantalum container 1.
  • FIG. 4 is a perspective view showing a tantalum lid 2 made of tantalum or a tantalum alloy used for sealing the tantalum container 1 shown in FIG.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing the tantalum container 1.
  • the tantalum container 1 has a flat surface portion 1a and a side wall portion 1b extending from the periphery of the flat surface portion 1a in a direction substantially perpendicular to the flat surface portion 1a.
  • An opening 1d of the tantalum container 1 is formed by the end 1c of the side wall 1b.
  • the “substantially vertical direction” includes a direction of 90 ° ⁇ 20 °.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing the tantalum lid 2 for sealing the opening 1d of the tantalum container 1 shown in FIG.
  • the tantalum lid 2 has a flat surface portion 2a and a side wall portion 2b extending from the flat surface portion 2a in a substantially vertical direction.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in which the tantalum lid 1 shown in FIG. 6 is placed on the end portion 1c of the side wall 1b of the tantalum vessel 1 shown in FIG. As shown in FIG. 7, the side wall 1b of the tantalum container 1 is arranged inside the side wall 2b of the tantalum lid 2, so that the tantalum lid 2 is placed on the tantalum container 1, and the tantalum container 1 is Sealed.
  • the inner diameter D inside the side wall 2b of the tantalum lid 2 shown in FIG. It is designed to be slightly larger than the outer diameter d of the tantalum container 1 shown.
  • the inner diameter D of the tantalum lid 2 is designed to be about 0.1 mm to 4 mm larger than the outer diameter d of the tantalum container 1.
  • the tantalum container 1 and the tantalum lid 2 are made of tantalum or a tantalum alloy.
  • the tantalum alloy is an alloy containing tantalum as a main component, and examples thereof include an alloy containing tantalum metal containing tungsten or niobium.
  • the tantalum container 1 and the tantalum lid 2 are manufactured by, for example, cutting, drawing from a thin plate, or sheet metal processing.
  • Cutting is a processing method in which a single piece of tantalum metal is cut into a container shape, and a high-precision shape can be manufactured. On the other hand, more metal is cut, resulting in higher material costs.
  • Drawing is a processing method in which one tantalum metal plate is deformed to form a container at a time. When a plate-shaped metal is placed between a die for manufacturing a container and a punch and the punch is pushed toward the die, the material is deformed in a form of being pushed into the die and becomes a container.
  • Sheet metal processing is a processing method for forming a container shape by cutting, bending, or welding a single metal plate. Although cost can be reduced in terms of material compared to cutting, the manufacturing time is longer than drawing.
  • each of the tantalum container 1 and the tantalum lid 2 allows carbon to permeate into the interior from the surface and diffuse the carbon into the interior.
  • a Ta 2 C layer, a TaC layer, or the like is formed.
  • a tantalum carbide layer having a high carbon content is formed on the surface, carbon diffuses into the container, so that the surface becomes a tantalum carbide layer having a high tantalum content, whereby the carbon flux can be occluded. Therefore, by performing liquid phase growth or vapor phase growth of silicon carbide in a crucible consisting of a carburized tantalum container and a tantalum lid, carbon vapor generated during the growth process can be occluded in the crucible wall.
  • a silicon atmosphere having a low impurity concentration can be formed therein, defects on the surface of the single crystal silicon carbide can be reduced, and the surface can be planarized.
  • defects on the surface of the single crystal silicon carbide substrate in such a crucible defects can be reduced and the surface can be planarized.
  • the tantalum container 1 is disposed in a chamber 3 composed of a chamber container 3a and a chamber lid 3b.
  • the tantalum container 1 is disposed in the chamber 3 so that the end 1c of the side wall 1b is downward.
  • the tantalum container 1 is supported in the chamber 3 by supporting the flat portion 1 a inside the tantalum container 1 with a plurality of support rods 6.
  • the tip end portion 6 a of the support bar 6 is formed in a tapered shape whose diameter becomes narrower as it approaches the tip.
  • the contact area between the tip portion 6a of the support bar 6 and the flat portion 1a of the tantalum container 1 can be reduced.
  • the contact area between the tip 6a of the support bar 6 and the flat portion 1a is 0.28 mm 2 .
  • the contact area of the tip 6a is preferably within a range of 0.03 to 12 mm 2 , more preferably within a range of 0.1 to 8 mm 2 , and even more preferably within a range of 0.2 to 5 mm 2 . It is.
  • the contact area of the tip portion 6a is too small, the tip portion is likely to be chipped and processing becomes difficult. Also, if the contact area of the tip 6a is too large, when the support rod 6 is made of a graphite material, the flat portion 1a and the tip 6a are fixed during the carburizing process, and the tantalum container 1 is supported by the support bar after the carburizing process. It becomes difficult to remove from 6.
  • FIG. 2 is a plan view showing an arrangement state of the support rod 6 with respect to the flat portion 1a. As shown in FIG. 2, in this embodiment, 13 support rods 6 support the planar portion 1 a inside the tantalum container 1.
  • 13 support rods 6 are arranged in a distributed manner so that the tip end portions of the support rods 6 support the flat surface portion 1a almost evenly.
  • the support bar 6 is supported by a support base 5 as shown in FIG.
  • a hole is formed in the support base 5, the lower end of the support bar 6 is inserted into the hole, and the support bar 6 is supported by the support base 5.
  • the chamber 3, that is, the chamber container 3a and the chamber lid 3b, the support rod 6 and the support base 5 are made of graphite. Therefore, in the present embodiment, the chamber 3, the support rod 6, and the support base 5 are carbon sources.
  • the chamber 3, the support rod 6, and the support base 5 can be manufactured by cutting.
  • the dimension shape of the chamber 3 is set so that the distance between the outer surface of the container 1 and the chamber 3 is substantially uniform as a whole. Thereby, the distance from the chamber which is a carbon source can be made substantially the same in the whole, and it can carburize uniformly throughout the whole.
  • a gap G is formed below the end 1c of the side wall 1b of the tantalum container 1.
  • carbon can be supplied also from the outside of the tantalum container 1 to the inside of the tantalum container 1.
  • the gap G is preferably in the range of 2 mm to 20 mm.
  • the support rod 6 and the support base 5 arranged inside the tantalum container 1 also function as a carbon source as described above. Therefore, as shown in FIG. 2, the support rods 6 are preferably arranged so as to be distributed almost evenly inside the tantalum container 1.
  • the tantalum container 1 is placed in the chamber 3, and the carburizing process can be performed by heating the chamber 3 after reducing the pressure in the chamber 3.
  • the inside of the chamber 3 can be depressurized by disposing the chamber 3 in the vacuum vessel, covering it, and exhausting the inside of the vacuum vessel.
  • the pressure in the chamber 3 is reduced to 10 Pa or less, for example.
  • the inside of the chamber 3 is heated to a predetermined temperature.
  • the heating temperature is preferably in the range of 1700 ° C. or higher, more preferably in the range of 1750 ° C. to 2500 ° C., and still more preferably in the range of 2000 ° C. to 2200 ° C.
  • the pressure in the chamber 3 is generally about 10 ⁇ 2 Pa to 10 Pa.
  • the time for maintaining the predetermined temperature is preferably in the range of 0.1 to 8 hours, more preferably in the range of 0.5 to 5 hours, and further preferably in the range of 1 to 3 hours. It is. Since the carburizing speed varies depending on the holding temperature, the holding time is adjusted according to the target carburizing thickness.
  • the temperature raising rate and the cooling rate are not particularly limited, but generally the temperature raising rate is preferably in the range of 100 ° C./hour to 2000 ° C./hour, more preferably 300 ° C./hour to 1500 ° C./hour. More preferably, it is 500 ° C./hour to 1000 ° C./hour.
  • the cooling rate is preferably in the range of 40 ° C./hour to 170 ° C./hour, more preferably 60 ° C./hour to 150 ° C./hour, and still more preferably 80 ° C./hour to 130 hours / hour. Cooling is generally performed by natural cooling.
  • the planar portion 1a of the tantalum container 1 is supported by the plurality of support rods 6 whose tip portions 6a are tapered, and the carburizing process is performed in this state. Since the planar portion 1a of the tantalum container 1 is supported by the plurality of support rods 6, the deformation of the tantalum container 1 due to the carburizing process is small, and the carburizing process can be performed with the flatness of the planar part 1a being good. Moreover, since the front-end
  • the entire surface of the tantalum container 1 can be carburized more uniformly. it can.
  • the tantalum container 1 is disposed in the chamber 3 so that the opening 1d of the tantalum container 1 is downward, and the carburizing process is performed in this state. For this reason, it can suppress that the opening part 1d of the tantalum container 1 spreads. Therefore, as shown in FIG. 7, when the tantalum lid 2 is placed on the tantalum container 1, the lid 2 can be placed in a good state, and the hermeticity in the tantalum container 1 can be kept good. For this reason, when thermal annealing or crystal growth is performed inside the tantalum container 1, the silicon vapor can be kept in a good state in the tantalum container 1, and a good crystal state can be obtained.
  • the tantalum member that can be carburized by the carburizing method according to the first aspect of the present invention is not limited to the tantalum container 1, and for example, the tantalum lid 2 can be carburized.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view showing a state where the tantalum lid 2 is carburized.
  • the flat portion 2a of the tantalum lid 2 is supported by 13 support rods 6 having tip portions 6a formed in a tapered shape, and the inside of the chamber 3 is heated in this state.
  • the surface of the tantalum lid 2 can be carburized.
  • the carburizing treatment can be performed with the flatness of the flat portion 2a being good, and the entire surface of the tantalum lid 2 is uniformly carburized. Can be processed.
  • Example 1 The tantalum container 1 was carburized using the chamber 3 shown in FIG. As the tantalum container 1, a container having an outer diameter d of 158 mm, a height h of 60 mm, and a thickness t of 3 mm shown in FIG. 3 was used. Therefore, the inner diameter of the flat portion 1a inside the tantalum container 1 is 152 mm, and the area is 18136 mm 2 .
  • 13 support rods 6 are arranged with respect to the flat portion 1a. Therefore, the flat portion 1a is supported by one support bar 6 per area 1395 mm 2 of the flat portion 1a.
  • a chamber 3 having a cylindrical space with a diameter of 210 mm and a height of 90 mm was used as the chamber 3.
  • An isotropic graphite material having a bulk density of 1.8 was used as a material for the chamber container 3a and the chamber lid 3b.
  • the support rod 6 had a diameter of 6 mm and a length of 75 mm.
  • the length of the tapered portion of the tip portion 6a is 15 mm. Further, the contact area of the tip portion 6a is 0.28 mm 2.
  • the support rod 6 and the support base 5 were formed from the same isotropic graphite material as the chamber container 3a.
  • the gap G below the end 1c of the side wall 1b of the tantalum container 1 was 13 mm.
  • FIG. 13 is a cross-sectional view showing a state when the chamber 3 is disposed in the vacuum vessel 8.
  • a heat insulating material 9 is provided in the vacuum vessel 8, and the chamber 3 is disposed in a space 13 formed in the heat insulating material 9.
  • trade name "DON-1000" manufactured by Osaka Gas Chemicals Co., Ltd., a bulk density of 0.16g / cm 3 was used.
  • This heat insulating material is a porous heat insulating material obtained by impregnating a pitch-based carbon fiber with a resin and molding, curing, carbonizing, and graphitizing.
  • a carbon heater 12 is disposed above a space 13 surrounded by the heat insulating material 9, and the carbon heater 12 is supported by a graphite electrode 11 for flowing current to the carbon heater 12. By passing an electric current through the carbon heater 12, the space 13 covered with the heat insulating material 9 can be heated.
  • the vacuum vessel 8 is formed with an exhaust port 10 for exhausting the inside of the vacuum vessel 8.
  • the exhaust port 10 is connected to a vacuum pump (not shown).
  • the inside of the chamber 3 was heated to 2150 ° C. at a temperature increase rate of 710 ° C./hour by the carbon heater 12. Carburizing treatment was performed by maintaining 2150 ° C. for 2 hours.
  • the pressure in the chamber 3 was about 0.5 to 2.0 Pa.
  • the roundness and flatness of the flat portion 1a of the tantalum container 1 before and after the carburizing treatment were measured as follows.
  • the measurement data at each of eight points set at equal intervals around the flat surface 1a, and for flatness, the measurement data at the above eight peripheral points and one point at the center are the three-dimensional measuring machine.
  • the circular shape was recognized by the average line from the measurement data at each point, and the maximum difference in deviation from the average line at each point was defined as roundness.
  • the maximum difference in deviation from the average line at each point was defined as flatness.
  • the measurement results are shown in Table 1.
  • Example 2 The tantalum container 1 was carburized in the same manner as in Example 1 except that four support rods 6 were dispersed and arranged on the flat portion 1a of the tantalum container 1 as shown in FIG.
  • the roundness and flatness of the flat portion 1a of the tantalum container 1 were measured in the same manner as described above before and after the carburizing treatment, and the measurement results are shown in Table 1.
  • Example 3 The tantalum container 1 was carburized in the same manner as in Example 1 except that 17 support rods 6 were dispersed and arranged on the flat portion 1a of the tantalum container 1 as shown in FIG.
  • the roundness and flatness of the flat portion 1a of the tantalum container 1 were measured in the same manner as described above before and after the carburizing treatment, and the measurement results are shown in Table 1.
  • FIG. 10 a cylindrical rod having a diameter of 12 mm and a length of 75 mm was used as the support rod 7 that supports the flat portion 1 a of the tantalum container 1.
  • FIG. 11 is a plan view showing an arrangement state of the support rod 7 with respect to the flat portion 1a.
  • one columnar support bar 7 was installed at the center of the flat part 1 a, and the flat part 1 a was supported by the support bar 7.
  • the support bar 7 was also made of an isotropic graphite material in the same manner as the support bar 6. Otherwise, carburizing treatment was performed in the same manner as in Example 1.
  • the tip of the support rod was fixed to the flat portion 1a of the tantalum container 1, and it was difficult to remove after the carburizing treatment. Therefore, the roundness and flatness of the flat portion 1a could not be measured.
  • the tantalum container 1 is deformed more greatly than Example 2 supported by four support rods, and the roundness and It was clear that the flatness was inferior to that of Example 2.
  • the flat portion is supported by a plurality of support rods whose tip portions are tapered, and the tantalum container.
  • the deformation of the tantalum container due to the carburizing process is small, and the carburizing process can be performed in a state where the flatness of the flat portion is good.
  • Example 1 supported by 13 support rods and Example supported by 17 support rods than Example 2 supported by 4 support rods. 3 is excellent in roundness and flatness. Therefore, it can be seen that the deformation due to the carburizing process can be further reduced by supporting with one or more support rods per area of 1500 mm 2 of the flat part, and the flatness of the flat part can be further carburized.
  • FIG. 14 is a cross-sectional view for illustrating a carburizing method according to an embodiment of the second aspect of the present invention.
  • the tantalum container 1 is disposed in a chamber 3 including a chamber container 3a and a chamber lid 3b.
  • FIG. 16 is a perspective view showing the tantalum container 1.
  • FIG. 17 is a perspective view showing a lid 2 made of tantalum or a tantalum alloy used to seal the tantalum container 1 shown in FIG.
  • FIG. 18 is a cross-sectional view showing the tantalum container 1.
  • the tantalum container 1 has a bottom surface portion 1a and side wall portions 1b extending from the periphery of the bottom surface portion 1a in a direction substantially perpendicular to the bottom surface portion 1a.
  • An opening 1d of the tantalum container 1 is formed by the end 1c of the side wall 1b.
  • the “substantially vertical direction” includes a direction of 90 ° ⁇ 20 °.
  • FIG. 19 is a cross-sectional view showing the lid 2 for sealing the opening 1d of the tantalum container 1 shown in FIG. As shown in FIG. 19, the lid 2 has an upper surface portion 2a and a side wall portion 2b extending from the upper surface portion 2a in a substantially vertical direction.
  • FIG. 20 is a cross-sectional view showing a state where the lid 2 shown in FIG. 19 is placed on the end 1c of the side wall 1b of the tantalum container 1 shown in FIG. 18 and the tantalum container 1 is sealed.
  • the side wall 1b of the tantalum container 1 is arranged inside the side wall 2b of the lid 2, so that the lid 2 is placed on the tantalum container 1 and the tantalum container 1 is sealed.
  • the inner diameter D inside the side wall 2b of the lid 2 shown in FIG. It is designed to be slightly larger than the outer diameter d of the container 1.
  • the inner diameter D of the lid 2 is designed to be about 0.1 mm to 4 mm larger than the outer diameter d of the tantalum container 1.
  • the tantalum container 1 and the lid 2 are made of tantalum or a tantalum alloy.
  • the tantalum alloy is an alloy containing tantalum as a main component, and examples thereof include an alloy containing tantalum metal containing tungsten or niobium.
  • the tantalum container 1 and the lid 2 are manufactured by, for example, cutting, drawing from a thin plate, or sheet metal processing.
  • Cutting is a processing method in which a single piece of tantalum metal is cut into a container shape, and a high-precision shape can be manufactured. On the other hand, more metal is cut, resulting in higher material costs.
  • Drawing is a processing method in which one tantalum metal plate is deformed to form a container at a time. When a plate-shaped metal is placed between a die for manufacturing a container and a punch and the punch is pushed toward the die, the material is deformed in a form of being pushed into the die and becomes a container. When the metal plate is pushed in, a wrinkle presser is installed so that the outer metal plate does not wrinkle.
  • Sheet metal processing is a processing method for forming a container shape by cutting, bending, or welding a single metal plate. Although cost can be reduced in terms of material compared to cutting, the manufacturing time is longer than drawing.
  • the tantalum container 1 is arranged in the chamber 3 composed of the chamber container 3a and the chamber lid 3b.
  • the tantalum container 1 is disposed in the chamber 3 so that the end 1c of the side wall 1b is downward.
  • the tantalum container 1 is supported in the chamber 3 by supporting the bottom surface 1 a inside the tantalum container 1 with a plurality of support rods 6.
  • FIG. 15 is a plan view showing an arrangement state of the support rods 6. As shown in FIG. 15, in the present embodiment, the bottom surface portion 1 a inside the tantalum container 1 is supported by five support rods 6.
  • the tip of the support bar 6 is formed in a tapered shape with a tapered end.
  • the contact area between the support rod 6 and the bottom surface portion 1a of the tantalum container 1 is reduced, and defects in the carburizing process due to the contact of the support rod are reduced.
  • the support bar 6 is supported by a support base 5 as shown in FIG.
  • a hole is formed in the support base 5, the lower end of the support bar 6 is inserted into the hole, and the support bar 6 is supported by the support base 5.
  • the chamber 3, that is, the chamber container 3a and the chamber lid 3b, the support rod 6 and the support base 5 are made of graphite. Therefore, in the present embodiment, the chamber 3, the support rod 6, and the support base 5 are carbon sources.
  • the chamber 3, the support rod 6, and the support base 5 can be manufactured by cutting.
  • the dimension shape of the chamber 3 is set so that the distance between the outer surface of the container 1 and the chamber 3 is substantially uniform as a whole. Thereby, the distance from the chamber which is a carbon source can be made substantially the same in the whole, and it can carburize uniformly throughout the whole.
  • a gap G is formed below the end 1c of the side wall 1b of the tantalum container 1.
  • carbon can be supplied also from the outside of the tantalum container 1 to the inside of the tantalum container 1.
  • the gap G is preferably in the range of 2 mm to 20 mm.
  • the support rod 6 and the support base 5 arranged inside the tantalum container 1 also function as a carbon source as described above. Therefore, as shown in FIG. 15, the support rods 6 are preferably arranged so as to be distributed almost evenly inside the tantalum container 1.
  • the tantalum container 1 is placed in the chamber 3, and the carburizing process can be performed by heating the chamber 3 after reducing the pressure in the chamber 3.
  • the chamber 3 can be decompressed by disposing the chamber 3 in a vacuum vessel and exhausting the vacuum vessel.
  • the pressure in the chamber 3 is reduced to 10 Pa or less, for example.
  • the inside of the chamber 3 is heated to a predetermined temperature.
  • the heating temperature is preferably in the range of 1700 ° C. or higher, more preferably in the range of 1750 ° C. to 2500 ° C., and still more preferably in the range of 2000 ° C. to 2200 ° C.
  • the pressure in the chamber 3 is generally about 10 ⁇ 2 Pa to 10 Pa.
  • the time for maintaining the predetermined temperature is preferably in the range of 0.1 to 8 hours, more preferably in the range of 0.5 to 5 hours, and further preferably in the range of 1 to 3 hours. It is. Since the carburizing speed varies depending on the holding temperature, the carburizing thickness is adjusted according to the target carburizing thickness.
  • the temperature raising rate and the cooling rate are not particularly limited, but generally the temperature raising rate is preferably in the range of 100 ° C./hour to 2000 ° C./hour, more preferably 300 ° C./hour to 1500 ° C./hour. More preferably, it is 500 ° C./hour to 1000 ° C./hour.
  • the cooling rate is preferably in the range of 40 ° C./hour to 170 ° C./hour, more preferably 60 ° C./hour to 150 ° C./hour, and still more preferably 80 ° C./hour to 130 hours / hour. Cooling is generally performed by natural cooling.
  • the tantalum container 1 is placed in the chamber 3 so that the opening 1d of the tantalum container 1 faces downward, and carburizing treatment is performed in this state, so that the opening 1d expands and is distorted. Can be suppressed.
  • the lid 2 when the lid 2 is placed on the tantalum container 1, the lid 2 can be placed in a good fitting state, and the airtightness in the tantalum container 1 is kept good. Can do.
  • the silicon vapor can be kept in a good state in the tantalum container 1, and a good crystal state can be obtained.
  • Example 4 The tantalum container 1 was carburized using the chamber 3 shown in FIG. As the tantalum container 1, a container having an outer diameter d of about 160 mm, a height h of about 60 mm, and a thickness t of about 3 mm shown in FIG. 16 was used. The tantalum container 1 was produced by processing metal tantalum into a sheet metal.
  • a chamber 3 having a cylindrical shape with a diameter of 210 mm and a height of 90 mm was used as the chamber 3.
  • An isotropic graphite material having a bulk density of 1.8 was used as a material for the chamber container 3a and the chamber lid 3b.
  • the support rod 6 was 6 mm in diameter and 75 mm in length. The length of the tapered portion at the tip is 15 mm.
  • the support rod 6 and the support base 5 were formed from the same isotropic graphite material as the chamber container 3a.
  • the gap G below the end 1c of the side wall 1b of the tantalum container 1 was 13 mm.
  • FIG. 25 is a cross-sectional view showing a state when the chamber 3 is arranged in the vacuum vessel 8.
  • a heat insulating material 9 is provided in the vacuum vessel 8, and the chamber 3 is disposed in a space 13 formed in the heat insulating material 9.
  • trade name "DON-1000" manufactured by Osaka Gas Chemicals Co., Ltd., a bulk density of 0.16g / cm 3 was used.
  • This heat insulating material is a porous heat insulating material obtained by impregnating a pitch-based carbon fiber with a resin and molding, curing, carbonizing, and graphitizing.
  • a carbon heater 12 is disposed above a space 13 surrounded by the heat insulating material 9, and the carbon heater 12 is supported by a graphite electrode 11 for flowing current to the carbon heater 12. By passing an electric current through the carbon heater 12, the space 13 covered with the heat insulating material 9 can be heated.
  • the vacuum vessel 8 is formed with an exhaust port 10 for exhausting the inside of the vacuum vessel 8.
  • the exhaust port 10 is connected to a vacuum pump (not shown).
  • the inside of the chamber 3 was heated to 2150 ° C. at a temperature increase rate of 710 ° C./hour by the carbon heater 12. Carburizing treatment was performed by maintaining 2150 ° C. for 2 hours.
  • the pressure in the chamber 3 was about 0.5 to 2.0 Pa.
  • the outer diameter d was measured as the dimension of the opening 1d of the tantalum container 1 before and after the carburizing process.
  • the dimension of the outer diameter d was measured at eight locations around the opening 1d.
  • FIG. 23 is a diagram showing the dimensions at the eight positions of the outer diameter d before and after the carburizing process.
  • A shows the dimension before the carburizing process
  • B shows the dimension after the carburizing process.
  • the outer diameter d is slightly reduced by carburizing in this example.
  • the roundness of the opening 1d was measured using a three-dimensional measuring machine. It calculated
  • the roundness of the opening 1d was 0.467 before the carburizing process and 0.575 after the carburizing process. Therefore, the difference before and after carburizing treatment was 0.108.
  • FIG. 21 is a cross-sectional view for explaining the carburizing process in this comparative example.
  • the tantalum container 1 is arranged in the chamber 3 so that the opening 1d of the tantalum container 1 is on the upper side.
  • the tantalum container 1 is placed on a graphite block 14 placed on a support base 5.
  • FIG. 22 is a plan view showing an arrangement state of the graphite block 14 with respect to the tantalum container 1.
  • the graphite block 14 is provided at each of four locations below the bottom surface portion 1 a of the tantalum container 1.
  • the graphite block 14 used was formed from the same material as the support bar 6 in Example 4.
  • the support stand 5 used the same thing as the support stand 5 of the said Example 4.
  • the tantalum container 1 was placed in the chamber 3 and carburized under the same conditions as in Example 4 above.
  • A shows the dimension of the outer diameter d before carburizing treatment
  • B shows the dimension of the outer diameter d after carburizing treatment.
  • the roundness of the opening 1d before and after the carburizing treatment was measured.
  • the roundness before the carburizing treatment was 0.593, and the roundness after the carburizing treatment was 0.715. Therefore, the difference in roundness before carburizing and after carburizing was 0.122.
  • the lid 2 can be placed on the tantalum container 1 in a good sealed state.
  • the opening 1d is slightly smaller after the carburizing process than before the carburizing process.
  • the sealing property is not impaired and the tantalum container 1 is not damaged.
  • a lid 2 can be placed.
  • the amount of expansion of the opening 1d is calculated in advance, and the lid 2 is made to fit such dimensions. It can be considered.
  • the amount of enlargement of the opening 1d varies depending on the carburizing condition and other conditions, and the amount of variation is large, even a lid manufactured in consideration of the dimensional change of the opening 1d is not necessarily tantalum. It does not necessarily match the opening 1d of the container 1 and may not provide good sealing performance. Accordingly, both the tantalum container 1 and the lid 2 become defective products, and the working efficiency is greatly reduced.
  • the tantalum container is arranged so that the opening 1d is located downward, and carburizing treatment is performed, whereby a high roundness of the opening can be obtained. Also from this fact, by carburizing the tantalum container according to the second aspect of the present invention, it is possible to maintain a good sealed state in fitting with the lid.
  • Tantalum container 1a Planar part or bottom face part of tantalum container 1b ... Side wall part of tantalum container 1c ... End part of side wall part of tantalum container 1d ... Opening part of tantalum container 2 ... Lid 2a ... Flat part or upper surface part of lid 2b ... Side wall of the lid 3 ... Chamber 3a ... Chamber container 3b ... Chamber lid 5 ... Support base 6 ... Support rod 6a ... Tip of the support rod 7 ... Support rod 8 ... Vacuum vessel made of SUS 9 ... Heat insulation material 10 ... Exhaust Mouth 11 ... Graphite electrode 12 ... Carbon heater 13 ... Space covered with heat insulating material 14 ... Graphite block

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Abstract

　浸炭処理による変形が小さく、平面部の平坦度が良好で、かつ均一に浸炭処理することができるタンタル部材の浸炭処理方法を得る。　平面部１ａを有するタンタルまたはタンタル合金からなるタンタル部材１に、該部材１の表面から内部に向って炭素を浸透させる浸炭処理を施すための方法であって、先端部６ａがテーパー状に形成された複数の支持棒６によって平面部１ａを支持することにより、タンタル部材１を、炭素源が存在するチャンバー３内に配置する工程と、チャンバー３内を減圧し加熱することにより、炭素源からの炭素をタンタル部材１の表面から浸透させて浸炭処理を施す工程とを備えることを特徴としている。

Description

タンタル部材の浸炭処理方法及びタンタル部材
　本発明は、タンタルまたはタンタル合金からなるタンタル容器及び蓋などの部材に、該部材の表面から内部に向って炭素を浸透させる浸炭処理を施すための方法及び該方法によって得られるタンタル部材に関するものである。
　炭化ケイ素（ＳｉＣ）は、ケイ素（Ｓｉ）やバリウムヒ素（ＢａＡｓ）等の従来の半導体材料では実現できない高温、高周波、耐電圧・耐環境性を実現することが可能であるとされており、次世代のパワーデバイス、高周波デバイス用半導体材料として期待されている。
　特許文献１においては、単結晶炭化ケイ素基板の表面を熱アニールする際、及び単結晶炭化ケイ素基板の上に炭化ケイ素の単結晶を結晶成長させる際に、表面に炭化タンタル層が形成されたタンタル容器をチャンバーとして用いることが提案されている。表面に炭化タンタル層を有するタンタル容器内に、単結晶炭化ケイ素基板を収納し、その表面を熱アニールしたり、あるいはその表面上に炭化ケイ素単結晶を成長させることにより、表面が平坦化され、かつ欠陥の少ない単結晶炭化ケイ素基板または炭化ケイ素単結晶層を形成することができる旨報告されている。
　特許文献２及び特許文献３においては、タンタルもしくはタンタル合金の表面に炭素を浸透させて、表面にタンタルの炭化物を形成する際、表面の自然酸化膜であるＴａ２Ｏ５を昇華させて除去させた後に、炭素を浸透させることが提案されている。
　しかしながら、タンタル容器及びタンタル蓋についての具体的な浸炭処理方法は検討されていなかった。
特開２００８－１６６９１号公報 特開２００５－６８００２号公報 特開２００８－８１３６２号公報
　本発明の第１の目的は、浸炭処理による変形が小さく、平面部の平坦度が良好で、かつ均一に浸炭処理することができるタンタル部材の浸炭処理方法、及び該方法により得られるタンタル部材、並びに該方法に用いる浸炭処理用治具を提供することにある。
　本発明の第２の目的は、開口部を有するタンタル容器を浸炭処理する際、浸炭処理によって開口部が拡がるのを抑制することができるタンタル容器の浸炭処理方法及び該方法により浸炭処理がなされたタンタル容器を提供することにある。
　本発明の第１の局面に従う浸炭処理方法は、平面部を有するタンタルまたはタンタル合金からなるタンタル部材に、該部材の表面から内部に向って炭素を浸透させる浸炭処理を施すための方法であって、先端部がテーパー状に形成された複数の支持棒によって平面部を支持することにより、タンタル部材を、炭素源が存在するチャンバー内に配置する工程と、チャンバー内を減圧し加熱することにより、炭素源からの炭素をタンタル部材の表面から浸透させて浸炭処理を施す工程とを備えることを特徴としている。
　本発明の第１の局面においては、先端部がテーパー状に形成された複数の支持棒によって平面部を支持し、浸炭処理している。支持棒の先端部がテーパー状に形成されているので、支持棒の先端部と平面部とが接触する面積を小さくすることができる。支持棒の先端部が接する部分においては、炭素源からの炭素が浸炭しにくくなったり、後述するように、支持棒が炭素源である場合には、平面部と固着してしまう場合があるが、本発明の第１の局面においては支持棒の先端部がテーパー状に形成されており、接触面積を小さくすることができるので、均一に浸炭処理することができる。
　また、本発明の第１の局面においては、複数の支持棒によって平面部を支持しているので、浸炭処理によるタンタル部材の変形を小さくすることができ、平面部の平坦度を良好に保った状態で浸炭処理することができる。
　本発明の第１の局面においては、平面部全体を各支持棒の先端部がほぼ均等に支持するように、複数の支持棒が分散して配置されていることが好ましい。これにより、浸炭処理による変形をさらに小さくすることができ、平面部の平坦度をさらに良好な状態にすることができる。
　本発明の第１の局面においては、複数の支持棒が分散して配置されていることが好ましく、平面部の面積１５００ｍｍ２あたり１本以上の支持棒によって平面部が支持されていることが好ましい。これにより、浸炭処理による変形をさらに小さくすることができ、平面部の平坦度をさらに良好な状態にすることができる。
　本発明の第１の局面においては、支持棒が炭素源として機能することが好ましい。支持棒が炭素源として機能することにより、タンタル部材の近くに炭素源を配置することができ、タンタル部材の表面に炭素を充分供給することができ、より均一な浸炭処理を行うことができる。
　また、本発明の第１の局面において、支持棒の先端部は、先に近づくにつれて径が細くなるテーパー状に形成されている。このため、タンタル部材の平面部と接する支持棒の先端部の面積を小さくすることができる。支持棒が炭素源である場合、タンタル部材の平面部と接する面積が大きくなると、タンタル部材の平面部と支持棒の先端部が固着してしまい、浸炭処理後にタンタル部材の平面部から支持棒の先端部を取り外すことができなくなる場合がある。また、支持棒の先端部が接する部分において炭素が高濃度となり、均一な浸炭処理ができなくなる場合がある。
　また、本発明の第１の局面においては、チャンバーが炭素源として機能することが好ましい。チャンバーは、タンタル部材の周りを覆っているので、チャンバーが炭素源として機能することにより、タンタル部材の表面全体を均一に浸炭処理することができる。
　支持棒やチャンバーを炭素源として機能させる場合、炭素源としては、例えば黒鉛を用いることができる。チャンバーや支持棒は高温で熱処理されるものであるので、黒鉛としては、等方性黒鉛材が好ましく用いられる。また、ハロゲン含有ガスなどを使用して高純度処理された高純度黒鉛材がさらに好ましい。黒鉛材中の灰分含有量は２０ｐｐｍ以下が好ましく、さらに好ましくは５ｐｐｍ以下である。かさ密度は１．６以上が好ましく、１．８以上がさらに好ましい。かさ密度の上限値としては、例えば、２．１である。等方性黒鉛材の製造方法の一例としては、石油系、石炭系のコークスをフィラーとして数μｍ～数十μｍに粉砕し、これにピッチ、コールタール、コールタールピッチなどの結合材を添加して混練する。得られた混練物を、原料フィラーの粉砕粒径よりも大きくなるように数μｍ～数十μｍに粉砕して粉砕物を得る。また、粒子径が１００μmを超えるような粒子は除去しておくことが好ましい。上記粉砕物を成形、焼成、黒鉛化して黒鉛材料を得る。その後、ハロゲン含有ガスなどを使用して高純度化処理を行い、黒鉛材料中の灰分量を２０ｐｐｍ以下にすることで、黒鉛材料からタンタル部材への不純物元素の混入を抑制することができる。
　本発明の第１の局面においては、支持棒の基部が支持台に支持されることによって、複数の支持棒が支持台の上に設けられており、支持台がチャンバー内の底面部上に載置されることにより、複数の支持棒がチャンバー内に配置されていることが好ましい。この場合、支持台が炭素源として機能してもよい。炭素源としては、上記と同様に等方性黒鉛材などの黒鉛が好ましく用いられる。
　本発明の第１の局面におけるタンタル部材は、平面部と、平面部から略垂直方向に伸びる側壁部とを有し、側壁部の端部によって開口部が形成されているタンタル容器であることが好ましい。タンタル容器を本発明の第１の局面の浸炭処理方法により浸炭処理する場合、タンタル容器の開口部が下方になるように、チャンバー内にタンタル容器を配置し、タンタル容器の内側の平面部を複数の支持棒で支持することが好ましい。
　本発明の第１の局面のタンタル部材は、上記本発明の第１の局面の方法により浸炭処理がなされたことを特徴としている。
　本発明の第１の局面の浸炭処理用治具は、上記本発明の第１の局面の浸炭処理方法に用いる治具であって、複数の支持棒と、複数の支持棒を支持する支持台とを有し、支持棒及び支持台が黒鉛材料から形成されていることを特徴としている。黒鉛材料としては、上述のように、等方性黒鉛材を用いることが好ましい。
　本発明の第２の局面に従う浸炭処理方法は、底面部と、底面部から略垂直方向に延びる側壁部とを有し、側壁部の端部によって開口部が形成されているタンタルまたはタンタル合金からなるタンタル容器に、該容器の表面から内部に向って炭素を浸透させる浸炭処理を施すための方法であって、炭素源が存在するチャンバー内に、タンタル容器の開口部が下方になるように、タンタル容器を配置する工程と、チャンバー内を減圧し加熱することにより、炭素源からの炭素をタンタル容器の表面から浸透させて浸炭処理を施す工程とを備えることを特徴としている。
　本発明の第２の局面においては、タンタル容器の開口部が下方になるようにタンタル容器をチャンバー内に配置し、浸炭処理を施している。タンタル容器の開口部が上方になるようにタンタル容器をチャンバー内に配置して、浸炭処理を行う場合には、浸炭処理の進行とともに、タンタル容器の開口部が徐々に拡がり、タンタル容器の上に載せるタンタルまたはタンタル合金からなる蓋を閉めることができないという不具合を生じる。タンタル容器と蓋との嵌合状態が悪いと、タンタル容器内の密閉性を保つことができないため、炭化ケイ素（ＳｉＣ）単結晶と、ケイ素（Ｓｉ）ガスを反応させる際に、ケイ素ガスの漏れなどが生じ、炭化ケイ素単結晶を良好な状態で処理または成長させることができないという問題を生じる。
　本発明の第２の局面によれば、開口部を有するタンタル容器に浸炭処理する際、浸炭処理によって開口部が大きく拡がるのを抑制することができる。また、開口部の歪みを抑制することができる。このため、タンタル容器の上に載せる蓋との嵌合状態を良好に保つことができ、容器内の密閉性を高めることができる。
　本発明の第２の局面においては、タンタル容器の側壁部端部の下方に隙間が形成されるように、タンタル容器がチャンバー内に配置されることが好ましい。タンタル容器の側壁部端部の下方に隙間を形成することにより、タンタル容器内側にも、炭素源からの炭素を十分に供給することができる。このため、タンタル容器内側における浸炭処理を、タンタル容器外側と同様に行うことができ、タンタル容器表面全体において、均一に浸炭処理を行うことができる。
　タンタル容器の側壁部端部の下方の隙間は、タンタル容器の大きさや形状にもよるが、好ましくは１ｍｍ以上であり、さらに好ましくは２ｍｍ～２０ｍｍの範囲である。隙間が小さすぎると、タンタル容器内側に十分に炭素を供給することができず、タンタル容器内側の浸炭処理が不十分になる場合がある。また、隙間が上記の上限値より大きくなりすぎても、隙間をそれ以上に大きくすることによる効果が得られない。
　本発明の第２の局面において、タンタル容器をチャンバー内で支持する方法としては、タンタル容器内側の底面部を支持する方法が挙げられる。具体的には、チャンバー内に設けられた支持部材によって、タンタル容器内側の底面部を支持することができる。
　本発明の第２の局面においては、チャンバー内に炭素源が存在しているが、チャンバー自体が炭素源として機能してもよい。炭素源としては、例えば、黒鉛を用いることができる。従って、少なくとも表面が黒鉛から形成されたチャンバーを用いることにより、炭素源として機能させることができる。チャンバーは高温で熱処理されるものであるので、黒鉛としては、等方性黒鉛材が好ましく用いられる。また、ハロゲン含有ガスなどを使用して高純度処理された高純度黒鉛材がさらに好ましい。黒鉛材中の灰分含有量は２０ｐｐｍ以下が好ましく、さらに好ましくは５ｐｐｍ以下である。かさ密度は１．６以上が好ましく、１．８以上がさらに好ましい。かさ密度の上限値としては、例えば、２．１である。等方性黒鉛材の製造方法の一例としては、石油系、石炭系のコークスをフィラーとして数μｍ～数十μｍに粉砕し、これにピッチ、コールタール、コールタールピッチなどの結合材を添加して混練する。得られた混練物を、原料フィラーの粉砕粒径よりも大きくなるように数μｍ～数十μｍに粉砕して粉砕物を得る。また、粒子径が１００μmを超えるような粒子は除去しておくことが好ましい。上記粉砕物を成形、焼成、黒鉛化して黒鉛材料を得る。その後、ハロゲン含有ガスなどを使用して高純度化処理を行い、黒鉛材料中の灰分量を２０ｐｐｍ以下にすることで、黒鉛材料からタンタル容器への不純物元素の混入を抑制することが出来る。
　また、本発明の第２の局面において、タンタル容器内側に位置するように設けられ、かつタンタル容器内側の底面部を支持する支持部材が、炭素源として機能してもよい。タンタル容器内側に設けられる支持部材が、炭素源として機能することにより、タンタル容器内側に炭素を十分供給することができ、タンタル容器内側の表面を、タンタル容器外側の表面と同様に均一に浸炭処理することができる。
　炭素源として機能する支持部材としては、上記黒鉛材料から形成された支持部材が挙げられる。
　本発明のタンタル容器は、上記本発明の第２の局面の方法により、浸炭処理がなされたことを特徴としている。
　上記本発明の第２の局面の方法によれば、浸炭処理によって、タンタル容器の開口部が拡がるのを抑制し、また、開口部の歪みを抑制することができるので、本発明のタンタル容器は、蓋との嵌合状態が良好であり、高い密閉性を有するタンタル容器とすることができる。
　本発明の第１の局面によれば、浸炭処理によるタンタル部材の変形が小さく、平面部の平坦度が良好で、かつ均一に浸炭処理することができる。
　本発明の第２の局面によれば、開口部を有するタンタル容器を浸炭処理する際、浸炭処理によって開口部が拡がるのを抑制し、また、開口部の歪みを抑制することができる。このため、蓋をタンタル容器に嵌め合せた際の密閉性を高めることができる。
図１は、本発明の第１の局面に従う一実施形態の浸炭処理方法を説明するための断面図である。 図２は、図１に示す実施形態における支持棒の位置を示す平面図である。 図３は、図１に示す実施形態において用いるタンタル容器を示す斜視図である。 図４は、図３に示すタンタル容器に用いられるタンタル蓋を示す斜視図である。 図５は、図３に示すタンタル容器の断面図である。 図６は、図４に示すタンタル蓋の断面図である。 図７は、図５に示すタンタル容器に図６に示すタンタル蓋を取り付けた状態を示す断面図である。 図８は、本発明の第１の局面に従う他の実施形態における支持棒の位置を示す平面図である。 図９は、本発明の第１の局面に従うさらに他の実施形態における支持棒の位置を示す平面図である。 図１０は、比較例における浸炭処理方法を説明するための断面図である。 図１１は、図１０に示す比較例における支持棒の位置を示す平面図である。 図１２は、本発明の第１の局面に従うさらに他の実施形態におけるタンタル蓋の浸炭処理方法を示す断面図である。 図１３は、本発明の第１の局面に従う実施例における浸炭処理を説明するための断面図である。 図１４は、本発明の第２の局面に従う一実施形態の浸炭処理方法を説明するための断面図である。 図１５は、図１４に示す実施形態における支持棒の位置を示す平面図である。 図１６は、図１４に示す実施形態において用いているタンタル容器を示す斜視図である。 図１７は、図１６に示すタンタル容器に用いられる蓋を示す斜視図である。 図１８は、図１６に示すタンタル容器の断面図である。 図１９は、図１７に示す蓋の断面図である。 図２０は、図１８に示すタンタル容器に図１９に示す蓋を取り付けた状態を示す断面図である。 図２１は、比較例における浸炭処理方法を説明するための断面図である。 図２２は、図２１に示す比較例における黒鉛ブロックの位置を示す平面図である。 図２３は、本発明の第２の局面に従う実施例における浸炭処理前と浸炭処理後のタンタル容器の開口部の位置を示す図である。 図２４は、比較例における浸炭処理前及び浸炭処理後のタンタル容器の開口部の位置を示す図である。 図２５は、本発明の第２の局面に従う実施例における浸炭処理を説明するための断面図である。
　＜本発明の第１の局面＞
　以下、本発明の第１の局面を具体的な実施形態により説明するが、本発明の第１の局面は以下の実施形態に限定されるものではない。
　図１は、本発明の第１の局面に従う一実施形態の浸炭処理方法を説明するための断面図である。
　タンタル容器１は、チャンバー容器３ａ及びチャンバー蓋３ｂからなるチャンバー３内に配置されている。
　図３は、タンタル容器１を示す斜視図である。図４は、図３に示すタンタル容器１を密閉するのに用いるタンタルまたはタンタル合金からなるタンタル蓋２を示す斜視図である。
　図５は、タンタル容器１を示す断面図である。図５に示すように、タンタル容器１は、平面部１ａと、平面部１ａの周縁から平面部１ａに対して略垂直方向に延びる側壁部１ｂを有している。側壁部１ｂの端部１ｃによって、タンタル容器１の開口部１ｄが形成されている。ここで、「略垂直方向」には、９０°±２０°の方向が含まれる。
　図６は、図５に示すタンタル容器１の開口部１ｄを密閉するためのタンタル蓋２を示す断面図である。図６に示すように、タンタル蓋２は、平面部２ａと、平面部２ａから略垂直方向に延びる側壁部２ｂを有している。
　図７は、図５に示すタンタル容器１の側壁部１ｂの端部１ｃの上に、図６に示すタンタル蓋２を載せ、タンタル容器１を密閉した状態を示す断面図である。図７に示すように、タンタル容器１の側壁部１ｂが、タンタル蓋２の側壁部２ｂの内側に配置されることにより、タンタル容器１の上に、タンタル蓋２が載せられ、タンタル容器１が密閉される。
　図７に示すように、タンタル容器１の側壁部１ｂは、タンタル蓋２の側壁部２ｂの内側に位置するので、図６に示すタンタル蓋２の側壁部２ｂ内側の内径Ｄは、図５に示すタンタル容器１の外径ｄより若干大きくなるように設計される。通常、タンタル蓋２の内径Ｄは、タンタル容器１の外径ｄより０．１ｍｍ～４ｍｍ程度大きくなるように設計される。
　タンタル容器１及びタンタル蓋２は、タンタルまたはタンタル合金から形成される。タンタル合金は、タンタルを主成分として含む合金であり、例えば、タンタル金属にタングステン又はニオブなどを含有した合金などが挙げられる。
　タンタル容器１及びタンタル蓋２は、例えば、切削加工、薄板からの絞り加工、板金加工などから製造される。切削加工は、１個のタンタル金属の塊を削り出して容器状にする加工方法であり、高精度の形状を製作できる一方、切削される金属が多くなり材料コストは高くなる。絞り加工は、１枚のタンタル金属板を変形させて一度に容器状にする加工方法である。容器製造用のダイとパンチの間に板状の金属を載置してパンチをダイに向かって押し込むと、材料はダイに押し込まれる形で変形して容器状となる。金属板が押し込まれていく時、外側にある金属板がシワにならないようにシワ押さえを設置しておく。切削加工に比べて短時間で仕上がり、削り屑の発生が少ないのでコスト等を抑えることができる。板金加工は、１枚の金属板を切る、曲げる、溶接することにより容器形状にする加工方法である。切削加工よりも材料面でコストを抑えることはできるが、絞り加工よりも製造時間は長くなる。
　タンタル容器１及びタンタル蓋２をそれぞれ浸炭処理することにより、その表面から炭素を内部に浸透させ、炭素を内部に拡散することができる。炭素が浸透することにより、Ｔａ２Ｃ層、ＴａＣ層などが形成される。表面に炭素含有率の高いタンタルカーバイド層が形成されるが、炭素が容器内部へ拡散することにより、表面はタンタル含有率の高いタンタルカーバイド層となることで、カーボンフラックスを吸蔵させることができる。従って、浸炭処理したタンタル容器及びタンタル蓋からなるルツボ内で、炭化ケイ素の液相成長や気相成長を行うことにより、成長プロセス時に発生した炭素蒸気をルツボ壁内で吸蔵することができ、ルツボ内に不純物濃度の低いシリコン雰囲気を形成することができ、単結晶炭化ケイ素表面の欠陥を低減でき、表面を平坦化することができる。また、このようなルツボ内で単結晶炭化ケイ素基板の表面を熱アニーリングすることにより、欠陥を低減させ、表面を平坦化させることができる。
　図１に戻り、本実施形態の浸炭処理について説明する。
　図１に示すように、チャンバー容器３ａ及びチャンバー蓋３ｂからなるチャンバー３内に、上記のタンタル容器１が配置されている。タンタル容器１は、チャンバー３内において、側壁部１ｂの端部１ｃが下方になるように配置されている。タンタル容器１は、タンタル容器１内側の平面部１ａを、複数の支持棒６で支持することにより、チャンバー３内で支持されている。
　図１に示すように、支持棒６の先端部６ａは、先に近づくにつれて径が細くなるテーパー状に形成されている。先端部６ａをテーパー状に形成することにより、支持棒６の先端部６ａとタンタル容器１の平面部１ａとの接触面積を小さくすることができる。本実施形態における支持棒６の先端部６ａと平面部１ａとの接触面積は０．２８ｍｍ２である。先端部６ａの接触面積は、０．０３～１２ｍｍ２の範囲内であることが好ましく、さらに好ましくは０．１～８ｍｍ２の範囲内であり、さらに好ましくは０．２～５ｍｍ２の範囲内である。先端部６ａの接触面積が小さすぎると、先端部が欠けやすくなり、加工が困難となる。また、先端部６ａの接触面積が大きすぎると、支持棒６を黒鉛材料から形成した場合、浸炭処理の際に平面部１ａと先端部６ａとが固着し、浸炭処理後にタンタル容器１を支持棒６から取り外すのが困難になる。
　図２は支持棒６の平面部１ａに対する配置状態を示す平面図である。図２に示すように、本実施形態においては、１３本の支持棒６で、タンタル容器１の内側の平面部１ａを支持している。
　図２に示すように、支持棒６の先端部が平面部１ａをほぼ均等に支持するように、１３本の支持棒６が分散して配置されている。
　支持棒６は、図１に示すように、支持台５によって支持されている。本実施形態では、支持台５に孔を空けることにより、この孔に支持棒６の下方端を挿入し、支持棒６を支持台５によって支持している。
　本実施形態においては、チャンバー３、すなわちチャンバー容器３ａ及びチャンバー蓋３ｂ、並びに支持棒６及び支持台５が黒鉛から形成されている。従って、本実施形態においては、チャンバー３、支持棒６及び支持台５が炭素源となっている。チャンバー３、支持棒６、及び支持台５は、切削加工により作製することができる。
　容器１の外側表面と、チャンバー３との間の間隔は、全体においてほぼ均等になるように、チャンバー３の寸法形状が設定されていることが好ましい。これにより、炭素源であるチャンバーからの距離を全体においてほぼ同程度とすることができ、全体にわたって均等に浸炭処理することができる。
　また、タンタル容器１の側壁部１ｂの端部１ｃの下方には、隙間Ｇが形成されていることが好ましい。隙間Ｇが形成されることにより、タンタル容器１の内側にも、タンタル容器１の外側から炭素を供給することができる。隙間Ｇは、上述のように、２ｍｍ～２０ｍｍの範囲であることが好ましい。
　また、タンタル容器１の内側に配置される支持棒６及び支持台５は、上述のように、炭素源としても機能する。従って、支持棒６の配置は、図２に示すように、タンタル容器１の内側においてほぼ均等に分散するように配置することが好ましい。
　上記のようにして、タンタル容器１をチャンバー３内に配置し、チャンバー３内を減圧した後、加熱することにより、浸炭処理を施すことができる。
　例えば、真空容器内にチャンバー３を配置して蓋をし、真空容器内を排気することにより、チャンバー３内を減圧することができる。チャンバー３内の圧力は、例えば、１０Ｐａ以下に減圧される。
　次に、チャンバー３内を所定の温度に加熱する。加熱温度としては、１７００℃以上の範囲が好ましく、さらに好ましくは、１７５０℃～２５００℃の範囲であり、さらに好ましくは、２０００℃～２２００℃の範囲である。このような温度に加熱することにより、チャンバー３内は、一般に１０－２Ｐａ～１０Ｐａ程度の圧力となる。
　上記所定の温度を保持する時間は、０．１～８時間の範囲であることが好ましく、さらに好ましくは、０．５～５時間の範囲であり、さらに好ましくは、１時間～３時間の範囲である。保持温度により浸炭速度が変わるため、目標とする浸炭厚みにより保持時間を調整する。
　昇温速度及び冷却速度は、特に限定されるものではないが、一般に昇温速度は、１００℃／時間～２０００℃／時間の範囲が好ましく、さらに好ましくは、３００℃／時間～１５００℃／時間であり、さらに好ましくは、５００℃／時間～１０００℃／時間である。冷却速度は４０℃／時間～１７０℃／時間の範囲が好ましく、さらに好ましくは、６０℃／時間～１５０℃／時間、さらに好ましくは８０℃／時間～１３０時間／時間である。冷却は、一般には自然冷却で行われる。
　以上のように、本実施形態においては、タンタル容器１の平面部１ａを、先端部６ａがテーパー状である複数の支持棒６によって支持し、この状態で浸炭処理を行っている。タンタル容器１の平面部１ａを複数の支持棒６に支持しているので、浸炭処理によるタンタル容器１の変形が小さく、平面部１ａの平坦度が良好な状態で浸炭処理を行うことができる。また、支持棒６の先端部６ａがテーパー状に形成されているので、タンタル容器１の表面全体を均一に浸炭処理することができる。
　また、本実施形態においては、チャンバー３、支持棒６及び支持台５が黒鉛材料から形成されており、炭素源となっているので、タンタル容器１の表面全体をより均一に浸炭処理することができる。
　また、本実施形態においては、タンタル容器１の開口部１ｄが下方になるように、タンタル容器１をチャンバー３内に配置し、この状態で浸炭処理を行っている。このため、タンタル容器１の開口部１ｄが広がるのを抑制することができる。従って、図７に示すように、タンタル容器１の上にタンタル蓋２を載せる際に、良好な状態で蓋２を載せることができ、タンタル容器１内の密閉性を良好に保つことができる。このため、タンタル容器１内部で熱アニーニングや結晶成長をさせた場合に、タンタル容器１内にシリコン蒸気を良好な状態で保つことができ、良好な結晶状態を得ることができる。
　本発明の第１の局面の浸炭処理方法で浸炭処理することができるタンタル部材は、タンタル容器１に限定されるものではなく、例えばタンタル蓋２を浸炭処理することができる。
　図１２は、タンタル蓋２を浸炭処理する状態を示す断面図である。図１に示す実施形態と同様に、タンタル蓋２の平面部２ａを、先端部６ａがテーパー状に形成された１３本の支持棒６により支持し、この状態でチャンバー３内を加熱することにより、タンタル蓋２の表面を浸炭処理することができる。
　タンタル蓋２を浸炭処理する場合においても、浸炭処理によるタンタル蓋２の変形が小さく、平面部２ａの平坦度が良好な状態で浸炭処理することができ、タンタル蓋２の表面全体を均一に浸炭処理することができる。
　［実施例］
　以下、本発明の第１の局面を具体的な実施例によりさらに詳細に説明するが、本発明の第１の局面は以下の実施例に限定されるものではない。
　（実施例１）
　図１に示すチャンバー３を用いて、タンタル容器１を浸炭処理した。タンタル容器１としては、図３に示す外径ｄが１５８ｍｍ、高さｈが６０ｍｍ、厚みｔが３ｍｍのものを用いた。従って、タンタル容器１の内側の平面部１ａの内径は１５２ｍｍであり、面積は１８１３６ｍｍ２である。
　本実施例においては、図２に示すように平面部１ａに対し１３本の支持棒６を配置している。従って、平面部１ａの面積１３９５ｍｍ２あたり１本の支持棒６によって平面部１ａが支持されている。
　チャンバー３としては、その内部が、直径２１０ｍｍ、高さ９０ｍｍの円柱状の空間となるチャンバー３を用いた。チャンバー容器３ａ及びチャンバー蓋３ｂの材質としては、かさ密度が１．８の等方性黒鉛材を用いた。
　支持棒６は、直径６ｍｍ、長さ７５ｍｍのものを用いた。先端部６ａのテーパー状部分の長さは、１５ｍｍである。また、先端部６ａの接触面積は０．２８ｍｍ２である。支持棒６及び支持台５は、チャンバー容器３ａと同じ等方性黒鉛材から形成した。
　タンタル容器１の側壁部１ｂの端部１ｃの下方の隙間Ｇは、１３ｍｍであった。
　このようにしてタンタル容器１をチャンバー３内に配置し、そのチャンバー３を、φ８００ｍｍ×８００ｍｍのＳＵＳ製の真空容器８内に配置した。図１３は、チャンバー３を真空容器８に配置したときの状態を示す断面図である。図１３に示すように、真空容器８内には、断熱材９が設けられており、断熱材９内に形成された空間１３内にチャンバー３が配置されている。断熱材９としては、商品名「ＤＯＮ－１０００」（大阪ガスケミカル社製、かさ密度０．１６ｇ／ｃｍ３）を用いた。この断熱材は、ピッチ系炭素繊維に樹脂を含浸させて成形、硬化、炭化、黒鉛化処理したものであり、多孔質の断熱材である。
　断熱材９によって囲まれた空間１３の上方には、カーボンヒーター１２が配置されており、カーボンヒーター１２は、カーボンヒーター１２に電流を流すための黒鉛電極１１によって支持されている。カーボンヒーター１２に電流を流すことにより、断熱材９によって覆われた空間１３内を加熱することができる。
　真空容器８には、真空容器８内を排気するための排気口１０が形成されている。排気口１０は、図示しない真空ポンプに接続されている。
　真空容器８内を排気してチャンバー３内を０．１Ｐａ以下となるように減圧した後、カーボンヒーター１２により７１０℃／時間の昇温速度で２１５０℃までチャンバー３内を加熱した。２１５０℃を２時間保持し、浸炭処理を行った。チャンバー３内は、０．５～２．０Ｐａ程度の圧力であった。
　浸炭処理後、自然冷却で室温まで冷却した。冷却時間は約１５時間であった。
　浸炭処理前と浸炭処理後における、タンタル容器１の平面部１ａの真円度及び平坦度を以下のようにして測定した。
　真円度については、平面部１ａの周囲において等間隔に設定した８箇所の各点における測定データを、平坦度については、上記周囲の８箇所と中心における１箇所における測定データを三次元測定機を用いて測定し、最終的に決定した平均要素形状線からの偏差によって求めた。具体的には、真円度については、各点の測定データから平均線にて円面状を認識し、各点での平均線からの偏差の最大差を真円度とした。また、平坦度については、各点の測定データから平均線を認識し、各点での平均線からの偏差の最大差を平坦度とした。測定結果を表１に示す。
　（実施例２）
　タンタル容器１の平面部１ａに対し、図８に示すように支持棒６を４本分散して配置する以外には、実施例１と同様にしてタンタル容器１を浸炭処理した。
　浸炭処理前と浸炭処理後において、タンタル容器１の平面部１ａの真円度及び平坦度を上記と同様に測定し、測定結果を表１に示した。
　（実施例３）
　タンタル容器１の平面部１ａに対し、図９に示すように支持棒６を１７本分散して配置する以外には、実施例１と同様にしてタンタル容器１を浸炭処理した。
　浸炭処理前と浸炭処理後において、タンタル容器１の平面部１ａの真円度及び平坦度を上記と同様に測定し、測定結果を表１に示した。
　（比較例１）
　図１０に示すように、タンタル容器１の平面部１ａを支持する支持棒７として、直径１２ｍｍ、長さ７５ｍｍの円柱状のものを用いた。図１１は、支持棒７の平面部１ａに対する配置状態を示す平面図である。図１１に示すように、平面部１ａの中心部に１本の円柱状の支持棒７を設置し、支持棒７により平面部１ａを支持した。なお、この支持棒７も支持棒６と同様に等方性黒鉛材から形成した。それ以外は、実施例１と同様にして浸炭処理を行った。
　浸炭処理により、支持棒の先端部は、タンタル容器１の平面部１ａと固着し、浸炭処理後取り外すことが困難であった。そのため、平面部１ａの真円度及び平坦度は測定することができなかったが、タンタル容器１は、４本の支持棒で支持した実施例２よりも大きく変形しており、真円度及び平坦度が実施例２よりも劣っていることは明らかであった。
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　上記の実施例１～３及び比較例１の結果から明らかなように、本発明の第１の局面に従い、先端部がテーパー状に形成された複数の支持棒により平面部を支持してタンタル容器を浸炭処理することにより、浸炭処理によるタンタル容器の変形が小さく、平面部の平坦度が良好な状態で浸炭処理をすることができる。
　また、表１に示す結果から明らかなように、４本の支持棒で支持した実施例２よりも、１３本の支持棒で支持した実施例１、及び１７本の支持棒で支持した実施例３が、真円度及び平坦度において優れていることがわかる。従って、平面部の面積１５００ｍｍ２あたり１本以上の支持棒で支持することにより、浸炭処理による変形をさらに小さくすることができ、平面部の平坦度をさらに良好な状態で浸炭処理できることがわかる。
　＜本発明の第２の局面＞
　以下、本発明の第２の局面を具体的な実施形態により説明するが、本発明の第２の局面は以下の実施形態に限定されるものではない。
　図１４は、本発明の第２の局面に従う一実施形態の浸炭処理方法を説明するための断面図である。
　タンタル容器１は、チャンバー容器３ａ及びチャンバー蓋３ｂからなるチャンバー３内に配置されている。
　図１６は、タンタル容器１を示す斜視図である。図１７は、図１６に示すタンタル容器１を密閉するのに用いるタンタルまたはタンタル合金からなる蓋２を示す斜視図である。
　図１８は、タンタル容器１を示す断面図である。図１８に示すように、タンタル容器１は、底面部１ａと、底面部１ａの周縁から底面部１ａに対して略垂直方向に延びる側壁部１ｂを有している。側壁部１ｂの端部１ｃによって、タンタル容器１の開口部１ｄが形成されている。ここで、「略垂直方向」には、９０°±２０°の方向が含まれる。
　図１９は、図１８に示すタンタル容器１の開口部１ｄを密閉するための蓋２を示す断面図である。図１９に示すように、蓋２は、上面部２ａと、上面部２ａから略垂直方向に延びる側壁部２ｂを有している。
　図２０は、図１８に示すタンタル容器１の側壁部１ｂの端部１ｃの上に、図１９に示す蓋２を載せ、タンタル容器１を密閉した状態を示す断面図である。図２０に示すように、タンタル容器１の側壁部１ｂが、蓋２の側壁部２ｂの内側に配置されることにより、タンタル容器１の上に、蓋２が載せられ、タンタル容器１が密閉される。
　図２０に示すように、タンタル容器１の側壁部１ｂは、蓋２の側壁部２ｂの内側に位置するので、図１９に示す蓋２の側壁部２ｂ内側の内径Ｄは、図１８に示すタンタル容器１の外径ｄより若干大きくなるように設計される。通常、蓋２の内径Ｄは、タンタル容器１の外径ｄより０．１ｍｍ～４ｍｍ程度大きくなるように設計される。
　タンタル容器１及び蓋２は、タンタルまたはタンタル合金から形成される。タンタル合金は、タンタルを主成分として含む合金であり、例えば、タンタル金属にタングステン又はニオブなどを含有した合金などが挙げられる。
　タンタル容器１及び蓋２は、例えば、切削加工、薄板からの絞り加工、板金加工などから製造される。切削加工は、１個のタンタル金属の塊を削り出して容器状にする加工方法であり、高精度の形状を製作できる一方、切削される金属が多くなり材料コストは高くなる。絞り加工は、１枚のタンタル金属板を変形させて一度に容器状にする加工方法である。容器製造用のダイとパンチの間に板状の金属を載置してパンチをダイに向かって押し込むと、材料はダイに押し込まれる形で変形して容器状となる。金属板が押し込まれていく時、外側にある金属板がシワにならないようにシワ押さえを設置しておく。切削加工に比べて短時間で仕上がり、削り屑の発生が少ないのでコスト等を抑えることができる。板金加工は、１枚の金属板を切る、曲げる、溶接することにより容器形状にする加工方法である。切削加工よりも材料面でコストを抑えることはできるが、絞り加工よりも製造時間は長くなる。
　タンタル容器１及び蓋２をそれぞれ浸炭処理することにより、その表面から炭素を内部に浸透させ、炭素を内部に拡散することができる。炭素が浸透することにより、Ｔａ２Ｃ層、ＴａＣ層などが形成される。
　表面にカーボン含有率の高いタンタルカーバイド層が形成されるが、炭素が容器内部に拡散することにより、表面はタンタル含有率の高いタンタルカーバイド層となることで、カーボンフラックスを吸蔵させることができる。
　従って、浸炭処理したタンタル容器及び蓋からなるルツボ内で、炭化ケイ素の液相成長や気相成長を行うことにより、成長プロセス時に発生した炭素蒸気をルツボ壁内で吸蔵することができ、ルツボ内に不純物濃度の低いシリコン雰囲気を形成することができ、単結晶炭化ケイ素表面の欠陥を低減でき、表面を平坦化することができる。また、このようなルツボ内で単結晶炭化ケイ素基板の表面を熱アニーリングすることにより、欠陥を低減させ、表面を平坦化させることができる。
　図１４に戻り、本実施形態の浸炭処理について説明する。
　図１４に示すように、チャンバー容器３ａ及びチャンバー蓋３ｂからなるチャンバー３内に、上記のタンタル容器１が配置されている。タンタル容器１は、チャンバー３内において、側壁部１ｂの端部１ｃが下方になるように配置されている。タンタル容器１は、タンタル容器１内側の底面部１ａを、複数の支持棒６で支持することにより、チャンバー３内で支持されている。
　図１５は、支持棒６の配置状態を示す平面図である。図１５に示すように、本実施形態においては、５本の支持棒６で、タンタル容器１の内側の底面部１ａを支持している。
　図１４に示すように、支持棒６の先端は、先が細くなるテーパー状に形成されている。テーパー形状に形成することにより、支持棒６と、タンタル容器１の底面部１ａとの接触面積を小さくし、支持棒の接触による浸炭処理の不具合を低減している。
　支持棒６は、図１４に示すように、支持台５によって支持されている。本実施形態では、支持台５に孔を空けることにより、この孔に支持棒６の下方端を挿入し、支持棒６を支持台５によって支持している。
　本実施形態においては、チャンバー３、すなわちチャンバー容器３ａ及びチャンバー蓋３ｂ、並びに支持棒６及び支持台５が黒鉛から形成されている。従って、本実施形態においては、チャンバー３、支持棒６及び支持台５が炭素源となっている。チャンバー３、支持棒６、及び支持台５は、切削加工により作製することができる。
　容器１の外側表面と、チャンバー３との間の間隔は、全体においてほぼ均等になるように、チャンバー３の寸法形状が設定されていることが好ましい。これにより、炭素源であるチャンバーからの距離を全体においてほぼ同程度とすることができ、全体にわたって均等に浸炭処理することができる。
　また、タンタル容器１の側壁部１ｂの端部１ｃの下方には、隙間Ｇが形成されていることが好ましい。隙間Ｇが形成されることにより、タンタル容器１の内側にも、タンタル容器１の外側から炭素を供給することができる。隙間Ｇは、上述のように、２ｍｍ～２０ｍｍの範囲であることが好ましい。
　また、タンタル容器１の内側に配置される支持棒６及び支持台５は、上述のように、炭素源としても機能する。従って、支持棒６の配置は、図１５に示すように、タンタル容器１の内側においてほぼ均等に分散するように配置することが好ましい。
　上記のようにして、タンタル容器１をチャンバー３内に配置し、チャンバー３内を減圧した後、加熱することにより、浸炭処理を施すことができる。
　チャンバー３を真空容器内に配置し、真空容器内を排気することにより、チャンバー３内を減圧することができる。チャンバー３内の圧力は、例えば、１０Ｐａ以下に減圧される。
　次に、チャンバー３内を所定の温度に加熱する。加熱温度としては、１７００℃以上の範囲が好ましく、さらに好ましくは、１７５０℃～２５００℃の範囲であり、さらに好ましくは、２０００℃～２２００℃の範囲である。このような温度に加熱することにより、チャンバー３内は、一般に１０－２Ｐａ～１０Ｐａ程度の圧力となる。
　上記所定の温度を保持する時間は、０．１～８時間の範囲であることが好ましく、さらに好ましくは、０．５～５時間の範囲であり、さらに好ましくは、１時間～３時間の範囲である。保持温度により浸炭速度が変わるため、目標とする浸炭厚みにより調整する。
　昇温速度及び冷却速度は、特に限定されるものではないが、一般に昇温速度は、１００℃／時間～２０００℃／時間の範囲が好ましく、さらに好ましくは、３００℃／時間～１５００℃／時間であり、さらに好ましくは、５００℃／時間～１０００℃／時間である。冷却速度は４０℃／時間～１７０℃／時間の範囲が好ましく、さらに好ましくは、６０℃／時間～１５０℃／時間、さらに好ましくは８０℃／時間～１３０時間／時間である。冷却は、一般には自然冷却で行われる。
　図１４に示すように、タンタル容器１の開口部１ｄが下方になるように、タンタル容器１をチャンバー３内に配置し、この状態で浸炭処理を行うことにより、開口部１ｄが拡がるのと歪みを抑制することができる。このため、図２０に示すように、タンタル容器１の上に蓋２を載せた際に、良好な嵌合状態で蓋２を載せることができ、タンタル容器１内の密閉性を良好に保つことができる。このため、タンタル容器１内部で熱アニーニングや結晶成長をさせた場合に、タンタル容器１内にシリコン蒸気を良好な状態で保つことができ、良好な結晶状態を得ることができる。
　［実施例］
　以下、本発明の第２の局面を具体的な実施例によりさらに詳細に説明するが、本発明の第２の局面は以下の実施例に限定されるものではない。
　（実施例４）
　図１４に示すチャンバー３を用いて、タンタル容器１を浸炭処理した。タンタル容器１としては、図１６に示す外径ｄが約１６０ｍｍ、高さｈが約６０ｍｍ、厚みｔが約３ｍｍのものを用いた。タンタル容器１は、金属タンタルを板金加工することにより作製した。
　チャンバー３としては、その内部が、直径２１０ｍｍ、高さ９０ｍｍの円柱状となるチャンバー３を用いた。チャンバー容器３ａ及びチャンバー蓋３ｂの材質としては、かさ密度が１．８の等方性黒鉛材を用いた。
　支持棒６は、直径６ｍｍ、長さ７５ｍｍのものを用いた。先端のテーパー状部分の長さは、１５ｍｍである。支持棒６及び支持台５は、チャンバー容器３ａと同じ等方性黒鉛材から形成した。
　タンタル容器１の側壁部１ｂの端部１ｃの下方の隙間Ｇは、１３ｍｍであった。
　このようにしてタンタル容器１をチャンバー３内に配置し、そのチャンバー３を、φ８００ｍｍ×８００ｍｍのＳＵＳ製の真空容器８内に配置した。図２５は、チャンバー３を真空容器８に配置したときの状態を示す断面図である。図２５に示すように、真空容器８内には、断熱材９が設けられており、断熱材９内に形成された空間１３内にチャンバー３が配置されている。断熱材９としては、商品名「ＤＯＮ－１０００」（大阪ガスケミカル社製、かさ密度０．１６ｇ／ｃｍ３）を用いた。この断熱材は、ピッチ系炭素繊維に樹脂を含浸させて成形、硬化、炭化、黒鉛化処理したものであり、多孔質の断熱材である。
　断熱材９によって囲まれた空間１３の上方には、カーボンヒーター１２が配置されており、カーボンヒーター１２は、カーボンヒーター１２に電流を流すための黒鉛電極１１によって支持されている。カーボンヒーター１２に電流を流すことにより、断熱材９によって覆われた空間１３内を加熱することができる。
　真空容器８には、真空容器８内を排気するための排気口１０が形成されている。排気口１０は、図示しない真空ポンプに接続されている。
　真空容器８内を排気してチャンバー３内を０．１Ｐａ以下となるように減圧した後、カーボンヒーター１２により７１０℃／時間の昇温速度で２１５０℃までチャンバー３内を加熱した。２１５０℃を２時間保持し、浸炭処理を行った。チャンバー３内は、０．５～２．０Ｐａ程度の圧力であった。
　浸炭処理後、自然冷却で室温まで冷却した。冷却時間は約１５時間であった。
　浸炭処理前と浸炭処理後において、タンタル容器１の開口部１ｄの寸法として外径ｄを測定した。外径ｄの寸法は、開口部１ｄの周囲の８箇所で測定した。
　図２３は、浸炭処理前と浸炭処理後の外径ｄの上記８箇所での寸法を示す図である。図２３において、Ａは浸炭処理前の寸法を示しており、Ｂは浸炭処理後の寸法を示している。
　図２３に示すように、本実施例では、浸炭処理することにより、外径ｄの寸法が若干小さくなっていることがわかる。また、開口部１ｄの真円度を、三次元測定機を用いて測定した。開口部１ｄの図２３に示すような８箇所における各点の測定データと、最終的に決定した平均要素形状線からの偏差によって求めた。具体的には、各点の測定データから平均線にて円面状を認識し、各点での平均線からの偏差の最大差を真円度とした。開口部１ｄの真円度は、浸炭処理前において０．４６７であり、浸炭処理後において０．５７５であった。従って、浸炭処理前後における差は、０．１０８であった。
　（比較例２）
　図２１は、本比較例における浸炭処理を説明するための断面図である。
　本比較例においては、チャンバー容器３ａ及びチャンバー蓋３ｂとして、上記実施例４と同様のものを用いた。また、タンタル容器１も、上記実施例４と同様のものを用いた。
　本比較例においては、図２１に示すように、タンタル容器１の開口部１ｄが上方となるように、タンタル容器１がチャンバー３内に配置されている。
　タンタル容器１は、支持台５の上に載せられた黒鉛ブロック１４の上に載せられている。
　図２２は、黒鉛ブロック１４のタンタル容器１に対する配置状態を示す平面図である。図２２に示すように、タンタル容器１の底面部１ａの下方の４箇所のそれぞれに黒鉛ブロック１４が設けられている。黒鉛ブロック１４としては、縦１０ｍｍ、横３０ｍｍ、高さ１０ｍｍの直方体形状のものを用いた。黒鉛ブロック１４は、実施例４における支持棒６と同様の材質から形成したものを用いた。また、支持台５は、上記実施例４の支持台５と同様のものを用いた。
　上記のように、チャンバー３内に、タンタル容器１を配置し、上記実施例４と同様の条件で浸炭処理を行った。
　上記と同様にして、浸炭処理前と浸炭処理後のタンタル容器１の外径ｄの寸法を測定し、測定結果を図２４に示した。
　図２４において、Ａは浸炭処理前の外径ｄの寸法示しており、Ｂは浸炭処理後の外径ｄの寸法を示している。
　図２４に示すように、本比較例では、浸炭処理することにより、開口部１ｄが拡がっていることがわかる。
　また、浸炭処理前と浸炭処理後の開口部１ｄの真円度を測定した。浸炭処理前の真円度は０．５９３であり、浸炭処理後の真円度は０．７１５であった。従って、浸炭処理前と浸炭処理後の真円度の差は０．１２２であった。
　以上のように、比較例２では、タンタル容器１の開口部１ｄを上方になるように配置して浸炭処理した結果、開口部１ｄが拡がることがわかる。従って、このように開口部１ｄが拡がったタンタル容器１の上に蓋２を載せると、タンタル容器１と蓋２との嵌合状態が不良となり、タンタル容器１と蓋２の間に隙間が形成され、良好な密閉状態を保つことができない。
　これに対し、実施例４のように、開口部１ｄが拡がらない場合、タンタル容器１の上に蓋２を良好な密閉状態で載せることができる。本実施例においては、開口部１ｄが浸炭処理前に比べ浸炭処理後にやや小さくなっているが、開口部１ｄが小さくなる変形の場合には、密閉性を損なうことなく、タンタル容器１の上に蓋２を載せることができる。
　上記比較例２のように、浸炭処理により、タンタル容器１の開口部１ｄが拡がる場合、予め開口部１ｄの拡大量を計算にいれて、蓋２をそのような寸法に合うように作製しておくことが考えられる。しかしながら、開口部１ｄの拡大量は、浸炭条件やその他の条件により変動し、その変動量も大きいものであるため、開口部１ｄの寸法変化を考慮して作製した蓋であっても、必ずしもタンタル容器１の開口部１ｄに適合するとは限らず、良好な密閉性が得られない場合がある。従って、タンタル容器１と蓋２が共に不良品となるため、作業効率が大幅に低下する。
　また、上記のように、本発明の第２の局面に従い、開口部１ｄが下方になるようにタンタル容器を配置して、浸炭処理することにより、開口部の真円度の高いものが得られる。このことからも、本発明の第２の局面に従いタンタル容器を浸炭処理することにより、蓋との嵌め合せにおいて、良好な密閉状態を保つことができる。
　１…タンタル容器
　１ａ…タンタル容器の平面部または底面部
　１ｂ…タンタル容器の側壁部
　１ｃ…タンタル容器の側壁部の端部
　１ｄ…タンタル容器の開口部
　２…蓋
　２ａ…蓋の平面部または上面部
　２ｂ…蓋の側壁部
　３…チャンバー
　３ａ…チャンバー容器
　３ｂ…チャンバー蓋
　５…支持台
　６…支持棒
　６ａ…支持棒の先端部
　７…支持棒
　８…ＳＵＳ製の真空容器
　９…断熱材
　１０…排気口
　１１…黒鉛電極
　１２…カーボンヒーター
　１３…断熱材によって覆われた空間
　１４…黒鉛ブロック

Claims (18)

  1. 　平面部を有するタンタルまたはタンタル合金からなるタンタル部材に、該部材の表面から内部に向って炭素を浸透させる浸炭処理を施すための方法であって、
    　先端部がテーパー状に形成された複数の支持棒によって前記平面部を支持することにより、前記タンタル部材を、炭素源が存在するチャンバー内に配置する工程と、
    　前記チャンバー内を減圧し加熱することにより、前記炭素源からの炭素を前記タンタル部材の表面から浸透させて浸炭処理を施す工程とを備えることを特徴とするタンタル部材の浸炭処理方法。
  2. 　前記平面部全体を前記各支持棒の前記先端部がほぼ均等に支持するように、前記複数の支持棒が分散して配置されていることを特徴とする請求項１に記載のタンタル部材の浸炭処理方法。
  3. 　前記平面部の面積１５００ｍｍ２あたり１本以上の支持棒によって前記平面部が支持されていることを特徴とする請求項１または２に記載のタンタル部材の浸炭処理方法。
  4. 　前記支持棒が、前記炭素源として機能することを特徴とする請求項１～３のいずれか１項に記載のタンタル部材の浸炭処理方法。
  5. 　前記支持棒の基部が支持台に支持されることによって、前記複数の支持棒が前記支持台の上に設けられており、前記支持台が前記チャンバー内の底面部上に載置されることにより、前記複数の支持棒が前記チャンバー内に配置されていることを特徴とする請求項１～４のいずれか１項に記載のタンタル部材の浸炭処理方法。
  6. 　前記支持台が、前記炭素源として機能することを特徴とする請求項５に記載のタンタル部材の浸炭処理方法。
  7. 　前記チャンバーが、前記炭素源として機能することを特徴とする請求項１～６のいずれか１項に記載のタンタル部材の浸炭処理方法。
  8. 　前記タンタル部材が、前記平面部と、前記平面部から略垂直方向に延びる側壁部とを有し、前記側壁部の端部によって開口部が形成されているタンタル容器であることを特徴とする請求項１～７のいずれか１項に記載のタンタル部材の浸炭処理方法。
  9. 　前記タンタル容器の前記開口部が下方になるように、前記チャンバー内に前記タンタル容器を配置し、前記タンタル容器の内側の前記平面部を前記複数の支持棒が支持することを特徴とする請求項８に記載のタンタル部材の浸炭処理方法。
  10. 　請求項１～９のいずれか１項に記載の方法により、浸炭処理がなされたことを特徴とするタンタル部材。
  11. 　請求項５または６に記載の浸炭処理方法に用いる治具であって、
    　前記複数の支持棒と、前記支持台とを有し、前記支持棒及び前記支持台が黒鉛材料から形成されていることを特徴とする浸炭処理用治具。
  12. 　底面部と、前記底面部から略垂直方向に延びる側壁部とを有し、前記側壁部の端部によって開口部が形成されているタンタルまたはタンタル合金からなるタンタル容器に、該容器の表面から内部に向って炭素を浸透させる浸炭処理を施すための方法であって、
    　炭素源が存在するチャンバー内に、前記タンタル容器の前記開口部が下方になるように、前記タンタル容器を配置する工程と、
    　前記チャンバー内を減圧し加熱することにより、前記炭素源からの炭素を前記タンタル容器の表面から浸透させて浸炭処理を施す工程とを備えることを特徴とするタンタル容器の浸炭処理方法。
  13. 　前記タンタル容器の前記側壁部端部の下方に隙間が形成されるように、前記タンタル容器が前記チャンバー内に配置されていることを特徴とする請求項１２に記載のタンタル容器の浸炭処理方法。
  14. 　前記タンタル容器内側の前記底面部を支持することによって、前記タンタル容器が前記チャンバー内で支持されていることを特徴とする請求項１２または１３に記載のタンタル容器の浸炭処理方法。
  15. 　前記チャンバー内に設けられた支持部材によって、前記タンタル容器内側の前記底面部が支持されていることを特徴とする請求項１４に記載のタンタル容器の浸炭処理方法。
  16. 　前記チャンバーが、前記炭素源として機能することを特徴とする請求項１２～１５のいずれか１項に記載のタンタル容器の浸炭処理方法。
  17. 　前記支持部材が前記炭素源として機能することを特徴とする請求項１５または１６に記載のタンタル容器の浸炭処理方法。
  18. 　請求項１２～１７のいずれか１項に記載の方法により、浸炭処理がなされたことを特徴とするタンタル容器。
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