WO2010137139A1 - シーケンスプログラムのデバッグ装置、デバッグ方法、及び、プログラム - Google Patents

シーケンスプログラムのデバッグ装置、デバッグ方法、及び、プログラム Download PDF

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真人 野々村
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    • G05B2219/10—Plc systems
    • G05B2219/13—Plc programming
    • G05B2219/13142—Debugging, tracing

Definitions

  • the present invention relates to a debugging device, a debugging method, and a program for improving the debugging efficiency of a sequence program.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 08-328614 (Patent Document 1) describes a step No. An invention of a programmable controller device that skips a part of a program by designating a program is disclosed.
  • the present invention has been invented in order to solve these problems in view of the above points, and has an object to provide a debugging environment in which a sequence program can be debugged easily and efficiently.
  • sequence program debugging apparatus of the present invention employs the following configuration.
  • the sequence program debugging device of the present invention includes a range setting unit that sets a skip range to be skipped when executing a sequence program, and an extraction unit that extracts an output contact that is included in the skip range and outputs a value to another range And a value setting unit for setting a value to the extracted output contact.
  • sequence program debugging apparatus debugging method, and program of the present invention. According to the sequence program debugging apparatus, debugging method, and program of the present invention, there are provided a sequence program debugging apparatus, debugging method, and program that provide a debugging environment that can easily and efficiently execute the debugging of the sequence program. It becomes possible to do.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a functional configuration of a debugging device according to the present embodiment.
  • FIG. 2A is an example of a screen on which a part of the ladder program is displayed.
  • FIG. 2-2 is a diagram illustrating an example of a screen for setting a skip range.
  • FIG. 3A is a diagram for explaining a bit device and a word device that output values for a range outside the skip range.
  • FIG. 3B is a diagram illustrating an example of a screen for setting the value of the bit device and the word device by the device test function.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining what is calculated outside the skip range and the value is referred to in the skip range.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining processing for setting values in bit devices and word devices included in the skipping range.
  • FIG. 6A is a diagram illustrating an example of a screen in which a skip range is designated for the ladder program.
  • FIG. 6B is a diagram of an example of a screen that displays skip range information.
  • FIG. 6C is a diagram illustrating a screen for setting values for bit devices and word devices referenced in other ranges.
  • FIG. 7A is a diagram for explaining a screen from which bit devices calculated in the skipping range are extracted.
  • FIG. 7B is a diagram illustrating a screen for setting a value for the extracted bit device.
  • FIG. 8A is a diagram for explaining a screen from which word devices calculated in the skipping range are extracted.
  • FIG. 8A is a diagram for explaining a screen from which word devices calculated in the skipping range are extracted.
  • FIG. 8-2 is a diagram showing a screen for setting a value for the extracted word device.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining processing for setting values in bit devices and word devices that are included in the skipping range and whose values vary depending on the values of bit devices or word devices in other ranges.
  • FIG. 10A is a diagram illustrating an example (part 1) in which a bit device that is operated in another range and is referenced in the skip range is extracted.
  • FIG. 10B is a diagram illustrating an example (part 1) in which a bit device that is operated in the skipping range and is referenced in another range is extracted.
  • FIG. 10C is a diagram illustrating an example (part 1) of setting the value of the bit device that is calculated in the skipping range and referred to in another range.
  • FIG. 10A is a diagram illustrating an example (part 1) in which a bit device that is operated in another range and is referenced in the skip range is extracted.
  • FIG. 10B is a diagram illustrating an example (part 1) in which
  • FIG. 11A is a diagram illustrating an example (part 1) in which a word device that is operated in another range and is referenced in the skip range is extracted.
  • FIG. 11B is a diagram illustrating an example (part 1) in which word devices that are operated in the skipping range and are referenced in another range are extracted.
  • FIG. 11C is a diagram illustrating an example (part 1) in which the value of the word device that is calculated in the skipping range and referred to in another range is set.
  • FIG. 12A is a diagram illustrating an example (part 2) in which a bit device that is operated in another range and is referenced in the skip range is extracted.
  • FIG. 12B is a diagram illustrating an example (part 2) in which word devices that are operated in the skipping range and are referenced in other ranges are extracted.
  • FIG. 12A is a diagram illustrating an example (part 1) in which a word device that is operated in another range and is referenced in the skip range is extracted.
  • FIG. 12B is a diagram illustrating an example
  • FIG. 12-3 is a diagram illustrating an example (part 2) in which the value of the word device that is calculated in the skipping range and referred to in another range is set.
  • FIG. 13A is a diagram illustrating an example (part 2) in which a word device that is operated in another range and is referenced in the skip range is extracted.
  • FIG. 13-2 is a diagram illustrating an example (part 2) in which a bit device that is operated in the skipping range and is referenced in another range is extracted.
  • FIG. 13C is a diagram illustrating an example (part 2) in which the value of the bit device that is calculated in the skipping range and referred to in another range is set.
  • FIG. 14 is a diagram of a hardware configuration of the debugging device 10 according to the present embodiment.
  • a ladder program is mainly described.
  • the embodiment is not limited to a ladder program, and is used for debugging a sequence program such as a structured text, a function block diagram, or a sequential function chart. Can be applied.
  • input contact corresponds to, for example, “contact” of the ladder program
  • output contact corresponds to, for example, “coil” of the ladder program.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a functional configuration of a debugging device according to the present embodiment.
  • the debug device 10 in FIG. 1 includes an input device 11, a control unit 12, and a display device 13.
  • the input device 11 is an input device such as a keyboard, for example, and an instruction for debugging processing is input to the control unit 12 by the operator.
  • a range to be skipped in the sequence program is also input from the input device 11.
  • the display device 13 is, for example, a display, and displays a sequence program executed at the time of debugging, a result of debugging, and the like.
  • the control unit 12 performs a sequence program debugging process.
  • the control unit 12 includes a setting unit 21, a data holding unit 28, and an execution unit 29.
  • the setting unit 21 sets a range to be skipped when debugging a sequence program, and sets a contact value related to the range.
  • the setting unit 21 includes a range setting unit 22, an extraction unit 23, a screen generation unit 24, and a value setting unit 25.
  • the range setting unit 22 sets a skip range to be skipped when executing the sequence program. Note that “skip” refers to proceeding to the next line or the like without executing a specified range or the like.
  • the extraction unit 23 extracts an output contact that outputs a value to the other range of the sequence program among the contacts included in the set skip range.
  • the extraction unit 23 also extracts an input contact for inputting a value to the skip range from contacts included in a range different from the set skip range.
  • the screen generation unit 24 generates a screen that displays a screen that prompts the user to set a skip range, skip range information, contact information, and value information set for the contact.
  • the value setting unit 25 sets a value for the output contact extracted by the extraction unit 23.
  • the value setting unit 25 also sets the value of the output contact for each value of the input contact when the value of the output contact differs for each value of the input contact.
  • the data holding unit 28 holds the value of the output contact set by the value setting unit 25.
  • the data holding unit 28 may hold information on the skip range set by the range setting unit 22.
  • the execution unit 29 performs a sequence program debugging process.
  • the execution unit 29 acquires information on the skip range to be skipped during debugging from the data holding unit 28.
  • the execution unit 29 also acquires the value of the output contact that outputs a value from the skip range from the data holding unit 28. Thereby, it is possible to skip a part of the sequence program and debug without using a device test function or the like during the debugging process.
  • FIGS. 2 to 4 are diagrams for explaining examples of screens displayed when the sequence program is debugged.
  • FIG. 2A is an example of a screen on which a part of the ladder program is displayed.
  • a hatched range a1 is a skip range.
  • the skip range may be designated by designating a step in the screen of FIG. 2A with an input device such as a mouse.
  • FIG. 2-2 is a diagram showing an example of a screen for setting the range a1 shown in FIG. 2-1 as a skipping range.
  • the hatched row a2 is set as the skip range.
  • FIG. 3A is a diagram for explaining a bit device and a word device that output a value to a range outside the skip range among the bit devices and word devices included in the skip range.
  • the bit device M10 and the word device D10 are referenced outside the skip range. Therefore, a value obtained by calculating in the skip range is set in a pseudo manner using the device test function.
  • FIG. 3B is a diagram illustrating an example of a screen for setting bit device and word device values by the device test function during debugging processing.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a bit device and a word device included in the skip range that are calculated outside the skip range and whose values are referred to in the skip range.
  • the bit device M10 and the word device D10 calculate values on the lines b1 and b2 outside the skip range, respectively. These bit devices and word devices also set values in a pseudo manner by the device test function.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining processing for setting values to bit devices and word devices included in the skipping range, which is executed by the debugging apparatus 10.
  • the skip range is set by the range setting unit 22.
  • the extraction unit 23 extracts a bit device and a word device that are calculated in the skip range and referenced in another range.
  • step S13 the value setting unit 25 sets values in the bit device and the word device extracted in step S12.
  • FIG. 6 is a diagram showing an example of a screen displayed in the process of FIG. The screen of FIG. 6 is displayed on the display device 13.
  • FIG. 6A is a diagram illustrating an example of a screen in which a skip range is designated for the ladder program. In FIG. 6A, the hatched range c1 is designated as the skip range.
  • FIG. 6B is a diagram illustrating an example of a screen that displays information on the designated skip range c1. In FIG. 6B, the line c2 indicating the start position and the end position of the skip range c1 is highlighted.
  • FIG. 6-3 is a diagram showing a screen for setting values for bit devices and word devices that are referred to in other ranges among the bit devices and word devices that are calculated in the skip range c1.
  • the value “ON” is set for the word device M10
  • the value “100” is set for the bit device D10.
  • the operator inputs a value from the input device 11 based on the screen of FIG. 6C, the value is set in the corresponding bit device or word device.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a screen when a bit device calculated in the skipping range is extracted and a value is set.
  • the screens of FIGS. 7A and 7B are generated by the screen generation unit 24 and displayed on the display device 13.
  • the bit device M10 is included in the skip range d1
  • the bit device M10 is referred to outside the skip range d1. Therefore, the extraction unit 23 extracts the bit device M10.
  • FIG. 7-2 is a diagram showing a screen for setting a value for the extracted bit device M10.
  • the value “ON” is associated with the bit device M10.
  • “M10” included in the device item is a bit device extracted by the extraction unit 23, and a value input from the input device 11 is displayed in the corresponding value column.
  • the value setting unit 25 sets the value “ON” for the bit device M10.
  • FIG. 8 is a diagram for explaining a screen when a word device calculated in the skipping range is extracted and a value is set.
  • the screens of FIGS. 8A and 8B are generated by the screen generation unit 24 and displayed on the display device 13.
  • the word device D10 is included in the skip range e1, and the word device D10 is referenced outside the skip range e1. Therefore, the extraction unit 23 extracts the word device D10.
  • FIG. 8-2 is a diagram showing a screen for setting a value for the extracted word device D10.
  • the value “100” is associated with the word device D10.
  • “D10” included in the device item is a word device extracted by the extraction unit 23, and a value input from the input device 11 is displayed in the corresponding value column.
  • the value setting unit 25 sets the value “100” for the word device D10.
  • FIG. 9 is a flowchart for explaining processing for setting a value in a bit device and a word device that are included in the skipping range and whose value changes depending on the value of the bit device or the word device in another range. The process of FIG. 9 is executed by the debug device 10.
  • step S21 of FIG. 9 the range setting unit 22 sets a skip range.
  • step S22 the extraction unit 23 extracts bit devices and word devices that are calculated in other ranges and referenced from the skip range.
  • step S23 the extraction unit 23 extracts bit devices and word devices that are calculated in the skipping range and referenced in other ranges.
  • step S24 the value setting unit 25 determines whether the device value extracted in step S23 depends on the device value extracted in step S22. When it depends, it progresses to step S25, and when it does not depend, it progresses to step S26.
  • step S25 a value corresponding to each value referenced in the skip range is set for the bit device and word device referenced in other ranges.
  • step S26 values are set for bit devices and word devices referenced in other ranges.
  • FIGS. 10 to 13 are diagrams showing examples of screens displayed when the values of the bit device and the word device are set by the processing of FIG.
  • the screens shown in FIGS. 10 to 13 are generated by the screen generation unit 24.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating an example of setting a bit device value.
  • FIG. 10A is a diagram illustrating an example in which bit devices that are operated in other ranges and referenced in the skip range are extracted.
  • the bit device M0 output at f1 is input to f2 included in the skip range.
  • FIG. 10-2 is a diagram illustrating an example in which bit devices that are operated in the skipping range and referenced in other ranges are extracted.
  • the bit device M0 output at f3 included in the skipping range is input to f4.
  • 10-1 and 10-2 the value of the bit device M0 input to f4 varies depending on the value input to f2.
  • FIG. 10-3 is a diagram showing a screen for setting the value of M0 input to f4.
  • “Condition” indicates a value when being input to f2
  • “Device” indicates a device name
  • “Value” indicates a value to be set.
  • FIG. 10-3 shows an example in which the value input to f4 is input from the input device 11 for each case where the value input to f2 is “ON” and “OFF”.
  • the input value is associated with each condition by the value setting unit 25 and held in the data holding unit 28.
  • FIG. 11 is a diagram showing an example of setting a word device value.
  • FIG. 11A is a diagram illustrating an example in which word devices that are calculated in other ranges and referenced in the skip range are extracted.
  • the word device D0 output by g1 is referred to by g2 included in the skip range, and is assigned to the word device D10.
  • FIG. 11-2 is a diagram illustrating an example in which word devices that are calculated in the skipping range and referenced in other ranges are extracted.
  • the word device D10 output at g3 is referred to at g4.
  • FIG. 11C is a diagram illustrating an example of a screen for setting the value of the word device D10 for each value of the word device D0 referred to by g2.
  • “Condition” indicates a value when referred to by g2
  • “Device” indicates the name of a device for which a value is set
  • “Value” indicates a value to be set.
  • FIG. 11C illustrates an example in which the value input to g4 is input from the input device 11 for each case where the value of the word device D0 input to g2 is “0” and “10”.
  • the input value is associated with each condition by the value setting unit 25 and held in the data holding unit 28.
  • FIG. 12 is a diagram showing an example in which a word device value is set for each bit device value.
  • FIG. 12A is a diagram illustrating an example in which a bit device that is calculated in another range and referenced in the skip range is extracted.
  • the bit device M0 output at h1 is referred to by h2 included in the skip range, and the values of M10 and D10 are calculated based on the value.
  • FIG. 12-2 is a diagram showing an example in which word devices that are operated in the skipping range and referenced in other ranges are extracted.
  • the word device D10 output at h3 included in the skip range is referred to at h4.
  • FIG. 12-3 is a diagram showing an example of a screen for setting the value of the word device D10 for each value of the bit device M0 referred to by h2.
  • “condition” indicates the value of M0 referred to by h2
  • “device” indicates the name of the device for setting the value
  • “value” indicates the value to be set.
  • FIG. 12C an example in which the value of D10 input to h4 is input from the input device 11 for each case where the value of the bit device M0 input to h2 is “ON” and “OFF”. Show.
  • the input value is associated with each condition by the value setting unit 25 and held in the data holding unit 28.
  • FIG. 13 is a diagram showing an example in which a bit device value is set for each word device value.
  • FIG. 13A is a diagram illustrating an example in which word devices that are calculated in other ranges and referenced in the skip range are extracted.
  • the word device D0 output by j1 is referred to by j2 included in the skip range, and the value of the bit device M10 is determined according to the value.
  • FIG. 13-2 is a diagram illustrating an example in which bit devices that are operated in the skipping range and referenced in other ranges are extracted.
  • the value of the bit device M10 output at j3 included in the skipping range is referred to at j4.
  • FIG. 13C is a diagram illustrating an example of a screen for setting the value of the bit device M10 for each value of the word device D0 referred to by j2.
  • “condition” indicates the value of D0 referred to by j2
  • “device” indicates the name of the device for setting the value
  • “value” indicates the value to be set.
  • FIG. 13C an example in which the value of M10 input to j4 is input from the input device 11 for each case where the value of the word device D0 input to j2 is “ON” and “OFF”. Show.
  • the input value is associated with each condition by the value setting unit 25 and held in the data holding unit 28.
  • FIG. 14 is a diagram of a hardware configuration of the debug device 10 according to the present embodiment.
  • a debugging device 10 according to the present embodiment includes a CPU (Central Processing Unit) 1, a ROM (Read Only Memory) 2, a RAM (Random Access Memory) 3, a keyboard 4, a display 5, a hard disk drive (hereinafter referred to as “HDD”). 8) and a network interface card (hereinafter referred to as “NIC”) 9.
  • CPU Central Processing Unit
  • ROM Read Only Memory
  • RAM Random Access Memory
  • HDD hard disk drive
  • NIC network interface card
  • the CPU 1 is a control device and controls each part of the debug device 10.
  • the ROM 2 and RAM 3 are storage devices that store programs executed by the CPU 1 and function as work memories when the CPU 1 executes the programs.
  • the program according to the present embodiment may be stored in a computer-readable storage medium in addition to being stored in the ROM 2, and may be read and executed by the CPU 1 by being inserted into a drive device (not shown).
  • the keyboard 4 is an input device and inputs instructions to the debug device 10.
  • the display 5 is a display device, and displays a screen to be presented to the operator during debugging.
  • the HDD 8 is a storage device and stores data such as a sequence program to be debugged and a program executed by the CPU 1.
  • the NIC 9 communicates with other devices (not shown) connected via a network.
  • sequence program debugging apparatus is suitable for debugging a sequence program used in manufacturing a controlled machine.

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Abstract

　シーケンスプログラムのデバッグを容易かつ効率的に実行できるデバッグ環境を提供するシーケンスプログラムのデバッグ装置を提供すること。シーケンスプログラムを実行する際にスキップするスキップ範囲を設定する範囲設定部と、前記スキップ範囲に含まれ他の範囲に値を出力する出力接点を抽出する抽出部と、抽出された前記出力接点に値を設定する値設定部と、を有することを特徴とする。

Description

シーケンスプログラムのデバッグ装置、デバッグ方法、及び、プログラム
　本発明は、シーケンスプログラムのデバッグ効率を向上させるための、デバッグ装置、デバッグ方法、及び、プログラムに関する。
　従来から、シーケンスプログラムのデバッグを行う際に、シーケンスプログラムの一部をスキップして実行させることがある。これは、シーケンスプログラムにより制御される機械の一部が完成していない場合等に行われる。例えば、特開平０８－３２８６１４号公報（特許文献１）には、スキップする範囲のステップＮｏ．を指定することより、プログラムの一部をスキップするプログラマブルコントローラ装置の発明が開示されている。
　特許文献１等に開示のシーケンスプログラムのデバッグ装置では、シーケンスプログラムの一部を指定して、その指定した範囲をスキップさせる設定を行い、その設定にしたがって、シーケンスプログラムの一部をスキップさせて実行させる。
特開平０８－３２８６１４号公報
　しかしながら、特許文献１等に開示のプログラマブルコントローラ装置等の発明では、シーケンスプログラムのデバッグを行う際に、スキップさせている範囲内の演算結果を、シーケンスプログラムの実行時に擬似的にデバイステスト等の機能を用いて設定するため、デバッグが非効率かつ難しいという問題点があった。
　本発明は、上記の点に鑑みて、これらの問題を解消するために発明されたものであり、シーケンスプログラムのデバッグを容易かつ効率的に実行できるデバッグ環境を提供することを目的としている。
　上記目的を達成するために、本発明のシーケンスプログラムのデバッグ装置は次の如き構成を採用した。
　本発明のシーケンスプログラムのデバッグ装置は、シーケンスプログラムを実行する際にスキップするスキップ範囲を設定する範囲設定部と、前記スキップ範囲に含まれ他の範囲に値を出力する出力接点を抽出する抽出部と、抽出された前記出力接点に値を設定する値設定部と、を有する構成とすることができる。
　これにより、シーケンスプログラムのデバッグを容易かつ効率的に実行できるデバッグ環境を提供するシーケンスプログラムのデバッグ装置を提供することができる。
　本発明のシーケンスプログラムのデバッグ装置、デバッグ方法、及び、プログラムによれば、シーケンスプログラムのデバッグを容易かつ効率的に実行できるデバッグ環境を提供するシーケンスプログラムのデバッグ装置、デバッグ方法、及び、プログラムを提供することが可能になる。
図１は、本実施の形態に係るデバッグ装置の機能構成の例を示す図である。 図２－１は、ラダープログラムの一部が表示された画面の例である。 図２－２は、スキップ範囲を設定する画面の例を示す図である。 図３－１は、スキップ範囲の外の範囲に対し、値を出力するビットデバイス及びワードデバイスを説明する図である。 図３－２は、デバイステスト機能によりビットデバイス及びワードデバイスの値を設定する画面の例を示す図である。 図４は、スキップ範囲の外で演算され、スキップ範囲でその値が参照されるものを説明する図である。 図５は、スキップ範囲に含まれるビットデバイス及びワードデバイスに値を設定する処理を説明する図である。 図６－１は、ラダープログラムに対し、スキップ範囲が指定された画面の例を示す図である。 図６－２は、スキップ範囲の情報を表示する画面の例を示す図である。 図６－３は、他の範囲で参照されるビットデバイス及びワードデバイスに対し、値を設定する画面を示す図である。 図７－１は、スキップ範囲において演算されるビットデバイスが抽出された画面を説明する図である。 図７－２は、抽出されたビットデバイスに対し、値を設定する画面を示す図である。 図８－１は、スキップ範囲において演算されるワードデバイスが抽出された画面を説明する図である。 図８－２は、抽出されたワードデバイスに対し、値を設定する画面を示す図である。 図９は、スキップ範囲に含まれ、かつ、他の範囲のビットデバイス又はワードデバイスの値により値が変化するビットデバイス及びワードデバイスに値を設定する処理を説明する図である。 図１０－１は、他の範囲で演算され、スキップ範囲で参照されるビットデバイスが抽出される例（その１）を示す図である。 図１０－２は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるビットデバイスが抽出される例（その１）を示す図である。 図１０－３は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるビットデバイスの値を設定する例（その１）を示す図である。 図１１－１は、他の範囲で演算され、スキップ範囲で参照されるワードデバイスが抽出される例（その１）を示す図である。 図１１－２は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるワードデバイスが抽出される例（その１）を示す図である。 図１１－３は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるワードデバイスの値を設定する例（その１）を示す図である。 図１２－１は、他の範囲で演算され、スキップ範囲で参照されるビットデバイスが抽出される例（その２）を示す図である。 図１２－２は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるワードデバイスが抽出される例（その２）を示す図である。 図１２－３は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるワードデバイスの値を設定する例（その２）を示す図である。 図１３－１は、他の範囲で演算され、スキップ範囲で参照されるワードデバイスが抽出される例（その２）を示す図である。 図１３－２は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるビットデバイスが抽出される例（その２）を示す図である。 図１３－３は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるビットデバイスの値を設定する例（その２）を示す図である。 図１４は、本実施の形態にかかるデバッグ装置１０のハードウェア構成の図である。
　以下、本実施の形態を図面に基づき説明する。以下の実施の形態では、主としてラダープログラムについて説明するが、実施の形態は、ラダープログラムに限らず、ストラクチャード・テキスト、ファンクション・ブロック・ダイアグラム、又は、シーケンシャル・ファンクション・チャート等のシーケンスプログラムのデバッグに適用することができる。また、以下の実施の形態における「入力接点」は、例えば、ラダープログラムの「接点」に対応し、「出力接点」は、例えば、ラダープログラムの「コイル」に対応する。
〔本実施の形態〕
　図１は、本実施の形態に係るデバッグ装置の機能構成の例を示す図である。図１のデバッグ装置１０は、入力装置１１、制御部１２、及び、表示装置１３を有する。入力装置１１は、例えば、キーボード等の入力デバイスであり、制御部１２に対し、操作者により、デバッグ処理の指示等が入力される。入力装置１１からは、また、シーケンスプログラムの中のスキップする範囲が入力される。表示装置１３は、例えば、ディスプレイ等であり、デバッグの際に実行されるシーケンスプログラムや、デバッグの結果等が表示される。
　制御部１２は、シーケンスプログラムのデバッグ処理を行う。制御部１２は、設定部２１、データ保持部２８、及び、実行部２９を有する。設定部２１は、シーケンスプログラムをデバッグする際に、スキップする範囲を設定し、その範囲に係る接点の値を設定する。設定部２１は、範囲設定部２２、抽出部２３、画面生成部２４、及び、値設定部２５を有する。
　範囲設定部２２は、シーケンスプログラムを実行する際に、スキップするスキップ範囲を設定する。なお、「スキップする」とは、指定された範囲等を実行することなく、次のライン等に進むことをいう。
　抽出部２３は、設定されたスキップ範囲に含まれている接点のうち、シーケンスプログラムの他の範囲に対して値を出力する出力接点を抽出する。抽出部２３は、また、設定されたスキップ範囲とは異なる範囲に含まれている接点のうち、スキップ範囲に対して値を入力する入力接点を抽出する。
　画面生成部２４は、スキップ範囲の設定を促す画面、スキップ範囲の情報、接点の情報、及び、接点に設定される値の情報等を表示する画面を生成する。
　値設定部２５は、抽出部２３が抽出した出力接点に対し、値を設定する。値設定部２５は、また、出力接点の値が、入力接点の値毎に異なる場合には、それぞれの入力接点の値毎に、出力接点の値を設定する。
　データ保持部２８は、値設定部２５により設定された出力接点の値を保持する。データ保持部２８は、また、範囲設定部２２により設定されたスキップ範囲の情報を保持するとよい。
　実行部２９は、シーケンスプログラムのデバッグ処理を行う。実行部２９は、デバッグの際にスキップするスキップ範囲の情報を、データ保持部２８から取得する。実行部２９は、また、スキップ範囲から値を出力する出力接点の値を、データ保持部２８から取得する。これにより、デバッグ処理の際に、デバイステスト機能等を用いることなく、シーケンスプログラムの一部をスキップしてデバッグすることができる。
　本実施の形態に係るデバッグ装置１０によるデバッグ処理の詳細な説明に先んじて、従来のデバッグ処理の概略について、図２ないし図４を用いて説明する。図２ないし図４は、シーケンスプログラムのデバッグ処理を行う際に、表示される画面の例を説明する図である。図２－１は、ラダープログラムの一部が表示された画面の例である。図２－１の画面では、ハッチングが付された範囲ａ１が、スキップ範囲である。スキップ範囲の指定は、例えば、マウス等の入力デバイスにより、図２－１の画面中のステップを指定することにより行われるとよい。
　図２－２は、図２－１で示す範囲ａ１を、スキップ範囲として設定する画面の例を示す図である。図２－２では、ハッチングを付された行ａ２が、スキップ範囲として設定される。
　図３－１は、スキップ範囲に含まれているビットデバイス及びワードデバイスのうち、スキップ範囲の外の範囲に対し、値を出力するビットデバイス及びワードデバイスを説明する図である。図３－１では、ビットデバイスＭ１０及びワードデバイスＤ１０が、スキップ範囲の外で参照される。したがって、スキップ範囲で演算して得られる値をデバイステスト機能を用いて擬似的に設定する。図３－２は、デバッグ処理の際に、デバイステスト機能によりビットデバイス及びワードデバイスの値を設定する画面の例を示す図である。
　図４は、スキップ範囲に含まれているビットデバイス及びワードデバイスのうち、スキップ範囲の外で演算され、スキップ範囲でその値が参照されるものを説明する図である。図４では、ビットデバイスＭ１０及びワードデバイスＤ１０が、それぞれ、スキップ範囲の外のラインｂ１及びラインｂ２で演算して値が決められる。これらのビットデバイス及びワードデバイスも、デバイステスト機能により値を擬似的に設定する。
　図５は、デバッグ装置１０が実行する、スキップ範囲に含まれるビットデバイス及びワードデバイスに値を設定する処理を説明する図である。図５のステップＳ１１では、範囲設定部２２により、スキップ範囲が設定される。ステップＳ１１に続いてステップＳ１２に進み、抽出部２３が、スキップ範囲で演算され他の範囲で参照されるビットデバイス及びワードデバイスを抽出する。
　ステップＳ１２に続いてステップＳ１３に進み、値設定部２５が、ステップＳ１２で抽出されたビットデバイス及びワードデバイスに値を設定する。
　図６は、図５の処理において表示される画面の例を示す図である。図６の画面は、表示装置１３に表示される。図６－１は、ラダープログラムに対し、スキップ範囲が指定された画面の例を示す図である。図６－１では、ハッチングを付された範囲ｃ１が、スキップ範囲として指定されている。図６－２は、指定されたスキップ範囲ｃ１の情報を表示する画面の例を示す図である。図６－２では、スキップ範囲ｃ１の開始位置と終了位置とが示された行ｃ２が、強調表示されている。
　図６－３は、スキップ範囲ｃ１において演算されるビットデバイス及びワードデバイスのうち、他の範囲で参照されるビットデバイス及びワードデバイスに対し、値を設定する画面を示す図である。図６－３では、ワードデバイスＭ１０に対し、値「ＯＮ」が設定され、ビットデバイスＤ１０に対し、値「１００」が設定される。図６－３の画面に基づいて、操作者が入力装置１１から、値を入力することにより、対応するビットデバイス又はワードデバイスに値が設定される。
　図７は、スキップ範囲において演算されるビットデバイスが抽出され、値が設定される際の画面を説明する図である。図７－１及び図７－２の画面は、画面生成部２４により生成され、表示装置１３に表示される。図７－１では、スキップ範囲ｄ１にビットデバイスＭ１０が含まれ、さらに、スキップ範囲ｄ１の外でビットデバイスＭ１０が参照されている。そこで、抽出部２３が、ビットデバイスＭ１０を抽出する。
　図７－２は、抽出されたビットデバイスＭ１０に対し、値を設定する画面を示す図である。図７－２では、ビットデバイスＭ１０に、値「ＯＮ」が対応づけられている。デバイスの項目に含まれる「Ｍ１０」は、抽出部２３により抽出されたビットデバイスであり、対応する値の欄には、入力装置１１から入力される値が表示される。これにより、値設定部２５が、ビットデバイスＭ１０に対し、値「ＯＮ」を設定する。
　図８は、スキップ範囲において演算されるワードデバイスが抽出され、値が設定される際の画面を説明する図である。図８－１及び図８－２の画面は、画面生成部２４により生成され、表示装置１３に表示される。図８－１では、スキップ範囲ｅ１にワードデバイスＤ１０が含まれ、さらに、スキップ範囲ｅ１の外で、ワードデバイスＤ１０が参照されている。そこで、抽出部２３が、ワードデバイスＤ１０を抽出する。
　図８－２は、抽出されたワードデバイスＤ１０に対し、値を設定する画面を示す図である。図８－２では、ワードデバイスＤ１０に、値「１００」が対応づけられている。デバイスの項目に含まれる「Ｄ１０」は、抽出部２３により抽出されたワードデバイスであり、対応する値の欄には、入力装置１１から入力される値が表示される。これにより、値設定部２５が、ワードデバイスＤ１０に対し、値「１００」を設定する。
　図９は、スキップ範囲に含まれ、かつ、他の範囲のビットデバイス又はワードデバイスの値により値が変化するビットデバイス及びワードデバイスに値を設定する処理を説明するフロー図である。図９の処理は、デバッグ装置１０により実行される。
　図９のステップＳ２１では、範囲設定部２２により、スキップ範囲が設定される。ステップＳ２２では、抽出部２３が、他の範囲で演算されスキップ範囲から参照されるビットデバイス及びワードデバイスを抽出する。ステップＳ２３では、抽出部２３が、スキップ範囲で演算され他の範囲で参照されるビットデバイス及びワードデバイスを抽出する。
　ステップＳ２４では、値設定部２５が、ステップＳ２３で抽出されたデバイスの値が、ステップＳ２２で抽出されたデバイスの値に依存するか否かを判断する。依存する場合には、ステップＳ２５に進み、依存しない場合には、ステップＳ２６に進む。
　ステップＳ２５では、他の範囲で参照されるビットデバイス、及び、ワードデバイスに対し、スキップ範囲で参照される値毎に対応する値を設定する。ステップＳ２６では、他の範囲で参照されるビットデバイス及びワードデバイスに対し、値を設定する。
　図１０から図１３は、図９の処理によりビットデバイス及びワードデバイスの値が設定される際に、表示される画面の例を示す図である。図１０から図１３の画面は、画面生成部２４により生成される。
　図１０は、ビットデバイスの値を設定する例を示す図である。図１０－１は、他の範囲で演算され、スキップ範囲で参照されるビットデバイスが抽出される例を示す図である。図１０－１では、ｆ１で出力されるビットデバイスＭ０が、スキップ範囲に含まれているｆ２に入力される。
　図１０－２は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるビットデバイスが抽出される例を示す図である。図１０－２では、スキップ範囲に含まれているｆ３で出力されるビットデバイスＭ０が、ｆ４に入力される。図１０－１及び図１０－２より、ｆ４に入力されるビットデバイスＭ０の値は、ｆ２に入力される値により異なる値となる。
　図１０－３は、ｆ４に入力されるＭ０の値を設定する画面を示す図である。図１０－３において、「条件」は、ｆ２に入力される際の値、「デバイス」は、デバイスの名称、「値」は、設定する値、の項目をそれぞれ示す。
　図１０－３では、ｆ２に入力される際の値が「ＯＮ」と「ＯＦＦ」とのそれぞれの場合毎に、ｆ４に入力される値が入力装置１１から入力された例を示す。入力された値は、値設定部２５により、条件毎に対応づけられ、データ保持部２８に保持される。
　図１１は、ワードデバイスの値を設定する例を示す図である。図１１－１は、他の範囲で演算され、スキップ範囲で参照されるワードデバイスが抽出される例を示す図である。図１１－１では、ｇ１で出力されるワードデバイスＤ０が、スキップ範囲に含まれているｇ２で参照され、ワードデバイスＤ１０に代入される。
　図１１－２は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるワードデバイスが抽出される例を示す図である。図１１－２では、ｇ３で出力されるワードデバイスＤ１０が、ｇ４で参照される。
　図１１－３は、ｇ２で参照されるワードデバイスＤ０の値毎に、ワードデバイスＤ１０の値を設定する画面の例を示す図である。図１１－３において、「条件」は、ｇ２で参照される際の値、「デバイス」は、値を設定するデバイスの名称、「値」は、設定する値、の項目をそれぞれ示す。
　図１１－３では、ｇ２に入力されるワードデバイスＤ０の値が「０」と「１０」とのそれぞれの場合毎に、ｇ４に入力される値が入力装置１１から入力された例を示す。入力された値は、値設定部２５により、条件毎に対応づけられ、データ保持部２８に保持される。
　図１２は、ビットデバイスの値毎に、ワードデバイスの値が設定される例を示す図である。図１２－１は、他の範囲で演算され、スキップ範囲で参照されるビットデバイスが抽出される例を示す図である。図１２－１では、ｈ１で出力されるビットデバイスＭ０が、スキップ範囲に含まれるｈ２で参照され、その値により、Ｍ１０とＤ１０との値が演算される。
　図１２－２は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるワードデバイスが抽出される例を示す図である。図１２－２では、スキップ範囲に含まれるｈ３で出力されるワードデバイスＤ１０が、ｈ４で参照される。
　図１２－３は、ｈ２で参照されるビットデバイスＭ０の値毎に、ワードデバイスＤ１０の値を設定する画面の例を示す図である。図１２－３において、「条件」は、ｈ２で参照されるＭ０の値、「デバイス」は、値を設定するデバイスの名称、「値」は、設定する値、の項目をそれぞれ示す。
　図１２－３では、ｈ２に入力されるビットデバイスＭ０の値が「ＯＮ」と「ＯＦＦ」とのそれぞれの場合毎に、ｈ４に入力されるＤ１０の値が入力装置１１から入力された例を示す。入力された値は、値設定部２５により、条件毎に対応づけられ、データ保持部２８に保持される。
　図１３は、ワードデバイスの値毎に、ビットデバイスの値が設定される例を示す図である。図１３－１は、他の範囲で演算され、スキップ範囲で参照されるワードデバイスが抽出される例を示す図である。図１３－１では、ｊ１で出力されるワードデバイスＤ０が、スキップ範囲に含まれるｊ２で参照され、その値に応じてビットデバイスＭ１０の値が定められる。
　図１３－２は、スキップ範囲で演算され、他の範囲で参照されるビットデバイスが抽出される例を示す図である。図１３－２では、スキップ範囲に含まれるｊ３で出力されるビットデバイスＭ１０の値が、ｊ４で参照される。
　図１３－３は、ｊ２で参照されるワードデバイスＤ０の値毎に、ビットデバイスＭ１０の値を設定する画面の例を示す図である。図１３－３において、「条件」は、ｊ２で参照されるＤ０の値、「デバイス」は、値を設定するデバイスの名称、「値」は、設定する値、の項目をそれぞれ示す。
　図１３－３では、ｊ２に入力されるワードデバイスＤ０の値が「ＯＮ」と「ＯＦＦ」とのそれぞれの場合毎に、ｊ４に入力されるＭ１０の値が入力装置１１から入力された例を示す。入力された値は、値設定部２５により、条件毎に対応づけられ、データ保持部２８に保持される。
　図１４は、本実施の形態にかかるデバッグ装置１０のハードウェア構成の図である。本実施の形態にかかるデバッグ装置１０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）１、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ　Ｏｎｌｙ　Ｍｅｍｏｒｙ）２、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｍｅｍｏｒｙ）３、キーボード４、ディスプレイ５、ハードディスクドライブ（以下、「ＨＤＤ」という。）８、及び、ネットワークインタフェースカード（以下、「ＮＩＣ」という。）９を有する。
　ＣＰＵ１は、制御装置であり、デバッグ装置１０の各部を制御する。ＲＯＭ２及びＲＡＭ３は、記憶装置であり、ＣＰＵ１が実行するプログラム等を格納し、また、ＣＰＵ１がプログラムを実行する際のワークメモリとして機能する。
　本実施の形態に係るプログラムは、ＲＯＭ２に格納される他に、コンピュータで読取可能な記憶媒体に格納され、図示しないドライブ装置等に挿入されることにより、ＣＰＵ１が読み出して実行されてもよい。
　キーボード４は、入力装置であり、デバッグ装置１０に対する指示等を入力する。ディスプレイ５は、表示装置であり、デバッグの際に操作者に対して提示する画面等を表示する。ＨＤＤ８は、記憶装置であり、デバッグ処理されるシーケンスプログラム等のデータ、及び、ＣＰＵ１が実行するプログラム等を格納する。ＮＩＣ９は、ネットワークを介して接続された図示しない他の装置等との通信を行う。
　以上、発明を実施するための最良の形態について説明を行ったが、本発明は、この最良の形態で述べた実施の形態に限定されるものではない。本発明の主旨をそこなわない範囲で変更することが可能である。
　以上のように、本発明にかかるシーケンスプログラムのデバッグ装置は、制御される機械の製作の際に用いられるシーケンスプログラムのデバッグに適している。
１　ＣＰＵ
２　ＲＯＭ
３　ＲＡＭ
４　キーボード
５　ディスプレイ
８　ＨＤＤ
９　ＮＩＣ
１０　デバッグ装置
１１　入力装置
１２　制御部
１３　表示装置
２１　設定部
２２　範囲設定部
２３　抽出部
２４　画面生成部
２５　値設定部
２８　データ保持部
２９　実行部

Claims (7)

  1. 　シーケンスプログラムを実行する際にスキップするスキップ範囲を設定する範囲設定部と、
    　前記スキップ範囲に含まれ他の範囲に値を出力する出力接点を抽出する抽出部と、
    　抽出された前記出力接点に値を設定する値設定部と、
    　を有することを特徴とするシーケンスプログラムのデバッグ装置。
  2. 　設定された前記値を保持する値保持部を有することを特徴とする請求項１記載のシーケンスプログラムのデバッグ装置。
  3. 　前記抽出部は、さらに、前記スキップ範囲と異なる範囲に含まれ前記スキップ範囲に値を入力する入力接点を抽出し、
    　前記出力接点の値が前記入力接点の値に対応して変化する場合に、前記値設定部は、前記入力接点が取り得る値毎に、前記出力接点の値を設定することを特徴とする請求項１又は２記載のシーケンスプログラムのデバッグ装置。
  4. 　設定された前記出力接点の値を用いて、前記シーケンスプログラムのデバッグ処理を実行する実行部を有することを特徴とする請求項１ないし３何れか一項に記載のシーケンスプログラムのデバッグ装置。
  5. 　前記入力接点及び前記出力接点は、ビットデバイス又はワードデバイスであることを特徴とする請求項１ないし４何れか一項に記載のシーケンスプログラムのデバッグ装置。
  6. 　シーケンスプログラムを実行する際にスキップするスキップ範囲を設定する範囲設定ステップと、
    　前記スキップ範囲に含まれ他の範囲に値を出力する出力接点を抽出する抽出ステップと、
    　抽出された前記出力接点に値を設定する値設定ステップと、
    　を有することを特徴とするシーケンスプログラムのデバッグ方法。
  7. 　シーケンスプログラムを実行する際にスキップするスキップ範囲を設定する範囲設定ステップと、
    　前記スキップ範囲に含まれ他の範囲に値を出力する出力接点を抽出する抽出ステップと、
    　抽出された前記出力接点に値を設定する値設定ステップと、
    　を有するシーケンスプログラムのデバッグ方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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