WO2010032706A1 - 無鉛低融点ガラス - Google Patents

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下岡　泰真
早川　直也
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セントラル硝子株式会社
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    • C03C8/24—Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders

Definitions

  • the present invention relates to an insulating coating material for an electronic material substrate typified by a plasma display panel, a liquid crystal display panel, an electroluminescence panel, a fluorescent display panel, an electrochromic display panel, a light emitting diode display panel, a gas discharge display panel, and the like.
  • the present invention relates to a sealing material and a low-melting glass used as a color ceramic material for a peripheral portion (light shielding portion) of an optical filter.
  • PDPs plasma display panels
  • the glass used in these materials is required to have various properties such as chemical durability, mechanical strength, fluidity, and electrical insulation depending on the application. Therefore, the effect of lowering the melting point of the glass in any application.
  • a low-melting glass containing a large amount of PbO having a very large value is widely used (see, for example, Patent Document 1).
  • PbO has a great detrimental effect on the human body and the environment.
  • PbO has a tendency to avoid its use, and lead-free electronic materials such as PDP are being studied (for example, see Patent Document 2 and Patent Document 3).
  • lead-based glass has been used as a low melting glass, for example, as a material for bonding and sealing electronic components, or as a coating material for protecting and insulating electrodes and resistors formed on electronic components. It was. Although the lead component is an important component for making the glass have a low melting point, it has a great detrimental effect on the human body and the environment. In recent years, there has been a tendency to avoid its use. Lead-free glass is required for electronic materials such as PDPs. Yes.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-52621 has a basic problem of containing lead, although the effect as a low melting point glass is recognized.
  • Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2000-219536 and 9-227214 do not contain lead, but are unstable glass and crystallize in the middle of firing when processed at a high temperature, and their functions are sufficient. It is not demonstrated.
  • the first glass is, by mass%, SiO 2 0-8, ZnO 0-10, RO (total of one or more selected from MgO, CaO, SrO, BaO) 0-10, CuO 0-0 5 may be a lead-free low melting point glass (second glass).
  • the first or second glass has a thermal expansion coefficient at 30 ° C. to 300 ° C. of 110 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C. to 145 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C. and a softening point of 300 ° C. or more and 420 ° C. or less.
  • Lead-free low melting point glass (third glass) may be used.
  • an electronic material substrate characterized in that any one of first to third glasses is used.
  • a display panel characterized by using any one of the first to third glasses.
  • a display cover filter characterized by using any one of first to third glasses.
  • the present invention it is possible to obtain a stable lead-free low-melting glass composition that is difficult to crystallize at high temperatures in an electronic substrate material typified by a plasma display panel.
  • B 2 O 3 4 to 12 B 2 O 3 4 to 12, Bi 2 O 3 83 to 93, R 2 O (Li 2 O, Na 2 O, B 2 O 3 —Bi 2 O 3 —R 2 O— containing 0.1 to 6 in total of one or more selected from K 2 O and 0.1 to 5 Al 2 O 3
  • R 2 O Li 2 O, Na 2 O, B 2 O 3 —Bi 2 O 3 —R 2 O— containing 0.1 to 6 in total of one or more selected from K 2 O and 0.1 to 5 Al 2 O 3
  • B 2 O 3 is a glass-forming component, facilitates glass melting, suppresses an excessive increase in the thermal expansion coefficient of glass, gives moderate fluidity to glass during baking, and lowers the dielectric constant of glass. It is. It is preferably contained in the glass in a range of 4 to 12% (mass%, the same applies hereinafter). If it is less than 4%, the fluidity of the glass becomes insufficient and the sinterability is impaired. On the other hand, if it exceeds 12%, the softening point of the glass rises, and the formability and workability become difficult. More preferably, it is in the range of 6 to 10%.
  • Bi 2 O 3 lowers the softening point of the glass, imparts moderate fluidity, and adjusts the thermal expansion coefficient to an appropriate range, and is desirably contained in the range of 83 to 93%. If it is less than 83%, the above effect cannot be exhibited, and if it exceeds 93%, the thermal expansion coefficient becomes too high. More preferably, it is in the range of 85 to 91%.
  • R 2 O (one or more selected from Li 2 O, Na 2 O, K 2 O) lowers the softening point of glass, imparts moderate fluidity, and adjusts the thermal expansion coefficient to an appropriate range.
  • the total content is preferably in the range of 0.1 to 6%.
  • Li 2 O exhibits the above action and is desirably contained. If it is less than 0.1%, the above effect cannot be exhibited, and if it exceeds 6%, the thermal expansion coefficient becomes too high. More preferably, it is in the range of 0.5 to 4%.
  • Al 2 O 3 stabilizes the glass and is preferably contained in the range of 0.1 to 5%. If it is less than 0.1, the above effect cannot be exhibited, and if it exceeds 5%, the glass becomes unstable. More preferably, it is in the range of 0.1 to 3%.
  • SiO 2 is a glass forming component, and can coexist with B 2 O 3 , which is another glass forming component, to form a stable glass, and is contained in the range of 0 to 8%. If it exceeds 8%, the softening point of the glass will increase, making the formability and workability difficult. More preferably, it is in the range of 0 to 5%.
  • ZnO lowers the softening point of the glass and adjusts the thermal expansion coefficient to an appropriate range, and is contained in the glass in a range of 0 to 10%. If it exceeds 10%, the glass becomes unstable and devitrification tends to occur. More preferably, it is in the range of 0 to 8%.
  • RO one or more types selected from MgO, CaO, SrO, BaO
  • % In the range. If it exceeds 10%, the thermal expansion coefficient becomes too high. More preferably, it is in the range of 0 to 8%.
  • CuO suppresses devitrification when the glass is melted or fired, and is contained in the range of 0 to 5%. If it exceeds 5%, the stability of the glass is lowered. More preferably, it is in the range of 0 to 3%.
  • TiO 2 , SnO 2 , TeO 2 or the like represented by a general oxide may be added up to 1% within a range not impairing the above properties.
  • substantially free of PbO means an amount of PbO mixed as an impurity in the glass raw material. For example, if it is in the range of 0.3% by mass or less in the low-melting glass, there is almost no adverse effect on the human body, environment, insulation characteristics, etc., and there is substantially no influence of PbO. become.
  • the lead-free low-melting glass described above has a thermal expansion coefficient of 110 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C. to 145 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C. at 30 ° C. to 300 ° C. and a softening point of 300 ° C. to 420 ° C.
  • the thermal expansion coefficient is out of 110 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C. to 145 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C.
  • problems such as peeling at the time of thick film formation, adhesion and sealing, and warping of the substrate occur.
  • the range is 115 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C. to 140 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C.
  • the softening point exceeds 420 ° C., problems such as softening deformation of the substrate occur.
  • it is 320 degreeC or more and 410 degrees C or less.
  • the lead-free low melting point glass of the present invention can be suitably used for electronic material substrates, display panels, and display cover filters.
  • the lead-free low melting point glass of the present invention is often used after being powdered.
  • This powdered glass is generally mixed with a low expansion ceramic filler typified by mullite or alumina, a heat-resistant pigment or the like, if necessary, and then kneaded with an organic oil to form a paste.
  • a transparent glass substrate particularly soda-lime-silica glass, or similar glass (high strain point glass), or an alumino-lime borosilicate glass with little (or almost no) alkali content is used. Yes.
  • a part of the glass was poured into a mold, made into a block shape, and used for measurement of thermal properties (thermal expansion coefficient, softening point).
  • the remaining glass was flaked with a rapid cooling twin roll molding machine and sized with a pulverizer into a powder having an average particle size of 1 to 3 ⁇ m and a maximum particle size of less than 10 ⁇ m.
  • paste oil composed of ⁇ -terpineol and butyl carbitol acetate was mixed with ethyl cellulose as a binder and the above glass powder to prepare a paste having a viscosity of about 300 ⁇ 50 poise.
  • the paste is applied to a glass substrate so that the thickness is about 1 mm, fired to (softening point + 30) ° C. and held for 30 minutes in an electric furnace, and then the one with remarkable crystallization is defective and the others are good It was.
  • the thermal expansion coefficient was determined from the amount of elongation at 30 to 300 ° C. when the temperature was increased at 5 ° C./min using a thermal dilatometer.
  • the softening point is 300 ° C. to 420 ° C.
  • a suitable thermal expansion coefficient is 110 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C. to 145 ⁇ 10 ⁇ . 7 / ° C.
  • crystallization at high temperature is not remarkable, and it is suitable as an insulating coating material and a sealing material for an electronic material substrate and a glass for a color ceramic material.
  • Comparative Examples 1 to 4 in Table 2 outside the composition range of the present invention show remarkable crystallization at high temperature or do not show preferable physical property values, and insulating coating materials and sealing materials, and color ceramic materials It cannot be applied as a glass.

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Abstract

　電子材料基板を被覆、封着するための低融点ガラスであって、実質的にＰｂＯを含まない無鉛低融点ガラスを提供することを課題とする。この課題を解決する手段として、質量％でＢ2Ｏ3を４～１２、Ｂｉ2Ｏ3を８３～９３、Ｒ2Ｏ（Ｌｉ2Ｏ＋Ｎａ2Ｏ＋Ｋ2Ｏ）を０．１～６、Ａｌ2Ｏ3を０．１～５含むことを特徴とするＢ2Ｏ3－Ｂｉ2Ｏ3－Ｒ2Ｏ－Ａｌ2Ｏ3系無鉛低融点ガラスが提供される。

Description

無鉛低融点ガラス
本発明は、プラズマディスプレイパネル、液晶表示パネル、エレクトロルミネッセンスパネル、蛍光表示パネル、エレクトロクロミック表示パネル、発光ダイオード表示パネル、ガス放電式表示パネル等に代表される電子材料基板用の絶縁性被膜材料及び封着材料及び、光学フィルタの周辺部(光遮光部)用のカラーセラミック材料として用いられる低融点ガラスに関する。
発明の背景
　従来から電子部品の接着や封着材料として、或いは電子部品に形成された電極や抵抗体の保護や絶縁のための被覆材料としてガラスが用いられている。特に近年の電子部品の発達に伴い、プラズマディスプレイパネル、液晶表示パネル、エレクトロルミネッセンスパネル、蛍光表示パネル、エレクトロクロミック表示パネル、発光ダイオード表示パネル、ガス放電式表示パネル等、多くの種類の表示パネルが開発され、中でも、プラズマディスプレイパネル（以下、ＰＤＰと略す）が薄型かつ大型の平板型カラー表示装置として注目を集めている。
　そしてこれらに用いられるガラスは、その用途に応じて化学耐久性、機械的強度、流動性、電気絶縁性等種々の特性が要求されるが、それゆえ何れの用途においてもガラスの融点を下げる効果が極めて大きいＰｂＯを多量に含有した低融点ガラスが広く用いられている(例えば、特許文献１参照)。
　しかしながらＰｂＯは、人体や環境に与える弊害が大きく、近年その採用を避ける趨勢にあり、ＰＤＰを始めとする電子材料では無鉛化が検討されている（例えば、特許文献２、特許文献３参照）。
特開２００１－５２６２１号公報 特開２０００－２１９５３６号公報 特開平９－２２７２１４号公報
従来、低融点ガラス、例えば電子部品の接着や封着材料として、或いは電子部品に形成された電極や抵抗体の保護や絶縁のための被覆材料としてのガラスには鉛系のガラスが採用されてきた。鉛成分はガラスを低融点とするうえで重要な成分ではあるものの、人体や環境に与える弊害が大きく、近年その採用を避ける趨勢にあり、ＰＤＰを始めとする電子材料では無鉛ガラスが求められている。
　ＰｂＯ系に代わる無鉛組成では、不安定なガラスが多く、高温で処理された場合、焼成途中で結晶化し、その機能が十分発揮されない。
　すなわち、特開２００１－５２６２１号公報は、低融点ガラスとしての効果は認められるが、鉛を含んでいるという基本的な問題がある。
　さらに、特開２０００－２１９５３６号公報及び特開平９－２２７２１４号公報は、鉛を含んでいないが、不安定なガラスであり、高温で処理された場合、焼成途中で結晶化し、その機能が十分発揮されない。
　本発明に依れば、透明絶縁性の無鉛低融点ガラスにおいて、質量％でＢ2Ｏ3を４～１２、Ｂｉ2Ｏ3を８３～９３、Ｒ2Ｏ（Ｌｉ2Ｏ，Ｎａ2Ｏ，Ｋ2Ｏより選択される一種類以上の合計）を０．１～６、Ａｌ2Ｏ3を０．１～５含むことを特徴とするＢ2Ｏ3－Ｂｉ2Ｏ3－Ｒ2Ｏ－Ａｌ2Ｏ3系無鉛低融点ガラス（第１ガラス）が提供される。
　第１ガラスは、質量％で、ＳｉＯ2を０～８、ＺｎＯを０～１０、ＲＯ（ＭｇＯ，ＣａＯ，ＳｒＯ，ＢａＯより選択される一種類以上の合計）を０～１０、ＣｕＯを０～５含むことを特徴とする無鉛低融点ガラス（第２ガラス）であってもよい。
　第１又は第２ガラスは、３０℃～３００℃における熱膨張係数が１１０×１０-7／℃～１４５×１０-7／℃、軟化点が３００℃以上４２０℃以下であることを特徴とする無鉛低融点ガラス（第３ガラス）であってもよい。
　さらに、本発明に依れば、第１乃至第３ガラスのいずれか１つを使用していることを特徴とする電子材料用基板が提供される。
　さらにまた、本発明に依れば、第１乃至第３ガラスのいずれか１つを使用していることを特徴とするディスプレイ用パネルが提供される。
さらにまた、本発明に依れば、第１乃至第３ガラスのいずれか１つを使用していることを特徴とするディスプレイ用カバーフィルタが提供される。
詳細な説明
　本発明により、プラズマディスプレイパネルに代表される電子基板材料において、高温時に結晶しにくく安定な無鉛低融点ガラス組成物を得ることが出来る。
　本発明に依れば、透明絶縁性の無鉛低融点ガラスにおいて、質量％でＢ2Ｏ3を４～１２、Ｂｉ2Ｏ3を８３～９３、Ｒ2Ｏ（Ｌｉ2Ｏ，Ｎａ2Ｏ，Ｋ2Ｏより選択される一種類以上の合計）を０．１～６、Ａｌ2Ｏ3を０．１～５含むことを特徴とするＢ2Ｏ3－Ｂｉ2Ｏ3－Ｒ2Ｏ－Ａｌ2Ｏ3系無鉛低融点ガラスが提供される。
　Ｂ2Ｏ3はガラス形成成分であり、ガラス溶融を容易とし、ガラスの熱膨張係数において過度の上昇を抑え、かつ、焼付け時にガラスに適度の流動性を与え、ガラスの誘電率を低下させるものである。ガラス中に４～１２％（質量％、以下においても同様である）の範囲で含有させるのが好ましい。４％未満ではガラスの流動性が不充分となり、焼結性が損なわれる。他方１２％を越えるとガラスの軟化点が上昇し、成形性、作業性が困難となる。より好ましくは６～１０％の範囲である。
　Ｂｉ2Ｏ3はガラスの軟化点を下げ、適度に流動性を与え、熱膨張係数を適宜な範囲に調整するもので、８３～９３％の範囲で含有させることが望ましい。８３％未満では上記作用を発揮しえず、９３％を超えると熱膨張係数が高くなり過ぎる。より好ましくは８５～９１％の範囲である。
　Ｒ2Ｏ（Ｌｉ2Ｏ，Ｎａ2Ｏ，Ｋ2Ｏより選択される一種類以上）はガラスの軟化点を下げ、適度に流動性を与え、熱膨張係数を適宜な範囲に調整するもので、合計で０．１～６％の範囲で含有させることが望ましい。中でもＬｉ2Ｏは特に上記作用を発揮し、含有させることが望ましい。０．１％未満では上記作用を発揮しえず、６％を超えると熱膨張係数が高くなり過ぎる。より好ましくは０．５～４％の範囲である。
　Ａｌ2Ｏ3はガラスを安定化させるもので、０．１～５％の範囲で含有させることが好ましい。０．１未満では上記作用を発揮しえず、５％を超えるとガラスが不安定となる。より好ましくは０．１～３％の範囲である。　
　ＳｉＯ2はガラス形成成分であり、別のガラス形成成分であるＢ2Ｏ3と共存させることにより、安定したガラスを形成することができるもので、０～８％の範囲で含有させる。８％を越えると、ガラスの軟化点が上昇し、成形性、作業性が困難となる。より好ましくは、０～５％の範囲である。
　ＺｎＯはガラスの軟化点を下げ、熱膨張係数を適宜な範囲に調整するもので、ガラス中に０～１０％の範囲で含有させる。１０％を越えるとガラスが不安定となり失透を生じ易い。より好ましくは０～８％の範囲である。
　ＲＯ（ＭｇＯ，ＣａＯ，ＳｒＯ，ＢａＯより選択される一種類以上）はガラスの軟化点を下げ、適度に流動性を与え、熱膨張係数を適宜な範囲に調整するもので、合計で０～１０％の範囲で含有させる。１０％を超えると熱膨張係数が高くなり過ぎる。より好ましくは０～８％の範囲である。
　ＣｕＯはガラスの溶融時或いは焼成時の失透を抑制するもので、０～５％の範囲で含有させる。５％を超えるとガラスの安定性を低下させる。より好ましくは、０～３％の範囲である。
　この他にも、一般的な酸化物で表すＩｎ2Ｏ3、ＴｉＯ2、ＳｎＯ2、ＴｅＯ2などを上記性質を損なわない範囲で１％まで加えてもよい。
　実質的にＰｂＯを含まないことにより、人体や環境に与える影響を皆無とすることができる。ここで、実質的にＰｂＯを含まないとは、ＰｂＯがガラス原料中に不純物として混入する程度の量を意味する。例えば、低融点ガラス中における０．３質量％以下の範囲であれば、先述した弊害、すなわち人体、環境に対する影響、絶縁特性等に与える影響は殆どなく、実質的にＰｂＯの影響を受けないことになる。
　また、３０℃～３００℃における熱膨張係数が１１０×１０-7／℃～１４５×１０-7／℃、軟化点が３００℃以上４２０℃以下である上記の無鉛低融点ガラスである。熱膨張係数が１１０×１０-7／℃～１４５×１０-7／℃を外れると厚膜形成時及び接着、封着時に剥離、基板の反り等の問題が発生する。好ましくは、１１５×１０-7／℃～１４０×１０-7／℃の範囲である。また、軟化点が４２０℃を越えると基板の軟化変形などの問題が発生する。好ましくは、３２０℃以上４１０℃以下である。
　本発明の無鉛低融点ガラスは、電子材料用基板、ディスプレイ用パネル、ディスプレイ用カバーフィルタに対して好適に使用出来る。
　本発明の無鉛低融点ガラスは、粉末化して使用されることが多い。この粉末化されたガラスは、必要に応じてムライトやアルミナに代表される低膨張セラミックスフィラー、耐熱顔料等と混合され、次に有機オイルと混練してペースト化されるのが一般的である。
　ガラス基板としては透明なガラス基板、特にソーダ石灰シリカ系ガラス、または、それに類似するガラス(高歪点ガラス)、あるいは、アルカリ分の少ない（又は殆ど無い）アルミノ石灰ホウ珪酸系ガラスが多用されている。
　以下、本発明を実施例に基づき、説明する。ただし、本発明は実施例に限定されるものではない。
（低融点ガラス混合ペーストの作製）
　Ｂ2Ｏ3源としてほう酸を、Ｂｉ2Ｏ3源として酸化ビスマスを、Ｌｉ2Ｏ源として炭酸リチウムを、Ｎａ2Ｏ源として炭酸ナトリウムを、Ｋ2Ｏ源として炭酸カリウムを、Ａｌ2Ｏ3源として酸化アルミニウムを、ＳｉＯ2源として微粉珪砂を、ＺｎＯ源として亜鉛華を、ＭｇＯ源として炭酸マグネシウムを、ＣａＯ源として炭酸カルシウムを、ＳｒＯ源として炭酸ストロンチウムを、ＢａＯ源として炭酸バリウムを、ＣｕＯ源として酸化第二銅を使用した。これらを所望の低融点ガラス組成となるべく調合したうえで、白金ルツボに投入し、電気加熱炉内で１０００～１３００℃、１～２時間で加熱溶融して表１の実施例１～６、表２の比較例１～４に示す組成のガラスを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
　ガラスの一部は型に流し込み、ブロック状にして熱物性(熱膨張係数、軟化点)測定用に供した。残余のガラスは急冷双ロール成形機にてフレーク状とし、粉砕装置で平均粒径１～３μｍ、最大粒径１０μｍ未満の粉末状に整粒した。
　次いで、αテルピネオールとブチルカルビトールアセテートからなるペーストオイルにバインダーとしてのエチルセルロースと上記ガラス粉を混合し、粘度、３００±５０ポイズ程度のペーストを調製した。
　次いで、厚さ１mm程度となるように上記ペーストをガラス基板に塗布し、電気炉で(軟化点＋３０)℃まで焼成及び３０分保持し、その後取りだし結晶化が顕著なものを不良、その他を良好とした。
　なお、軟化点は、リトルトン粘度計を用い、粘度係数η＝107.6 に達したときの温度とした。また、熱膨張係数は、熱膨張計を用い、５℃/分で昇温したときの３０～３００℃での伸び量から求めた。
　（結果）　低融点ガラス組成および、各種試験結果を表に示す。
　表１における実施例１～６に示すように、本発明の組成範囲内においては、軟化点が３００℃～４２０℃であり、好適な熱膨張係数１１０×１０-7／℃～１４５×１０-7／℃を有しており、更には高温での結晶化が顕著ではなく、電子材料基板用の絶縁性被膜材料及び封着材料、及びカラーセラミック材料用のガラスとして好適である。
　他方、本発明の組成範囲を外れる表２における比較例１～４は、高温での結晶化が顕著である、又は好ましい物性値を示さず、絶縁性被膜材料及び封着材料、及びカラーセラミック材料用のガラスとしては適用し得ない。

Claims (6)

  1. 透明絶縁性の無鉛低融点ガラスにおいて、質量％でＢ2Ｏ3を４～１２、Ｂｉ2Ｏ3を８３～９３、Ｒ2Ｏ（Ｌｉ2Ｏ，Ｎａ2Ｏ，Ｋ2Ｏより選択される一種類以上の合計）を０．１～６、Ａｌ2Ｏ3を０．１～５含むことを特徴とするＢ2Ｏ3－Ｂｉ2Ｏ3－Ｒ2Ｏ－Ａｌ2Ｏ3系無鉛低融点ガラス。
  2. 質量％で、ＳｉＯ2を０～８、ＺｎＯを０～１０、ＲＯ（ＭｇＯ，ＣａＯ，ＳｒＯ，ＢａＯより選択される一種類以上の合計）を０～１０、ＣｕＯを０～５含むことを特徴とする請求項１に記載の無鉛低融点ガラス。
  3. ３０℃～３００℃における熱膨張係数が１１０×１０-7／℃～１４５×１０-7／℃、軟化点が３００℃以上４２０℃以下であることを特徴とする請求項１または２のいずれかに記載の無鉛低融点ガラス。
  4. 請求項１乃至３のいずれか１項に記載の無鉛低融点ガラスを使用していることを特徴とする電子材料用基板。
  5. 請求項１乃至３のいずれか１項に記載の無鉛低融点ガラスを使用していることを特徴とするディスプレイ用パネル。
  6. 請求項１乃至３のいずれか１項に記載の無鉛低融点ガラスを使用していることを特徴とするディスプレイ用カバーフィルタ。
PCT/JP2009/066014 2008-09-19 2009-09-14 無鉛低融点ガラス WO2010032706A1 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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JP2008-241148 2008-09-19
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