JP2010100509A - 無鉛低融点ガラス - Google Patents

無鉛低融点ガラス Download PDF

Info

Publication number
JP2010100509A
JP2010100509A JP2008302298A JP2008302298A JP2010100509A JP 2010100509 A JP2010100509 A JP 2010100509A JP 2008302298 A JP2008302298 A JP 2008302298A JP 2008302298 A JP2008302298 A JP 2008302298A JP 2010100509 A JP2010100509 A JP 2010100509A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass
lead
free low
melting point
melting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008302298A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Tominaga
耕治 富永
Jun Hamada
潤 濱田
Naoya Hayakawa
直也 早川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Central Glass Co Ltd
Original Assignee
Central Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Central Glass Co Ltd filed Critical Central Glass Co Ltd
Priority to JP2008302298A priority Critical patent/JP2010100509A/ja
Publication of JP2010100509A publication Critical patent/JP2010100509A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/02Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form
    • C03C8/08Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form containing phosphorus
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/12Silica-free oxide glass compositions
    • C03C3/16Silica-free oxide glass compositions containing phosphorus
    • C03C3/21Silica-free oxide glass compositions containing phosphorus containing titanium, zirconium, vanadium, tungsten or molybdenum
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/24Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)

Abstract

【課題】電子部品の接着や封止材料として、あるいは電子部品に形成された電極や抵抗体の保護や絶縁のための、被服材料としての低融点ガラスにおいて、高温時に結晶化しにくく安定な無鉛低融点ガラス組成物が求められている。
【解決手段】質量%でVを45〜85、Pを8〜30含むことを特徴とするV−P系無鉛低融点ガラスである。30℃〜200℃における熱膨張係数が(60〜100)×10−7/℃、軟化点が280℃以上400℃以下である特徴を有す。
【選択図】 なし

Description

本発明は、プラズマディスプレイパネル、液晶表示パネル、エレクトロルミネッセンスパネル、蛍光表示パネル、エレクトロクロミック表示パネル、発光ダイオード表示パネル、ガス放電式表示パネル等に代表される電子材料基板用の絶縁性被膜材料及び封着材料及び、光学フィルタの周辺部(光遮光部)用のカラーセラミック材料として用いられる低融点ガラスに関する。
従来から電子部品の接着や封着材料として、或いは電子部品に形成された電極や抵抗体の保護や絶縁のための被服材料としてガラスが用いられている。特に近年の電子部品の発達に伴い、プラズマディスプレイパネル、液晶表示パネル、エレクトロルミネッセンスパネル、蛍光表示パネル、エレクトロクロミック表示パネル、発光ダイオード表示パネル、ガス放電式表示パネル等、多くの種類の表示パネルが開発され、中でも、プラズマディスプレイパネル(以下、PDPと略す)が薄型かつ大型の平板型カラー表示装置として注目を集めている。
そしてこれらに用いられるガラスは、その用途に応じて化学耐久性、機械的強度、流動性、電気絶縁性等種々の特性が要求されるが、それゆえ何れの用途においてもガラスの融点を下げる効果が極めて大きいPbOを多量に含有した低融点ガラスが広く用いられている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながらPbOは、人体や環境に与える弊害が大きく、近年その採用を避ける趨勢にあり、PDPを始めとする電子材料では無鉛化が検討されている(例えば、特許文献2、特許文献3参照)。
特開2001−52621号公報 特開2000−219536号公報 特開平9−227214号公報
従来、低融点ガラス、例えば電子部品の接着や封着材料として、或いは電子部品に形成された電極や抵抗体の保護や絶縁のための被服材料としてのガラスには鉛系のガラスが採用されてきた。鉛成分はガラスを低融点とするうえで重要な成分ではあるものの、人体や環境に与える弊害が大きく、近年その採用を避ける趨勢にあり、PDPを始めとする電子材料では無鉛ガラスが求められている。
PbO系に替わる無鉛組成では、不安定なガラスが多く、高温で処理された場合、焼成途中で結晶化し、その機能が十分発揮されない。
すなわち、特開2001−52621号公報は、低融点ガラスとしての効果は認められるが、鉛を含んでいるという基本的な問題がある。
さらに、特開2000−219536号公報及び特開平9−227214号公報は、鉛を含んでいないが、不安定なガラスであり、高温で処理された場合、焼成途中で結晶化し、その機能が十分発揮されない。
本発明は、無鉛低融点ガラスにおいて、質量%でVを45〜85、Pを8〜30含むことを特徴とするV−P系無鉛低融点ガラスである。
また、質量%で、RO(LiO,NaO,KOから選択される一種類以上の合計)を0〜15、ZnOを0〜15、RO(MgO,CaO,SrO,BaOから選択される一種類以上の合計)を0〜15、CuOを0〜5、Alを0〜5含むことを特徴とする無鉛低融点ガラスである。
また、30℃〜200℃における熱膨張係数が(60〜100)×10−7/℃、軟化点が280℃以上400℃以下であることを特徴とする無鉛低融点ガラスである。
さらに、上記の無鉛低融点ガラスを使用していることを特徴とする電子材料用基板である。
さらにまた、上記の無鉛低融点ガラスを使用していることを特徴とするディスプレイ用パネルである。
さらにまた、上記の無鉛低融点ガラスを使用していることを特徴とするディスプレイ用カバーフィルタである。
本発明により、プラズマディスプレイパネルに代表される電子基板材料において、高温時に結晶化しにくく安定な無鉛低融点ガラス組成物を得ることが出来る。
本発明は、無鉛低融点ガラスにおいて、質量%でVを45〜85、Pを8〜30含むことを特徴とするV−P系無鉛低融点ガラスである。
はガラス形成成分であり、ガラス溶融を容易とし、ガラスの熱膨張係数において過度の上昇を抑え、かつ、焼付け時にガラスに適度の流動性を与えるものである。ガラス中に45〜85%(質量%、以下においても同様である)の範囲で含有させるのが好ましい。45%未満ではガラスの軟化点が上昇し、成形性、作業性が困難となる。他方85%を越えるとガラスが不安定となり、失透し易くなる。より好ましくは50〜80%の範囲である。
はガラス形成成分であり、ガラス溶融を容易とし、ガラスの熱膨張係数において過度の上昇を抑え、かつ、焼付け時にガラスに適度の流動性を与えるものである。ガラス中に8〜30%の範囲で含有させることが望ましい。8%未満では上記作用を発揮しえず、30%を超えるとガラスの耐湿性が悪くなる。より好ましくは10〜25%の範囲である。
Alはガラスを安定化させるもので、0〜5%の範囲で含有させることが好ましい。5%を超えるとガラスが不安定となる。より好ましくは0.1〜3%の範囲である。
ZnOはガラスの軟化点を下げ、熱膨張係数を適宜範囲に調整するもので、ガラス中に0〜15%の範囲で含有させる。15%を超えるとガラスが不安定となり失透を生じ易い。より好ましくは2〜10%の範囲である。
O(LiO,NaO,KOから選択される一種類以上)はガラスの軟化点を下げ、適度に流動性を与え、熱膨張係数を適宜範囲に調整するもので、合計で0〜15%の範囲で含有させることが望ましい。15%を超えると熱膨張係数が高くなり過ぎる。より好ましくは0〜10%の範囲である。
RO(MgO,CaO,SrO,BaOから選択される一種類以上)はガラスの軟化点を下げ、適度に流動性を与え、熱膨張係数を適宜範囲に調整するもので、合計で0〜15%の範囲で含有させる。15%を超えると熱膨張係数が高くなり過ぎる。より好ましくは0〜10%の範囲である。
CuOはガラスの溶融時或いは焼成時の失透を抑制するもので、0〜5%の範囲で含有させる。5%を超えるとガラスの安定性を低下させる。より好ましくは、0〜3%の範囲である。
この他にも、一般的な酸化物で表すIn、TiO、SnO、TeOなどを上記性質を損なわない範囲で1%まで加えてもよい。
実質的にPbOを含まないことにより、人体や環境に与える影響を皆無とすることができる。ここで、実質的にPbOを含まないとは、PbOがガラス原料中に不純物として混入する程度の量を意味する。例えば、低融点ガラス中における0.3質量%以下の範囲であれば、先述した弊害、すなわち人体、環境に対する影響、絶縁特性等に与える影響は殆どなく、実質的にPbOの影響を受けないことになる。
また、30℃〜200℃における熱膨張係数が(60〜100)×10−7/℃、軟化点が280℃以上400℃以下である上記の無鉛低融点ガラスである。熱膨張係数が(60〜100)×10−7/℃を外れると厚膜形成時及び接着、封着時に剥離、基板の反り等の問題が発生する。好ましくは、(65〜90)×10−7/℃の範囲である。また、軟化点が400℃を越えると構成する他材料の変形などの問題が発生する。好ましくは、290℃以上380℃以下である。
本発明の無鉛低融点ガラスは、電子材料用基板、ディスプレイ用パネル、ディスプレイ用カバーフィルタに対して好適に使用出来る。
本発明の無鉛低融点ガラスは、粉末化して使用されることが多い。この粉末化されたガラスは、必要に応じてムライトやアルミナに代表される低膨張セラミックスフィラー、耐熱顔料等と混合され、次に有機オイルと混練してペースト化されるのが一般的である。
ガラス基板としては透明なガラス基板、特にソーダ石灰シリカ系ガラス、または、それに類似するガラス(高歪点ガラス)、あるいは、アルカリ分の少ない(又は殆ど無い)アルミノ石灰ホウ珪酸系ガラスが多用されている。
以下、実施例に基づき、説明する。
(低融点ガラス混合ペーストの作製)
源として五酸化バナジウムを、P源として正リン酸を、LiO源として炭酸リチウムを、NaO源として炭酸ナトリウムを、KO源として炭酸カリウムを、Al源として酸化アルミニウムを、ZnO源として亜鉛華を、MgO源として炭酸マグネシウムを、CaO源として炭酸カルシウムを、SrO源として炭酸ストロンチウムを、BaO源として炭酸バリウムを、CuO源として酸化第二銅を使用した。これらを所望の低融点ガラス組成となるべく調合したうえで、白金ルツボに投入し、電気加熱炉内で1000〜1300℃、1〜2時間で加熱溶融して表1の実施例1〜6、表2の比較例1〜5に示す組成のガラスを得た。
ガラスの一部は型に流し込み、ブロック状にして熱物性(熱膨張係数、軟化点)測定用に供した。残余のガラスは急冷双ロール成形機にてフレーク状とし、粉砕装置で平均粒径1〜4μm、最大粒径20μm未満の粉末状に整粒した。
次いで、αテルピネオールとブチルカルビトールアセテートからなるペーストオイルにバインダーとしてのエチルセルロースと上記ガラス粉を混合し、粘度、300±50ポイズ程度のペーストを調製した。
次いで、厚さ1mm程度となるように上記ペーストをガラス基板に塗布し、電気炉で(軟化点+30)℃まで焼成及び30分保持し、その後取りだし結晶化が顕著なものを不良、その他を良好とした。
なお、軟化点は、リトルトン粘度計を用い、粘度係数η=107.6 に達したときの温度とした。また、熱膨張係数は、熱膨張計を用い、5℃/分で昇温したときの30〜200℃での伸び量から求めた。
(結果) 低融点ガラス組成および、各種試験結果を表に示す。
表1における実施例1〜6に示すように、本発明の組成範囲内においては、軟化点が280℃〜400℃であり、好適な熱膨張係数(60〜100)×10−7/℃を有しており、更には高温での結晶化が顕著ではなく、電子材料基板用の絶縁性被膜材料及び封着材料、及びカラーセラミック材料用のガラスとして好適である。
他方、本発明の組成範囲を外れる表2における比較例1〜5は、高温での結晶化が顕著である、又は好ましい物性値を示さず、絶縁性被膜材料及び封着材料、及びカラーセラミック材料用のガラスとしては適用し得ない。

Claims (6)

  1. 無鉛低融点ガラスにおいて、質量%でVを45〜85、Pを8〜30含むことを特徴とするV−P系無鉛低融点ガラス。
  2. 質量%で、RO(LiO,NaO,KOから選択される一種類以上の合計)を0〜15、ZnOを0〜15、RO(MgO,CaO,SrO,BaOから選択される一種類以上の合計)を0〜15、CuOを0〜5、Alを0〜5含むことを特徴とする請求項1に記載の無鉛低融点ガラス。
  3. 30℃〜200℃における熱膨張係数が(60〜100)×10−7/℃、軟化点が280℃以上400℃以下であることを特徴とする請求項1または2に記載の無鉛低融点ガラス。
  4. 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の無鉛低融点ガラスを使用していることを特徴とする電子材料用基板。
  5. 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の無鉛低融点ガラスを使用していることを特徴とするディスプレイ用パネル。
  6. 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の無鉛低融点ガラスを使用していることを特徴とするディスプレイ用カバーフィルタ。
JP2008302298A 2008-09-29 2008-11-27 無鉛低融点ガラス Pending JP2010100509A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008302298A JP2010100509A (ja) 2008-09-29 2008-11-27 無鉛低融点ガラス

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008250243 2008-09-29
JP2008302298A JP2010100509A (ja) 2008-09-29 2008-11-27 無鉛低融点ガラス

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010100509A true JP2010100509A (ja) 2010-05-06

Family

ID=42291504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008302298A Pending JP2010100509A (ja) 2008-09-29 2008-11-27 無鉛低融点ガラス

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010100509A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114341070A (zh) * 2019-08-30 2022-04-12 昭和电工材料株式会社 无铅低熔点玻璃组合物以及包含其的低熔点玻璃复合材料和低熔点玻璃糊剂以及使用它们的密封结构体、电气电子部件和涂装部件

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61111935A (ja) * 1984-11-02 1986-05-30 Hitachi Ltd ガラス組成物
JPS6272543A (ja) * 1985-09-27 1987-04-03 Hitachi Ltd ガラス組成物
WO2005000755A1 (ja) * 2003-06-27 2005-01-06 Yamato Electronic Co., Ltd. 封着加工用無鉛ガラス材とこれを用いた封着加工物及び封着加工方法
JP2006169047A (ja) * 2004-12-16 2006-06-29 Central Glass Co Ltd 無鉛低融点ガラス
JP2006290665A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Boe Technology Group Co Ltd 無鉛シーリングガラス粉末及び製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61111935A (ja) * 1984-11-02 1986-05-30 Hitachi Ltd ガラス組成物
JPS6272543A (ja) * 1985-09-27 1987-04-03 Hitachi Ltd ガラス組成物
WO2005000755A1 (ja) * 2003-06-27 2005-01-06 Yamato Electronic Co., Ltd. 封着加工用無鉛ガラス材とこれを用いた封着加工物及び封着加工方法
JP2006169047A (ja) * 2004-12-16 2006-06-29 Central Glass Co Ltd 無鉛低融点ガラス
JP2006290665A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Boe Technology Group Co Ltd 無鉛シーリングガラス粉末及び製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114341070A (zh) * 2019-08-30 2022-04-12 昭和电工材料株式会社 无铅低熔点玻璃组合物以及包含其的低熔点玻璃复合材料和低熔点玻璃糊剂以及使用它们的密封结构体、电气电子部件和涂装部件
CN114341070B (zh) * 2019-08-30 2023-11-24 株式会社力森诺科 无铅低熔点玻璃组合物以及包含其的低熔点玻璃复合材料和低熔点玻璃糊剂以及使用它们的密封结构体、电气电子部件和涂装部件

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5309629B2 (ja) 耐酸性を有する無鉛ガラス組成物
US8980776B2 (en) Lead-free low melting point glass composition
JP2006298733A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2006169047A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP5957847B2 (ja) ビスマス系ガラス組成物
WO2012073662A1 (ja) 無鉛低融点ガラス組成物
JP2008019148A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2007070196A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2005231923A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP4765269B2 (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2006151763A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP4774746B2 (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2010100509A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP4892860B2 (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2008019147A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP5422952B2 (ja) 無鉛ガラス
JP5678410B2 (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2011126725A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2006111512A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2009120407A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2006117440A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2010235408A (ja) 封着用無鉛着色ガラス
JP2005219942A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2009120408A (ja) 無鉛低融点ガラス
JP2005015280A (ja) 無鉛低融点ガラス

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100325

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20100326

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110805

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130326

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130521

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130924