WO2009096483A1 - 洗浄装置 - Google Patents

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WO2009096483A1
WO2009096483A1 PCT/JP2009/051493 JP2009051493W WO2009096483A1 WO 2009096483 A1 WO2009096483 A1 WO 2009096483A1 JP 2009051493 W JP2009051493 W JP 2009051493W WO 2009096483 A1 WO2009096483 A1 WO 2009096483A1
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WO
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cleaning
tank
substrate
washing
main
Prior art date
Application number
PCT/JP2009/051493
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Shigeru Tamaki
Kouji Ueno
Masanori Asamiya
Original Assignee
Yokogawa Denshikiki Co., Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Denshikiki Co., Ltd. filed Critical Yokogawa Denshikiki Co., Ltd.
Priority to JP2009551577A priority Critical patent/JP5081928B2/ja
Publication of WO2009096483A1 publication Critical patent/WO2009096483A1/ja

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/02Cleaning by the force of jets or sprays
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/26Cleaning or polishing of the conductive pattern

Definitions

  • the present invention relates to a cleaning apparatus for cleaning an object such as a substrate.
  • a printed circuit board is a circuit board on which a pattern wiring is formed by a chemical process such as an etching process, and is desired by interconnecting electronic components mounted on the surface by the pattern wiring.
  • the electronic circuit of the present invention is configured on a substrate.
  • Such a printed circuit board is manufactured through a plurality of manufacturing steps. In one of the manufacturing steps, cleaning is performed by using a dedicated cleaning device to clean the surface of the substrate that has undergone the through hole forming step consisting of drilling and plating. There is a process.
  • the conventional cleaning process in the case of transporting the substrate by the hanger suspension method will be described.
  • the substrate after plating is directly suspended from the plating process (previous process) to the recovery cleaning tank in the cleaning process in a suspended state by the hanger. It is transported.
  • the recovery cleaning tank is a cleaning tank having an open top, and is a tank for cleaning and recovering the plating processing solution adhering to the substrate.
  • the substrate is cleaned through a series of movements from immediately above the recovery cleaning tank to falling into the tank ⁇ stop at the lowest point (immersion cleaning) ⁇ rise in the tank ⁇ stop at the highest point. Then, the substrate after the collection and cleaning is transported from the collection and cleaning tank to the position immediately above the main cleaning tank in the cleaning step while being suspended by the hanger.
  • the main cleaning tank is a tank for cleaning and cleaning the substrate after the collection and cleaning, and the substrate conveyed immediately above the main cleaning tank is cleaned through the above-described series of movements in the tank.
  • Patent Document 1 discloses an example of a substrate cleaning apparatus provided in such a printed circuit board manufacturing process.
  • the conventional cleaning apparatus has not fully satisfied the market requirements in terms of cleaning performance and running cost. That is, the conventional cleaning apparatus has problems such as being unable to sufficiently clean the plating processing solution to be removed and having a long cleaning time.
  • the present invention has been made in view of the above-described circumstances, and it is an object of the present invention to provide a cleaning apparatus capable of saving the cost by saving water and reducing the space of the cleaning process. . Another object of the present invention is to provide a cleaning apparatus capable of improving the cleaning performance and reducing the running cost.
  • a cleaning tank a pre-washing injection means for injecting a cleaning liquid toward the inside of the cleaning tank, and a cleaning liquid toward the inside of the cleaning tank
  • a circulation pipe for sending back the washing liquid drained from the washing tank to the tank, a drainage pipe for draining the washing liquid drained from the washing tank to the outside, and a washing liquid for draining the washing liquid drained from the washing tank
  • control means performs the preliminary cleaning in a period in which the external transfer device is moving the cleaning object from the outside of the cleaning tank toward the internal standby position.
  • the supply means for finishing cleaning is controlled in a period in which the cleaning liquid drained from the cleaning tank is made to flow into the circulation pipe, and the external transfer device moves the cleaning object from the standby position to the outside of the cleaning tank. It supplies the washing injection means finishing the cleaning liquid from the outside, flowing the cleaning solution is drained from the cleaning bath to control the passage switching device in the circulation pipe, to adopt solutions that.
  • a drying process is performed by blowing or radiating heat toward the inside of the cleaning tank, or a combination of the two, and the drying process is performed by the finish cleaning spray means.
  • the drying processing means is disposed so as to be a post-treatment of the cleaning processing, and the control means is a drying processing means in a period in which the external transfer device moves the cleaning object from the standby position to the outside of the cleaning tank. Is adopted to control the drying process for the object to be cleaned.
  • a cleaning tank which accommodates a substrate carried in from the outside in a substantially vertical posture, a cleaning liquid jet unit which jets the cleaning liquid from both sides onto the substrate in the cleaning tank, and a cleaning liquid which recovers the cleaning liquid from the cleaning tank.
  • the cleaning tank has a solution portion in which the lower portion in the cross section orthogonal to the substrate has a narrower width than the upper portion, and the width of the middle portion narrows from the top to the bottom.
  • a cleaning tank which accommodates a substrate carried in from the outside in a substantially vertical posture, and a cleaning liquid jet unit which jets a cleaning liquid from both sides to the substrate in the cleaning tank is provided.
  • the plurality of tubular members provided in multiple stages in the vertical direction on both sides of the surface, and the plurality of nozzles provided at predetermined intervals on each tubular member, and the nozzles of the tubular members adjacent to each other have a staggered positional relationship
  • the solution is to be arranged to be
  • each tubular member is supported by the cleaning tank by a support whose adjustable rotational posture about the axis is adjustable.
  • the nozzle is detachably attached to the tubular member in a predetermined posture.
  • a first cleaning tank which accommodates a substrate carried in from the outside in a substantially vertical posture, and a first cleaning liquid injection section which ejects the cleaning liquid from both sides to the substrate in the first cleaning tank.
  • the first cleaning liquid recovery unit which recovers the cleaning liquid from the first cleaning tank, the second cleaning tank which accommodates the substrate carried in from the outside in a substantially vertical posture, and the cleaning liquid is jetted from both sides to the substrate in the second cleaning tank.
  • the second cleaning liquid injection unit, the second cleaning liquid recovery unit that collects the cleaning liquid from the second cleaning tank, the first, second and third cleaning liquid storage tanks that store the cleaning liquid, and the first cleaning liquid injection unit A first cleaning liquid supply unit that supplies the main cleaning liquid, a second cleaning liquid supply unit that supplies the cleaning liquid as the main cleaning liquid to the second cleaning liquid ejection unit, and a third cleaning liquid supply that supplies the cleaning liquid as the finishing cleaning liquid to the second cleaning liquid ejection unit And the second cleaning fluid reservoir And a overflow pipe for supplying overflowed cleaning fluid to the first cleaning solution reservoir, to adopt solutions that.
  • the present invention space saving of the cleaning process is achieved because pre-cleaning (this pre-cleaning plays the same role as the conventional recovery cleaning), main cleaning and finish cleaning in one cleaning tank.
  • pre-cleaning this pre-cleaning plays the same role as the conventional recovery cleaning
  • main cleaning and finish cleaning in one cleaning tank.
  • the piping for circulation, the drainage pipe and the flow path switching means are provided, for example, the dirty cleaning fluid after the preliminary cleaning flows into the drainage pipe and drains to the outside, while the main cleaning and finishing
  • the relatively clean cleaning fluid after cleaning can be introduced into the circulation pipe, sent back to the tank, and reused, so the amount of cleaning fluid used can be reduced and the cost can be reduced.
  • finish cleaning since the cleaning solution is supplied from the outside, the cleaning solution in the tank can be prevented from being emptied.
  • the cleaning tank is a general box since the lower portion in the cross section orthogonal to the substrate is narrower than the upper portion and the width of the middle portion is narrowed from the upper side to the lower side. Since the cleaning liquid is collected more quickly in the cleaning tank, as compared with the type of container-shaped cleaning tank, the time required for draining the cleaning liquid in the cleaning tank can be shortened. Therefore, according to the present invention, the cleaning time can be shortened than before, that is, the cleaning performance can be improved more than before.
  • the cleaning solution jetting unit comprises a plurality of tubular members provided in multiple stages in the vertical direction on both surfaces of the substrate, and a plurality of nozzles provided at predetermined intervals in the respective tubular members, Since the nozzles of the tubular members adjacent to each other are arranged in a staggered positional relationship, both surfaces of the substrate can be cleaned more effectively, that is, the cleaning performance can be improved as compared with the prior art. .
  • the cleaning liquid overflowed in the second cleaning liquid storage tank is provided with an overflow pipe for supplying the first cleaning liquid storage tank, the finishing cleaning liquid is reused for the main cleaning and the preliminary cleaning.
  • the amount used can be reduced as compared with the prior art, and thus the running cost can be reduced while improving the cleaning performance.
  • FIG. 18 is a flowchart showing a part of detailed processing in the substrate lifting detection processing of FIG. 17;
  • FIG. It is a 4th flow chart which shows operation of substrate cleaning device A2 concerning a 2nd embodiment of the present invention.
  • preliminary cleaning solution pressure gauge 60A2 ... main cleaning solution pressure gauge, 61A ... main cleaning nozzle on-off valve, 62A ... main cleaning circulation valve, 63A1 ... first cleaning tank drainage valve, 63A2 ... preliminary cleaning drainage valve, 64A ... first cleaning Tank level gauge, 60B1 ... Finishing solution pressure gauge, 60B2 ... Main solution solution pressure gauge, 63B ... Second flush tank drainage valve, 63C ... Finishing flush tank drainage valve, 64B ... Second flush tank water level gauge, 64C ... Finishing flush tank water level Total, 66B: water supply valve, 67: control unit, 68: operation unit, 69: display unit, 70a, 70b: upper substrate detector, 70c, 70d: lower substrate inspection Vessel
  • FIG. 1A is a front view of a substrate cleaning apparatus A1 according to the first embodiment
  • FIG. 1B is a side view of the substrate cleaning apparatus A1
  • FIG. 2 is a functional block diagram of the substrate cleaning apparatus A1.
  • the XY plane is set to a plane parallel to the horizontal plane
  • the Z axis is referred to an XYZ orthogonal coordinate system set in the vertically upward direction.
  • FIG. 1A the XY plane is set to a plane parallel to the horizontal plane
  • the Z axis is referred to an XYZ orthogonal coordinate system set in the vertically upward direction.
  • FIG. 1A is a view of the substrate cleaning apparatus A1 viewed from the Y-axis direction
  • FIG. 1B is a view of the substrate cleaning apparatus A1 viewed from the X-axis direction.
  • solid arrows represent the flow of the cleaning liquid
  • broken arrows represent the electrical signal.
  • the substrate cleaning apparatus A1 includes a cleaning tank 10, a nozzle for preliminary cleaning (spraying means for preliminary cleaning) 11, a nozzle for main cleaning (spraying means for main cleaning) 12, Nozzle for finish cleaning (spray means for finish cleaning) 13, tank 14 for circulation, pump for prewash (supply means for prewash) 15, pump for main wash (supply means for main wash) 16, pump for finish cleaning (finish It comprises a cleaning supply means 17, a circulation pipe 18, a drainage pipe 19, a valve (flow path switching means) 20 and a valve-pump controller 21 (control means).
  • the cleaning tank 10 is a tank used to wash the substrate P (the object to be cleaned) after the plating process which is conveyed by the external conveyance device (not shown) such as a hanger from the plating step which is the previous process.
  • the preliminary cleaning nozzle 11 is installed on an inner side wall surface of the cleaning tank 10 via the mounting plate 10 a, and jets the cleaning solution supplied from the preliminary cleaning pump 15 toward the inside of the cleaning tank 10.
  • the substrate P transported to the loading position (uppermost point in the Z-axis direction) set immediately above the opening of the cleaning tank 10 is transferred by the external transfer device to this loading position.
  • the standby position (the lowest point in the Z-axis direction) set inside the cleaning tank 10 in the Z-axis direction.
  • the preliminary cleaning nozzle 11 is disposed at a position where the cleaning liquid is sprayed from the lower end to the upper end of the substrate P while the substrate P is lowered toward the standby position. Further, a plurality of the preliminary cleaning nozzles 11 are installed at predetermined intervals along the X-axis direction of the cleaning tank 10, and the cleaning liquid is sprayed onto the entire substrate P.
  • the main cleaning nozzle 12 is disposed on the lower side of the preliminary cleaning nozzle 11 on the inner sidewall surface of the cleaning tank 10 via the mounting plate 10a, and the cleaning liquid supplied from the main cleaning pump 16 is cleaned. It injects toward the inside of ten.
  • the main cleaning nozzle 12 is disposed at a position where the cleaning liquid is jetted to the upper end of the substrate P while the substrate P stands by at the standby position, and in the X-axis direction of the cleaning tank 10 A plurality of sets are installed along a predetermined interval.
  • the finish cleaning nozzle 13 is installed on the inner sidewall surface of the cleaning tank 10 above the preliminary cleaning nozzle 11 via the mounting plate 10a, and the cleaning solution supplied from the finish cleaning pump 17 is cleaned. It injects toward the inside of ten.
  • the finish cleaning nozzle 12 is disposed at a position where the cleaning liquid is sprayed from the upper end to the lower end of the substrate P while the substrate P is rising from the standby position to the insertion position.
  • a plurality of cleaning tanks 10 are provided at predetermined intervals along the X-axis direction of the cleaning tank 10.
  • the positional relationship between the preliminary cleaning nozzle 11, the main cleaning nozzle 12, and the finish cleaning nozzle 13 is not limited to those shown in FIGS. 1A and 1B. Further, as shown in FIGS. 1A and 1B, the preliminary cleaning nozzle 11, the main cleaning nozzle 12 and the finish cleaning nozzle 13 are provided in the cleaning tank 10 so that the cleaning solution can be sprayed from both sides of the substrate P. It is desirable to install on both side walls.
  • the circulation tank 14 is a tank for storing the cleaning liquid, and is provided at the lower part of the cleaning tank 10, and is connected to the preliminary cleaning pump 15, the main cleaning pump 16 and the circulation pipe 18. In addition, when the storage amount of the cleaning liquid exceeds the tank capacity, the circulation tank 14 causes the cleaning liquid stored therein to flow out to the drainage pipe 19 and drains it to the external drainage facility 40 (see FIG. 2). It has an overflow function.
  • the preclean pump 15 supplies the cleaning solution stored in the circulation tank 14 to the preclean nozzle 11 under the control of the valve and pump controller 21.
  • the main cleaning pump 16 supplies the cleaning solution stored in the circulation tank 14 to the main cleaning nozzle 12 under the control of the valve-pump controller 21.
  • the finish cleaning pump 17 is connected to an external tank 30 provided outside, and supplies the cleaning solution stored in the external tank 30 to the finish cleaning nozzle 13 under the control of the valve and pump controller 21. .
  • the circulation pipe 18 is connected to the drainage port 10 b of the cleaning tank 10, and is a pipe for sending back the cleaning liquid drained from the drainage port 10 b to the circulation tank 14.
  • the drainage pipe 19 is connected to the drainage port 10b of the cleaning tank 10 via the valve 20, and is a pipe for draining the cleaning liquid drained from the drainage port 10b to the external drainage facility 40.
  • the valve 20 is, for example, a solenoid valve, and under the control of the valve / pump controller 21, the cleaning liquid drained from the drain port 10b of the cleaning tank 10 is selectively selected to either the circulation pipe 18 or the drain pipe 19. It is a channel switching means for making it flow in. Specifically, when the valve 20 is closed, the cleaning fluid drained from the drainage port 10b flows into the circulation pipe 18, and when the valve 20 is opened, the cleaning fluid drained from the drainage port 10b is a drainage pipe Flow into 19
  • the valve / pump controller 21 receives the operation information of the external transfer device via the communication cable etc., and based on the received operation information of the external transfer device, the pre-washing pump 15, the main cleaning pump 16, and the finish cleaning Control the pump 17 and the valve 20.
  • the operation of the substrate cleaning apparatus A1 configured as described above will be described with reference to the flowchart of FIG. Since the substrate cleaning apparatus A1 operates in synchronization with the operation of the external transfer apparatus, the operation of the substrate cleaning apparatus A1 will be described below together with the operation of the external transfer apparatus.
  • the substrate P after the plating process from the plating process which is the previous process, is transported to the loading position directly above the cleaning tank 10 by the external transport device.
  • the external transfer device lowers (vertically moves) the substrate P from the loading position toward the standby position inside the cleaning tank 10 (step S10).
  • the valve-pump controller 21 of the substrate cleaning device A1 controls the precleaning pump 15 to circulate the tank.
  • the preliminary cleaning nozzle 11 sprays the cleaning solution to perform preliminary cleaning of the substrate P (step S10a).
  • the preliminary cleaning plays the same role as the conventional recovery cleaning.
  • the valve / pump controller 21 controls the valve 20 to be opened and the drainage is drained from the drainage port 10b.
  • the cleaning solution after the preliminary cleaning process which is dirty water, is drained to the external drainage facility 40 (step S10b).
  • the external transfer device stops its operation and causes the substrate P to stand by at the standby position for a predetermined time (step S20).
  • the valve / pump controller 21 of the substrate cleaning apparatus A1 controls the main cleaning pump 16 to be stored in the circulation tank 14.
  • the main cleaning nozzle 12 jets the cleaning liquid from the main cleaning nozzle 12 by supplying the cleaning liquid to the main cleaning nozzle 12 to perform main cleaning of the substrate P (step S20a).
  • the main cleaning nozzle 12 is disposed at such a position that the cleaning liquid is jetted to the upper end portion of the substrate P while the substrate P is on standby at the standby position.
  • the cleaning solution flows down toward the lower end of the substrate P, and the entire substrate P is cleaned uniformly.
  • the substrate P is cleaned more cleanly by such main cleaning.
  • the valve pump controller 21 controls the valve 20 to be in a closed state to drain the cleaning liquid drained from the drainage port 10b.
  • the cleaning liquid after the main cleaning processing is sent back to the circulation tank 14 (step S20b). That is, the relatively clean cleaning solution after the main cleaning process is circulated and reused in the substrate cleaning apparatus A1.
  • the external transfer device raises (vertically moves) the substrate P from the standby position toward the insertion position (step S30).
  • the valve-pump controller 21 of the substrate cleaning apparatus A1 controls the finish cleaning pump 17 to control the external tank 30 while the external transfer device raises the substrate P from the standby position toward the insertion position.
  • the cleaning solution is sprayed from the nozzle 13 for finishing cleaning to finish-clean the substrate P (step S30a).
  • the valve pump controller 21 controls the valve 20 to be in a closed state to drain the cleaning liquid drained from the drainage port 10b.
  • the cleaning liquid after the finish cleaning process is sent back to the circulation tank 14 (step S30b). That is, similarly to the cleaning solution after the main cleaning process, the relatively clean cleaning solution after the finish cleaning process is circulated in the substrate cleaning apparatus A1 for reuse.
  • the external transfer apparatus transfers the substrate P after the cleaning process to the next process (step S40).
  • the substrate cleaning apparatus A1 since preliminary cleaning, main cleaning, and finish cleaning are performed in one cleaning tank 10, space saving of the cleaning process can be achieved.
  • the dirty cleaning solution containing the plating solution after the preliminary cleaning is drained to the outside, while the relatively clean cleaning solution after the main cleaning and finish cleaning is sent back to the circulation tank 14 for reuse, so For cleaning, only the cleaning liquid required for the final cleaning is newly required, and the amount of cleaning liquid used is significantly reduced and cost is reduced compared to the conventional method in which a cleaning tank is provided for each cleaning processing and immersion cleaning is performed. can do.
  • the cleaning solution since the cleaning solution is supplied from the outside, it is possible to compensate the drained off after the preliminary cleaning and prevent the cleaning solution in the circulation tank 14 from being empty.
  • the cleaning tank 10 is installed vertically and the substrate P is conveyed from the vertical upper side to the inside of the cleaning tank 10 by way of example, but the cleaning tank 10 is installed horizontally
  • the substrate P may be transported into the cleaning tank 10 from the horizontal direction (or the direction in which the cleaning tank 10 is installed at an angle to the horizontal surface so as to facilitate drainage).
  • the cleaning liquid is jetted from above and below with the substrate P interposed therebetween.
  • a drying treatment means for example, a blower, an air knife, a drier, etc. for performing a drying treatment by blowing or radiating heat toward the inside of the washing tank 10, or a combination of the two towards the inside of the washing tank 10
  • a drying processing means for example, a blower, an air knife, a drier, etc.
  • Such drying processing means may be arranged such that the drying processing is a post-treatment of the finish cleaning process by the finish cleaning nozzle 13 (arranged above the finish cleaning nozzle 13 in FIGS. 1A and 1B). desirable.
  • the substrate cleaning apparatus A1 for the cleaning process after the plating process has been described as an example, but the substrate cleaning apparatus A1 is not limited to the cleaning process after such plating process. It can be used in a general cleaning process for cleaning chips, dust and the like adhering to P. The substrate cleaning apparatus A1 can also be used to clean objects to be cleaned other than the substrate P.
  • FIG. 4 is a front view showing an appearance configuration of a substrate cleaning apparatus A2 according to the second embodiment
  • FIG. 5 is a top view showing an appearance configuration of the substrate cleaning apparatus A2
  • FIG. 6 is an appearance configuration of the substrate cleaning apparatus A2.
  • the x-axis, y-axis, and z-axis in these figures indicate orthogonal coordinate systems. Among these three axes, the x-axis and the z-axis are horizontal directions orthogonal to each other, and the y-axis is the vertical direction.
  • the substrate cleaning apparatus A2 includes, as main components, a first cleaning tank 51A, a second cleaning tank 51B, a first cleaning liquid injection unit 52A, a second cleaning liquid injection unit 52B, and a first cleaning liquid recovery unit.
  • 53A, second cleaning liquid recovery unit 53B, first cleaning tank 54A (first cleaning liquid storage tank), second cleaning tank 54B (second cleaning liquid storage tank), finish cleaning tank 54C (third cleaning liquid storage tank), first cleaning A pump 55A, a second cleaning pump 55B, a finish cleaning pump 55C, an overflow pipe 56A, and a second overflow pipe 56B are provided.
  • Such a substrate cleaning apparatus A2 is an apparatus for performing a cleaning process on a substrate W which is a base material carried in from a previous process, for example, in a process of manufacturing a printed circuit board (printed wiring board).
  • the substrate W cleaned by the substrate cleaning apparatus A2 is delivered to the subsequent process.
  • the first cleaning tank 51A and the second cleaning tank 51B are containers for accommodating the substrate W carried in from above (in the y-axis direction) in a substantially vertical posture, and have substantially the same shape.
  • the first cleaning tank 51A is located upstream of the manufacturing process, and the second cleaning tank 51B is located downstream of the manufacturing process.
  • the characteristics of the first cleaning tank 51A and the second cleaning tank 51B appear in the right side view shown in FIG.
  • the first cleaning tank 51A and the second cleaning tank 51B are different from a general box-shaped container, in which the lower portion K in the cross section orthogonal to the substrate W in the substantially vertical posture (that is, the cross section in the yz plane) Also, the width (z-axis direction width) of the middle portion T is gradually narrowed from the top to the bottom with a constant inclination.
  • the first cleaning liquid jet unit 52A is provided in the first cleaning tank 51A, and jets the cleaning liquid from both sides to the substrate W accommodated in the first cleaning tank 51A. That is, as shown in the schematic side view of FIG. 7, the first cleaning liquid jetting unit 52A has a total of six first cleaning arms 52a1 to 52a3 positioned on both sides of the substrate W and in the vertical direction (direction of y axis). , 52a4 to 52a6. Each of the first cleaning arms 52a1 to 52a3 and 52a4 to 52a6 is a tubular member in which a hole through which the cleaning solution passes is formed, and as shown in the upper schematic view of FIG. It is provided at regular intervals along the line. Such a first cleaning liquid jet unit 52A jets the cleaning liquid that has passed through the inside toward the substrate W from the respective first cleaning nozzles 52a7.
  • the first cleaning arms 52a1 to 52a3 and 52a4 to 52a6 are located on the front side of the first cleaning tank 51A, and the substrate W from each first cleaning nozzle 52a7
  • the first cleaning arms 52a4 to 52a6 are positioned on the back side of the first cleaning tank 51A, and the cleaning solution is sprayed onto one side (hereinafter referred to as the surface) of the substrate W.
  • the cleaning solution is sprayed on one side (hereinafter referred to as the back side).
  • the two first cleaning arms 52a1 and 52a4 positioned in the upper stage in the first cleaning tank 51A are used for the preliminary cleaning solution from the respective first cleaning nozzles 52a7.
  • the four first cleaning arms 52a2, 52a3, 52a5 and 52a6 located in the middle and lower stages are the main cleaning arm 52A1 for injecting the main cleaning solution from the respective first cleaning nozzles 52a7. is there.
  • the second cleaning liquid injection unit 52B has the same configuration as the first cleaning liquid injection unit 52A. That is, the second cleaning liquid jet unit 52B is provided in the second cleaning tank 51B, and jets the cleaning liquid from both sides to the substrate W accommodated in the second cleaning tank 51B. As shown in the schematic side view of FIG. 7, the second cleaning liquid jetting unit 52B has a total of six second cleaning arms 52b1 to 52b3 and 52b4 positioned on both sides of the substrate W and in the vertical direction (direction of y axis). It consists of ⁇ 52b6.
  • Each of the second cleaning arms 52b1 to 52b3 and 52b4 to 52b6 is a tubular member in which a hole through which the cleaning solution passes is formed, and a plurality of second cleaning nozzles 52b7 are arranged along the axis as shown in the schematic top view of FIG. It is provided at regular intervals along the line.
  • Such a second cleaning liquid jet unit 52B jets the cleaning liquid that has passed through the inside from the respective second cleaning nozzles 52b7 toward the substrate W.
  • the second cleaning arms 52b1 to 52b3 and 52b4 to 52b6 are located on the front side of the second cleaning tank 51B, and the substrate W is provided from each second cleaning nozzle 52b7.
  • the second cleaning arms 52b4 to 52b6 are positioned on the back side of the second cleaning tank 51B, and the second cleaning arms 52b4 to 52b6 are provided with the substrate W from the respective second cleaning nozzles 52b7.
  • the cleaning solution is sprayed on one side (hereinafter referred to as the back side).
  • the two second cleaning arms 52b1 to 52b3 and 52b4 to 52b6 receive the finishing cleaning solution from the respective second cleaning nozzles 52b7.
  • the four second cleaning arms 52b, 52b, 52b, 52b 6 located in the middle and lower stages are the main cleaning arm 52B1 for injecting the main cleaning solution from the respective second cleaning nozzles 2b 57. is there.
  • FIG. 9 is a plan view showing the mounting structure of the first cleaning arms 52a1 to 52a3 and 52a4 to 52a6 and the second cleaning arms 52b1 to 52b3 and 52b4 to 52b6. Since each of the first cleaning arms 52a1 to 52a3 and 52a4 to 52a6 and the second cleaning arms 52b1 to 52b3 and 52b4 to 52b6 have the same mounting structure, FIG. 9 represents the mounting structure of the first cleaning arm 52a1. Is shown. Hereinafter, the mounting structure of the first cleaning arms 52a1 to 52a3 and 52a4 to 52a6 and the second cleaning arms 52b1 to 52b3 and 52b4 to 52b6 will be described as a representative of the first cleaning arm 52a1.
  • a fixing flange 52a8 is provided on the left end surface of the first cleaning arm 52a1 which is a tubular member, and the first cleaning arm 52a1 is supported by the first cleaning tank 51A by the fixing flange 52a8.
  • the fixing flanges 52a8 are formed with elongated holes 52a9 and 52a10 at two opposing positions across the central portion.
  • the first cleaning arm 52a1 is fixed to the first cleaning tank 51A by inserting bolts 52a11 and 52a12 into the elongated holes 52a9 and 52a10.
  • the fixing flange 52a8 and the bolts 52a11 and 52a12 constitute a support for fixing the first cleaning arm 52a1 to the first cleaning tank 51A.
  • the bolts 52a11 and 52a12 are screwed into the screw holes provided in advance in the first cleaning tank 51A, the positions are fixed, but the fixing flange 52a8 is fixed to the bolts 52a11 and 52a9 via the long holes 52a9 and 52a10, respectively. It is engaged with 52a12.
  • this mounting structure it is possible to adjust the posture relationship of the first cleaning nozzles 52a7 with respect to the first cleaning tank 51A by rotating the first cleaning arm 52a1 about the axis. That is, according to the support tool, the rotational attitude about the axis of the first cleaning arm 52a1 is adjustable, so the injection angle (the injection angle in the yz plane) of the cleaning liquid to the substrate W is adjusted. be able to.
  • FIG. 10A is an assembly view showing a detailed structure of each first cleaning nozzle 52a7 and each second cleaning nozzle 52b7
  • FIG. 10B is a front view showing a mounting state of each first cleaning nozzle 52a7 and each second cleaning nozzle 52b7
  • FIG. 10C is a side view showing a mounting state of each first cleaning nozzle 52a7 and each second cleaning nozzle 52b7. Since each first cleaning nozzle 52a7 and each second cleaning nozzle 52b7 have the same structure, in FIGS. 10A to 10C, the structure of the first cleaning nozzle 52a7 provided in the first cleaning arm 52a1 is representatively shown. It shows. Hereinafter, the structure of the first cleaning nozzle 52a7 will be described as a representative of the first cleaning arm 52a1.
  • the first cleaning nozzle 52a7 is composed of a nozzle body 52a13, a seal member 52a14 and a clasp 52a15.
  • the nozzle body 52a13 is a resin molded body in which a long nozzle hole 52a16 is formed as shown in the front view of FIG. 10B.
  • the seal member 52a14 is a rubber ring-shaped member.
  • the clasp 52a15 is formed by curving a resilient metal wire, and is movably attached to the nozzle body 52a13.
  • Such a first cleaning nozzle 52a7 inserts the end of the nozzle main body 52a13 into the opening 52a17 formed in the first cleaning arm 52a1 with the seal member 52a14 being sandwiched, and the clasp 52a15 is inserted into the first cleaning arm 52a1. It is fixed to the first cleaning arm 52a1 by changing its posture with respect to the nozzle main body 52a13 so as to wind around it.
  • the nozzle hole 52a16 of the first cleaning nozzle 52a7 is in the axial direction of the first cleaning arm 52a1. It is inclined at a predetermined angle ⁇ with respect to (the direction of the x-axis) without the need for adjustment of the angle. Therefore, as shown in FIG. 8, the locus on the substrate W of the cleaning liquid sprayed onto the substrate W from the first cleaning nozzles 52a7 provided in the first cleaning arm 52a1 is relative to the axial direction of the first cleaning arm 52a1. Is inclined by an angle ⁇ .
  • the first cleaning nozzle 52a7 is attached and detached in a predetermined posture with respect to the first cleaning arm 52a1, that is, in a posture in which the long hole nozzle hole 52a16 is inclined at a predetermined angle ⁇ with respect to the axial direction (direction of x axis) It is attached freely.
  • each first cleaning of the four first cleaning arms 52a, 52a, 52a 5 and 52a 6 (main cleaning arms) located at the middle and lower stages.
  • the nozzles 52a7 are arranged such that adjacent ones have a staggered positional relationship.
  • the second cleaning nozzles 52b7 are arranged such that adjacent ones have a staggered positional relationship.
  • the cleaning solution of the first cleaning nozzle 52a7 of the four first cleaning arms 52a2, 52a3, 52a5 and 52a6 (main cleaning arms) located at the middle and lower stages in the first cleaning solution jetting unit 52A Trajectories and trajectories of the cleaning liquid formed by the respective second cleaning nozzles 52b7 of the four second cleaning arms 52b, 52b, 52b and 52b6 (arms for main cleaning) located at the middle and lower stages in the second cleaning liquid jet part 52B.
  • the first cleaning arms 52a2 and 52a3 main cleaning arms
  • the first cleaning arm positioned on the front side of the first cleaning tank 51A and the second cleaning tank 51B, respectively.
  • the first cleaning liquid recovery section 53A is a pipe whose one end is opened to the bottom of the first cleaning tank 51A and the other end is connected to the first cleaning tank 54A, and the main cleaning liquid is extracted from the first cleaning tank 51A to the first cleaning tank 54A.
  • the second cleaning liquid recovery unit 53B is a pipe whose one end is opened to the bottom of the second cleaning tank 51B and the other end is connected to the second main cleaning tank 54B, and the main cleaning liquid and the finishing cleaning liquid are removed from the second cleaning tank 51B. 2 Collect in the washing tank 54B.
  • the first cleaning tank 54A receives the preliminary cleaning liquid and the main cleaning liquid recovered from the first cleaning tank 51A by the first cleaning liquid recovery section 53A, and from the second cleaning tank 54B via the overflow piping 56A. It is a container which stores the supplied main cleaning fluid and finishing cleaning fluid.
  • the first cleaning tank 54A is provided with a drainage pipe for draining the overflowing cleaning liquid to the outside.
  • the second cleaning tank 54B (second cleaning liquid storage tank) is a main cleaning liquid and a finishing cleaning liquid recovered from the second cleaning tank 51B by the second cleaning liquid recovery section 53B, and a finish cleaning tank 54C via a second overflow piping 56B.
  • Container for storing the finishing cleaning solution supplied from The finish cleaning tank 54C (third cleaning solution storage tank) is a container for storing a finish cleaning solution supplied from the outside.
  • the first cleaning pump 55A pumps up the cleaning solution stored in the first cleaning tank 54A and supplies it as a preliminary cleaning solution to the first cleaning arms 52a1 and 52a4 (preliminary cleaning arms) of the first cleaning solution injection unit 52A.
  • the cleaning fluid stored in the cleaning tank 54A is drawn up and supplied as the main cleaning fluid to the first cleaning arms 52a2, 52a3, 52a5 and 52a6 (main cleaning arms) of the first cleaning fluid spray unit 52A.
  • the second cleaning pump 55B pumps up the cleaning solution stored in the second cleaning tank 54B and supplies it as the main cleaning solution to the second cleaning arms 52b, 52b 3, 52b 5 and 52b 6 (main cleaning arms) of the first cleaning solution injection unit 52A.
  • the finish cleaning pump 55C pumps up the finish cleaning solution stored in the finish cleaning tank 54C and supplies it to the second cleaning arms 52b1 and 52b4 (an arm for finish cleaning) of the first cleaning solution injection unit 52A.
  • the lower portion K of the first cleaning tank 51A is narrower than the upper portion J, and the width of the middle portion T is gradually inclined from the top to the bottom at a constant inclination.
  • An empty space is created on the side of the lower portion K due to the narrowing relationship.
  • the finish cleaning tank 54C and the finish cleaning pump 55C relating to the finish cleaning solution are disposed in this empty space, and the substrate cleaning apparatus A2 thereby realizes the reduction of the installation space.
  • the overflow pipe 56A is a pipe that connects the upper portion of the second cleaning tank 54B to the first cleaning tank 54A, and supplies the cleaning liquid overflowed in the second cleaning tank 54B to the first cleaning tank 54A.
  • the second overflow piping 56B is a piping that connects the upper portion of the finishing cleaning tank 54C and the second cleaning tank 54B, and supplies the finishing cleaning solution overflowed by the finishing cleaning tank 54C to the second cleaning tank 54B.
  • the draining portion 57 is a pipe whose one end opens to the bottom of the first cleaning tank 51A, and drains the cleaning liquid provided for the preliminary cleaning from the first cleaning tank 51A to the outside.
  • the finishing cleaning solution supplied from the outside is, for example, pure water
  • the preliminary cleaning solution and the main cleaning solution are the cleaning solutions for which such finishing cleaning solution has been subjected to preliminary cleaning and main cleaning, that is, circulating water in the present substrate cleaning apparatus A. is there.
  • the operation process diagram shows the substrate cleaning operation of the substrate cleaning apparatus A2 corresponding to the transport operation of the substrate W.
  • a printed circuit board (printed wiring board) is manufactured by sequentially transferring the substrate W by a dedicated substrate transfer device in a predetermined process order.
  • the substrate W is transported in the vertical state and the upper end supported by a hanger type substrate transport apparatus.
  • the movement of the substrate W will be described first.
  • the substrate W carried in from the previous step by the substrate transfer device is sequentially lowered from above in the first cleaning tank 51A (step S1), and is defined at the lowermost position defined in advance.
  • step S2 After stopping temporarily (step S2), the inside of the first cleaning tank 51A is sequentially raised (step S3), and temporarily stopped at the uppermost position defined in advance (step S4).
  • step S5 the substrate W moves horizontally to move to the upper side of the second cleaning tank 51B (step S5), descends sequentially in the second cleaning tank 51B (step S6), and temporarily stops at the lowermost position defined in advance.
  • Step S7 Then, the inside of the second cleaning tank 51B is sequentially raised (Step S8), and once stopped at the uppermost position defined in advance (Step S4), the sheet is sent out to the subsequent process.
  • the substrate cleaning apparatus A2 performs a cleaning process on the substrate W in synchronization with the movement of the substrate W, as shown in steps Sa1 to Sa5. That is, the first cleaning pump 55A is positioned in the upper stage in the first cleaning tank 51A in the period from the start of the lowering of the substrate W in the first cleaning tank 51A to the stop at the lowermost position.
  • the cleaning solution of the first cleaning tank 54A is supplied to the arms 52a1 and 52a4 (arms for preliminary cleaning) as a preliminary cleaning solution.
  • the preliminary cleaning liquid is sprayed from the first cleaning arms 52a1 and 52a4 (arms for preliminary cleaning) onto the substrate W to perform preliminary cleaning of the substrate W (step Sa1).
  • the preliminary cleaning solution ejected from the first cleaning arms 52a1 and 52a4 (a preliminary cleaning arm) to the substrate W collides with the front and back surfaces of the substrate W, and then drops from the substrate W to perform the first cleaning. It gathers at the bottom of tank 51A, and is drained via drainage part 57 (Step Sa2).
  • the first cleaning tank 51A has a width (width in the z-axis direction) in which the lower portion K is narrower than the upper portion J and a width (width in the z-axis direction) of the intermediate portion T Since the container shape is set to gradually narrow at a constant inclination from the top to the bottom, the preliminary cleaning liquid is in the first cleaning tank 51A when compared with the general box-shaped container-shaped cleaning tank It is collected more quickly and flows into the drainage part 57.
  • the recovery and drainage of the preliminary cleaning liquid can be performed faster than the cleaning apparatus using the general box-shaped container-shaped cleaning tank, and the time required for the recovery and drainage can be shortened.
  • the cleaning time can be shortened than before.
  • the circulation efficiency is improved, it is possible to make the tank volume smaller than that of a conventional washing apparatus using a washing tank.
  • the first cleaning pump 55A is the main cleaning solution stored in the first cleaning tank 54A while the substrate W starts rising in the first cleaning tank 51A. And supplies the first cleaning arms 52a2, 52a3, 52a5 and 52a6 (main cleaning arms) of the first cleaning liquid jet unit 52A. As a result, the main cleaning liquid is sprayed onto the substrate W from the first cleaning arms 52a2, 52a3, 52a5 and 52a6 (main cleaning arms), and the substrate W is main cleaned (step Sa3).
  • the main cleaning liquid used for such main cleaning is recovered to the first cleaning tank 54A via the first cleaning liquid recovery unit 53A.
  • the cleaning fluid collected in the first cleaning tank 54A that is, the cleaning fluid subjected to the main cleaning, is to be subjected to the preliminary cleaning as described above.
  • Such main cleaning in the first cleaning tank 51A is the first main cleaning in the substrate cleaning apparatus A2.
  • the first main cleaning since the main cleaning liquid is jetted to the substrate W along the loci shown in FIGS. 7, 8 and 11, according to the first main cleaning in the substrate cleaning apparatus A2, both sides of the substrate W It can be cleaned effectively.
  • the spray angle of the cleaning liquid with respect to the substrate W can be optimized by the support, the both surfaces of the substrate W can be cleaned more effectively.
  • the second cleaning pump 55B uses the cleaning liquid of the second cleaning tank 54B as the main cleaning liquid to perform the second cleaning of the first cleaning liquid jet part 52A.
  • Supply to arms 52 b 2, 52 b 3, 52 b 5, 52 b 6 (arms for main cleaning).
  • the main cleaning liquid is sprayed onto the substrate W from the second cleaning arms 52b, 52b 3, 52b 5, 52b 6 (main cleaning arms), and the substrate W is main cleaned (step Sa4).
  • the preliminary cleaning solution sprayed from the second cleaning arms 52b, 52b, 52b 5, 52b 6 (main cleaning arms) onto the substrate W collides with the front and back surfaces of the substrate W
  • the liquid drops from the substrate W and gathers at the bottom of the second cleaning tank 51B, and is collected in the second cleaning tank 54B via the second cleaning liquid collecting unit 53B.
  • the finishing cleaning pump 55C performs the final cleaning solution for the finishing cleaning tank 54C with the first cleaning solution jet. It supplies to 2nd washing
  • a clean finish main cleaning solution for example, pure water
  • the finishing cleaning solution sprayed onto the substrate W from the second cleaning arms 52b1 and 52b4 (the finishing cleaning arm) is collected in the second cleaning tank 54B via the second cleaning solution collecting unit 53B. Ru.
  • the finishing cleaning solution and the main cleaning solution subjected to the second main cleaning in the second cleaning tank 51B are recovered to the second cleaning tank 54B via the second cleaning solution recovery unit 53B, and overflowed in the finishing cleaning tank 54C.
  • the finishing cleaning solution is collected into the second cleaning tank 54B via the second overflow pipe 56B.
  • the cleaning liquid overflowing in the second cleaning tank 54B (a liquid mixture of the finishing cleaning liquid and the second main cleaning liquid) is collected in the first cleaning tank 54A via the overflow pipe 56A.
  • the preliminary cleaning liquid pumped up from the first cleaning tank 54A and provided for the preliminary cleaning is drained to the outside through the drainage portion 57.
  • the substrate cleaning apparatus A2 since the finish cleaning solution is finally drained while being reused for finishing cleaning ⁇ second main cleaning ⁇ first main cleaning ⁇ preliminary cleaning, the utilization efficiency of the cleaning solution is high, and hence the cleaning solution The amount of use of can be significantly reduced compared to the prior art. Therefore, according to the substrate cleaning apparatus A, the running cost can be significantly reduced as compared with the prior art.
  • FIG. 13 is a block diagram showing a control configuration of the substrate cleaning apparatus A2.
  • a preliminary cleaning solution pressure gauge 60A1, a main cleaning solution pressure gauge 60A2, a main cleaning nozzle on-off valve 61A, a main cleaning circulation valve 62A, a first cleaning tank drainage valve 63A1, a spare A flush drain valve 63A2 and a first flush tank water level gauge 64A are provided in the first cleaning tank 51A.
  • finish washing liquid pressure gauge 60B1, main washing liquid pressure gauge 60B2, second washing tank drain valve 63B, finish washing tank drain valve 63C, second washing tank water level gauge 64B, finish washing tank water level meter 64C and a water supply valve 66B are provided in the second washing tank 51B.
  • the various valves provided in the first cleaning tank 51A and the second cleaning tank 51B and the first to third cleaning pumps 55A to 55C are based on the measurement values of the various measuring instruments, etc.
  • Control unit 67 for controlling the operation an operation unit 68 for receiving an operation instruction of the operator, a display unit 69 for notifying the operator of the operation state of the substrate cleaning apparatus A2, etc., and upper substrate detection for detecting the movement of the substrate W And the lower substrate detectors 70c and 70d.
  • the preliminary washing solution pressure gauge 60A1 measures the pressure of the preliminary washing solution supplied from the first washing pump 55A to the preliminary washing arm 52A1, and outputs to the control unit 67 whether the pressure is equal to or higher than a predetermined threshold value.
  • the main cleaning solution pressure gauge 60A2 measures the pressure of the main cleaning solution supplied from the first cleaning pump 55A to the main cleaning arm 52A2 via the main cleaning nozzle on-off valve 61A, and the pressure is equal to or higher than a predetermined threshold value. Is output to the control unit 67.
  • the main cleaning nozzle on-off valve 61A is provided between the first cleaning pump 55A and the main cleaning arm 52A2, and based on the control signal input from the control unit 67, the first cleaning pump 55A Supply of the main cleaning liquid to the main cleaning arm 52A2 is turned on / off.
  • the main cleaning circulation valve 62A is provided in the middle of a pipe (not shown) connecting the bottom of the first cleaning tank 51A and the first cleaning tank, and the main cleaning circulation valve 62A is operated based on the control signal input from the control unit 67.
  • the supply of the main cleaning liquid collected from the bottom of the cleaning tank 51A to the first cleaning tank is turned ON / OFF.
  • the first cleaning tank drain valve 63A1 is provided at the bottom of the first cleaning tank 54A described above, and based on the control signal input from the control unit 67, to the outside of the cleaning solution stored in the first cleaning tank 54A. Turn on / off drainage of water.
  • the preliminary cleaning drainage valve 63A2 turns ON / OFF drainage of the preliminary cleaning solution collected from the bottom of the first cleaning tank 51A based on the control signal input from the control unit 67.
  • the first cleaning tank water level gauge 64A measures the water level of the cleaning liquid stored in the first cleaning tank 54A, and outputs a signal indicating whether the water level is equal to or higher than a predetermined threshold value to the control unit 67.
  • the finish cleaning solution pressure gauge 60B1 measures the pressure of the finish cleaning solution supplied to the finish cleaning arm 52B1 from the finish cleaning pump 55C described above, and controls a signal indicating whether the pressure is equal to or higher than a predetermined threshold value. Output to the part 67.
  • the main cleaning fluid pressure gauge 60B2 measures the pressure of the main cleaning fluid supplied to the main cleaning arm 52B2 from the second cleaning pump 55B described above, and outputs a signal indicating whether the pressure is equal to or higher than a predetermined threshold value Output to 67.
  • the second cleaning tank drain valve 63B is provided at the bottom of the second cleaning tank 54B, and the main cleaning liquid stored in the second cleaning tank 54B to the outside based on the control signal input from the control unit 67. Turn on / off drainage.
  • the finish cleaning tank drainage valve 63C is provided at the bottom of the finish cleaning tank 54C, and turns on drainage to the outside of the finish cleaning solution stored in the finish cleaning tank 54C based on a control signal input from the control unit 67. / Turn off.
  • the second washing tank water level gauge 64B measures the water level of the main washing solution stored in the second washing tank 54B, and outputs a signal indicating whether the water level is equal to or more than a predetermined threshold value to the control unit 67.
  • the finish washing tank water level gauge 64C measures the water level of the finish washing solution stored in the finish washing tank 54C, and outputs a signal indicating whether the water level is equal to or more than a predetermined threshold value to the control unit 67.
  • the upper substrate detectors 70a and 70b detect whether the substrate W is at a height corresponding to the upper portion of the first cleaning tank 51A (the second cleaning tank 51B), and control unit 67 indicates a signal indicating the detection result.
  • Output to The lower substrate detectors 70c and 70d detect whether the substrate W is at a height corresponding to the lower portion of the first cleaning tank 51A (the second cleaning tank 51B), and control unit 67 indicates a signal indicating the detection result.
  • Output to The upper substrate detectors 70a and 70b and the lower substrate detectors 70c and 70d are provided in pairs to ensure redundancy in position detection of the substrate W.
  • the water supply valve 66B is provided between the external water supply system and the finish cleaning tank 54C, and turns on / off external water supply to the finish cleaning tank 54C based on a control signal input from the control unit 67.
  • the control unit 67 has a predetermined control program stored in advance in the internal memory, measurement values of the various measuring instruments, detection results of the upper substrate detectors 70a and 70b and lower substrate detectors 70c and 70d, and an operation unit 68
  • the program control device controls the substrate cleaning apparatus A2 in an integrated manner by controlling the various valves and the first to third cleaning pumps 55A to 55C based on an operation instruction received from the above.
  • the control unit 67 includes a non-volatile memory for storing the control program, a central processing unit (CPU) for executing the control program, various measuring instruments, various valves, and first to third cleaning pumps 55A to 55C. And an interface circuit that exchanges various signals with each other.
  • the operation unit 68 is composed of a plurality of operation buttons to which individual functions are assigned, and outputs a signal (operation signal) indicating an operation instruction received by the worker to the control unit 67.
  • the display unit 69 is provided to notify an operator or the like of the operation state or the like of the substrate cleaning apparatus A2, and visually displays various information based on a display control signal input from the control unit 67.
  • FIG. 14 is a timing chart showing the detailed operation of the substrate cleaning apparatus A2 based on such a control configuration.
  • the substrate W is transported by the substrate transport apparatus from the previous step to the first cleaning tank 51A, and subsequently transported from the first cleaning tank 51A to the second cleaning tank 51B, and further from the second cleaning tank 51B. It is transported to the post process.
  • the control unit 67 of the substrate cleaning apparatus A2 detects the movement of the substrate W by such a substrate transfer apparatus by the upper substrate detectors 70a and 70b and the lower substrate detectors 70c and 70d, thereby the first cleaning tank 51A and the first cleaning tank 51A.
  • the various valves and the first to third cleaning pumps 55A to 55C are controlled in synchronization with the movement of the substrate W in each of the second cleaning tanks 51B.
  • the control unit 67 operates the first cleaning pump 55A promptly.
  • the preliminary cleaning of the substrate W is started by supplying the preliminary cleaning solution to the preliminary cleaning arm 52A1 (timing 2).
  • the control unit 67 stops the first cleaning pump 55A and ends the preliminary cleaning (timing 2). .
  • the control unit 67 changes the main cleaning nozzle on-off valve 61A from the closed state to the open state (timing 6) and a predetermined time, for example, 15 seconds, from the stop of the first cleaning pump 55A.
  • a predetermined time for example, 15 seconds
  • the preliminary cleaning drainage valve 63A2 since the preliminary cleaning is performed with the preliminary cleaning drainage valve 63A2 open, the preliminary cleaning solution is drained without flowing into the first cleaning tank 54A. In addition, after a predetermined time has elapsed from the stop of the first cleaning pump 55A, that is, the preliminary cleaning drainage valve 63A2 changes from the open state to the closed state in a state where the preliminary cleaning liquid in the first cleaning tank 51A is sufficiently recovered. The inflow of the preliminary cleaning liquid to the first cleaning tank 54A can be more reliably prevented.
  • the control unit 67 changes the main washing circulation valve 62A from the closed state to the open state (timing 8) and operates the first washing pump 55A to start the main washing To make it (timing 9).
  • the pressure of the main cleaning fluid detected by the main cleaning fluid pressure gauge 60A2 gradually rises, and as shown in the drawing, the pressure exceeds the threshold after 4 seconds, for example.
  • control unit 67 detects the rise of the substrate W in the first cleaning tank 51A by the upper substrate detectors 70a and 70b or the lower substrate detectors 70c and 70d during a predetermined time-out period, for example, 130 seconds. (Timing 11), the first cleaning pump 55A is stopped to end the main cleaning (timing 9), and the main cleaning nozzle on-off valve 61A is changed from the open state to the closed state (timing 6).
  • the control unit 67 changes the preliminary cleaning drainage valve 63A2 from the closed state to the open state ( Timing 7). Further, when the pre-washing drainage valve 63A2 is completely closed, the control unit 67 changes the main washing circulation valve 62A from the open state to the closed state (timing 8).
  • the substrate W for which the preliminary cleaning and the main cleaning have been completed is transferred from the first cleaning tank 51A to the second cleaning tank 51B by the substrate transfer device.
  • the control unit 67 causes the second cleaning pump 55B to pass after a predetermined time, for example, 2 seconds. Is operated to supply the main cleaning liquid to the main cleaning arm 52B2 to start main cleaning of the substrate W (timing 13).
  • the controller 67 detects that the upper substrate detectors 70a and 70b or the lower substrate detectors 70c and 70d raise the substrate W in the second cleaning tank 51B during a predetermined time-out period, for example, 130 seconds. Timing 11) The second cleaning pump 55B is stopped to end the main cleaning (timing 13), and the finishing cleaning is started by operating the finishing cleaning pump 55C (timing 15).
  • the control unit 67 stops the finishing cleaning pump 55C and ends the finishing cleaning (timing 15). Further, the control unit 67 changes the water supply valve 66B from the closed state to the open state simultaneously with the completion of the above-mentioned finish cleaning (timing 12), and refills the finish cleaning tank 54C with clean water.
  • FIG. 15 is a schematic view showing the water level change of each tank accompanying the operation of the substrate cleaning apparatus A2.
  • the substrate cleaning apparatus A2 includes three tanks, that is, the first cleaning tank 54A, the second cleaning tank 54B, and the finish cleaning tank 54C, but replenishment of the cleaning solution from the outside is performed only to the finish cleaning tank 54C. To be done. Then, a part of the cleaning solution replenished from the outside to the finish cleaning tank 54C is supplied to the first cleaning tank 54A and the second cleaning tank 54B via the second overflow piping 56B, the overflow piping 56A, and the like.
  • the control unit 67 self-checks the signals respectively input from the first cleaning tank water level gauge 64A, the second cleaning tank water level gauge 64B and the finishing cleaning tank water level gauge 64C when the substrate cleaning apparatus A2 is powered on. Make sure that the cleaning solution is full. When all the tanks are not full, the control unit 67 sets the water supply valve 66B in the open state to make all the tanks full, as shown in the top row of FIG.
  • the substrate cleaning apparatus A2 starts operation in a state where all the tanks are full of water in this way, and as described above, the primary cleaning and the main cleaning in the first cleaning tank 51A and the main in the second cleaning tank 51B.
  • Cleaning solution for each tank is used for cleaning and finish cleaning. That is, the cleaning solution in the first cleaning tank 54A gradually decreases as shown in the drawing by being used for the preliminary cleaning and the main cleaning, but is replenished from the second cleaning tank 54B through the overflow pipe 56A.
  • the cleaning liquid of the second cleaning tank 51B is reduced by being used for the main cleaning, it is replenished by the cleaning liquid provided for the final cleaning.
  • the control unit 67 appropriately controls the water supply valve 66B based on the measurement result of the finish cleaning tank water level gauge 64C.
  • the control unit 67 appropriately controls the water supply valve 66B positioned at the uppermost position in the flow of the cleaning liquid and the flow of the cleaning liquid between the tanks via the overflow piping 56A and the second overflow piping 56B.
  • control part 67 demonstrates control processing of the control part 67 in the main washing process in the 1st washing tank 51A in detail. The details of the preliminary cleaning process in the first cleaning tank 51A and the main cleaning process and the finish cleaning process in the second cleaning tank 51B will be omitted.
  • FIG. 16 is a flowchart showing the main cleaning process of the first cleaning tank 51A by the control unit 67.
  • the control unit 67 operates the first cleaning pump 55A with the main cleaning circulation valve 62A completely opened as shown in FIG. 14 (step Sb1). ).
  • the main cleaning water is supplied from the first cleaning pump 55A to the main cleaning arm 52A2, and spraying of the main cleaning water on both sides of the substrate W is started.
  • control unit 67 waits for a predetermined time, for example, 4 seconds, to elapse from the start of operation of the first cleaning pump 55A (step Sb2), and determines whether substrate elevation is detected thereon (step Sb3) . Then, if the determination in step Sb3 is “No”, that is, if the substrate W is stopped at the predetermined height, the control unit 67 starts counting by the timer and determines whether a predetermined time, for example, 130 s has elapsed. It is determined whether or not it is (step Sb4).
  • a predetermined time for example, 4 seconds
  • step Sb3 When the determination in step Sb3 is "Yes”, the control unit 67 causes the timer to stop counting (step Sb5), and then stops the first cleaning pump 55A (step Sb6). That is, when detecting that the substrate W transported by the external substrate transport apparatus has started to rise, the control unit 67 promptly stops the first cleaning pump 55A, that is, rapidly terminates the main cleaning.
  • step Sb3 the controller 67 detects that the substrate elevation is not detected and the determination in step Sb3 is "No"
  • the timer ends counting the predetermined time (130 s), that is, the determination in step Sb4 is "Yes”.
  • step Sb7 the first cleaning pump 55A is stopped (step Sb7), that is, after the main cleaning is completed, error processing is performed (step Sb8), and the substrate elevation detection processing of step Sb3 is subsequently performed.
  • the predetermined time (130 s) is a timeout period which is not reached when the substrate transfer apparatus is functioning normally, and when the timer counts such a timeout period, the control unit 67 Perform error processing as if something abnormal occurred.
  • step Sb4 determines whether the signal input from the main cleaning solution pressure gauge 60A2 is in the ON state (whether the predetermined threshold has been exceeded) or in the OFF state (predetermined (Step Sb9). Then, when the input signal from the main cleaning fluid pressure gauge 60A2 is in the OFF state, the control unit 67 stops the timer (step Sb10), performs error processing thereon (step Sb11), and continues to step Sb3. Board elevation detection processing of
  • control unit 67 stops the timer and performs error processing.
  • step Sb9 When it is determined in step Sb9 that the input signal from the main cleaning fluid pressure gauge 60A2 is in the ON state, the control unit 67 determines again the input signal from the main cleaning fluid pressure gauge 60A2 (step Sb12). Then, when the determination result indicates that the input signal from the main cleaning solution pressure gauge 60A2 is in the OFF state, the control unit 67 performs an error process (step Sb13), while the main cleaning solution pressure gauge 60A2 If it indicates that the input signal of is in the ON state, the substrate elevation detection processing of step Sb3 is subsequently performed.
  • control unit 67 performs the error processing in step Sb13 and then performs the substrate elevation detection processing in step Sb3.
  • FIG. 17 is a flowchart showing the substrate lifting detection process in the control unit 67.
  • FIG. 18 is a flowchart showing detailed processing of part (steps Sc1 and Sc3) in the substrate elevation detection processing.
  • the elevation of the substrate W in the first cleaning tank 51A and the second cleaning tank 51B is detected by combining the upper substrate detectors 70a and 70b and the lower substrate detectors 70c and 70d. Since the substrate elevation detection process in the first cleaning tank 51A and the substrate elevation detection process in the second cleaning tank 51B have exactly the same algorithm, the substrate elevation detection process in the first cleaning tank 51A will be representatively described below.
  • the substrate descent detection process is different in that the substrate detection on the upper substrate detectors 70a and 70b and the lower substrate detectors 70c and 70d is switched in the substrate elevation detection process described below. Since the process is essentially the same as the substrate rise detection process, the description is omitted.
  • the control unit 67 executes lower substrate detection processing 1 using the detection result of one lower substrate detector 70c (step Sc1), and determines elevation of the substrate based on the processing result (step Sc2). Further, the control unit 67 executes lower substrate detection processing 2 using the detection result of the other lower substrate detector 70d in parallel with the steps Sc1 and Sc2 (step Sc3), and based on the processing result, Ascending is determined (step Sc4). The details of steps Sc1 and Sc3 will be described later.
  • step Sc6 it is determined whether 500 ms has elapsed (step Sc6), and if the determination in step Sc5 becomes "Yes” while this predetermined time elapses, clocking by the timer is stopped (step Sc7), It is determined that the substrate W has risen above (step Sc8).
  • step Sc6 determines whether the predetermined time (500 ms) has elapsed.
  • the control unit 67 stops the processing in steps Sc1 and Sc3 (step Sc8). Execute predetermined error processing at.
  • the elevation of the substrate W is determined in step Sc2 based on the detection result of the one lower substrate detector 70c within the time difference of the predetermined time (500 ms), or the other lower substrate detection
  • the rise of the substrate W is determined in step Sc4 based on the detection result of the container 70d, the rise of the substrate W is finally determined in step Sc8.
  • the lower substrate detection process 1 of step Sc1 and the lower substrate detection process 2 of step Sc3 are the same except that the detectors used are different between one lower substrate detector 70c and the other lower substrate detector 70d.
  • the lower substrate detection process 1 of step Sc1 will be described.
  • the control unit 67 first determines whether the lower substrate detector 70c is detecting the substrate W, that is, is in the ON state, as shown in the flowchart of FIG. (Step Sd1). Then, if the determination in step Sd1 is "Yes", the control unit 67 counts a predetermined time, for example, 10 ms (step Sd2), and then again determines whether the lower substrate detector 70c is in the ON state or not. It judges (step Sd3).
  • step Sd3 the control unit 67 starts the time integration time in the ON state (step Sd4), and determines whether the integration value exceeds a predetermined time, for example, 100 ms. It judges (step Sd5). If the determination in step Sd5 is "No”, and if the determination in steps Sd1 and Sd3 is "No”, the control unit 67 repeats the determination process in step Sd1, and the determination in step Sd5 is "Yes”. In the case, it is determined whether the lower substrate detector 70c is not detecting the substrate W, that is, whether it is in the OFF state (step Sd6).
  • step Sd6 determines whether the lower substrate detector 70c is in the OFF state or not. It judges (step Sd8). Then, if the determination in step Sd8 is "Yes", the control unit 67 starts the time integration time in the OFF state (step Sd9), and determines whether the integration value exceeds a predetermined time, for example, 100 ms. It judges (step Sd10).
  • step Sd10 If the determination in step Sd10 is "No”, and if the determination in steps Sd7 and Sd9 is “No", the control unit 67 repeats the determination process in step Sd6, and the determination in step Sd10 is "no". In the case of “Yes”, the lower substrate detection processing 1 ends.
  • control unit 67 drains the cleaning liquid remaining in each cleaning tank to the outside according to the procedure shown in FIG.
  • the control unit 67 closes the water supply valve 66B (step Se1), stops the first cleaning pump 55A (step Se2), stops the second cleaning pump 55B (step Se3), and finishes Stop the washing pump 55C (Step Se4), open the preliminary washing drainage valve 63A2 (Step Se5), open the main washing circulation valve 62A (Step Se6), open the main washing nozzle on-off valve 61A (Step Se7)
  • the first cleaning tank drain valve 63A1 is set to the open state (step Se8).
  • step Se9 when the controller 67 counts 80 seconds (s) with the timer (step Se9), the controller 67 sets the second cleaning tank drain valve 63B in the open state (step Se10), and 160 seconds with the timer.
  • step Se11 When (s) is counted (step Se11), the finish cleaning tank drain valve 63C is set to the open state (step Se12), and when 180 seconds (s) is counted by the timer (step Se13), the wastewater treatment is ended.
  • the washing solution can be reliably drained from each washing tank.
  • the present invention is not limited to this. It may be configured as a one-tank type, and the pre-cleaning, the main cleaning and the finish cleaning may be performed in one cleaning tank. In this case, it is conceivable to use the cleaning solution stored in the cleaning tank for the preliminary cleaning and the main cleaning, and use a finishing cleaning solution to be externally taken in for the final cleaning.
  • the first cleaning liquid injection unit 2A is configured of a total of six first cleaning arms 52a1 to 52a3 and 52a4 to 52a6, and the second cleaning liquid injection unit 52B is a total of six second cleaning arms
  • 52b1 to 52b3 and 52b4 to 52b6 are provided, the number of cleaning arms is not limited to six. The number of cleaning arms is appropriately set according to the size of the substrate W and the like.
  • the lower portion K has a narrower width than the upper portion J, and the width of the middle portion T has a constant inclination from the top to the bottom
  • the shape is set to be gradually narrowed, but one of the shapes may be set as needed.
  • the substrate cleaning apparatus A2 is configured to include the upper substrate detectors 70a and 70b and the lower substrate detectors 70c and 70d, but instead, the upper substrate detectors 70a and 70b and the lower substrate detectors 70c and 70d may be deleted, and information (signals) on the movement of the substrate W may be taken into the control unit 67 from the external substrate transfer apparatus to control each unit.

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  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)

Abstract

 本発明は、洗浄液を節水してコストを低減すると共に、洗浄工程の省スペース化を図ることが可能な洗浄装置を提供することを目的とする。  そして、本発明は、この目的を達成するために、洗浄槽と、洗浄液を噴射する予備洗浄用噴射手段と、仕上げ洗浄用噴射手段と、タンクに貯留されている洗浄液を予備洗浄用噴射手段に供給する予備洗浄用供給手段と、主洗浄用噴射手段に供給する主洗浄用供給手段と、外部から洗浄液を仕上げ洗浄用噴射手段に供給する仕上げ洗浄用供給手段と、排水される洗浄液をタンクに送り返すための循環用配管と、洗浄液を外部に排水するための排水管と、洗浄槽から排水される洗浄液を循環用配管と排水管とのいずれか一方に流入させるための流路切換手段と、洗浄槽の内部に洗浄対象物を搬送する外部搬送装置の動作に応じて、予備洗浄用供給手段、主洗浄用供給手段、仕上げ洗浄用供給手段及び流路切換手段を制御する制御手段とを具備する。

Description

洗浄装置
 本発明は、基板等の対象物を洗浄する洗浄装置に関する。
 周知のように、プリント基板は、エッチング処理等の化学処理によってパターン配線を母材となる基板上に形成したものであり、表面に実装された電子部品を上記パターン配線によって相互接続することによって所望の電子回路を基板上に構成するものである。このようなプリント基板は、複数の製造工程を経て製造されるが、製造工程の1つに、穴あけ加工及びメッキ処理からなるスルーホール形成工程を経た基板の表面を専用の洗浄装置によって洗浄する洗浄工程がある。
 上記洗浄工程における基板の搬送方式は、ローラ等に基板を横に寝かせて搬送する方式とハンガーで基板を吊り下げて搬送する方式が一般的である。ハンガー吊り下げ方式によって基板を搬送する場合における従来の洗浄工程について説明すると、メッキ処理後の基板は、ハンガーによって吊り下げられた状態でメッキ工程(前工程)から洗浄工程における回収洗浄槽の直上に搬送される。回収洗浄槽は、上部が開放した洗浄槽であり、基板に付着したメッキ処理液を洗浄・回収するための槽である。
 基板は、回収洗浄槽の直上から槽内に降下→最下点で停止(浸漬洗浄)→槽内で上昇→最上点で停止、という一連の移動を経て洗浄される。そして、回収洗浄後の基板は、ハンガーによって吊り下げられた状態で回収洗浄槽から洗浄工程における主洗浄槽の直上に搬送される。主洗浄槽は、回収洗浄後の基板をより清浄に洗浄するための槽であり、この主洗浄槽の直上に搬送された基板は、槽内における上述した一連の移動を経て洗浄される。
 そして、主洗浄後の基板は、ハンガーによって吊り下げられた状態で主洗浄槽から仕上げ洗浄槽に搬送され仕上げ洗浄処理が行われる。この仕上げ洗浄槽に搬送された基板も、上述した一連の移動に伴なって洗浄されるが、この仕上げ洗浄処理は、必ず行われるものではなく、例えば基板のサイズが大きく、スルーホールの孔数が多い場合などに必要に応じて行われるものである。このようにして、回収洗浄、主洗浄及び仕上げ洗浄を経た基板は、ハンガーによって吊り下げられた状態で次工程に搬送される。
 下記特許文献1には、このようなプリント基板の製造工程に供される基板洗浄装置の一例が開示されている。
特開2002-363795号公報
 上述したように、従来の洗浄工程では、回収洗浄、主洗浄、仕上げ洗浄の各洗浄処理毎に専用の洗浄槽を用いるため、各洗浄槽毎に洗浄水を供給する必要があり、よって膨大な洗浄水が必要となる。特に回収洗浄槽では、基板から洗い流されたメッキ処理液の濃度が規定値以上に増加しないように、常時或いは定期的に洗浄水を槽内に供給する必要があるため、洗浄工程全体で多量の洗浄水を必要とする。
 また、複数の洗浄槽を設置するため、洗浄工程用に広いスペースを確保する必要がある。
 さらに、従来の洗浄装置は、洗浄性能やランニングコストの面で市場の要求を十分に満足するものではなかった。すなわち、従来の洗浄装置には、除去対象のメッキ処理液を十分に洗浄することができない、また洗浄時間が長い等々の解決しなければならない複数の問題がある。
 本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、洗浄水を節水してコストを低減すると共に、洗浄工程の省スペース化を図ることが可能な洗浄装置を提供することを目的とする。
 また、本発明は、洗浄性能を向上させると共にランニングコストを低減することが可能な洗浄装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明では、第1の解決手段として、洗浄槽と、洗浄槽の内部に向かって洗浄液を噴射する予備洗浄用噴射手段と、洗浄槽の内部に向かって洗浄液を噴射する主洗浄用噴射手段と、洗浄槽の内部に向かって洗浄液を噴射する仕上げ洗浄用噴射手段と、洗浄液を貯留するためのタンクと、タンクに貯留されている洗浄液を予備洗浄用噴射手段に供給する予備洗浄用供給手段と、タンクに貯留されている洗浄液を主洗浄用噴射手段に供給する主洗浄用供給手段と、外部から洗浄液を仕上げ洗浄用噴射手段に供給する仕上げ洗浄用供給手段と、洗浄槽から排水される洗浄液をタンクに送り返すための循環用配管と、洗浄槽から排水される洗浄液を外部に排水するための排水管と、洗浄槽から排水される洗浄液を循環用配管と排水管とのいずれか一方に選択的に流入させるための流路切換手段と、洗浄槽の内部に洗浄対象物を搬送する外部搬送装置の動作に応じて、予備洗浄用供給手段、主洗浄用供給手段、仕上げ洗浄用供給手段及び流路切換手段を制御する制御手段とを具備する、という解決手段を採用する。
また、第2の解決手段として、上記第1の解決手段において、制御手段は、外部搬送装置が洗浄対象物を洗浄槽の外部から内部の待機位置に向かって移動させている期間において、予備洗浄用供給手段を制御してタンクに貯留されている洗浄液を予備洗浄用噴射手段に供給すると共に、流路切換手段を制御して洗浄槽から排水される洗浄液を排水管に流入させ、外部搬送装置が洗浄対象物を待機位置に待機させている期間において、主洗浄用供給手段を制御してタンクに貯留されている洗浄液を主洗浄用噴射手段に供給すると共に、流路切換手段を制御して洗浄槽から排水される洗浄液を循環用配管に流入させ、外部搬送装置が洗浄対象物を待機位置から洗浄槽の外部に向かって移動させている期間において、仕上げ洗浄用供給手段を制御して外部から洗浄液を仕上げ洗浄用噴射手段に供給すると共に、流路切換手段を制御して洗浄槽から排水される洗浄液を循環用配管に流入させる、という解決手段を採用する。
第3の解決手段として、上記第2の解決手段において、洗浄槽の内部に向かって送風または放熱のいずれか、或いは両者の組み合わせによる乾燥処理を行うと共に、当該乾燥処理が仕上げ洗浄用噴射手段による洗浄処理の後処理になるように配置された乾燥処理手段を備え、制御手段は、外部搬送装置が洗浄対象物を待機位置から洗浄槽の外部に向かって移動させている期間において、乾燥処理手段を制御して洗浄対象物に対して乾燥処理を行う、という解決手段を採用する。
第4の解決手段として、外部から搬入された基板を略垂直姿勢で収容する洗浄槽と、該洗浄槽内の基板に両面から洗浄液を噴射する洗浄液噴射部と、洗浄槽から洗浄液を回収する洗浄液回収部とを備え、洗浄槽は、基板に直交する断面における下部が上部よりも狭い幅で、かつ、中間部の幅が上から下に向かって狭くなっている、という解決手段を採用する。
第5の解決手段として、外部から搬入された基板を略垂直姿勢で収容する洗浄槽と、該洗浄槽内の基板に両面から洗浄液を噴射する洗浄液噴射部とを備え、洗浄液噴射部は、基板の両面に上下方向に多段に設けられた複数の管状部材と、該各管状部材に所定間隔で設けられた複数のノズルとからなり、かつ、互いに隣り合う管状部材のノズルは千鳥状の位置関係となるように配置されている、という解決手段を採用する。
第6の解決手段として、上記第5の手段において、各管状部材は、軸心を中心とする回動姿勢が調整自在な支持具によって洗浄槽に支持される、という解決手段を採用する。
第7の解決手段として、上記第5または第6の手段において、ノズルは、管状部材に対して所定姿勢で着脱自在に装着される、という解決手段を採用する。 
さらに、第8の解決手段として、外部から搬入された基板を略垂直姿勢で収容する第1洗浄槽と、該第1洗浄槽内の基板に両面から洗浄液を噴射する第1洗浄液噴射部と、第1洗浄槽から洗浄液を回収する第1洗浄液回収部と、外部から搬入された基板を略垂直姿勢で収容する第2洗浄槽と、該第2洗浄槽内の基板に両面から洗浄液を噴射する第2洗浄液噴射部と、第2洗浄槽から洗浄液を回収する第2洗浄液回収部と、洗浄液を貯留する第1、2及び第3洗浄液貯留槽と、第1洗浄液噴射部に洗浄液を予備洗浄液あるいは主洗浄液として供給する第1洗浄液供給部と、第2洗浄液噴射部に洗浄液を主洗浄液として供給する第2洗浄液供給部と、第2洗浄液噴射部に洗浄液を仕上洗浄液として供給する第3洗浄液供給部と、第2洗浄液貯留槽でオーバーフローした洗浄液を前記第1洗浄液貯留槽に供給するオーバーフロー配管とを備える、という解決手段を採用する。
本発明によれば、1つの洗浄槽で予備洗浄(この予備洗浄は従来の回収洗浄と同じ役割を担うものである)、主洗浄、仕上げ洗浄を行うため、洗浄工程の省スペース化を図ることができる。
また、本発明によれば、循環用配管、排水管及び流路切換手段を備えているため、例えば予備洗浄後の汚れた洗浄液は排水管に流入させて外部に排水する一方、主洗浄及び仕上げ洗浄後の比較的清浄な洗浄液は循環用配管に流入させてタンクに送り返して再利用することができるため、洗浄液の使用量を低減しコストを削減することができる。
また、本発明によれば、仕上げ洗浄の場合は、外部から洗浄液を供給するため、タンク内の洗浄液が空になることを防止することができる。
また、本発明によれば、洗浄槽は、基板に直交する断面における下部が上部よりも狭い幅で、かつ、中間部の幅が上から下に向かって狭くなっているので、一般的な箱型の容器形状の洗浄槽と比較して、洗浄液が洗浄槽内においてより速やかに収集されるので、洗浄槽における洗浄液の排水に要する時間を短縮することができる。よって、本発明によれば、洗浄時間を従来よりも短縮すること、つまり洗浄性能を従来よりも向上させることができる。
また、本発明によれば、洗浄液噴射部は、基板の両面に上下方向に多段に設けられた複数の管状部材と、該各管状部材に所定間隔で設けられた複数のノズルとからなり、かつ、互いに隣り合う管状部材のノズルは千鳥状の位置関係となるように配置されているので、基板の両面をより効果的に洗浄することができる、つまり洗浄性能を従来よりも向上させることができる。
さらに、本発明によれば、第2洗浄液貯留槽でオーバーフローした洗浄液を第1洗浄液貯留槽に供給するオーバーフロー配管とを備えるので、つまり仕上洗浄液を主洗浄及び予備洗浄に再利用するので、洗浄液の使用量を従来よりも削減することが可能であり、よって洗浄性能を向上させつつランニングコストを低減することができる。
本発明の第1実施形態に係る洗浄装置A1の正面図である。 本発明の第1実施形態に係る洗浄装置A1の側面図である。 本発明の第1実施形態に係る洗浄装置1の機能ブロック図である。 本発明の第1実施形態に係る洗浄装置1の動作説明図である。 本発明の第2実施形態に係る基板洗浄装置A2の外観構成を示す正面図である。 本発明の第2実施形態に係る基板洗浄装置A2の外観構成を示す上面図である。 本発明の第2実施形態に係る基板洗浄装置A2の外観構成を示す右側面図である。 本発明の第2実施形態における第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bの側面模式図である。 本発明の第2実施形態における第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bの上面模式図である。 本発明の第2実施形態における各第1洗浄アーム52a1~52a3,52a4~52a6及び各第2洗浄アーム52b1~52b3,2b4~52b6の取付構造を示す平面図である。 本発明の第2実施形態における各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7の詳細構造を示す組立図である。 本発明の第2実施形態における各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7の装着状態を示す正面図である。 本発明の第2実施形態における各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7の装着状態を示す側面図である。 本発明の第2実施形態における各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7が形成する洗浄液の軌跡とを重ねた状態で示す模式図である。 本発明の第2実施形態に係る基板洗浄装置A2の基板洗浄動作を示す動作工程図である。 本発明の第2実施形態に係る基板洗浄装置A2の制御構成を示すブロック図である。 図13の制御構成に基づく基板洗浄装置A2の動作を示すタイミングチャートである。 本発明の第2実施形態における各タンクの水位変化を示す模式図である。 本発明の第2実施形態における第1洗浄槽51Aに関する制御処理(主洗浄処理)を示すフローチャートである。 本発明の第2実施形態における基板上昇検出処理を示すフローチャートである。 上記図17の基板上昇検出処理における一部詳細処理を示すフローチャートである。 本発明の第2実施形態に係る基板洗浄装置A2の動作を示す第4のフローチャートである。
符号の説明
 A1…基板洗浄装置、10…洗浄槽、11…予備洗浄用ノズル、12…主洗浄用ノズル、13…仕上げ洗浄用ノズル、14…循環用タンク、15…予備洗浄用ポンプ、 16…主洗浄用ポンプ、17…仕上げ洗浄用ポンプ、18…循環用配管、19…排水管、20…バルブ、21…バルブポンプコントローラ、30…外部タンク、40…排水設備、A2…基板洗浄装置、51A…第1洗浄槽、51B…第2洗浄槽、52A…第1洗浄液噴射部、52A1…予備洗浄用アーム、52A2…主洗浄用アーム、52B…第2洗浄液噴射部、52B1…仕上洗浄用アーム、52B2…主洗浄用アーム、53A…第1洗浄液回収部、53B…第2洗浄液回収部、54A…第1洗浄タンク(第1洗浄液貯留槽)、54B…第2洗浄タンク(第2洗浄液貯留槽)、54C…仕上洗浄タンク(第3洗浄液貯留槽)、55A…第1洗浄ポンプ、55B…第2洗浄ポンプ、55C…仕上洗浄ポンプ、56A…オーバーフロー配管、56B…第2オーバーフロー配管、57…排水部、60A1…予備洗浄液圧力計、60A2…主洗浄液圧力計、61A…主洗浄ノズル開閉弁、62A…主洗浄循環弁、63A1…第1洗浄タンク排水弁、63A2…予備洗浄排水弁、64A…第1洗浄タンク水位計、60B1…仕上洗浄液圧力計、60B2…主洗浄液圧力計、63B…第2洗浄タンク排水弁、63C…仕上洗浄タンク排水弁、64B…第2洗浄タンク水位計、64C…仕上洗浄タンク水位計、66B…給水弁、67…制御部、68…操作部、69…表示部、70a、70b…上部基板検出器、70c、70d…下部基板検出器
 以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
〔第1実施形態〕
  図1Aは、第1実施形態に係る基板洗浄装置A1の正面図であり、図1Bは基板洗浄装置A1の側面図であり、また図2は基板洗浄装置A1の機能ブロック図である。なお、以下では、図1A、図1Bに示すように、X-Y平面が水平面に平行な面に設定され、Z軸が鉛直上方向に設定されたX-Y-Z直交座標系を参照しつつ、基板洗浄装置A1における各部材の位置関係について説明する。つまり、図1Aは、基板洗浄装置A1をY軸方向から視た図であり、図1Bは、基板洗浄装置A1をX軸方向から視た図である。また、図2において、実線の矢印は洗浄液の流れを表し、破線の矢印は電気信号を表している。
 これら図1A、図1B及び図2に示すように、基板洗浄装置A1は、洗浄槽10、予備洗浄用ノズル(予備洗浄用噴射手段)11、主洗浄用ノズル(主洗浄用噴射手段)12、仕上げ洗浄用ノズル(仕上げ洗浄用噴射手段)13、循環用タンク14、予備洗浄用ポンプ(予備洗浄用供給手段)15、主洗浄用ポンプ(主洗浄用供給手段)16、仕上げ洗浄用ポンプ(仕上げ洗浄用供給手段)17、循環用配管18、排水管19、バルブ(流路切換手段)20及びバルブ・ポンプコントローラ21(制御手段)から構成されている。
 洗浄槽10は、前工程であるメッキ工程からハンガー等の外部搬送装置(図示省略)によって搬送されるメッキ処理後の基板P(洗浄対象物)を洗浄するために使用される槽である。予備洗浄用ノズル11は、取り付け板10aを介して洗浄槽10の内側の側壁面に設置されており、予備洗浄用ポンプ15から供給される洗浄液を洗浄槽10の内部に向かって噴射する。
 ここで、図1A、図1Bに示すように、洗浄槽10の開口部直上に設定された投入位置(Z軸方向の最上点)に搬送された基板Pは、外部搬送装置によって、この投入位置と洗浄槽10の内部に設定された待機位置(Z軸方向の最下点)との間でZ軸方向に往復移動する。上記の予備洗浄用ノズル11は、基板Pが待機位置に向かって降下している期間に、洗浄液が基板Pの下端部から上端部まで噴射されるような位置に設置されている。また、この予備洗浄用ノズル11は、洗浄槽10のX軸方向に沿って所定間隔で複数設置されており、基板P全体に洗浄液が噴射されるように構成されている。
 主洗浄用ノズル12は、上記予備洗浄用ノズル11の下部に、取り付け板10aを介して洗浄槽10の内側の側壁面に設置されており、主洗浄用ポンプ16から供給される洗浄液を洗浄槽10の内部に向かって噴射する。この主洗浄用ノズル12は、基板Pが待機位置で待機している期間に、洗浄液が基板Pの上端部に噴射されるような位置に設置されていると共に、洗浄槽10のX軸方向に沿って所定間隔で複数設置されている。
 仕上げ洗浄用ノズル13は、上記予備洗浄用ノズル11の上部に、取り付け板10aを介して洗浄槽10の内側の側壁面に設置されており、仕上げ洗浄用ポンプ17から供給される洗浄液を洗浄槽10の内部に向かって噴射する。この仕上げ洗浄用ノズル12は、基板Pが待機位置から投入位置に向かって上昇している期間に、洗浄液が基板Pの上端部から下端部まで噴射されるような位置に設置されていると共に、洗浄槽10のX軸方向沿って所定間隔で複数設置されている。
 なお、これら予備洗浄用ノズル11、主洗浄用ノズル12及び仕上げ洗浄用ノズル13の上下の配置関係は、図1A、図1Bに限定されるものではない。また、図1A、図1Bに示すように、これら予備洗浄用ノズル11、主洗浄用ノズル12及び仕上げ洗浄用ノズル13は、基板Pを挟んで両側から洗浄液を噴射できるように、洗浄槽10の両方の側壁に設置することが望ましい。
 循環用タンク14は、洗浄液を貯留するためのタンクであり、洗浄槽10の下部に設置されていると共に、予備洗浄用ポンプ15、主洗浄用ポンプ16及び循環用配管18と連結されている。なお、この循環用タンク14は、洗浄液の貯留量がタンク容量を越えた場合に、内部に貯留している洗浄液を排水管19に流出させて外部の排水設備40(図2参照)に排水するオーバーフロー機能を備えている。
 予備洗浄用ポンプ15は、バルブ・ポンプコントローラ21による制御の下、循環用タンク14に貯留されている洗浄液を予備洗浄用ノズル11に供給する。主洗浄用ポンプ16は、バルブ・ポンプコントローラ21による制御の下、循環用タンク14に貯留されている洗浄液を主洗浄用ノズル12に供給する。仕上げ洗浄用ポンプ17は、外部に設けられた外部タンク30と連結されており、バルブ・ポンプコントローラ21による制御の下、この外部タンク30に貯留されている洗浄液を仕上げ洗浄用ノズル13に供給する。
 循環用配管18は、洗浄槽10の排水口10bと連結されており、この排水口10bから排水される洗浄液を循環用タンク14に送り返すための配管である。排水管19は、バルブ20を介して洗浄槽10の排水口10bと連結されており、この排水口10bから排水される洗浄液を外部の排水設備40に排水するための配管である。
 バルブ20は、例えば電磁弁であり、バルブ・ポンプコントローラ21による制御の下、洗浄槽10の排水口10bから排水される洗浄液を循環用配管18と排水管19とのいずれか一方に選択的に流入させるための流路切換手段である。具体的には、このバルブ20が閉状態の場合、排水口10bから排水される洗浄液は循環用配管18に流入し、バルブ20が開状態の場合、排水口10bから排水される洗浄液は排水管19に流入する。
 バルブ・ポンプコントローラ21は、通信ケーブル等を介して外部搬送装置の動作情報を受信し、この受信した外部搬送装置の動作情報に基づいて、予備洗浄用ポンプ15、主洗浄用ポンプ16、仕上げ洗浄用ポンプ17及びバルブ20を制御する。
 次に、上記のように構成された基板洗浄装置A1の動作について、図3のフローチャートを参照して説明する。なお、この基板洗浄装置A1は外部搬送装置の動作と同期して動作するため、以下では外部搬送装置の動作と共に基板洗浄装置A1の動作を説明する。また、初期状態として、外部搬送装置によって、前工程であるメッキ工程からメッキ処理後の基板Pが洗浄槽10直上の投入位置に搬送されているものとする。
 図3に示すように、まず、外部搬送装置は、基板Pを投入位置から洗浄槽10内部の待機位置に向かって降下(垂直移動)させる(ステップS10)。このように、外部搬送装置が基板Pを投入位置から待機位置に向かって降下させている期間において、基板洗浄装置A1のバルブ・ポンプコントローラ21は、予備洗浄用ポンプ15を制御して循環用タンク14に貯留されている洗浄液を予備洗浄用ノズル11に供給することにより、予備洗浄用ノズル11から洗浄液を噴射させて基板Pの予備洗浄を行う(ステップS10a)。この予備洗浄によって、基板Pが待機位置に到達する間に、基板Pの下端部から上端部まで洗浄され、基板Pに付着しているメッキ処理液が除去される。このように、予備洗浄は従来の回収洗浄と同じ役割を担うものである。
 この時、洗浄槽10の排水口10bから排水される洗浄液はメッキ処理液を含んだ汚水であるので、バルブ・ポンプコントローラ21は、バルブ20を開状態に制御して排水口10bから排水される洗浄液を排水管19に流入させることにより、汚水である予備洗浄処理後の洗浄液を外部の排水設備40に排水する(ステップS10b)。
 続いて、基板Pが待機位置に到達すると、外部搬送装置は動作を停止して基板Pを待機位置にて所定時間待機させる(ステップS20)。このように、外部搬送装置が基板Pを待機位置にて待機させている期間において、基板洗浄装置A1のバルブ・ポンプコントローラ21は、主洗浄用ポンプ16を制御して循環用タンク14に貯留されている洗浄液を主洗浄用ノズル12に供給することにより、主洗浄用ノズル12から洗浄液を噴射させて基板Pの主洗浄を行う(ステップS20a)。
 上述したように、主洗浄用ノズル12は、基板Pが待機位置で待機している期間に、洗浄液が基板Pの上端部に噴射されるような位置に設置されているため、基板Pに噴射された洗浄液は基板Pの下端部に向かって流れ落ち、基板Pの全体がムラ無く洗浄される。このような主洗浄によって、基板Pはより清浄に洗浄される。
 この時、洗浄槽10の排水口10bから排水される洗浄液は比較的清浄な水であるので、バルブ・ポンプコントローラ21は、バルブ20を閉状態に制御して排水口10bから排水される洗浄液を循環用配管18に流入させることにより、主洗浄処理後の洗浄液を循環用タンク14に送り返す(ステップS20b)。つまり、主洗浄処理後の比較的清浄な洗浄液は、基板洗浄装置A1内を循環させて再利用する。
 続いて、外部搬送装置は、待機位置にて所定時間が経過すると、基板Pを待機位置から投入位置に向かって上昇(垂直移動)させる(ステップS30)。このように、外部搬送装置が基板Pを待機位置から投入位置に向かって上昇させている期間において、基板洗浄装置A1のバルブ・ポンプコントローラ21は、仕上げ洗浄用ポンプ17を制御して外部タンク30に貯留されている洗浄液を仕上げ洗浄用ノズル13に供給することにより、仕上げ洗浄用ノズル13から洗浄液を噴射させて基板Pの仕上げ洗浄を行う(ステップS30a)。この仕上げ洗浄によって、基板Pが投入位置に到達する間に、基板Pの上端部から下端部までより清浄に洗浄される。
 この時、洗浄槽10の排水口10bから排水される洗浄液は比較的清浄な水であるので、バルブ・ポンプコントローラ21は、バルブ20を閉状態に制御して排水口10bから排水される洗浄液を循環用配管18に流入させることにより、仕上げ洗浄処理後の洗浄液を循環用タンク14に送り返す(ステップS30b)。つまり、主洗浄処理後の洗浄液と同様に、仕上げ洗浄処理後の比較的清浄な洗浄液は、基板洗浄装置A1内を循環させて再利用する。
 基板Pが投入位置に到達すると(つまり基板洗浄装置A1による洗浄処理が終了すると)、外部搬送装置は洗浄処理後の基板Pを次工程に搬送する(ステップS40)。
 以上のように、本実施形態に係る基板洗浄装置A1によれば、1つの洗浄槽10で予備洗浄、主洗浄、仕上げ洗浄を行うため、洗浄工程の省スペース化を図ることができる。また、予備洗浄後のメッキ処理液を含む汚れた洗浄液は外部に排水する一方、主洗浄及び仕上げ洗浄後の比較的清浄な洗浄液は循環用タンク14に送り返して再利用するので、2回目以降の洗浄には仕上げ洗浄に要する洗浄液だけが新たに必要となるだけであり、従来の各洗浄処理毎に洗浄槽を設けて浸漬洗浄する方法と比べて洗浄液の使用量を大幅に低減しコストを削減することができる。なお、仕上げ洗浄の場合は外部から洗浄液を供給するため、予備洗浄後に排水した分を補って循環用タンク14内の洗浄液が空になることを防止することができる。
 なお、本発明は上記実施形態に限定されず、以下のような変形例が考えられる。
(1)上記実施形態では、洗浄槽10が縦置き設置されており、基板Pを鉛直上方から洗浄槽10内部へ搬送する場合を例示して説明したが、洗浄槽10を横置き設置して、基板Pを水平方向(若しくは排水しやすいように洗浄槽10を水平面に対してある程度傾けて横置き設置した場合はその傾いた方向)から洗浄槽10内部へ搬送するような構成としても良い。この場合、基板Pを挟んで上下方向から洗浄液を噴射する構成となる。
(2)洗浄槽10内部の側壁に、洗浄槽10の内部に向かって送風または放熱のいずれか、或いは両者の組み合わせによる乾燥処理を行う乾燥処理手段(例えば、ブロア、エアーナイフ、ドライア等)を設け、バルブ・ポンプコントローラ21によって、外部搬送装置が基板Pを待機位置から投入位置に向かって上昇させている期間において、上記の乾燥処理手段を制御して基板Pに対して乾燥処理を行うような構成としても良い。このような乾燥処理手段は、当該乾燥処理が仕上げ洗浄用ノズル13による仕上げ洗浄処理の後処理になるように配置する(図1A、図1Bでは仕上げ洗浄用ノズル13の上部に配置する)ことが望ましい。
(3)上記実施形態では、基板洗浄装置A1をメッキ工程後の洗浄工程に使用する場合を例示して説明したが、基板洗浄装置A1はこのようなメッキ工程後の洗浄工程だけでなく、基板Pに付着している切り粉や埃等を洗浄するための一般的な洗浄工程に利用することができる。
 また、基板P以外の洗浄対象物を洗浄する場合にも基板洗浄装置A1を利用することができる。
〔第2実施形態〕
 図4は、本第2実施形態に係る基板洗浄装置A2の外観構成を示す正面図、図5は基板洗浄装置A2の外観構成を示す上面図、また図6は、基板洗浄装置A2の外観構成を示す右側面図である。なお、これら図におけるx軸、y軸及びz軸は直交座標系を示している。これら3軸のうち、x軸及びz軸は互いに直交する水平方向であり、y軸は垂直方向である。
 これら図に示すように、基板洗浄装置A2は、主な構成要素として、第1洗浄槽51A、第2洗浄槽51B、第1洗浄液噴射部52A、第2洗浄液噴射部52B、第1洗浄液回収部53A、第2洗浄液回収部53B、第1洗浄タンク54A(第1洗浄液貯留槽)、第2洗浄タンク54B(第2洗浄液貯留槽)、仕上洗浄タンク54C(第3洗浄液貯留槽)、第1洗浄ポンプ55A、第2洗浄ポンプ55B、仕上洗浄ポンプ55C、オーバーフロー配管56A、第2オーバーフロー配管56Bを備えている。このような基板洗浄装置A2は、例えばプリント基板(プリント配線板)の製造工程において、前工程から搬入された母材となる基板Wに洗浄処理を施す装置である。基板洗浄装置A2によって洗浄された基板Wは後工程に送り出される。
 第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bは、上方(y軸方向)から搬入された基板Wを略垂直姿勢で収容する容器であり、略同一形状である。第1洗浄槽51Aは製造工程の上流側に位置し、第2洗浄槽51Bは製造工程の下流側に位置する。図3に示す右側面図には、第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bの特徴が現れている。すなわち、第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bは、一般的な箱型容器と異なり、略垂直姿勢の基板Wに直交する断面(つまりy-z平面における断面)における下部Kが上部Jよりも狭い幅(z軸方向の幅)で、かつ、中間部Tの幅(z軸方向の幅)が上から下に向かって一定の傾斜で徐々に狭くなっている。
 第1洗浄液噴射部52Aは、上記第1洗浄槽51A内に設けられ、第1洗浄槽51A内に収容された基板Wに両面から洗浄液を噴射する。すなわち、この第1洗浄液噴射部52Aは、図7の側面模式図に示すように、基板Wの両面かつ上下方向(y軸の方向)にそれぞれ位置する合計6本の第1洗浄アーム52a1~52a3,52a4~52a6から構成されている。各第1洗浄アーム52a1~52a3,52a4~52a6は、内部に洗浄液が通過する穴が形成された管状部材であり、図8の上面模式図に示すように複数の第1洗浄ノズル52a7が軸線に沿って一定間隔で設けられている。このような第1洗浄液噴射部52Aは、内部を通過してきた洗浄液を各第1洗浄ノズル52a7から基板Wに向けて噴射する。
 これら6本の第1洗浄アーム52a1~52a3,52a4~52a6のうち、第1洗浄アーム52a1~52a3は、第1洗浄槽51Aの正面側に位置しており、各第1洗浄ノズル52a7から基板Wの片面(以下、表面という。)に洗浄液を噴射し、一方、第1洗浄アーム52a4~52a6は、第1洗浄槽51Aの背面側に位置しており、各第1洗浄ノズル52a7から基板Wの片面(以下、裏面という。)に洗浄液を噴射する。
 また、各第1洗浄アーム52a1~52a3,52a4~52a6のうち、第1洗浄槽51A内において上段に位置する2本の第1洗浄アーム52a1,52a4は、予備洗浄液を各第1洗浄ノズル52a7から噴射する予備洗浄用アーム52A1であり、中段及び下段に位置する4本の第1洗浄アーム52a2,52a3,52a5,52a6は、主洗浄液を各第1洗浄ノズル52a7から噴射する主洗浄用アーム52A2である。
 第2洗浄液噴射部52Bは、このような第1洗浄液噴射部52Aと同様の構成を備えている。すなわち、第2洗浄液噴射部52Bは、上記第2洗浄槽51B内に設けられ、第2洗浄槽51B内に収容された基板Wに両面から洗浄液を噴射する。この第2洗浄液噴射部52Bは、図7の側面模式図に示すように、基板Wの両面かつ上下方向(y軸の方向)にそれぞれ位置する合計6本の第2洗浄アーム52b1~52b3,52b4~52b6から構成されている。
 各第2洗浄アーム52b1~52b3,52b4~52b6は、内部に洗浄液が通過する穴が形成された管状部材であり、図8の上面模式図に示すように複数の第2洗浄ノズル52b7が軸線に沿って一定間隔で設けられている。このような第2洗浄液噴射部52Bは、内部を通過してきた洗浄液を各第2洗浄ノズル52b7から基板Wに向けて噴射する。
 これら6本の第2洗浄アーム52b1~52b3,52b4~52b6のうち、第2洗浄アーム52b1~52b3は、第2洗浄槽51Bの正面側に位置しており、各第2洗浄ノズル52b7から基板Wの片面(以下、表面という。)に洗浄液を噴射し、一方、第2洗浄アーム52b4~52b6は、第2洗浄槽51Bの背面側に位置しており、各第2洗浄ノズル52b7から基板Wの片面(以下、裏面という。)に洗浄液を噴射する。
 また、各第2洗浄アーム52b1~52b3,52b4~52b6のうち、第2洗浄槽51B内において上段に位置する2本の第2洗浄アーム52b1,52b4は、仕上洗浄液を各第2洗浄ノズル52b7から噴射する仕上洗浄用アーム52B1であり、中段及び下段に位置する4本の第2洗浄アーム52b2,52b3,52b5,52b6は、主洗浄液を各第2洗浄ノズル2b57から噴射する主洗浄用アーム52B2である。
 図9は、上記各第1洗浄アーム52a1~52a3,52a4~52a6及び各第2洗浄アーム52b1~52b3,52b4~52b6の取付構造を示す平面図である。なお、各第1洗浄アーム52a1~52a3,52a4~52a6及び各第2洗浄アーム52b1~52b3,52b4~52b6は同一の取付構造を有するので、図9では第1洗浄アーム52a1の取付構造を代表して示している。以下では、第1洗浄アーム52a1を代表して、各第1洗浄アーム52a1~52a3,52a4~52a6及び各第2洗浄アーム52b1~52b3,52b4~52b6の取付構造を説明する。
 すなわち、管状部材である第1洗浄アーム52a1の左端面には固定用フランジ52a8が設けられており、第1洗浄アーム52a1は、この固定用フランジ52a8によって第1洗浄槽51Aに支持されている。固定用フランジ52a8は、拡大して示すように、中心部を挟んで対向する二箇所に長穴52a9,52a10が形成されている。第1洗浄アーム52a1は、この長穴52a9,52a10にボルト52a11,52a12を挿入することにより第1洗浄槽51Aに固定される。このような固定用フランジ52a8とボルト52a11,52a12とは、第1洗浄アーム52a1を第1洗浄槽51Aに固定するための支持具を構成している。
 ここで、ボルト52a11,52a12は、第1洗浄槽51Aに予め設けられたネジ穴に螺合するので位置が固定されるが、固定用フランジ52a8は、長穴52a9,52a10を介してボルト52a11,52a12と係合している。この取付構造によれば、第1洗浄アーム52a1を軸線を中心として回動させることにより、第1洗浄槽51Aに対する各第1洗浄ノズル52a7の姿勢関係を調整することが可能である。すなわち、上記支持具によれば、第1洗浄アーム52a1の軸心を中心とする回動姿勢が調整自在なので、基板Wに対する洗浄液の噴付角(y-z平面における噴付角)を調整することができる。
 図10Aは、各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7の詳細構造を示す組立図、図10Bは、各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7の装着状態を示す正面図、また図10Cは、各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7の装着状態を示す側面図である。なお、各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7は同一の構造を有するので、図10A~図10Cでは、第1洗浄アーム52a1に設けられた第1洗浄ノズル52a7の構造を代表して示している。以下では、第1洗浄アーム52a1を代表して、第1洗浄ノズル52a7の構造を説明する。
 第1洗浄ノズル52a7は、図10Aの組立図に示すように、ノズル本体52a13、シール部材52a14及び留金52a15から構成されている。ノズル本体52a13は、図10Bの正面図に示すように長穴状のノズル穴52a16が形成された樹脂成形体である。シール部材52a14は、ゴム製のリング状部材である。留金52a15は、弾力性を有する金属線を湾曲させて形成されており、ノズル本体52a13に可動自在に取り付けられている。
 このような第1洗浄ノズル52a7は、ノズル本体52a13の端部を第1洗浄アーム52a1に形成された開口52a17にシール部材52a14を挟んだ状態で挿入すると共に、留金52a15を第1洗浄アーム52a1に巻き付けるようにノズル本体52a13に対して姿勢変更することにより第1洗浄アーム52a1に固定される。
 ここで、図10Bの正面図に示すように、第1洗浄ノズル52a7が第1洗浄アーム52a1に固定された状態において、第1洗浄ノズル52a7のノズル穴52a16は、第1洗浄アーム52a1の軸線方向(x軸の方向)に対して角度の調整を必要とせずに所定の角度θだけ傾斜している。したがって、第1洗浄アーム52a1に設けられた各第1洗浄ノズル52a7から基板Wに噴射される洗浄液の基板W上における軌跡は、図8に示すように、第1洗浄アーム52a1の軸線方向に対して角度θだけ傾いている。
 すなわち、第1洗浄ノズル52a7は、第1洗浄アーム52a1に対して所定姿勢、つまり長穴状のノズル穴52a16が軸線方向(x軸の方向)に対して所定の角度θだけ傾斜した姿勢で着脱自在に取り付けられている。
 また、上記洗浄液の軌跡についてさらに説明すると、第1洗浄液噴射部52Aにおいて、中段及び下段に位置する4本の第1洗浄アーム52a2,52a3,52a5,52a6(主洗浄用アーム)の各第1洗浄ノズル52a7は、互いに隣り合うものが千鳥状の位置関係となるように配置されている。このことは第2洗浄液噴射部52Bについても同様であり、第2洗浄液噴射部52Bにおいて、中段及び下段に位置する4本の第2洗浄アーム52b2,52b3,52b5,52b6(主洗浄用アーム)の各第2洗浄ノズル52b7は、互いに隣り合うものが千鳥状の位置関係となるように配置されている。
 この結果として、第1洗浄液噴射部52Aにおいて中段及び下段に位置する4本の第1洗浄アーム52a2,52a3,52a5,52a6(主洗浄用アーム)の各第1洗浄ノズル52a7が形成する上記洗浄液の軌跡、また第2洗浄液噴射部52Bにおいて中段及び下段に位置する4本の第2洗浄アーム52b2,52b3,52b5,52b6(主洗浄用アーム)の各第2洗浄ノズル52b7が形成する上記洗浄液の軌跡は、図7の側面模式図に示すように、互い違いの位置関係となる。
 すなわち、第1洗浄液噴射部52A及び第2洗浄液噴射部52Bにおいて、第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bの正面側に各々位置する第1洗浄アーム52a2,52a3(主洗浄用アーム)及び第2洗浄アーム52b2,52b3(主洗浄用アーム)の各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7が形成する洗浄液の軌跡と第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bの背面側に各々位置する第1洗浄アーム52a5,52a6(主洗浄用アーム)及び第2洗浄アーム52b5,52b6(主洗浄用アーム)の各第1洗浄ノズル52a7及び各第2洗浄ノズル52b7が形成する洗浄液の軌跡とを重ねた状態で示すと、図11の模式図のように裏と表及び上下で互い違いの位置関係になっている。
 第1洗浄液回収部53Aは、一端が第1洗浄槽51Aの底に開口すると共に他端が第1洗浄タンク54Aに接続する配管であり、主洗浄液を第1洗浄槽51Aから第1洗浄タンク54Aに回収する。第2洗浄液回収部53Bは、一端が第2洗浄槽51Bの底に開口すると共に他端が第2主洗浄タンク54Bに接続する配管であり、主洗浄液及び仕上洗浄液を第2洗浄槽51Bから第2洗浄タンク54Bに回収する。
 第1洗浄タンク54A(第1洗浄液貯留槽)は、上記第1洗浄液回収部53Aによって第1洗浄槽51Aから回収された予備洗浄液及び主洗浄液、またオーバーフロー配管56Aを介して第2洗浄タンク54Bから供給された主洗浄液及び仕上洗浄液を貯留する容器である。なお、この第1洗浄タンク54Aには、オーバーフローした洗浄液を外部に排水する排水管が設けられている。第2洗浄タンク54B(第2洗浄液貯留槽)は、上記第2洗浄液回収部53Bによって第2洗浄槽51Bから回収された主洗浄液及び仕上洗浄液、また第2オーバーフロー配管56Bを介して仕上洗浄タンク54Cから供給された仕上洗浄液を貯留する容器である。仕上洗浄タンク54C(第3洗浄液貯留槽)は、外部から供給された仕上洗浄液を貯留する容器である。
 第1洗浄ポンプ55Aは、第1洗浄タンク54Aに貯留された洗浄液を汲み上げて予備洗浄液として第1洗浄液噴射部52Aの第1洗浄アーム52a1,52a4(予備洗浄用アーム)に供給すると共に、第1洗浄タンク54Aに貯留された洗浄液を汲み上げて主洗浄液として第1洗浄液噴射部52Aの第1洗浄アーム52a2,52a3,52a5,52a6(主洗浄用アーム)に供給する。
 第2洗浄ポンプ55Bは、第2洗浄タンク54Bに貯留された洗浄液を汲み上げて主洗浄液として第1洗浄液噴射部52Aの第2洗浄アーム52b2,52b3,52b5,52b6(主洗浄用アーム)に供給する。仕上洗浄ポンプ55Cは、仕上洗浄タンク54Cに貯留された仕上洗浄液を汲み上げて第1洗浄液噴射部52Aの第2洗浄アーム52b1,52b4(仕上洗浄用アーム)に供給する。
 ここで、図4及び図6に示すように、第1洗浄槽51Aの下部Kが上部Jよりも狭い幅で、かつ、中間部Tの幅が上から下に向かって一定の傾斜で徐々に狭くなる形状になっている関係で下部Kの側部に空スペースができる。仕上洗浄液に関する仕上洗浄タンク54C及び仕上洗浄ポンプ55Cはこの空スペースに配置されており、基板洗浄装置A2は、これによって設置スペースの縮小を実現している。
 オーバーフロー配管56Aは、第2洗浄タンク54Bの上部と第1洗浄タンク54Aとを接続する配管であり、第2洗浄タンク54Bでオーバーフローした洗浄液を第1洗浄タンク54Aに供給する。第2オーバーフロー配管56Bは、仕上洗浄タンク54Cの上部と第2洗浄タンク54Bとを接続する配管であり、仕上洗浄タンク54Cでオーバーフローした仕上洗浄液を第2洗浄タンク54Bに供給する。排水部57は、一端が第1洗浄槽51Aの底に開口する配管であり、予備洗浄に供された洗浄液を第1洗浄槽51Aから外部に排水する。
 なお、外部から供給される仕上洗浄液は例えば純水であり、予備洗浄液及び主洗浄液は、このような仕上洗浄液が予備洗浄や主洗浄に供されたもの、つまり本基板洗浄装置Aにおける循環水である。
 次に、このように構成された基板洗浄装置A2の動作について、図12に示す動作工程図を参照して詳しく説明する。なお、この動作工程図は、基板Wの搬送動作に対応する基板洗浄装置A2の基板洗浄動作を示すものである。
 例えばプリント基板(プリント配線板)は、基板Wが専用の基板搬送装置によって所定の工程順に順次搬送されることによって製造される。基板洗浄装置A2をプリント基板の製造装置の1つとして含む製造設備では、例えばハンガー式の基板搬送装置によって垂直状態かつ上端が支持される状態で基板Wが搬送される。
 基板Wの動きについて先に説明すると、上記基板搬送装置によって前工程から搬入された基板Wは、上方から第1洗浄槽51A内を順次降下し(ステップS1)、予め規定された最下位置で一旦停止し(ステップS2)、続いて第1洗浄槽51A内を順次上昇し(ステップS3)、予め規定された最上位置で一旦停止する(ステップS4)。そして、基板Wは、水平移動して第2洗浄槽51Bの上方に移動し(ステップS5)、第2洗浄槽51B内を順次降下し(ステップS6)、予め規定された最下位置で一旦停止し(ステップS7)、続いて第2洗浄槽51B内を順次上昇し(ステップS8)、予め規定された最上位置で一旦停止し(ステップS4)、後工程に送り出される。
 基板洗浄装置A2は、ステップSa1~Sa5に示すように、このような基板Wの動きに同期するように基板Wに対して洗浄処理を行う。すなわち、第1洗浄ポンプ55Aは、基板Wが第1洗浄槽51A内で降下を開始してから最下位置で停止するまでの間に、第1洗浄槽51A内において上段に位置する第1洗浄アーム52a1,52a4(予備洗浄用アーム)に第1洗浄タンク54Aの洗浄液を予備洗浄液として供給する。この結果、第1洗浄アーム52a1,52a4(予備洗浄用アーム)から基板Wに予備洗浄液が噴射されて基板Wが予備洗浄される(ステップSa1)。このような予備洗浄において、第1洗浄アーム52a1,52a4(予備洗浄用アーム)から基板Wに噴射された予備洗浄液は、基板Wの表面及び裏面に衝突後、基板Wから落下して第1洗浄槽51Aの底に集まり、排水部57を介して排水される(ステップSa2)。
 ここで、予備洗浄液の回収・排水において、第1洗浄槽51Aが下部Kが上部Jよりも狭い幅(z軸方向の幅)で、かつ、中間部Tの幅(z軸方向の幅)が上から下に向かって一定の傾斜で徐々に狭くなる容器形状に設定されているので、一般的な箱型の容器形状の洗浄槽と比較した場合に、予備洗浄液が第1洗浄槽51A内においてより速やかに収集されて排水部57に流れ込む。
 よって、基板洗浄装置A2によれば、一般的な箱型の容器形状の洗浄槽を用いる洗浄装置よりも予備洗浄液の回収・排水が速く、当該回収・排水に要する時間を短縮することができるので、洗浄時間を従来よりも短縮することができる。また、循環効率が良くなることから従来の洗浄槽を用いる洗浄装置よりもタンク容量を小さくすることが可能である。
 また、このような第1洗浄槽51Aによれば、中間部Tの幅が上から下に向かって一定の傾斜で徐々に狭くなっているので、基板Wから飛び散った洗浄液を基板Wに再度衝突させることが可能である。したがって、基板洗浄装置A2によれば、洗浄効率を向上させることができる。
 上記予備洗浄液の回収・排水が完了すると、第1洗浄ポンプ55Aは、基板Wが第1洗浄槽51A内で上昇を開始するまでの間に、第1洗浄タンク54Aに貯留された洗浄液を主洗浄液として第1洗浄液噴射部52Aの第1洗浄アーム52a2,52a3,52a5,52a6(主洗浄用アーム)に供給する。この結果、第1洗浄アーム52a2,52a3,52a5,52a6(主洗浄用アーム)から基板Wに主洗浄液が噴射されて基板Wが主洗浄される(ステップSa3)。
 なお、このような主洗浄に供された主洗浄液は、第1洗浄液回収部53Aを介して第1洗浄タンク54Aに回収される。この第1洗浄タンク54Aに回収された洗浄液、つまり主洗浄に供された洗浄液は、上述したように予備洗浄に供されるものである。
 このような第1洗浄槽51Aにおける主洗浄は、基板洗浄装置A2における第1主洗浄である。この第1主洗浄では、図7、図8及び図11に示した軌跡で主洗浄液が基板Wに噴射されるので、基板洗浄装置A2における第1主洗浄によれば、基板Wの両面をより効果的に洗浄することができる。
 また、上記支持具によって基板Wに対する洗浄液の噴付角を最適化することができるので、これによっても基板Wの両面をより効果的に洗浄することができる。
 続いて、第2洗浄ポンプ55Bは、基板Wが第2洗浄槽51B内において最下位置で停止する間に、第2洗浄タンク54Bの洗浄液を主洗浄液として第1洗浄液噴射部52Aの第2洗浄アーム52b2,52b3,52b5,52b6(主洗浄用アーム)に供給する。この結果、第2洗浄アーム52b2,52b3,52b5,52b6(主洗浄用アーム)から基板Wに主洗浄液が噴射されて基板Wが主洗浄される(ステップSa4)。
 このような主洗浄(第2主洗浄)において、第2洗浄アーム52b2,52b3,52b5,52b6(主洗浄用アーム)から基板Wに噴射された予備洗浄液は、基板Wの表面及び裏面に衝突後、基板Wから落下して第2洗浄槽51Bの底に集まり、第2洗浄液回収部53Bを介して第2洗浄タンク54Bに回収される。
 そして、このような第2主洗浄が終了し、基板Wが第2洗浄槽51B内において最下位置から上昇を開始すると、仕上洗浄ポンプ55Cは、仕上洗浄タンク54Cの仕上洗浄液を第1洗浄液噴射部2Aの第2洗浄アーム52b1,52b4(仕上洗浄用アーム)に供給する。この結果、第2洗浄アーム52b1,52b4(仕上洗浄用アーム)から基板Wに清浄な仕上主洗浄液(例えば純水)が噴射されて基板Wが仕上洗浄される(ステップSa5)。そして、このような仕上洗浄において、第2洗浄アーム52b1,52b4(仕上洗浄用アーム)から基板Wに噴射された仕上洗浄液は、第2洗浄液回収部53Bを介して第2洗浄タンク54Bに回収される。
 ここで、第2洗浄槽51Bにおいて仕上洗浄液と第2主洗浄に供された主洗浄液は第2洗浄液回収部53Bを介して第2洗浄タンク54Bに回収され、また、仕上洗浄タンク54Cでオーバーフローした仕上洗浄液は第2オーバーフロー配管56Bを介して第2洗浄タンク54Bに回収される。そして、このような第2洗浄タンク54Bでオーバーフローした洗浄液(仕上洗浄液と第2主洗浄液との混合液)は、オーバーフロー配管56Aを介して第1洗浄タンク54Aに回収される。また、第1洗浄タンク54Aから汲み上げられて予備洗浄に供された予備洗浄液は、排水部57を介して外部に排水される。
 すなわち、本基板洗浄装置A2によれば、仕上洗浄液を仕上洗浄→第2主洗浄→第1主洗浄→予備洗浄に再利用しつつ最終的に排水するので、洗浄液の利用効率が高く、よって洗浄液の使用量を従来よりも大幅に削減することができる。したがって、本基板洗浄装置Aによれば、ランニングコストを従来よりも大幅に低減することができる。
 続いて、図13~図19を参照して基板洗浄装置A2の制御構成の詳細及び当該制御構成に基づく詳細動作を説明する。
 図13は、基板洗浄装置A2の制御構成を示すブロック図である。この図13に示すように、第1洗浄槽51Aには、予備洗浄液圧力計60A1、主洗浄液圧力計60A2、主洗浄ノズル開閉弁61A、主洗浄循環弁62A、第1洗浄タンク排水弁63A1、予備洗浄排水弁63A2及び第1洗浄タンク水位計64Aが設けられている。また、第2洗浄槽51Bには、仕上洗浄液圧力計60B1、主洗浄液圧力計60B2、第2洗浄タンク排水弁63B、仕上洗浄タンク排水弁63C、第2洗浄タンク水位計64B、仕上洗浄タンク水位計64C及び給水弁66Bが設けられている。
 また、基板洗浄装置A2には、第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bに各々設けられた上記各種弁や第1~第3洗浄ポンプ55A~55Cを上記各種計測器の計測値等に基づいて制御する制御部67、作業者の操作指示を受け付ける操作部68、基板洗浄装置A2の動作状態等を作業者に知らせるための表示部69、また基板Wの動きを検出するための上部基板検出器70a、70b及び下部基板検出器70c、70dが備えられている。
 予備洗浄液圧力計60A1は、上述した第1洗浄ポンプ55Aから予備洗浄用アーム52A1に供給される予備洗浄液の圧力を計測し、当該圧力が所定のしきい値以上か否かを制御部67に出力する。主洗浄液圧力計60A2は、第1洗浄ポンプ55Aから主洗浄ノズル開閉弁61Aを介して主洗浄用アーム52A2に供給される主洗浄液の圧力を計測し、当該圧力が所定のしきい値以上か否かを制御部67に出力する。主洗浄ノズル開閉弁61Aは、図示するように、第1洗浄ポンプ55Aと主洗浄用アーム52A2との間に設けられており、制御部67から入力される制御信号に基づいて第1洗浄ポンプ55Aから主洗浄用アーム52A2への主洗浄液の供給をON/OFFする。
 主洗浄循環弁62Aは、第1洗浄槽51Aの底部と第1洗浄タンクとを接続する配管(図示略)の途中部位に設けられており、制御部67から入力される制御信号に基づいて第1洗浄槽51Aの底部から回収された主洗浄液の第1洗浄タンクへの供給をON/OFFする。第1洗浄タンク排水弁63A1は、上述した第1洗浄タンク54Aの底部に設けられており、制御部67から入力される制御信号に基づいて第1洗浄タンク54A内に貯留された洗浄液の外部への排水をON/OFFする。予備洗浄排水弁63A2は、制御部67から入力される制御信号に基づいて第1洗浄槽51Aの底部から回収された予備洗浄液の外部への排水をON/OFFする。
 第1洗浄タンク水位計64Aは、第1洗浄タンク54Aに貯留された洗浄液の水位を計測し、当該水位が所定のしきい値以上か否かを示す信号を制御部67に出力する。また、仕上洗浄液圧力計60B1は、上述した仕上洗浄ポンプ55Cから仕上洗浄用アーム52B1に供給される仕上洗浄液の圧力を計測し、当該圧力が所定のしきい値以上か否かを示す信号を制御部67に出力する。
 主洗浄液圧力計60B2は、上述した第2洗浄ポンプ55Bから主洗浄用アーム52B2に供給される主洗浄液の圧力を計測し、当該圧力が所定のしきい値以上か否かを示す信号を制御部67に出力する。第2洗浄タンク排水弁63Bは、第2洗浄タンク54Bの底部に設けられており、制御部67から入力される制御信号に基づいて第2洗浄タンク54B内に貯留された主洗浄液の外部への排水をON/OFFする。
 仕上洗浄タンク排水弁63Cは、仕上洗浄タンク54Cの底部に設けられており、制御部67から入力される制御信号に基づいて仕上洗浄タンク54C内に貯留された仕上洗浄液の外部への排水をON/OFFする。第2洗浄タンク水位計64Bは、第2洗浄タンク54Bに貯留された主洗浄液の水位を計測し、当該水位が所定のしきい値以上か否かを示す信号を制御部67に出力する。仕上洗浄タンク水位計64Cは、仕上洗浄タンク54Cに貯留された仕上洗浄液の水位を計測し、当該水位が所定のしきい値以上か否かを示す信号を制御部67に出力する。
 上部基板検出器70a、70bは、基板Wが第1洗浄槽51A(第2洗浄槽51B)の上部に相当する高さにあるか否かを検出し、当該検出結果を示す信号を制御部67に出力する。下部基板検出器70c、70dは、基板Wが第1洗浄槽51A(第2洗浄槽51B)の下部に相当する高さにあるか否かを検出し、当該検出結果を示す信号を制御部67に出力する。上部基板検出器70a、70b及び下部基板検出器70c、70dは、基板Wの位置検出における冗長性を確保するために、各々に対をなして設けられている。給水弁66Bは、外部給水系と仕上洗浄タンク54Cとの間に設けられており、制御部67から入力される制御信号に基づいて仕上洗浄タンク54Cへの外部からの給水をON/OFFする。
 制御部67は、内部メモリに予め記憶された所定の制御プログラム、上記各種計測器の計測値、上部基板検出器70a、70b及び下部基板検出器70c、70dの検出結果及び操作部68が作業員から受け付ける操作指示に基づいて上記各種弁や第1~第3洗浄ポンプ55A~55Cを制御することにより基板洗浄装置A2を統括的に制御するプログラム制御装置である。このような制御部67は、は、上記制御プログラムを記憶する不揮発性メモリ、上記制御プログラムを実行するCPU(Central Processing Unit)並びに各種計測器、各種弁及び第1~第3洗浄ポンプ55A~55Cとの間で各種信号の授受を行うインターフェース回路等から構成されている。
 操作部68は、各々に個別の機能が割り当てられた複数の操作ボタンから構成されており、作業員がら受け付けた操作指示を示す信号(操作信号)を上記制御部67に出力する。表示部69は、基板洗浄装置A2の動作状態等を作業者等に知らせるために設けられており、制御部67から入力される表示制御信号に基づいて各種情報を視覚的に表示する。
 図14は、このような制御構成に基づく基板洗浄装置A2の詳細動作を示すタイミングチャートである。プリント基板の製造において、基板Wは、基板搬送装置によって前工程から第1洗浄槽51Aに搬送され、続いて第1洗浄槽51Aから第2洗浄槽51Bに搬送され、さらに第2洗浄槽51Bから後工程に搬送される。
 基板洗浄装置A2の制御部67は、このような基板搬送装置による基板Wの動きを、上部基板検出器70a、70b及び下部基板検出器70c、70dで検出することにより、第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bの各々において基板Wの動きに同期したかたちで上記各種弁や第1~第3洗浄ポンプ55A~55Cを制御する。
 すなわち、上部基板検出器70a、70bによって第1洗浄槽51A内における上方からの基板Wの下降が検出されると(タイミング1)、制御部67は、第1洗浄ポンプ55Aを速やかに作動させて予備洗浄用アーム52A1に予備洗浄液を供給することにより基板Wの予備洗浄を開始させる(タイミング2)。
 このようにして第1洗浄ポンプ55Aが作動することによって予備洗浄が開始すると、予備洗浄液圧力計60A1が検出する予備洗浄液の圧力は徐々に上昇し、図示するように例えば4秒後にしきい値を超える圧力となる(タイミング3)。制御部67は、上記予備洗浄液の圧力が例えば9秒の間、しきい値を越えた状態が継続すると(タイミング3)、第1洗浄ポンプ55Aを停止させて予備洗浄を終了させる(タイミング2)。
 そして、制御部67は、洗浄ポンプ55Aが停止すると、主洗浄ノズル開閉弁61Aを閉状態から開状態に変化させる(タイミング6)と共に、第1洗浄ポンプ55Aの停止から所定時間、例えば15秒が経過すると(タイミング4)、予備洗浄排水弁63A2を開状態から閉状態に変化させる(タイミング7)。
 すなわち、予備洗浄排水弁63A2が開状態で上記予備洗浄が行われるので、予備洗浄液は、第1洗浄タンク54Aに流れ込むことなく排水される。また、第1洗浄ポンプ55Aの停止から所定時間が経過した後、つまり第1洗浄槽51A内の予備洗浄液が十分に回収された状態で予備洗浄排水弁63A2が開状態から閉状態に変化するので、予備洗浄液の第1洗浄タンク54Aへの流入をより確実に防止することができる。
 そして、予備洗浄排水弁63A2が完全に閉じると、制御部67は、主洗浄循環弁62Aを閉状態から開状態に変化させる(タイミング8)と共に第1洗浄ポンプ55Aを作動させて主洗浄を開始させる(タイミング9)。このようにして主洗浄が開始すると、主洗浄液圧力計60A2が検出する主洗浄液の圧力は徐々に上昇し、図示するように例えば4秒後にしきい値を超える圧力となる。
 そして、制御部67は、所定のタイムアウト期間、例えば130秒の間において、上部基板検出器70a、70bあるいは下部基板検出器70c、70dによって第1洗浄槽51A内における基板Wの上昇が検出されると(タイミング11)、第1洗浄ポンプ55Aを停止させて主洗浄を終了させる(タイミング9)と共に、主洗浄ノズル開閉弁61Aを開状態から閉状態に変化させる(タイミング6)。
 そして、制御部67は、第1洗浄ポンプ55Aの停止(主洗浄の終了)から所定時間、例えば12秒が経過すると(タイミング5)、予備洗浄排水弁63A2を閉状態から開状態に変化させる(タイミング7)。また、制御部67は、予備洗浄排水弁63A2が完全に閉じると、主洗浄循環弁62Aを開状態から閉状態に変化させる(タイミング8)。
 このようにして予備洗浄及び主洗浄が終了した基板Wは、基板搬送装置によって第1洗浄槽51Aから第2洗浄槽51Bに搬送される。制御部67は、上部基板検出器70a、70bによって第2洗浄槽51B内における上方からの基板Wの降下が検出されると(タイミング1)、所定時間、例えば2秒経過後に第2洗浄ポンプ55Bを作動させて主洗浄用アーム52B2に主洗浄液を供給することにより基板Wの主洗浄を開始させる(タイミング13)。
 このようにして第2洗浄ポンプ55Bが作動することによって主洗浄が開始すると、主洗浄液圧力計60B2が検出する主洗浄液の圧力は徐々に上昇し、図示するように例えば24秒後にしきい値を超える圧力となる(タイミング14)。
 制御部67は、所定のタイムアウト期間、例えば130秒の間において、上部基板検出器70a、70bあるいは下部基板検出器70c、70dによって第2洗浄槽51B内における基板Wの上昇が検出されると(タイミング11)、第2洗浄ポンプ55Bを停止させて主洗浄を終了させる(タイミング13)と共に、仕上洗浄ポンプ55Cを作動させることによって仕上洗浄を開始させる(タイミング15)。
 このようにして仕上洗浄が開始すると、仕上洗浄液圧力計60B1が検出する仕上洗浄液の圧力は徐々に上昇し、図示するように例えば4秒後にしきい値を超える圧力となる(タイミング16)。制御部67は、上記仕上洗浄液の圧力が例えば5秒の間、しきい値を越えた状態が継続すると(タイミング16)、仕上洗浄ポンプ55Cを停止させて仕上洗浄を終了させる(タイミング15)。また、制御部67は、上記仕上洗浄の終了と同時に給水弁66Bを閉状態から開状態に変化させて(タイミング12)、仕上洗浄タンク54Cに清浄な水を補充させる。
 図15は、基板洗浄装置A2の動作に伴う各タンクの水位変化を示す模式図である。上述したように、基板洗浄装置A2は、3つのタンク、つまり第1洗浄タンク54A、第2洗浄タンク54B及び仕上洗浄タンク54Cを備えるが、外部からの洗浄液の補充は、仕上洗浄タンク54Cのみに行われる。そして、この仕上洗浄タンク54Cに外部から補充された洗浄液の一部は、第2オーバーフロー配管56B及びオーバーフロー配管56A等を介して第1洗浄タンク54A及び第2洗浄タンク54Bに供給される。
 制御部67は、基板洗浄装置A2の電源投入時に、第1洗浄タンク水位計64A、第2洗浄タンク水位計64B及び仕上洗浄タンク水位計64Cから各々入力される信号をセルフチェックすることにより各タンクに洗浄液が満水状態になっていることを確認する。そして、全てのタンクが満水状態になっていない場合、制御部67は、図15の最上段に示すように、給水弁66Bを開状態に設定して全てのタンクを満水状態とする。
 そして、基板洗浄装置A2は、このようにして全てのタンクが満水にされた状態で運転を開始し、上述したように第1洗浄槽51Aにおける予備洗浄と主洗浄及び第2洗浄槽51Bにおける主洗浄と仕上洗浄に各タンクの洗浄液が使用される。すなわち、第1洗浄タンク54Aの洗浄液は、予備洗浄と主洗浄とに使用されることによって、図示するように徐々に減少するが、オーバーフロー配管56Aを介して第2洗浄タンク54Bから補充される。
 また、第2洗浄槽51Bの洗浄液は、主洗浄に使用されることによって減少するが、仕上洗浄に供された洗浄液によって補充される。また、仕上洗浄タンク54Cの洗浄液は、仕上洗浄に使用されることによって減少するが、制御部67は、仕上洗浄タンク水位計64Cの計測結果に基づいて給水弁66Bを適宜制御することによって満水状態に復帰させる。
 このように、基板洗浄装置A2では、オーバーフロー配管56A及び第2オーバーフロー配管56Bを介した各タンク間における洗浄液の流れ及び洗浄液の流れにおいて最上位に位置する給水弁66Bを制御部67が適宜制御することによって、より清浄な洗浄液を必要とする順番、つまり第2洗浄槽51Bにおける仕上洗浄→第2洗浄槽51Bにおける主洗浄→第1洗浄槽51Aにおける主洗浄→第1洗浄槽51Aにおける予備洗浄の順番で順次使用されて、最終的に予備洗浄排水弁63A2を介して外部に排水される。
 ところで、図14を参照して説明したように、基板洗浄装置A2における基板Wの洗浄は、外部の基板搬送装置によって第1洗浄槽51Aから第2洗浄槽51Bに順次搬送される基板Wの動きに同期するかたちで行われる。以下では、制御部67は、第1洗浄槽51Aにおける主洗浄処理における制御部67の制御処理を詳しく説明する。なお、第1洗浄槽51Aにおける予備洗浄処理及び第2洗浄槽51Bにおける主洗浄処理及び仕上洗浄処理の詳細については省略する。
 図16は、制御部67による第1洗浄槽51Aの主洗浄処理を示すフローチャートである。制御部67は、この第1洗浄槽51Aの主洗浄処理では、図14にも示したように、主洗浄循環弁62Aが完全に開放された状態で第1洗浄ポンプ55Aを作動させる(ステップSb1)。この結果、第1洗浄ポンプ55Aから主洗浄用アーム52A2に主洗浄水が供給され、基板Wの両面への主洗浄水の吹き付けが開始される。
 そして、制御部67は、第1洗浄ポンプ55Aの作動開始から所定時間、例えば4sが経過するのを待ち(ステップSb2)、その上で基板上昇が検出されたか否かを判断する(ステップSb3)。そして、制御部67は、ステップSb3の判断が「No」の場合、つまり基板Wが所定高さにで停止している場合は、タイマによる計時を開始して所定時間、例えば130sが経過したか否かを判断する(ステップSb4)。
 また、制御部67は、上記ステップSb3の判断が「Yes」の場合には、上記タイマによる計時を停止させ(ステップSb5)、その上で第1洗浄ポンプ55Aを停止させる(ステップSb6)。すなわち、制御部67は、外部の基板搬送装置によって搬送される基板Wが上昇を開始したことを検出すると、速やかに第1洗浄ポンプ55Aを停止、つまり主洗浄を速やかに終了させる。
 一方、制御部67は、基板上昇が検出されず、ステップSb3の判断が「No」の場合には、タイマが所定時間(130s)の計時を終了すると、つまりステップSb4の判断が「Yes」になると、第1洗浄ポンプ55Aを停止させ(ステップSb7)、つまり主洗浄を終了させた上で、エラー処理を行い(ステップSb8)、引き続いてステップSb3の基板上昇検出処理を行う。
 すなわち、上記所定時間(130s)は、基板搬送装置が正常に機能している場合には到達することがないタイムアウト期間であり、このようなタイムアウト期間をタイマが計時した場合、制御部67は、何らかの異常が発生したものとしてエラー処理を行う。
 また、制御部67は、上記ステップSb4の判断が「No」の場合には主洗浄液圧力計60A2から入力される信号がON状態(所定のしきい値を越えたか状態)かあるいはOFF状態(所定のしきい値を越えない状態)かを判断する(ステップSb9)。そして、制御部67は、主洗浄液圧力計60A2からの入力信号がOFF状態のときは、上記タイマを停止させ(ステップSb10)、その上でエラー処理を行い(ステップSb11)、、引き続いてステップSb3の基板上昇検出処理を行う。
 すなわち、第1洗浄ポンプ55Aを作動させて所定時間(ステップSb2における4s)が経過した状態において主洗浄液の圧力が所定のしきい値を越えない状態は、第1洗浄ポンプ55Aあるいはその他に何らかの異常が発生していることが原因と考えられる。したがって、制御部67は、このような状態の場合、つまりステップSb9において主洗浄液圧力計60A2からの入力信号がOFF状態にあると判断した場合には、タイマを停止させた上でエラー処理を行う。
 また、制御部67は、ステップSb9において主洗浄液圧力計60A2からの入力信号がON状態にあると判断した場合、主洗浄液圧力計60A2からの入力信号を再度判断する(ステップSb12)。そして、制御部67は、この判断結果が主洗浄液圧力計60A2からの入力信号がOFF状態にあることを示すものである場合はエラー処理を行い(ステップSb13)、一方、主洗浄液圧力計60A2からの入力信号がON状態にあることを示すものである場合には、引き続いてステップSb3の基板上昇検出処理を行う。
 すなわち、主洗浄液の再度の圧力チェックの結果、主洗浄液の圧力が所定のしきい値を下回った場合、第1洗浄ポンプ55Aあるいはその他に何らかの異常が発生していることが考えられる。したがって、制御部67は、このような状態の場合には、ステップSb13のエラー処理を行った上で、ステップSb3の基板上昇検出処理を行う。
 図17は、制御部67における基板上昇検出処理を示すフローチャートである。また、図18は、この基板上昇検出処理における一部(ステップSc1、Sc3)の詳細処理を示すフローチャートである。
 第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bにおける基板Wの上昇は、上部基板検出器70a、70bと下部基板検出器70c、70dとを組み合わせることによって検出されている。第1洗浄槽51Aにおける基板上昇検出処理と第2洗浄槽51Bにおける基板上昇検出処理とは全く同一のアルゴリズムなので、以下では、代表して第1洗浄槽51Aにおける基板上昇検出処理について説明する。
 なお、基板下降検出処理は、以下に説明する基板上昇検出処理において、上部基板検出器70a、70b及び下部基板検出器70c、70dにおける基板検出のON/OFFを入れ替えた点で異なるものであり、本質的に基板上昇検出処理と同様なので説明を省略する。
 制御部67は、一方の下部基板検出器70cの検出結果を用いて下部基板検出処理1を実行し(ステップSc1)、この処理結果に基づいて基板の上昇を判定する(ステップSc2)。また、制御部67は、上記ステップSc1、Sc2と並行して他方の下部基板検出器70dの検出結果を用いて下部基板検出処理2を実行し(ステップSc3)、この処理結果に基づいて基板の上昇を判定する(ステップSc4)。
 なお、ステップSc1、Sc3の詳細については後述する。
 そして、制御部67は、上記ステップSc2、Sc4の判定結果が何れも基板の上昇を示すものでなかった場合、つまりステップSc5の判断が「No」の場合、タイマによる計時を開始して所定時間、例えば500msが経過したか否かを判断し(ステップSc6)、この所定時間が経過するまでの間にステップSc5の判断が「Yes」のなると、タイマによる計時を停止し(ステップSc7)、その上で基板Wが上昇したと判定する(ステップSc8)。
 また、制御部67は、上記所定時間(500ms)が経過した場合、つまりステップSc6の判断が「Yes」になった場合には、ステップSc1、Sc3の処理を停止し(ステップSc8)、その上で所定のエラー処理を実行する。
 このような基板上昇検出処理では、上記所定時間(500ms)の時間差内において一方の下部基板検出器70cの検出結果に基づいて基板Wの上昇がステップSc2において判定され、あるいは、他方の下部基板検出器70dの検出結果に基づいて基板Wの上昇がステップSc4において判定された場合に、基板Wの上昇がステップSc8において最終的に判定される。
 上記ステップSc1の下部基板検出処理1及びステップSc3の下部基板検出処理2は使用する検出器が一方の下部基板検出器70cと他方の下部基板検出器70dとで異なる点以外は同一なので、以下ではステップSc1の下部基板検出処理1について説明する。
 この下部基板検出処理1において、制御部67は、図18のフローチャートに示すように、最初に下部基板検出器70cが基板Wを検出している状態、つまりON状態にあるか否かを判断する(ステップSd1)。そして、制御部67は、このステップSd1の判断が「Yes」の場合、所定時間、例えば10msを計時し(ステップSd2)、その上で下部基板検出器70cがON状態にあるか否かを再度判断する(ステップSd3)。
 そして、制御部67は、このステップSd3の判断が「Yes」の場合には、ON状態の時間積算時間を開始し(ステップSd4)、この積算値が所定時間、例えば100msを越えたか否かを判断する(ステップSd5)。制御部67は、このステップSd5の判断が「No」の場合、また上記ステップSd1、Sd3の判断が「No」の場合は、ステップSd1の判断処理を繰り返し、ステップSd5の判断が「Yes」の場合には、引き続いて下部基板検出器70cが基板Wを検出していない状態、つまりOFF状態にあるか否かを判断する(ステップSd6)。
 そして、制御部67は、このステップSd6の判断が「Yes」の場合、所定時間、例えば10msを計時し(ステップSd7)、その上で下部基板検出器70cがOFF状態にあるか否かを再度判断する(ステップSd8)。そして、制御部67は、このステップSd8の判断が「Yes」の場合には、OFF状態の時間積算時間を開始し(ステップSd9)、この積算値が所定時間、例えば100msを越えたか否かを判断する(ステップSd10)。
 そして、制御部67は、このステップSd10の判断が「No」の場合、また上記ステップSd7、Sd9の判断が「No」の場合は、ステップSd6の判断処理を繰り返し、このステップSd10の判断が「Yes」の場合には下部基板検出処理1を終了する。
 最後に、図19に示すフローチャートを参照して、各洗浄タンクに関する排水処理について説明する。制御部67は、稼動が終了すると、各洗浄タンクに残っている洗浄液を図19に示す手順で外部に排水する。
 すなわち、制御部67は、稼動が終了すると、給水弁66Bを閉状態(ステップSe1)、第1洗浄ポンプ55Aを停止状態(ステップSe2)、第2洗浄ポンプ55Bを停止状態(ステップSe3)、仕上洗浄ポンプ55Cを停止状態(ステップSe4)、予備洗浄排水弁63A2を開状態(ステップSe5)、主洗浄循環弁62Aを開状態(ステップSe6)、主洗浄ノズル開閉弁61Aを開状態(ステップSe7)、第1洗浄タンク排水弁63A1を開状態(ステップSe8)にそれぞれ設定する。
 そして、制御部67は、その上で、タイマで80秒(s)を計時すると(ステップSe9)、第2洗浄タンク排水弁63Bを開状態に設定する(ステップSe10)、また、タイマで160秒(s)を計時すると(ステップSe11)、仕上洗浄タンク排水弁63Cを開状態に設定し(ステップSe12)、さらにタイマで180秒(s)を計時すると(ステップSe13)、廃水処理を終了する。
 このような手順の排水処理によれば、ステップSe1~Se8の処理から時間を置いてステップSe10、Se12の処理を行うので、洗浄液を各洗浄タンクから確実に排水することができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば以下のような変形例が考えられる。
(1)上記実施形態では、第1洗浄槽51Aと第2洗浄槽51Bとからなる2槽式に構成したが、本発明はこれに限定されない。1槽式に構成し、1つの洗浄槽で予備洗浄、主洗浄及び仕上洗浄を行うようにしても良い。なお、この場合、洗浄タンクに溜められた洗浄液を予備洗浄と主洗浄とに供し、仕上洗浄は外部から取り入れる仕上洗浄液を用いることが考えられる。
(2)上記実施形態では、第1洗浄液噴射部2Aを合計6本の第1洗浄アーム52a1~52a3,52a4~52a6から構成し、また第2洗浄液噴射部52Bを合計6本の第2洗浄アーム52b1~52b3,52b4~52b6から構成したが、洗浄アームの本数は6本に限定されない。洗浄アームの本数は、基板Wの大きさ等に応じて適宜設定される。
(3)上記実施形態では、第1洗浄槽51A及び第2洗浄槽51Bの何れも下部Kが上部Jよりも狭い幅で、かつ、中間部Tの幅が上から下に向かって一定の傾斜で徐々に狭くなる形状に設定したが、必要に応じて何れか一方をこのような形状に設定するようにしても良い。
(4)基板洗浄装置A2は、上部基板検出器70a、70b及び下部基板検出器70c、70dを備えるように構成されているが、これに代えて上部基板検出器70a、70b及び下部基板検出器70c、70dを削除し、外部基板搬送装置から基板Wの動きに関する情報(信号)を制御部67に取り込んで各部を制御するようにしても良い。

Claims (8)

  1.  洗浄槽と、
     前記洗浄槽の内部に向かって洗浄液を噴射する予備洗浄用噴射手段と、
     前記洗浄槽の内部に向かって洗浄液を噴射する主洗浄用噴射手段と、
     前記洗浄槽の内部に向かって洗浄液を噴射する仕上げ洗浄用噴射手段と、
     洗浄液を貯留するためのタンクと、前記タンクに貯留されている洗浄液を前記予備洗浄用噴射手段に供給する予備洗浄用供給手段と、
     前記タンクに貯留されている洗浄液を前記主洗浄用噴射手段に供給する主洗浄用供給手段と、
     外部から洗浄液を前記仕上げ洗浄用噴射手段に供給する仕上げ洗浄用供給手段と、
     前記洗浄槽から排水される洗浄液を前記タンクに送り返すための循環用配管と、
     前記洗浄槽から排水される洗浄液を外部に排水するための排水管と、前記洗浄槽から排水される洗浄液を前記循環用配管と前記排水管とのいずれか一方に選択的に流入させるための流路切換手段と、
     前記洗浄槽の内部に洗浄対象物を搬送する外部搬送装置の動作に応じて、前記予備洗浄用供給手段、前記主洗浄用供給手段、仕上げ洗浄用供給手段及び前記流路切換手段を制御する制御手段と
     を具備することを特徴とする洗浄装置。
  2. 前記制御手段は、前記外部搬送装置が前記洗浄対象物を前記洗浄槽の外部から内部の待機位置に向かって移動させている期間において、前記予備洗浄用供給手段を制御して前記タンクに貯留されている洗浄液を前記予備洗浄用噴射手段に供給すると共に、前記流路切換手段を制御して前記洗浄槽から排水される洗浄液を前記排水管に流入させ、前記外部搬送装置が前記洗浄対象物を前記待機位置に待機させている期間において、前記主洗浄用供給手段を制御して前記タンクに貯留されている洗浄液を前記主洗浄用噴射手段に供給すると共に、前記流路切換手段を制御して前記洗浄槽から排水される洗浄液を前記循環用配管に流入させ、前記外部搬送装置が前記洗浄対象物を前記待機位置から前記洗浄槽の外部に向かって移動させている期間において、前記仕上げ洗浄用供給手段を制御して外部から洗浄液を前記仕上げ洗浄用噴射手段に供給すると共に、前記流路切換手段を制御して前記洗浄槽から排水される洗浄液を前記循環用配管に流入させることを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
  3.  前記洗浄槽の内部に向かって送風または放熱のいずれか、或いは両者の組み合わせによる乾燥処理を行うと共に、当該乾燥処理が前記仕上げ洗浄用噴射手段による洗浄処理の後処理になるように配置された乾燥処理手段を備え、
     前記制御手段は、前記外部搬送装置が前記洗浄対象物を前記待機位置から前記洗浄槽の外部に向かって移動させている期間において、前記乾燥処理手段を制御して前記洗浄対象物に対して乾燥処理を行うことを特徴とする請求項2記載の洗浄装置。
  4.  外部から搬入された基板を略垂直姿勢で収容する洗浄槽と、
     該洗浄槽内の前記基板に両面から洗浄液を噴射する洗浄液噴射部と、
     前記洗浄槽から洗浄液を回収する洗浄液回収部とを備え、
     前記洗浄槽は、前記基板に直交する断面における下部が上部よりも狭い幅で、かつ、中間部の幅が上から下に向かって狭くなっていることを特徴とする基板洗浄装置。
  5.  外部から搬入された基板を略垂直姿勢で収容する洗浄槽と、
     該洗浄槽内の前記基板に両面から洗浄液を噴射する洗浄液噴射部とを備え、
     前記洗浄液噴射部は、前記基板の両面に上下方向に多段に設けられた複数の管状部材と、該各管状部材に所定間隔で設けられた複数のノズルとからなり、かつ、互いに隣り合う管状部材のノズルは千鳥状の位置関係となるように配置されていることを特徴とする基板洗浄装置。
  6.  前記各管状部材は、軸心を中心とする回動姿勢が調整自在な支持具によって前記洗浄槽に支持されることを特徴とする請求項5記載の基板洗浄装置。
  7.  前記ノズルは、前記管状部材に対して所定姿勢で着脱自在に装着されることを特徴とする請求項5または6記載の基板洗浄装置。
  8.  外部から搬入された基板を略垂直姿勢で収容する第1洗浄槽と、
     該第1洗浄槽内の前記基板に両面から洗浄液を噴射する第1洗浄液噴射部と、
     前記第1洗浄槽から洗浄液を回収する第1洗浄液回収部と、
     外部から搬入された前記基板を略垂直姿勢で収容する第2洗浄槽と、
     該第2洗浄槽内の前記基板に両面から洗浄液を噴射する第2洗浄液噴射部と、
     前記第2洗浄槽から洗浄液を回収する第2洗浄液回収部と、
     洗浄液を貯留する第1、2及び第3洗浄液貯留槽と、
     前記第1洗浄液噴射部に洗浄液を予備洗浄液あるいは主洗浄液として供給する第1洗浄液供給部と、
     前記第2洗浄液噴射部に洗浄液を主洗浄液として供給する第2洗浄液供給部と、
     前記第2洗浄液噴射部に洗浄液を仕上洗浄液として供給する第3洗浄液供給部と、
     前記第2洗浄液貯留槽でオーバーフローした洗浄液を前記第1洗浄液貯留槽に供給するオーバーフロー配管と
     を備えることを特徴とする基板洗浄装置。
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