WO2007108147A1 - 熱電半導体、熱電変換素子および熱電変換モジュール - Google Patents

熱電半導体、熱電変換素子および熱電変換モジュール Download PDF

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WO2007108147A1
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thermoelectric semiconductor
thermoelectric conversion
conversion element
type thermoelectric
thermoelectric
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PCT/JP2006/318497
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Inventor
Sachiko Fujii
Takanori Nakamura
Akira Ando
Original Assignee
Murata Manufacturing Co., Ltd.
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/85Thermoelectric active materials
    • H10N10/851Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions
    • H10N10/855Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions comprising compounds containing boron, carbon, oxygen or nitrogen
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10N10/85Thermoelectric active materials
    • H10N10/857Thermoelectric active materials comprising compositions changing continuously or discontinuously inside the material

Definitions

  • thermoelectric semiconductor thermoelectric conversion element
  • thermoelectric conversion module thermoelectric conversion module
  • the present invention relates to a thermoelectric semiconductor, and a thermoelectric conversion element and a thermoelectric conversion module including the thermoelectric semiconductor.
  • Thermoelectric semiconductors of interest to the present invention include those described in JP-A-8-186293 (Patent Document 1) or those described in JP-A-2001-284661 (Patent Document 2). is there.
  • Patent Document 1 describes a thermoelectric semiconductor represented by (ZnAl) O, in which a part of zinc in acid zinc is substituted with aluminum. According to this thermoelectric semiconductor, since it contains aluminum, it has the advantage of showing a high absolute value Seebeck coefficient with low resistivity. However, although not described in Patent Document 1, this thermoelectric semiconductor has a drawback of high thermal conductivity. That is, a material having a low resistivity generally has a property of high thermal conductivity.
  • Patent Document 2 a part of zinc in acid zinc is substituted with a group 13 typical metal and lanthanum or nickel, that is, (Zn AB) O (A is a group 13 typical metal, B is A thermoelectric semiconductor having a composition represented by tantalum or nickel is described, but there is a description that the thermal conductivity can be lowered by using ultrafine metal oxide as a raw material. And the preferable range about the average particle diameter of the metal oxide used as a raw material is disclosed. However, there is no specific disclosure about the influence of the average particle size on the thermal conductivity, more specifically, the correlation between the average particle size and the thermal conductivity. Therefore However, it is not always clear whether a thermoelectric semiconductor having a desired low thermal conductivity can be obtained with high reproducibility.
  • Patent Document 1 JP-A-8-186293
  • Patent Document 2 Japanese Patent Laid-Open No. 2001-284661
  • an object of the present invention is to provide a thermoelectric semiconductor capable of reducing the thermal conductivity and improving the dimensionless figure of merit.
  • Another object of the present invention is to provide a thermoelectric conversion element and a thermoelectric conversion module configured with the thermoelectric semiconductor described above.
  • thermoelectric semiconductor according to the present invention has a main layer having a first material force and a second heat conductivity lower than that of the main layer having the first material force. It is characterized by having a laminated structure in which sublayers having material strength are laminated.
  • thermoelectric semiconductor according to the present invention has a laminated structure in which a plurality of main layers and sub-layers are laminated.
  • thermoelectric semiconductor according to the present invention preferably has a dimensionless figure of merit (ZT) of 0.245 or more.
  • the first material has a composition represented by (Zn A1) 0 and the second material is (Zn Al M) O (M is an acceptor Nanana, bivalent
  • transition metal elements or rare earth elements are particularly preferably used as M 1.
  • the present invention is also directed to a thermoelectric conversion element including the thermoelectric semiconductor described above and electrodes formed on both ends of the thermoelectric semiconductor in the heat transfer direction.
  • the stacking direction of the stacked structure of the thermoelectric semiconductor is oriented in the heat transfer direction.
  • the present invention also includes at least one p-type thermoelectric conversion element including a p-type thermoelectric semiconductor and electrodes respectively formed on both ends in the heat transfer direction of the p-type thermoelectric semiconductor, and n type
  • the thermoelectric semiconductor and the n-type thermoelectric semiconductor are provided with at least one n-type thermoelectric conversion element including electrodes respectively formed on both ends in the heat transfer direction, and are paired to form a thermoelectric conversion element pair. It is also directed to a thermoelectric conversion module in which one electrode of a p-type thermoelectric conversion element and one electrode of an n-type thermoelectric conversion element are electrically connected to each other.
  • thermoelectric conversion module is characterized in that the above-described thermoelectric semiconductor according to the present invention is used as at least one of a p-type thermoelectric semiconductor and an n-type thermoelectric semiconductor.
  • thermoelectric semiconductor of the present invention the thermal conductivity can be lowered by the second material constituting the sublayer while maintaining the characteristics of the first material constituting the main layer. Therefore, the dimensionless figure of merit (ZT) of such a thermoelectric semiconductor can be improved.
  • thermoelectric semiconductor according to the present invention has a structure in which a plurality of sets of main layers and sub-layers are laminated, the above-described effects can be more reliably exhibited.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a thermoelectric conversion element 2 including a thermoelectric semiconductor 1 according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a front view schematically showing a thermoelectric conversion module 11 according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a graph showing the temperature characteristics of the dimensionless figure of merit (ZT) for samples 2 and 3 produced in the experimental example.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a thermoelectric conversion element 2 including a thermoelectric semiconductor 1 according to an embodiment of the present invention.
  • the thermoelectric conversion element 2 includes a thermoelectric semiconductor 1 and electrodes 4 and 5 formed on both ends of the thermoelectric semiconductor 1 in the heat transfer direction 3, respectively.
  • Pt is used as the conductive component of the electrodes 4 and 5.
  • the thermoelectric semiconductor 1 has a laminated structure laminated in the heat transfer direction 3.
  • the laminated structure is composed of a main layer 6 made of a first material having a relatively high thermal conductivity and a sublayer 7 having a second material force having a lower thermal conductivity than that of the first material.
  • a single main layer 6 and sub-layer 7 are simply stacked to form a stacked structure.
  • FIG. It is preferable to have a stacked structure in which a plurality of layers 6 and sublayers 7 are stacked.
  • each of the main layer 6 and the sublayer 7 can be arbitrarily selected as long as the volume ratio improves the dimensionless figure of merit (ZT).
  • the main layer 6 and the sublayer 7 may be the same in the thermoelectric semiconductor 1 even if the plurality of main layers 6 do not have the same thickness. And may not be stacked alternately.
  • thermoelectric semiconductor 1 When the thermoelectric semiconductor 1 is n-type, the first material constituting the main layer 6 has a composition represented by (Zn A1) 0, and the second material constituting the sublayer 7 is (Zn A1 M) 0 (M is
  • the content X of A1 in ( ⁇ ⁇ 1 ⁇ ) 0 which is the composition of the first material described above is preferably selected so that 0 ⁇ x ⁇ 0.04. This is because when X exceeds 0.04, a heterogeneous phase is generated, which immediately increases the resistivity and decreases the dimensionless figure of merit.
  • composition of the second material is (Zn Al M) O! /
  • transition metal element or a rare earth element is particularly preferable.
  • transition metal elements include Co, Ni, Mn, Ti, and Fe.
  • rare earth elements include Y, Ce, and Gd.
  • the content z of M is selected so that 0 ⁇ z ⁇ 0.005 in each case where M is Ti or Fe of transition metal elements. If z force ⁇ ). 005 is exceeded, a heterogeneous phase is likely to be generated.
  • z may be selected so that 0 ⁇ z ⁇ 0.04 even if it exceeds 0.005. Is preferred. However, y + z ⁇ 0.04 and z ⁇ y are required. If y + z exceeds 0.04, heterogeneous phases are likely to be generated. If z ⁇ y, the supply amount of A1 is insufficient, and the resistivity may not be sufficiently reduced.
  • the content z of M is preferably selected such that 0 ⁇ z ⁇ 0.005. This is because if z exceeds 0.005, a heterogeneous phase is easily generated.
  • the main layer 6 also has a first material force having a composition represented by (ZnAl) O
  • the sublayer 7 has a composition represented by (ZnAlM) O.
  • thermoelectric semiconductor 1 is manufactured as follows.
  • ZnO powder, Al 2 O powder, and M oxide powder are prepared as starting materials.
  • These starting materials are not limited to oxides, and may be any compound as long as it can form a metal oxide by subsequent firing, hydroxides, carbonates. , Alkoxides and the like can also be used. Further, regarding the particle size of the starting powder, it is particularly preferable to use ultrafine particles having an average particle size of 200 nm or less because the thermal conductivity of the sintered body is lowered. Next, the above-mentioned starting materials are weighed so that the composition (Zn A1) 0 for the main layer 6 and the composition (Zn Al M) O for the sublayer 7 are obtained, respectively. And each
  • it is pulverized and mixed.
  • a wet ball mill using a dispersion medium as water is used for the pulverization and mixing treatment, and the treatment time is carried out until a uniform mixed state is achieved. Further, the mixing and pulverizing process is performed in a state in which noinda is added.
  • the slurry force obtained by the above-described mixing and pulverizing process is formed into a sheet by applying, for example, a doctor blade method.
  • the sheet to be the main layer 6 is preferably made thicker than the sheet to be the sublayer 7 by, for example, being formed thicker or by laminating a plurality of sheets.
  • a plurality of sets of sheets to be the main layer 6 and sheets to be the sublayer 7 are laminated, and the obtained laminate is pressed, degreased, and then fired.
  • this firing step for example, a force at which a temperature of 1200 to 1500 ° C. is applied.
  • a temperature at which the relative density of the obtained sintered body can be 90% or more.
  • Electrodes 4 and 5 are formed by applying a conductive paste containing Pt, for example, to both ends of the thermoelectric semiconductor 1 and baking it, whereby the thermoelectric conversion element 2 is obtained.
  • a conductive paste containing Pt for example, Ag, Cu, etc.
  • Ag, Cu, etc. may be used in addition to the above-described Pt.
  • FIG. 2 is a front view schematically showing the thermoelectric conversion module 11 according to one embodiment of the present invention.
  • the thermoelectric conversion module 11 includes a p-type thermoelectric conversion element 12 and electrodes 14 and 15 formed on both ends of the p-type thermoelectric semiconductor 12 in the heat transfer direction 13, respectively. 16 and an n-type thermoelectric conversion element 20 including an n-type thermoelectric semiconductor 17 and electrodes 18 and 19 respectively formed on both ends of the n-type thermoelectric semiconductor 17 in the heat transfer direction 13. ing.
  • thermoelectric conversion element 16 and the n-type thermoelectric conversion element are alternately arranged, the p-type thermoelectric conversion element 16 and the n-type thermoelectric conversion element 16 are sandwiched between the pair of insulating plates 21 and 22.
  • Insulating plates 21 and 22 have electrical insulation and relatively good thermal conductivity, and are made of ceramic such as alumina. Composed.
  • thermoelectric conversion elements 16 and the n-type thermoelectric conversion elements 20 that are alternately arranged as described above, a pair of adjacent P-type thermoelectric conversion elements 16 and the n-type thermoelectric conversion elements 20 are used to generate the thermoelectric conversion elements.
  • Pair 23 is constructed.
  • one electrode 14 of the p-type thermoelectric conversion element 16 and one electrode 18 of the n-type thermoelectric conversion element 20 are electrically connected to each other by the inter-pn connection conductor 24.
  • the inter-pn connecting conductor 24 is formed on the insulating plate 21, for example.
  • thermoelectric conversion element pairs 23 are connected in series in this embodiment. Therefore, the other electrode 15 of the p-type thermoelectric conversion element 16 on the adjacent thermoelectric conversion element pair 23-side and the other electrode 19 of the n-type thermoelectric conversion element 20 on the other side are connected to the series wiring conductor 25. Are electrically connected.
  • the serial wiring conductor 25 is formed on the insulating plate 22, for example.
  • the electrode 15 of the P-type thermoelectric conversion element 16 and the electrode 19 of the n-type thermoelectric conversion element 20 that are provided at the ends of the plurality of thermoelectric conversion element pairs 23 connected in series are respectively
  • the terminal conductors 26 and 27 are electrically connected.
  • the terminal conductors 26 and 27 are formed on the insulating plate 22, for example.
  • the thermoelectric conversion module 11 is used as a power generator, an electromotive force as an output is taken out from the terminal conductors 26 and 27.
  • the thermoelectric conversion module 11 is used as a cooling device, the terminal conductors 26 and 27 are supplied with inputs DC current is applied.
  • thermoelectric conversion module 11 although not particularly shown in FIG. 2, at least one of the p-type thermoelectric semiconductor 12 and the n-type thermoelectric semiconductor 17 is a main layer such as the thermoelectric semiconductor 1 shown in FIG. 6 and sublayer 7 are laminated.
  • the first material constituting the main layer 6 described as a preferred embodiment with reference to FIG. 1 has a composition represented by (ZnAl) O, and the sublayer 7 is formed. Zyz when the second material is an n-type thermoelectric semiconductor, as in the case where it has a composition represented by (Zn Al M) 0
  • thermoelectric conversion module 11 The above composition is applied to the n-type thermoelectric semiconductor 17 in the thermoelectric conversion module 11 shown in FIG.
  • thermoelectric conversion module 11 a plurality of thermoelectric conversion element pairs 23 are connected in series, but at least a part of the plurality of thermoelectric conversion element pairs 23 are connected in parallel as necessary. Please be.
  • Powder and NiO powder were prepared, and these powders were weighed so as to obtain compositions A to C as shown in Table 1 below.
  • a binder was added to the starting raw material powder weighed as described above, and pulverized and mixed in a ball mill for 16 hours using pure water as a dispersion medium.
  • a doctor blade method was applied to the slurry according to each of the compositions A to C thus obtained, and the slurry was molded into a sheet shape so as to have a thickness of 40 m.
  • Table 2 below shows the sheet yarn used for each of the samples 1 to 5 produced in this experimental example.
  • Sample 1 As shown in Table 2, in Sample 1, a sheet according to Composition A was used to form the main layer, and a sheet according to Composition B was used to form the sublayer. In sample 2, a sheet according to composition A was used to form the main layer, and a sheet according to composition C was used to form the sublayer. Samples 3, 4 and 5 used only sheets according to compositions A, B and C, respectively.
  • Samples 1 and 2 10 sheets each having a thickness of 40 ⁇ m serving as a main layer were laminated to have a thickness of 400 ⁇ m, and one sheet having a thickness of 40 ⁇ m serving as a sub-layer. 15 sets as a set After that, isotropic isostatic pressing was performed so that the thickness of the laminate after pressing was about 7 mm.
  • the laminate according to each of the samples 15 was degreased at a temperature of 410 ° C, and then fired at a temperature of 1400 ° C in the air.
  • thermoelectric semiconductor as the sintered body according to each of the samples 15 obtained in this way was processed according to the measurement item, and as shown in Table 3, the resistivity, Seebeck coefficient and Thermal conductivity was evaluated.
  • the resistivity was measured at 890 ° C by the DC 4-terminal method.
  • the zeck coefficient is calculated from the temperature difference at both ends in the stacking direction of the thermoelectric semiconductor as a sample, the electromotive force generated at both ends of this temperature difference, and the measured electromotive force. did.
  • the thermal conductivity was obtained by the laser flash method in the temperature range of 100 890 ° C.
  • the thermal conductivity can be lowered by introducing a sub-layer of yarn and B or C. That is, with samples 1 and 2 within the scope of this invention If so, the thermal conductivity can be reduced. As a result, the dimensionless performance index at 890 ° C can be improved to 0.245 or more.
  • Figure 3 shows the temperature characteristics of the dimensionless figure of merit (ZT) for each of Samples 2 and 3.
  • ZT dimensionless figure of merit

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
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Abstract

 熱伝導率を低く、かつ、無次元性能指数を向上させることができる、熱電半導体を提供する。  第1の材料からなる主層(6)と、第1の材料からなる主層(6)よりも熱伝導率が低い第2の材料からなる副層(7)とが複数組積層された積層構造を有するように、熱電半導体(1)を構成する。熱電半導体(1)がn型であるとき、たとえば、第1の組成は(Zn1-xAlx)Oで表わされる組成を有し、第2の材料は(Zn1-y-zAlyMz)O(Mは、アクセプタにならない2価以上の元素であり、好ましくは、遷移金属元素または希土類元素である。)で表わされる組成を有する。

Description

熱電半導体、熱電変換素子および熱電変換モジュール
技術分野
[0001] この発明は、熱電半導体、ならびにこの熱電半導体をもって構成される熱電変換素 子および熱電変換モジュールに関するものである。
背景技術
[0002] 発電装置または冷却装置にお!、て用いられる熱電変換素子あるいは熱電変換モ ジュールに備える熱電半導体は、抵抗率 )が低ぐ熱伝導率( κ )が低ぐゼ一べ ック係数(S)の絶対値が高いことが望まれる。これによつて、 ZT= S2TZ /o · κの式( Tは絶対温度)により求められる無次元性能指数 (ZT)を高くすることができるからで ある。
[0003] この発明にとって興味ある熱電半導体として、特開平 8— 186293号公報 (特許文 献 1)に記載されたもの、あるいは特開 2001— 284661号公報 (特許文献 2)に記載 されたものがある。
[0004] 特許文献 1では、酸ィ匕亜鉛における亜鉛の一部をアルミニウムで置換した、すなわ ち(Zn Al ) Oで表わされる熱電半導体が記載されて 、る。この熱電半導体によれ ば、アルミニウムを含むため、抵抗率が低ぐ高い絶対値のゼーベック係数を示すと いう利点を有している。し力しながら、特許文献 1に記載されていないものの、この熱 電半導体は、熱伝導率が高いという欠点を有している。すなわち、抵抗率の低い物 質は、一般的に、熱伝導率が高いという性質を有しているのである。
[0005] 他方、特許文献 2には、酸ィ匕亜鉛における亜鉛の一部を 13族典型金属とランタン またはニッケルで置換した、すなわち(Zn A B ) O (Aは 13族典型金属、 Bはラ ンタンまたはニッケル)で表わされる組成を有する熱電半導体が記載されて ヽるが、 原料として超微粒子の金属酸ィ匕物を用いることにより熱伝導率を下げることができる との記載がある。そして、原料となる金属酸ィ匕物の平均粒径についての好ましい範囲 が開示されている。しかしながら、平均粒径が熱伝導率に及ぼす影響、より具体的に は、平均粒径と熱伝導率との相関関係については具体的な開示がない。したがって 、所望の低い熱伝導率を有する熱電半導体を、高い再現性をもって確実に得られる 力どうかは必ずしも明らかではない。
特許文献 1 :特開平 8— 186293号公報
特許文献 2:特開 2001— 284661号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] そこで、この発明の目的は、熱伝導率を低ぐかつ、無次元性能指数を向上させる ことができる、熱電半導体を提供しょうとすることである。
[0007] この発明の他の目的は、上述した熱電半導体をもって構成される熱電変換素子お よび熱電変換モジュールを提供しょうとすることである。
課題を解決するための手段
[0008] この発明に係る熱電半導体は、上述した技術的課題を解決するため、第 1の材料 力 なる主層と、この第 1の材料力 なる主層よりも熱伝導率が低い第 2の材料力 な る副層とが積層された積層構造を有することを特徴としている。
[0009] この発明に係る熱電半導体において、好ましくは、主層と副層とが複数組積層され た積層構造を有するよう〖こされる。
[0010] また、この発明に係る熱電半導体は、無次元性能指数 (ZT)が 0. 245以上である ことが好ましい。
[0011] この発明に係る熱電半導体が n型であるとき、第 1の材料は (Zn A1 ) 0で表わさ れる組成を有し、第 2の材料は(Zn Al M ) O (Mは、ァクセプタにならな 、2価
1
以上元素)で表わされる組成を有することが好ましい。この場合、特に好ましくは、 M として、遷移金属元素または希土類元素が用いられる。
[0012] この発明は、上述した熱電半導体と、熱電半導体の、伝熱方向での両端部上にそ れぞれ形成される電極とを備える、熱電変換素子にも向けられる。この熱電変換素子 においては、熱電半導体が有する積層構造の積層方向は、伝熱方向に向くようにさ れる。
[0013] この発明は、また、 p型熱電半導体と p型熱電半導体の伝熱方向での両端部上にそ れぞれ形成される電極とを備える、少なくとも 1つの p型熱電変換素子、ならびに n型 熱電半導体と n型熱電半導体の伝熱方向での両端部上にそれぞれ形成される電極 とを備える、少なくとも 1つの n型熱電変換素子を備え、熱電変換素子対を構成するよ うに、対をなす p型熱電変換素子の一方の電極と n型熱電変換素子の一方の電極と が互 、に電気的に接続されて!ヽる、熱電変換モジュールにも向けられる。
[0014] この発明に係る熱電変換モジュールは、前述したこの発明に係る熱電半導体を、 p 型熱電半導体および n型熱電半導体の少なくとも一方として用いることを特徴として いる。
発明の効果
[0015] この発明に係る熱電半導体によれば、主層を構成する第 1の材料による特性を維 持したまま、副層を構成する第 2の材料によって熱伝導率を低下させることができる。 そのため、このような熱電半導体の無次元性能指数 (ZT)を向上させることができる。
[0016] この発明に係る熱電半導体が、主層と副層とを複数組積層した構造を有していると 、上述した効果をより確実に奏することができる。
図面の簡単な説明
[0017] [図 1]図 1は、この発明の一実施形態による熱電半導体 1を備える熱電変換素子 2を 図解的に示す断面図である。
[図 2]図 2は、この発明の一実施形態による熱電変換モジュール 11を図解的に示す 正面図である。
[図 3]図 3は、実験例において作製された試料 2および 3についての無次元性能指数 (ZT)の温度特性を示す図である。
符号の説明
[0018] 1, 12, 17 熱電半導体
2, 16, 20 熱電変換素子
3, 13 伝熱方向
4, 5, 14, 15, 18, 19 電極
6 主層
7 副層
11 熱電変換モジュール 21, 22 絶縁板
23 熱電変換素子対
24 pn間接続導体
25 直列配線導体
26, 27 端子導体
発明を実施するための最良の形態
[0019] 図 1は、この発明の一実施形態による熱電半導体 1を備える熱電変換素子 2を図解 的に示す断面図である。
[0020] 熱電変換素子 2は、熱電半導体 1と、この熱電半導体 1の、伝熱方向 3での両端部 上にそれぞれ形成される電極 4および 5とを備えている。電極 4および 5の導電成分と しては、たとえば Ptが用いられる。
[0021] 熱電半導体 1は、伝熱方向 3に積層された積層構造を有している。積層構造は、熱 伝導率が比較的高い第 1の材料からなる主層 6と、熱伝導率が第 1の材料より低い第 2の材料力もなる副層 7とをもって構成されている。なお、熱電半導体 1において、単 に 1組の主層 6と副層 7とが積層されて 、るだけの積層構造を有して 、てもよ 、が、図 1に示したように、主層 6と副層 7とが複数組積層された積層構造を有して 、ることが 好ましい。
[0022] 主層 6および副層 7の各々の厚みは、無次元性能指数 (ZT)が向上する体積比で あれば、任意に選ぶことができる。この場合、 1つの熱電半導体 1の中で、複数の主 層 6が互いに同じ厚みでなくても、複数の副層 7が互いに同じ厚みでなくてもよぐま た、主層 6と副層 7とが交互に積層されなくてもよい。
[0023] 熱電半導体 1が n型である場合、主層 6を構成する第 1の材料は、(Zn A1 ) 0で 表わされる組成を有し、副層 7を構成する第 2の材料は、(Zn A1 M ) 0 (Mは、
1— — z y z ァクセプタにならない 2価以上の元素)で表わされる組成を有するものであることが好 ましい。
[0024] 上述した第 1の材料の組成である(Ζη Α1χ) 0における A1の含有量 Xは、 0< x≤ 0. 04となるように選ばれることが好ましい。 Xが 0. 04を超える場合には、異相が生成 されやすぐそのため、抵抗率が高くなり、無次元性能指数が低下するためである。 [0025] 他方、第 2の材料の組成である(Zn Al M ) 0における A1の含有量 yについて
1— — z y z
も、 0<y≤0. 04となるように選ばれることが好ましい。上述した Xの場合と同様、 yが 0. 04を超える場合には、異相が生成されやすぐそのため、抵抗率が高くなり、無次 元性能指数が低下するためである。
[0026] 第 2の材料の組成である(Zn Al M ) Oにお!/、て、 Mは、前述したようにァクセ
1— — z y z
プタにならない 2価以上の元素であるが、特に、遷移金属元素または希土類元素で あることが好ましい。遷移金属元素の例としては、 Co、 Ni、 Mn、 Ti、 Feなどが挙げら れる。希土類元素の例としては、 Y、 Ce、 Gdなどが挙げられる。
[0027] この Mの含有量 zについては、 Mが遷移金属元素のうちの Tiおよび Feである各場 合には、 0< z≤0. 005となるように選ばれること力好ましい。 z力^). 005を超えると、 異相が生成されやすいためである。
[0028] また、 Mが遷移金属元素のうちの Co、 Mnおよび Niである各場合には、 zが 0. 005 を超えてもよぐ 0< z≤0. 04となるように選ばれることが好ましい。ただし、 y+z≤0. 04、かつ z<yであることが条件とされる。 y+zが 0. 04を超えると、異相が生成され やすい。また、 z≥yであると、 A1の供給量が不足し、十分に抵抗率が低下しないこと がある。
[0029] Mが希土類元素のうちの Y、 Ceおよび Gdである各場合には、 Mの含有量 zは、 0< z≤0. 005となるように選ばれることが好ましい。 zが 0. 005を越えると、異相が生成 されやすいからである。
[0030] 上述した好ま ヽ実施形態のように、主層 6が (Zn Al ) Oで表わされる組成を有 する第 1の材料力もなり、副層 7が (Zn Al M ) Oで表わされる組成を有する第 2
1— — z y z
の材料からなる場合、熱電半導体 1は、たとえば、次のように製造される。
[0031] まず、出発原料として、 ZnO粉末、 Al O粉末および Mの酸ィ匕物粉末が用意される
2 3
。なお、これら出発原料は、酸化物に限らず、後で実施される焼成によって金属酸化 物を形成し得るものであれば、どのような化合物であってもよぐその他、水酸化物、 炭酸塩、アルコキシドなどを用いることもできる。また、出発原料となる粉末の粒径に 関して、特に、平均粒径 200nm以下の超微粒子を用いると、焼結体の熱伝導率が 低下するため、好ましい。 [0032] 次に、上述した出発原料は、主層 6のための組成 (Zn A1 ) 0および副層 7のた めの組成 (Zn Al M ) Oがそれぞれ得られるように秤量され、次 、で、それぞれ
1— — z y z
について、粉砕混合処理される。この粉砕混合処理には、たとえば、分散媒を水とし た湿式ボールミルが用いられ、その処理時間については、均一混合状態が達成され るまで実施される。また、混合粉砕処理は、ノインダを添加した状態で実施される。
[0033] 次に、上述の混合粉砕処理によって得られたスラリー力 たとえばドクターブレード 法を適用することによって、シート状に成形される。ここで、主層 6となるべきシートに ついては、たとえば、より厚く成形されたり、複数枚を積層したりして、副層 7となるベ きシートより厚くされることが好ましい。
[0034] 次に、主層 6となるべきシートと副層 7となるべきシートとが複数組積層され、得られ た積層体が、プレスされた後、脱脂され、その後、焼成される。この焼成工程では、た とえば 1200〜1500°Cの温度が適用される力 特に、得られた焼結体の相対密度が 90%以上となり得る温度で焼成されることが好ましい。
[0035] このようにして、熱電半導体 1が得られる。この熱電半導体 1の両端部に、たとえば P tを含む導電性ペーストを付与し、焼き付けることにより、電極 4および 5が形成され、 それによつて、熱電変換素子 2が得られる。なお、電極 4および 5を形成する導電性 ペーストに含まれる導電性金属としては、上述した Ptの他、 Ag、 Cuなどが用いられ てもよい。
[0036] 図 2は、この発明の一実施形態による熱電変換モジュール 11を図解的に示す正面 図である。
[0037] 熱電変換モジュール 11は、 p型熱電半導体 12と、 p型熱電半導体 12の、伝熱方向 13での両端部上にそれぞれ形成される電極 14および 15とを備える、 p型熱電変換 素子 16を備えるとともに、 n型熱電半導体 17と、 n型熱電半導体 17の、伝熱方向 13 での両端部上にそれぞれ形成される電極 18および 19とを備える、 n型熱電変換素 子 20を備えている。
[0038] p型熱電変換素子 16と n型熱電変換素子とは交互に配置されながら、 1対の絶縁 板 21および 22の間に挟まれた状態とされる。絶縁板 21および 22は、電気絶縁性お よび比較的良好な熱伝導性を有するもので、たとえばアルミナのようなセラミックから 構成される。
[0039] 上述したように交互に配置される p型熱電変換素子 16および n型熱電変換素子 20 のうち、隣り合う 1対の P型熱電変換素子 16および n型熱電変換素子 20によって熱電 変換素子対 23が構成される。熱電変換素子対 23を構成するため、対をなす p型熱 電変換素子 16の一方の電極 14と n型熱電変換素子 20の一方の電極 18とは、 pn間 接続導体 24によって互いに電気的に接続される。 pn間接続導体 24は、たとえば、 絶縁板 21上に形成される。
[0040] また、複数の熱電変換素子対 23は、この実施形態では直列に接続される。そのた め、隣り合う熱電変換素子対 23—方側にある p型熱電変換素子 16の他方の電極 15 と他方側にある n型熱電変換素子 20の他方の電極 19とが、直列配線導体 25によつ て電気的に接続される。直列配線導体 25は、たとえば、絶縁板 22上に形成される。
[0041] 上述のように直列接続された複数の熱電変換素子対 23の端部に位置するものに 備える P型熱電変換素子 16の電極 15および n型熱電変換素子 20の電極 19には、 それぞれ、端子導体 26および 27が電気的に接続される。端子導体 26および 27は、 たとえば絶縁板 22上に形成される。熱電変換モジュール 11が発電装置として用いら れる場合には、端子導体 26および 27から出力としての起電力が取り出され、他方、 冷却装置として用いられる場合には、端子導体 26および 27に入力としての直流電 流が与えられる。
[0042] このような熱電変換モジュール 11において、図 2には特に図示されないが、 p型熱 電半導体 12および n型熱電半導体 17の少なくとも一方が、図 1に示す熱電半導体 1 のような主層 6および副層 7とが積層された積層構造を有している。なお、言うまでも ないが、図 1を参照して好ましい実施形態として説明した、主層 6を構成する第 1の材 料が(Zn Al ) Oで表わされる組成を有し、副層 7を構成する第 2の材料が (Zn Al M ) 0で表わされる組成を有する場合のように、 n型の熱電半導体である場合に z y z
は、図 2に示した熱電変換モジュール 11における n型熱電半導体 17に対して、上述 したような組成が適用される。
[0043] 図 2に示した熱電変換モジュール 11は、複数の熱電変換素子対 23が直列に接続 されたが、必要に応じて、複数の熱電変換素子対 23の少なくとも一部が並列に接続 されてちょい。
[0044] 次に、この発明による効果を確認するために実施した実験例について説明する。
[0045] 出発原料として、平均粒径 280nmの ZnO粉末と微粒の γ— Al Ο粉末と CoO粉
2 3
末と NiO粉末とを用意し、これら粉末を、以下の表 1に示すような組成 A〜Cがそれぞ れ得られるように秤量した。
[0046] [表 1]
Figure imgf000010_0001
[0047] 次に、上述のように秤量された出発原料粉末にバインダを添加し、純水を分散媒と して、 16時間ボールミルにて粉砕混合した。次に、このようにして得られた組成 A〜C の各々に係るスラリーにドクターブレード法を適用して、厚み 40 mとなるよう〖こシ一 ト状に成形した。
[0048] 以下の表 2には、この実験例において作製された試料 1〜5の各々について用いた シートの糸且成が示されて 、る。
[0049] [表 2]
Figure imgf000010_0002
[0050] 表 2に示すように、試料 1では、主層を形成するため、組成 Aに係るシートを用い、 副層を形成するため、組成 Bに係るシートを用いた。試料 2では、主層を形成するた め、組成 Aに係るシートを用い、副層を形成するため、組成 Cに係るシートを用いた。 試料 3、 4および 5では、それぞれ、組成 A、 Bおよび Cに係るシートのみを用いた。
[0051] そして、試料 1および 2では、主層となる厚み 40 μ mのシートを 10枚積層して厚み 4 00 μ mとしたものと副層となる厚み 40 μ mの 1枚のシートとを 1組として、 15組積層し た後、等方静水圧プレスを実施し、プレス後の積層体の厚みが約 7mmとなるようにし た。
[0052] 他方、試料 3 5については、厚み 40 mのシートを複数枚積層した後、等方静水 圧プレスを実施し、プレス後の積層体の厚みが約 7mmとなるようにした。
[0053] 次に、試料 1 5の各々に係る積層体を、 410°Cの温度で脱脂処理し、その後、大 気中にお 、て 1400°Cの温度で焼成した。
[0054] このようにして得られた試料 1 5の各々に係る焼結体としての熱電半導体に対して 、測定項目に応じた加工を施し、表 3に示すように、抵抗率、ゼーベック係数および 熱伝導率を評価した。抵抗率は、直流 4端子法によって 890°Cにて測定した。ゼ一べ ック係数は、試料としての熱電半導体の積層方向での両端部に温度差を与え、この 温度差の両端に生じる起電力を測定し、これら温度差および測定された起電力から 算出した。熱伝導率は、 100 890°Cの温度範囲にて、レーザフラッシュ法により求 めた。
[0055] また、表 3に示した出力因子 (P)については、上述のようにして求められた抵抗率(
P )とゼーベック係数 (S)とから、 P = S2/ の式より算出した。また、無次元性能指 数 ZTにつ 、ては、上述のようにして求められた出力因子 (T)と熱伝導率( κ )および 測定温度 T (絶対温度)とから、 ΖΤ= (ΡΖ κ ) ·Τの式より算出した。
[0056] [表 3]
Figure imgf000011_0001
[0057] ZnOに A1および Coまたは Niを添カ卩した組成 Bまたは Cのシートのみで作製された 試料 4および 5によれば、試料 3に比べて、熱伝導率が低下している。
[0058] また、試料 1および 2では、糸且成 Bまたは Cの副層を導入することによって、熱伝導 率を低下させることができる。すなわち、この発明の範囲内にある試料 1および 2によ れば、熱伝導率を低下させることができる。その結果、 890°Cにおける無次元性能指 数を 0. 245以上に向上させることができる。
図 3には、試料 2および 3のそれぞれにつ 、ての無次元性能指数 (ZT)の温度特性 が示されている。図 3からわ力るように、この発明の範囲内にある試料 2によれば、測 定された温度範囲のすべてにおいて、試料 3に比べて、より大きい無次元性能指数( ZT)を得ることができる。

Claims

請求の範囲
[1] 第 1の材料力 なる主層と、前記第 1の材料力 なる主層よりも熱伝導率が低い第 2 の材料からなる副層とが積層された積層構造を有することを特徴とする、熱電半導体
[2] 前記主層と前記副層とが複数組積層された積層構造を有する、請求項 1に記載の 熱電半導体。
[3] 無次元性能指数 (ZT)が 0. 245以上である、請求項 1に記載の熱電半導体。
[4] 当該熱電半導体は n型であり、前記第 1の材料は (Zn A1 ) 0で表される組成を 有し、前記第 2の材料は(Zn Al M ) 0 (Mは、ァクセプタにならない 2価以上の
1— — z y z
元素)で表される組成を有する、請求項 1に記載の熱電半導体。
[5] 前記 Mは、遷移金属元素または希土類元素である、請求項 4に記載の熱電半導体
[6] 請求項 1な!、し 5の 、ずれかに記載の熱電半導体と、
前記熱電半導体の、伝熱方向での両端部上にそれぞれ形成される電極と を備え、
前記熱電半導体が有する前記積層構造の積層方向は、伝熱方向に向くようにされ る、
熱電変換素子。
[7] p型熱電半導体と、前記 p型熱電半導体の、伝熱方向での両端部上にそれぞれ形 成される電極とを備える、少なくとも 1つの p型熱電変換素子、ならびに
n型熱電半導体と、前記 n型熱電半導体の、伝熱方向での両端部上にそれぞれ形 成される電極とを備える、少なくとも 1つの n型熱電変換素子
を備え、
熱電変換素子対を構成するように、対をなす前記 p型熱電変換素子の一方の前記 電極と前記 n型熱電変換素子の一方の前記電極とが互いに電気的に接続されてい て、
前記 P型熱電半導体および前記 n型熱電半導体の少なくとも一方は、請求項 1ない し 3の 、ずれかに記載の熱電半導体である、 熱電変換モジュール。
P型熱電半導体と、前記 P型熱電半導体の、伝熱方向での両端部上にそれぞれ形 成される電極とを備える、少なくとも 1つの p型熱電変換素子、ならびに
n型熱電半導体と、前記 n型熱電半導体の、伝熱方向での両端部上にそれぞれ形 成される電極とを備える、少なくとも 1つの n型熱電変換素子
を備え、
熱電変換素子対を構成するように、対をなす前記 p型熱電変換素子の一方の前記 電極と前記 n型熱電変換素子の一方の前記電極とが互いに電気的に接続されてい て、
前記 n型熱電半導体は、請求項 4または 5に記載の熱電半導体である、 熱電変換モジュール。
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