WO2007102201A1

WO2007102201A1 - クロマトグラフ質量分析装置

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Publication number: WO2007102201A1
Application number: PCT/JP2006/304371
Authority: WO
Inventors: Takashi Sumiyoshi
Original assignee: Shimadzu Corporation
Priority date: 2006-03-07
Filing date: 2006-03-07
Publication date: 2007-09-13
Also published as: CN101400995B; CN101400995A; US8168942B2; JPWO2007102201A1; EP1995593A1; EP1995593B1; JP4697302B2; US20090008542A1; EP1995593A4

Abstract

　測定時間範囲を適宜に設定して、スキャン測定、選択イオンモニタリング（ＳＩＭ）測定、又はスキャン／ＳＩＭ同時測定のいずれを選択できるようにしたクロマトグラフ質量分析装置において、測定条件テーブルの入力設定を行う際に、標準試料をスキャン測定することで取得されたトータルイオンクロマトグラム５１と、予め作成された化合物テーブル５２とを表示部の画面に表示する。オペレータはスキャン／ＳＩＭ測定の対象とする化合物を選定し化合物テーブル５２中のチェックボックスにマークを入れて「自動作成」ボタン５４をクリック操作する。すると、選択された化合物の保持時間の前後に所定の時間幅を持たせた測定時間範囲を決め、その範囲内で化合物を特徴付ける質量数を測定質量数としたスキャン／ＳＩＭ同時測定を実行する測定条件テーブル５３を自動的に作成して表示する。

Description

明細書

クロマトグラフ質量分析装置

技術分野

[0001] 本発明は、ガスクロマトグラフ質量分析装置 (GCZMS)や液体クロマトグラフ質量分析装置 (LCZMS)等、クロマトグラフと質量分析計とを組み合わせたクロマトダラフ質量分析装置に関し、さらに詳しくは、スキャン測定と選択イオンモニタリング測定とによる同時データ収集を行うクロマトグラフ質量分析装置に関する。

背景技術

[0002] GCZMSや LCZMS等のクロマトグラフ質量分析装置を用いた測定方法としては、スキャン測定法と選択イオンモニタリング (以下 SIMと略す)測定法とが知られて!/、る。スキャン測定法では、質量分析装置において分析対象のイオンの質量数 (mZz )を所定の質量数範囲内で走査し、その質量数範囲に含まれる全てのイオンを検出する。したがって、未知試料の定性分析等、分析対象成分の質量数が不明である場合に特に有用である力あまり SZN比の良好なクロマトグラムが得られないため定量目的に使用するには不向きである。一方、 SIM測定法では、予め指定された 1乃至複数の特定の質量数を有するイオンのみを選択的に時分割で検出する。したがって、分析対象の物質が既知でその物質の定量分析を高感度で以て行う場合に有用であるが、特定の質量数を持つイオンし力検出していないために、定性目的に使用するのは不向きである。

[0003] 上述のようにスキャン測定法と SIM測定法とはちょうど補完的な関係にあり、両者の特徴を活かすために、任意の時間範囲についてスキャン測定法と SIM測定法とを同時に実行するスキャン ZSIM同時測定法も従来知られてヽる（特許文献 1など参照）。この測定法によれば、定性分析のためのマススペクトルと、定量分析のためのターゲットイオンについての S/N比の良好なクロマトグラムとを 1回の分析で取得することができる。

[0004] このようにスキャン ZSIM同時測定法は有益な測定法ではあるものの、スキャン ZS IM同時測定の必要のない化合物を含めて多数の化合物のスキャン ZSIM同時測定を行おうとすると、単位時間当たりに検出器に導入されるイオン量が多くなりすぎて検出感度が低下するという問題が起こる。そこで、一般的には、スキャン測定によっては十分な SZN比を有するマススペクトルを得られない化合物のみに限定してスキヤン ZSIM同時測定を実行し、それ以外の化合物はスキャン測定のみを実行することが多い。そのため、測定の開始に先立って、スキャン ZSIM同時測定する対象化合物とその測定質量数とを決定しておく必要がある。

[0005] 従来のクロマトグラフ質量分析装置を用いた上記測定の標準的な手順は次の通りである。即ち、まずオペレータはスキャン測定法により、含有成分が既知である標準試料の予備測定を行い、クロマトグラム（トータルイオンクロマトグラム）を取得する。そしてそのクロマトグラムにより、定量したい化合物（ターゲットィ匕合物）の SZN比が十分であるかどうかを確認していき、その結果に基づいてスキャン ZSIM同時測定する対象化合物を選定する。そして、その対象化合物のピークが含まれるように、スキャン ZSIM同時測定を行う時間範囲と、さらにその範囲における SIM測定の対象とする質量数とを決定する。

[0006] その後、オペレータは装置の操作部において所定の操作を行い、表示部の画面上に図 7に示すような測定条件テーブルを表示させる。そして、測定時間範囲毎に、その開始時間と終了時間、測定方法 (スキャン又は SIM)、スキャン測定する質量数範囲（開始質量数と終了質量数)又は SIM測定する質量数、等の数値をテーブルの各欄に入力してゆく。そして、必要な項目について全ての入力が終了したならば、入力設定を確定させ、この測定条件に従って検量線作成用の標準試料の測定を行い、さらに未知試料の測定を実行する。

[0007] 図 7 (a)の例では、測定開始時点を起点（0分）として経過時間が 6分から 20分までの間で、スキャン測定により質量数 100から 400までの範囲で測定が行われる。他方、図 7 (b)の例では、測定開始時点力経過時間が 6分から 11分までの間では、スキヤン測定により質量数 100から 400までの範囲で測定が行われる（テーブルの第 1行目）。次の 11分から 13分までの間ではスキャン測定により質量数 100から 400までの範囲で測定が行われ (テーブルの第 2行目）、且つ同時に SIM測定により質量数 10 0、 200、 300、 400の 4つの質量数についての測定が行われる（テーブルの第 3行目）。さらに次の 13分から 20分までの間では、スキャン測定法により質量数 100から 400までの範囲で測定が行われる（テーブルの第 4行目）。

[0008] 図 7 (b)の例はスキャン ZSIM同時測定を行おうとする化合物が 1つである場合であるが、実際は約 100成分以上の試料の分析も行われており、それに伴いスキャン ZSIM同時測定の対象とする化合物数も多くなる。図 7 (a)に示すように所定の測定時間範囲（この例では 6〜20分)でスキャン測定が設定されている状態から、図 7 (b) に示す如くスキャン ZSIM同時測定を行う条件を追加するためには、化合物 1つにつき、測定条件テーブルに 3行の追加とその 3行の各欄についてのパラメータのキー入力が必要となる。したがって、複数、例えば 10成分の化合物をスキャン ZSIM同時測定する場合には、測定条件テーブルには最大で 30行分の追加入力が必要となり、オペレータにとっては非常に手間が掛カる作業であり入力ミスも起こり易い。

[0009] またオペレータは上記のような測定条件テーブルに数値を入力する際に、スキャン ZSIM同時測定の時間範囲を適切に設定する必要がある。例えば 2つの成分のクロマトグラムのピークの保持時間が近接している場合、これら 2つのピークの間にスキヤン ZSIM同時測定を行う時間範囲の境界を設けると、クロマトグラムのピークが時間範囲の境界のごく近くに存在することになる。この場合、未知試料の測定時に保持時間が僅かにずれただけでもクロマトグラムのピークが所定の時間範囲の境界と重なつてしまい、ピークの検出及びピーク面積の計算が正しく行われず、正しい定量ができなくなってしまう。こうした不具合を避けるために、スキャン ZSIM同時測定の測定時間範囲の設定は、標準試料の予備測定で得られたクロマトグラムを参照しながら慎重に行う必要がある。し力しながら、従来、上述のようにスキャン ZSIM同時測定の時間範囲を設定する際に、予備測定によるクロマトグラムを同一画面上で参照する手段がなぐ精密な設定が難しいという問題もあった。

[0010] 特許文献 1 :特開平 08— 102282号公報

発明の開示

発明が解決しょうとする課題

[0011] 本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、スキャン ZSIM同時測定を行うための測定条件を、簡便に、効率良ぐしかも正確に設定することができるクロマトグラフ質量分析装置を提供することにある。課題を解決するための手段

[0012] 上記課題を解決するために成された本発明は、クロマトグラフにより時間方向に分離した試料成分を順次質量分析部に導入して質量分析を実行するクロマトグラフ質量分析装置であって、前記質量分析部において所定の質量数範囲に亘る連続的な質量走査を繰り返し行うスキャン測定と、特定の質量数にっ、て 1つの質量数を一定時間維持しつつ段階的に質量数を切り替える SIM測定と、スキャン測定による質量走査の途中で SIM測定を実行するスキャン ZSIM同時測定と、を選択的に実行可能なクロマトグラフ質量分析装置において、

a)予め作成された、化合物の種類、該化合物の標準的な保持時間、及び該化合物を特徴付ける質量数を一覧表とする化合物テーブルを、表示部の画面上に表示する表示制御手段と、

b)表示された前記化合物テーブルの中でスキャン ZSIM同時測定を実行した、ィ匕合物をオペレータが選択するための選択手段と、

c)前記選択手段により選択された 1乃至複数の化合物の保持時間に対しその前後にそれぞれ規定の時間幅を設定してその時間範囲でスキャン ZSIM同時測定を行 V、、その以外の時間範囲ではスキャン測定又は SIM測定を実行するように測定条件テーブルを作成する測定条件テーブル作成手段と、

を備えることを特徴として、る。

[0013] 一般にスキャン ZSIM同時測定を行いたい時間範囲は、トータルイオンクロマトダラム上で、定量を行いたい既知の化合物のピークが出現する範囲である。そこで、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において、表示制御手段は、予め作成された化合物テーブルを表示部の画面上に表示し、オペレータはその中からスキャン ZSI M同時測定で測定したい化合物を選択手段により選択する。すると、測定条件テーブル作成手段は、選択された化合物の保持時間の前と後にそれぞれ規定の時間幅を設定し、それによりその化合物のピークを含むスキャン ZSIM同時測定の時間範囲を決める。複数の化合物が選択された場合には、各化合物について同様の処理を行い、その結果、複数の時間範囲がオーバーラップする場合には、その部分を連続させて時間範囲を拡大すればよ!、。

[0014] 測定条件テーブル作成手段は、このようにして自動的にスキャン ZSIM同時測定対象の時間範囲を決め、それ以外の時間範囲は例えば所定質量数範囲に亘るスキヤン測定を行うものとして測定条件テーブルを作成し、例えば表示部の画面上に表示する。但し、このようにして自動的に作成された測定条件テーブルは必ずしもオペレータの意図通りであるとは限らないし、特に複数の化合物の保持時間が時間的に近接している場合には、スキャン ZSIM同時測定の時間範囲の境界が適切でない位置に設定されてしまうことも起こり得る。そこで、上述のように作成された測定条件テーブルは、後でオペレータが適宜に修正できるようにしておくとよい。

[0015] また、 SIMZスキャン同時測定を行う化合物を選択したり上述したように測定条件テーブルを修正したりする際に、同一画面内にクロマトグラム（トータルイオンクロマトグラム）が描出されていると、これを参照して作業が行い易い。そこで、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において、前記表示制御手段は、前記化合物テーブル及び前記測定条件テーブルが表示されている同一画面内に、標準試料又はこれに準じる既知試料に対してスキャン測定法、 SIM測定、又はスキャン ZSIM同時測定法のいずれかにより得られたトータルイオンクロマトグラムを表示する構成とするとよい

[0016] また、前記表示制御手段は、描出されている前記トータルイオンクロマトグラムに現れて、る 1乃至複数のピークにっ、て、前記化合物テーブル中に列記されて!、る化合物と対応付けた表示を行う構成とするとよヽ。

[0017] この構成によれば、化合物テーブル中の各化合物とトータルイオンクロマトグラム上の各ピークとの対応関係が視覚的に理解し易ぐまた選択しょうとする化合物由来のピークに近接したピークが存在する力否力も容易に確認できる。これにより、化合物の選択作業が容易になりミスも軽減できる。

[0018] さらにまた、前記測定条件テーブルが作成されたときに前記トータルイオンクロマトグラム上にスキャン測定、 SIM測定、及びスキャン ZSIM同時測定の時間範囲を識別できるような表示を重畳して行う構成とするとよい。この構成によれば、オペレータは測定条件テーブルに設定されている各測定の時間範囲を視覚的及び直感的に把握することができ、作業効率が改善されるとともに作業ミスも軽減できる。

[0019] さらにまた、上述したように測定条件テーブルを修正する際に、テーブル中の数値をキー入力によって消去 ·書き換えるよりも描出されて、るトータルイオンクロマトダラム上でグラフィカルに修正できるほうが作業効率がよくミスも少ない。そこで、前記トータルイオンクロマトグラム上に重畳して表示された、スキャン測定、 SIM測定、及びスキャン ZSIM同時測定の時間範囲は、ポインティングデバイスの指示によりグラフィカルに修正可能とした構成とするとよい。

[0020] なお、前記選択手段としては様々な選択方法が考えられるが、一態様として、前記化合物テーブル中の各化合物毎に設けられたチェックボックスにチェックマークを入力することによりィ匕合物を選択するものとすることができる。これによれば、選択が容易であるとともに、選択結果も視覚的にわかり易い。

発明の効果

[0021] 本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置によれば、スキャン ZSIM同時測定を行う測定条件を設定する際に必要な入力操作の手間を大幅に少なくすることでォペレータの負荷を軽減し、入力ミスの発生も防止することができる。また、測定時間範囲の設定や修正に必要となる情報がグラフィカルに表示されるため、オペレータがそれを直感的に認識して簡単且つ正確に測定時間範囲の設定を行うことができる。それによって、例えばクロマトグラム上で 2つのピークがかなり近接している場合にその両者の間に測定時間範囲の境界がくることを回避する等、より精度の高いスキャン ZSIM 同時測定が可能となる。

図面の簡単な説明

[0022] [図 1]本発明の一実施例による GCZMSの全体構成図。

[図 2]本実施例による GCZMSにおいてスキャン ZSIM同時測定時間設定時に使用する測定条件設定用画面の一例を示す図。

[図 3]図 2において測定条件テーブルの自動作成実行後に表示される測定条件設定用画面の一例を示す図。

[図 4]予め設定されている化合物テーブルの一例を示す図。

[図 5]測定時間範囲の境界を修正する際の手順を説明するための図。 [図 6]測定時間範囲の境界を修正する際の手順を説明するための図。

[図 7]従来の GCZMSにおいて測定条件テーブルを入力設定する手順を示す図。発明を実施するための最良の形態

[0023] 以下、本発明の一実施例であるガスクロマトグラフ質量分析装置 (GCZMS)について説明する。

[0024] 図 1は本実施例による GCZMSの全体構成図である。ガスクロマトグラフ（GC)部 1 0では、カラムオーブン 14により適度の温度に加熱されるカラム 15の入口に試料気化室 11が設けられ、その試料気化室 11にはキャリアガス流路 13を通して所定流量でキャリアガスが供給されカラム 15へと流れ込む。その状態でマイクロシリンジ 12により試料気化室 11内に少量の液体試料が注入されると、液体試料は即座に気化しキャリアガス流に乗ってカラム 15内に送られる。カラム 15を通過する間に試料ガス中の各成分は時間的に分離されてその出口に到達し、インターフェイス部 20においてヒータ 22により加熱される試料導入管 21を通って質量分析 (MS)部 30のイオンィ匕室 3 1に導入される。

[0025] MS部 30において、イオン化室 31に導入された試料分子は例えば熱電子との接触によってイオンィ匕される。発生したイオンはイオンィ匕室 31の外側に引き出され、ィオンレンズ 32により収束されて 4本のロッド電極から構成される四重極質量フィルタ 3 3の長軸方向の空間に導入される。四重極質量フィルタ 33には電源部 36から直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧が印加され、その印加電圧に応じた質量数を有するイオンのみがその長軸方向の空間を通過し、イオン検出器 34に到達して検出される。イオン化室 31、イオンレンズ 32、四重極質量フィルタ 33、及びイオン検出器 3 4は、図示しない真空ポンプにより真空吸引される真空容器 35内に配設されている。

[0026] イオン検出器 34による検出信号は AZD変によりデジタルデータに変換されてデータ処理部 44に送られる。データ処理部 44は所定の演算処理を行うことによりマススペクトル、マスク口マトグラム、或いはトータルイオンクロマトグラムを作成し、さらに定量分析や定性分析などを実行する。 GC部 10、インターフェイス部 20及び MS 部 30を構成する各ブロックの動作は、分析制御部 43により統括的に制御される。データ処理部 44や分析制御部 43の機能はパーソナルコンピュータ 41に搭載された専用の制御 z処理ソフトウェアを実行することにより具現ィ匕され、パーソナルコンビユータ 41に含まれる中央制御部 42はキーボードやマウス等のポインティングデバイスを含む操作部 45や表示部 46などの入出力制御など、基本的な制御を実行するものである。本発明における表示制御手段、及び測定条件テーブル作成手段はこのパーソナルコンピュータ 41に搭載されている制御/処理ソフトウェアの実行により具現ィ匕される機能であり、選択手段はそのソフトウェアの実行と操作部 45とにより達成される機能である。

[0027] 次に、この GCZMSにおいて、未知試料の測定を実行する場合の特徴的な動作について説明する。

まず、 GC部 10のカラム 15から溶出する試料ガスの代わりに、図示しない標準ガス供給部から予め用意された標準試料ガスを MS部 30のイオンィ匕室 31に導入し、この標準試料に対しスキャン測定法による質量分析を実行する。標準試料は複数の既知成分を既知量で含むものである。この質量分析により、データ処理部 44では、既知成分に対応するピークが出現したトータルイオンクロマトグラムが作成され、そのデータは図示しない記憶部に保持される。なお、標準試料の測定は未知試料の測定の度毎に行う必要はなぐ未知試料に含まれる定量対象の成分を含むような標準試料が過去に測定されている場合には、標準試料の測定は省略できる。

[0028] また、図 4に示すような化合物テーブルは予め設定されているものとする。化合物テ一ブルは複数の化合物につ、てその名称 (化合物名）と所定の GC分析条件 (例えば GC部 10でのキャリアガス流量、温度プロファイルなど）の下での保持時間、その化合物を特徴付ける質量数などの情報が一覧表形式で列記されたものである。この化合物テーブルは例えば手動で入力される場合もあるし、上述したような標準試料の測定結果に基づ、て自動的に作成することもできる。こうしたィ匕合物テーブルも未知試料の測定の度毎に作成する必要はなぐ GC分析条件が同一であれば過去に作成されたものを利用することができる。

[0029] 未知試料の測定に先立って、オペレータが操作部 45において所定の操作を行うと、この操作を受けた分析制御部 43ではウイザードを起動し、表示部 46の画面上に図 2に示すような測定条件設定用画面 50を表示させる。即ち、この測定条件設定用画面 50には、標準試料の予備的測定により取得されたトータルイオンクロマトグラム 51 と、上述したィ匕合物テーブル 52と、測定条件テーブル 53とが含まれる。このとき、トータルイオンクロマトグラム 51には、化合物テーブル 52に列記されている各化合物とピークとの対応関係が明確になるように、化合物テーブル 52に列記されている化合物の化合物名のみを対応するピークの近傍に表示し、テーブル 52に記載のな、ィ匕合物名は表示しないようにしている。或いは、化合物テーブル 52に記載されているィ匕合物の化合物名は矩形状の枠で囲う等、表示がなされ、化合物テーブル 52に記載されていない化合物は矩形状の枠がない表示がなされるようにしてもよい。また、ここでは初期的な測定条件テーブル 53として終了時間のみが記載されたテーブルが表示されているが、これはこの終了時間まで所定の質量数範囲に亘るスキャン測定を実行することを意味している。但し、この初期状態の測定条件テーブル 53は所定の質量数で以て SIM測定を行うものであってもよ、。

[0030] オペレータがトータルイオンクロマトグラム 51によりピークの位置を確認しながら、スキャン ZSIM同時測定を行いたい化合物を選定し、化合物テーブル 52の最右欄のチェックボックス 521にチェックマークを入れる。ここでは、成分 B及び成分 Cの 2つの化合物についてスキャン ZSIM同時測定を行いたいものとする。そして、チェックマークを入れた後に「自動作成」ボタン 54をマウス等のポインティングデバイスでクリック操作する。すると、中央制御部 42を介してこの操作を受けた分析制御部 43は、選択された成分の保持時間を抽出し、その保持時間に対し前後に所定の時間幅を確保した測定時間範囲をスキャン ZSIM同時測定の時間範囲と決める。上記時間幅は予めオペレータが決めておくことができ、例えば ±0. 5分、 ± 1分とすればよぐ前方の時間幅と後方の時間幅とを別の値に設定できるようにしてもよい。

[0031] 例えばいま時間幅が ±0. 5分である場合、成分 Bは保持時間が 12分であるから、その前後に 0. 5分ずつの時間幅を設定して 12. 5分〜 13. 5分がスキャン ZSIM同時測定の時間範囲となる。また成分 Cについても同様に保持時間 18分に対し、 17. 5分〜 18. 5分がスキャン ZSIM同時測定の時間範囲となる。また、各スキャン ZSI M同時測定の時間範囲における測定質量数は化合物テーブルに記載されている質量数とする。したがって、成分 Bについて測定質量数は 100、 200、 300、 400、成分 Cについて測定質量数は 150、 160となる。これに基づいて自動的に測定条件テーブルが作成される。そして、図 3に示すように測定条件設定画面 50が更新される。即ち、スキャン ZSIM同時測定が考慮された測定条件テーブル 53が表示されるとともに、トータルイオンクロマトグラム 51上には測定条件テーブル 53の各行に対応する時間範囲の表示が重畳される。図 3中の測定条件テーブル 53において、質量数が設定されている行については、その前の行の終了時間を開始時間として、記載されている質量数についての SIM測定をスキャン測定と同時に実行するものとする。

[0032] したがって、図 3に示した測定条件テーブル 53によれば、標準試料の予備測定データの測定開始時点を起点として経過時間が 11. 5分までの間では、スキャン測定により所定質量数範囲に亘る測定が行われ (測定条件テーブル 53の第 1行目）、次の 11. 5分から 12. 5分までの間ではスキャン測定により所定質量数範囲に亘る測定力 S行われると同時に SIMSIJ定により質量数 100、 200、 300、 300、 400の 4つの質量数についての測定が行われ (測定条件テーブル 53の第 2行目）、次の 12. 5分から 17. 5分までの間では、スキャン測定により所定質量数範囲に亘る測定が行われ（測定条件テーブル 53の第 3行目）、次の 17. 5分から 18. 5分までの間ではスキャン測定により所定質量数範囲に亘る測定が行われると同時に SIM測定により質量数 1 50、 160の 2つの質量数についての測定が行われ（測定条件テーブル 53の第 4行目）、さらに 18. 5分から 22分までの間では、スキャン測定により所定質量数範囲に亘る測定が行われる（測定条件テーブル 53の第 5行目）。

[0033] 以上のようにして、面倒な入力操作を行うことなく測定条件テーブルを作成することができる。但し、前述のように自動作成された測定条件テーブルは必ずしもそのまま利用できるとは限らない。例えば、図 3の例では、トータルイオンクロマトグラム上で非常に近接して、る成分 B由来のピークとその直後の成分 E (図 3中には化合物名記載無し）由来のピークとの間に測定時間範囲の境界が設定されており、成分 Bを含む未知試料を測定する際に成分 Bの保持時間がずれた場合、成分 Bのピークが測定時間範囲の境界と重なって溶出してしまうおそれがある。その場合、成分 Bのピーク検出及びピーク面積の算出を正しく行えず、定量解析に支障をきたすおそれがある。そこで、上記のように自動作成された測定条件テーブルを修正 ·変更する必要がある場合には、次のようにして簡単に測定時間範囲を修正することができる。

[0034] 測定時間範囲を修正する際には、まず測定条件テーブル 53の中で測定時間範囲を変更した、行をポインティングデバイスでクリック操作する。 Vヽま例えば測定条件テ一ブル 53の 2行目をクリック操作する。すると、トータルイオンクロマトグラム 51において指定した行の終了時間の位置にマーカー Mが表示される（図 3、図 5参照）。このマ一力一 Mをポインティングデバイスで指定して適宜の位置まで移動させて指定を解除すると、マーカー Mが移動された位置に対応する時間まで測定時間範囲が広がつたり又は狭まったりする。いま、図 5に示すようにマーカー Mを 12. 5分の位置から 13 . 5分の位置まで移動したとすると、それに伴い測定時間範囲を指示している矢印の長さも変化する。また、図 6に示すように測定条件テーブル 53中のパラメータ（2行目の終了時間)もそれに応じて 12. 5分→13. 5分と変更される。このように測定時間範囲の修正'変更も、数値をキー入力することなくポインティングデバイスによる操作によってグラフィカル且つ直感的に行うことができる。

[0035] 以上のようにして測定条件テーブル 53をオペレータが適宜に変更 '修正した後に、「設定完了」ボタン 55をクリック操作すれば、測定条件テーブル 53の設定が確定し、その内容に従って測定を実行するための測定条件ファイルが自動的に作成され、実際の未知試料の測定の準備が整う。

[0036] 以上説明したように、本実施例による GCZMSによれば、スキャン測定、 SIM測定、スキャン ZSIM同時測定のいずれかを実行する測定時間範囲の入力設定が非常に簡便に行え、オペレータの負担が軽減され入力ミスも減らすことができる。

[0037] なお、上記実施例は、ずれも一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜変形や修正、追加を行なえることは明らかである。

Claims

請求の範囲

[1] クロマトグラフにより時間方向に分離した試料成分を順次質量分析部に導入して質量分析を実行するクロマトグラフ質量分析装置であって、前記質量分析部において所定の質量数範囲に亘る連続的な質量走査を繰り返し行うスキャン測定と、特定の質量数について 1つの質量数を一定時間維持しつつ段階的に質量数を切り替える s

IM測定と、スキャン測定による質量走査の途中で SIM測定を実行するスキャン ZSI M同時測定と、を選択的に実行可能なクロマトグラフ質量分析装置において、 a)予め作成された、化合物の種類、該化合物の標準的な保持時間、及び該化合物を特徴付ける質量数を一覧表とする化合物テーブルを、表示部の画面上に表示する表示制御手段と、

を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。

[2] 前記表示制御手段は、前記化合物テーブル及び前記測定条件テーブルが表示されている同一画面内に、標準試料又はこれに準じる既知試料に対してスキャン測定法、 SIM測定、又はスキャン ZSIM同時測定法のいずれかにより得られたトータルィオンクロマトグラムを表示することを特徴とする請求項 1に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

[3] 前記表示制御手段は、描出されている前記トータルイオンクロマトグラムに現れて V、る 1乃至複数のピークにっ、て、前記化合物テーブル中に列記されて、る化合物と対応付けた表示を行うことを特徴とする請求項 2に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

[4] 前記表示制御手段は、前記測定条件テーブルが作成されたときに描出されて、る前記トータルイオンクロマトグラム上にスキャン測定、 SIM測定、及びスキャン ZSIM 同時測定の時間範囲を識別できるような表示を重畳して行うことを特徴とする請求項

2又は 3に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

[5] 前記トータルイオンクロマトグラム上に重畳して表示された、スキャン測定、 SIM測定、及びスキャン ZSIM同時測定の時間範囲を、ポインティングデバイスの指示によりグラフィカルに修正可能としたことを特徴とする請求項 4に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

[6] 前記選択手段は、前記化合物テーブル中の各化合物毎に設けられたチェックボッタスにチェックマークを入力することにより化合物を選択するものであることを特徴とする請求項 1に記載のクロマトグラフ質量分析装置。