WO2007074764A1

WO2007074764A1 - プローブピン

Info

Publication number: WO2007074764A1
Application number: PCT/JP2006/325754
Authority: WO
Inventors: Toshio Kazama; Koji Ishikawa; Hiroyasu Sotoma
Original assignee: Nhk Spring Co., Ltd.
Priority date: 2005-12-28
Filing date: 2006-12-25
Publication date: 2007-07-05
Also published as: TW200730832A; JP2007178403A; JP4907171B2

Abstract

　被検査物との繰り返しコンタクトによってプローブピンの先端が摩耗した場合であってもプローブピンの高抵抗化を抑え、プローブピンの長寿命化を促進する。この目的のために、被検査物に接触する側の先端がくさび状に形成された略帯状の平板の中心層１１と、中心層１１の両面の少なくとも一面に略帯状の平板で形成され中心層１１を補強する補強層１２とを有した多層平板状のプランジャー１と、プランジャー２と、コイルばね３とを備える。

Description

明細書

プローブピン技術分野

[0001] この発明は、 LCDパネルなどを電気的に検査する際に用いられるプローブピンに関するものである。

背景技術

[0002] 従来から、 LCDパネルなどを検査する場合、 LCDパネルの複数の接続端子に複数のプローブピンを介して電気的に接触させ、検査装置から各種のテスト信号などを与えて LCDパネルの検査を行って!/、た。

[0003] たとえば、図 9は、従来のプローブピンの概要構成を示す断面図である。この従来のプローブピン 100は、プランジャー 101, 102とコィノレばね 103と力らなり、このプローブピン 100は、絶縁プレート 104に収納されている。プランジャー 101, 102は、切削加工によって円筒形状に形成されており、絶縁プレート 104が形成する円筒形状の孔内に収められたコイルばね 103の反力によって孔内部で摺動するようになっている（例えば、特許文献 1および 2参照)。

[0004] 特許文献 1 :特許第 2532331号公報

特許文献 2 :特開 2004— 152495号公報

発明の開示

発明が解決しょうとする課題

[0005] ところで、上述した従来のプローブピン 100のプランジャー 101, 102は、鉄系材質を切削加工することによって製造され、プランジャー 101, 102の表面に Auや Rhなどのめつきを施して接触抵抗値の低減を図って、る。

[0006] しかしながら、被検査物とプランジャー 101との繰り返しコンタクトによって、プランジヤー 101の先端が摩耗した際に、めっきが剥離し、鉄系材質で形成された部分が露出し、被検査物とプランジャー 101との接触抵抗値が増大してしまい、プローブピンとしての機能を果たせなくなってしまう場合があるという問題点があった。

[0007] この発明は、上記に鑑みてなされたものであって、被検査物との繰り返しコンタクトによってプローブピンの先端が摩耗した場合であってもプローブピンの高抵抗ィ匕を抑え、プローブピンの長寿命化を促進することができるプローブピンを提供することを目的とする。

課題を解決するための手段

[0008] 上述した課題を解決し、目的を達成するために、この発明にかかるプローブピンは、被検査物に接触する側の先端がくさび状に形成された略帯状平板の中心層と該中心層の両面の少なくとも一面に略帯状平板で形成され該中心層を補強する補強層とを有した多層平板状のプランジャーを備えたことを特徴とする。

[0009] また、この発明にかかるプローブピンは、上記の発明にお、て、コイルばねと嵌合する前記中心層のばね接合端部は、くさび状に形成され、かつ該ばね接合端部の基部の幅が先端部に比して狭いことを特徴とする。

[0010] また、この発明にかかるプローブピンは、上記の発明において、前記補強層の形状は、前記中心層の形状を面的に縮小した形状であることを特徴とする。

[0011] また、この発明にかかるプローブピンは、上記の発明において、前記中心層および前記補強層は、低抵抗部材であることを特徴とする。

発明の効果

[0012] この発明にかかるプローブピンは、被検査物に接触する側の先端がくさび状に形成された略帯状平板の中心層と該中心層の両面の少なくとも一面に略帯状平板で形成され該中心層を補強する補強層とを有した多層平板状のプランジャーを備えるようにしているので、エッチングカ卩ェゃ電铸カ卩ェによって製造が可能となり、プランジヤー全体を低抵抗材料によって形成することによって、被検査物との繰り返しコンタクトによってプローブピンの先端が摩耗した場合であってもプローブピンの高抵抗ィ匕を抑え、プローブピンの長寿命化を促進することができると、う効果を奏する。

図面の簡単な説明

[0013] [図 1]図 1は、この発明の実施の形態であるプローブピンの構成を示す断面図である

[図 2]図 2は、図 1に示したプランジャーの斜視図である。

[図 3]図 3は、図 1に示したプランジャーの正面図である。 [図 4]図 4は、図 1に示したプランジャーの右側面図である。

[図 5]図 5は、図 1に示したプランジャーの平面図である。

[図 6]図 6は、多層平板構成のプランジャーの上側開口部への挿入状態を示す断面図である。

[図 7]図 7は、単層平板構成のプランジャーの上側開口部への挿入状態を示す断面図である。

[図 8]図 8は、プランジャーの変形例を示す図である。

[図 9]図 9は、従来のプローブピンの構成を示す断面図である。

符号の説明

[0014] 1, 2 プランジャー

3 コイルばね

4 絶縁プレート

5 中間絶縁体

6 上側絶縁体

7 下側絶縁体

8 孔部

8a 上側開口部

8b 下側開口部

10 プローブピン

11 中心層

12, 13 補強層

14 抜け止め部

21a 接合端部

発明を実施するための最良の形態

[0015] 以下、この発明を実施するための最良の形態であるプローブピンについて図面を参照して説明する。

[0016] (実施の形態）

図 1は、この発明の実施の形態であるプローブピンの概要構成を示す断面図である。このプローブピン 10は、プランジャー 1, 2とコイルばね 3とを有し、絶縁プレート 4に収納される。絶縁プレート 4は、プレート状の中間絶縁体 5を有し、この中間絶縁体 5 は、被検査物の接触端子位置に対応した位置に円柱状の孔部 8を有する。中間絶縁体 5の上側および下側には、それぞれ上側絶縁体 6および下側絶縁体 7が層状に設けられ、孔部 8と同軸であって孔部 8の径に比して小さな径をもつ円形の上側開口部 8aおよび下側開口部 8bをそれぞれ有する。そして、孔部 8と、上側開口部 8aをもつ上側絶縁体 6と、下側開口部 8bをもつ下側絶縁体 7とによって、プローブピン 10を収納するホルダを形成する。

[0017] プランジャー 1は、被検査物に接触する先端側がくさび状の多層平板によって形成され、先端側が外部に突き出るように上側開口部 8aに挿入され、上側開口部 8aの径に比して大きな幅をもつ抜け止め部によって抜け止めされる。一方、プランジャー 2は、検査装置側の接続端子と接触するために先端側が針状に形成された円柱状をなし、この先端側が外部に突き出るように下側開口部 8bに挿入され、下側開口部 8bの径に比して大きな径をもつ抜け止め部によって抜け止めされる。また、孔部 8には、孔部 8の径に比して小さな径をもつコイルばね 3が挿入され、このコイルばね 3の反力によってプランジャー 1, 2が外部に押し付けられた状態で、各プランジャー 1, 2が孔部 8内で摺動できるように組み立てられる。なお、プランジャー 2は、切削加工などによつて形成された鉄系部材に、 Auや Rhなどのめっきを施して接触抵抗値の低減を図つている。

[0018] 図 2は、プランジャー 1の構成を示す斜視図であり、図 3は、プランジャー 1の正面図であり、図 4は、プランジャー 1の右側面図であり、図 5は、プランジャー 1の平面図である。図 2〜図 5において、プランジャー 1は、先端側がくさび状に形成された略帯状の平板である中心層 11の両面に、補強層 12, 13が形成される。補強層 12, 13は、中心層 11の形状とほぼ同じ形状の平板であって、中心層 11の形状を縮小した形状である。したがって、先端側部分では、概ね錐状となる。コイルばね 3と嵌合する中心層 11のばね接合端部は、くさび状に形成され、コイルばね 3との嵌合が容易に行えるようになっている。また、接合端部側には、上側開口部 8aの径に比して大きな幅をもつ抜け止め部 14が形成される。 [0019] 中心層 11および補強層 12, 13は、 Cuなどの低抵抗部材であり、エッチング力卩ェぁるいは電铸カ卩ェによって製造される。逆に、中心層 11および補強層 12, 13は、エツチンダカ卩ェあるいは電铸カ卩ェによって製造されるため、切削加工では困難であった Cu, Au, Ag, Niなどの低抵抗の柔らかい材料によって形成することができる。したがって、繰り返しコンタクトが行われる先端部が摩耗した場合であっても、低抵抗部材が常に露出しているため、常に被検査物との接触抵抗値を増大させることなぐ低接触抵抗状態を維持することができる。なお、中心層 11と補強層 12, 13とを異なる材料で形成してもよいし、同一の材料で形成してもよい。また、補強層 12, 13を多層平板ィ匕してもよい。すなわち、プランジャー 1全体の多層化を 4層以上にしてもよい。もちろん、 1つの補強層 12, 13を削除し、プランジャー 1全体を 2層としてもよい。

[0020] ここで、プランジャー 1は多層平板であるため、その断面が十字形状となる。したがつて、図 6に示すように、プランジャー 1の摺動時に、プランジャー 1の先端側と上側開口部 8aとの接触が安定するため、先端部の位置精度ゃ摺動の安定性をもたせることができる。なお、図 7に示すように、単層の平板の場合、上側開口部 8aとの接触が線的になり、図 6に示すような面的に広がった接触に比して、不安定なものとなる。

[0021] また、プランジャー 1とコイルばね 3とを嵌合して接合させる場合、プランジャー 1の接合端部側も多層平板であるため、プランジャー 1とコイルばね 3との接触面積が小さくなり、コイルばね 3の接合端部への圧入を容易に行うことができる。この場合、接合端部の幅などが少し大きくてもコイルばね 3との接合には問題な、ため、接合端部の寸法管理が容易になる。

[0022] なお、図 8に示すように、接合端部 21aの先端部分をくさび状として、コイルばね 3の接合時にコイルばね 3を容易に広げやすくし、接合端部 21aと抜け止め部 14との間の部分の幅を、接合端部 21aの幅に比して小さくすることによって、コイルばね 3の抜けを確実に防止することができる。

[0023] この実施の形態では、プランジャー 1を多層平板によって形成しているので、エッチングカ卩ェゃ電铸カ卩ェを用いることができ、プランジャー 1全体を低抵抗材料によって形成することができるので、繰り返しコンタクトを行うことによって先端部分に摩耗が生じても、接触抵抗の増大を抑えることができる。また、単層の平板に比して、断面が円形の孔との接触バランスに優れ、良好な先端位置精度と摺動性を確保することができる。さらに、コイルばねとの接触面積が小さいので、寸法管理も容易となる。また、接合端部の先端部分をくさび状にし、幅の狭い部分を設けることによって、プランジャ一 1とコイルばね 3との嵌合を一層確実にすることができる。

産業上の利用可能性

以上のように、本発明にかかるプローブピンは、 LCDパネルなどを電気的に検査する際に有用である。

Claims

請求の範囲

[1] 被検査物に接触する側の先端がくさび状に形成された略帯状平板の中心層と該中心層の両面の少なくとも一面に略帯状平板で形成され該中心層を補強する補強層とを有した多層平板状のプランジャーを備えたことを特徴とするプローブピン。

[2] コイルばねと嵌合する前記中心層のばね接合端部は、くさび状に形成され、かつ該ばね接合端部の基部の幅が先端部に比して狭、ことを特徴とする請求項 1に記載のプローブピン。

[3] 前記補強層の形状は、前記中心層の形状を面的に縮小した形状であることを特徴とする請求項 1に記載のプローブピン。

[4] 前記中心層および前記補強層は、低抵抗部材であることを特徴とする請求項 1〜3 のいずれか一つに記載のプローブピン。