WO2005043556A1 - 積層型抵抗素子 - Google Patents

積層型抵抗素子 Download PDF

Info

Publication number
WO2005043556A1
WO2005043556A1 PCT/JP2004/016044 JP2004016044W WO2005043556A1 WO 2005043556 A1 WO2005043556 A1 WO 2005043556A1 JP 2004016044 W JP2004016044 W JP 2004016044W WO 2005043556 A1 WO2005043556 A1 WO 2005043556A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
internal
electrode
group
internal electrodes
internal electrode
Prior art date
Application number
PCT/JP2004/016044
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Yasunori Ito
Kiyohiro Koto
Masahiko Kawase
Original Assignee
Murata Manufacturing Co., Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co., Ltd. filed Critical Murata Manufacturing Co., Ltd.
Priority to JP2005515155A priority Critical patent/JP4419960B2/ja
Priority to US10/595,232 priority patent/US7696677B2/en
Priority to EP04793152.2A priority patent/EP1679723B1/en
Publication of WO2005043556A1 publication Critical patent/WO2005043556A1/ja

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/18Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material comprising a plurality of layers stacked between terminals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/02Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/04Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having negative temperature coefficient

Definitions

  • the present invention relates to a multilayer resistance element, and more particularly to a multilayer resistance element in which internal electrodes are arranged inside a multilayer sintered body so that a resistance value can be finely adjusted.
  • a resistance element such as a PTC thermistor or an NTC thermistor has been used for temperature compensation and temperature detection.
  • this resistance element there is a multilayer resistance element that can be mounted on a printed circuit board or the like.
  • a plurality of examples of the conventional multilayer resistive element will be described.
  • Fig. 7 is a cross-sectional view showing a first conventional example, in which the resistance element is an NTC thermistor.
  • the multilayer thermistor 1 shown in FIG. 7 includes a multilayer sintered body 3 in which a plurality of thermistor layers 2 are sintered, a first internal electrode 4a, 4b, and a second internal It has electrodes 5a and 5b. External electrodes 7 and 8 are formed on the outer surface of the laminated sintered body 3, specifically, on both ends.
  • first internal electrode 4a and the second internal electrode 5a are opposed to each other on the same plane with a gap 6a therebetween.
  • the other end of the first internal electrode 4a is electrically connected to the external electrode 7, and the other end of the second internal electrode 4b is electrically connected to the external electrode 8.
  • the force at each end of the first internal electrode 4b and the second internal electrode 5b is opposed to each other with a gap 6b on the same plane.
  • the other end of the first internal electrode 4b is electrically connected to the external electrode 7, and the other end of the second internal electrode 5b is electrically connected to the external electrode 8.
  • the gaps 6a and the gaps 6b are alternately arranged inside the laminated sintered body 3 along the laminating direction of the plurality of thermistor layers 2.
  • the gap 6a and the gap 6b are formed at different positions in a direction substantially orthogonal to the lamination direction of the laminated sintered body 3.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view showing a second conventional example.
  • the resistance element is an NTC thermistor. This is an example.
  • a plurality of thermistor layers 12 are sintered inside a laminated sintered body 13 in which a first internal electrode 14a and a second internal electrode 14a are provided. 14b is provided.
  • the internal electrode 16 is formed so as to face the first internal electrode 14a and the second internal electrode 14b via the thermistor layer 12.
  • External electrodes 17 and 18 are formed on the outer surface of the laminated sintered body 12, specifically, on both ends.
  • each of the first internal electrode 14a and the second internal electrode 14b is formed to face each other on the same plane with a gap 15 therebetween.
  • the other end of the first internal electrode 14a is electrically connected to the external electrode 17, and the other end of the second internal electrode 14b is electrically connected to the external electrode 18.
  • Both ends of the internal electrode 16 are not led out to the outer surface of the laminated sintered body 13, and are electrically connected to the external electrodes 17, 18; It is.
  • the resistance value of the multilayer resistive element of the first conventional example is determined by the distance between the gap 6a formed by the first internal electrode 4a and the second internal electrode 5a, the first internal electrode 4b and the second internal electrode 4b. It is determined by the interval of the gap 6b formed by the internal electrode 5b and the overlapping area and interval of the first internal electrode 4a and the second internal electrode 5b.
  • the resistance value of the multilayer resistive element of the second conventional example is determined by the distance between the gap 15 formed by the first internal electrode 14a and the second internal electrode 14b and the first internal electrode. It is determined by the overlapping area between the electrode 14a and the non-connection type internal electrode 16 and the distance between them, and furthermore, the overlapping area between the second internal electrode 14b and the non-connection type internal electrode 16 and the distance between them.
  • Patent Document 3 discloses a multilayer resistive element of a third example.
  • the first and second internal electrodes are arranged so as to overlap each other via the thermistor element layer in the negative characteristic thermistor element body, and the negative internal electrode has a negative characteristic element. It is drawn out to one end of the thermistor body, and the other internal electrode is drawn out to the other end. Further, first and second external electrodes are formed at both ends of the thermistor body. Further, the thermistor element body is laminated with a resistor layer made of a resistive material different from the material constituting the thermistor element body.
  • a pair of internal electrodes whose one ends are opposed to each other with a gap on the same plane are formed. ing. One of the internal electrodes is electrically connected to the first external electrode, and the other is electrically connected to the second external electrode.
  • the resistance value can be set by adjusting the pattern of a pair of electrodes in the resistor layer, whereby the resistance value can be set. It is said that the degree of freedom can be increased.
  • Patent Document 4 discloses an NTC thermistor as a multilayer resistive element of a fourth example. That is, there is disclosed an NTC thermistor in which a plurality of pairs of internal electrodes whose inner ends are opposed to each other with a gap therebetween on the same plane are provided in a multilayer resistor. Here, one internal electrode of each pair of internal electrodes is electrically connected to a first external electrode provided on one end face of the resistor, and the other internal electrode is formed on the other end face of the resistor. And is electrically connected to the second external electrode. When viewed from a direction perpendicular to the upper surface of the resistor, the one internal electrode and the other internal electrode of the plurality of pairs are arranged so as not to overlap. In this NTC thermistor, the resistance value is determined by the gap distance between a pair of internal electrodes arranged on the same plane, so that the variation in the resistance value can be reduced.
  • Reference 1 JP 05-243007
  • Patent Document 2 JP-A-10-247601
  • Patent Document 3 JP-A-2000-124008
  • Patent Document 4 Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 6-34201
  • the number of stacked internal electrodes is increased or decreased.
  • the number of the internal electrodes 4a, 4b, 5a, 5b opposed via the thermistor layer 2 is increased or decreased, so that the resistance value is adjusted. It was difficult to fine-tune the resistance value where the change width was large.
  • the number of units including the internal electrodes 14a and 14b and the internal electrode 16 opposed to each other via the thermistor layer 12 is increased or decreased. Therefore, it is difficult to fine-tune the resistance value where the variation width of the resistance value is large.
  • the resistor layer is formed of a material different from that of the negative characteristic thermistor element, the manufacturing process is complicated, and the cost is high. I was compelled. Further, since the thickness of the resistor layer needs to be sufficiently smaller than the thickness of the thermistor element, the design of the resistor and the internal electrode must be restricted. Therefore, it has been difficult to reduce the resistance and finely adjust the resistance value.
  • An object of the present invention is to provide a multilayer resistive element using a multilayer sintered body having internal electrodes in view of the above-described problems of the prior art, and to enable fine adjustment of the resistance value.
  • An object of the present invention is to provide a multilayer resistive element provided with the structure described below.
  • a laminated sintered body in which a plurality of ceramic resistance layers and a plurality of internal electrodes are laminated, and a first sintered body formed on an outer surface of the laminated sintered body
  • the plurality of internal electrodes of the group include a resistance unit having at least two internal electrodes arranged to face each other with the ceramic resistance layer interposed therebetween, and one end of the resistance unit is connected to the first external electrode.
  • the other end is electrically connected to the second external electrode, and one end of each of the internal electrodes of the second group faces each other with a gap on the same plane in the laminated sintered body. Internal electrodes of each pair. On the one of the first external electrodes, characterized that you other thereof is electrically connected to the second external electrode, the multilayer resistive element is provided.
  • the plurality of gaps of the second group are formed in the multilayer sintered body at positions overlapping each other in the stacking direction. ing.
  • the internal electrode electrically connected to the electrode is a third internal electrode and the other internal electrode electrically connected to the second external electrode is a fourth internal electrode
  • the gap force between the third and fourth internal electrodes of the second group which is the closest to the first group. It is arranged in a position that overlaps with the gear in the stacking direction.
  • the configuration of the first group of internal electrodes can be variously modified in the present invention.
  • a plurality of pairs of electrodes including the first and second divided internal electrodes are stacked, and a gap between the electrode pairs adjacent in the stacking direction is stacked.
  • the force on one side in the direction is formed at a different position when viewed.
  • the internal electrodes of the first group overlap the first and second divided internal electrodes via a ceramic resistance layer. It further comprises a non-connection type internal electrode arranged to fit.
  • the first group of internal electrodes comprises: a first internal electrode electrically connected to the first external electrode; A second internal electrode electrically connected to the second external electrode, wherein the first and second internal electrodes are arranged so as to overlap each other via a ceramic layer! RU
  • a multilayer resistive element as a first means of the present invention includes a multilayer sintered body in which a plurality of ceramic resistance layers and internal electrodes are laminated, and an outer surface of the multilayer sintered body.
  • the first and second electrodes which are composed of a first internal electrode and a second internal electrode connected to a first external electrode and a second external electrode, respectively, and which are adjacent to each other along the lamination direction of the laminated sintered body.
  • the internal electrodes of the second group are formed at different positions along the stacking direction of the multilayer sintered body, and one end of each of the internal electrodes of the second group has the same plane in the multilayer sintered body.
  • a third internal electrode and a fourth internal electrode connected to the first external electrode and the second external electrode, respectively. Wherein the gap formed by the internal electrode and the fourth internal electrode is located at the same position along the stacking direction of the multilayer sintered body.
  • a second means for solving such a problem is a laminated sintered body in which a plurality of ceramic resistance layers and internal electrodes are laminated, and a second sintered body formed on the outer surface of the laminated sintered body.
  • a first external electrode and a second external electrode wherein the internal electrodes are composed of a first group of internal electrodes and a second group of internal electrodes, and one end of the first group of internal electrodes is A first internal electrode and a second internal part which are formed on the same plane in the laminated sintered body so as to face each other with a gap therebetween, and the other ends of which are connected to the first external electrode and the second external electrode, respectively.
  • An electrode, a first internal electrode, a second internal electrode, and the ceramic resistance layer are formed so as to overlap in the laminating direction of the laminated sintered body via the ceramic resistance layer, and are connected to the first and second external electrodes.
  • the internal electrodes of the second group are not connected.
  • a third internal electrode whose end is formed on the same plane in the laminated sintered body so as to face each other with a gap therebetween, and whose other end is connected to the first external electrode and the second external electrode, respectively.
  • a third means is a laminated sintered body in which a plurality of ceramic resistance layers and internal electrodes are laminated, a first external electrode formed on an outer surface of the laminated sintered body, and a second external electrode. Electrodes, wherein the internal electrodes include a first group of internal electrodes and a second group of internal electrodes, and the first group of internal electrodes face each other with the ceramic resistive layer interposed therebetween. A first internal electrode connected to a first external electrode and a first internal electrode connected to the second external electrode The internal electrodes of the two groups are formed such that one end thereof is formed on the same plane in the laminated sintered body so as to face each other with a gap therebetween, and the other ends are formed of the first external electrode and the second internal electrode.
  • the resistance value can be finely adjusted by forming the second group of internal electrodes inside the multilayer sintered body. That is, in a plurality of pairs of internal electrodes constituting the second group of internal electrodes, the internal electrodes of each pair are arranged with a gap on the same plane in the laminated sintered body. Since the resistance value determined between the gaps is small, the resistance value of the multilayer resistive element is finely adjusted by changing the size of the gap in the plurality of pairs of internal electrodes and the number of pairs of the plurality of internal electrodes. can do. That is, the resistance value is adjusted by adjusting the portion where the internal electrodes of the second group are formed without significantly affecting the resistance value determined at the portion where the internal electrodes of the first group are formed. Can be adjusted.
  • the resistance value can be designed and set in the same process as the design of the laminated sintered body, that is, the technology of laminating the ceramic resistance layer and the internal electrode, fine adjustment of the resistance value can be easily performed. it can.
  • FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of a multilayer resistive element according to the present invention.
  • FIG. 2 is a sectional view showing a second embodiment of the multilayer resistive element of the present invention.
  • FIG. 3 is a sectional view showing a third embodiment of the multilayer resistive element of the present invention.
  • FIG. 4 is a front sectional view showing a modified example of the multilayer resistive element for describing a step of finely adjusting the resistance value using the multilayer resistive element of the present invention.
  • FIG. 5 is a front sectional view of a multilayer resistive element obtained by increasing the number of stacked internal electrodes of the second group from the multilayer resistive element shown in FIG. 4.
  • FIG. 6 is a front sectional view of a multilayer resistive element obtained by reducing the number of stacked second group internal electrodes from the multilayer resistive element shown in FIG. 4.
  • FIG. 7 is a sectional view showing a first conventional example of a conventional multilayer resistive element.
  • FIG. 8 is a sectional view showing a second conventional example of the conventional multilayer resistive element.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of a first embodiment of a multilayer resistive element.
  • the multilayer resistance element 21 shown in FIG. 1 has a multilayer sintered body 23 in which a plurality of NTC thermistor layers 22 as a plurality of ceramic resistance layers are stacked and integrally sintered. Inside the laminated sintered body 23, first internal electrodes 24a and 24b and second internal electrodes 25a and 25b are provided. External electrodes 29 and 30 are formed on the outer surface of the laminated sintered body 23, specifically, on both ends.
  • first internal electrode 24a As a first divided internal electrode and an internal electrode 25a as a second divided internal electrode is formed to face each other on the same plane with a gap 26a therebetween. Have been.
  • the other end of the first internal electrode 24a is electrically connected to the external electrode 29, and the other end of the second internal electrode 25a is electrically connected to the external electrode 30.
  • a divided internal electrode refers to one of electrodes separated by a gap when internal electrodes on the same plane are viewed as one group.
  • the internal electrode 24a and the internal electrode 25a may be grouped on the same plane, and the portions separated by the gap may be referred to as a divided internal electrode 24a and a divided internal electrode 25a.
  • this internal electrode 25a is When the electrode 24b overlaps with the thermistor layer via the thermistor layer, it may be simply referred to as an internal electrode.
  • each of the first internal electrode 24b as a divided internal electrode and the second internal electrode 25b as a divided internal electrode is formed to face each other with a gap 26b therebetween on the same plane. ing.
  • the other end of the first internal electrode 24b is electrically connected to the external electrode 29, and the other end of the second internal electrode 25b is electrically connected to the external electrode 30.
  • the gap 26a and the gap 26b are arranged at adjacent positions inside the laminated sintered body 23 along the direction in which the plurality of thermistor layers 22 are laminated.
  • the gap 26a and the gap 26b are formed at different positions in a direction substantially orthogonal to the lamination direction of the laminated sintered body 23 and in a direction connecting both ends of the laminated sintered body 23.
  • the above configuration including the first internal electrodes 24a and 24b corresponds to the first internal electrode group A of the present invention.
  • the two internal electrodes 24b, 24b overlap on the upper and lower sides of the internal electrode 25a via a thermistor layer as a ceramic resistance layer to form a resistance unit having a portion.
  • this resistance unit is connected to the first external electrode 29, and the other end is connected to the second external electrode 30.
  • the internal electrodes 24b, 24b and the internal electrode 24a that is, the force in which the three internal electrodes are arranged so as to overlap via the thermistor layer.
  • the number of stacked internal electrodes facing each other via the ceramic resistance layer is not particularly limited as long as at least two internal electrodes face each other via the ceramic resistance layer.
  • the laminated thermistor 21 further has the following configuration. That is, inside the laminated sintered body 23, the second internal electrode group B is formed on the first internal electrode group A.
  • the second internal electrode group B also has the following constituent power.
  • a third internal electrode 27a and a fourth internal electrode 27b are provided inside a laminated sintered body 23 in which a plurality of thermistor layers 22 are sintered.
  • One ends of the third internal electrode 27a and the fourth internal electrode 27b are formed to face each other with a gap 28 therebetween on the same plane inside the laminated sintered body 23.
  • the other end of the third internal electrode 27a is electrically connected to the external electrode 29, and the other end of the fourth internal electrode 27b is electrically connected to the external electrode 30.
  • the gap 28 of the second internal electrode group B is formed inside the laminated sintered body 23 at one end of the plurality of thermistor layers 22 in the laminating direction, for example, at the same position when viewed from above. I have.
  • the gap 28 shown in FIG. 1 is formed at a position near the external electrode 30. Further, the gap 28 is different from the gap 26a of the first internal electrode group A when viewed from one end side in the stacking direction of the thermistor layer, and more specifically, both gaps of the laminated sintered body 23. They are formed at different positions in the direction connecting the ends. Note that, in the second internal electrode group B shown in FIG. 1, three pairs of electrode pairs each including the third internal electrode 27a and the fourth internal electrode 27b are stacked.
  • the thickness of the NTC thermistor layer 22a existing between the first internal electrode group A and the second internal electrode group B is thicker than the other NTC thermistor layers 22. But it may be the same thickness!
  • the resistance value is determined as follows. That is, in the first internal electrode group A, the interval between the gaps 26a and 26b formed by the first internal electrodes 24a and 25a and the second internal electrodes 24b and 25b, and the first internal electrode 24a and the It is determined by the overlapping area and interval with the second internal electrode 25b. Further, in the second internal electrode group B, the resistance value is determined by the interval between the gaps 28 formed by the third internal electrode 27a and the fourth internal electrode 27b. Therefore, the resistance value of the multilayer resistance element is a combined resistance value of the resistance values of the first internal electrode group A and the second internal electrode group B. Among them, in the second internal electrode group B, the resistance formed between the force gaps 28 whose resistance is determined by the size of the gap 28 is a small value.
  • the second internal electrode group B three sets of combinations, which are electrode pairs composed of the internal electrodes 27a and the internal electrodes 27b, are stacked, so that three gaps 28 are formed.
  • the thermistor layers 22 are adjacent to each other in the laminating direction, and are arranged so as to overlap when viewed from one end side in the laminating direction. In other words, the gaps 28 on both sides are opposed to each other with one thermistor layer 22 interposed therebetween.
  • the plurality of gaps 28 are arranged in the second internal electrode group B and the plurality of gaps are arranged so as to overlap with each other via the thermistor layer 22, the gap of one gap 28 is set.
  • the resistance formed by is small and is determined solely by the spacing of the gaps 28
  • the resistance value of the second electrode group B is also a small value. Therefore, the second internal electrode group enables fine adjustment of the resistance value of the entire multilayer resistive element.
  • the multilayer thermistor 21 according to the first embodiment has an advantage that the fine adjustment of the resistance value can be performed with higher accuracy without being able to finely adjust the resistance value as described above.
  • the gap between the first internal electrode 24b and the second internal electrode 25b of the first group of internal electrodes adjacent to each other via the thermistor layer 22a is provided.
  • the gap 28 between the second internal electrode 26b and the third internal electrode 27a of the second group internal electrode 27a and the fourth internal electrode 27b are arranged at the same position when the stacking direction force is also viewed, that is, overlapped.
  • reference numerals X and Y are assigned to gaps which can be close to each other so as to be located at the same position when viewed from the above-mentioned lamination direction.
  • the gap X force is closest to the second group internal electrode, and the gap X force is the first group among the gaps 28 in the second group internal electrodes.
  • Gap near internal electrode Y force Stacking force Force is formed at the same position when viewed.
  • the first internal electrode 24b and the second internal electrode 25b, and the third internal electrode 27a and the third internal electrode 27a are arranged to form the gap X and the gap Y.
  • the shape can be the same as the shape of the internal electrode 27b of No. 4.
  • the internal electrode pattern on the upper surface of the thermistor layer 22 and the internal electrode pattern on the lower surface are the same, and the gaps X and Y are at the same position when viewed from one end in the stacking direction. Therefore, fine adjustment of the resistance value can be performed with higher accuracy.
  • the internal electrodes of the first group and the second group are brought into close proximity to each other.
  • the gaps are provided between the electrodes, In this case, it is desirable to dispose the gaps at the same position when viewed from the lamination direction, that is, to overlap.
  • the second group internal electrodes need not necessarily be juxtaposed above or below the first group internal electrodes.
  • a first group internal electrode may be arranged.
  • FIG. 2 is a sectional view of a second embodiment of the multilayer resistive element.
  • the multilayer resistive element 31 shown in Fig. 2 has a multilayer sintered body 33 in which a plurality of NTC thermistor layers 32 are stacked and sintered integrally. Inside the laminated sintered body 33, a first internal electrode 34a and a second internal electrode 34b are formed. Further, an internal electrode 36 is formed so as to face the first internal electrode 34a and the second internal electrode 34b via the thermistor layer 32. External electrodes 39 and 40 are formed on the outer surface of the laminated sintered body 32, specifically, on both ends.
  • first internal electrode 34a as a divided internal electrode and a second internal electrode 34b as a divided internal electrode is formed such that a gap 35 is formed on the same plane inside the laminated sintered body 33. They are opposed to each other.
  • the other end of the first internal electrode 34a is electrically connected to the external electrode 39, and the other end of the second internal electrode 34b is electrically connected to the external electrode 40.
  • the internal electrode 36 is a non-connection type internal electrode whose both ends are not led out to the outer surface of the laminated sintered body 33 and are not electrically connected to the external electrodes 39 and 40.
  • the above configuration including the first internal electrode 34a, the second internal electrode 34b, and the non-connection type internal electrode 36 corresponds to the internal electrode C of the first group of the present invention.
  • the first internal electrode 34a and the second internal electrode 34b and the non-connection type internal electrode 36 overlap with each other via a thermistor layer. That is, a resistance unit having the internal electrodes 34a and 34b and the non-connection type internal electrode 36 is configured. One end of this resistance unit is connected to the first external electrode 39, and the other end is connected to the second external electrode 40.
  • the thermistor is used for the internal electrode C of the first group. It is sufficient if there are at least two internal electrodes arranged so as to overlap with each other via the layers. In other words, the number of ceramic resistance layers sandwiched between the internal electrodes is not particularly limited as long as it is one or more.
  • the laminated thermistor 31 further has the following configuration. That is, inside the laminated sintered body 33, the second group of internal electrodes D is formed adjacent to the first group of internal electrodes C.
  • the second group of internal electrodes D also has the following constituent power.
  • a third internal electrode 37a and a fourth internal electrode 37b are provided inside a laminated sintered body 33 in which a plurality of thermistor layers 32 are laminated and integrally sintered.
  • One ends of the third internal electrode 37a and the fourth internal electrode 37b are opposed to each other with a gap 38 on the same plane inside the laminated sintered body 33.
  • the other end of the third internal electrode 37a is electrically connected to the external electrode 39, and the other end of the fourth internal electrode 37b is electrically connected to the external electrode 40.
  • the gap 38 between the internal electrodes D of the second group is formed at the same position inside the multilayer sintered body 33 along the laminating direction of the plurality of thermistor layers 32.
  • the gap 38 shown in FIG. 2 is formed at substantially the same distance from both ends of the laminated sintered body 33, that is, at a position substantially at the center.
  • the gap 38 is connected to the same position as the gap 35 of the first internal electrode group C when viewed from the lamination direction of the thermistor layer 32, more specifically, connects both ends of the laminated sintered body 33. It is formed at the same position in the direction !, but may be formed at a different position.
  • the second internal electrode 37a and the fourth internal electrode 37b are each formed in three layers.
  • the number of layers is set in accordance with the target resistance value. Just measure it.
  • the thickness of the NTC thermistor layer 32a existing between the first internal electrode group C and the second internal electrode group D is made thicker than the other NTC thermistor layers 32, However, it may be the same thickness!
  • the resistance value is determined as follows. That is, in the internal electrodes C of the first group, the interval between the gaps 35 formed by the first internal electrodes 34a and the second internal electrodes 34b, the internal electrodes C of the first internal electrodes 34a and the non-connection type internal electrodes 36 And the distance between the two, and the overlapping area between the second internal electrode 34b and the non-connection type internal electrode 36 and the distance between the two. Sarako is the 2nd dal In the internal electrode D of the loop, the resistance value is determined by the interval of the gap 38 formed by the third internal electrode 37a and the fourth internal electrode 37b.
  • the resistance value of the multilayer resistive element is a combined resistance value of the resistance values of the internal electrodes C of the first group and the internal electrodes D of the second group.
  • the resistance value is determined by the interval of the gap 38, but the positions of the plurality of gaps 38 are adjacent to each other along the laminating direction of the thermistor layer 32 and at the same position. It is formed, and the resistance determined by the gap 38 is a small value. Therefore, the internal electrodes D of the second group allow fine adjustment of the resistance value of the entire multilayer resistive element.
  • FIG. 3 is a sectional view of a third embodiment of the multilayer resistive element.
  • a plurality of NTC thermistor layers 42 are stacked and sintered integrally, and a first internal electrode 44 and a Two internal electrodes 45 are formed.
  • External electrodes 49 and 50 are formed on the outer surface of the laminated sintered body 43, specifically, on both ends.
  • first internal electrode 44 and the second internal electrode 45 are formed in a direction reaching one end of the laminated sintered body 43.
  • the other end of first internal electrode 44 is electrically connected to external electrode 49, and the other end of second internal electrode 45 is electrically connected to external electrode 50.
  • the above configuration including the first internal electrodes 44 and 45 corresponds to the internal electrodes E of the first group of the present invention.
  • a plurality of internal electrodes 44 and 45 are arranged so as to overlap with each other via a thermistor layer as a ceramic resistance layer.
  • a resistance unit having the plurality of internal electrodes 44 and 45 is configured, and one end of the resistance unit is connected to the external electrode 49 and the other end is connected to the external electrode 50.
  • the laminated thermistor 41 further has the following configuration. That is, the second group of internal electrodes F is formed inside the laminated sintered body 43 adjacent to the first group of internal electrodes E.
  • the internal electrodes F of the second group also have the following constituent forces.
  • a third internal electrode 47a and a fourth internal electrode 47b are formed inside a laminated sintered body 43 in which a plurality of thermistor layers 42 are laminated and integrally sintered.
  • One end of each of the third internal electrode 47a and the fourth internal electrode 47b is formed on the same plane inside the laminated sintered body 43 so as to face each other with a gap 48 therebetween.
  • the other end of the third internal electrode 47a is electrically connected to the external electrode 49, and the other end of the fourth internal electrode 47b is electrically connected to the external electrode 50.
  • the plurality of gaps 48 of the second group of internal electrodes F are located adjacent to each other along the laminating direction of the plurality of thermistor layers 42 inside the laminated sintered body 43 and viewed from the laminating direction. Formed in the same position.
  • the gap 48 shown in FIG. 3 is formed near the external electrode 50.
  • the resistance value is determined as follows. In other words, in the first group of internal electrodes E, the overlapping area of the first internal electrode 44 and the second internal electrode 45 and the interval between them are determined. Further, in the internal electrode F of the second group, the resistance value is determined by the gap 48 formed by the third internal electrode 47a and the fourth internal electrode 47b. Therefore, the resistance value of the multilayer resistive element is a combined resistance value of the resistance values of the first internal electrode group E and the second internal electrode group F.
  • the force gap position where the resistance value is determined between the gaps 48 is located at an adjacent position along the laminating direction of the thermistor layer 42 and is the same when viewed from the laminating direction.
  • the resistance formed between the gaps 48 is small. Therefore, the internal electrode F of the second group allows fine adjustment of the resistance value of the entire multilayer resistive element.
  • the number of laminations of the second group of internal electrodes is reduced.
  • the fact that the resistance value can be finely adjusted by increasing or decreasing will be described more specifically.
  • FIG. 4 is a front sectional view of a multilayer thermistor 51 according to a modified example of the resistance type thermistor 31 of the embodiment shown in FIG.
  • the laminated thermistor 51 is the same as the laminated thermistor 51 except that the uppermost first internal electrode 34a and the second internal electrode 34b shown in FIG. 2 are provided. Therefore, the same reference numerals are given to the same parts, and the description shown in FIG. 2 will be referred to.
  • a multilayer thermistor 51 manufactured using a specific thermistor material and having a designed resistance value of 470000 ⁇ is prototyped as shown in FIG.
  • the used thermistor material varies, and the resistance value of the obtained laminated thermistor 51 may fluctuate. For example, if the resistivity of the thermistor material increases, the resistance will be higher than 47,000 ohms. For example, when the resistance is about 47734 ⁇ , the number of internal electrode pairs of the second group of internal electrodes may be increased by one layer as shown in FIG.
  • the resistance value can be reduced by about 4.0% by increasing the number of pairs of electrode pairs that also generate force by the third and fourth internal electrodes 37a and 37b of the first group of internal electrodes.
  • the target resistance value of 47000 ⁇ can be obtained.
  • the resistance value is finely adjusted by increasing or decreasing the number of electrode pairs including the third and fourth internal electrodes in the first group of internal electrodes. It turns out that it gets. As the number of electrode pairs increases, the resistance value can be adjusted very finely, for example, to a resistance value of about 0.5%. Therefore, it can be seen that the resistance value can be adjusted over a wide range and very finely by changing the number of laminated electrodes.
  • Each of the multilayer resistive elements of Examples 1, 2, and 3 described above is an example of an NTC thermistor, but can also be applied to this power PTC thermistor.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)

Description

明 細 書
積層型抵抗素子
技術分野
[0001] 本発明は、積層型抵抗素子、特に、抵抗値を微調整できるように内部電極が積層 焼結体の内部に配置されている積層型抵抗素子に関するものである。
背景技術
[0002] 従来、温度補償や温度検出のために PTCサーミスタゃ NTCサーミスタなどの抵抗 素子が用いられている。この抵抗素子として、プリント回路基板などに実装可能な積 層型抵抗素子がある。以下に、従来の積層型抵抗素子の複数の例を説明する。
[0003] 第 7図は第 1の従来例を示す断面図であり、抵抗素子が NTCサーミスタの例である
[0004] 図 7に示されている積層型サーミスタ 1は、複数のサーミスタ層 2がー体焼結された 積層焼結体 3の内部に、第 1の内部電極 4a, 4b、第 2の内部電極 5a, 5bを有する。 積層焼結体 3の外表面、具体的には、両端部には外部電極 7, 8がそれぞれ形成さ れている。
[0005] 第 1の内部電極 4aと第 2の内部電極 5aの、それぞれの一端部が、同一平面上にお Vヽてギャップ 6aを隔てて対向されて ヽる。第 1の内部電極 4aの他端部が外部電極 7 と電気的に接続されており、第 2の内部電極 4bの他端部が外部電極 8と電気的に接 続されている。
[0006] また、第 1の内部電極 4bと第 2の内部電極 5bの各一端部力 同一平面上において ギャップ 6bを隔てて対向されている。第 1の内部電極 4bの他端部が外部電極 7と電 気的に接続されており、第 2の内部電極 5bの他端部が外部電極 8と電気的に接続さ れている。
[0007] ギャップ 6aとギャップ 6bとは、積層焼結体 3の内部で、複数のサーミスタ層 2の積層 方向に沿っては交互に配置されている。また、ギャップ 6aとギャップ 6bとは、積層焼 結体 3の積層方向とほぼ直交する方向において異なった位置に形成されている。
[0008] 図 8は、第 2の従来例を示す断面図であり、図 7と同様、抵抗素子が NTCサーミスタ の例である。
[0009] 図 8に示されている積層型 NTCサーミスタ 11では、複数のサーミスタ層 12がー体 焼結された積層焼結体 13の内部に、第 1の内部電極 14a,第 2の内部電極 14bが設 けられている。また、第 1の内部電極 14a,第 2の内部電極 14bとサーミスタ層 12を介 して対向するように、内部電極 16が形成されている。積層焼結体 12の外表面、具体 的には、両端部には外部電極 17, 18がそれぞれ形成されている。
[0010] 第 1の内部電極 14aと第 2の内部電極 14bのそれぞれの一端部同士が同一平面上 においてギャップ 15を隔てて対向して形成されている。第 1の内部電極 14aの他端 部が外部電極 17に電気的に接続されており、第 2の内部電極 14bの他端部が外部 電極 18に電気的に接続されている。
[0011] 内部電極 16は、その両端部は積層焼結体 13の外表面に導出されておらず、外部 電極 17, 18には電気的に接続されて!ヽな 、非接続型の内部電極である。
[0012] 第 1の従来例の積層型抵抗素子の抵抗値は、第 1の内部電極 4aと第 2の内部電極 5aとで形成されるギャップ 6aの間隔,第 1の内部電極 4bと第 2の内部電極 5bとで形 成されるギャップ 6bの間隔、および第 1の内部電極 4aと第 2の内部電極 5bとの重なり 合う面積および間隔で決定される。
[0013] また、第 2の従来例の積層型抵抗素子の抵抗値は、第 1の内部電極 14aと第 2の内 部電極 14bとで形成されているギャップ 15の間隔と、第 1の内部電極 14aと非接続型 内部電極 16との重なり合う面積および両者の間の間隔と、さらに第 2の内部電極 14b と非接続型内部電極 16との重なり合う面積および両者の間の間隔で決定される。
[0014] 下記の特許文献 3には、第 3の例の積層型抵抗素子が開示されている。特許文献 3 に開示されている抵抗素子では、負特性サーミスタ素体内において、サーミスタ素体 層を介して重なり合うように第 1,第 2の内部電極が配置されており、第の内部電極が 負特性サーミスタ素体の一端に引き出されており、他方の内部電極が他端に引き出 されている。そして、サーミスタ素体の両端には、第 1,第 2の外部電極が形成されて いる。また、サーミスタ素体には、サーミスタ素体を構成する材料とは異なる抵抗性材 料カゝらなる抵抗体層が積層されている。そして、抵抗体層の内部には、同一平面上 において一方端同士がギャップを隔てて対向されている一対の内部電極が形成され ている。この内部電極の一方が第 1の外部電極に、他方が第 2の外部電極に電気的 に接続されている。
[0015] ここでは、上記抵抗体層の材料特性や形状のみならず、上記抵抗体層内の一対の 電極のパターン調整によって抵抗値を設定することができ、それによつて抵抗値の設 定の自由度が高められるとされている。
[0016] また、下記の特許文献 4には、第 4の例の積層型抵抗素子としての NTCサーミスタ が開示されている。すなわち、積層型の抵抗体内に、同一平面においてそれぞれの 内側端同士がギャップを隔てて対向されている複数対の内部電極が設けられている NTCサーミスタが開示されている。ここでは、各対の内部電極のうち一方の内部電極 が抵抗体の一方端面に設けられた第 1の外部電極に電気的に接続され、他方の内 部電極が抵抗体の他方端面に形成された第 2の外部電極に電気的に接続されてい る。そして、抵抗体の上面に対して垂直な方向から見た場合、複数対のうちの上記一 方の内部電極と他方の内部電極とが重ならな 、ように配置されて 、る。この NTCサ 一ミスタでは、同一平面上に配置された一対の内部電極間のギャップの間隔によつ て抵抗値が決定されるため、抵抗値のばらつきを小さくすることができるとされている 特許文献 1:特開平 05— 243007号公報
特許文献 2 :特開平 10- 247601号公報
特許文献 3:特開 2000 - 124008号公報
特許文献 4:実開平 6— 34201号公報
発明の開示
[0017] 第 1、第 2の従来例の積層型抵抗素子の抵抗値を調整する場合には、各内部電極 の積層数を増カロさせたり、減少させたりしていた。し力しながら、抵抗値を調整する場 合、第 1の従来例では、サーミスタ層 2を介して対向されている内部電極 4a、 4b、 5a 、 5bの数が増減されるため、抵抗値の変化幅が大きぐ抵抗値を微調整することが困 難であった。第 2の従来例では、サーミスタ層 12を介して対向されている内部電極 14 a、 14b、および内部電極 16からなるユニットの数が増減されていた。従って、やはり 抵抗値の変化幅が大きぐ抵抗値の微調整が困難であった。 [0018] 他方、上記第 3の従来例の積層型抵抗素子では、抵抗体層が負特性サーミスタ素 体とは異なる材料で形成されているため、製造工程が煩雑になり、コストが高くつかざ るを得な力 た。また、抵抗体層の厚みを、サーミスタ素体の厚みより十分薄くする必 要があるため、抵抗体及び内部電極の設計が制約されざるを得な力つた。そのため 、低抵抗化及び抵抗値の微調整が困難であった。
[0019] また、上記特許文献 4に記載の NTCサーミスタでは、抵抗値のばらつきを小さくす ることはできるものの、低抵抗ィ匕には限界があった。これは、同一平面上においてギ ヤップを隔てて配置されている各対の内部電極において、上記ギャップの大きさを小 さくすると、抵抗値を小さくすることはできる。しかしながら、ギャップが小さくなると、短 絡が生じ易くなるため、低抵抗ィ匕には限界があった。
[0020] 本発明の目的は、上述した従来技術の問題点に鑑み、内部電極を有する積層焼 結体を用いた積層型抵抗素子にお!ヽて、抵抗値を微調整することを可能とする構造 が備えられた積層型抵抗素子を提供することにある。
[0021] 本発明のある広い局面によれば、複数のセラミック抵抗層と複数の内部電極とが積 層されている積層焼結体と、前記積層焼結体の外表面に形成された第 1の外部電極 及び第 2の外部電極とを備え、前記複数の内部電極は、第 1のグループの複数の内 部電極と、第 2のグループの複数の内部電極とを有し、前記第 1のグループの複数の 内部電極は、上記セラミック抵抗層を介して対向するように配置された少なくとも 2枚 の内部電極を有する抵抗ユニットを有し、該抵抗ユニットの一端が前記第 1の外部電 極に、他端が前記第 2の外部電極に電気的に接続されており、前記第 2のグループ の内部電極は、それぞれの一端同士が前記積層焼結体内の同一平面上において ギャップを隔てて対向されている複数対の内部電極を有し、各対の内部電極の一方 が前記第 1の外部電極に、他方が前記第 2の外部電極に電気的に接続されているこ とを特徴とする、積層型抵抗素子が提供される。
[0022] 本発明に係る積層型抵抗素子のある特定の局面では、前記第 2のグループの複数 のギャップが、前記積層焼結体内にお!、て積層方向にぉ 、て重なり合う位置に形成 されている。
[0023] 本発明に係る積層型抵抗素子の他の特定の局面では、前記第 1のグループの内 部電極が、前記第 1の外部電極に電気的に接続された第 1の分割内部電極と、前記 第 2の外部電極に電気的に接続された第 2の分割内部電極とを有し、前記第 1,第 2 の分割内部電極のそれぞれの一端同士が同一平面上においてギャップを隔てて対 向されており、前記第 2の内部電極グループの各 1対の内部電極のうち、第 1の外部 電極に電気的に接続されている内部電極を第 3の内部電極、第 2の外部電極に電気 的に接続されて ヽる他方の内部電極を第 4の内部電極としたときに、前記第 1のダル ープのギャップであって、前記第 2のグループに最も近いギャップ力 前記第 2のグル 一プの第 3,第 4の内部電極間のギャップであって、第 1のグループに最も近いギヤッ プと積層方向にぉ 、て重なり合う位置に配置されて 、る。
[0024] 上記第 1のグループの内部電極の構成は本発明においては種々変形することがで きる。
[0025] すなわち、本発明の更に他の特定の局面では、前記第 1,第 2の分割内部電極か らなる電極対が複数対積層されており、積層方向において隣り合う電極対における ギャップが積層方向の一方側力も見たときに異なる位置に形成されている。
[0026] また、本発明の積層型抵抗素子の更に他の特定の局面では、前記第 1のグループ の内部電極において、前記第 1,第 2の分割内部電極にセラミック抵抗層を介して重 なり合うように配置された非接続型内部電極を更に備える。
[0027] 本発明に係る積層型抵抗素子の更に別の特定の局面では、前記第 1のグループ の内部電極が、前記第 1の外部電極に電気的に接続された第 1の内部電極と、前記 第 2の外部電極に電気的に接続された第 2の内部電極とを有し、前記第 1, 2の内部 電極が、セラミック層を介して重なり合うように配置されて!、る。
[0028] 上記第 1の内部電極の構成が異なる上記 3つの対応の積層型抵抗素子は、より具 体的には、以下の第 1一第 3の手段として表現することができる。
[0029] 本発明の第 1の手段としての積層型抵抗素子は、複数のセラミック抵抗層と内部電 極が積層されている積層焼結体と、前記積層焼結体の外表面に形成された第 1の外 部電極と第 2の外部電極とを備え、前記内部電極は、第 1グループの内部電極と、第 2グループの内部電極とからなり、前記第 1グループの内部電極は、その一端が前記 積層焼結体内で同一平面上にギャップを隔てて対向して形成され、その他端が前記 第 1の外部電極、第 2の外部電極にそれぞれ接続された第 1の内部電極、第 2の内 部電極とからなり、前記積層焼結体の積層方向に沿って隣り合う前記第 1、第 2の各 内部電極のギャップが前記積層焼結体の積層方向に沿って互いに異なる位置に形 成されており、前記第 2グループの内部電極は、その一端が前記積層焼結体内で同 一平面上にギャップを隔てて対向して形成され、その他端が前記第 1の外部電極、 第 2の外部電極にそれぞれ接続された第 3の内部電極、第 4の内部電極とからなり、 第 3の内部電極、第 4の内部電極によって形成されている前記ギャップが前記積層 焼結体の積層方向に沿って同じ位置にあることを特徴とする積層型抵抗素子である
[0030] また、このような課題を解決する第 2の手段は、複数のセラミック抵抗層と内部電極 が積層されている積層焼結体と、前記積層焼結体の外表面に形成された第 1の外部 電極と第 2の外部電極とを備え、前記内部電極は、第 1グループの内部電極と、第 2 グループの内部電極とからなり、前記第 1グループの内部電極は、その一端が前記 積層焼結体内で同一平面上にギャップを隔てて対向して形成され、その他端が前記 第 1の外部電極、第 2の外部電極にそれぞれ接続された第 1の内部電極、第 2の内 部電極と、第 1の内部電極と第 2の内部電極と前記セラミック抵抗層を介して前記積 層焼結体の積層方向に重なるように形成され、第 1、第 2の外部電極とは接続されな い非接続型の内部電極とからなり、前記第 2グループの内部電極は、その一端が前 記積層焼結体内で同一平面上にギャップを隔てて対向して形成され、その他端が前 記第 1の外部電極、第 2の外部電極にそれぞれ接続された第 3の内部電極、第 4の 内部電極とからなり、第 3の内部電極、第 4の内部電極によって形成されている前記 ギャップが前記積層焼結体の積層方向に沿って同じ位置にあることを特徴とする積 層型抵抗素子である。
[0031] 第 3の手段は、複数のセラミック抵抗層と内部電極が積層されている積層焼結体と 、前記積層焼結体の外表面に形成された第 1の外部電極と第 2の外部電極とを備え 、前記内部電極は、第 1グループの内部電極と、第 2グループの内部電極とからなり 、前記第 1グループの内部電極は、前記セラミック抵抗層を介して互いに対向し、前 記第 1の外部電極に接続される第 1内部電極と前記第 2の外部電極に接続される第 2内部電極とからなり、前記 2グループの内部電極は、その一端が前記積層焼結体 内で同一平面上にギャップを隔てて対向して形成され、その他端が前記第 1の外部 電極、第 2の外部電極にそれぞれ接続された第 3の内部電極、第 4の内部電極とから なり、第 3の内部電極、第 4の内部電極によって形成されている前記ギャップが前記 積層焼結体の積層方向に沿って同じ位置にあることを特徴とする積層型抵抗素子で める。
[0032] この発明の積層型抵抗素子は、積層焼結体の内部に第 2グループの内部電極を 形成することにより抵抗値の微調整を行うことができる。つまり、第 2グループの内部 電極を構成している複数対の内部電極において、各対の内部電極が積層焼結体内 の同一平面においてギャップを隔てて配置されている。このギャップ間で決定される 抵抗値は小さいため、複数対の内部電極における上記ギャップの大きさ及び複数対 の内部電極の対数を変更することにより、積層型の抵抗素子の抵抗値を微妙に調整 することができる。すなわち、第 1のグループの内部電極が構成されている部分で決 定される抵抗値にあまり影響を与えずに、第 2のグループの内部電極が構成されて いる部分の調整により抵抗値を微調整することができる。
[0033] また、積層焼結体の設計、つまり、セラミック抵抗層と内部電極を積層する技術と同 じ工程で抵抗値の設計、設定ができるので、抵抗値の微調整が容易に行うことがで きる。
図面の簡単な説明
[0034] [図 1]図 1はこの発明の積層型抵抗素子の第 1実施例を示す断面図である。
[図 2]図 2はこの発明の積層型抵抗素子の第 2実施例を示す断面図である。
[図 3]図 3はこの発明の積層型抵抗素子の第 3実施例を示す断面図である。
[図 4]図 4は本発明の積層型抵抗素子を用いて抵抗値の微調整を図る工程を説明す るための積層型抵抗素子の変更例を示す正面断面図である。
[図 5]図 5は図 4に示した積層型抵抗素子力ゝら第 2グループ内部電極の積層数を増大 させて得られた積層型抵抗素子の正面断面図である。
[図 6]図 6は図 4に示した積層型抵抗素子力ゝら第 2グループ内部電極の積層数を減少 させて得られた積層型抵抗素子の正面断面図である。 [図 7]図 7は従来の積層型抵抗素子の第 1従来例を示す断面図である。
[図 8]図 8は従来の積層型抵抗素子の第 2従来例を示す断面図である。
符号の説明
[0035] 21、 31、 41 · · ·積層型抵抗素子
23、 33、 43…積層型焼結体
24a, 24b、 34a, 44· · ·第 1の内部電極
25a, 25b、 34b、 45· · ·第 2の内部電極
36· · ·内部電極 (非接続型内部電極)
28、 38、 48· "ギャップ
29、 30、 39、 40、 49、 50· · ·外部電極
51…積層型抵抗素子
発明を実施するための最良の形態
[0036] (実施例 1)
図 1は、積層型抵抗素子の第 1実施例の断面図である。
[0037] 図 1に示されて ヽる積層型抵抗素子 21は、複数のセラミック抵抗層としての複数の NTCサーミスタ層 22が積層されて一体焼結された積層焼結体 23を有する。積層焼 結体 23の内部には、第 1の内部電極 24a, 24b、第 2の内部電極 25a, 25bが設けら れている。積層焼結体 23の外表面、具体的には、両端部には外部電極 29, 30がそ れぞれ形成されている。
[0038] 第 1の分割内部電極としての第 1の内部電極 24aと、第 2の分割内部電極としての 内部電極 25aのそれぞれの一端部同士力 同一平面上においてギャップ 26aを隔て て対向して形成されている。第 1の内部電極 24aの他端部が外部電極 29と電気的に 接続されており、第 2の内部電極 25aの他端部が外部電極 30と電気的に接続されて いる。
なお、分割内部電極は、同一平面上にある内部電極を 1つの纏まりとして見た場合 に、ギャップにより隔てられた電極の 1つを指す。例えば内部電極 24a、内部電極 25 aを同一平面上にあるひと纏まりとし、ギャップによって隔てられたそれぞれを分割内 部電極 24a、分割内部電極 25aと呼んでよい。また、この内部電極 25aが例えば内部 電極 24bとサーミスタ層を介して重なり合う場合には、単に内部電極と呼んで良い。
[0039] また、分割内部電極としての第 1の内部電極 24bと、分割内部電極としての第 2の 内部電極 25bのそれぞれの一端部同士力 同一平面上においてギャップ 26bを隔て て対向して形成されている。第 1の内部電極 24bの他端部が外部電極 29と電気的に 接続されており、第 2の内部電極 25bの他端部が外部電極 30と電気的に接続されて いる。
[0040] ギャップ 26aとギャップ 26bとは、積層焼結体 23の内部で、複数のサーミスタ層 22 の積層方向に沿って、隣り合う位置に配置されている。また、ギャップ 26aとギャップ 2 6bとは、積層焼結体 23の積層方向とほぼ直交する方向であって積層焼結体 23の両 端部を結ぶ方向においては異なった位置に形成されている。以上の第 1の内部電極 24a, 24bによる構成は本発明の第 1の内部電極グループ Aに対応する。ここでは、 2枚の内部電極 24b, 24bが内部電極 25aの上下にセラミック抵抗層としてのサーミ スタ層を介して重なり合って 、る部分を有する抵抗ユニットが構成されて 、る。この抵 抗ユニットの一部が第 1の外部電極 29に、他端が第 2の外部電極 30に接続されてい る。なお、本実施例では、第 1の内部電極グループ Aにおける上記抵抗ユニットでは 、内部電極 24b, 24b及び内部電極 24a、すなわち 3枚の内部電極がサーミスタ層を 介して重なり合うように配置されていた力 本発明においては、少なくとも 2枚の内部 電極がセラミック抵抗層を介して対向されておればよぐセラミック抵抗層を介して対 向されて!ヽる内部電極の積層数は特に限定されな ヽ。
[0041] この積層型サーミスタ 21は、さらに次のような構成を備えている。すなわち、積層焼 結体 23の内部には、第 1の内部電極グループ Aの上に、第 2の内部電極グループ B が形成されている。
[0042] この第 2の内部電極グループ Bは次のような構成力もなる。複数のサーミスタ層 22 がー体焼結された積層焼結体 23の内部に、第 3の内部電極 27aと第 4の内部電極 2 7bを有する。第 3の内部電極 27aと第 4の内部電極 27bのそれぞれの一端部同士が 、積層焼結体 23の内部の同一平面上においてギャップ 28を隔てて対向して形成さ れている。第 3の内部電極 27aの他端部が外部電極 29と電気的に接続されており、 第 4の内部電極 27bの他端部が外部電極 30と電気的に接続されている。 [0043] 第 2の内部電極グループ Bのギャップ 28は、積層焼結体 23の内部で、複数のサー ミスタ層 22の積層方向の一端側、例えば上方からみたときに、同じ位置に形成され ている。図 1に示したギャップ 28は外部電極 30に近い位置に形成されている。また、 このギャップ 28は、第 1の内部電極グループ Aのギャップ 26aとは、サーミスタ層の積 層方向一端側から見た場合には異なる位置、より具体的には、積層焼結体 23の両 端部を結ぶ方向において異なる位置に形成されている。なお、図 1に示した第 2の内 部電極グループ Bでは、第 3の内部電極 27aと第 4の内部電極 27bとからなる電極対 である組み合わせが 3組積層されている力 この組み合わせの層数は目標抵抗値に 合わせて設計すればよい。また、図 1において、第 1の内部電極グループ Aと第 2の 内部電極グループ Bとの間に存在する NTCサーミスタ層 22aの厚みは、その他の N TCサーミスタ層 22と比べて厚くして 、るが、同じ厚みにしてもよ!、。
[0044] 第 1の実施例に係る積層型抵抗素子において、抵抗値は次のようにして決定される 。つまり、第 1の内部電極グループ Aでは、第 1の内部電極 24a, 25aと第 2の内部電 極 24b, 25bとで形成されるギャップ 26a, 26bの間隔と、第 1の内部電極 24aと第 2 の内部電極 25bとの重なり合う面積および間隔で決定される。さらに、第 2の内部電 極グループ Bでは、第 3の内部電極 27aと第 4の内部電極 27bとで形成されるギヤッ プ 28の間隔で抵抗値が決定される。したがって、積層型抵抗素子の抵抗値は、第 1 の内部電極グループ Aと第 2の内部電極グループ Bの各抵抗値の合成抵抗値になる 。このうち、第 2の内部電極グループ Bにおいては、ギャップ 28の大きさで抵抗値が 決まる力 ギャップ 28間で形成される抵抗値は小さな値である。
[0045] また、第 1の実施例では、第 2の内部電極グループ Bにおいて、内部電極 27a及び 内部電極 27bからなる電極対である組み合わせが 3組積層されて 、たため、 3つのギ ヤップ 28がサーミスタ層 22の積層方向において隣り合っており、かつ積層方向の一 端側から見たときには重なり合うように配置されている。言い換えれば、 1つのサーミ スタ層 22を介して両側のギャップ 28, 28が対向されている。このように、複数のギヤッ プ 28が第 2の内部電極グループ Bに配置されており、かつ複数のギャップがサーミス タ層 22を介して重なり合うように配置されているので、 1つのギャップ 28の間隔により 形成される抵抗値が小さ 、だけでなぐ複数のギャップ 28の間隔によって決定される 上記第 2の電極グループ Bの抵抗値も小さな値である。したがって、この第 2の内部 電極グループにより、積層型抵抗素子全体の抵抗値の微調整が可能となる。
[0046] 更に、第 1の実施例の積層型サーミスタ 21では、上記のようにして抵抗値を微調整 し得るだけでなぐ抵抗値の微調整をより高精度に行うことができるという利点を有す る。すなわち、第 1の実施例の積層型サーミスタ 21では、サーミスタ層 22aを介して隣 り合っている、第 1グループ内部電極の第 1の内部電極 24bと第 2の内部電極 25bと の間のギャップ 26bと、第 2グループ内部電極の第 3の内部電極 27aと、第 4の内部 電極 27bとの間のギャップ 28とが積層方向力も見たときに、同じ位置に、すなわち重 なり合うように配置されている。これをより明瞭に示すために、図 1において、上記積 層方向から見たときに同 f立置において位置するように近接し得るギャップに参照符 号 X及び Yを付することとする。
[0047] 図 1から明らかなように、第 1グループ内部電極におけるギャップ 26aのうち、第 2グ ループ内部電極に最も近 、ギャップ X力 第 2グループ内部電極におけるギャップ 2 8のうち最も第 1グループ内部電極に近いギャップ Y力 積層方向力 見たときに同じ 位置に形成されている。
[0048] このことは、言 、換えれば、ギャップ X,ギャップ Yを構成するために配置されて 、る 第 1の内部電極 24b及び第 2の内部電極 25bと、第 3の内部電極 27a及び第 4の内 部電極 27bの形状と同じとすることができることを意味する。本実施例では、サーミス タ層 22の上面の内部電極パターンと、下面の内部電極パターンとが同一とされてお り、上記ギャップ X, Yが積層方向一端側から見たときに同じ位置とされているため、 抵抗値の微調整をより高精度に行うことができる。これは、第 1グループ内部電極のう ちギャップ Xを構成している内部電極 24b, 25bの内側端と、ギャップ Yを構成してい る第 2グループ内部電極のうちの第 3,第 4の内部電極 27a, 27bの内側端の位置が 揃い、それによつて電流経路が均等になり、抵抗値のばらつきを更に減少させること 力でさることによる。
[0049] 従って、好ましくは、第 1グループ内部電極と第 2グループ内部電極とを積層方向 に並設配置した場合、第 1グループ内部電極と第 2グループ内部電極の近接し合つ て 、る内部電極同士にぉ 、て、上記のようなギャップがそれぞれ設けられて 、る場合 には、ギャップの位置を積層方向からみて同じ位置、すなわち重なり合うように配置 することが望ましい。
[0050] もっとも、本発明おいては、第 2グループ内部電極は、第 1グループ内部電極の上 方または下方に並設される必要は必ずしもなぐ第 2グループ内部電極が設けられて いる部分中に第 1グループ内部電極が配置されてもよい。
[0051] (実施例 2)
図 2は、この積層型抵抗素子の第 2実施例の断面図である。
[0052] 図 2に示されている積層型抵抗素子 31は、複数の NTCサーミスタ層 32が積層され て一体焼結された積層焼結体 33を有する。積層焼結体 33の内部には、第 1の内部 電極 34a,第 2の内部電極 34bから形成されている。また、第 1の内部電極 34a,第 2 の内部電極 34bとサーミスタ層 32を介して対向するように内部電極 36が形成されて いる。積層焼結体 32の外表面、具体的には、両端部には外部電極 39, 40がそれぞ れ形成されている。
[0053] 分割内部電極としての第 1の内部電極 34aと、分割内部電極としての第 2の内部電 極 34bのそれぞれ一端部同士が積層焼結体 33の内部で同一平面上においてギヤッ プ 35を隔てて対向されている。第 1の内部電極 34aの他端部が外部電極 39と電気 的に接続されており、第 2の内部電極 34bの他端部が外部電極 40と電気的に接続さ れている。
[0054] 内部電極 36は、その両端部は積層焼結体 33の外表面に導出されておらず、外部 電極 39, 40には電気的に接続されていない非接続型の内部電極である。以上の第 1の内部電極 34a,第 2の内部電極 34b、および非接続型の内部電極 36による構成 は本発明の第 1グループの内部電極 Cに対応する。
なお、第 1グループの内部電極 Cにおいては、上記第 1の内部電極 34a及び第 2の 内部電極 34bと、非接続型の内部電極 36とがサーミスタ層を介して重なり合つている 。すなわち、内部電極 34a, 34b及び非接続型内部電極 36を有する抵抗ユニットが 構成されている。この抵抗ユニットの一端が第 1の外部電極 39に、他端が第 2の外部 電極 40に接続されている。
また、本実施例においても、第 1のグループの内部電極 Cにおいては、サーミスタ 層を介して重なり合うように配置された内部電極は少なくとも 2枚存在すればよぐ言 い換えれば、内部電極によって挟まれたセラミック抵抗層の数は 1以上であればよぐ 特に限定されない。
[0055] この積層型サーミスタ 31は、さらに次のような構成を備えている。つまり、積層焼結 体 33の内部には、第 1グループの内部電極 Cに隣接して、第 2グループの内部電極 Dが形成されている。
[0056] この第 2グループの内部電極 Dは次のような構成力もなる。複数のサーミスタ層 32 が積層され一体焼結された積層焼結体 33の内部に、第 3の内部電極 37aと第 4の内 部電極 37bを有する。第 3の内部電極 37aと第 4の内部電極 37bのそれぞれの一端 部同士は、積層焼結体 33の内部で同一平面上においてギャップ 38を隔てて対向さ れている。第 3の内部電極 37aの他端部が外部電極 39と電気的に接続されており、 第 4の内部電極 37bの他端部が外部電極 40と電気的に接続されている。
[0057] 第 2グループの内部電極 Dのギャップ 38は、積層焼結体 33の内部で、複数のサー ミスタ層 32の積層方向に沿って同じ位置に形成されている。図 2に示したギャップ 38 は積層焼結体 33の両端部からほぼ同じ距離、つまりほぼ中央部に位置に形成され ている。また、このギャップ 38は、第 1の内部電極グループ Cのギャップ 35とは、サー ミスタ層 32の積層方向から見た場合同じ位置、より具体的には積層焼結体 33の両 端部を結ぶ方向において同じ位置に形成されて!、るが、異なる位置に形成してもよ い。また、図 2に示した第 2の内部電極グループ Dは、第 3の内部電極 37aと第 4の内 部電極 37bがそれぞれ 3層形成されている力 この層数は目標抵抗値に合わせて設 計すればよい。また、図 2において、第 1の内部電極グループ Cと第 2の内部電極グ ループ Dとの間に存在する NTCサーミスタ層 32aの厚みは、その他の NTCサーミス タ層 32と比べて厚くして 、るが、同じ厚みにしてもよ!、。
[0058] この第 2の実施例に係る積層型抵抗素子において、抵抗値は次のようにして決定さ れる。つまり、第 1グループの内部電極 Cでは、第 1の内部電極 34aと第 2の内部電極 34bとで形成されているギャップ 35の間隔と、第 1の内部電極 34aと非接続型内部電 極 36との重なり合う面積および両者の間隔と、さらに第 2の内部電極 34bと非接続型 内部電極 36との重なり合う面積および両者の間隔で決定される。さら〖こは、第 2ダル ープの内部電極 Dでは、第 3の内部電極 37aと第 4の内部電極 37bとで形成されるギ ヤップ 38の間隔で抵抗値が決定される。したがって、積層型抵抗素子の抵抗値は、 第 1グループの内部電極 Cと第 2グループの内部電極 Dの各抵抗値の合成抵抗値に なる。このうち、第 2グループの内部電極 Dにおいては、ギャップ 38の間隔で抵抗値 が決まるが、複数のギャップ 38の位置はサーミスタ層 32の積層方向に沿って、隣り 合う位置にあるとともに同じ位置に形成されており、ギャップ 38の間隔で決定される 抵抗値は小さな値である。したがって、この第 2グループの内部電極 Dにより、積層型 抵抗素子全体の抵抗値の微調整が可能となる。
[0059] (実施例 3)
図 3は、この積層型抵抗素子の第 3実施例の断面図である。
[0060] 図 3に示されている積層型抵抗素子 41では、複数の NTCサーミスタ層 42が積層さ れて一体焼結された積層焼結体 43の内部に、第 1の内部電極 44、第 2の内部電極 45が形成されている。積層焼結体 43の外表面、具体的には、両端部には外部電極 49, 50がそれぞれ形成されている。
[0061] 第 1の内部電極 44と第 2の内部電極 45は、それぞれ一端部が積層焼結体 43の一 方の端部に至る方向に形成されている。第 1の内部電極 44の他端部力 外部電極 4 9と電気的に接続されており、第 2の内部電極 45の他端部が、外部電極 50と電気的 に接続されている。以上の第 1の内部電極 44, 45による構成は本発明の第 1グルー プの内部電極 Eに対応する。
本実施例では、第 1グループの内部電極 Eにおいて、複数の内部電極 44, 45がセ ラミック抵抗層としてのサーミスタ層を介して重なり合うように配置されている。この複 数の内部電極 44, 45を有する抵抗ユニットが構成されており、該抵抗ユニットの一端 が外部電極 49に、他端が外部電極 50に接続されている。
なお、上記抵抗ユニットを構成している、サーミスタ層を介して重なり合つている内 部電極の積層数は図 3に示したように 4枚に限定されない。すなわち、少なくとも 2枚 以上の内部電極がサーミスタ層を介して重なり合うように配置されておればよい。言 い換えれば、内部電極間に挟まれる抵抗値を取り出すためのセラミック抵抗層の層 数は 1以上、任意の数とされ得る。 [0062] この積層型サーミスタ 41は、さらに次のような構成を備えている。つまり、積層焼結 体 43の内部には、第 1グループの内部電極 Eに隣接して、第 2グループの内部電極 Fが形成されている。
[0063] この第 2グループの内部電極 Fは次のような構成力もなる。複数のサーミスタ層 42 が積層され一体焼結された積層焼結体 43の内部には、第 3の内部電極 47aと第 4の 内部電極 47bとが形成されて 、る。第 3の内部電極 47aと第 4の内部電極 47bのそれ ぞれの一端部同士が積層焼結体 43の内部で同一平面上においてギャップ 48を隔 てて対向して形成されている。第 3の内部電極 47aの他端部が外部電極 49と電気的 に接続されており、第 4の内部電極 47bの他端部が外部電極 50と電気的に接続され ている。
[0064] 第 2グループの内部電極 Fの複数のギャップ 48は、積層焼結体 43の内部で、複数 のサーミスタ層 42の積層方向に沿って、隣り合う位置にあるとともに積層方向から見 たときに同じ位置に形成されて ヽる。図 3に示したギャップ 48は外部電極 50に近 ヽ 位置に形成されている。なお、図 3に示した第 2の内部電極グループ Fでは、第 3の 内部電極 47aと第 4の内部電極 47bが 3層形成されている力 少なくとも 2層形成され ていればよい。
[0065] この第 3の実施例に係る積層型抵抗素子において、抵抗値は次のようにして決定さ れる。つまり、第 1グループの内部電極 Eでは、第 1の内部電極 44と第 2の内部電極 4 5との重なり合う面積および両者の間隔で決定される。さらに、第 2グループの内部電 極 Fでは、第 3の内部電極 47aと第 4の内部電極 47bとで形成されるギャップ 48で抵 抗値が決定される。したがって、積層型抵抗素子の抵抗値は、第 1の内部電極ダル ープ Eと第 2の内部電極グループ Fの各抵抗値の合成抵抗値になる。このうち、第 2 の内部電極グループ Fにおいては、ギャップ 48間で抵抗値が決まる力 ギャップ位 置はサーミスタ層 42の積層方向に沿って、隣り合う位置にあるとともに積層方向から 見たときに同じ位置に形成されており、複数のギャップ 48間で形成される抵抗値は 小さな値である。したがって、この第 2グループの内部電極 Fにより、積層型抵抗素子 全体の抵抗値の微調整が可能となる。
[0066] 次に、本発明の積層型抵抗素子を用いた場合、第 2グループ内部電極の積層数の 増減により、抵抗値を微妙に調整することが可能であることをより具体的に説明する。
[0067] 図 4は、図 2に示した実施例の抵抗型サーミスタ 31の変更例に係る積層型サーミス タ 51の正面断面図である。積層型サーミスタ 51は、図 2に示されている最上層の第 1 の内部電極 34a及び第 2の内部電極 34bが設けられて ヽな 、ことを除 、ては同様と されている。従って、同一部分については、同一の参照番号を付することにより、図 2 に示した説明を引用することとする。
[0068] 図 4に示す、例えばある特定のサーミスタ材料を用いて製造し、設計抵抗値が 470 00 Ωの積層型サーミスタ 51を試作したとする。しかしながら、現実には、使用するサ 一ミスタ材料のばらつきが生じ、得られた積層型サーミスタ 51の抵抗値が変動するこ とがある。例えば、サーミスタ材料の抵抗率が高くなつた場合には、抵抗値は 47000 Ωよりも高くなる。例えば、 47734 Ω程度となった場合には、上記第 2グループ内部 電極の内部電極対数を図 5に示すように 1層増加させればよい。このようにして、第 1 グループ内部電極の第 3,第 4の内部電極 37a, 37b力もなる電極対の対数を 1対増 カロさせることにより、約 4. 0%程度抵抗値を低めることができ、目標抵抗値 47000 Ω を得ることができる。
[0069] また、逆に、使用したサーミスタ材料の抵抗率が小さくなつた場合には、目標抵抗 値よりも抵抗値が低い積層型サーミスタ 51が得られることになる。すなわち、図 4に示 した積層型サーミスタ 51を試作したところ、抵抗値が 45825 Ω程度となった場合には 、逆に図 6に示すように、第 1グループ内部電極における上記第 3,第 4の内部電極 3 7a, 37bからなる電極対数を 1対減少させ、 2対とすればよい。この場合、約 2. 5%程 度抵抗値を高めることができ、やはり目標抵抗値 47000 Ωを実現することができる。
[0070] 上記のように、本発明の積層型抵抗素子では、第 1グループ内部電極における第 3 ,第 4の内部電極からなる電極対の対数を増減することにより、抵抗値を微妙に調整 し得ることがわかる。この電極対数が増加する程、例えば抵抗値を 0. 5%程度のよう に、非常に細カゝく抵抗値を調整することができる。よって、電極積層数を変更すること により幅広い範囲に渡り、かつ非常に細力べ抵抗値を調整し得ることがわかる。
[0071] 上記した各実施例 1、 2、 3の積層型抵抗素子はいずれも NTCサーミスタの例を示 したが、このほ力 PTCサーミスタにも適用できるものである。

Claims

請求の範囲
[1] 複数のセラミック抵抗層と複数の内部電極とが積層されている積層焼結体と、
前記積層焼結体の外表面に形成された第 1の外部電極及び第 2の外部電極とを備 え、
前記複数の内部電極は、第 1のグループの複数の内部電極と、第 2のグループの 複数の内部電極とを有し、
前記第 1のグループの複数の内部電極は、上記セラミック抵抗層を介して対向する ように配置された少なくとも 2枚の内部電極を有する抵抗ユニットを有し、該抵抗ュ- ットの一端が前記第 1の外部電極に、他端が前記第 2の外部電極に電気的に接続さ れており、
前記第 2のグループの内部電極は、それぞれの一端同士が前記積層焼結体内の 同一平面上においてギャップを隔てて対向されている複数対の内部電極を有し、各 対の内部電極の一方が前記第 1の外部電極に、他方が前記第 2の外部電極に電気 的に接続されていることを特徴とする、積層型抵抗素子。
[2] 前記第 2のグループの複数のギャップ力 前記積層焼結体内において積層方向に お 、て重なり合う位置に形成されて 、る、請求項 1に記載の積層型抵抗素子。
[3] 前記第 1のグループの内部電極力 前記第 1の外部電極に電気的に接続された第 1の分割内部電極と、前記第 2の外部電極に電気的に接続された第 2の分割内部電 極とを有し、前記第 1,第 2の分割内部電極のそれぞれの一端同士が同一平面上に おいてギャップを隔てて対向されており、
前記第 2の内部電極グループの各 1対の内部電極のうち、第 1の外部電極に電気 的に接続されて!、る内部電極を第 3の内部電極、第 2の外部電極に電気的に接続さ れている他方の内部電極を第 4の内部電極としたときに、前記第 1のグループのギヤ ップであって、前記第 2のグループに最も近いギャップ力 前記第 2のグループの第 3 ,第 4の内部電極間のギャップであって、第 1のグループに最も近いギャップと積層方 向において重なり合う位置に配置されている、請求項 1または 2に記載の積層型抵抗 素子。
[4] 前記第 1,第 2の分割内部電極からなる電極対が複数対積層されており、積層方向 において隣り合う電極対におけるギャップが積層方向の一方側力 見たときに異なる 位置に形成されている、請求項 3に記載の積層型抵抗素子。
[5] 前記第 1のグループの内部電極において、前記第 1,第 2の分割内部電極にセラミ ック抵抗層を介して重なり合うように配置された非接続型内部電極を更に備える、請 求項 3に記載の積層型抵抗素子。
[6] 前記第 1のグループの内部電極力 前記第 1の外部電極に電気的に接続された第
1の内部電極と、前記第 2の外部電極に電気的に接続された第 2の内部電極とを有し
、前記第 1, 2の内部電極力 セラミック層を介して重なり合うように配置されている、 請求項 1または 2に記載の積層型抵抗素子。
[7] 複数のセラミック抵抗層と複数の内部電極とが積層されている積層焼結体と、 前記積層焼結体の外表面に形成された第 1の外部電極と第 2の外部電極とを備え 前記内部電極は、第 1グループの内部電極と、第 2グループの内部電極とからなり 前記第 1グループの内部電極は、その一端が前記積層焼結体内で同一平面上に おいてギャップを隔てて対向して形成され、その他端が前記第 1の外部電極、第 2の 外部電極にそれぞれ接続された第 1の内部電極、第 2の内部電極とからなり、前記積 層焼結体の積層方向において隣り合う前記第 1、第 2の各内部電極のギャップが前 記積層焼結体の積層方向から見たときに互いに異なる位置に形成されており、 前記第 2グループの内部電極は、その一端が前記積層焼結体内で同一平面上に ギャップを隔てて対向して形成され、その他端が前記第 1の外部電極、第 2の外部電 極にそれぞれ接続された 1対の第 3の内部電極、第 4の内部電極とからなり、第 3の 内部電極、第 4の内部電極によって形成されて ヽる前記ギャップが前記積層焼結体 の積層方向に沿って同じ位置にあることを特徴とする積層型抵抗素子。
[8] 複数のセラミック抵抗層と内部電極が積層されて 、る積層焼結体と、
前記積層焼結体の外表面に形成された第 1の外部電極と第 2の外部電極とを備え 前記内部電極は、第 1グループの内部電極と、第 2グループの内部電極とからなり 前記第 1グループの内部電極は、その一端が前記積層焼結体内で同一平面上に おいてギャップを隔てて対向して形成され、その他端が前記第 1の外部電極、第 2の 外部電極にそれぞれ接続された第 1の内部電極、第 2の内部電極と、第 1の内部電 極と第 2の内部電極と前記セラミック抵抗層を介して前記積層焼結体の積層方向に 重なるように形成され、第 1、第 2の外部電極とは接続されない非接続型の内部電極 とからなり、
前記第 2グループの内部電極は、その一端が前記積層焼結体内で同一平面上に ギャップを隔てて対向して形成され、その他端が前記第 1の外部電極、第 2の外部電 極にそれぞれ接続された第 3の内部電極、第 4の内部電極とからなり、第 3の内部電 極、第 4の内部電極によって形成されて ヽる前記ギャップが前記積層焼結体の積層 方向から見たときに同 Cf立置にあることを特徴とする積層型抵抗素子。
[9] 複数のセラミック抵抗層と内部電極が積層されて 、る積層焼結体と、
前記積層焼結体の外表面に形成された第 1の外部電極と第 2の外部電極とを備え 前記内部電極は、第 1グループの内部電極と、第 2グループの内部電極とからなり 前記第 1グループの内部電極は、前記セラミック抵抗層を介して互いに対向し、前 記第 1の外部電極に接続される第 1内部電極と前記第 2の外部電極に接続される第 2内部電極とからなり、
前記 2グループの内部電極は、その一端が前記積層焼結体内で同一平面上にギ ヤップを隔てて対向して形成され、その他端が前記第 1の外部電極、第 2の外部電極 にそれぞれ接続された第 3の内部電極、第 4の内部電極とからなり、第 3の内部電極 、第 4の内部電極によって形成されている前記ギャップが前記積層焼結体の積層方 向から見たときに同 Cf立置にあることを特徴とする積層型抵抗素子。
PCT/JP2004/016044 2003-10-31 2004-10-28 積層型抵抗素子 WO2005043556A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005515155A JP4419960B2 (ja) 2003-10-31 2004-10-28 積層型抵抗素子
US10/595,232 US7696677B2 (en) 2003-10-31 2004-10-28 Lamination-type resistance element
EP04793152.2A EP1679723B1 (en) 2003-10-31 2004-10-28 Multilayer resistive element

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003372846 2003-10-31
JP2003-372846 2003-10-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2005043556A1 true WO2005043556A1 (ja) 2005-05-12

Family

ID=34544055

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2004/016044 WO2005043556A1 (ja) 2003-10-31 2004-10-28 積層型抵抗素子

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7696677B2 (ja)
EP (1) EP1679723B1 (ja)
JP (1) JP4419960B2 (ja)
KR (1) KR100803916B1 (ja)
CN (2) CN104091663B (ja)
WO (1) WO2005043556A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013539605A (ja) * 2010-09-09 2013-10-24 エプコス アーゲー 抵抗素子及びその製造方法
CN112951533A (zh) * 2019-12-10 2021-06-11 广州创天电子科技有限公司 一种高压压敏电阻的制备方法及高压压敏电阻
JP2022535818A (ja) * 2019-06-03 2022-08-10 テーデーカー エレクトロニクス アーゲー コンポーネント及びコンポーネントの使用方法

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007046607A1 (de) 2007-09-28 2009-04-02 Epcos Ag Elektrisches Vielschichtbauelement sowie Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Vielschichtbauelements
TW201029285A (en) * 2009-01-16 2010-08-01 Inpaq Technology Co Ltd Over-current protection device and manufacturing method thereof
DE102009010212B4 (de) * 2009-02-23 2017-12-07 Epcos Ag Elektrisches Vielschichtbauelement
DE102009025716A1 (de) * 2009-06-20 2010-12-30 Forschungszentrum Jülich GmbH Messinstrument, elektrische Widerstandselemente und Messsystem zur Messung zeitveränderlicher magnetischer Felder oder Feldgradienten
DE102011014965B4 (de) * 2011-03-24 2014-11-13 Epcos Ag Elektrisches Vielschichtbauelement
KR101288151B1 (ko) * 2011-11-25 2013-07-19 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자부품 및 그 제조방법
DE102014107450A1 (de) * 2014-05-27 2015-12-03 Epcos Ag Elektronisches Bauelement
CN107004477B (zh) * 2014-11-07 2019-03-22 株式会社村田制作所 热敏电阻元件
DE102015116278A1 (de) * 2015-09-25 2017-03-30 Epcos Ag Überspannungsschutzbauelement und Verfahren zur Herstellung eines Überspannungsschutzbauelements
WO2020018746A1 (en) * 2018-07-18 2020-01-23 Hubbell Incorporated Voltage-dependent resistor device for protecting a plurality of conductors against a power surge
JP2021057556A (ja) * 2019-10-02 2021-04-08 Tdk株式会社 Ntcサーミスタ素子
JP7322793B2 (ja) * 2020-04-16 2023-08-08 Tdk株式会社 チップバリスタの製造方法及びチップバリスタ

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05243007A (ja) * 1992-02-27 1993-09-21 Murata Mfg Co Ltd 積層サーミスタ
JPH10247601A (ja) * 1997-03-04 1998-09-14 Murata Mfg Co Ltd Ntcサーミスタ素子

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6466903A (en) * 1987-09-07 1989-03-13 Murata Manufacturing Co Semiconductor ceramic having positive resistance temperature characteristic
US5075665A (en) * 1988-09-08 1991-12-24 Murata Manufacturing Co., Ltd. Laminated varistor
JPH02260605A (ja) * 1989-03-31 1990-10-23 Murata Mfg Co Ltd 積層型バリスタ
JPH0634201A (ja) 1992-07-17 1994-02-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 温風発生装置
JPH10270207A (ja) * 1997-03-27 1998-10-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多連形積層サーミスタ
JPH11111554A (ja) * 1997-09-30 1999-04-23 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミック電子部品およびそのトリミング方法
JPH11191506A (ja) * 1997-12-25 1999-07-13 Murata Mfg Co Ltd 積層型バリスタ
TW412755B (en) * 1998-02-10 2000-11-21 Murata Manufacturing Co Resistor elements and methods of producing same
US6236302B1 (en) * 1998-03-05 2001-05-22 Bourns, Inc. Multilayer conductive polymer device and method of manufacturing same
US6242997B1 (en) * 1998-03-05 2001-06-05 Bourns, Inc. Conductive polymer device and method of manufacturing same
JP2000188205A (ja) * 1998-10-16 2000-07-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd チップ形ptcサ―ミスタ
JP2000124008A (ja) * 1998-10-21 2000-04-28 Tdk Corp 複合チップサーミスタ電子部品およびその製造方法
TW432731B (en) * 1998-12-01 2001-05-01 Murata Manufacturing Co Multilayer piezoelectric part
JP3440883B2 (ja) * 1999-06-10 2003-08-25 株式会社村田製作所 チップ型負特性サーミスタ
JP2001035707A (ja) * 1999-07-26 2001-02-09 Tdk Corp 積層チップバリスタ
JP2001118731A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Murata Mfg Co Ltd チップ型複合電子部品およびその製造方法
JP2001237107A (ja) * 2000-02-22 2001-08-31 Koa Corp 積層型チップサーミスタ
KR100361310B1 (ko) * 2000-05-25 2002-11-18 (주) 래트론 스피넬계 페라이트를 이용한 부온도계수 서미스터 소자
US6717506B2 (en) * 2000-11-02 2004-04-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Chip-type resistor element
JP3829683B2 (ja) * 2000-11-02 2006-10-04 株式会社村田製作所 チップ型抵抗素子
JP2002252103A (ja) * 2001-02-22 2002-09-06 Murata Mfg Co Ltd 負特性サーミスタ装置及びその製造方法
DE10159451A1 (de) * 2001-12-04 2003-06-26 Epcos Ag Elektrisches Bauelement mit einem negativen Temperaturkoeffizienten
JP4135651B2 (ja) * 2003-03-26 2008-08-20 株式会社村田製作所 積層型正特性サーミスタ
JP4492216B2 (ja) * 2004-05-28 2010-06-30 株式会社村田製作所 積層型正特性サーミスタ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05243007A (ja) * 1992-02-27 1993-09-21 Murata Mfg Co Ltd 積層サーミスタ
JPH10247601A (ja) * 1997-03-04 1998-09-14 Murata Mfg Co Ltd Ntcサーミスタ素子

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013539605A (ja) * 2010-09-09 2013-10-24 エプコス アーゲー 抵抗素子及びその製造方法
US8947193B2 (en) 2010-09-09 2015-02-03 Epcos Ag Resistance component and method for producing a resistance component
JP2022535818A (ja) * 2019-06-03 2022-08-10 テーデーカー エレクトロニクス アーゲー コンポーネント及びコンポーネントの使用方法
CN112951533A (zh) * 2019-12-10 2021-06-11 广州创天电子科技有限公司 一种高压压敏电阻的制备方法及高压压敏电阻
CN112951533B (zh) * 2019-12-10 2022-08-23 广州创天电子科技有限公司 一种高压压敏电阻的制备方法及高压压敏电阻

Also Published As

Publication number Publication date
KR100803916B1 (ko) 2008-02-15
JP4419960B2 (ja) 2010-02-24
EP1679723A1 (en) 2006-07-12
CN1875438A (zh) 2006-12-06
JPWO2005043556A1 (ja) 2007-11-29
EP1679723B1 (en) 2017-09-06
US7696677B2 (en) 2010-04-13
US20060279172A1 (en) 2006-12-14
CN104091663A (zh) 2014-10-08
KR20060069519A (ko) 2006-06-21
EP1679723A4 (en) 2009-05-06
CN104091663B (zh) 2019-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2005043556A1 (ja) 積層型抵抗素子
US8159322B2 (en) Laminated coil
JP4167231B2 (ja) 積層コンデンサ、及び、積層コンデンサの等価直列抵抗調整方法
JP3393524B2 (ja) Ntcサーミスタ素子
WO2007060818A1 (ja) 積層コンデンサ
JP4335237B2 (ja) 貫通型積層コンデンサ
JP2009152404A (ja) 積層コンデンサアレイ
JP4415986B2 (ja) 積層型電子部品
JP4618362B2 (ja) 積層コンデンサの製造方法
JP4506759B2 (ja) 複合電子部品
JP5758506B2 (ja) 電気積層素子
JP2008042750A (ja) 積層型フィルタ
US8116064B2 (en) Multilayer capacitor
JP2003045741A (ja) 多端子型電子部品
JP4618361B2 (ja) 積層コンデンサの製造方法
JP2784862B2 (ja) 積層コンデンサ
JPH05243007A (ja) 積層サーミスタ
JP2003124007A (ja) Ntcサーミスタ素子
KR100334083B1 (ko) 서미스터 및 그 제조방법
JP2001035707A (ja) 積層チップバリスタ
JP2010219143A (ja) 積層コンデンサ
JPH0465106A (ja) 複合部品
JP2001319802A (ja) チップ形積層サーミスタ
JP3104958U (ja) 低キャパシタンス積層可変抵抗器
JP2002359102A (ja) 積層型チップサーミスタ及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 200480032064.4

Country of ref document: CN

AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): BW GH GM KE LS MW MZ NA SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LU MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2005515155

Country of ref document: JP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2006279172

Country of ref document: US

Ref document number: 10595232

Country of ref document: US

REEP Request for entry into the european phase

Ref document number: 2004793152

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2004793152

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1020067008237

Country of ref document: KR

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2004793152

Country of ref document: EP

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 10595232

Country of ref document: US