WO2002089169A1 - Afficheur d'images, procede et dispositif de production de l'afficheur d'images - Google Patents

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WO2002089169A1
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sealing material
image display
substrate
sealing
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Masahiro Yokota
Takashi Enomoto
Takashi Nishimura
Akiyoshi Yamada
Shouichi Yokoyama
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Kabushiki Kaisha Toshiba
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Definitions

  • Image display device method of manufacturing image display device, and manufacturing device
  • the present invention relates to an image display device having a flat shape, and more particularly to an image display device provided with a large number of electron-emitting devices inside a vacuum envelope, a method of manufacturing the image display device, and a manufacturing apparatus.
  • Such flat panel display devices include a liquid crystal display (hereinafter, referred to as an LCD) that controls the intensity of light using the orientation of the liquid crystal, and a plasma that emits a phosphor using ultraviolet light of plasma discharge.
  • LCD liquid crystal display
  • plasma that emits a phosphor using ultraviolet light of plasma discharge.
  • a display panel (hereinafter referred to as PDP), a field emission display (hereinafter referred to as FED) for emitting a phosphor by an electron beam of a field emission type electron-emitting device, a surface conduction type
  • FED field emission display
  • SED surface conduction electron emission display
  • FEDs and SEDs generally have a front substrate and a rear substrate that are opposed to each other with a predetermined gap, and these substrates are joined to each other at their peripheral parts via rectangular frame-shaped side walls. This constitutes a vacuum envelope.
  • a phosphor screen is formed, and on the inner surface of the rear substrate, a large number of electron-emitting devices (hereinafter, referred to as emitters) are provided as electron emission sources for exciting the phosphor to emit light. Is provided.
  • emitters electron-emitting devices
  • a plurality of support members are provided between these substrates.
  • the potential on the rear substrate side is almost the ground potential, and the anode voltage Va is applied to the phosphor screen. Then, the red, green, and blue phosphors that make up the phosphor screen are irradiated with an electron beam emitted from the emitter, and the phosphors emit light, thereby displaying an image. .
  • the thickness of the device can be reduced to about several mm, which is lighter than CRTs used as displays for televisions and computers today. And thinning can be achieved.
  • the front substrate, the back substrate, and the side walls which are the components of the envelope, are heated together in an atmosphere using a suitable sealing material, and then joined to each other.
  • a suitable sealing material There is a method of evacuating the inside through an exhaust pipe provided on the front substrate or the rear substrate, and then vacuum-sealing the exhaust pipe.
  • the speed of exhausting through an exhaust pipe is extremely low, and the degree of vacuum that can be reached is low. Therefore, there were problems in mass productivity and characteristics.
  • a method in which the final assembly of the front substrate and the rear substrate constituting the envelope is performed in a vacuum chamber can be considered.
  • the front substrate and the rear substrate first brought into the vacuum chamber are sufficiently heated. This reduces the vacuum of the envelope This is because gas emission from the inner wall of the envelope, which is the main cause of deterioration, is reduced.
  • a getter film for improving and maintaining the vacuum degree of the envelope is formed on the phosphor screen.
  • the front substrate and the rear substrate are heated again to a temperature at which the sealing material dissolves, and the front substrate and the rear substrate are combined in a predetermined position and cooled until the sealing material solidifies.
  • the vacuum envelope made in step 2 performs both the sealing process and the vacuum sealing process, does not require much time associated with exhausting the exhaust pipe, and obtains an extremely good degree of vacuum. be able to.
  • the process performed during the sealing process involves heating, positioning, cooling, and various other processes, and it takes a long time for the sealing material to melt and solidify.
  • the front substrate and the rear substrate must be kept in place over the entire distance.
  • there is a problem in productivity and characteristics associated with sealing such as that the front substrate and the rear substrate are likely to thermally expand due to heating and cooling at the time of sealing and the alignment accuracy is likely to deteriorate.
  • the present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide an image display device, an image display device manufacturing method, and a manufacturing device capable of easily assembling an envelope with high accuracy in a vacuum atmosphere. To provide.
  • an image display device and a method of manufacturing the same include an envelope having a front substrate and a rear substrate that are arranged to face each other and are also sealed at the periphery.
  • a sealing member that is conductive and melts when energized. I have. That is, by energizing the sealing member provided in the sealing portion, the sealing member is melted and the sealing portion is sealed.
  • the sealing member is mainly formed by the heat generated by applying a current to the conductive sealing member. Is heated and melted. Then, by stopping the current supply immediately after the sealing member is melted, the heat of the sealing member is quickly diffused and transmitted to the front substrate and the rear substrate, and is cooled and solidified.
  • the thermal expansion of the front substrate and the rear substrate is extremely small, and when these are sealed, deterioration of the positional accuracy of the substrates can be improved.
  • an image display device includes a front substrate, a rear substrate opposed to the front substrate, and a sealing portion that seals peripheral portions of the front substrate and the rear substrate. Comprising an envelope having
  • the sealing portion is a conductive sealing material that is heated and melted by energization to seal the peripheral portion, and has a melting point higher than that of the sealing material and is disposed on the peripheral portion. It has a member.
  • the sealing material is heated and melted, and the energization is stopped. Then, the sealing material is cooled and singulated, and the front substrate and the rear substrate are sealed at their peripheral portions. Since the sealing material is energized and heated directly, the sealing material can be melted in a short time. Also, if the conductive member is made sufficiently thick, the conductive member will not be disconnected even if the amount of current is increased and the melting time is shortened. Furthermore, since it is not necessary to heat the front substrate and the rear substrate, thermal expansion and thermal contraction of the substrate can be prevented, and the positional accuracy can be improved when sealing the substrate.
  • An image display device has an outer periphery having: a front substrate and a rear substrate that are arranged to face each other; and a sealing portion that seals peripheral portions of the front substrate and the rear substrate to each other.
  • the sealing portion includes a rectangular frame-shaped high melting point conductive member and a sealing material, and the high melting point conductive member has a higher melting point than the sealing material. Both have four or more protruding parts protruding outward.
  • an image display device includes: a front substrate and a rear substrate that are opposed to each other; a sealing portion that seals peripheral portions of the front substrate and the rear substrate to each other; A phosphor screen formed on the inner surface of the front substrate; and a phosphor screen provided on the rear substrate for emitting an electron beam to the phosphor screen. And an electron emission source that causes the lean to emit light.
  • the sealing portion includes a rectangular frame-shaped high melting point conductive member and a sealing material, and the high melting point conductive member has a melting point higher than that of the sealing material. It has four or more protruding parts that protrude outward.
  • the method for manufacturing an image display device according to an aspect of the present invention includes: a front substrate and a rear substrate that are opposed to each other; a sealing material; and the sealing material also includes a high-melting-point conductive member having a high melting point. And a sealing portion in which peripheral portions of the back substrate are sealed to each other, and a method of manufacturing an image display device including an envelope having:
  • a rectangular frame-shaped high melting point conductive member having four or more protrusions protruding outward is prepared, and the high melting point conductive member is arranged between the peripheral portions of the front substrate and the rear substrate.
  • sealing materials are arranged between the front substrate and the high-melting-point conductive member and between the rear substrate and the high-melting-point conductive member, respectively. By energizing the conductive member, the sealing material is melted and the peripheral portions of the front substrate and the rear substrate are sealed to each other.
  • An image display device is an envelope having: a front substrate and a rear substrate disposed to face each other; and a sealing portion that seals peripheral portions of the front substrate and the rear substrate to each other.
  • the sealing portion includes a frame-shaped high-melting point conductive member and first and second sealing materials, and the first sealing material has a lower melting point or softening than the second sealing material.
  • the high-melting-point conductive member has a higher melting point or softening point than the first and second sealing materials, and the high-melting-point conductive member passes through the first sealing material. It is bonded to one of the front substrate and the rear substrate, and bonded to the other of the front substrate and the rear substrate via a second sealing material.
  • a method of manufacturing an image display device includes a front substrate and a rear substrate that are opposed to each other.
  • a method for manufacturing an image display device comprising an envelope in which peripheral portions of a front substrate and a rear substrate are sealed to each other by a sealing portion including a melting-point conductive member and first and second sealing materials,
  • a frame-shaped high melting point conductive member having a higher melting point or softening point than the first and second sealing materials is prepared, and a second high melting point or softening point having a higher melting point or softening point than the first sealing material is prepared.
  • the high-melting-point conductive member is adhered to a peripheral portion of one of the front substrate and the rear substrate by a sealing material, and the one substrate to which the high-melting-point conductive member is adhered and the other By disposing the first sealing material between the high-melting-point conductive member and the peripheral portion of the other substrate while energizing the high-melting-point conductive member. Then, the first sealing material is melted or softened to bond the high melting point conductive member to the other substrate.
  • An image display device includes an envelope having: a front substrate and a rear substrate that are opposed to each other; a sealing portion that seals peripheral portions of the front substrate and the rear substrate to each other.
  • the sealing portion includes a frame-shaped high-melting-point conductive member and a sealing material, and the high-melting-point conductive member has a higher melting point or softening point than the sealing material. In addition, it has resiliency in a direction perpendicular to the surfaces of the front substrate and the rear substrate.
  • a method of manufacturing an image display device includes a front substrate and a rear substrate that are opposed to each other, and a front surface is formed by a sealing portion including a high-melting-point conductive member and a sealing material.
  • a frame-shaped high-melting-point conductive member having a melting point or softening point higher than that of the sealing material and having spring properties in a direction perpendicular to the surfaces of the front substrate and the rear substrate.
  • the front substrate and the rear substrate opposed to each other are overlapped, and the high melting point conductive member is elastically deformed in a direction perpendicular to the surfaces of the front substrate and the rear substrate.
  • the high melting point conductive member is energized to melt or soften the sealing material, and the peripheral portions of the front substrate and the rear substrate are mutually sealed.
  • the deflection of the substrate when the front substrate and the rear substrate are overlapped is improved by the resilience of the high-melting-point conductive member, and the position of the front substrate and the rear substrate is improved. Sealing can be performed with improved alignment accuracy.
  • a method of manufacturing an image display device includes: an envelope having a front substrate and a rear substrate, which are disposed to face each other and whose peripheral portions are joined to each other;
  • a conductive sealing material is disposed on at least one of the front substrate and the back substrate, and When the encapsulant is heated and melted by heating, the peripheral parts of the front substrate and the back substrate are joined together, and when the encapsulant is energized and heated, the electric resistance of the encapsulant depends on the temperature dependence. Based on this, the power supply to the sealing material is controlled.
  • an image display device manufacturing apparatus comprising: an envelope having a front substrate and a rear substrate which are arranged to face each other and whose peripheral portions are joined to each other;
  • a conductive seal is provided at a peripheral portion of at least one of the front substrate and the rear substrate.
  • the completion of melting of the sealing material can be easily detected electrically based on the temperature dependence of the electric resistance of the sealing material. Therefore, the peripheral part is joined while the entire front and rear substrates are kept at a low temperature, so that the adsorbability of the getter is not reduced, and each substrate is destroyed by thermal stress. Problems can be eliminated.
  • bonding can be easily performed in the order of several minutes, and the process time can be shortened as compared with the conventional case. This includes providing an image display device that can be manufactured at low cost and can obtain stable and good images.
  • FIG. 1 shows the overall configuration of the FED according to the embodiment of the present invention. Perspective view,
  • FIG. 2 is a perspective view showing the internal configuration of the FED
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of FIG. 1 taken along line 1 1 1— 1 1 1,
  • FIG. 4 is an enlarged plan view showing a part of the phosphor screen of the FED.
  • FIG. 5 is a plan view showing a front substrate used for manufacturing the above-mentioned FED.
  • FIG. 6 is a plan view showing a back substrate, side walls, and spacers used for manufacturing the above-mentioned FED.
  • Figure 7 is a flow chart showing the flow of assembly in a vacuum chamber in the FED manufacturing process.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view showing a sealing process of the entire substrate and the side wall in the above manufacturing process.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining a method for alleviating the glass stress generated at the time of sealing the FED according to the embodiment of the present invention.
  • FIGS.10A to 10C are plan views showing components of the FED according to the second embodiment of the present invention, respectively.
  • FIG. 11 is a plan view showing an FED sealing process in the second embodiment
  • FIG. 12 is a sectional view showing an FED according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 is a plan view of the front substrate of the FED shown in FIG.
  • FIG. 14 is a plan view showing the rear substrate, side walls, and spacers of the FED shown in FIG.
  • FIGS. 15A and 15B are plan views showing conductive members used for manufacturing the FED shown in FIG. 12, respectively.
  • FIG. 16 is a diagram schematically showing a manufacturing apparatus for manufacturing the FED of FIG. 12;
  • FIG. 17 is a diagram showing a modification of the manufacturing apparatus for sealing between the front substrate and the rear substrate and the side wall,
  • FIG. 18 is a view schematically showing another modified example in which the conductive side wall is energized and sealed.
  • FIG. 19 is a perspective view showing an FED according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 20 is a perspective view showing a state where the front substrate of the FED is removed.
  • FIG. 21 is a cross-sectional view of FIG. 19 taken along line 11 XI—11 XI
  • FIG. 22 is a plan view showing the sidewall of the FED shown in FIG. 19,
  • FIG. 23 is a FED shown in FIG. Plan view showing a phosphor screen of
  • FIG. 24 is a diagram schematically showing a vacuum processing apparatus used for manufacturing the FED shown in FIG. 19,
  • FIG. 25 is a plan view showing a side wall of an FED according to a modification of the fourth embodiment
  • FIG. 26 is a perspective view showing an FED according to another modification of the fourth embodiment.
  • FIG. 27 is a perspective view showing a state in which the front substrate of the FED according to the fifth embodiment of the present invention is removed.
  • FIG. 28 is a sectional view of the FED according to the fifth embodiment
  • FIG. 29 is a cross-sectional view showing an FED according to a modification of the fifth embodiment.
  • FIG. 30 is a perspective view showing a state in which the front substrate of the FED according to the sixth embodiment of the present invention is removed.
  • FIG. 31 is a cross-sectional view of the FED according to the sixth embodiment
  • FIGS. 32A to 32C are cross-sectional views illustrating manufacturing steps of the FED according to the sixth embodiment
  • FIGS. 33A and 33B are cross-sectional views showing an FED according to a seventh embodiment of the present invention.
  • FIGS. 34A and 34B are cross-sectional views showing an FED according to a modification of the seventh embodiment.
  • FIG. 35 is a sectional view of an FED according to the eighth embodiment of the present invention.
  • FIGS. 36A and 36B are plan views showing a rear substrate and a front substrate, respectively, used for manufacturing the FED shown in FIG. 35.
  • FIG. 37 is a rear view in which indium is arranged in the sealing portion. Sectional view showing a state in which a substrate and a front substrate are arranged to face each other,
  • FIG. 38 is a diagram schematically showing a vacuum processing apparatus used for manufacturing the FED shown in FIG. 35,
  • FIG. 39 is a plan view schematically showing a state where an electrode is brought into contact with the indium in the manufacturing process of the FED shown in FIG.
  • FIG. 40 is a graph showing the characteristics of the resistance of the above indium with temperature change.
  • Fig. 41 is a graph showing the current change during heating of the above-mentioned indium.
  • Fig. 42 is a graph showing the measured current values of the above indium during energization heating.
  • Fig. 43 is a graph showing the slope of the current change during heating of the above-mentioned indium.
  • Fig. 44 is a graph showing the change in voltage during heating of the above-mentioned indium during energization.
  • Fig. 45 is a graph showing the slope of the current change during the heating of the above-mentioned indium.
  • Fig. 46 is a graph showing the change in resistance value and the slope of the change in resistance value during heating of the above-mentioned indium.
  • FIG. 47 is a graph showing changes in current and voltage during the heating of the above-mentioned indium.
  • this FED has a front substrate 11 and a rear substrate 12 made of rectangular glass, respectively, as insulating substrates. They are arranged facing each other with a gap.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are joined to each other via a rectangular frame-shaped side wall 13 to form a flat rectangular vacuum envelope whose inside is maintained in a vacuum state. 1 0
  • front substrate 11 and side wall 13 are joined by conductive sealing members 21 a and 21 b, which will be described later, and rear substrate 12 and side wall 13 are connected to each other. Low melting point sealing of lit glass etc. They are joined by a member 40.
  • a plurality of plate-shaped spacers 14 are provided inside the vacuum envelope 10 in order to support the atmospheric pressure load applied to the front substrate 11 and the rear substrate 12. These spacers 14 are arranged in a direction parallel to the long side of the vacuum envelope 10 and at predetermined intervals along a direction parallel to the short side.
  • the shape of the spacer 14 is not particularly limited to this. For example, a columnar spacer or the like can be used.
  • a phosphor screen having a red, green, and blue phosphor layer 16 and a matrix-like black light absorbing layer 17 as shown in FIG. 15 is formed, and an aluminum film (not shown) is deposited as a metal back on the phosphor screen.
  • a large number of electron-emitting devices 18 are provided on the inner surface of the rear substrate 12 as electron-emitting sources for exciting the phosphor layer 16.
  • the electron-emitting devices 18 are arranged at positions facing the respective phosphor layers 16 and emit electron beams toward the corresponding phosphor layers.
  • a phosphor screen 15 and a metal back are formed on the inner surface of the front substrate 11. Further, a sealing member is provided on the inner surface of the front substrate 11 and outside the phosphor screen 15. As 21 a, conductive metal solder is filled in a rectangular frame shape and arranged along the periphery of front substrate 11. Electrodes 22a and 22b for energizing the sealing member at the time of sealing are formed to protrude outward at two opposite corners of the sealing member 21a.
  • each of the electrode portions 22 a and 22 b is formed to be larger than the cross-sectional area of other portions of the sealing member 21.
  • a large number of electron-emitting devices 18 are formed in advance on the inner surface of the rear substrate 12, and the side walls 13 and the space are formed to secure a gap with the front substrate 11 during assembly.
  • the support 14 is attached by a low melting point sealing member 40.
  • a conductive metal solder as the sealing member 21 b is filled in a rectangular frame shape at a position facing the sealing member 21 a on the front substrate 11 side. I have.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 as described above are assembled in a vacuum chamber according to the process shown in FIG. That is, first, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are introduced into a vacuum chamber, and the inside of the vacuum layer is evacuated. Thereafter, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are heated and sufficiently degassed.
  • the heating temperature is appropriately set to about 200 ° C to 500 ° C. This is to reduce the rate of gas release from the inner wall, which degrades the degree of vacuum after the vacuum envelope has been formed, and to prevent characteristic degradation due to residual gas.
  • a getter film is formed on the phosphor screen 15 of the cooled front substrate 11 after the degassing is completed. This is because the residual gas after the formation of the vacuum envelope is adsorbed and exhausted by the getter film, and the degree of vacuum in the vacuum envelope is maintained at a favorable level.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are overlapped with each other at a predetermined position such that the phosphor layer 16 and the electron-emitting device 18 face each other. In this state, current is applied to the sealing members 21a and 21b via the electrode portions 22a and 22b, and these sealing members are heated and melted.
  • the power supply is stopped, and the heat of the sealing members 21a and 21b is quickly diffused and conducted to the front substrate 11 and the side walls 13 to solidify the sealing members 21a and 21b.
  • the front substrate 11 and the side wall 13 are sealed to each other by the sealing members 21a and 21b.
  • the temperatures of front substrate 11 and rear substrate 12 are set to be lower than the melting points of sealing members 21a and 21b.
  • the sealing members 21a and 21b are in a solidified state. In this state, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are overlapped at a predetermined position, and the sealing members 21a and 21b also overlap each other. Pressing devices 23a and 23b apply a predetermined sealing load to front substrate 11 and rear substrate 12 in directions approaching each other.
  • the image display area is held in a predetermined gap by the spacer 14, and the sealing members 21 a and 21 b are also in contact with each other.
  • the power supply terminals 24 a and 24 b are in contact with the electrodes 22 a and 22 b of the sealing member 21 a, respectively, and these power supply terminals 24 a and 24 b are connected to the power supply 25. It is connected to the.
  • the sealing member 2 is passed through the power supply terminals 24a and 24b.
  • a predetermined current is applied to 1a and 21b, only the sealing members 21a and 21b generate heat and melt.
  • the power supply is stopped, the heat of the sealing members 21 a and 21 b having a small heat capacity is radiated to the front substrate 11 and the side walls 13 due to the temperature gradient, and the front substrate 1 having a large heat capacity is dissipated. Thermal equilibrium with 1 and side walls 13 is reached and is quickly cooled and solidified.
  • the vacuum envelope can be vacuum-sealed with a very short and simple manufacturing apparatus.
  • the substrate is not heated, and only the sealing member having a small heat capacity, that is, a small volume, is selectively heated.
  • the sealing member having a small heat capacity that is, a small volume
  • the heat capacity of the sealing member is very small compared to the heat capacity of the substrate, the time required for heating and cooling can be significantly reduced and the mass productivity can be significantly reduced compared to the conventional method of heating the entire substrate. Can be improved.
  • the only device required for sealing is a mere power supply terminal and a mechanism for contacting the terminal with the sealing member.
  • the conventional full-surface heater is extremely simple compared to the electromagnetic induction heating method. In addition, a clean device suitable for ultra-high vacuum can be realized.
  • a DC current not only a DC current but also an AC current fluctuating at a commercial frequency may be used.
  • an alternating current that fluctuates at a high frequency of the kHz level may be used.
  • the table Due to the skin effect the Joule heat is increased by an amount corresponding to the increase in the effective resistance value to the high frequency, so that the same heating effect can be obtained with a smaller current value.
  • the power to be supplied and the time are set to about 5 to 300 seconds in the embodiment. If the energization time is long (low power), the cooling rate decreases due to a rise in the temperature around the substrate and adverse effects occur due to thermal expansion. If the energization time is short (high power), the conductive sealing material cannot be filled. Breakage of the substrate caused by disconnection and glass thermal stress caused by uniformity. Therefore, it is desirable to set the optimal power and time (including temporal power change) for each object.
  • the temperature difference between the substrate temperature at the time of sealing and the melting point of the sealing member is about 20 ° C. to 150 ° C. in the embodiment. If the temperature difference is large, the cooling time can be shortened, but the thermal stress of the glass increases, so it is desirable to set the optimum conditions for each object.
  • the outer diameter of the pressurizing devices 23a and 23b is determined by the outer diameter of the By making the diameter smaller than the outer diameter once and flexing the periphery of the substrate naturally as shown by a broken line, the stress generated in the substrate can be reduced. Alternatively, even if the outer diameter of the pressurizing devices 23a and 23b is not reduced, it is possible to provide a sharpened portion around the pressurizing device to allow escape when the board is warped. The same stress relaxation effect can be obtained. Further, in the above-described embodiment, the front substrate and the rear substrate Although the vacuum envelope having the configuration of sandwiching the wall is used, the configuration may be such that the side wall is integrated with the front substrate or the rear substrate.
  • the configuration may be such that the side walls are joined so as to cover the front substrate and the rear substrate from the side surfaces.
  • the sealing surfaces to be sealed by the energization heating of the sealing member may be two surfaces between the front substrate and the side wall and between the rear substrate and the side wall.
  • the heating is performed with the sealing member on the front substrate side and the sealing member on the rear substrate side being in contact with each other. After heating, it may be joined before solidification.
  • the configuration of the phosphor screen and the configuration of the electron-emitting device are not limited to the embodiment of the present invention, and may be other configurations.
  • the sealing material may be filled on only one of the two surfaces to be sealed.
  • an underlayer may be formed between the sealing member and the substrate or between the sealing member and the side wall.
  • FIGS. 5 and 6 An example in which the front substrate 11 and the rear substrate 12 shown in FIGS. 5 and 6 are applied to a 36-inch TV FED display device will be described.
  • the main configuration is the same as that described in the above embodiment.
  • Both the front substrate 11 and the rear substrate 12 are made of a 2.8 mm thick glass material, and the side walls 13 are made of a 1.1 mm glass material. It is configured.
  • the sealing members 21a and 21b filled in the side walls 13 of the front substrate 11 and the rear substrate 12 are made of In (indium) that melts at about 156 ° C, and each has a width. It was filled to a thickness of 3 to 5 mm and a thickness of 0.1 to 0.3 mm.
  • the electrode portions 22 a and 22 b were provided at two symmetrical diagonal portions where interference with the X wiring and the Y wiring of the opposing rear substrate 12 was small.
  • the electrode sections 22a and 22b are about 16 mm in width and 0.3 mm in thickness and 0.3 mm in cross-sectional area compared to other parts.
  • the resistance of the sealing member 21a between the electrode portions 22a and 22b is about 0.1 to 0.5 ⁇ at room temperature.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are subjected to a degassing process and a getter film formation in a vacuum chamber, and then loaded into pressurizing devices 23a and 23b. Then, as shown in FIG. 8, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are arranged at predetermined positions at a temperature of about 100 ° C., and the pressurizing devices 23 a and 23 b Thus, the power supply terminals 24a and 24b are connected to the electrodes 22a and 22b at the same time.
  • Example 2 The main configuration of Example 2 is the same as Example 1.
  • Example 2 in the above-mentioned sealing process, a sinusoidal AC current with an effective current value of 150 A, which fluctuates at the commercial frequency of 60 Hz, was applied to the sealing members 21a and 21b for 40 seconds. Then, it was held for 30 seconds to form a vacuum envelope.
  • Example 3 The main configuration of Example 3 is the same as that of Example 1.
  • Example 3 in the sealing process, alternating current of a sine wave having an effective current value of 4 A, which fluctuates at a frequency higher than the commercial frequency, for example, 300 kHz, is applied to the sealing members 21a, 2a. A voltage was applied to 1b for 30 seconds, and then held for 30 seconds to form a vacuum envelope.
  • FIGS. 10A and 10C and FIG. 11 show a second embodiment of the present invention.
  • the joint between the rear substrate 12 and the side wall 13 is also evacuated using a sealing member having conductivity. The test was performed in a tank.
  • the other main configuration of the second embodiment is the same as that of the first embodiment.
  • a portion facing the side wall 13 of the front substrate 11 is filled with a rectangular frame-shaped sealing member 26, and the sealing member 26 is formed from two diagonally opposite corners to the outside.
  • Protruding electrode portions 27a and 27b were provided.
  • a portion facing the side wall 13 of the rear substrate 12 is filled with a rectangular frame-shaped sealing member 28 and protrudes outward from two diagonal corners of the sealing member 28. Electrode part 29a, 29b was provided.
  • the front substrate 11, the rear substrate 12, and the side wall 13 are superimposed on the predetermined positions as described above, and the power supply 31 and the electrode 2 are connected via the power supply terminals 30 a and 30 b.
  • 100 A was energized for 150 seconds. Thereafter, by holding the sealing members 26 and 28 for about 2 minutes to solidify them, the front substrate 11, the rear substrate 12, and the side walls 13 were sealed.
  • the pair of electrode portions provided on the sealing member may be provided at symmetrical positions, and is not limited to the diagonal portion of the sealing member pair. It may be provided on each long side or short side.
  • the conductive sealing member is not limited to I ⁇ , but may be an alloy containing I ⁇ .
  • the FED according to the present embodiment includes a front substrate 11 and a rear substrate 12 each made of rectangular glass, and these substrates have a gap of 1 to 2 mm. Are placed facing each other.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are joined to each other via a rectangular frame-shaped side wall 13 to form a flat rectangular vacuum envelope whose inside is maintained in a vacuum state. 1 0
  • the front substrate 11 and the side wall 13 are joined by a sealing portion 20 described later, and the rear substrate 12 and the side wall 13 are joined by a low melting point sealing member 40 such as frit glass.
  • a low melting point sealing member 40 such as frit glass.
  • the phosphor screen 15 is formed on the inner surface of the front substrate 11. Further, on the inner surface of the front substrate 11 and the outer peripheral portion of the phosphor screen 15, a conductive metal solder as a sealing material 21 a is provided in a rectangular frame shape. At this point, the temperature of the front substrate 11 is lower than the melting point of the sealing material 21a.
  • the sealing material 21a is in a solidified state.
  • a large number of electron-emitting devices 18 are formed on the inner surface of the rear substrate 12 in advance, and the assembling is performed.
  • a side wall 13 and a spacer 14 are attached with a low melting point sealing member 40 in order to secure a gap with the front substrate 11.
  • a metal solder having the same conductivity as the sealing material 21 a described above, but as the sealing material 21 b, the sealing material 21 a on the front substrate 11 side is used. It is provided in the shape of a rectangular frame in the position which opposes. At this point, the temperature of the back substrate 12 is set to a temperature lower than the melting point of the sealing material 21b, and the sealing material 21b is in a solidified state.
  • FIG. 15A shows that when sealing the peripheral portion of the front substrate 11 and the upper end of the side wall 13, a rectangular frame-shaped conductive member 2 2 sandwiched between the sealing materials 21 a and 21 b is used. Is illustrated.
  • the conductive member 22 functions as a sealing portion 20 together with the sealing materials 21 a and 21 b described above.
  • the conductive member 22 is formed of a nickel alloy plate having a cross-sectional area of 0.1 mm 2 or more, and two electrode portions 22 a and 22 b (connection terminals) are formed from diagonal corners. It is physically protruding.
  • the width of the conductive member 22 is set to be smaller than the width of the sealing materials 21a and 21b.
  • the conductive member 22 may be made of an alloy containing iron (Fe), chromium (Cr), aluminum (AI), or the like, in addition to nickel (Ni). Materials with a temperature of 500 ° C or more are used.
  • the coefficient of thermal expansion of the conductive member 22 is set to about 80 to 120 ⁇ 1 ⁇ 2 of the coefficient of thermal expansion of the sealing materials 21 a and 21 b, or the coefficient of thermal expansion of Set to about 0 to 120%, or between the minimum and maximum thermal expansion coefficients of the front substrate 11, rear substrate 12, and side wall 13. Is set to
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 as described above are sealed together with a conductive member 22 therebetween in a vacuum chamber to form an FED.
  • the front substrate 11, the rear substrate 12, and the conductive member 22 are introduced into a vacuum chamber, and the inside of the vacuum layer is evacuated. Then, the front board 1 1 and the back The substrates 12 are heated and degassed sufficiently from these substrates.
  • the heating temperature is appropriately set to about 200 ° C to 500 ° C. This is to reduce the rate of gas release from the inner wall, which degrades the degree of vacuum after the vacuum envelope is formed, and to prevent characteristic degradation due to residual gas.
  • a getter film is formed on the phosphor screen 15 of the cooled front substrate 11 after the degassing is completed. This is because the residual gas after forming the vacuum envelope is adsorbed and exhausted by the getter film, and the degree of vacuum in the vacuum envelope is maintained at a favorable level.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are positioned with high precision so that the phosphor layer 16 and the electron-emitting device 18 face each other, and are overlapped.
  • the conductive member 22 is sandwiched between the sealing material 21 a provided on the peripheral portion of the front substrate 11 and the sealing material 21 b provided on the side wall 13.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 sandwiching the conductive member 22 are set in the apparatus shown in FIG. Then, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are pressed and held at a predetermined pressure in directions facing each other by the pressurizing devices 23a and 23b. Further, a power supply 25 is connected to the electrode portions 22 a and 22 b derived from the conductive member 22.
  • a predetermined current is supplied from the power supply 25 to the conductive member 22 via the electrode portions 22a and 22b, and the sealing materials 21a and 21b are energized.
  • the conductive member 22 and the sealing materials 21a and 21b are heated, and only the sealing materials 21a and 21b are melted.
  • the conductive member 22 has a high melting point that does not melt when energized. Only the sealing materials 21a and 21b are melted because they are formed of the point material.
  • the molten sealing materials 21a and 21b are connected so as to surround the narrow conductive member 22.
  • the heat of the sealing material 21 having a relatively small heat capacity in the connected state is quickly diffused and conducted to the front substrate 11 and the side walls 13 due to the temperature gradient, and the heat capacity is reduced. Thermal equilibrium is reached with the large front substrate 11 and the side walls 13, and the sealing material 21 is rapidly cooled and solidified. Thereby, front substrate 11 and side wall 13 are sealed.
  • only the sealing materials 21a and 21b can be efficiently and selectively and reliably provided by a very simple configuration in which only the conductive member 22 is energized. Can be heated and melted, the work process required for the sealing process, the processing time, and the amount of power consumption can be significantly reduced, and the peripheral portions of the front substrate 11 and the rear substrate 12 can be reliably and easily sealed. .
  • the sealing material 21 a and 21 b by using a combination of the conductive sealing materials 21 a and 21 b and the conductive member 22, the sealing material is provided unevenly. Even if it is, the sealing material will not be broken, the sealing materials 21a and 21b can be reliably energized in all areas, and the sealing material can be reliably applied over the entire length. Can be melted. In addition, since the sealing materials 21a and 21b are made conductive, the sealing materials 21a and 21b can be directly used as compared with the non-conductive sealing material. The melting time can be shortened.
  • the conductive member 22 is made of the sealing material 2.
  • the conductive member 22 does not come into contact with the front substrate 11 and the side wall 13 by being provided so as to be sandwiched between 1a and 21b, so that the front substrate 11 and the side wall 13 are not formed. There is no fear of cracking due to thermal stress. Also, since the conductive member 22 does not contact the front substrate 11 and the side wall 13, the sealing materials 21 a and 21 b are used for the front substrate 11 and the side wall 1. The area in contact with 3 can be increased, and the sealing performance can be improved.
  • the sealing material since only the sealing material can be selectively heated and melted, there is no need to heat the front substrate and the rear substrate, and the sealing material has a small heat capacity and a small volume. It is only necessary to heat the substrate, the amount of electric power to be used can be reduced, and deterioration of positional accuracy due to thermal expansion and thermal contraction of the substrate can be suppressed.
  • the time required for heating and cooling can be significantly reduced, and the mass productivity can be greatly improved.
  • the only device required for sealing is the power supply, and, unlike the conventional full-surface heater, an extremely simple and clean device suitable for ultra-high vacuum is realized even with the electromagnetic induction heating method. be able to.
  • the form of the current to be applied not only a DC current but also an AC current fluctuating at a commercial frequency may be used.
  • the trouble of converting the commercial current transmitted by the alternating current into the direct current can be omitted, and the device can be simplified.
  • an alternating current fluctuating at a high frequency of the kHz level may be used.
  • the effective resistance to high frequencies increases due to the skin effect Since the Joule heat increases by the amount, the same heating effect as described above can be obtained with a smaller current value.
  • the power to be supplied and the time are set to about 5 to 30 seconds in the embodiment. If the energization time is long (low power), the cooling rate decreases due to the temperature rise around the substrate, and adverse effects due to thermal expansion and thermal contraction occur. If the energization time is short (high power), the conductive sealing material is used. Disconnection due to non-uniform filling of glass and cracking due to glass thermal stress occur. Therefore, it is necessary to set the optimal power and time (including temporal power change) for each object.
  • the temperature difference between the substrate temperature at the time of sealing and the melting point of the sealing material is about 20 ° C. to 150 ° C. in the present embodiment. If the temperature difference is large, the cooling time can be shortened, but the thermal stress of the glass increases, so it is necessary to set the optimum conditions for each object.
  • two sealing portions are provided between the front substrate 11 and the side wall 13 and between the rear substrate 12 and the side wall 13. May be sealed by energizing and heating the sealing material.
  • the side wall 13 and the peripheral portion of the front substrate 11 are sealed by the sealing portion 20.
  • a sealing portion 20 is interposed between the side wall 13 and the peripheral portion of the rear substrate 12.
  • the sealing portion 20 provided between the side wall 13 and the peripheral portion of the rear substrate 12 is a sealing material 21 b provided on the lower surface of the side wall 13, a conductive member 22 shown in FIG.
  • the sealing material 21 a provided on the peripheral portion of the back substrate 12.
  • a power source 27 is connected to the two electrodes 22 c and 22 d of the conductive member 22.
  • the front substrate 11, side walls 13, and rear substrate 12 are sealed by supplying power to the conductive members 22 from the power sources 25 and 26 and overheating, as in the third embodiment. To wear.
  • the side wall 24 is formed of a conductive material, a sealing material 21 a is provided between the side wall 24 and the peripheral portion of the front substrate 11, and the side wall 24 is formed. It is also possible to provide a sealing material 21 b between the peripheral portion of the rear substrate 12 and the peripheral portion of the rear substrate 12 so that the side wall 24 itself is energized. In this case, there is no need to provide an independent conductive member 22 as a current-carrying member, so that the manufacturing process can be simplified, the number of members can be reduced, and the manufacturing cost can be reduced.
  • irregularities may be formed on the surface of the conductive member 22 that comes into contact with the sealing materials 21a and 21b.
  • the sealing material 21 between the members to be sealed, that is, between the conductive member 22 and the front substrate 11, between the conductive member 22 and the rear substrate 12, and The mechanical displacement between the conductive member 22 and the side wall 13 can be suppressed, and the positional displacement between the front substrate 11 and the rear substrate 12 can be suppressed.
  • Both front substrate 11 and rear substrate 1 2 have a 2.8 mm thick glass.
  • the side wall 13 is made of 1.1 mm glass material.
  • the sealing material 21a provided on the peripheral edge of the front substrate 11 and the sealing material 21b provided on the side wall 13 of the rear substrate 12 melt at about 160 ° C. In was formed to have a width of 3 to 5 mm and a thickness of one side of 0.3 "to 0.3 mm.
  • the conductive member 22 is formed of a nickel alloy in a frame plate having a width of 1 mm and a thickness of 0.1 mm.
  • the electrode portions 22a and 22b of the conductive member 22 are provided at two diagonal portions of the rear substrate 12 opposite to each other, which have little interference with the X wiring and the Y wiring.
  • the conductive member 22 has a cross-sectional area of 0.1 mm 2 or more in order to secure a sufficient current flow when energized.
  • the resistance between the electrode portions 22a and 22b was set to about 0.05 to 0.5 ⁇ at room temperature.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 together with the conductive member 22 are arranged in a vacuum chamber, and after degassing and forming a getter film in the vacuum chamber, that is, the peripheral portion of the front substrate 11 is formed.
  • the conductive member 22 is sandwiched between the rear substrate 12 and the side wall 13 erected on the rear substrate 12, and is loaded into the pressurizing devices 23 a and 23 b. That is, the front substrate 11, the rear substrate 12, and the conductive member 22 are arranged at predetermined positions at a temperature of about 100 ° C., and are pressed by the pressurizing devices 23 a and 23 b. Overlap with a load of 50 kg. Further, a power supply 25 is connected to the electrode portions 22 a and 22 b of the conductive member 22.
  • a direct current of 130 A is applied for 40 seconds to the electrode sections 22a and 22b via the power supply 25, and the conductive member 22 is heated to seal the sealing member 21a, 2 1 b is uniform and sufficient over its entire circumference Dissolve in
  • the front substrate 1 and the rear substrate 12 are held for 30 seconds, and the heat of the sealing members 21 a and 21 b whose temperature has increased due to energization heating is reduced to the front substrate 11 and the side wall 1.
  • the heat was radiated to 3, and the sealing members 21a and 21b were cooled and solidified.
  • Example 2 The main configuration of Example 2 is the same as Example 1.
  • a commercial frequency 6 0 H z effective varies at a current value of 1 2 0
  • a sinusoidal alternating current conductive member 2 and second electrode portions 2 2 a, 2 2 b For 60 seconds, and then held for 1 minute to form a vacuum envelope.
  • Example 3 The main configuration of Example 3 is the same as Example 1.
  • Example 4 The main configuration of Example 4 is the same as that of Example 1.
  • Example 4 in addition to the above-described joining of the front substrate 11 and the side wall 13, the joining of the rear substrate 12 and the side wall 13 is also performed by vacuum using the above-described conductive member. Performed in a tank. This At this time, the rectangular frame-shaped sealing material 21a, the conductive member 22 shown in Fig. 15A, and the rectangular frame are provided at the joint where the peripheral portion of the front substrate 11 and the side wall 13 face each other. Sealing material 21b was provided. In addition, a rectangular frame-shaped sealing material 21 a, the conductive member 22 shown in FIG. 15B, and a rectangular frame-shaped sealing material 21 a are provided at the joint where the peripheral portion of the rear substrate 12 and the side wall 13 face each other. Sealing material 21b was provided.
  • the front substrate 11, the rear substrate 12, and the side wall 13 are superimposed at the predetermined positions as described above, and the electrodes 22 a and 22 b are connected to the electrode portions 22 a and 22 b via the power supply 25.
  • 0 A was supplied for 150 seconds, and at the same time, 100 A was supplied to the electrodes 22 c and 22 d via the power supply 27 for 150 seconds.
  • the sealing members 21a and 21b were cooled and solidified by holding for about 2 minutes, and the front substrate 11, the rear substrate 12 and the side walls 13 were sealed.
  • Example 5 The main configuration of Example 5 is the same as that of Example 1.
  • Example 5 as shown in FIG. 18, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are joined via the conductive side wall 24 without using the conductive member 22 described above, and the side wall 2 4 By energizing itself, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sealed.
  • a rectangular frame-shaped SUS304 having a width of 2 mm and a height of 1.1 mm was used as the side wall 24, and 200 A was supplied with electricity for 30 seconds. After applying a current of 0 A for 10 seconds, the front substrate 11 and the rear substrate 12 were held for about 2 minutes to cool and separate the sealing materials 21a and 21b.
  • this FED has a front substrate 11 and a rear substrate 12 each made of rectangular glass, and these substrates have a gap of 1.6 mm. Are placed facing each other.
  • the size of the rear substrate is slightly larger than that of the front substrate, and a lead line (not shown) for inputting a video signal described later is formed on an outer peripheral portion thereof.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are joined to each other via a substantially rectangular frame-shaped side wall 13 to form a flat rectangular vacuum chamber whose inside is maintained in a vacuum state.
  • the enclosure 10 is constituted.
  • a high melting point conductive member having a higher melting point than the sealing material described later and having conductivity for example, iron-nickel alloy is used.
  • a material containing at least one of Fe, Cr, Ni, and AI is used as the high melting point conductive member having conductivity.
  • the side walls 13 have protrusions 13 a, 13 b, 13 c, 1 that protrude outward from each corner along the diagonal axis direction.
  • the side wall 13 is sealed to the rear substrate 12 and the front substrate 11 by, for example, In or an In alloy as a sealing material 34.
  • the protrusions 13 a, 13 b, 13 c, and 13 d of the side wall 13 protrude outward from the front substrate 11, respectively. It extends to the vicinity of the corner of rear substrate 12.
  • the protrusions 13 a, 13 b, 13 c, and 13 d are applied to the side wall 13 in the FED manufacturing process as described later. In addition to functioning as a connection terminal for applying pressure, it can also function as a grip for positioning the side wall.
  • a plurality of plate-shaped spacers are provided inside the vacuum envelope 10 to support the atmospheric pressure applied to the front substrate 11 and the rear substrate 12.
  • the shape of the spacer 14 is not particularly limited, and for example, a columnar spacer or the like may be used.
  • a phosphor screen 15 shown in FIG. 23 is formed on the inner surface of the front substrate 11.
  • This phosphor screen "! 5" is a strip-like phosphor layer of red, green, and blue, and a strip-like black light as a non-light-emitting portion located between these phosphor layers.
  • the phosphor layer extends in a direction parallel to the short side of the vacuum envelope and has a predetermined interval along a direction parallel to the long side.
  • a metal back layer 19 made of, for example, an aluminum layer is deposited on the phosphor screen 15.
  • a large number of electron-emitting devices 18 each emitting an electron beam are provided as electron emission sources for exciting the phosphor layer of the phosphor screen 15. These electron-emitting devices 18 are arranged in a plurality of columns and a plurality of rows corresponding to each pixel. More specifically, a conductive force source layer 36 is formed on the inner surface of the rear substrate 12, and the conductive cathode layer 36 is formed on the inner surface of the rear substrate 12. A silicon dioxide film 38 having a large number of cavities 37 is formed on the metal layer. On the silicon dioxide film. 38, a gate electrode 41 made of molybdenum niobium or the like is formed. A cone-shaped electron-emitting device 18 made of molybdenum or the like is provided in each cavity 37 on the inner surface of the rear substrate 12.
  • a video signal is input to the electron-emitting device 18 and the gate electrode 41 formed in a simple matrix system.
  • a gate voltage of +100 V is applied when the luminance is the highest.
  • +10 kV is applied to the phosphor screen 15.
  • an electron beam is emitted from the electron-emitting device 18.
  • the size of the electron beam emitted from the electron-emitting device 18 is modulated by the voltage of the gate electrode 41, and this electron beam excites the phosphor layer of the phosphor screen 15. To display an image.
  • an electron-emitting device is formed on a sheet glass for a rear substrate.
  • a matrix-shaped conductive cathode layer 36 is formed on a sheet glass, and the conductive cathode layer is formed on the conductive force layer by, for example, a thermal oxidation method, a CVD method, or a sputtering method.
  • An insulating film 38 of a silicon dioxide film is formed.
  • a gate electrode such as lithium or niobium is formed on the insulating film 38 by, for example, a sputtering method or a thunder beam evaporation method.
  • a metal film for pole formation is formed.
  • a resist pattern having a shape corresponding to the gate electrode to be formed is formed on the metal film by lithography.
  • the metal film is etched by a wet etching method or a dry etching method to form a gate electrode 41.
  • the insulating film 38 is etched by a wet or dry etching method to obtain a capacitor 37.
  • electron beam evaporation is performed from a direction inclined at a predetermined angle with respect to the surface of the rear substrate 12, so that, for example, an aluminum electrode is formed on the gate electrode 41.
  • An exfoliation layer made of minium or nickel is formed.
  • molybdenum as a material for forming a force source is vapor-deposited from a direction perpendicular to the surface of the rear substrate 12 by an electron beam vapor deposition method.
  • the electron-emitting device 18 is formed inside each cavity 37.
  • the release layer and the metal film formed thereon are removed by a lift-off method.
  • a plate-shaped support member 14 is sealed on the rear substrate 12 with a low-melting glass.
  • a phosphor screen 15 is formed on a plate glass serving as the front substrate 11.
  • a glass plate having the same size as the front substrate 11 is prepared, and a stripe pattern of a phosphor layer is formed on the glass plate by a plotter machine.
  • the plate glass on which the phosphor strip pattern is formed and the plate glass for the front substrate are placed on a positioning jig and set on an exposure table, so that exposure and current can be performed.
  • the image is formed to form phosphor screen 15.
  • a metal knock layer 19 made of an aluminum film is formed on the phosphor screen 15.
  • the backing substrate 12 on which the support members 14 are sealed as described above, the front substrate 11 on which the phosphor screen 15 is formed, and the sealing material 3 on the sealing surfaces of the side walls 13. 4 Apply indium.
  • indium is applied to the inner surfaces of the peripheral portions of the rear substrate 12 and the front substrate 11. After that, they are put into the vacuum processing apparatus 100 in a state where they are opposed to each other with a predetermined gap.
  • a vacuum processing apparatus 100 as shown in FIG. 24 is used.
  • the vacuum processing apparatus 100 includes a loading chamber 101, a baking, electron beam cleaning chamber 102, a cooling chamber 103, a getter film deposition chamber 104, and an assembling chamber provided in this order. It has 105, cooling room 106, and unloading room 107. Each of these chambers is configured as a processing chamber capable of performing vacuum processing, and all of the chambers are evacuated during FED manufacturing. Adjacent processing chambers are connected by a gate valve or the like.
  • the above-mentioned rear substrate 12, side wall 13, and front substrate 11 are put into a load chamber 101, and a vacuum atmosphere is set in the load chamber 101, and then, a baking and an electron beam cleaning chamber are performed. Sent to 102. In the baking and electron beam cleaning chamber 102, the assembly and the front substrate are heated to a temperature of 350 ° C. to release the surface adsorption gas of each member.
  • the attached electron beam generator (not shown) irradiates the phosphor screen surface of the front substrate 11 and the electron emission element surface of the rear substrate 12 with an electron beam. Since this electron beam is deflected and scanned by a deflector mounted outside the electron beam generator, it is possible to clean the entire surface of the phosphor screen and the electron emission element surface with the electron beam. Becomes
  • the assembly and the front substrate are sent to a cooling chamber 103 and cooled to a temperature of, for example, about 100 ° C. Subsequently, the assembly and the front substrate are sent to a deposition chamber 104 for getter film formation, where a Ba film is formed as a getter film outside the phosphor screen. Is done. Since the surface of the Ba film can be prevented from being contaminated by oxygen, carbon, or the like, the active state can be maintained.
  • the rear substrate 12, the side wall 13, and the front substrate 11 are sent to the assembly chamber 105.
  • these members are heated to a temperature of, for example, about 130 ° C., and the two substrates are superimposed at a predetermined position.
  • the side walls are held by gripping the protrusions 13 a, 13 b, 13 c, and 13 d provided on the side walls 13, and the rear substrate 12, the side walls 13, and Position the front boards 1 1 relative to each other.
  • markings corresponding to the protrusions 13a, 13b, 13c, and 13d of the side wall 13 are provided on the rear substrate 12, and the protrusions and the markings are monitored.
  • the side wall 13 can be positioned with high accuracy on the rear substrate.
  • the protruding portions 13a, 13b, 13c, and 13d protrude outward from the side wall 13 so that they can be inserted into the assembly chamber 105. Even in this case, the side wall 13 can be easily chucked, transported, and positioned using these protrusions.
  • the protruding portions 13 a, 13 b, 13 c, and 13 d of the side wall 13, which is a high melting point conductive member two opposing protruding portions, for example, the protruding portion 13 a
  • the electrode is brought into contact with 13 c, and a direct current of 300 A is applied to the side wall 13 for 40 seconds.
  • this current also flows through the indium simultaneously, and the side wall 13 and indium generate heat.
  • the indium is heated to about 160 to 200 ° and melted.
  • a pressing force of about 50 kgf is applied to the superposed front substrate 11 and rear substrate 12 from both sides.
  • the power supply to the side wall 13 is stopped, and the heat of the sealing region, that is, the side wall 13 and the sealing material 34 is quickly transferred and diffused to the surrounding front substrate 11 and back substrate 12. Solidifies indium.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sealed via the side walls 13 and the sealing material 34 to form the vacuum envelope 10.
  • the sealed vacuum envelope 10 is removed from the assembly chamber 105 in about 60 seconds. Then, the vacuum envelope 10 thus formed is cooled to room temperature in the cooling chamber 106, and is taken out from the unload chamber 107.
  • the back substrate 12, the side walls 13, and the front substrate 11 are sealed in a vacuum atmosphere.
  • the surface adsorbed gas can be sufficiently released, and the getter film is not oxidized and has a sufficient gas adsorption effect.
  • Fruit can be maintained.
  • a high-melting-point conductive material such as iron-nickel alloy is used for the side wall 13, and the protrusions 13 a, 13 b, 13 c, and 13 d that can be gripped on the side wall are provided.
  • the indium when the indium is melted to energize the high-melting-point conductive member, the indium, which has a large unevenness in the cross-sectional area of the molten indium, breaks, causing the glass to be locally heated. It is possible to prevent cracking. Therefore, it is possible to easily and reliably seal the vacuum envelope.
  • a lead-free image display device By sealing the rear substrate 12, the front substrate 11, and the side wall 13 by using an image, a lead-free image display device can be obtained.
  • the protruding portions of the high melting point conductive member constituting the side wall are not limited to the above-described embodiment. That is, it is sufficient that four or more protruding portions are provided apart from each other, and it is possible to provide the protruding portions at any position without being limited to the corner portions of the side walls.
  • the side wall 13 as the high melting point conductive member is formed in a rectangular frame shape, and the center of each side is formed. It has protrusions 13a, 13b, 13c, and 13d that protrude outwardly. Also in this case, the electrodes are brought into contact with the projecting portions 13a and 13c facing each other to pass a lightning current, and the envelope is sealed as in the fourth embodiment described above. can do.
  • Other configurations are the same as those of the first embodiment.
  • each protruding portion of the side wall 13 is configured to extend to the vicinity of the corner of the rear substrate 12, but according to the FED according to the modification shown in FIG.
  • the protrusions 13 a, 13 b, 13 c, and 13 d of the side wall 13 extend beyond the periphery of the rear substrate 12 to the outside of the rear substrate.
  • the other configuration is the same as that of the above-described fourth embodiment, and the same portions are denoted by the same reference characters and detailed description thereof will not be repeated.
  • the FED having the above configuration is manufactured by the same method as in the above-described fourth embodiment.
  • each protruding portion of the side wall protrudes outside the rear substrate. This makes it easier to grip and position the side walls in the manufacturing process.
  • the current flowing through the high-melting-point conductive member is not limited to DC, but may be a commercial frequency or a high-frequency AC.
  • the FED includes a front substrate 11 and a rear substrate 12 each made of rectangular glass, and these substrates have a clearance of, for example, about 1.6 mm. Are placed facing each other.
  • the size of the rear substrate 12 is slightly larger than that of the front substrate 11, and a video signal described later is input to the outer periphery of the rear substrate 12.
  • Lead-out lines (not shown) are formed. Then, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are joined to each other through a substantially rectangular frame-shaped sealing portion 20 to form a flat rectangular vacuum whose inside is maintained in a vacuum state.
  • the sealing part 20 constituting the envelope 10 is made up of a high-melting-point conductive member 42 in the form of a rectangular frame having conductivity and the second and third sealing materials 34 a and 34.
  • the high-melting-point conductive member 42 is bonded to the peripheral portion of the front substrate 11 via the first sealing material 34 a, and the second sealing material 3 2 It is bonded to the peripheral portion of the rear substrate 12 via 4b.
  • the high melting point conductive member 42 has a higher melting point or softening point (that is, a temperature suitable for sealing) than the first and second sealing materials 34a and 34b. Alloys are used. In addition, a material containing at least one of Fe, Cr, ⁇ , and AI is used as the conductive high-melting-point conductive member. Further, as the first sealing material 34a, a material having a low melting point or softening point is also used for the second sealing material. Here, for example, indium or an indium alloy is used as the first sealing material, and insulative frit glass is used as the second sealing material.
  • the melting point or softening point of the high melting point conductive member 42 is 500 ° C. or more
  • the melting point or softening point of the second sealing material is 300 ° C. or more
  • the melting point or softening point of the first sealing material Is set to less than 300 ° C.
  • a video signal is input to the electron-emitting device 18 and the gate electrode 41 formed in a simple matrix system.
  • a gate voltage of +100 V is applied when the luminance is the highest.
  • +10 kV is applied to the phosphor screen 15.
  • an electron beam is emitted from the electron-emitting device 18.
  • the size of the electron beam emitted from the electron-emitting device 18 is modulated by the voltage of the gate electrode 41, and this electron beam passes through the phosphor layer of the phosphor screen 15. Images are displayed by exciting and emitting light.
  • the electron-emitting devices 18 and various wirings are formed on a glass plate for the rear substrate.
  • the plate-like support member 14 is sealed on the rear substrate 12 with a frit glass as a low-melting glass.
  • the high-melting-point conductive member 42 is adhered to the peripheral portion of the rear substrate 12 by using insulating glass as the second sealing material 34b.
  • the high melting point conductive member 42 is heated to the melting point or softening point of the second sealing material 34 b, but the shape is deformed because the melting point and softening point are higher than the second sealing material. There is nothing to do.
  • the second sealing material 34b has a thickness of 100 m or more. It is desirable that it be formed. Usually, this heating is performed by warming the entire back substrate 12 from the surroundings. However, it is also possible to apply a current to the high melting point conductive member 42 and locally heat only the sealing region.
  • a phosphor screen 15 is formed on a plate glass serving as the front substrate 11.
  • a glass plate having the same size as the front substrate 11 is prepared, and a stripe pattern of a phosphor layer is formed on the glass plate with a plotter machine.
  • the glass plate on which the phosphor strip pattern is formed and the glass plate for the front substrate are placed on a positioning jig and set on an exposure table.
  • a metal chuck layer 19 made of an aluminum film is formed on the phosphor screen 15.
  • the rear substrate 12 on which the support member 14 and the high melting point conductive member 42 are sealed, and the front substrate 11 on which the phosphor screen 15 is formed are sealed on the sealing surface of the front substrate 11.
  • An adhesive is applied as the first sealing material 3 4 a.
  • indium is applied to the high melting point conductive member 42 and the inner surface of the peripheral portion of the front substrate 11. Thereafter, these are placed in a vacuum processing apparatus 100 shown in FIG. 24 in a state where they are opposed to each other with a predetermined gap.
  • the above-mentioned rear substrate 12 and front substrate 11 are put into a load chamber 101, and after the load chamber 101 is evacuated to a vacuum atmosphere, it is sent to a baking and electron beam cleaning chamber 102.
  • the rear substrate 12 and the front substrate 11 are heated to a temperature of 350 ° C. to release the surface adsorbed gas of each member.
  • an electron beam generator (not shown) installed in the electron beam cleaning chamber 102, the phosphor screen surface of the front substrate 11 and the electron emission element surface of the rear substrate 12 are used. Is irradiated with an electron beam. Since this electron beam is deflected and scanned by a deflector mounted outside the electron beam generator, it is possible to clean the entire surface of the phosphor screen and the electron emission element surface with the electron beam. Becomes
  • the rear substrate 12 and the front substrate 11 are sent to a cooling chamber 103 and cooled to a temperature of about 100 ° C., for example. Subsequently, the rear substrate 12 and the front substrate 11 are sent to a deposition chamber 104 for forming a getter film, where a Ba film is formed outside the phosphor screen as a getter film. Is formed by vapor deposition.
  • the rear substrate 12 and the front substrate 11 are sent to the assembly chamber 105.
  • these members are set at a temperature of, for example, about 130 ° C., and the two substrates are superposed at a predetermined position.
  • the electrode is brought into contact with the high melting point conductive member 42, and a direct current of 300 A is applied for 40 seconds.
  • the current flows simultaneously to the first sealing material 34a, that is, indium, and the high-melting-point conductive member 42 and indium generate heat.
  • the indium is heated to about 160 to 200 ° C. and melts or softens.
  • a pressing force of about 50 kgf is applied to the superposed front substrate 11 and rear substrate 12 from both sides.
  • the heating at this time is lower than the melting point or softening point of the second sealing material 34 b, the high melting point conductive member 42 is bonded.
  • the second sealing material 3 4 b is not deformed.
  • the energization is stopped, and the heat of the high-melting-point conductive member 42 and the indium is quickly radiated to the front substrate 11 and the rear substrate 1 surrounding the indium. 2
  • the heat is transferred and diffused to solidify the indium.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sealed via the high melting point conductive member 42, the first and second sealing materials 32, 34, and the vacuum envelope 10 is closed.
  • the sealed vacuum envelope 10 is removed from the assembly room 105 in about 60 seconds.
  • the vacuum envelope 10 formed in this way is cooled to room temperature in the cooling chamber 106 and taken out from the unloading chamber 107.
  • the cross-sectional area of the high melting point conductive member 42 is desirably at least 0.1 mm 2 or more. However, if the cross section is too large, the current required for heating will increase.
  • the high melting point conductive member 42, the first and second sealing materials 32, 34 have basically the same coefficient of thermal expansion as the back substrate and the front substrate. .
  • the thermal expansion coefficient of the high melting point conductive member 42 is set to a value that is lower than the maximum value of the numerical value range of ⁇ 20 1 ⁇ 2 of the thermal expansion coefficient of each of the front substrate 11 and the rear substrate 12. Have been.
  • Example 1 A vacuum envelope 10 applied to a 36-inch TV FED display device was formed.
  • Both the front substrate 11 and the rear substrate 12 are made of a glass material having a thickness of 2.8 mm, and the high melting point conductive member 42 also serving as a side wall has a width of 2 mm and a height of 1.5 mm.
  • i-F e consists of alloy.
  • the high-melting-point conductive member 42 is bonded to the back substrate 12 via a 0.2 mm-thick flat glass, which is a second sealing material. It is bonded to the front substrate 11 via an indium having a thickness of 0.3 mm.
  • the linear thermal expansion coefficients of the flat glass and the Ni-Fe alloy are 970/0,
  • This vacuum envelope was manufactured by the following method.
  • either the rear substrate 12 or the high-melting-point conductive member 42 is filled with the fit glass, and pre-fired. Then, the rear substrate 12 and the high-melting-point conductive member 42 are overlapped at a predetermined position, and heated and joined at 400 ° C. in the air. At this time, the thickness of the frit glass layer is set to 0.2 mm in order to stably insulate the lead wires on the rear substrate 12 and the high melting point conductive member 42. You.
  • the front substrate 11, the high melting point conductive member 42, and the sealing surface are filled with indium, respectively.
  • the back substrate 12 and the front substrate 11 to which the high-melting-point conductive member 42 is bonded are placed in a vacuum chamber and heated and degassed, and then a getter film is formed on the front substrate 11. Both are superposed at a predetermined position.
  • a direct current of 300 A was applied to the high melting point conductive member 42 and indium. Energize for 0 seconds to heat and melt the indium to about 160 to 180 ° C.
  • a pressure of about 50 kgf is applied to the superposed front substrate 11 and rear substrate 12.
  • the distance between the front substrate 11 and the rear substrate 12 is 2 mm, which is the height of the support member 14, and as a result, the thickness of the indium layer is 0.3 mm. .
  • the power supply is stopped, and the heat of the sealing portion is quickly transferred and diffused to the front and rear substrates to solidify the indium.
  • the sealed enclosure is removed in about 60 seconds. .
  • the aim was to improve mass productivity.
  • indium was used for the first sealing material and frit glass was used for the second sealing material.
  • the melting or softening temperature of the first sealing material was lower than that of the first sealing material.
  • Other materials may be used as long as they have a relationship lower than the melting or softening temperature of the sealing material.
  • the current to be supplied is not limited to DC, but may be commercial frequency or high frequency AC.
  • the sealing portion 20 that seals the peripheral portions of the front substrate 11 and the rear substrate 12 together has a rectangular frame-like side wall 1 made of glass. 3 was included.
  • the side wall 13 is adhered to the peripheral portion of the rear substrate 12 by means of the flat glass 44, and the frame-shaped height is formed on the side wall 13 via the flat glass 34 b.
  • Melting point conductive member 4 2 bonded Have been.
  • the high-melting-point conductive member 42 is bonded to the peripheral portion of the front substrate 11 via the indium 34a.
  • the high-melting-point conductive member 42 Since the side wall 13 is included, the high-melting-point conductive member 42 has a width of 2 mm and a height of 0.2 mm. Therefore, the cross-sectional area of the high-melting point conductive member 42 is 0.4 mm 2, which is smaller than that of Example 1. Therefore, the current required for energizing heating can be reduced to the 30 O A force of Example 1 and 8 O A, and the heat generation measures of the current applying device can be simplified.
  • the sealing of the high melting point conductive member to the rear substrate and the remaining substrate can be performed in two separate steps, and at the same time, the final sealing is performed.
  • the high-melting-point conductive material is sealed to one of the substrates with the second sealing material in advance, it is sealed to the other substrate via the first sealing material by energizing and heating. By doing so, the thickness of the sealed portion can be maintained uniform, and a highly airtight sealed portion can be obtained.
  • the high melting point conductive member serving as a side wall can be accurately sealed at a desired position.
  • an FED that can easily and reliably perform sealing in a vacuum atmosphere without deteriorating airtightness or causing insulation problems with the lead wire, etc. And a method for producing the same.
  • the high-melting-point conductive portion is used.
  • both surfaces of the material and the front substrate are filled in advance with the first sealing material, either one of them may be filled with the first sealing material.
  • an appropriate underlayer treatment may be performed between the first sealing material and the substrate.
  • a configuration may be adopted in which the high-melting-point conductive member is bonded to the rear substrate via the first sealing material, and is bonded to the front substrate via the second sealing material.
  • this FED includes a front substrate 11 and a rear substrate 12 each made of a rectangular glass having a thickness of 2.8 mm as an insulating substrate. These substrates are opposed to each other with a gap of about 2.0 mm, for example.
  • the size of the rear substrate 12 is slightly larger than that of the front substrate 11, and a lead line (not shown) for inputting a video signal is formed on an outer peripheral portion thereof. Then, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are joined to each other through a substantially rectangular frame-shaped sealing portion 20 to form a flat rectangular vacuum whose inside is maintained in a vacuum state.
  • the envelope 10 is constituted.
  • the sealing portion 20 includes a rectangular frame-shaped high melting point conductive member 42 having conductivity and first and second sealing members 34a and 34b.
  • the high melting point conductive member 42 which also functions as a side wall, is adhered to the periphery of the front substrate 11 via the first sealing material 34a, and the second sealing material 3 It is connected to the periphery of rear substrate 12 via 4b.
  • the high melting point conductive member 42 has a melting point or softening point higher than the first and second sealing materials 34 a and 34 b (that is, suitable for sealing).
  • a melting point or softening point higher than the first and second sealing materials 34 a and 34 b that is, suitable for sealing.
  • an iron-nickel alloy is used.
  • a material containing at least one of Fe, Cr, Ni, and AI is used as the conductive high-melting-point conductive member.
  • indium or an indium alloy is used as the first and second sealing materials 32.
  • the melting point or softening point of the high melting point conductive member 42 is 500 ° C. or higher, and the melting points or softening points of the first and second sealing materials 34 a and 34 b are
  • the temperature be less than 300 ° C.
  • the high melting point conductive member 42 and the first and second sealing materials 34a and 34b have a maximum value in the numerical range of ⁇ 20 Q / o with respect to the thermal expansion coefficient of the front substrate and the rear substrate. It is desirable to have a thermal expansion coefficient between the value and the minimum value.
  • the high-melting-point conductive member 42 has a resilience in a direction perpendicular to the surfaces of the front substrate 11 and the rear substrate 12, that is, a spring property.
  • the high melting point conductive member 42 has a resilience in a direction perpendicular to the surfaces of the front substrate 11 and the rear substrate 12, that is, a spring property.
  • the high-melting-point conductive member 42 has a substantially V-shaped cross section.
  • the high-melting-point conductive member 42 is disposed between the front substrate 11 and the rear substrate 12 while being slightly elastically deformed in the direction in which the angle of the V-shape decreases. A desired pressing force is applied to the inner surfaces of the front substrate and the rear substrate.
  • the high-melting-point conductive member 42 is desirably set to have a spring constant of about 0.1 kgfZmm to 1.0 kgfZmm.
  • a plurality of plate-shaped support members 14 are provided to support an atmospheric pressure load applied to the front substrate 11 and the rear substrate 12.
  • These support members 14 are In addition to being arranged in a direction parallel to the short side of the enclosure 10 and being arranged at predetermined intervals along a direction parallel to the long side, the shape of the support member 14 is
  • the present invention is not limited to a plate shape, and for example, a columnar support member or the like may be used.
  • the electron-emitting devices 18 and various wirings are formed on a glass plate for the rear substrate. Subsequently, in the atmosphere, a plate-like support member 14 is fixed on the rear substrate 12 by, for example, a frit glass.
  • a phosphor screen 15 is formed on a plate glass to be the front substrate 11.
  • a glass plate having the same size as the front substrate 11 is prepared, and a stripe pattern of the phosphor layer is formed on the glass plate by a plotter machine.
  • the glass plate on which the phosphor strip pattern is formed and the glass plate for the front substrate are placed on a positioning jig and set on an exposure table.
  • a metal back layer 19 made of an aluminum film is formed on the phosphor screen 15.
  • the inner peripheral portion of the front substrate 11 serving as the sealing surface and the inner peripheral portion of the back substrate 12 are filled with indium as first and second sealing materials in a frame shape, respectively.
  • the thickness of the formed film layer is set to about 0.3 mm, which is finally formed to be thicker than the film thickness after the envelope is assembled.
  • the high-melting-point conductive member 42 is formed in a rectangular frame shape from a 0.2 mm thick Ni—Fe alloy, and has a cross-sectional shape having a width of one side of about 15 mm. It has an almost V shape.
  • the linear thermal expansion coefficient of the Ni-Fe alloy is approximately equal to the linear thermal expansion coefficient of the glass material forming the substrate.
  • the front substrate 11 on which the phosphor screen 15 is formed as described above, and the rear substrate 12 on which the support member 14 is fixed are arranged to face each other with a predetermined gap therebetween, and Then, with the high melting point conductive member 42 placed between the substrates, it is put into the vacuum processing apparatus 100 shown in FIG.
  • the above-mentioned rear substrate 12 and front substrate 11 are put into the load chamber 101, and the inside of the load chamber 101 is evacuated to vacuum, and then sent to the baking and electron beam cleaning chamber 102.
  • the electron beam generator (not shown) installed in the baking and electron beam cleaning chamber 102 emits electrons from the phosphor screen surface of the front substrate 11 and the rear substrate 12.
  • the element surface is irradiated with an electron beam.
  • This electron beam is emitted outside the electron beam generator. Since deflection scanning is performed by the deflection device mounted on the unit, it is possible to clean the entire surface of the phosphor screen and the surface of the electron-emitting device with an electron beam.
  • the rear substrate 12 and the front substrate 11 are sent to a cooling chamber 103 and cooled to a temperature of about 100 ° C., for example. Subsequently, the rear substrate 12 and the front substrate 11 are sent to a deposition chamber 104 for forming a getter film, where a Ba film is formed outside the phosphor screen as a getter film. It is formed by evaporation. 'Subsequently, the rear substrate 12 and the front substrate 11 are sent to the assembly chamber 105. In this assembly chamber 105, as shown in FIG.
  • these substrates are heated to, for example, about 100 ° C., ie, the first and second sealing materials 34 a
  • the front substrate 11, the rear substrate 12, and the high-melting-point conductive member 42 are relatively aligned while maintaining the temperature lower than the melting point or the softening point of, 34b.
  • the indium layers of the first and second sealing materials 34a and 34b are in a solidified state.
  • the temperature of the front substrate 11 and the rear substrate 12 is set to a temperature lower than the melting point or softening point of the first and second sealing materials 34a and 34b until immediately before the energization heating step described later. It is maintained, and desirably, the temperature difference from the melting point of the sealing material is in the range of 20 ° C to 150 ° C.
  • the V-shaped high-melting-point conductive member 42 is pressed from both sides by the first and second sealing materials 34 a and 34 b in a solid state, and is directed in a direction perpendicular to the substrate. It is elastically deformed and the angle of the V-shape decreases.
  • the thickness of the first and second sealing materials 34a and 34b which are thicker, is absorbed, and the gap between the central portion of the front substrate and the rear substrate and the sealing portion between the sealing portions is absorbed. Differences can be eliminated. Therefore, even in the sealing portion 20, the front substrate 11 and the rear substrate 12 do not warp, and the distance between the front substrate 11 and the rear substrate 12 is wide over the entire area. It is held at about 2 mm, which is equal to the height of the support member 14.
  • the electrode is brought into contact with the high-melting-point conductive member 42 and a direct current of 140 A is applied for 40 seconds. Then, the current flows simultaneously to the first and second sealing materials 34a and 34b, that is, indium, and the high-melting-point conductive member 42 and indium generate heat. As a result, indium is heated to about 200 ° C. and melts or softens. Then, when the first sealing material 34a is melted or softened, the energization is stopped, and the heat of the high-melting-point conductive member 42 and the indium is quickly radiated to the front substrate 11 and the rear substrate 1 surrounding the indium. 2 Indium is solidified by heat transfer and diffusion.
  • the high-melting-point conductive member 42 applies the molten or softened substrate to the substrate with an appropriate panel force due to its own restoring property or spring property. Press inward. Thereby, each indium layer solidifies in a slightly crushed state. At this time, the thickness of the indium layer is 0.1 on average. It is about 5 mm.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sealed via the high melting point conductive member 42, the first and second sealing materials 34a, 34b, and the vacuum
  • the container 10 is formed. After turning off the power, approx.
  • the sealed vacuum envelope 10 is scarred from the assembly chamber 105. Then, the vacuum envelope 10 thus formed is cooled to room temperature in the cooling chamber 106 and taken out from the unload chamber 107.
  • the rear substrate and the front substrate can be sealed in a vacuum atmosphere, and at the same time, the sealing can be performed by energizing and heating, which is excellent in mass productivity. can do.
  • the high-melting-point conductive member has a resilient property in a direction perpendicular to the substrate, the gap between the substrate and the central portion of the substrate during sealing is eliminated.
  • the molten or softened sealing material can be pressed toward the substrate with an appropriate spring force due to the high melting point conductive member, thereby preventing a leak path from being generated due to a shortage of the sealing material. It is possible to suppress.
  • the high-melting-point conductive member having a V-shaped cross section is used.
  • the high-melting-point conductive member has a spring property in a direction perpendicular to the surfaces of the front substrate and the rear substrate. If so, other shapes may be used.
  • the high melting point conductive member 42 constituting the sealing portion 20 is made of Ni—Fe alloy copper.
  • a pipe-shaped member with a thickness of 0.12 mm and a diameter of 3 mm is used.
  • the high-melting-point conductive member 42 is adhered to the front substrate 11 and the rear substrate 12 via the first and second sealing materials 34a and 34b, respectively. I have.
  • the high-melting-point conductive member 42 has spring properties in a direction perpendicular to the surfaces of the front substrate 11 and the rear substrate 12.
  • the high-melting-point conductive member 42 elastically deforms into a crushed state, and applies an appropriate spring force in a direction perpendicular to the surfaces of the front substrate 11 and the rear substrate 12. I have.
  • Other configurations are the same as those of the above-described sixth embodiment, and a detailed description thereof will be omitted.
  • the FED having the above configuration is manufactured by the same method as in the above-described sixth embodiment. Then, when the manufacturing conditions were the same as those in the sixth embodiment, a direct current of 40 A was applied to the high-melting-point conductive member 42 for 40 seconds during energization heating, thereby indium was removed. By melting and cooling for 40 seconds after melting, indium is solidified and sealing can be performed. Therefore, also in the seventh embodiment, the same operation and effect as those of the above-described sixth embodiment can be obtained, and the energization and cooling time can be reduced, and the manufacturing efficiency can be improved. It becomes possible.
  • a sealing material 35 such as indium is made of a high melting point conductive member.
  • the entire outer peripheral surface of 42 may be filled.
  • the filling of the indium is completed only by immersing the high-melting-point conductive member 42 in the indium solder bath, and the time and effort required for manufacturing can be saved.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 can be directly sealed with the sealing material itself, and the airtightness of the vacuum envelope is improved.
  • indium as a sealing material is filled on the substrate side, but may be filled on the high melting point conductive member side.
  • the current flowing through the high-melting-point conductive member is not limited to DC, but may be a commercial frequency or a high-frequency AC.
  • the high-melting-point conductive member is arranged at a predetermined position in the vacuum chamber at the time of assembling.
  • a sealing material such as indium is used to form the high-melting-point conductive member. It may be configured to be adhered to the front substrate or the rear substrate.
  • the FED has a front substrate 11 and a rear substrate 12 each made of rectangular glass, and these substrates are opposed to each other with a gap of 2 mm.
  • the diagonal dimension is 10 inches
  • the size of the rear substrate 12 is larger than that of the front substrate 11, and wiring for inputting a video signal described later is drawn out on the outer periphery. Have been.
  • the front substrate 1 1 and the rear substrate 1 2 are rectangular side walls 1 3 Peripheral portions are joined to each other via a via hole to form a flat rectangular vacuum envelope 10 whose inside is maintained in a vacuum state.
  • the rear substrate 12 and the side wall 13 are joined by a flat glass 40, and the front substrate 11 and the side wall 13 are connected by an insulator 21a as a conductive sealing material. They are joined by 2 1 b.
  • a plurality of plate-shaped support members 14 are provided to support an atmospheric pressure load applied to the front substrate 11 and the rear substrate 12. These support members 14 extend in a direction parallel to the short side of the vacuum envelope 10 and are arranged at predetermined intervals along a direction parallel to the long side. I have.
  • the support member 14 is not limited to a plate shape, and may be a column shape.
  • a phosphor screen 15 is formed on a plate glass serving as the front substrate 11.
  • a glass plate having the same size as the front substrate 11 is prepared, a phosphor strip pattern is formed on the glass plate by a plotter machine, and the phosphor strip pattern is formed.
  • the glass plate with the pattern and the glass plate for the front substrate are placed on a positioning jig and set on an exposure table.
  • a phosphor screen is generated on a glass plate serving as the front substrate 11.
  • overlay the phosphor screen 15 To form a metal layer 19.
  • the electron-emitting device 18 is formed on the plate glass for the rear substrate 12 by the same steps as those in the above-described embodiment. After that, the side wall 13 and the support member 14 are sealed on the inner surface of the back substrate 12 with a frit glass 40 in the atmosphere.
  • indium 21b is applied to a predetermined width and thickness over the entire periphery of the joining surface of the side wall 13 and the front surface is also applied.
  • An indium 21a is applied to a position facing the side wall of the substrate 11 in a rectangular frame shape with a predetermined width and thickness.
  • the rear substrate 12 and the front substrate 11 are placed in a vacuum device while being opposed to each other with a predetermined distance therebetween.
  • the arrangement of the indiums 21a and 21b with respect to the side wall 13 and the sealing portion of the front substrate 11 is based on the method of applying molten indium to the sealing portion and the solid state. This is performed by a method of placing the indium on the sealing part.
  • the vacuum processing apparatus 100 includes, similarly to the above-described embodiment, a load chamber 101 arranged side by side, a backing, an electron beam cleaning chamber 102, a cooling chamber 103, and a getter. It has a vapor deposition chamber 104, an assembling chamber 105, a cooling chamber 106, and an unloading chamber 107.
  • the assembly room 105 is connected to a DC power supply 120 for energization and a computer 122 for controlling the power supply.
  • the computer 122 functions as the control unit and the determination unit in the present invention.
  • vacuum processing equipment Each of the chambers 100 is configured as a processing chamber capable of performing vacuum processing, and all the chambers are evacuated during the manufacture of the FED. These processing chambers are connected to each other by a gate valve (not shown).
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 arranged at a predetermined distance from each other are first loaded into the load chamber 101. After the atmosphere in the loading chamber 101 is changed to a vacuum atmosphere, it is sent to the baking and electron beam cleaning chamber 102.
  • various members are heated to a temperature of 300 ° C. to release a gas adsorbed on the surface of each substrate.
  • the electron beam is emitted from an electron beam generator (not shown) attached to the electron beam cleaning chamber 102, and the phosphor screen of the front substrate 11 and the electron emission of the rear substrate 12 Irradiate the element surface.
  • the entire surface of the phosphor screen and the entire surface of the electron-emitting device are cleaned by the electron beam by deflecting and scanning the electron beam by a deflector mounted outside the electron beam generator. And are possible.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 that have been subjected to the heating and the electron beam cleaning are sent to a cooling chamber 103 and cooled to a temperature of about 120 ° C. It is sent to a single film deposition chamber 104.
  • a Ba film is formed as a getter film by vapor deposition outside the phosphor layer. The Ba film can prevent the surface from being contaminated with oxygen, carbon, and the like, and can maintain an active state.
  • the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sent to the assembly chamber 105.
  • the front board 11 and the back While maintaining the temperature of the surface substrate 12 at about 120 ° C., the electrodes for current supply are brought into contact with the indiums 21 a and 21 b of each substrate.
  • the power supply terminals 30 a and 30 b are connected to two diagonally opposite corners. Make contact.
  • the power supply terminals 32a and 32b are brought into contact with two diagonally opposite corners of the indium 21b formed on the side wall 13 on the rear substrate 12 side. It is desirable that the power supply terminals 30a and 30b and the power supply terminals 32a and 32b do not overlap each other and are arranged at shifted corners.
  • the indium 21a on the front board 11 and the Electric current is applied to each of the indium 21b to melt the indium.
  • a DC current of 120 to 70 A is supplied to the indium 21 for 1 second in the constant current mode.
  • the constant current mode is a method in which current is supplied at a predetermined constant current value.
  • the voltage value is fed back from the power supply 120 and is taken into the computer 122.
  • this one-second constant current mode is a process for detecting the total electrical resistance based on the contact resistance and the variation in the arrangement of indium 21. This makes it possible to instantaneously detect contact resistance, indium arrangement variation, and the like, and individually optimize the voltage value in the next constant voltage mode.
  • the constant voltage mode is a method in which power is supplied at a predetermined constant voltage value. Then, since the temperature of indium 21a and 21b rises due to energization, the current value of indium gradually decreases from 70A.
  • the electrical resistance of indium 21a and 21b has the characteristics shown in FIG.
  • indium 21a and 21b in the solid region where the temperature is lower than the melting point, the resistance rises gently as a linear function as the temperature rises, and when the melting point is reached, the resistance rises at once. To rise. In the liquid region where the temperature is higher than the melting point, the resistance gradually rises gently as a linear function. Therefore, the power value of the power supply 120 and the current flowing into the computer 122 change substantially as shown in FIG.
  • Figure 42 shows a graph of the actually measured current values.
  • the current value that gradually decreases at the beginning decreases greatly as the indium 21a and 21b melt, and the reduction does not occur after melting. Therefore, by monitoring the slope of the change in the current value taken into the computer 122, or by monitoring the amount of decrease in the current value, the indium 21a, 21 b It can be determined whether the whole has melted.
  • FIG. 43 is a graph of the slope of the current value change shown in FIG. In the region B where the change in inclination has subsided, indiums 21a and 21b are completely melted.
  • the completion of melting of the indiums 21a and 21b is determined by monitoring the change in the slope of the current value by the computer 122, and the power supply 120 supplies the indium 2 Stop supplying power to 1 a and 21 b.
  • the power supply 120 supplies the indium 2 Stop supplying power to 1 a and 21 b.
  • the sealing time can be significantly reduced.
  • the time required for the indium 21a and 21b to melt is about 15 seconds, and the time required for the indium to solidify and reach 130 ° C or less after pressurization. Was about 2 minutes.
  • the vacuum envelope 10 formed by the above process is cooled to room temperature in the cooling chamber 106 and taken out of the unloading chamber 107. Thereby, FED is completed.
  • the surface adsorbed gas is obtained by using both baking and electron beam cleaning. Can be sufficiently released, and a getter film having excellent adsorption ability can be obtained. Also, by sealing and joining the indium by energizing and heating the indium, the front substrate and the back substrate can be sealed. Since it is not necessary to heat the entire plate, problems such as deterioration of the getter film and cracking of the substrate during the sealing process can be eliminated, and at the same time, the sealing time can be reduced.
  • the eighth embodiment it is possible to electrically detect the completion of melting of indium by monitoring the change in the slope of the current value during the heating of the indium by energization. Therefore, it is possible to set the energizing conditions and the energizing stop appropriately, and to easily complete the joining in the order of several minutes. Therefore, a manufacturing method excellent in mass productivity can be achieved, and at the same time, an FED capable of obtaining a stable and good image can be manufactured at low cost.
  • the influence of the variation in arrangement of the indiums 21a and 21b is small, and the current value itself is measured. It is possible to determine the completion of the melting of the re-indium. Therefore, as a ninth embodiment, a method of sealing an FED having the same size as above by measuring a change in the current value itself will be described.
  • the sidewalls of the side walls 13 and the front substrate 11 are formed such that the coating width of the indiums 21a and 21b is 4 mm and the coating thickness is 0.2 mm each. Apply indiums 21a and 21b to opposing positions. These dimensions are necessary to obtain sufficient vacuum tightness and strength characteristics of the vacuum envelope to be formed.
  • the resistance of indium 21a and 21b at 120 ° C is about 27 m ⁇ .
  • the resistance of indium 21a and 21b during melting is about 60 m ⁇ .
  • the power supply terminals 30a, 30b, 32a, and 32b are brought into contact with the indium 21 respectively.
  • a 70 A DC current is applied to each indium 21 in constant current mode for 1 second. Subsequently, the voltage is switched to the constant voltage mode with the voltage value measured by the computer 122, and the power is supplied. Then, the current value decreases by about 35 A. In consideration of the variation, set the judgment value of the completion of image melting to a value higher than the theoretical value. Then, the current value taken into the computer 122 from the power supply 120 is monitored, and when the current is cut off for 2 to 5 seconds after the current value reaches the judgment value, a The entire indium can be melted.
  • the case where the dimensions of the front substrate and the rear substrate are relatively small has been described.
  • the size of the substrate is small as described above, the influence of the indium dispersion is small, and the entire indium melts almost simultaneously at the time of heating while energizing.
  • the size of the substrate is large, the effect of indium dispersion is large, and during energization heating, a phenomenon occurs in which some parts of indium melt and others remain solid. You.
  • the current value applied to the indium decreases, so if a solid portion remains in the indium, the portion does not generate enough heat to melt, and until the entire indium melts. Takes a considerable amount of time. Therefore, when the size of the substrate is large, it is desirable to use a method of judging the completion of melting of indium in the constant current mode.
  • the diagonal dimension is 32 inches.
  • the method of manufacturing an FED in which the distance between the front substrate 11 and the rear substrate "12" is 1.6 mm the method of sealing and joining by measuring the slope of the voltage value will be described.
  • the vacuum processing apparatus 100 is placed in a state where these substrates are opposed to each other with a gap therebetween. Into the box. Then, in the assembly room 105, the opposite corners of the indium 21 arranged on the side wall 13 are maintained while the temperature of the front substrate 11 and the rear substrate 12 is maintained at about 120 ° C.
  • the power supply terminals 30 a, 30 b, 32 a, and 32 b are respectively brought into contact with the opposite corners of the indium arranged on the front substrate 11 and the indium disposed on the front substrate 11.
  • indium is completely melted in the portion C where the change in the inclination has subsided. Therefore, the change of the voltage value The inclination is monitored, and after the state in which the inclination is less than 0.1 continues for 5 seconds, it is determined that indium melting has been completed, and power is cut off.
  • indium 21 a and 21 b It took about 25 seconds to melt the indium, and the time required for the indium to solidify after pressing the front substrate 11 and the back substrate 12 together to reach 130 ° C or less was about 25 seconds. 3.5 minutes.
  • the completion of melting of indium is determined based on the change in the current value or the voltage value.
  • the completion of melting is determined based on the resistance value of indium itself. Noh. Therefore, as a first embodiment, a method of monitoring the resistance value and determining the completion of indium melting in the FED manufacturing method will be described.
  • the indium 21b arranged on the side wall 13 and the indium 21 arranged on the front substrate 11 are formed by the same steps as those of the first embodiment. a is electrically heated in the assembly room 105, and the front substrate and the rear substrate 12 are joined.
  • FIG. 46 shows the change in the resistance value and the slope of the change in the resistance value.
  • the completion of indium melting is determined based on the amount of increase in the resistance value or the slope of the change in the resistance value. For example, after the state in which the slope of the resistance value change is 0.5 or less continues for 5 seconds, it is determined that the melting of indium has been completed, and the heating of the indium is stopped.
  • indium 21 disposed on side wall 13 and indium 21 disposed on front substrate 11 are formed. Is heated in the assembling room 105 to join the front substrate and the rear substrate 12 together.
  • a DC current is applied to the indium 21 from the power supply 120 for 1 second in the constant current mode.
  • the voltage value is fed back to the computer 122.
  • the measured voltage value is output from the computer 122 to the power supply 120, and the constant voltage mode (t1-t Go to 2).
  • the constant current mode is once again performed. (T 2 — t 3). Then, after the indium 21 is energized for a certain period of time in the constant current mode, the energization is stopped.
  • the third step, the constant current mode absorbs variations in the arrangement of indium 21 and is an effective step for reliably melting the entire indium.
  • the energizing conditions, energization stop, and the like are appropriately set, and the joining can be easily completed in the order of several minutes. It can be. Therefore, a manufacturing method with excellent mass productivity can be achieved, and at the same time, FED can be manufactured at low cost, and stable and good images can be obtained. FEDs that can be obtained can be provided.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be variously modified within the scope of the present invention.
  • the energizing conditions and temperature conditions for the inductor can take various values without departing from the spirit of the present invention.
  • the heating temperature of the substrate temperature does not exceed 140 ° C. in order not to lower the adsorption capacity of the getter.
  • the configuration is such that the feedback from the power supply is measured by a computer, but the present invention is not limited to this, and another measuring device such as an ammeter or a voltmeter may be used.
  • the outer shape of the vacuum envelope and the configuration of the supporting member are not limited to the above-described embodiment, and furthermore, a matrix type black light absorbing layer and a phosphor layer And a columnar support member having a cross-shaped cross section may be positioned and sealed with respect to the black light absorbing layer.
  • a pn-type cold cathode device or a surface-conduction-type electron-emitting device may be used as the electron-emitting device.
  • the process of bonding the substrates in a vacuum atmosphere has been described. It is also possible to apply the present invention in an atmosphere environment.
  • the sealing material is not limited to indium, but may be another material as long as it has conductivity. Generally, if a metal undergoes a phase change, a rapid change in resistance occurs. The same method can be performed. For example, a metal containing at least one of In, Sn, Pb, Ga, and Bi can be used as the sealing material.
  • the present invention is not limited to an image display device requiring a vacuum envelope such as an FED or SED, but is also applicable to other image displays such as a PDP in which a vacuum is applied once and then a discharge gas is injected. It is also effective for equipment.
  • the sealing portion can be instantaneously heated with a simpler device, and the sealing material is instantaneously cooled and solidified due to the relationship between heat conduction and heat capacity.
  • the temperature change of the whole substrate at the time of sealing is small, the sealing accuracy is improved, and a flat type image display device having excellent characteristics and productivity, and a method of manufacturing the image display device are provided.
  • a manufacturing apparatus can be provided.

Landscapes

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Description

明 細 書
画像表示装置、 画像表示装置の製造方法および製造装置 技術分野
この発明は平坦な形状の画像表示装置に係 り 、 特に、 真空 の外囲器内部に多数の電子放出素子を設けた画像表示装置、 画像表示装置の製造方法および製造装置に関する。
背景技術
近年、 陰極線管 (以下、 C R T と称する) に代わる次世代 の軽量、 薄型の画像表示装置と して様々な平面型表示装置が 開発されている。 このよ う な平面型表示装置には、 液晶の配 向を利用 して光の強弱を制御する液晶ディ スプレイ (以下、 L C D と称する) 、 プラズマ放電の紫外線によ り 蛍光体を発 光させるプラズマディ スプレイパネル (以下、 P D P と称す る) 、 電界放出型電子放出素子の電子ビームによ り蛍光体を 発光させるフ ィール ドェ ミ ッ シ ョ ンディ スプレイ (以下、 F E D と称する) 、 表面伝導型電子放出素子から放出された電 子ビームによ リ蛍光体を発光させる表面伝導電子放出ディ ス プレイ (以下、 S E D と称する) などがある。
例えば F E Dや S E Dでは、 一般に、 所定の隙間を置いて 対向配置された前面基板および背面基板を有 し、 これらの基 板は、 矩形枠状の側壁を介して周辺部同士を互いに接合する こ と によ り真空の外囲器を構成している。 前面基板の内面に は蛍光体スク リーンが形成され、 背面基板の内面には蛍光体 を励起 して発光させる電子放出源と して多数の電子放出素子 (以下、 ェ ミ ッタ と称する) が設けられている。 また、 背面 基板および前面基板に加わる大気圧荷重を支えるために、 こ れら基板の間には複数の支持部材が配設されている。 背面基 板側の電位はほぼアース電位であ り 、 蛍光体スク リーンには アノ ー ド電圧 V a が印加される。 そ して、 蛍光体スク リーン を構成する赤、 緑、 青の蛍光体にェミ ッタから放出された電 子ビームを照射し、 蛍光体を発光させる こ とによ って画像を 表示する。
このよ う な F E Dや S E Dでは、 装置の厚さ を数 m m程度 にまで薄く する こ とができ、 現在のテ レビやコ ンピュータ の ディ スプレイ と して使用されている C R T と比較して、 軽量 化、 薄型化を達成するこ とができる。
上記のよ う な F E Dや S E Dでは、 外囲器の内部を高真空 にする こ とが必要となる。 また、 P D P においても一度真空 に してから放電ガスを充填する必要がある。
外囲器を真空にする手段と しては、 まず外囲器の構成部材 である前面基板、 背面基板および側壁を適当な封着材料によ リ大気中で加熱して互いに接合 し、 その後、 前面基板または 背面基板に設けた排気管を通 して内部を排気 した後、 排気管 を真空封止する方法がある。 しかし、 平面型の外囲器の場合、 排気管を介 した排気では速度が極めて遅く 、 到達できる真空 度も低い。 そのため、 量産性および特性面に問題があった。
また、 他の方法と して、 外囲器を構成する前面基板および 背面基板の最終組立を真空槽内で行う方法が考え られる。 こ の方法では、 始めに真空槽内に持ち込まれた前面基板および 背面基板を十分に加熱してお く 。 これは、 外囲器の真空度を 劣化させる主因となっている外囲器内壁からのガス放出を軽 減するためである。 次に、 前面基板および背面基板が冷えて 真空槽内の真空度が十分に向上 した時点で、 外囲器真空度を 改善、 維持させるためのゲッ ター膜を蛍光面スク リーン上に 形成する。 その後、 封着材料が溶解する温度まで前面基板お よび背面基板を再び加熱し、 前面基板と背面基板とを所定の 位置に組み合わせた状態で封着材料が固化するまで冷却する このよ う な方法で作成された真空外囲器は、 封着工程と真 空封止工程と を兼ねる う え、 排気管の排気に伴なう 多大な時 間が要らず、 かつ、極めて良好な真空度を得る こ とができる。
しかしなが ら、 このよ う な真空中で組立を行う場合、 封着 ェ程で行なう処理が、 加熱、 位置合わせ、 冷却と多岐に渡リ 、 かつ、 封着材料が溶解固化する長い時間に渡って前面基板と 背面基板と を所定の位置に維持し続けなければならない。 ま た、 封着時の加熱冷却に伴い前面基板および背面基板が熱膨 張して位置合わせ精度が劣化 し易いこ となど、 封着に伴なう 生産性、 特性面で問題がある。
発明の開示
この発明は、 以上の点に鑑みなされたもので、 その目的は、 真空雰囲気中で外囲器を容易にかつ高い精度で組立て可能な 画像表示装置、 画像表示装置の製造方法および製造装置を提 供するこ とにある。
上記目 的を達成するため、 この発明の態様に係る画像表示 装置およびその製造方法は、 対向配置されている と と もに周 縁部が封着された前面基板および背面基板を有する外囲器を 備え、 上記前面基板と背面基板との間に位置 した封着部は、 導電性を有 している と と もに通電する こ とによ り融解する封 着部材によ って封着されている。 すなわち、 封着部に設け ら れた封着部材に通電する こ と で、 封着部材を溶解し封着部を 封着する。
上記のよ う に構成された画像表示装置およびその製造方法 によれば、 導電性を有 した封材部材に電流を流すこ とによ り 生 じる熱によ って主に封着部材のみが加熱溶融される。 そ し て、 封着部材を溶融した直後に電流供給を止める こ とで、 封 着部材はその熱が速やかに前面基板および背面基板に拡散伝 導され、 冷却固化する。 これによ り 、 封着工程において、 前 面基板および背面基板の全体を加熱するための加熱装置が不 要と な リ 、 更に、 封着工程に掛かる時間を大幅に短縮する こ とができる。 また、 前面基板および背面基板の熱膨張が極め て小さ く な リ 、 これらを封着する際、 基板の位置精度劣化を 改善する こ とができる。
また、 この発明の他の態様に係る画像表示装置は、 前面基 板と 、 こ の前面基板に対向配置された背面基板と 、 上記前面 基板および背面基板の周縁部を封着 した封着部と 、 を有する 外囲器を備え、
上記封着部は、 通電によ り加熱溶融されて上記周縁部を封 着する導電性の封着材料、 およびこの封着材料よ り も高い融 点を有 し上記周縁部に配置された導電部材を有している。
上記画像表示装置によれば、 導電部材と導電性の封着材料 に通電する こ とで、 封着材料を加熱溶融し、 通電をやめるこ とで封着材料を冷却個化 し、 前面基板と背面基板とをその周 縁部で封着する。 このよ う に封着材料に通電 して直接加熱す るため、 封着材料を短時間で溶融できる。 また、 導電部材を 十分に太く すれば、 通電量を多 く して溶融時間を短縮 しても 導電部材が断線するこ とはない。 さ らに、 前面基板および背 面基板を加熱する必要がないため、 基板の熱膨張や熱収縮を 防止でき、 基板を封着する際、 位置精度を高 く できる。
本発明に他の態様に係る画像表示装置は、 対向配置された 前面基板および背面基板と、 上記前面基板および上記背面基 板の周辺部を互いに封着 した封着部と 、 を有 した外囲器を備 え、 上記封着部は、 矩形枠状の高融点導電性部材と封着材と を含み、 上記高融点導電性部材は、 上記封着材料よ り も高い 融点を有 している と と もに、 外側へ突出 した 4個以上の突出 部を有 している。
また、 この発明の更に他の態様に係る画像表示装置は、 対 向配置された前面基板および背面基板と 、 上記前面基板およ び上記背面基板の周辺部を互いに封着 した封着部と、 を有 し た外囲器と 、 上記前面基板の内面に形成された蛍光体スク リ ーンと 、 上記背面基板上に設けられ、 上記蛍光体スク リ ーン に電子ビームを放出 し蛍光体スク リーンを発光させる電子放 出源と、 を備え、
上記封着部は、 矩形枠状の高融点導電性部材と封着材と を 含み、 上記高融点導電性部材は、 上記封着材料よ り も高い融 点を有 していると と もに、 外側へ突出 した 4個以上の突出部 を有している。 この発明の態様に係る画像表示装置の製造方法は、 対向配 置された前面基板および背面基板と、 封着材およびこの封着 材ょ リ も融点の高い高融点導電性部材を含み上記前面基板お よび上記背面基板の周辺部を互いに封着 した封着部と、 を有 する外囲器を備えた画像表示装置の製造方法において、
外側へ突出 した 4個以上の突出部を有した矩形枠状の高融 点導電性部材を用意し、 上記前面基板および背面基板の周辺 部の間に上記高融点導電性部材を配置する と と もに、 上記前 面基板と高融点導電性部材との間、 および上記背面基板と高 融点導電性部材との間にそれぞれ封着材を配置し、 上記突出 部を介 して上記高融点導電性部材に通電する こ とで、 上記封 着材を溶融させて上記前面基板および上記背面基板の周辺部 を互いに封着する。
この発明の他の態様に係る画像表示装置は、 対向配置され た前面基板および背面基板と、 上記前面基板および上記背面 基板の周辺部を互いに封着した封着部と、 を有 した外囲器を 備え、 上記封着部は、 枠状の高融点導電性部材と第 1 および 第 2 封着材と を含み、 上記第 1 封着材は上記第 2 封着材ょ リ も低い融点あるいは軟化点を有 し、 上記高融点導電性部材は 上記第 1 および第 2封着材よ り も高い融点あるいは軟化点を 有 し、 上記高融点導電性部材は、 第 1 封着材を介 して上記前 面基板および背面基板の一方に接着され、 第 2 封着材を介 し て上記前面基板および背面基板の他方に接着されている。
また、 この発明の更に他の態様に係る画像表示装置の製造 方法は、 対向配置された前面基板および背面基板を有 し、 高 融点導電性部材と第 1 および第 2 封着材とを含む封着部によ リ前面基板および背面基板の周辺部が互いに封着された外囲 器を備えた画像表示装置の製造方法において、
上記第 1 および第 2封着材よ り も高い融点あるいは軟化点 を有 した枠状の高融点導電性部材を用意し、 上記第 1 封着材 よ リ も高い融点あるいは軟化点を有 した第 2 封着材によ リ 、 上記高融点導電性部材を上記前面基板および背面基板の一方 の基板の周辺部に接着し、 上記高融点導電性部材が接着され た上記一方の基板と 、他方の基板と を対向配置する と と もに、 上記高融点導電性部材と上記他方の基板の周辺部との間に第 1 封着材を配置 し、上記高融点導電性部材に通電するこ とで、 上記第 1 封着材を溶融あるいは軟化させて上記高融点導電性 部材と上記他方の基板と を接着する。
この発明の態様に係る画像表示装置は、 対向配置された前 面基板および背面基板と 、 上記前面基板および上記背面基板 の周辺部を互いに封着した封着部と、 を有 した外囲器を備え、 上記封着部は、 枠状の高融点導電性部材と封着材とを含み、 上記高融点導電性部材は、 上記封着材よ り も高い融点あるい は軟化点を有 している と ともに、 上記前面基板および背面基 板の表面に対して垂直方向にばね性を有している。
また、 この発明の他の態様に係る画像表示装置の製造方法 は、 対向配置された前面基板および背面基板を有 し、 高融点 導電性部材と封着材と を含む封着部によ リ前面基板および背 面基板の周辺部が互いに封着された外囲器を備えた画像表示 装置の製造方法において、 上記封着材よ り も高い融点あるいは軟化点を有 している と と もに、 上記前面基板および背面基板の表面に対して垂直方 向にばね性を有した枠状の高融点導電性部材を用意し、
上記前面基板および背面基板を対向配置する と ともに、 上 記前面基板および背面基板の周辺部間に上記高融点導電性部 材および封着材を配置し、
上記封着材が固化 した状態で、 上記対向配置された前面基 板および背面基板を重ね合わせ、 上記高融点導電性部材を上 記前面基板および背面基板の表面と垂直な方向へ弾性変形さ せ、
上記前面基板および背面基板を重ね合わせた状態で、 上記 高融点導電性部材に通電して上記封着材を溶融あるいは軟化 させ、 上記前面基板および背面基板の周辺部を互い封着する。 上記構成の画像表示装置および製造方法によれば、 前面基 板と背面基板とを重ね合わせた時の基板たわみを高融点導電 性部材のばね性によ り改善し、 前面基板および背面基板の位 置合わせ精度を向上 して封着する こ とができる。
この発明の態様に係る画像表示装置の製造方法は、 対向配 置されている と と もに周辺部同士が接合された前面基板およ び背面基板を有 した外囲器と 、 上記外囲器内に形成された複 数の画素と を備えた画像表示装置の製造方法において、 上記 前面基板および背面基板の少な く と も一方に、 導電性を有し た封着材を配置 し、 上記封着材に通電 して加熱溶融させ、 上 記前面基板および背面基板の周辺部同士を接合 し、 上記封着 材を通電加熱する際、 上記封着材の電気抵抗の温度依存性に 基づいて、 上記封着材への通電を制御する。
また、 この発明の他の態様に係る画像表示装置の製造装置 は、 対向配置されていると と もに周辺部同士が接合された前 面基板および背面基板を有する外囲器と、 上記外囲器内に形 成された複数の画素と を備えた画像表示装置の製造装置にお いて、 上記前面基板および背面基板の少な く と も一方におけ る周辺部に配置され導電性を有 した封着材に通電して加熱溶 融させる電源と、 上記封着材を通電加熱する際、 上記電源か らフ ィ一 ドバック された電流値および電圧値の少なく と も一 方を取り 込み、 上記封着材の電気抵抗の温度依存性に基づい て、上記電源による上記封着材への通電を制御する制御部ど、 を備えている。
上記構成の画像表示装置の製造方法および製造装置によれ ば、 封着材の電気抵抗の温度依存性に基づいて、 封着材の溶 融完了を電気的に容易に検出する こ とができる。 そのため、 前面基板および背面基板全体を低温に維持 した状態で周辺部 の接合を行い、ゲッターの吸着能力を低下させる こ とが無 く 、 また熱応力によ って各基板が破壊 して しま う 問題を排除する こ とができる。 また、 数分のオーダーで容易に接合を行う こ とが可能であ り 、 工程時間を従来と比 して短時間化する こ と が可能になる。 これによ り 安価に製造ができ、 安定かつ良好 な画像を得るこ とが可能な画像表示装置を提供する こ とがで 含る。
図面の簡単な説明
図 1 は、 この発明の実施の形態に係る F E Dの全体構成を 示す斜視図、
図 2は、 上記 F E Dの内部構成を示す斜視図、
図 3 は、 図 1 の線 1 1 1— 1 1 1 に沿った断面図、
図 4 は、 上記 F E Dの蛍光体スク リ ーンの一部を拡大 して 示す平面図、
図 5 は、 上記 F E Dの製造に用いられる前面基板を示す平 面図、
図 6 は、 上記 F E Dの製造に用いられる背面基板、 側壁、 スぺーサを示す平面図、
図 7 は、 上記 F E Dの製造工程において、 真空槽内での組 立ての流れを示すフ ローチャー ト、
図 8 は、 上記製造工程において、 全面基板と側壁との封着 工程を示す断面図、
図 9 は、 本発明の実施例である F E Dの封着時に発生する ガラス応力を緩和する方法を説明する図、
図 1 0 Aないし 1 0 Cは、 本発明の第 2 の実施の形態に係 る F E Dの構成部材をそれぞれ示す平面図、
図 1 1 は、 上記第 2 の実施の形態における F E Dの封着工 程を示す平面図、
図 1 2 は、 この発明の第 3の実施の形態に係る F E D を示 す断面図、
図 1 3 は、 図 1 2 に示した F E Dの前面基板をその内側か ら見た平面図、
図 1 4 は、 図 1 2 に示 した F E Dの背面基板、 側壁、 スぺ ーサを示す平面図、 図 1 5 Aおよび 1 5 Bは、 図 1 2 に示 した F E Dの製造に 用いられる導電部材をそれぞれ示す平面図、
図 1 6 は、 図 1 2の F E D を製造するための製造装置を概 略的に示す図、
図 1 7 は、 前面基板および背面基板と側壁との間を封着す る製造装置の変形例を示す図、
図 1 8 は、 導電性を有する側壁に通電して封着する他の変 形例を概略的に示す図、
図 1 9 は、 この発明の第 4の実施の形態に係る F E D を示 す斜視図、
図 2 0 は、 上記 F E Dの前面基板を取 り外 した状態を示す 斜視図。
図 2 1 は、 図 1 9 の線 11 X I— 11 X I に沿った断面図、 図 2 2 は、 図 1 9 に示す F E Dの側壁を示す平面図、 図 2 3 は、 図 1 9 に示す F E Dの蛍光体スク リーンを示す 平面図、
図 2 4 は、 図 1 9 に示す F E Dの製造に用いる真空処理装 置を概略的に示す図、
図 2 5 は、 第 4の実施の形態の変形例に係る F E Dの側壁 を示す平面図、
図 2 6 は、 第 4の実施の形態の他の変形例に係る F E D を 示す斜視図、
図 2 7 は、 この発明の第 5 の実施の形態に係る F E Dの前 面基板を除いた状態を示す斜視図、
図 2 8 は、 上記第 5の実施の形態に係る F E Dの断面図、 図 2 9 は、 第 5 の実施の形態の変形例に係る F E D を示す 断面図、
図 3 0 は、 この発明の第 6 の実施の形態に係る F E Dの前 面基板を除いた状態を示す斜視図、
図 3 1 は、 上記第 6 の実施の形態に係る F E Dの断面図、 図 3 2 Aないし 3 2 Cは、 上記第 6 の実施の形態に係る F E Dの製造工程をそれぞれ示す断面図、
図 3 3 Aおよび 3 3 Bは、 この発明の第 7 の実施の形態に 係る F E Dを示す断面図、
図 3 4 Aおよび 3 4 Bは、 上記第 7 の実施の形態の変形例 に係る F E Dを示す断面図、
図 3 5 は、 この発明の第 8の実施の形態に係る F E Dの断 面図、
図 3 6 Aおよび 3 6 Bは、 図 3 5 に示す F E Dの製造に用 いられる背面基板および前面基板をそれぞれ示す平面図、 図 3 7 は、 上記封着部にイ ンジウムが配置された背面基板 と前面基板とを対向配置した状態を示す断面図、
図 3 8 は、 図 3 5 に示す F E Dの製造に用いる真空処理装 置を概略的に示す図、
図 3 9 は、 図 3 5 に示す F E Dの製造工程において、 イ ン ジゥムに電極を接触させた状態を模式的に示す平面図、
図 4 0 は、 上記イ ンジウムの温度変化に伴う抵抗の特性を 示すグラ フ、
図 4 1 は、 上記イ ンジウムの通電加熱時における電流変化 を示すグラ フ、 図 4 2 は、 上記イ ンジウムの通電加熱時における電流の実 測値を示すグラフ、
図 4 3 は、 上記イ ンジウムの通電加熱時における電流変化 の傾きを示すグラフ、
図 4 4 は、 上記イ ンジウムの通電加熱時における電圧の変 化を示すグラフ、
図 4 5 は、 上記イ ンジウムの通電加熱時における電流変化 の傾きを示すグラフ、
図 4 6 は、 上記イ ンジウムの通電加熱時における抵抗値の 変化および抵抗値変化の傾きを示すグラフ、
図 4 7 は、 上記イ ンジウムの通電加熱時における電流およ び電圧の変化を示すグラフである。
発明を実施するための最良の形態
以下、 図面を参照 しながら、 本発明の画像表示装置を F E Dに適用 した第 1 の実施の形態について詳細に説明する。
図 1 ない し図 3 に示すよ う に、 この F E D は、 絶縁基板と してそれぞれ矩形状のガラスからなる前面基板 1 1 、 および 背面基板 1 2 を備え、 これらの基板は 1 〜 2 m mの隙間を置 いて対向配置されている。 そ して、 前面基板 1 1 および背面 基板 1 2 は、 矩形枠状の側壁 1 3 を介 して周縁部同士が接合 され、 内部が真空状態に維持された偏平な矩形状の真空外囲 器 1 0 を構成している。
本実施の形態において、 前面基板 1 1 と側壁 1 3 とは後述 する導電性を有 した封着部材 2 1 a 、 2 1 b によ り接合され、 背面基板 1 2 と側壁 1 3 とはフ リ ッ トガラス等の低融点封着 部材 4 0 によ り接合されている。
真空外囲器 1 0 の内部には、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に加わる大気圧荷重を支えるため、 複数の板状のスぺー サ 1 4が設けられている。 これらのスぺーサ 1 4 は、 真空外 囲器 1 0 の長辺と平行な方向に配置されている と と もに、 短 辺と平行な方向に沿つて所定の間隔を置いて配置されている なお、 スぺ一サ 1 4の形状については、 特に これに限定され るものではな く 、 例えば、 柱状のスぺーサ等を用いる こ と も でぎる。
前面基板 1 1 の内面上には、 図 4 に示すよ う な赤、 緑、 青 の蛍光体層 1 6 とマ ト リ クス状の黒色光吸収層 1 7 と を有 し た蛍光体スク リーン 1 5 が形成され、 この蛍光体スク リ ーン 上にメ タ ルバック と してアルミ ニウム膜 (図示せず) が蒸着 されている。
図 3 に示すよ う に、 背面基板 1 2 の内面上には、 蛍光体層 1 6 を励起する電子放出源と して多数の電子放出素子 1 8 が 設け られている。 電子放出素子 1 8 は、 それぞれの蛍光体層 1 6 と対向する位置に配置され、 対応する蛍光体層に向けて 電子ビームを放出する。
次に、 上記のよ う に構成された F E Dの製造方法について 説明する。
図 5 および図 6 に示すよ うに、 組み立て前の状態において、 前面基板 1 1 の内面には蛍光体スク リーン 1 5 および図示 し ないメ タ ルバックが形成されている。 また、 前面基板 1 1 の 内面上において蛍光体スク リーン 1 5 の外側には、 封着部材 2 1 a と して、 導電性を持つ金属はんだが矩形枠状に充填さ れ、 前面基板 1 1 の周縁に沿って配置されている。 封着部材 2 1 a の対角の 2個所には、 封着時に封着部材へ通電するた めの電極部 2 2 a 、 2 2 bが外側に突出 して形成されている。
なお、 各電極部 2 2 a 、 2 2 b の断面積は、 封着部材 2 1 の他の部分の断面積よ リ も大き く 形成されている。
一方、 背面基板 1 2 の内面上には、 多数の電子放出素子 1 8 が予め形成されている と と もに、 組立時に前面基板 1 1 と の隙間を確保するため、 側壁 1 3 およびスぺーサ 1 4が低融 点封着部材 4 0 によ り 取 り付けられている。 また、 側壁 1 3 上には、 封着部材 2 1 b と して導電性を持つ金属はんだが前 面基板 1 1 側の封着部材 2 1 a と対向する位置に矩形枠状に 充填されている。
上記のよ う な前面基板 1 1 および背面基板 1 2 は、 図 7 に 示す工程に従って真空槽中で組立てられる。すなわち、 まず、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を真空槽に導入し、 この真 空層内を真空排気する。 その後、 前面基板 1 1 および背面基 板 1 2 を加熱 し十分に脱ガスする。 加熱温度は 2 0 0 °C〜 5 0 0 °C程度に適時設定される。 これは、 真空外囲器となった 後の真空度を劣化させる内壁からのガス放出速度を軽減 し、 残留ガスによる特性劣化を防ぐためである。
次に、 脱ガスが完了 し冷却された前面基板 1 1 の蛍光体ス ク リーン 1 5 にゲッ ター膜を形成する。 これは、 真空外囲器 を形成 した後の残留ガスをゲッ ター膜によ り 吸着排気 し、 真 空外囲器内の真空度を良好なレベルに保っためである。 続いて、 蛍光体層 1 6 と電子放出素子 1 8 とが対向するよ う に前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を互いの所定の位置に 重ね合わせる。 この状態で、 電極部 2 2 a 、 2 2 b を介 して 封着部材 2 1 a 、 2 1 b に通電し、 これらの封着部材を加熱 して溶解する。 その後、 通電を停止し、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b の熱を速やかに前面基板 1 1 および側壁 1 3 に拡散伝導 させ、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b を固化させる。 その結果、 封 着部材 2 1 a 、 2 1 b によって前面基板 1 1 と側壁 1 3 と を 互いに封着する。
次に、 上述 した封着工程に用いる製造装置および F E Dの 各構成部材について説明する。
図 8 に示すよ う に、 封着前の状態において、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 の温度は、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b の融 点よ り も低く なるよ う設定され、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b は 固化 した状態にある。 この状態で、 前面基板 1 1 および背面 基板 1 2 は所定の位置に重ね合わされ、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b も互いに重なっている。 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 には、 加圧装置 2 3 a 、 2 3 b によ り互いに接近する方向 に所定の封着荷重が印加される。 また、 画像表示領域は、 ス ぺーサ 1 4 によ り 所定の隙間に保持され、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b も互いに接触している。 更に、 封着部材 2 1 a の電極 部 2 2 a 、 2 2 b には、 それぞれ給電端子 2 4 a 、 2 4 b が 接触し、 これらの給電端子 2 4 a 、 2 4 b は電源 2 5 に接続 されている。
この状態で、 給電端子 2 4 a 、 2 4 b を通 して封着部材 2 1 a 、 2 1 b に所定の電流を通電する と、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b のみが発熱し溶解する。 この後、 通電を止める と、 熱 容量の小さ い封着部材 2 1 a 、 2 1 b の熱は温度勾配によ つ て前面基板 1 1 および側壁 1 3 に放熱され、 熱容量の大きい 前面基板 1 1 および側壁 1 3 と熱平衡に達し、 速やかに冷却 固化される。
このよ う な方法によれば、 極めて短時で、 かつ簡単な製造 装置によ り 、 真空外囲器を真空封着する こ とができる。 すな わち、 導電性を有 した封着部材を用いる こ と によ り 、 基板を 加熱する こ と な く 熱容量の小さ い、 つま り体積の小さい、 封 着部材のみを選択的に加熱する こ とができ、 基板の熱膨張に よる位置精度の劣化等を抑制することができる。
また、 封着部材の熱容量が基板の熱容量に比べて非常に小 さいため、基板全体を加熱する従来の方法に比較 して、 加熱、 冷却にかかる時間を大幅に短縮でき、 量産性を大幅に向上す る こ とができる。 更に、 封着に必要な装置が単なる給電端子 と これを封着部材に接触させる機構のみであ り 、 従来の全面 加熱ヒータ はも と よ り 電磁誘導加熱法などに対 しても極めて 簡略で、 かつ超高真空に適したク リーンな装置を実現する こ とができる。
また、 通電する電流の形態については、 直流電流のみな ら ず、 商用周波数で変動する交流電流を用いても良い。 この場 合、 交流で送信されて く る商用電流を直流に変換する手間が 省け、 装置を簡略化する こ とができる。 更に、 k H z レベル の高周波で変動する交流電流を用いても良い。 この場合、 表 皮効果によ リ高周波に対する実効抵抗値が増大する分だけジ ユール熱が増大するため、 よ り 小さい電流値で上記と同様の 加熱効果が得られる。
また、 通電する電力と時間については、 実施例では 5 〜 3 0 0秒程度と している。 通電時間が長い (電力が小さい) と、 基板周辺の温度上昇による冷却速度の低下や熱膨張による弊 害を生 じ、 通電時間が短い (電力が大きい) と 、 導電性封着 材料の充填不均一に起因する断線やガラス熱応力による基板 の割れを生 じる。 そのため、 通電する電力および時間 (時間 的な電力変化も含む) は、 対象物毎に最適な条件設定を行な う ことが望ま しい。
また、 封着時の基板温度と封着部材の融点との温度差につ いては、 実施例では 2 0 °C〜 1 5 0 °C程度と している。 温度 差が大きい場合、 冷却時間を短縮できるがガラス熱応力が大 き く なるため、 これも対象物毎に最適な条件設定を行なう こ とが望ま しい。
また、 封着部材からの熱拡散伝導による基板表裏面の温度 差に起因する応力および歪については、 図 9 に示すよ う に、 加圧装置 2 3 a 、 2 3 b の外径を基板の外径よ り も一回 り 小 さ く し、 基板周辺を破線で示すよ う に自然にたわませる こ と によ り 、 基板に発生する応力を軽減する こ とができる。 ある いは、 加圧装置 2 3 a 、 2 3 b の外径を小さ く しない場合で も、 加圧装置の周辺部に、 基板が反ったと きの逃げとなる削 リ部を設ける ことによ り 同様の応力緩和効果が得られる。 更に、 上述した実施の形態は、 前面基板と背面基板とで側 壁を挟みこむ構成の真空外囲器を用いたが、 側壁が前面基板 あるいは背面基板と一体化された構成と しても よい。 また、 側壁が前面基板と背面基板と を側面から覆う よ う に接合され た構成と してもよい。 更に、 封着部材の通電加熱によ り 封着 される封着面は、 前面基板と側壁との間、 および背面基板と 側壁との間の 2面であってもよい。
また、 上述 した第 1 の実施の形態では、 前面基板側の封着 部材と背面基板側の封着部材と を接触させた状態で通電加熱 したが、 これらの封着部材が非接触状態で通電加熱した後、 固化するまでの間に接合させても良い。 蛍光体スク リーンの 構成や、 電子放出素子の構成は、 本発明の実施の形態に限定 されるものではな く 、 他の構成と しても よい。 また、 封着部 材の充填は、 封着される 2つの面のいずれか一方のみでも よ い。
基板に対する導電性封着部材の濡れ性などを確保する 目的 で、 封着部材と基板との間、 あるいは、 封着部材と側壁との 間に下地層を形成しても良い。
以下、 複数の実例について説明する。
(実例 1 )
図 5 および図 6 に示 した前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を、 3 6 イ ンチサイ ズの T V用 F E D表示装置に適用 した実 例について説明する。 主な構成は、 前述の実施の形態で説明 したものと同 じである。
前面基板 1 1 と背面基板 1 2 は、 共に厚さ 2 . 8 m m のガ ラス材から構成され、 側壁 1 3 は 1 . 1 m m のガラス材から 構成されている。 前面基板 1 1 および背面基板 1 2の側壁 1 3 に充填された封着部材 2 1 a 、 2 1 b は、 約 1 5 6 °Cで溶 解する I n (イ ンジウム) を用い、 それぞれ幅 3 〜 5 mm、 厚 さ 0 . 1 〜 0 . 3 mm に充填した。 電極部 2 2 a 、 2 2 b は、 対向する背面基板 1 2の X配線および Y配線との干渉が少な い対角部の対称な 2箇所に設けた。 また、 通電時の断線の リ スク を軽減するため、電極部 2 2 a 、 2 2 b は、幅約 1 6 m m、 厚さ 0 . "! 〜 0 . 3 m mと断面積を他の部分よ り も大き く し ている。 電極部 2 2 a 、 2 2 b 間における封着部材 2 1 a の 抵抗は、 室温状態で 0 . 1 〜 0 . 5 Ω程度である。
この前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を、 真空槽内で脱ガ ス処理、 およびゲッター膜形成を行った後、 加圧装置 2 3 a 、 2 3 b に装填する。 そ して、 図 8 に示 したよ う に、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を、 約 1 0 0 °Cの温度で所定の位置 に配置し、 加圧装置 2 3 a 、 2 3 b によ り約 5 0 k g の荷重で 重ね合わせ、 同時に、 給電端子 2 4 a 、 2 4 b を電極部 2 2 a 、 2 2 b に接続する。
この状態で給電端子 2 4 a 、 2 4 b に直流 "! 2 0 A を 1 0 0秒間印加 し、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b を全周に渡って十分 に溶解する。 通電を停止 した後、 前面基板 1 および背面基板 1 2 を 6 0秒間保持して通電加熱によ り温度上昇した封着部 材 2 1 a 、 2 1 b の熱を前面基板 1 1 や側壁 1 3 に放熱し、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b を固化させた。
このよ う に して真空外囲器を製作 した場合、 封着にかかる 時間は、 従来 3 0分程度であったものが数分程度に大幅に短 縮され、 封着時の装置も簡単なものとする ことができた。
(実例 2 )
実例 2 の主な構成は、 実例 1 と同 じである。
実例 2 では上述の封着工程において、 商用周波数である 6 0 H z で変動する実効電流値 1 5 0 Aの正弦波の交流電流を 封着部材 2 1 a 、 2 1 b に 4 0秒間印加 し、 その後、 3 0秒 保持 して真空外囲器を形成した。
(実例 3 )
実例 3 の主な構成は、 実施例 1 と同 じである。
実例 3 では、 封着工程において、 商用周波数よ り も高い周 波数、 例えば、 3 0 0 k H z で変動する実効電流値 4 Aの正 弦波の交流電流を封着部材 2 1 a 、 2 1 b に 3 0秒間印加 し、 その後、 3 0秒保持して真空外囲器を形成した。
図 1 0 Aなしゝ し 1 0 C、 および図 1 1 は、 この発明の第 2 実施の形態を示 している。 第 2 の実施の形態によれば、 前面 基板 1 1 と側壁 1 3 との接合と合わせて、 背面基板 1 2 と側 壁 1 3 との接合も導電性を有 した封着部材を用いて真空槽内 で行った。 第 2 の実施の形態の他の主な構成は、 第 1 の実施 の形態と同一である。
こ こでは、 前面基板 1 1 の側壁 1 3 と対向する部分に矩形 枠状の封着部材 2 6 を充填し、 また、 封着部材 2 6 の対角方 向の 2 つの角部から外側に突出 した電極部 2 7 a 、 2 7 b を 設けた。 また、 背面基板 1 2 の側壁 1 3 と対向する部分に矩 形枠状の封着部材 2 8 を充填 し、 かつ、 封着部材 2 8 の対角 方向の 2 つの角部から外側に突出 した電極部 2 9 a 、 2 9 b を設けた。
この前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 、 および側壁 1 3 を上述 したよ う な所定の位置に重ね合わせ、 給電端子 3 0 a 、 3 0 b を介 して電源 3 1 力、ら電極部 2 7 a 、 2 7 b に 1 0 0 A を 1 5 0秒間通電し、 同時に、 給電端子 3 2 a 、 3 2 b を介 し て電源 3 3 力、ら電極部 2 9 a 、 2 9 b に 1 0 0 Aを 1 5 0秒 間通電した。 その後、 約 2分間保持して封着部材 2 6 、 2 8 を固化させる こ とによ り 、 前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 、 お よび側壁 1 3 を封着した。
なお、 第 1 および第 2 の実施の形態において、 封着部材に 設けた一対の電極部は、 対称な位置に設けられていればよ く 、 封着部部材一対の対角部に限らず、 各長辺部あるいは短辺部 に設けても良い。 また、 導電性を有 した封着部材と しては、 I η に限らず I η を含む合金を用いてもよい。
次に、 この発明の第 3 の実施の形態に係る F E D、 その製 造法および製造装置について説明する。
図 1 2 に示すよ う に、本実施の形態に係る F E Dによれば、 それぞれ矩形状のガラスからなる前面基板 1 1 、 および背面 基板 1 2 を備え、 これらの基板は 1 〜 2 m mの隙間を置いて 対向配置されている。 そ して、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 は、 矩形枠状の側壁 1 3 を介 して周縁部同士が接合され、 内部が真空状態に維持された偏平な矩形状の真空外囲器 1 0 を構成している。 前面基板 1 1 と側壁 1 3 と は後述する封着 部 2 0 によ り接合され、 背面基板 1 2 と側壁 1 3 とはフ リ ツ 卜ガラス等の低融点封着部材 4 0 によ り接合されている。 他 の構成は第 1 の実施の形態と同一であり 、 同一の部分には同 一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
次に、 上記のよ う に構成された F E Dの製造方法および製 造装置について説明する。
図 1 3 に示すよ う に、 組立前の状態において、 前面基板 1 1 の内面には蛍光体スク リーン 1 5 が形成されている。また、 前面基板 1 1 の内面であって蛍光体スク リーン 1 5の外側周 縁部には、 封着材料 2 1 a と して導電性を持つ金属はんだが 矩形枠状に設けられている。 この時点で、 前面基板 1 1 の温 度は、 封着材料 2 1 a の融点よ り も低い温度 ί. 設定されてお
'レ
リ 、 封着材料 2 1 a は固化 した状態にある。
図 1 4 に示すよ う に、 組立前の状態において、 背面基板 1 2 の内面には、 多数の電子放出素子 1 8 (こ こでは図示省略) が予め形成されている と と もに、 組立時に前面基板 1 1 との 隙間を確保するため、 側壁 1 3 およびスぺ一サ 1 4が低融点 封着部材 4 0 によ り取 り付けられている。 また、 側壁 1 3上 には、 上述 した封着材料 2 1 a と同 じ導電性を持つ金属はん だが封着材料 2 1 b と して前面基板 1 1 側の封着材料 2 1 a と対向する位置に矩形枠状に設けられている。 この時点で、 背面基板 1 2の温度は、 封着材料 2 1 bの融点よ り も低い温 度に設定されてお り 、封着材料 2 1 b は固化 した状態にある。
封着材料 2 1 a 、 2 "I b と して、 3 0 0 °C以下で溶融また は軟化する材料が選択されるが、 本実施の形態では、 封着材 料 2 1 a 、 2 1 b と して、 I n または I n を含んだ合金を用 いた。 図 1 5 Aには、 前面基板 1 1 の周縁部と側壁 1 3 の上端と を封着する際、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b間に挟み込まれる矩 形枠状の導電部材 2 2 を図示 してある。 この導電部材 2 2 は、 上述した封着材料 2 1 a 、 2 1 b と と もに封着部 2 0 と して 機能する。
導電部材 2 2 は、 断面積が 0 . 1 m m 2以上のニッケル合 金板によ り 形成され、 対角をなす角部から 2 つの電極部 2 2 a 、 2 2 b (接続端子) がー体的に突設されている。 この導 電部材 2 2 の幅は、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b の幅よ り狭く 設 定 してある。 尚、 導電部材 2 2 と して、 ニッケル ( N i ) の 他に、 鉄 ( F e ) 、 ク ロム ( C r ) 、 アルミ ニウム ( A I ) などを含んだ合金を用いても良く 、 融点が 5 0 0 °C以上の材 料が用いられる。
また、 導電部材 2 2 の熱膨張係数は、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b の熱膨張係数の 8 0 〜 1 2 0 <½程度に設定され、 或いは 側壁 1 3 の熱膨張係数の 8 0 〜 1 2 0 %程度に設定され、 或 いは前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 、 および側壁 1 3 それぞれ の熱膨張係数のう ち最小の熱膨張係数と最大の熱膨張係数と の間に設定される。
上記のよ う な前面基板 1 1 および背面基板 1 2 は、 真空槽 内で、 導電部材 2 2 を挟んで互いに封着され F E D を形成す る。
図 7 で示 した封着工程とほぼ同様に、まず、前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 、 および導電部材 2 2 を真空槽に導入 し、 この 真空層内 ^真空排気する。 その後、 前面基板 1 1 および背面 基板 1 2 を加熱し、 これらの基板から十分に脱ガスする。 加 熱温度は 2 0 0 °C〜 5 0 0 °C程度に適時設定される。 これは、 真空外囲器となった後の真空度を劣化させる内壁からのガス 放出速度を軽減 し、 残留ガスによ る特性劣化を防ぐためであ る。
次に、 脱ガスが完了 し冷却された前面基板 1 1 の蛍光体ス ク リ ーン 1 5 にゲッター膜を形成する。 これは、 真空外囲器 となった後の残留ガスをゲッ ター膜によ り吸着排気し、 真空 外囲器内の真空度を良好なレベルに保っためである。
そ して、 蛍光体層 1 6 と電子放出素子 1 8 とが対向するよ う に前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を高精度に位置決め し て重ね合わせる。 このとき、 前面基板 1 1 の周縁部に設けら れた封着材料 2 1 a と側壁 1 3上に設けられた封着材料 2 1 b との間に導電部材 2 2 を挟み込ませる。
このよ う に して導電部材 2 2 を挟んだ状態の前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を図 1 6 に示す装置にセ ッ トする。 そ し て、 前面基板 1 1 よおび背面基板 1 2 を、 加圧装置 2 3 a 、 2 3 b によ って互いに向かい合う方向に所定圧力で押圧 して 保持する。 さ らに、 導電部材 2 2 から導出された電極部 2 2 a 、 2 2 b に電源 2 5 を接続する。
この状態で、 電極部 2 2 a 、 2 2 b を介 して電源 2 5 から 導電部材 2 2 に所定の電流を流し、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b を通電する。 これによ り 、 導電部材 2 2 および封着材料 2 1 a 、 2 1 b が加熱され、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b だけが溶融 する。 つま り 、 導電部材 2 2 は、 通電によ り 溶融しない高融 点材料によ り形成されているため、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b だけが溶融する。 溶融した封着材料 2 1 a 、 2 1 b は、 幅の 狭い導電部材 2 2 を包囲するよ う に繋がる。 この後、 通電を 止めると、 繋がった状態の熱容量の比較的小さい封着材料 2 1 の熱が、 温度勾配によ って速やかに前面基板 1 1 および側 壁 1 3 に拡散伝導され、 熱容量の大きい前面基板 1 1 および 側壁 1 3 と熱平衡に達 し、 封着材料 2 1 が速やかに冷却固化 される。 これによ り 、 前面基板 1 1 と側壁 1 3 とが封着され る。
以上のよ う に、 第 2 の実施の形態によると、 導電部材 2 2 に通電するだけの極めて簡単な構成によ り 、封着材料 2 1 a 、 2 1 b だけを効率良く 選択的且つ確実に加熱溶融するこ とが でき、 封着処理に要する作業行程、 処理時間、 および消費電 力量を大幅に削減でき、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 の 周縁部を確実且つ容易に封着できる。
すなわち、 本実施の形態のよ う に、 導電性を有 した封着材 料 2 1 a 、 2 1 b と導電部材 2 2 を組み合わせて用いる こ と によ り 、 封着材料が不均一に設けられている場合であっても 封着材料が断線する こ とがな く 、 全ての領域において封着材 料 2 1 a 、 2 1 b に確実に通電でき、 封着材料を全長に亘っ て確実に溶融できる。 また、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b に導電 性を持たせたこ とによ り 、 導電性を持たない封着材料と比較 して、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b を直接的に加熱でき、 溶融時 間を短縮できる。
また、 本実施の形態のよ う に、 導電部材 2 2 を封着材料 2 1 a 、 2 1 b で挟むよ うに して設ける こ と によ り 、 導電部材 2 2 が前面基板 1 1 および側壁 1 3 に接触する こ とがな く 、 前面基板 1 1 や側壁 1 3 が熱応力によ って割れる心配がない また、 導電部材 2 2が前面基板 1 1 および側壁 1 3 に接触し ないため、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b が前面基板 1 1 および側 壁 1 3 に接触する面積を大き く と るこ とができ、 封着性能を 高めるこ とができる。
また、 本実施の形態による と、 封着材料だけを選択的に加 熱溶融できるため、 前面基板および背面基板を加熱する必要 がな く 、 熱容量の小さ い、 つま リ体積の小さ い封着材料だけ を加熱すれば良 く 、 使用する電力量を小さ く でき、 基板の熱 膨張や熱収縮による位置精度の劣化等を抑制する ことができ る。
また、 基板全体を加熱する従来の方法に比較して、 加熱、 冷却にかかる時間を大幅に短縮でき、 量産性を大幅に向上す る こ とができる。更に、封着に必要な装置が電源だけであ り 、 従来の全面加熱ヒータ はも と よ リ 電磁誘導加熱法などに対し ても極めて簡略かつ超高真空に適 したク リーンな装置を実現 する ことができる。
また、 通電する電流の形態については、 直流電流のみなら ず、 商用周波数で変動する交流電流を用いても良い。 この場 合、 交流で送信されて く る商用電流をわざわざ直流に変換す る手間が省け、 装置を簡略化する こ とができる。 更に、 k H z レベルの高周波で変動する交流電流を用いても良い。 この 場合、 表皮効果によ り高周波に対する実効抵抗値が増大する 分だけジュール熱が増大するため、 よ り小さ い電流値で上記 と同様の加熱効果が得られる。
また、 通電する電力と時間については、 実施例では 5 〜 3 0秒程度と している。 通電時間が長い (電力が小さい) と 、 基板周辺の温度上昇による冷却速度の低下や熱膨張や熱収縮 による弊害を生 じ、 通電時間が短い (電力が大きい) と、 導 電性封着材料の充填不均一に起因する断線やガラス熱応力に よる割れを生 じる。 そのため、 通電する電力および時間 (時 間的な電力変化も含む) は、 対象物毎に最適な条件設定を行 なう必要がある。
また、 封着時の基板温度と封着材料の融点との温度差につ いては、本実施の形態では 2 0 °C〜 1 5 0 °C程度と している。 温度差が大きい場合、 冷却時間を短縮できるがガラス熱応力 が大き く なるため、 これも対象物毎に最適な条件設定を行な う必要がある。
なお、 第 3 の実施の形態において、 図 1 0 に示すよ う に、 前面基板 1 1 と側壁 1 3 との間、 および背面基板 1 2 と側壁 1 3 との間の 2 個所の封着部を、 封着材料の通電加熱によ り 封着する構成と してもよい。 この場合、 第 3 の実施の形態と 同様に、 側壁 1 3 と前面基板 1 1 の周緣部と を封着部 2 0 に よ り 封着する。 また、 側壁 1 3 と背面基板 1 2 の周縁部との 間にも封着部 2 0 を介在させる。 側壁 1 3 と背面基板 1 2 の 周縁部との間に設ける封着部 2 0 は、 側壁 1 3 の下面に設け た封着材料 2 1 b 、 図 1 5 Bに図示 した導電部材 2 2 、 およ び背面基板 1 2 の周縁部に設けた封着材料 2 1 a となる。 そ して、 導電部材 2 2の 2 つの電極 2 2 c 、 2 2 d に電源 2 7 を接続する。 以後、 第 3 の実施の形態と同様に、 電源 2 5 、 2 6 から導電部材 2 2 に通電し過熱する こ とによ り 、 前面基 板 1 1 、 側壁 1 3 、 背面基板 1 2 を封着する。
また、 図 1 8 に示すよ う に、 側壁 2 4 を導電性を有する材 料で形成 し、 側壁 2 4 と前面基板 1 1 の周縁部との間に封着 材料 2 1 a を設け、 側壁 2 4 と背面基板 1 2 の周縁部との間 に封着材料 2 1 b を設け、 側壁 2 4 自体に通電する構成と し ても 良い。 この場合、 通電部材と して独立 した導電部材 2 2 を設ける必要がな く 、 製造工程を簡略化できる と と もに部材 点数を削減でき、 製造コス トを低減できる。
また、 封着材料 2 1 a 、 2 1 b に接触する導電部材 2 2の 表面に凹凸を形成しても良い。 この場合、 封着材料 2 1 を溶 融する際、 封着対象となる部材間、 すなわち導電部材 2 2 と 前面基板 1 1 との間、 導電部材 2 2 と背面基板 1 2 との間、 および導電部材 2 2 と側壁 1 3 との間における機械的ズレを 抑制でき、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 の位置ズレを抑 制できる。
以下、 第 3 の実施の形態を適用 した複数の実例について説 明する。
(実例 1 )
前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を、 3 6 イ ンチサイズの T V用 F E D表示装置に適用 した実例について説明する。 主 な構成は、 上述の実施の形態で説明 したものと同 じである。
前面基板 1 1 と背面基板 1 2 は、 共に厚さ 2 . 8 m m のガラ ス材から構成され、 側壁 1 3 は 1 . 1 m m のガラス材から構成 されている。 前面基板 1 1 の周縁部に設けられた封着材料 2 1 a 、 および背面基板 1 2 の側壁 1 3 上に設けられた封着材 料 2 1 b は、 約 1 6 0 °Cで溶解する I n と し、 幅 3〜 5 m m、 片面の厚さ 0 . "! 〜 0 . 3 mm に形成した。
導電部材 2 2 は、図 1 5 Aに示すよ う に、幅 1 mm、厚さ 0 . 1 mm の枠板状にニッケル合金によ リ形成されている。導電部 材 2 2 の電極部 2 2 a 、 2 2 b は、 対向する背面基板 1 2 の X配線および Y配線との干渉が少ない対角部の対象な 2 箇所 に設けられている。 尚、 導電部材 2 2 は、 通電時の十分な電 流量を確保するため、 0 . 1 mm 2以上の断面積を有する。 ま た、 電極部 2 2 a 、 2 2 b 間の抵抗は、 室温状態で 0 . 0 5 〜 0 . 5 Ω程度に設定 した。
そ して、 これら前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を導電部 材 2 2 と共に真空槽内に配置し、 真空槽内で脱ガス、 ゲッタ 一膜形成後、 すなわち前面基板 1 1 の周縁部と背面基板 1 2 に立設した側壁 1 3 との間に導電部材 2 2 を挟んだ状態に し て、 加圧装置 2 3 a 、 2 3 b に装填する。 つま り 、 前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 、 および導電部材 2 2 を、 約 1 0 0 °Cの 温度で所定の位置に配置し、 加圧装置 2 3 a 、 2 3 b によ り 約 5 0 kg の荷重で重ね合わせる。 さ らに、 導電部材 2 2の電 極部 2 2 a 、 2 2 b に電源 2 5 を接続する。
この状態で、 電源 2 5 を介して電極部 2 2 a 、 2 2 b に対 して直流 1 3 0 A を 4 0秒間印加 し、 導電部材 2 2 を加熱し て封着部材 2 1 a 、 2 1 b をその全周に渡って均一且つ十分 に溶解する。 通電を停止した後、 前面基板 1 および背面基板 1 2 を 3 0 秒間保持 して通電加熱によ り温度上昇した封着部 材 2 1 a 、 2 1 b の熱を前面基板 1 1 や側壁 1 3 に放熱し、 封着部材 2 1 a 、 2 1 b を冷却固化させた。
このよ う に して真空外囲器を製作 したと こ ろ、 封着にかか る時間は従来 3 0分程度であったものが 1 分程度に大幅に短 縮され、 封着時の装置も簡単なものとする こ とができた。
(実例 2 )
実例 2 の主な構成は、 実例 1 と同 じである。
実例 2 では、 上述の封着工程において、 商用周波数である 6 0 H z で変動する実効電流値 1 2 0 Aの正弦波の交流電流 を導電部材 2 2の電極部 2 2 a 、 2 2 b に 6 0秒間印加 し、 その後、 1 分間保持して真空外囲器を形成した。
(実例 3 )
実例 3 の主な構成は、 実例 1 と同 じである。
実例 3 では、 上述の封着工程において、 商用周波数よ り も 高い周波数、 例えば、 3 0 0 k H Z で変動する実効電流値 4 Aの正弦波の交流電流を導電部材 2 2 の電極部 2 2 a 、 2 2 b に 3 0秒間印加 し、 その後、 1 分間保持 して真空外囲器を 形成した。
(実例 4 )
実例 4の主な構成は、 実施例 1 と同 じである。
実例 4 では、 図 1 7 に示すよ う に、 上述した前面基板 1 1 と側壁 1 3 との接合と合わせて、 背面基板 1 2 と側壁 1 3 と の接合も上述した導電部材を用いて真空槽内で行なった。 こ のと き、 前面基板 1 1 の周縁部と側壁 1 3 とが対向する接合 部に、 矩形枠状の封着材料 2 1 a 、 図 1 5 Aに示 した導電部 材 2 2 、 および矩形枠状の封着材料 2 1 b を設けた。 また、 背面基板 1 2の周縁部と側壁 1 3 とが対向する接合部に、 矩 形枠状の封着材料 2 1 a 、 図 1 5 Bに示 した導電部材 2 2 、 および矩形枠状の封着材料 2 1 b を設けた。
そ して、 前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 、 および側壁 1 3 を 上述したよ う な所定の位置に重ね合わせ、 電極部 2 2 a 、 2 2 b に電源 2 5 を介 して 1 0 0 A を 1 5 0秒間通電し、 同時 に電極 2 2 c 、 2 2 d に電源 2 7 を介 して 1 0 0 Aを 1 5 0 秒間通電 した。 その後、 約 2 分間保持 して封着部材 2 1 a 、 2 1 b を冷却固化させ、 前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 、 およ び側壁 1 3 を封着した。
(実例 5 )
実例 5 の主な構成は、 実施例 1 と同 じである。
実例 5 では、 図 1 8 に示すよ う に、 上述した導電部材 2 2 を用いる こ とな く 、 導電性の側壁 2 4 を介して前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を接合させ、 側壁 2 4 自体に通電する こ とで、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を封着するよ う に し た。 この際、 側壁 2 4 と して、 幅 2 m m、 高さ 1 . 1 m m の矩 形枠状の S U S 3 0 4 を用しゝ、 2 0 0 Aを 3 0秒間通電し、 続いて 1 4 0 A を 1 0秒間通電した後、 前面基板 1 1 および 背面基板 1 2 を約 2分間保持 して封着材料 2 1 a 、 2 1 b を 冷却個化させた。
次に、 この発明の第 4の実施の形態に係る F E D、 その製 造法および製造装置について説明する。
図 1 9 なしヽし図 2 1 に示すよ う に、 この F E Dは、 それぞ れ矩形状のガラスからなる前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を備え、 これらの基板は 1 . 6 m mの隙間を置いて対向配置 されている。 背面基板の大きさは前面基板よ り も僅かに大き く 、 その外周部には後述の映像信号を入力するための引き出 し線 (図示せず) が形成されている。 そ して、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 は、 ほぼ矩形板枠状の側壁 1 3 を介 して 周縁部同士が接合され、 内部が真空状態に維持された偏平な 矩形状の真空外囲器 1 0 を構成している。
側壁 1 3 と して、 後述する封着材よ り も融点が高く 、 かつ、 導電性を有 した高融点導電性部材、 例えば、 鉄一ニッケル合 金が用いられている。 その他、 .導電性を有 した高融点導電性 部材と しては、 F e 、 C r 、 N i 、 A I のいずれかを少な く と も含有 した材料が用いられる。 図 1 9 、 図 2 0 、 および図
2 2 に示すよ う に、 側壁 1 3 は、 対角軸方向に沿って各コ ー ナ部から外側へ突出 した突出部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c , 1
3 d を有 している。 そ して、 側壁 1 3 は、 封着材 3 4 と して、 例えば、 I n あるいは I n 合金によ り 、 背面基板 1 2 および 前面基板 1 1 に封着されている。
封着された状態において、 側壁 1 3 の各突出部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c 、 1 3 d は、 それぞれ前面基板 1 1 よ り も外側 へ突出 していると と もに、 背面基板 1 2 のコーナ近傍まで延 びている。 なお、 突出部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c 、 1 3 d は、 後述するよ う に、 F E Dの製造工程において、 側壁 1 3 に電 圧を印加するための接続端子と して機能する と と もに、 側壁 を位置決めする際の把持部と しても機能するこ とができる。
図 2 0 および図 2 1 に示すよ う に、 真空外囲器 1 0の内部 には、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に加わる大気圧荷重 を支えるため、 複数の板状のスぺーサ 1 4が設けられている。 これらのスぺーサ 1 4 は、 真空外囲器 1 0の短辺と平行な方 向に配置されている と と もに、 長辺と平行な方向に沿って所 定の間隔を置いて配置されている。 なお、 スぺーサ 1 4の形 状については、 特にこれに限定されるものではな く 、例えば、 柱状のスぺーサ等を用いるこ ともできる。
前面基板 1 1 の内面上には、 図 2 3 に示す蛍光体スク リ ー ン 1 5が形成されている。 この蛍光体スク リーン "! 5は、 赤、 緑、 青のス トライ プ状の蛍光体層、 およびこれらの蛍光体層 間に位置した非発光部と してのス 卜ライ プ状の黒色光吸収層 1 7 を並べて構成されている。 蛍光体層は、 真空外囲器の短 辺と平行な方向に延在 している と と もに、 長辺と平行な方向 に沿って所定の間隔を置いて配置されている。 なお、 蛍光体 スク リーン 1 5上には、 たと えばアルミ ニウム層からなるメ タルバック層 1 9が蒸着されている。
背面基板 1 2 の内面上には、 蛍光体スク リーン 1 5 の蛍光 体層を励起する電子放出源と して、 それぞれ電子ビームを放 出する多数の電子放出素子 1 8 が設けられている。 これらの 電子放出素子 1 8 は、 各画素毎に対応 して複数列および複数 行に配列されている。 詳細に述べると、 背面基板 1 2 の内面 上には、 導電性力 ソー ド層 3 6 が形成され、 この導電性カ ソ ー ド層上には多数のキヤ ビティ 3 7 を有 した二酸化シ リ コ ン 膜 3 8 が形成されている。 二酸化シリ コ ン膜. 3 8上には、 モ リ ブデンゃニオブ等からなるゲー ト電極 4 1 が形成されてい る。 そ して、 背面基板 1 2の内面上において各キヤ ビティ 3 7 内にはモ リ ブデンなどからなるコーン状の電子放出素子 1 8が設けられている。
上記のよ う に構成された F E Dにおいて、 映像信号は、 単 純マ ト リ ッ ク ス方式に形成された電子放出素子 1 8 とゲー ト 電極 4 1 に入力される。 電子放出素子 1 8 を基準と した場合、 最も輝度の高い状態の時、 + 1 0 0 Vのゲー ト電圧が印加さ れる。 また、 蛍光体スク リーン 1 5 には + 1 0 k Vが印加さ れる。 これによ り 、 電子放出素子 1 8 から電子ビームが放出 される。 そ して、 電子放出素子 1 8から放出される電子ビー ムの大きさは、 ゲー ト電極 4 1 の電圧によって変調され、 こ の電子ビームが蛍光体スク リーン 1 5 の蛍光体層を励起して 発光させるこ とによ リ画像を表示する。
次に、 上記のよ う に構成された F E Dの製造方法について 詳細に説明する。
まず、 背面基板用の板ガラスに電子放出素子を形成する。 この場合、 板ガラス上にマ 卜 リ ックス状の導電性カ ソー ド層 3 6 を形成し、 この導電性力 ソー ド層上に、例えば熱酸化法、 C V D法、 あるいはスパッタ リ ング法によ リ ニ酸化シ リ コ ン 膜の絶縁膜 3 8 を形成する。
その後、 この絶縁膜 3 8上に、 例えばスパッタ リ ング法や 雷子ビーム蒸着法によ リ モ リ ブデンやニオブなどのゲー 卜電 極形成用の金属膜を形成する。 次に、 この金属膜上に、 形成 すべきゲ一 ト電極に対応 した形状の レジス 卜パターンを リ ソ グラ フ ィ 一によ り 形成する。 この レジス 卜パタ ーンをマス ク と して金属膜をゥ エ ツ 卜 エ ッチ ング法または ドライ エ ツチ ン グ法によ り エ ッチング し、 ゲー ト電極 4 1 を形成する。
次に、 レジス 卜パタ ーン及びゲー ト電極 4 1 をマスク と し て絶縁膜 3 8 をゥ エ ツ ト エ ッチ ングまたは ドライ エ ッチング 法によ り エ ッチング して、 キヤ ビテ ィ 3 7 を形成する。 そ し て、 レジス トパタ ーンを除去 した後、 背面基板 1 2 表面に対 して所定角度傾斜 した方向か ら電子ビーム蒸着を行う こ と に よ り 、 ゲー ト電極 4 1 上に、 例えばアル ミ ニウムやニ ッケル か らなる剥離層を形成する。 この後、 背面基板 1 2表面に対 して垂直な方向か ら、 力 ソー ド形成用の材料と して、 例えば モ リ ブデン を電子 ビーム蒸着法によ り 蒸着する。 これによ つ て、 各キヤ ビティ 3 7 の内部に電子放出素子 1 8 を形成する。 続いて、 剥離層をその上に形成された金属膜と と もに リ フ ト オフ法によ リ 除去する。
続いて、 背面基板 1 2 上に板状の支持部材 1 4 を低融点ガ ラスによ リ 封着する。
一方、 前面基板 1 1 と なる板ガラスに蛍光体スク リ ーン 1 5 を形成する。 これは、 前面基板 1 1 と 同 じ大きさの板ガラ ス を準備し 、 この板ガラスにプロ ッ タ ーマシンで蛍光体層の ス ト ライ プパターンを形成する。 この蛍光体ス ト ライ プバタ ーンが形成された板ガラス と前面基板用の板ガラス と を位置 決め治具に載せて露光台にセ ッ トする こ と によ り 、 露光、 現 像して蛍光体スク リーン 1 5 を形成する。 次に、 蛍光体スク リーン 1 5 に重ねて、 アルミ ニウム膜からなるメ タルノくック 層 1 9 を形成する。
上記のよ う に支持部材 1 4が封着された背面基板 1 2 、 蛍 光体スク リ ーン 1 5 の形成された前面基板 1 1 、 および側壁 1 3 の封着面に封着材 3 4 と してイ ンジウムを塗布する。 こ こでは、 例えば、 背面基板 1 2 および前面基板 1 1 の周縁部 内面にイ ンジウムを塗布する。 その後、 これら を所定の隙間 を置いて対向配置 した状態で、 真空処理装置 1 0 0内に投入 する。 上述 した一連の工程には、 例えば図 2 4 に示すよ う な 真空処理装置 1 0 0 を用いる。
この真空処理装置 1 0 0は、 順に並んで設けられたロー ド 室 1 0 1 、 ベーキング、 電子線洗浄室 1 0 2 、 冷却室 1 0 3 、 ゲッ ター膜の蒸着室 1 0 4、 組立室 1 0 5 、 冷却室 1 0 6 、 およびアンロー ド室 1 0 7 を有 している。 これら各室は真空 処理が可能な処理室と して構成され、 F E Dの製造時には全 室が真空排気されている。 隣合う処理室間はゲー トバルブ等 によ リ接続されている。
上述 した背面基板 1 2 、 側壁 1 3 、 前面基板 1 1 は、 ロー ド室 1 0 1 に投入され、 ロー ド室 1 0 1 内を真空雰囲気と し た後、 ベ一キング、 電子線洗浄室 1 0 2 へ送られる。 ベーキ ング、 電子線洗浄室 1 0 2では、 上記組立体および前面基板 を 3 5 0 °Cの温度に加熱し、 各部材の表面吸着ガスを放出さ せる。
また、 加熱と同時に、 ベーキング、 電子線洗浄室 1 0 2 に 取 り 付けられた図示 しない電子線発生装置から、 前面基板 1 1 の蛍光体スク リ ーン面、 および背面基板 1 2 の電子放出素 子面に電子線を照射する。 この電子線は、 電子線発生装置外 部に装着された偏向装置によ って偏向走査されるため、 蛍光 体スク リ ーン面、 および電子放出素子面の全面を電子線洗浄 する ことが可能となる。
加熱、 電子線洗浄後、 上記組立体および前面基板は冷却室 1 0 3 に送られ、 例えば約 1 0 0 °Cの温度の温度まで冷却さ れる。 続いて、 上記組立体および前面基板はゲッ ター膜形成 用の蒸着室 1 0 4へと送られ、 こ こで蛍光体スク リーンの外 側にゲッ タ一膜と して B a膜が蒸着形成される。 この B a 膜 は、 表面が酸素や炭素などで汚染される こと を防止するこ と ができるので、 活性状態を維持するこ とができる。
続いて、 背面基板 1 2 、 側壁 1 3 、 および前面基板 1 1 は 組立室 1 0 5 に送られる。 この組立室 1 0 5 では、 これらの 部材を例えば約 1 3 0 °Cの温度まで加熱 し、 両基板を所定の 位置で重ね合わせる。 この際、 側壁 1 3 に設けられた突出部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c 、 1 3 d を把持する こ とによ り側壁 を保持 し、 背面基板 1 2 、 側壁 1 3 、 および前面基板 1 1 を 相互に位置決めする。 また、 例えば、 背面基板 1 2に側壁 1 3 の突出部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c 、 1 3 d に対応するマー キングを施 しておき、 これら突出部およびマーキングをモニ タ しながら側壁 1 3 を背面基板に高精度で位置合わせする こ とができる。 なお、 突出部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c 、 1 3 d は側壁 1 3 から外側に突出 しているため、 組立室 1 0 5 内に おいても、 これらの突出部を利用 して側壁 1 3 を容易にチヤ ッキングし、 搬送して位置合わせする ことができる。
続いて、 高融点導電部材である側壁 1 3 の突出部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c , 1 3 d のう ち、 相対する 2 つの突出部、 例 えば、 突出部 1 3 a 、 1 3 c に電極を接触させ、 側壁 1 3 に 直流電流 3 0 0 A を 4 0秒通電する。 する と、 この電流はィ ンジゥムにも同時に流れ、 側壁 1 3 およびイ ンジウムが発熱 する。 これによ り 、 ィ ンジゥムを 1 6 0 〜 2 0 0 ¾程度に加 熱されて溶融する。 また、 この際、 重ね合わせ られた前面基 板 1 1 および背面基板 1 2 に約 5 0 k g f の加圧力を両側か ら印加する。
その後、 側壁 1 3への通電を停止し、 速やかに封着領域、 すなわち、 側壁 1 3 および封着材 3 4 の熱を周 りの前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に伝熱拡散させてイ ンジウムを固化 させる。 これによ り 、 側壁 1 3 および封着材 3 4 を介 して前 面基板 1 1 および背面基板 1 2 を封着 し、 真空外囲器 1 0 を 形成する。 通電停止後、 約 6 0秒で封着された真空外囲器 1 0 を組立室 1 0 5 から搬出する。 そ して、 このよ う に して形 成された真空外囲器 1 0 は、 冷却室 1 0 6 で常温まで冷却さ れて、 アンロー ド室 1 0 7から取 り出される。
以上のよ う に構成された第 4の実施の形態に係る F E D お よびその製造方法によれば、 真空雰囲気中で背面基板 1 2 、 側壁 1 3 、 前面基板 1 1 の封着を行う こ とによ り 、 ベーキン グと電子線洗浄との併用によ リ 表面吸着ガスを十分に放出 さ せる こ とができ、 ゲッ ター膜も酸化されず十分なガス吸着効 果を維持する こ とができる。 また、 側壁 1 3 に鉄一二ッケル 合金のよ う な高融点導電性部材を用いる と と もに、 側壁に把 持可能な突出部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c , 1 3 d を設ける こ とによ り 、 真空装置内であっても側壁 1 3 を容易にチヤ ツキ ングおよび搬送するこ とが可能とな り 、 コーナ部基準で側壁 1 3 を高精度に位置合わせする こ とができ かつ短時間で封 着するこ とができる。
更に、 高融点導電性部材に通電するため イ ンジウムが溶 融した時点で溶融ィ ンジゥムの断面積不均 さが大き く な リ イ ンジウムが断線して しまつた り 、 局所的な発熱でガラスが 割れた り する こ と を防ぐことが可能になる。 従って、 容易に かつ確実に真空外囲器の封着を行う こ とができる。 また、 ィ ンジゥムによ り背面基板 1 2 、 前面基板 1 1 、 側壁 1 3 を封 着する こ と によ り 、 鉛のない画像表示装置とするこ とができ る。
なお、 側壁を構成する高融点導電性部材の突出部は上述 し た実施の形態に限られるものではない。すなわち、 突出部は、 互いに離間 して 4個以上設けられていればよ く 、 また、 側壁 のコーナ部に限らず任意の位置に設ける こ とが可能である。 図 2 5 に示すよ う に、 第 4の実施の形態の変形例に係る F E Dによれば、 高融点導電性部材と しての側壁 1 3 は矩形枠状 に形成され、 各辺の中央部から外方へ突出 した突出部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c 、 1 3 d を備えている。 この場合においても、 相対する突出部 1 3 a 、 1 3 c に電極を接触させて直流電流 を通雷し、 上述した第 4の実施の形態と 同様に外囲器を封着 する こ とができる。 他の構成については第 1 の実施の形態と 同一である。
上述した第 4の実施の形態において、 側壁 1 3の各突出部 は、 背面基板 1 2のコーナ部近傍まで延出 した構成と したが、 図 2 6 に示す変形例に係る F E Dによれば、 側壁 1 3 の突出 部 1 3 a 、 1 3 b 、 1 3 c 、 1 3 d は、 背面基板 1 2の周縁 を越え背面基板の外側まで延出 している。 他の構成は上述し た第 4 の実施の形態と 同一であ り 、 同一の部分には同一の参 照符号を付 してその詳細な説明を省略する。 また、 上記構成 の F E D も上述した第 4の実施の形態と 同様の方法で製造さ れる。
そ して、 図 2 6 に示す変形例によれば、 第 4の実施の形態 と同様の作用効果を得る こ とができ、 同時に、 側壁の各突出 部は背面基板の外側へ突出 している こ とから、 製造工程にお いて、 側壁の把持および位置決めを一層容易に行う こ とが可 能となる。
なお、 高融点導電性部材に通電する電流は直流に限るもの ではなく 、 商用周波数あるいは高周波の交流を用いてもよい。
次に、 この発明の第 5の実施の形態に係る F E D、 その製 造法および製造装置について説明する。
図 2 7 および図 2 8 に示すよ う に、 この F E Dは、 それぞ れ矩形状のガラスからなる前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を備え、 これらの基板は例えば約 1 . 6 m mの隙間を置いて 対向配置されている。 背面基板 1 2の大きさは前面基板 1 1 よ り も僅かに大き く 、 その外周部には後述の映像信号を入力 するための引き出 し線 (図示 しない) が形成されている。 そ して、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 は、 ほぼ矩形枠状の 封着部 2 0 を介 して周縁部同士が接合され、 内部が真空状態 に維持された偏平な矩形状の真空外囲器 1 0 を構成している 封着部 2 0 は、 導電性を有 した矩形枠状の高融点導電性部 材 4 2 と第 "! および第 2封着材 3 4 a 、 3 4 b を含んでいる。 そ して、 高融点導電性部材 4 2 は、 第 1 封着材 3 4 a を介 し て前面基板 1 1 の周辺部に接着され、 また、 第 2封着材 3 4 b を介して背面基板 1 2の周辺部に接着されている。
高融点導電性部材 4 2 は、 第 1 および第 2封着材 3 4 a 、 3 4 b よ り も高い融点または軟化点 (すなわち封着に適 した 温度) を有 し、 例えば、 鉄一ニッケル合金が用いられている。 その他、 導電性を有する高融点導電性部材と しては、 F e 、 C r 、 Ν ί 、 A I のいずれかを少な く と も含有 した材料が用 いられる。 また、 第 1 封着材 3 4 a と しては、 第 2封着材ょ リ も融点あるいは軟化点の低い材料を用いている。 こ こでは、 第 1 封着材と して、 例えば、 イ ンジウムあるいはイ ンジウム 合金を用い、 また、 第 2 封着材と して、 絶縁性を有 したフ リ ッ 卜ガラスを用いている。
例えば、 高融点導電性部材 4 2 の融点あるいは軟化点は 5 0 0 °C以上、 第 2 封着材の融点または軟化点は 3 0 0 °C以上、 第 1 封着材の融点あるいは軟化点は 3 0 0 °C未満に設定され ている。
他の構成は、 前述した第 4の実施の形態と同一であ り 、 同 一の部分には同一の参照符号を付 してその詳細な説明を省略 する。
上記のよ う に構成された F E Dにおいて、 映像信号は、 単 純マ 卜 リ ック ス方式に形成された電子放出素子 1 8 とゲ一 ト 電極 4 1 に入力される。 電子放出素子 1 8 を基準と した場合、 最も輝度の高い状態の時、 + 1 0 0 Vのゲー ト電圧が印加さ れる。 また、 蛍光体スク リ ーン 1 5 には + 1 0 k Vが印加さ れる。 これによ り 、 電子放出素子 1 8 から電子ビームが放出 される。 そ して、 電子放出素子 1 8から放出される電子ビー ムの大きさは、 ゲー ト電極 4 1 の電圧によって変調され、 こ の電子ビームが蛍光体スク リ ーン 1 5 の蛍光体層を励起して 発光させるこ とによ り画像を表示する。
次に、 上記のよ うに構成された第 5 の実施の形態に係る F E Dの製造方法について詳細に説明する。
まず、 背面基板用の板ガラ スに電子放出素子 1 8 および 種々の配線を形成する。 続いて、 大気中において、 背面基板 1 2上に板状の支持部材 1 4 を低融点ガラス と してフ リ ツ 卜 ガラスによ り 封着する。 同時に、 第 2 封着材 3 4 b と して絶 縁性を有する フ リ ッ トガラスによ り、 高融点導電性部材 4 2 を背面基板 1 2 の周辺部上に接着する。 この時、 高融点導電 性部材 4 2 は、 第 2封着材 3 4 b の融点あるいは軟化点まで 加熱されるが、 第 2封着材よ り も融点および軟化点が高いた め形状が変形する こ とはない。 なお、 背面基板 1 2上に形成 された配線と高融点導電性部材 4 2 との間の絶縁性を確保す るため、 第 2封着材 3 4 b は 1 0 0 m以上の厚さに形成さ れている ことが望ま しい。 通常、 この加熱は背面基板 1 2 全体を周囲か ら暖める方法 が取 られるが、 高融点導電性部材 4 2 に通電 して封着領域の みを局所的に加熱しても よい。
一方、 前面基板 1 1 と なる板ガラスに蛍光体スク リ ーン 1 5 を形成する。 これは、 前面基板 1 1 と 同 じ大き さの板ガラ スを準備 し、 この板ガラスにプロ ッ タ 一マシンで蛍光体層の ス ト ライ プパターンを形成する。 この蛍光体ス ト ライ プバタ ーンが形成された板ガラス と前面基板用の板ガラス と を位置 決め治具に載せて露光台にセ ッ トする こ と によ り 、 露光、 現 像 して蛍光体スク リ ーン 1 5 を形成する。 次に、 蛍光体スク リ ーン 1 5 に重ねて、 アルミ ニウム膜力、 らなる メ タ ルノくッ ク 層 1 9 を形成する。
上記のよ う に支持部材 1 4 および高融点導電性部材 4 2 が 封着された背面基板 1 2 、 および蛍光体スク リ ーン 1 5 の形 成された前面基板 1 1 の封着面に第 1 封着材 3 4 a と してィ ンジゥムを塗布する。 こ こでは、 例えば、 高融点導電性部材 4 2 および前面基板 1 1 の周辺部内面にイ ンジウムを塗布す る。 その後、 これ ら を所定の隙間を置いて対向配置 した状態 で、 図 2 4 に示 した真空処理装置 1 0 0 内に投入する。
上述 した背面基板 1 2 および前面基板 1 1 は、 ロー ド室 1 0 1 に投入され、 ロー ド室 1 0 1 内を真空雰囲気と した後、 ベーキング、 電子線洗浄室 1 0 2 へ送 られる。 ベーキング、 電子線洗浄室 1 0 2 では、 上記背面基板 1 2 および前面基板 1 1 を 3 5 0 °Cの温度に加熱 し、 各部材の表面吸着ガスを放 出させる。 また、 加熱と同時に、 ベーキング、 電子線洗浄室 1 0 2 に 取り 付けられた図示 しない電子線発生装置から、 前面基板 1 1 の蛍光体スク リーン面、 および背面基板 1 2 の電子放出素 子面に電子線を照射する。 この電子線は、 電子線発生装置外 部に装着された偏向装置によ って偏向走査されるため、 蛍光 体スク リ ーン面、 および電子放出素子面の全面を電子線洗浄 する ことが可能となる。
加熱、 電子線洗浄後、 上記背面基板 1 2 および前面基板 1 1 は冷却室 1 0 3 に送られ、 例えば約 1 0 0 °Cの温度まで冷 却される。 続いて、 上記背面基板 1 2 および前面基板 1 1 は ゲッ ター膜形成用の蒸着室 1 0 4へと送られ、 こ こで蛍光体 スク リーンの外側にゲッ タ一膜と して B a 膜が蒸着形成され る。
続いて、 背面基板 1 2 および前面基板 1 1 は組立室 1 0 5 に送られる。 この組立室 1 0 5 では、 これらの部材を例えば 約 1 3 0 °Cの温度と し、 両基板を所定の位置で重ね合わせる。 その後、 高融点導電性部材 4 2 に電極を接触させ、 直流電流 3 0 0 A を 4 0秒通電する。 する と、 この電流は第 1 封着材 3 4 a 、 つま り 、 イ ンジウムにも同時に流れ、 高融点導電性 部材 4 2 およびイ ンジウムが発熱する。 これによ り 、 イ ンジ ゥムは 1 6 0 〜 2 0 0 °C程度に加熱されて溶融あるいは軟化 する。 また、 この際、 重ね合わせられた前面基板 1 1 および 背面基板 1 2 に約 5 0 k g f の加圧力を両側から印加する。
このと きの加熱は第 2 封着材 3 4 b の溶融点あるいは軟化 点よ り も低 く いため、 高融点導電性部材 4 2 を接着している 第 2 封着材 3 4 b が変形 した りするこ とはない。 そ して、 第 1 封着材 3 4 a が溶融または軟化 した時点で通電を停止 し、 速やかに高融点導電性部材 4 2 およびイ ンジウムの熱を周 り の前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に伝熱拡散させてイ ンジ ゥムを固化させる。 これによ り 、 高融点導電性部材 4 2 、 第 1 および第 2 封着材 3 2 、 3 4 を介して前面基板 1 1 および 背面基板 1 2 を封着し、 真空外囲器 1 0 を形成する。 通電停 止後、 約 6 0秒で封着された真空外囲器 1 0 を組立室 1 0 5 から搬出する。 そ して、 このよ う に して形成された真空外囲 器 1 0 は、 冷却室 1 0 6 で常温まで冷却されて、 アンロー ド 室 1 0 7 から取り出される。
こ こで、 高融点導電性部材 4 2 の断面積が小さすぎる と 、 十分な加熱速度が得られない場合や、 高融点導電性部材自体 が断線する こ とがある。 従って、 高融点導電性部材の断面積 は、 少な く と も 0 . 1 m m 2 以上である こ とが望ま しい。 た だし、 断面積が大きすぎても加熱に必要な電流が増大する。
また、 高融点導電性部材 4 2 、 第 1 および第 2封着材 3 2 、 3 4 は、 基本的に背面基板および前面基板と ほぼ同 じ熱膨張 係数を有 している こ とが望ま しい。 ただ し、 高融点導電性部 材は、 基板に対して局所的に加熱されるため、 残留応力を考 慮 してやや低めの熱膨張係数を選定する こ とが望ま しい。 そ こで、高融点導電性部材 4 2の熱膨張係数は、前面基板 1 1 、 背面基板 1 2 のそれぞれの熱膨張係数の ± 2 0 «½の数値範囲 の最大値よ リ低い値に設定されている。
(実例 1 ) 3 6 イ ンチサイズの T V用 F E D表示装置に適用する真空 外囲器 1 0 を形成 した。 前面基板 1 1 と背面基板 1 2 は、 共 に厚さ 2 . 8 m mのガラス材で構成し、 側壁を兼ねた高融点 導電性部材 4 2 は幅 2 m m、 高さ 1 . 5 m mの N i — F e 合 金で構成している。 そ して、 高融点導電性部材 4 2 は、 第 2 封着材である厚さ 0 . 2 m mのフ リ ツ 卜ガラスを介して背面 基板 1 2 に接着 し、 また、 第 1 封着材である厚さ 0 . 3 m m のイ ンジウムを介して前面基板 1 1 に接着されている。
なお、 フ リ ツ 卜ガラスおよび N i 一 F e 合金の線熱膨張係 数は、 基板ガラス材の熱膨張係数に対 してそれぞれ 9 7 0/0、
9 5 %である。
この真空外囲器は以下の方法で製造した。
まず、 背面基板 1 2 または高融点導電性部材 4 2 のいずれ かにフ リ ッ トガラスを充填 し、 仮焼成する。 そ して、 これら 背面基板 1 2 および高融点導電性部材 4 2 を所定の位置で重 ね合わせ、 大気中 4 0 0 °Cで加熱して接合する。 この時、 フ リ ツ 卜ガラス層の厚さは、 背面基板 1 2上の引き出 し線と高 融点導電性部材 4 2 との絶縁を安定確保するため、 0 . 2 m mと してしゝる。
次に、 前面基板 1 1 と高融点導電性部材 4 2 と封着面にそ れぞれイ ンジウムを充填する。 そ して、 高融点導電性部材 4 2 が接合された背面基板 1 2 および前面基板 1 1 を真空槽内 に入れて加熱脱ガスさせた後、 前面基板 1 1 上にゲッター膜 を形成 し、 両者を所定の位置で重ね合わせる。 そ して、 高融 点導電性部材 4 2 およびイ ンジウムに直流電流 3 0 0 A を 4 0秒通電し、 イ ンジウムを 1 6 0 〜 1 8 0 °C程度に加熱溶融 させる。
こ の際、 重ね合わせられた前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に約 5 0 k g f の加圧力を印加する。 これによ り 、 前面基 板 1 1 と背面基板 1 2 との間隔は支持部材 1 4の高さである 2 m mとな り 、 結果的にイ ンジウム層の厚さは 0 . 3 m mと なる。 その後、 通電を止め、 速やかに封着部の熱を前面基板 および背面基板に伝熱拡散させてイ ンジウムを固化 し、 通電 O F F後、 約 6 0秒で封着された外囲器を搬出する。
このよ う な実例 1 によれば、 イ ンジウムの断線、 気密性劣 化、 側壁位置のずれ、 引き出 し線のシ ョ ー トを招く こ とな く 通電加熱封着を行う こ とができ、 量産性の向上を図る こ とガ でいた。 なお、 この実施例では、 第 1 封着材にイ ンジウム、 第 2 封着材にフ リ ッ トガラスを用いたが、 これらの材料につ いては第 1 封着材の溶融あるいは軟化温度が第 2封着材の溶 融あるいは軟化温度よ リ も低い関係となる材料であれば、 他 の材料でもよ い。 更に、 通電する電流は直流に限るものでは なく 、 商用周波数あるいは高周波の交流を用いてもよい。
(実例 2 )
本実施例では、 図 2 9 に示すよ う に、 前面基板 1 1 と背面 基板 1 2 との周辺部同士を封着 した封着部 2 0 は、 ガラスで 形成された矩形枠状の側壁 1 3 を含んだ構成と した。
すなわち、 背面基板 1 2の周辺部にはフ リ ッ トガラス 4 4 によ リ側壁 1 3 が接着され、 また、 この側壁 1 3上にフ リ ツ トガラス 3 4 b を介 して枠状の高融点導電性部材 4 2 が接着 されている。 そ して、 高融点導電性部材 4 2 はイ ンジウム 3 4 a を介 して前面基板 1 1 の周辺部に接着されている。
側壁 1 3 を含んでいる こ とから、 高融点導電性部材 4 2 は 幅 2 m m、 高さ 0 . 2 m mと している。 そのため、 高融点導 電性部材 4 2 の断面積は 0 . 4 m m 2 とな り 、 実例 1 よ り も 小さ く なつている。 従って、 通電加熱に必要な電流を実例 1 の 3 0 O A力、ら 8 O Aに軽減する こ とができ、 通電装置の発 熱対策を簡易化する ことができた。
以上のよ う に構成された F E D およびその製造方法によれ ば、 背面基板および残面基板に対する高融点導電性部材の封 着を 2 回に分離して行う こ とができ、 同時に、 最終封着を量 産性に優れた通電加熱封着とする こ とができる。 また、 予め 高融点導電性部材を第 2 封着材によ って一方の基板に封着 し た後、 通電加熱封着によ リ第 1 封着材を介 して他方の基板に 封着する こ と によ り 、 封着部の厚さ を均一に維持する こ と が でき、 気密性の高い封着部を得るこ とが可能となる。 同時に、 側壁となる高融点導電性部材を所望の位置に正確に封着する こ と ができる。
更に、 第 2 封着材を絶縁性のものとするこ とで、 背面基板 上の引き出 し線と高融点導電性部材との電気的絶縁も確保す るこ とができる。 以上のこ とから、 気密性の劣化や引き出 し 線との絶縁の問題などを生 じる こ とな く 真空雰囲気中で容易 に、 かつ確実に封着を行う こ とが可能な F E D 、 およびその 製造方法を得る ことができる。
なお、 上述しただい 5 の実施の形態では、 高融点導電性部 材と前面基板との両面に第 1 封着材を予め充填 したが、 第 1 封着材の充填はいずれか一方でも よい。 また、 第 1 封着材と 基板との間などに適当な下地処理を施 してもよい。 更に、 高 融点導電性部材を第 1 封着材を介 して背面基板に接着し、 第 2封着材を介して前面基板に接着する構成と しても良い。
次に、 この発明の第 6 の実施の形態に係る F E D、 その製 造法および製造装置について説明する。
図 3 0 および図 3 1 に示すよ う に、 この F E Dは、 絶縁基 板と してそれぞれ厚さ 2 . 8 m mの矩形状のガラスからなる 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を備え、 これらの基板は例 えば約 2 . 0 m mの隙間を置いて対向配置されている。 背面 基板 1 2 の大きさは前面基板 1 1 よ り も僅かに大き く 、 その 外周部には映像信号を入力するための引き出 し線 (図示 しな い) が形成されている。 そ して、 前面基板 1 1 および背面基 板 1 2 は、 ほぼ矩形枠状の封着部 2 0 を介して周縁部同士が 接合され、 内部が真空状態に維持された偏平な矩形状の真空 外囲器 1 0 を構成している。
封着部 2 0 は、 導電性を有 した矩形枠状の高融点導電性部 材 4 2 と第 1 および第 2 封着材 3 4 a 、 3 4 b を含んでいる。 そ して、 側壁と しても機能する高融点導電性部材 4 2 は、 第 1 封着材 3 4 a を介して前面基板 1 1 の周辺部に接着され、 また、 第 2 封着材 3 4 b を介 して背面基板 1 2 の周辺部に接 着されている。
高融点導電性部材 4 2 は、 第 1 および第 2 封着材 3 4 a 、 3 4 b よ り も高い融点または軟化点 (すなわち封着に適 した 温度) を有 し、 例えば、 鉄一ニッケル合金が用いられている。 その他、 導電性を有する高融点導電性部材と しては、 少な く と も F e 、 C r 、 N i 、 A I のいずれかを含有 した材料が用 いられる。 第 1 および第 2封着材 3 2 と しては、 例えば、 ィ ンジゥムあるいはイ ンジウム合金を用いている。 なお、 高融 点導電性部材 4 2 の融点あるいは軟化点は、 5 0 0 °C以上、 第 1 および第 2封着材 3 4 a 、 3 4 b の融点または軟化点は
3 0 0 °C未満である ことが望ま しい。
また、 高融点導電性部材 4 2 、 第 1 および第 2封着材 3 4 a 、 3 4 b は、前面基板および背面基板の熱膨張係数に対し、 ± 2 0 Q/oの数値範囲で最大値と最小値との間となる熱膨張係 数を有 していることが望ま しい。
更に、 高融点導電性部材 4 2 は、 前面基板 1 1 および背面 基板 1 2の表面に対して垂直な方向の復元性、 つま り 、 ばね 性を有 している。 本実施の形態において、 高融点導電性部材
4 2 は、 ほぼ V字状の断面形状に形成されている。 そ して、 高融点導電性部材 4 2 は、 V字の角度が減少する方向に僅か に弾性変形 した状態で前面基板 1 1 および背面基板 1 2 間に 配置され、 そのばね性によ り 、 前面基板および背面基板の内 面に所望の押圧力を付加 している。 なお、 高融点導電性部材 4 2 は、 ばね定数 0 . 1 k g f Z m m〜 1 . O k g f Z m m 程度に設定されているこ とが望ま しい。
真空外囲器 1 0 の内部には、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に加わる大気圧荷重を支えるため、 複数の板状の支持部 材 1 4 が設けられている。 これらの支持部材 1 4 は、 真空外 囲器 1 0 の短辺と平行な方向に配置されている と と も に、 長 辺と平行な方向に沿っ て所定の間隔を置いて配置されている なお、 支持部材 1 4 の形状については、 板状に限定される も のではな く 、 例えば、 柱状の支持部材等を用 いる こ と も でき る。
他の構成は、 前述 した第 4 の実施の形態と 同一であ り 、 同 一の部分には同一の参照符号を付 してその詳細な説明を省略 する。
次に、 上記のよ う に構成された第 6 の実施の形態に係る F E Dの製造方法について詳細に説明する。
次に、 上記のよ う に構成された F E D の製造方法について 詳細に説明する。
まず、 背面基板用の板 ガラ ス に電子放出素子 1 8 お よ び 種々の配線を形成する。 続いて、 大気中において、 背面基板 1 2 上に板状の支持部材 1 4 を例えば、 フ リ ツ トガラスによ リ 固定する。
また、 前面基板 1 1 と なる板ガラスに蛍光体スク リ ーン 1 5 を形成する。 これは、 前面基板 1 1 と 同 じ大き さの板ガラ スを準備 し、 この板ガラスにプロ ッ タ ーマシンで蛍光体層の ス ト ライ プパタ ーンを形成する。 この蛍光体ス ト ライ プバタ ーンが形成された板ガラス と前面基板用の板ガラス と を位置 決め治具に載せて露光台にセ ッ トする こ と によ り 、 露光、 現 像 して蛍光体スク リ ーン 1 5 を形成する。 次に、 蛍光体スク リーン 1 5 に重ねて、 アルミ ニウム膜か らなる メ タ ルバ ッ ク 層 1 9 を形成する。 続いて、 封着面となる前面基板 1 1 の内面周辺部および背 面基板 1 2 の内面周辺部に、 それぞれ第 1 および第 2 封着材 と してイ ンジウムを枠状に充填する。 この際、 形成されたィ ンジゥム層の厚さは約 0 . 3 m mと し、 最終的に外囲器が組 み立てられた後のィ ンジゥム層厚よ リ も厚く 形成する。
一方、 高融点導電性部材 4 2 は、 厚さ 0 . 2 m mの N i — F e 合金によ り矩形枠状に形成され、 また、 その断面形状は、 1 辺の幅が約 1 5 m mのほぼ V字状を有 している。 こ こで、 N i 一 F e 合金の線熱膨張係数は基板を構成するガラス材の 線熱膨張係数とほぼ等しい。
次に、 上記のよ う に蛍光体スク リーン 1 5 の形成された前 面基板 1 1 、 および支持部材 1 4が固定された背面基板 1 2 を、 所定の隙間を置いて対向配置 し、 かつ、 高融点導電性部 材 4 2 を基板間に配置 した状態で、 図 2 4 に示 した真空処理 装置 1 0 0内に投入する。
上述 した背面基板 1 2 および前面基板 1 1 は、 ロー ド室 1 0 1 に投入され、 ロー ド室 1 0 1 内を真空雰囲気と した後、 ベ一キング、 電子線洗浄室 1 0 2 へ送られる。 ベーキング、 電子線洗浄室 1 0 2 では、 上記背面基板 1 2 および前面基板 1 1 を 3 5 0 °Cの温度に加熱し、 各部材の表面吸着ガスを放 出させる。
また、 加熱と同時に、 ベ一キング、 電子線洗浄室 1 0 2 に 取り付けられた図示しない電子線発生装置から、 前面基板 1 1 の蛍光体スク リ ーン面、 および背面基板 1 2 の電子放出素 子面に電子線を照射する。 この電子線は、 電子線発生装置外 部に装着された偏向装置によ って偏向走査されるため、 蛍光 体スク リーン面、 および電子放出素子面の全面を電子線洗浄 する ことが可能となる。
加熱、 電子線洗浄後、 上記背面基板 1 2 および前面基板 1 1 は冷却室 1 0 3 に送られ、 例えば約 1 0 0 °Cの温度まで冷 却される。 続いて、 上記背面基板 1 2 および前面基板 1 1 は ゲッ ター膜形成用の蒸着室 1 0 4へと送られ、 こ こで蛍光体 スク リーンの外側にゲッ ター膜と して B a 膜が蒸着形成され る。 ' 続いて、 背面基板 1 2 および前面基板 1 1 は組立室 1 0 5 に送られる。 この組立室 1 0 5では、 図 3 2 Aに示すよ う に、 これらの基板を例えば約 1 0 0 °Cに加熱した状態で、 すなわ ち、 第 1 および第 2封着材 3 4 a 、 3 4 b の融点または軟化 点よ り も低い温度に維持した状態で、 前面基板 1 1 、 背面基 板 1 2 、 および高融点導電性部材 4 2 を相対的に位置合わせ する。 この際、 第 1 および第 2 封着材 3 4 a 、 3 4 b である イ ンジウム層は固化 した状態にある。
なお、 後述する通電加熱工程の直前まで、 前面基板 1 1 お よび背面基板 1 2 の温度を第 1 および第 2封着材 3 4 a 、 3 4 b の融点または軟化点よ り も低い温度に維持 し、 望ま し く は、 封着材の融点との温度差が 2 0 °C〜 1 5 0 °Cの範囲内と なるよ う に維持する。
位置合わせが終了 した後、 図 3 2 Bに示すよ う に、 高融点 導電性部材 4 2 を間に挟んで前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を重ね合わせ、 両側から約 5 0 k g f の加圧力を前面基板 および背面基板に印加する。 この際、 V字型の高融点導電性 部材 4 2 は、 固化状態の第 1 および第 2 封着材 3 4 a 、 3 4 b によ り 両側から押圧され、 基板に対 して垂直な方向に弾性 変形し、 V字の角度が減少する。
これによ り 、 厚めに充填された第 1 および第 2 封着材 3 4 a 、 3 4 b の厚さ を吸収し、 前面基板および背面基板の中央 部と封着部と における基板間の隙間の差を無 く すこ とができ る。 従って、 封着部 2 0 においても、 前面基板 1 1 および背 面基板 1 2 に反り を生 じるこ とがな く 、 前面基板 1 1 と背面 基板 1 2 との間隔は、 全域に亘つて支持部材 1 4の高さ と等 しい約 2 m mに保持される。
この状態で、 高融点導電性部材 4 2 に電極を接触させ、 直 流電流 1 4 0 Aを 4 0秒通電する。 する と、 この電流は第 1 および第 2封着材 3 4 a 、 3 4 b 、 つま り 、 イ ンジウムにも 同時に流れ、 高融点導電性部材 4 2 およびイ ンジウムが発熱 する。 これによ り 、 イ ンジウムは約 2 0 0 °C程度に加熱され て溶融あるいは軟化する。 そ して、 第 1 封着材 3 4 a が溶融 または軟化 した時点で通電を停止し、 速やかに高融点導電性 部材 4 2 およびイ ンジウムの熱を周 り の前面基板 1 1 および 背面基板 1 2 に伝熱拡散させてイ ンジウムを固化させる。
なお、 図 3 2 Cに示すよ う に、 通電加熱時、 高融点導電性 部材 4 2 は、 自身の復元性あるいはばね性によ り 、 溶融また は軟化 したィ ンジゥムを適切なパネ力で基板内面側へ押圧す る。 それによ り 、 各イ ンジウム層は、 僅かに押 し潰された状 態で固化する。 この際、 イ ンジウム層の厚さは、 平均 0 . 1 5 m m程度となっている。
このよ う に して、 高融点導電性部材 4 2 、 第 1 および第 2 封着材 3 4 a 、 3 4 b を介して前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を封着 し、 真空外囲器 1 0 を形成する。 通電停止後、 約
6 0秒で封着された真空外囲器 1 0 を組立室 1 0 5から瘢出 する。 そ して、 このよ うに して形成された真空外囲器 1 0 は、 冷却室 1 0 6 で常温まで冷却されて、 アンロー ド室 1 0 7 か ら取 り出される。
以上のよ う に構成された F E D およびその製造方法によれ ば、 背面基板および前面基板を真空雰囲気中で封着する こ と ができ、 同時に、 封着を量産性に優れた通電加熱封着とする こ とができる。 また、 高融点導電性部材は基板に対 して垂直 な方向のばね性を有 している こ とから、 封着時、 基板中央部 と封着部と における基板間の隙間の差を無く し、 封着部にお ける基板に反 り 防止する こ とができる。 これによ り 、 前面基 板および背面基板を高い精度で位置合わせ し封着する こ とが 可能となる。
更に、 通電加熱時、 高融点導電性部材によ って、 溶融また は軟化 した封着材を適切なばね力で基板方向へ押圧する こ と ができ、 封着材の不足などによる リークパス発生を抑制する ことが可能となる。
なお、 上述 した第 6 の実施の形態では、 高融点導電性部材 と して断面 V字形状のものを用いたが、 前面基板および背面 基板の表面に対 して垂直な方向のばね性を有 していれば、 他 の形状と しても良い。 図 3 3 Aおよび 3 3 Bに示す第 7 の実施の形態に係る F E Dによれば、 封着部 2 0 を構成する高融点導電性部材 4 2 と して N i — F e合金カヽらなる厚さ 0 . 1 2 m m、 直径 3 m m のパイ プ状部材を用いている。 この高融点導電性部材 4 2 は、 それぞれ第 1 および第 2 封着材 3 4 a 、 3 4 b と してのイ ン ジゥムを介 して前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に接着され ている。 そ して、 この高融点導電性部材 4 2 は、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 の表面に対 して垂直な方向のばね性を 有している。
封着状態において、 高融点導電性部材 4 2 は押 し潰された 状態に弾性変形 し、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 の表面 に対 し垂直な方向の適切なばね力を印加 している。 他の構成 は上述 した第 6の実施の形態と 同一であ り 、 その詳細な説明 は省略する。
上記構成の F E Dは、 前述した第 6 の実施の形態と同様の 方法で製造される。 そ して、 製造条件を第 6 の実施の形態と 同一と した場合、 通電加熱時、 高融点導電性部材 4 2 に直流 電流 4 0 A を 4 0秒間通電する こ とによ り イ ンジウムを溶融 させ、 溶融後、 4 0秒間冷却する こ とによ り イ ンジウムを固 化させ封着を行う こ とができる。 従って、 第 7 の実施の形態 においても、 上述した第 6の実施の形態と同様の作用効果を 得る こ とができる と と もに、 通電、 冷却時間を短縮し、 製造 効率の向上を図るこ とが可能となる。
上述した第 7の実施の形態において、 図 3 4 A 、 3 4 Bに 示すよ う に、 イ ンジウム等の封着材 3 5 を高融点導電性部材 4 2 の外周面全体に充填 しても よい。 この場合、 高融点導電 性部材 4 2 をイ ンジウムはんだ槽に漬け込むだけでイ ンジゥ ムの充填が完了 し、 製造にかかる手間を省く こ とができる。 同時に、 前面基板 1 1 と背面基板 1 2 と を封着材そのもので 直に封着する ことができ、 真空外囲器の気密性が向上する。
なお、 この発明は上述 した第 6 の実施の形態に限定される ことなく 、 この発明の範囲内で種々変形可能である。例えば、 上述 した実施の形態では、 封着材料であるイ ンジウムを基板 側に充填 したが、 高融点導電性部材側に充填 してもよい。 ま た、 高融点導電性部材に通電する電流は直流に限らず、 商用 周波数あるいは高周波の交流を用いてもよい。
また、 上述 した実施の形態では、 高融点導電性部材は、 組 み立て時に真空槽内で所定の位置に配置する構成と したが、 予め、 イ ンジウム等の封着材を用いて、 大気中で前面基板あ るいは背面基板に接着してお く 構成と しても良い。
次に、 この発明の第 8 の実施の形態に係る F E Dの製造法 および製造装置について説明する。
まず、 本製造方法および製造装置によ り製造される F E D の構成について説明する。 図 3 5 に示すよ う に、 F E Dは、 それぞれ矩形状のガラスからなる前面基板 1 1 、 および背面 基板 1 2 を備え、 これらの基板は "! 〜 2 m mの隙間を置いて 対向配置されている。 対角寸法は 1 0 イ ンチであ り 、 背面基 板 1 2の大き さは前面基板 1 1 よ り も大き く 、 その外周部に は後述の映像信号を入力するための配線が引出されている。
前面基板 1 1 および背面基板 1 2 は、 矩形枠状の側壁 1 3 を介 して周縁部同士が接合され、 内部が真空状態に維持され た扁平な矩形状の真空外囲器 1 0 を構成している。 背面基板 1 2 と側壁 1 3 とはフ リ ッ トガラス 4 0 によ り接合され、 前 面基板 1 1 と側壁 1 3 とは導電性を有する封着材と してのィ ンジゥム 2 1 a 、 2 1 b によ り 接合されている。
真空外囲器 1 0の内部には、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に加わる大気圧荷重を支えるため、 複数の板状の支持部 材 1 4が設けられている。 これらの支持部材 1 4 は、 真空外 囲器 1 0 の短辺と平行な方向に延在 している と と もに、 長辺 と平行な方向に沿って所定の間隔を置いて配置されている。 なお、 支持部材 1 4 は板状に限らず、 柱状のものを用いても よい。
他の構成は、 前述した第 4の実施の形態と同一であ り 、 同 一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略 する。
次に、 上記構成を有する F E Dの製造方法について詳細に 説明する。
まず、 前面基板 1 1 となる板ガラスに蛍光体スク リ ーン 1 5 を形成する。 これは、 前面基板 1 1 と同 じ大きさの板ガラ スを準備 し、 この板ガラスにプロ ッ タ一マシンで蛍光体ス 卜 ライ プパタ ーンを形成しておき、 この蛍光体ス トライ プバタ ーンを形成 した板ガラスと前面基板用の板ガラスを位置決め 治具に載せて露光台にセッ トする。 この状態で、 露光、 現像 する こ と によ り 、 前面基板 1 1 となるガラス板上に蛍光体ス ク リーンを生成する。 その後、 蛍光体スク リーン 1 5 に重ね てメ タ レパ、ック層 1 9 を形成する。
続いて、 前述した実施の形態と 同様の工程によ り、 背面基 板 1 2用の板ガラスに電子放出素子 1 8 を形成する。その後、 大気中で側壁 1 3 および支持部材 1 4 を背面基板 1 2 の内面 上にフ リ ッ 卜ガラス 4 0 によ り 封着する。
次に、 図 3 6 A、 3 6 Bに示すよ う に、 側壁 1 3の接合面 の全周に渡ってイ ンジウム 2 1 b を所定の幅および厚さに塗 布すると と もに、 前面基板 1 1 の側壁と対向する位置にイ ン ジゥム 2 1 a を所定の幅および厚さで矩形枠状に塗布する。 そ して、 図 3 7 に示すよ う に、 これら背面基板 1 2、 前面基 板 1 1 を所定間隔離 して対向配置 した状態で、 真空装置内に 投入する。
なお、 側壁 1 3 および前面基板 1 1 の封着部に対するイ ン ジゥム 2 1 a 、 2 1 b の配置は、 上述 したよ う に、 溶融した イ ンジウムを封着部に塗布する方法、 固体状態のイ ンジウム を封着部に載置する方法等によ って行う 。
こ の一連の工程には、 例えば図 3 8 に示すよ う な真空処理 装置 1 0 0 を用いる。 真空処理装置 1 0 0 は、 前述した実施 の形態と 同様に、 並んで配設されたロー ド室 1 0 1 、 ベ一キ ング、 電子線洗浄室 1 0 2 、 冷却室 1 0 3 、 ゲッ ター膜の蒸 着室 1 0 4 、 組立室 1 0 5 、 冷却室 1 0 6 、 およびア ンロー ド室 1 0 7 を備えている。 組立室 1 0 5 には、 通電用の直流 の電源 1 2 0 と、 この電源を制御するコ ンピュータ 1 2 2 と が接続されている。 コ ンピュータ 1 2 2 は、 こ の発明におけ る制御部および判定部と して機能する。 また、 真空処理装置 1 0 0 の各室は、 真空処理が可能な処理室と して構成され、 F E Dの製造時には全室が真空排気されている。 これら各処 理室間は図示しないゲー トバルブ等によ リ接続されている。
所定間隔離して配置された上述の前面基板 1 1 および背面 基板 1 2 は、 まず、 ロー ド室 1 0 1 に投入される。 そ して、 ロー ド室 1 0 1 内の雰囲気を真空雰囲気と した後、 ベーキン グ、 電子線洗浄室 1 0 2へ送られる。
ベーキング、電子線洗浄室 1 0 2 では、各種部材を 3 0 0 °C の温度に加熱し、 各基板の表面吸着ガスを放出させる。 同時 にべ一キング、 電子線洗浄室 1 0 2 に取り 付けられた図示 し ない電子線発生装置から電子線を、 前面基板 1 1 の蛍光体ス ク リーン面、 および背面基板 1 2 の電子放出素子面に照射す る。 その際、 電子線発生装置外部に装着された偏向装置によ つて電子線を偏向走査する こ とによ り 、 蛍光体スク リ ーン面 および電子放出素子面の全面をそれぞれ電子線洗浄する こ と が可能となる。
そ して、 この加熱、 電子線洗浄を行った前面基板 1 1 およ び背面基板 1 2 は冷却室 1 0 3 に送られ、 約 1 2 0 °Cの温度 まで冷却された後、ゲッ タ一膜の蒸着室 1 0 4へと送られる。 この蒸着室 1 0 4では、 蛍光体層の外側にゲッ ター膜と して B a 膜が蒸着形成される。 B a 膜は表面が酸素や炭素などで 汚染される こと を防止する こ とができ、 活性状態を維持する こ とができる。
続いて、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 は組立室 1 0 5 に送られる。 この組立室 1 0 5 では、 前面基板 1 1 および背 面基板 1 2 の温度を約 1 2 0 °Cに維持したまま、 それぞれの 基板のイ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b に通電用の電極を接触させ る。 この場合、 図 3 9 に示すよ う に、 前面基板 1 1 に形成さ れたイ ンジウム 2 1 a の内、 対角方向に向い合う 2 つの角部 に給電端子 3 0 a 、 3 0 b を接触させる。 また、 背面基板 1 2側の側壁 1 3 上に形成されたイ ンジウム 2 1 b の内、 対角 方向に向い合う 2つの角部に給電端子 3 2 a 、 3 2 b を接触 させる。 給電端子 3 0 a 、 3 0 b および給電端子 3 2 a 、 3 2 b は、 互い重なるこ とな く 、 ずれた角部に配置する こ とが 望ま しい。
給電端子 3 0 a 、 3 0 b 、 3 2 a , 3 2 b を設置し電源 1 2 0 に接続 した後、 前面基板 1 1 側のイ ンジウム 2 1 a およ び背面基板 1 2側のイ ンジウム 2 1 bのそれぞれに通電しィ ンジゥムを溶融させる。 この場合、 まず、 電源 1 2 0 か ら 7 0 Aの直流電流を定電流モー ドでイ ンジウム 2 1 に 1 秒間負 荷する。 こ こで定電流モー ドとは、 予め決めた一定の電流値 で通電する方式である。 この 1 秒間の通電の間、 電源 1 2 0 から電圧値がフ ィー ドバック されてコ ンピュータ 1 2 2 に取 り こまれる。 つま り 、 この 1 秒間の定電流モー ドは接触抵抗 やイ ンジウム 2 1 の配置のばらつきなどを踏まえた総電気抵 抗を検出するためのプロセスである。 これによ り 、 接触抵抗 やイ ンジウム配置ばらつきなどを瞬時に検出 し、 次の定電圧 モー ドでの電圧値を個別に最適設定する こ とができる。
通電開始から 1 秒後には、 計測された電圧値がコ ンビユ ー タ 1 2 2 から電源 1 2 0 に出力され、 定電圧モー ドに移行す る。 定電圧モー ドと は、 予め決め られた一定の電圧値で通電 する方式である。 そ して、 通電によ り イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b の,温度が上昇するため、 イ ンジウムの電流値は 7 0 Aか ら徐々に低下 していく 。
こ こで、 イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b の電気抵抗は図 4 0 に 示す特性を持っている。イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b において、 融点よ り も温度の低い固体の領域では、 温度上昇につれて 1 次関数的に穩やかに抵抗値が上がっていき、 融点に達する と 抵抗値が一気に上昇する。 融点よ り も高い温度の液体の領域 では 1 次関数的に穩やかに抵抗値が徐々に上がってい く 。 よ つて、 電源 1 2 0力、らコ ン ピュータ 1 2 2 に取 り こまれる電 流値は、 ほぼ図 4 1 に示すよ う に変化する。
図 4 2 は実際に計測 した電流値のグラフを示している。 最 初徐々に低下 している電流値は、 イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b が溶融するにつれて大き く 低下 し、 溶融後は低下があま リ起 こ らなく なつてしゝる。 従って、 コ ンピュータ 1 2 2に取 り こ まれた電流値変化の傾きをモニタ する こ とによ り 、 あるいは 電流値の低下量をモニタする こ とによ り 、イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b全体が溶融したかどうかを判定する こ とができる。 図 4 3 は、 図 4 2 に示 した電流値変化の傾きをグラ フ化 し たものである。 傾き変化が収まった領域 Bでイ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b は完全に溶融している。 そのため、 コ ンピュータ 1 2 2 によ って電流値変化の傾き変化をモニタするこ とによ リ 、 イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 bの溶融完了を判定 し、 電源 1 2 0 から イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 bへの通電を停止する。 例 えば、 電流値変化の傾きが 0 . 5 以下となる状態が 3 秒間連 続した後、 通電を停止する。
その後、 イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b に接触させている給電 端子 3 0 a 、 3 0 b 、 3 2 a 、 3 2 b を取 り 除き、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 を互いに接近する方向へ加圧する こ とによ り 、 イ ンジウムによ って前面基板 1 1 の周縁部と側壁 1 3 とを封着し接合する。 なお、 給電端子 3 0 a 、 3 0 b 、 3 2 a 、 3 2 b を外すこ とな く イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 と 共に一旦封着し、 その後、 電極の突出部分を切除する方式を 取る こ と もできる。
上述した方法で前面基板 1 1 および背面基板 1 2の周縁部 同士を封着 し接合する こ とによ り 、 封着時間を著 し く 短縮す る こ とが可能になる。本実施の形態では、イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b が溶融するまでにかかった時間が約 1 5秒、 加圧後ィ ンジゥムが固化 し 1 3 0 °C以下に達するまでにかかった時間 は約 2分であった。
上記工程によ り形成された真空外囲器 1 0 は、 冷却室 1 0 6 で常温まで冷却され、 アンロー ド室 1 0 7 から取り 出 され る。 これによ り 、 F E Dが完成する。
以上のよ うな F E Dの製造方法によれば、 真空雰囲気中で 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 の封着、 接合を行う こ とか ら、 ベーキングと電子線洗浄の併用によ って表面吸着ガスを 十分に放出させるこ とができ、 吸着能力が優れたゲッ タ一膜 を得るこ とができる。 また、 イ ンジウムを通電加熱する こ と によ って封着、 接合する こ とによ り 、 前面基板および背面基 板全体を加熱する必要がな く 、 ゲッター膜の劣化、 封着工程 中に基板が割れるなどの不具合をな く すこ とができ、同時に、 封着時間の短縮を図る ことができる。
更に、第 8 の実施の形態では、イ ンジウムの通電加熱の際、 電流値の傾き変化をモニタ してイ ンジウムの溶融完了を電気 的に検出する こ とが可能となる。 そのため、 通電条件、 通電 停止等を適切に設定 し、 数分のオーダ一で容易に接合を完了 する こ とができる。 従って、 量産性に優れた製造方法とする こ とができ、 同時に、 安定かつ良好な画像を得る ことが可能 な F E D を安価に製造する こ とができる。
なお、 本実施の形態のよ う に、 基板の大き さが比較的小さ い場合、 イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 bの配置ばらつきによる影 響が小さ く 、 電流値そのものを計測するこ と によ リイ ンジゥ ムの溶融完了を判定するこ とができる。 そこで、 第 9 の実施 の形態と して、 上述と同 じ大きさの F E Dを電流値そのもの の変化を計測 して封着する方法について説明する。
第 9の実施の形態では、 イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b の塗布 幅が 4 m m、 塗布厚さがそれぞれ 0 . 2 m mとなるよ う に、 側壁 1 3 および前面基板 1 1 の側壁に対向する位置にイ ンジ ゥム 2 1 a 、 2 1 b を塗布する。 これらの寸法は、 形成する 真空外囲器の真空気密性および強度特性を十分得るために必 要な寸法である。 このよ う な配置状態において、 1 2 0 °Cに おけるイ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b の抵抗値は約 2 7 m Ω とな る。 また、 溶融時におけるイ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b の抵抗 値は約 6 0 m Ωである。 第 9 の実施の形態では、前述 した第 8実施の形態と 同様に、 まず、 給電端子 3 0 a 、 3 0 b 、 3 2 a 、 3 2 b をイ ンジゥ ム 2 1 にそれぞれ接触させた後、 それぞれのイ ンジウム 2 1 に 7 0 Aの直流電流を定電流モー ドで 1 秒間負荷する。 続い て、 コ ンピュータ 1 2 2 によ り計測された電圧値で定電圧モ ー ドに切 り 替えて通電を行う 。 すると、 電流値は約 3 5 A低 下する。 ばらつきを考慮 して理論値よ り も上側の値に、 イ ン ジゥム溶融完了の判定値を設定する。 そ して、 電源 1 2 0か ら コ ンピュータ 1 2 2 に取 り こまれる電流値をモニタ し、 電 流値が判定値に到達後 2 〜 5秒経過してから通電を切断する と、 イ ンジウム全体を溶融する こ とができる。
上記実施の形態では、 前面基板および背面基板の寸法が比 較的小さ い場合について記述した。 このよ う に基板の寸法が 小さ い場合、 イ ンジウムのばらつきの影響が小さ く 、 通電加 熱時、イ ンジウム全体がほぼ同時に溶融する。しか しながら、 基板の寸法が大きい場合、 イ ンジウムのばらつきの影響が大 き く な リ 、 通電加熱時、 イ ンジウムのある部分が溶融 し別の 部分はまだ固体のままという現象が起こ り う る。
定電圧モー ドではィ ンジゥムに印加する電流値が低下する ため、 イ ンジウムに固体の部分が残る と、 その部分は溶融す るほど十分に発熱が起こ らず、 イ ンジウム全体が溶融するま でに相当の時間が掛かる。 そのため、 基板の寸法が大きい場 合には、 定電流モー ドでイ ンジウムの溶融完了判定をする方 式が望ま しい。
次に、第 1 0の実施の形態と して、対角寸法が 3 2 イ ンチ、 前面基板 1 1 と背面基板 " 1 2 との間隔が 1 . 6 m mの F E D の製造方法において、 電圧値の傾きを計測 して封着、 接合す る方法について説明する。
まず、 前述した第 8 の実施の形態と同様に、 前面基板 1 1 および背面基板 1 2 に所望の処理を施した後、 これら基板を 隙間を置いて対向配置 した状態で真空処理装置 1 0 0 内に投 入する。 そ して、 組立室 1 0 5 では前面基板 1 1 および背面 基板 1 2 の温度を約 1 2 0 °Cに維持したまま、 側壁 1 3上に 配置されたイ ンジウム 2 1 の対向する角部、 および前面基板 1 1 に配置されたイ ンジウムの対向する角部に、 通電用の給 電端子 3 0 a 、 3 0 b 、 3 2 a 、 3 2 b をそれぞれ接触させ る。
続いて、電源 1 2 0力、ら給電端子 3 0 a 、 3 0 b 、 3 2 a 、 3 2 b を通 してそれぞれのイ ンジウム 2 1 に通電する。 この 通電によ り イ ンジウム 2 1 の温度が上昇するため、 コ ンビュ ータ 1 2 2 に取 り こまれた電圧値は徐々に上昇する。 実際に 計測 したイ ンジウム 2 1 の電圧値変化は、 図 4 4 に示すよ う にな り 、 また、 対応する電圧値の傾きは図 4 5 に示すよ う に なる。 図 4 4 よ り 、 最初徐々に上昇している電圧値がイ ンジ ゥム 2 1 の溶融時には大き く 上昇し、 溶融後は上昇の仕方が 小さ く なつているこ とがわかる。 この電圧値変化の傾きをモ ニタする こ とによ り 、 あるいは、 電圧値の上昇量をモニタす るこ とによ り 、 イ ンジウム全体が溶融したかどう かを判定す るこ とができる。 本実施例では、 傾き変化が収ま った部分 C でイ ンジウムは完全に溶融 している。 そこで、 電圧値変化の 傾きをモニタ し、 傾きが 0 . 1 以下となっている状態が 5秒 間連続した後イ ンジウム溶融完了と判定 して通電を切断する 本実施の形態では、 イ ンジウム 2 1 a 、 2 1 b が溶融する までにかかった時間が約 2 5秒、 前面基板 1 1 および背面基 板 1 2 同士を加圧後イ ンジウムが固化 し 1 3 0 °C以下に達す るまでにかかった時間は約 3 . 5 分であった。
なお、 上述した実施の形態では電流値または電圧値の変化 によ り イ ンジウムの溶融完了を判定 したが、 イ ンジウムの抵 抗値そのもので溶融完了を判定する こ とはいう までもな く 可 能である。 そこで、 第 1 1 の実施の形態と して、 F E Dの製 造方法において、 抵抗値をモニタ してイ ンジウムの溶融完了 を判定する方法について説明する。 本実施の形態では、 前述 した第 1 の実施の形態と同様の工程によ り 、 側壁 1 3 上に配 置されたイ ンジウム 2 1 b および前面基板 1 1 上に配置され たイ ンジウム 2 1 a を組立室 1 0 5 内で通電加熱し、 前面基 板および背面基板 1 2 を接合する。
イ ンジウム 2 1 を通電加熱する際、 電源 1 2 0 から コ ンビ ユ ータ 1 2 2 に取 り こまれたイ ンジウムの抵抗値をモニタす る。 図 4 6 は、 その抵抗値の変化および抵抗値変化の傾きを 示 している。 そ して、 抵抗値の上昇量あるいは抵抗値変化の 傾きに基づいてイ ンジウムの溶融完了を判定する。 例えば、 抵抗値変化の傾きが 0 . 5 以下となっている状態が 5 秒間連 続した後イ ンジウムの溶融完了を判断 し、 イ ンジウムの通電 加熱を停止する。
従って、 第 1 1 の実施の形態においても、 前述した第 1 の 実施の形態と同様の作用効果を得るこ とができる。
次に、 この発明の第 1 2 の実施の形態について説明する。 本実施の形態では、 前述 した第 8の実施の形態と同様のェ 程によ り 、 側壁 1 3上に配置されたイ ンジウム 2 1 および前 面基板 1 1 上に配置されたイ ンジウム 2 1 を組立室 1 0 5 内 で通電加熱し、 前面基板および背面基板 1 2 を接合する。
その際、 電源 1 2 0 からイ ンジウム 2 1 にそれぞれ直流電 流を定電流モー ドで 1 秒間負荷する。 この 1 秒間の通電の間 に、 電圧値力《フ ィー ドバック されてコ ンピュータ 1 2 2 に取 り こまれる。 図 4 7 に示すよ う に、 1 秒後 ( t 1 ) には、 計 測された電圧値がコ ン ピュータ 1 2 2 から電源 1 2 0 に出力 され、 定電圧モー ド ( t 1 - t 2 ) に移行する。
その後、 測定された電流値が、 イ ンジウム 2 1 の寸法から 定められる理論的な電流値 X、 すなわち、 イ ンジウムが溶融 する理論的な電流値、 に達 した時点で、 も う一度定電流モー ド ( t 2 — t 3 ) に移行する。 そ して、 この定電流モー ドで イ ンジウム 2 1 に一定時間通電した後、 通電を停止する。 こ の 3 ステ ッ プ目の定電流モー ドは、 イ ンジウム 2 1 の配置の ばらつきを吸収するもので、 イ ンジウム全体を確実に溶融す る上で有効なステッ プとなっている。
上記のよ う に構成された第 1 2 の実施の形態においても、 イ ンジウムの通電加熱の際、 通電条件、 通電停止等を適切に 設定 し、 数分のオーダーで容易に接合を完了する こ とができ る。 そのため、 量産性に優れた製造方法とする こ とができ、 同時に、 F E D を安価に製造ができ、 安定かつ良好な画像を 得る こ とが可能な F E D を提供するこ とができる。
なお、 上述した第 9 ない し第 1 2の実施の形態において、 第 8 の実施の形態と同一の部分は同一の参照符号を用いて説 明 し、 その詳細な説明を省略した。
また、 この発明は上述した実施の形態に限定される こ とな く 、 この発明の範囲内で種々変形可能である。 例えば、 イ ン ジゥムへの通電条件や温度条件は、 本発明の趣旨を逸脱 しな い範囲で種々の値をとるこ とができる。 ただ し、 ゲッ ターの 吸着能力を低下させないために、 基板温度の加熱温度は 1 4 0 °Cを上回 らないこ とが望ま しい。上述した実施の形態では、 電源からのフ ィー ドバック をコ ン ピュータ で測定する構成と したが、 これに限らず、 電流計、 電圧計等の他の測定器を用 いてもよい。
真空外囲器の外形状や支持部材の構成は上記実施の形態に 限られる ものでないこ とはいう までもなく 、 さ らに、 マ ト リ ック ス型の黒色光吸収層と蛍光体層を形成し、 断面が十字型 の柱状支持部材を黒色光吸収層に対して位置決め して封着す る構成と してもよい。 また、 電子放出素子は、 p n型の冷陰 極素子あるいは表面伝導型の電子放出素子等を用いても よい 上記実施の形態では、 真空雰囲気中で基板を接合する工程に ついて述べたが、 その他の雰囲気環境において本発明を適用 する こと も可能である。
また、 封着材料はイ ンジウムに限る ものではな く 、 導電性 があれば他の材料でも よい。 一般的に金属であれば相変化す る際に急激な抵抗値変化が生 じるため、 上述 した実施の形態 と 同様の方法を実施する こ とができる。 例えば、 封着材と し て、 少な く と も I n 、 S n 、 P b 、 G a 、 B i のいずれかを 含む金属を用いる こ とができる。
更に、 この発明は、 F E Dや S E Dなどの真空外囲器を必 要とする画像表示装置に限らず、 P D Pのよ う に一度真空に してから放電ガスを注入するよ う な他の画像表示装置にも有 効である。
産業上の利用可能性
以上詳述 したよ う に、 この発明によれば、 よ り簡単な装置 で封着部分のみを瞬時に加熱できる と と もに、 熱伝導および 熱容量の関係から封材部材を瞬時に冷却、 固化する こ とがで き、 同時に、 封着時の基板全体の温度変化が小さ く 封着精度 が向上 し、 特性面およびと生産性に優れた平面型の画像表示 装置、 画像表示装置の製造方法、 および製造装置を提供する こ とができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 対向配置されている と と もに周縁部が封着された前 面基板および背面基板を有する外囲器を備え、
上記前面基板と背面基板との間に位置した封着部は、 導電 性を有 し通電する こ と によ リ融解する封着部材によ って封着 されている画像表示装置。
2 . 上記外囲器は、 前面基板および背面基板の周縁部間 に位置 した枠状の側壁を有 し、 上記封着部材は、 上記前面基 板および上記背面基板の少な く と も一方と上記側壁と間に設 けられている請求項 1 記載の画像表示装置。
3 . 上記封着部材は、 上記外囲器の周縁の封着部に沿つ て枠状に設け られている と と もに、 上記封着部から外側に突 出 した 2 つの電極部を有 している請求項 1 に記載の画像表示 装置。
4 . 上記各電極部の断面積は、 上記封着部材の他の部分 の断面積よ リ も大きい請求項 3 に記載の画像表示装置。
5 . 上記 2 つの電極部は、 上記外囲器の周縁部に対して 対称的な位置に設けられている請求項 3 に記載の画像表示装 置。
6 . 上記封着部材は、 I n または I n を含む合金を含ん でいる請求項 1 に記載の画像表示装置。
7 . 上記外囲器の内部には電子源と蛍光体が設けられ、 上記外囲器の内部は真空に維持されている請求項 1 に記載の 画像表示装置。
8 . 対向配置されている と と もに周縁部が封着された前 面基板および背面基板を有する外囲器を備えた画像表示装置 の製造方法において、
上記前面基板および背面 S板の周縁部間の封着部に沿つて 導電性を有 した封着部材を設け、 この封着部材に通電して融 解する こ とで上記封着部を封着する画像表示装置の製造方法
9 . 上記前面基板および背面基板の周縁部間に枠状の側 壁を配置し、 上記前面基板および背面基板の少な く と も一方 と上記側壁との間に上記封着部材を設け、 この封着部材に通 電して封着部材を融解する請求項 8 に記載の画像表示装置の 製造方法。
1 0 . 上記封着部材に直流電流を通電する こ と を特徴とす る請求項 8に記載の画像表示装置の製造方法。
1 1 . 上記封着部材に商用周波数の交流電流を通電する こ とを特徴とする請求項 8 に記載の画像表示装置の製造方法。
1 2 . 上記封着部材に交流電流供給源から商用周波数よ リ も高い周波数の交流電流を通電する請求項 8 に記載の画像表 示装置の製造方法。
1 3 . 上記封着部材と して、 I n または I n を含む合金が 用いる こ と を特徴とする請求項 8 に記載の画像表示装置の製 造方法。
1 4 . 上記導電部材を上記外囲器の周縁の封着部に沿って 枠状に設ける と と もに、 導電部材に上記封着部から外側に突 出する 2 つの電極部を形成し、 上記電極部を介 して導電部材 に通電する請求項 8 に記載の画像表示装置の製造方法。
1 5 . 上記各電極部の電面積を上記封着部材の他の部分の 断面積よ り も大きい形成する請求項 1 4 に記載の画像表示装 置の製造方法。
1 6 . 上記 2 つの電極部を上記外囲器の周縁部に対 して対 称的な位置に設ける請求項 1 4 に記載の画像表示装置の製造 方法。
1 7 . 上記封着部材に通電する直前の上記前面基板および 背面基板の温度を、 上記封着部材の融点よ り も低く 設定する 請求項 8 に記載の画像表示装置の製造方法。
1 8 . 上記封着部材に通電する直前の上記前面基板および 背面基板の温度と上記封着部材の融点との差を 2 0 °C ~ 1 5 0 °Cの範囲に設定する請求項 1 7 に記載の画像表示装置の製 造方法。
1 9 . 上記外囲器を真空雰囲気中に配置した状態で上記封 着部材に通電する請求項 8 に記載の画像表示装置の製造方法
2 0 . 真空雰囲気中で上記前面基板および背面基板を加熱 して脱ガス させた後、 真空雰囲気を維持 した状態で上記封着 部材の融点よ り も低い温度まで冷却し、
上記封着部材に通電する こ とによ り上記封着部材のみを加 熱溶融し、
上記封着部材への通電を停止 し、 上記封着部材の熱を上記 前面基板および背面基板に伝導する こ と によ リ 封着部材を冷 却固化させ、 上記外囲器を真空に封着する請求項 1 9記載の 画像表示装置の製造方法。
2 1 . 上記封着部材に通電する際、 上記前面基板あるいは 背面基板の周縁部の機械的な拘束をな く し、 熱による上記周 縁部のたわみを許容しながら封着する請求項 2 0 に記載の画 像表示装置の製造方法。
2 2 . 上記外囲器の内部に電子源および蛍光体を設けた状 態で上記前面基板あるいは背面基板の周縁部を封着 し、 上記 外囲器の内部を真空に維持する請求項 1 9 に記載の画像表示 装置の製造方法。
2 3 . 前面基板と、 この前面基板に対向配置された背面基 板と、 上記前面基板および背面基板の周縁部を封着 した封着 部と、 を有する外囲器を備え、
上記封着部は、 通電によ り加熱溶融されて上記周縁部を封 着する導電性の封着材料、 およびこの封着材料の融点よ り も 高い融点を有し上記周縁部に配置された導電部材を有 してい る画像表示装置。
2 4 . 前面基板と、 この前面基板に対向配置された背面基 板と、 上記前面基板および背面基板の周縁部を封着した封着 部と、 を有する外囲器を備え、
上記封着部は、 加熱によ り溶融されて上記周縁部を封着す る封着材料、 およびこの封着材料を加熱せ しめるため封着材 料の中に配置され通電によ リ加熱される導電部材を有 してい る画像表示装置。
2 5 . 前面基板と、
この前面基板に対向配置された背面基板と、
上記前面基板および背面基板間で前面基板および背面基板 の周縁部に設け られた導電部材からなる枠状の側壁と、
上記前面基板および背面基板の少な く と も一方と上記側壁 との間の接合部に設けられ、 上記側壁を通電する こ とによ リ 加熱溶融されて上記接合部を封着する封着材料と、
を有する外囲器を備えた画像表示装置。
2 6 . 前面基板と、 この前面基板に対向配置された背基板 と、 上記前面基板および背面基板間で前面基板および背面基 板の周縁部に設けられた枠状の側壁と、 上記前面基板および 背面基板の少な く と も一方と上記側壁との間の接合部を封着 する封着部と、 を有する外囲器を備え、
上記封着部は、 加熱によ り溶融されて上記周縁部を封着す る封着材料、 およびこの封着材料を加熱せ しめるため封着材 料内に配置された通電によ リ加熱される導電部材を有してい る画像表示装置。
2 7 . 上記封着材料は、 導電性を有 している請求項 2 3 に 記載の画像表示装置。
2 8 . 上記封着材料は、 I n または I n を含む合金を含ん でいる請求項 2 3 に記載の画像表示装置。
2 9 . 上記封着材料は、 3 0 0 °C以下で溶融または軟化す る材料である請求項 2 3 に記載の画像表示装置。
3 0 . 上記導電部材は、 上記外囲器の外側に延出 し電源に 接続可能な少な く と も 2 つの接続端子を有 している請求項 2 3 に記載の画像表示装置。
3 1 . 上記導電部材の断面積は、 0 . 1 m m 2以上である 請求項 1 に記載の画像表示装置。
3 2 . 上記導電部材は、 F e 、 C r 、 Ν ί 、 A l 、 C u 、 A g 、 C o 、 T i の少な く と も 1 つを含んでいる請求項 1 に 記載の画像表示装置。
3 3 . 上記導電部材は、 融点が 5 0 0 °C以上の材料によ リ 形成されている請求項 1 に記載の画像表示装置。
3 4 . 上記導電部材の熱膨張係数は、 上記封着材料の熱膨 張係数の 8 0 〜 1 2 0 %である請求項 1 に記載の画像表示装 置。
3 5 . 上記導電部材の熱膨張係数は、 上記側壁の熱膨張係 数の 8 0 〜 1 2 0 %である こ と を特徴とする請求項 2 6 に記 載の表示装置。
3 6 . 上記導電部材の熱膨張係数は、 上記前面基板、 背面 基板および側壁それぞれの熱膨張係数のう ち最も小さい熱膨 張係数と最も大きい熱膨張係数との間にある請求項 2 6 に記 載の画像表示装置。
3 7 . 上記外囲器の内部には電子源と蛍光体が設けられ、 該内部は真空に維持されている請求項 1 に記載の画像表示装 置。
3 8 . 前面基板と、 この前面基板に対向配置された背面基 板と、 をその周縁部で封着 した外囲器を備えた画像表示装置 の製造方法において、
上記周縁部に通電によ リ加熱溶融される導電性の封着材料 およびこの封着材料の融点よ リ も高い融点を有する導電部材 を設け、
この導電部材と上記封着材料に通電する こ とで該封着材料 を加熱溶融 し、 上記前面基板および背面基板をその周縁部で 封着する画像表示装置の製造方法。 3 9 前面基板と、 この前面基板に対向配置された背面基 板と、 をその周縁部で封着 した外囲器を備えた表示装置の製 造方法において、
上記周縁部に加熱によ り溶融される封着材料を設け、 該封着材料の中に通電によ リ加熱する導電部材を設け、 この通電部材に通電する こ とで上記封着材料を加熱溶融 し 上記前面基板および背面基板をその周縁部で封着する画像表 示装置の製造方法。
4 0 . 前面基板と、 この前面基板に対向配置された背面基 板と、 を基板間でその周縁部に設けた導電性の枠状の側壁を 介 して封着 した外囲器を備えた表示装置の製造方法において 上記前面基板および背面基板の少な く と も一方と上記側壁 との間の接合部に通電によ リ加熱溶融する封着材料を設け、 上記側壁を通電する こ と で上記封着材料を加熱溶融 し、 上 記前面基板および背面基板をその周縁部で封着する画像表示 装置の製造方法。
4 1 . 前面基板と、 この前面基板に対向配置された背面基 板と、 を基板間でその周縁部に設けた枠状の側壁を介 して封 着した外囲器を備えた表示装置の製造方法において、
上記前面基板および背面基板の少な く と も一方と上記側壁 との間の接合部に加熱によ リ溶融する封着材料を設け、 該封着材料の中に通電によ り加熱する導電部材を設け、 この導電部材に通電する こ とで上記封着材料を加熱溶融し 上記前面基板および背面基板をその周縁部で封着する画像表 示装置の製造方法。
4 2 . 上記導電部材に電源から直流電流を通電する請求項 3 8 に記載の画像表示装置の製造方法。
4 3 . 上記導電部材に電源から商用周波数の交流電流を通 電する請求項 3 8 に記載の画像表示装置の製造方法。
4 4 . 上記導電部材に電源から商用周波数よ り高い周波数 の交流電流を通電する請求項 3 8 に記載の画像表示装置の製 造方法。
4 5 . 上記導電部材に通電する直前の上記前面基板および 背面基板の温度を上記封着材料の融点よ り低 く 設定する請求 項 3 8 に記載の画像表示装置の製造方法。
4 6 . 上記前面基板および背面基板の温度と上記封着材料 の融点との差は、 2 0 °C〜 1 5 0 °Cである請求項 4 5 に記載 の画像表示装置の製造方法。
4 7 . 対向配置された前面基板および背面基板と、 上記前 面基板および上記背面基板の周辺部を互いに封着した封着部 と、 を有 した外囲器を備え、
上記封着部は、 矩形枠状の高融点導電性部材と封着材と を 含み、
上記高融点導電性部材は、 上記封着材料よ リ も高い融点を 有 している と と もに、 外側へ突出 した 4個以上の突出部を有 している画像表示装置。
4 8 . 対向配置された前面基板および背面基板と、 上記前 面基板および上記背面基板の周辺部を互いに封着した封着部 と、 を有した外囲器と、
上記前面基板の内面に形成された蛍光体スク リーンと、 上記背面基板上に設けられ、 上記蛍光体スク リーンに電子 ビームを放出 し蛍光体スク リーンを発光させる電子放出源と を備え、
上記封着部は、 矩形枠状の高融点導電性部材と封着材と を 含み、
上記高融点導電性部材は、 上記封着材料よ リ も高い融点を 有 している と と もに、 外側へ突出 した 4個以上の突出部を有 している画像表示装置。
4 9 . 上記突出部は、 上記高融点導電性部材の各コーナ部 から突出 している こと を特徴とする請求項 4 7 に記載の画像 表示装置。
5 0 . 上記突出部は、 上記高融点導電性部材の各辺のほぼ 中央部から突出 している こ と を特徴とする請求項 4 7 に記載 の画像表示装置。
5 1 . 上記高融点導電性部材の突出部は、 上記前面基板お よび上記背面基板の少な く と も一方よ り も外側に突出 した突 出部を含んでいる請求項 4 7 に記載の画像表示装置。
5 2 . 上記封着材は導電性材料である請求項 4 7 に記載の 画像表示装置。
5 3 . 上記封着材はイ ンジウムまたはイ ンジウムを含む合 金である請求項 5 2 に記載の画像表示装置。
5 4 . 上記高融点導電性部材は、 F e 、 C r 、 N i 、 A I のいずれかを少な く と も含有 している こ とを特徴とする請求 項 4 7 に記載の画像表示装置。
5 5 . 対向配置された前面基板および背面基板と、 封着材 およびこの封着材よ り も融点の高い高融点導電性部材を含み 上記前面基板および上記背面基板の周辺部を互いに封着した 封着部と、 を有する外囲器を備えた画像表示装置の製造方法 において、
外側へ突出 した 4個以上の突出部を有 した矩形枠状の高融 点導電性部材を用意し、
上記前面基板および背面基板の周辺部の間に上記高融点導 電性部材を配置すると と もに、 上記前面基板と高融点導電性 部材との間、 および上記背面基板と高融点導電性部材との間 にそれぞれ封着材を配置し、
上記突出部を介 して上記高融点導電性部材に通電する こ と で、 上記封着材を溶融させて上記前面基板および上記背面基 板の周辺部を互いに封着する画像表示装置の製造方法。
5 6 . 上記前面基板、 背面基板、 側壁を真空雰囲気中に配 置し、 上記突出部を把持 して上記高融点導電性部材を上記前 面基板および背面基板に対し位置決め した後、 上記高融点導 電性部材に通電する請求項 5 5 に記載の画像表示装置の製造 方法。
5 7 . 上記封着材はイ ンジウムまたはイ ンジウムを含む合 金である請求項 5 5 に記載の画像表示装置の製造方法。
5 8 . 上記高融点導電性部材は、 F e 、 C r 、 N i 、 A I のいずれかを少な く と も含有 している請求項 5 5 に記載の画 像表示装置の製造方法。
5 9 . 対向配置された前面基板および背面基板と、 上記前 面基板および上記背面基板の周辺部を互いに封着 した封着部 と、 を有 した外囲器を備え、
上記封着部は、 枠状の高融点導電性部材と第 1 および第 2 封着材と を含み、
上記第 1 封着材は上記第 2 封着材ょ リ も低い融点あるいは 軟化点を有 し、 上記高融点導電性部材は上記第 1 および第 2 封着材ょ リ も高い融点あるいは軟化点を有し、
上記高融点導電性部材は、 第 1 封着材を介 して上記前面基 板および背面基板の一方に接着され、 第 2封着材を介 して上 記前面基板および背面基板の他方に接着されている画像表示 装置。
6 0 . 上記第 2 封着材は絶縁性の材料である請求項 5 9 に 記載の画像表示装置。
6 1 . 上記第 2封着材はフ リ ッ トガラスである請求項 5 9 に記載の画像表示装置。
6 2 . 上記第 2封着材の融点または軟化点は 3 0 0 °C以上 である請求項 5 9 に記載の画像表示装置。
6 3 . 上記第 2 封着材の熱膨張係数は、 接着する上記前面 基板あるいは背面基板の熱膨張係数の土 2 0 %の範囲にある 請求項 5 9 に記載の画像表示装置。
6 4 . 上記第 2封着材の厚さは 1 O O jU m以上である請求 項 5 9 に記載の画像表示装置。
6 5 . 上記第 1 封着材は、 導電性を有 した材料である請求 項 5 9 に記載の画像表示装置。
6 6 . 上記第 1 封着材は、 イ ンジウムまたはイ ンジウムを 含む合金である請求項 5 9 に記載の画像表示装置。
6 7 . 上記第 1 封着材の融点または軟化点は 3 0 0 °C未満 である請求項 5 9に記載の画像表示装置。
6 8 . 上記高融点導電性部材は、 少な く と も F e 、 C r 、 N i 、 A I のいずれか含有している請求項 5 9 に記載の画像 表示装置。
6 9 . 上記高融点導電性部材の融点は 5 0 0 °C以上である 請求項 5 9 に記載の画像表示装置。
7 0 . 上記高融点導電性部材の熱膨張係数は、 上記前面基 板、 背面基板のそれぞれの熱膨張係数の ± 2 0 ο/。の数値範囲 の最大値よ リ低い値である請求項 5 9 に記載の画像表示装置
7 1 . 上記高融点導電性部材の断面積は、 0 . 1 m m 2 以 上ある請求項 5 9に記載の画像表示装置。
7 2 . 上記前面基板と上記高融点導電性部材とは、 上記第 1 封着材を介 して接着され、 上記背面基板と上記高融点導電 性部材とは上記第 2封着材を介して接着されている請求項 5 9 に記載の画像表示装置。
7 3 . 上記外囲器の内部に設けられた蛍光体および上記蛍 光体を励起する電子源を備え、 上記外囲器の内部は真空に維 持されている請求項 5 9 に記載の画像表示装置。
7 4 . 対向配置された前面基板および背面基板を有し、 高 融点導電性部材と第 1 および第 2 封着材とを含む封着部によ リ前面基板および背面基板の周辺部が互いに封着された外囲 器を備えた画像表示装置の製造方法において、
上記第 1 および第 2封着材よ り も高い融点あるいは軟化点 を有 した枠状の高融点導電性部材を用意し、 上記第 1 封着材よ り も高い融点ある いは軟化点を有 した第 2 封着材によ り 、 上記高融点導電性部材を上記前面基板およ び背面基板の一方の基板の周辺部に接着し、
上記高融点導電性部材が接着された上記一方の基板と、 他 方の基板と を対向配置する と と もに、 上記高融点導電性部材 と上記他方の基板の周辺部との間に第 1 封着材を配置し、 上記高融点導電性部材に通電する こ とで、 上記第 1 封着材 を溶融あるいは軟化させて上記高融点導電性部材と上記他方 の基板と を接着する画像表示装置の製造方法。
7 5 . 上記高融点導電性部材が接着された上記一方の基板 と、 他方の基板と を真空雰囲気中に配置 し、 上記前面基板お よび背面基板を位置決め した後、 上記高融点導電性部材に通 電する請求項 7 4に記載の画像表示装置の製造方法。
7 6 . 上記第 1 封着材はイ ンジウムまたはイ ンジウムを含 む合金である こ と を特徴とする請求項 7 4に記載の画像表示 装置の製造方法。
7 7 . 上記高融点導電性部材は、 少な く と も F e 、 C r 、 N i 、 A I のいずれかを含有 している請求項 7 4 に記載の画 像表示装置の製造方法。
7 8 . 対向配置された前面基板および背面基板と、 上記前 面基板および上記背面基板の周辺部を互いに封着 した封着部 と、 を有 した外囲器を備え、
上記封着部は、 枠状の高融点導電性部材と封着材とを含み、 上記高融点導電性部材は、 上記封着材よ り も高い融点あるい は軟化点を有 している と と もに、 上記前面基板および背面基 板の表面に対 して垂直方向にばね性を有 している画像表示装 置。
7 9 . 上記封着材は、 上記高融点導電性部材と上記前面基 板との間、 および上記高融点導電性部材と背面基板との間の 少な く と も一方に介在 している請求項 7 8 に記載の画像表示
8 0 . 上記高融点導電性部材は、 外面全体が上記封着材で 覆われている請求項 7 8 に記載の画像表示装置。
8 1 . 上記高融点導電性材は、 上記外囲器の側壁を構成 し ている請求項 7 8 に記載の画像表示装置。
8 2 . 上記封着材は導電性を有 している請求項 7 8 に記載 の画像表示装置。
8 3 . 上記封着材は、 イ ンジウムあるいはイ ンジウムを含 む合金である請求項 7 8 に記載の画像表示装置。
8 4 . 上記高融点導電性部材は、 少な く と も F e 、 C r % N i 、 A I のいずれかを含有されている請求項 7 8 に記載の 画像表示装置。
8 5 . 上記封着材は、 3 0 0 °C以下の融点あるいは軟化点 を有 している請求項 7 8 に記載の画像表示装置
8 6 . 上記高融点導電性部材は 5 0 0 °C以上の融点を有 し ている請求項 7 8 に記載の画像表示装置。
8 7 . 上記高融点導電性部材の熱膨張係数は、 上記前面基 板および背面基板のそれぞれの熱膨張係数の ± 2 0 0/0の数値 範囲で最大値と最小値との間にある請求項 7 8 に記載の画像 表示装置。
8 8 . 上記外囲器の内部に設けられた蛍光体および上記蛍 光体を励起する電子源と を備え、 上記外囲器の内部は真空に 維持されている請求項 7 8 に記載の画像表示装置。
8 9 . 対向配置された前面基板および背面基板を有 し、 高 融点導電性部材と封着材と を含む封着部によ リ前面基板およ び背面基板の周辺部が互いに封着された外囲器を備えた画像 表示装置の製造方法において、
上記封着材ょ リ も高い融点あるいは軟化点を有している と と もに、 上記前面基板および背面基板の表面に対して垂直方 向にばね性を有 した枠状の高融点導電性部材を用意し、
上記前面基板および背面基板を対向配置する と と もに、 上 記前面基板および背面基板の周辺部間に上記高融点導電性部 材および封着材を配置し、
上記封着材が固化 した状態で、 上記対向配置された前面基 板および背面基板を重ね合わせ、 上記高融点導電性部材を上 記前面基板および背面基板の表面と垂直な方向へ弾性変形さ せ、
上記前面基板および背面基板を重ね合わせた状態で、 上記 高融点導電性部材に通電して上記封着材を溶融あるいは軟化 させ、 上記前面基板および背面基板の周辺部を互い封着する 画像表示装置の製造方法。
9 0 . 上記高融点導電性部材に通電する直前の上記前面基 板および背面基板の温度を、 上記封着材の融点あるいは軟化 点よ リ も低い温度に設定する請求項 8 9 に記載の画像表示装 置の製造方法。
9 1 . 上記高融点導電性部材に通電する直前の上記前面基 板および背面基板の温度を、 上記封着材の融点 との差が 2 0 °C〜 1 5 0 °Cの範囲内となるよ う に設定する請求項 9 0 に 記載の画像表示装置の製造方法。
9 2 . 対向配置されている と と もに周辺部同士が接合され た前面基板および背面基板を有 した外囲器と 、 上記外囲器内 に形成された複数の画素と を備えた画像表示装置の製造方法 において、
上記前面基板および背面基板の少な く と も一方に、 導電性 を有 した封着材を配置 し、
上記封着材に通電 して加熱溶融させ、 上記前面基板および 背面基板の周辺部同士を接合 し、
上記封着材を通電加熱する際、 上記封着材の電気抵抗の温 度依存性に基づいて、 上記封着材への通電を制御する画像表 示装置の製造方法。
9 3 . 上記封着材を通電加熱する際、 一定電圧で上記封着 材に通電 し、 上記封着材の溶融完了を上記封着材の電流値の 変化によ り検出 し、 上記溶融完了が検出された際に通電を停 止する請求項 9 2記載の画像表示装置の製造方法。
9 4 . 上記封着材の溶融完了を上記封着材の電流値変化の 傾きの変化によ リ検出する請求項 9 3 に記載の画像表示装置 の製造方法。
9 5 . 上記封着材の溶融完了を上記封着材の電流値の低下 量によ り検出する請求項 9 3 に記載の画像表示装置の製造方 法。
9 6 . 上記封着材を通電加熱する際、 一定電流で上記封着 材に通電 し、 上記封着材の溶融完了を上記封着材の電圧値の 変化によ り検出 し、 上記溶融完了が検出された際に通電を停 止する請求項 9 2 に記載の画像表示装置の製造方法。
9 7 . 上記封着材の溶融完了を上記封着材の電圧値変化の 傾きの変化によ リ検出する請求項 9 6 に記載の画像表示装置 の製造方法。
9 8 . 上記封着材の溶融完了を上記封着材の電圧値の上昇 量によって検出する請求項 9 6 に記載の画像表示装置の製造 方法。
9 9 . 上記封着材を通電加熱する際、 上記封着材の溶融完 了を上記封着材の電気抵抗値の変化によ り検出 し、 上記溶融 完了が検出された際に通電を停止する請求項 9 2 に記載の画 像表示装置の製造方法。
1 0 0 . 上記封着材の溶融完了を上記封着材の電気抵抗値 変化の傾きの変化によ って検出する請求項 9 9 に記載の画像 表示装置の製造方法。
1 0 1 . 上記封着材の溶融完了を上記電気抵抗値の上昇量 によ って検出する請求項 9 9 に記載の画像表示装置の製造方 法。
1 0 2 . 上記封着材は金属である請求項 9 2 に記載の画像 表示装置の製造方法。
1 0 3 . 上記金属が少な く と も I n 、 S n 、 P b 、 G a 、 B i のいずれかを含む金属である請求項 1 0 2 に記載の画像 表示装置の製造方法。
1 0 4 . 真空雰囲気中で上記封着材を通電加熱するこ と を 特徴とする請求項 9 2 に記載の画像表示装置の製造方法。
1 0 5 . 対向配置されている と と もに周辺部同士が接合さ れた前面基板および背面基板を有する外囲器と 、 上記外囲器 内に形成された複数の画素と を備えた画像表示装置の製造装 置において、
上記前面基板および背面基板の少な く と も一方における周 辺部に配置され導電性を有 した封着材に通電して加熱溶融さ せる電源と 、
上記封着材を通電加熱する際、 上記電源から フ ィー ドバッ ク された電流値および電圧値の少なく と も一方を取り込み、 上記封着材の電気抵抗の温度依存性に基づいて、 上記電源に よる上記封着材への通電を制御する制御部と、
を備えた画像表示装置の製造装置。
1 0 6 . 上記制御部は、 上記電源から フ ィ ー ドバック され た電流値および電圧値の少な く と も一方に基づいて上記封着 材の電流値変化、 電圧値変化、 抵抗値変化の少な く と も 1 つ を測定し、 上記封着材の溶融完了を検出する と と もに上記溶 融完了を検出 した際に上記電源による通電を停止する判定部 を備えている請求項 1 0 5 に記載の画像表示装置の製造装置
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