TWI802054B - 過電流保護電路、記憶體儲存裝置及過電流保護方法 - Google Patents

過電流保護電路、記憶體儲存裝置及過電流保護方法 Download PDF

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Abstract

一種過電流保護電路、記憶體儲存裝置及過電流保護方法。過電流保護電路包括負載開關、第一鏡像電路、第二鏡像電路及控制電路。第一鏡像電路用以在負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓。第二鏡像電路用以在負載開關兩端的電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓。控制電路用以根據第一節點電壓與第二節點電壓的其中之一斷開所述負載開關，以執行過電流保護。第一電壓區間不同於第二電壓區間。

Description

過電流保護電路、記憶體儲存裝置及過電流保護方法
本發明是有關於一種過電流保護技術，且特別是有關於一種過電流保護電路、記憶體儲存裝置及過電流保護方法。
一般來說，過電流保護機制是由監測電流的通過路徑上的寄生金屬兩端的電壓差來達成。當寄生金屬兩端的電壓差高於預設值時，表示此時流經特定電氣設備的電流過大。過大的電流(即過電流)可能會使電氣設備發熱、著火或引起零件損耗。然而，上述藉由監測寄生金屬兩端的電壓差的方式容易受到多種外在因素影響，例如寄生金屬的製程變異、環境溫度變化及/或量測到的訊號微弱，從而產生較大的量測誤差。此外，為了克服量測到的訊號微弱此一缺陷，也往往需要使用到更複雜且更精準的量測電路，導致電路布局面積與成本上升。
有鑑於此，本發明提供一種過電流保護電路、記憶體儲存裝置及過電流保護方法，可提高對電氣設備的過電流保護效率。
本發明的範例實施例提供一種過電流保護電路，其包括負載開關、第一鏡像電路、第二鏡像電路及控制電路。所述負載開關兩端分別耦接第一電壓與第二電壓。所述第一鏡像電路耦接至所述負載開關。所述第二鏡像電路耦接至所述負載開關。所述控制電路耦接至所述負載開關、所述第一鏡像電路及所述第二鏡像電路。所述第一鏡像電路用以在所述負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓。所述第二鏡像電路用以在所述負載開關兩端的所述電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓。所述控制電路用以根據所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的其中之一斷開所述負載開關，以執行過電流保護。所述第一電壓區間不同於所述第二電壓區間。
在本發明的一範例實施例中，所述控制電路根據所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的所述其中之一斷開所述負載開關的操作包括：響應於所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的所述其中之一與參考電壓之間的電壓差大於臨界值，發送控制訊號至所述負載開關，以經由所述控制訊號斷開所述負載開關。
在本發明的一範例實施例中，所述第一鏡像電路用以在所述負載開關兩端的所述電壓差落於所述第一電壓區間的狀態下，產生流經第一檢測點的第一鏡像電流。所述第二鏡像電路用以在所述負載開關兩側的所述電壓差落於所述第二電壓區間的狀態下，產生流經第二檢測點的第二鏡像電流。所述第一檢測點用以檢測所述第一節點電壓。所述第二檢測點用以檢測所述第二節點電壓。
在本發明的一範例實施例中，所述第一檢測點耦接於所述第一電壓與參考接地電壓之間。所述第二檢測點耦接於所述第一電壓與所述第二電壓之間。
在本發明的一範例實施例中，所述第一鏡像電路包括第一阻抗元件。所述第二鏡像電路包括第二阻抗元件。所述第一阻抗元件耦接至所述第一檢測點並用以根據所述第一鏡像電流產生所述第一節點電壓。所述第二阻抗元件耦接至所述第二檢測點並用以根據所述第二鏡像電流產生所述第二節點電壓。
在本發明的一範例實施例中，所述控制電路包括第一比較器與第二比較器。所述第一比較器耦接至所述第一鏡像電路並用以將所述第一節點電壓與所述參考電壓進行比較。所述第二比較器耦接至所述第二鏡像電路並用以將所述第二節點電壓與所述參考電壓進行比較。
在本發明的一範例實施例中，所述控制電路更包括第一開關元件與第二開關元件。所述第一開關元件耦接至所述第一比較器與所述負載開關並用以響應於所述第一節點電壓與所述參考電壓之間的第一電壓差大於第一臨界值而產生控制訊號，其中所述控制訊號用以斷開所述負載開關。所述第二開關元件耦接至所述第二比較器與所述負載開關並用以響應於所述第二節點電壓與所述參考電壓之間的第二電壓差大於第二臨界值而產生所述控制訊號。
在本發明的一範例實施例中，所述控制電路更包括致能電路。所述致能電路耦接至所述第一比較器與所述第二比較器。所述致能電路用以響應於流經所述負載開關的電流高於啟動值，發送致能訊號至所述第一比較器與所述第二比較器。
本發明的範例實施例另提供一種記憶體儲存裝置，其包括連接介面單元、可複寫式非揮發性記憶體模組、記憶體控制電路單元及過電流保護電路。所述連接介面單元用以耦接至主機系統。所述記憶體控制電路單元耦接至所述連接介面單元與所述可複寫式非揮發性記憶體模組。所述過電流保護電路設置於所述連接介面單元、所述可複寫式非揮發性記憶體模組或所述記憶體控制電路單元中。所述過電流保護電路用以：在負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓，其中所述負載開關的兩端分別耦接第一電壓與第二電壓；在所述負載開關兩端的所述電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓；以及根據所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的其中之一斷開所述負載開關，以執行過電流保護。所述第一電壓區間不同於所述第二電壓區間。
在本發明的一範例實施例中，所述過電流保護電路根據所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的所述其中之一斷開所述負載開關的操作包括：響應於所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的所述其中之一與參考電壓之間的電壓差大於一臨界值，發送控制訊號至所述負載開關，以經由所述控制訊號斷開所述負載開關。
本發明的範例實施例另提供一種過電流保護方法，其用於控制負載開關。所述過電流保護方法包括：在所述負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓，其中所述負載開關的兩端分別耦接第一電壓與第二電壓；在所述負載開關兩端的所述電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓；以及根據所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的其中之一斷開所述負載開關，以執行過電流保護。所述第一電壓區間不同於所述第二電壓區間。
在本發明的一範例實施例中，根據所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的所述其中之一斷開所述負載開關的步驟包括：響應於所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的所述其中之一與參考電壓之間的電壓差大於一臨界值，發送控制訊號至所述負載開關，以經由所述控制訊號斷開所述負載開關。
在本發明的一範例實施例中，在所述負載開關兩端的所述電壓差落於所述第一電壓區間的狀態下產生所述第一節點電壓的步驟包括：由第一鏡像電路在所述負載開關兩端的所述電壓差落於所述第一電壓區間的狀態下，產生流經第一檢測點的第一鏡像電流。在所述負載開關兩端的所述電壓差落於所述第二電壓區間的狀態下產生所述第二節點電壓的步驟包括：由第二電流鏡電路根據所述第二電流產生流經第二檢測點的所述第二鏡像電流。所述第一檢測點用以檢測所述第一節點電壓。所述第二檢測點用以檢測所述第二節點電壓。
在本發明的一範例實施例中，在所述負載開關兩端的所述電壓差落於所述第一電壓區間的狀態下產生所述第一節點電壓的步驟更包括：由第一阻抗元件根據所述第一鏡像電流產生所述第一節點電壓。在所述負載開關兩端的所述電壓差落於所述第二電壓區間的狀態下產生所述第二節點電壓的步驟更包括：由第二阻抗元件根據所述第二鏡像電流產生所述第二節點電壓。
在本發明的一範例實施例中，根據所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的所述其中之一斷開所述負載開關，以執行所述過電流保護的步驟包括：由第一比較器將所述第一節點電壓與所述參考電壓進行比較；以及由第二比較器將所述第二節點電壓與所述參考電壓進行比較。
在本發明的一範例實施例中，根據所述第一節點電壓與所述第二節點電壓的所述其中之一斷開所述負載開關，以執行所述過電流保護的步驟更包括：由第一開關元件響應於所述第一節點電壓與所述參考電壓之間的第一電壓差大於第一臨界值而產生控制訊號，其中所述控制訊號用以斷開所述負載開關；以及由第二開關元件響應於所述第二節點電壓與所述參考電壓之間的第二電壓差大於第二臨界值而產生所述控制訊號。
在本發明的一範例實施例中，所述的過電流保護方法更包括：由致能電路響應於流經所述負載開關的電流高於啟動值，發送致能訊號至所述第一比較器與所述第二比較器。
基於上述，第一鏡像電路可在負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓。第二鏡像電路可在所述負載開關兩端的電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓。第一電壓區間不同於所述第二電壓區間。控制電路可根據第一節點電壓與第二節點電壓的其中之一斷開所述負載開關，以執行過電流保護。藉此，相較於傳統藉由監測電流的通過路徑上的寄生金屬兩端的電壓差，對電氣設備的過電流保護效率可被提升。
以下提出多個範例實施例來說明本發明，然而本發明不僅限於所例示的多個範例實施例。又範例實施例之間也允許有適當的結合。在本案說明書全文(包括申請專利範圍)中所使用的「耦接」一詞可指任何直接或間接的連接手段。舉例而言，若文中描述第一裝置耦接於第二裝置，則應該被解釋成該第一裝置可以直接連接於該第二裝置，或者該第一裝置可以透過其他裝置或某種連接手段而間接地連接至該第二裝置。此外，「訊號」一詞可指至少一電流、電壓、電荷、溫度、資料、或任何其他一或多個訊號。
圖1是根據本發明的範例實施例所繪示的過電流保護電路的示意圖。請參照圖1，過電流保護電路10包括負載開關11、鏡像電路(亦稱為第一鏡像電路)12、鏡像電路(亦稱為第二鏡像電路)13及控制電路14。負載開關11的一端耦接至驅動電壓(亦稱為第一電壓)VDD。負載開關11的另一端耦接至輸出電壓(亦稱為第二電壓)Vout。負載開關11可用以切斷或導通負載開關11的兩端(即驅動電壓VDD與輸出電壓Vout)之間的電流路徑。
在一範例實施例中，在未偵測到流經負載開關11的電流中存在過電流(例如電流值未大於一預設值的電流)時，過電流保護電路10可控制負載開關11將負載開關11的兩端之間的電流路徑維持於導通狀態，使電流順利通過負載開關11。在一範例實施例中，當偵測到流經負載開關11的電流中存在過電流(例如電流值大於預設值的電流)時，過電流保護電路10可啟動過電流保護。在啟動過電流保護後，過電流保護電路10可控制負載開關11切斷負載開關11的兩端之間的電流路徑，以阻止電流通過負載開關11。
鏡像電路12與13皆耦接至負載開關11。鏡像電路12用以執行負載開關11於特定電壓區間(亦稱為第一電壓區間)的過電流保護。鏡像電路13用以執行負載開關11於另一電壓區間(亦稱為第二電壓區間)的過電流保護。第一電壓區間不同於第二電壓區間。
在一範例實施例中，第一電壓區間可涵蓋驅動電壓VDD與參考接地電壓之間的一部分電壓範圍。第二電壓區間可涵蓋驅動電壓VDD與參考接地電壓之間的另一部分電壓範圍。第一電壓區間與第二電壓區間可至少部分不重疊。例如，假設一個基準電壓(亦稱為第三電壓)為k伏特，且k介於0至VDD之間，則第一電壓區間涵蓋的電壓範圍可為驅動電壓VDD至k伏特之間，而第二電壓區間涵蓋的電壓範圍可為(驅動電壓VDD-k)至參考接地電壓(例如零伏特)之間。參考接地電壓亦稱為參考接地點(grounding)。例如，假設驅動電壓VDD為5伏特、k為1且參考接地電壓為0伏特，則第一電壓區間可為5伏特至1伏特，而第二電壓區間可為4(5-1=4)伏特至0伏特。
在一範例實施例中，鏡像電路12可在負載開關11兩端的電壓差ΔV(ΔV=VDD-Vout)落於第一電壓區間的狀態下產生節點電壓(亦稱為第一節點電壓)Vm1。鏡像電路13可在負載開關11兩端的電壓差ΔV落於第二電壓區間的狀態下產生節點電壓(亦稱為第二節點電壓)Vm2。控制電路14耦接至負載開關11、鏡像電路12及鏡像電路13。控制電路14用以根據節點電壓Vm1與Vm2的至少其中之一斷開負載開關11，以執行過電流保護。
在一範例實施例中，控制電路14可判斷節點電壓Vm1與Vm2的其中之一與一個參考電壓之間的電壓差是否大於一個臨界值。響應於節點電壓Vm1與Vm2的至少其中之一與參考電壓之間的電壓差大於所述臨界值，控制電路14可發送控制訊號Sctrl至負載開關11，以經由控制訊號Sctrl斷開負載開關11。例如，響應於控制訊號Sctrl，負載開關11可切斷負載開關11的兩端之間的電流路徑，以執行所述過電流保護。此外，響應於節點電壓Vm1與Vm2中的任一者與參考電壓之間的電壓差皆未大於所述臨界值，則控制電路14可不發送控制訊號Sctrl至負載開關11。
在一範例實施例中，鏡像電路12耦接於驅動電壓VDD與參考接地電壓之間。控制電路14可從鏡像電路12中的一個檢測點(亦稱為第一檢測點)偵測節點電壓Vm1。
在一範例實施例中，鏡像電路13耦接於驅動電壓VDD與輸出電壓Vout之間。控制電路14可從鏡像電路13中的一個檢測點(亦稱為第二檢測點)偵測節點電壓Vm2。
在一範例實施例中，鏡像電路12可用以在負載開關11兩端的電壓差ΔV落於第一電壓區間的狀態下偵測流經負載開關11的電流中是否存在過電流。另一方面，鏡像電路13可用以在負載開關11兩端的電壓差ΔV落於第二電壓區間的狀態下偵測流經負載開關11的電流中是否存在過電流。當鏡像電路12與13的至少其中之一偵測到過電流時，控制電路14可控制負載開關11啟動斷電保護機制，以執行過電流保護。
在一範例實施例中，透過包含鏡像電路12與13的雙迴路過電流保護機制，流經負載開關11的電流所對應的電壓範圍可被完整覆蓋。此外，相較於傳統上直接藉由監測負載開關的11的寄生金屬兩端的電壓差的方式來偵測過電流，本發明的範例實施例提出的雙迴路過電流保護機制也可採用簡單的電路架構來有效提高過電流的偵測與保護效率。
圖2是根據本發明的範例實施例所繪示的過電流保護電路的示意圖。請參照圖2，負載開關11可包含至少一個開關元件。例如，所述開關元件可包括金屬氧化物半導體場效電晶體(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)或雙極性接面型電晶體(Bipolar Junction Transistor, BJT)等半導體元件，但本發明不限於此。所述至少一開關元件可響應於控制電壓Vctrl而切斷負載開關11的兩端(即驅動電壓VDD與輸出電壓Vout)之間的電流路徑。
鏡像電路12包括電流鏡電路(亦稱為第一電流鏡電路)。第一電流鏡電路耦接至負載開關11並用以根據流經負載開關11的電流產生鏡像電流(亦稱為第一鏡像電流)Im1。例如，第一電流鏡電路可包括差動放大器OP1與電晶體SW1~SW4。差動放大器OP1與電晶體SW1~SW4的耦接方式可參考圖2，但本發明不限於此。第一電流鏡電路可將流經負載開關11的電流反映至鏡像電路12中以產生鏡像電流Im1。須注意的是，檢測點201可用以檢測鏡像電流Im1及/或節點電壓Vm1。例如，檢測點201可位於或耦接於驅動電壓VDD與參考接地電壓之間，如圖2所示。
鏡像電路13也包括電流鏡電路(亦稱為第二電流鏡電路)。第二電流鏡電路的電路結構可相同或不同於第一電流鏡電路的電路結構。第二電流鏡電路耦接至負載開關11並用以根據流經負載開關11的電流產生鏡像電流Im2。例如，第二電流鏡電路可包括電晶體SW5。例如，電晶體SW5可耦接於驅動電壓VDD與輸出電壓Vout之間。第二電流鏡電路可將流經負載開關11的電流反映至鏡像電路13中以產生鏡像電流Im2。須注意的是，檢測點202可用以檢測鏡像電流Im2及/或節點電壓Vm2。例如，檢測點202可位於或耦接於電壓VDD與電壓Vout之間，如圖2所示。
在一範例實施例中，鏡像電路12更包括阻抗元件R1。阻抗元件R1可耦接至驅動電壓VDD與第一電流鏡電路(或電晶體SW4)之間，如圖2所示。阻抗元件R1可響應於鏡像電流Im1而於檢測點201產生節點電壓Vm1。
在一範例實施例中，鏡像電路13更包括阻抗元件R2。阻抗元件R2可耦接至電壓VDD與第二電流鏡電路(或電晶體SW5)之間，如圖2所示。電阻R2可響應於鏡像電流Im2而於檢測點202產生節點電壓Vm2。
控制電路14可包括比較器(亦稱為第一比較器)211比較器(亦稱為第二比較器)212、開關元件(亦稱為第一開關元件)221及開關元件(亦稱為第二開關元件)222。比較器211可耦接至第一電流鏡電路(例如檢測點201)並用以將節點電壓Vm1與參考電壓Vref進行比較。比較器211可輸出反映節點電壓Vm1與參考電壓Vref之間的電壓差(亦稱為第一電壓差)的訊號。開關元件221可耦接至比較器211的輸出端與負載開關11。響應於節點電壓Vm1與參考電壓Vref之間的電壓差大於一臨界值(亦稱為第一臨界值)，開關元件221可被導通並輸出控制電壓Vctrl至負載開關11。換言之，第一臨界值可用以控制開關元件221之導通與否。控制電壓Vctrl可控制負載開關11切斷負載開關11的兩端之間的電流路徑。
另一方面，比較器212可耦接至第二電流鏡電路(或檢測點202)並用以將節點電壓Vm2與參考電壓Vref進行比較。比較器212可輸出反映節點電壓Vm2與參考電壓Vref之間的電壓差(亦稱為第二電壓差)的訊號。開關元件222可耦接至比較器212的輸出端與負載開關11。響應於節點電壓Vm2與參考電壓Vref之間的電壓差大於一臨界值(亦稱為第二臨界值)，開關元件222可被導通並輸出控制電壓Vctrl至負載開關11。換言之，第二臨界值可用以控制開關元件222之導通與否。
在一範例實施例中，比較器211及/或212可接收致能訊號EN。致能訊號EN可用以致能比較器211及/或212。例如，在未接收到致能訊號EN的狀態下，比較器211及/或212可處於關閉狀態，以節省電力消耗。當接收到致能訊號EN時，比較器211可響應於致能訊號EN而被啟動並開始比較節點電壓Vm1與參考電壓Vref。同理，當接收到致能訊號EN時，比較器212可響應於致能訊號EN而被啟動並開始比較節點電壓Vm2與參考電壓Vref。
圖3是根據本發明的範例實施例所繪示的致能電路的示意圖。請參照圖3，致能電路31可包含於圖1或圖2的過電流保護電路10中。例如，致能電路31可耦接至圖2的比較器211及比較器212。致能電路31可響應於流經負載開關11的電流高於一個啟動值，而發送致能訊號EN至比較器211及/或比較器212。例如，致能電路31可比較驅動電壓VDD與輸出電壓Vout(即負載開關11兩端的電壓)並獲得負載開關11的兩端之間的電壓差。若此電壓差大於一預設值，表示流經負載開關11的電流高於所述啟動值。此時，致能電路31可發送致能訊號EN至比較器211及/或比較器212。在一範例實施例中，致能電路31可包括差動放大器。
在一範例實施例中，參考電壓Vref可根據驅動電壓VDD產生。例如，參考電壓Vref可正相關於驅動電壓VDD。
圖4是根據本發明的範例實施例所繪示的參考電壓產生電路的示意圖。請參照圖4，參考電壓產生電路41可包含於圖1或圖2的過電流保護電路10中。參考電壓產生電路41可用以根據驅動電壓VDD產生參考電壓Vref。例如，參考電壓產生電路41可包括阻抗元件R3。阻抗元件R3可耦接至驅動電壓VDD與參考接地電壓之間。阻抗元件R3可根據流經阻抗元件R3的參考電流Iref產生參考電壓Vref。參考電壓Vref可被提供至圖2的比較器211與212。
須注意的是，前述範例實施例所提及的過電流保護電路10中所有電路模組的設置與耦接方式僅為範例，而非用以限制本發明。在部分範例實施例中，過電流保護電路10中所有電路模組的設置與耦接方式皆可以根據實務需求調整。此外，在部分範例實施例中，更多有用的電路模組及/或電子元件皆可以被加入至過電流保護電路10中或者用以取代過電流保護電路10中特定的電路模組及/或電子元件，視實務需求而定。
在一範例實施例中，前述範例實施例所提及的過電流保護電路10可設置在記憶體儲存裝置中。然而，在另一範例實施例中，過電流保護電路10亦可設置於其他類型的電子裝置中，而不限於記憶體儲存裝置。
在一範例實施例中，記憶體儲存裝置(亦稱，記憶體儲存系統)包括可複寫式非揮發性記憶體模組(rewritable non-volatile memory module)與控制器(亦稱，控制電路)。通常記憶體儲存裝置是與主機系統一起使用，以使主機系統可將資料寫入至記憶體儲存裝置或從記憶體儲存裝置中讀取資料。
圖5是根據本發明的範例實施例所繪示的記憶體儲存裝置的示意圖。請參照圖5，記憶體儲存裝置50包括連接介面單元51、記憶體控制電路單元52與可複寫式非揮發性記憶體模組53。前述範例實施例所提及的過電流保護電路10可設置在連接介面單元51、記憶體控制電路單元52及/或可複寫式非揮發性記憶體模組53中。
連接介面單元51用以將記憶體儲存裝置50耦接至主機系統。記憶體儲存裝置50可經由連接介面單元51與主機系統通訊。在一範例實施例中，連接介面單元51是相容於高速周邊零件連接介面(Peripheral Component Interconnect Express, PCI Express)標準。然而，必須瞭解的是，本發明不限於此，連接介面單元51亦可以是符合序列先進附件(Serial Advanced Technology Attachment, SATA)標準、並列先進附件(Parallel Advanced Technology Attachment, PATA)標準、電氣和電子工程師協會(Institute of Electrical and Electronic Engineers, IEEE)1394標準、通用序列匯流排(Universal Serial Bus, USB)標準、SD介面標準、超高速一代(Ultra High Speed-I, UHS-I)介面標準、超高速二代(Ultra High Speed-II, UHS-II)介面標準、記憶棒(Memory Stick, MS)介面標準、MCP介面標準、MMC介面標準、eMMC介面標準、通用快閃記憶體(Universal Flash Storage, UFS)介面標準、eMCP介面標準、CF介面標準、整合式驅動電子介面(Integrated Device Electronics, IDE)標準或其他適合的標準。連接介面單元51可與記憶體控制電路單元52封裝在一個晶片中，或者連接介面單元51是佈設於一包含記憶體控制電路單元52之晶片外。
記憶體控制電路單元52用以執行以硬體型式或韌體型式實作的多個邏輯閘或控制指令並且根據主機系統的指令在可複寫式非揮發性記憶體模組53中進行資料的寫入、讀取與抹除等運作。
可複寫式非揮發性記憶體模組53是耦接至記憶體控制電路單元52並且用以儲存主機系統所寫入之資料。可複寫式非揮發性記憶體模組53可包括單階記憶胞(Single Level Cell, SLC)NAND型快閃記憶體模組(即，一個記憶胞中可儲存1個位元的快閃記憶體模組)、二階記憶胞(Multi Level Cell, MLC)NAND型快閃記憶體模組(即，一個記憶胞中可儲存2個位元的快閃記憶體模組)、三階記憶胞(Triple Level Cell, TLC)NAND型快閃記憶體模組(即，一個記憶胞中可儲存3個位元的快閃記憶體模組)、四階記憶胞(Quad Level Cell, QLC)NAND型快閃記憶體模組(即，一個記憶胞中可儲存4個位元的快閃記憶體模組)、其他快閃記憶體模組或其他具有相同特性的記憶體模組。
可複寫式非揮發性記憶體模組53中的每一個記憶胞是以電壓(以下亦稱為臨界電壓)的改變來儲存一或多個位元。具體來說，每一個記憶胞的控制閘極(control gate)與通道之間有一個電荷捕捉層。透過施予一寫入電壓至控制閘極，可以改變電荷補捉層的電子量，進而改變記憶胞的臨界電壓。此改變記憶胞之臨界電壓的操作亦稱為“把資料寫入至記憶胞”或“程式化(programming)記憶胞”。隨著臨界電壓的改變，可複寫式非揮發性記憶體模組53中的每一個記憶胞具有多個儲存狀態。透過施予讀取電壓可以判斷一個記憶胞是屬於哪一個儲存狀態，藉此取得此記憶胞所儲存的一或多個位元。
在本範例實施例中，可複寫式非揮發性記憶體模組53的記憶胞會構成多個實體程式化單元，並且此些實體程式化單元會構成多個實體抹除單元。具體來說，同一條字元線上的記憶胞會組成一或多個實體程式化單元。若每一個記憶胞可儲存2個以上的位元，則同一條字元線上的實體程式化單元至少可被分類為下實體程式化單元與上實體程式化單元。例如，一記憶胞的最低有效位元(Least Significant Bit，LSB)是屬於下實體程式化單元，並且一記憶胞的最高有效位元(Most Significant Bit，MSB)是屬於上實體程式化單元。一般來說，在MLC NAND型快閃記憶體中，下實體程式化單元的寫入速度會大於上實體程式化單元的寫入速度，及/或下實體程式化單元的可靠度是高於上實體程式化單元的可靠度。
在本範例實施例中，實體程式化單元為程式化的最小單元。即，實體程式化單元為寫入資料的最小單元。例如，實體程式化單元為實體頁面(page)或是實體扇(sector)。若實體程式化單元為實體頁面，則此些實體程式化單元通常包括資料位元區與冗餘(redundancy)位元區。資料位元區包含多個實體扇，用以儲存使用者資料，而冗餘位元區用以儲存系統資料(例如，錯誤更正碼等管理資料)。在本範例實施例中，資料位元區包含32個實體扇，且一個實體扇的大小為512位元組(byte, B)。然而，在其他範例實施例中，資料位元區中也可包含8個、16個或數目更多或更少的實體扇，並且每一個實體扇的大小也可以是更大或更小。另一方面，實體抹除單元為抹除之最小單位。亦即，每一實體抹除單元含有最小數目之一併被抹除之記憶胞。例如，實體抹除單元為實體區塊(block)。
圖6是根據本發明的一範例實施例所繪示的過電流保護方法的流程圖。請參照圖6，在步驟S601中，在負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓。在步驟S602中，在所述負載開關兩端的電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓，且所述第一電壓區間不同於所述第二電壓區間。在步驟S603中，根據第一節點電壓與第二節點電壓的其中之一斷開負載開關，以執行過電流保護。
需注意的是，圖6中各步驟已詳細說明如上，在此便不再贅述。圖6中各步驟可以實作為多個程式碼或是電路，本發明不加以限制。此外，圖6的方法可以搭配以上範例實施例使用，也可以單獨使用，本發明不加以限制。
綜上所述，本發明的範例實施例提出了包含第一鏡像電路與第二鏡像電路的雙迴路過電流保護機制，使得流經負載開關的電流所對應的電壓範圍可被完整覆蓋。此外，相較於傳統上藉由監測寄生金屬兩端的電壓差的方式來偵測過電流，所述雙迴路過電流保護機制也可採用簡單的電路架構來有效提高過電流的偵測與保護效率。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
10: 過電流保護電路 11: 負載開關 12, 13: 鏡像電路 14: 控制電路 VDD: 驅動電壓 Vout: 輸出電壓 Sctrl: 控制訊號 Vm1, Vm2: 節點電壓 Vref: 參考電壓 EN: 致能訊號 Im1, Im2: 鏡像電流 201, 202: 檢測點 211, 212: 比較器 221, 222: 開關元件 OP1: 差動放大器 SW1~SW5: 電晶體 R1~R3: 阻抗元件 31: 致能電路 41: 參考電壓產生電路 Iref: 參考電流 50: 記憶體儲存裝置 51: 連接介面單元 52: 記憶體控制電路單元 53: 可複寫式非揮發性記憶體模組 S601: 步驟(在負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓) S602: 步驟(在負載開關兩端的電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓) S603: 步驟(根據第一節點電壓與第二節點電壓的其中之一斷開負載開關，以執行過電流保護)
圖1是根據本發明的範例實施例所繪示的過電流保護電路的示意圖。 圖2是根據本發明的範例實施例所繪示的過電流保護電路的示意圖。 圖3是根據本發明的範例實施例所繪示的致能電路的示意圖。 圖4是根據本發明的範例實施例所繪示的參考電壓產生電路的示意圖。 圖5是根據本發明的範例實施例所繪示的記憶體儲存裝置的示意圖。 圖6是根據本發明的一範例實施例所繪示的過電流保護方法的流程圖。
10: 過電流保護電路 11: 負載開關 12, 13: 鏡像電路 14: 控制電路 VDD: 驅動電壓 Vout: 輸出電壓 Sctrl: 控制訊號 Vm1, Vm2: 節點電壓

Claims (27)

  1. 一種過電流保護電路，包括： 負載開關，其兩端分別耦接第一電壓與第二電壓； 第一鏡像電路，耦接至該負載開關； 第二鏡像電路，耦接至該負載開關； 控制電路，耦接至該負載開關、該第一鏡像電路及該第二鏡像電路， 其中該第一鏡像電路用以在該負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓， 該第二鏡像電路用以在該負載開關兩端的該電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓， 該控制電路用以根據該第一節點電壓與該第二節點電壓的其中之一斷開該負載開關，以執行過電流保護，並且 該第一電壓區間不同於該第二電壓區間。
  2. 如請求項1所述的過電流保護電路，其中該第一電壓區間與該第二電壓區間至少部分不重疊。
  3. 如請求項1所述的過電流保護電路，其中該控制電路根據該第一節點電壓與該第二節點電壓的該其中之一斷開該負載開關的操作包括： 響應於該第一節點電壓與該第二節點電壓的該其中之一與參考電壓之間的電壓差大於一臨界值，發送控制訊號至該負載開關，以經由該控制訊號斷開該負載開關。
  4. 如請求項1所述的過電流保護電路，其中該第一鏡像電路用以在該負載開關兩端的該電壓差落於該第一電壓區間的狀態下，產生流經第一檢測點的第一鏡像電流， 該第二鏡像電路用以在該負載開關兩側的該電壓差落於該第二電壓區間的狀態下，產生流經第二檢測點的第二鏡像電流， 該第一檢測點用以檢測該第一節點電壓，並且 該第二檢測點用以檢測該第二節點電壓。
  5. 如請求項4所述的過電流保護電路，其中該第一檢測點耦接於該第一電壓與參考接地電壓之間，並且 該第二檢測點耦接於該第一電壓與該第二電壓之間。
  6. 如請求項4所述的過電流保護電路，其中該第一鏡像電路包括第一阻抗元件，該第二鏡像電路包括第二阻抗元件， 該第一阻抗元件耦接至該第一檢測點並用以根據該第一鏡像電流產生該第一節點電壓；以及 該第二阻抗元件耦接至該第二檢測點並用以根據該第二鏡像電流產生該第二節點電壓。
  7. 如請求項4所述的過電流保護電路，其中該控制電路包括： 第一比較器，耦接至該第一鏡像電路並用以將該第一節點電壓與該參考電壓進行比較；以及 第二比較器，耦接至該第二鏡像電路並用以將該第二節點電壓與該參考電壓進行比較。
  8. 如請求項7所述的過電流保護電路，其中該控制電路更包括： 第一開關元件，耦接至該第一比較器與該負載開關並用以響應於該第一節點電壓與該參考電壓之間的第一電壓差大於第一臨界值而產生控制訊號，其中該控制訊號用以斷開該負載開關；以及 第二開關元件，耦接至該第二比較器與該負載開關並用以響應於該第二節點電壓與該參考電壓之間的第二電壓差大於第二臨界值而產生該控制訊號。
  9. 如請求項7所述的過電流保護電路，其中該控制電路更包括： 致能電路，耦接至該第一比較器與該第二比較器， 其中該致能電路用以響應於流經該負載開關的電流高於啟動值，發送致能訊號至該第一比較器與該第二比較器。
  10. 一種記憶體儲存裝置，包括： 連接介面單元，用以耦接至主機系統； 可複寫式非揮發性記憶體模組； 記憶體控制電路單元，耦接至該連接介面單元與該可複寫式非揮發性記憶體模組；以及 過電流保護電路，設置於該連接介面單元、該可複寫式非揮發性記憶體模組或該記憶體控制電路單元中， 其中該過電流保護電路用以： 在負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓，其中該負載開關的兩端分別耦接第一電壓與第二電壓； 在該負載開關兩端的該電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓；以及 根據該第一節點電壓與該第二節點電壓的其中之一斷開該負載開關，以執行過電流保護， 其中該第一電壓區間不同於該第二電壓區間。
  11. 如請求項10所述的記憶體儲存裝置，其中該第一電壓區間與該第二電壓區間至少部分不重疊。
  12. 如請求項10所述的記憶體儲存裝置，其中該過電流保護電路根據該第一節點電壓與該第二節點電壓的該其中之一斷開該負載開關的操作包括： 響應於該第一節點電壓與該第二節點電壓的該其中之一與參考電壓之間的電壓差大於一臨界值，發送控制訊號至該負載開關，以經由該控制訊號斷開該負載開關。
  13. 如請求項10所述的記憶體儲存裝置，其中該過電流保護電路包括： 第一鏡像電路，耦接至該負載開關並用以在該負載開關兩端的該電壓差落於該第一電壓區間的狀態下，產生流經第一檢測點的第一鏡像電流；以及 第二鏡像電路，耦接至該負載開關並用以在該負載開關兩側的該電壓差落於該第二電壓區間的狀態下，產生流經第二檢測點的第二鏡像電流， 其中該第一檢測點用以檢測該第一節點電壓，並且 該第二檢測點用以檢測該第二節點電壓。
  14. 如請求項13所述的記憶體儲存裝置，其中該第一檢測點耦接於該第一電壓與參考接地電壓之間，並且 該第二檢測點耦接於該第一電壓與該第二電壓之間。
  15. 如請求項13所述的記憶體儲存裝置，其中該第一鏡像電路包括第一阻抗元件，該第二鏡像電路包括第二阻抗元件， 該第一阻抗元件耦接至該第一檢測點並用以根據該第一鏡像電流產生該第一節點電壓；以及 該第二阻抗元件耦接至該第二檢測點並用以根據該第二鏡像電流產生該第二節點電壓。
  16. 如請求項13所述的記憶體儲存裝置，其中該過電流保護電路更包括： 第一比較器，耦接至該第一鏡像電路並用以將該第一節點電壓與該參考電壓進行比較；以及 第二比較器，耦接至該第二鏡像電路並用以將該第二節點電壓與該參考電壓進行比較。
  17. 如請求項16所述的記憶體儲存裝置，其中該過電流保護電路更包括： 第一開關元件，耦接至該第一比較器與該負載開關並用以響應於該第一節點電壓與該參考電壓之間的第一電壓差大於第一臨界值而產生控制訊號，其中該控制訊號用以斷開該負載開關；以及 第二開關元件，耦接至該第二比較器與該負載開關並用以響應於該第二節點電壓與該參考電壓之間的第二電壓差大於第二臨界值而產生該控制訊號。
  18. 如請求項16所述的記憶體儲存裝置，其中該過電流保護電路更包括： 致能電路，耦接至該第一比較器與該第二比較器， 其中該致能電路用以響應於流經該負載開關的電流高於啟動值，發送致能訊號至該第一比較器與該第二比較器。
  19. 一種過電流保護方法，用於控制負載開關，該過電流保護方法包括： 在該負載開關兩端的電壓差落於第一電壓區間的狀態下產生第一節點電壓，其中該負載開關的兩端分別耦接第一電壓與第二電壓； 在該負載開關兩端的該電壓差落於第二電壓區間的狀態下產生第二節點電壓；以及 根據該第一節點電壓與該第二節點電壓的其中之一斷開該負載開關，以執行過電流保護， 其中該第一電壓區間不同於該第二電壓區間。
  20. 如請求項19所述的過電流保護方法，其中該第一電壓區間與該第二電壓區間至少部分不重疊。
  21. 如請求項19所述的過電流保護方法，其中根據該第一節點電壓與該第二節點電壓的該其中之一斷開該負載開關的步驟包括： 響應於該第一節點電壓與該第二節點電壓的該其中之一與參考電壓之間的電壓差大於一臨界值，發送控制訊號至該負載開關，以經由該控制訊號斷開該負載開關。
  22. 如請求項19所述的過電流保護方法，其中在該負載開關兩端的該電壓差落於該第一電壓區間的狀態下產生該第一節點電壓的步驟包括： 由第一鏡像電路在該負載開關兩端的該電壓差落於該第一電壓區間的狀態下，產生流經第一檢測點的第一鏡像電流，並且 在該負載開關兩端的該電壓差落於該第二電壓區間的狀態下產生該第二節點電壓的步驟包括： 由第二電流鏡電路根據該第二電流產生流經第二檢測點的該第二鏡像電流， 其中該第一檢測點用以檢測該第一節點電壓，並且 該第二檢測點用以檢測該第二節點電壓。
  23. 如請求項22所述的過電流保護方法，其中該第一檢測點耦接於該第一電壓與參考接地電壓之間，並且 該第二檢測點耦接於該第一電壓與該第二電壓之間。
  24. 如請求項22所述的過電流保護方法，其中在該負載開關兩端的該電壓差落於該第一電壓區間的狀態下產生該第一節點電壓的步驟更包括： 由第一阻抗元件根據該第一鏡像電流產生該第一節點電壓，並且 在該負載開關兩端的該電壓差落於該第二電壓區間的狀態下產生該第二節點電壓的步驟更包括： 由第二阻抗元件根據該第二鏡像電流產生該第二節點電壓。
  25. 如請求項22所述的過電流保護方法，其中根據該第一節點電壓與該第二節點電壓的該其中之一斷開該負載開關，以執行該過電流保護的步驟包括： 由第一比較器將該第一節點電壓與該參考電壓進行比較；以及 由第二比較器將該第二節點電壓與該參考電壓進行比較。
  26. 如請求項25所述的過電流保護方法，其中根據該第一節點電壓與該第二節點電壓的該其中之一斷開該負載開關，以執行該過電流保護的步驟更包括： 由第一開關元件響應於該第一節點電壓與該參考電壓之間的第一電壓差大於第一臨界值而產生控制訊號，其中該控制訊號用以斷開該負載開關；以及 由第二開關元件響應於該第二節點電壓與該參考電壓之間的第二電壓差大於第二臨界值而產生該控制訊號。
  27. 如請求項25所述的過電流保護方法，更包括： 由致能電路響應於流經該負載開關的電流高於啟動值，發送致能訊號至該第一比較器與該第二比較器。
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