TWI755836B - 光學元件檢測輔助裝置 - Google Patents
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Abstract
本申請提供一種光學元件檢測輔助裝置，包括上蓋、中間部及下蓋。所述中間部包括第一主體部、第一通光孔、容置腔以及圖像採集單元，所述容置腔由所述第一主體部向內部凹陷形成，所述第一通光孔貫穿所述第一主體部，所述圖像採集單元設置於所述容置腔內；所述上蓋設置於所述中間部表面並覆蓋所述容置腔，所述上蓋包括第二主體部、第二通光孔及角度標尺，所述第二通光孔貫穿所述第二主體部，所述角度標尺設置於所述第二主體部遠離所述中間部的表面；所述下蓋設置於所述中間部遠離所述上蓋一側，所述下蓋包括第三主體部及第三通光孔，所述第三通光孔貫穿所述第三主體部。
Description
本申請涉及光學元件檢測領域，尤其涉及一種光學元件檢測輔助裝置。
習知的鏡頭檢測機台中，習知承載托盤在放置待測鏡頭時需黏貼玻璃片來作為承靠面保持待測鏡頭的平穩放置，在對焦時則需要手動調節至中心位置。
習知的承載托盤具備如下缺點：
(1)承載托盤不能適配不同尺寸的待測鏡頭，使得不同的待測鏡頭需訂製不同的承載托盤，增加成本；
(2)對焦過程中需選擇承載托盤旋鈕，造成待測鏡頭旋轉，但承載托盤無法顯示旋轉角度，依靠肉眼判斷誤差大且不精准；
(3)不同的承載托盤需要不同玻璃厚度、尺寸及材質，且貼玻璃易受人為操作的影響，其平整度低且易污染，對量測結果造成負面影響。
(4)待測鏡頭調焦定位不準，造成實驗誤差且易損壞測試產品。
如何解決上述問題，減少生產風險，是本領域技術人員需要考慮的。
有鑑於此，本申請提供一種適用於多種不同尺寸的待測鏡頭、無需玻璃支撐、可準確表達操作過程中旋轉角度以及精確定位的光學元件檢測輔助裝置。
本申請提供一種光學元件檢測輔助裝置，包括：中間部，所述中間部包括第一主體部、第一通光孔、容置腔以及圖像採集單元，所述容置腔由所述第一主體部向內部凹陷形成，所述第一通光孔貫穿所述第一主體部，所述圖像採集單元設置於所述容置腔內；上蓋，所述上蓋設置於所述中間部表面並覆蓋所述容置腔，所述上蓋包括第二主體部、第二通光孔及角度標尺，所述第二通光孔貫穿所述第二主體部，所述角度標尺設置於所述第二主體部遠離所述中間部的表面；以及下蓋，所述下蓋設置於所述中間部遠離所述上蓋一側，所述下蓋包括第三主體部及第三通光孔，所述第三通光孔貫穿所述第三主體部。
於一實施例中，所述中間部包括相背的第一表面及第二表面，所述容置腔由所述第一表面向所述第二表面的方向凹陷形成，所述上蓋與所述第一表面接觸，所述下蓋與所述第二表面接觸。
於一實施例中，所述容置腔包括底壁及與所述底壁連接的側壁，所述側壁連接所述第一表面及所述底壁，所述第一通光孔貫穿所述底壁及所述第二表面。
於一實施例中，所述圖像採集單元設置於所述側壁，所述圖像採集單元朝向所述第一通光孔。
於一實施例中，所述第一通光孔、所述第二通光孔及所述第三通光孔在所述中間部上的投影至少部分重疊。
於一實施例中，所述中間部還包括柔性固定圈，所述柔性固定圈設置於所述第一通光孔中，所述柔性固定圈包括一第四通光孔，所述第四通光孔貫穿所述柔性固定圈。
於一實施例中，所述下蓋為透明材質。
於一實施例中，所述上蓋、所述中間部以及所述下蓋為圓形，所述上蓋遠離所述中間部的表面為第三表面，所述角度標尺均勻分佈於所述第三表面。
於一實施例中，所述上蓋還包括顯示單元，所述顯示單元用於顯示所述上蓋相較於所述中間部旋轉的夾角。
於一實施例中，所述光學元件檢測輔助裝置還包括防塵蓋，所述防塵蓋可拆卸的設置於所述第二通光孔中。
相比於習知技術，本申請的光學元件檢測輔助裝置，至少具備如下優點：
(1)設置於第一通光孔的柔性固定圈可藉由過盈配合與不同尺寸的待測鏡頭實現固定，使得其可以適配多種不同尺寸的待測鏡頭，降低測試成本。
(2)光學元件檢測輔助裝置無需玻璃片做承靠面，可使光線百分百通過，也減少玻璃厚度、材質及表面污染造成的測試誤差。
(3)光學元件檢測輔助裝置包括圖像採集裝置，該圖像採集裝置一方面可以提升待測鏡頭安放時的精度，另一方面可以實現自動化對焦，從而減少手動調節的誤差。
(4)上蓋設置有角度標尺及顯示單元，角度標尺可使上蓋旋轉過程更加精確，同時顯示單元可以對所旋轉的角度進行精確顯示，進一步實現精確對焦。
(5)光學元件檢測輔助裝置包括防塵蓋，可以使光學元件檢測輔助裝置形成封閉空間，可有效避免污染。
1:光學元件檢測輔助裝置
10:中間部
101:第一主體部
102:第一通光孔
103:容置腔
1031:底壁
1032:側壁
104:圖像採集單元
105:第一表面
106:第二表面
107:柔性固定圈
108:第四通光孔
11:上蓋
111:第二主體部
112:第二通光孔
113:角度標尺
114:顯示單元
115:第三表面
12:下蓋
121:第三主體部
122:第三通光孔
13:防塵蓋
20:待測鏡頭
圖1為本申請的光學元件檢測輔助裝置的立體示意圖。
圖2為本申請的光學元件檢測輔助裝置的立體分解示意圖。
圖3為本申請的光學元件檢測輔助裝置的平面示意圖。
圖4為本申請的光學元件檢測輔助裝置的平面示意圖。
圖5為本申請的光學元件檢測輔助裝置的工作示意圖。
以下描述將參考附圖以更全面地描述本申請內容。附圖中所示為本申請的示例性實施例。然而，本申請可以以許多不同的形式來實施，並且不應該被解釋為限於在此闡述的示例性實施例。提供這些示例性實施例是為了使本申請透徹和完整，並且將本申請的範圍充分地傳達給本領域技術人員。類似的附圖標記表示相同或類似的組件。
本文使用的術語僅用於描述特定示例性實施例的目的，而不意圖限制本申請。如本文所使用的，除非上下文另外清楚地指出，否則單數形式“一”，“一個”和“該”旨在也包括複數形式。此外，當在本文中使用時，“包括”和/或“包含”或“包括”和/或“包括”或“具有”和/或“具有”，整數，步驟，操作，元件和/或元件，但不排除存在或添加一個或多個其它特徵，區域，整數，步驟，操作，元件，元件和/或其群組。
除非另外定義，否則本文使用的所有術語(包括技術和科學術語)具有與本申請所述領域的普通技術人員通常理解的相同的含義。此外，除非文中明確定義，諸如在通用字典中定義的那些術語應該被解釋為具有與其在相關
技術和本申請內容中的含義一致的含義，並且將不被解釋為理想化或過於正式的含義。
以下內容將結合附圖對示例性實施例進行描述。須注意的是，參考附圖中所描繪的元件不一定按比例顯示；而相同或類似的組件將被賦予相同或相似的附圖標記表示或類似的技術用語。
下面參照附圖，對本申請的具體實施方式作進一步的詳細描述。
如圖1至圖5所示，本申請提供一種光學元件檢測輔助裝置1，包括中間部10、上蓋11、下蓋12以及防塵蓋13，上蓋11及下蓋12設置於中間部10相背的兩側，防塵蓋13與上蓋11可拆卸的連接。光學元件檢測輔助裝置1用於放置一待測鏡頭20。
中間部10包括第一主體部101、第一通光孔102、容置腔103以及圖像採集單元104，容置腔103由第一主體部101向內部凹陷形成，第一通光孔102貫穿第一主體部101，圖像採集單元104設置於容置腔103內。
於一實施例中，中間部10包括相背的第一表面105及第二表面106，容置腔103由第一表面105向第二表面106的方向凹陷形成，容置腔103貫穿中間部10的至少部分，上蓋11與第一表面105接觸，下蓋12與第二表面106接觸。
於一實施例中，容置腔103包括底壁1031及側壁1032，側壁1032與底壁1031連接，側壁1032連接第一表面105及底壁1031，第一通光孔102貫穿底壁1031及第二表面106。
於一實施例中，圖像採集單元104設置於側壁1032表面，圖像採集單元104朝向第一通光孔102。具體的，圖像採集單元104可以為深原感測鏡頭或光電耦合器(CCD)鏡頭，圖像採集單元104的尾部與側壁1032連接，圖像採集單元104的光信號捕捉部朝向設置於容置腔103中的待測鏡頭20，當待測鏡頭設置於第一通光孔102中時，圖像採集單元104朝向第一通光孔102。如圖5所示，
圖像採集單元104可以對待測鏡頭20的擺放位置、角度進行測量，提升待測鏡頭20的擺放精度，進一步提升測試精度，另一方面可以實現自動化對焦，從而減少手動調節的誤差。
於一實施例中，第一主體部101內部可包括電源、電路板、處理器、電連接線等必要的電性元件，使得第一主體部101可為圖像採集單元104提供必要的電性支持。
中間部10還包括柔性固定圈107，柔性固定圈107設置於第一通光孔102中，柔性固定圈107包括一第四通光孔108，第四通光孔108貫穿柔性固定圈107。於一實施例中，柔性固定圈107為具備吸附能力的材質，其可以為無機吸附材料、有機吸附材料、碳質吸附材料、高分子吸附材料及納米吸附材料等；在本實施例中，柔性固定圈107的材質為矽膠，柔性固定圈107可藉由吸附及過盈配合的方式對待測鏡頭20進行固定，光線可通過第四通光孔108照射至待測鏡頭20。
上蓋11設置於中間部10表面並覆蓋容置腔103，上蓋11包括第二主體部111、第二通光孔112及角度標尺113。第二通光孔112貫穿第二主體部111，角度標尺113設置於第二主體部111遠離中間部10的表面。
於一實施例中，上蓋11對應容置腔103的區域可想中間部10方向凹陷，使得上蓋11可與中間部10卡合。
於一實施例中，第二通光孔112對應第一通光孔102及第四通光孔108設置，具體的，第二通光孔112、第一通光孔102及第四通光孔108在第二表面106上的投影至少部分重疊。
於一實施例中，上蓋11遠離中間部10的表面為第三表面115，角度標尺113均勻分佈於第三表面115。在本實施例中，上蓋11、中間部10以及下蓋
12為圓形，角度標尺113均勻分佈於圓形的第三表面115，角度標尺113為360°等分角度標尺，可用於顯示上蓋11的旋轉角度。
上蓋11還包括顯示單元114，顯示單元114用於顯示上蓋11相較於中間部10旋轉的夾角。於一實施例中，顯示單元114可內嵌於第二主體部111，顯示單元114可以為LED顯示幕、數字顯示屏、觸摸顯示幕、液晶顯示幕、3D顯示幕等。
防塵蓋13可拆卸的設置於第二通光孔112中，使光學元件檢測輔助裝置1形成封閉空間，可有效避免污染。
下蓋12設置於中間部10遠離上蓋11一側，下蓋12包括第三主體部121及第三通光孔122，第三通光孔122貫穿第三主體部121。
於一實施例中，第三通光孔122對應第二通光孔112及第三通光孔122設置，具體的，第二通光孔112、第一通光孔102及第三通光孔122在第二表面106上的投影至少部分重疊。
於一實施例中，下蓋12可以為透明材質。
上文中，參照附圖描述了本申請的具體實施方式。但是，本領域中的普通技術人員能夠理解，在不偏離本申請的精神和範圍的情況下，還可以對本申請的具體實施方式作各種變更和替換。這些變更和替換都落在本申請所限定的範圍內。
1:光學元件檢測輔助裝置
10:中間部
11:上蓋
113:角度標尺
114:顯示單元
12:下蓋
13:防塵蓋
Claims (9)
- 一種光學元件檢測輔助裝置，所述光學元件檢測輔助裝置用於放置一待測鏡頭，其改良在於，包括：中間部，所述中間部包括第一主體部、第一通光孔、容置腔以及圖像採集單元，所述容置腔由所述第一主體部向內部凹陷形成，所述第一通光孔貫穿所述第一主體部，所述圖像採集單元設置於所述容置腔內，所述第一通光孔用於放置所述待測鏡頭；上蓋，所述上蓋設置於所述中間部表面並覆蓋所述容置腔，所述上蓋包括第二主體部、第二通光孔及角度標尺，所述第二通光孔貫穿所述第二主體部，所述角度標尺設置於所述第二主體部遠離所述中間部的表面；以及下蓋，所述下蓋設置於所述中間部遠離所述上蓋一側，所述下蓋包括第三主體部及第三通光孔，所述第三通光孔貫穿所述第三主體部，所述第一通光孔、所述第二通光孔及所述第三通光孔在所述中間部上的投影至少部分重疊。
- 如請求項1所述的光學元件檢測輔助裝置，其中，所述中間部包括相背的第一表面及第二表面，所述容置腔由所述第一表面向所述第二表面的方向凹陷形成，所述上蓋與所述第一表面接觸，所述下蓋與所述第二表面接觸。
- 如請求項2所述的光學元件檢測輔助裝置，其中，所述容置腔包括底壁及與所述底壁連接的側壁，所述側壁連接所述第一表面及所述底壁，所述第一通光孔貫穿所述底壁及所述第二表面。
- 如請求項3所述的光學元件檢測輔助裝置，其中，所述圖像採集單元設置於所述側壁，所述圖像採集單元朝向所述第一通光孔。
- 如請求項1所述的光學元件檢測輔助裝置，其中，所述中間部還包括柔性固定圈，所述柔性固定圈設置於所述第一通光孔中，所述柔性固定圈包括一第四通光孔，所述第四通光孔貫穿所述柔性固定圈。
- 如請求項1所述的光學元件檢測輔助裝置，其中，所述下蓋為透明材質。
- 如請求項1所述的光學元件檢測輔助裝置，其中，所述上蓋、所述中間部以及所述下蓋為圓形，所述上蓋遠離所述中間部的表面為第三表面，所述角度標尺均勻分佈於所述第三表面。
- 如請求項1所述的光學元件檢測輔助裝置，其中，所述上蓋還包括顯示單元，所述顯示單元用於顯示所述上蓋相較於所述中間部旋轉的夾角。
- 如請求項1所述的光學元件檢測輔助裝置，其中，所述光學元件檢測輔助裝置還包括防塵蓋，所述防塵蓋可拆卸的設置於所述第二通光孔中。
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