TW201344339A - 鏡頭模組測試治具 - Google Patents

鏡頭模組測試治具 Download PDF

Info

Publication number
TW201344339A
TW201344339A TW101114686A TW101114686A TW201344339A TW 201344339 A TW201344339 A TW 201344339A TW 101114686 A TW101114686 A TW 101114686A TW 101114686 A TW101114686 A TW 101114686A TW 201344339 A TW201344339 A TW 201344339A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
lens module
plate
carrier
end surface
test fixture
Prior art date
Application number
TW101114686A
Other languages
English (en)
Inventor
shu-sheng Peng
Yong Li
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Publication of TW201344339A publication Critical patent/TW201344339A/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0207Details of measuring devices
    • G01M11/0214Details of devices holding the object to be tested
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/003Alignment of optical elements
    • G02B7/004Manual alignment, e.g. micromanipulators

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Accessories Of Cameras (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)

Abstract

本發明提供一種鏡頭模組測試治具,其包括基板、支撐組件、承載組件、夾具及作動件。所述支撐組件包括兩個平行設置在所述基板上的支撐扳。所述承載組件可轉動的連接在所述兩個支撐板之間。所述兩個支撐板之一開設有一圓弧狀導向通孔,所述導向通孔以所述承載組件相對於所述支撐扳轉動的軸線為圓心。所述夾具固定在所述承載組件上,用於夾持待測試的鏡頭模組。所述作動件穿入所述導向通孔中並與所述承載組件固接。所述支撐組件在所述導向通孔的外邊緣設置有一個用於顯示所述作動件沿所述導向通孔的轉動角度的刻度。

Description

鏡頭模組測試治具
本發明涉及一種測試治具,特別涉及一種用於測試鏡頭模組是否存在眩光的鏡頭模組測試治具。
為保證成像品質,鏡頭模組在出廠前都要經過多種光學品質測試,例如,解析度、白平衡及眩光等。在對鏡頭模組進行眩光測試的過程中,操作者需要在黑暗環境中手持鏡頭模組產品對點光源進行不同角度拍照。這種測試方法的測試角度難以精確調整,從而導致鏡頭模組的成像品質無法得到保證。
有鑑於此,有必要提供一種用於測試鏡頭模組是否存在眩光的鏡頭模組測試治具。
一種鏡頭模組測試治具,其包括一基板、一支撐組件、一承載組件、一夾具及一作動件。所述支撐組件包括兩個平行設置在所述基板上的支撐扳。所述承載組件可轉動的連接在所述兩個支撐板之間。所述兩個支撐板之一開設有一圓弧狀導向通孔,所述導向通孔以所述承載組件相對於所述支撐扳轉動的軸線為圓心。所述夾具固定在所述承載組件上,用於夾持待測試的鏡頭模組。所述作動件穿入所述導向通孔中並與所述承載組件固接。所述支撐組件在所述導向通孔的外邊緣設置有一個用於顯示所述作動件沿所述導向通孔的轉動角度的刻度。
本發明提供的鏡頭模組測試治具中作動件穿過導向通孔與承載組件固定連接,並且所述導向通孔邊緣設置有用於標識角度大小的刻度,使得用於承載夾具的承載組件在作動件的帶動及所述刻度的輔助下可以精確轉動,以實現對鏡頭模組的眩光的精確測試,從而有效保證了鏡頭模組的成像品質。
下面將結合附圖與實施例對本技術方案作進一步詳細說明。
如圖1-3所示,為本發明實施方式提供的一種鏡頭模組測試治具100,其用於對一鏡頭模組200進行眩光測試。所述鏡頭模組測試治具100包括一基板10、一支撐組件20、一承載組件30、一夾具40、一作動件50及一電性組件60。
所述基板10包括一定位板11及一與所述定位板11相固定的連接板12。所述定位板11包括一上表面111及一與所述上表面111相對的下表面112。所述定位板11上靠近中心位置處開設有一貫穿所述上表面111和所述下表面112的定位孔113。所述連接板12覆設在所述定位板11的上表面111,並從所述連接板12的一側邊緣伸出。
所述支撐組件20包括一第一支撐板21及一第二支撐板22。所述第一支撐板21垂直固定在所述連接板12上,所述第二支撐板22垂直固定在所述定位板11上。所述第一支撐板21與所述第二支撐板22朝向相對,且所述定位孔113位於所述第一支撐板21與所述第二支撐板22之間。所述第一支撐板21和所述第二支撐板22上分別開設有一軸孔23,所述兩個軸孔23的中心軸線在同一直線上。所述第二支撐板22上以所述軸孔23的中心為中心開設有一圓弧狀導向通孔24。所述第二支撐板22上背離所述第一支撐板21的側面上沿所述導向通孔24的延伸方向設置有刻度,所述刻度用於標示旋轉角度大小。
所述承載組件30包括一承載板31、一第一連接板32、一第二連接板33及兩個轉軸34。所述承載板31包括一上端面311及一與所述上端面311相對的下端面312。所述承載板31上開設有一貫穿所述上端面311和所述下端面312的容置孔313。所述第一連接板32固定在所述承載板31的上端面311,所述第二連接板33固定在所述承載板31的邊緣,所述第二連接板33分別從所述承載板31的上端面311和下端面312伸出。其中一轉軸34的一端與所述第一連接板32相連接固定,另一轉軸34的一端與所述第二連接板33從所述上端面311伸出的部分相連接固定。所述兩個轉軸34的中心軸線在同一直線上,且與所述承載板31相平行。
所述夾具40用於夾持待測試的鏡頭模組200,其包括一上蓋41、一下蓋42及一連接軸43。所述上蓋41與所述下蓋42之間通過連接軸43轉動連接。所述下蓋42固定在所述承載板31的上端面311,所述連接軸43的延伸方向與所述兩個轉軸34形成的中心軸線相平行。
所述作動件50包括一導向桿51及一連接在所述導向桿51的一端的旋鈕52。所述導向桿51的直徑小於所述導向通孔24的間隙,所述旋鈕52的直徑大於所述導向通孔24的間隙。
所述電性組件60包括一電路轉接板61及一與所述電路轉接板61電性連接的測試電路板62。所述電路轉接板61收容在所述承載板31的容置孔313中,所述測試電路板62固定在所述承載板31的下端面312。所述電路轉接板61與所述夾具40電性連接,其根據待測的鏡頭模組200的型號而進行設計。所述測試電路板62為標準的影像測試電路板。
在組裝的過程中,先將所述夾具40和電性組件60固定在所述承載板31上,然後將所述第一連接板32和所述第二連接板33上的一組轉軸34可轉動的套設在所述第一支撐板21和所述第二支撐板22上的一組軸孔23中。最後將所述作動件50的導向桿51的一端從所述導向通孔24伸入,並與所述第二連接板33從所述下端面312伸出的部分相連接固定。
可以理解,所述軸孔23可以設置在所述第一連接板32和所述第二連接板33,所述轉軸34可以對應的設置在所述第一支撐板21和所述第二支撐板22上。當然,所述第一連接板32和所述第二連接板33與所述第一支撐板21和所述第二支撐板22還可以通過其他可轉動結構進行連接,例如,滑塊和滑槽。
如圖4所示,在測試前,先將所述鏡頭模組測試治具100放置在一光箱300內,所述光箱300包括一殼體301、一光源302及一隔板303。所述光源302設置在所述殼體301內的頂部。所述鏡頭模組測試治具100放置在所述殼體301內的底部。所述隔板303固定在所述殼體301內,以將所述光源302和所述鏡頭模組測試治具100相隔離,所述隔板303上開設有一直徑大約為10mm的光孔304。為了保證所述待測鏡頭模組200、光孔304及光源302在同一光軸上,所述殼體301的底部設置有一與所述定位板11上的定位孔113相配合的定位塊(圖未示)。在測試過程中,操作者根據設置在所述第二支撐板22的刻度沿所述導向通孔24轉動所述旋鈕52,位於所述夾具40中的鏡頭模組200在所述承載板31的帶動下轉動。所述鏡頭模組200與所述光源302成不同的角度並獲得影像。本實施方式中,所述旋鈕52每轉動10度的角度,鏡頭模組200就獲取一次影像。
本發明提供的鏡頭模組測試治具中作動件穿過導向通孔與承載組件固定連接,並且所述導向通孔邊緣設置有用於標示角度大小的刻度,使得用於承載夾具的承載組件在作動件的帶動下可以精確轉動,以實現對鏡頭模組的眩光的精確測試,從而有效保證了鏡頭模組的成像品質。
綜上所述,本發明確已符合發明專利之要件,遂依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100...鏡頭模組測試治具
200...鏡頭模組
10...傳動件
11...定位板
111...上表面
112...下表面
113...定位孔
12...連接板
20...支撐組件
21...第一支撐板
22...第二支撐板
23...軸孔
24...導向通孔
30...承載組件
31...承載板
311...上端面
312...下端面
32...第一連接板
33...第二連接板
34...轉軸
40...夾具
41...上蓋
42...下蓋
43...連接軸
50...作動件
51...導向桿
52...旋鈕
60...電性組件
61...電路轉接板
62...測試電路板
300...光箱
301...殼體
302...光源
303...隔板
304...光孔
圖1為本發明實施方式提供的鏡頭模組測試治具的組裝示意圖。
圖2為圖1中的鏡頭模組測試治具的分解示意圖。
圖3為圖1中的鏡頭模組測試治具的平面示意圖。
圖4為圖1中的鏡頭模組測試治具的使用狀態示意圖。
100...鏡頭模組測試治具
200...鏡頭模組
10...傳動件
20...支撐組件
30...承載組件
40...夾具
50...作動件
60...電性組件

Claims (10)

  1. 一種鏡頭模組測試治具,其包括一基板、一支撐組件、一承載組件、一夾具及一作動件;所述支撐組件包括兩個平行設置在所述基板上的支撐扳;所述承載組件可轉動的連接在所述兩個支撐板之間;所述兩個支撐板之一開設有一圓弧狀導向通孔,所述導向通孔以所述承載組件相對於所述支撐扳轉動的軸線為圓心;所述夾具固定在所述承載組件上,用於夾持待測試的鏡頭模組;所述作動件穿入所述導向通孔中並與所述承載組件固接;所述支撐組件在所述導向通孔的外邊緣設置有一個用於顯示所述作動件沿所述導向通孔的轉動角度的刻度。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的鏡頭模組測試治具,其中:所述支撐組件包括一第一支撐板及一第二支撐板,所述第一支撐板和所述第二支撐板平行設置在所述基板上;所述第一支撐板和所述第二支撐板上開設有一組軸孔;所述承載組件的相對的兩側設置有一組轉軸,所述轉軸可轉動的套設在軸孔中。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的鏡頭模組測試治具,其中:所述承載組件包括一承載板、一第一連接板及一第二連接板;所述第一連接板和所述第二連接板相對垂直固設在所述承載板邊緣。
  4. 如申請專利範圍第3項所述的鏡頭模組測試治具,其中:所述第一連接板和所述第二連接板上分別垂直固設一轉軸,所述兩個轉軸形成的中心軸線與承載板相平行。
  5. 如申請專利範圍第3項所述的鏡頭模組測試治具,其中:所述承載板包括一上端面及一與所述上端面相對的下端面,所述承載板上開設有一貫穿所述上端面和所述下端面的容置孔;所述夾具固定在所述承載板的上端面。
  6. 如申請專利範圍第5項所述的鏡頭模組測試治具,其中:所述鏡頭模組測試治具還包括一電性組件,所述電性組件包括一電路轉接板及一與所述電路轉接板電性連接的測試電路板,所述電路轉接板收容在所述容置孔中,所述測試電路板固定在所述承載板的下端面。
  7. 如申請專利範圍第5項所述的鏡頭模組測試治具,其中:所述夾具包括一上蓋、一下蓋及一連接軸,所述上蓋與所述下蓋之間通過連接軸轉動連接;所述下蓋固定在所述承載板的上端面,所述連接軸的延伸方向與所述兩個轉軸形成的中心軸線相平行。
  8. 如申請專利範圍第5項所述的鏡頭模組測試治具,其中:所述第一連接板固定在所述承載板的上端面,所述第二連接板固定在所述承載板的邊緣,所述第二連接板分別從所述承載板的上端面和下端面伸出。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的鏡頭模組測試治具,其中:套設在所述第二支撐板的軸孔的轉軸的一端與所述第二連接板從所述承載板的上端面伸出的部分相連接。
  10. 如申請專利範圍第8項所述的鏡頭模組測試治具,其中:所述作動件的一端與所述第二連接板從所述承載板的下端面伸出的部分相連接,所述作動件的中心軸線與所述轉軸的中心軸線相平行。
TW101114686A 2012-04-20 2012-04-25 鏡頭模組測試治具 TW201344339A (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012101168142A CN103376640A (zh) 2012-04-20 2012-04-20 镜头模组测试治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201344339A true TW201344339A (zh) 2013-11-01

Family

ID=49379836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW101114686A TW201344339A (zh) 2012-04-20 2012-04-25 鏡頭模組測試治具

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8749770B2 (zh)
CN (1) CN103376640A (zh)
TW (1) TW201344339A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI561802B (en) * 2015-03-20 2016-12-11 Isc Co Ltd Camera lens module testing socket

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201428250A (zh) * 2013-01-14 2014-07-16 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 鏡頭模組的光路檢測治具
CN106200253B (zh) * 2015-04-29 2020-10-20 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 摄像模组眩光测试机台及眩光测试方法
CN105509566B (zh) * 2016-01-08 2017-12-01 河南中光学集团有限公司 光学瞄准镜震动冲击试验转换装置
CN106773515B (zh) * 2017-02-22 2022-10-11 昆山丘钛微电子科技股份有限公司 杂光自动拍摄机器
CN207366931U (zh) * 2017-09-25 2018-05-15 深圳市大疆如影科技有限公司 镜头检测装置
CN108760248A (zh) * 2018-05-29 2018-11-06 Oppo广东移动通信有限公司 摄像头模组眩光检测装置
CN108449476B (zh) * 2018-06-05 2024-03-08 昆山丘钛微电子科技有限公司 一种测试设备
CN113758676A (zh) * 2020-06-04 2021-12-07 三赢科技(深圳)有限公司 光学元件检测辅助装置
CN113580083B (zh) * 2021-07-30 2023-03-14 博众精工科技股份有限公司 一种测试治具

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7433027B2 (en) * 2004-12-22 2008-10-07 Novartis Ag Apparatus and method for detecting lens thickness

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI561802B (en) * 2015-03-20 2016-12-11 Isc Co Ltd Camera lens module testing socket

Also Published As

Publication number Publication date
US8749770B2 (en) 2014-06-10
CN103376640A (zh) 2013-10-30
US20130278924A1 (en) 2013-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201344339A (zh) 鏡頭模組測試治具
JP2016534686A (ja) 携帯電話の試験方法および試験装置
TW201403733A (zh) 用於調整聯結於一晶圓處理機器人之一進給手臂之校直及位置之系統以及用於調整聯結於一晶圓處理機器人之一進給手臂之校直及位置之方法
CN110044263A (zh) 检测设备及检测设备的工作方法
US9395269B2 (en) Device for holding voice coil motor during tests and test fixture for testing voice coil motor
JP2013195421A (ja) 走向及び傾斜測定装置及び走向及び傾斜測定補助装置
JP5970218B2 (ja) プローブ装置
JP2015031578A (ja) プローバ
TW201527776A (zh) 檢查裝置及檢查方法
JPWO2018198859A1 (ja) 検査治具、及び基板検査装置
KR102342860B1 (ko) 플렉서블 디바이스의 테스트 장치
WO2005106510A3 (en) Apparatus for high speed probing of flat panel displays
CN101680929B (zh) 集成电路探测卡分析器
KR102274810B1 (ko) 굽힘력 측정장치 및 이에 이용되는 지그
TWI645175B (zh) 景深測試裝置
US11162771B2 (en) Method and apparatus for measuring diameters of cylindrical measuring pins
CN104620121B (zh) 探针设备
CN109459230A (zh) 一种刀具的旋转检测治具
CN210165909U (zh) 一种微型oled ivl测试设备
JP2008232851A (ja) プローブユニット及び検査装置
TW202102866A (zh) 電性檢查裝置及保持單元
KR101917161B1 (ko) 평판 디스플레이용 전기적 특성 시험 장치의 헤드부 프로브 카드 회전 및 이송 장치
JP3193558U (ja) 投影寸法測定器
JP2004325387A (ja) 球欠深さ測定器
JP2012237656A (ja) 被検査基板固定装置