CN207439650U - 一种偏光片角度测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种偏光片角度测量装置，包括一暗箱，所述暗箱内设有水平放置的测试平台，测试平台包括一透明的玻璃基板、设置在玻璃基板下表面的对标偏光片和设置在对标偏光片下方的光源，所述玻璃基板上设有至少两条平行的对位线，所述对标偏光片的吸收轴与对位线平行，在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器，所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头，所述测量探头正对光源设置。该装置测试偏光片的角度，结构简单、体积小、造价低，可适用于使用偏光片制造液晶显示器的企业用以检测偏光片的角度，降低液晶显示器制造企业的生产成本。

Description

一种偏光片角度测量装置

技术领域

本实用新型涉及偏光片技术领域，更具体地涉及一种偏光片角度测量装置。

背景技术

偏光片的基本结构包括中间的PVA和两层TAC，其中偏光片的角度是指偏光片吸收轴与偏光片的0°边的夹角，0°边是指偏光片的6点钟方向所对应的边。企业对偏光片来料的角度的管控对整个液晶显示器来说尤为重要，偏光片角度偏差1°可以降低液晶显示器100至200的对比度，而目前市面上专业的偏光片角度测量仪器比较昂贵，液晶显示器制造企业由于成本的控制无法对每个IQC都配备该专业的偏光片角度测量仪器，因此针对液晶显示器制造企业应该提出一种结构简单、制造成本低的偏光片角度测量装置。

实用新型内容

为了解决所述现有技术的不足，本实用新型提供了一种结构简单、造价低的偏光片角度测量装置。

本实用新型所要达到的技术效果通过以下方案实现：一种偏光片角度测量装置，包括一暗箱，所述暗箱内设有水平放置的测试平台，测试平台包括一透明的玻璃基板、设置在玻璃基板下表面的对标偏光片和设置在对标偏光片下方的光源，所述玻璃基板上设有至少两条平行的对位线，所述对标偏光片的吸收轴与对位线平行，在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器，所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头，所述测量探头正对光源设置。

优选地，所述玻璃基板的厚度小于等于0.5mm。

优选地，所述对标偏光片与玻璃基板通过光学胶贴合。

优选地，所述光源为LED光源或者CCFL光源或者环境光源。

优选地，所述光源的波长范围为380nm~780nm。

优选地，光源与对标偏光片通过PSA胶贴合。

优选地，对标偏光片的下表面、光源外围区域还设有遮光层。

优选地，遮光层为黑色胶带或者厚度为50微米及以上的黑色PVC膜。

本实用新型具有以下优点：

通过在暗箱内设置测试平台、光源和亮度测试器，测试平台的下表面放置对标偏光片，测试平台的上表面放置待测偏光片测试待测偏光片的角度，结构简单、体积小、造价低，可适用于使用偏光片制造液晶显示器的企业用以检测偏光片的角度，降低液晶显示器制造企业的生产成本。

附图说明

图1为本实用新型中偏光片角度测量装置的结构示意图；

图2为图1中玻璃基板的平面示意图；

图3为图1中对标偏光片的平面示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细的说明，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语 “上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“设置”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

如图1-3所示，本实用新型实施例提供一种偏光片角度测量装置，包括一暗箱1，所述暗箱1内设有水平放置的测试平台2，测试平台2包括一透明的玻璃基板21、设置在玻璃基板21下表面的对标偏光片23和设置在对标偏光片23下方的光源22，所述玻璃基板21上设有至少两条平行的对位线211，以便不同尺寸的待测偏光片3对位放置在玻璃基板21的上表面，且所述对标偏光片23的吸收轴231与对位线211平行，即对标偏光片23的角度为0°。在玻璃基板21的上方、距离玻璃基板21一固定距离设有亮度测试器4，所述亮度测试器4与测试平台2平行设置，所述亮度测试器4包括形成在暗箱1外的显示屏41和形成在暗箱1内的测量探头42，所述测量探头42正对光源22设置。

该偏光片角度测量装置结构简单、体积小、造价低，可适用于使用偏光片制造液晶显示器的企业用以检测偏光片的角度，降低液晶显示器制造企业的生产成本。

进一步地，所述玻璃基板21的厚度小于等于0.5mm，玻璃基板21越薄则测试数据越精确，减少光传递过程中的损失，进一步地，玻璃基板21的透光率接近100%。

进一步地，所述对标偏光片23与玻璃基板21通过光学胶贴合，可使对标偏光片23位置固定，适用多次测量。

进一步地，光源22与对标偏光片23通过PSA胶贴合，所述PSA胶的厚度优选为小于或者等于20微米。

进一步地，所述光源22为LED光源或者CCFL光源或者环境光源。更进一步地，所述光源22的波长范围为380nm~780nm。

进一步地，对标偏光片23的下表面、光源22外围区域还设有遮光层5，可防止光源发出的光线泄露或者散射影响测量结果。所述遮光层5优选为黑色胶带或者厚度为50微米及以上的黑色PVC膜，但不限于此。进一步地，所述遮光层5通过PSA胶与对标偏光片23贴合，所述PSA胶的厚度优选为小于或者等于20微米。

本实施例中所述暗箱1采用完全遮光材质，可以是塑料，或者不锈钢等，但不限于此，暗箱1的厚度优选为1mm及以上。所述暗箱1还设有开关装置11以打开或者关闭暗箱1，例如可以在暗箱1的一侧设置转动件，相对的另一侧设置闭合件，转动件与闭合件配合作用实现暗箱的打开或者关闭，但不限于此。

本实施例中所述偏光片角度测量的原理为：对标偏光片23固定放置在玻璃基板21的下表面，将待测偏光片3放置在玻璃基板21的上表面，在光源亮度固定的情况下，测试出的亮度由待测偏光片3的吸收轴与对标偏光片23吸收轴231的夹角决定，夹角越大，透过率就越小，测试出的亮度就越低。当设定的对标偏光片23的吸收轴231与对位线211平行时，待测偏光片3的吸收轴与对标偏光片23的吸收轴231的夹角即为待测偏光片3的角度，根据测试出的亮度值对照偏光片标准件的亮度值进而得出待测偏光片3的角度。

本实施例中所述偏光片角度测量装置的测量步骤如下：

S1、校准：设置光源22的亮度，将1°-90°的偏光片标准件（每1°一个标准件，共90个）分别放置在测试平台上，测试出正确的亮度值，填入表格以便后续对照；

S2、确认待测偏光片3的正负：当无法得知待测偏光片3角度的正负时，可将待测偏光片3对准对位线211放置在玻璃基板21上测试出亮度值，再将待测偏光片3逆时针旋转一角度再放置在玻璃基板21上测试出亮度值，如果前后的亮度值增加，则待测偏光片3的角度为负，反之则为正；

S3、待测偏光片3的亮度测量：将待测偏光片3放置在玻璃基板21上，测试出亮度值；

S4、待测偏光片3的角度确定：将待测偏光片3测试出的亮度值与偏光片标准件的亮度值进行比对，进而得出待测偏光片3的角度。

最后需要说明的是，以上实施例仅用以说明本发明实施例的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解依然可以对本发明实施例的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明实施例技术方案的范围。

Claims (8)

1.一种偏光片角度测量装置，其特征在于，包括一暗箱，所述暗箱内设有水平放置的测试平台，测试平台包括一透明的玻璃基板、设置在玻璃基板下表面的对标偏光片和设置在对标偏光片下方的光源，所述玻璃基板上设有至少两条平行的对位线，所述对标偏光片的吸收轴与对位线平行，在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器，所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头，所述测量探头正对光源设置。

2.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置，其特征在于，所述玻璃基板的厚度小于等于0.5mm。

3.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置，其特征在于，所述对标偏光片与玻璃基板通过光学胶贴合。

4.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置，其特征在于，所述光源为LED光源或者CCFL光源或者环境光源。

5.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置，其特征在于，所述光源的波长范围为380nm~780nm。

6.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置，其特征在于，光源与对标偏光片通过PSA胶贴合。

7.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置，其特征在于，对标偏光片的下表面、光源外围区域还设有遮光层。

8.如权利要求7所述的一种偏光片角度测量装置，其特征在于，遮光层为黑色胶带或者厚度为50微米及以上的黑色PVC膜。