CN111561883B - 一种偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光学镜片检测技术领域，特别涉及偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法，包括机架，通过在机架上设置发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，转动机构转动带动在标准偏光组件转动，在标准偏光组件转动过程中，发光机构产生的光线依次透过标准偏光组件和待测镜片，且光线的亮度在强弱之间变化，通过设置检测组件检测依次透过标准偏光组件和待测镜片的光线的亮度，根据转动机构的转动角度即可计算出待测镜片的偏光轴位；通过采用检测组件检测透过偏振片的光线的亮度，能够排除人工观察带来的误差，从而提高检测精确度。

Description

一种偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法

技术领域

本发明涉及光学镜片检测技术领域，特别涉及偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法。

背景技术

偏光太阳镜属于个体眼面部防护用品的范畴，衡量其质量的技术指标主要体现在偏光度、防紫外线、抗机械冲击力、透射比、复合强度等几个方面，其中，偏光度是重要指标之一。根据相关国际标准，偏光太阳镜产品的偏光度数一般需控制在±5度的范围内。不合格的偏光太阳镜不仅会损害使用者的用眼健康，而且也会影响消费者的利益。因此，偏光太阳镜生产单位通常要求产品出产之前必须经过严格的偏光轴位(偏光度)测量。

申请号为201721156103.2的专利文件公开了一种偏光角偏差检测装置，由LED光源与毛玻璃形成均匀的散射光，通过转动检偏器，并观察检偏器视窗至二个半圆明暗分明，角度盘上角度指针的偏移角即为被检偏光镜片的偏差角度。这种人工观察检偏器明暗程度的方式效率低下，且精确度不高。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种能够提高检测精准度的偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法。

为了解决上述技术问题，本发明采用的第一种技术方案为：

一种偏光轴位测量装置，包括机架，所述机架上设有发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，所述转动机构和标准偏光组件均位于发光机构和待测镜片之间且与发光机构和待测镜片之间均设有间距，所述转动机构与标准偏光组件固定连接；

所述标准偏光组件包括基准片和偏振片，所述偏振片设置在基准片远离待测镜片的一侧面且均与基准片相互贴合，所述偏振片远离基准片的一侧面上设有检测组件。

本发明采用的第二种技术方案为：

一种偏光轴位的自校正测量方法，包括以下步骤：

步骤S1、控制标准偏光组件沿预设方向旋转360度，在标准偏光组件旋转过程中，当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第一次平行时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第一光照强度和第一转动角度；当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第一次垂直时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第二光照强度和第二转动角度；

步骤S2、当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第二次平行时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第三光照强度和第三转动角度；当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第二次垂直时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第四光照强度和第四转动角度；

步骤S3、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度、第一转动角度、第二转动角度、第三转动角度和第四转动角度，计算得到待测镜片的第一偏光度值；

步骤S4、根据所述第一偏光度值和预设的第一光照强度函数，计算得到待测镜片的第二光照强度函数；

步骤S5、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第二光照强度函数，计算得到第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值；

步骤S6、根据所述第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值，计算得到第一平均角度值；

步骤S7、判断所述第一平均角度值是否大于预设的角度基准值；

步骤S8、若否，则待测镜片的最终的偏光度值等于第一偏光度值。

本发明的有益效果在于：

通过在机架上设置发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，转动机构转动带动在标准偏光组件转动，在标准偏光组件转动过程中，发光机构产生的光线依次透过标准偏光组件和待测镜片，且光线的亮度在强弱之间变化，通过设置检测组件检测依次透过标准偏光组件和待测镜片的光线的亮度，根据转动机构的转动角度即可计算出待测镜片的偏光轴位(即轴光度)；通过采用检测组件检测透过偏振片的光线的亮度，能够排除人工观察带来的误差，从而提高检测精确度。

附图说明

图1为根据本发明的一种偏光轴位测量装置的结构示意图；

图2为根据本发明的一种偏光轴位测量装置的标准偏光组件的结构示意图；

图3为根据本发明的一种偏光轴位测量装置的局部的结构示意图；

图4为根据本发明的一种偏光轴位测量装置的图3的剖视图；

图5为根据本发明的一种偏光轴位测量装置的承载架的结构示意图；

图6为根据本发明的一种偏光轴位测量装置的转动环和标准偏光组件的结构示意图；

图7为根据本发明的一种偏光轴位测量装置的发光机构的光线照射结构示意图；

图8为根据本发明的一种偏光轴位测量装置的结构示意图；

图9为根据本发明的一种偏光轴位的自校正测量方法的步骤流图图；

标号说明：

1、机架；

11、发光机构；

12、转动机构；121、第一驱动电机；122、主动齿轮；123、从动齿轮；124、转动环；125、角度检测件；

13、标准偏光组件；131、基准片；132、偏振片；133、检测组件；

14、承载架；141、通槽；

15、夹持组件；151、第二驱动电机；152、夹持件；153、双向丝杆；154、限位杆；

16、待测镜片。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1，本发明提供的一种技术方案：

一种偏光轴位测量装置，包括机架，所述机架上设有发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，所述转动机构和标准偏光组件均位于发光机构和待测镜片之间且与发光机构和待测镜片之间均设有间距，所述转动机构与标准偏光组件固定连接；

所述标准偏光组件包括基准片和偏振片，所述偏振片设置在基准片远离待测镜片的一侧面且均与基准片相互贴合，所述偏振片远离基准片的一侧面上设有检测组件。

从上述描述可知，本发明的有益效果在于：

通过在机架上设置发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，转动机构转动带动在标准偏光组件转动，在标准偏光组件转动过程中，发光机构产生的光线依次透过标准偏光组件和待测镜片，且光线的亮度在强弱之间变化，通过设置检测组件检测依次透过标准偏光组件和待测镜片的光线的亮度，根据转动机构的转动角度即可计算出待测镜片的偏光轴位(即轴光度)；通过采用检测组件检测透过偏振片的光线的亮度，能够排除人工观察带来的误差，从而提高检测精确度。

进一步的，所述机架上还设有承载架，所述转动机构设置在承载架上，所述转动机构包括第一驱动电机、主动齿轮、从动齿轮、转动环和角度检测件，所述转动环固定套设在标准偏光组件外部，所述主动齿轮固定套设在第一驱动电机的输出轴，所述转动环分别与主动齿轮和从动齿轮啮合，所述从动齿轮通过转轴与角度检测件传动连接。

由上述描述可知，第一驱动电机启动带动主动齿轮转动，主动齿轮转动带动转动环转动，转动环转动带动从动齿轮转动，从动齿轮转动带动角度检测件转动，从而检测转动环实际的转动角度。

进一步的，所述待测镜片通过夹持组件安装在机架上，所述夹持组件包括第二驱动电机和两个夹持件，所述机架内腔的两侧壁之间转动连接有双向丝杆，两个所述夹持件分别对称套设在双向丝杆外壁且均与双向丝杆螺纹连接，所述第二驱动电机的输出轴与双向丝杆的一端固定连接；

所述夹持组件还包括限位杆，所述限位杆固定设置在机架内腔的两侧壁之间，两个所述夹持件分别对称套设在限位杆外壁且均与限位杆滑动连接。

由上述描述可知，第二驱动电机启动带动双向丝杆转动，使得夹持组件在双向丝杆的驱动下相互靠近，从而通过两个夹持组件卡合固定待测镜片。

请参照图9，本发明提供的另一种技术方案：

一种偏光轴位的自校正测量方法，包括以下步骤：

步骤S1、控制标准偏光组件沿预设方向旋转360度，在标准偏光组件旋转过程中，当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第一次平行时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第一光照强度和第一转动角度；当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第一次垂直时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第二光照强度和第二转动角度；

步骤S2、当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第二次平行时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第三光照强度和第三转动角度；当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第二次垂直时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第四光照强度和第四转动角度；

步骤S3、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度、第一转动角度、第二转动角度、第三转动角度和第四转动角度，计算得到待测镜片的第一偏光度值；

步骤S4、根据所述第一偏光度值和预设的第一光照强度函数，计算得到待测镜片的第二光照强度函数；

步骤S5、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第二光照强度函数，计算得到第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值；

步骤S6、根据所述第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值，计算得到第一平均角度值；

步骤S7、判断所述第一平均角度值是否大于预设的角度基准值；

步骤S8、若否，则将第一偏光度值标记为待测镜片的最终的偏光度值。

从上述描述可知，本发明的有益效果在于：

通过在机架上设置发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，转动机构转动带动在标准偏光组件转动，在标准偏光组件转动过程中，发光机构产生的光线依次透过标准偏光组件和待测镜片，且光线的亮度在强弱之间变化，通过设置检测组件检测依次透过标准偏光组件和待测镜片的光线的亮度，根据转动机构的转动角度即可计算出待测镜片的偏光轴位(即轴光度)；通过采用检测组件依次检测透过偏振片的光线的亮度，能够排除人工观察带来的误差，从而提高检测精确度。

进一步的，步骤S8还包括以下步骤：

步骤S801、若是，则将所述第一平均角度值与第一偏光度值作和，得到待测镜片的第二偏光度值；

步骤S802、根据所述第二偏光度值，计算得到待测镜片的第三光照强度函数；

步骤S803、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第三光照强度函数，计算得到第五角度值、第六角度值、第七角度值和第八角度值；

步骤S804、根据所述第五角度值、第六角度值、第七角度值和第八角度值，计算得到第二平均角度值；

步骤S805、判断所述第二平均角度值是否大于预设的基准值；

步骤S806、若否，则将第二偏光度值标记为待测镜片的最终的偏光度值。

从上述描述可知，通过上述的步骤，能够进一步提高检测的精确度。

进一步的，步骤S806还包括以下步骤：

步骤S8061、若是，则将所述第二平均角度值与第二偏光度值作和，得到待测镜片的第三偏光度值；

步骤S8062、根据所述第三偏光度值，计算得到待测镜片的第四光照强度函数；

步骤S8063、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第四光照强度函数，计算得到第九角度值、第十角度值、第十一角度值和第十二角度值；

步骤S8064、根据所述第九角度值、第十角度值、第十一角度值和第十二角度值，计算得到第三平均角度值；

步骤S8065、判断所述第三平均角度值是否大于预设的基准值；

步骤S8066、若否，则将第三偏光度值标记为待测镜片的最终的偏光度值。

从上述描述可知，通过上述的步骤，能够进一步提高检测的精确度。

请参照图1至图7，本发明的实施例一为：

请参照图1，一种偏光轴位测量装置，包括机架1，所述机架1上设有发光机构11、转动机构12、待测镜片16和标准偏光组件13，所述转动机构12和标准偏光组件13均位于发光机构11和待测镜片16之间且与发光机构11和待测镜片16之间均设有间距，所述转动机构12与标准偏光组件13固定连接；

所述发光机构11优选为LED光源，用于提供光线；

请参照图2，所述标准偏光组件13包括基准片131和偏振片132，所述偏振片132设置在基准片131远离待测镜片16的一侧面且均与基准片131相互贴合，所述偏振片132远离基准片131的一侧面上设有检测组件133。

所述检测组件133优选为光敏电阻，用于在转动环124转动过程中检测透过偏振片132的光线的亮度大小，还可以是其它用于检测光线亮度的光敏传感器；

请参照图1、图3、图4、图5和图6，所述机架1上还设有承载架14，所述转动机构12设置在承载架14上，所述转动机构12包括第一驱动电机121、主动齿轮122、从动齿轮123、转动环124和角度检测件125，所述转动环124固定套设在标准偏光组件13外部，所述主动齿轮122固定套设在第一驱动电机121的输出轴，所述转动环124分别与主动齿轮122和从动齿轮123啮合，所述从动齿轮123通过转轴与角度检测件125传动连接。

请参照图5，所述承载架14为一中空的矩形板，所述矩形板上开设有通槽141，所述通槽141的形状为圆形，所述通槽141的直径与转动环124的外径相等；

请参照图6，所述转动环124的外壁均匀分布有齿牙，所述转动环124的厚度大于承载架14的厚度，所述转动环124外壁的齿牙位于矩形板的中空内腔。

所述转动环124与待测镜片16同轴设置。

请参照图1，所述待测镜片16通过夹持组件15安装在机架1上，所述夹持组件15包括第二驱动电机151和两个夹持件152，所述机架1内腔的两侧壁之间转动连接有双向丝杆153，两个所述夹持件152分别对称套设在双向丝杆153外壁且均与双向丝杆153螺纹连接，所述第二驱动电机151的输出轴与双向丝杆153的一端固定连接；

所述夹持组件15还包括限位杆154，所述限位杆154固定设置在机架1内腔的两侧壁之间，两个所述夹持件152分别对称套设在限位杆154外壁且均与限位杆154滑动连接。

所述夹持件152包括滑动板和夹持块，所述滑动板与夹持块固定连接，所述滑动板和夹持块均套设在双向丝杆外壁且均与双向丝杆153滑动连接，所述滑动板的形状为长方体，两个所述夹持块相互靠近的一侧面向内凹陷形成与待测镜片相适配的圆弧，便于夹紧待测镜片。

所述第一驱动电机121和第二驱动电机151均优选为伺服电机；

所述角度检测件125优选为编码器，所述角度检测件125还可以是其它检测角度的角度传感器；

角度检测件12527和两个检测件23分别与电脑系统电连接，将检测到的转动角度和亮度大小传输到电脑系统内进行计算，从而得出待测镜片1630的偏光轴位。

在实际使用中，首先，第二驱动电机151驱动双向丝杆153旋转，使得两个夹持组件15相向移动靠近，从而将待测镜片16卡合固定，且发光机构11、装夹于夹持组件15上的待测镜片16和转动件同轴设置；

其次，开启发光机构11，发光机构11的光线照射方向如图7中箭头所示，光线依次透过标准偏光组件13和待测镜片16；

接着，通过第一驱动电机121驱动主动齿轮122转动，从而驱动转动环124和从动齿轮123转动，角度检测件125随着从动齿轮123的转动而转动，从而检测转动环124实际转动的角度；标准偏光组件13随着转动环124的转动而转动，在标准偏光组件13的转动过程中，依次透过标准偏光组件13和待测镜片16的光线的亮度会发生改变，当偏振片132的偏光轴与待测镜片16的偏光轴的偏振方向平行时，检测组件133所检测到的光线的亮度相同，反之，当偏振片132的偏光轴与待测镜片16的偏光轴的偏振方向不平行时，检测组件133所检测到的光线的亮度不同；

转动环124每转动一周，偏振片132的偏光轴与待测镜片16的偏光轴的偏振方向会形成两次平行状态，当偏振片132的偏光轴与待测镜片16的偏振方向每一次形成平行状态时，角度检测件125将所检测到标准偏光组件13实际转动的角度记录并传输到电脑系统内进行计算，从而得出待测镜片16的偏光轴位。

将本方案设计的偏光轴位测量装置安装在底座上，请参照图8所示。

所述偏光轴位测量装置的数量为两个，两个所述偏光轴位测量装置并排设置，通过设置两个测量装置可以同时检测设于太阳镜上的两个镜片的偏光轴位。

请参照图9，本发明的实施例二为：

一种偏光轴位的自校正测量方法，包括以下步骤：

步骤S1、控制标准偏光组件13沿预设方向旋转360度，在标准偏光组件13旋转过程中，当标准偏光组件13的偏光轴与待测镜片16的偏光轴第一次平行时，分别采集当前待测镜片16的光照强度和转动机构12的转动角度，依次记为第一光照强度和第一转动角度；当标准偏光组件13的偏光轴与待测镜片16的偏光轴第一次垂直时，分别采集当前待测镜片16的光照强度和转动机构12的转动角度，依次记为第二光照强度和第二转动角度；

步骤S2、当标准偏光组件13的偏光轴与待测镜片16的偏光轴第二次平行时，分别采集当前待测镜片16的光照强度和转动机构12的转动角度，依次记为第三光照强度和第三转动角度；当标准偏光组件13的偏光轴与待测镜片16的偏光轴第二次垂直时，分别采集当前待测镜片16的光照强度和转动机构12的转动角度，依次记为第四光照强度和第四转动角度；

步骤S3、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度、第一转动角度、第二转动角度、第三转动角度和第四转动角度，计算得到待测镜片16的第一偏光度值；

步骤S4、根据所述第一偏光度值和预设的第一光照强度函数，计算得到待测镜片16的第二光照强度函数；

步骤S5、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第二光照强度函数，计算得到第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值；

步骤S6、根据所述第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值，计算得到第一平均角度值；

步骤S7、判断所述第一平均角度值是否大于预设的角度基准值；

步骤S8、若否，则待测镜片16的最终的偏光度值等于第一偏光度值。

步骤S8还包括以下步骤：

步骤S801、若是，则将所述第一平均角度值与第一偏光度值作和，得到待测镜片16的第二偏光度值；

步骤S802、根据所述第二偏光度值，计算得到待测镜片16的第三光照强度函数；

步骤S803、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第三光照强度函数，计算得到第五角度值、第六角度值、第七角度值和第八角度值；

步骤S804、根据所述第五角度值、第六角度值、第七角度值和第八角度值，计算得到第二平均角度值；

步骤S805、判断所述第二平均角度值是否大于预设的基准值；

步骤S806、若否，则将第二偏光度值标记为待测镜片16的最终的偏光度值。

步骤S806还包括以下步骤：

步骤S8061、若是，则将所述第二平均角度值与第二偏光度值作和，得到待测镜片16的第三偏光度值；

步骤S8062、根据所述第三偏光度值，计算得到待测镜片16的第四光照强度函数；

步骤S8063、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第四光照强度函数，计算得到第九角度值、第十角度值、第十一角度值和第十二角度值；

步骤S8064、根据所述第九角度值、第十角度值、第十一角度值和第十二角度值，计算得到第三平均角度值；

步骤S8065、判断所述第三平均角度值是否大于预设的基准值；

步骤S8066、若否，则将第三偏光度值标记为待测镜片16的最终的偏光度值。

上述的偏光轴位的自校正测量方法的具体实施例为：

预设待测镜片16的第一光照强度函数：S＝Acosθ；

控制标准偏光组件13沿预设方向旋转360度，在标准偏光组件13旋转过程中，当标准偏光组件13的偏光轴与待测镜片16的偏光轴第一次平行时，分别采集当前待测镜片16的光照强度和转动机构12的转动角度，依次记为第一光照强度(用S1标记)和第一转动角度(用A1标记)；

当标准偏光组件13的偏光轴与待测镜片16的偏光轴第一次垂直时，分别采集当前待测镜片16的光照强度和转动机构12的转动角度，依次记为第二光照强度(用S2标记)和第二转动角度(用A2标记)；

步骤S3、当标准偏光组件13的偏光轴与待测镜片16的偏光轴第二次平行时，分别采集当前待测镜片16的光照强度和转动机构12的转动角度，依次记为第三光照强度(用S3标记)和第三转动角度(用A3标记)；

步骤S4、当标准偏光组件13的偏光轴与待测镜片16的偏光轴第二次垂直时，分别采集当前待测镜片16的光照强度和转动机构12的转动角度，依次记为第四光照强度(用S4标记)和第四转动角度(用A4标记)；

根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度、第一转动角度、第二转动角度、第三转动角度和第四转动角度，计算得到待测镜片16的第一偏光度值(用A标记)，即A＝[A1+(A2-90°)+(A3-180°)+(A4-270°)]/4；

根据所述第一偏光度值和预设的第一光照强度函数，计算得到待测镜片16的第二光照强度函数，即S＝Acos(θ+A)；

将S1、S2、S3、S4分别代入第二光照强度函数S＝Acos(θ+A)，计算得到第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值(分别记为θ1、θ2、θ3和θ4)；

再求得第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值的角度误差值，分别为X1＝|θ1|、X2＝|θ2|-90°、X3＝|θ3|-180°和X4＝|θ4|-270°，进而求得第一平均角度误差值为X1_avg＝(X1+X2+X3+X4)/4；

判断所述第一平均角度误差值X1_avg是否大于预设的角度基准值(本实施例中角度基准值为0.1)；

若小于0.1，则待测镜片16的最终的偏光度值等于第一偏光度值，即为A。

若大于0.1，则将所述第一平均角度误差值与第一偏光度值作和，得到待测镜片16的第二偏光度值，即此时待测镜片16的偏光度值为A+X1_avg；

根据所述第二偏光度值，计算得到待测镜片16的第三光照强度函数，即S＝Acos(θ+A+X1_avg)；

将将S1、S2、S3、S4分别代入第三光照强度函数，计算得到第五角度值、第六角度值、第七角度值和第八角度值(分别记为θ5、θ6、θ7和θ8)；

再求得第五角度值、第六角度值、第七角度值和第八角度值的角度误差值，分别为X5＝|θ5|、X6＝|θ6|-90°、X7＝|θ7|-180°和X8＝|θ8|-270°，进而求得第二平均角度误差值为X2_avg＝(X5+X6+X7+X8)/4；

判断所述第二平均角度误差值X2_avg是否大于预设的角度基准值(本实施例中角度基准值为0.1)；

若小于0.1，则待测镜片16的最终的偏光度值等于第二偏光度值，即为A+X1_avg。

若大于0.1，则将所述第二平均角度误差值与第二偏光度值作和，得到待测镜片16的第三偏光度值，即此时待测镜片16的偏光度值为A+X1_avg+X2_avg；

偏光度值逐次迭代，当平均角度误差值小于0.1时，则结束迭代，得到最终的偏光度值(若迭代次数过多，还可以设置迭代次数限制，达到迭代次数限制后结束迭代)。

综上所述，本发明提供的一种偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法，通过在机架上设置发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，转动机构转动带动在标准偏光组件转动，在标准偏光组件转动过程中，发光机构产生的光线依次透过标准偏光组件和待测镜片，且光线的亮度在强弱之间变化，通过设置检测组件检测依次透过标准偏光组件和待测镜片的光线的亮度，根据转动机构的转动角度即可计算出待测镜片的偏光轴位(即轴光度)；通过采用检测组件检测透过偏振片的光线的亮度，能够排除人工观察带来的误差，从而提高检测精确度。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种偏光轴位测量装置，其特征在于，包括机架，所述机架上设有发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，所述转动机构和标准偏光组件均位于发光机构和待测镜片之间且与发光机构和待测镜片之间均设有间距，所述转动机构与标准偏光组件固定连接；

所述标准偏光组件包括基准片和偏振片，所述偏振片设置在基准片远离待测镜片的一侧面且均与基准片相互贴合，所述偏振片远离基准片的一侧面上设有检测组件。

2.根据权利要求1所述的偏光轴位测量装置，其特征在于，所述机架上还设有承载架，所述转动机构设置在承载架上，所述转动机构包括第一驱动电机、主动齿轮、从动齿轮、转动环和角度检测件，所述转动环固定套设在标准偏光组件外部，所述主动齿轮固定套设在第一驱动电机的输出轴，所述转动环分别与主动齿轮和从动齿轮啮合，所述从动齿轮通过转轴与角度检测件传动连接。

3.根据权利要求1所述的偏光轴位测量装置，其特征在于，所述待测镜片通过夹持组件安装在机架上，所述夹持组件包括第二驱动电机和两个夹持件，所述机架内腔的两侧壁之间转动连接有双向丝杆，两个所述夹持件分别对称套设在双向丝杆外壁且均与双向丝杆螺纹连接，所述第二驱动电机的输出轴与双向丝杆的一端固定连接；

所述夹持组件还包括限位杆，所述限位杆固定设置在机架内腔的两侧壁之间，两个所述夹持件分别对称套设在限位杆外壁且均与限位杆滑动连接。

4.一种偏光轴位的自校正测量方法，应用于权利要求1-3任意一项所述的偏光轴位测量装置中，包括以下步骤：

步骤S1、控制标准偏光组件沿预设方向旋转360度，在标准偏光组件旋转过程中，当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第一次平行时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第一光照强度和第一转动角度；当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第一次垂直时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第二光照强度和第二转动角度；

步骤S2、当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第二次平行时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第三光照强度和第三转动角度；当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第二次垂直时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第四光照强度和第四转动角度；

步骤S3、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度、第一转动角度、第二转动角度、第三转动角度和第四转动角度，计算得到待测镜片的第一偏光度值；

步骤S4、根据所述第一偏光度值和预设的第一光照强度函数，计算得到待测镜片的第二光照强度函数；

步骤S5、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第二光照强度函数，计算得到第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值；

步骤S6、根据所述第一角度值、第二角度值、第三角度值和第四角度值，计算得到第一平均角度值；

步骤S7、判断所述第一平均角度值是否大于预设的角度基准值；

步骤S8、若否，则将第一偏光度值标记为待测镜片的最终的偏光度值。

5.根据权利要求4所述的偏光轴位的自校正测量方法，其特征在于，步骤S8还包括以下步骤：

步骤S801、若是，则将所述第一平均角度值与第一偏光度值作和，得到待测镜片的第二偏光度值；

步骤S802、根据所述第二偏光度值，计算得到待测镜片的第三光照强度函数；

步骤S803、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第三光照强度函数，计算得到第五角度值、第六角度值、第七角度值和第八角度值；

步骤S804、根据所述第五角度值、第六角度值、第七角度值和第八角度值，计算得到第二平均角度值；

步骤S805、判断所述第二平均角度值是否大于预设的基准值；

步骤S806、若否，则将第二偏光度值标记为待测镜片的最终的偏光度值。

6.根据权利要求5所述的偏光轴位的自校正测量方法，其特征在于，步骤S806还包括以下步骤：

步骤S8061、若是，则将所述第二平均角度值与第二偏光度值作和，得到待测镜片的第三偏光度值；

步骤S8062、根据所述第三偏光度值，计算得到待测镜片的第四光照强度函数；

步骤S8063、根据所述第一光照强度、第二光照强度、第三光照强度、第四光照强度和第四光照强度函数，计算得到第九角度值、第十角度值、第十一角度值和第十二角度值；

步骤S8064、根据所述第九角度值、第十角度值、第十一角度值和第十二角度值，计算得到第三平均角度值；

步骤S8065、判断所述第三平均角度值是否大于预设的基准值；

步骤S8066、若否，则将第三偏光度值标记为待测镜片的最终的偏光度值。

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