TWI344541B - - Google Patents

Description

1344541 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種平面式發光體之檢測系統及方法，尤指 了，包括有一光纖、一量測位置移動機構、一光譜分析儀及一 電腦裝置，藉由上述裝置之連結，俾能由該電腦裝置作出待測 平面式發光體H色溫及輝度的分析與結果顯示者。 【先前技術】

拉隨著網際網路與無線電通訊技術的急遽發展，資訊化漸漸 ^於個人因此，可攜式資訊產品，如筆記型電腦、行動電 居、數位相機、及個人數位助理等，均快速發展與成長。由於 =曰曰顯不器具有薄型化、輕量化、低耗電量、無韓射污染、且 月 =與半導體製程技術相容等優點，並順應著這股網際網路數位 貝5^化市場的興起’產品之應用更呈飛躍性的成長。TFT-LCD 貝示器工業近期在台灣蓬勃發展，帶動相關光學零組件上、中、 下游迅速發展’而在光學零組件新產品設計、開發、驗訊皆需 :賴光絲掌控產品設計品質，因此檢n统穩定、 精度相虽重要’因此機械光學視覺檢測系統廣泛應用於 TFT-LCD各個相關零組件製程上 液晶顯示器挾著許多優異的特性，例如比較不容易使眼睛 低電磁波、低操作電壓、低耗電量以及與半導體相容的 技=，已經成為平面顯示器的主流而且逐漸取代CRT映像 S ^不t，並結合薄膜電晶體（TFT)於短時間就開拓出筆記型 '包市琢並且繼續朝向大型化及大面積化發展。相較於傳統 的陰極制^線管顯示器’液晶顯示器最大的優點在於薄型、輕量’ 以及低消耗電功率。目前液晶顯示器正朝大畫面、高密度化、 1344541 低成本化及彩色化的方向發展，而實現液晶_ 易的架構便是採用背光（BlackLight)搭配、色化最容 Filter)的組合’所以彩色濾光片自然而然’二片（Color 器不可或缺的核心元件之一。而彩色滤光片液ί顯示 化的關鍵元件，透過彩色遽光片才能使高灰階=不為如色 到全彩化。所以彩色遽、光片之作用在於利用遽光= (R)、綠（G)、藍（Β)三原光，再將三原光 式產生、，工 混合而呈現各種色彩，使液晶顯示器得以顯示出二的強弱比例 隨著平面顯示器的技術不斷地推陳出新，二丄。 平面顯示ϋ的標準當然也要同步跟進。雖 義一個 可做色度、色温、亮度的分析，確實可以有效的做都 的效果，而造成產品的損壞。 …、去達到即時檢測 有鑑於此，同領域之業者已開發出如下所列之專利前案： 裝置』⑴中ΛΓ/=ΐ_2691號『平，體視覺檢測 透過-傳輸裝置與一;:軸取裳置之訊號， 有-平面發光體光場輝度檢測副程式裝置、一:== 均勻性檢測副程式裝置、-平面發光體光場量二 副程式裝置、一平面菸水μ , 琢夏碉點數目之设定 置、-平面發光體光/旦#量測點尺寸之設定副程式裝 腦内之微處理器對由圍自動偵測副輕式農置，並由電 面發光體之影像資^=2所=自影_取裝置擷取之平 窗化該量測項目及結果。檢測，並於電腦之顯示器上視 1344541 58G567號『平面發光體視覺檢測 、』〇 . 疋立铋組、供電模組、輝度檢測模组、顯 背光燈管由位置定純_動=:雜駭位。供電模組在 電源並點統管，㈣，輝2賴·置時，提供背光燈管 個輝度訊號；以及資料判斷f=f可組測得背光燈管之複數 對這些輝度訊號作一統計組可儲存這些輝度訊號’並 果不符合-既定標準值時，祕運算結果，當此運算結 組可顯示出來。 、輸出一警示訊號’並透過顯示模 的方民』國558633號『⑽依存之輝度特性 ，二有r量測點，同時一輝 組可在平行二顯 轉至各待量測邊的轉動軸將液晶顯示咐 卜憤，取得各個量測ς::=，使輝度檢測模組對準 再利用這些輝度值計算符合、=待檢測角度時之輝度值， 輝度岣勻性。 之液晶顯示面板角度依存之 能 :述案雖然皆具備液晶顯示面板輝度檢、列功 ^上述之該習用結構並盔五钿ό丄—双于反佾測功 而無法做出檢測液晶顯；面板:位;調ϊ位移的功能設 檢;致無法全面檢測液晶顯示面板之=角土的 …法秦此外，該㈣結構僅是具備輝度檢測^使 1344541 其並無色度、色溫等之檢測功能，因而液晶顯示面板較容 色彩飽和度不佳及色偏的情形產生。 緣是，本發明人有鑑於習用結構所造成諸多的缺失， 明人等人經不斷地努力研發下’終於研發出改善該習用結構缺 失的本發明。

【發明内容】 本發明主要目的在於提供-種具有五個自由度調整位移功 能以做為檢測平面式發光體之位置、範圍及視角上的控制，而 可增加平面式發光體的偵測範圍’因而具有數據收集與分析精 準度誤差值小以及㈣對色度、色溫、亮度作出分析與顯示结 果等特點的平面式發光體之檢測系統及方法。 為達成上述功效’本發明檢測系統所细之技術手段，包

括於該錢之第-端設有-收光口，該量測位置移動機構設有 -供該_之該第二端岐的定位元件，較位元料有相對 於一待測=面式發光體之χ、ΥΑΖ軸位移的功能，使該光纖之 该收光口相被定⑽—待測該平㈣發光體之預定位置上， 用以收集及傳輸待測該平面式發光體所投射的亮度資訊，其 料面式發光體之發光平㈣χ—γ平面，㈣法線方 向為ζ軸’該光譜分㈣無光纖之另翻合用以多重分析 而可產生色度、色溫及輝度之量測值，且於該電腦 、用以儲存色度、色溫及輝度數據資料的資料庫， 光譜分析儀所分析之該量測值與該資料庫中相 :的：數據貝枓進行比對，而可作出待测該平 度、色溫及輝度的分析與結絲示者。 為達成上述功效’本發明_方法所制之技術手段，其 1344541 係將該光纖之该第一端固定於該量測位置移動機構之* 件上，以該量雜置移動機構之較位元 光口往一待測平面式發光體之發光平面之χ、γ及该收 移，使該收光口被定位而朝向一待測該平面式發光體^'向^位 置上，其中，待測該平面式發光體之發光平面為χ γ預疋位 其法線方向為Ζ軸’再以該收光口收集及由該光纖 而 式發光體所投射的亮度資訊，再將該光譜分析儀與該j二平面 端耗合，以多重分析該亮度資訊並產生色度、色溫及輝声= 測值，並於該電腦裝置内建有—用以儲存色度、色溫及 據資料的讀庫，㈣電腦裝置將該光譜分析儀所 ^ 測值與該資料庫巾城_數據㈣進行比對，相 = 置做出待賴平喊發光體之色度、色溫及輝度的分析與結^ 顯示者。 /、、、〇不： 【實施方式】 壹·本發明之基本技術特徵 請參看第一圖所示，本發明主要係做為平面式發光體 • 色度、色溫及輝度的檢測系統，其包括有： 一光纖（10)，其相對地面呈縱軸線延伸，該光纖（1〇)一端 具有一收光口（11); 一量測位置移動機構（20)(如第二至第四圖所示），其具有 一供該光纖（10)之另端固定的定位元件（21),該定位元件（21) ，有相對於一待測平面式發光體（30)之X、Υ及Ζ軸位移的功 此’使該光纖（10 )之該收光口（ 11)得以被定位於待測該平面式 發光體（30)之預定位置上，用以收集及傳輸待測該平面式發光 體（30)所投射的亮度資訊，其中，待測該平面式發光體（3〇)之 1344541 發光平面為Χ-γ平面，而其法線方向為z軸； 一光譜分析儀（4〇)，其與該光纖（10)之另端耦合，用以夕 重分析該亮度資訊而可產生色度、色溫及輝度之量測值；及夕 一電腦裝置（50)，其内建有-用以儲存色度、色溫及 數據資料的資料庫（圖中未示），該電腦裝置（50)將該光譜分^ 儀（40)所分析之該量測值與該資料庫中相應的該數據資^ =行 比對，而可作出待測該平面式發光體（3〇)之色度、色溫及= 的分析與結果顯示。 & 請參看第一圖所示，本發明主要係做為平面式發光體（3〇) 色度、色溫及輝度的檢測方法，其包括有： 提供一量測位置移動機構（2〇)、一光纖（1〇)、一光譜分析 儀（40)及一電腦裝置（5〇)，其中，該光纖（1〇)具有一第一曰端及 一第一端，該光纖（1〇)之該第一端具有一收光口（11); 將名光纖（10)之该第二端固定於該量測位置移動機構（2〇) 之一定位元件（21)上； 以該量測位置移動機構（2〇)之該定位元件（21)驅動該光纖 (10)之該收光口（11)往一待測該平面式發光體（3〇)之發光平面 之X、γ及ζ軸方向位移，使該收光口（11)被定位而朝向一待測 該平面式發絲⑽之歡位置上，其中，待_平面式發光 體（30)之發光平面為χ-γ平面，而其法線方向為ζ軸； 再以該收光口（11)收集及由該光纖（1〇)傳輸該平面式發光 體（30)所投射的亮度資訊； ，該光譜分析儀（40)與該光纖（1〇)之另端耦合’以多重分 析該壳度資訊並產生色度、色溫及輝度之量測值； 10 1344541 數據裝置（5G)㈣有―用以儲存色度、色溫及輝户 資料庫’以該電腦裝置⑽將該光譜分析^ 刀析之h測值與該#料庫中相應_數據#料進行比對 再以該電腦裝置⑽做出待_平面式發光體⑽ X、色溫及輝度的分析與結果顯示。 家·本發明技術特徵之具體實施 ^ 2 · 1量測位置移動機構的具體實施

至四圖所*，本發明之量測位置移動機構主要 纖⑽旦)至平面式發光體(3。)之預定位置上，以進： 〃、且该直測位置移動機構（20)與該電腦裝置（5〇)之— 量、未示）電性連接，使該電腦裝置⑽得以控制該 置移動機構⑽的位移，為達上述,力效，本發明量測位 置移動機構（2〇)之定位元件（21)包含有： X軸驅動模組（23)，用以驅動該定位元件（2丨）帶著兮 測該平面式發光體⑽之該發光面往該

位移； J —Y軸驅動模組（24)，用以驅動該定位元件（21)帶著該光 :、10)相對待測該平面式發*體(3。)之該發光面往該Y轴 位移；及 z軸驅動模組（25)，用以驅動該定位元件（21)帶著該光 / 1〇)相對待測該平面式發光體（3〇)之該發光面往該z軸方向 位。 •月參看第六圖所示，本發明量測位置移動機構（2〇)之第一 ϋ:、體實施例★，其更包括有一方位角驅動模組（26)，用以驅 Λ光纖（1〇)之該收光口（11)相對待測該平面式發光體（30)之 1344541 該X軸旋轉’且該方位角驅動模組（26)包括有一供該平面式發-光體（30)設置的測試平台（22)。

請參看第七圖所示，本發明量測位置移動機構（2〇)之第二 種具體實施例中，其更包括有一高度角驅動模組（27)，用以驅 使该光纖（10)之该收光口（ 11)相對待測該平面式發光體（3〇)之 該Y轴旋轉，且該高度角驅動模組（27)包括有一供該平面式發 光體（30)設置的測試平台（22)。 X 2 · 2光纖的具體實施 請參看第五圖所示，為驅使該光纖（1〇)之該收光口（11)相 對待測該平面式發光體（30)朝向該X軸或γ軸旋轉，本發明光 纖（10)之一種具體實施例中，該光纖（1〇)設有一可撓部（丨2)， 用以調整該收光口相對該平面式發光體（3 〇 )之高度角與方位 角0 請參看第八、九圖所示，為增加檢測範圍，本發明光纖（1〇) 之另一種具體實施例中，鄰近該光纖（10)之該第一端之該收光 口（11)加設有一鏡片加裝模組（6〇)，該鏡片加裝模組（6〇)供安 裝一鏡片（80)介於該光纖（1〇)之該收光口（11)與待測該平面式 發光體（30)之間，用以調整該收光口（11)對待測該平面式發光 體（30)之收集光線範圍，其中，該鏡片（80)係選自透鏡及擴散 鏡片之其中一種。 上述具體實施例中第一種可行實施例，該鏡片加裝模組（60) 包含有： 一固定座（61)，供定位在該光纖（10)上；及 一鏡片定位座（62)，其與該固定座（61)連接，其上設有一 定位部（620)以供裝置該鏡片（80)。 上述具體實施例中第二種可行實施例，該鏡片加裝模組（60) 12 1344541 % ' 包含有： 一固定座（61)，供定位在該光纖（1〇)上； 一鏡片定位座（62)，並樞設在該固定座（61)上，其上設有 複數個定位部（62〇)，每一該定位部（620)供裝置一該鏡片（80)。 上述具體實施例中之可行實施例，係以選用該光纖（10)之 收光口（11)的口徑大小來控制該平面式發光體（3〇)的檢測範 圍。 2 · 3電源供應裝置的具體實施 • 請參看第一圖所示，為使平面式發光體（30)發出亮度資 訊’本發明更包含有一電源供應裝置（70)，用以供應該平面式 發光體（30)所需之電源。 2 · 4平面式發光體的具體實施 請參看第一至第四圖所示，本發明係以平面式發光體（3〇) 做為待測物件，該平面式發光體（3〇)係選自液晶顯示器及電漿 顯示器之其中一種。 2 · 5電腦裝置的具體實施 φ 請參看第一圖所示’本發明之該電腦裝置（50)寫入一三色 光刺激值計算程式，並以該三色光刺激值計算程式算出該平面 式發光體（30)之彩色濾光片在色域座標上的位置，以做為比對 色度之依據。 上述具體實施例中之可行實施例，該量測位置移動機構（2〇) 驅動該光纖（10)係以分析點1. 25μιη的範圍進行逐點分析，且該 電腦裝置（50)寫入有一平面發光體測試程式，該平面發光體測 试程式以免度標準差、最大值、最小值及平均值做為評估該平 面式發光體面板品質之差異性，且該平面發光體測試程式，其 在亮度瑕疫上可以根據亮度最大值與最小值做評估，並可檢測 13 1344541 出光亮度、暗點、色溫、色彩彩度之差異。 清參看第十三圖所示，上述具體實施例中之可行實施例， 該平面發光體測試程式可於電腦裝置（50)之一顯示器（51)中 顯示至少一操作界面，該操作界面顯示有色度值、色溫值、亮 度值、X起始值、γ起始值、X增量值、γ增量值、X轴行程值、 Y軸行程值、開始測試鍵、中斷停止鍵、讀取光譜鍵及結束程 式鍵。 參.本發明具體實施例的運作 凊參看第一圖所示，首先將平面式發光體（3〇)固定於量 測位置移動機構（20)之平台（22)上，並與點燈設備（圖中未示） 以及信號輸入設備（圖中未示）電性連接，調整電源供應裝置（7〇) 之輸入條件，再將平面式發光體（30)之點燈狀態調整至規格值 並予以點亮’待平面式發光體（30)輝度呈現穩定狀態後便可將 信號輸入設備予以開啟，使平面式發光體（3〇)顯示適當之晝面 後便可開始量測，此外，平面式發光體（3〇)之顯示區域與量測 設備配置需依照待測特性之量測規範所設置。 如表一所示’當持續加熱不可燃燒的黑體物質（例如像是鐵， 鶴等金屬）時’在某一段溫度範圍内，黑體會放射出帶有顏色的 黑體轄射（色光）出來’如果我們紀錄下色光顏色與溫度的關 係，會發現到當溫度加熱到某一程度以上時，黑體的顏色會有 紅色-橙色-黃色-白色-藍色的變化，利用此種黑體輻射色光變 化的特性，可以得到顏色表示的簡化方法，即如果某色光的顏 色座標與某一溫度下黑體輪射的顏色座標一致時，則該色光靖 色就可以使用黑體輻射所對應的溫度來表示，此時的溫度稱為 色溫（color temperature) ° 1344541 表一 溫 800K 發紅的鎳絲 IOOOK 备黃的埴火 I200K 發白的爐火 I900K 石蠟燭的火焰，煤A燈火热 2Ί00Κ 2_€稜，乙达炝 27Ί0Κ 扣这瓦斯铨 2860K 10⑽瓦断燈 ^!J20K ^)00¾瓦断燈 3200K 跗⑽以1¾放玦用電焓·閃光燈 3700K 崁弧，乙焕it火灼 3800K '1100K 暴月 ，1棚1( s出後二小時的黃白太缚光 5300K ίϊ雲&天來為太陽的白色白光 mm 晴胡白关高原上太隋的白色£|先 「测00〜 250001( 晴朗的藍天光

首先利用兩張透光片用來測試光亮度分析，將其中一張透 光片塗上有兩種顏色，基於顏色影響透光性，因而會檢測出不 同凴度結果如第十一圖所示，再將另一張透光片塗上有單種顏 色，其檢測出之亮度結果如第十圖所示，並由第十、十—圖可 以做出分析果，以曲面圖做統計整理出來，明顯指出黑色部分 則是以亮度較低以淡紫色顯示出區塊，暗紅色則是輛度稍高: 黃色則是透光片上無塗過痕跡透明區塊，在淡藍色部份出現了 一小塊為一個亮度最高，原因在於此模擬測試是用燈光所照 射，而這燈光之燈罩並非均勻射出燈光所照成區塊上 j 再％參看第十二圖所示，以圓柱鉛塊將寫上『虎尾』二字 予_定’並放置於白光燈上，再用奇異筆在透光片 ’而可顯示出該透光片所透出光的亮暗度，如此 檢測分析出亮度之差显性。

15 !344541 肆.本發明具體實施的成果

本發明之最小量測區域可準確精細至125um，已足以應付 =面上點距為G.25mm左右之平面式發光體⑽的檢測精度需 求’本發明之輝度及色溫㈣提&—種適合和有效率的方法檢 喇，基本上平面式發光體（30)輝度的均勻度為參考實驗數據之 ，果時也是顯示光亮度品質考量因素之一，在輝度瑕庇上 可根據亮度最大值與最小健評估，躲祕的技術開發出新 面板時，同樣要面對製造品質穩定度的分析，若—樣原料、技 術，甚至是相同時間與地點所做出來的數個面板是否在色溫及 色彩彩度有vm質上的差異，為了降低誤比率，由檢測出來的色 溫皆列為品管重要項目之一。 相對以上所提出本發明之檢測方式，可檢測出光亮度、暗 點、色溫、色彩彩度之差異，本發明除了可檢測品質，更可明 確知道各個廠牌技術製造之平面式發光體（3〇)差異性與特性， 在了解弱點之後不斷改進，在改善平面式發光體（3〇)技術上是 一大突破。 所以，本發明主要提供一套自動化供量測彩色濾光片中 R、G、B像素各別的穿透率及在整個气色濾光片上分佈的均勻 度。將所測得的數據與資料庫中的數據作比對，一但有異常現 象便由電腦裝置（50)立即回饋生產中心，對產品的良率提高、 品質提昇及產能增加都有莫大的助益。由於平面式發光體（3〇) 尤其是液晶顯示器之飽和度取決於彩色濾光片的透射光譜，因 此’僅需掌握彩色濾光片穿透率光譜的穩定性，運用本發明已 建立的三色光刺激值計算程式，算出此彩色濾光片在色域座標 上的位置’即可確保平面式發光體（3〇)的色彩飽和鮮豔的品質。 伍.結論 s 16 1344541 因此，藉由上述技術特徵的設置，使得本發明確實具有如 下所列的特點： ' (1) 本發明之定位元件具有五個自由度，可供調整平面式發 光體之檢測位置、範圍及視角。 (2) 本發明X軸驅動模組及γ轴驅動模組雙軸構成汕平面 驅動機制，以使光譜分析儀可為平面式發光體準確精細至 1. 25μιη的精度。 (3) 本發明之電腦裝置可以即時將所測得的數據與資料庫 鲁中的數據作比對，作出色度、色溫、亮度的分析，對產品的良 率提高、品質提昇及產能增加。 、⑷本發明利用標準光源進行光譜與光強校正，因而使得待 測之平面式發光體可以獲得較為正確的色溫以及較佳之色彩飽 和磨。 &以上所述，僅為本發明之一可行實施例，並非用以限定本 ^日^專利朗’凡舉依據下列中請專利範圍所述之内容、特 •1直刹^精神而為之其他變化的等效實施，皆應包含於本發明 且 &圍内。本發明之方法及其機構除上述優點外，並深 界—於用性可有效改善習用所產生之缺失，而且所具體 與2步性明專!!範圍之特徵’未見於同類物品，故而具實用性 鈞局二核：：：發明專利要件’爰依法具文提出申請’謹請 ^核予專利，以維護本中請人合法之權益。 L圖式簡單說明】 ί二本發明基本架構之示意圖。 第：nu糸本發明Χ軸驅動模組之動作示意圖。 第四圖發明Υ軸驅動模組之動作示意圖。 '、發明2軸驅動模組之動作示意圖。 17 1344541 第五圖係本發明高度角與方位角調整之示意圖。 第六圖係本發明另一實施例之方位角調整示意圖。 第七圖係本發明另一實施例之高度角調整示意圖。 第八圖係本發明使用透鏡之實施示意圖。 第九圖係本發明使用擴散鏡片之實施示意圖。 第十圖係本發明亮度檢測結果之示意圖。 第十一圖係本發明另一亮度檢測結果之示意圖。 第十二圖係本發明又一亮度檢測結果之示意圖。 第十三圖係本發明操作界面之示意圖。 【主要體符號說明】 (10)光纖 （Π)收光口 （12)可撓部 (13)透鏡 （14)擴散鏡片 （20)量測位置移動機構 (21)定位元件 （22)平台 （23)X軸驅動模組 (24)Y軸驅動模組 （25)Ζ軸驅動模組（26)方位角驅動模組 (27)高度角驅動模組（30)平面式發光體（40)光譜分析儀 (50)電腦裝置 （51)顯示器 （60)鏡片加裝模組 (61)座體 （62)固定座 （620)定位部 (70)電源供應裝置 （80)鏡片

Claims (1)

1344541 十、專利範圍 1.一種平面式發光體之檢測系 ,, 禾统，其包括有： 第一端及一第 端具有一收光口 端 光纖，其具一定長度，並具 ’該第 一量測位置移動機構，其具 的定位元件，該定位元件具該光纖之該第二端固定 X、Y及Z軸位移的功能，使該上—待測該平面式發光體之 待測該平面式發光體之預定仅置上之该收光口得以被定位於一 面式發光體所投射的亮度資訊，用以收集及傳輪待剛該平 發光平面為X-Y平面，而其法綠方：失待測該平面式發光體之 呵為Z轴； 一光始分析儀，其與該光 亮度資訊而可產生色度、色溫及輝合’用以多重分析該 一電腦裝置，其内建有一用又里測值’及 Γ 腦裝置_==所^ 面該數據資料進行比對’而可作出待； 面式I先體之色度、色溫及輝度的分析與結果顯示。 千 2 .如申請專利範圍第1項所述之檢測系統’ 置移動裝置包含： J〜剛位 測料模組’用以驅動該定位元件帶著該光纖相對待 測5亥千面式發光體之該發光面往該χ轴方向位移； 丹 一 Υ轴驅動模組，用以驅動該定位元件帶 測該平面式發光體之該發光面往該γ軸方向位3纖相對待 測”=3模組’用以驅動該定位元件帶著該光纖相對待 I亥千面式發光體之該發光面往該ζ轴方向位移。 了得 3 ·如中請專利範圍第i項所述之檢_統，其更包括有—方 1344541 位角驅動模組，用以驅使該光纖之該收光口相對待測該平面式 發光體之該X軸旋轉。 4 ·如申請專利範圍第3項所述之檢測系統，其中，該方位角 驅動模組包括有一供該平面式發光體設置的測試平台。 5 ·如申請專利範圍第1項所述之檢測系統，其更包括有一高 度角驅動模組，用以驅使該光纖之該收光口相對待測該平面式 發光體之該Y軸旋轉。 6 ·如申請專利範圍第5項所述之檢測系統，其中，該高度角 驅動模組包括有一供該平面式發光體設置的測試平台。 7 ·如申請專利範圍第1項所述之檢測系統，其中，該量測位 置移動機構與該電腦裝置之一 I/O界面電性連接，使該電腦裝 置得以控制該量測位置移動機構的位移。 8 ·如申請專利範圍第1項所述之檢測系統，其中，鄰近該光 纖之該第一端之該收光口加設有T"鏡片加裝模組，該鏡片加裝 模組供安裝一鏡片介於該光纖之該收光口與待測該平面式發光 體之間，用以調整該收光口對待測該平面式發光體之收集光線 範圍。 9 ·如申請專利範圍第8項所述之檢測系統，其中，該鏡片係 選自透鏡及擴散鏡片之其中一種。 1 0 ·如申請專利範圍第8項所述之檢測系統，其中，該鏡片 加裝模組包含有： 一固定座，供定位在該光纖上；及 一鏡片定位座，其與該固定座連接，其上設有一定位部以 供裝置該鏡片。 1 1 ·如申請專利範圍第8項所述之檢測系統，其中，該鏡片 加裝模組包含有： 20 1344541 " 一固定座，供定位在該光纖上； 一鏡片定位座，並樞設在該固定座上，其上設有複數個定 位部’每一該定位部供裝置一該鏡片。 '1 2 ·如申請專利範圍第丄項所述之檢測系統，其中，更包含 有一電源供應裝置，用以供應該平面式發光體所需之電源。 1 3 .如申請專利範圍第χ項所述之檢測系統’其中，該平面 式發光體係選自液晶顯示器及電漿顯示器之其中二種。 1 4 · 一種平面式發光體專用之檢測方法，其包括有： • 独-量測位置移動機構、m譜分析儀及一電 腦裝置’其中’該光纖具有一第一端及一第二端，該光纖之該 第一端具有一收光口； 將該光纖之該第二端固定於該量測位置移動機構之一定位 元件上； ㈣量測位置移動機構之該定位元件驅動該錢之該收光 口往-待測該平面式發光體之發光平面之X、轴方向位 移，使該收光口被定位而朝向一待測該平面式發光體之預定位 ♦置上，其中，待測該平面式發光體之發光平面為χ_γ平面，而 其法線方向為Ζ軸； 再以該收光口收集及由該光纖傳輸該平面式發光體所投射 的亮度資訊； 將該光譜分析儀與該光纖之另 資訊並產生色度、色溫及輝度之量測值； ”析〜度 並於魏《㈣料 資料的資料庫，以該電腦妒 又 夂輝度數據 褒置將该先譜分析儀所分析之該量測

21 1344541 值與該資料庫中相應的該數據資料進行比對’及 再以該電腦裝置做出待測該不面式發光體之色度、色溫及 輝度的分析與結果顯示。 1 5 ·如申請專利範圍第工4項所述之檢測方法’其中’將该 電腦裝置寫入一個三色光刺激值計算程式，並以邊二色光刺激 值計算程式算出待測該平面式發光髏之彩色濾光片在色域座標 上的位置’以做為比對色度之依據。 1 6 ·如申請專利範圍第丄4項所述之檢測方法，其中，以该 • 量測位置移動機構驅動該光纖以分析點1.25μιη的範圍進行逐 點分析，且該電腦裝置寫入有一爭面發光體測試程式，該平面 發光體測試程式以亮度標準差、最大值、最小值及平均值做為 評估該平面式發光體面板品質之盖異性。 1 7 ·如申請專利範圍第1 6項所述之檢測方法，其中，該平 面發光體測試程式在亮度瑕疫上町以根據亮度最大值與最小值 做評估，並可檢測出光亮度、暗點、色溫、色彩彩度之差異。 1 8 ·如申請專利範圍第i 6項所述之檢測方法，其中，該平 • 面發光體測試程式可於該電腦裝置之一顯示器中顯示至少一操 作界面，该操作界面至少顯示有色度值、色溫值、亮度值、X 起始值、γ起始值、X增量值、Y增量值、X轴行程值、Y軸行 程值、開始測試鍵、中斷停止鍵、讀取光譜鍵及結束程式鍵。 1 9/如申請專利範圍第1 4項所述之檢測方法，其中，係以 #用遠光纖之該收光口 口徑之來控制該平面式發光體的檢 測範圍。 2 0 ·如申凊專利範圍第1 4項所述之檢測方法，其中，所提 供的該量測位置移動裝置包含有： 22 1344541 一 X軸驅動模組，用以驅動该定位元件帶著該光纖相對待 測該平面式發光體之該發光面往該X軸方向位移； 一Y軸驅動模組，用以驅動該定位元件帶著該光纖相對待 測該平面式發光體之該發光面往該γ軸方向位移；及 一 Z軸驅動模組，用以驅動該定位元件帶著該光纖相對待 測该平面式發光體之該發光面往該2軸方向位移。 2 1 ·如申請專利範圍第丄4項所述之檢測方法，其更包括有 提供一方位角驅動模組，用以驅使該光纖之該收光口相對該待 •測該平面式發光體之該X轴旋轉。 θ 2 2 ·如申請專利範圍第2丄項所述之檢測方法，其中，所提 供之該方位角驅動模組包括有一供该平面式發光體設置的測试 平台。 2 3 ·如申請專利範圍第丄4項所述之檢測方法，其更包括有 提供一高度角驅動模組，用以驅使該光纖之該收光口相對該待 測該平面式發光體之該Y軸旋轉。 2 4 .如申請專利範圍第2 3項所述之檢測方法，其中，所提 •供之忒尚度角驅動模組包括有一供該平面式發光體設置的測試 平台。 2 旦、、日丨v如申明專利範圍第1 4項所述之檢測方法，其中，將該 里Μ位置移動機構與該電腦裝置之 =裝置得以控制該量測位置移動機構的= 使該 6如申睛專利範圍第14項所述之檢測方法， 近該光纖之該第1之該收光口提 ς ’於鄰 =Γ供安裝—鏡片介於該光纖之該丄=二2 間，調整該收先°對待測該平面式發：::

23 1344541 2 7 ·如申請專利範圍第2 6項所述之檢測方法，其中，該鏡 片係選自透鏡及擴散鏡片之其中一種。 2 8 ·如申請專利範圍第2 6項所述之檢測方法，其中，該鏡 片加裝模組包含有： 一固定座，供定位在該光纖上；及 一鏡片定位座，其與該固定座連接，其上設有一定位部以 供裝置該鏡片。 2 9 ·如申請專利範圍第2 6項所述之檢測方法，其中，該鏡 片加裝模組包含有： 一固定座，供定位在該光纖上； 一鏡片定位座，並樞設在該固定座上，其上設有複數個定位部， 每一該定位部供裝置一該鏡片。

24