TWI512277B - 顯示器之檢測設備 - Google Patents

顯示器之檢測設備 Download PDF

Info

Publication number
TWI512277B
TWI512277B TW102100318A TW102100318A TWI512277B TW I512277 B TWI512277 B TW I512277B TW 102100318 A TW102100318 A TW 102100318A TW 102100318 A TW102100318 A TW 102100318A TW I512277 B TWI512277 B TW I512277B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
display
light
brightness
detecting
cover
Prior art date
Application number
TW102100318A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201428251A (zh
Inventor
Yu Chiang Lin
Original Assignee
Taiwan Power Testing Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiwan Power Testing Technology Co Ltd filed Critical Taiwan Power Testing Technology Co Ltd
Priority to TW102100318A priority Critical patent/TWI512277B/zh
Priority to US13/848,240 priority patent/US8836932B2/en
Publication of TW201428251A publication Critical patent/TW201428251A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI512277B publication Critical patent/TWI512277B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4257Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0202Mechanical elements; Supports for optical elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0267Sample holders for colorimetry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
    • G01J3/506Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors measuring the colour produced by screens, monitors, displays or CRTs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4247Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)

Description

顯示器之檢測設備
本發明係關於一種顯示器之檢測方法,特別是關於一種用於檢測一顯示器之發光特性之檢測方法。
在日常生活中常常需要許多顯示器來呈現畫面,例如電視機、電腦螢幕及智慧型手機等。而隨著顯示器的需求量的增加,所以顯示器的生產量也隨之增加。
習知的顯示器是利用射出光線來顯示畫面,其顯示的顏色的方式通常是利用調配紅光、綠光及藍光來組合出各種顏色的光。例如顯示器中常用的全彩(true color)是將紅光、綠光及藍光各別設置有256階的發光亮度,透過三種光的組合產生出16777216種顏色。
而為了要判斷顯示器的品質,業者訂定出液晶顯示器品質量測與方法的規範,包括有亮度(brightness)、亮度均勻度(brightness uniformity)、色均勻度(color uniformity)、對比(contact)、色度(color chromaticity)、色域(color gamut)、色溫軌跡(color tracking)、反應時間(response time)、及階調(gamma)等。
這些檢測的方法有許多嚴格的規定,例如亮度的檢測必須在環境漏光小於2勒克斯(lux)之暗室(darkroom)內進行。這方法不容易在生產線上實現,所以通常需另外將顯示器移到暗室中方能進行檢測。或者是,因為亮度均勻度需要進行多點檢測,所以使用傳統的照度計(lux meter)檢測時,檢測員必須要不斷改變檢測的位置,而人工檢測會導致每次檢測的位置會有差異。或者是,色度、色均勻度需要進行多色光檢測, 需要使用不同光波長的照度計作檢測,更增加了檢測的步驟。
然而,上述的習知檢測方式,因為不容易快速檢測,所以無法作百分之百的檢測,只能採用抽測方式。 而且人工檢測的方式容易因個體或精神生理等條件而造成檢測的差異,檢測的標準無法明確地統一。再者,即使是同一批生產的顯示器也可能因為原料、組裝及人為因素等原因,而造成其顯示組態一樣但顯示的發光特性不同的情況。
緣此,本發明之目的即是提供一種顯示器之檢測設備,用以快速檢測一顯示器之發光特性,且能有效適用於自動化的檢測方式。
本發明為解決習知技術之問題所採用之技術手段係提供一種顯示器之檢測設備,用於檢測一顯示器之發光特性,檢測設備包含一檢測承台、一罩體、及一數據分析機構。檢測承台用於承載顯示器;罩體具有一光感應面,光感應面上設有複數個光亮度感應器,罩體遮罩於顯示器之一顯示發光面而在顯示發光面與罩體之光感應面之間形成一暗室,而藉由這些光亮度感應器感應顯示發光面之複數個待測區而產生對應的光亮度資訊;數據分析機構接收這些光亮度資訊,並且依據這些光亮度資訊而分析出顯示器之發光特性。
在本發明的一實施例中,光亮度感應器呈陣列式排列。
在本發明的一實施例中,光亮度資訊為一電訊號。
在本發明的一實施例中,檢測承台更包括一升降機構以調整罩體的高度。
在本發明的一實施例中,檢測承台更包括一輸送機構以輸送顯示器至設置有罩體之一檢測區域。
在本發明的一實施例中,更包括一顯示畫面調整機構,用於調整顯示器之顯示畫面。
在本發明的一實施例中,光亮度感應器包括一全光波長亮度感應器,以感應全光波長之光亮度。
在本發明的一實施例中,光亮度感應器包括一紅光亮度感應器、一綠光亮度感應器及一藍光亮度感應器,以感應紅光、綠光或藍光之光亮度。
在本發明的一實施例中,更包括一訊號切換讀取機構,訊號切換讀取機構電性連接這些光亮度感應器,以切換讀取方式而依序擷取這些光亮度資訊,並將所擷取之光亮度資訊傳送至數據分析機構。
在本發明的一實施例中,更包括一顯示組態調整機構,依據數據分析機構判斷出之顯示器之發光特性而調整顯示器之一顯示組態。
經由本發明所採用之技術手段,可以使得顯示器在生產組裝時,就能快速檢測顯示器的發光特性,且容易實施於現有的生產線上,並且依據檢測的結果,立即調整顯示器的顯示組態,使每一個顯示器的顯示畫面能達到標準且統一。
本發明所採用的具體實施例,將藉由以下之實施例及附呈圖式作進一步之說明。
參閱第1圖至第7圖所示,顯示器之檢測設備100 用於檢測一顯示器1之發光特性,發光特性包括有亮度、亮度均勻度、色均勻度、對比、色度、色域、色溫軌跡、反應時間、及階調等。檢測設備100包括有一檢測承台2、一罩體3、一顯示畫面調整機構4、一訊號切換讀取機構5、一數據分析機構6、及一顯示組態調整機構7。
顯示器1在本實施例中是一液晶螢幕,具有一顯示發光面11,顯示發光面11上界定有複數個待測區111,當然,本發明不限於此,顯示器1也可以是映像管螢幕或其他採用射出光線來顯示畫面之顯示器。
檢測承台2用來承載顯示器1,檢測承台2具有一檢測區域21並設置有一升降機構22,罩體3是設置於檢測區域21之上方,並透過升降機構22來調整高度,使得罩體3可以依不同高度來遮罩住顯示器1。升降機構22是利用一氣壓式支撐管221來支撐及調整檢測承台2之高度。在另一實施例中,如第2圖所示,檢測承台2更設置有一輸送機構23,用來輸送顯示器1至檢測區域21。藉著輸送機構23輸送顯示器1,而升降機構22控制罩體3來遮罩住顯示器1以達到自動化檢測的成效,並且能適用於現有的生產線上。
罩體3具有一光感應面31,光感應面31上設有九個光亮度感應器32,罩體3遮罩於顯示器1之顯示發光面11而在顯示發光面11與罩體之光感應面31之間形成一暗室D,而藉由這些光亮度感應器32感應顯示發光面11之待測區111而產生對應的光亮度資訊。詳細而言,如第3圖所示,光亮度感應器32是呈陣列式排列而能平均地感應顯示發光面11之待測區111的亮度。在本實施例中,光亮度感應器32為一種光電感應 器,是利用光能轉電能的方式偵測光的亮度而產生一電訊號,電訊號即為光亮度資訊。光亮度感應器32包括一全光波長亮度感應器321以及一訊號線322。全光波長亮度感應器321用來感應全光波長之光亮度。訊號線322將產生的光亮度資訊傳送至訊號切換讀取機構5。在另一實施例中,如第4圖所示,光亮度感應器32更包括一紅光亮度感應器323、一綠光亮度感應器324及一藍光亮度感應器325,以感應紅光、綠光或藍光之光亮度,並且這三色光之感應器323、324及325與全光波長亮度感應器321緊鄰設置在一起而成一光亮度感應器組320,這些光亮度感應器組320呈陣列式排列。因為光亮度感應器32的大小很小,所以光亮度感應器緊鄰在一起時所感應的區域是相當接近的,如此一來,光亮度感應器組320中之各色光之光亮度感應器321、323、324、及325能感應鄰近或相同的待測區111的各種色光,以用於需要對鄰近或相同的待測區111作各種色光之亮度的量測與分析,例如色均勻度,色溫等。當然,本發明不限於此,配合不同的用途,可以設置更多個光亮度感應器32,或是其他色光的感應器,而且也可以採取同心圓或不規則等方式排列設置。再者,如第5圖所示,在本實施例中,罩體3之光感應面31是向內凹,當罩體3緊貼於顯示器1之顯示發光面11時,使得顯示發光面11與罩體之光感應面31之間完全不透光而成一暗室D。當然,本發明不限於此,如第6圖所示,罩體3也可以使用一遮光布33將顯示器1完全遮住,或是如第7圖所示,罩體3之光感應面31是完全緊貼著顯示器1之顯示發光面11,而使待測區111與光亮度感應器32之間完全不透光。
顯示畫面調整機構4連接調整顯示器1,用於調整顯示器1之顯示畫面。譬如,依據數據分析機構6的要求來調整顯示器1顯示單一色彩、全亮或全暗等。
訊號切換讀取機構5電性連接每一個光亮度感應器32以切換讀取方式而依序擷取光亮度資訊,並將所擷取之光亮度資訊傳送至數據分析機構6。詳細而言,訊號切換讀取機構5為一種交換器(switch),光亮度感應器32之訊號線322集合連接至訊號切換讀取機構5,訊號切換讀取機構5快速切換訊號線322而使訊號線322依序導接數據分析機構6,使得光亮度感應器32產生的光亮度資訊依序傳遞至數據分析機構6。再者,因為現在的交換器切換速率相當快,所以即使是光亮度感應器的數量達數百顆也只需要幾微秒就能完成讀取及傳送光亮度資訊。如此一來,達到幾乎同步感應每一個待測區111之亮度並且傳送其對應之光亮度資訊至數據分析機構6的成效,因此能在極短的時間內快速檢測顯示器1之多待測區111之亮度。
數據分析機構6接收訊號切換讀取機構5所擷取的光亮度資訊後,依據光亮度資訊而分析出該顯示器之發光特性。譬如,亮度均勻度是將全部之光亮度資訊中之最大的全光波長亮度值除上最小的全光波長亮度值而得到。或者是根據光亮度資訊以及顯示器顯示畫面的時間差而分析出顯示器1之反應時間。
顯示組態調整機構7依據該數據分析機構6判斷出之顯示器1之發光特性而調整顯示器1之一顯示組態。譬如,當某一個顯示器的液晶分子層因原料問題而造成比較容易隨著電場而扭曲排列,所以輸入標準電場值會造成此顯示器與其他顯示器的發光特性有異時,則顯示 組態調整機構7調整顯示器1之顯示組態,即輸入之預設電場值,使此顯示器的發光特性達到標準值。
參閱第8圖所示,其係顯示本發明顯示器之檢測設備之方塊圖。顯示器之檢測設備100是將罩體3遮罩住顯示器1之顯示發光面11後,數據分析機構6通知顯示畫面調整機構4去調整顯示器之顯示畫面。接著罩體3之光亮度感應器32感應後產生對應的光亮度資訊。 然後訊號切換讀取機構5依序擷取光亮度資訊並將光亮度資訊傳送至數據分析機構6。再者,數據分析機構6依據光亮度資訊而分析出該顯示器之發光特性。最後,顯示組態調整機構7依據該數據分析機構6判斷出之顯示器1之發光特性而調整顯示器1之顯示組態。如此一來,透過本發明之顯示器之檢測設備,可以快速地檢測出每一個顯示器的發光性質而達到百分之百的抽檢率的成效,並且根據檢測的發光性質立即對顯示器1作出調整,使每個顯示器的畫面都達到標準且統一。
以上之敘述僅為本發明之較佳實施例說明,凡精於此項技藝者當可依據上述之說明而作其它種種之改良,惟這些改變仍屬於本發明之發明精神及以下所界定之專利範圍中。
100‧‧‧檢測設備
1‧‧‧顯示器
11‧‧‧顯示發光面
111‧‧‧待測區
2‧‧‧檢測承台
21‧‧‧檢測區域
22‧‧‧升降機構
221‧‧‧氣壓式支撐管
23‧‧‧輸送機構
3‧‧‧罩體
31‧‧‧光感應面
32‧‧‧光亮度感應器
320‧‧‧光亮度感應器組
321‧‧‧全光波長亮度感應器
322‧‧‧訊號線
323‧‧‧紅光亮度感應器
324‧‧‧綠光亮度感應器
325‧‧‧藍光亮度感應器
33‧‧‧遮光布
4‧‧‧顯示畫面調整機構
5‧‧‧訊號切換讀取機構
6‧‧‧數據分析機構
7‧‧‧顯示組態調整機構
第1圖係顯示本發明之一實施例之顯示器之檢測設備之立體圖。
第2圖係顯示本發明之另一實施例之顯示器之檢測設備之立體圖。
第3圖係顯示本發明之一實施例之顯示器之檢測設備之光感應面之示意圖。
第4圖係顯示本發明之另一實施例之顯示器之檢測設 備之光感應面之示意圖。
第5圖係顯示本發明之一實施例之顯示器之檢測設備之罩體剖面示意圖。
第6圖係顯示本發明之另一實施例之顯示器之檢測設備之罩體剖面示意圖。
第7圖係顯示本發明之另一實施例之顯示器之檢測設備之罩體剖面示意圖。
第8圖係顯示本發明之一實施例之顯示器之檢測設備之方塊圖。
100‧‧‧顯示器之檢測設備
1‧‧‧顯示器
11‧‧‧顯示發光面
111‧‧‧待測區
2‧‧‧檢測承台
21‧‧‧檢測區域
22‧‧‧升降機構
221‧‧‧氣壓式支撐管
3‧‧‧罩體
31‧‧‧光感應面
32‧‧‧光亮度感應器
321‧‧‧全光波長亮度感應器
322‧‧‧訊號線
4‧‧‧顯示畫面調整機構
5‧‧‧訊號切換讀取機構
6‧‧‧數據分析機構
7‧‧‧顯示組態調整機構

Claims (10)

  1. 一種顯示器之檢測設備,係用於檢測一顯示器之發光特性,該檢測設備包含:一檢測承台,用於承載該顯示器;一罩體,具有一光感應面,該光感應面上設有複數個光亮度感應器,該罩體係遮罩緊貼於該顯示器之一顯示發光面而以由該罩體及該顯示發光面圍置形成一暗室,藉此以使該些光亮度感應器感應該顯示發光面之複數個待測區而產生對應的光亮度資訊;一數據分析機構,接收該些光亮度資訊,並且依據該些光亮度資訊而分析出該顯示器之發光特性。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器之檢測設備,其中該些光亮度感應器係呈陣列式排列。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器之檢測設備,其中該光亮度資訊為一電訊號。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器之檢測設備,其中該檢測承台更包括一升降機構以調整該罩體的高度。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器之檢測設備,其中該檢測承台更包括一輸送機構以輸送該顯示器至設置有該罩體之一檢測區域。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器之檢測設備,更包括一顯示畫面調整機構,用於調整該顯示器之顯示畫面。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器之檢測設備,其中該光亮度感應器包括一全光波長亮度感應器以感應全光波長之光亮度。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器之檢測設備,其中該光亮度感應器係包括一紅光亮度感應器、一綠光亮 度感應器及一藍光亮度感應器,以感應紅光、綠光或藍光之光亮度。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器之檢測設備,更包括一訊號切換讀取機構,該訊號切換讀取機構電性連接該些光亮度感應器,以切換讀取方式而依序擷取該些光亮度資訊,並將所擷取之光亮度資訊傳送至該數據分析機構。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器之檢測設備,更包括一顯示組態調整機構,依據該數據分析機構判斷出之顯示器之發光特性而調整該顯示器之一顯示組態。
TW102100318A 2013-01-04 2013-01-04 顯示器之檢測設備 TWI512277B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW102100318A TWI512277B (zh) 2013-01-04 2013-01-04 顯示器之檢測設備
US13/848,240 US8836932B2 (en) 2013-01-04 2013-03-21 Inspecting equipment for inspecting a light emission characteristic of a monitor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW102100318A TWI512277B (zh) 2013-01-04 2013-01-04 顯示器之檢測設備

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201428251A TW201428251A (zh) 2014-07-16
TWI512277B true TWI512277B (zh) 2015-12-11

Family

ID=51060741

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW102100318A TWI512277B (zh) 2013-01-04 2013-01-04 顯示器之檢測設備

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8836932B2 (zh)
TW (1) TWI512277B (zh)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103674496B (zh) * 2013-12-23 2016-05-25 京东方科技集团股份有限公司 光源发光特性检测装置
CN105372511A (zh) * 2014-08-25 2016-03-02 研祥智能科技股份有限公司 一种自动对接装置及其机器视觉检测系统
CN105701436A (zh) * 2014-11-27 2016-06-22 英业达科技有限公司 检测显示模块间隙宽度的方法
CN104680962B (zh) * 2015-03-25 2018-01-30 合肥京东方光电科技有限公司 一种测试显示模组的光学特性的方法、装置及系统
CN104898312A (zh) 2015-06-25 2015-09-09 京东方科技集团股份有限公司 一种背光源检测装置及检测方法
CN204824868U (zh) * 2015-07-22 2015-12-02 德州众和环保装备制造有限公司 厌氧罐沼气搅拌装置
CN107101719A (zh) * 2016-02-19 2017-08-29 富泰华工业(深圳)有限公司 透光检测设备
CN105510006A (zh) * 2016-02-29 2016-04-20 四川聚能核技术工程有限公司 一种led面阵光源均匀度测量装置及其测定方法
WO2018220841A1 (ja) * 2017-06-02 2018-12-06 堺ディスプレイプロダクト株式会社 表示パネル用検査装置および表示パネル用検査方法
WO2018220840A1 (ja) * 2017-06-02 2018-12-06 堺ディスプレイプロダクト株式会社 表示パネル用検査装置および表示パネル用検査方法
CN107389316B (zh) * 2017-07-19 2020-11-10 京东方科技集团股份有限公司 显示面板测试装置和显示面板测试方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1661423A (zh) * 2004-02-23 2005-08-31 De&T株式会社 平板显示器的检验装置
TW200622219A (en) * 2004-09-22 2006-07-01 Eastman Kodak Co Uniformity and brightness measurement in oled displays
TW200827690A (en) * 2006-12-22 2008-07-01 All Ring Tech Co Ltd A test platform for light on test of LCD panels
TW200921078A (en) * 2007-11-07 2009-05-16 Univ Nat Formosa Inspection system for planar light emitting object and method thereof
CN101451909A (zh) * 2007-12-05 2009-06-10 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 显示面板的检查方法及检查装置
CN101464187A (zh) * 2007-12-18 2009-06-24 三星电子株式会社 光传感器测试单元、测试光传感器的方法以及显示设备
TW200928339A (en) * 2007-12-26 2009-07-01 Toshiba Kk Display panel brightness measuring device, brightness measuring method and displaying apparatus of the same
TW200949224A (en) * 2008-05-23 2009-12-01 Chi Mei Comm Systems Inc Apparatus and method for testing color gradation of a screen
CN101726404A (zh) * 2008-10-15 2010-06-09 中茂电子(深圳)有限公司 具有多个发光元件的发光组件的检测机台及其检测方法
TW201031902A (en) * 2009-02-23 2010-09-01 Ind Tech Res Inst Measurement method and display
TW201118353A (en) * 2009-11-18 2011-06-01 Univ Nat Formosa A novel method and equipment for measuring chromaticity coordinate and intensity of light
WO2012066959A1 (ja) * 2010-11-15 2012-05-24 富士フイルム株式会社 光学特性測定装置及び方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3333686B2 (ja) * 1996-06-28 2002-10-15 松下電器産業株式会社 表示画面検査方法
KR100448188B1 (ko) * 2000-01-24 2004-09-10 삼성전자주식회사 화질검사장치 및 화질검사방법
US7308157B2 (en) * 2003-02-03 2007-12-11 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for optical inspection of a display
KR101286534B1 (ko) * 2008-02-29 2013-07-16 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 검사장치 및 검사방법

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1661423A (zh) * 2004-02-23 2005-08-31 De&T株式会社 平板显示器的检验装置
TW200622219A (en) * 2004-09-22 2006-07-01 Eastman Kodak Co Uniformity and brightness measurement in oled displays
TW200827690A (en) * 2006-12-22 2008-07-01 All Ring Tech Co Ltd A test platform for light on test of LCD panels
TW200921078A (en) * 2007-11-07 2009-05-16 Univ Nat Formosa Inspection system for planar light emitting object and method thereof
CN101451909A (zh) * 2007-12-05 2009-06-10 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 显示面板的检查方法及检查装置
CN101464187A (zh) * 2007-12-18 2009-06-24 三星电子株式会社 光传感器测试单元、测试光传感器的方法以及显示设备
TW200928339A (en) * 2007-12-26 2009-07-01 Toshiba Kk Display panel brightness measuring device, brightness measuring method and displaying apparatus of the same
TW200949224A (en) * 2008-05-23 2009-12-01 Chi Mei Comm Systems Inc Apparatus and method for testing color gradation of a screen
CN101726404A (zh) * 2008-10-15 2010-06-09 中茂电子(深圳)有限公司 具有多个发光元件的发光组件的检测机台及其检测方法
TW201031902A (en) * 2009-02-23 2010-09-01 Ind Tech Res Inst Measurement method and display
TW201118353A (en) * 2009-11-18 2011-06-01 Univ Nat Formosa A novel method and equipment for measuring chromaticity coordinate and intensity of light
WO2012066959A1 (ja) * 2010-11-15 2012-05-24 富士フイルム株式会社 光学特性測定装置及び方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20140192351A1 (en) 2014-07-10
TW201428251A (zh) 2014-07-16
US8836932B2 (en) 2014-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI512277B (zh) 顯示器之檢測設備
CN109119356B (zh) 阵列基板的检测设备及检测方法
KR101126094B1 (ko) 공간적으로 변화 가능한 백라이트를 갖는 디스플레이들의 캘리브레이션
US9135851B2 (en) Methods and systems for measuring and correcting electronic visual displays
KR101692115B1 (ko) 검사 장치 및 검사 방법
US20130201321A1 (en) Method and apparatus for testing light-emitting device
WO2010146733A1 (ja) 表示パネルの欠陥検査方法および欠陥検査装置
TWI328108B (zh)
US9176004B2 (en) Imaging sensor array testing equipment
CN102768017B (zh) 线宽量测装置及其方法
WO2021006379A1 (ko) 디스플레이 화소 자동 검사 시스템 및 방법
CN208459716U (zh) 一种液晶显示屏检测装置
CN104867429B (zh) 显示器的检测设备
TWI588499B (zh) 發光裝置之測試方法及設備
US9218655B2 (en) Brightness measuing method and system of device with backlight
KR102377250B1 (ko) 분수 픽셀들을 사용하여 전자 시각 디스플레이들을 측정하기 위한 방법들 및 시스템들
US20110098957A1 (en) Measurement apparatus and method for rapid verification of critical optical parameters of a viewing display device screen and viewing environment
KR101989116B1 (ko) 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 방법 및 장치
KR101449603B1 (ko) 조명 검사 장치
KR20150057255A (ko) Ir 센서용 인쇄 패턴의 투과율 검사 장치
KR20180079126A (ko) 분광분석을 통한 평판 Display의 Panel과 모듈의 불량 검사 방법과 장치
TW201430326A (zh) 具背光之裝置的亮度量測方法及系統
JP2014032073A (ja) パターン形成物の検査エリア設定方法および検査装置
TWI220689B (en) An inspection system and method for the inspection of a display device
TWI387740B (zh) 光源資料偵測方法及其設備以及顯示裝置組裝方法