KR20160018328A - 광학 필름 첩부 위치 측정 장치 - Google Patents

광학 필름 첩부 위치 측정 장치 Download PDF

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Abstract

광학 표시 장치에 대해서 화상 데이터를 찍는 것에 의해 간단하게 고정밀도로 광학 필름의 첩부 위치를 측정할 수 있는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치를 제공하는 것이다.
광학 소자에 광학 필름이 첩부된 광학 표시 장치에 대해서 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치이며, 프레임과, 그 프레임의 일단 측에 설치되며, 적외선을 출사하는 적외선 광원과, 그 프레임의 타단 측에 설치되며, 그 적외선이 입사하도록 설치되는 촬영 수단과, 적외선 광원과 촬영 수단과의 사이에 설치되는 링 광원을, 갖추며, 그 적외선 광원과 그 링 광원은, 광축이 거의 같은 축이며, 빛의 출사 방향이 대향하고, 그 사이를 광학 표시 장치가 통과할 수 있도록 공간이 형성되어 있다. 이 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 의해, 적외선 광원과 링 광원을 병용하여 광학 필름의 첩부 위치를 측정하고, 간단한 구성으로 고정밀도의 측정을 실현할 수 있다.

Description

광학 필름 첩부 위치 측정 장치{Apparatus for Measuring the Position for Applying Optical Film}
본 발명은 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 관한 것이다.
디스플레이를 제조하는 공정에 있어서, 광학 표시 장치의 표시 기능을 실현하기 위해, 광학 소자에 광학 필름을 첩부할 필요가 있다. 이 경우, 광학 필름의 첩부 정밀도는, 제품이 된 광학 표시 장치의 표시 품질에 긴밀히 관련하고 있다.
그리고, 광학 표시 장치에 있어서의 광학 필름의 첩부 오차량을 검출하는 기술은, 종래부터 알려져 있다. 예를 들면, 특허 문헌 1에는, 편광판을 액정 패널에 첩부한 후에, 도 1에 나타내는 바와 같이, 액정 패널(1)의 네 모퉁이의 어느 한쪽 또는 복수의 엣지부 부근을 액정 패널(1) 측면에 대해서 수직이 되는 방향으로부터 CCD 카메라(28, 29)에 의해 촬영하고, 촬영된 화상 중의 액정 패널(1) 단부로부터 편광판(3) 단부까지의 거리를 화상 처리에 의해 측정하고, 양품인지 아닌지를 판단하는 첩부 정밀도 검사 방법이 개시되어 있다.
또한, 특허 문헌 2에는, 액정 패널에 첩합한 편광판의 네 모퉁이의 모든 것을 카메라로 촬영하고, 얻어진 화상 데이터를 이용하여 편광판의 첩부 오차량 등을 산출하는 방법이 개시된다.
특개 2004-233184 특개 2011-197281
그러나, 특허 문헌 1에 개시된 편광판의 첩부 오차량의 검출 방법에서는, 액정 패널의 측면에 대해서 수직인 방향으로부터 액정 패널의 네 모퉁이를 촬영한다. 그러나, 액정 패널 및 편광판은, 그 두께가 작기 때문에, 이 측정 방법 자체의 정밀도가 확보하기 어렵다. 또한, 특허 문헌 2의 방법에 의하면, CCD 카메라를 이용하여 액정 패널의 네 모퉁이를 촬영하지만, 액정 패널과 편광판과의 경계가 뚜렷이 찍히지 않고, 고정밀도의 측정을 할 수 없는 문제점이 있다.
본 발명은, 상기 문제점을 해결하기 위해서 이루어진 것이고, 광학 표시 장치에 대해서 화상 데이터를 찍는 것에 의해 간단하게 고정밀도로 광학 필름의 첩부 위치를 측정할 수 있는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치를 제공하는 것을 해결해야 할 과제로 한다.
본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 광학 소자에 광학 필름이 첩부된 광학 표시 장치에 대해서 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 것이고, 프레임과, 그 프레임의 일단 측에 설치되며, 적외선을 출사하는 적외선 광원과, 그 프레임의 타단 측에 설치되며, 상기 적외선이 입사하도록 설치되는 촬영 수단과, 상기 적외선 광원과 상기 촬영 수단과의 사이에 설치되는 링 광원을, 갖추며, 상기 적외선 광원과 상기 링 광원은, 광축이 거의 같은 축이며, 빛의 출사 방향이 대향하고, 그 사이에 상기 광학 표시 장치가 통과할 수 있는 공간이 설치되어 있는 것을 특징으로 한다.
이 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 의해, 적외선 광원과 링 광원을 병용하여, 그 사이에 통과하는 광학 표시 장치의 화상을 찍을 수 있고, 광학 필름의 위치가 정확하게 측정할 수 있다.
또한, 이 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 상기 적외선 광원으로부터 출사한 적외선이 상기 광학 표시 장치를 투과하고, 그 투과광에 의해 광학 소자 내부에 있어서의 블랙 매트릭스의 단부와 상기 광학 필름의 외연과의 거리를 촬영하고, 상기 링 광원으로부터 출사한 빛이 상기 광학 표시 장치에 의해 반사되며, 그 반사광에 의해, 광학 소자의 외연과 상기 광학 필름의 외연과의 거리를 촬영하도록 구성해도 좋다.
이것에 의해, 광학 소자에 있어서의 블랙 매트릭스의 단부가 기준으로서 광학 필름의 위치를 측정하기 때문에, 보다 정확하게 광학 필름의 위치를 측정할 수 있다.
또한, 상기 적외선 광원과 상기 광학 표시 장치의 사이에 확산판을 더 갖추어도 좋다. 이것에 의해, 출사된 적외선이 균일하게 확산되며, 화상의 질이 한층 향상할 수 있게 된다.
또한, 상기 촬영 수단은, 촬영된 화상 데이터를 화상 처리 장치로 송신하도록 구성된다. 이것에 의해, 투과광에 의해 촬영한 화상과 반사광에 의해 촬영한 화상이 화상 처리 장치에서 편광 필름의 첩부 위치가 이중으로 확인할 수 있기 때문에, 보다 정확하게 광학 필름의 첩부 위치를 측정할 수 있다.
본 발명은, 또한 광학 필름을 광학 소자의 양면에 첩부하여 광학 표시 장치를 제조하는 광학 표시 장치 제조 라인을 제공한다. 이 제조 라인은, 상기 광학 소자의 일면에 제 1 광학 필름을 첩부하는 제 1 광학 필름 첩부 장치와, 상기 광학 소자의 타면에 제 2 광학 필름을 첩부하는 제 2 광학 필름 첩부 장치를, 차례차례 갖춘다. 상기 제 1 광학 필름 첩부 장치와 상기 제 2 광학 필름 첩부 장치와의 사이에, 본 발명에 관한 광학 필름 첩부 위치 측정 장치가 배치되며, 상기 제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정하고, 상기 제 2 광학 필름 첩부 장치의 하류 측에, 본 발명에 관한 광학 필름 첩부 위치 측정 장치가 배치되며, 상기 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정한다. 상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 어느 한쪽의 배치 장소에 있어서, 적어도 상기 광학 표시 장치의 한 모퉁이에 배치된다. 또한, 측정의 정확성을 향상하기 위해, 상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 상기 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치에 대해서 동일 측이 되도록 광학 표시 장치의 네 모퉁이에 배치되는 것이 바람직하다.
이것에 의해, 광학 필름의 첩부가 완성할 때마다, 그 광학 필름의 첩부 위치를 곧바로 측정하고, 불량이라고 판단하면, 즉시 처리할 수 있기 때문에, 수율을 향상할 수 있다.
또한, 상기의 제조 라인에 있어서, 상기 제 2 광학 필름 첩부 장치의 하류 측에만, 본 발명에 관한 광학 필름 첩부 위치 측정 장치가 배치되며, 상기 제 1 광학 필름과 상기 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 동시에 측정하도록 구성할 수도 있다. 상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 적어도 상기 광학 표시 장치의 인접하는 두 모퉁이에 배치되며, 인접에 배치되는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 상기 촬상 수단은, 상기 광학 표시 장치에 대해서 다른 방향이 되도록 배치된다. 또한, 측정의 정확성을 향상하기 위해, 상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 상기 광학 표시 장치의 네 모퉁이에 설치되며, 대각에 있는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치의 동일 측에 위치하고, 인접하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치의 다른 측에 위치하도록 배치하는 것이 바람직하다.
이것에 의해, 광학 소자의 양면에 광학 필름의 첩부가 완성된 후에, 양면의 광학 필름의 첩부 위치를 일괄로 측정할 수 있고, 장치가 간소하게 되고, 생산율도 향상할 수 있다.
상기의 제조 라인에 있어서, 상기 제 2 광학 필름 첩부 장치의 하류 측에, 제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치와, 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치가, 각각 2부분에 순차 배치되며, 상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치이고, 제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치에 대해서 일측에 위치하고, 상기 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치의 반대 측에 위치하도록 구성한다. 또한, 측정의 정확성을 향상하기 위해, 제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치와, 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 상기 광학 표시 장치의 네 모퉁이에 배치되는 것이 바람직하다.
광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 의해, 적외선 광원과 링 광원을 병용하여, 그 사이에 통과하는 광학 표시 장치의 화상을 찍을 수 있고, 광학 필름의 위치가 정확하게 측정할 수 있다.
광학 표시 장치 제조 라인에 의해, 광학 필름의 첩부가 완성할 때마다, 그 광학 필름의 첩부 위치를 곧바로 측정하고, 불량이라고 판단하면, 즉시 처리할 수 있기 때문에, 수율을 향상할 수 있다.
도 1은, 종래 기술에 있어서의 CCD 카메라에 의해 광학 필름의 첩부 오차를 측정하는 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는, 본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 사시도이다.
도 3은, 본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 구성을 나타내는 모식도이다.
도 4는, 편광 필름이 첩부된 액정 패널의 단면도이다.
도 5(a)는, 적외선 투과 조명으로 촬영된 편광 필름이 첩부된 액정 패널의 화상을 나타내는 도면이다.
도 5(b)는, 링 조명으로 촬영된 편광 필름이 첩부된 액정 패널의 화상을 나타내는 도면이다.
도 6은, 액정 패널 제조 라인에 있어서의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 일 배치예이다.
도 7은, 본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 액정 패널에 대한 일 배치예이다.
도 8은, 액정 패널 제조 라인에 있어서의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 다른 배치예이다
도 9는, 본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 액정 패널에 대한 다른 배치예이다.
도 10은, 액정 패널 제조 라인에 있어서의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 또 다른 배치예이다.
도 11은, 본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 액정 패널에 대한 또 다른 배치예이다.
이하, 본 발명의 구체적인 실시 형태를 자세하게 설명한다. 덧붙여, 이하의 실시 형태에 있어서는, 일례로서, 액정 셀에 광학 필름을 첩부하여 액정 패널을 제조하는 경우에 대해서 설명한다.
본 발명에 관한 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 광학 필름을 액정 셀에 첩부하여 액정 패널을 제조하는 제조 라인에 적용되며, 광학 필름을 액정 셀에 붙이는 정밀도를 검사하는 장치이다.
다음에, 액정 셀(C1)의 양면에 각각 편광 필름(F1)을 첩부하는 예로서, 본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)의 구성 및 동작을 설명한다.
덧붙여, 본 발명에서는, 2매의 투명 기판의 사이에 액정 재료가 충전되어 셀화된 것은 액정 셀로 부르며, 이 액정 셀의 한쪽 면 또는 양면에 광학 필름이 첩부되어 이루어진 것은 액정 패널로 부른다.
이 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 도 2 및 도 3에 나타내는 바와 같이, L형 프레임(6)의 일단 측(기초부)에 설치된 적외선 광원(1)과, 그 프레임(6)의 타단 측(암부의 단부 측)에 설치된 촬영 수단(3)과, 적외선 광원(1)과 촬영 수단(3)의 사이에 있어서, 이 프레임(6)의 암부의 도중에 설치된 링 광원(2)을 갖춘다. 촬영 수단(3)은, 적외선 광원(1)으로부터의 적외선을 입사할 수 있도록 적외선 광원(1)의 광로에 설치되며, 링 광원(2)은, 적외선 광원(1)과 광축이 거의 동일하지만, 빛의 출사 방향이 적외선 광원(1)과 반대로 되도록 배치된다. 또한, 적외선 광원(1)과 링 광원(2)과의 사이에, 액정 패널(P1)이 통과할 수 있는 공간이 열려 있다. 여기서, 프레임에 대해서, L형 프레임의 예를 들었지만, 프레임은, 이 형상으로 한정되지 않는다. 촬영 장치 및 광원을 부착할 수 있으면, 다른 형태라도 좋다.
또한, 필요에 따라서, 적외선 광원(1)과 링 광원(2)과의 사이에, 확산판(4)이 설치되어도 좋다. 그 경우, 액정 패널(P1)에 있어서의 편광 필름(F1)의 첩부 위치를 측정할 때, 적외선 광원(1)으로부터의 적외선이 확산판(4)을 통해 액정 패널(P1)에 투사하게 된다.
또한, 촬영 수단(3)은, 카메라(31)에 의해 구성된다. 또한, 필요에 따라서, 카메라(31)에 더 렌즈(32)를 부착할 수 있다. 카메라(31)는, 적외선 광원(1)으로부터의 적외선으로 촬영할 수 있는 것이면, 그 종류는 한정되지 않는다. 또한, 적외선의 파장은, 필요에 따라서 적절히 조정할 수 있지만, 780 ~ 1000 ㎚의 범위 내에 있는 것이 바람직하다.
다음에, 도면을 참조하면서, 본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)의 동작을 설명한다.
이 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 액정 패널의 제조 라인에 있어서의 소정의 측정 위치에 설치된다. 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 액정 패널(P1)이 측정 위치에 있을 때, 측정 대상이 되는 액정 패널(P1)의 모퉁이부에 위치하고, 액정 패널(P1)이 적외선 광원(1)(또는 확산판(4))과 링 광원(2)의 사이에 있도록 배치된다.
측정할 때, 우선 적외선 광원(1)을 점등하고, 그 적외선이 액정 패널을 투과하여, 카메라(31)에 의해 그 투과광에 의한 화상을 촬영한다. 또한, 링 광원(2)을 점등하고, 그 빛이 액정 패널에 의해 반사되며, 카메라(31)에 의해 그 반사광에 의한 화상을 촬영한다.
도 4에 나타내는 바와 같이, 액정 패널(P1)에 있어서의 액정 셀(C1)의 한쪽 면에는 편광 필름이 첩부된다. 또한, 액정 셀(C1)은, 그 표시 영역의 투명 유리 기판의 사이에 액정 재료가 충전되며, 또한 그 표시 영역의 외측의 투명 유리 기판의 사이에 블랙 매트릭스가 설치된 구성이다. 적외선 광원(1)으로부터의 적외선이 액정 패널의 단부를 통과할 때에, 각각 표시 영역부, 투명 유리 기판부, 블랙 매트릭스(BM) 및 편광 필름의 투과율의 차이에 의해, 찍힌 화상에는, 블랙 매트릭스(BM)의 가장자리 부분과 편광 필름의 가장자리 부분이 뚜렷이 찍힌다. 또한, 링 광원으로부터 출사한 빛은 가시광이고, 액정 셀 또는 편광 필름의 표면에서 반사된다. 이 반사광에 의해 액정 패널 상의 요철이 빛나고, 이 반사광으로 찍힌 화상에는, 액정 셀(C1)의 가장자리 부분과 편광 필름(F1)의 가장자리 부분이 뚜렷이 찍힌다.
적외선 광원(1)으로부터 조사되며, 액정 패널(P1)을 투과한 투과광이 링 광원(2)의 중앙의 구멍을 통과하여 카메라(31)에 도달한다. 카메라(31)는 이 투과광으로 비치는 화상을 촬영하고, 액정 셀(C1)에 있어서의 블랙 매트릭스(BM)의 형태와 액정 셀(C1)에 첩부된 편광 필름(F1)의 형태가 비쳐진 화상(도 5(a))을 얻을 수 있다.
다음에, 이 적외선 광원(1)을 소등하고, 액정 패널(P1)의 위쪽에 설치된 링 광원(2)을 점등하면, 이 링 광원(2)으로부터의 빛은 액정 패널(P1)에 도달하고, 액정 패널(P1)에 의해 반사되며, 링 광원(2)의 중앙에 있는 구멍을 통과하여 카메라(31)에 도달한다. 그리고, 카메라(31)의 작동에 의해, 액정 셀(C1)과 편광 필름(F1)의 화상(도 5(b))이 촬상된다.
카메라(31)에 의해 촬상된 투과광에 의한 화상과 반사광에 의한 화상이 각각 화상 처리 장치(5)로 송신되며, 도 5(a)와 같은 (1) 블랙 매트릭스(BM) 단부로부터의 편광 필름 단부의 위치와, 도 5(b)와 같은 (2) 액정 셀의 바깥 단으로부터의 편광 필름 단부의 위치라 하는 편광 필름의 첩부 위치의 화상이 2개 얻어진다.
화상 데이터는, 또한 측정 장치로 송신되며, 거기서 편광 필름의 첩부 위치가 측정된다. 즉, 우선, 도 5(a)에 나타내는 바와 같이, 액정 패널(P1)의 종 방향과 폭 방향에 대해서, 액정 셀 내부에 있어서의 블랙 매트릭스의 내연과 편광 필름의 외연과의 거리(L1)를 각각 측정한다. 다음에, 도 5(b)에 나타내는 바와 같이, 같은 액정 패널(P1)의 종 방향과 폭 방향에 대해서, 편광 필름(F1)의 외연과 액정 셀(C1)의 외연과의 거리(L2)를 각각 측정한다.
측정된 거리(L1)와 거리(L2)를 각각 소정의 기준 거리 범위와 비교하고, 소정의 기준 거리 범위 내라면, 편광 필름(F1)이 소정의 위치에 첩부되었다고 판단된다. 한편, 거리(L1)와 거리(L2)가 기준 거리 범위로부터 벗어나면, 편광 필름(F1)이 어긋난 상태로 있어 액정 패널이 불량품이라고 판단된다.
적외선 광원(1)과 링 광원(2)을 병용하여 액정 패널의 모퉁이부를 2회 촬영하고, 적외선 투과 조명에서의 투과 촬상으로 액정 셀 내부의 블랙 매트릭스의 단부와 편광 필름 단부와의 거리(L1)와, 링 조명에서의 반사 촬상으로 액정 셀 단부와 편광 필름 단부와의 거리(L2)와의 2개의 측정 결과로부터 편광 필름의 첩부 위치를 특정하기 때문에, 액정 패널에 있어서의 편광 필름의 첩부 위치가 이중으로 확인되며, 정확하게 편광 필름의 위치를 측정할 수 있다. 또한, 촬상된 화상에 있어서 액정 셀에 있어서의 블랙 매트릭스의 단부를 측정의 기준으로 하기 때문에, 액정 셀의 외연의 제조에 의한 불균일의 영향을 억제할 수 있고, 편광 필름의 첩부 위치의 측정이 한층 정확하게 행해진다.
본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 액정 셀의 양면에 광학 필름을 첩부하여 액정 패널을 제조하는 제조 라인에 적용할 수 있다.
이 액정 패널 제조 라인은, 도 6에 나타내는 바와 같이, 제 1 광학 필름이, 제 1 광학 필름 공급 장치(FS1)로부터 제 1 광학 필름 첩부 장치(PS1)로 공급되며, 거기서 반송되어 온 액정 셀의 한쪽 면에 첩부된다. 또한, 제 2 광학 필름이, 제 2 광학 필름 공급 장치(FS2)로부터 제 2 광학 필름 첩부 장치(PS2)로 공급되며, 거기서 반송되어 온 한쪽 면에 제 1 광학 필름이 첩부된 액정 패널의 타면에 첩부된다. 양면에 광학 필름이 첩부된 액정 패널은 또한 하류 공정으로 반송된다.
이와 같은 생산 라인에 있어서, 본 발명의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)가, 제 1 광학 필름 첩부 장치(PS1)의 하류 측과, 제 2 광학 필름 첩부 장치의 하류 측(PS2)에 각각 배치된다. 이 경우, 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)에 의해, 액정 패널(P1)의 한쪽 면에 첩부된 광학 필름의 위치를 측정하기 위해, 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 도 7에 나타내는 바와 같이, 액정 패널(P1)에 대해서 동일 측에서 만나며 액정 패널(P1)의 네 모퉁이에 배치된다. 즉, 액정 패널(P1)의 네 모퉁이에 위치하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 모두 같은 방향으로 되어 있다. 구체적으로 말하면, 액정 패널(P1)에 대해서, 카메라(31)는 같은 측에 위치한다. 이 4개의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)에 의해, 액정 패널(P1)의 한쪽 면의 4변에 있어서의 광학 필름(F1)의 첩부 위치를 측정한다. 이 경우, 보다 정확하게 광학 필름의 첩부 위치를 측정하기 위해, 이 실시예에는 액정 패널의 네 모퉁이에 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)가 배치되지만, 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 적어도 액정 패널의 한 모퉁이에 배치하면 좋다.
실시예 3은, 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)가 제조 라인의 한 부분만으로 배치되는 점만, 실시예 2와 다르다. 실시예 2와 같은 구성에 대해서, 그 설명을 생략한다.
실시예 3에 관한 액정 패널 제조 라인에 있어서는, 도 8에 나타내는 바와 같이, 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 제 2 광학 필름 첩부 장치(PS2)의 하류 측에만 배치된다. 즉, 실시예 3에 있어서, 액정 셀의 양면에 광학 필름의 첩부가 완성된 후, 양면의 광학 필름의 첩부 위치를 동시에 측정한다.
그 경우, 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 도 9에 나타내는 바와 같이, 액정 패널(P1)의 네 모퉁이에 배치되지만, 대각에 있는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)의 방향이 동일하고, 인접하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)의 방향이 역이 되도록 배치된다. 구체적으로 말하면, 액정 패널(P1)의 대각에 있는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 카메라(31)가 액정 패널(P1)의 같은 측에 배치되지만, 인접하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 카메라(31)가 액정 패널(P1)의 다른 측에 배치된다.
이와 같은 배치에 의해, 예를 들면, 액정 패널(P1)의 1대의 대각에 배치된 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)에 의해 제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정하고, 액정 패널(P1)의 다른 대각에 배치된 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)에 의해 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정할 수 있다. 이 실시예에서는, 보다 정확하게 광학 필름의 첩부 위치를 측정하기 위해, 액정 패널의 네 모퉁이에 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)가 배치되지만, 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 적어도 액정 패널의 인접하는 두 모퉁이에 배치하면 좋다.
실시예 4에 있어서는, 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 액정 패널 제조 라인의 2부분에 배치되지만, 2개의 배치 부분은 모두 제 2 광학 필름 첩부 위치의 하류 측에 위치하는 점에서, 실시예 2와 다르다.
도 10에 나타내는 바와 같이, 제 1 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)와 제 2 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 제 2 광학 필름 첩부 장치(PS2)의 하류에 순차 배치된다. 즉, 2개의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 모두 양면에 광학 필름이 첩부한 액정 패널에 대해서 위치 검사를 행한다.
그 경우, 제 1 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 도 7과 같이 액정 패널의 사각에 각각 배치되며, 또한 4개의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)에 있어서의 카메라는, 모두 액정 패널의 일측에 배치되며, 제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정한다. 한편, 제 2 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 도 11과 같이 액정 패널의 사각에 각각 배치되며, 또한 4개의 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)에 있어서의 카메라는, 모두 액정 패널의 반대 측에 배치되며, 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정한다.
이 실시예에 의하면, 제 1 광학 필름도 제 2 광학 필름도 사각에서 첩부 위치의 오차를 검사할 수 있고, 첩부 위치의 검사가 보다 고정밀도로 행해진다. 이 실시예에서는, 보다 정확하게 광학 필름의 첩부 위치를 측정하기 위해, 액정 패널의 네 모퉁이에 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)가 배치되지만, 광학 필름 첩부 위치 측정 장치(101)는, 적어도 액정 패널 한 모퉁이에 배치하면 좋다. 그 경우에서도, 제 1 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 카메라는 광학 표시 장치의 일측에 배치되며, 제 2 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 카메라는, 광학 표시 장치의 반대 측에 배치된다.
상술한 바와 같이, 도면을 참조하면서 실시예를 들어 본 발명의 내용을 설명했지만, 본 발명의 내용은 이것에 한정되지 않는 것이 물론이다. 청구항의 범위 내에 있는 여러 가지 변형이나 개선이 모두 본 발명의 범위 내이다. 예를 들면, 디스플레이로서, 유기 EL표시 장치 등의 화상 표시 장치에도 적용할 수 있다.
101. 광학 필름 첩부 위치 측정 장치
1. 적외선 광원
2. 링 광원
3. 촬영 수단
C1. 액정 셀
F1. 편광 필름
P1. 액정 패널
BM. 블랙 매트릭스
L1. 블랙 매트릭스의 단부와 편광 필름의 외연과의 거리
L2. 액정 셀의 외연과 편광 필름의 외연과의 거리

Claims (10)

  1. 광학 소자에 광학 필름이 첩부된 광학 표시 장치에 대해서 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치이며,
    프레임과,
    상기 프레임의 일단 측에 설치되며, 적외선을 출사하는 적외선 광원과,
    상기 프레임의 타단 측에 설치되며, 상기 적외선이 입사하도록 설치되는 촬영 수단과,
    상기 적외선 광원과 상기 촬영 수단과의 사이에 설치되는 링 광원을, 갖추며,
    상기 적외선 광원과 상기 링 광원은, 광축이 거의 같은 축이며, 빛의 출사 방향이 대향하고, 그 사이에 상기 광학 표시 장치가 통과할 수 있도록 공간이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 적외선 광원으로부터 출사한 적외선이 상기 광학 표시 장치를 투과하고, 그 투과광에 의해 촬영하고, 광학 소자 내부에 있어서의 블랙 매트릭스의 단부와 상기 광학 필름의 외연과의 거리를 측정하고,
    상기 링 광원으로부터 출사한 빛이 상기 광학 표시 장치에 의해 반사되며, 그 반사광에 의해 촬영하고, 광학 소자의 외연과 상기 광학 필름의 외연과의 거리를 측정하는 것을 특징으로 하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 적외선 광원과 상기 광학 표시 장치의 사이에 확산판을 더 갖추는 것을 특징으로 하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치.
  4. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 촬영 수단은, 촬영된 화상 데이터를 화상 처리 장치로 송신하는 것을 특징으로 하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치.
  5. 광학 필름을 광학 소자의 양면에 첩부하여 광학 표시 장치를 제조하는 광학 표시 장치 제조 라인에 있어서,
    상기 광학 소자의 일면에 제 1 광학 필름을 첩부하는 제 1 광학 필름 첩부 장치와,
    상기 광학 소자의 타면에 제 2 광학 필름을 첩부하는 제 2 광학 필름 첩부 장치를, 차례차례 갖추며,
    상기 제 1 광학 필름 첩부 장치와 상기 제 2 광학 필름 첩부 장치와의 사이에, 청구항 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 기재한 광학 필름 첩부 위치 측정 장치가 배치되며, 상기 제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정하고,
    상기 제 2 광학 필름 첩부 장치의 하류 측에, 청구항 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 기재한 광학 필름 첩부 위치 측정 장치가 배치되며, 상기 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정하고,
    상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 어느 한쪽의 배치 부분에 있어서, 적어도 상기 광학 표시 장치의 한 모퉁이에 배치되는 것을 특징으로 하는 광학 표시 장치 제조 라인.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 상기 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치에 대해서 동일 측이 되도록 광학 표시 장치의 네 모퉁이에 배치되는 것을 특징으로 하는 광학 표시 장치 제조 라인.
  7. 광학 필름을 광학 소자의 양면에 첩부하여 광학 표시 장치를 제조하는 광학 표시 장치 제조 라인에 있어서,
    상기 광학 소자의 일면에 제 1 광학 필름을 첩부하는 제 1 광학 필름 첩부 장치와,
    상기 광학 소자의 타면에 제 2 광학 필름을 첩부하는 제 2 광학 필름 첩부 장치를, 차례차례 갖추며,
    상기 제 2 광학 필름 첩부 장치의 하류 측에만, 청구항 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 기재한 광학 필름 첩부 위치 측정 장치가 배치되며, 상기 제 1 광학 필름과 상기 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 동시에 측정하고,
    상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 적어도 상기 광학 표시 장치의 인접하는 두 모퉁이에 배치되며, 인접에 배치되는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치의 상기 촬상 수단은, 상기 광학 표시 장치에 대해서 다른 방향이 되도록 배치되는 것을 특징으로 하는 광학 표시 장치 제조 라인.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 상기 광학 표시 장치의 네 모퉁이에 설치되며, 대각에 있는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치에 대해서 동일 측에 위치하고, 인접하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치에 대해서 다른 측에 위치하도록 배치하는 것을 특징으로 하는 광학 표시 장치 제조 라인.
  9. 광학 필름을 광학 소자의 양면에 첩부하여 광학 표시 장치를 제조하는 광학 표시 장치 제조 라인에 있어서,
    상기 광학 소자의 일면에 제 1 광학 필름을 첩부하는 제 1 광학 필름 첩부 장치와,
    상기 광학 소자의 타면에 제 2 광학 필름을 첩부하는 제 2 광학 필름 첩부 장치를, 차례차례 갖추며,
    상기 제 2 광학 필름 첩부 장치의 하류 측에, 제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치와, 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치가, 각각 2부분에 순차 배치되며,
    상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 청구항 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 기재한 광학 필름 첩부 위치 측정 장치이고, 제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치에 대해서 일측에 위치하고, 상기 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 광학 필름 첩부 위치 측정 장치에 있어서의 촬영 수단이 상기 광학 표시 장치에 대해서 상기 일측의 반대 측에 위치하는 것을 특징으로 하는 광학 표시 장치 제조 라인.
  10. 제 9항에 있어서,
    제 1 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치와, 제 2 광학 필름의 첩부 위치를 측정하는 상기 광학 필름 첩부 위치 측정 장치는, 각각 상기 광학 표시 장치의 네 모퉁이에 배치되는 것을 특징으로 하는 광학 표시 장치 제조 라인.
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