CN105044942A - 液晶显示面板的对位检查设备及对位检查方法 - Google Patents

液晶显示面板的对位检查设备及对位检查方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种液晶显示面板的对位检查设备及对位检查方法，该液晶显示面板的对位检查设备，包括光源、对位CCD摄像机(50)、及位于所述对位CCD摄像机(50)下方的透明定盘(60)；所述光源包括位于所述透明定盘(60)上方的上光源、及位于所述透明定盘(60)下方的下光源；所述透明定盘(60)的下表面的边缘设有一圈反光膜(61)，通过上、下光源分别提供落射式照明与透射式照明两种方式，可有效提高对位CCD摄像机对对位标记的识别率及对位检测精度。该液晶显示面板的对位检查方法，在对位标记与透明定盘边缘重叠时，采用落射式照明与透射式照明两者结合的方式，有效提高对位CCD摄像机对对位标记的识别率，对位检测精度高。

Description

液晶显示面板的对位检查设备及对位检查方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板的对位检查设备及对位检查方法。
背景技术
在显示技术领域，液晶显示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)与有机发光二极管显示器(OrganicLightEmittingDiode，OLED)等平板显示器已经逐步取代CRT显示器，广泛的应用于液晶电视、手机、个人数字助理、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等。
显示面板是液晶显示器与有机发光二极管显示器的重要组成部分。以液晶显示器的显示面板为例，通常液晶显示面板由彩膜基板(CF，ColorFilter)、薄膜晶体管基板(TFT，ThinFilmTransistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，LiquidCrystal)及密封框胶(Sealant)组成；其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)；其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。在CF基板与TFT基板之间添加液晶的制程，称为液晶滴下制程(ODF，OneDropFilling)，其主要包括：密封框胶涂布、液晶注入、真空组立及固化等几个制程。
由于液晶显示面板的精密性，因此在液晶显示面板的生产及检测过程中，需要对液晶显示面板的各部件实现精确的定位。以真空贴合机为例，真空贴合机能够定位基板所在位置，然后使用标记通过抓取装置对其进行精准对位，将TFT基板与CF基板在液晶滴注制程中进行贴合对组在一起，最后通过对位检查设备进行对位检查并计算对位精度。现有的对位检查设备包括光源、对位电荷耦合元件(Charge-coupledDevice，CCD)摄像机5、及多个玻璃定盘(GlassStage)6，如图1所示，多个玻璃定盘6在检查设备内并列排布，如图2所示，在进行对位检查时，光源位于所述玻璃定盘6的下方，即在透射式照明方式下，对位CCD摄像机5捕捉分别位于CF基板1、TFT基板2上的CF对位标记3、TFT对位标记4，但当TFT对位标记3和CF对位标记4与玻璃定盘6的边缘重叠时，光线的传递路径将受到干扰，在所述玻璃定盘6的边缘发生漫反射、折射等现象，如图3所示，此时对位检查设备将无法准确识别出对位标记的完整形状，进而无法计算对位精度。
发明内容
本发明的目的在于提供一种液晶显示面板的对位检查设备，具有上光源及下光源，能够提供落射式照明与透射式照明两种方式，从而可以有效提高对位CCD摄像机对对位标记的识别率，具有较高的检测精度。
本发明的目的还在于提供一种液晶显示面板的对位检查方法，采用落射式照明与透射式照明两者结合的方式，可以有效提高对位CCD摄像机对对位标记的识别率，进而提高检测精度。
为实现上述目的，本发明提供一种液晶显示面板的对位检查设备，包括光源、对位CCD摄像机、及位于所述对位CCD摄像机下方的透明定盘；
所述光源包括位于所述透明定盘上方的上光源、及位于所述透明定盘下方的下光源；所述透明定盘的下表面的边缘设有一圈反光膜。
所述透明定盘的数量为一个或一个以上，所述透明定盘为一个以上时，该些透明定盘在同一平面并列排布。
所述上光源用于提供环形落射式照明，所述上光源的形状为环形，安装在所述对位CCD摄像机镜头外侧。
所述上光源用于提供同轴落射式照明，所述上光源安装在所述对位CCD摄像机内部。
所述上光源及下光源为LED灯，所述透明定盘的材料为玻璃。
本发明还提供一种液晶显示面板的对位检查方法，包括如下步骤：
步骤1、提供待检查的液晶显示面板及对位检查设备；
所述液晶显示面板包括CF基板和与所述CF基板相对设置的TFT基板，所述CF基板上设有CF对位标记，所述TFT基板上对应所述CF对位标记设有TFT对位标记；
所述对位检查设备包括光源、对位CCD摄像机、及位于所述对位CCD摄像机下方的透明定盘；所述光源包括位于所述透明定盘上方的上光源、及位于所述透明定盘下方的下光源；所述透明定盘的下表面的边缘设有一圈反光膜；
步骤2、将所述液晶显示面板放置于所述透明定盘之上，打开下光源、及对位CCD摄像机，所述下光源自下往上提供透射式照明，所述对位CCD摄像机对所述CF对位标记、及TFT对位标记进行捕捉；
若CF对位标记、及TFT对位标记在对位CCD摄像机内能够完全成像，则对位检查设备根据对位CCD摄像机捕捉到的图像进行对位精度计算；
若CF对位标记、及TFT对位标记在对位CCD摄像机内不能够完全成像，则进行步骤3；
步骤3、打开上光源，所述上光源自上往下提供落射式照明，对位CCD摄像机继续对所述CF对位标记、及TFT对位标记进行捕捉；对位检查设备根据对位CCD摄像机捕捉到的图像进行对位精度计算。
所述透明定盘的数量为一个或一个以上，所述透明定盘为一个以上时，该些透明定盘在同一平面并列排布。
所述CF对位标记为实心点形，所述TFT对位标记为能够包围CF对位标记的框形。
所述步骤3中，上光源提供环形落射式照明，所述上光源的形状为环形，安装在所述对位CCD摄像机镜头外侧。
所述步骤3中，上光源提供同轴落射式照明，所述上光源安装在所述对位CCD摄像机内部。
本发明的有益效果：本发明提供的液晶显示面板的对位检查设备，具有上光源及下光源，能够提供落射式照明与透射式照明两种方式，从而可以有效提高对位CCD摄像机对对位标记的识别率，具有较高的对位检测精度。本发明的液晶显示面板的对位检查方法，在对位标记与透明定盘边缘重叠时，采用落射式照明与透射式照明两者结合的方式，可以有效提高对位CCD摄像机对对位标记的识别率，进而提高对位检测精度。
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图说明
下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
附图中，
图1为现有一种液晶显示面板对位检测设备中玻璃定盘的结构示意图；
图2为使用图1的对位检测设备对液晶显示面板进行对位检测的示意图；
图3为图2的对位标记在对位CCD摄像机内的成像示意图；
图4为本发明的液晶显示面板对位检测设备中透明定盘的俯视图；
图5为本发明的液晶显示面板对位检测设备中透明定盘的正视图；
图6为本发明的液晶显示面板对位检测设备中透明定盘的侧视图；
图7为本发明的液晶显示面板对位检测方法的流程示意图；
图8为本发明的液晶显示面板对位检测方法的步骤3的示意图；
图9为图8的CF对位标记与TFT对位标记在对位CCD摄像机内的成像示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
本发明首先提供一种液晶显示面板的对位检查设备，包括光源、对位CCD摄像机50、及位于所述对位CCD摄像机50下方的透明定盘60；
所述光源包括位于所述透明定盘60上方的上光源(未图示)、及位于所述透明定盘60下方的下光源(未图示)；如图4-6所示，所述透明定盘60的下表面的边缘设有一圈反光膜61。
具体的，所述上光源为反射光光源，所述下光源为透射光光源，所述透明定盘60的数量可以为一个或一个以上，所述透明定盘60为一个以上时，该些透明定盘60在同一平面并列排布；在本实施例中所述透明定盘60为四个，在同一平面并列排布。优选的，所述透明定盘60为玻璃定盘。
具体的，所述上光源提供自上往下的落射式照明。可选的，所述上光源提供环形落射式照明，所述上光源的形状为环形，安装在所述对位CCD摄像机50镜头外侧；或者，所述上光源提供同轴落射式照明，所述上光源安装在所述对位CCD摄像机50内部。
所述下光源提供自下往上的透射式照明。
具体的，所述上光源、及下光源为LED灯。
所述对位CCD摄像机50通过接收上光源提供的落射光线经反光膜61反射后的反射光和下光源的提供的透射光线穿过透明定盘60后的透射光，能够在CF对位标记11、及TFT对位标记21与透明定盘60的边缘重叠时，捕捉到完整的CF对位标记11、及TFT对位标记21的图像，以准确计算对位精度。
本发明的液晶显示面板的对位检查设备，具有上光源及下光源，能够提供落射式照明与透射式照明两种方式，从而可以有效提高对位CCD摄像机对对位标记的识别率，具有较高的对位检测精度。
请参阅图7，本发明还一种液晶显示面板的对位检查方法，包括如下步骤：
步骤1、提供待检查的液晶显示面板及对位检查设备；
所述液晶显示面板包括CF基板10和与所述CF基板10相对设置的TFT基板20，所述CF基板10上设有CF对位标记11，所述TFT基板20上对应所述CF对位标记11设有TFT对位标记21；
所述对位检查设备包括光源、对位CCD摄像机50、及位于所述对位CCD摄像机50下方的透明定盘60；所述光源包括位于所述透明定盘60上方的上光源(未图示)、及位于所述透明定盘60下方的下光源(未图示)；所述透明定盘60的下表面的边缘设有一圈反光膜61；
具体的，所述CF对位标记11为实心点形，所述TFT对位标记21为能够包围CF对位标记11的框形。
具体的，所述上光源为反射光源，所述下光源为透射光源，所述透明定盘60的数量可以为一个或一个以上，所述透明定盘60为一个以上时，该些透明定盘60在同一平面并列排布，在本实施例中所述透明定盘60为四个。优选的，所述透明定盘60为玻璃定盘。
步骤2、将所述液晶显示面板放置于所述透明定盘60之上，打开下光源、及对位CCD摄像机50，所述下光源自下往上提供透射式照明，所述对位CCD摄像机50对所述CF对位标记11、及TFT对位标记21进行捕捉。
在该步骤2中，若CF对位标记11、及TFT对位标记21在对位CCD摄像机50内能够完全成像，则对位检查设备根据对位CCD摄像机50捕捉到的图像进行对位精度计算；
具体地，此时所述对位CCD摄像机50通过接收下光源提供的透射光线能够用于形成完整的CF对位标记11、及TFT对位标记21的图像。
若CF对位标记11、及TFT对位标记21在对位CCD摄像机50内不能够完全成像，则进行步骤3；
具体地，此时所述CF对位标记11、及TFT对位标记21与所述透明定盘60的边缘重叠，下光源提供的透射光线的传播路径受到了干扰，所述对位CCD摄像机50接收的下光源提供的透射光线不能用于形成完整的CF对位标记11、及TFT对位标记21的图像。
步骤3、如图8所示，打开上光源，所述上光源自上往下提供落射式照明，对位CCD摄像机继续对所述CF对位标记11、及TFT对位标记21进行捕捉；对位检查设备根据对位CCD摄像机捕捉到的图像进行对位精度计算。
具体地，此时所述对位CCD摄像机50同时接收上光源提供的落射光线经反光膜61反射后的反射光和下光源的提供的透射光线穿过透明定盘60后的透射光，因而可以在CF对位标记11、及TFT对位标记21与透明定盘60的边缘重叠时，捕捉到完整的CF对位标记11、及TFT对位标记21的图像，准确计算对位精度。
具体的，所述上光源提供环形落射式照明，所述上光源的形状为环形，安装在所述对位CCD摄像机50镜头外侧；或者，所述上光源提供同轴落射式照明，所述上光源安装在所述对位CCD摄像机50内部。
本发明的对位检查方法，在CF对位标记11、及TFT对位标记21与透明定盘60的边缘重叠时，采用落射式照明与透射式照明两者结合的方式，对位CCD摄像机50可以有效的捕捉CF对位标记11、及TFT对位标记21，如图9所示，CF对位标记11、及TFT对位标记21可以在对位CCD摄像机50内完全成像，进而提高对位检测设备的识别率及检测精度。
综上所述，本发明提供的液晶显示面板的对位检查设备，具有上光源及下光源，能够提供落射式照明与透射式照明两种方式，从而可以有效提高对位CCD摄像机对对位标记的识别率，具有较高的对位检测精度。本发明的液晶显示面板的对位检查方法，在对位标记与透明定盘边缘重叠时，采用落射式照明与透射式照明两者结合的方式，可以有效提高对位CCD摄像机对对位标记的识别率，进而提高对位检测精度。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种液晶显示面板的对位检查设备，其特征在于，包括光源、对位CCD摄像机(50)、及位于所述对位CCD摄像机(50)下方的透明定盘(60)；
所述光源包括位于所述透明定盘(60)上方的上光源、及位于所述透明定盘(60)下方的下光源；
所述透明定盘(60)的下表面的边缘设有一圈反光膜(61)。
2.如权利要求1所述的液晶显示面板的对位检查设备，其特征在于，所述透明定盘(60)的数量为一个或一个以上，所述透明定盘(60)为一个以上时，该些透明定盘(60)在同一平面并列排布。
3.如权利要求1所述的液晶显示面板的对位检查设备，其特征在于，所述上光源用于提供环形落射式照明，所述上光源的形状为环形，安装在所述对位CCD摄像机(50)镜头外侧。
4.如权利要求1所述的液晶显示面板的对位检查设备，其特征在于，所述上光源用于提供同轴落射式照明，所述上光源安装在所述对位CCD摄像机(50)内部。
5.如权利要求1所述的液晶显示面板的对位检查设备，其特征在于，所述上光源及下光源为LED灯，所述透明定盘(60)的材料为玻璃。
6.一种液晶显示面板的对位检查方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1、提供待检查的液晶显示面板及对位检查设备；
所述液晶显示面板包括CF基板(10)和与所述CF基板(10)相对设置的TFT基板(20)，所述CF基板(10)上设有CF对位标记(11)，所述TFT基板(20)上对应所述CF对位标记(11)设有TFT对位标记(21)；
所述对位检查设备包括光源、对位CCD摄像机(50)、及位于所述对位CCD摄像机(50)下方的透明定盘(60)；所述光源包括位于所述透明定盘(60)上方的上光源、及位于所述透明定盘(60)下方的下光源；所述透明定盘(60)的下表面的边缘设有一圈反光膜(61)；
步骤2、将所述液晶显示面板放置于所述透明定盘(60)之上，打开下光源、及对位CCD摄像机(50)，所述下光源自下往上提供透射式照明，所述对位CCD摄像机(50)对所述CF对位标记(11)、及TFT对位标记(21)进行捕捉；
若CF对位标记(11)、及TFT对位标记(21)在对位CCD摄像机(50)内能够完全成像，则对位检查设备根据对位CCD摄像机(50)捕捉到的图像进行对位精度计算；
若CF对位标记(11)、及TFT对位标记(21)在对位CCD摄像机(50)内不能够完全成像，则进行步骤3；
步骤3、打开上光源，所述上光源自上往下提供落射式照明，对位CCD摄像机(50)继续对所述CF对位标记(11)、及TFT对位标记(21)进行捕捉；对位检查设备根据对位CCD摄像机(50)捕捉到的图像进行对位精度计算。
7.如权利要求6所述的液晶显示面板的对位检查方法，其特征在于，所述透明定盘(60)的数量为一个或一个以上，所述透明定盘(60)为一个以上时，该些透明定盘(60)在同一平面并列排布。
8.如权利要求6所述的液晶显示面板的对位检查方法，其特征在于，所述CF对位标记(11)为实心点形，所述TFT对位标记(21)为能够包围CF对位标记(11)的框形。
9.如权利要求6所述的液晶显示面板的对位检查方法，其特征在于，所述步骤3中，上光源提供环形落射式照明，所述上光源的形状为环形，安装在所述对位CCD摄像机(50)镜头外侧。
10.如权利要求6所述的液晶显示面板的对位检查方法，其特征在于，所述步骤3中，上光源提供同轴落射式照明，所述上光源安装在所述对位CCD摄像机(50)内部。
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