TW201606382A - 光學膜黏貼位置測定裝置 - Google Patents

Abstract

本發明之課題在提供一種藉由對於光學顯示裝置拍攝圖像資料，而可簡單且高精度地測定光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置。 本發明作為解決手段之光學膜黏貼位置測定裝置，係針對於光學元件上黏貼有光學膜之光學顯示裝置，測定光學膜之黏貼位置，且具備：機架、設於該機架之一端側且射出紅外線之紅外線光源、設於該機架之另一端側且設成可使該紅外線入射之攝影機構、以及設於紅外線光源與攝影機構之間之環形光源；該紅外線光源與該環形光源其光軸大致為同軸，且光之射出方向為對向，而且形成有可供光學顯示裝置通過其間之空間。藉由此一光學膜黏貼位置測定裝置，可併用紅外線光源與環形光源而測定光學膜之黏貼位置，並以簡單之構成實現高精度之測定。

Description

光學膜黏貼位置測定裝置

本發明有關一種光學膜黏貼位置測定裝置。

按，於顯示器製造步驟中，為了實現光學顯示裝置之顯示機能，有必要於其光學元件上黏貼光學膜。此一情況下，光學膜之黏貼精度係與成為製品之光學顯示裝置的顯示品質有緊密關連。

另外，檢測光學顯示裝置中之光學膜之黏貼偏離量的技術，迄今為止業已為人所知。例如，專利文獻1中，曾揭示一種黏貼精度檢査方法，其係於將偏光板黏貼於液晶面板後，如第1圖所示，將液晶面板1之四個角隅之任一個或是複數個端緣部附近，自相對液晶面板1側面為垂直之方向以CCD攝影機28、29拍攝，將拍攝所得之圖像中之自液晶面板1端部以至偏光板3端部為止之距離利用圖像處理測定，而據以判斷是否為良品。

又，專利文獻2中，曾揭示一種將貼合於液晶面板之偏光板的四個角隅均以攝影機拍攝，並利用所得 之圖像資料算出偏光板之黏貼偏離量等等之方法。

[先行技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2004-233184號

[專利文獻2]日本特開2011-197281號

然而，根據專利文獻1所揭示之偏光板之黏貼偏離量之檢測方法，係自相對液晶面板之側面為垂直之方向拍攝液晶面板之四個角隅。然而，液晶面板及偏光板，因其厚度小，因此此一測定方法本身之精度難以確保。又，根據專利文獻2之方法，係利用CCD攝影機拍攝液晶面板之四個角隅，但液晶面板與偏光板之邊界卻無法清晰顯現，無法作高精度之測定，是為其問題點。

本發明係有鑑上述問題點開發而成者，其當然要解決的課題是提供一種藉由相對光學顯示裝置拍攝圖像資料而可簡單地高精度測定光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置。

本發明之光學膜黏貼位置測定裝置，其特徵為：其係針對於光學元件上黏貼有光學膜之光學顯示裝 置，測定其光學膜之黏貼位置，且具備：機架、設於該機架之一端側且射出紅外線之紅外線光源、設於該機架之另一端側且設成可使上述紅外線入射之攝影機構、以及設於上述紅外線光源與上述攝影機構之間之環形光源；上述紅外線光源與上述環形光源其光軸大致為同軸，且光之射出方向為對向，而且其間設有可供上述光學顯示裝置通過之空間。

藉由此一光學膜黏貼位置測定裝置，可併用紅外線光源與環形光源而拍攝通過其間之光學顯示裝置的圖像，並正確地測定光學膜之位置。

又，此一光學膜黏貼位置測定裝置，亦可構成為：自上述紅外線光源射出之紅外線透射上述光學顯示裝置，以其透射光拍攝光學元件內部之黑矩陣之端部與上述光學膜之外緣的距離，而自上述環形光源射出之光係由上述光學顯示裝置反射，藉由其反射光而拍攝光學元件之外緣與上述光學膜之外緣的距離。

藉此，由於係以光學元件之黑矩陣之端部為基準測定光學膜之位置，因此可更正確地測定光學膜之位置。

又，上述紅外線光源與上述光學顯示裝置之間可進而具備擴散板。藉此，射出之紅外線可均一地被擴散，而使圖像之品質進一步地提昇。

另，上述攝影機構係構成為將拍攝之圖像資料發送至圖像處理裝置。藉此，由透射光所拍攝之圖像與 由反射光所拍攝之圖像，可由圖像處理裝置雙重確認其偏光膜之黏貼位置，因此可更正確地測定光學膜之黏貼位置。

本發明又提供一種將光學膜黏貼於光學元件之兩面而製造光學顯示裝置之光學顯示裝置生產線。此一生產線依序具備：於上述光學元件之一面黏貼第1光學膜之第1光學膜黏貼裝置、以及於上述光學元件之另一面黏貼第2光學膜之第2光學膜黏貼裝置。上述第1光學膜黏貼裝置與上述第2光學膜黏貼裝置之間，配置有本發明之光學膜黏貼位置測定裝置供測定上述第1光學膜之黏貼位置，上述第2光學膜黏貼裝置下游側配置有本發明之光學膜黏貼位置測定裝置供測定上述第2光學膜之黏貼位置。上述光學膜黏貼位置測定裝置，於任一配置處所中係至少配置於上述光學顯示裝置之一個角隅。

又，為了提昇測定之正確性，上述光學膜黏貼位置測定裝置較佳的是以上述攝影機構相對上述光學顯示裝置為同一側之方式配置於光學顯示裝置之四個角隅。

藉此，在每次光學膜之黏貼完成時，可立即測定其光學膜之黏貼位置，若是判定為不良，則可立即處理，因此可提昇良率。

又，於上述生產線中，也可構成為僅於上述第2光學膜黏貼裝置之下游側配置本發明之光學膜黏貼位置測定裝置，而可同時測定上述第1光學膜與上述第2光學膜之黏貼位置。上述光學膜黏貼位置測定裝置係至少配 置於上述光學顯示裝置之鄰接之二個角隅，鄰接配置之光學膜黏貼位置測定裝置之上述攝影機構係配置成相對上述光學顯示裝置為不同朝向。

又，為了提高測定之正確性，較佳的是上述光學膜黏貼位置測定裝置係設置於上述光學顯示裝置之四個角隅，位於對角之光學膜黏貼位置測定裝置的攝影機構係位於上述光學顯示裝置之同一側，鄰接之光學膜黏貼位置測定裝置的攝影機構係配置成位於上述光學顯示裝置之不同側。

藉此，於光學元件之兩面完成光學膜之黏貼後，可一次測定兩面之光學膜的黏貼位置，裝置將可為之簡單化，生產率也可提高。

上述之生產線中，就構成上而言，於上述第2光學膜黏貼裝置之下游側，測定第1光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置、與測定第2光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置，分別係於二個處所依次配置，上述光學膜黏貼位置測定裝置係本發明之光學膜黏貼位置測定裝置，測定第1光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置之攝影機構係相對上述光學顯示裝置位於一側，測定上述第2光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置之攝影機構係位於上述光學顯示裝置之相反側。

又，為了提高測定之正確性，測定第1光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置、與測定第2光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置，較佳的是配置於上述光學顯示裝置之四個角隅。

101‧‧‧光學膜黏貼位置測定裝置

1‧‧‧紅外線光源

2‧‧‧環形光源

3‧‧‧攝影機構

C1‧‧‧液晶單元

F1‧‧‧偏光膜

P1‧‧‧液晶面板

BM‧‧‧黑矩陣

L1‧‧‧黑矩陣之端部與偏光膜之外緣的距離

L2‧‧‧液晶單元之外緣與偏光膜之外緣的距離

第1圖係表示習知技術之利用CCD攝影機測定光學膜之黏貼偏離的裝置之圖。

第2圖係本發明光學膜黏貼位置測定裝置之立體圖。

第3圖係表示本發明光學膜黏貼位置測定裝置的構成之模式圖。

第4圖係黏貼有偏光膜的液晶面板之剖視圖。

第5a圖係表示以紅外線透射照明所拍攝之黏貼有偏光膜之液晶面板的圖像之圖。

第5b圖係表示以環形照明所拍攝之黏貼有偏光膜之液晶面板的圖像之圖。

第6圖係表示液晶面板生產線之光學膜黏貼位置測定裝置的一個配置例之圖。

第7圖係表示本發明光學膜黏貼位置測定裝置之相對液晶面板的一個配置例之圖。

第8圖係液晶面板生產線之光學膜黏貼位置測定裝置的其他配置例之圖。

第9圖係本發明光學膜黏貼位置測定裝置之相對液晶面板的其他配置例之圖。

第10圖係液晶面板生產線之光學膜黏貼位置測定裝置的又一其他配置例之圖。

第11圖係本發明光學膜黏貼位置測定裝置之相對液 晶面板的又一其他配置例之圖。

以下，兹將本發明之具體實施方式詳細說明之。又，以下之實施方式中，作為其一例，係針對液晶單元黏貼光學膜而製造液晶面板之情況進行說明。

[實施例1]

本發明之光學膜黏貼位置測定裝置101，係適用於將光學膜黏貼於液晶單元而製造液晶面板之生產線，係檢查光學膜於液晶單元上之黏貼精度的裝置。

其次，兹將於液晶單元C1之兩面分別黏貼偏光膜F1作為黏貼例，將本發明之光學膜黏貼位置測定裝置101之構成及動作說明之。

又，本發明中，係將在兩片透明基板之間填充液晶材料予以單元化而成者稱為液晶單元，並將於此液晶單元之單面或兩面黏貼光學膜而成者稱為液晶面板。

此一光學膜黏貼位置測定裝置101，如第2圖及第3圖所示，具備：設於L型機架6之一端側(基部)之紅外線光源1、設於該機架6之另一端側(臂部之端部側)之攝影機構3、以及於紅外線光源1與攝影機構3間之設於該機架6之臂部的中途之環形光源2。攝影機構3係以出自紅外線光源1之紅外線可入射之方式設於紅外線光源1之光路徑中；環形光源2與紅外線光源1光軸大致 相同，然光之射出方向與紅外線光源1係配置成相反。又，紅外線光源1與環形光源2之間，空出有一可供液晶面板P1通過之空間。

此處，針對機架係舉L型機架為例，但機架並不限於此一形狀。只要可安裝拍攝裝置及光源，其他形狀亦可。

又，因應必要，紅外線光源1與環形光源2之間也可設置擴散板4。此一情況下，在測定液晶面板P1中之偏光膜F1之黏貼位置時，出自紅外線光源1之紅外線係通過擴散板4而投射於液晶面板P1。

又，攝影機構3係由攝影機31構成。又，因應必要，也可在攝影機31上進而安裝鏡頭32。攝影機31只要是可利用出自紅外線光源1之紅外線進行拍攝者即可，其種類並無限定。

又，紅外線之波長因應必要可適當調整，但宜為780~1000nm之範圍內。

其次，兹參照圖面，將本發明光學膜黏貼位置測定裝置101之動作說明之。

此一光學膜黏貼位置測定裝置101係設置於液晶面板之生產線的特定之測定位置。光學膜黏貼位置測定裝置101，於液晶面板P1處於測定位置時，係位於作為測定對象之液晶面板P1之角隅部，液晶面板P1係配置於紅外線光源1(或擴散板4)與環形光源2之間。

測定時，首先點亮紅外線光源1，其紅外線係透射液晶面板，利用攝影機31將透射光所形成之圖像拍 攝。而後進一步將環形光源2點亮，該環形光源2之光係由液晶面板反射，利用攝影機31將該反射光所形成之圖像拍攝。

如第4圖所示，液晶面板P1之液晶單元C1之單面上黏貼有偏光膜。又，液晶單元C1在構成上，其顯示區域之透明玻璃基板之間填充有液晶材料，另外其顯示領域外側之透明玻璃基板之間設置有黑矩陣。出自紅外線光源1之紅外線通過液晶面板之端部時，因分別於顯示區域部、透明玻璃基板部、黑矩陣BM及偏光膜之透射率之差，在攝得之圖像中，黑矩陣BM之緣部與偏光膜之緣部將清晰地被顯現。又，自環形光源射出之光係可視光，由液晶單元或偏光膜之表面反射。藉由此一反射光，液晶面板上之凹凸將會發光，使得由該反射光所拍攝之圖像中，液晶單元C1之緣部與偏光膜F1之緣部清晰地顯現。

自紅外線光源1照射，且透射液晶面板P1之透射光係通過環形光源2之中央之孔而到達攝影機31。攝影機31係拍攝由該透射光映出之圖像，而獲得液晶單元C1之黑矩陣BM之形狀與液晶單元C1上黏貼之偏光膜F1之形狀所映出之圖像(第5a圖)。

其次，將該紅外線光源1熄滅，而將液晶面板P1之上方所設之環形光源2點亮，出自此一環形光源2之光係到達液晶面板P1，並由液晶面板P1反射，而通過環形光源2之中央處之孔並到達攝影機31。而後，藉由攝影機31之作動，液晶單元C1與偏光膜F1之圖像 (第5b圖)被拍攝。

由攝影機31所拍攝之透射光所形成之圖像與由反射光所形成之圖像係分別被發送至圖像處理裝置5，獲得兩個如第5a圖般之(1)從黑矩陣BM端部之偏光膜端部的位置、與第5b圖般之(2)從液晶單元之外端之偏光膜端部的位置此等偏光膜之黏貼位置的圖像。

圖像資料係進一步被發送至測定裝置，於該裝置偏光膜之黏貼位置乃被測定。即，首先如第5a圖所示，就液晶面板P1之縱向與寬度方向，分別測定液晶單元內部之黑矩陣之內緣與偏光膜之外緣的距離L1。其次，如第5b圖所示，同樣就液晶面板P1之縱向與寬度方向，分別測定偏光膜F1之外緣與液晶單元C1之外緣的距離L2。

將測定之距離L1與距離L2分別與特定之基準距離範圍比較，若為特定之基準距離範圍內，則判斷偏光膜F1黏貼於特定之位置。另一方面，當距離L1與距離L2落於基準距離範圍外，則偏光膜F1處於偏離狀態而判斷液晶面板為不良品。

併用紅外線光源1與環形光源2將液晶面板之角隅部拍攝兩次，自紅外線透射照明下之透射拍攝所得之液晶單元內部的黑矩陣之端部與偏光膜端部之距離L1、以及環形照明下之反射拍攝所得之液晶單元端部與偏光膜端部之距離L2此等兩個測定結果，特定出偏光膜之黏貼位置，因此液晶面板之偏光膜的黏貼位置獲得雙重確 認，可正確地測定偏光膜之位置。又，拍攝之圖像中，由於係將液晶單元之黑矩陣之端部作為測定之基準，因此可抑制液晶單元外緣之源自製造層面的不均一之影響，可使偏光膜之黏貼位置之測定更正確地進行。

[實施例2]

本發明之光學膜黏貼位置測定裝置101，亦可適用於在液晶單元之兩面黏貼光學膜而製造液晶面板之生產線。

此一液晶面板生產線，如第6圖所示，第1光學膜係自第1光學膜供給裝置FS1被供給至第1光學膜黏貼裝置PS1，於該處被黏貼於搬送而來之液晶單元之單面。又，第2光學膜係自第2光學膜供給裝置FS2被供給至第2光學膜黏貼裝置PS2，於該處被黏貼於搬送而來之單面上黏貼有第1光學膜之液晶面板的另一面。兩面被黏貼光學膜之液晶面板進而被搬送至下游步驟。

於如此般之生產線中，本發明之光學膜黏貼位置測定裝置101分別係配置於第1光學膜黏貼裝置PS1之下游側、以及第2光學膜黏貼裝置之下游側PS2。此一情況下，係藉由光學膜黏貼位置測定裝置101測定黏貼於液晶面板P1之單面上之光學膜的位置，而光學膜黏貼位置測定裝置101係如第7圖所示，相對液晶面板P1係於同一側配置於液晶面板P1之四個角隅。亦即，位於液晶面板P1之四個角隅之光學膜黏貼位置測定裝置101，均 是同一朝向。具體而言，相對液晶面板P1，攝影機31係位於相同側。藉由此等四個光學膜黏貼位置測定裝置101，測定液晶面板P1之單面的4邊之光學膜F1之黏貼位置。

此一情況下，為了更正確地測定光學膜之黏貼位置，於此一實施例中，液晶面板之四個角隅處雖配置有光學膜黏貼位置測定裝置101，然光學膜黏貼位置測定裝置101至少配置於液晶面板之一個角隅即可。

[實施例3]

實施例3僅有光學膜黏貼位置測定裝置101只在生產線之1個處所配置此點與實施例2相異。針對與實施例2相同之構成，省略其說明。

於實施例3之液晶面板生產線中，如第8圖所示，光學膜黏貼位置測定裝置101僅配置於第2光學膜黏貼裝置PS2之下游側。亦即，實施例3中，於液晶單元之兩面完成光學膜之黏貼後，係就兩面之光學膜之黏貼位置同時測定。

此一情況下，光學膜黏貼位置測定裝置101係如第9圖所示，配置於液晶面板P1之四個角隅，但係以處於對角之光學膜黏貼位置測定裝置101之朝向相同，而鄰接之光學膜黏貼位置測定裝置101之朝向相反的方式配置。具體而言，針對處於液晶面板P1之對角之光學膜黏貼位置測定裝置101，攝影機31係配置於與液晶面板 P1同側，而針對鄰接之光學膜黏貼位置測定裝置101，攝影機31係配置於液晶面板P1之不同側。

藉由如此般之配置，例如藉由配置於液晶面板P1之一對對角之光學膜黏貼位置測定裝置101可測定第1光學膜之黏貼位置，藉由配置於液晶面板P1之其他對角之光學膜黏貼位置測定裝置101可測定第2光學膜之黏貼位置。

於此一實施例中，為了更正確地測定光學膜之黏貼位置，係於液晶面板之四個角隅配置光學膜黏貼位置測定裝置101，然光學膜黏貼位置測定裝置101至少配置於液晶面板之鄰接之兩個角隅即可。

[實施例4]

實施例4中，光學膜黏貼位置測定裝置係配置於液晶面板生產線之兩個處所，此兩個配置處所均是位於第2光學膜黏貼位置之下游側此點，與實施例2有所不同。

如第10圖所示，第1光學膜黏貼位置測定裝置101與第2光學膜黏貼位置測定裝置101，係依序配置於第2光學膜黏貼裝置PS2之下游。亦即，兩個光學膜黏貼位置測定裝置一起針對兩面黏貼有光學膜之液晶面板進行位置檢査。

此一情況下，第1光學膜黏貼位置測定裝置101係如第7圖般，分別配置於液晶面板之四個角隅，且 四個光學膜黏貼位置測定裝置101之攝影機，均是配置於液晶面板之一側，而據以測定第1光學膜之黏貼位置。另一方面，第2光學膜黏貼位置測定裝置101係如第11圖般，分別配置於液晶面板之四個角隅，且4個光學膜黏貼位置測定裝置101之攝影機，均是配置於液晶面板之相反側，而據以測定第2光學膜之黏貼位置。

根據此一實施例，第1光學膜與第2光學膜均是於四角被檢查黏貼位置之偏離，可使黏貼位置之檢査更高精度地進行。

此一實施例中，為了更正確地測定光學膜之黏貼位置，係於液晶面板之四個角隅配置光學膜黏貼位置測定裝置101，但光學膜黏貼位置測定裝置101至少配置於液晶面板之一個角隅即可。此一情況下也是，第1光學膜黏貼位置測定裝置之攝影機係配置於光學顯示裝置之一側，而第2光學膜黏貼位置測定裝置之攝影機係配置於光學顯示裝置之相反側。

如上所述，雖已參照圖面舉出實施例將本發明之內容予以說明，毫無疑問本發明之內容不受此限制。於申請專利範圍之範圍內所為之各種變形或改良，均包含於本發明之範圍內。例如，作為顯示器，亦可適用有機EL顯示裝置等之圖像顯示裝置。

1‧‧‧紅外線光源

2‧‧‧環形光源

3‧‧‧攝影機構

4‧‧‧擴散板

5‧‧‧圖像處理裝置

6‧‧‧機架

31‧‧‧攝影機

32‧‧‧鏡頭

F1‧‧‧偏光膜

C1‧‧‧液晶單元

101‧‧‧光學膜黏貼位置測定裝置

Claims (10)

1. 一種光學膜黏貼位置測定裝置，其特徵為：其係針對於光學元件上黏貼有光學膜之光學顯示裝置，測定其光學膜之黏貼位置，且具備：機架、設於上述機架之一端側且射出紅外線之紅外線光源、設於上述機架之另一端側且設成可使上述紅外線入射之攝影機構、以及設於上述紅外線光源與上述攝影機構之間之環形光源；上述紅外線光源與上述環形光源其光軸大致為同軸，且光之射出方向為對向，而且其間形成有可供上述光學顯示裝置通過之空間。
2. 如申請專利範圍第1項之光學膜黏貼位置測定裝置，其中自上述紅外線光源射出之紅外線透射上述光學顯示裝置，以其透射光進行拍攝而測定光學元件內部之黑矩陣之端部與上述光學膜之外緣的距離；自上述環形光源射出之光係由上述光學顯示裝置反射，藉由其反射光進行拍攝而測定光學元件之外緣與上述光學膜之外緣之距離。
3. 如申請專利範圍第1或2項之光學膜黏貼位置測定裝置，其中上述紅外線光源與上述光學顯示裝置之間進而具備擴散板。
4. 如申請專利範圍第1或2項之光學膜黏貼位置測 定裝置，其中上述攝影機構係將拍攝之圖像資料發送至圖像處理裝置。
5. 一種光學顯示裝置生產線，係於光學元件之兩面黏貼光學膜而製造光學顯示裝置，其特徵為：此生產線依序具備：於上述光學元件之一面黏貼第1光學膜之第1光學膜黏貼裝置、以及於上述光學元件之另一面黏貼第2光學膜之第2光學膜黏貼裝置；上述第1光學膜黏貼裝置與上述第2光學膜黏貼裝置之間，配置有如申請專利範圍第1至4項中任一項之光學膜黏貼位置測定裝置供測定上述第1光學膜之黏貼位置；於上述第2光學膜黏貼裝置下游側配置有如申請專利範圍第1至4項中任一項之光學膜黏貼位置測定裝置供測定上述第2光學膜之黏貼位置；上述光學膜黏貼位置測定裝置，於任一配置處所中係至少配置於上述光學顯示裝置之一個角隅。
6. 如申請專利範圍第5項之光學顯示裝置生產線，其中上述光學膜黏貼位置測定裝置係以上述攝影機構相對上述光學顯示裝置為同一側之方式配置於光學顯示裝置之四個角隅。
7. 一種光學顯示裝置生產線，係於光學元件之兩面黏貼光學膜而製造光學顯示裝置，其特徵為：此生產線依序具備： 於上述光學元件之一面黏貼第1光學膜之第1光學膜黏貼裝置、以及於上述光學元件之另一面黏貼第2光學膜之第2光學膜黏貼裝置；僅於上述第2光學膜黏貼裝置之下游側配置如申請專利範圍第1至4項中任一項之光學膜黏貼位置測定裝置，而同時測定上述第1光學膜與上述第2光學膜之黏貼位置；上述光學膜黏貼位置測定裝置係至少配置於上述光學顯示裝置之鄰接之二個角隅，鄰接配置之光學膜黏貼位置測定裝置之上述攝影機構係配置成相對上述光學顯示裝置為不同之朝向。
8. 如申請專利範圍第7項之光學顯示裝置生產線，其中上述光學膜黏貼位置測定裝置係設置於上述光學顯示裝置之四個角隅，位於對角之光學膜黏貼位置測定裝置的攝影機構係配置成相對上述光學顯示裝置位於同一側，而鄰接之光學膜黏貼位置測定裝置的攝影機構係配置成相對上述光學顯示裝置位於不同側。
9. 一種光學顯示裝置生產線，係於光學元件之兩面黏貼光學膜而製造光學顯示裝置，其特徵為：此生產線依序具備：於上述光學元件之一面黏貼第1光學膜之第1光學膜黏貼裝置、以及於上述光學元件之另一面黏貼第2光學膜之第2光學 膜黏貼裝置；於上述第2光學膜黏貼裝置之下游側，測定第1光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置、與測定第2光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置，分別係於二個處所依次配置；上述光學膜黏貼位置測定裝置係如申請專利範圍第1至4項中任一項之光學膜黏貼位置測定裝置，且測定第1光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置之攝影機構係相對上述光學顯示裝置位於一側，測定上述第2光學膜的黏貼位置之光學膜黏貼位置測定裝置之攝影機構相對上述光學顯示裝置係位於上述一側之相反側。
10. 如申請專利範圍第9項之光學顯示裝置生產線，其中測定第1光學膜的黏貼位置之上述光學膜黏貼位置測定裝置、與測定第2光學膜的黏貼位置之上述光學膜黏貼位置測定裝置，分別係配置於上述光學顯示裝置之四個角隅。