TW201333445A - 檢查裝置及光學部材貼合體之製造裝置 - Google Patents

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Tatsuya Tsuchioka
Kazunori Kishizaki
Keita Imura
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Sumitomo Chemical Co
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Abstract

本發明的檢查裝置，檢查貼合光學部材於光學顯示部件而成的光學部材貼合體是否有缺陷，包含：第一光源，向著前述光學部材貼合體的第一主面射出第一光；第一聚光透鏡，使從配置於前述第一光源與前述第一主面之間的前述第一光源射出的前述第一光，向著前述第一主面聚光；及第一攝影裝置，將以前述第一聚光透鏡聚光並透過前述光學部材貼合體的前述第一光的光圖像攝影。

Description

檢查裝置及光學部材貼合體之製造裝置
本發明是關於一種檢查裝置及光學部材貼合體之製造裝置。
以往，做為製造液晶顯示器等的光學部材貼合體的製造裝置，已知日本專利第4079716號公報或日本專利第4307510號公報所記載的製造裝置。光學部材貼合體是由將偏光膜等光學部材貼合於液晶面板等光學顯示部件所形成。在貼合光學顯示部件與光學部材的貼合裝置的下流側，設有：檢查裝置，進行光學部材貼合體的外觀檢查。在檢查裝置，藉由從光學部材貼合體的一面側來照射光，攝影透過光學部材貼合體的光或反射的光，檢查是否貼合時有氣泡夾入或光學部材表面有傷、是否光學顯示部件本身有缺陷(方向錯誤等)。
做為將光照射至光學部材貼合體的光源裝置，係採用LED等高亮度光源。光源裝置被設於遍佈光學部材貼合體的搬送路徑的全寬，向著光學部材貼合體照射帶狀光。從光源裝置射出的光係平行或略擴散並照射至光學部材貼合體，照明光學部材貼合體的固定寬度的區域。然而，在最近的檢查裝置，要求檢查更小異物或缺陷等，為了提高檢查精確度，需要更明亮的光源裝置。但是，提高光源裝置的亮度有極限，提高光源裝置的亮度會產生光源裝置的大型化或成本增加等新問題。
本發明有鑑於如此狀況，其目的在於提供一種能以良好精確度檢查光學部材貼合體是否有缺陷的檢查裝置、光學部材貼合體的製造裝置。
為達成上述目的，本發明的第一狀態的檢查裝置，檢查貼合 光學部材於光學顯示部件而成的光學部材貼合體是否有缺陷，具備第一檢查單元，該第一檢查單元包含：第一光源，向著前述光學部材貼合體的第一主面射出第一光；第一聚光透鏡，使從配置於前述第一光源與前述第一主面之間的前述第一光源射出的前述第一光，向著前述第一主面聚光；及第一攝影裝置，將以前述第一聚光透鏡聚光並透過前述光學部材貼合體的前述第一光的光圖像攝影。
在本發明的第一狀態的檢查裝置中，較佳為前述光學部材貼合體，從前述第一主面的法線方向來看是矩形形狀；前述第一光源，具有光射出面，該光射出面具有沿著前述光學部材貼合體的一邊的縱向部；前述第一聚光透鏡被設成遍及前述第一光源的光射出面整體。
在本發明的第一狀態的檢查裝置中，較佳為前述第一聚光透鏡為菲涅耳透鏡(Fresnel lens)。
本發明的第一狀態的檢查裝置，較佳為更具備第二檢查單元，該第二檢查單元包含：第二光源，向著與前述光學部材貼合體的前述第一主面相反側的第二主面射出第二光；第二聚光透鏡，使從配置於前述第二光源與前述第二主面之間的前述第二光源射出的前述第二光，向著前述第二主面聚光；及第二攝影裝置，將以前述第二聚光透鏡聚光並在前述第二主面反射的第二光的圖像攝影。
在本發明的第一狀態的檢查裝置中，較佳為前述第一光入射至前述第一主面時的在前述第一主面的照度，比前述第二光入射至前述第二主面時的在前述第二主面的照度更大。
在本發明的第一狀態的檢查裝置中，較佳為前述第二主面是圖像顯示面。
本發明的第一狀態的檢查裝置，較佳為更具備第三檢查單元，該第三檢查單元包含：第三光源，向著與前述第一主面射出第三光；第三聚光透鏡，使從配置於前述第三光源與前述第一主面之間的前述第三光源射出的前述第三光，向著前述第一主面聚光；及第三攝影裝置，將以前述第三聚光透鏡聚光並在前述第一主面反射的第三光的圖像攝影。
本發明第二狀態的光學部材貼合體之製造裝置，是貼合光學 部材於光學顯示部件而成的光學部材貼合體之製造裝置，包含：搬送裝置，搬送前述光學部材；貼合裝置，將以前述搬送裝置搬送的前述光學部材貼合於前述光學顯示部件並製作前述光學部材貼合體；及檢查裝置，檢查以前述貼合裝置製作的前述光學部材貼合體是否有缺陷。
根據本發明的第一狀態及第二狀態，可提供一種能以良好精確度檢查光學部材貼合體是否有缺陷的檢查裝置、光學部材貼合體的製造裝置。
1‧‧‧膜貼合系統(光學部材貼合的製造裝置)
5‧‧‧滾輪運送機
6‧‧‧上流側輸送帶
7‧‧‧下流側輸送帶
11‧‧‧第一吸附裝置
11a‧‧‧面板保持部
11b‧‧‧校準攝影機
12‧‧‧第一集塵裝置
13‧‧‧第一貼合裝置(貼合裝置)
14‧‧‧第一移位檢查裝置
14a、18a‧‧‧攝影機
15‧‧‧第一反轉裝置
15a‧‧‧旋轉軸
15b‧‧‧反轉臂
15c‧‧‧校準攝影機
16‧‧‧第二集塵裝置
17‧‧‧第二貼合裝置(貼合裝置)
18‧‧‧第二移位檢查裝置
19‧‧‧第二反轉裝置
20‧‧‧第二吸附裝置
22‧‧‧搬送裝置
22a‧‧‧輥保持部
22b‧‧‧導引滾輪
22c‧‧‧切斷裝置
22d‧‧‧刀刃
22e‧‧‧捲取部
23‧‧‧挾壓輥
23a‧‧‧貼合滾輪
24‧‧‧張力調節輥輸送帶
26‧‧‧吸附墊
30、30A‧‧‧缺陷檢查裝置(檢查裝置)
31‧‧‧第一檢查單元
32‧‧‧第二檢查單元
33‧‧‧第三檢查單元
40‧‧‧控制部
311‧‧‧第一光源裝置
311a‧‧‧第一光源
311b‧‧‧第一聚光透鏡
311c‧‧‧第一蓋
311X‧‧‧光源裝置
311Xa‧‧‧光源
311Xb‧‧‧擴散板
311Xc‧‧‧蓋
312‧‧‧第一攝影裝置
312s、322s、332s‧‧‧受光面
321‧‧‧第二光源裝置
321a‧‧‧第二光源
321b‧‧‧第二聚光透鏡
321c‧‧‧第二蓋
322‧‧‧第二攝影裝置
331‧‧‧第三光源裝置
331a‧‧‧第三光源
331b‧‧‧第三聚光透鏡
331c‧‧‧第三蓋
332‧‧‧第三攝影裝置
AR1、AR2‧‧‧光射出面
F‧‧‧光學片
F1‧‧‧光學部材
F2‧‧‧黏著層
F3‧‧‧隔離層
F4‧‧‧表面保護膜
F5‧‧‧貼合片
F6‧‧‧偏光子
F7‧‧‧第一膜
F8‧‧‧第二膜
L1‧‧‧第一光
L2‧‧‧第二光
L3‧‧‧第三光
LX‧‧‧光
P‧‧‧液晶面板(光學顯示部件)
P1‧‧‧第一基板
P2‧‧‧第二基板
P3‧‧‧液晶層
P4‧‧‧顯示區域
P11‧‧‧片面貼合面板
P12‧‧‧兩面貼合面板(光學部材貼合體)
R‧‧‧軌道
R1‧‧‧原料輥
R2‧‧‧隔離層輥
S‧‧‧停止器
Sf1‧‧‧第一主面
Sf2‧‧‧第二主面
SfX‧‧‧主面
θ、θ A‧‧‧角度
第一圖係表示本發明第一實施形態的光學部材貼合體的製造裝置的概略圖。
第二圖係從第一圖的箭頭方向A來看的平面圖。
第三圖係表示本發明第一實施形態的在光學部材貼合體的製造裝置的液晶面板的平面圖。
第四圖係表示本發明第一實施形態的在光學部材貼合體的製造裝置的偏光膜片的剖面圖。
第五圖係表示本發明第一實施形態的在光學部材貼合體的製造裝置的檢查裝置的圖。
第六圖係表示本發明第一實施形態的在光學部材貼合體的製造裝置的第一光源裝置的分解斜視圖。
第七圖係表示本發明第一實施形態的在光學部材貼合體的製造裝置的第二光源裝置的分解斜視圖。
第八A圖係說明本發明第一實施形態的在光學部材貼合體的製造裝置的檢查裝置的作用，表示以往光源裝置的概略圖。
第八B圖係說明本發明第一實施形態的在光學部材貼合體的製造裝置的檢查裝置的作用，表示第一實施形態的第一光源裝置的概略圖。
第九圖係表示本發明第二實施形態的在光學部材貼合體的製造裝置的檢查裝置的圖。
以下參照圖式並說明本發明的實施形態，但本發明並不受限於以下實施形態。
又，在以下所有圖式中，為了更容易觀看圖式，各構成要素的尺寸或比率等會適當變化。又，以下說明及圖式中，賦予相同符號於相同或相當的要素，省略重複說明。
在以下的說明中，依需要採用XYZ直角坐標系，參照此XYZ直角坐標系並說明關於各部材的位置關係。在本實施形態中，將光學顯示部件(液晶面板)的搬送方向做為X方向，將在液晶面板的面內垂直於X方向的方向(液晶面板的寬方向)做為Y方向，將垂直於X方向及Y方向的方向做為Z方向。
(第一實施形態)
以下參照圖式來說明關於本發明的第一實施形態的光學部材貼合體的製造裝置(膜貼合系統1)。
第一圖係表示本實施形態的膜貼合系統1的概略結構圖。
膜貼合系統1是將被稱為偏光膜或反射防止膜、光擴散膜的膜狀光學部材貼合於例如被稱為液晶面板或有機EL面板的面板狀光學顯示部件。
又，在本實施形態，雖然做為前述光學顯示部件，是以液晶面板P為例來表示，做為光學部材貼合體，是以由將貼合片F5貼合於液晶面板P的表面及背面的兩面所形成的兩面貼合面板P12為例來表示，但本發明並不受限於如此兩面貼合面板。
如第一圖所示，本實施形態的膜貼合系統1，被設計為液晶面板P的製造線的一步驟。膜貼合系統1的各部，以做為電子控制裝置的控制部40來統一控制。
第二圖係從第一圖的箭頭方向A來看的平面圖。
如第二圖所示，在本實施形態的膜貼合系統1的液晶面板P的製造線中，對於液晶面板P的搬送方向，液晶面板P的姿態是在製造線的途中反轉90°。膜貼合系統1是在液晶面板P的表面及背面，將彼此向著 垂直偏光軸的方向的偏光膜F1貼合。
第三圖係表示從液晶層P3的厚度方向來看液晶面板P的平面圖。液晶面板P具備：第一基板P1，在平面視角為長方形狀；第二基板P2，面對第一基板P1配置成相對小的長方形狀；及液晶層P3，封入第一基板P1與第二基板P2之間。液晶面板P在平面視角成為沿著第一基板P1的外形狀的長方形狀，在平面視角收納於液晶層P3的外周內側的區域是顯示區域P4。
第四圖係貼合在液晶面板P的包含光學部材F1的光學片F的剖面圖。又，在第四圖中，為了方便，省略了表示在剖面圖中各層的影線(hatching)。
如第四圖所示，光學片F具有：膜狀的前述光學部材F1；黏著層F2，設於光學部材F1的一方的面(在圖中為上面、第一面)；隔離層F3，經由黏著層F2被積層成可分離於光學部材F1的一方的面；及表面保護膜F4，被積層於光學部材F1的他方的面(在圖中為下面、第二面)。光學部材F1做為偏光板來運作，被貼合成遍及液晶面板P的顯示區域P4的全區域與其周邊區域。
光學部材F1在將黏著層F2留在光學部材F1的一方的面，並將隔離層F3分離的狀態下，經由黏著層F2貼合於液晶面板P。以下，從光學片F除去隔離層F3的部分稱為貼合片F5。
隔離層F3是在隔離層F3從黏著層F2分離為止，保護黏著層F2及光學部材F1。表面保護膜F4與光學部材F1一起貼合於液晶面板P。表面保護膜F4對於光學部材F1，被配置於液晶面板P的相反側，保護光學部材F1，並在特定時機從光學部材F1分離。又，光學片F也可以是不包含表面保護薄膜F4的結構，表面保護膜F4也可以是不從光學部材F1分離的結構。
光學部材F1具有：片狀偏光子F6；第一膜F7，以接著劑等接合於偏光子F6的一方的面(第一面)；及第二膜F8，以接著劑等接合於偏光子F6的他方的面(第二面)。第一膜F7及第二膜F8為例如保護偏光子F6的保護膜。
又，光學部材F1可以是由一層光學層組成的單層結構，也可以是複數個光學層彼此積層的積層結構。前述光學層除了偏光子F6，也可以是相位差膜(phase difference film)或增亮膜(brightness enhancement film)。第一膜F7與第二膜F8的至少一者，也可以施加表面處理，該表面處理獲得包含保護液晶顯示元件的最外面的硬塗層(hard coat)處理或遮光(antiglare)處理等防眩等效果。光學部材F1也可以不包含第一膜F7與第二膜F8的至少一者。例如在省略第一膜F7的狀況，也可以經由黏著層F2貼合隔離層F3於光學部材F1的一方的面。
接下來，詳細說明關於本實施形態的膜貼合系統1。
如第一圖所示，本實施形態的膜貼合系統1，從圖中右側的液晶面板P的搬送方向的上流側(+X方向側)，到圖中左側的液晶面板P的搬送方向下流側(-X方向側)，具備：驅動式滾輪運送機(roller conveyor)5，在水平狀態下搬送液晶面板P。
滾輪運送機5以後述的第一反轉裝置15為境界，分成上流側輸送帶6與下流側輸送帶7。如第二圖所示，在上流側輸送帶6，液晶面板P係顯示區域P4的短邊沿著搬送方向搬送。另一方面，在下流側輸送帶7，液晶面板P係顯示區域P4的長邊沿著搬送方向搬送。對於此液晶面板P的表面及背面，從帶狀的前述光學片F切出特定長度的貼合片F5被貼合。
又，上流側輸送帶6，在後述的第一吸附裝置11，具備獨立於下流側的張力調節輥輸送帶24。另一方面，下流側輸送帶7，在後述的第二吸11置20，具備獨立於下流側的張力調節輥輸送帶24。
本實施形態的膜貼合系統1具備：第一吸附裝置11、第一集塵裝置12、第一貼合裝置13、第一移位檢查裝置14、第一反轉裝置15、第二集塵裝置16、第二貼合裝置17、第二移位檢查裝置18、第二反轉裝置19、第二吸附裝置20、缺陷檢查裝置(檢查裝置)30、及控制部40。
第一吸附裝置11係吸附液晶面板P並搬送至上流側輸送帶6，同時進行液晶面板P的校準(定位)。第一吸附裝置11具有：面板保持部11a、校準攝影機11b、及軌道R。
面板保持部11a是以上流側輸送帶6將抵接於下流側的停止 器S的液晶面板P保持成可在上下方向及水平方向移動，並進行液晶面板P的校準。面板保持部11a是將抵接於停止器S的液晶面板P的上面以真空吸附來吸附保持。面板保持部11a在吸附保持液晶面板P的狀態下，在軌道R上移動並搬送液晶面板P。面板保持部11a在該搬送結束時，解除前述吸附保持並將液晶面板P交給張力調節輥輸送帶24。
校準攝影機11b係面板保持部11a保持抵接於停止器S的液晶面板P，在上升狀態下攝影液晶面板P的校準標記或前端形狀等。因校準攝影機11b產生的攝影資料被傳訊至控制部40，根據此攝影資料，面板保持部11a運作並進行對於搬送目的的張力調節輥輸送帶24的液晶面板P的校準。也就是說，考慮對於張力調節輥輸送帶24的搬送方向、在垂直於搬送方向的方向長度、及在液晶面板P的繞著垂直軸的旋轉方向的移位量(長度(寬度)的移位、角度的移位)，在決定液晶面板P的位置的狀態下，液晶面板P被搬送至張力調節輥輸送帶24。
在此，以面板保持部11a在軌道R上搬送的液晶面板P，在吸附於吸附墊26的狀態下，與後述的貼合片F5一起將前端部挾持於挾壓輥23。
第一集塵裝置12被設於第一貼合裝置13的貼合裝置(挾壓輥23)的液晶面板P的搬送上流側。第一集塵裝置12為了除去導入至貼合位置前的液晶面板P的周邊塵埃，特別是除去下面側的塵埃，進行除去靜電與集塵。
第一貼合裝置13被設在比第一吸附裝置11更往面板搬送下流側。第一貼合裝置13對於在貼合位置所導入的液晶面板P的下面，貼合切割成特定尺寸的貼合片F5。
第一貼合裝置13具備：搬送裝置22及挾壓輥23。
搬送裝置22從纏繞了光學片F的原料輥R1捲出光學片F並沿著其長方向搬送光學片F。搬送裝置22將隔離層F3做為載體並搬送貼合片F5。搬送裝置22具有：輥保持部22a、複數個導引滾輪(guide roller)22b、切斷裝置22c、刀刃22d、及捲取部22e。
輥保持部22a保持纏繞了帶狀光學片F的原料輥R1並沿著 其長方向送出光學片F。
為了沿著特定搬送路徑引導從原料輥R1捲出的光學片F，光學片F被捲掛(接觸)於複數個導引輥22b。
切斷裝置22c對位於搬送路徑上的光學片F施以半切。
在刀刃22d，捲掛有施加半切的光學片F成刀刃22d的前端部與光學片F所成角度為銳角。刀刃22d從隔離層F3使貼合片F5分離，並將此貼合片F5供給至貼合位置。
捲取部22e保持隔離層輥R2，隔離層輥R2經由刀刃22d來捲取成為單獨的隔離層F3。
位於搬送裝置22的起始點的輥保持部22a與位於搬送裝置22的終點的捲取部22e，為例如彼此同步驅動。藉此，輥保持部22a往其搬送方向送出光學片F，並且捲取部22e經由刀刃22d捲取隔離層F3。以下，將在搬送裝置22的光學片F(隔離層F3)的搬送方向上流側稱為片搬送上流側，將搬送方向下流側稱為片搬送下流側。
各導引滾輪22b使搬送中的光學片F的行進方向沿著搬送路徑變化，同時可動成複數個導引滾輪22b的至少一部分調整搬送中的光學片F的張力。
又，在輥保持部22a與切斷裝置22c之間也可以配置有圖未顯示的張力滾輪(dancer roller)。張力滾輪係在光學片F被切斷裝置22c切斷之間，吸收從輥保持部22a搬送的光學片F的送出量(調整成獲得想要的送出量)。
切斷裝置22c在光學片F被送出特定長度時，遍佈垂直於光學片F的長方向的寬方向全寬，進行切斷光學片F的厚度方向的一部分的半切。
切斷裝置22c藉由在光學片F搬送中運作的張力，為了使光學片F(隔離層F3)不破裂切斷(為了使特定厚度留在隔離層F3)，調整切斷刃的進退位置，施加前述半切於黏著層F2與隔離層F3的介面附近(靠近介面的位置)為止。
在半切後的光學片F，藉由在其厚度方向切斷光學部材F1 及表面保護膜F4，形成遍及光學片F的寬度方向的全寬的切入線。切入線在帶狀光學片F的長方向被形成為複數個並列。例如在搬送相同尺寸的液晶面板P的貼合步驟，複數個切入線在光學片F的長方向被等間隔地形成。光學片F是被前述複數個切入線在長方向分為複數個區劃。在光學片F的長方向相鄰的一對切入線所挾著的區劃，各做為在貼合片F5的一薄片。
刀刃22d配置在上流側輸送帶6的下方，並在光學片F的寬方向延伸遍及至少其全寬度。在刀刃22d係光學片F被捲掛成在半切後的光學片F的隔離層F3側滑動。
刀刃22d具有：第一面，從光學片F的寬方向(上流側輸送帶6的寬方向)來看，向著光學片F的下方；第二面，在第一面上方從光學片F的寬方向來看，對第一面配置成銳角；及前端部，係第一面及第二面交會。
在刀刃22d，其前端部有光學片F被捲掛成銳角。光學片F在刀刃22d的前端部折回成銳角時，從隔離層F3分離貼合片F5的薄片。刀刃22d的前端部，被配置在接近挾壓輥23的面板搬送下流側。以刀刃22d從隔離層F3分離的貼合片F5，重疊在吸附於第一吸附裝置11狀態的液晶面板P的下面，並導入至挾壓輥23的一對貼合滾輪23a間。
挾壓輥23係搬送裝置22將從光學片F分離的特定長度的貼合片F5貼合於以上流側輸送帶6搬送的液晶面板P的下面。挾壓輥23具有彼此平行軸方向配置的一對貼合滾輪23a、23a(位於光學片F的上方的貼合滾輪23a係上下移動)。在一對貼合滾輪23a、23a之間形成有特定間隙，此間隙內成為第一貼合裝置13的貼合位置。在前述間隙內，液晶面板P及貼合片F5重疊地被導入。這些液晶面板P及貼合片F5被挾壓於各貼合滾輪23a並送出至上流側輸送帶6的面板搬送下流側。藉此，貼合片F5被一體地貼合於液晶面板P的下面。以下將此貼合後的面板稱為片面貼合面板P11。
第一移位檢查裝置14被配置在比第一貼合裝置13更往面板搬送下流側。第一移位檢查裝置14在片面貼合面板P11，檢查對於液晶面板P的貼合片F5的位置是否正確(位置移位是否在公差範圍內)。第一移 位檢查裝置14具有：一對攝影機14a，例如攝影在片面貼合面板P11的面板搬送上流側及下流側的貼合片F5的端緣。以各攝影機14a的攝影獲得的攝影資料被傳訊至控制部40，根據此攝影資料判定貼合片F5及液晶面板P的相對位置是否正確。當被判定為前述相對位置不正確的片面貼合面板P11會被圖未顯示的放出裝置排出到系統外。
第一反轉裝置15被設在比第一移位檢查裝置14更往面板搬送下流側。第一反轉裝置15將到達上流側輸送帶6的終端位置的液晶面板P搬送到下流側輸送帶7的起始位置為止。第一反轉裝置15具有：旋轉軸15a，例如對於液晶面板P的搬送方向在平面視角傾斜成45°；及反轉臂15b，經由旋轉軸15a被支持在上流側輸送帶6的終端位置及下流側輸送帶7的起始位置之間。
反轉臂15b經由第一移位檢查裝置14，以吸附或挾持等來保持到達上流側輸送帶6的終端位置的片面貼合面板P11。反轉臂15b是藉由在旋轉軸15a周圍轉動180°，使片面貼合面板P11的表面及背面反轉。反轉臂15b使例如平行於前述顯示區域P4的短邊搬送的片面貼合面板P11方向轉換成平行於前述顯示區域P4的長邊搬送。
前述反轉動作係貼合於液晶面板P的表面及背面的各光學部材F1在偏光軸位置彼此配置成直角的狀況下進行。上流側輸送帶6及下流側輸送帶7一起從圖右側向著左側的方向搬送液晶面板P。由於在上流側輸送帶6與下流側輸送帶7之間設有第一反轉裝置15，上流側輸送帶6及下流側輸送帶7在平面視角僅偏移(移位)特定量。
又，僅在使液晶面板P的表面及背面反轉的狀況下，例如也可以使用反轉裝置，該反轉裝置具有反轉臂，該反轉臂具有平行於搬送方向的旋轉軸。在此狀況下，第一貼合裝置13的片搬送方向與第二貼合裝置17的片搬送方向，若在平面視角彼此成直角配置，則可以貼合液晶面板P的表面及背面在偏光軸位置彼此配置成直角光學部材F1。
反轉臂15b具有與前述第一吸附裝置11的面板保持部11a一樣的校準功能。在第一反轉裝置15，設有與前述第一吸附裝置11的校準攝影機11b一樣的校準攝影機15c。
由於第二吸附裝置20具備與第一吸附裝置11一樣的結構，所以在以下說明中賦予相同符號於相同部分。第二吸附裝置20吸附片面貼合面板P11並搬送至下流側輸送帶7，同時進行片面貼合面板P11的校準(定位)。第二吸附裝置20具有：面板保持部11a、校準攝影機11b、及軌道R。
面板保持部11a是以下流側輸送帶7將抵接於下流側的停止器S的片面貼合面板P11保持成可在上下方向及水平方向移動，並進行片面貼合面板P11的校準。面板保持部11a是將抵接於停止器S的片面貼合面板P11的上面以真空吸附來吸附保持。面板保持部11a在吸附保持片面貼合面板P11的狀態下，在軌道R上移動並搬送片面貼合面板P11。面板保持部11a在該搬送結束時，解除前述吸附保持並將片面貼合面板P11交給張力調節輥輸送帶24。
校準攝影機11b係面板保持部11a保持抵接於停止器S的片面貼合面板P11，在上升狀態下攝影液晶面板P的校準標記或前端形狀等。因校準攝影機11b產生的攝影資料被傳訊至控制部40，根據此攝影資料，面板保持部11a運作並進行對於搬送目的的張力調節輥輸送帶24的片面貼合面板P11的校準。也就是說，考慮對於張力調節輥輸送帶24的搬送方向、在垂直於搬送方向的方向長度、及在片面貼合面板P11的繞著垂直軸的旋轉方向的移位量(長度(寬度)的移位、角度的移位)，在決定片面貼合面板P11的位置的狀態下，片面貼合面板P11被搬送至張力調節輥輸送帶24。
第二集塵裝置16係配置於第二貼合裝置17的貼合裝置(挾壓輥23)的液晶面板P的搬送方向上流側。第二集塵裝置16為了除去導入至貼合位置前的片面貼合面板P11的周邊塵埃，特別是除去下面側的塵埃，進行除去靜電與集塵。
第二貼合裝置17被設在比第二集塵裝置16更往面板搬送下流側。第二貼合裝置17對於在貼合位置所導入的片面貼合面板P11的下面，貼合切割成特定尺寸的貼合片F5。第二貼合裝置17與前述第一貼合裝置13一樣，具備：搬送裝置22及挾壓輥23。
在挾壓輥23的一對貼合滾輪23a間的間隙內(第二貼合裝置17的貼合位置)，片面貼合面板P11及貼合片F5在重疊狀態下被導入， 貼合片F5被一體貼合於片面貼合面板P11的下面。以下，此貼合後的面板稱為兩面貼合面板P12(光學部材貼合體)。
第二移位檢查裝置18被設在比第二貼合裝置17更往面板搬送下流側。第二移位檢查裝置18在兩面貼合面板P12，檢查對於片面貼合面板P11的貼合片F5的位置是否正確(位置移位是否在公差範圍內)。第二移位檢查裝置18具有：一對攝影機18a，例如攝影在兩面貼合面板P12的面板搬送上流側及下流側的貼合片F5的端緣。以各攝影機18a的攝影獲得的攝影資料被傳訊至控制部40，根據此攝影資料判定貼合片F5及液晶面板P的相對位置是否正確。當被判定為前述相對位置不正確的兩面貼合面板P12會被圖未顯示的放出裝置排出到系統外。
第二反轉裝置19被設在比第二移位檢查裝置18更往面板搬送下流側。第二反轉裝置19經由第一反轉裝置15，使位於背光側的面往上的液晶面板P(兩面貼合面板P12)的表面及背面反轉，與液晶面板P被搬入至膜貼合系統1時一樣，將液晶面板P的顯示面往上。
缺陷檢查裝置30被設在比第二反轉裝置19更往面板搬送下流側。缺陷檢查裝置30檢查兩面貼合面板P12有無缺陷(貼合錯誤等)。做為檢查對象的缺陷，可列舉為：在液晶面板與貼合片貼合時，在液晶面板與貼合片混入(夾入)異物或氣泡、貼合片表面的傷、存在於液晶面板內的方向錯誤等缺陷等。
又，在本實施形態，做為統一控制膜貼合系統1各部的電子控制裝置的控制部40，被構成為包含電腦系統。此電腦系統具備：CPU等演算處理部及記憶體或硬碟等記憶部。
本實施形態的控制部40，包含可執行與電腦系統外部裝置的通訊的介面。在控制部40也可以連接有可將輸入訊號輸入的輸入裝置。上述輸入裝置包含鍵盤、滑鼠等輸入機器，或可輸入來自電腦系統外部裝置的資料的通訊裝置。控制部40也可以包含表示膜貼合系統1各部動作狀況的液晶顯示器等顯示裝置，也可以與顯示裝置連接。
在控制部40的記憶部，安裝有控制電腦系統的作業系統(OS)。在控制部40的記憶部，記錄有程式，該程式藉由在演算處理部控 制膜貼合系統1各部，在膜貼合系統1各部執行用來使光學片F高精確度地搬送的處理。在記憶部所記錄的包含程式的各種資訊，可以由控制部40的演算處理部讀取。控制部40也可以包含執行膜貼合系統1各部的控制所需的各種處理的ASIC等邏輯電路。
記憶部是包含下列概念：被稱為RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)等的半導體記憶體，或被稱為硬碟、CD-ROM讀取裝置、碟型記憶媒體等的外部記憶裝置等。記憶部在功能上被設定成將記述第一吸附裝置11、第一集塵裝置12、第一貼合裝置13、第一移位檢查裝置14、第一反轉裝置15、第二集塵裝置16、第二貼合裝置17、第二移位檢查裝置18、第二反轉裝置19、第二吸附裝置20、缺陷檢查裝置30的動作的控制順序的程式軟體給記憶的記憶區域，或其他各種記憶區域。
(缺陷檢查裝置)
接下來詳細說明關於本實施形態的缺陷檢查裝置30，第五圖係表示本實施形態的缺陷檢查裝置30的圖。在第五圖中，符號Sf1是兩面貼合面板P12的下面(第一主面)，例如安裝背光的面。符號Sf2是兩面貼合面板P12的上面(第二主面)，是圖像顯示面。
如第五圖所示，本實施形態的缺陷檢查裝置30具備：第一檢查單元31及第二檢查單元32。
第一檢查單元31具備：第一光源裝置311及第一攝影裝置312。第一光源裝置311具備：第一光源311a、第一聚光透鏡311b及第一蓋311c。
第一光源311a具有光射出面AR1，光射出面AR1具有沿著兩面貼合面板P12(光學部材貼合體)的一邊的縱向部(在第六圖的Y方向延伸的部分)。第一光源311a被配置成光射出面AR1(參照第六圖)與第一主面Sf1平行。第一光源311a向著第一主面Sf1將第一光L1射出成該第一光L1的光軸與第一主面Sf1垂直。
又，配置第一光源311a的位置，並不限於第五圖所示的位置。例如第一光源311a也可以向著第一主面Sf1將第一光L1射出成該第 一光L1的光軸與第一主面Sf1傾斜交會。第一光源311a也可以配置成從該第一光源311a射出的第一光L1的至少一部分透過第一主面Sf1。
第一聚光透鏡311b被配置在第一光源311a與第一主面Sf1之間。第一聚光透鏡311b使從第一光源311a射出的第一光L1向著第一主面Sf1聚光，使聚光後的光做為細的帶狀光入射至兩面貼合面板P12。
第六圖係第一光源裝置311的分解斜視圖。
如第六圖所示，第一光源311a為直方體形狀，沿著Y方向具有縱向部。例如，第一光源311a的Y方向長度為約1320mm。第一光源311a的光射出面AR1也具有沿著Y方向的縱向部。例如，第一光源311a的光射出面AR1的Y方向長度為約1200mm。
在本實施形態中，第一光源311a的光射出面AR1沿著垂直於兩面貼合面板P12的搬送方向的寬方向(一邊)具有縱向部。第一光源311a的光射出面AR1對於兩面貼合面板P12被形成為跨越寬方向。例如，做為第一光源311a，可以使用REVOX公司製造的高超亮度LED直線光源(型號SPX-TA70C-1200-W)。
第一聚光透鏡311b被設成遍及第一光源311a的光射出面AR1。第一聚光透鏡311b也與第一光源311a的光射出面AR1一樣，沿著Y方向具有縱向部。例如第一聚光透鏡311b的Y方向長度為約1220mm。第一聚光透鏡311b在Y方向比第一光源311a的光射出面AR1長約20mm，在第一聚光透鏡311b的兩側具有約10mm程度的固定單位。在本實施形態，採用菲涅耳透鏡(Fresnel lens)做為第一聚光透鏡311b。
在本實施形態中，從第一光源裝置311射出的第一光L1入射至第一主面Sf1時在第一主面Sf1的照度為約45萬勒克司。在此，「在第一主面Sf1的照度」是指從第一光源311a射出，以第一聚光透鏡311b聚光，並入射至第一主面Sf1的第一光的光束，除以第一主面Sf1的聚光區域的面積的值。
第一蓋311c是用來將第一聚光透鏡311b固定在第一光源311a的部材。第一蓋311c是在平面視角為矩形狀的框。第一蓋311c在與第一光源311a的光射出面AR1平面視角重疊的部分形成有開口部，可從該 開口部使第一光L1射出。
又，第一蓋311c的結構，並不受限於在與第一光源311a的光射出面AR1平面視角重疊的部分形成有開口部的結構。例如，第一蓋311c在與第一光源311a的光射出面AR1平面視角重疊的部分，也可以配置有可透過第一光L1的透明部材。藉此，可以從該透明部材使第一光L1射出，也可以保護第一聚光透鏡311b。
回到第五圖，第一攝影裝置312係面對第一光源裝置311配置成兩面貼合面板P12被夾在第一攝影裝置312及第一光源裝置311。第一攝影裝置312被配置成受光面312s平行於第二主面Sf2(與兩面貼合面板P12的第一主面Sf1相反側的面)。第一攝影裝置312被配置成受光面312s與第一光源311a的光射出面AR1夾著兩面貼合面板P12，受光面312s及光射出面AR1在平面視角重疊。第一攝影裝置312是以第一聚光透鏡311b聚光，將透過兩面貼合面板P12的第一光L1的圖像攝影。
又，第一攝影裝置312被配置的位置，並不受限於第五圖所示的位置。例如第一攝影裝置312也可以配置成受光面312s相對於第二主面Sf2傾斜。
第一攝影裝置312也可以配置成以第一聚光透鏡311b聚光，可將透過兩面貼合面板P12的第一光L1的至少一部分以受光面312s受光。
藉由如此結構，第一檢查單元31經由第二反轉裝置19，對於位於表示面向上的兩面貼合面板P12，從第一主面Sf1側照射第一光L1，從第二主面Sf2側以第一攝影裝置312攝影，根據此攝影資料，檢查兩面貼合面板P12有無缺陷。
接下來，說明關於第二檢查單元32。
第二檢查單元32具備：第二光源裝置321及第二攝影裝置322。第二光源裝置321具備：第二光源321a、第二聚光透鏡321b及第二蓋321c。
第二光源321a被配置成光射出面AR2(參照第七圖)對於第二主面Sf2傾斜。第二光源321a向著兩面貼合面板P12的上面Sf2(第 二主面)，將第二光L2射出成該第二光L2的光軸與第二主面Sf2傾斜交會。例如，第二光L2的光軸與第二主面Sf2所成角度(照明角度)θ被設定成約65度。
又，配置第二光源321a的位置，並不受限於第五及七圖所示的位置。例如，第二光源321a也可以向著第二主面Sf2，將第二光L2射出成該第二光L2的光軸與第二主面Sf2垂直。第二光源321a也可以配置成從第二光源321a射出的第二光L2的至少一部分被第二主面Sf2反射。
第二聚光透鏡321b被配置在第二光源321a與第二主面Sf2之間。第二聚光透鏡321b使從第二光源321a射出的第二光L2向著第二主面Sf2聚光，使聚光後的光做為細的帶狀光入射至兩面貼合面板P12。
第七圖係第二光源裝置321的分解斜視圖。
如第七圖所示，第二光源321a為直方體形狀，沿著Y方向具有縱向部。例如，第二光源321a的Y方向長度為約1320mm。第二光源321a的光射出面AR2也具有沿著Y方向的縱向部。例如，第二光源321a的光射出面AR2的Y方向長度為約1200mm。
在本實施形態中，第二光源321a的光射出面AR2沿著垂直於兩面貼合面板P12的的寬方向(一邊)具有縱向部。第二光源321a的光射出面AR2對於兩面貼合面板P12被形成為跨越寬方向。例如，做為第二光源321a，可以使用日本IMAC公司製造的LED直線光源(型號IDBA-LSR-1200W)。
第二聚光透鏡321b被設成遍及第二光源321a的光射出面AR2的整體。第二聚光透鏡321b也與第二光源321a的光射出面AR2一樣，沿著Y方向具有縱向部。例如第二聚光透鏡321b的Y方向長度為約1220mm。第二聚光透鏡321b在Y方向比第二光源321a的光射出面AR2長約20mm，在第二聚光透鏡321b的兩側具有約10mm程度的固定單位。在本實施形態，採用圓柱透鏡(cylindrical lens)做為第二聚光透鏡321b。
在本實施形態中，從第二光源裝置321射出的第二光L2入射至第二主面Sf2時在第二主面Sf2的照度為約20萬勒克司。在此，「在第二主面Sf2的照度」是指從第二光源321a射出，以第二聚光透鏡321b聚光， 並入射至第二主面Sf2的第二光L2的光束，除以第二主面Sf2的聚光區域的面積的值。
在本實施形態，相較於在第二主面Sf2的照度(約20萬勒克司)，上述在第一主面Sf1的照度(約45萬勒克司)更大。
第二蓋321c是用來將第二聚光透鏡321b固定在第二光源321a的部材。第二蓋321c是在平面視角為矩形狀的框。第二蓋321c在與第二光源321a的光射出面AR2平面視角重疊的部分形成有開口部，可從該開口部使第二光L2射出。
又，第二蓋321c的結構，並不受限於在第二光源321a的光射出面AR2與平面視角重疊的部分形成有開口部的結構。例如，在第二蓋321c的第二光源321a的光射出面AR2與平面視角重疊的部分，也可以配置有可透過第二光L2的透明部材。藉此，可以從該透明部材使第二光L2射出，也可以保護第二聚光透鏡321b。
回到第五圖，第二攝影裝置322對於兩面貼合面板P12被配置於上側(+Z方向側)，在從Z方向來看的平面視角，被配置在與第二光源裝置321不同的位置。第二攝影裝置322被配置成受光面322s平行於第二主面Sf2。第二攝影裝置322被配置成受光面322s與在第二主面Sf2從第二光源321a射出的第二光L2被聚光的聚光區域為平面視角重疊。第二攝影裝置322是以第二聚光透鏡321b聚光，將被第二主面Sf2反射的第二光L2的圖像攝影。
又，第二攝影裝置322被配置的位置，並不受限於第五圖所示的位置。例如第二攝影裝置322也可以配置成受光面322s相對於第二主面Sf2傾斜。
第二攝影裝置322也可以配置成以第二聚光透鏡321b聚光，可將被第二主面Sf2反射的第二光L2的至少一部分以受光面322s來受光。
藉由如此結構，第二檢查單元32經由第二反轉裝置19，對於位於表示面向上的兩面貼合面板P12，從第二主面Sf2側照射第二光L2，將以第二主面Sf2或第二主面Sf2的下層側所配置的部材彼此的介面所反射 的光，以第二攝影裝置322攝影，根據此攝影資料，檢查兩面貼合面板P12的圖像顯示面有無缺陷。
第八A及八B圖係說明本實施形態的缺陷檢查裝置30的作用的圖。第八A圖係表示以往的光源裝置311X的概略圖。第八B圖係表示本實施形態的第一光源裝置311的概略圖。
以往的光源裝置311X，如第八A圖所示，具備：光源311Xa、擴散板311Xb及蓋311Xc。光源311Xa向著主面SfX將光LX射出成該光LX的光軸垂直於主面SfX。擴散板311Xb使從光源311Xa射出的光LX擴散。蓋311Xc將擴散板311Xb固定於光源311Xa。
在以往的結構，從光源311Xa射出的光LX，藉由透過擴散板311Xb被均勻地照射於被照射面(主面SfX)。但是，由於從光源311Xa射出的光LX為平行光或向著被照射面擴散的擴散光，並不能充分明亮地以光LX照射主面SfX。因此，即使在兩面貼合面板存在缺陷，也不能以高精確度檢查有無缺陷。
對此，本實施形態的第一光源裝置311，如第八B圖所示，在第一光源311a與第一主面Sf1之間配置有第一聚光透鏡311b。因此，從第一光源311a射出的第一光L1，在以第一聚光透鏡311b聚光的狀態下入射至第一主面Sf1。因此，照射至第一主面Sf1的光的照度，變得比具備擴散板的以往結構更大，可以高精確度檢查兩面貼合面板有無缺陷。
又，第一光源311a的光射出面AR1在Y方向具有縱向部，對於兩面貼合面板P12被形成為跨越寬方向。因此，藉由在X方向搬送兩面貼合面板P12，可以一次搬送來檢查兩面貼合面板P12的整體。
因此，可容易地檢查兩面貼合面板P12有無缺陷。
又，由於使用菲涅耳透鏡做為第一聚光透鏡311b，所以可使聚光透鏡311b的厚度變薄，質量也變小。因此，將第一聚光透鏡311b新設置在既存的LED直線光源(第一光源311a)等，可以容易地進行追加第一聚光透鏡311b於既存設備。
又，使用高亮度LED直線光源做為第一光源311a，在第一主面Sf1的照度(約45萬勒克司)比在第二主面Sf2照度(約20萬勒克司) 更大。因此，可充分獲得透過兩面貼合面板P12的透過光，可以高精確度檢查兩面貼合面板P12有無缺陷。
又，由於更具備第二檢查單元32，可以高精確度檢查兩面貼合面板P12的第二主面Sf2側有無缺陷(例如偏光膜表面的傷等)。當第二主面Sf2為圖像顯示面，在視覺辨認側會顯著觀察到傷，所以從美觀的觀點並不佳，但在本實施形態，藉由使用第二檢查單元32，可以高精確度檢查第二主面Sf2表面有無缺陷。因此，即使從美觀的觀點要求在圖像顯示面沒有傷等缺陷的兩面貼合面板，也可以提供充分回應該要求的兩面貼合面板。
又，在本實施形態，缺陷檢查裝置30是以具備第一檢查單元31與第二檢查單元32的結構為例來列舉說明，但本發明並不受限於此結構。例如，即使在缺陷檢查裝置30僅具備第一檢查單元31的結構，也可以適用本發明。
(第二實施形態)
第九圖係對應第五圖，表示本發明的第二實施形態的缺陷檢查裝置30A的圖。
本實施形態的缺陷檢查裝置30A的基本結構與第一實施形態一樣，本實施形態在更具備第三檢查單元這點與第一實施形態不同。在第九圖中，賦予相同符號於與第五圖共同的構成要素，省略詳細說明。
如第九圖所示，本實施形態的缺陷檢查裝置30A具備：第一檢查單元31、第二檢查單元32及第三檢查單元33。
第三檢查單元33具備：第三光源裝置331及第三攝影裝置332。第三光源裝置331具備：第三光源331a、第三聚光透鏡331b及第三蓋331c。
第三光源331a被配置成光射出面對於第一主面Sf1傾斜。第三光源331a向著第一主面Sf1，將第三光L3射出成該第三光L3的光軸與第一主面Sf1傾斜交會。例如，第三光L3的光軸與第一主面Sf1所成角度(照明角度)θ A被設定成約65度。
又，配置第三光源331a的位置，並不受限於第九圖所示的 位置。例如，第三光源331a也可以向著第一主面Sf1，將第三光L3射出成該第三光L3的光軸與第一主面Sf1垂直。第三光源331a也可以配置成從第三光源331a射出的第三光L3的至少一部分被第一主面Sf1反射。
第三聚光透鏡331b被配置在第三光源331a與第一主面Sf1之間。第三聚光透鏡331b使從第三光源331a射出的第三光L3向著第一主面Sf1聚光，使聚光後的光做為細的帶狀光入射至兩面貼合面板P12。
第三光源331a與第二光源321a同樣為直方體形狀，沿著Y方向具有縱向部。例如，第三光源331a的Y方向長度為約1320mm。第三光源331a的光射出面也具有沿著Y方向的縱向部。例如，第三光源331a的光射出面的Y方向長度為約1200mm。
在本實施形態中，第三光源331a的光射出面沿著垂直於兩面貼合面板P12的的寬方向(一邊)具有縱向部。第三光源331a的光射出面對於兩面貼合面板P12被形成為跨越寬方向。例如，做為第三光源331a，與第二光源321a一樣，可以使用日本IMAC公司製造的LED直線光源(型號IDBA-LSR-1200W)。
第三聚光透鏡331b被設成遍及第三光源331a的光射出面整體。第三聚光透鏡331b也與第三光源331a的光射出面一樣，沿著Y方向具有縱向部。例如第三聚光透鏡331b的Y方向長度為約1220mm。第三聚光透鏡331b在Y方向比第三光源331a的光射出面長約20mm，在第三聚光透鏡331b的兩側具有約10mm程度的固定單位。在本實施形態，採用圓柱透鏡(cylindrical lens)做為第三聚光透鏡331b。
在本實施形態中，從第三光源裝置331射出的第三光L3入射至第一主面Sf1時在第一主面Sf1的照度為約20萬勒克司。在此，「在第一主面Sf1的照度」是指從第三光源331a射出，以第三聚光透鏡331b聚光，並入射至第一主面Sf1的第三光L3的光束，除以第一主面Sf1的聚光區域的面積的值。
第三蓋331c是用來將第三聚光透鏡331b固定在第三光源331a的部材。第三蓋331c是在平面視角為矩形狀的框。第三蓋331c在與第三光源331a的光射出面AR2平面視角重疊的部分形成有開口部，可從該 開口部使第三光L3射出。
又，做為第三蓋331c的結構，並不受限於在與第三光源331a的光射出面為平面視角重疊的部分形成有開口部的結構。例如，在與第三蓋331c的第三光源331a的光射出面為平面視角重疊的部分，也可以配置有可透過第三光L3的透明部材。藉此，可以從該透明部材使第三光L3射出，也可以保護第三聚光透鏡331b。
第三攝影裝置332對於兩面貼合面板P12被配置於下側(-Z方向側)，在從Z方向來看的平面視角，被配置在與第三攝影裝置332不同的位置。
第三攝影裝置332被配置成受光面332s平行於第一主面Sf1。第三攝影裝置332被配置成受光面332s與在第一主面Sf1從第三光源331a射出的第三光L3被聚光的聚光區域為平面視角重疊。第三攝影裝置332是以第三聚光透鏡331b聚光，將被第一主面Sf1反射的第三光L3的圖像攝影。
又，第三攝影裝置332被配置的位置，並不受限於第九圖所示的位置。例如第三攝影裝置332也可以配置成受光面332s相對於第一主面Sf1傾斜。
第三攝影裝置332也可以配置成以第三聚光透鏡331b聚光，可將被第一主面Sf1反射的第三光L3的至少一部分以受光面332s來受光。
藉由如此結構，第三檢查單元33經由第二反轉裝置19，對於位於表示面向上的兩面貼合面板P12，從第一主面Sf1側照射第三光L3，將以第一主面Sf1所反射的光，以第三攝影裝置332攝影，根據此攝影資料，檢查兩面貼合面板P12的下面(與圖像顯示面相反側的面)有無缺陷。
根據本實施形態，由於更具備第三檢查單元33，也可以高精確度檢查關於在兩面貼合面板P12下面的表面部分有無缺陷(例如偏光膜表面的傷)。因此，即使要求在圖像顯示面的相反側的面沒有傷等缺陷的兩面貼合面板，也可以提供充分回應該要求的兩面貼合面板。
本發明的較佳實施形態已在上述說明了，但這些是本發明的 舉例表示，應理解並非應做為限定者來考慮。追加、省略、置換及其他變更，可以在不脫離本發明範圍下進行。因此，本發明並非被看成由前述說明所限定，而是以專利申請範圍來限制。
(實施例)
以下，表示本發明的實施例，但本發明並不受限於這些實施例。
(樣本製作)
做為比較例及實施例的檢查對象用樣本，具備：液晶面板與挾著液晶面板來配置的一對偏光膜，用一對偏光膜的偏光軸彼此垂直配置(垂直偏光配置)的兩面貼合面板。
(比較例)
做為比較例的缺陷檢查裝置的光源裝置，如第八A圖所示，使用具備光源311Xa、擴散板311Xb及蓋311Xc的光源裝置311X。
(實施例)
做為實施例的缺陷檢查裝置係使用兩種缺陷檢查裝置：(1)做為反射用，安裝圓柱透鏡於LED直線光源，照射角度為65度的缺陷檢查裝置；及(2)做為反射用(變形例)，安裝圓柱透鏡於LED直線光源，照射角度為60度的缺陷檢查裝置。又，(3)做為透過用，如第六圖所示，使用安裝菲涅耳透鏡於超高亮度LED直線光源的缺陷檢查裝置(具備第一光源311a、第一聚光透鏡311b及第一蓋311c的光源裝置311)。
(兩面貼合面板的缺陷檢查的評價)
關於比較例及實施例，分別使用反射用(兩面貼合面板的表面檢查用)、透過用(兩面貼合面板的內部檢查用)的缺陷檢查裝置，進行兩面貼合面板有無缺陷的檢查。以關於比較例及實施例的各缺陷檢查裝置確認是否可判斷存在於兩面貼合面板的缺陷。
關於上述評價將結果表示在表1~表4。
又，樣本數為12。又，在表中的「缺陷種類」欄中，在各CF(彩色濾光片)側(圖像顯示側)、TFT側(背光側)，記載了異物、氣泡、纖維狀缺陷等存在於兩面貼合面板的缺陷種類。又，在表中的「結果」 欄中，在可以高精確度檢查缺陷的狀況表示為可檢查(良)，在不太能良好檢查缺陷的狀況表示為檢查不良(不良)，在不能檢查所有缺陷的狀況表示為檢查不可(不可)。又，在不能檢測圖像的狀況，附加圖像處為空欄。
評價結果確認，實施例的缺陷檢查裝置，比比較例的缺陷檢查裝置能更高精確度地檢查兩面貼合面板的缺陷。
又，在實施例中確認，(1)用反射用的缺陷檢查裝置的狀況比(2)用反射用(變形例)的缺陷檢查裝置能更高精確度地檢查兩面貼合面板的缺陷。
如此，根據本發明的缺陷檢查裝置，瞭解了由於具備聚光透鏡，所以在檢查對象的聚光區域可提升照度，在比較例的缺陷檢查裝置，關於不能檢查的缺陷也可以檢查。又，瞭解了關於在比較例的缺陷檢查裝置可檢測的缺陷可以更高精確度地檢查。
30‧‧‧缺陷檢查裝置(檢查裝置)
31‧‧‧第一檢查單元
32‧‧‧第二檢查單元
311‧‧‧第一光源裝置
311a‧‧‧第一光源
311b‧‧‧第一聚光透鏡
311c‧‧‧第一蓋
312‧‧‧第一攝影裝置
312s、322s‧‧‧受光面
321‧‧‧第二光源裝置
321a‧‧‧第二光源
321b‧‧‧第二聚光透鏡
321c‧‧‧第二蓋
322‧‧‧第二攝影裝置
F5‧‧‧貼合片
L1‧‧‧第一光
L2‧‧‧第二光
P‧‧‧液晶面板(光學顯示部件)
P12‧‧‧兩面貼合面板(光學部材貼合體)
Sf1‧‧‧第一主面
Sf2‧‧‧第二主面
θ‧‧‧角度

Claims (8)

  1. 一種檢查裝置，檢查貼合光學部材於光學顯示部件而成的光學部材貼合體是否有缺陷，具備第一檢查單元，該第一檢查單元包含：第一光源，向著前述光學部材貼合體的第一主面射出第一光；第一聚光透鏡，使從配置於前述第一光源與前述第一主面之間的前述第一光源射出的前述第一光，向著前述第一主面聚光；及第一攝影裝置，將以前述第一聚光透鏡聚光並透過前述光學部材貼合體的前述第一光的光圖像攝影。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的檢查裝置，其中前述光學部材貼合體，從前述第一主面的法線方向來看是矩形形狀；前述第一光源，具有光射出面，該光射出面具有沿著前述光學部材貼合體的一邊的縱向部；前述第一聚光透鏡被設成遍及前述第一光源的光射出面整體。
  3. 如申請專利範圍第1或2項所述的檢查裝置，其中前述第一聚光透鏡為菲涅耳透鏡(Fresnel lens)。
  4. 如申請專利範圍第1~3項中任一項所述的檢查裝置，更具備第二檢查單元，該第二檢查單元包含：第二光源，向著與前述光學部材貼合體的前述第一主面相反側的第二主面射出第二光；第二聚光透鏡，使從配置於前述第二光源與前述第二主面之間的前述第二光源射出的前述第二光，向著前述第二主面聚光；及第二攝影裝置，將以前述第二聚光透鏡聚光並在前述第二主面反射的第二光的圖像攝影。
  5. 如申請專利範圍第4項所述的檢查裝置，其中前述第一光入射至前述第一主面時的在前述第一主面的照度，比前述第二光入射至前述第二主面時的在前述第二主面的照度更大。
  6. 如申請專利範圍第4或5項所述的檢查裝置，其中前述第二主面是圖像顯示面。
  7. 如申請專利範圍第1~6項中任一項所述的檢查裝置，更具備第三檢查單元，該第三檢查單元包含： 第三光源，向著與前述第一主面射出第三光；第三聚光透鏡，使從配置於前述第三光源與前述第一主面之間的前述第三光源射出的前述第三光，向著前述第一主面聚光；及第三攝影裝置，將以前述第三聚光透鏡聚光並在前述第一主面反射的第三光的圖像攝影。
  8. 一種貼合光學部材於光學顯示部件而成的光學部材貼合體之製造裝置，包含：搬送裝置，搬送前述光學部材；貼合裝置，將以前述搬送裝置搬送的前述光學部材貼合於前述光學顯示部件並製作前述光學部材貼合體；及申請專利範圍第1~7項中任一項所述之檢查裝置，檢查以前述貼合裝置製作的前述光學部材貼合體是否有缺陷。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019214287A1 (zh) * 2018-05-09 2019-11-14 京东方科技集团股份有限公司 检测装置及其检测方法、检测设备

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5943354B2 (ja) * 2013-07-23 2016-07-05 住友化学株式会社 光学表示デバイスの生産システム
WO2015094243A1 (en) * 2013-12-18 2015-06-25 Halliburton Energy Services, Inc. Systems and methods to reduce delamination in integrated computational elements used downhole
JP6318694B2 (ja) * 2014-02-25 2018-05-09 オムロン株式会社 検査装置、検査方法、プログラムおよび記録媒体
CN104503118B (zh) * 2015-01-22 2017-04-26 合肥京东方光电科技有限公司 一种面板引线检测装置及检测方法
JP2022164993A (ja) * 2021-04-19 2022-10-31 株式会社ジーテクト 外観検査装置およびパレタイズシステム
CN113253494B (zh) * 2021-05-19 2022-01-14 惠科股份有限公司 液晶显示组件的检测装置及检测方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3378795B2 (ja) * 1998-03-27 2003-02-17 シャープ株式会社 表示装置の検査装置および検査方法
JP2001124660A (ja) * 1999-10-25 2001-05-11 Horiba Ltd 平面表示装置の欠陥・異物検査方法およびその検査装置
JP3804820B2 (ja) * 1999-12-20 2006-08-02 カシオ計算機株式会社 液晶表示パネルの評価装置及びその評価方法
JP3762952B2 (ja) * 2002-09-04 2006-04-05 レーザーテック株式会社 光学装置並びにそれを用いた画像測定装置及び検査装置
JP2008002836A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Tech Vision:Kk ライン型照明装置
JP4751997B1 (ja) * 2010-02-17 2011-08-17 住友化学株式会社 偏光フィルムの貼合装置およびこれを備える液晶表示装置の製造システム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019214287A1 (zh) * 2018-05-09 2019-11-14 京东方科技集团股份有限公司 检测装置及其检测方法、检测设备
US11635646B2 (en) 2018-05-09 2023-04-25 Fuzhou Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Detecting device and detecting method thereof, and detecting apparatus

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