CN110753172B - 校正方法、装置、电子设备和音圈马达 - Google Patents

校正方法、装置、电子设备和音圈马达 Download PDF

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Abstract

本申请涉及一种校正方法、装置、电子设备和音圈马达，所述方法包括：当检测到所述镜头移动至预设位置时，获取测试图卡的检测图像；根据所述检测图像确定所述镜头的当前倾斜量；根据倾斜标定函数和所述当前倾斜量调整所述校正线圈的通电电流，以使所述校正线圈控制所述镜头移动对所述当前倾斜量进行补偿。该校正方法通过预设的倾斜标定函数和当前倾斜量获取校正线圈对应的目标通电电流，并利用校正线圈的目标通电电流控制镜头移动对镜头的当前倾斜量进行补偿，解决了镜头在目标位置的当前倾斜量对图像采集产生影响的问题。

Description

校正方法、装置、电子设备和音圈马达
技术领域
本申请涉及影像领域，特别是涉及一种校正方法方法、装置、电子设备和音圈马达。
背景技术
随着影像技术的发展，人们越来越习惯通过电子设备上的摄像头等图像采集设备拍摄图像或视频，记录各种信息。摄像头在音圈马达中对焦线圈的作用下移动至目标对焦位置进行对焦并采集图像。
然而，镜头在音圈马达控制移动过程中会产生不同程度的倾斜，影响目标对焦位置处图像的采集。
发明内容
本申请实施例提供一种校正方法方法、装置、电子设备和音圈马达，可以对镜头在移动过程中产生的偏移量进行补偿。
一种校正方法，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括镜头和音圈马达，所述音圈马达包括校正线圈，所述校正线圈控制所述镜头移动以补偿所述镜头产生的倾斜量，所述方法包括：
当检测到所述镜头移动至预设位置时，获取测试图卡的检测图像；
根据所述检测图像确定所述镜头的当前倾斜量；
根据倾斜标定函数和所述当前倾斜量调整所述校正线圈的通电电流，以使所述校正线圈控制所述镜头移动对所述当前倾斜量进行补偿。
一种校正装置，应用于电子设备，所述电子设备包括镜头和音圈马达，所述音圈马达包括校正线圈，所述音圈马达包括校正线圈，所述校正线圈控制所述镜头移动以补偿所述镜头产生的倾斜量，所述装置包括：
检测模块，用于当检测到所述镜头移动至预设位置时，获取测试图卡的检测图像；
获取模块，用于根据所述检测图像确定所述镜头的当前倾斜量；
校正模块，用于根据倾斜标定函数和所述当前倾斜量调整所述校正线圈的通电电流，以使所述校正线圈控制所述镜头移动对所述当前倾斜量进行补偿。
一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如所述的校正方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如所述的方法的步骤。
一种音圈马达，包括：
镜筒，用于装载镜头；
电磁模组，与所述镜筒连接，包括：
磁石结构，用于产生第一磁场；
对焦线圈，与所述磁石结构对应设置，用于通电后产生第二磁场，以使所述第一磁场与所述第二磁场作用生成第一力矩，所述第一力矩用于推动所述镜筒移动至预设位置；
校正线圈，与所述磁石结构对应设置，当所述镜头在预设位置产生预设方向上的倾斜量时，用于通电后产生第三磁场，以使所述第一磁场与所述第三磁场作用生成第二力矩，所述第二力矩用于控制所述镜筒移动对所述预设方向上的倾斜量进行补偿。
上述校正方法、装置、电子设备和音圈马达，所述方法包括：当检测到所述镜头移动至预设位置时，获取测试图卡的检测图像；根据所述检测图像确定所述镜头的当前倾斜量；根据倾斜标定函数和所述当前倾斜量调整所述校正线圈的通电电流，以使所述校正线圈控制所述镜头移动对所述当前倾斜量进行补偿。所述方法通过预设的倾斜标定函数和所述当前倾斜量获取所述校正线圈对应的调整通电电流，并利用所述校正线圈控制镜头移动对所述镜头的当前倾斜量进行补偿，解决了当所述镜头在预设位置存在的当前倾斜量时对图像采集产生影响的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一个实施例中校正方法的应用环境示意图；
图2为一个实施例中校正方法的流程图；
图3为一个实施例中步骤获取镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数的流程图；
图4为一个实施例中步骤根据检测图像获取镜头在预设方向上的倾斜量的流程图；
图5为一个实施例中检测图像的示意图；
图6为一个实施例中步骤根据第一测试值和第二测试值的差值获取镜头在第一方向上的倾斜量；根据第三测试值和第四测试值的差值获取镜头在第二方向上的倾斜量的流程图；
图7为一个实施例中步骤根据第一测试值和第二测试值的差值获取镜头在第一方向上的倾斜量；根据第三测试值和第四测试值的差值获取镜头在第二方向上的倾斜量的流程图；
图8为一个实施例中步骤根据倾斜标定函数和当前倾斜量调整校正线圈的通电电流，以使校正线圈控制镜头移动对当前倾斜量进行补偿的流程图；
图9为一个实施例中校正装置的结构示意图；
图10为一个实施例中电子设备的内部结构示意图；
图11为一个实施例中音圈马达的结构示意图；
图12为一个实施例中校正线圈的位置分布示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一方向称为第二方向，且类似地，可将第二方向称为第一方向。第一方向和第二方向两者都是方向，但其不是同一方向。
图1为一个实施例中校正方法的应用环境示意图。如图1所示，该应用环境包括电子设备110。电子设备110包括镜头和音圈马达，音圈马达包括校正线圈，校正线圈用于根据通电电流控制镜头移动以补偿镜头产生的倾斜量，该校正方法包括：当检测到镜头移动至预设位置时，获取测试图卡的检测图像；根据检测图像确定镜头的当前倾斜量；根据倾斜标定函数和当前倾斜量调整校正线圈的通电电流，以使校正线圈控制镜头移动对当前倾斜量进行补偿。可以理解的是，本申请实施例中的校正方法可应用于电子设备。该电子设备可为带有摄像头的计算机设备、个人数字助理、平板电脑、智能手机、穿戴式设备等。电子设备中的摄像头在拍摄图像时，会进行自动对焦，将镜头移动至预设位置，并利用校正方法校正镜头的倾斜量，以保证对焦后拍摄的图像清晰。
图2为一个实施例中图像采集方法的流程图。如图2所示，图像采集方法包括步骤202至步骤206。
图2为一个实施例中校正方法的流程图。该校正方法应用于图1所示的电子设备，电子设备包括镜头和音圈马达，音圈马达包括校正线圈，校正线圈用于根据通电电流控制镜头移动以补偿镜头在预设方向上的倾斜量，该方法包括：步骤202至步骤206。其中，校正线圈可以为多个，校正线圈可以设置于镜筒的侧壁上。当镜头在预设位置存在当前倾斜量时，通过控制校正线圈的通电电流，以使装载镜头的镜筒移动，实现对镜头产生的当前倾斜量进行补偿。
步骤202、当检测到镜头移动至预设位置时，获取测试图卡的检测图像。
其中，预设位置可以是镜头在拍摄图像对应的近景拍摄位置、中景拍摄位置、远景拍摄位置、特写拍摄位置或全景拍摄位置等，还可以是用户自动调焦的镜头所处的拍摄位置。测试图卡指的是用于测试镜头解像力的测试图，可以是用于TV line检测的图卡、用于MTF检测测试的图卡或用于SFR检测的测试图卡等。
具体的，当镜头在对焦线圈的作用下移动到预设位置时，可能存在X轴方向和/或Y轴方向上的当前倾斜量。控制镜头采集测试图卡对应的检测图像，测试图卡可以是用于TVline检测的图卡、用于MTF检测测试的图卡或用于SFR检测的测试图卡等。通过对检测图像中TV line、MTF或SFR进行检测分析，能够获取镜头在预设方向上是否存在的当前倾斜量。当镜头在预设方向上存在当前倾斜量时，进一步的可以获取该当前倾斜量的大小。
步骤204、根据检测图像确定镜头的当前倾斜量。
具体的，测试图卡可以是用于TV line检测的图卡、用于MTF检测测试的图卡或用于SFR检测的测试图卡等。对应的，通过对检测图像中TV line信息、MTF信息或SFR信息进行检测分析，能够获取镜头在预设方向上是否存在的当前倾斜量。当镜头在预设方向上存在当前倾斜量时，进一步的可以获取该当前倾斜量的大小。当前倾斜量可以是预设方向倾斜量，预设方向可以是一个方向或者两个方向，举例来说，笛卡尔坐标系下，将镜头在对焦线圈作用下移动的方向视为Z轴方向，则当前倾斜量所在的预设方向上可能是X轴方向和/或Y轴方向。
步骤206、根据倾斜标定函数和当前倾斜量调整校正线圈的通电电流，以使校正线圈控制镜头移动对当前倾斜量进行补偿。
其中，倾斜标定函数用于表征镜头在预设位置处当前倾斜量与目标通电电流的映射关系，目标通电电流为用于对该当前倾斜量进行校正的校正线圈的通电电流。
具体的，通过检测测试图卡对应的检测图像，可以获取镜头在预设位置的当前倾斜量。在已知镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数和镜头在预设位置的当前倾斜量，可以得到校正线圈对应的目标通电电流。目标通电电流包括通电电流的大小和方向。进一步的，可以利用目标通电电流控制镜头移动以补偿镜头产生的当前倾斜量。在已知镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数和镜头在预设位置的当前倾斜量，可以得到校正线圈对应的目标通电电流。将校正线圈的通电电流调整为目标通电电流，以使镜头移动对预设方向上的倾斜量进行补偿。举例来说，校正线圈包括三个，则对应的目标通电电流为(I1，I2，I3)，将三个校正线圈的通电电流分别调整为I1，I2，I3，则在三个校正线圈的作用下，装载镜头的镜筒移动且带动镜头移动以补偿镜头在预设方向上对应的当前倾斜量。需要说明的是，校正线圈的个数可以是一个或者多个，各个校正线圈对应的通电电流可以相同，也可以不相同，校正线圈能够在目标通电电流的作用下，控制镜头移动实现对当前倾斜量进行补偿即可。
上述校正方法包括：当检测到镜头移动至预设位置时，获取测试图卡的检测图像；根据检测图像确定镜头的当前倾斜量；根据倾斜标定函数和当前倾斜量调整校正线圈的通电电流，以使校正线圈控制镜头移动对当前倾斜量进行补偿。方法通过预设的倾斜标定函数和当前倾斜量获取校正线圈对应的调整通电电流，并利用校正线圈控制镜头移动对镜头的当前倾斜量进行补偿，解决了当镜头在预设位置存在的当前倾斜量时对图像采集产生影响的问题。
在其中一个实施例中，步骤根据倾斜标定函数和当前倾斜量调整校正线圈的通电电流之前，校正方法还包括：获取镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数，倾斜标定函数表征在预设位置处镜头对应的当前倾斜量和校正线圈的目标通电电流的映射关系。
具体的，镜头在目标对焦位置处对应的倾斜标定函数指的是在目标位置处，镜头预设方向上的当前倾斜量与校正线圈的目标通电电流的映射关系。根据倾斜标定函数和镜头在预设方向上当前倾斜量和获取校正线圈对应的目标通电电流之前，需要获取该倾斜标定函数。获取倾斜标定函数的过程可以是：获取在预设位置多组镜头的当前倾斜量及其对应的校正线圈的目标通电电流，拟合出预设位置，镜头预设方向上的当前倾斜量与校正线圈的目标通电电流的映射关系，获取镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数。
图3为一个实施例中步骤获取镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数的流程图，如图3所示，步骤获取镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数包括：步骤302至步骤306。
步骤302、步骤1：控制镜头移动至预设位置并采集测试图卡的标定检测图像，根据标定检测图像获取镜头在预设方向上的标定倾斜量，调整校正线圈的通电电流至标定目标电流，校正线圈控制镜头移动以使对应的标定倾斜量减小至预设范围。
具体的，步骤1的实施过程举例来说：第一次将镜头移动至预设位置，并控制镜头采集测试图卡对应的标定检测图像，检测该标定检测图像获取镜头对应的第一倾斜量，调整校正线圈的通电电流至第一目标电流，以使镜头移动补偿对应的第一倾斜量，即使镜头恢复至预设范围内；第二次将镜头移动至预设位置，并控制镜头采集测试图卡对应的标定检测图像，检测该标定检测图像获取镜头对应的第二倾斜量，调整校正线圈的通电电流至第二目标电流，以使镜头移动补偿对应的第二倾斜量，即使镜头恢复至预设范围内，并记录第二倾斜量和第二目标电流，...，第N次将镜头移动至预设位置，并控制镜头采集测试图卡对应的标定检测图像，检测该标定检测图像获取镜头对应的第N倾斜量，调整校正线圈的通电电流至第N目标电流，以使镜头移动补偿对应的第N倾斜量，即使镜头恢复至预设范围内。
步骤304、多次重复步骤1，记录每次步骤1中各个标定倾斜量和对应的标定目标电流。
具体的，第一次将镜头移动至预设位置，记录镜头对应的第一倾斜量和第一目标电流；第二次将镜头移动至预设位置，记录镜头对应的第二倾斜量和第二目标电流；...；第N次将镜头移动至预设位置，记录镜头对应的第N倾斜量和第N目标电流。
步骤306、根据每次步骤1中多个标定倾斜量和对应的标定目标电流获取镜头在预设位置对应的倾斜标定函数。
具体的，根据第一倾斜量和第一目标电流、第二倾斜量和第二目标电流、...、第N倾斜量和第N目标电流，利用这N组数据拟合出镜头预设方向上的当前倾斜量与校正线圈的目标通电电流的映射关系。进一步的，获取镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数。
在其中一个实施例中，检测图像包括第一区域和第二区域；根据检测图像确定镜头的当前倾斜量，包括：根据图像检测函数获取第一区域对应的第一函数值及第二区域对应的第二函数值；根据第一函数值和第二函数值的差值获取镜头的当前倾斜量。
具体的，测试图卡为MTF测试图卡或SFR测试图卡，按照第一方向将测试图卡划分为两个区域，对应获取的检测图像包括第一区域和第二区域。利用图像检测函数如：光学调制传送函数(Contrast TransferFunction，MTF)或空间频率响应(spatialfrequencyresponse，SFR)函数对第一区域和第二区域进行分析，获取第一区域对应的第一函数值及第二区域对应的第二函数值。举例来说，利用MTF分析第一区域和第二区域，得到第一区域对应的第一MTF值和第二区域对应的第二MTF值，根据第一MTF值和第二MTF值差值计算当前倾斜量。利用SFR函数分析第一区域和第二区域的过程类似，此处不再赘述。
在其中一个实施例中，根据图像检测函数获取第一区域对应的第一函数值及第二区域对应的第二函数值；包括：获取第一测试区域的第一测试值、第二测试区域的第二测试值、第三测试区域的第三测试值和第四测试区域的第四测试值。根据第一函数值和第二函数值的差值获取镜头的当前倾斜量，包括：根据第一测试值和第二测试值的差值获取镜头在第一方向的倾斜量；根据第三测试值和第四测试值的差值获取镜头在第二方向的倾斜量。
其中，当前倾斜量包括：第一方向的倾斜量和/或第二方向的倾斜量，第一方向与第二方向垂直；测试图卡划分为关于第二方向镜像对称的第一测试区域和第二测试区域和关于第一方向镜像对称的第三测试区域和第四测试区域；当测试图卡划分为关于第二方向镜像对称的第一测试区域和第二测试区域时，第一区域对应第一测试区域，第二区域对应第二测试区域；当测试图卡划分为关于第一方向镜像对称的第三测试区域和第四测试区域时，第一区域对应第三测试区域，第二区域对应第四测试区域。
具体的，利用图像检测函数分别测试第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域和第四测试区域，能够获取第一测试区域的第一测试值、第二测试区域的第二测试值、第三测试区域的第三测试值和第四测试区域的第四测试值。根据第一测试值和第二测试值的差值获取镜头在第一方向的倾斜量；根据第三测试值和第四测试值的差值获取镜头在第二方向的倾斜量。举例来说，利用MTF分析第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域和第四测试区域，得到第一测试区域对应的第一MTF值和第二测试区域对应的第二MTF值、第三测试区域对应的第三MTF值和第四测试区域对应的第四MTF值。根据第一MTF值和第二MTF值的差值判断镜头是否存在第一方向的倾斜量，当存在第一方向的倾斜量时，可以进一步的获取第一方向的倾斜量大小为多少。根据第三MTF值和第四MTF值的差值判断镜头是否存在第二方向的倾斜量，当存在第二方向的倾斜量时，可以进一步的获取第一方向的倾斜量大小为多少。需要说明的是，利用SFR函数分析第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域和第四测试区域的过程类似，此处不再赘述。
图4为一个实施例中步骤根据检测图像获取镜头在预设方向上的倾斜量的流程图，其中，测试图卡为MTF测试图卡或SFR测试图卡，步骤根据检测图像获取镜头在预设方向上的倾斜量，包括：步骤402和步骤404。
步骤402、当测试图卡为MTF测试图卡时，获取检测图像的对应的MTF值，根据检测图像对应的MTF值获取镜头在预设方向上的倾斜量。
具体的，光学调制传送函数(ContrastTransferFunction，MTF)测试图卡指的是用于进行MTF测试的图卡，MTF测试的测试结果为MTF值，MTF值的计算公式为：MTF＝Mi/Mo＝(最大亮度–最小亮度)/(最大亮度+最小亮度)。即Mi图像中光的最亮度减去光的最暗度。Mo为光的最亮度加上光的最暗度。MTF测试能够根据检测图像空间上的光强散布获取采集该图像的镜头在预设方向上的倾斜量。获取检测图像对应的MTF值，可以是检测图像的MTF值，也可以是预设检测区域的MTF值。根据获取的检测图像对应的MTF值，得到镜头在预设方向上的倾斜量。
步骤404、获取检测图像对应的SFR值。获取检测图像对应的SFR值。根据检测图像对应的SFR值获取镜头在预设方向上的倾斜量。
具体的，空间频率响应(spatial frequency response，SFR)图卡主要是用于测量随着空间频率的线条增加对单一影像的所造成影响。SFR就是MTF的另外一种测试方法。SFR的最终计算是希望得到MTF曲线。SFR的计算方法和MTF虽然不同，但是在结果上是基本一致的。SFR测试通过对黑白的斜边(刀口)图进行超采样的到一条更加细腻的黑白变换的边缘扩展函数(ESF)。然后通过对边缘扩展函数进行求导得到线扩展函数(LSF)。然后对将线扩展函数进行FFT变换就能得到各个频率下的MTF的值。获取检测图像对应的SFR值，可以是检测图像的SFR值，也可以是预设检测区域的SFR值。根据获取的检测图像对应的SFR值，得到镜头在预设方向上的倾斜量。
图5为一个实施例中检测图像的示意图，在其中一个实施例中，如图5所示，预设方向包括：第一方向和第二方向，第一方向与第二方向垂直。检测图像包括：关于第二方向镜像的第一测试区域和第二测试区域，和关于第一方向镜像的第三测试区域和第四测试区域。
步骤获取第一测试区域的第一测试值、第二测试区域的第二测试值、第三测试区域的第三测试值和第四测试区域的第四测试值，包括：获取第一测试区域的第一MTF值、第二测试区域的第二MTF值、第三测试区域的第三MTF值和第四测试区域的第四MTF值。
具体的，获取检测图像的对应的MTF值可以是获取检测图像中第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域和第四测试区域各自对应的MTF值。第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域和第四测试区域的位置分布如图5所示，设置图像的中心为O点，第一方向为X轴方向，第二方向为Y轴方向，第一测试区域和第二测试区域关于Y轴方向镜像，第三测试区域和第四测试区域关于X轴方向镜像。其中，第一测试区域的检测结果为第一MTF值；第二测试区域的检测结果为第二MTF值；第三测试区域的检测结果为第三MTF值；第四测试区域的检测结果为第四MTF值。
图6为一个实施例中步骤根据第一测试值和第二测试值的差值获取镜头在第一方向上的倾斜量；根据第三测试值和第四测试值的差值获取镜头在第二方向上的倾斜量的流程图，步骤根据第一测试值和第二测试值的差值获取镜头在第一方向上的倾斜量；根据第三测试值和第四测试值的差值获取镜头在第二方向上的倾斜量，包括：步骤602和步骤604。
步骤602、根据第一MTF值和第二MTF值获取镜头在第一方向上的倾斜量。
具体的，第一测试区域和第二测试区域关于Y轴方向镜像，第一测试区域和第二测试区域是对称位置上的两个区域，另外可以设置第一检测区域与第二检测区域的尺寸相同。第一检测区域的第一MTF值和第二检测区域的第二MTF值存在对应的关系，本实施例中可以根据第一检测区域的第一MTF值和第二检测区域的第二MTF值获取镜头在第一方向上的倾斜量。
步骤604、根据第三MTF值和第四MTF值获取镜头在第二方向上的倾斜量。
具体的，第三测试区域和第四测试区域关于X轴方向镜像，且第三测试区域和第四测试区域是对称位置上的两个区域，另外可以设置第三检测区域与第四检测区域的尺寸相同。第三检测区域的第三MTF值和第四检测区域的第四MTF值存在对应的关系，根据第三检测区域的第三MTF值和第四检测区域的第四MTF值可以获取镜头在第二方向上的倾斜量。
在其中一个实施例中，步骤根据第一MTF值和第二MTF值获取镜头在第一方向上的倾斜量，包括：当第一MTF值与第二MTF值之间的第一MTF差值大于第一MTF差值阈值时，根据第一MTF差值获取镜头在第一方向上的倾斜量。步骤根据第三MTF值和第四MTF值获取镜头在第二方向上的倾斜量，包括：当第三MTF值与第四MTF值之间的第二MTF差值大于第二MTF差值阈值时，根据第二MTF差值获取镜头在第二方向上的倾斜量。
具体的，第一检测区域的第一MTF值和第二检测区域的第二MTF值在数值上存在相等的关系，当第一MTF值与第二MTF值之间的第一MTF差值大于第一MTF差值阈值时，则表示镜头在第一方向上的倾斜量超出允许范围。可以根据第一MTF差值获取镜头在第一方向上的倾斜量，进一步的，可以利用第一MTF差值标识镜头在第一方向上的倾斜量。第三检测区域的第三MTF值和第四检测区域的第四MTF值在数值上存在相等的关系，当第三MTF值与第四MTF值之间的第二MTF差值大于第二MTF差值阈值时，则表示镜头在第二方向上的倾斜量超出允许范围。可以根据第二MTF差值获取镜头在第二方向上的倾斜量，进一步的，可以利用第二MTF差值标识镜头在第二方向上的倾斜量。
图5为一个实施例中检测图像的示意图，在其中一个实施例中，如图5所示，预设方向包括：第一方向和第二方向，第一方向与第二方向垂直。检测图像包括：关于第二方向镜像的第一测试区域和第二测试区域，和关于第一方向镜像的第三测试区域和第四测试区域。
步骤获取第一测试区域的第一测试值、第二测试区域的第二测试值、第三测试区域的第三测试值和第四测试区域的第四测试值，包括：获取第一测试区域的第一SFR值、第二测试区域的第二SFR值、第三测试区域的第三SFR值和第四测试区域的第四SFR值。
具体的，获取检测图像的对应的SFR值可以是获取检测图像中第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域和第四测试区域各自对应的SFR值。第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域和第四测试区域的位置分布如图5所示，设置图像的中心为O点，第一方向为X轴方向，第二方向为Y轴方向，第一测试区域和第二测试区域关于Y轴方向镜像，第三测试区域和第四测试区域关于X轴方向镜像。其中，第一测试区域的检测结果为第一SFR值；第二测试区域的检测结果为第二SFR值；第三测试区域的检测结果为第三SFR值；第四测试区域的检测结果为第四SFR值。
图7为一个实施例中步骤根据第一测试值和第二测试值的差值获取镜头在第一方向上的倾斜量；根据第三测试值和第四测试值的差值获取镜头在第二方向上的倾斜量的流程图，在其中一个实施例中，如图7所示，步骤根据第一测试值和第二测试值的差值获取镜头在第一方向上的倾斜量；根据第三测试值和第四测试值的差值获取镜头在第二方向上的倾斜量包括：步骤702和步骤704。
步骤702、根据第一SFR值和第二SFR值获取镜头在第一方向上的倾斜量。
具体的，第一测试区域和第二测试区域关于Y轴方向镜像，第一测试区域和第二测试区域是对称位置上的两个区域，另外可以设置第一检测区域与第二检测区域的尺寸相同。第一检测区域的第一SFR值和第二检测区域的第二SFR值存在对应的关系，本实施例中可以根据第一检测区域的第一SFR值和第二检测区域的第二SFR值获取镜头在第一方向上的倾斜量。
步骤704、根据第三SFR值和第四SFR值获取镜头在第二方向上的倾斜量。
具体的，第三测试区域和第四测试区域关于X轴方向镜像，且第三测试区域和第四测试区域是对称位置上的两个区域，另外可以设置第三检测区域与第四检测区域的尺寸相同。第三检测区域的第三SFR值和第四检测区域的第四SFR值存在对应的关系，根据第三检测区域的第三SFR值和第四检测区域的第四SFR值可以获取镜头在第二方向上的倾斜量。
在其中一个实施例中，根据第一SFR值和第二SFR值获取镜头在第一方向上的倾斜量，包括：当第一SFR值与第二SFR值之间的第一SFR差值大于第一SFR差值阈值时，根据第一SFR差值获取镜头在第一方向上的倾斜量。根据第三SFR值和第四SFR值获取镜头在第二方向上的倾斜量，包括：当第三SFR值与第四SFR值之间的第二SFR差值大于第二SFR差值阈值时，根据第二SFR差值获取镜头在第二方向上的倾斜量。
具体的，第一检测区域的第一SFR值和第二检测区域的第二SFR值在数值上存在相等的关系，当第一SFR值与第二SFR值之间的第一SFR差值大于第一SFR差值阈值时，则表示镜头在第一方向上的倾斜量超出允许范围。可以根据第一SFR差值获取镜头在第一方向上的倾斜量，进一步的，可以利用第一SFR差值标识镜头在第一方向上的倾斜量。第三检测区域的第三SFR值和第四检测区域的第四SFR值在数值上存在相等的关系，当第三SFR值与第四SFR值之间的第二SFR差值大于第二SFR差值阈值时，则表示镜头在第二方向上的倾斜量超出允许范围。可以根据第二SFR差值获取镜头在第二方向上的倾斜量，进一步的，可以利用第二SFR差值标识镜头在第二方向上的倾斜量。
图8为一个实施例中步骤根据倾斜标定函数和当前倾斜量调整校正线圈的通电电流，以使校正线圈控制镜头移动对当前倾斜量进行补偿的流程图，在其中一个实施例中，校正线圈包括：第一校正线圈和第二校正线圈。步骤根据倾斜标定函数和当前倾斜量调整校正线圈的通电电流，以使校正线圈控制镜头移动对当前倾斜量进行补偿包括：步骤802和步骤804。
步骤802、根据倾斜标定函数和第一方向的倾斜量调整第一校正线圈的通电电流调，以使第一校正线圈控制镜头移动对第一方向的倾斜量进行补偿。
具体的，第一校正线圈可以为至少一个，设置于镜筒的侧壁用于通电后控制镜筒移动以实现对第一方向上的倾斜量进行补偿。举例来说，第一校正线圈可以为两个。多个第一校正线圈同时推动镜筒移动，能够提高对镜筒在第一方向上的倾斜量进行补偿的效率，且可以使在倾斜量补偿过程中镜头移动的更平稳。
步骤804、根据倾斜标定函数和第二方向的倾斜量调整第二校正线圈的通电电流调，以使第二校正线圈控制镜头移动对第二方向的倾斜量进行补偿。
具体的，第二校正线圈可以为至少一个，设置于镜筒的侧壁用于通电后控制镜筒移动以实现对第二方向上的倾斜量进行补偿。举例来说，第二校正线圈可以为两个。多个第二校正线圈同时推动镜筒移动，能够提高对镜筒在第二方向上的倾斜量进行补偿的效率，且可以使在倾斜量补偿过程中镜头移动的更平稳。
应该理解的是，虽然图2-4、6-8的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-4、6-8中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
图9为一个实施例中校正装置的结构示意图，在其中一个实施例中，校正装置应用于电子设备，电子设备包括镜头和音圈马达，音圈马达包括校正线圈，校正线圈用于根据通电电流控制镜头移动并对预设方向上的倾斜量进行补偿，装置包括：检测模块902、获取模块904和校正模块906。其中，校正线圈可以为多个，校正线圈可以设置于镜筒的侧壁上。当镜头在预设位置存在当前倾斜量时，通过控制校正线圈的通电电流，以使装载镜头的镜筒移动，实现对镜头在预设方向上的当前倾斜量进行补偿。
检测模块902，用于当检测到镜头移动至预设位置时，控制镜头采集测试图卡的检测图像，根据检测图像获取镜头在预设方向上的当前倾斜量。
其中，预设位置可以是镜头在拍摄图像对应的近景拍摄位置、中景拍摄位置、远景拍摄位置、特写拍摄位置或全景拍摄位置等，还可以是用户自动调焦的镜头所处的拍摄位置。测试图卡指的是用于测试镜头解像力的测试图，可以是用于TV line检测的图卡、用于MTF检测测试的图卡或用于SFR检测的测试图卡等。预设方向可以是一个方向或者两个方向，举例来说，笛卡尔坐标系下，将镜头在对焦线圈作用下移动的方向视为Z轴方向，则当前倾斜量所在的预设方向上可能是X轴方向和/或Y轴方向。
具体的，当镜头在对焦线圈的作用下移动到预设位置时，可能存在X轴方向和/或Y轴方向上的当前倾斜量。控制镜头采集测试图卡对应的检测图像，测试图卡可以是用于TVline检测的图卡、用于MTF检测测试的图卡或用于SFR检测的测试图卡等。通过对检测图像中TV line、MTF或SFR进行检测分析，能够获取镜头在预设方向上是否存在的当前倾斜量。当镜头在预设方向上存在当前倾斜量时，进一步的可以获取该当前倾斜量的大小。
获取模块904，用于根据镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数和当前倾斜量和获取校正线圈对应的目标通电电流。
其中，倾斜标定函数用于表征镜头在预设位置处当前倾斜量与目标通电电流的映射关系，目标通电电流为用于对该当前倾斜量进行校正的校正线圈的通电电流。
具体的，获取模块904，用于通过检测测试图卡对应的检测图像，可以获取镜头在预设位置的当前倾斜量。在已知镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数和镜头在预设位置的当前倾斜量，可以得到校正线圈对应的目标通电电流。目标通电电流包括通电电流的大小和方向。进一步的，可以利用目标通电电流控制镜头移动以补偿镜头产生的当前倾斜量。
校正模块906，用于控制校正线圈将通电电流调整为目标通电电流，以使校正线圈控制镜头移动对预设方向上的倾斜量进行补偿。
具体的，在已知镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数和镜头在预设位置的当前倾斜量，可以得到校正线圈对应的目标通电电流。校正模块906用于将校正线圈的通电电流调整为目标通电电流，以使镜头移动对预设方向上的倾斜量进行补偿。举例来说，校正线圈包括三个，则对应的目标通电电流为(I1，I2，I3)，将三个校正线圈的通电电流分别调整为I1，I2，I3，则在三个校正线圈的作用下，装载镜头的镜筒移动且带动镜头移动以补偿镜头在预设方向上对应的当前倾斜量。需要说明的是，校正线圈的个数可以是一个或者多个，各个校正线圈对应的通电电流可以相同，也可以不相同，校正线圈能够在目标通电电流的作用下，控制镜头移动实现对当前倾斜量进行补偿即可。
上述校正装置包括：检测模块902当检测到镜头移动至预设位置时，控制镜头采集测试图卡的检测图像，根据检测图像获取镜头在预设方向上的当前倾斜量。获取模块904根据镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数和当前倾斜量获取校正线圈对应的目标通电电流。校正模块906控制校正线圈将通电电流调整为目标通电电流，以使校正线圈控制镜头移动对预设方向上的倾斜量进行补偿。该装置通过预设的倾斜标定函数和当前倾斜量获取校正线圈对应的目标通电电流，并利用校正线圈的目标通电电流控制镜头移动对镜头的当前倾斜量进行补偿，解决了镜头在目标位置的当前倾斜量对图像采集产生影响的问题。
在其中一个实施例中，校正装置包括函数获取模块，用于获取镜头在预设位置处对应的倾斜标定函数，倾斜标定函数标识在预设位置处镜头对应的当前倾斜量和校正线圈的目标通电电流的映射关系。
在其中一个实施例中，函数获取模块用于步骤1：控制镜头移动至预设位置并采集测试图卡的标定检测图像，根据标定检测图像获取镜头在预设方向上的标定倾斜量，调整校正线圈的通电电流至标定目标电流，校正线圈控制镜头移动以使对应的标定倾斜量减小至预设范围；多次重复步骤1，记录每次步骤1中各个标定倾斜量和对应的标定目标电流；根据每次步骤1中多个标定倾斜量和对应的标定目标电流获取镜头在预设位置对应的倾斜标定函数。
在其中一个实施例中，检测模块还用于当测试图卡为MTF测试图卡时，获取检测图像的对应的MTF值，根据检测图像对应的MTF值获取镜头在预设方向上的倾斜量；获取检测图像对应的SFR值。获取检测图像对应的SFR值。根据检测图像对应的SFR值获取镜头在预设方向上的倾斜量。
在其中一个实施例中，检测模块还用于获取第一测试区域的第一MTF值、第二测试区域的第二MTF值、第三测试区域的第三MTF值和第四测试区域的第四MTF值；根据第一MTF值和第二MTF值获取镜头在第一方向上的倾斜量；根据第三MTF值和第四MTF值获取镜头在第二方向上的倾斜量。
在其中一个实施例中，检测模块还用于获取第一测试区域的第一SFR值、第二测试区域的第二SFR值、第三测试区域的第三SFR值和第四测试区域的第四SFR值。根据第一SFR值和第二SFR值获取镜头在第一方向上的倾斜量。根据第三SFR值和第四SFR值获取镜头在第二方向上的倾斜量。
在其中一个实施例中，校正模块还用于控制第一校正线圈将通电电流调整为第一通电电流控制镜头移动对镜头在第一方向上的倾斜量进行补偿；控制第二校正线圈将通电电流调整为第二通电电流控制镜头移动对镜头在第二方向上的倾斜量进行补偿。
上述校正装置中各个模块的划分仅用于举例说明，在其他实施例中，可将校正装置按照需要划分为不同的模块，以完成上述校正装置的全部或部分功能。
关于校正装置的具体限定可以参见上文中对于校正方法的限定，在此不再赘述。上述校正装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
图10为一个实施例中电子设备的内部结构示意图。如图10所示，该电子设备包括通过系统总线连接的处理器和存储器。其中，该处理器用于提供计算和控制能力，支撑整个电子设备的运行。存储器可包括非易失性存储介质及内存储器。非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该计算机程序可被处理器所执行，以用于实现以下各个实施例所提供的一种校正方法。内存储器为非易失性存储介质中的操作系统计算机程序提供高速缓存的运行环境。该电子设备可以是手机、平板电脑或者个人数字助理或穿戴式设备等。
本申请实施例中提供的校正装置中的各个模块的实现可为计算机程序的形式。该计算机程序可在终端或服务器上运行。该计算机程序构成的程序模块可存储在终端或服务器的存储器上。该计算机程序被处理器执行时，实现本申请实施例中所描述方法的步骤。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质。一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得处理器执行校正方法的步骤。
一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行校正方法。
本申请实施例所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用可包括非易失性和/或易失性存储器。合适的非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)，它用作外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDR SDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)。
图11为一个实施例中音圈马达的结构示意图，该音圈马达包括：用于装载镜头的镜筒111和与镜筒111连接的电磁模组112，其中，电磁模组112包括：磁石结构1121、对焦线圈1122和校正线圈1123。
磁石结构1121，用于产生第一磁场。
具体的，磁石结构1121可以包括多个磁石体，多个磁石体用于产生第一磁场。
对焦线圈1122，与磁石结构1121对应设置，用于通电后产生第二磁场，以使第一磁场与第二磁场作用生成第一力矩，第一力矩用于推动镜筒移动至预设位置。
具体的，对焦线圈1122与磁石结构1121对应设置，根据用户指令或者自动对焦指令设置对焦线圈的目标通电电流。将对焦线圈1122的通电电流调整为目标通电电流之后，对焦线圈1122产生第二磁场，第一磁场与第二磁场相互作用，能够产生第一力矩。第一力矩使对焦线圈1122推动镜筒111移动，且镜筒111内装载镜头，即第一力矩使对焦线圈1122推动镜头移动，直至镜头移动至预设位置。
校正线圈1123，与磁石结构1121对应设置，当镜头在预设位置产生预设方向上的倾斜量时，用于通电后产生第三磁场，以使第一磁场与第三磁场作用生成第二力矩，第二力矩用于控制镜筒移动对预设方向上的倾斜量进行补偿。
具体的，校正线圈1123与磁石结构1121对应设置，当检测到镜头在预设位置处存在预设方向上的当前倾斜量时，根据倾斜标定函数，获取镜头在预设位置处预设方向上的当前倾斜量对应的目标通电电流。将校正线圈1123的通电电流调整为目标通电电流之后，校正线圈1123产生第三磁场，第一磁场与第三磁场相互作用，能够产生第二力矩。第二力矩使校正线圈1123推动镜筒111移动，且镜筒111内装载镜头，即第二力矩使校正线圈1123推动镜头移动，直至镜头移动至预设位置。
图12为一个实施例中校正线圈的位置分布示意图，在其中一个实施例中，预设方向包括第一方向和第二方向，第一方向与第二方向垂直，校正线圈包括：第一校正线圈1123a和第二校正线圈1123b。
第一校正线圈1123a，用于通电后控制镜筒移动对第一方向上的倾斜量进行补偿。
具体的，第一校正线圈1123a可以为至少一个，设置于镜筒的侧壁用于通电后控制镜筒移动以实现对第一方向上的倾斜量进行补偿。如图12所示，第一校正线圈1123a为两个。多个第一校正线圈1123a同时推动镜筒移动，能够提高对镜筒在第一方向上的倾斜量进行补偿的效率，且可以使在倾斜量补偿过程中镜头移动的更平稳。
第二校正线圈1123b，用于通电后控制镜筒移动对第二方向上的倾斜量进行补偿。
具体的，第二校正线圈1123b可以为至少一个，设置于镜筒的侧壁用于通电后控制镜筒移动以实现对第二方向上的倾斜量进行补偿。如图12所示，第二校正线圈1123b为两个。多个第二校正线圈1123b同时推动镜筒移动，能够提高对镜筒在第二方向上的倾斜量进行补偿的效率，且可以使在倾斜量补偿过程中镜头移动的更平稳。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (13)

1.一种校正方法，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括镜头和音圈马达，所述音圈马达包括校正线圈，所述校正线圈控制所述镜头移动以补偿所述镜头产生的倾斜量，所述方法包括：
当检测到所述镜头在对焦线圈的作用下移动至预设位置时，获取测试图卡的检测图像；
根据所述检测图像确定所述镜头在预设方向上的当前倾斜量，其中，所述预设方向包括X轴方向和/或Y轴方向；
获取所述镜头在所述预设位置处对应的所述倾斜标定函数；
根据倾斜标定函数和所述当前倾斜量调整所述校正线圈的通电电流，以使所述校正线圈控制所述镜头移动对所述当前倾斜量进行补偿；其中，所述获取所述镜头在所述预设位置处对应的所述倾斜标定函数包括：步骤1：控制所述镜头移动至所述预设位置并采集测试图卡的标定检测图像，根据所述标定检测图像获取所述镜头在所述预设方向上的标定倾斜量，调整所述校正线圈的通电电流至标定目标电流，所述校正线圈控制所述镜头移动以使对应的所述标定倾斜量减小至预设范围；多次重复所述步骤1，记录每次步骤1中各个标定倾斜量和对应的标定目标电流；根据每次步骤1中多个所述标定倾斜量和对应的所述标定目标电流获取所述镜头在所述预设位置对应的所述倾斜标定函数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测图像包括第一区域和第二区域；所述根据所述检测图像确定所述镜头的当前倾斜量，包括：
根据图像检测函数获取所述第一区域对应的第一函数值及所述第二区域对应的第二函数值；
根据所述第一函数值和所述第二函数值的差值获取所述镜头的当前倾斜量。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当前倾斜量包括：第一方向的倾斜量和/或第二方向的倾斜量，所述第一方向与所述第二方向垂直；所述测试图卡划分为关于所述第二方向镜像对称的第一测试区域和第二测试区域和关于所述第一方向镜像对称的第三测试区域和第四测试区域；
当所述测试图卡划分为关于所述第二方向镜像对称的第一测试区域和第二测试区域时，所述第一区域对应所述第一测试区域，所述第二区域对应所述第二测试区域；当所述测试图卡划分为关于所述第一方向镜像对称的第三测试区域和第四测试区域时，所述第一区域对应所述第三测试区域，所述第二区域对应所述第四测试区域；
所述根据图像检测函数获取所述第一区域对应的第一函数值及所述第二区域对应的第二函数值；包括：
获取所述第一测试区域的第一测试值、所述第二测试区域的第二测试值、所述第三测试区域的第三测试值和所述第四测试区域的第四测试值；
所述根据所述第一函数值和所述第二函数值的差值获取所述镜头的当前倾斜量，包括：
根据所述第一测试值和所述第二测试值的差值获取所述镜头在所述第一方向的倾斜量；
根据所述第三测试值和所述第四测试值的差值获取所述镜头在所述第二方向的倾斜量。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测试图卡为MTF测试图卡，所述图像检测函数为调制传递函数MTF，
所述获取所述第一测试区域的第一测试值、所述第二测试区域的第二测试值、所述第三测试区域的第三测试值和所述第四测试区域的第四测试值，包括：
获取所述第一测试区域的第一MTF值、所述第二测试区域的第二MTF值、所述第三测试区域的第三MTF值和所述第四测试区域的第四MTF值；
所述根据所述第一测试值和所述第二测试值的差值获取所述镜头在所述第一方向上的倾斜量；根据所述第三测试值和所述第四测试值的差值获取所述镜头在所述第二方向上的倾斜量，包括：
根据所述第一MTF值和所述第二MTF值的差值获取所述镜头在所述第一方向上的倾斜量；
根据所述第三MTF值和所述第四MTF值的差值获取所述镜头在所述第二方向上的倾斜量。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，
所述根据所述第一MTF值和所述第二MTF值的差值获取所述镜头在所述第一方向上的倾斜量，包括：
当所述第一MTF值与所述第二MTF值之间的第一MTF差值大于第一MTF差值阈值时，根据所述第一MTF差值获取所述镜头在所述第一方向上的倾斜量；
所述根据所述第三MTF值和所述第四MTF值获取所述镜头在所述第二方向的倾斜量，包括：
当所述第三MTF值与所述第四MTF值之间的第二MTF差值大于第二MTF差值阈值时，根据所述第二MTF差值获取所述镜头在所述第二方向的倾斜量。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测试图卡为SFR测试图卡，所述图像检测函数为空间频率响应SFR函数，
所述获取所述第一测试区域的第一测试值、所述第二测试区域的第二测试值、所述第三测试区域的第三测试值和所述第四测试区域的第四测试值，包括：
获取所述第一测试区域的第一SFR值、所述第二测试区域的第二SFR值、所述第三测试区域的第三SFR值和所述第四测试区域的第四SFR值；
所述根据所述第一测试值和所述第二测试值的差值获取所述镜头在所述第一方向上的倾斜量；根据所述第三测试值和所述第四测试值的差值获取所述镜头在所述第二方向上的倾斜量，包括：
根据所述第一SFR值和所述第二SFR值的差值获取所述镜头在所述第一方向上的倾斜量；
根据所述第三SFR值和所述第四SFR值的差值获取所述镜头在所述第二方向上的倾斜量。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，
所述根据所述第一SFR值和所述第二SFR值获取所述镜头在所述第一方向上的倾斜量，包括：
当所述第一SFR值与所述第二SFR值之间的第一SFR差值大于第一SFR差值阈值时，根据所述第一SFR差值获取所述镜头在所述第一方向上的倾斜量；
所述根据所述第三SFR值和所述第四SFR值获取所述镜头在所述第二方向上的倾斜量，包括：
当所述第三SFR值与所述第四SFR值之间的第二SFR差值大于第二SFR差值阈值时，根据所述第二SFR差值获取所述镜头在所述第二方向上的倾斜量。
8.根据权利要求3-7任一项所述的方法，其特征在于，
所述校正线圈包括：第一校正线圈和第二校正线圈；
所述根据倾斜标定函数和所述当前倾斜量调整所述校正线圈的通电电流，以使所述校正线圈控制所述镜头移动对所述当前倾斜量进行补偿，包括：
根据倾斜标定函数和所述第一方向的倾斜量调整所述第一校正线圈的通电电流调，以使所述第一校正线圈控制所述镜头移动对所述第一方向的倾斜量进行补偿；
根据倾斜标定函数和所述第二方向的倾斜量调整所述第二校正线圈的通电电流调，以使所述第二校正线圈控制所述镜头移动对所述第二方向的倾斜量进行补偿。
9.一种校正装置，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括镜头和音圈马达，所述音圈马达包括校正线圈，所述校正线圈用于根据通电电流控制所述镜头移动并对预设方向上的倾斜量进行补偿，所述装置包括：
检测模块，用于当检测到所述镜头移动至预设位置时，获取测试图卡的检测图像；
获取模块，用于根据所述检测图像确定所述镜头的当前倾斜量；
函数获取模块，用于获取所述镜头在所述预设位置处对应的所述倾斜标定函数，其中，所述函数获取模块还用于执行步骤1：控制所述镜头移动至所述预设位置并采集测试图卡的标定检测图像，根据所述标定检测图像获取所述镜头在所述预设方向上的标定倾斜量，调整所述校正线圈的通电电流至标定目标电流，所述校正线圈控制所述镜头移动以使对应的所述标定倾斜量减小至预设范围；多次重复所述步骤1，记录每次步骤1中各个标定倾斜量和对应的标定目标电流；根据每次步骤1中多个所述标定倾斜量和对应的所述标定目标电流获取所述镜头在所述预设位置对应的所述倾斜标定函数；校正模块，用于根据倾斜标定函数和所述当前倾斜量调整所述校正线圈的通电电流，以使所述校正线圈控制所述镜头移动对所述当前倾斜量进行补偿。
10.一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至8中任一项所述的校正方法的步骤。
11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。
12.一种音圈马达，其特征在于，包括：
镜筒，用于装载镜头；
电磁模组，与所述镜筒连接，包括：
磁石结构，用于产生第一磁场；
对焦线圈，与所述磁石结构对应设置，用于通电后产生第二磁场，以使所述第一磁场与所述第二磁场作用生成第一力矩，所述第一力矩用于推动所述镜筒移动至预设位置；
校正线圈，与所述磁石结构对应设置，当所述镜头在预设位置产生预设方向上的倾斜量时，用于通入与当前倾斜量对应的目标通电电流后产生第三磁场，以使所述第一磁场与所述第三磁场作用生成第二力矩，所述第二力矩用于控制所述镜筒移动对所述预设方向上的倾斜量进行补偿；其中，所述目标通电电流根据倾斜标定函数和所述镜头在预设位置处预设方向上的当前倾斜量获得；所述倾斜标定函数的获取方式包括：步骤1：控制所述镜头移动至所述预设位置并采集测试图卡的标定检测图像，根据所述标定检测图像获取所述镜头在所述预设方向上的标定倾斜量，调整所述校正线圈的通电电流至标定目标电流，所述校正线圈控制所述镜头移动以使对应的所述标定倾斜量减小至预设范围；多次重复所述步骤1，记录每次步骤1中各个标定倾斜量和对应的标定目标电流；根据每次步骤1中多个所述标定倾斜量和对应的所述标定目标电流获取所述镜头在所述预设位置对应的所述倾斜标定函数。
13.根据权利要求12所述的音圈马达，其特征在于，所述预设方向包括第一方向和第二方向，所述第一方向与所述第二方向垂直，所述校正线圈包括：
第一校正线圈，用于通电后控制所述镜筒移动对所述第一方向上的倾斜量进行补偿；
第二校正线圈，用于通电后控制所述镜筒移动对所述第二方向上的倾斜量进行补偿。
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