TWI702409B - 電子部件重新布置設備 - Google Patents
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Abstract
本發明涉及一種電子部件重新布置設備。根據本發明的電子部件重新布置設備在需要進行區分的電子部件相互混合時將其彼此區分並重新布置。因此,能夠提高分選機的運行率,並且能夠有效地進行電子部件及托盤的管理。
Description
本發明涉及一種根據特定標準將混合裝載於一個托盤的電子部件重新布置到其他托盤的技術。
生產的半導體元件通過測試機測試後分為良品和不良品,進而僅將良品出貨,測試機與半導體元件的電連接通過測試用分選機實現。
分選機將客戶托盤中要測試的電子部件移動到第三載置要素,之後將電子部件連接於分選機。並且,當測試完成時,分選機將完成測試的電子部件按測試等級分類,並從第三載置要素移動至客戶托盤。
另外,在大多數情況下,電子部件以一個批量(lot)為單位進行測試。此時,為了防止前一批量的物量與後一批量的物量混合,以在前一批量的物量全部完成測試後供應後一批量的物量的方式進行測試,因此,在這期間內,處理器不僅不能以其最大容量運行,而且需要休息時間。尤其,必須在前一批量的物量中的再測試(Re Test)物件物量全部完成測試之後才能供應後一批量的物量,因此,用於處理剩餘物量的分選機的製程會造成容量的浪費。並且,這樣的問題最終成為降低分選機容量的因素。
因此,提出了通過將多個批量連續進行測試來確保分選機的容量最大的方案。
但是,若如上所述地將多個批量連續進行測試,則存在由於作業中的物流流動、再測試時的物流流動等造成一個客戶托盤中混合有互不相同的批量的電子部件的問題。
[現有技術文獻]
[專利文獻]
韓國公開專利公報 第10-2010-0107945號
本發明的目的在於提供如下的一種新型設備:在需要進行彼此區分的情況,例如,不僅有批量的最後的物量或再測試物量或者從一開始要測試的量較少的批量的物量等總體上較少的物量,還有互不相同的批量的電子部件混合於一個托盤內的情況下,能夠將需要重新布置的電子部件重新布置。
根據本發明的第一形態的電子部件重新布置設備包括:供應用堆疊裝置,用於將把需要彼此區分的電子部件裝載在一起的托盤供應至重新布置區域的卸載位置;第一移動裝置,使位於所述供應用堆疊裝置的托盤經過用於識別電子部件的識別區域而移動至用於重新布置電子部件的所述重新布置區域的所述卸載位置;識別裝置,識別借助所述第一移動裝置而位於所述識別區域的托盤中所裝載的電子部件所具有的識別碼;重新布置裝置,根據通過所述識別裝置識別的資訊,將借助所述第一移動裝置而位於所述卸載位置的托盤中所裝載的電子部件重新布置到位於所述重新布置區域的裝載位置的托盤;回收用堆疊裝置,收容在所述裝載位置完成電子部件的裝載作業的托盤;第二移動裝置,使裝載有通過所述重新布置裝置完成電子部件的重新布置的電子部件的托盤移動至所述回收用堆疊裝置;以及控制裝置,具有能夠記錄關於裝載到位於所述供應用堆疊裝置的托盤中的電子部件的個別資訊的記憶體,並且通過控制各個上述的組成部件,將位於所述卸載位置的托盤中所裝載的電子部件重新布置到位於所述裝載位置的托盤。
通過所述供應用堆疊裝置供應的托盤中所裝載的電子部件是完成測試的電子部件,記錄於所述記憶體的關於各個電子部件的個別資訊是關於完成測試的各個電子部件的個別測試資訊。
所述第一移動裝置能夠使托盤經過所述識別區域而連續地移動至所述卸載位置,所述識別裝置包括:線掃描相機,用於識別處於借助所述第一移動裝置而經過所述識別區域的狀態下的托盤中所裝載的電子部件。
所述電子部件重新布置設備還包括:移送裝置,用於將借助所述第一移動裝置而位於移送區域的托盤移送至所述第二移動裝置。
所述控制裝置控制為,將僅裝載有在通過所述識別裝置完成識別後能夠省略重新布置作業的電子部件的托盤從所述第一移動裝置直接移送至所述第二移動裝置。
所述供應用堆疊裝置與回收用堆疊裝置在前方的堆疊區域沿左右方向並排地布置,所述堆疊區域、所述識別區域、所述移送區域及所述重新布置區域沿前後方向依次布置。
根據本發明的電子部件重新布置設備還可以包括:確認裝置,確認借助所述第一移動裝置而位於所述識別區域的托盤中所裝載的電子部件的放置狀態。
根據本發明的電子部件重新布置設備較佳地還包括:移動裝置,在確認區域內移動所述確認裝置,使得所述確認裝置能夠確認正在借助所述第一移動裝置移動或者正在借助所述第二移動裝置移動的托盤中所裝載的所有電子部件的放置狀態。
根據本發明的電子部件重新布置設備優還包括:第一固定部件,用於在所述卸載位置固定托盤;第一升降裝置,使位於所述第一移動裝置的托盤在所述卸載位置上升,進而通過所述固定部件被固定,或者使上升狀態的托盤下降至所述第一移動裝置;第二固定部件,用於在所述裝載位置固定托盤;以及第二升降裝置,使位於所述第二移動裝置的托盤從所述裝載位置上升,進而被所述固定部件固定,或者使已上升的狀態的托盤下降至所述第二移動裝置。
所述第一固定部件或第二固定部件中的至少一個包括:對齊部分,用於將上升的托盤對齊;以及推動部分,當托盤下降時向下方推動托盤。
根據本發明的第二形態的電子部件重新布置設備包括:供應用堆疊裝置,用於將把需要彼此區分的電子部件裝載在一起的托盤供應至卸載位置;第一移動裝置,使位於所述供應用堆疊裝置的托盤移動至用於重新布置電子部件的所述卸載位置;重新布置裝置,將借助所述第一移動裝置而位於所述卸載位置的托盤中所裝載的電子部件重新布置到位於裝載位置的托盤;回收用堆疊裝置,收容在所述裝載位置完成電子部件的裝載作業的托盤;第二移動裝置,使裝載有通過所述重新布置裝置完成電子部件的重新布置的電子部件的托盤移動至所述回收用堆疊裝置;控制裝置,通過控制各個上述的組成部件,將處於所述卸載位置的托盤中所裝載的電子部件重新布置到處於所述裝載位置的托盤。
根據本發明,通過將需要彼此區分而重新布置的電子部件重新布置,能夠最大地提高分選機的運行率,並且能夠有效地進行電子部件及托盤的管理。
並且,根據本發明,由於托盤的供應側構成(供應用堆疊裝置、第一移動裝置、第一固定部件、第一升降裝置)與托盤的回收側構成(回收用堆疊裝置、第二移動裝置、第二固定部件、第二升降裝置)具有相同的結構,因此根據選擇的操作模式,能夠實現在需要重新布置電子部件的多種情況下的適合的功能的變形及其應用。
參照附圖,對根據本發明的較佳實施例進行說明,為了說明的簡潔性,盡可能地省略或壓縮重複的說明以及對實質上相同構成的說明。
>前提條件的說明>
若要應用根據本發明的電子部件重新布置設備,則需要支援測試的測試用分選機對各個電子部件分別單獨地進行管理。即,電子部件應該具有固有的識別碼,分選機能夠讀取相應識別碼而識別電子部件,並且必須分別單獨地記錄並管理關於完成測試的電子部件的資訊。並且,根據測試而產生的針對各個電子部件的個別的資訊必須通過內部專用線路發送到根據本發明的電子部件重新布置設備。
>對電子部件重新布置設備的簡略說明>
圖1是關於根據本發明的電子部件重新布置設備ERE的主要部分的示意性立體圖,圖2是針對圖1的電子部件重新布置設備ERE的主要部分的概念性平面圖。
如圖1及圖2所示,根據本發明的電子部件重新布置設備ERE包括供應用堆疊裝置110、第一移動裝置120、識別裝置210、確認裝置220、移動裝置230、重新布置裝置310、移送裝置410、回收用堆疊裝置510、第二移動裝置520、裝載用堆疊裝置610、第三移動裝置620、第一固定部件710、第一升降裝置720、第二固定部件810、第二升降裝置820及控制裝置910。
供應用堆疊裝置110配備為將裝載有完成測試的電子部件的托盤供應至重新布置區域RZ的卸載位置UP。在本實施例中,供應用堆疊裝置110配備為兩個,並且具有能夠載置多個托盤的結構。
第一移動裝置120對應於供應用堆疊裝置110地配備為兩個,如現有分選機技術中周知,將供應用堆疊裝置110中的托盤從底部開始逐個地移動至卸載位置UP。
此時,借助第一移動裝置120而移動的托盤依次經過識別區域DZ及確認區域CZ後移動至卸載位置UP。這樣的第一移動裝置120較佳地配備為使得托盤不在識別區域DZ及確認區域CZ停止而連續地勻速移動至卸載位置UP,以使處理容量最大化。
第一移動裝置120可以包括用於穩定地放置托盤的專用舟皿或者製造為使托盤不打滑的一對移動帶。其原因在於,即使能夠實現托盤的勻速移動,在托盤開始驅動或停止以進行快速移動操作的情況下,也可能發生托盤由於慣性而在移動帶上瞬間打滑的情況,並且由於操作衝擊造成的晃動等,可能導致發生托盤的姿勢錯亂的情況。在這種情況下,若托盤以偏移的狀態經過識別區域DZ或確認區域CZ,則識別或確認作業可能發生不良,進而在要將電子部件進行重新布置的情況下也可能發生重新布置裝置310的示教點(抓持電子部件的點)不良的問題。因此,在沒有單獨的固定裝置的情況下以單純地擱置在移動帶的狀態的移動托盤可能比較困難。因此,較佳地,可以利用防打滑材料製造移動帶,或者在移動帶採用防滑墊,或者構成用於固定移動的托盤的固定部件或能夠放置托盤的專用舟皿,以使托盤移動。據此,能夠在托盤不打滑且不偏移的情況下確保托盤的勻速移動,從而能夠適當地進行識別及確認作業,並且能夠保證示教點的準確性。當然,關於這樣的第一移動裝置120的事項同樣適用於後述的第二移動裝置520。
識別裝置210配備為用於識別以裝載於托盤的狀態經過識別區域DZ的電子部件所具有的識別碼。在此,識別碼較佳為2D條碼,但不一定局限於此,只要是字元、圖片或其他能夠通過識別裝置210識別電子部件的標記即可。
另外,同上所述的第一移動裝置120能夠使托盤經過識別區域DZ而連續移動至卸載位置UP,因此,為了識別處於經過識別區域DZ狀態的托盤中所裝載的電子部件,識別裝置210可以包括線掃描相機及照明器。當然,為了連續且快速地移動,較佳包括線掃描相機是,但是在沒有處理量將低的問題而不需要考慮速度的情況下,也可以充分考慮使用一般的相機或區域相機,通過反覆移動及停止操作而實現拍攝。
確認裝置220配備於識別裝置210的後方,並且配備為確認裝載於托盤的電子部件的雙重載置裝載、不良載置或載置與否等電子部件的放置狀態。為此,如韓國公開專利10-2016-0018211號中公開,確認裝置220可以包括雷射掃描相機以及用於顯示線的雷射發射器,根據實施方式,雷射掃描相機可以較佳地實現為以傾斜預定角度的形態拍攝雷射發射器的線。在此,較佳地,還可以考慮安裝能夠僅使雷射輻射帶通過雷射掃描相機的帶通濾波器。其原因在於,為了連續拍攝、物流的流動及設備的小型化,確認裝置較佳地非常靠近識別裝置而布置,然而在這種情況下,可能發生識別裝置210的照明干擾到雷射掃描相機的識別而導致雷射掃描相機的識別率顯著降低的問題。因此,需要通過安裝帶通濾波器,以僅使雷射輻射帶通過而入射到雷射掃描相機,從而提高識別裝置210的識別率。
移動裝置230配備為使確認裝置220在確認區域CZ沿左右方向移動。因此,確認裝置220可以確認借助於移動裝置230的運轉而正在借助第一移動裝置120移動或者正在借助第二移動裝置520移動的托盤中所裝載的電子部件的放置狀態。
在本實施例中,識別裝置210及確認裝置220實現為相互結合,從而也實現為識別裝置210隨著移動裝置230的運轉而與確認裝置220一同移動,然而,根據事實方式,若供應用堆疊裝置110僅配備為一個,則也可以充分考慮實現為移動裝置230僅使確認裝置220移動。其原因在於,供應的電子部件僅在借助第一移動裝置120移動時被識別一次即可,因此在此情況下識別裝置210的移動是不必要的。但是,裝在於托盤中的電子部件的放置狀態在重新布置電子部件之後也需要確認,因此也可以考慮在各個移動路徑設置確認裝置220,但是為了降低生產成本,較佳地,如同本實施例,確認裝置220配備為可通過移動裝置230沿左右方向移動。
重新布置裝置310在將借助第一移動裝置120而位於重新布置區域RZ的卸載位置UP的托盤中所裝載的電子部件卸載之後,根據通過識別裝置210識別的資訊來重新布置並裝載到位於重新布置區域RZ的右側方向的裝載位置LP。這樣的重新布置裝置310可以實現為現有分選機中使用的拾取模組以及使拾取模組沿左右方向或前後方向移動的移動器。並且,考慮到由於托盤的規格不同而導致托盤中所裝載的電子部件之間的間隔不同的情況,構成配備於重新布置裝置310的拾取模組的拾取器較佳地配備為能夠調整相互之間的間隔。
如同韓國公開專利10-2007-0021357中的傳送裝置,移送裝置410配備為能夠沿左右方向移送托盤。即,將借助第一移動裝置120而位於移送區域TZ的托盤移送至第二移動裝置520或第三移動裝置620。這樣的移送裝置410的主要功能為在完成電子部件卸載之後將清空的托盤移動至第三移動裝置620,或者將由第三移動裝置620供應的空的托盤移動至第二移動裝置520並傳送到裝載位置LP。並且,對於在借助第一移動裝置120向卸載位置UP方向移動而完成對被裝載的電子部件的識別之後,判斷為被裝載的電子部件不需要進行重新布置的托盤而言(僅裝載有無需進行區分的電子部件的情況),可以省略重新布置作業,因此無需傳送到卸載位置UP而直接傳送到移送區域TZ,之後通過移送裝置410移動至第二移動裝置520。
回收用堆疊裝置510配置為收容在裝載位置LP完成電子部件的重新布置及裝載作業的托盤,並且配備為五個。將回收用堆疊裝置510實現為多於供應用堆疊裝置110的數量的原因在於,考慮到對供應的電子部件進行區分而重新布置的種類數量較多。這樣的回收用堆疊裝置510與供應用堆疊裝置110一同在前方的堆疊區域SZ沿左右方向並排地配備。
第二移動裝置520具有與第一移動裝置120相同的構成,並且對應於五個回收用堆疊裝置510而配備為五個。這樣的第二移動裝置520使裝載有通過重新布置裝置310完成電子部件的重新布置的電子部件的托盤移動至回收用堆疊裝置510。
裝載用堆疊裝置610配置為裝載空托盤。這樣的裝載用堆疊裝置610只要是能夠將初期的空托盤適當地供應至裝載位置LP的程度即可,因此即使配備為最小數量的一個也可充分。這是因為考慮到裝載所需的剩餘空托盤會在經過重新布置作業後在卸載位置UP產生。即,在本發明中,由於是用於重新布置電子部件的技術,因此較佳地,通過供應用堆疊裝置110供應的托盤、通過回收用堆疊裝置510回收的托盤以及通過裝載用堆疊裝置610供應的空托盤全部具有相同的規格。
第三移動裝置620將裝載用堆疊裝置610處的空托盤供應至裝載位置LP,或者將在卸載位置UP清空而通過移送裝置410傳遞來的托盤移動至裝載位置LP。
第一固定部件710及第一升降裝置720對應於第一移動裝置120而配備為兩個,如同圖3的(a)及(b)的示意性局部圖中所示,第一固定部件710及第一升降裝置720配備為固定借助第一移動裝置120而來到卸載位置UP的托盤。
第一固定部件710對應於卸載位置UP配備,並且具有使得處於卸載位置的托盤的上表面能夠向上方開放的開放孔OH。
如圖3的(b)所示,第一升降裝置720能夠使借助第一移動裝置120移動至卸載位置UP的托盤上升,以使托盤的邊緣緊貼於第一固定部件710而固定托盤,並且如圖3的(a)所示,使完成電子部件的卸載的托盤下降而返回至第一移動裝置120。為此,第一升降裝置720可以包括升降板721以及使升降板721升降的升降器722,考慮到生產成本,升降器722可以配備為氣缸。
第二固定部件810及第二升降裝置820配備為固定借助第二移動裝置520而來到裝載位置LP的托盤。這樣的第二固定部件810及第二升降裝置820具有與第一固定部件710及第一升降裝置720分別相同的結構及功能。
作為參考,在本實施例中,如圖4所示,第一固定部件710及第二固定部件810以開放孔OH形成於卸載位置UP或裝載位置LP的形態在一個長的固定板FP上配備為一體。
另外,為了通過重新布置裝置310準確地卸載或裝載電子部件,第一固定部件710及第二固定部件810需要將托盤準確地對齊。因此,如圖5所示,當托盤通過第一升降裝置720或第二升降裝置820而上升時,配備於第一固定部件710或第二固定部件810的可彈性壓縮並復原地形成對齊部分AP沿一側方向(在本實施例中為後方)推動托盤,從而實現將托盤對齊。因此,當第一升降裝置720或第二升降裝置820使托盤下降時,托盤可能會由於對齊部分AP的壓迫而被夾在第一固定部件710或者第二固定部件810,從而托盤的下降作業無法順利實現。考慮到這一點,較佳地在第一固定部件710及第二固定部件810配備當托盤下降時向下方推動托盤的推動部分PP。在本實施例中,推動部分PP配備為片簧的形態,從而實現當托盤上升時發生彈性變形,從而自由端向上方上升,並且當托盤下降時發生彈性復原,從而自由端向下方下降,進而有助於托盤的適當的下降作業。
控制裝置910通過控制上文中提及的各個構成中所有需要控制的構成,從而將處於卸載位置UP的托盤中所裝載的電子部件重新布置到處於裝載位置LP的托盤。為此,控制裝置910較佳地具有能夠記錄來自分選機的測試結果或批量資訊或者關於履歷等的各個電子部件的個別資訊等的記憶體。當然,根據事實方式,控制裝置910也可以與支援測試並根據測試結果對電子部件進行分類的分選機整合而配備,從而實現為通過一個控制裝置910將分選機與電子部件重新布置設備ERE一同控制。
並且,雖然上文未進行說明,但是為了實現具有同上所述的結構的根據本發明的電子部件重新布置設備ERE的作業效率性以及各個構成之間的工作干擾的防止,沿前後方向依次布置有堆疊區域SZ、識別區域DZ、確認區域CZ、移送區域TZ及重新布置區域RZ。即,堆疊區域SZ存在於最前方,向後依次存在有識別區域DZ、確認區域CZ、移送區域TZ及重新布置區域RZ。因此,識別裝置210、確認裝置220、移送裝置410及重新布置裝置310的作業區域被區分開而不重疊,從而能夠簡化結構或控制的設計,進而降低生產成本。但是,根據事實方式,識別區域DZ與確認區域CZ可以相互調換。
>電子部件重新布置設備的操作說明>
操作者或自動載貨車將裝載有完成測試的電子部件的托盤載置到供應用堆疊裝置110,並將最小數量的空托盤載置到載置用堆疊裝置610之後,開始通過電子部件重新布置設備ERE進行電子部件重新布置作業。
第一移動裝置120將載置於供應用堆疊裝置110的托盤中位於最底部的托盤逐個地移動至卸載位置UP。同樣地,第三移動裝置620、移送裝置410及第二移動裝置520將空托盤從裝載用堆疊裝置610移動至裝載位置LP。作為參考,在本實施例中,雖然空托盤通過裝載用堆疊裝置610進行供應或收容,但是根據實施方式,也可以適當地考慮實現為最初由回收用堆疊裝置510供應空托盤。並且,如上所述地在托盤借助於第一移動裝置120勻速且連續地向後方移動的過程中,托盤必然經過識別區域DZ及確認區域CZ,進而通過識別裝置210分別獨立地識別各個電子部件,並通過確認裝置220確認電子部件的放置狀態。
若托盤借助第一移動裝置120到達卸載位置UP,則第一升降裝置720運轉而使托盤上升,從而托盤通過第一固定部件710及第一升降裝置720被穩定地固定於準確的位置。此時,對齊部分AP將托盤的位置對齊。同樣地,空托盤也借助第二移動裝置520移動至裝載位置LP,進而通過第二固定部件810及第二升降裝置820處於固定在準確的位置的狀態。
接著,重新布置裝置310運轉而從位於卸載位置UP的托盤卸載電子部件,之後重新布置到位於裝載位置LP的空托盤。下文中將對在此進行的重新布置作業進行說明。
接著,在卸載位置UP完成所裝載的電子部件的卸載的托盤通過第一固定部件710下降而返回至第一移動裝置120,此時,通過推動部分PP實現托盤的適當的下降。並且,下降的托盤借助第一移動裝置120移動至移送區域TZ,並通過移送裝置410傳遞至第三移動裝置620,並且第三移動裝置620使清空的托盤移動至裝載用堆疊裝置610。並且,這樣收容於裝載用堆疊裝置610的空托盤之後通過第三移動裝置620、移送裝置410及第二移動裝置520被供應至裝載位置LP。
另外,若位於裝載位置LP的托盤被填滿,則該托盤借助第二移動裝置520被回收到前方的回收用堆疊裝置510。在該過程中,托盤經過確認區域CZ,並通過移動裝置230事先移動並等待的確認裝置220確認裝載於經過確認區域CZ的托盤中的電子部件的放置狀態。當然,雖然識別裝置210也與確認裝置220一同移動,但是針對回收的托盤中所裝載的電子部件無需執行識別作業,因此在該過程中省略識別作業。
另外,較佳地實現為:雖然是從供應用堆疊裝置110供應的托盤,但是在借助識別裝置210的識別結果為可以省略電子部件的重新布置的情況下,該托盤不經過卸載位置UP而從移送區域TZ直接被移送到第二移動裝置520,之後移動至回收用堆疊裝置510。在這種情況下,需要注意必須充分利用第二移動裝置520。例如,若實現為沒有第二固定部件810或第二升降裝置820而在被第二移動裝置520抓持的狀態下進行電子部件的重新布置,則針對不經過卸載位置UP而直接傳送來的托盤的處理可能比較困難。然而,根據本實施例,通過第二固定部件810及第二升降裝置820固定位於卸載位置UP的托盤,因此能夠提高第二移動裝置520的充分利用性。即,根據本實施例,第二固定部件810及第二升降裝置820不僅具有將托盤固定於準確位置的功能,還具有提高第二移動裝置520的充分利用性的功能。
>應用例>
根據本發明的電子部件重新布置設備ERE基於按批量管理電子部件的目的而提出,但是所揭示的電子部件重新布置設備ERE可以根據多種操作模式的選擇而具有如下所述的多種應用例。
1、根據批量區分的重新布置
通常,在多個批量的物量通過分選機連續供應並進行測試的情況下,電子部件在移動過程或再測試過程等中可能由前一批量與後一批量相互混合而裝載於一個托盤,並且,在諸如為僅進行再測試的物量或者原本要測試的物量較少的批量等總體上物量較少的情況下等情況下,互不相同的批量的電子部件可能混合而一同裝載於一個托盤。
在這種情況下,從分選機回收的托盤可以供應於電子部件重新布置設備,進而根據電子部件的識別碼具有的批量資訊而重新布置相同批量的物量。
在本利用例中,必須對至少兩個批量的物量進行重新布置,因此回收用堆疊裝置510的數量需要比供應用堆疊裝置110的數量多。
2、根據等級區分的重新布置
例如,為了分選機的作業效率性,測試等級互不相同的物量可以被區分而載置在一個托盤中。在這種情況下,也可以收集這些托盤而一同供應到電子部件重新布置設備ERE,進而能夠以按等級進行區分的方式進行重新布置。
3、根據合併的重新布置
在前端的作業過程中,未填滿一部分的托盤可能被排出,在這種情況下,將這些托盤供應至電子部件重新布置設備ERE,使得電子部件將托盤全部填滿,從而能夠提高托盤的管理及利用率。
>參考事項>
1、在上述的說明中,雖然以對完成測試的電子部件進行重新布置的情形進行了說明,但是根據本發明的電子部件重新布置設備ERE的應用並不僅僅局限於這些實施例。
例如,在生產工廠裡,在各個生產線生產的物量相互混合的情況下,可能需要將電子部件重新布置,為了出貨所需,在預定目的下也可以對電子部件進行重新布置。即,根據本發明的電子部件重新布置設備ERE在經過某個前製程(例如測試製程或生產製程等)之後,在需要進行區分的電子部件一同混合而裝載到一個托盤的情況下,通過將其區分並重新布置於空托盤中,從而能夠提高分選機的運行率,並且避免手動作業帶來的困難性並節省時間。
2、在本實施例中,雖然對供應用堆疊裝置110配備為兩個,回收用堆疊裝置510配備為五個的情形進行了說明,但是其數量可以根據選擇的控制模式而改變。
例如,在上文所述的合併的情況下,可以較佳地考慮將供應用堆疊裝置110的數量設定為大於回收用堆疊裝置510的數量。當然,此時應該僅針對托盤的物流控制第一移動裝置120及第二移動裝置520,以符合供應用堆疊裝置110及回收用堆疊裝置510的數量及其應用。
3、並且,在本實施例中,雖然對在卸載位置UP清空的托盤具有在移動至裝載用堆疊裝置610後移動至裝載位置LP的流程的情形進行了說明,但是根據事實方式,也可以實現為將在卸載位置UP清空的托盤直接移動至裝載位置LP。
4、並且,在上述的說明中,雖然對利用電子部件各自的識別碼重新布置電子部件的情形進行了說明,但是根據事實方式,也可以實現為通過托盤的固有識別資訊及放置於托盤的電子部件的座標資訊重新布置電子部件,此時,應該變更為識別裝置210識別托盤。
進而,在單純地合併電子部件的情況下,也可以實現為在僅確認電子部件的載置位置後僅通過基於裝載位置的座標資訊重新布置電子部件,在這種情況下,也可以考慮省略識別裝置210的構成。
5、托盤或電子部件的移動流程可以根據是哪一種操作模式而改變,並且根據具體的實施形態可以實現多種變形。
因此,雖然基於參照附圖的實施例而進行了針對本發明的具體說明,但是上述的實施例僅僅說明了本發明的較佳實施例,因此不應理解為本發明局限於上述實施例,本發明的權利範圍應理解為申請專利範圍的範圍及其等同範圍。
ERE‧‧‧電子部件重新布置設備
110‧‧‧供應用堆疊裝置
120‧‧‧第一移動裝置
210‧‧‧識別裝置
220‧‧‧確認裝置
230‧‧‧移動裝置
310‧‧‧重新布置裝置
410‧‧‧移送裝置
510‧‧‧回收用堆疊裝置
520‧‧‧第二移動裝置
710‧‧‧第一固定部件
720‧‧‧第一升降裝置
810‧‧‧第二固定部件
820‧‧‧第二升降裝置
AP‧‧‧對齊部分
PP‧‧‧推動部分
圖1是關於根據本發明的一實施例的電子部件重新布置設備的示意性立體圖。
圖2是針對圖1的電子部件重新布置設備的主要部分的概念性平面圖。
圖3是示意性地圖示應用於圖1的電子部件重新布置設備的第一固定部件及第一升降裝置的局部圖。
圖4是用於說明應用於圖1的電子部件重新布置設備的第一固定部件及第二固定部件的配備形態的參考圖。
圖5是針對在圖3中採取的第一固定部件及第一升降裝置的示意性立體圖。
國內寄存資訊 (請依寄存機構、日期、號碼順序註記)
無
國外寄存資訊 (請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記)
無
110‧‧‧供應用堆疊裝置
120‧‧‧第一移動裝置
210‧‧‧識別裝置
220‧‧‧確認裝置
230‧‧‧移動裝置
310‧‧‧重新布置裝置
410‧‧‧移送裝置
510‧‧‧回收用堆疊裝置
520‧‧‧第二移動裝置
610‧‧‧裝載用堆疊裝置
620‧‧‧第三移動裝置
710‧‧‧第一固定部件
720‧‧‧第一升降裝置
810‧‧‧第二固定部件
820‧‧‧第二升降裝置
910‧‧‧控制裝置
ERE‧‧‧電子部件重新布置設備
FP‧‧‧固定板
Claims (11)
- 一種電子部件重新布置設備,其中包括: 供應用堆疊裝置,用於將裝載有電子部件的托盤供應至重新布置區域的卸載位置;第一移動裝置,使位於所述供應用堆疊裝置的托盤經過用於識別電子部件的識別區域而移動至用於重新布置電子部件的所述重新布置區域的所述卸載位置;識別裝置,識別通過所述第一移動裝置而位於所述識別區域的托盤中所裝載的電子部件所具有的識別碼;重新布置裝置,根據通過所述識別裝置識別的資訊,將通過所述第一移動裝置而位於所述卸載位置的托盤中所裝載的電子部件重新布置到位於所述重新布置區域的裝載位置的托盤;回收用堆疊裝置,收容在所述裝載位置完成電子部件的裝載作業的托盤;第二移動裝置,使裝載有通過所述重新布置裝置完成電子部件的重新布置的電子部件的托盤移動至所述回收用堆疊裝置;以及控制裝置,具有能夠記錄關於裝載到位於所述供應用堆疊裝置的托盤中的電子部件的個別資訊的記憶體,並且通過控制各個上述的組成部件,將位於所述卸載位置的托盤中所裝載的電子部件重新布置到位於所述裝載位置的托盤。
- 根據請求項1所述的電子部件重新布置設備,其中 通過所述供應用堆疊裝置供應的托盤中所裝載的電子部件是完成測試的電子部件,記錄於所述記憶體的關於各個電子部件的個別資訊是關於完成測試的各個電子部件的個別測試資訊。
- 根據請求項1所述的電子部件重新布置設備,其中 所述第一移動裝置能夠使托盤經過所述識別區域而連續地移動至所述卸載位置,所述識別裝置包括:線掃描相機,用於識別處於借助所述第一移動裝置而經過所述識別區域的狀態下的托盤中所裝載的電子部件。
- 根據請求項1所述的電子部件重新布置設備,其中還包括: 移送裝置,用於將借助所述第一移動裝置而位於移送區域的托盤移送至所述第二移動裝置。
- 根據請求項4所述的電子部件重新布置設備,其中 所述控制裝置控制為,將僅裝載有在通過所述識別裝置完成識別後能夠省略重新布置作業的電子部件的托盤從所述第一移動裝置直接移送至所述第二移動裝置。
- 根據請求項4所述的電子部件重新布置設備,其中 所述供應用堆疊裝置與回收用堆疊裝置在前方的堆疊區域沿左右方向並排地布置,所述堆疊區域、所述識別區域、所述移送區域及所述重新布置區域沿前後方向依次布置。
- 根據請求項1所述的電子部件重新布置設備,其中還包括: 確認裝置,確認借助所述第一移動裝置而位於所述識別區域的托盤中所裝載的電子部件的放置狀態。
- 根據請求項7所述的電子部件重新布置設備,其中還包括: 移動裝置,在確認區域內移動所述確認裝置,使得所述確認裝置能夠確認正在借助所述第一移動裝置移動或者正在借助所述第二移動裝置移動的托盤中所裝載的所有電子部件的放置狀態。
- 根據請求項1所述的電子部件重新布置設備,其中還包括: 第一固定部件,用於在所述卸載位置固定托盤;第一升降裝置,使位於所述第一移動裝置的托盤在所述卸載位置上升,進而通過所述固定部件被固定,或者使上升狀態的托盤下降至所述第一移動裝置;第二固定部件,用於在所述裝載位置固定托盤;及第二升降裝置,使位於所述第二移動裝置的托盤從所述裝載位置上升,進而被所述固定部件固定,或者使已上升的狀態的托盤下降至所述第二移動裝置。
- 根據請求項9所述的電子部件重新布置設備,其中 所述第一固定部件或第二固定部件中的至少一個包括:對齊部分,用於將上升的托盤對齊;及推動部分,當托盤下降時向下方推動托盤。
- 一種電子部件重新布置設備,其中包括: 供應用堆疊裝置,用於將把需要彼此區分的電子部件裝載在一起的托盤供應至卸載位置;第一移動裝置,使位於所述供應用堆疊裝置的托盤移動至用於重新布置電子部件的所述卸載位置;重新布置裝置,將借助所述第一移動裝置而位於所述卸載位置的托盤中所裝載的電子部件重新布置到位於裝載位置的托盤;回收用堆疊裝置,收容在所述裝載位置完成電子部件的裝載作業的托盤;第二移動裝置,使裝載有通過所述重新布置裝置完成電子部件的重新布置的電子部件的托盤移動至所述回收用堆疊裝置;控制裝置,通過控制各個上訴的組成部件,將處於所述卸載位置的托盤中所裝載的電子部件重新布置到處於所述裝載位置的托盤。
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CN114972505B (zh) * | 2022-04-29 | 2023-05-12 | 弥费科技(上海)股份有限公司 | 一种位置识别系统 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1211198B1 (en) * | 2000-12-04 | 2006-04-05 | Fritz Schäfer GmbH | Pallet handling method and apparatus |
TWI313358B (zh) * | 2006-01-17 | 2009-08-11 | Advantest Corporatio | |
CN103826998A (zh) * | 2011-09-30 | 2014-05-28 | Ats自动化加工系统公司 | 为移动元件提供真空的系统和方法 |
CN104590897A (zh) * | 2013-10-30 | 2015-05-06 | 数据I/O公司 | 托盘堆垛机系统及其操作方法 |
CN107199183A (zh) * | 2016-03-18 | 2017-09-26 | 泰克元有限公司 | 电子部件测试用分选机 |
TW201810131A (zh) * | 2015-11-30 | 2018-03-16 | 精工愛普生股份有限公司 | 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 |
US9938080B2 (en) * | 2013-09-18 | 2018-04-10 | Mycronic AB | Method, system and device for redistribution of components and bins in SMD warehouse |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020092695A (ko) * | 2001-06-05 | 2002-12-12 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 패키지 적층 시스템 |
JP3804540B2 (ja) * | 2002-01-28 | 2006-08-02 | 日本電気株式会社 | 薄物郵便物道順組立仕分装置 |
KR100838265B1 (ko) * | 2007-03-09 | 2008-06-17 | 한미반도체 주식회사 | 반도체 패키지 핸들링장치 |
CN101807437B (zh) * | 2009-02-12 | 2013-01-23 | 深圳市江波龙电子有限公司 | 快闪存储器的自动扫描分拣系统及自动扫描方法 |
KR101133188B1 (ko) | 2009-03-27 | 2012-04-09 | (주)제이티 | 소자소팅장치 및 그 방법 |
KR101338181B1 (ko) * | 2011-02-11 | 2013-12-09 | (주)제이티 | 소자검사장치 |
CN102688860B (zh) * | 2012-05-18 | 2014-01-08 | 昆山诚业德通讯科技有限公司 | 自动分拣排料装置 |
KR102024944B1 (ko) * | 2013-07-17 | 2019-09-25 | 미래산업 주식회사 | 인라인 테스트 핸들러 및 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법 |
KR101811662B1 (ko) * | 2014-03-07 | 2017-12-26 | (주)테크윙 | 반도체소자 테스트용 핸들러 및 반도체소자 테스트용 핸들러에서의 테스트 지원 방법 |
US9638748B2 (en) * | 2014-04-10 | 2017-05-02 | Texas Instruments Incorporated | Tray loading system for electronic components |
KR101810082B1 (ko) * | 2014-10-24 | 2017-12-18 | (주)제이티 | 소자소팅장치 |
KR101748853B1 (ko) * | 2015-11-10 | 2017-07-03 | 주식회사 이노비즈 | 반도체 검사 및 분류시스템 |
CN106364880B (zh) * | 2016-10-25 | 2018-09-25 | 山东华光光电子股份有限公司 | 一种半导体激光器产品快速排列转移装置及转移方法 |
CN107931145A (zh) * | 2017-12-20 | 2018-04-20 | 惠州恒立信科技有限公司 | 锂电池分选排列设备 |
-
2018
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-
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-
2023
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1211198B1 (en) * | 2000-12-04 | 2006-04-05 | Fritz Schäfer GmbH | Pallet handling method and apparatus |
TWI313358B (zh) * | 2006-01-17 | 2009-08-11 | Advantest Corporatio | |
CN103826998A (zh) * | 2011-09-30 | 2014-05-28 | Ats自动化加工系统公司 | 为移动元件提供真空的系统和方法 |
US9938080B2 (en) * | 2013-09-18 | 2018-04-10 | Mycronic AB | Method, system and device for redistribution of components and bins in SMD warehouse |
CN104590897A (zh) * | 2013-10-30 | 2015-05-06 | 数据I/O公司 | 托盘堆垛机系统及其操作方法 |
TW201810131A (zh) * | 2015-11-30 | 2018-03-16 | 精工愛普生股份有限公司 | 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 |
CN107199183A (zh) * | 2016-03-18 | 2017-09-26 | 泰克元有限公司 | 电子部件测试用分选机 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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