TWI702389B - 玻璃板的製造方法 - Google Patents

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Abstract

玻璃板的製造方法(1),是具備:將玻璃板加工的加工過程(S2)、及將在加工過程(S2)被加工過的前述玻璃板洗淨的洗淨過程(S3)、及檢出在洗淨過程(S3)被洗淨過的前述玻璃板的缺陷的檢查過程(S4)。檢查過程(S4),是具有:將缺陷的座標特定的缺陷座標特定過程(S4a)、及將在缺陷座標特定過程(S4a)被特定的座標的缺陷的內容特定的缺陷內容特定過程(S4b)。缺陷內容特定過程(S4b)的生產線數是比缺陷座標特定過程(S4a)的生產線數更多,已通過缺陷座標特定過程(S4a)的生產線的前述玻璃板,是朝缺陷內容特定過程(S4b)的生產線被分配。

Description

玻璃板的製造方法
本發明,是有關於具備檢出玻璃板的缺陷的檢查過程之玻璃板的製造方法者。
例如在液晶顯示器用的玻璃基板等的玻璃板的製造方法中具有例如具備:將玻璃板加工的加工過程、及將在前述加工過程被加工過的前述玻璃板洗淨的洗淨過程、及將在前述洗淨過程被洗淨過的前述玻璃板的缺陷檢查的檢查過程者(例如專利文獻1參照)。在檢查過程被檢出的玻璃板的缺陷中,例如包含玻璃碎片、龜裂、異物、污垢、加工不良等。
[習知技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2015-141096號公報
但是在檢查過程中具有,不是只有缺陷的有無,也要求缺陷的內容的特定的情況。但是,單純欲特定缺陷的內容的話,具有在檢查過程需要時間長的問題。
本發明,是鑑於上述狀況,其技術課題為在檢出玻璃板的缺陷的檢查過程中,可抑制檢查時間,且可將缺陷的內容特定。
為了解決前述課題,本案發明人,是專心重覆檢討的結果,獲得如以下的知識。即,在檢查過程特定缺陷的內容的情況,可以將檢查過程,分割成:將缺陷的座標特定的缺陷座標特定過程、及將由此缺陷座標特定過程被特定的座標的缺陷的內容特定的缺陷內容特定過程。該情況,一般,缺陷內容特定過程是比缺陷座標特定過程更需要時間。因此,缺陷座標特定過程的生產線數及缺陷內容特定過程的生產線數為相同的情況,會發生:已完成缺陷座標特定過程的玻璃板,必需等待缺陷內容特定過程的事態。
依據此知識被創案的本發明的玻璃板的製造方法,是具備:將玻璃板加工的加工過程、及將在前述加工過程被加工過的前述玻璃板洗淨的洗淨過程、及將在前述洗淨過程被洗淨過的前述玻璃板的缺陷檢查的檢查過程,前述檢查過程,是具有:將缺陷的座標特定的缺陷座標特定過程、及將在前述缺陷座標特定過程被特定的座標 的缺陷的內容特定的缺陷內容特定過程,前述缺陷內容特定過程的生產線數是比前述缺陷座標特定過程的生產線數更多,已通過前述缺陷座標特定過程的生產線的前述玻璃板,是朝前述缺陷內容特定過程的生產線被分配。
依據此構成的話,缺陷內容特定過程的生產線數是比缺陷座標特定過程的生產線數更多,已通過缺陷座標特定過程的生產線的玻璃板,是朝缺陷內容特定過程的生產線被分配。因此可以迴避,已完成缺陷座標特定過程的玻璃板,必需等待缺陷內容特定過程的事態。由此,在檢查過程整體所需要的時間,可以比缺陷座標特定過程的生產線數及缺陷內容特定過程的生產線數為相同的情況更短。即,依據本發明的玻璃板的製造方法的話,在檢出玻璃板的缺陷的檢查過程中,可抑制檢查時間,且可特定缺陷的內容。
在上述的構成中,在前述缺陷座標特定過程中,在將前述玻璃板在搬運方向的直交方向的中間部浮上地非接觸支撐並且在前述直交方向的兩端部接觸支撐的狀態下一邊搬運,一邊將缺陷的座標特定較佳。
此構成的話,因為一邊將玻璃板搬運一邊將缺陷的座標特定,所以可以比在缺陷座標特定過程所需要的時間更短。且,因為將玻璃板在由中間部浮上地非接觸支撐的狀態下搬運,所以可以抑制在玻璃板發生新缺陷。且,因為在將玻璃板浮上的狀態下搬運,所以在玻璃板由自重所產生的撓曲等的變形產生困難,可以精度佳地將缺 陷的座標特定。
在上述的構成中,在前述缺陷內容特定過程中,在將前述玻璃板以面接觸的方式支撐、固定的狀態下,將缺陷的內容特定較佳。
因為是將玻璃板以面接觸的方式支撐、固定的狀態,所以玻璃板的位置穩定,可以更正確地照準或合焦於在缺陷座標特定過程被特定的座標地進行攝像。
在上述的構成中,前述缺陷內容特定過程的生產線數是比前述缺陷座標特定過程的生產線數多1~3條較佳。
如以上,依據本發明的話,在檢出玻璃板的缺陷的檢查過程中,可抑制檢查時間,且可將缺陷的內容特定。
1‧‧‧製造方法
2‧‧‧搬運機構
2a‧‧‧浮上部
2b‧‧‧送出部
3‧‧‧玻璃板
4‧‧‧座標特定用檢查裝置
4a‧‧‧光源
4b‧‧‧攝像部
5‧‧‧支撐構件
6‧‧‧內容特定用檢查裝置
6a‧‧‧攝像部
6b‧‧‧移動機構
R1‧‧‧第1搬運路
R2‧‧‧第2搬運路
R3‧‧‧第3搬運路
S1‧‧‧投入過程
S2‧‧‧加工過程
S3‧‧‧洗淨過程
S4‧‧‧檢查過程
S4a‧‧‧缺陷座標特定過程
S4b‧‧‧缺陷內容特定過程
S5‧‧‧捆包過程
[第1圖]顯示本發明的實施例的玻璃板的製造方法的概略圖。
[第2圖A]顯示缺陷座標特定過程的概略俯視圖。
[第2圖B]顯示缺陷座標特定過程的概略側面圖。
[第3圖A]顯示缺陷內容特定過程的概略俯視圖。
[第3圖B]顯示缺陷內容特定過程的概略前視圖。
以下,對於實施本發明用的形態依據圖面說明。
第1圖,是顯示本發明的實施例的玻璃板的製造方法的概略圖。此玻璃板的製造方法(以下只記載為製造方法1),是對於玻璃板,進行例如端面加工等的加工者。由製造方法1被製造的玻璃板,其大小,是例如,300×300mm~3500×3500mm,其板厚,是例如,0.1~1.1mm。
此製造方法1,是具備:將玻璃板投入的投入過程S1、及將在投入過程S1被投入的前述玻璃板加工的加工過程S2、及將在加工過程S2被加工過的前述玻璃板洗淨的洗淨過程S3、及將在洗淨過程S3被洗淨過的前述玻璃板的缺陷檢查的檢查過程S4、及將在檢查過程S4被檢查出缺陷的前述玻璃板捆包的捆包過程S5。
檢查過程S4,是具有:將缺陷的座標特定的缺陷座標特定過程S4a、及將在缺陷座標特定過程S4a被特定的座標的缺陷的內容特定的缺陷內容特定過程S4b。且,缺陷內容特定過程S4b的生產線的數量是比缺陷座標特定過程S4a的生產線的數量更多,通過缺陷座標特定過程S4a的生產線的玻璃板,是朝缺陷內容特定過程S4b的生產線被分配。
在圖示例中,包含缺陷座標特定過程S4a的1 條生產線被分岐成為包含缺陷內容特定過程S4b的3條生產線。即,缺陷座標特定過程S4a的生產線數是1條,缺陷內容特定過程S4b的生產線數是3條,缺陷內容特定過程S4b的生產線數是比缺陷座標特定過程S4a的生產線數多2條。
接著,對於製造方法1的過程,依序說明。
最初,在投入過程S1,將玻璃板投入。接著,在加工過程S2,對於在投入過程S1被投入的玻璃板,進行例如端面加工(倒角加工等)等的加工。且,在洗淨過程S3,將在加工過程S2被加工過的玻璃板,藉由例如高壓水或滾子電刷進行洗淨。
在從洗淨過程S3至缺陷座標特定過程S4a為止的第1搬運路R1中,藉由第2圖A及第2圖B所示的搬運機構2,自動地使玻璃板3被搬運。
搬運機構2,是具有:藉由例如空氣的噴出而將玻璃板3成為浮上的狀態的空氣浮上等的浮上部2a、及接觸地送出玻璃板3的例如滾子等的送出部2b。搬運機構2,是將玻璃板3由與搬運方向直交的方向的中間部浮上地非接觸支撐並且由與搬運方向直交的方向的兩端部接觸支撐的狀態下搬運。玻璃板3,是在藉由浮上部2a對於浮上部2a浮上的狀態下,藉由送出部2b被賦予牽引力地被搬運。在此搬運中,玻璃板3,是藉由在水平狀態下將從下部朝向垂直上方的空氣的壓力與玻璃板3的自重抵消的方式作用,來保持更自然的形狀(平板狀)。
接著,在缺陷座標特定過程S4a,計算玻璃板3的缺陷的數量,並且將缺陷的座標特定。
如第2圖A及第2圖B所示,在缺陷座標特定過程S4a中,第1搬運路R1之後,接著藉由搬運機構2一邊將玻璃板3搬運,一邊進行玻璃板3的缺陷的數量的計算及缺陷的座標的特定。此時,玻璃板3,是在對於浮上部2a浮上的狀態下朝送出部2b被送出地被搬運。
在缺陷座標特定過程S4a中,藉由座標特定用檢查裝置4,檢出玻璃板3的缺陷,將缺陷的數量自動地計算並且將缺陷的座標自動地特定。座標特定用檢查裝置4,是如第2圖B所示,具有:光源4a、及對於光源4a隔著玻璃板3的搬運路相面對地配置的例如照相機等的攝像部4b。光源4a,是照射在沿著與玻璃板3的搬運方向直交的方向的寬廣的領域。攝像部4b,是將沿著與玻璃板3的搬運方向直交的方向的寬廣的領域攝像。座標特定用檢查裝置4,是在攝像部4b被固定的狀態下,藉由玻璃板3通過搬運路,將玻璃板3的全域攝像。座標特定用檢查裝置4,是由透過玻璃板3的光進行攝像的型式。
在從缺陷座標特定過程S4a至缺陷內容特定過程S4b為止的第2搬運路R2中,玻璃板3,是自動地藉由例如滾子輸送帶一邊被接觸一邊被搬運(接觸搬運)。在第2搬運路R2,已完成缺陷座標特定過程S4a的玻璃板3,是自動地朝缺陷內容特定過程S4b被分配。
接著,在缺陷內容特定過程S4b,依據在缺陷座標特定過程S4a被特定的座標,將其座標的缺陷的內容特定。
如第3圖A及第3圖B所示,在缺陷內容特定過程S4b中,在藉由支撐構件5將玻璃板3以面接觸的方式支撐、固定的狀態下,將缺陷的內容特定。在缺陷內容特定過程S4b中,依據從座標特定用檢查裝置4被傳達的缺陷的座標資料,藉由內容特定用檢查裝置6將玻璃板3的缺陷攝像,將缺陷的內容特定。
內容特定用檢查裝置6,是例如具有:顯微鏡等的攝像部6a、及將攝像部6a支撐移動用的例如高架等的移動機構6b。內容特定用檢查裝置6,是在玻璃板3被固定於支撐構件5上的狀態下,藉由攝像部6a移動,將玻璃板3的缺陷攝像。支撐構件5是不透過光,內容特定用檢查裝置6,是由被玻璃板3反射的光進行攝像的型式。又,支撐構件5,雖是在定位之前,將空氣噴出將玻璃板3浮上,但是在定位之後,將玻璃板3吸附。
缺陷內容的特定,是將被攝像的畫像由人類視覺判斷也可以,將被攝像的畫像資料自動地處理並自動地判斷也可以。
在從缺陷內容特定過程S4b終了至進入捆包過程S5為止的第3搬運路R3中,玻璃板,是自動地藉由例如滾子輸送帶被接觸地搬運。
缺陷內容特定過程S4b之後,依據缺陷座標 特定過程S4a的檢查結果(缺陷的數量)及缺陷內容特定過程S4b的檢查結果(缺陷的內容),將已實施檢查的玻璃板3是否良品的判別由未圖示的判別部進行。
由判別部所產生的判別結果,被判別為良品的玻璃板3是在捆包過程S5作為良品被捆包被出貨。另一方面,被判別為不良品的玻璃板3,是作為不良品被捆包。
依據如以上構成的本實施例的製造方法1的話,缺陷內容特定過程S4b的生產線數是比缺陷座標特定過程S4a的生產線數更多,已通過缺陷座標特定過程S4a的生產線的玻璃板,是朝缺陷內容特定過程S4b的生產線被分配。因此可以迴避,已完成缺陷座標特定過程S4a的玻璃板3,必需等待缺陷內容特定過程S4b的事態。由此,在檢查過程S4整體所需要的時間,可以比缺陷座標特定過程S4a的生產線數及缺陷內容特定過程S4b的生產線數為相同的情況更短。即,依據本實施例的玻璃板的製造方法1的話,在檢出玻璃板的缺陷的檢查過程中,可抑制檢查時間,且可特定缺陷的內容。
換言之,在製造方法1中,將檢查過程S4,分割成:只有將位置資訊及缺陷的有無特定(短時間)的缺陷座標特定過程S4a(短時間)、及將缺陷內容特定(長時間)的缺陷內容特定過程S4b。且,將檢查過程S4中的長時間所需要的缺陷內容特定過程S4b的生產線複線化的佈局配置。由此,可以提高檢查過程S4的處理能力。
且從洗淨過程S3終了至缺陷座標特定過程S4a為止期間,因為是將玻璃板3的背面以非接觸的方式搬運,所以可以抑制在玻璃板3的表面發生新缺陷。且,從洗淨過程S3終了至缺陷內容特定過程S4b為止期間,玻璃板3的裝卸(支撐處理)、和搬運方向轉換用的上下左右的玻璃板3的移動和玻璃板3的姿勢變更,未極力地進行。因此,可以抑制在玻璃板3發生新的缺陷。藉由這些的相乘效果,在製造方法1中,因為不必要的缺陷產生困難,所以良品率提高。
且由搬運機構2所產生的搬運,藉由加上相當於玻璃板3的自重的空氣壓,就可以抑制由玻璃板3的自重所產生的撓曲和變形。其結果,在由搬運機構2所產生的搬運中實施的缺陷座標特定過程S4a的檢查的信賴性提高。
本發明,不被限定於上述實施例,在其技術的思想的範圍內,可進行各式各樣的變形。例如,在上述實施例中,朝已完成缺陷座標特定過程S4a的玻璃板3的缺陷內容特定過程S4b的分配,皆是朝第2搬運路R2自動地被進行,且是藉由人手或台車被進行也可以。且,在上述實施例中,在生產線內的第1搬運路R1和第3搬運路R3中,雖是自動地使玻璃板3被搬運,但是藉由人手或台車使玻璃板3被搬運也可以。
且在上述實施例中,座標特定用檢查裝置4,雖是由透過玻璃板3的光進行攝像的型式,但是由被玻璃 板3反射的光進行攝像的型式也可以。且,在上述實施例中,內容特定用檢查裝置6,是雖是由被玻璃板3反射的光進行攝像的型式,但是由透過玻璃板3的光進行攝像的型式也可以。
1‧‧‧製造方法
R1‧‧‧第1搬運路
R2‧‧‧第2搬運路
R3‧‧‧第3搬運路
S1‧‧‧投入過程
S2‧‧‧加工過程
S3‧‧‧洗淨過程
S4‧‧‧檢查過程
S4a‧‧‧缺陷座標特定過程
S4b‧‧‧缺陷內容特定過程
S5‧‧‧捆包過程

Claims (4)

  1. 一種玻璃板的製造方法,具備:將玻璃板加工的加工過程、及將在前述加工過程被加工過的前述玻璃板洗淨的洗淨過程、及將在前述洗淨過程被洗淨過的前述玻璃板的缺陷檢查的檢查過程,其特徵為:前述檢查過程,是具有:將缺陷的座標特定的缺陷座標特定過程、及將在前述缺陷座標特定過程被特定的座標的缺陷的內容特定的缺陷內容特定過程,前述缺陷內容特定過程的生產線數是比前述缺陷座標特定過程的生產線數更多,在前述洗淨過程及前述缺陷座標特定過程之間的第1搬運路、及前述缺陷座標特定過程中,在將前述玻璃板由搬運方向的直角方向的中間部浮上使非接觸支撐並且由前述直角方向的兩端部接觸支撐的狀態下將前述玻璃板搬運,在前述缺陷座標特定過程及前述缺陷內容特定過程之間的第2搬運路中,將前述玻璃板接觸搬運,已通過前述缺陷座標特定過程的生產線的前述玻璃板,是朝前述缺陷內容特定過程的生產線被分配。
  2. 如申請專利範圍第1項的玻璃板的製造方法,其中,在前述缺陷內容特定過程中,在將前述玻璃板以面接觸的方式支撐、固定的狀態下,將缺陷的內容特定。
  3. 如申請專利範圍第1項的玻璃板的製造方法,其中,前述缺陷內容特定過程的生產線數是比前述缺陷座標特定過程的生產線數多1~3條。
  4. 如申請專利範圍第1至3項中任一項的玻璃板的製造方法,其中,將在前述檢查過程中被檢查出缺陷的前述玻璃板捆包的捆包過程,在前述檢查過程及前述捆包過程之間的第3搬運路中,將前述玻璃板接觸搬運。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102247090B1 (ko) 2018-08-10 2021-04-29 주식회사 엘지화학 전류 검출 회로, 배터리 관리 시스템 및 배터리팩
JP6726327B2 (ja) * 2019-02-27 2020-07-22 シャープ株式会社 レシート出力装置及びレシート出力方法
JP2022061531A (ja) * 2020-10-07 2022-04-19 日本電気硝子株式会社 ガラス板の製造方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000035319A (ja) * 1999-05-31 2000-02-02 Olympus Optical Co Ltd 外観検査装置
TW200834061A (en) * 2006-12-14 2008-08-16 Nippon Electric Glass Co Defect detection device for plate glass, production method for plate glass, plate glass article, quality judging device for plate glass, and inspection method for plate glass
JP2012163358A (ja) * 2011-02-03 2012-08-30 Nippon Electric Glass Co Ltd ガラス板の端面撮像装置およびその撮像方法
WO2012153662A1 (ja) * 2011-05-10 2012-11-15 旭硝子株式会社 透光性板状体の微小欠点の検査方法および透光性板状体の微小欠点の検査装置
JP2015049347A (ja) * 2013-08-30 2015-03-16 住友化学株式会社 光学部材貼合体の製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06347406A (ja) * 1993-06-10 1994-12-22 Nuclear Fuel Ind Ltd 核燃料ペレットの周面検査装置
JPH1019772A (ja) * 1996-07-01 1998-01-23 Ishikawajima Shibaura Mach Co Ltd 果実の糖度測定装置
KR100582344B1 (ko) * 2003-12-09 2006-05-22 삼성코닝정밀유리 주식회사 유리기판의 검사장치
KR100703694B1 (ko) * 2004-12-01 2007-04-05 삼성전자주식회사 디스플레이 검사 장치
KR100675302B1 (ko) * 2006-01-19 2007-01-29 삼성전자주식회사 반도체 제조설비 및 이를 이용한 반도체 제조방법
JP2009014617A (ja) * 2007-07-06 2009-01-22 Olympus Corp 基板外観検査装置
CN101686635B (zh) * 2008-09-27 2014-03-19 松下电器产业株式会社 电子部件贴装系统及电子部件贴装方法
JP2011099875A (ja) * 2011-02-18 2011-05-19 Olympus Corp 外観検査装置
JP2015105930A (ja) * 2013-12-02 2015-06-08 旭硝子株式会社 透光性基板の微小欠陥検査方法および透光性基板の微小欠陥検査装置
KR20150141096A (ko) 2014-06-09 2015-12-17 한국기계연구원 방열필름의 열적성능 평가방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000035319A (ja) * 1999-05-31 2000-02-02 Olympus Optical Co Ltd 外観検査装置
TW200834061A (en) * 2006-12-14 2008-08-16 Nippon Electric Glass Co Defect detection device for plate glass, production method for plate glass, plate glass article, quality judging device for plate glass, and inspection method for plate glass
JP2012163358A (ja) * 2011-02-03 2012-08-30 Nippon Electric Glass Co Ltd ガラス板の端面撮像装置およびその撮像方法
WO2012153662A1 (ja) * 2011-05-10 2012-11-15 旭硝子株式会社 透光性板状体の微小欠点の検査方法および透光性板状体の微小欠点の検査装置
JP2015049347A (ja) * 2013-08-30 2015-03-16 住友化学株式会社 光学部材貼合体の製造方法

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