TWI448698B - Transmission detection device and method thereof - Google Patents

Description

傳輸檢測裝置及其方法

本發明是一種傳輸檢測裝置及其方法，特別是一種能連續性傳輸之檢測裝置及其方法。

隨著科技的進步以及知識的進展，半導體或是面板等等之科技產業亦發展迅速，而如何提升產品良率，亦是每家廠商所關心之議題，無論是材料或是製程，甚或是檢驗，在每個過程中皆是環環相扣，而為了檢測出人眼難以窺見之缺陷，通常需要較為精密之檢測儀器協助檢測。

目前科技廠商在進行檢測時，面板之檢測過程，往往需經過眾多個程序與步驟，進一步來說，檢測過程可能是在第一站執行第一個步驟後，再經由人力或經由人員操作搬運車輛，搬運面板至位於不同地方之第二站進行第二個步驟之檢測過程。

待第二個步驟檢測完成後，同樣需要再經由人力或人員操作搬運車輛搬運面板至下一個檢測站。此舉不但需要額外的人力與運載車輛操作，相當地費時且浪費人力成本。

因此，如何改良檢測裝置，使得檢測裝置能於傳送料片同時，亦能完成檢測料片之工作，不用異地執行檢測，並且能夠增進檢測速度與節省人力成本，係為本案之發明人以及從事此相關行業之技術領域者亟欲改善的課題。

有鑑於此，本發明提出一種傳輸檢測裝置，係用於連續傳輸料片，包含：平台，用以清潔料片，並黏貼識別 標籤於料片上；第一光學檢測台，連接於平台，用以接收料片並檢測料片；第一翻轉機構，連接於第一光學檢測台，用以接收料片並翻轉料片；第二光學檢測台，連接於第一翻轉機構用以接收料片並檢測料片；確認檢測站，連接於第二光學檢測台，用以接收料片並確認第一面缺陷及第二面缺陷之正確性；第一標記台，連接於確認檢測站，用以接收料片並標記第二面缺陷處；第二翻轉機構，連接於第一標記台，用以接收料片並翻轉料片；第二標記台，連接於第二翻轉機構，用以接收料片並標記第一面缺陷；分板機，連接於第二標記台，用以接收料片並判斷料片尺寸之規格；及分類台，連接於分板機，用以接收符合規格之料片，並依據第一面缺陷及第二面缺陷之數量，移載料片至對應之分類區。

此外，本發明之平台、第一光學檢測台、第一翻轉機構、第二光學檢測台、確認檢測站、第一標記台、第二翻轉機構、第二標記台、分板機及分類台之間係以傳送帶或機械手臂傳輸料片。基此，平台更包含負離子風刀或清潔滾輪，用以清潔料片。

再者，平台、分板機及分類台分別更包含移載裝置，用以移載料片。其中分板機更包含不良區，用以接收尺寸不符合規格之料片。基此，不良區包含第一不良區與第二不良區，若料片尺寸大於規格則移載至第一不良區，料片尺寸小於規格則移載至第二不良區。

本發明更提出一種傳輸檢測的方法，包含下列步驟：移載料片至平台；清潔料片及黏貼識別標籤於料片上；傳送料片至第一光學檢測台，並檢測料片之第一面缺陷；傳送料片至第一翻轉機構，翻轉料片後傳送料片至第二光學檢測台，並檢測料片之第二面缺陷；傳送料片至確認檢測站，確認第一面缺陷及第二面缺陷之正確性；傳送料片至第一標記台，並標記第二面缺陷處；傳送料片至第二翻轉機構，翻 轉料片後傳送料片至第二標記台，並標記第一面缺陷處；傳送料片至分板機，判斷料片尺寸之規格，若料片符合規格則持續傳送；及傳送料片至分類台，依據第一面缺陷及第二面缺之數量，移載料片至對應之分類區。

其中，料片於各步驟中係以傳送帶或機械手臂傳送。再者，於傳送料片至分板機之步驟中更包含：若料片尺寸不符合規格，則移載料片至不良區。基此，不良區包含第一不良區與第二不良區，若料片尺寸大於規格則移載至第一不良區，料片尺寸小於規格則移載至第二不良區。

本發明藉由平台、第一光學檢測台、第一翻轉機構、第二光學檢測台、確認檢測站、第一標記台、第二翻轉機構、第二標記台、分板機及分類台之間係能連續性地傳送料片於各站之間，並同時執行料片檢測，使得料片檢測能在同一條作業線上完成，而無需額外人力或搬運車輛操作，解決習知費時且浪費人力成本的問題。

以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何熟悉相關技藝者瞭解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。

10‧‧‧平台

12‧‧‧料片進料區

13‧‧‧移載裝置

14‧‧‧貼標機

15‧‧‧負離子風刀

16‧‧‧隔板出料區

20‧‧‧第一光學檢測台

21‧‧‧光學檢測模組

22‧‧‧移動載台

30‧‧‧第一翻轉機構

40‧‧‧第二光學檢測台

50‧‧‧確認檢測站

60‧‧‧第一標記台

61‧‧‧吸持元件

62‧‧‧標記模組

70‧‧‧第二翻轉機構

80‧‧‧第二標記台

90‧‧‧分板機

91‧‧‧不良區

92‧‧‧第一不良區

93‧‧‧第二不良區

94‧‧‧隔板區

100‧‧‧分類台

101‧‧‧分類區

第1圖為本發明傳輸檢測裝置之示意圖(一)。

第2圖為本發明傳輸檢測裝置之示意圖(二)。

第3圖為本發明傳輸檢測的方法流程圖(一)。

第4圖為本發明傳輸檢測裝置第一實施例之側視圖(一)。

第5圖為本發明傳輸檢測裝置第一實施例之側視圖(二)。

第6圖為本發明傳輸檢測裝置第一實施例之側視圖(三)。

第7圖為本發明傳輸檢測裝置第二實施例之俯視圖(一)。

第8圖為本發明傳輸檢測裝置第二實施例之俯視圖(二)。

請參閱第1圖及第2圖所示，第1圖為本發明傳輸檢測裝置之示意圖(一)，第2圖為本發明傳輸檢測裝置之示意圖(二)，第2圖係接續於第1圖。本發明之傳輸檢測裝置，係用於連續傳輸料片，包含：平台10、第一光學檢測台20、第一翻轉機構30、第二光學檢測台40、確認檢測站50、第一標記台60、第二翻轉機構70、第二標記台80、分板機90及分類台100。

平台10較佳地係為一承載台，用以承載並連接本發明之其他元件。基此，平台10係可連接一貼標機14，貼標機14較佳地可設置於平台10上方，或者是連接於平台10之側邊，用以黏貼識別標籤(圖中未示)於料片上。其中，識別標籤較佳地係具有二維條碼(2D Code)，例如Aztec Code、數據矩陣、EZ Code、MaxiCode、QR Code、漢信碼等，可用以被讀取資訊。

再者，平台10更具有料片進料區12，用以放置料片以提供料片開始執行傳輸檢測。基此，料片之數量係為複數片，當料片位於料片進料區12時，每一料片之間較佳地係以隔板阻隔料片，以避免每一料片相互接觸。此外，當料片依序由料片進料區12被輸送往平台10上方時，平台10更具有移載裝置13，用以移載料片，並且同時將每一料片上之隔板移除。隔板被移除並放置於平台10之隔板出料區16，至此，料片開始進行傳輸檢測。惟本發明並非以此為限，隔板之需求當可視料片之性質決定是否需要。

平台10更具有負離子風刀15或清潔滾輪用以清 潔料片上之塵粒，藉由負離子能去除料片上之靜電，或用清潔滾輪清理料片上之塵粒，以避免塵粒沾著於料片上，並加強清潔效果。基此，料片係可位於平台10上進行清潔與黏貼識別標籤，惟本發明並未限定清潔與黏貼順序，本發明可先清潔料片後再進行黏貼識別標籤，亦可先黏貼識別標籤於料片後再進行清潔料片。當料片執行完清潔與貼標之過程後，料片即傳送至第一光學檢測台20。

第一光學檢測台20係連接於平台10，接受料片後對料片進行檢測。第一光學檢測台20較佳地係具有光學檢測模組21設置位於第一光學檢測台20之上方，用以檢測料片第一面缺陷。基此，光學檢測模組21較佳地係可為電荷耦合元件(Charge Coupled Device,CCD)，或是互補式金屬氧化物半導體(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,CMOS)，但本發明並非以此為限。此外，當料片傳送至第一光學檢測台20上時，第一光學檢測台20更具有移動載台22，用以移載料片至光學檢測模組21處進行檢測並讀取識別標籤二維條碼。但本發明並非以此為限，第一光學檢測台20亦可不需增設移動載台22而直接傳送至光學檢測模組21處進行光學檢測。當料片於第一光學檢測台20執行完檢測後，即傳送至第一翻轉機構30。

第一翻轉機構30係連接於第一光學檢測台20，當料片傳送至第一翻轉機構30後，第一翻轉機構30即可進行翻轉，同時連動料片進行翻轉。基此，使得原本第一面朝上之料片在進行翻轉之後為第二面朝上，並以第二面朝上之狀態繼續傳送至第二光學檢測台40。第二光學檢測台40與第一光學檢測台20相同具有光學檢測模組21，與第一光學檢測台20不同之地方在於，第二光學檢測台40係連接於第一翻轉機構30，用以接收料片並檢測料片之第二面缺陷，檢測完畢之後即傳送至確認檢測站50。惟翻轉機構之型態僅為舉 例，本發明並非以此為限。

確認檢測站50係連接於第二光學檢測台40，用以接收料片並確認料片之第一面缺陷及第二面缺陷之一正確性，進一步來說，確認檢測站50係用以重複確認第一光學檢測台20及第二光學檢測台40所作之檢測是否正確。基此，確認檢測站50可視需求而設置，例如，當第一面缺陷如數量較多，則針對第一面缺陷檢測之確認檢測站50之站數則可增加，針對第二面缺陷檢測之確認檢測站50之站數則可維持不變。待確認檢測站50重複確認第一面缺陷及第二面缺陷之正確性後，即傳送料片至第一標記台60。

請參閱第2圖所示，第2圖為本發明傳輸檢測裝置之示意圖(二)，第2圖係接續於第1圖。第一標記台60係連接於確認檢測站50，用以接收料片並於料片第二面缺陷上進行標記。當第二面缺陷數量如較多時，為節省時間以避免後面之其他料片等待，第一標記台60可增設數台，亦即，料片部份第二面缺陷於第一台第一標記台60進行標記，剩餘之第二面缺陷則將料片傳送至第二台第一標記台60進行標記，同時，第一台第一標記台60可接收等待在後方之料片並進行標記，以節省時間。待第二面缺陷標記後，再傳送料片至第二翻轉機構70。惟前所述當第一標記台60具有數台時，其數台第一標記台60之標記方式僅為舉例，本發明第一標記台60可經由設定而變更其標記方式。此外，本發明於料片進行標記之前，第一標記台60更可包含二維條碼讀取器(圖中未示)，用以再次確認料片身份、缺陷等資料流，以避免標記至料片無缺陷之地方。

再者，第一標記台60更具有吸持元件61及標記模組62，吸持元件61較佳地可為真空吸引器，藉由抽真空之狀態而吸持料片，並將料片移載至標記區進行標記，惟前述之標記可為使用噴墨標記或用雷射標記等方式，但本發明並 非以此為限。標記區較佳地可為載台，藉由載台以二維之X軸向及Y軸向移動，或是標記模組62以二維之X軸向及Y軸向移動來對料片進行標記。

第二翻轉機構70係相同於第一翻轉機構30，與第一翻轉機構30不同之地方在於，第二翻轉機構70係將料片翻轉成第一面朝上後，再將料片傳送至第二標記台80。第二標記台80係相同於第一標記台60，與第一標記台60不同之地方在於，第二標記台80係將料片第一面缺陷進行標記，待第一面缺陷標記後，再傳送至分板機90。

分板機90係連接於第二標記台80，用以接收料片並判斷料片之尺寸規格。基此，分板機係具有移載裝置13、不良區91，其中，不良區91更具有第一不良區92及第二不良區93。當料片經由分板機90判斷尺寸規格符合所需標準時，則料片將持續傳送至分類台100。未符合尺寸規格之料片，則判斷其料片之大小，倘若大於符合尺寸規格之標準，則移載裝置13將料片移載至第一不良區92，倘若小於符合尺寸規格之標準，則移載裝置13將料片移載至第二不良區93。此外。分板機90更具有隔板區94用以置放隔板，當料片分別被移載至第一不良區92或第二不良區93後，移載裝置13將自隔板區94提取一個隔板，用以覆蓋於位於第一不良區92或第二不良區93之料片上，以避免料片之間彼此相互磨擦。

分類台100係連接於分板機90，用以接收符合規格之料片，並依據料片第一面缺陷及第二面缺陷之數量移載料片至對應之分類區101。此外，分類台100同樣係具有移載裝置13及隔板區94，以本發明而言，分類區101較佳地可區分為10個間隔，並且每5個間隔排成一列而堆疊成二層。基此，此10個間隔可依缺陷數量區分，例如，1~3個缺陷為第一個間隔，4~6個缺陷為第二個間隔，以此類推，當料片被依等級分別被移載至對應之分類區101間隔後，移載裝置13將 自隔板區94提取一個隔板，用以覆蓋於位於分類區101之料片上，以避免後來移載至此之料片之間相互磨擦。

再者，前述之平台10、第一光學檢測台20、第一翻轉機構30、第二光學檢測台40、確認檢測站50、第一標記台60、第二翻轉機構70、第二標記台80、分板機90及分類台100之間之傳送，其較佳地可為傳送帶或機械手臂傳輸料片，但本發明必非以此為限，以本發明而言，其更可為平台10、第一光學檢測台20、第一翻轉機構30、第二光學檢測台40之間以機械手臂傳輸料片，第二光學檢測台40、確認檢測站50、第一標記台60、第二翻轉機構70、第二標記台80、分板機90及分類台100之間以傳送帶傳輸料片。

請參閱第3圖所示，第3圖為本發明傳輸檢測的方法流程圖包含下列步驟：

步驟101：移載料片至平台。

使用者先經由料片進料區12，放置料片以提供料片開始執行傳輸檢測。基此，料片之數量係為複數片，參照第1圖所示，當料片位於料片進料區12時，每一料片之間較佳地係以隔板阻隔料片，以避免每一料片相互接觸。

步驟102：清潔料片及黏貼識別標籤於料片上。

當料片依序由料片進料區12被輸送往平台10上方時，平台10更具有移載裝置13，用以移載料片，並且同時將每一料片上之隔板移除。隔板被移除並放置於平台10之隔板出料區14，並且平台10更具有負離子風刀15及貼標機12，貼標機12用以黏貼識別標籤於料片上。負離子風刀15用以清潔料片上之塵粒黏塵，或以清潔滾輪清潔黏塵。

步驟103：傳送料片至第一光學檢測台，並檢測料片之第一面缺陷。

當料片執行完清潔與貼標之過程後，料片即傳送至第一光學檢測台20，第一光學檢測台20較佳地係具有光學 檢測模組21用以檢測料片第一面缺陷。

步驟104：傳送料片至第一翻轉機構，翻轉料片後傳送料片至第二光學檢測台，並檢測料片之第二面缺陷。

當料片於第一光學檢測台20執行完檢測後，即傳送至第一翻轉機構30，第一翻轉機構30即可進行翻轉，同時連動料片進行翻轉，使得原本第一面朝上之料片在進行翻轉之後為第二面朝上，並以第二面朝上之狀態繼續傳送至第二光學檢測台40。第二光學檢測台40用以接收料片並檢測料片之第二面缺陷。

步驟105：傳送料片至確認檢測站，確認第一面缺陷及第二面缺陷之正確性。

料片檢測完畢之後即傳送至確認檢測站50，確認檢測站50係用以重複確認第一光學檢測台20及第二光學檢測台40所作之第一面缺陷及第二面缺陷檢測是否正確。

步驟106：傳送料片至第一標記台，並標記第二面缺陷處。

待確認檢測站50重複確認第一面缺陷及第二面缺陷之正確性後，即傳送料片至第一標記台60，第一標記台60係連接於確認檢測站50，用以接收料片並於料片第二面缺陷上進行標記，惟前述之標記可為使用噴墨標記或用雷射標記等方式，但本發明並非以此為限。

步驟107：傳送料片至第二翻轉機構，翻轉料片後傳送料片至第二標記台，並標記第一面缺陷處。

第二面缺陷標記後，再傳送料片至第二翻轉機構70，第二翻轉機構70係將料片翻轉成第一面朝上後，再將料片傳送至第二標記台80，再由第二標記台80將料片第一面缺陷進行標記。

步驟108：傳送料片至分板機，判斷料片尺寸之規格，若料片符合規格則持續傳送。

料片第一面缺陷標記後，再傳送至分板機90，料片經由分板機90判斷尺寸規格符合所需標準時，則料片將持續傳送。基此，於步驟108中更包含，若料片尺寸不符合規格，則移載料片至不良區。當料片經由分板機90判斷未符合尺寸規格時，分板機90則判斷其料片之大小，倘若大於符合尺寸規格之標準，則移載裝置13將料片移載至第一不良區92，倘若小於符合尺寸規格之標準，則移載裝置13將料片移載至第二不良區93。

步驟109：傳送料片至分類台，依據第一面缺陷及第二面缺陷之數量，移載料片至對應之分類區。

當料片經由分板機90判斷尺寸規格符合所需標準時，則料片將持續傳送至分類台100。分類台100係依據料片第一面缺陷及第二面缺陷之數量移載料片至對應之分類區101。例如，分類區101可區分為10個間隔，此10個間隔可依缺陷數量區分，例如，1~3個缺陷為第一個間隔，4~6個缺陷為第二個間隔，以此類推，料片則可依據其缺陷數量移載至對應之間隔。

上述各步驟中之傳送，其較佳地可為傳送帶或機械手臂傳輸料片，但本發明必非以此為限，以本發明而言，其更可為步驟101~步驟104之間以機械手臂傳輸料片，步驟105~步驟109之間以傳送帶傳輸料片。

請參閱第4圖、第5圖及第6圖所示，第4圖為本發明傳輸檢測裝置第一實施例之側視圖(一)，第5圖為本發明傳輸檢測裝置第一實施例之側視圖(二)，第6圖為本發明傳輸檢測裝置第一實施例之側視圖(三)，第6圖係接續於第5圖，第5圖係接續於第4圖。第一實施例較佳地係以傳送帶傳送料片，料片於平台10上板後，即以負離子風刀15進行清潔與以貼標機14(本圖中未示)進行黏標，接著再傳送料片至第一光學檢測台20進行光學檢測，檢測完畢後傳送至第一 翻轉機構30將料片進行翻轉使第二面朝上，再將料片傳送至第二光學檢測台40進行光學檢測。至此，料片將傳送至確認檢測站50確認料片之第一面缺陷及第二面缺陷之一正確性，以本實施例而言，確認檢測站50較佳地係有4站，分別用以確認第一面缺陷及第二面缺陷，但本發明並非以此為限。基此，料片即可進行下一流程。

至此，料片即可傳送至第一標記台60進行標記，惟進行標記前，亦可於第一標記台60前設置二維條碼讀取器(圖中未示)，用以再次確認料片資訊。基此，料片即可進行標記，並傳送至第二翻轉機構70翻轉，料片翻轉成第一面朝上後，再傳送至第二標記台80進行標記。標記完畢即可傳送至分板機90，再由分板機90進行尺寸規格判斷，未符合尺寸規格之料片，則判斷其料片之大小，倘若大於符合尺寸規格之標準，則移載裝置13將料片移載至第一不良區92，倘若小於符合尺寸規格之標準，則移載裝置13將料片移載至第二不良區93，尺寸規格符合所需標準時，則料片將持續傳送至分類台100。

分類台100能依據料片第一面缺陷及第二面缺陷之數量移載料片至對應之分類區101。以本發明而言，分類區101較佳地可區分為10個間隔，並且每5個間隔排成一列而堆疊成二層。

請參閱第7圖及第8圖所示，第7圖為本發明傳輸檢測裝置第二實施例之俯視圖(一)，第8圖為本發明傳輸檢測裝置第二實施例之俯視圖(二)，第8圖係接續於第7圖。第二實施例較佳地係以機械手臂傳送料片，料片於平台10上板後，即以貼標機14進行黏標並以負離子風刀15(本圖中未示)或清潔滾輪進行清潔料片，惟本實施例之貼標機14係連接於平台10。接著再傳送料片至第一光學檢測台20進行光學檢測，如本實施例所示，負離子風刀15亦可設於第一光學檢測 台20，惟進行光學檢測之前必先經過清潔才可進行檢測。此後光學檢測步驟同第一實施例，檢測完畢之後同樣傳送料片至確認檢測站50確認料片之第一面缺陷及第二面缺陷之一正確性，以本實施例而言，確認檢測站50較佳地係有5站，第一面檢測為3站，第二面檢測為1站，最後一站為隨機再次確認前3站所確認之結果是否正確，惟確認檢測站50所設之站數皆可視需求設置，本發明並非以此為限。

至此，料片即可傳送至第一標記台60進行標記，第二翻轉機構70翻轉，再傳送至第二標記台80進行標記。以本實施例而言，第一標記台60與第二標記台80較佳地係各為2台，料片部份缺陷於第一台第一標記台60進行標記，剩餘之缺陷則至第二台第一標記台60進行標記，第二標記台80亦以此方式進行。此後之流程同於第一實施例，在此不再累述。

本發明之傳輸檢測裝置藉由平台、第一光學檢測台、第一翻轉機構、第二光學檢測台、確認檢測站、第一標記台、第二翻轉機構、第二標記台、分板機及分類台之間係能連續性地傳送料片於各站之間，並同時執行料片檢測，使得料片檢測能在同一條作業線上完成，而無需額外人力或搬運車輛操作，解決習知費時且浪費人力成本的問題。

雖然本發明的技術內容已經以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神所作些許之更動與潤飾，皆應涵蓋於本發明的範疇內，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

Claims (15)

1. 一種傳輸檢測裝置，係用於連續傳輸一料片，包含：一平台，用以清潔該料片，並黏貼一識別標籤於該料片上；一第一光學檢測台，連接於該平台，用以接收該料片並檢測該料片之一第一面缺陷；一第一翻轉機構，連接於該第一光學檢測台，用以接收該料片並翻轉該料片；一第二光學檢測台，連接於該第一翻轉機構用以接收該料片並檢測該料片之一第二面缺陷；一確認檢測站，連接於該第二光學檢測台，用以接收該料片並確認該第一面缺陷及該第二面缺陷之一正確性；一第一標記台，連接於該確認檢測站，用以接收該料片並標記該第二面缺陷；一第二翻轉機構，連接於該第一標記台，用以接收該料片並翻轉該料片；一第二標記台，連接於該第二翻轉機構，用以接收該料片並標記該第一面缺陷；一分板機，連接於該第二標記台，用以接收該料片並判斷該料片尺寸之一規格；及一分類台，連接於該分板機，用以接收符合該規格之該料片，並依據該第一面缺陷及該第二面缺陷之數量，移載該料片至對應之一分類區。
2. 如請求項1所述之傳輸檢測裝置，其中該平台、該第一光學檢測台、該第一翻轉機構、該第二光學檢測台、該確認檢測站、該第一標記台、該第二翻轉機構、該第二標記台、該分板機及該分類台之間係以一傳送帶或一機械手臂傳輸該料片。
3. 如請求項1所述之傳輸檢測裝置，其中該平台更包含一負離子風刀或一清潔滾輪，用以清潔該料片。
4. 如請求項1所述之傳輸檢測裝置，其中該平台、該分板機及該分類台分別更包含一移載裝置，用以移載該料片。
5. 如請求項4所述之傳輸檢測裝置，其中該料片位於該平台時更包含一隔板，用以阻隔該料片，該移載裝置用以移載該隔板。
6. 如請求項4所述之傳輸檢測裝置，其中該分板機更包含一不良區，用以接收尺寸不符合該規格之該料片。
7. 如請求項6所述之傳輸檢測裝置，其中該不良區包含一第一不良區與一第二不良區，若該料片尺寸大於該規格則移載至該第一不良區，該料片尺寸小於該規格則移載至該第二不良區。
8. 如請求項7所述之傳輸檢測裝置，其中該分板機更包含一隔板區，用以置放一隔版，移載該料片至該不良區時，同時移載該隔板於該料片上，用以阻隔該料片。
9. 如請求項4所述之傳輸檢測裝置，其中該分類台更包含一隔板區，用以置放一隔版，移載該料片至對應之該分類區時，同時移載該隔板於該料片上，用以阻隔該料片。
10. 如請求項1所述之傳輸檢測裝置，其中該第一光學檢測台及該第二光學檢測台分別更包含一移動載台，用以移載該料片至一光學檢測模組處進行檢測。
11. 如請求項1所述之傳輸檢測裝置，其中該第一標記台及該第二標記台分別更包含一吸持元件，用以吸持該料片至一標記區進行標記。
12. 一種傳輸檢測的方法，包含下列步驟：移載一料片至一平台；清潔該料片及黏貼一識別標籤於該料片上；傳送該料片至一第一光學檢測台，並檢測該料片之一第一面缺陷；傳送該料片至一第一翻轉機構，翻轉該料片後傳送該料片至一第二光學檢測台，並檢測該料片之一第二面缺陷；傳送該料片至一確認檢測站，確認該第一面缺陷及該第二面缺陷之一正確性；傳送該料片至一第一標記台，並標記該第二面缺陷；傳送該料片至一第二翻轉機構，翻轉該料片後傳送該料片至一第二標記台，並標記該第一面缺陷；傳送該料片至一分板機，判斷該料片尺寸之一規格，若該料片符合該規格則持續傳送；及傳送該料片至一分類台，依據該第一面缺陷及該第二面缺陷之數量，移載該料片至對應之一分類區。
13. 如請求項12所述之傳輸檢測的方法，其中該料片於各步驟中係以一傳送帶或一機械手臂傳送。
14. 如請求項12所述之傳輸檢測的方法，其中於傳送該料片至該分板機之步驟中更包含：若該料片尺寸不符合該規格，則移載該料片至一不良區。
15. 如請求項14所述之傳輸檢測的方法，其中該不良區包含一第一不良區與一第二不良區，若該料片尺寸大於該規格則移載至該第一不良區，該料片尺寸小於該規格則移載至該第二不良區。