TWI671551B - 光學設備、投影光學系統、曝光裝置和物品製造方法 - Google Patents

光學設備、投影光學系統、曝光裝置和物品製造方法 Download PDF

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Abstract

光學設備包含反射鏡和被配置為使反射鏡的反射表面的形狀變形的多個致動器。所述多個致動器中的至少一些被佈置在多個同心圓上，所述多個同心圓以當同心圓的位置被定位為越遠離反射鏡的反射表面的中心時同心圓被越緻密地佈置的方式被佈置，並且，所述多個致動器中的至少一些沿同心圓的圓周方向以均等的間隔被佈置。

Description

光學設備、投影光學系統、曝光裝置和物品製造方法
本發明關於包括可變形反射鏡的光學設備、投影光學系統、曝光裝置和物品的製造方法。
特別是在半導體曝光裝置、平板曝光裝置和天文望遠鏡中，使用包括可變形反射鏡以校正波前誤差或圖像畸變的光學設備。近年，對曝光裝置的解析度的要求增加了。因此，對校正曝光像差的需要也增加了。作為回應，為了校正曝光像差，曝光裝置包括可變形反射鏡的裝置配置得到討論。並且，在天文領域中，為了抑制空氣波動對安裝於地面上的望遠鏡的影響，也越來越多地使用可變形反射鏡。 　　為了減少空氣波動對地面式天文望遠鏡的影響，M. Lloyd-Hart等人的“Adaptive optics for the 6.5 m MMT”, Proceedings of SPIE, USA, SPIE, 2000, Vol. 4007, p. 167-174討論了336個音圈馬達被均等地佈置於薄二次反射鏡的後表面上作為用於使二次反射鏡變形的致動器的配置。 　　為了減少當應用於曝光裝置的可變形反射鏡變形時由致動器產生的熱的影響，日本專利申請公開No. 2007-316132討論了利用電磁體的可變形反射鏡的配置，該電磁體可產生大的力並且產生相對少的熱。 　　但是，在如M. Lloyd-Hart等人的“Adaptive optics for the 6.5 m MMT”, Proceedings of SPIE, USA, SPIE, 2000, Vol. 4007, p. 167-174中那樣均等且緻密地佈置致動器的配置中，致動器也可被佈置在不必要的位置處。這不僅會導致複雜的製造和控制，而且導致可變形反射鏡的成本的增加。並且，日本專利申請公開No. 2007-316132顯示用於校正由澤尼克(Zernike)多項式表達的反射鏡的2q分量和3q分量的致動器的佈置例子。但是，日本專利申請公開No. 2007-316132沒有討論存在於佈置例子中的佈置策略和佈置原理。
本揭露針對以盡可能少的致動器，用於在能夠實現期望的精度的反射鏡變形的反射鏡上佈置致動器的技術。 　　根據本揭露的一個態樣，一種光學設備包括：反射鏡，和被配置為使反射鏡的反射表面的形狀變形的多個致動器，其中，所述多個致動器中的至少一些被佈置在多個同心圓上，所述多個同心圓被佈置為使得越遠離反射鏡的反射表面的中心同心圓越緻密，並且，所述多個致動器中的至少一些還沿同心圓的圓周方向以均等的間隔被佈置。 　　從參照附圖對數個示例性實施例的以下描述，本發明的其它特徵和態樣將變得清晰。
根據本揭露的一個態樣，用於使反射鏡的反射表面的形狀變形的多個致動器中的至少一些被佈置在多個同心圓上，所述多個同心圓的佈置方式是，致動器被佈置於當同心圓位置越遠離反射鏡的反射表面的中心則越緻密的同心圓上，並且，所述多個致動器中的至少一些也沿同心圓的圓周方向以均等的間隔被佈置。“緻密”意味著沿徑向方向越向外，則同心圓之間的徑向方向的距離越小。該佈置策略意在找到用於校正反射鏡的反射表面的形狀的致動器的有效佈置位置，由此實現高精度的反射鏡變形和佈置數量少的致動器兩者。作為致動器的有效佈置位置，參照表達反射鏡的目標形狀的運算式(例如，澤尼克多項式)搜索反射鏡的徑向方向的致動器的有效佈置位置，並且在圓周方向上考慮反射鏡的形狀的旋轉對稱性。一般地，為了以高的精度規定反射鏡的外周附近部分的形狀，需要關於致動器的佈置位置之間的距離的最大空間頻率的概念，並且期望在反射鏡的外周附近以最小驅動點間隔佈置致動器。因此，期望以致動器隨著位置越遠離反射鏡的中心被越緻密地佈置的方式佈置致動器。另外，期望在反射鏡的外周部分中最緻密地佈置致動器。在從垂直於反射表面的方向觀看的反射鏡的形狀是具有對稱數無限的旋轉對稱的圓形形狀的情況下，沿同心圓的圓周方向以均等的間隔佈置致動器是更有效的。並且，從此觀點，期望多個致動器的總體佈置應是旋轉對稱的。 　　以下將參照附圖更詳細地描述本揭露的數個示例性實施例。首先，定義用於規定本揭露的態樣的術語。圓周方向的“相等間隔”被定義如下。在理想情況下，沿同一圓周方向佈置的多個致動器以幾何相等間隔La被佈置。但是，出於諸如裝置的加工和組裝等的原因，存在難以在理想位置處精確地佈置多個致動器的許多情況。因此，“相等間隔”也包括致動器的位置偏移量處於幾何相等間隔La中的每一個的±30%內的情況。 　　並且，在本說明書中使用的“極值附近”和“拐點附近”中的“附近”指的是致動器沿徑向方向從理想位置的位置偏移量處於彼此相鄰的致動器之間的間隔Lb的30%內的事實。在描述示例性實施例之後，將參照圖8，描述將術語“相等間隔”中的位置偏移量定義為在±30%內(在-30%與30%之間的範圍內)的原因以及將術語“附近”中的位置偏移量定義為在30%內的原因。 　　圖1A和圖1B是顯示根據第一示例性實施例的光學設備10的配置的示意圖。圖1A顯示光學設備10的頂視圖。圖1B顯示光學設備10的截面(前視)圖。光學設備10是能夠使反射鏡1變形且具體而言將反射鏡1的反射表面1a變形成期望的目標形狀的可變形反射鏡設備。光學設備10可以包括反射鏡1、保持部件2、基座板(base plate)4和致動器3。 　　具有光軸A的反射鏡1經由保持部件2被固定到基座板4。在反射鏡1與基座板4之間，佈置用於將反射鏡1的反射表面1a的形狀變形成期望的形狀的多個致動器3。根據本示例性實施例的致動器3中的每一者可以包括由附著到反射鏡1的後表面1b的磁體3a和附著到基座板4的線圈3b所構成的音圈馬達(VCM)。反射鏡1具有當從垂直於反射表面1a的方向觀看時為圓形的平面形狀，並且穿過反射鏡1的中心並且垂直於所述平面形狀的中心軸是光軸A。作為替代方案，反射鏡1可以是反射表面1a具有凹面形狀的凹面反射鏡，或者可以是反射表面1a具有凸面形狀的凸面反射鏡。換句話說，反射鏡1能夠以反射表面1a具有平面形狀、凹面形狀和凸面形狀中的任一種的方式被配置。 　　驅動點5代表致動器3的位置。驅動點5被佈置在反射鏡1的多個同心圓上，並且所述多個同心圓以同心圓隨著它們的位置越遠離穿過反射鏡1的中心的光軸A被越緻密地佈置的方式被佈置。由最內的點劃線表示的同心圓和由最外的點劃線表示的同心圓分別代表內光學有效區域邊界6和外光學有效區域邊界7。並且，致動器3在相同的半徑上沿圓周方向以相等間隔被佈置。並且，致動器3沿徑向方向以對準的方式被佈置，並且多個致動器3的總體佈置具有90度旋轉對稱性。 　　並且，反射鏡1可以經由具有彈簧特性的彈性部件由例如環形中間部件保持。例如以120°間隔在反射鏡1的外周部分的同一圓周的三個位置處設置彈性部件。中間部件具有高的剛性，並且在XYZ軸方向上或在圍繞XYZ軸的旋轉方向(傾斜方向)上通過與致動器3不同並且被設置在中間部件與基座板4之間的另一致動器被驅動。反射鏡1的位置可以由諸如位移計的測量單元被測量，並且基於測量結果，通過驅動另一致動器被調整。通過該配置，能夠控制反射鏡1的位置和取向。並且，還通過雷射干涉計測量反射鏡1的反射表面1a的形狀，並且，通過基於測量值與目標形狀值之間的差值驅動和控制致動器3，使反射鏡1的反射表面1a變形成目標形狀。在這種情況下，基於測量值與目標形狀值之間的差值，控制器(未顯示)計算使反射表面1a變形所需要的力，並且向致動器3的線圈3b供給電流以產生計算出的力。並且，通過使用電流錶(未顯示)，控制器測量施加到各線圈3b的電流的電流值，並且基於測量結果執行回饋控制。 ＜例子1＞ 　　下面，通過使用計算例子，描述根據第一示例性實施例的例子1的效果。在表1中顯示計算模型中的反射鏡1的規格。在表1中，有效內徑對應於內光學有效區域邊界6，並且，有效外徑對應於外有效區域邊界。 表1 計算模型的規格 在本示例性實施例中，基於通過校正獲得的最大空間頻率(實現期望的形狀精度所需要的驅動點之間的最小間隔)，最小驅動點間隔為21mm。更具體而言，在用於下述的圖2A~2F中的模擬例子中的、由澤尼克多項式的項Z1~Z16構成的目標形狀中，最小驅動點間隔基於具有最大空間頻率的項Z16被確定。例如，可以從圖4中的虛線所示的曲線上的由最右實心圓表示的點與由右邊第二實心圓表示的點之間的距離獲得最小驅動點間隔。並且，要實現的目標在於，作為要通過校正獲得的反射鏡1的形狀與校正驅動之後的形狀之間的差值形狀的誤差形狀在均方根(RMS)基礎上處於10 nm內。如上所述，一般地，需要最大空間頻率以代表反射鏡的外周附近的部分的形狀。因此，本示例性實施例中的21mm的最小驅動點間隔也被假定為反射鏡1的外周附近的間隔。 　　接著，考慮驅動點幾乎以21 mm間隔被均勻佈置的比較例子。在比較例子中，從表2看出，驅動點的總數為168，並且需要168個致動器。通過從第一圓到第六圓合計沿圓周方向佈置的致動器的數量，獲得此數值。 表2 均勻佈置的比較例子：要佈置的驅動點的位置和數量 另一方面，在應用本揭露的佈置構思的例子1中，從表3可以理解，佈置致動器的驅動點的總數為136，並且需要136個致動器。通過從第一圓到第五圓合計沿圓周方向佈置的致動器的數量，獲得此數值。從表3可看出，隨著位置沿徑向方向越向外，致動器的佈置位置逐漸變得越緻密。 表3 基於根據本示例性實施例的佈置方法的佈置的例子：佈置的驅動點的位置和數量 圖2A、圖2B、圖2C、圖2D、圖2E和圖2F顯示表2和表3中的變形驅動的模擬結果。圖2A~2C顯示168個點的致動器佈置的例子的結果(比較例子)。圖2D~2F顯示136個點的致動器佈置的例子的結果(例子1)。同一列上的三個圖顯示通過校正獲得的形狀、校正驅動之後的形狀和兩個形狀之間的差值形狀。通過校正獲得的形狀(目標形狀)是通過當在常用於光學領域中的澤尼克多項式中執行展開時隨機生成係數而建立的形狀。 　　澤尼克多項式是圓形區域形成完整系統的正交多項式，並且與常具有圓形形狀的透鏡和反射鏡具有良好的匹配。出於這種原因，澤尼克多項式常用於光學領域中。但是在本說明書中，使用澤尼克多項式不是為了代表光學像差，而是為了代表反射鏡的形狀。因此，反射鏡的形狀可以由例如下式(1)代表。在式(1)中，Ci代表澤尼克多項式的各項的係數，Zi代表澤尼克多項式的各項，i代表澤尼克多項式的次數。澤尼克多項式的直到第36項的項在極座標系r-q中表示為下式(2)。 在圖2A和圖2D的例子中的每一個中，通過考慮澤尼克多項式的Z1~Z16、根據常態分布生成作為Z1~Z16的係數C1~C16的亂數並且將係數C1~C16的值代入式(1)中，建立目標形狀S。更具體而言，從當常態分布的平均值為0、C1~C4的偏差值為100 nm且C5~C16的偏差值為25 nm時生成的亂數的值建立形狀S。 　　在168個點的致動器佈置的例子中，表示可變形反射鏡的校正能力的誤差形狀基於RMS為2.6 nm。在136個點的致動器佈置的例子中，誤差形狀基於RMS為5.8 nm。以這種方式，兩個誤差形狀均滿足目標值，即，作為目標值的10 nm或更小。並且，兩個誤差形狀也均滿足前提條件，即，21 mm的最小驅動點間隔。此時，136個點的致動器佈置中的最小驅動點間隔為第五圓與第四圓之間的間隔，並且根據表3為(300-258)/2＝21 mm。這意味著在168個點的致動器佈置的例子(比較例子)中，佈置了過多的驅動點，並因此附著額外的致動器。 　　通過使用根據本揭露的第一示例性實施例或例子1的方法，能夠減少驅動點的數量。結果，能夠降低處理和組裝的複雜性。並且，還能夠降低控制系統的複雜性。並且，結果，還能夠降低可變形反射鏡的製造和操作的成本。在本示例性實施例中，描述了驅動點的佈置的例子。但是，本揭露不限於此。例如，雖然期望外周附近的致動器的佈置應處於光學區域邊界上，但是致動器可以被佈置在光學區域邊界附近。並且，雖然作為例子通過使用VCM描述了致動器，便是可以使用其它的致動器(例如，佈置於反射鏡的後表面上的雙壓電晶片(bimorphs))。 　　下面，參照圖3A、圖3B和圖4，描述根據第二示例性實施例的用於佈置驅動點的佈置方法。圖3A和圖3B顯示驅動點被佈置在要通過校正獲得的形狀的光學區域邊界上以及要通過校正獲得的形狀的極值處或附近的例子。還應注意，相同的符號在所有的附圖中表示相同的部件或構件。已在第一示例性實施例中描述了相同的部件或構件，因此在這裡不進行描述。在本示例性實施例中，為了校正形狀，驅動點被佈置在有效位置(極值)處或附近。但是，該佈置與第一示例性實施例中的以致動器隨著位置越接近外周被越緻密地佈置的方式佈置致動器的構思一致。同樣，在本示例性實施例中，多個致動器的總體佈置具有90度的旋轉對稱性。 　　在圖4中，兩個曲線代表當在澤尼克多項式中展開反射鏡1的形狀時為旋轉對稱分量的項Z9和Z16。橫軸r代表通過反射鏡1的半徑無量綱化的半徑，縱軸代表關於澤尼克係數的值。由曲線上的最左邊和最右邊的實心圓表示的點代表內和外光學區域邊界上或附近的位置。由其它實心圓表示的點代表曲線上的極值處或附近的點。根據由圖4中的實心圓表示的點，確定徑向方向上的驅動點的佈置。並且，雖然在圖4中沒有顯示，但是沿圓周方向，同樣，盡可能地在極值處或附近佈置驅動點。在這種情況下，驅動點可如表4中那樣被佈置，並且需要的致動器的數量為44。 表4 基於根據本示例性實施例的佈置方法的佈置的例子：佈置的驅動點的位置和數量 圖5A、圖5B和圖5C是顯示根據第二示例性實施例的計算例子的圖。圖5A、圖5B和圖5C顯示通過校正獲得的形狀、校正驅動之後的形狀和誤差形狀。如圖5C所示，如果如表4中那樣基於驅動點的佈置建立通過校正獲得的形狀，那麼誤差形狀處於目標值內，即，基於RMS為9 nm。並且，誤差形狀也滿足前提條件，即，21 mm的最小驅動點間隔。這表示，即使致動器的數量從表2中的168減少到44，也能夠實現期望的目標。 　　同樣，在本示例性實施例中，驅動點的佈置不限於顯示的例子。驅動點的數量可以根據需要的目標(校正精度)增加或減少。並且，存在難以根據實際的設計在極值處或者在光學區域邊界上精確地佈置或附著致動器的情況。在這種情況下，致動器可以被佈置在極值附近或邊界附近。並且，在一些情況下，由於空間限制，因此難以在所有的極值處佈置驅動點。在這些情況下，可以在代表性的極值處或附近選擇性地佈置驅動點。 　　圖6是顯示根據本揭露的第三示例性實施例的驅動點的佈置的圖。第三示例性實施例是除了圖3所示的第二示例性實施例中的驅動點5以外、驅動點還沿徑向方向被佈置在拐點附近的示例性實施例。在圖6中，由空心圓表示的點代表拐點8。除了形狀的極值以外，驅動點還被佈置在拐點8處，由此能夠更精確地建立期望的形狀。 　　在本示例性實施例中，描述了沿徑向方向進一步向拐點8添加驅動點的例子。作為替代方案，可以沿圓周方向向拐點8添加驅動點。並且，可以不在所有的拐點8上佈置驅動點。更期望佈置用於實現目標值的最少必要的驅動點。 　　在第四示例性實施例中，表面形狀的極值和拐點是任何表面形狀由澤尼克多項式的直到第n項代表時的澤尼克多項式的項(1、2、…、n)的極值和拐點。並且，一般地，關於影響光學設備的光學性能的表面形狀，常常僅需要考慮澤尼克多項式中的直到第64項。因此，可以最多考慮直到第64項。更具體而言，考慮第4項到第9項、第4項到第10項、…、或第4項到第64項的佈置形式是可能的。 　　參照圖7，描述根據第五示例性實施例的曝光裝置50。曝光裝置50可以包括照射光學系統IL、投影光學系統PO、保持以移動掩模55的掩模台架MS、以及保持以移動基板56的基板台架WS。並且，曝光裝置50包括中央處理單元(CPU)和記憶體，並且還包括用於控制整個曝光裝置50的控制單元51。 　　來自光源(未顯示)的光通過包含於照射光學系統IL中的狹縫(未顯示)在掩模55上形成例如於Y軸方向上是長的圓弧形狀的照射區域。掩模55和基板56分別保持於掩模台架MS和基板台架WS上，並且經由投影光學系統PO被佈置在幾乎相互光學共軛的位置(投影光學系統PO的物面和像面的位置)處。投影光學系統PO具有預定的投影倍率(例如，1/2倍)，並且將在掩模55上形成的圖案投影到基板56上。接著，投影光學系統PO以根據投影光學系統PO的投影倍率的速度比，沿平行於投影光學系統PO的物面的方向(例如，圖7中的X軸方向)掃描掩模台架MS和基板台架WS。通過此操作，投影光學系統PO可以將在掩模55上形成的圖案轉印到基板56上。 　　例如，如圖7所示，投影光學系統PO可以包括平面鏡52、凹面反射鏡53和凸面反射鏡54。從照射光學系統IL發射並且穿過掩模55的光被平面鏡52的第一表面52a反射並且入射到凹面反射鏡53的第一表面53a上。被凹面反射鏡53的第一表面53a反射的光被凸面反射鏡54反射並且入射到凹面反射鏡53的第二表面53b上。被凹面反射鏡53的第二表面53b反射的光被平面鏡52的第二表面52b反射並且在基板56上形成圖像。在投影光學系統PO中，凸面反射鏡54是光瞳。 　　在曝光裝置50中，根據上述的示例性實施例的光學設備10被用作例如用於使凹面反射鏡53的反射表面變形為任意形狀(即，使用凹面反射鏡53作為反射鏡1)的可變形反射鏡設備。因此，能夠抑制光學性能的下降。此時，曝光裝置50的控制單元51可以包括根據上述的示例性實施例的光學設備10的控制單元(未顯示)。 ＜物品的製造方法＞ 　　根據本揭露的示例性實施例的物品的製造方法適於例如製造諸如微裝置(例如，半導體裝置)或具有微結構的元件的物品。根據本示例性實施例的物品的製造方法包括通過使用曝光裝置50在施加於基板的感光劑上形成潛像圖案的處理(使基板曝光的處理)和顯影在以上的處理中形成了潛像圖案的基板的處理。並且，該製造方法包括其它已知的處理(氧化、膜形成、沉積、摻雜、平坦化、蝕刻、抗蝕劑去除、切割、接合和封裝)。與傳統的方法相比，根據本示例性實施例的物品的製造方法至少在物品的性能、品質、生產率和製造成本中的至少一個上具有優勢。 　　最後，參照圖8，描述在說明書中的術語“相等間隔”和“附近”中在±30%內限定範圍以及在30%內限定範圍的原因。首先，目標是實現以下狀態：當驅動點的位置從精確的位置偏移時反射表面的表面形狀的劣化量落入20%內。在驅動點的位置偏移約30%的情況下，表面形狀的劣化量(誤差增加量)變為約20%。如果偏移量超過30%，則表面形狀的劣化量迅速增加。因此，位置偏移量被限定於±30%內和30%內。 　　雖然描述了本揭露的示例性實施例，但是本揭露不限於這些示例性實施例，並且可以在本揭露的範圍內以各種方式進行修改和改變。 　　根據本揭露的一個態樣，能夠保持反射鏡變形的期望的精度並且還減少致動器的數量。 　　雖然已參照示例性實施例描述了本發明，但應理解，本發明不限於揭露的示例性實施例。以下申請專利範圍的範圍應被賦予最寬的解釋以包含所有的修改以及等同的結構和功能。
1‧‧‧反射鏡
1a‧‧‧反射表面
1b‧‧‧後表面
2‧‧‧保持部件
3‧‧‧致動器
3a‧‧‧磁體
3b‧‧‧線圈
4‧‧‧基座板
5‧‧‧驅動點
6‧‧‧內光學有效區域邊界
7‧‧‧外光學有效區域邊界
10‧‧‧光學設備
50‧‧‧曝光裝置
51‧‧‧控制單元
52‧‧‧平面鏡
52a‧‧‧第一表面
52b‧‧‧第二表面
53‧‧‧凹面反射鏡
53a‧‧‧第一表面
53b‧‧‧第二表面
54‧‧‧凸面反射鏡
55‧‧‧掩模
56‧‧‧基板
IL‧‧‧照射光學系統
WS‧‧‧基板台架
MS‧‧‧掩模台架
PO‧‧‧投影光學系統
圖1A和圖1B是顯示根據第一示例性實施例的驅動點佈置(致動器佈置)的圖。 　　圖2A、圖2B、圖2C、圖2D、圖2E和圖2F是顯示根據第一示例性實施例的例子1的計算結果的圖。 　　圖3A和圖3B是顯示根據第二示例性實施例的驅動點佈置(致動器佈置)的圖。 　　圖4是顯示根據第二示例性實施例的用於沿徑向方向佈置驅動點的方法的圖。 　　圖5A、圖5B和圖5C是顯示根據第二示例性實施例的計算例子的圖。 　　圖6是顯示根據第三示例性實施例的驅動點佈置(致動器佈置)的圖。 　　圖7是顯示根據第五示例性實施例的曝光裝置的圖。 　　圖8是用於解釋定義的術語的圖。

Claims (11)

  1. 一種光學設備，包括：反射鏡；和被配置為使所述反射鏡的反射表面的形狀變形的多個致動器，其中，所述多個致動器被佈置在多個同心圓上，所述多個同心圓以當同心圓的位置被定位為越遠離反射鏡的反射表面的中心時同心圓被越緻密地佈置的方式被佈置，並且，所述多個致動器中的至少一些沿同心圓的圓周方向以均等的間隔被佈置，以及其中，當要變形的所述反射表面的形狀係在澤尼克多項式中展開時，所述多個致動器中之各者被佈置在對應於極值的各項之位置中之一者。
  2. 根據申請專利範圍第1項所述的光學設備，其中，所述多個致動器的總體佈置是旋轉對稱的。
  3. 根據申請專利範圍第1項所述的光學設備，還包括基座板，其中，所述多個致動器被佈置在反射鏡的後表面與基座板之間。
  4. 根據申請專利範圍第1項所述的光學設備，其中，所述多個致動器被佈置在作為反射鏡的光學有效區域的邊界上或附近。
  5. 根據申請專利範圍第1項所述的光學設備，其中，當從垂直於中心處的反射表面的方向觀看時，反射鏡具有圓形形狀。
  6. 根據申請專利範圍第1項所述的光學設備，其中，反射鏡的反射表面具有平面形狀、凹面形狀和凸面形狀中的任一個。
  7. 根據申請專利範圍第1項所述的光學設備，其中，當要變形的所述反射表面的形狀係在澤尼克多項式中展開時，所述多個致動器被佈置在對應於旋轉對稱分量的極值之位置。
  8. 根據申請專利範圍第1項所述的光學設備，其中，當要變形的所述反射表面的形狀係在澤尼克多項式中展開時，所述多個致動器被佈置在至少對應於第4項或第9項之位置。
  9. 一種用於將掩模的圖案投影到基板上的投影光學系統，投影光學系統包括光學設備，光學設備包含反射鏡和被配置為使反射鏡的反射表面的形狀變形的多個致動器，其中，所述多個致動器被佈置在多個同心圓上，所述多個同心圓以當同心圓的位置被定位為越遠離反射鏡的反射表面的中心時同心圓被越緻密地佈置的方式被佈置，並且，所述多個致動器中的至少一些沿同心圓的圓周方向以均等的間隔被佈置，以及其中，當要變形的所述反射表面的形狀係在澤尼克多項式中展開時，所述多個致動器中之各者被佈置在對應於極值的各項之位置中之一者。
  10. 一種用於使基板曝光的曝光裝置，包括用於將掩模的圖案投影到基板上的投影光學系統，其中，投影光學系統包括光學設備，光學設備包含反射鏡和被配置為使反射鏡的反射表面的形狀變形的多個致動器，其中，所述多個致動器被佈置在多個同心圓上，所述多個同心圓以當同心圓的位置被定位為越遠離反射鏡的反射表面的中心時同心圓被越緻密地佈置的方式被佈置，並且，所述多個致動器中的至少一些沿同心圓的圓周方向以均等的間隔被佈置，以及其中，當要變形的所述反射表面的形狀係在澤尼克多項式中展開時，所述多個致動器中之各者被佈置在對應於極值的各項之位置中之一者。
  11. 一種物品的製造方法，所述方法包括：通過使用用於曝光基板的曝光裝置將基板曝光；將經曝光的基板顯影；和從經顯影的基板製造物品，其中，所述曝光裝置包括用於將掩模的圖案投影到基板上的投影光學系統，其中，投影光學系統包括光學設備，光學設備包含反射鏡和被配置為使所述反射鏡的反射表面的形狀變形的多個致動器，其中，所述多個致動器被佈置在多個同心圓上，所述多個同心圓以當同心圓的位置被定位為越遠離反射鏡的反射表面的中心時同心圓被越緻密地佈置的方式被佈置，並且，所述多個致動器中的至少一些沿同心圓的圓周方向以均等的間隔被佈置，以及其中，當要變形的所述反射表面的形狀係在澤尼克多項式中展開時，所述多個致動器中之各者被佈置在對應於極值的各項之位置中之一者。
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