TWI620935B

TWI620935B - 測試插座

Info

Publication number: TWI620935B
Application number: TW105124403A
Authority: TW
Inventors: 鄭永倍
Original assignee: Isc股份有限公司
Priority date: 2015-08-04
Filing date: 2016-08-02
Publication date: 2018-04-11
Also published as: TW201706608A; KR101682230B1; WO2017023037A1

Abstract

本發明的一個實施例提供一種測試插座，該測試插座包括：複數個導電彈性部分，設置在與測試目標裝置的端子對應的位置，透過在絕緣彈性體中上下方向排列複數個導電粒子而成；彈性支撐部分，包圍該導電彈性部分且支撐該導電彈性部分；絕緣支撐部分，形成有第一插入孔和第二插入孔，該第一插入孔提供該導電彈性部分的下部插入並支撐，該第二插入孔位於該第一插入孔的下部且提供測試設備的襯墊插入；複數個導向部分，與該絕緣支撐部分的上面結合，引導該測試目標裝置的端子的移動；及導電墊，由該導向部分支撐並固定使得導電部分設置在該導電彈性部分的上面，且與該導向部分可拆卸連接。

Description

測試插座

本發明係關於一種測試插座，更具體而言係關於一種可拆卸導電墊的測試插座。

一般而言，為了檢測測試目標裝置的電特性，該測試目標裝置必須穩定地電連接到一台測試設備上。如上所述，測試插座通常用於連接測試目標裝置與測試設備。

測試插座被配置成將測試目標裝置的端子連接至測試設備的襯墊，使得能夠在測試目標裝置與測試設備之間雙向交換電信號。這種測試插座根據接觸工具分為針型測試插座和橡膠型測試插座，針型測試插座使用彈簧式頂針，而橡膠型測試插座使用導電彈性部分。

圖1為示出具有彈簧式頂針的現有測試插座的示意圖。在韓國專利公開號10-2011-0065047（現有技術文獻1）中公開的彈簧式頂針21內設有彈簧23，因此能夠有效緩衝當檢測測試目標裝置的電特性時所可能發生的機械衝擊。

然而，設有彈簧式頂針21的測試插座20具有降低電信號傳輸效果的問題。更具體而言，來自測試目標裝置1的電信號透過接觸稍22、彈簧23及接觸尖端24被傳輸到測試設備3。此時，在流經彈簧23的電流沿彈簧23的螺旋方向流動的過程中電路徑變長，導致電阻增加，從而帶來降低電信號特性的問題。因此，無法正確實現電檢查測試目標裝置1。

並且，當測試目標裝置1的端子2不能被正確引導到接觸稍22的中心時，測試目標裝置1的端子2有可能被接觸稍22損傷。

因此，對一種能夠防止測試目標裝置1的端子2損傷且可順利電連接測試目標裝置1和測試設備3的、具有導電彈性部分的測試插座的需求日益增多。

圖2為示出具有導電彈性部分的現有測試插座的示意圖。

上述具有導電彈性部分31的測試插座30與測試目標裝置1的端子2接觸時，導電彈性部分31發生彈性變形，從而使得測試目標裝置1和測試設備3電連接。即，導電彈性部分31是透過在絕緣彈性體中包含複數個導電粒子32而成的，因此，當測試目標裝置1的端子2給導電彈性部分31加壓時，則導電彈性部分31發生壓縮變形，導致導電粒子32電連接，從而使得測試目標裝置1和測試設備3電連接。

但具有導電彈性部分31的測試插座30存在如下問題：由於反覆測試過程導致損傷導電彈性部分31的上面，因此測試插座30的使用壽命較短。

因此，為了延長具有導電彈性部分31的測試插座30的使用壽命，需要進行各種研究開發。

現有技術文獻 （現有技術文獻1）韓國專利公開號10-2011-0065047（2011.6.15）。

發明要解決的問題

為了解決上述問題，本發明的目的在於提供一種可拆卸導電墊的測試插座。

用於解決問題的方案

為了達到上述目的，本發明的一個實施例提供一種測試插座，該測試插座包括：複數個導電彈性部分，設置在與測試目標裝置的端子對應的位置，透過在絕緣彈性體中上下方向排列複數個導電粒子而成；彈性支撐部分，包圍該導電彈性部分且支撐該導電彈性部分；絕緣支撐部分，形成有第一插入孔和第二插入孔，該第一插入孔提供該導電彈性部分的下部插入並支撐，該第二插入孔位於該第一插入孔的下部且提供測試設備的襯墊插入；複數個導向部分，與該絕緣支撐部分的上面結合，引導該測試目標裝置的端子的移動；及導電墊，由該導向部分支撐並固定，使得導電部分設置在該導電彈性部分的上面，與該導向部分可拆卸連接。

在本發明的一個實施例中，該導電彈性部分可以包括：下導電彈性部分，呈下面直徑大於上面直徑的截頭圓錐形狀，該下導電彈性部分的下面被插入並支撐在該第一插入孔；及上導電彈性部分，以該下導電彈性部分的上面為基準呈對稱狀且連接形成。

在本發明的一個實施例中，該第一插入孔可以形成大於該第二插入孔。

在本發明的一個實施例中，該導向部分可以由絕緣材料製成。

在本發明的一個實施例中，該導向部分的上端部位置可以高於該導電墊的上面，以便向該導電部分的上面引導該測試目標裝置的端子。

在本發明的一個實施例中，該導向部分的上部可以形成有傾斜部分。

在本發明的一個實施例中，一個該導電彈性部分可以與至少兩個該導向部分相鄰地形成。

在本發明的一個實施例中，該導電墊可以包括：複數個導電部分，呈與該導電彈性部分的上面對應的形狀，與該導電彈性部分的上部可拆卸連接；及薄片部，與該導電部分連接形成，將該導電部分支撐並固定在該導向部分，且該薄片部可以與該導向部分可拆卸連接。

在本發明的一個實施例中，該導電部分可以由金屬或導電粉末形成。

發明的效果

如上所述的根據本發明的測試插座具有如下效果：

根據本發明，與測試目標裝置的端子接觸的導電墊從導向部分可拆卸，因此在測試插座的反覆測試過程中導電墊受到損傷時，用戶可選擇性地更換導電墊。從而，只要更換導電墊，就能夠延長測試插座的使用壽命。

根據本發明，導向部分被配置成引導與導電墊的上面接觸的測試目標裝置的端子移動。即，導向部分引導測試目標裝置的端子移動，使得測試目標裝置的端子給導電墊的導電部分的中心加壓。

在此，至少兩個導向部分與一個導電彈性部分相鄰設置，以便向導電部分的正確位置引導測試目標裝置的端子。從而，測試目標裝置與測試設備能夠穩定地電連接。

根據本發明，彈性支撐部分形成包圍導電彈性部分的外側面，因此，當彈性支撐部分被測試目標裝置的端子壓縮時，能夠防止包含於彈性支撐部分內部的導電粒子向彈性支撐部分的外部脫離。

根據本發明，導電彈性部分由對稱設置的上導電彈性部分和下導電彈性部分構成。當上述導電彈性部分被壓縮時，上導電彈性部分和下導電彈性部分的境界部分的直徑變大，從而將來自測試目標裝置的電信號能夠被順利傳輸到測試設備。因此，可以正確測定測試目標裝置的電信號。

本發明的效果並非限定於該效果，應當理解，包括從本發明的詳細的說明或申請專利範圍中記載的發明的結構中推論出的所有效果。

下面將參照附圖更充分地描述本發明。然而，本發明可以以許多不同的形式來實現，並且不應被解釋為限於在此所闡述的實施例。在附圖中，為了說明的簡明，與描述無關的部分被省略，並且相同的標號始終指示相同的元件。

在整個說明書中，某一部分與另一部分相“連接”時，不僅包括直接連接的情況，還包括在中間具備其他元件間接連接的情況。並且，應該理解的是，當術語“包括”和/或“包括…的”或“包含”和/或“包含…的”被用在本說明書中時，如果沒有特別相反的記載，指定陳述的構成要素的存在，但並不排除一個或複數個其他構成要素的存在或添加。

下面將參照附圖詳細說明本發明的實施例。

圖3為示意性地示出根據本發明的第一實施例的測試插座的透視圖，圖4為根據本發明的第一實施例的測試插座的截面示意圖，圖5為根據本發明的第一實施例的壓縮的測試插座的工作狀態圖，圖6為根據本發明的第一實施例的測試插座的平面圖。

如圖3至圖6所示，測試插座1000用作使待測試的測試目標裝置1的端子2和測試設備3的襯墊4電接觸的中間構件。

上述測試插座1000設置在測試目標裝置1與測試設備3之間，上述測試插座1000的上部直接或間接地與測試目標裝置1的端子2 接觸，上述測試插座1000的下部直接或間接地與測試設備3的襯墊4接觸，以對測試目標裝置1進行測試。

在此，以呈二維陣列排列的球柵陣列（Ball Grid Array，BGA）的錫珠形式為例說明測試目標裝置1的端子2。

參照圖3至圖5，測試插座1000可以包括導電彈性部分100、彈性支撐部分200、絕緣支撐部分300、導向部分400及導電墊500。

導電彈性部分100可以由上導電彈性部分110和下導電彈性部分120構成。在此，上導電彈性部分110和下導電彈性部分120成一對，且上導電彈性部分110和下導電彈性部分120可以一體成型。

上述上導電彈性部分110和下導電彈性部分120可以呈截頭圓錐形狀。即，下導電彈性部分120的下面直徑D1可以形成大於下導電彈性部分120的上面直徑D2，上導電彈性部分110的下面直徑形成小於上導電彈性部分110的上面直徑。此時，下導電彈性部分120的上面直徑和上導電彈性部分110的下面直徑可以具有相同的直徑並一體連接。

換句話說，成一對的上導電彈性部分110和下導電彈性部分120以下導電彈性部分120的上面為基準呈對稱狀且連接形成。即，上導電彈性部分110和下導電彈性部分120相遇的境界部位凹陷形成。

更具體而言，導電彈性部分100的上面和下面的直徑形成大於上導電彈性部分110和下導電彈性部分120相遇的境界部位的直徑。因此，導電彈性部分100的上面與導電墊500接觸的面積可以較寬地形成，導電彈性部分100的下面與測試設備3的襯墊4接觸的面積可以較寬地形成。

如上所述，因為導電彈性部分100與導電墊500和測試設備3的襯墊4接觸的面積較寬地形成，由此能夠有效傳輸來自導電墊500和測試設備3的襯墊4的電信號。

參照圖5，上導電彈性部分110和下導電彈性部分120相遇的境界部位凹陷形成，從而，當導電彈性部分100被測試目標裝置1的端子2壓縮時，導電彈性部分100的凹陷部分的直徑變大，同時，導電彈性部分100整體上彈性變形為圓柱形狀，從而向測試設備3穩定地傳輸來自測試目標裝置1的電信號。

如上所述，導電彈性部分100透過連接呈截頭圓錐形狀的上導電彈性部分110和下導電彈性部分120而成，因此能夠有效傳輸來自測試目標裝置1和測試設備3的電信號。

較佳地，用來形成上述導電彈性部分100的絕緣彈性體101採用具有交聯結構的耐熱聚合物材料。為了獲得交聯聚合物材料可用的可固化聚合物形成材料能夠採用各種類型，但較佳採用液體矽橡膠。上述液體矽橡膠的例子包括加成型液體矽橡膠或縮合型液體矽橡膠，其中，進一步較佳採用加成型液體矽橡膠。

當導電彈性部分100是由液體矽橡膠的固化物（下面稱作‘矽橡膠固化物’）形成時，上述矽橡膠固化物在150℃的永久壓縮變形較佳地等於或小於10%，更較佳地等於或小於8%，進一步較佳地等於或小於6 %。

如果矽橡膠固化物在150℃的永久壓縮變形大於10%，當在高溫環境下反覆使用導電彈性部分100時，包含在導電彈性部分100中的導電粒子102之間的鏈被毀壞，導致難以維持導電性。

此時，導電粒子102較佳為其表面上塗覆有高導電性金屬的磁性核心粒子。用來形成上述磁性核心粒子的材料例子包括透過將鐵、鎳、鈷等金屬塗覆在銅或樹脂上而獲得的材料。在此，導電粒子102的飽和磁化度較佳地等於或大於0.1Wb/m² 、更較佳地等於或大於0.3Wb/m² 、進一步較佳地等於或大於0.5Wb/m² 。

上述導電粒子102的粒徑較佳為1至100㎛、更較佳為2至50㎛、進一步較佳為3至30㎛、最較佳為4至20㎛。

塗覆在磁性核心粒子的表面上的這種高導電性金屬的例子包括金、銀、銠、鉑、鉻等，其中，最較佳的是化學穩定且具有高導電性的金。

另外，彈性支撐部分200呈與導電彈性部分100對應的形狀，且包圍導電彈性部分100。上述彈性支撐部分200支撐導電彈性部分100，從而，當導電彈性部分100被測試目標裝置1的端子2壓縮時，能夠防止包含在導電彈性部分100中的導電粒子102從絕緣彈性體101脫離。

上述彈性支撐部分200可以由矽樹脂、氨基甲酸乙酯、聚碳酸酯、聚乙烯中的任一種材料製成，但不限於此，只要是彈性高且絕緣性良好的合成樹脂或天然樹脂材料即可，沒有特別限制。如上所述，在導電彈性部分100變形的同時，彈性支撐部分200發生彈性變形，以防止包含在導電彈性部分100中的導電粒子102從絕緣彈性體101脫離。

另外，絕緣支撐部分300被配置成支撐導電彈性部分100的下部。上述絕緣支撐部分300形成有供複數個導電彈性部分100插入並支撐的第一插入孔301，從而使得在導電彈性部分100的下部在被插入到第一插入孔301中的狀態下可以與絕緣支撐部分300牢固結合。

至於形成在上述絕緣支撐部分300的第一插入孔301，複數個第一插入孔301形成在絕緣支撐部分300，使得當測試目標裝置1的端子2下降時測試目標裝置1的端子2中心和第一插入孔301的中心位於相同的虛擬垂直線上。即，第一插入孔301形成在絕緣支撐部分300，使得被插入並支撐在第一插入孔301的導電彈性部分100和測試目標裝置1的端子2在虛擬的一個直線上對齊。因此，導電彈性部分100可以設置在與測試目標裝置1的端子2對應的位置。

再說，複數個導電彈性部分100可以相互隔開預定間隔（pitch），該間隔可以與用作測試物件的測試目標裝置1的端子2之間的間隔相同。

形成在絕緣支撐部分300的第二插入孔302位於第一插入孔301的下部，第二插入孔302供測試設備3的襯墊4插入。即，測試設備3的襯墊4在被插入到第二插入孔302中的狀態下與導電彈性部分100的下面相接觸。如上所述，在測試設備3的襯墊4在被插入到第二插入孔302中的狀態下與導電彈性部分100的下面相接觸，從而能夠防止測試插座1000發生左右移動。因此，可以針對由微細間隔構成的測試目標裝置1的端子2正確進行電信號測試。

在此，形成在絕緣支撐部分300的第一插入孔301形成大於第二插入孔302。即，由於第一插入孔301和第二插入孔302的大小差異而階梯部310形成在第一插入孔301與第二插入孔302相連的部位，且導電彈性部分100的下部可以由階梯部310支撐並固定。

如上所述，分別支撐複數個導電彈性部分100的絕緣支撐部分300由絕緣材料製成。

上述絕緣支撐部分300可以由酚醛樹脂、聚酯、聚氨酯、氟樹脂等每重量單位的強度大、重量輕、絕緣性優良的合成樹脂材料或其他非金屬材料製成。在此，當然，除了上述材料之外，絕緣支撐部分300可以由絕緣性優良且能夠牢固支撐導電彈性部分100的各種材料形成。換句話說，絕緣支撐部分300具有優異的絕緣性和耐熱性，因此，在導電彈性部分100發生收縮、膨脹的情況下也能夠正確固定導電彈性部分100的位置。

另外，導向部分400與絕緣支撐部分300的上面結合，且引導測試目標裝置1的端子2 移動。即，在測試目標裝置1的端子2下降時，導向部分400控制測試目標裝置1的移動，使得測試目標裝置1的端子2被引導到導電墊500的上面中心。

關於上述導向部分400，從絕緣支撐部分300的下面到導向部分400的上端部的高度H1大於從絕緣支撐部分300的下面到導電墊500的上面的高度H2 。即，導向部分400的上端部位於導電墊500的上部。因此，測試目標裝置1的端子2被導向部分400引導，以便被引導到導電墊500的導電部分510的上面中心。與絕緣支撐部分300相同地，上述導向部分400由絕緣材料製成，從而能夠防止來自測試目標裝置1的端子的電信號被傳遞到導向部分400。

參照圖6，導向部分400被設置成與插入並固定在絕緣支撐部分300的導電彈性部分100鄰接。圖6的（a）部分至（c）部分為示出設於測試插座1000的導向部分400的設置狀態的平面圖。如圖6的（a）部分所示，三個導向部分400可以被設置成與一個導電彈性部分100鄰接。

而且，在圖6的（b）部分和（c）部分的情況下，四個導向部分400可以被設置成與一個導電彈性部分100鄰接。換句話說，導向部分400的設置狀態和個數是可選擇性調節的。即，相對於一個導電彈性部分100，兩個、五個、六個等不同個數的導向部分400 可以設置在不同位置。如上所述，導向部分400被配置成向導電部分510的上面中心引導測試目標裝置1的端子2，對導向部分400的個數沒有特別限制。

然而，在測試目標裝置1的端子2下降時，為使測試目標裝置1的端子2穩定地移動到導電部分510的上面中心，相對於一個導電彈性部分100較佳鄰接至少三個導向部分400。如上所述，導向部分400使測試目標裝置1的端子2與導電部分510順利接觸，以提高測試目標裝置1的測試正確性。

另外，導電墊500被設置在導電彈性部分100的上部，且由導向部分400支撐。上述導電墊500可以包括導電部分510和薄片部520。

導電部分510呈與導電彈性部分100的上面對應的形狀，且被設置在導電彈性部分100的上面。上述導電部分510被配置成將來自測試目標裝置1的端子2的電信號傳輸到導電彈性部分100。此時，導電部分510可以與導電彈性部分100的上面相互附著，但本發明不限於此。

如上所述，導電部分510由可傳輸電信號的導電材料形成。例如，導電部分510可以為具有在絕緣彈性體中上下方向排列有複數個導電粒子的結構的導電粉末。當測試目標裝置1的端子2給導電部分510加壓時，由上述導電粉末形成的導電部分510可以發生彈性變形，因此能夠防止由於導電部分510而測試目標裝置1的端子2受到損傷。上述導電部分510的例子不限於導電粉末，只要是可傳輸電信號的導電材料即可。即，導電部分可以由金屬形成。

薄片部520與導電部分510連接且支撐導電部分510。上述薄片部520由導向部分400支撐並固定，從而導電部分510可以穩定地位於導電彈性部分100的上面。

在此，薄片部520形成有與導向部分400的橫截面對應的形狀的結合孔521，且導向部分400被插入並結合於結合孔521中，從而使得導電墊500可以由導向部分400牢固支撐。如上所述，具有導電部分510和薄片部520的導電墊500選擇性地可拆卸連接到導向部分400。

因此，在測試目標裝置1的反覆測試過程中，如果設於測試插座1000上部的導電部分510被損傷，使用者就透過選擇性地更換與導向部分400可拆卸連接的導電墊500來能夠延長測試插座1000的使用壽命。因為上述導電墊500可容易拆卸地設置，由此用戶透過選擇性地更換導電墊500來能夠持續使用測試插座1000。

圖7為根據本發明的第二實施例的測試插座的截面示意圖，透過與圖3至圖6所示的構件相同的標號表示的構件具有相同的構成和功能，因而將不會對其加以詳細說明。

參照圖7，導向部分400的上端部還可形成有傾斜部分410。上述傾斜部分410從直線形狀的導向部分400形成預定傾斜角度。例如，在導向部分400的橫截面呈圓形的狀態下，形成在導向部分400的上端部的傾斜部分410可以具有錐形。

當測試目標裝置1的端子2以未對準的狀態下降時，上述傾斜部分410嚮導電部分510的上面中心平滑地引導測試目標裝置1的端子2。

並且，第二插入孔302的下部也可形成有擴張部分320，該擴張部分320傾斜以便實現測試設備3的襯墊4容易插入。上述擴張部分320形成大於第二插入孔302，從而使得測試設備3的襯墊4可容易插入到第二插入孔302中。

圖8為根據本發明的第三實施例的測試插座的平面圖，透過與圖3至圖6所示的構件相同的標號表示的構件具有相同的構成和功能，因而將不會對其加以詳細說明。

由圖8可知，導向部分的橫截面形狀不限於圓形，而可以呈各種形狀。

圖8的（a）部分所示的導向部分401的橫截面形狀呈四角形，圖8的（b）部分所示的導向部分402的橫截面形狀呈圓弧形，圖8的（c）部分所示的導向部分403的橫截面形狀呈帶中孔的圓形。在此，形成在薄片部520的結合孔521形成具有與導向部分401、402、403的橫截面對應的形狀。

如圖8的（b）部分所示，在導向部分402的橫截面形狀呈圓弧形的情況下，與導向部分402的橫截面形狀呈圓形或四角形的情況相比由導向部分402支撐的結合孔521的支撐面積更大，因此，導電墊500可以穩定地支撐並固定在導向部分402。在此，在導向部分402的橫截面形狀呈圓弧形的情況下，在相對於一個導電彈性部分100鄰接兩個導向部分402的設置狀態下也能夠將測試目標裝置1的端子2穩定地引導到導電部分510的上面中心。

並且，如圖8的（c）部分所示，導向部分403的橫截面可以呈帶中孔的圓形。導電彈性部分100可以位於上述導向部分403的中空內部。即，導向部分403的橫截面呈帶中孔的圓形的情況下，與導向部分402的橫截面形狀呈圓弧形的情況相比結合孔521的支撐面積更大，因此導電墊500能夠更牢固地支撐並固定在導向部分403。

如上所述，從絕緣支撐部分300突出的導向部分的橫截面形狀不限於特定形狀，可以具有各種形狀。

但這些僅僅是本發明的一個較佳實施例，而不代表本發明的所有技術範圍，本發明的技術範圍不限於上述實施例的記載。

上述的本發明的說明只是例示性的，只要是本發明所屬技術領域的普通技術人員，就能理解在不變更本發明的技術思想或必要特徵的情況下，也能輕易變形為其他具體形態。因此，以上所述的實施例在各方面僅是例示性的，但並不局限於此。例如，作為單一型進行說明的各結構部件也能分散進行實施，同樣，使用分散的進行說明的結構部件也能以結合的形態進行實施。

本發明的範圍是透過所附申請專利範圍來表示，而並非透過上述詳細的說明，而由申請專利範圍的意義、範圍及其均等概念匯出的所有變更或變形的形態應解釋為包括在本發明的範圍內。

1‧‧‧測試目標裝置
2‧‧‧端子
3‧‧‧測試設備
4‧‧‧襯墊
20‧‧‧測試插座
21‧‧‧彈簧式頂針
22‧‧‧接觸稍
23‧‧‧彈簧
24‧‧‧接觸尖端
30‧‧‧測試插座
31‧‧‧導電彈性部分
32‧‧‧導電粒子
100‧‧‧導電彈性部分
101‧‧‧絕緣彈性體
102‧‧‧導電粒子
110‧‧‧上導電彈性部分
120‧‧‧下導電彈性部分
200‧‧‧彈性支撐部分
300‧‧‧絕緣支撐部分
301‧‧‧第一插入孔
302‧‧‧第二插入孔
310‧‧‧階梯部
320‧‧‧擴張部分
400‧‧‧導向部分
401‧‧‧導向部分
402‧‧‧導向部分
403‧‧‧導向部分
410‧‧‧傾斜部分
500‧‧‧導電墊
510‧‧‧導電部分
520‧‧‧薄片部
521‧‧‧結合孔
1000‧‧‧測試插座
D1‧‧‧下面直徑
D2‧‧‧上面直徑
H1‧‧‧上端部的高度
H2‧‧‧上面的高度

［圖1］為示出具有彈簧式頂針的現有測試插座的示意圖。［圖2］為示出具有導電彈性部分的現有測試插座的示意圖。［圖3］為示意性地示出根據本發明的第一實施例的測試插座的透視圖。［圖4］為根據本發明的第一實施例的測試插座的截面示意圖。［圖5］為根據本發明的第一實施例的壓縮的測試插座的工作狀態圖。［圖6］為根據本發明的第一實施例的測試插座的平面圖。［圖7］為根據本發明的第二實施例的測試插座的截面示意圖。［圖8］為根據本發明的第三實施例的測試插座的平面圖。

Claims

一種測試插座，其特徵在於，包括：複數個導電彈性部分，設置在與測試目標裝置的端子對應的位置，透過在絕緣彈性體中上下方向排列複數個導電粒子而成；彈性支撐部分，包圍該導電彈性部分且支撐該導電彈性部分；絕緣支撐部分，形成有第一插入孔和第二插入孔，該第一插入孔供該導電彈性部分的下部插入並支撐，該第二插入孔位於該第一插入孔的下部且供測試設備的襯墊插入；複數個導向部分，與該絕緣支撐部分的上面結合，引導該測試目標裝置的端子的移動；及導電墊，由該導向部分支撐並固定使得導電部分設置在該導電彈性部分的上面，且與該導向部分可拆卸連接。
如請求項1之測試插座，其中，該導電彈性部分包括：下導電彈性部分，呈下面直徑大於上面直徑的截頭圓錐形狀，該下導電彈性部分的下面被插入並支撐在該第一插入孔；及上導電彈性部分，以該下導電彈性部分的上面為基準呈對稱狀且連接形成。
如請求項1所述之測試插座，其中，該第一插入孔形成大於該第二插入孔。
如請求項1所述之測試插座，其中，該導向部分由絕緣材料製成。
如請求項1所述之測試插座，其中，該導向部分的上端部位置高於該導電墊的上面，以便向該導電部分的上面引導該測試目標裝置的端子。
如請求項1所述之測試插座，其中，該導向部分的上部形成有傾斜部分。
如請求項1所述之測試插座，其中，一個該導電彈性部分與至少兩個所述導向部分相鄰地形成。
如請求項1所述之測試插座，其中，該導電墊包括：複數個導電部分，呈與該導電彈性部分的上面對應的形狀，與該導電彈性部分的上部可拆卸連接；及薄片部，與該導電部分連接形成，將該導電部分支撐並固定在該導向部分，且該薄片部與該導向部分可拆卸連接。
如請求項1所述之測試插座，其中，該導電部分由金屬或導電粉末形成。