TWI608703B - 振盪停止檢測電路及電子機器 - Google Patents
振盪停止檢測電路及電子機器 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI608703B TWI608703B TW103103928A TW103103928A TWI608703B TW I608703 B TWI608703 B TW I608703B TW 103103928 A TW103103928 A TW 103103928A TW 103103928 A TW103103928 A TW 103103928A TW I608703 B TWI608703 B TW I608703B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- oscillation
- circuit
- terminal
- capacitor
- power supply
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/19—Monitoring patterns of pulse trains
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/02—Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
本發明係針對內藏有振盪電路之電子機器中，關於檢測出振盪電路之振盪停止之狀態的振盪停止檢測電路。
有在內藏有振盪電路之電子機器，設置有判定振盪電路是否正常振盪之振盪停止檢測電路之情形，於振盪停止之時，立即使振盪電路再啟動或是重設系統。
第4圖表示以往之振盪停止檢測電路之電路圖。以往之振盪停止檢測電路由反相器10、11、12、NMOS電晶體20、PMOS電晶體30、電容40、正的電源端子1、輸入端子3、定電壓端子4和輸出端子7所構成。將反相器10之輸出設為節點B、將反相器12之輸入設為節點C。
圖5為表示以往之振盪停止檢測電路之動作的時序圖。在輸入端子3被輸入振盪訊號IN，在節點B經反相器10被輸入與振盪訊號IN逆相的訊號。振盪訊號
IN為Lo之時，節點B成為High，使NMOS電晶體20接通，對電容40之電荷充電而使節點C成為Lo。在定電壓端子4被輸入定電壓Vref，當振盪訊號IN為High之時，節點B成為Lo，使NMOS電晶體20斷開，放電電容40之電荷而使節點C之電壓上升。振盪訊號IN持有High、Lo之振幅時，節點C重複電容40之充電放電，經反相器12而使High之訊號輸出至輸出端子7之訊號STOPX。當振盪訊號IN之振盪停止，成為Lo之訊號時，節點C電壓持續上升，當超過反相器12之反轉位準時，反相器12之輸出反轉，Lo之訊號從輸出端子7被輸出。如此一來，可以檢測出振盪訊號IN之振盪(例如，參照專利文獻1)。
[專利文獻1]日本特開2005-252873號公報
但是，在以往之振盪停止檢測電路中，於將振盪電路之振盪源被分頻電路等分頻的訊號輸入至輸入端子3之時，有於振盪電路之振盪源停止之時，無論輸入端子3在High、Low中之任一停止，皆無法檢測出振盪停止之課題。再者，也難以正確地測量振盪電路停止後至訊
號被輸出至輸出端子7為止之振盪停止檢測時間。並且，也有於輸入端子3為Lo之時，電流從PMOS電晶體30流至NMOS電晶體20、反相器11之NMOS電晶體，消耗電流大的課題。
本發明係鑒於解決上述課題而研究出，實現即使輸入端子為High、Lo中之任一訊號亦可以檢測出振盪停止，可正確地測量振盪停止檢測時間，減少消耗電流之技術。
為了解決以往之課題，本發明之振盪停止檢測電路構成如下述般。
具備：脈衝生成電路，其係與從輸入端子被輸入之振盪訊號同步而輸出單觸發脈衝；電容，其係一方之端子被連接於第1電源端子，另一方之端子被連接於輸出端子；定電流電路，其係被連接於上述第1電源端子和電容之另一方之端子；及開關電路，其係被連接於脈衝生成電路之輸出端子和電容之另一方之端子之間，藉由單觸發脈衝使電容之另一方之端子連接於第2電源端子。
藉由本發明，即使在High、Lo中之一的訊號，輸入訊號停止，亦可以檢測出振盪停止，可正確地測量振盪停止檢測時間，並可減少消耗電流。
11、12、13‧‧‧反相器電路
14‧‧‧NOR電路
15‧‧‧OR電路
50‧‧‧脈衝生成電路
圖1表示第1實施形態之振盪停止檢測電路的電路圖。
圖2為說明第1實施形態之動作的時序圖。
圖3表示第2實施形態之振盪停止檢測電路的電路圖。
圖4為以往之振盪停止檢測電路之電路圖。
圖5為說明以往之振盪停止檢測電路之動作的時序圖。
以下，針對本實施形態參照圖面予以說明。
圖1表示第1實施形態之振盪停止檢測電路的電路圖。第1實施形態之振盪停止檢測電路係由脈衝生成電路50、反相器11、12、NMOS電晶體20、21、PMOS電晶體30、31、電容40、正的電源端子1、負的電源端子2、輸入端子3、定電壓端子4、測試端子5、6和輸出端子7所構成。脈衝生成電路50係由反相器13、NOR電路14
和電容41所構成。將反相器13之輸出設為節點A、將NOR電路14之輸出設為節點B，將反相器12之輸出設為節點C。
反相器13係輸入被連接於輸入端子3，輸出被連接NOR電路14之第一輸入和電容41之一方之端子。電容41之另一方之端子被連接於正的電源端子1。NOR電路14係第二輸出被連接於輸入端子3，輸出被連接於反相器11之輸入及NMOS電晶體20之閘極。NMOS電晶體20係源極被連接於反相器11之輸出，汲極連接於反相器12之輸入。PMOS電晶體30係閘極被連接於定電壓端子4，源極被連接於PMOS電晶體31之汲極，汲極被連接於反相器12之輸入。PMOS電晶體31係閘極被連接測試端子5，源極被連接於正的電源端子1。NMOS電晶體21係閘極被連接於測試端子6，汲極被連接於反相器12之輸入及電容40之一方之端子，源極被連接於負的電源端子2。電容40之另一方之端子被連接於正的電源端子1。反相器12之輸出被連接於輸出端子7。
針對第1實施形態之振盪停止檢測電路之動作予以說明。輸入端子3被輸入振盪訊號IN，輸出端子7被輸出訊號STOPX。定電壓端子4被輸入電壓Vref，測試端子5、6同樣被輸入訊號TEST。圖2為說明第1實施形態之振盪停止檢測電路之動作的時序圖。當在時間T1，振盪訊號IN成為High時，在藉由電容41產生延遲且經過延遲時間的時間T2，節點A成為Lo。當在時間
T3，振盪訊號IN成為Lo時，在藉由電容41產生延遲且經過延遲時間的時間T4，節點A成為High。節點B僅在振盪訊號IN和節點A皆為Lo的時間T3至時間T4，成為High，生成單觸發的脈衝。節點B為High之時，NMOS電晶體20接通，電容40被充電，節點C被充電至負的電源端子2之電壓VSS。訊號TEST成為Lo，當節點B成為Lo時，以定電壓Vref和PMOS電晶體30所產生之定電流，放電電容41之電荷。如此一來，藉由振盪訊號IN重複High、Low之訊號，重複電容40之充放電，節點C不超過反相器12之反轉位準，從訊號STOPX輸出High。
當在時間T5，振盪訊號IN在Lo停止時，至電容41所引起的延遲時間T6為止，對節點C進行充電。但是，之後，因節點B不成為High，故藉由來自PMOS電晶體30之定電流，持續放電電容41之電荷，節點C之電壓到達至反相器12之臨界電壓，在時間T7，訊號STOPX成為Lo。如此一來，可以檢測出振盪訊號IN之振盪停止之情形。當振盪訊號IN在High停止時，電容41所引起之延遲後，節點A保持為Lo，節點B也保持為Lo。但是，之後，因節點B不成為High，故藉由來自PMOS電晶體30之定電流，持續放電電容41之電荷，節點C之電壓到達至反相器12之臨界電壓，STOPX成為Lo。如此一來，即使振盪訊號IN在High停止亦可以檢測出振盪停止之情形。再者，因即使振盪訊號IN在High、
Lo中之任一狀態停止也一定可以檢測出停止狀態，故無論在哪一個情形皆可以測量振盪停止檢測時間。
在振盪訊號IN之振盪停止之狀態下，當訊號
TEST成為High時，節點C強制性地成為Lo，STOPX成為High。當從該狀態將訊號TEST設為Lo時，藉由PMOS電晶體30開始定電流放電，成為與圖2之從時間T6至T7相同的動作，可測量振盪停止檢測時間。此時因無從振盪停止後經分頻段至IN停止之期間，故可更正確地進行測量。
因在從時間T3至時間T4之節點C之充電期
間中，也有藉由PMOS電晶體30之放電，故電流從正的電源端子1在PMOS電晶體31、PMOS電晶體30、NMOS電晶體20、反相器11之NMOS電晶體、負的電源端子2之路徑被消耗，比起以往技術，充電期間變短，故可刪減消耗電流。
並且，雖然說明了為了檢測出振盪停止使用
脈衝生成電路，但是並不限定於該構成，若為即使振盪之振盪源在High或Low中之任一停止亦可以檢測出振盪停止的構成，無論怎樣的構成亦可。
藉由上述，第1實施形態之振盪停止檢測電
路即使振盪訊號在High、Lo中之任一停止亦可以檢測出振盪停止，並可以測量振盪停止檢測時間。再者，因對電容40進行的充電期間短，故可以刪減消耗電流。
圖3為表示第2實施形態之振盪停止檢測電路的電路圖。與第1實施形態不同的係追加OR電路15之點。OR電路15係第一輸入被連接於測試端子5，第二輸入被連接於NOR電路14之輸出，輸出被連接於PMOS電晶體31之閘極。其他與第1實施形態相同。
針對第2實施形態之振盪停止檢測電路之動作予以說明。第2實施形態之振盪停止檢測電路之時序圖與圖2之第1實施形態之振盪停止檢測電路和時序圖相同。於時間T3之時，當節點B成為High，MMOS電晶體20接通，開始電容40之充電。再者，OR電路15之輸出成為High，使PMOS電晶體31接通。如此一來，PMOS電晶體31斷開直至時間T4，可以防止在電容40之充電期間中，從正的電源端子1流入電流的情形，並可刪減消耗電流。針對其他動作，與第1實施形態相同。
並且，雖然說明為了檢測出振盪停止使用脈衝生成電路，但是並不限定於該構成，若為即使振盪之振盪源在High或Low中之任一停止亦可以檢測出振盪停止的構成，無論怎樣的構成亦可。再者，為了刪減消耗電流，雖然使用OR電路15和PMOS電晶體31而予以說明，但是若為可以刪減消耗電流之構成，則並不限定於該構成，即使為任何構成亦可。
如上述說明般，第2實施形態之振盪停止檢測電路即使振盪訊號在High、Lo中之任一停止亦可以檢
測出振盪停止，並可以測量振盪停止檢測時間。再者，電容40之充電期間中，可以防止從正的電流端子1流入電流之情形，並可刪減消耗電流。
並且，本發明之振盪停止檢測電路使用於要求例如低消耗電流化之電子時計般之內藏有振盪電路的電子機器。振盪停止檢測電路因消耗電流少，並且可正確地檢測出振盪電路之振盪停止，故電子機器可低消耗電流且穩定地進行動作。
1‧‧‧正的電源端子
2‧‧‧負的電源端子
3‧‧‧輸入端子
4‧‧‧定電壓端子
5‧‧‧測試端子
6‧‧‧測試端子
7‧‧‧輸出端子
11、12、13‧‧‧反相器電路
14‧‧‧NOR電路
20‧‧‧NMOS電晶體
21‧‧‧NMOS電晶體
30‧‧‧PMOS電晶體
31‧‧‧PMOS電晶體
40‧‧‧電容
41‧‧‧電容
50‧‧‧脈衝生成電路
A、B、C‧‧‧節點
Claims (3)
- 一種振盪停止檢測電路，其特徵在於：具備脈衝生成電路，其係與從輸入端子被輸入之振盪訊號同步，且以與上述振盪訊號相同之頻率輸出脈衝寬較上述振盪訊號窄的單觸發脈衝；電容，其係一方之端子被連接於第1電源端子，另一方之端子被連接於輸出端子；第1開關電路，其係被連接於上述脈衝生成電路之輸出端子和上述電容之另一方之端子之間，藉由上述單觸發脈衝使上述電容之另一方之端子連接於第2電源端子；定電流電路，其係一方之端子被連接於上述電容之另一方之端子；第2開關，其係被連接於上述第1電源端子和上述定電流電路之另一方之端子之間，藉由測試訊號控制上述第1電源端子和上述定電流電路之間的連接；及第3開關，其係被連接於上述第2電源端子和上述電容之另一方之端子之間，藉由上述測試訊號控制上述第2電源端子和上述電容之間的連接。
- 如請求項1所載之振盪停止檢測電路，其中於上述第1開關電路接通之時，上述第2開關電路斷開。
- 一種電子機器，其特徵在於：具備振盪電路；和如請求項1或2所記載之振盪停止檢測電路，其係檢 測出上述振盪電路輸出的振盪訊號之振盪停止。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013035061A JP6163319B2 (ja) | 2013-02-25 | 2013-02-25 | 発振停止検出回路及び電子機器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201503594A TW201503594A (zh) | 2015-01-16 |
| TWI608703B true TWI608703B (zh) | 2017-12-11 |
Family
ID=51370254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW103103928A TWI608703B (zh) | 2013-02-25 | 2014-02-06 | 振盪停止檢測電路及電子機器 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9106215B2 (zh) |
| JP (1) | JP6163319B2 (zh) |
| KR (1) | KR102076952B1 (zh) |
| CN (1) | CN104009737B (zh) |
| TW (1) | TWI608703B (zh) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5151666A (en) * | 1991-01-30 | 1992-09-29 | Nec Corporation | Oscillation stoppage detection circuit |
| US6211746B1 (en) * | 1998-07-31 | 2001-04-03 | Fujitsu Limited | Integration method and integration circuit offering improved signal-to-noise ratio, and voltage-controlled oscillator and frequency-voltage converter employing integration circuit |
| US6343334B1 (en) * | 1998-10-20 | 2002-01-29 | Mitsubishi Electric System Lsi Design Corporation | Detector of an oscillation stopping and an apparatus for executing a treatment after the detection of an oscillation stopping |
| US6388479B1 (en) * | 2000-03-22 | 2002-05-14 | Cypress Semiconductor Corp. | Oscillator based power-on-reset circuit |
| US7151419B2 (en) * | 2004-03-05 | 2006-12-19 | Citizen Watch Co., Ltd. | Oscillation-stop detection circuit, oscillation-stop detection system, electronic device, and oscillation-stop detection method |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5793725A (en) * | 1980-12-03 | 1982-06-10 | Seiko Epson Corp | Oscillation stop detect circuit |
| JPH0443436A (ja) * | 1990-06-08 | 1992-02-13 | Fujitsu Ltd | マイクロプロセッサを有する装置 |
| JPH09319456A (ja) * | 1996-06-03 | 1997-12-12 | Mitsubishi Electric Corp | 発振停止検出装置 |
| JPH10173637A (ja) * | 1996-12-13 | 1998-06-26 | Nec Eng Ltd | クロック断検出回路 |
| US6078193A (en) * | 1998-04-06 | 2000-06-20 | Graychip, Inc. | Apparatus and method for providing a static mode for dynamic logic circuits |
| JP3613095B2 (ja) * | 1999-10-29 | 2005-01-26 | ヤマハ株式会社 | 電源制御装置 |
| US6668334B1 (en) * | 2000-06-27 | 2003-12-23 | Lucent Technologies Inc. | Apparatus for detecting clock failure within a fixed number of cycles of the clock |
| JP2002043906A (ja) * | 2000-07-24 | 2002-02-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | 発振停止検出回路 |
| JP3489560B2 (ja) * | 2000-11-10 | 2004-01-19 | 日本電気株式会社 | クロック断検出回路 |
| JP2003188717A (ja) * | 2001-12-17 | 2003-07-04 | Citizen Watch Co Ltd | 発振停止検出回路およびこれを用いた電子時計 |
| JP2003264453A (ja) * | 2002-03-12 | 2003-09-19 | Citizen Watch Co Ltd | クロック異常検出回路 |
| JP4459663B2 (ja) * | 2004-03-05 | 2010-04-28 | シチズンホールディングス株式会社 | 電子機器 |
| US7667534B2 (en) * | 2007-03-15 | 2010-02-23 | Fairchild Semiconductor Corporation | Control interface and protocol |
| JP5679681B2 (ja) * | 2009-03-25 | 2015-03-04 | ローム株式会社 | 発振回路およびスイッチング電源 |
| JP2012160775A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-23 | Seiko Epson Corp | 発振停止検出回路、半導体装置、時計および電子機器 |
-
2013
- 2013-02-25 JP JP2013035061A patent/JP6163319B2/ja active Active
-
2014
- 2014-02-06 TW TW103103928A patent/TWI608703B/zh active
- 2014-02-18 KR KR1020140018288A patent/KR102076952B1/ko active IP Right Grant
- 2014-02-24 US US14/188,379 patent/US9106215B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-02-24 CN CN201410061340.5A patent/CN104009737B/zh active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5151666A (en) * | 1991-01-30 | 1992-09-29 | Nec Corporation | Oscillation stoppage detection circuit |
| US6211746B1 (en) * | 1998-07-31 | 2001-04-03 | Fujitsu Limited | Integration method and integration circuit offering improved signal-to-noise ratio, and voltage-controlled oscillator and frequency-voltage converter employing integration circuit |
| US6343334B1 (en) * | 1998-10-20 | 2002-01-29 | Mitsubishi Electric System Lsi Design Corporation | Detector of an oscillation stopping and an apparatus for executing a treatment after the detection of an oscillation stopping |
| US6388479B1 (en) * | 2000-03-22 | 2002-05-14 | Cypress Semiconductor Corp. | Oscillator based power-on-reset circuit |
| US7151419B2 (en) * | 2004-03-05 | 2006-12-19 | Citizen Watch Co., Ltd. | Oscillation-stop detection circuit, oscillation-stop detection system, electronic device, and oscillation-stop detection method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US9106215B2 (en) | 2015-08-11 |
| CN104009737B (zh) | 2018-02-09 |
| CN104009737A (zh) | 2014-08-27 |
| TW201503594A (zh) | 2015-01-16 |
| KR102076952B1 (ko) | 2020-02-13 |
| US20140240054A1 (en) | 2014-08-28 |
| KR20140106404A (ko) | 2014-09-03 |
| JP6163319B2 (ja) | 2017-07-12 |
| JP2014165670A (ja) | 2014-09-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9714966B2 (en) | Circuit aging sensor | |
| KR100218040B1 (ko) | 반도체장치 및 비교회로 | |
| US8643358B2 (en) | Oscillator | |
| US20160013753A1 (en) | Relaxation oscillator with current and voltage offset cancellation | |
| JP2013113643A (ja) | 発振回路およびテスト回路 | |
| TW201913114A (zh) | 低功耗電壓偵測電路 | |
| US9461632B2 (en) | Oscillator circuit | |
| JP2018088249A (ja) | 電源制御回路および環境発電装置 | |
| JP2006222524A (ja) | 発振回路 | |
| JP2002043906A (ja) | 発振停止検出回路 | |
| JP5190767B2 (ja) | モニタ回路およびリソース制御方法 | |
| WO2018225436A1 (ja) | ゲート駆動装置 | |
| US8525555B2 (en) | Power detector | |
| TWI608703B (zh) | 振盪停止檢測電路及電子機器 | |
| JP2019115166A (ja) | 半導体装置 | |
| US10037011B2 (en) | Time measuring circuit and temperature sensor circuit | |
| TWI614994B (zh) | 延遲電路、振盪電路及半導體裝置 | |
| TW201611520A (zh) | 電源電壓監視電路、及具備該電源電壓監視電路的電子電路 | |
| JP2010043927A (ja) | 半導体集積回路 | |
| KR101719098B1 (ko) | 펄스 폭 측정을 위한 회로 및 방법 | |
| JP2010093562A (ja) | 電源検出回路 | |
| JP5347460B2 (ja) | 二次電池保護用集積回路装置及び二次電池保護用集積回路装置の検査方法 | |
| JP5971604B2 (ja) | 電圧検出回路 | |
| WO2015053012A1 (ja) | 検出装置 | |
| JP2009159148A (ja) | アナログスイッチ |