TWI468783B - A cut-in wire forming device and a cut-in wire forming method - Google Patents

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TWI468783B
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Satoru Koshio
Jun Mishima
Makoto Nakaichi
Takuya Nakazono
Minoru Maeda
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Nitto Denko Corp
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Description

切入線形成裝置及切入線形成方法
本發明係有關供在光學膜層積體連續地形成切入線用之切入線形成裝置及切入線形成方法。特別是，本發明係有關讓切入線形成手段、與供取得利用該切入線形成手段被形成之切入線的形成位置的補正資訊用之檢測手段，基於補正資訊，以邊維持預先決定之相對的位置關係邊一體地移動之方式被構成之、適於使用在光學顯示裝置之連續製造系統之切入線形成裝置及切入線形成方法。
液晶顯示裝置等光學顯示裝置之製造上，從前即已採用於光學顯示裝置的製造步驟之外將從網狀光學膜事先被切出的龐大枚數的光學膜之薄片，持入光學顯示裝置的製造步驟，與另一途徑被持入製造步驟之矩形面板構件依序被貼合之、個別張貼方式。
對於這樣的個別張貼方式，被提出一種在光學顯示裝置之製造步驟，藉由在長尺網狀的載膜上中介黏接劑層連續地被支撐之複數光學膜之薄片之中，僅將不存在缺點之正常薄片，一起跟黏接劑層從長尺網狀載膜依序 剝離，中介黏接劑層使之與面板構件貼合，而連續地製造光學顯示裝置之方式。供實現這樣的方式用之製造系統，係被記載於例如專利文獻1(專利第4377964號)。
在專利文獻1所記載之製造系統，係採用長尺網狀光學膜與長尺網狀載膜中介黏接劑層被層積之光學膜層積體的卷。從卷被送料之光學膜層積體而言，藉由在根據事先被實施之缺點檢查結果而被決定的位置，將跟光學膜層積體的長邊方向正交之幅寬方向的切入線，用切入線形成手段連續地放入，而在鄰接在長邊方向的2條切入線之間，生成在長尺網狀載膜連續地被支撐之複數光學膜之薄片。光學膜之薄片，係於被支撐在長尺網狀載膜之狀態下被送入貼合位置，在從載膜被剝離之後，被貼合到面板構件。這樣的光學顯示裝置之製造系統，區別於使事先被切出的光學膜之薄片貼合到面板構件之上述個別張貼系統，而被稱作「連續張貼(RTP：Roll-to-Panel)」系統。
在RTP系統，從卷被送料之光學膜層積體，理想上其側緣部是在與裝置被訂定的本來的傳送方向(以下，簡稱光學膜層積體的「傳送方向」)平行的狀態下被傳送，但隨裝置種種不同的條件也有蛇行或斜行被傳送之場合。光學膜層積體於蛇行或斜行之狀態下被傳送到切入線被形成之位置之場合，有必要因應從光學膜層積體傳送方向的偏離狀態，在補正切入線的形成位置之後，形成切入線。
圖10係顯示在RTP系統被用於形成切入線之切入線形成機構的概要模式圖。此切入線形成機構，係具有供在光學膜層積體形成切入線用之具有切斷構件之切入線形成手段，與進行確認實際上被形成的先行的切入線的位置跟切入線應該被形成的位置之間的偏差量之切入線形成位置確認手段。切入線形成位置確認手段，係包含：在切入線形成手段的上游側進行拍攝包含光學膜層積體的側緣部的一部分之範圍的畫像之攝影手段1，在切入線形成手段的下游側進行拍攝包含光學膜層積體的側緣部的一部分和先行的切入線的一部分之範圍的畫像之攝影手段2，與處理該等畫像並生成補正資訊之控制手段。
在這構成的切入線形成機構，係根據被拍攝的畫像內之光學膜層積體的側緣部及先行的切入線的一部分之位置，與畫像內被設定之、訂定光學膜層積體傳送方向之基準線及跟此基準線正交的基準線之間的偏差資訊(在圖10，以距離α、β1、β2所示之偏差量)，生成切入線被形成的位置的補正資訊。在此，切入線被形成之位置，其概念包含對光學膜層積體的長邊方向之切入線的位置(以下，簡稱「長邊方向形成位置」)，與對光學膜層積體的側緣部之切入線的角度(以下，簡稱「形成角度」)兩者，而切入線被形成之位置的補正，係指進行補正切入線的長邊方向形成位置及形成角度而言。採用這補正資訊，切入線形成手段的切斷構件的軌道會被補正，且在光學膜層積體形成切入線。
另一方面，近年，光學顯示裝置朝小型化、薄型化及狹框緣化進展。特別是，所謂智慧型手機及輸入板(tablet)型終端等之中型或小型的行動終端，持續急速地於市場普及。在被用於該等行動終端之中型或小型的光學顯示裝置，跟TV用的大型光學顯示裝置相比，前者之面板構件與光學膜之薄片之間會被要求實現更高的貼合精確度。供提升貼合精確度用之一方法，係作為光學膜之薄片採用4個角部的直角精確度更高(亦即，方形度更高)之薄片。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特許第4377964號公報
被用於RTP系統之從前的切入線形成機構，是極有助於以TV用途等大型光學顯示裝置之製造系統作為用以從個別張貼系統轉換為RTP系統的主要技術。但是，從前的切入線形成機構之課題在於要得到方形度更高的光學膜之薄片是有困難的。
在從前的切入線形成機構，形成切入線之切入線形成手段、與構成確認被形成的切入線的位置之切入線形成位置確認手段之攝影手段，係相互獨立地被設置， 該等相對位置關係並無賦予任何關連性。因此，其課題在於即使是採用根據由利用切入線形成位置確認手段而被取得的資訊所得到的偏差量而被生成之補正資訊，補正切入線形成手段的切斷構件的軌道之場合下，實際上仍容易發生切入線被形成位置的誤差，出現切入線與側緣部之交叉角偏離直角之場合。
此外，在從前的切入線形成機構，係由光學膜層積體的單側側緣部的2處位置資訊、與側緣部和先行的切入線相交的位置之僅僅切入線的一部分之位置資訊，來進行補正資訊的生成與切入線的形成位置之確認。因此，即使在側緣部與切入線的交叉角偏離直角較大之場合，也會出現未確實捕捉到該情況之場合。再者，在從前的切入線形成機構，其課題係容易發生在檢測出先行的切入線時因光學膜的撓曲或震動造成測定誤差，或因切入線被形成位置之光學膜的撓曲或震動造成切入線形成位置的變動。
以此方式，有關利用切入線與側緣部而被畫定的光學膜薄片的角部的直角精確度，於從前的切入線形成機構方面，特別是實現被用於中型及小型光學顯示裝置之光學膜薄片所被要求的精確度之切入線的形成是困難的。在被用於中型或小型液晶顯示裝置之光學膜之薄片之場合下，跟大型液晶顯示裝置相比，由這樣的課題所產生的方形度降低對貼合精確度所帶來的影響是顯著的。
本發明之目的係提供能夠以切入線的方向對 於光學膜層積體側緣部而言成正確地直角之方式，在光學膜層積體連續地形成切入線之切入線形成裝置及切入線形成方法。
本發明之第1型態，係提供一種用以在至少長尺網狀光學膜與長尺網狀載膜中介黏接劑層而被層積之光學膜層積體，將光學膜層積體之與長邊方向正交的幅寬方向的切入線，從跟載膜相反側的面到至少達黏接劑層的面的深度連續地形成之切入線形成裝置。切入線形成裝置，係具有：切入線形成手段，進行檢測出光學膜層積體一方的側緣部之第1部分之第1檢測手段，與進行檢測出在光學膜層積體的傳送方向看來被配置在第1檢測手段的下游側、位於第1部分的下游側的側緣部之第2部分之第2檢測手段。
切入線形成裝置進而包含移動手段，移動手段係能夠邊維持切入線形成手段、第1檢測手段、與第2檢測手段預先決定的相對的位置關係、邊使之移動。預先決定的相對的位置關係，係能夠根據在切入線與一先行的切入線之間被形成的光學膜之薄片被貼合之面板構件的形狀而決定。
再者，切入線形成裝置係具有控制手段，控制手段，係能夠根據由第1部分的位置資訊和第2部分的位置資訊所求出之第1直線、與訂定光學膜層積體的傳送 方向之基準線之間的角度，以讓切入線的方向對於光學膜層積體的側緣部而言成直角之方式進行控制移動手段的驅動。第1部分的位置資訊可設為從第1部分上被選擇的1點的座標，第2部分的位置資訊設為從第2部分上被選擇的1點的座標，第1直線則是能夠連結這些點的直線。
在一實施型態，第2檢測手段係能夠進而檢測出從利用切入線形成手段被形成的切入線的位置僅僅離開預先決定的距離之一先行的切入線的一部分。再者，切入線形成裝置，係能夠進而具備進行檢測出跟一先行的切入線的上述一部分不同之另一部分之、第3檢測手段。第3檢測手段，係利用移動手段而將切入線形成手段、第1檢測手段及第2檢測手段一起邊維持預先決定的相對的位置關係邊使之移動。控制手段，係在以讓切入線的方向對於光學膜層積體的側緣部而言成直角之方式控制移動手段的驅動之後，利用第1直線、與從一先行的切入線的一部分的位置資訊和不同於該一部分的另一部分的位置資訊所求出的第2直線而被形成之交叉角之偏離直角的角度，大於預先決定的數值之場合下，能夠將以一先行的切入線當作一方的緣部之光學膜之薄片識別作為不良部位。一先行的切入線的一部分的位置資訊，可設為從這一部分上被選擇的1點的座標，另一部分的位置資訊設為從其一部分上被選擇的1點，第2直線則是能夠設為連結這些點的直線。
在一實施型態，移動手段係能夠做成具有一 體地支撐切入線形成手段、第1檢測手段、第2檢測手段及第3檢測手段之支撐部，與以讓切入線的形成位置移動在光學膜層積體的傳送方向上游側或下游側、同時改變切入線的方向和光學膜層積體的側緣部之交叉角度之方式進行驅動支撐部之支撐部驅動機構。
支撐部，係能夠具有並列地被設在光學膜層積體的幅寬方向之第1及第2支柱，與被架搭在第1及第2支柱間、支撐切入線形成手段之橫樑部。此外，支撐部驅動機構，係能夠具有供使第1支柱移動於光學膜層積體的傳送方向上游側或下游側用之第1驅動部、及供使第2支柱移動於傳送方向上游側或下游側用之第2驅動部，與連結第1驅動部和第1支柱之第1連結部、及連結第2驅動部和第2支柱之第2連結部。
第1及第2連結部各個，係讓第1及第2支柱各自分別對於所對應之第1及第2驅動部而言，以邊相對旋轉運動邊能移動於光學膜層積體的傳送方向上游側或下游側之方式被構成，同時，第1及第2連結部之一方，係以支柱與驅動部之間的相對的位置關係在和傳送方向正交的橫方向可自由地改變之方式被構成。此實施型態，係藉由以第1及第2支柱各自的移動方向及移動量成相同之方式使控制裝置控制各個第1及第2驅動部，藉由以讓切入線的形成位置移動於光學膜層積體的傳送方向上游側或下游側、第1及第2支柱各自的移動方向成相反相或移動量相異之方式使控制裝置控制各個前述第1及第2驅動 部，而構成讓切入線的方向與光學膜層積體的側緣部兩者的交叉角度改變。支撐部驅動機構，最好是進而具有供使第1及和第2連結部的另一方連結之支柱、移動於跟傳送方向正交之方向用之第3驅動部。
一實施型態，最好是在切入線的形成位置或者一先行的切入線的位置之任何一方或這雙方，進而具有按壓光學膜層積體以讓切入線的形成位置及/或一先行的切入線的位置不動之1個或複數個按壓構件。
本發明之另一型態，係提供一種用以在至少長尺網狀光學膜與長尺網狀載膜中介黏接劑層而被層積之光學膜層積體，用切入線形成手段，將該光學膜層積體之與長邊方向正交的幅寬方向的切入線，從跟載膜相反側的面到至少達黏接劑層的面的深度連續地形成之切入線形成方法。本方法係包含：將光學膜層積體的側緣部的一方之第1部分用第1檢測手段進行檢測出之第1檢測步驟，與採用在光學膜層積體的傳送方向看來被配置在第1檢測手段的下游側之第2檢測手段、將位於第1部分的下游側之光學膜層積體的第2部分進行檢測出之第2檢測步驟。
本方法進而包含移動步驟，在移動步驟，係根據從第1部分的位置資訊和第2部分的位置資訊所求出的第1直線、與訂定光學膜層積體的傳送方向之基準線兩者之間的角度，以讓切入線的方向對光學膜層積體的側緣部而言成直角之方式，邊維持切入線的形成位置、第1檢測手段的位置及第2檢測手段的位置預先決定的相對的位 置關係邊進行移動。第1部分的位置資訊可設為從第1部分上被選擇的1點的座標，第2部分的位置資訊設為從第2部分上被選擇的1點的座標，第1直線則是能夠連結這些點的直線。預先決定的相對的位置關係，係能夠根據在切入線與一先行的切入線之間被形成的光學膜之薄片被貼合之面板構件的形狀而決定。
在一實施型態，第2檢測步驟係能進而包含將從切入線的形成位置僅僅離開預先決定的距離之一先行的切入線的一部分進行檢測出之步驟。再者，本方法能夠進而包含採用邊維持切入線形成手段、第1檢測手段及第2檢測手段一起預先決定之相對的位置關係邊使之移動之第3檢測手段，將不同於一先行的切入線的上述一部分之另一部分進行檢測出之第3檢測步驟。再者，本方法能夠包含在以切入線的方向對光學膜層積體的側緣部而言成直角之方式，將切入線的形成、第1檢測手段、第2檢測手段及第3檢測手段邊維持預先決定之相對的位置關係邊使之移動之後，利用第1直線、與從一先行的切入線的一部分的位置資訊和不同於該一部分之另一部分的位置資訊所求出的第2直線而被形成的交叉角之偏離直角的角度，大於預先決定之數值之場合，將以一先行的切入線當作一方的緣部之光學膜之薄片識別為不良部位之不良部位識別步驟。一先行的切入線的一部分的位置資訊，可設為從這一部分上被選擇的1點的座標，另一部分的位置資訊設為從其一部分上被選擇的1點，第2直線則是能夠設為連結這 些點的直線。
在一實施型態，切入線形成步驟係能夠設為包含使切入線的形成位置、第1檢測手段的位置、第2檢測手段的位置及第3檢測手段的位置移動於傳送方向上游側或下游側之步驟，與使之移動以改變切入線的方向和前述光學膜層積體的前述側緣部兩者的交叉角度之步驟。
在一實施型態，本方法可在切入線的形成位置或者一先行的切入線的位置之任何一方或這雙方，進而包含按壓光學膜層積體以讓切入線的形成位置及/或一先行的切入線的位置不動之步驟。
根據本發明，能夠將以2條切入線和2個側緣部作為4邊之方形度更高之光學膜薄片在載膜上連續地生成。藉由採用這樣的光學膜薄片，可以更為提高光學膜薄片與面板構件兩者之貼合精確度，製造出對應於更小型、狹窄的表框(bezel)之光學顯示裝置。
PL‧‧‧光學膜層積體
OP‧‧‧長尺網狀光學膜
A‧‧‧黏接劑層
C‧‧‧長尺網狀載膜
R‧‧‧光學膜層積體的卷
D‧‧‧膜驅動手段
S‧‧‧速度調整手段
1‧‧‧切入線形成裝置
10‧‧‧切入線形成手段
11‧‧‧切斷構件
12‧‧‧切斷構件驅動馬達
13‧‧‧導螺桿
14、16‧‧‧驅動馬達
15‧‧‧行進導引
17‧‧‧台座
18、19‧‧‧按壓構件
20‧‧‧第1檢測手段
22‧‧‧第2檢測手段
24‧‧‧第3檢測手段
30‧‧‧移動手段
40‧‧‧支撐部
42‧‧‧主框
43‧‧‧橫樑部
43a、43b‧‧‧橫樑部的端部
44、45、46‧‧‧臂部
48a‧‧‧第1支柱
48b‧‧‧第2支柱
50‧‧‧支撐部驅動機構
51a‧‧‧第1驅動部
51b‧‧‧第2驅動部
51ma、51mb‧‧‧驅動馬達
51sa、51sb‧‧‧導螺桿
51na、51nb‧‧‧螺帽構件
51ja、51jb‧‧‧導螺桿軸承
52‧‧‧第3驅動部
52m‧‧‧驅動馬達
52s‧‧‧導螺桿
52n‧‧‧螺帽構件
52j‧‧‧導螺桿軸承
53a‧‧‧第1連結部
54a‧‧‧第1傳送方向可動平台
55a‧‧‧第1橫方向可動平台
59a‧‧‧第1軸承
53b‧‧‧第2連結部
54b‧‧‧第2傳送方向可動平台
55b‧‧‧第2橫方向可動平台
59b‧‧‧第2軸承
70a、70b、72a、72b‧‧‧行進導引
71a、71b、73a、73b‧‧‧行進軌道
100‧‧‧控制手段
102‧‧‧資訊處理手段
104‧‧‧記憶手段
圖1係顯示依照本發明實施型態之包含切入線形成裝置、供切入線形成用之機構之概略的側面圖。
圖2係顯示依照本發明實施型態之切入線形成裝置之概略的斜視圖。
圖3係用以具體地說明切入線形成裝置的動作之模式圖。
圖4係用以具體地說明切入線形成裝置的動作之模式圖。
圖5係用以具體地說明切入線形成裝置的動作之模式圖。
圖6係依照本發明實施型態之切入線形成方法之控制流程圖。
圖7係用以說明切入線的形成方法之模式圖。
圖8係用以說明求出光學膜層積體的傾斜角度的方法之模式圖。
圖9係用以說明確認被形成的切入線角度的方法之模式圖。
圖10係用以說明以前的切入線形成機構之模式圖。
以下，針對關於本發明之切入線形成裝置及切入線形成方法詳細地加以說明。
關於本發明之切入線形成裝置及方法，係可以用於將供畫定連續地被支撐在長尺網狀載膜上之複數光學膜之薄片用之切入線、連續地形成在光學膜層積體者，特別是適合用於供製造中型及小型光學顯示裝置用之RTP系統。若採用關於本發明之切入線形成裝置，則能夠將切入線的方向設為對光學膜的側緣部而言成直角。利用關於本發明 之切入線形成裝置及方法連續地被形成之切入線之間的光學膜薄片，係能夠於被支撐在長尺網狀載膜上之狀態下，一直被送到與面板構件的貼合位置，且在和黏接劑層一起從長尺網狀載膜被剝離之後，利用黏接劑層使之與面板構件高精確度地貼合。
在RTP系統採用關於本發明之切入線形成裝置之場合，例如專利文獻1之說明書或圖面所揭示，在切入線形成裝置之前步驟，可以設置裝配長尺網狀光學膜層積體的卷之支架裝置、從卷將光學膜層積體連續地進行送料之送料裝置、讀取事先被記錄在光學膜層積體上的已編碼缺點資訊之讀取裝置、調整膜的傳送速度之速度調整裝置等等裝置。通過這些裝置之光學膜層積體會被送入切入線形成裝置。其次，光學膜層積體係從切入線形成裝置被送出至後步驟。在切入線形成裝置的後步驟，可以設置調整膜的傳送速度之速度調整裝置、將有缺點的光學膜之薄片從長尺網狀載膜進行排除之排除裝置、將沒有缺點的光學膜薄片從長尺網狀載膜進行剝離使之貼合至面板構件之貼合裝置、將長尺網狀載膜予以捲取之捲取驅動裝置等等裝置。
〔切入線形成裝置之構成〕
圖1係顯示依照本發明一實施型態之包含切入線形成裝置1供切入線形成用之機構之概略的側面圖。圖2係顯示依照本發明一實施型態之切入線形成裝置1之概略的斜 視圖。在圖1及圖2之任一圖，光學膜層積體PL(圖2係以二點鏈線表示)都是朝利用圖中箭頭所示之方向被傳送。此方向，係光學膜層積體PL的網在裝置被訂定之本來的方向無蛇行或斜行地被傳送時的朝向，如上述稱作「傳送方向」。此外，將與傳送方向正交之方向稱作「橫方向」。切入線形成裝置1，係具有：形成切入線之切入線形成手段10、檢測出光學膜層積體PL的側緣部及切入線之檢測手段20、22、24、使切入線形成手段10及檢測手段20、22、24一體地移動之移動手段30、與控制這些各個手段的動作之控制手段100。又，在圖2，控制手段100被省略。
在切入線形成裝置1切入線被形成之光學膜層積體PL可以是包含長尺網狀光學膜OP、與中介黏接劑層A和該長尺網狀光學膜OP被接合之長尺網狀載膜C之層積體。長尺網狀光學膜OP，可以是單層膜，也可以是接合2種類以上光學膜(例如偏光子及位相差膜)之多層膜。
如圖1所示，光學膜層積體PL，係被準備做成具有幅寬對應於面板構件的長邊或短邊之一方的長度之卷R。從卷R被送料之光學膜層積體PL，係例如經過將光學膜層積體PL進行送料之饋送輥等之膜驅動手段D、調整膜傳送的速度之張力調節輥等之速度調整手段S等，而被送入切入線形成裝置1。在被送入切入線形成裝置1之光學膜層積體，利用切入線形成手段10在台座17上被 形成切入線。切入線，從跟載膜C相反側的面到達至少黏接劑層A的面(亦即，載膜C與黏接劑層A之邊界面)之深度為止被形成在光學膜層積體PL的幅寬方向。切入線形成時，光學膜層積體PL係朝傳送方向下游側被傳送僅僅預先決定之距離，形成下一條切入線。該預先決定的傳送距離，係對應於被光學膜層積體之薄片PS貼合之面板構件的長邊或短邊之另一方的長度。在本說明書，將利用切入線形成手段10而被形成、位於台座17上之切入線，設為切入線CL1(在圖2以一點鏈線表示)，將位於切入線CL1的傳送方向下游側之切入線設為一先行之切入線CL2(在圖2以點線表示)。
<切入線形成手段>
切入線形成裝置1的切入線形成手段10，可以做成包含切斷構件11、使切斷構件11驅動之切斷構件驅動馬達12、供使切斷構件11的位置向上向下用之導螺桿13及驅動馬達14，以及，供使切斷構件11在橫方向移動用之導引15及驅動馬達16。切入線形成手段10，如圖1所示，係利用依據控制手段100之控制，動作成在光學膜PL形成切入線CL1。具體而言，利用來自控制手段100的資訊處理裝置102之控制訊號，讓驅動馬達14動作使導螺桿13旋轉成讓切斷構件11降下到指定位置為止，讓切斷構件驅動馬達12動作使切斷構件11旋轉，讓驅動馬達16動作使切斷構件11在橫方向移動。
切斷構件11最好是採用圓盤狀刃物，但並不受限於此，也可以採用例如雷射切割裝置等其他手段。切入線形成手段10之各個驅動馬達，最好是可以更高精確度地進行切入線形成，而以採用伺服馬達更佳。又，在本實施型態的切入線形成裝置1的各部所採用之驅動馬達也同樣地，考慮要實現切入線形成所要求之精確度，而以採用可以更為提高依據驅動馬達之各部的驅動控制的精確度之伺服馬達更佳。
<檢測手段>
在本發明，利用切入線形成手段10而被形成之切入線CL1的位置，亦即，切入線CL1的傳送方向形成位置及形成角度，係用補正資訊而被補正。補正資訊，係根據利用檢測手段被檢測出之光學膜層積體PL的幅寬方向的側緣部的位置與一先行的切入線CL2的位置而被生成。在本實施型態之切入線形成裝置1，檢測手段，如圖2所示，係能採用至少3個檢測手段，亦即，第1檢測手段20、第2檢測手段22、及第3檢測手段24。檢測手段20、22、24，較好是採用攝影手段用攝影機與照明進行攝影指定範圍的畫像，但並不受限於此，也可以採用例如雷射式、超音波式等之邊緣感應裝置(edge sensor)。以下，以採用攝影手段作為檢測手段之實施型態為例加以說明本發明。
第1檢測手段20，係能夠拍攝光學膜層積體 PL的至少一方的側緣部之、具有長度的一部分之第1部分E1的畫像。利用第1檢測手段20被拍攝之側緣部的第1部分E1，如圖2所示，以包含光學膜層積體PL的側緣部與切入線CL1兩者交點之位置之側緣部的一部分較佳。但是，利用第1檢測手段20被拍攝的第1部分E1並不受限定於圖2所示之位置，只要是比一先行的切入線CL2的位置更在傳送方向上游側之任何一部分即可。包含第1部分E1之畫像，係被送到控制手段100。
第2檢測手段22，係被配置在光學膜層積體PL的傳送方向看來第1檢測手段的下游側。第2檢測手段22，係能在與利用第1檢測手段20被拍攝之第1部分相同側之側緣部，拍攝包含側緣部與一先行的切入線CL2兩者交點之、包含具有長度之一部分之第2部分E2之畫像。利用第2檢測手段22之畫像，也包含具有切入線CL2的長度之一部分CL2-1(請參照圖7)。包含被檢測出的第2部分E2及切入線CL2的一部分CL2-1之畫像，係被送到控制手段100。
第3檢測手段24，係能拍攝與利用第2檢測手段22被拍攝之切入線CL2之一部分CL2-1不同之、包含具有長度之其他某一部分CL2-2之畫像(請參照圖7)。被拍攝之一部分CL2-2，以在與利用第1及第2檢測手段被拍攝的側緣部相反側之側緣部，包含側緣部與一先行的切入線CL2兩者交點之一部分較佳。包含被拍攝之切入線CL2之另外一部分CL2-2之畫像，係被送到控 制手段100。
在利用第1、第2及第3檢測手段20、22、24而取得之畫像內，係用圖7以後述之方式，被設定第1基準線及第2基準線。此設定，可以在事先訂定檢測手段20、22、24各個與切入線形成手段10之間相對的位置關係時(在以下，於移動手段說明之部分予以說明)進行。第1基準線，係在假定光學膜層積體PL並不蛇行或斜行，而以一致於裝置所訂定之傳送方向之方式被送到切入線形成裝置1之場合下，在拍攝光學膜層積體PL時在畫像內存在之與側緣部平行的線。亦即，第1基準線係訂定光學膜層積體的傳送方向之線。
此外，第2基準線，係假設在光學膜層積體PL並未蛇行或斜行而以一致於裝置所訂定之傳送方向之方式被送到切入線形成裝置1，對光學膜層積體PL的側緣部而言在直角形成切入線，再者，之後讓光學膜層積體PL在傳送方向下游側僅被送到預先決定之傳送距離之場合下，在拍攝光學膜層積體PL時畫像內所存在之與一先行的切入線平行的線。亦即，第2基準線係訂定一先行的切入線的方向之線。第1基準線與第2基準線為相互正交之關係。第1及第2基準線，可以被設定在畫像內之某個位置，例如，也可以設定成通過畫像內的中心點。
在本發明之切入線形成裝置1，係將第1基準線、與利用第1及第2檢測手段20、22被拍攝之側緣部的一部分兩者之間的偏差量求出，在偏差存在之場合下根 據這些偏差量而生成補正資訊，採用此補正資訊，讓利用切入線形成手段10被形成之切入線CL1的方向，被控制成對光學膜層積體PL的側緣部而言成直角。此外，根據第2基準線、與利用第3檢測手段24被拍攝之切入線的一部分兩者之間的偏差量，進行切入線形成角度的檢查。針對偏差量及補正資訊的生成以及形成角度的檢查詳細敘述於下。
圖2所示之檢測手段的數量，係在解決本發明之課題時所必要最小限之數量，欲使檢測精確度進而提升，也可以在切入線形成裝置1設置再1個或複數個檢測手段。例如，切入線形成裝置1，也可以做成具備第4檢測手段及第5檢測手段之裝置。該場合下，第4檢測手段，例如，最好是在第1檢測手段20與第2檢測手段22之間，檢測出光學膜層積體PL的側緣部的一部分。此外，第5檢測手段，例如，最好是在第2檢測手段22的傳送方向下游側，檢測出光學膜層積體PL的側緣部的一部分。
<移動手段>
在本發明，係可以根據側緣部及切入線與基準線之間的偏差量，進行補正切入線CL1被形成之位置。切入線CL1被形成的位置的補正，係可藉由採用根據偏差量被生成之補正資訊，改變切斷手段11行進的軌道對側緣部之角度、與因應必要改變切入線形成手段10的傳送方向的 位置而被實現。在本發明之實施型態，切入線形成手段10係能利用移動手段30而移動。
在從前的切入線形成裝置，如前述，供形成切入線用之手段與供檢測出切入線的位置用之手段是相互獨立被設置的，因此，其課題在於特別是要實現對中型及小型光學顯示裝置採用的光學膜薄片被要求之直角精確度之切入線的形成是困難的。為了解決此課題，在本發明，係在將檢測出實際上被送去切入線形成裝置之光學膜層積體的側緣部及切入線之檢測手段各個、與形成切入線的切入線形成手段之相對的位置關係事先訂定下來，根據側緣部及切入線與基準線之間的偏差量使切入線形成手段移動之場合下，被構成使檢測手段各個與切入線形成手段於該等的相對的位置關係被維持之狀態下移動。欲實現該構成，在本發明之一實施型態，移動手段30係可以做成具有將切入線形成手段10及第1~第3檢測手段20、22、24一體地支撐之支撐部40，與採用根據偏差量被生成之補正資訊使支撐部40移動之支撐部驅動機構50。
以下，具體地說明移動手段30的構成。圖3~圖5係用以具體地說明移動手段30的構成及動作之模式圖。在本實施型態，移動手段30的支撐部40，如圖2所示，係包含朝下ㄇ字型的主框42與臂部44。主框42，係具有並列被設在橫方向之第1支柱48a及第2支柱48b，與在光學膜層積體PL的上方架搭於第1及第2支柱48a、48b之間、安裝切入線形成手段10的行進導引15 之橫樑部43。臂部44，係從第1及第2支柱48a、48b之一方(圖2係第2支柱48b)延伸到光學膜層積體PL的傳送方向下游側、支撐第1、第2及第3檢測手段20、22、24。第1檢測手段20，係被設在從臂部44的途中在橫方向延伸之臂部45。第2及第3檢測手段22、24，係被設在從臂部45的位置進而延伸至傳送方向下游側之從臂部44的端部、在橫方向延伸之臂部46。為了本發明之目的，橫樑部43的長邊方向與臂部44之間的角度、臂部44與臂部45及臂部46之間的角度被構成直角是必要。
臂部44與主框42之接續位置，並不受限於第2支柱48b，也可以是例如橫樑部43的端部43b或第1支柱48a。此外，臂部44，最好是被構成以在補正切入線被形成的位置時主框42移動之場合下，即使因該移動時的震動也不會造成彎曲(亦即，不改變切入線形成手段10與檢測手段20、22、24之間的相對的位置)之方式，具有高強度的構件及構造。
此外，若是能夠在維持切入線形成手段10、與第1、第2及第3檢測手段20、22、24預先決定的相對的位置關係下、使該等移動，也可以不設置支撐第1、第2及第3檢測手段20、22、24之臂部44。例如，也能做成將切入線形成手段與檢測手段各個分別用不同個框予以支撐，同時，分別設置不同個對應於切入線形成手段與檢測手段各個之驅動部。在這樣的構成，在使切入線形成手段與檢測手段各個移動之場合下，係利用控制手段，以 在維持切入線形成手段與檢測手段各個預先決定之相對的位置關係下進行移動之方式，控制各個驅動部即可。
在此，檢測手段20、22、24各個與切入線形成手段10之間的相對的位置關係，最好是根據被光學膜薄片貼合之面板構件的形狀，以例如以下方式被預先決定。首先，準備具有對準標記(alignment mark)之面板構件。對準標記，係為了在光學顯示裝置的製造步驟讓種種構件對齊，而被配置在面板構件的4隅之標記。該對準標記的位置，就成為供訂定檢測手段20、22、24的相對的位置關係用之基準。其次，以讓各個對準標記放入檢測手段20、22、24各自的拍攝範圍之方式，在切入線形成裝置1配置面板構件。其次，進行計測檢測手段20、22、24的拍攝範圍的中心、與面板構件的對準標記的位置兩者的偏差量。最後，根據這偏差量，以各個對準標記與各個所對應之拍攝範圍的中心重疊之方式，補正各檢測手段的位置。各個檢測手段的位置的補正，例如，以採用被設在臂部45、46之伺服馬達等驅動馬達而進行較佳。以此方式，根據訂定切入線形成手段10與檢測手段20、22、24之相對的位置關係，在從上方來看裝置1時，利用切斷構件11的軌道、與連結檢測手段20、22、24的視野中心之線被形成之四角形，其4個角部成為直角。
支撐部驅動機構50，被構成可以使支撐部40移動。在本實施型態，支撐部驅動機構50係可以具有第1驅動部51a及第2驅動部51b、第3驅動部52、與連結 第1、第2及第3驅動部和支撐部40之第1連結部53a及第2連結部53b。在此，針對被附以各構成要素參照數字之字母而言，被附上「a」的構成要素係表示將光學膜層積體PL從上方(亦即，從圖2紙面的上方)來看時位於傳送方向右側之構成要素；被附上「b」的構成要素則同樣地表示位於傳送方向左側之構成要素。第1及第2驅動部51a、51b係在橫方向並列地被設置，如圖2及圖3(a)所示，各自由驅動馬達51ma、51mb、利用這些驅動馬達所旋轉之導螺桿51sa、51sb、在這些導螺桿螺合並將導螺桿的旋轉運動變換成直線運動之螺帽構件51na、51nb、與對驅動馬達而言在導螺桿的相反側支撐導螺桿的端部之軸承51ja、51jb所構成。圖3(a)係僅顯示第1驅動部51a，而第2驅動部位51b可以做成具有與圖3(a)所示的構造相同構造之部位，或者，也可以做成具有構造在橫方向對稱於圖3(a)所示的構造之部位。
第3驅動部52，在本實施型態，係被設在第1及第2驅動部51a及51b任何一方之側。第3驅動部52，如圖2及圖4(a)所示，係由驅動馬達52m、利用驅動馬達所旋轉之導螺桿52s、將導螺桿的旋轉運動變換成直線運動之螺帽構件52n、與對驅動馬達而言在導螺桿的相反側支撐導螺桿的端部之軸承52j所構成。
第1驅動部51a、與支撐部40之主框42的第1支柱48a，係利用第1連結部53a而被連結起來。此外，第2驅動部51b及第3驅動部52、與主框42的第2 支柱48b，係利用第2連結部53b而被連結起來。如圖2~圖4所示，第1連結部53a係具有第1傳送方向可動平台54a、第1橫方向可動平台55a、與第1軸承59a。第2連結部53b，係具有第2傳送方向可動平台54b、第2橫方向可動平台55b、與第2軸承59b。第1及第2傳送方向可動平台54a、54b，係分別在下面安裝著螺帽構件51na、51nb，可以藉由使驅動馬達51ma、51mb驅動令導螺桿51sa、51sb旋轉，中介螺帽構件51na、51nb，而朝圖3(a)所示之箭頭方向(光學膜層積體PL的傳送方向)自由地移動。利用這樣的構成，就能夠精確度佳地控制第1及第2傳送方向可動平台54a、54b之移動量。
最好是，在第1及第2傳送可動平台54a、54b的下面安裝行進導引70a、70b；行進導引70a、70b，係在與導螺桿52sa、52sb平行地被配置於裝置1的支撐台上之行進軌道71a、71b上，可自由滑動地被保持著。利用此構成，就能夠精確度更佳地控制第1及第2可動平台54a、54b之移動量。一個可動平台所對應之行進導引及行進軌道之數量，也可以是複數個。
如圖4(a)所示，在第1及第2傳送方向可動平台54a、54b的一方(本實施型態，為第2傳送方向可動平台54b)之上，安裝著第3驅動部52之驅動馬達52m及軸承52j。此外，在第2橫方向可動平台55b的下面，安裝著第3驅動部52的螺帽構件52n。從而，第2橫方向可動平台55b，係能夠藉由使驅動馬達52m驅動令 導螺桿52s旋轉，中介螺帽構件52n，而朝圖4(a)所示之箭頭方向(與傳送方向正交之橫方向)自由地移動。利用這樣的構成，就能夠精確度佳地控制第2橫方向可動平台55b的移動量。
最好是，在第2橫方向可動平台55b的下面安裝行進導引72b；行進導引72b，係在與導螺桿52s平行地被配置於第2傳送方向可動平台54b上之行進軌道73b上，可自由滑動地被保持著。利用此構成，就能夠精確度更佳地控制第2橫方向可動平台55b的移動量。第2橫方向可動平台55b所對應之行進導引及行進軌道之數量，也可以是複數個。
在本實施型態，第1橫方向可動平台55a的下面，如圖4(b)所示，係安裝著行進導引72a；行進導引72a係在安裝於第1傳送方向可動平台54a上之行進導引軌道73a上可自由滑動地被保持著。第1橫方向可動平台55a，由於並未與第3驅動部52之類的驅動部接續，所以，相對於第1傳送方向可動平台54a而言，可以在橫方向自由地移動。
第1及第2橫方向可動平台55a、55b、與主框43的第1及第2支柱48a、48b，分別係中介第1及第2軸承59a、59b而被接續著。藉由以此方式使第1及第2軸承59a、59b中介存在，第1及第2支柱48a、48b，能夠以第1及第2軸承59a、59b的2個軌道輪的軸心作為旋轉軸，使之相對於第1及第2橫方向可動平台而言進行 相對旋轉運動。
以下，利用以上述方式被構成之支撐部驅動機構50，說明支撐部40是如何進行移動。首先，在以驅動馬達51ma、51mb的旋轉數成為相同、且旋轉方向成為相同方向之方式，控制驅動馬達51ma、51mb的驅動之場合下，如圖3(b)所示，第1及第2連結部53a、53b之第1及第2可動平台54a、54b(亦即第1及第2支柱48a、48b)，係朝相同方向僅移動相同距離。從而，支撐部40的橫樑部42，係中介被連結到各個第1及第2連結部53a、53b之第1及第2支柱48a、48b，而在光學膜層積體PL的傳送方向上游側或下游側移動。做成此方式，就可以控制利用沿著橫樑部42移動之刃物11被形成之切入線的長邊方向形成位置。
其次，在以驅動馬達51ma、51mb的旋轉數成為相同、且旋轉方向成為相反方向之方式，控制驅動馬達51ma、51mb的驅動之場合下，第1及第2連結部53a、53b之第1及第2可動平台54a、54b(亦即第1及第2支柱48a、48b)，係朝相反方向僅移動相同距離。從而，支撐部40的橫樑部42，如圖5(a)所示方式，係成為以橫樑部42通過長邊方向的中點與短邊方向的中點兩者的焦點之軸作為中心進行旋轉。做成此方式，就可以控制利用沿著橫樑部42移動之刃物11被形成之切入線的形成角度。
可是，本發明，根據側緣部及切入線CL2各 個離基準線的偏差量，在維持切入線形成手段10與檢測手段20、22、24之相對的位置關係下，更正確且快速地補正切入線CL1被形成的位置(亦即，切入線的長邊方向形成位置及形成角度)，這是必要的。因為供此位置補正用之移動量是微少的，所以當以上述方式經常使橫樑部42的僅僅一個軸作為中心進行旋轉時，從旋轉軸讓距離拉開的檢測手段的移動量變大，結果，會有正確且快速的補正變得困難之場合。從而，做成在從上方來看裝置1時利用連結切斷構件11的軌道與檢測手段20、22、24各個的視野中心之線而被形成之四角形的面(以下，稱作「旋轉平面」)，會因應側緣部及切入線CL2各個離基準線之偏差量，能夠以與旋轉平面正交之任意的軸為中心進行旋轉這樣較佳。於是，本實施型態之切入線形成裝置1，係採用以上述方式，用與第3驅動部52連結、並藉驅動馬達52m而被驅動之第2橫方向可動平台55b、與在橫方向可以自由地移動的第1橫方向可動平台55a之構成。
例如，在以驅動馬達51ma、51mb之旋轉方向成相反向、驅動馬達51ma的旋轉數成為大於驅動馬達51mb的旋轉數之方式，控制驅動馬達51ma、51mb的驅動，同時，控制不使驅動馬達52m驅動之場合下，如圖5(b)所示，第2橫方向可動平台55b的橫方向的位置會被固定，而被構成在橫方向可以自由地移動之第1橫方向可動平台55a，則是邊讓軌道描繪出圓弧邊移動於傳送方向上游側或下游側。在此場合下，旋轉平面，成為回應於 驅動馬達51ma的旋轉數與驅動馬達51mb的旋轉數兩者的差，以比光學膜層積體PL的傳送方向的中央線更接近第2橫方向可動平台55b之任一位置當作軸而進行旋轉。
相反地，例如，在欲以比光學膜層積體PL的傳送方向的中央線更接近第1橫方向可動平台55a之任一位置當作軸而使旋轉平面旋轉之場合下，以讓驅動馬達51ma、51mb的旋轉方向成為相反方向、驅動馬達51mb的旋轉數大於驅動馬達51ma的旋轉數之方式，控制驅動馬達51ma、51mb的驅動，同時，於第1橫方向可動平台55a的橫方向的位置不移動之狀態下以讓第2橫方向可動平台55b的軌道描繪出圓弧之方式，控制驅動馬達52m的驅動即可。
<按壓構件>
關於本發明之切入線形成裝置，係可以藉由控制在利用切入線形成手段10讓切入線被形成之位置或一先行的切入線的位置之光學膜層積體的撓曲或震動，而精確度更高地形成切入線。因而，本發明之一實施型態，最好是在切入線CL1被形成的位置及/或一先行的切入線CL2的位置，採用按壓光學膜層積體之按壓構件，以抑制光學膜層積體的撓曲或震動。按壓構件，如圖1及圖2所示，最好是在光學膜層積體的長邊方向看來被設置在或切入線CL1的前後，或一先行的切入線CL2的前後，或者這雙方。
按壓構件的型態及種類並無特別受限定，能 夠抑制光學膜層積體的撓曲及震動者即可。按壓構件，例如，可以採用膜夾具，或者按壓輥與抱輥的組合等。膜夾具，係藉由利用夾具驅動機構被驅動，而能夠切換開狀態或閉狀態，在夾具閉狀態時，將光學膜層積體的雙面、跨過該幅寬方向全體而夾入之物。此外，按壓輥及抱輥的組合，如圖7所示，係藉由採用跨過光學膜層積體的幅寬方向全體將切入線的位置從載膜側的面予以按壓之抱輥、與將切入線的前後從和載膜相反側的面予以按壓之1對按壓輥，而能夠抑制光學膜層積體的撓曲及震動。
<控制手段>
依照本發明的實施型態之切入線形成裝置1的各個手段、構成要素、及機構的動作的控制，以及這些動作所必要的演算及處理，如圖1所示，係利用具有記憶裝置104及資訊處理裝置102之控制手段100而進行。控制切入線形成裝置1的各個手段、構成要素、及機構的動作所用之資料(例如，所謂有關光學膜層積體PL側緣部的位置之資訊、有關切入線的位置之資訊、從這些位置的基準位置之偏差量等種種資料)、演算及處理所必要的資料，以及演算結果及處理結果等，係被收納到控制裝置100所包含之記憶裝置104，因應必要，而於記憶裝置104與資訊處理裝置102之間被進行寫入/讀出。依照控制手段100之控制的內容，係如圖6所示。
〔切入線形成方法〕
其次，加以說明採用依照本發明之一實施型態之切入線形成裝置1之切入線形成方法。圖6係顯示利用切入線形成裝置1形成切入線之步驟之概略的流程圖。圖7係用以說明依照切入線形成裝置1之切入線形成位置的補正方法的概要之模式圖。圖8係用以說明求出光學膜層積體PL的傾斜角度之方法之模式圖；圖9係用以說明確認被形成的切入線的角度的方法之模式圖。
在使切入線形成裝置1動作之前，就決定支撐部40之切入線形成手段10、與第1、第2及第3檢測手段20、22、24之相對的位置關係(圖6之s1)。位置關係的決定方法，係如上述的移動手段30的說明之相關記載。在相對位置被決定之後，利用各個檢測手段在畫像內設定第1及第2基準線。
其次，利用切入線形成裝置1形成切入線之步驟，係藉由從光學膜層積體PL的卷R讓光學膜層積體PL利用膜驅動手段D被送料而開始(s2)。被送料之光學膜層積體PL，係經過例如速度調整手段S等，而被傳送到切入線形成裝置1為止(s3~s5)。
切入線形成裝置1，係在被送入的光學膜層積體PL，形成從與載膜C相反側的面至少達到黏接劑層A的面為止的深度的切入線。於此，係設想在利用切入線形成裝置1的切入線形成手段10形成切入線之後，讓光學膜層積體PL僅被傳送到預先決定的距離之傳送方向下游 側、為了下一條切入線的形成而讓傳送停止之時點下的狀態，並說明步驟。圖1及圖2，係表示這時點下的狀態。在切入線CL1的形成位置及/或一先行的切入線CL2的位置，採用按壓構件之場合下，最好是於這時點下使按壓構件動作(s6)。
在步驟s7，光學膜層積體PL的一方的側緣部(本實施型態，係如圖7所示，在光學膜層積體PL的傳送方向看來左側的側緣部)，是利用第1檢測手段20及第2檢測手段22而被檢測出。第1檢測手段20係能夠檢測出側緣部的第1部分E1(圖7)，而第2檢測手段22可以檢測出側緣部的第2部分E2(圖7)。第1及第2部分E1及E2的檢測，例如，可以藉由搜尋利用檢測手段被取得的畫像全體的明亮度、將對比差大的場所辨識作為線分，而進行。其次，如圖8所示，以畫像內之任何點(通常為畫像的中心，但並不限定於此)當作原點，算出被檢測出的第1及第2部分E1及E2各自的任意1點的座標。這些的1點，最好是設為通過畫像內的原點、與第1基準線正交之原點軸線、與跟第1及第2部分E1及E2之交點(在圖8，以座標(0，y1)及(0，y3)表示之點)。這座標，就當作第1及第2部分E1及E2的位置資訊，被收納到記憶裝置104。
其次，在步驟s8，傳送停止下來的光學膜層積體PL的一先行的切入線CL2，是利用第2檢測手段22而被檢測出。第2檢測手段22，如圖7所示，係可以檢 測出一先行的切入線CL2的一部分CL2-1。切入線CL2的一部分CL2-1的檢測，係與側緣部的第1及第2部分E1、E2的檢測同樣地，可以例如利用對比差而進行。其次，如圖8所示，以畫像內之任何點(通常為畫像的中心，但並不限定於此)當作原點，算出被檢測出的切入線CL2的一部分CL2-1上的任意1點的座標。這點，最好設為通過畫像內的原點、和第2基準線正交的原點軸線、與被檢測出的切入線的一部分CL2-1兩者的交點(在圖8，以座標(x1，0)表示)。這座標，就當作切入線CL2的一部分CL2-1的位置資訊，而被收納到記憶裝置104。
其次，算出連結第1部分E1上的1點和第2部分E2上的1點之直線(簡稱此為第1直線)與第1基準線兩者之間的角度，亦即，從光學膜層積體PL的傳送方向的側緣部的傾斜角度。具體而言，首先，求出第1部分E1與第1基準線之間的距離β1。距離β1，係從第1部分E1的位置資訊、與第1基準線的位置資訊被求出。第1基準線的位置資訊，可以設為通過畫像內的原點、和第1基準線正交的原點軸線、與第1基準線兩者的交點的座標(在圖8，以座標(0，y2)表示)。同樣地，從第2部分E2的位置資訊、與第1基準線的位置資訊，求出第2部分E2與第1基準線之間的距離β2。在此也同樣地，第1基準線的位置資訊，可以設為通過畫像內的原點、和第1基準線正交的原點軸線、與第1基準線兩者的交點的座標。其次，用這些距離β1及β2、與第1檢測手段20 及第2檢測手段22的原點間距離γ1，根據以下的數式，算出從光學膜層積體PL的傳送方向的側緣部的傾斜角度θ。這傾斜角度θ，就當作用以生成切入線的形成角度的補正資訊之資料，而被記憶在記憶手段。
此外，資訊處理手段102，在光學膜層積體PL的傳送方向的偏差存在之場合下，係從切入線的一部分CL2-1的位置與第2基準線的位置，算出該偏差量。如圖7所示，可以從一先行的切入線CL2的一部分CL2-1的位置資訊、與第2基準線的位置資訊，求出一部分CL2-1與第2基準線之間的距離α1，將此距離α1設為偏差量。第2基準線的位置資訊，可以設為通過畫像內的原點、和第2基準線正交的原點軸線、與第2基準線兩者的交點的座標(在圖8，以座標(x2，0)表示)。這距離α1，就當作用以生成切入線的長邊方向形成位置的補正資訊之資料，而被記憶在記憶手段。
其次，在步驟s9，判定上述的傾斜角度θ及/或距離α1存在與否。在傾斜角度θ及/或距離α1存在之場合下，在步驟s10及s11，從被算出的傾斜角度θ、距離α1，算出補正資訊，依從這些補正資訊而讓驅動馬達51ma、51mb進行驅動。補正資訊，係第1及第2驅動部 51a、51b各自的驅動馬達51ma、51mb的旋轉數及旋轉方向、以及因應必要之第3驅動部52的驅動馬達52m的旋轉數及旋轉方向。結果，切入線的形成位置、第1檢測手段的位置、第2檢測手段的位置及第3檢測手段的位置，就以邊維持預先決定的相對的位置關係邊補正切入線形成手段10的刃物11的軌道之方式，來控制移動手段30。
根據傾斜角度θ及距離α1，在移動手段30移動之後，因應必要而反覆進行步驟s7~s11，於傾斜角度θ及/或距離α1成為不存在之時點下，在步驟s12進行切入線CL1的形成。在另一實施型態，切入線CL1的形成，也可以做成在後述之步驟14、亦即一先行的切入線CL2的形成角度的確認結束後而進行。
其次，在步驟s13及s14，進行利用一先行之切入線CL2、與光學膜層積體PL的側緣部被形成之交叉角偏離直角與否之檢查。這檢查係如以下方式進行。首先，光學膜層積體PL之一先行的切入線CL2，是利用第3檢測手段24而被檢測出。利用第3檢測手段24而被檢測出之部分，如圖7所示，係與利用第2檢測手段22而被檢測出之一部分CL2-1不同之一部分CL2-2。不同的一部分CL2-2的檢測，係與一先行的切入線的一部分CL2-1的檢測同樣地，能夠利用例如對比差而進行。其次，如圖9所示，以畫像內之任何點(通常為畫像的中心，但並不限定於此)當作原點，算出被檢測出的切入線CL2的一部分CL2-2的任意1點的座標。任意的1點，例如，可以 設為通過畫像內的原點、和第2基準線正交的原點軸線、與被檢測出的切入線的一部分CL2-2兩者的交點(在圖9，以座標(x3，0)表示)。這座標，就當作切入線CL2的一部分CL2-2的位置資訊，而被收納到記憶裝置104。
其次，求出一先行的切入線CL2與光學膜層積體PL的側緣部兩者的角度θ’、判斷角度θ’與直角的偏離角度δ是否小於預先決定之容許值。這容許值，可以因應為了達成與面板構件的必要的貼合精確度而要求光學膜薄片之直角度的精確度，而訂定。角度θ’，係利用連結一先行的切入線CL2的一部分CL2-1上的1點和CL2-2上的1點之直線(將此簡稱第2直線)、與側緣部而被形成之交叉角的角度。於這時點，上述的步驟s10及s11之結果，由於第1直線與第1基準線成為平行、上述的距離α1成為0，所以，角度δ可以用不同於切入線CL2的一部分CL2-2上的1點與第2基準線兩者的距離α2而求出。距離α2，可以從切入線CL2的一部分CL2-2的位置資訊與第2基準線的位置資訊而求出。第2基準線的位置資訊，可以設為通過畫像內的原點、和第2基準線正交的原點軸線、與第2基準線兩者的交點的座標(在圖9，以座標(x2，0)表示)。其次，用距離α2、與第2檢測手段22及第3檢測手段24的原點間距離γ2，利用以下的數式，算出角度δ。角度δ，則被收納在記憶裝置104。
在角度δ大於預先決定的容許值之場合下，以一先行的切入線CL2作為前緣部之光學膜之薄片、亦即在切入線CL1和切入線CL2之間被形成之薄片，與以一先行的切入線CL2作為後緣部之光學膜之薄片、亦即、一先行的切入線CL2和再一先行的切入線(從切入線CL1到2條先行的切入線)之間之薄片，會被識別作為不良部位。表示這些薄片為不良部位之識別資訊與其位置資訊，係被記憶在記憶裝置。在角度δ小於預先決定的容許值之場合下，這些薄片則被識別作為正常部位。
以上步驟結束時，光學膜層積體PL，朝該傳送方向下游側再被傳送僅預先決定的距離，反覆進行從s5到s15之步驟。一方面，於步驟s13及s14被識別作為不良部位之薄片，係根據其位置資訊，在後續的步驟從載膜C被剝離，從並不與面板構件貼合之步驟被排出。另一方面，被識別作為正常部位之薄片，則可以在與面板構件的貼合步驟，使之與面板構件貼合。
1‧‧‧切入線形成裝置
10‧‧‧切入線形成手段
11‧‧‧切斷構件
12‧‧‧切斷構件驅動馬達
13‧‧‧導螺桿
14、16‧‧‧驅動馬達
15‧‧‧行進導引
17‧‧‧台座
18、19‧‧‧按壓構件
20‧‧‧第1檢測手段
22‧‧‧第2檢測手段
24‧‧‧第3檢測手段
30‧‧‧移動手段
40‧‧‧支撐部
42‧‧‧主框
43‧‧‧橫樑部
43a、43b‧‧‧橫樑部的端部
44、45、46‧‧‧臂部
48a‧‧‧第1支柱
48b‧‧‧第2支柱
50‧‧‧支撐部驅動機構
51sa、51sb‧‧‧導螺桿
51ma、51mb‧‧‧驅動馬達
52m‧‧‧驅動馬達
52s‧‧‧導螺桿
54a‧‧‧第1傳送方向可動平台
54b‧‧‧第2傳送方向可動平台
55a‧‧‧第1橫方向可動平台
55b‧‧‧第2橫方向可動平台
59a‧‧‧第1軸承
59b‧‧‧第2軸承
CL1、CL2‧‧‧切入線
PS‧‧‧薄片
PL‧‧‧光學膜層積體

Claims (12)

  1. 一種切入線形成裝置，用以在至少長尺網狀的光學膜與長尺網狀的載膜中介黏接劑層而被層積之光學膜層積體，採用切入線形成手段，將與該光學膜層積體的長邊方向正交之幅寬方向的切入線，從與前述載膜相反側的面起至少達到前述黏接劑層的面之深度為止，連續地予以形成之切入線形成裝置，其特徵係具有：將前述光學膜層積體的一方的側緣部之第1部分予以檢測出之第1檢測手段，在前述光學膜層積體的傳送方向看來被配置在前述第1檢測手段的下游側、將位於前述第1部分的下游側之前述側緣部的第2部分予以檢測出之第2檢測手段，將前述切入線形成手段、前述第1檢測手段及前述第2檢測手段的位置，邊維持預先決定的相對的位置關係邊使之移動之移動手段，與根據由前述第1部分的位置資訊和前述第2部分的位置資訊被求出之第1直線、和訂定前述傳送方向之基準線兩線之間的角度，以前述切入線的方向對前述光學膜層積體的前述側緣部而言成為直角之方式控制前述移動手段的驅動之控制手段。
  2. 如申請專利範圍第1項記載之切入線形成裝置，其中前述第2檢測手段，係進而將從前述切入線的形成位置到前述傳送方向下游側只離開預先決定的距離之一先行 的切入線的一部分進行檢測；進而具備將跟前述一先行的切入線的前述一部分不同之另一部分進行檢測，利用前述移動手段，將前述切入線形成手段、前述第1檢測手段及前述第2檢測手段一起邊維持預先決定的相對的位置關係邊使之移動之第3檢測手段；前述控制手段，係在利用前述第1直線、與由前述一先行的切入線的前述一部分的位置資訊及不同於前述一部分之前述另一部分的位置資訊被求出之第2直線而被形成之交叉角之偏離直角的角度，大於預先決定的數值之場合下，將以前述一先行的切入線當作一方的緣部之光學膜之薄片識別作為不良部位。
  3. 如申請專利範圍第2項記載之切入線形成裝置，其中前述移動手段係具有：一體地支撐前述切入線形成手段、前述第1檢測手段、前述第2檢測手段及前述第3檢測手段之支撐部，與以使前述切入線的形成位置移動到前述傳送方向上游側或下游側，同時，使前述切入線的方向和前述光學膜層積體的前述側緣部之交叉角度改變之方式進行驅動前述支撐部之支撐部驅動機構。
  4. 如申請專利範圍第3項記載之切入線形成裝置，其中前述支撐部係具有 被並列設置於前述光學膜層積體的前述幅寬方向之第1及第2支柱、與被架搭在前述第1及第2支柱間、支撐前述切入線形成手段之橫樑部；前述支撐部驅動機構係具有用以使前述第1支柱朝前述傳送方向上游側或下游側移動之第1驅動部、以及用以使前述第2支柱朝前述傳送方向上游側或下游側移動之第2驅動部，與連結前述第1驅動部跟前述第1支柱之第1連結部、以及連結前述第2驅動部跟前述第2支柱之第2連結部；各個前述第1及第2連結部，係以使各個前述第1及第2支柱對著前述第1及第2驅動部對應之各個，能夠邊相對旋轉運動邊朝前述傳送方向上游側或下游側移動之方式被構成，同時，前述第1及第2連結部的一方，係以前述支柱跟前述驅動部之間的相對的位置關係可以在與前述傳送方向正交之橫方向自由地改變之方式被構成；根據以前述第1及第2支柱各自的移動方向以及移動量成為相同之方式使前述控制裝置控制各個前述第1及第2驅動部，根據以前述切入線的形成位置是移動於前述傳送方向上游側或下游側、前述第1及第2支柱各自的移動方向成為逆向或者移動量相異之方式使前述控制裝置控制各個前述第1及第2驅動部，而隨之改變前述切入線的方向與前述光學膜層積體的前述側緣部兩者的交叉角度。
  5. 如申請專利範圍第4項記載之切入線形成裝置，其 中前述支撐部驅動機構係進而具有用以使與前述第1及第2連結部的另一方連結之前述支柱朝與前述傳送方向正交之方向移動之第3驅動部。
  6. 如申請專利範圍第1至5項任1項記載之切入線形成裝置，其中預先決定的相對的前述位置關係，係根據被形成在前述切入線與前述一先行的切入線之間之光學膜之薄片被貼合之面板構件的形狀而決定。
  7. 如申請專利範圍第1至5項任1項記載之切入線形成裝置，其中在前述切入線的形成位置或者前述一先行的切入線的位置的任一方或者這雙方，進而具有以使前述切入線的形成位置及/或前述一先行的切入線的位置不動之方式按壓前述光學膜層積體之一個或者複數個按壓構件。
  8. 一種切入線形成方法，用以在至少長尺網狀的光學膜與長尺網狀的載膜中介黏接劑層而被層積之光學膜層積體，採用切入線形成手段，將與該光學膜層積體的長邊方向正交之幅寬方向的切入線，從與前述載膜相反側的面起至少達到前述黏接劑層的面之深度為止，連續地予以形成之切入線形成裝置，其特徵係包含：將前述光學膜層積體的側緣部的一方之第1部分用第1檢測手段進行檢測出之第1檢測步驟，用前述光學膜層積體的傳送方向看來被配置在前述第 1檢測手段的下游側之第2檢測手段，將位於前述第1部分的下游側之前述光學膜層積體的第2部分進行檢測出之第2檢測步驟，根據由前述第1部分的位置資訊和前述第2部分的位置資訊被求出之第1直線、與訂定前述光學膜層積體的傳送方向的基準線之間的角度，以前述切入線的方向對前述光學膜層積體的前述側緣部而言成直角之方式，將前述切入線的形成位置、前述第1檢測手段的位置及前述第2檢測手段的位置，邊維持預先決定的相對的位置關係邊使之移動之移動步驟。
  9. 如申請專利範圍第8項記載之切入線形成方法，其中前述第2檢測步驟係進而包含將從前述切入線的形成位置到前述傳送方向下游側僅離開預先決定的距離之一先行的切入線的一部分進行檢測出之步驟；進而包含：用將前述切入線形成手段、前述第1檢測手段及前述第2檢測手段一起邊維持預先決定的相對的位置關係邊使之移動之第3檢測手段，將跟前述一先行的切入線的前述一部分不同之另一部分進行檢測出之第3檢測步驟；在利用前述第1直線、與從前述一先行的切入線的前述一部分的位置資訊及不同於前述一部分之前述另一部分的位置資訊被求出之第2直線而被形成之交叉角之偏離直角的角度，大於預先決定的數值之場合下，將以前述一先 行的切入線當作一方的緣部之光學膜之薄片識別作為不良部位之不良部位識別步驟。
  10. 如申請專利範圍第9項記載之切入線形成方法，其中前述切入線形成步驟係包含使前述切入線的形成位置、前述第1檢測手段的位置、前述第2檢測手段的位置以及前述第3檢測手段的位置，移動於前述傳送方向上游側或下游側之步驟，以及以讓前述切入線的方向和前述光學膜層積體的前述側緣部之交叉角度改變之方式使之移動之步驟。
  11. 如申請專利範圍第8至10項任1項記載之切入線形成方法，其中進而包含根據被形成在前述切入線與前述一先行的切入線之間之光學膜之薄片被貼合之面板構件的形狀，決定預先決定的相對的前述位置關係之步驟。
  12. 如申請專利範圍第8至10項任1項記載之切入線形成方法，其中在前述切入線的形成位置或者前述一先行的切入線的位置的任一方或者這雙方，進而包含以使前述切入線的形成位置及/或前述一先行的切入線的位置不動之方式按壓前述光學膜層積體之步驟。
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