TWI456290B - 液晶顯示面板之連續製造系統及液晶顯示面板之連續製造方法、以及檢查裝置及檢查方法 - Google Patents

液晶顯示面板之連續製造系統及液晶顯示面板之連續製造方法、以及檢查裝置及檢查方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI456290B
TWI456290B TW100111384A TW100111384A TWI456290B TW I456290 B TWI456290 B TW I456290B TW 100111384 A TW100111384 A TW 100111384A TW 100111384 A TW100111384 A TW 100111384A TW I456290 B TWI456290 B TW I456290B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
liquid crystal
display panel
crystal display
linear light
polarizing plate
Prior art date
Application number
TW100111384A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201239455A (en
Inventor
Satoshi Hirata
Takuya Nakazono
Tomokazu Yura
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Publication of TW201239455A publication Critical patent/TW201239455A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI456290B publication Critical patent/TWI456290B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Claims (20)

  1. 一種液晶顯示面板之連續製造系統,其包含製造裝置及檢查裝置,該製造裝置係將一面自第1偏光板輥及第2偏光板輥分別抽出第1長條偏光板及第2長條偏光板、一面將分別對上述第1長條偏光板及上述第2長條偏光板進行切割加工而獲得之第1偏光板及第2偏光板,以吸收軸相互正交之方式黏附於被搬送之液晶單元之兩面,從而製造液晶顯示面板;該檢查裝置係一面搬送該液晶顯示面板一面對其進行光學性檢查;該製造裝置與該檢查裝置係配置於搬送該液晶單元及液晶顯示面板之一系列之搬送裝置中;且上述檢查裝置包含:光照射部,其係於上述搬送裝置之一面側、且對藉由該搬送裝置予以搬送之上述液晶顯示面板,照射與該搬送裝置之寬度方向呈平行之線狀光;及攝像部,其係於上述搬送裝置之另一面側、且配置在相對於藉由上述光照射部照射之上述線狀光之照射方向朝向該搬送裝置之搬送方向或其相反方向傾斜特定角度的位置,對藉由該搬送裝置予以搬送之上述液晶顯示面板之該線狀光所照射之區域,與該搬送裝置之寬度方向呈平行之線狀地且連續地進行攝像。
  2. 如請求項1之液晶顯示面板之連續製造系統,其中上述光照射部係於垂直方向上對上述液晶顯示面板照射上述線狀光。
  3. 如請求項1或2之液晶顯示面板之連續製造系統,其中上 述攝像部係配置在相對於藉由上述光照射部照射之上述線狀光之上述照射方向朝向上述搬送裝置之搬送方向及其相反方向之雙方傾斜特定角度的位置。
  4. 如請求項3之液晶顯示面板之連續製造系統,其中上述攝像部係相對於藉由上述光照射部照射之上述線狀光之上述照射方向朝向上述搬送裝置之搬送方向及其相反方向之雙方對稱地配置。
  5. 如請求項1之液晶顯示面板之連續製造系統,其中上述攝像部係相對於藉由上述光照射部照射之上述線狀光之上述照射方向傾斜1~45°而配置。
  6. 一種液晶顯示面板之連續製造方法,其包括製造步驟及檢查步驟,該製造步驟係將一面自第1偏光板輥及第2偏光板輥分別抽出第1長條偏光板及第2長條偏光板、一面將分別對上述第1長條偏光板及上述第2長條偏光板進行切割加工而獲得之第1偏光板及第2偏光板,以吸收軸相互正交之方式黏附於被搬送之液晶單元之兩面,從而製造液晶顯示面板;該檢查步驟係一面搬送該液晶顯示面板一面對其進行光學性檢查;該製造步驟與該檢查步驟係於搬送該液晶單元及液晶顯示面板之一系列之搬送裝置中進行;且上述檢查步驟包括如下之攝像步驟:一面藉由上述搬送裝置搬送上述液晶顯示面板,一面自該搬送裝置之一面側、對該液晶顯示面板照射與該搬送裝置之寬度方向呈平行之線狀光,自該搬送裝置之另一面側、相對於上 述線狀光之照射方向朝向該搬送裝置之搬送方向或其相反方向傾斜特定角度的位置,對上述液晶顯示面板之該線狀光所照射之區域,與該搬送裝置之寬度方向呈平行之線狀地且連續地進行攝像。
  7. 如請求項6之液晶顯示面板之連續製造方法,其中上述線狀光係於垂直方向上對上述液晶顯示面板照射。
  8. 如請求項6或7之液晶顯示面板之連續製造方法,其中對上述液晶顯示面板之上述線狀光所照射之區域,係自相對於該線狀光之上述照射方向朝向該液晶顯示面板之搬送方向及其相反方向之雙方傾斜特定角度的位置呈線狀地予以攝像。
  9. 如請求項8之液晶顯示面板之連續製造方法,其中對上述液晶顯示面板之上述線狀光所照射之區域,係自相對於該線狀光之上述照射方向朝向該液晶顯示面板之搬送方向及其相反方向對稱地傾斜的位置呈線狀地予以攝像。
  10. 如請求項6之液晶顯示面板之連續製造方法,其中上述攝像步驟係自相對於上述線狀光之照射方向傾斜1~45°之位置對上述液晶顯示面板之該線狀光所照射之區域呈線狀地進行攝像之步驟。
  11. 一種檢查裝置,其係對具有將第1偏光板及第2偏光板以吸收軸呈互相正交之方式黏附於兩表面上之液晶單元之液晶顯示面板,一邊藉由搬送裝置搬送,一邊進行光學性檢查者,且包含:光照射部,其係於上述搬送裝置之一面側、且對藉由 該搬送裝置予以搬送之上述液晶顯示面板,照射與該搬送裝置之寬度方向呈平行之線狀光;及攝像部,其係於上述搬送裝置之另一面側、且配置在相對於藉由上述光照射部照射之上述線狀光之照射方向朝向該搬送裝置之搬送方向或其相反方向傾斜特定角度的位置,對藉由該搬送裝置予以搬送之上述液晶顯示面板之該線狀光所照射之區域,與該搬送裝置之寬度方向呈平行之線狀地且連續地進行攝像。
  12. 如請求項11之檢查裝置,其中上述光照射部係於垂直方向上對上述液晶顯示面板照射上述線狀光。
  13. 如請求項11或12之檢查裝置,其中上述攝像部係配置在相對於藉由上述光照射部照射之上述線狀光之上述照射方向朝向上述搬送裝置之搬送方向及其相反方向之雙方傾斜特定角度的位置。
  14. 如請求項13之檢查裝置,其中上述攝像部係相對於藉由上述光照射部照射之上述線狀光之上述照射方向朝向上述搬送裝置之搬送方向及其相反方向之雙方對稱地配置。
  15. 如請求項11之檢查裝置,其中上述攝像部係相對於藉由上述光照射部照射之上述線狀光之上述照射方向傾斜1~45°而配置。
  16. 一種檢查方法,其係對具有將第1偏光板及第2偏光板以吸收軸呈互相正交之方式黏附於兩表面上之液晶單元之液晶顯示面板,一邊藉由搬送裝置搬送,一邊進行光學 性檢查者,且包括如下之攝像步驟:一面藉由上述搬送裝置搬送上述液晶顯示面板,一面自該搬送裝置之一面側、對該液晶顯示面板照射與該搬送裝置之寬度方向呈平行之線狀光,自該搬送裝置之另一面側、相對於上述線狀光之照射方向朝向該搬送裝置之搬送方向或其相反方向傾斜特定角度的位置,對上述液晶顯示面板之該線狀光所照射之區域,與該搬送裝置之寬度方向呈平行之線狀地且連續地進行攝像。
  17. 如請求項16之檢查方法,其中上述線狀光係於垂直方向上對上述液晶顯示面板照射。
  18. 如請求項16或17之檢查方法,其中對上述液晶顯示面板之上述線狀光所照射之區域,係自相對於該線狀光之上述照射方向朝向該液晶顯示面板之搬送方向及其相反方向之雙方傾斜特定角度的位置呈線狀地予以攝像。
  19. 如請求項18之檢查方法,其中對上述液晶顯示面板之上述線狀光所照射之區域,係自相對於該線狀光之上述照射方向朝向該液晶顯示面板之搬送方向及其相反方向對稱地傾斜的位置呈線狀地予以攝像。
  20. 如請求項16之檢查方法,其中上述攝像步驟係自相對於上述線狀光之照射方向傾斜1~45°之位置,對上述液晶顯示面板之該線狀光所照射之區域呈線狀地進行攝像之步驟。
TW100111384A 2011-03-18 2011-03-31 液晶顯示面板之連續製造系統及液晶顯示面板之連續製造方法、以及檢查裝置及檢查方法 TWI456290B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011060335A JP4921597B1 (ja) 2011-03-18 2011-03-18 液晶表示パネルの連続製造システムおよび液晶表示パネルの連続製造方法、並びに、検査装置および検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201239455A TW201239455A (en) 2012-10-01
TWI456290B true TWI456290B (zh) 2014-10-11

Family

ID=44799894

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100111384A TWI456290B (zh) 2011-03-18 2011-03-31 液晶顯示面板之連續製造系統及液晶顯示面板之連續製造方法、以及檢查裝置及檢查方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8540543B2 (zh)
EP (1) EP2500766A1 (zh)
JP (1) JP4921597B1 (zh)
KR (1) KR101271936B1 (zh)
CN (2) CN202351564U (zh)
TW (1) TWI456290B (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5782010B2 (ja) * 2012-11-09 2015-09-24 日東電工株式会社 光学表示パネルの連続製造方法および光学表示パネルの連続製造システム
TWI477803B (zh) * 2013-03-05 2015-03-21 Largan Precision Co Ltd 攝像系統透鏡組
JP6255186B2 (ja) * 2013-08-07 2017-12-27 日東電工株式会社 光学部材の検査方法、光学製品の製造方法、及び、光学部材の検査装置
KR20150052457A (ko) 2013-11-05 2015-05-14 삼성디스플레이 주식회사 편광판 부착방법
JP6529250B2 (ja) * 2014-12-18 2019-06-12 日東電工株式会社 光学表示パネルの製造方法および光学表示パネルの製造システム
JP7051445B2 (ja) * 2018-01-10 2022-04-11 日東電工株式会社 光学表示パネルの連続検査方法および連続検査装置、並びに、光学表示パネルの連続製造方法および連続製造システム

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003262843A (ja) * 2002-03-11 2003-09-19 Seiko Epson Corp 液晶パネル検査方法及び装置
TW201033687A (en) * 2008-12-25 2010-09-16 Nitto Denko Corp Method of manufacturing liquid crystal display device, and apparatus for manufacturing liquid crystal display device

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04178545A (ja) * 1990-11-14 1992-06-25 Fuji Photo Film Co Ltd 透明帯状体の検査方法及び装置
JPH06235624A (ja) * 1992-12-15 1994-08-23 Hitachi Ltd 透明シートの検査方法とその装置
JPH08152416A (ja) * 1994-09-28 1996-06-11 Toray Ind Inc シート状物の欠点検出装置
JP3224083B2 (ja) * 1996-10-29 2001-10-29 セントラル硝子株式会社 板ガラスの欠点検出方法およびその装置
JPH11248643A (ja) * 1998-03-02 1999-09-17 Sekisui Chem Co Ltd 透明フィルムの異物検査装置
JP3078524B2 (ja) * 1998-03-06 2000-08-21 富士電線電器株式会社 欠陥検出装置
JP2000028546A (ja) * 1998-07-08 2000-01-28 Fuji Photo Film Co Ltd 光学補償フィルムの欠陥検査方法及び装置
JP3316501B2 (ja) * 2000-03-28 2002-08-19 科学技術振興事業団 センサヘッド、これを具備した輝度分布測定装置及び表示むら検査評価装置
JP2004301882A (ja) * 2003-03-28 2004-10-28 Fujitsu Display Technologies Corp 液晶表示パネルの欠陥検出方法
JP2005127989A (ja) * 2003-10-03 2005-05-19 Olympus Corp 傷検出装置および傷検出プログラム
JP2005351825A (ja) 2004-06-14 2005-12-22 Nitto Denko Corp 欠陥検査装置
JP2006078317A (ja) * 2004-09-09 2006-03-23 Seiko Epson Corp 被検査体の検査方法及びその装置
KR100642500B1 (ko) * 2005-03-02 2006-11-06 (주)쎄미시스코 유리기판의 에지 결함 및 디스컬러 검사장치
JP4628824B2 (ja) * 2005-03-10 2011-02-09 富士フイルム株式会社 フイルムの欠陥検査装置及びフイルムの製造方法
KR100734749B1 (ko) * 2005-03-31 2007-07-03 에버테크노 주식회사 편광필름 검사장치 및 방법
JP2007256106A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Sharp Corp 表示パネル検査装置及びそれを用いた表示パネル検査方法
JP4855493B2 (ja) * 2008-04-14 2012-01-18 日東電工株式会社 光学表示装置製造システム及び光学表示装置製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003262843A (ja) * 2002-03-11 2003-09-19 Seiko Epson Corp 液晶パネル検査方法及び装置
TW201033687A (en) * 2008-12-25 2010-09-16 Nitto Denko Corp Method of manufacturing liquid crystal display device, and apparatus for manufacturing liquid crystal display device

Also Published As

Publication number Publication date
EP2500766A1 (en) 2012-09-19
US20120238176A1 (en) 2012-09-20
JP4921597B1 (ja) 2012-04-25
CN102681242A (zh) 2012-09-19
TW201239455A (en) 2012-10-01
KR20120106505A (ko) 2012-09-26
KR101271936B1 (ko) 2013-06-07
JP2012194509A (ja) 2012-10-11
CN202351564U (zh) 2012-07-25
US8540543B2 (en) 2013-09-24
CN102681242B (zh) 2014-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI456290B (zh) 液晶顯示面板之連續製造系統及液晶顯示面板之連續製造方法、以及檢查裝置及檢查方法
KR102522383B1 (ko) 광학 표시 패널의 제조 방법 및 광학 표시 패널의 제조 시스템
EP2669739A3 (en) Measuring method, and exposure method and apparatus
TWI542867B (zh) 用於檢測基板之邊緣部之設備
WO2014082010A4 (en) Calibration of a dynamic digital imaging system for detecting defects in production stream
WO2012014092A3 (en) Apparatus and method for three dimensional inspection of wafer saw marks
JP2008298566A (ja) フィルムの欠陥検査装置及び方法
TW201140043A (en) End face inspection method for light-pervious rectangular sheets and end face inspection apparatus
JP2015072220A5 (zh)
KR100975645B1 (ko) 기판 검사 장치 및 이를 이용한 기판 검사 방법
KR20150143493A (ko) 유리판의 제조 방법 및 유리판의 제조 장치 및 유리판
JP2012107952A (ja) 光学ムラ検査装置
TWI704341B (zh) 片材之檢查裝置及檢查方法
JP2020535397A (ja) 透過光学系の検査装置及びそれを用いたフィルムの欠陥検査方法
CN110018582B (zh) 光学显示面板连续检查方法和装置、连续制造方法和系统
JP5443033B2 (ja) 欠陥検査装置および方法
JP2012172983A (ja) 枚葉フィルム検査装置
JP4884540B2 (ja) 基板検査装置及び基板検査方法
TW201140041A (en) Apparatus for inspecting substrate and method using the same
JP2017146246A (ja) 外観検査装置
KR101197708B1 (ko) 기판검사장치
JP2013092508A5 (zh)
JP5718116B2 (ja) 透明シート材の外観検査用治具、及びこれを用いた透明シート材の外観検査方法
CN107783323A (zh) 一种液晶显示屏的制程工艺
JP2021026002A (ja) 基板検査装置