TWI418208B - Interpolation means and the image image interpolation app - Google Patents
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Description
本發明關於複數個接觸式影像感測器(CIS)連結而構成圖像讀取感測器的圖像讀取裝置所使用的，依據圖像讀取感測器所讀取之圖像資料，針對接觸影像感測器之連結部分所對應位置之畫素資料進行內插的圖像內插裝置及圖像內插程式。
CCD元件構成之接觸式影像感測器(CIS)，係被搭載於複印機等之圖像形成裝置(MFP)、傳真機、掃描器等機器，擔當作為原稿圖像之讀取裝置之重要功能。接觸式影像感測器為等倍感測器，因此欲讀取原稿圖像時，需要原稿用紙之幅度以上的長度。因此，通常將搭載於印刷基板上之複數個接觸式影像感測器予以連結，而構成圖像讀取感測器。
如上述說明，將複數個接觸式影像感測器予以連結時，隨解像度之變高，接觸式影像感測器之圖像讀取元件之間隔會變窄，因而，於接觸式影像感測器之連結部分變為無法讀取畫素資料。
圖21表示於印刷基板將搭載有CCD等圖像讀取元件的複數個接觸式影像感測器並列而構成之圖像讀取感測器。
圖像讀取感測器10，例如係藉由連結第1接觸式影像感測器(CIS)10a與第2接觸式影像感測器(CIS)10b而構成。於此係設為2個接觸式影像感測器10a、10b，但對應於搭載之機器亦可連結3個以上之接觸式影像感測器。全部連結部之內插，係藉由同一動作被處理者。於各接觸式影像感測器10a、10b，係隔開等間隔設置CCD元件之圖像讀取元件20。
接觸式影像感測器10a內之各圖像讀取元件20對應之畫素以a1～a9表示。接觸式影像感測器10b內之各圖像讀取元件20對應之畫素以b1～b9表示。接觸式影像感測器10a與接觸式影像感測器10b之連結部、亦即內插對象畫素，係以掉落畫素位置X表示。於此，僅表示掉落畫素位置X之前後9個之各圖像讀取元件20對應之畫素a1～a9、b1～b9，其他圖像讀取元件被省略。
進行該掉落畫素之內插者，有專利文獻1。專利文獻1揭示之方法，係設置判斷手段來判斷接觸式影像感測器之連結部分對應之內插對象畫素位置是否位於網點區域內或非網點區域內。當該判斷手段判斷內插對象畫素位置為非網點區域時，係藉由線性內插來產生內插對象畫素之畫素資料，當判斷為網點區域時，係藉由圖案匹配(pattern matching)來產生內插對象畫素之畫素資料，而插入內插對象畫素位置。
專利文獻1：特開2007-142667號公報
但是，依據專利文獻1之方法，需要判斷手段來判斷內插對象畫素位置是否位於網點區域內或非網點區域內。於專利文獻1，作為判斷內插對象畫素位置是否位於網點區域內或非網點區域內的判斷手段，係提議PH8-149291(A1)號公報揭示之方法。因為需要判斷手段，不僅導致圖像處理裝置變大，亦需要額外之成本，此為其問題。
另外，專利文獻1之方法，在圖案匹配處理前之基本圖案之掉落畫素，係直接以比較圖案之對應之畫素(中央之畫素)作為暫時內插值予以插入。其中，未考慮比較圖案與基本圖案之信號位準差，因此暫時內插值之精確度低，另外，圖案匹配之檢測精確度亦低，因此，內插結果大幅偏離真值之問題存在。
本發明第1目的在於提供，構成為不需要判斷是否位於網點區域內或非網點區域內的判斷手段，針對複數個接觸式影像感測器之連結部分所對應位置之畫素資料，可以良好精確度進行內插的圖像內插電路、圖像內插程式、及圖像處理裝置。
本發明第2目的在於提供圖像內插裝置及圖像內插程式，其使用基本圖案之掉落畫素之周邊畫素及比較圖案之掉落畫素所對應之周邊畫素，算出彼等信號位準及信號變化量適應之暫時內插值，將其插入基本圖案之掉落畫素，如此而可以提升圖案匹配之檢測精確度者。
為達成上述目的，本發明之圖像內插裝置，係以複數個接觸式影像感測器之連結部為掉落畫素進行內插者，該接觸式影像感測器，係由多數圖像讀取元件以直線狀配列而成；其特徵為具備：周邊畫素抽出手段，係由上述掉落畫素之周邊畫素抽出：以上述掉落畫素為先頭或末尾之位置的3個以上之連續畫素所構成之基本圖框，及至少1個畫素未被重疊(overlap)之連續畫素，由和上述基本圖框相同之畫素數所構成之複數個比較圖框；暫時內插值算出手段，依據上述掉落畫素之前後畫素所構成之第1畫素群，及上述複數個比較圖框之和上述掉落畫素為同一位置之畫素及其之前後畫素所構成之第2畫素群的信號位準及信號變化量，依上述複數個比較圖框之每一個來算出暫時內插值；複數個圖案匹配處理手段，用於將上述複數個比較圖框之每一個所算出之上述暫時內插值代入上述基本圖框之上述掉落畫素，針對具有各個上述暫時內插值的上述基本圖框，與其所對應之上述比較圖框之位於同一位置關係的畫素彼此之各別之差分，以絕對值予以合計，而算出圖案匹配之程度；及輸出手段，以上述複數個圖案匹配處理手段輸出之上述差分合計之最小者所對應之上述暫時內插值，作為正式之內插值予以輸出。
又，本發明之圖像內插程式，係以複數個接觸式影像感測器之連結部為掉落畫素進行內插者，該接觸式影像感測器，係由多數圖像讀取元件以直線狀配列而成；其特徵為具備：周邊畫素抽出功能，係由上述掉落畫素之周邊畫素抽出：以上述掉落畫素為先頭或末尾之位置的3個以上之連續畫素所構成之基本圖框，及至少1個畫素未被重疊之連續畫素，由和上述基本圖框相同之畫素數所構成之複數個比較圖框；暫時內插值算出功能，依據上述掉落畫素之前後畫素所構成之第1畫素群，及上述複數個比較圖框之和上述掉落畫素為同一位置之畫素及其之前後畫素所構成之第2畫素群的信號位準及信號變化量，依上述複數個比較圖框之每一個來算出暫時內插值；複數個圖案匹配處理功能，用於將上述複數個比較圖框之每一個所算出之上述暫時內插值代入上述基本圖框之上述掉落畫素，針對具有各個上述暫時內插值的上述基本圖框，與其所對應之上述比較圖框之位於同一位置關係的畫素彼此之各別之差分，以絕對值予以合計，而算出圖案匹配之程度；及輸出功能，以上述複數個圖案匹配處理功能所輸出之上述差分合計之最小者對應之上述暫時內插值，作為正式之內插值予以輸出。
依據本發明，無須使用判斷是否位於網點區域內或非網點區域內的判斷手段，即可針對複數個接觸式影像感測器之連結部分所對應位置之畫素資料，以良好精確度進行內插。另外，使用基本圖案之掉落畫素之周邊畫素，及比較圖案之掉落畫素所對應之周邊畫素，算出彼等之信號位準及信號變化量適合之暫時內插值，將其插入基本圖案之掉落畫素，如此而可以提升圖案匹配之檢測精確度。
以下參照圖面說明本發明之實施形態。
圖1為接觸式影像感測器(CIS)之1畫面之內插影像之圖。本發明之圖案匹配處理，係依據水平方向(主掃描)之1行單位進行，連結部之1畫素分之掉落畫素，係使用其周邊之畫素。對其依垂直方向(副掃描)依序進行處理。
(基本概念之說明)
以下說明本發明之基本概念。圖2為本發明之圖案匹配之基本概念之表現圖。其中，匹配處理係以3畫素為例。
如圖2所示，以掉落畫素X及其周邊之3畫素為基本圖案10x。針對基本圖案10x，與其周邊之相同畫素數之複數個比較圖案10y1、10y2、10y3、10y4、10y5、...之各個進行圖案匹配。此時，於基本圖案10x之掉落畫素X，以和基本圖案10x之掉落畫素部位於同一位置關係的比較圖案10y1、10y2、10y3、10y4、10y5、...之畫素值作為暫時內插值予以插入。將基本圖案10x與比較圖案10y1、10y2、10y3、10y4、10y5、...最為匹配時之暫時內插值，設定為正式之內插值。
本發明中，除上述基本概念以外，具有以下之特徵點(1)～(3)。
(1)圖案匹配處理時，掉落畫素X之位置，係設為基本圖案之先頭或末尾之位置。因此，本發明中，掉落畫素X，係設為基本圖案10x之先頭或末尾，因此藉由設為連續資料可以提升圖案匹配之檢測精確度。於此雖將掉落畫素X設為基本圖案10x之先頭或末尾之位置，但亦可先於先頭位置進行內插，之後於末尾位置進行內插，選擇其中之較佳者。另外，亦可先於末尾位置進行內插，之後於先頭位置進行內插，選擇其中之較佳者。
圖3之例，係說明由An-4
～An
之5畫素構成之基本圖案10x之掉落畫素X設為末尾位置(An
)之情況，但亦可將掉落畫素X設為先頭位置(An-4
)。
(2)圖案匹配處理之前，基本圖案10x之掉落畫素X(An
)之暫時內插使用之畫素，係設為掉落畫素X之兩端畫素(An-1
、An+1
)。又，比較圖案(例如假設比較圖案10y1，以下相同)之暫時內插使用之畫素，係使用掉落畫素X及和其之兩端畫素位於同一位置關係的比較圖案10y1之畫素(Cn-1
、Cn
、Cn+1
)。算出彼等畫素(An-1
、An+1
)與(Cn-1
、Cn
、Cn+1
)之信號位準及信號變化量所適應之暫時內插值，將該值插入。
本發明中，係使用掉落畫素X之周邊畫素，算出彼等之信號位準及信號變化量所適應之暫時內插值，將其插入基本圖案之掉落畫素X(An
)，如此而可以提升圖案匹配之檢測精確度。另外，暫時內插值成為最終之內插值，因此內插結果本身之精確度亦可以提升。
(3)圖案匹配處理，係於上述(2)之處理，針對在掉落畫素X(An
)被插入暫時內插值而成的基本圖案10x(An-4
、An-3
、An-2
、An-1
、An
)與比較圖案10y1(Cn-4
、Cn-3
、Cn-2
、Cn-1
、Cn
)之位於同一位置關係的畫素彼此之各個差分，以絕對值進行合計計算。於該差分合計之計算之前，為整合2個圖案全體之信號位準，而如圖4所示，由2個圖案之平均值之差求出偏差調整值Voff進行偏差調整。
藉由上述(3)之圖案匹配處理，在某一探索範圍內，可以將差分之絕對值合計為最小時之圖案，判斷為匹配程度最高者，因此以此時之暫時內插值作為正式之內插值。
以下說明圖案匹配處理之匹配程度。
圖5為基本圖案10x之5畫素之信號位準之圖案，與比較圖案10y1之5畫素之信號位準之匹配程度高之例。圖6為基本圖案10x之5畫素之信號位準之圖案，與比較圖案10y1之5畫素之信號位準之匹配程度低之例。
(第1實施形態)
以下參照圖7～12說明本發明之第1實施形態。
圖7表示以基本概念說明之基本圖案、亦即基本圖框，與複數個比較圖案、亦即複數個比較圖框之位置關係。
於圖7，串列並排之符號1～19，係表示藉由圖像讀取元件(未圖示)讀取之畫素，其中，畫素10設為掉落畫素X之位置。當掉落畫素X設為基本圖框之末尾位置時，基本圖框FX成為畫素6～10。另外，複數個比較圖框係由基本圖框FX之周邊被探索。基本圖框FX之畫素數雖未特別限定，但至少必要3畫素。
例如圖案匹配之探索範圍設為掉落畫素X之周邊之兩側畫素1～19(其中，除去掉落畫素X之畫素10)之合計18畫素，使用之1圖框之畫素設為5畫素時，如圖7所示，進行基本圖框FX與比較圖框F1～F12為止之探索。比較圖框F1～F12，係至少1個畫素不重疊之連續畫素，由和基本圖框FX相同之畫素數構成。比較圖框F1～F12之數，並未特別限定。又，此時之圖案匹配處理使用之畫素(圖框)及掉落畫素X之位置關係如圖3所示。
又，於圖7，比較圖框F2～F12，係使前段之比較圖框(F1～F11)滑動各1畫素者，比較圖框F1～F12之末尾畫素，成為追尋至畫素5～畫素19為止。其中畫素9～11，被排除為比較圖框之末尾。此乃因為，暫時內插值時，雖使用比較圖框之末尾畫素與其兩端之畫素，但若其包含畫素10之掉落畫素X，則值不存在，而無法進行暫時內插。
如此則，相對於基本圖框FX，比較圖框F1為畫素1～5，比較圖框F2為畫素2～6，比較圖框F3為畫素3～7，比較圖框F4為畫素4～8，比較圖框F5為畫素8～12，比較圖框F6為畫素9～13，比較圖框F7為畫素10～14，比較圖框F8為畫素11～15，比較圖框F9為畫素12～16，比較圖框F10為畫素13～17，比較圖框F11為畫素14～18，比較圖框F12為畫素15～19。
以下說明由掉落畫素X之暫時內插值之算出，至圖案匹配處理之內插值輸出為止之運算處理(步驟1～3)。
掉落畫素X之暫時內插值，設為基本圖框FX之末尾位置時，係使用基本圖框FX之掉落畫素X(An
)之兩端畫素群(圖3說明之An-1
、An+1
)，及兩端畫素和該掉落畫素X位於同一位置關係的比較圖框Fi(i為1～12)之畫素群(圖3說明之Cn-1
、Cn
、Cn+1
)予以算出。算出適合2個畫素群之信號位準及信號變化量的暫時內插值，而插入(代入)基本圖框FX之掉落畫素X(An
)。
本實施形態中，該暫時內插值之計算，係藉2個畫素群之信號位準及信號變化，分開使用內插式來提升精確度。圖8表示2個畫素群之信號位準及信號變化之例。
(步驟1)
如圖8(a)所示，比較圖框Fi(Cn-1
、Cn
、Cn+1
)之信號變化為無連續性之凹凸型信號變化，而且比較圖框Fi之信號位準大於基本圖框FX(An-1
、An+1
)時，係使用以下之內插式(1)。
An
=Cn
×(An-1
+An+1
)/(Cn-1
+Cn+1
)...內插式(1)
如圖8(b)所示，比較圖框Fi(Cn-1
、Cn
、Cn+1
)之信號變化為無連續性之凹凸型信號變化，而且比較圖框Fi之信號位準小於基本圖框FX(An-1
、An+1
)時，係使用以下之內插式(2)。
An
=(Cn
+(An-1
+An+1
)/2)×(An-1
+An+1
)/(Cn-1
+Cn+1
+An-1
+An+1
)...內插式(2)
如圖8(c)所示，比較圖框Fi(Cn-1
、Cn
、Cn+1
)之信號變化為連續性之傾斜型，An-1
<An+1
、而且Cn-1
<Cn+1
時，係使用以下之內插式(3)。
An
=(Cn
-Cn-1
)×(An+1
-An-1
)/(Cn+1
-Cn-1
)+An-1
...內插式(3)
如圖8(d)所示，比較圖框Fi(Cn-1
、Cn
、Cn+1
)之信號變化為連續性之傾斜型，An-1
>An+1
、而且Cn-1
<Cn+1
時，係使用以下之內插式(4)。
An
=(Cn
-Cn-1
)×(An-1
-An+1
)/(Cn+1
-Cn-1
)+An+1
...內插式(4)
如圖8(e)所示，比較圖框Fi(Cn-1
、Cn
、Cn+1
)之信號變化為連續性之傾斜型，An-1
>An+1
、而且Cn-1
>Cn+1
時，係使用以下之內插式(5)。
An
=(Cn
-Cn+1
)×(An-1
-An+1
)/(Cn-1
-Cn+1
)+An+1
...內插式(5)
如圖8(f)所示，比較圖框Fi(Cn-1
、Cn
、Cn+1
)之信號變化為連續性之傾斜型，An-1
<An+1
、而且Cn-1
>Cn+1
時，係使用以下之內插式(6)。
An
=(Cn
-Cn+1
)×(An+1
-An-1
)/(Cn-1
-Cn+1
)+An-1
...內插式(6)
上述內插式(1)～(6)，係依據圖8(a)～(f)所示信號變化加以選擇者，但亦可以和圖8(a)～(f)所示信號變化無關，而由以下之內插式(7)～(8)來算出.依據該計算，可以簡單進行除算處理。
內插式(7)之暫時內插值，於基本圖案係算出掉落畫素X(An
)之兩端畫素An-1
、An+1
之平均值，於比較圖案係由和基本圖案之掉落畫素位於同一位置關係的畫素Cn
與其之兩端畫素Cn-1
、Cn+1
求出信號斜率，將彼等加算而求出掉落畫素X(An
)之暫時內插值者。亦即，內插式(7)係成為如下。
An
=(An-1
+An+1
)/2+((Cn
-Cn-1
)+(Cn
-Cn+1
))/2...內插式(7)
又，內插式(8)之暫時內插值，於基本圖案係算出除去掉落畫素X(An
)以外之、例如4畫素An-4
、An-3
、An-2
、An-1
之平均值Aav。另外，於比較圖案係算出除去和基本圖案之掉落畫素位於同一位置關係的畫素Cn
以外之、例如4畫素Cn-4
、Cn-3
、Cn-2
、Cn-1
之平均值Cav。由彼等平均值Aav、Cav之差分求出暫時內插用之偏差調整值(Aav-Cav)。於該求出之暫時內插用之偏差調整值，加算和基本圖案之掉落畫素具有同一位置關係的比較圖案之畫素Cn
之值，而求出掉落畫素X(An
)之暫時內插值者。亦即，內插式(8)係成為如下。
Aav
=(An-4
+An-3
+An-2
+An-1
)/(px-1)
Cav
=(Cn-4
+Cn-3
+Cn-2
+Cn-1
)/(px-1)
An
=Cn
+Aav
-Cav
....內插式(8)
其中，px為圖框(frame)之畫素數(本實施形態為5)。於此係求出4畫素之平均值，但只要至少3畫素即可。
(步驟2)
以下，本實施形態中，為算出基本圖框FX與比較圖框Fi之2個圖框全體之信號位準合計之偏差值，而算出基本圖框FX與比較圖框Fi之圖框平均值Aav
、Cav
。圖3之圖框平均值Aav
、Cav
之算出式如下。
基本圖框FX之平均值Aav
=(An-4
+An-3
+An-2
+An-1
+An
)/px
比較圖框Fi之平均值Cav
=(Cn-4
+Cn-3
+Cn-2
+Cn-1
+Cn
)/px
px為圖框之畫素數(本實施形態中為「5」)。
之後，針對基本圖框FX與比較圖框Fi之具有同一位置關係之畫素彼此(圖3說明之An-4
與Cn-4
、An-3
與Cn-3
、An-2
與Cn-2
、An-1
與Cn-1
、An
與Cn
)之各個差分，以絕對值進行合計S算出。
S=abs(Cn-4
-(An-4
+Cav
-Aav
)+abs(Cn-3
-(An-3
+Cav
-Aav
)+abs(Cn-2
-(An-2
+Cav
-Aav
)+abs(Cn-1
-(An-1
+Cav
-Aav
)+abs(Cn
-(An
+Cav
-Aav
)
其中，abs表示絕對值。
算出該差分時，如圖4所示，以比較圖框Fi與基本圖框FX之平均值之差進行偏差調整而計算。
(步驟3)
僅執行探索圖框數之步驟1與步驟2之處理。於圖7之例，執行12圖框分。之後，於探索圖框數分之比較圖框Fi與基本圖框FX之差分資料中，可以判斷其中差分資料最小時之圖框為圖案匹配之程度高者，因而以此時之暫時內插值作為正式之內插值。
依據本實施形態，藉由和周邊畫素間之圖案匹配處理，使用最為匹配之畫素進行內插，因此可提升內插性能，網點圖像之縱條紋可以改善，圖像邊緣部之偽色可以改善。
圖9、10係表示使用本實施形態進行圖像內插時，與藉由習知技術進行圖像內插時之例。由圖9、10可知，依據本發明，可以改善網點圖像之縱條紋，可以改善圖像邊緣部之偽色。
圖11表示實現上述圖案匹配處理之圖像內插裝置100之構成方塊圖。圖12表示圖11之1個圖案匹配處理部120之內部處理之方塊圖。
於圖11，圖像內插裝置100係由以下構成：周邊畫素抽出部110，用於抽出掉落畫素之周邊畫素；探索圖框數分之圖案匹配處理部120-1～120-n；最小值檢測部130，用於由圖案匹配處理部120-1～120-n算出之差分合計之中檢測出最小之值；及內插值輸出部140，以能獲得檢測出之最小值的暫時內插值作為正內插值予以輸出。彼等構成，可由硬體或軟體構成。
周邊畫素抽出部110，係由構成之接觸式影像感測器(CIS)的圖像讀取晶片之數及構成之各圖像讀取晶片的CCD元件數，依據設計事先求出掉落畫素X之周邊之畫素位置。取入該求出之設計位置之畫素資料，抽出如圖7所示基本圖框FX與比較圖框F1～F12之畫素資料，輸出至各圖案匹配處理部120-1～120-n。
圖案匹配處理部120-1～120-n，若為如圖7所示圖案匹配，則為處理基本圖框FX與各比較圖框F1～F12，而需要12個圖案匹配處理部。圖案匹配處理部120-1～120-n之動作詳如圖12所示。
差分合計之最小值檢測部130，係由各圖案匹配處理部120-1～120-n所算出之，例如12之差分合計值之中檢測出最小值。欲檢測最小值時，可使用12個比較2個信號之比較電路來檢測。內插值輸出部140，係以最小值檢測部130檢測出獲得最小值之暫時內插值作為正內插值予以輸出。
圖案匹配處理部120-1～120-n係由如圖12所示電路構成。
亦即，各圖案匹配處理部120-1～120-n，係由以下構成：基本圖框畫素抽出部121；比較圖框畫素抽出部122；暫時內插用畫素抽出部123；暫時內插值算出部124；暫時內插值插入部125；偏差調整值算出部126；偏差調整部127；及差分合計算出部128。彼等構成可由硬體或軟體構成。
圖11之周邊畫素抽出部110抽出之基本圖框FX，係被輸出至基本圖框畫素抽出部121。另外，周邊畫素抽出部110抽出之比較圖框Fi，係被輸出至比較圖框畫素抽出部122。另外，周邊畫素抽出部110抽出之基本圖框FX及比較圖框Fi之暫時內插值之算出使用的畫素，係被輸出至暫時內插用畫素抽出部123。
暫時內插用畫素抽出部123之暫時內插使用的畫素，係被輸入至暫時內插值算出部124。另外，來自基本圖框畫素抽出部121之畫素，及暫時內插值算出部124算出之暫時內插值，係被輸入至暫時內插值插入部125。
來自比較圖框畫素抽出部122之畫素及來自暫時內插值插入部125之畫素，係被輸出至偏差調整值算出部126。來自暫時內插值插入部125之畫素及偏差調整值算出部126算出之偏差調整值，係被輸出至偏差調整部127。偏差調整部127，係由前段之基本圖框之畫素產生偏差調整後之信號。於該偏差調整部127被調整之基本圖框之畫素與來自比較圖框畫素抽出部122之畫素，係被輸出至差分合計算出部128。
以下參照圖7、11、12、13之流程圖，說明圖像內插裝置100之動作。其中，以圖案匹配處理部120-1作為處理圖7之基本圖框FX與比較圖框F1者。
同樣，以圖案匹配處理部120-2作為進行圖7之基本圖框FX與比較圖框F2之圖案匹配處理，以圖案匹配處理部120-3作為進行圖7之基本圖框FX與比較圖框F3之圖案匹配處理，以下同樣，以圖案匹配處理部120-n作為進行圖7之基本圖框FX與比較圖框F12之圖案匹配處理。
但是，於基本圖框FX被插入個別之暫時內插值，並非同一畫素資料
首先，周邊畫素抽出部110，係依據接觸式影像感測器(CIS)之設計，抽出、取入掉落畫素周邊之探索範圍內之畫素(圖13之步驟S10)。之後，將圖7之基本圖框FX，輸出至各圖案匹配處理部120-1～120-n之基本圖框畫素抽出部121(圖13之步驟S20)。
於圖13之流程圖，僅重複執行比較圖框數之步驟S30～S130為止之處理者予以表現。亦即，意味著對應於各圖案匹配處理部120-1～120-n，來設定比較圖框F1～F12之畫素之後，於各圖案匹配處理部120-1～120-n之各個進行步驟S70～S110等之運算處理。
以下以圖案匹配處理部120-1為例說明動作。
於圖案匹配處理部120-1，由周邊畫素抽出部110抽出之比較圖框F1(圖7之畫素1～5)，係被設定於比較圖框畫素抽出部122。另外，周邊畫素抽出部110所抽出之基本圖框FX之暫時內插使用的畫素9、11，與比較圖框F1之暫時內插使用的畫素資料4、5、6，係被設定於暫時內插用畫素抽出部123(圖13之步驟S40)。
暫時內插值算出部124，在由暫時內插用畫素抽出部123受信基本圖框FX之暫時內插使用的畫素9、11與比較圖框F1之暫時內插使用的畫素資料4、5、6時，係對應於兩信號之信號位準及信號變化量，執行上述內插式(1)～(6)之任一運算處理，或內插式(7)之運算處理，或內插式(8)之運算處理，算出暫時內插值Fx1，輸出至暫時內插值插入部125及最小值檢測部130(圖13之步驟S50)。
例如於圖案匹配處理部120-2，由周邊畫素抽出部110抽出之比較圖框F2(圖7之畫素2～6)，係被設定於比較圖框畫素抽出部122。另外，周邊畫素抽出部110所抽出之基本圖框FX之暫時內插使用的畫素9、11，與比較圖框F2之暫時內插使用的畫素資料5、6、7，係被設定於暫時內插用畫素抽出部123。暫時內插值算出部124，在由暫時內插用畫素抽出部123受信基本圖框FX之暫時內插使用的畫素9、11與比較圖框F2之暫時內插使用的畫素資料5、6、7時，係對應於兩信號之信號位準及信號變化量，執行上述內插式(1)～(6)之任一運算處理，或內插式(7)之運算處理，或內插式(8)之運算處理，算出暫時內插值Fx2，輸出至暫時內插值插入部125及最小值檢測部130。
又，例如於圖案匹配處理部120-12，由周邊畫素抽出部110抽出之比較圖框F12(圖7之畫素15～19)，係被設定於比較圖框畫素抽出部122。另外，周邊畫素抽出部110所抽出之基本圖框FX之暫時內插使用的畫素9、11，與比較圖框F12之暫時內插使用的畫素資料18、19、20，係被設定於暫時內插用畫素抽出部123。暫時內插值算出部124，在由暫時內插用畫素抽出部123受信基本圖框FX之暫時內插使用的畫素9、11與比較圖框F2之暫時內插使用的畫素資料18、19、20時，係對應於兩信號之信號位準及信號變化量，執行上述內插式(1)～(6)之任一運算處理，或內插式(7)之運算處理，或內插式(8)之運算處理，算出暫時內插值Fx12，輸出至暫時內插值插入部125及最小值檢測部130。
關於其他圖案匹配處理部120-3～120-11，亦以同一考慮方式被處理，省略其說明。
暫時內插值插入部125，係將來自暫時內插值算出部124之暫時內插值Fx1插入基本圖框FX之掉落畫素X(畫素10)，將插入暫時內插值Fx1後之基本圖框FX，輸出至偏差調整值算出部126與偏差調整部127(圖13之步驟S60)。
偏差調整值算出部126，係算出插入該暫時內插值Fx1後之基本圖框FX之平均值Aav，另外，算出來自比較圖框畫素抽出部122之比較圖框F1之平均值Cav(圖13之步驟S70、S80)。另外，依據平均值Cav與平均值Aav之差分算出偏差調整值(Cav
-Aav
)，輸出至偏差調整部127(圖13之步驟S90)。平均值Aav、Cav之算出，係如下進行。
基本圖框FX之平均值Aav=(畫素6+畫素7+畫素8+畫素9+畫素10)/5
比較圖框F1之平均值Cav=(畫素1+畫素2+畫素3+畫素4+畫素5)/5
掉落畫素X(10)之值為暫時內插值Fx1。
偏差調整部127，係將偏差調整值算出部126算出之偏差調整值(Cav
-Aav
)，加算於來自暫時內插值插入部125之基本圖框FX，進行基本圖框FX之偏差調整(圖13之步驟S100)。最後，差分合計算出部128，係進行比較圖框F1與基本圖框FX之差分之合計，算出差分合計值，輸出至最小值檢測部130(圖13之步驟S110)。
亦即，藉由偏差調整部127與差分合計算出部128，針對基本圖框FX與比較圖框F1之位於同一位置關係的畫素彼此(圖7中之畫素6與畫素1、畫素7與畫素2、畫素8與畫素3、畫素9與畫素4、畫素10與畫素5)之個別之差分，以絕對值算出合計S。
差分合計S=abs(畫素1-(畫素6+Cav
-Aav
)+abs(畫素2-(畫素7+Cav
-Aav
)+abs(畫素3-(畫素8+Cav
-Aav
)+abs(畫素4-(畫素9+Cav
-Aav
)+abs(畫素5-(畫素10+Cav
-Aav
)
其中，掉落畫素X(10)之值為暫時內插值Fx1。
該算出之差分合計與暫時內插值，係被保存於內部記憶體(未圖示)(圖13之步驟S120)。僅執行比較圖框數(於此為比較圖框F1～F12之12次)之該步驟S30～S120，求出個別之差分合計及暫時內插值。
最小值檢測部130，係由基本圖框FX與比較圖框F1之差分合計S1、基本圖框FX與比較圖框F2之差分合計S2、基本圖框FX與比較圖框F3之差分合計S3、...、基本圖框FX與比較圖框F12之差分合計S12之中檢測出最小值之差分合計(圖13之步驟S140)。之後，內插值輸出部140，係以求出該最小值之差分合計時之暫時內插值作為正式之內插值輸出(圖13之步驟S150)。
依據本實施形態，藉由和周邊畫素之圖案匹配處理，使用匹配程度最高之畫素進行內插，因此可提升內插性能，於網點圖像可以改善縱條紋，圖像邊緣部之偽色可以改善。
(第1實施形態之變形例)
以下參照圖11、15說明本發明第1實施形態之變形例。
於圖11，構成為以差分合計最小時之暫時內插值作為正式之內插值予以輸出，但亦可並用其他之內插技術。
例如於圖14之實施形態中，係於圖11設置線性內插處理部200與內插值之切換/輸出處理部210之構成。線性內插處理部200，係算出掉落畫素X之兩側畫素之平均，作為內插值予以輸出者。內插值之切換/輸出處理部210，係選擇最小值檢測部130所輸出之差分合計最小時之暫時內插值、或者線性內插處理部200所輸出之內插值之其中一方，作為正式之內插值輸出者。
亦即，於內插值之切換/輸出處理部210事先被設定差分合計之臨限值，當最小值檢測部130輸出之差分合計之最小值在上述臨限值以下時，係以圖案匹配處理部120算出之暫時內插值作為正式之內插值予以輸出，當差分合計之最小值超越上述臨限值時，係以線性內插處理部200算出之內插值作為正式之內插值予以輸出。
依據該實施形態，在差分合計之最小值為較大時，亦即如圖6所示，匹配程度低時，圖案匹配處理之暫時內插值之信賴性變低，大為偏離真值之情況存在，因此，藉由輸出習知內插方法之線性內插之內插值予以解決。
於圖15之實施形態中，係於圖14另外設置信號位準差之算出部220。信號位準差之算出部220，係算出掉落畫素X之兩側周邊畫素之信號位準差，將該信號位準差輸出至內插值之切換/輸出處理部210。具體言之為，分別算出掉落畫素之一側之周邊畫素之平均值，及另一側之周邊畫素之平均值，以該平均值之差作為信號位準差輸出。
內插值之切換/輸出處理部210，係依據來自算出部220之信號位準差，選擇最小值檢測部130所輸出之差分合計最小時之暫時內插值，或線性內插處理部200所輸出之內插值之其中之一，作為正式之內插值予以輸出者。
亦即，於信號位準差之算出部220之信號位準差設定臨限值，當信號位準差在臨限值以下時，係以圖案匹配處理部120算出之暫時內插值作為正式之內插值予以輸出，當信號位準差超越臨限值時，係以線性內插處理部200算出之內插值作為正式之內插值予以輸出。
依據該實施形態，對於掉落畫素X，在兩側之周邊畫素之信號位準差較大時，亦即圖像之邊緣部分成為掉落畫素時，圖案匹配處理之暫時內插值之信賴性變低，大為偏離真值之情況存在，因此，藉由輸出習知內插方法之線性內插之內插值予以解決。
(第2實施形態)
於上述第1實施形態及其變形例，係構成為針對基本圖案與比較圖框之畫素彼此進行偏差調整，求出差分的方式。於第2實施形態係構成為，分別求出基本圖案與比較圖框之畫素之邊緣成份，算出所求出邊緣成份的差分的方式。另外，圖案匹配處理時之掉落畫素位置或暫時內插之方法，係和第1實施形態同樣。
圖16-18表示第2實施形態。圖16表示第2實施形態使用之2個微分濾波器之圖。圖17為第2實施形態之圖像內插裝置之方塊圖。圖18為第2實施形態之動作流程圖。
於第2實施形態之圖案匹配處理，係分別算出基本圖案與比較圖案之各畫素之邊緣成份。針對基本圖案與比較圖案之位於同一位置關係的畫素之邊緣成份之差分，以絕對值方式進行合計。
該邊緣成份，係使用對象畫素與鄰接畫素進行微分濾波器處理而算出者。於某一探索範圍內，邊緣成份之差分之絕對值合計為最小時之圖案，可以判斷為匹配程度高，因而以此時之暫時內插值作為正式之內插值予以輸出。
圖16(a)表示算出邊緣成份時使用之1次微分濾波器。圖16(b)表示算出邊緣成份時使用之2次微分濾波器。於第2實施形態，係使用該1次微分濾波器或2次微分濾波器，求出基本圖框與比較圖框之各畫素之邊緣成份。
進行其之處理的圖像內插裝置，係如圖17所示。和圖12之第1實施形態之不同點在於，在比較圖框畫素抽出部122與差分合計算出部128之間，設置算出部160用於算出比較圖框之各畫素之邊緣成份。另外，於暫時內插值插入部125與差分合計算出部128之間，設置算出部170用於算出被插入暫時內插值後之基本圖框之各畫素之邊緣成份。
圖18為第2實施形態之圖像內插裝置之動作流程，上述<步驟1>與<步驟3>之動作，係和第1實施形態同樣。因此，<步驟1>對應之圖18之步驟S10～S60，及<步驟3>對應之圖18之步驟S120～S150之動作，係省略說明。
於第2實施形態之<步驟2>之工程中，藉由算出邊緣成份的算出部160，算出比較圖框之各畫素之邊緣成份(步驟S70a)。另外，藉由算出邊緣成份的算出部170，算出被插入暫時內插值後之基本圖框之各畫素之邊緣成份(步驟S80a)。
之後，接受來自上述算出部160、170之輸出的差分合計算出部128，係針對基本圖框與比較圖框之位於同一位置關係的畫素彼此之邊緣成份之各個差分，以絕對值(abs)算出合計S(步驟S90a)。
例如使用圖16(a)之1次微分濾波器求出邊緣成份時，藉由差分合計算出部128以絕對值算出各個差分之合計S之值，係如下所示。
S=abs((Cn-3
-Cn-4
)-(An-3
-An-4
)+abs(Cn-2
-Cn-3
)-(An-2
-An-3
)+abs(Cn-1
-Cn-2
)-(An-1
-An-2
)+abs(Cn
-Cn-1
)-(An
-An-1
))
其中，(Cn-3
-Cn-4
)、(Cn-2
-Cn-3
)、(Cn-1
-Cn-2
)、(Cn
-Cn-1
)為算出部160算出之比較圖框之邊緣成份。另外，(An-3
-An-4
)、(An-2
-An-3
)、(An-1
-An-2
)、(An
-An-1
)為算出部170算出之比較圖框之邊緣成份。
例如使用圖16(b)之2次微分濾波器求出邊緣成份時，藉由差分合計算出部128以絕對值(abs)算出各個差分之合計S之值，係如下所示。
gCn-3
=(Cn-4
-2×Cn-3
+Cn-2
)/2
gCn-2
=(Cn-3
-2×Cn-2
+Cn-1
)/2
gCn-1
=(Cn-2
-2×Cn-1
+Cn
)/2
gAn-3
=(An-4
-2×An-3
+An-2
)/2
gAn-2
=(An-3
-2×An-2
+An-1
)/2
gAn-1
=(An-2
-2×An-1
+An
)/2
S=abs(gCn-3
-gAn-3
)+abs(gCn-2
-gAn-2
)+abs(gCn-1
-gAn-1
)
其中，上述gCn-3
、gCn-2
、gCn-1
為算出部160算出之比較圖框之邊緣成份。另外，gAn-3
、gAn-2
、gAn-1
為算出部170算出之比較圖框之邊緣成份。
將步驟S90a算出之差分合計，與步驟S50算出之暫時內插值，保存於內部記憶體(步驟S120)。
依據上述各實施形態，針對複數個接觸式影像感測器之連結部分對應之位置之畫素資料，可以良好精確度進行內插。另外，使用基本圖案之掉落畫素之周邊畫素及比較圖案之掉落畫素所對應之周邊畫素，算出彼等信號位準及信號變化量適應之暫時內插值，將其插入基本圖案之掉落畫素，如此而可以提升圖案匹配之檢測精確度。另外，藉由求出基本圖案與比較圖框之畫素彼此之差分，如此則，對於掉落畫素可以獲得更良好精確度之內插值。
(第3實施形態)
之前係說明1位元之掉落畫素之內插處理，但亦可適用複數位元之掉落畫素之內插。以下詳細說明複數位元之掉落畫素之內插處理。該複數位元之掉落畫素之內插處理，雖可直接適用第1實施形態，但差異在於藉由掉落畫素數之暫時內插之計算次數，及線性內插之算出式。以下說明和第1實施形態不同之暫時內插值之算出，及線性內插之計算式。
圖12之暫時內插用畫素抽出部123，係抽出掉落之複數位元畫素之暫時內插值之計算所使用的畫素。例如如圖19所示，複數位元之掉落畫素An1
、An2
、...、Anm
、(m為掉落畫素數)產生時，係抽出其之兩端畫素An-1
、An+1
，及掉落畫素和與其之兩端畫素位於同一位置關係的比較圖案之畫素Cn1
、Cn2
、...、Cnm
、Cn-1
、Cn+1
。
於圖19之例，掉落畫素An1
之暫時內插值之計算使用之畫素為Cn-1
、Cn1
、Cn+1
、An-1
、An+1
。掉落畫素An2
之暫時內插值之計算使用之畫素為Cn-1
、Cn2
、Cn+1
、An-1
、An+1
。另外，掉落畫素Anm
之暫時內插值之計算使用之畫素為Cn-1
、Cnm
、Cn+1
、An-1
、An+1
。
每一個掉落畫素之暫時內插值之計算使用的畫素被抽出後，圖12之暫時內插值算出部124，係計算每一個掉落畫素An1
、An2
、...、Anm
之暫時內插值。該暫時內插值之計算，係對應於每一個掉落畫素，執行上述內插式(1)～(6)之其中之一之運算處理，或內插式(7)之運算處理。
以下說明上述內插式(1)～(6)之複數位元之掉落畫素之暫時內插值之計算式。此情況下，圖8(a)～(f)之掉落畫素An
，係被替換為圖19之掉落畫素An1
、An2
、...、Anm
。另外，比較畫素Cn
係被替換為圖19之比較畫素Cn1
、Cn2
、...、Cnm
。
結果，圖8(a)之信號變化時，係藉由
An1
=Cn1
×(An-1
+An+1
)/(Cn-1
+Cn+1
)
An2
=Cn2
×(An-1
+An+1
)/(Cn-1
+Cn+1
)
Anm
=Cnm
×(An-1
+An+1
)/(Cn-1
+Cn+1
)...內插式(9)
之運算求出。
圖8(b)之信號變化時，係藉由
An1
=(Cn1
+(An-1
+An+1
)/2)×(An-1
+An+1
)/(Cn-1
+Cn+1
+An-1
+An+1
)
An2
=(Cn2
+(An-1
+An+1
)/2)×(An-1
+An+1
)/(Cn-1
+Cn+1
+An-1
+An+1
)
Anm
=(Cnm
+(An-1
+An+1
)/2)×(An-1
+An+1
)/(Cn-1
+Cn+1
+An-1
+An+1
)..內插式(10)
之運算求出。
圖8(c)之信號變化時，係藉由
An1
=(Cn1
-Cn-1
)×(An+1
-An-1
)/(Cn+1
-Cn-1
)+An+1
An2
=(Cn2
-Cn-1
)×(An+1
-An-1
)/(Cn+1
-Cn-1
)+An+1
Anm
=(Cnm
-Cn-1
)×(An+1
-An-1
)/(Cn+1
-Cn-1
)+An+1
....內插式(11)
之運算求出。
圖8(d)之信號變化時，係藉由
An1
=(Cn1
-Cn-1
)×(An-1
-An+1
)/(Cn+1
-Cn-1
)+An+1
An2
=(Cn2
-Cn-1
)×(An-1
-An+1
)/(Cn+1
-Cn-1
)+An+1
Anm
=(Cnm
-Cn-1
)×(An-1
-An+1
)/(Cn+1
-Cn-1
)+An+1
....內插式(12)
之運算求出。
圖8(e)之信號變化時，係藉由
An1
=(Cn1
-Cn+1
)×(An-1
-An+1
)/(Cn-1
-Cn+1
)+An+1
An2
=(Cn2
-Cn+1
)×(An-1
-An+1
)/(Cn-1
-Cn+1
)+An+1
Anm
=(Cnm
-Cn+1
)×(An-1
-An+1
)/(Cn-1
-Cn+1
)+An+1
....內插式(13)
之運算求出。
圖8(f)之信號變化時，係藉由
An1
=(Cn1
-Cn+1
)×(An+1
-An-1
)/(Cn-1
-Cn+1
)+An-1
An2
=(Cn2
-Cn+1
)×(An+1
-An-1
)/(Cn-1
-Cn+1
)+An-1
Anm
=(Cm
-Cn+1
)×(An+1
-An-1
)/(Cn-1
-Cn+1
)+An-1
....內插式(14)
之運算求出。
不使用上述內插式(9)～(14)時，暫時內插值算出部124，藉由以下之內插式(15)求出複數位元之缺陷畫素(An1
、..、Anm
)(m為掉落畫素數)之暫時內插值An1
、..、Anm
亦可。
An1
=(An-1
+An+1
)/2+((Cn1
-Cn-1
)+(Cn1
-Cn+1
))/2
Anm
=(An-1
+An+1
)/2+((Cnm
-Cn-1
)+(Cnm
-Cn+1
))/2....內插式(15)
其中，比較畫素Cn1
、Cnm
，係缺陷畫素An1
、Anm
對應之上述比較圖框之畫素。
另外，圖14或圖15所示線性內插處理部200，例如係進行如圖20所示信號之斜率對應之內插處理。亦即，使用算出之掉落畫素對應之內插值An1
、An2
、...、Anm
，及其之兩端畫素An-1
、An+1
，依據以下之計算式來輸出線性內插之結果。另外，1位元之畫素掉落時，亦可使用以下之計算式。
內插值An1
=G×1+An-1
內插值An2
=G×2+An-1
內插值Anm
=G×m+An-1
其中，m為掉落畫素數，信號之斜率G=(An+1
-An-1
)/(m+1)。
(2位元之畫素掉落時之計算例)
以下說明2位元之畫素An1
、An2
掉落時之計算例。又，圖框畫素數設為「5」。
<步驟1>
掉落畫素An1
、An2
，係位於基本圖框之末尾或先頭移動。之後，使用基本圖框之掉落畫素An1
之兩端畫素An-1
、An+1
，及兩端畫素和該掉落畫素為位於同一位置關係的比較圖框之畫素Cn-1
、Cn1
、Cn+1
，算出彼等使用畫素之信號位準及信號變化量所適應之暫時內插值An1
，插入基本圖框之掉落畫素An1
。
同樣，使用基本圖框之掉落畫素An2
之兩端畫素An-1
、An+1
，及比較圖框之畫素Cn-1
、Cn2
、Cn+1
，算出暫時內插值An2
，插入掉落畫素An2
。該暫時內插值An1
、An2
之計算，係依據使用畫素之信號位準及信號變化，分開使用內插式(9)～(14)。
<步驟2>
接著，算出基本圖框與比較圖框之圖框平均值Aav
、Cav
。
比較圖框之平均值Cav
=(Cn-3
+Cn-2
+Cn-1
+Cn1
+Cn2
)/px
基本圖框FX之平均值Aav
=(An-3
+An-2
+An-1
+An1
+An2
)/px。
Px：圖框之畫素數(本實施形態中為「5」)
之後，針對基本圖框與比較圖框之位於同一位置關係之畫素彼此(圖20說明之An-3
與Cn-3
、An-2
與Cn-2
、An-1
與Cn-1
、An1
與Cn1
、An2
與Cn2
)之各個差分，以絕對值(abs)進行合計S而算出。
合計S=abs(Cn-3
-(An-3
+Cav
-Aav
))+abs(Cn-2
-(An-2
+Cav
-Aav
))+abs(Cn-1
-(An-1
+Cav
-Aav
))+abs(Cn1
-(An1
+Cav
-Aav
))+abs(Cn2
-(An2
+Cav
-Aav
))
(步驟3)
僅執行探索圖框數之步驟1與步驟2之處理。之後，於探索圖框數分之比較圖框與基本圖框之差分資料中，可以判斷其中差分資料最小時之圖框為圖案匹配之程度高者，因而以此時之暫時內插值作為正式之內插值。
依據本實施形態，即使產生複數位元之缺陷畫素，亦可使用最為匹配之畫素進行內插，因此可提升內插性能，網點圖像之縱條紋可以改善，圖像邊緣部之偽色可以改善。
本發明並不限定於上述實施形態，在不脫離其要旨情況下可做各種變更實施。另外，亦可適當組合各實施形態。
FX．．．基本圖框
F1～F12．．．比較圖框
100．．．圖像內插裝置
110．．．周邊畫素抽出部
120-1～120-n．．．圖案匹配處理部
130．．．最小值檢測部
140．．．內插值輸出部
121．．．基本圖框畫素抽出部
122．．．比較圖框畫素抽出部
123．．．暫時內插用畫素抽出部
124．．．暫時內插值算出部
125．．．暫時內插值插入部
126．．．偏差調整值算出部
127．．．偏差調整部
128．．．差分合計算出部
160，170．．．各畫素之邊緣成份之算出部
200．．．線性內插處理部
210．．．內插值之切換/輸出處理部
220．．．信號位準差之算出部
圖1為1畫面之內插影像之圖。
圖2為本發明之圖案匹配之基本概念說明之表現圖。
圖3為進行本發明之圖案匹配處理的基本圖案之掉落畫素之位置及暫時內插所使用之畫素，及比較圖案之暫時內插所使用之畫素。
圖4為依據基本圖案與比較圖案之信號位準而算出的偏差調整Voff之圖。
圖5為基本圖案之5畫素之信號位準之圖案，與比較圖案之5畫素之信號位準之匹配程度高之例。
圖6為基本圖案之5畫素之信號位準之圖案，與比較圖案之5畫素之信號位準之匹配程度低之例。
圖7為第1實施形態之基本圖案、亦即基本圖框，與複數個比較圖案、亦即複數個比較圖框之位置關係。
圖8為第1實施形態使用之畫素之信號位準及信號變化之例。
圖9為使用第1實施形態進行圖像內插時，與藉由習知技術進行圖像內插時之第1實驗例之圖。
圖10為使用第1實施形態進行圖像內插時，與藉由習知技術進行圖像內插時之第2實驗例之圖。
圖11為第1實施形態之圖像內插裝置之構成方塊圖。
圖12為第1實施形態之圖案匹配處理部之詳細構成方塊圖。
圖13為第1實施形態之圖像內插裝置之動作流程圖。
圖14為第1發明之另一實施形態之圖像內插裝置之構成方塊圖。
圖15為第1發明之再另一實施形態之圖像內插裝置之構成方塊圖。
圖16為第2實施形態使用之2個微分濾波器之圖。
圖17為第2實施形態之圖像內插裝置之方塊圖。
圖18為第2實施形態之圖像內插裝置之動作流程圖。
圖19為第3實施形態之複數位元之缺陷畫素之內插時之暫時內插使用之畫素之例。
圖20為第3實施形態之線性內插之例。
圖21為將印刷基板上搭載有CCD圖像讀取元件之複數個接觸式影像感測器予以並列而構成之圖像讀取感測器之圖。
120．．．圖案匹配處理部
121．．．基本圖框畫素抽出部
122．．．比較圖框畫素抽出部
123．．．暫時內插用畫素抽出部
124．．．暫時內插值算出部
125．．．暫時內插值插入部
126．．．偏差調整值算出部
127．．．偏差調整部
128．．．差分合計算出部
Claims (25)
- 一種圖像內插裝置，係針對複數個接觸式影像感測器加以連結，以該連結部為掉落畫素進行內插者，該接觸式影像感測器，係由多數圖像讀取元件以直線狀配列而成；其特徵為具備：周邊畫素抽出手段，係由上述掉落畫素之周邊畫素抽出：以上述掉落畫素為先頭或末尾之位置的3個以上之連續畫素所構成之基本圖框，及至少1個畫素未被重疊之連續畫素，由和上述基本圖框相同之畫素數所構成之複數個比較圖框；暫時內插值算出手段，依據上述掉落畫素之前後畫素所構成之第1畫素群，及上述複數個比較圖框之和上述掉落畫素位於同一位置之畫素及其之前後畫素所構成之第2畫素群的信號位準及信號變化量，依上述複數個比較圖框之每一個來算出暫時內插值；複數個圖案匹配處理手段，用於將上述複數個比較圖框之每一個所算出之上述暫時內插值代入上述基本圖框之上述掉落畫素，針對具有各個上述暫時內插值的上述基本圖框，與其所對應之上述比較圖框之位於同一位置關係的畫素彼此之各別之差分，以絕對值予以合計，而算出圖案匹配之程度；及輸出手段，以上述複數個圖案匹配處理手段輸出之上述差分合計之最小者所對應之上述暫時內插值，作為正式之內插值予以輸出。
- 一種圖像內插裝置，係針對複數個接觸式影像感測器加以連結，以該連結部為掉落畫素進行內插者，該接觸式影像感測器，係由多數圖像讀取元件以直線狀配列而成；其特徵為具備：周邊畫素抽出手段，係由上述掉落畫素之周邊畫素抽出：以上述掉落畫素為先頭或末尾之位置的3個以上之連續畫素所構成之基本圖框，及至少1個畫素未被重疊之連續畫素，由和上述基本圖框相同之畫素數所構成之複數個比較圖框；暫時內插值算出手段，依據上述掉落畫素之前後畫素所構成之第1畫素群，及上述複數個比較圖框之和上述掉落畫素位於同一位置之畫素及其之前後畫素所構成之第2畫素群的信號位準及信號變化量，依上述複數個比較圖框之每一個來算出暫時內插值；複數個圖案匹配處理手段，用於將上述複數個比較圖框之每一個所算出之上述暫時內插值代入上述基本圖框之上述掉落畫素，針對具有各個上述暫時內插值的上述基本圖框，與其所對應之上述比較圖框之同一位置關係的畫素彼此之各別之差分，以絕對值予以合計，而算出圖案匹配之情況；檢測手段，用於檢測上述複數個圖案匹配處理手段輸出之上述差分合計之最小者所對應之上述暫時內插值；線性內插手段，對應於上述掉落畫素之兩側畫素之斜率，而輸出內插值；及輸出手段，當上述檢測手段輸出之上述差分合計在特定臨限值以下時，以上述檢測手段輸出之上述暫時內插值作為正式之內插值予以輸出，當上述差分合計在特定臨限值以上時，以上述線性內插手段輸出之內插值作為正式之內插值予以輸出。
- 一種圖像內插裝置，係針對複數個接觸式影像感測器加以連結，以該連結部為掉落畫素進行內插者，該接觸式影像感測器，係由多數圖像讀取元件以直線狀配列而成；其特徵為具備：周邊畫素抽出手段，係由上述掉落畫素之周邊畫素抽出：以上述掉落畫素為先頭或末尾之位置的3個以上之連續畫素所構成之基本圖框，及至少1個畫素未被重疊之連續畫素，由和上述基本圖框相同之畫素數所構成之複數個比較圖框；暫時內插值算出手段，依據上述掉落畫素之前後畫素所構成之第1畫素群，及上述複數個比較圖框之和上述掉落畫素位於同一位置之畫素及其之前後畫素所構成之第2畫素群的信號位準及信號變化量，依上述複數個比較圖框之每一個來算出暫時內插值；複數個圖案匹配處理手段，用於將上述複數個比較圖框之每一個所算出之上述暫時內插值代入上述基本圖框之上述掉落畫素，針對具有各個上述暫時內插值的上述基本圖框，與其所對應之上述比較圖框之同一位置關係的畫素彼此之各別之差分，以絕對值予以合計，而算出圖案匹配之情況；檢測手段，用於檢測上述複數個圖案匹配處理手段輸出之上述差分合計之最小者所對應之上述暫時內插值；線性內插手段，對應於上述掉落畫素之兩側畫素之斜率，而輸出內插值；信號位準差算出手段，分別算出上述掉落畫素之掉落畫素之一方側之周邊畫素之平均值，及另一方側之周邊畫素之平均值，以該平均值之差作為信號位準差予以輸出；及輸出手段，當上述信號位準差在特定臨限值以下時，以上述檢測手段輸出之上述暫時內插值作為正式之內插值予以輸出，當上述信號位準差在特定臨限值以上時，以上述線性內插手段所輸出之內插值作為正式之內插值予以輸出。
- 如申請專利範圍第1～3項中任一項之圖像內插裝置，其中上述暫時內插值算出手段，在上述第2畫素群(Cn-1 、Cn 、Cn+1 )之信號變化為無連續性之凹凸型信號變化、而且上述第2畫素群(Cn-1 、Cn 、Cn+1 )之信號位準大於上述第1畫素群(An-1 、An+1 )時，係依據以下之內插式(1)算出上述暫時內插值An ，在上述第2畫素群之信號位準小於上述第1畫素群時，係依據以下之內插式(2)算出上述暫時內插值An ，An =Cn ×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 )....內插式(1)An =(Cn +(An-1 +An+1 )/2)×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 +An-1 +An+1 )....內插式(2)。
- 如申請專利範圍第1～3項中任一項之圖像內插裝置，其中上述暫時內插值算出手段，在上述第2畫素群(Cn-1 、Cn 、Cn+1 )之信號變化為連續性之傾斜型、而且上述第1畫素群(An-1 、An+1 )與上述第2畫素群(Cn-1 、Cn 、Cn+1 )之關係為An-1 <An+1 而且Cn-1 <Cn+1 時，係依據以下之內插式(3)算出上述暫時內插值，在An-1 >An+1 而且Cn-1 <Cn+1 時，係依據以下之內插式(4)算出上述暫時內插值，在An-1 >An+1 而且Cn-1 >Cn+1 時，係依據以下之內插式(5)算出上述暫時內插值，在An-1 <An+1 而且Cn-1 >Cn+1 時，係依據以下之內插式(6)算出上述暫時內插值，An =(Cn -Cn-1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An-1 ....內插式(3)An =(Cn -Cn-1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An+1 ....內插式(4)An =(Cn -Cn+1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An+1 ....內插式(5)An =(Cn -Cn+1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An-1 ....內插式(6)。
- 如申請專利範圍第1～3項中任一項之圖像內插裝置，其中上述暫時內插值算出手段，於上述基本圖框係算出上述掉落畫素An 之兩端畫素An-1 、An+1 之平均值，於上述比較圖框係由和上述基本圖案之掉落畫素為同一位置關係的畫素Cn 與其之兩端畫素Cn-1 、Cn+1 來算出信號斜率，藉由將彼等加算之以下之內插式(7)算出，An =(An-1 -An+1 )/2+((Cn -Cn-1 )+(Cn -Cn+1 ))/2....內插式(7)。
- 如申請專利範圍第1～3項中任一項之圖像內插裝置，其中上述暫時內插值算出手段，於上述基本圖框係算出除去上述掉落畫素An 以外的至少3畫素An-3 、An-2 、An-1 之平均值Aav ，於上述比較圖框係算出除去和上述基本圖案之掉落畫素為同一位置關係之畫素Cn 以外的至少3畫素Cn-3 、Cn-2 、Cn-1 之平均值Cav ，由彼等之平均值之差分而求出暫時內插用之偏差(offset)調整值(Aav -Cav )，藉由對該算出之暫時內插用之偏差調整值，加算和基本圖案之掉落畫素位於同一位置關係之比較圖案之畫素Cn 之值的以下之內插式(8)算出，Aav =(An-3 +An-2 +An-1 )/(px-1)Cav =(Cn-3 +Cn-2 +Cn-1 )/(px-1)An =Cn +Aav -Cav ....內插式(8)其中，px為圖框之畫素數(4以上)。
- 如申請專利範圍第1～3項中任一項之圖像內插裝置，其中上述複數個圖案匹配處理手段，係另具有：偏差調整值算出手段，其使用具有個別之上述暫時內插值的上述基本圖框及其對應之上述比較圖框，來算出偏差調整值；上述偏差調整值算出手段，係算出具有上述暫時內插值之上述基本圖框之平均值Aav 及其所對應之上述比較圖框之平均值Cav ，依據上述平均值Cav 與上述平均值Aav 之差分來算出偏差調整值(Cav -Aav )。
- 如申請專利範圍第4項之圖像內插裝置，其中上述暫時內插值算出手段，針對複數位元之缺陷畫素(An1 、..、Anm )(m為掉落畫素數)進行內插時，係取代上述內插式(1)改用以下之內插式(9)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，取代上述內插式(2)改用以下之內插式(10)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，An1 =Cn1 ×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 )Anm =Cnm ×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 )....內插式(9)An1 =(Cn1 +(An-1 +An+1 )/2)×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 +An-1 +An+1 )Anm =(Cnm +(An-1 +An+1 )/2)×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 +An-1 +An+1 )....內插式(10)其中，比較畫素Cn1 、Cnm ，係缺陷畫素An1 、Anm 對應之上述比較圖框之畫素。
- 如申請專利範圍第5項之圖像內插裝置，其中上述暫時內插值算出手段，針對複數位元之缺陷畫素(An1 、..、Anm )(m為掉落畫素數)進行內插時，係取代上述內插式(3)改用以下之內插式(11)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，取代上述內插式(4)改用以下之內插式(12)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，取代上述內插式(5)改用以下之內插式(13)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，取代上述內插式(6)改用以下之內插式(14)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，An1 =(Cn1 -Cn-1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An-1 Anm =(Cnm -Cn-1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An-1 ....內插式(11)An1 =(Cn1 -Cn-1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An+1 Anm =(Cnm -Cn-1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An+1 ....內插式(12)An1 =(Cn1 -Cn+1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An+1 Anm =(Cnm -Cn+1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An+1 ....內插式(13)An1 =(Cn1 -Cn+1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An-1 Anm =(Cm -Cn+1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An-1 ....內插式(14)其中，比較畫素Cn1 、Cnm ，係缺陷畫素An1 、Anm 對應之上述比較圖框之畫素。
- 如申請專利範圍第6項之圖像內插裝置，其中上述暫時內插值算出手段，針對複數位元之缺陷畫素(An1 、..、Anm )(m為掉落畫素數)進行內插時，係取代上述內插式(7)改用以下之內插式(15)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，An1 =(An-1 +An+1 )/2+((Cn1 -Cn-1 )+(Cn1 -Cn+1 ))/2Anm =(An-1 +An+1 )/2+((Cnm -Cn-1 )+(Cnm -Cn+1 ))/2....內插式(15)其中，比較畫素Cn1 、Cnm ，係缺陷畫素An1 、Anm 對應之上述比較圖框之畫素。
- 如申請專利範圍第8項之圖像內插裝置，其中上述複數個圖案匹配處理手段，係另具有差分合計算出手段，用於將依上述複數個比較圖框之每一個算出之上述偏差調整值，加算於個別之上述基本圖框，將該偏差調整後之個別之上述基本圖框，和其所對應上述比較圖框之具有同一位置關係的畫素彼此之個別之差分予以合計，而算出上述差分合計。
- 如申請專利範圍第1～3項中任一項之圖像內插裝置，其中上述複數個圖案匹配處理手段，係另具有：第1邊緣成份算出部，用於算出具有各個上述暫時內插值的上述基本圖框之各畫素之邊緣成份；第2邊緣成份算出部，用於算出上述比較圖框之各畫素之邊緣成份；及差分合計算出手段，用於接受上述第1及第2邊緣成份算出部之輸出，針對上述基本圖框與上述比較圖框之位於同一位置關係的畫素彼此之邊緣成份之各個差分以絕對值方式算出合計值。
- 申請專利範圍第13項之圖像內插裝置，其中上述第1及第2邊緣成份算出部，係藉由1次微分濾波器或2次微分濾波器，算出上述基本圖框與上述比較圖框之上述邊緣成份。
- 一種圖像內插程式，係針對複數個接觸式影像感測器加以連結，以該連結部為掉落畫素進行內插者，該接觸式影像感測器，係由多數圖像讀取元件以直線狀配列而成；其特徵為具備：周邊畫素抽出功能，係由上述掉落畫素之周邊畫素抽出：以上述掉落畫素為先頭或末尾之位置的3個以上之連續畫素所構成之基本圖框，及至少1個畫素未被重疊之連續畫素，由和上述基本圖框相同之畫素數所構成之複數個比較圖框；暫時內插值算出功能，依據上述掉落畫素之前後畫素所構成之第1畫素群，及上述複數個比較圖框之和上述掉落畫素為同一位置之畫素及其之前後畫素所構成之第2畫素群的信號位準及信號變化量，依上述複數個比較圖框之每一個來算出暫時內插值；複數個圖案匹配處理功能，用於將上述複數個比較圖框之每一個所算出之上述暫時內插值代入上述基本圖框之上述掉落畫素，針對具有各個上述暫時內插值的上述基本圖框，與其所對應之上述比較圖框之位於同一位置關係的畫素彼此之各別之差分，以絕對值予以合計，而算出圖案匹配之情況；及輸出功能，以上述複數個圖案匹配處理功能所輸出之上述差分合計之最小者對應之上述暫時內插值，作為正式之內插值予以輸出。
- 如申請專利範圍第15項之圖像內插程式，其中上述暫時內插值算出功能，在上述第2畫素群(Cn-1 、Cn 、Cn+1 )之信號變化為無連續性之凹凸型信號變化、而且上述第2畫素群(Cn-1 、Cn 、Cn+1 )之信號位準大於上述第1畫素群(An-1 、An+1 )時，係依據以下之內插式(1)算出上述暫時內插值An ，在上述第2畫素群之信號位準小於上述第1畫素群時，係依據以下之內插式(2)算出上述暫時內插值An ，An =Cn ×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 )....內插式(1)An =(Cn +(An-1 +An+1 )/2)×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 +An-1 +An+1 )....內插式(2)。
- 如申請專利範圍第15項之圖像內插程式，其中上述暫時內插值算出功能，在上述第2畫素群(Cn-1 、Cn 、Cn+1 )之信號變化為連續性之傾斜型、而且上述第1畫素群(An-1 、An+1 )與上述第2畫素群(Cn-1 、Cn 、Cn+1 )之關係為An-1 <An+1 而且Cn-1 <Cn+1 時，係依據以下之內插式(3)算出上述暫時內插值，在An-1 >An+1 而且Cn-1 <Cn+1 時，係依據以下之內插式(4)算出上述暫時內插值，在An-1 >An+1 而且Cn-1 >Cn+1 時，係依據以下之內插式(5)算出上述暫時內插值，在An-1 <An+1 而且Cn-1 >Cn+1 時，係依據以下之內插式(6)算出上述暫時內插值，An =(Cn -Cn-1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An-1 ....內插式(3)An =(Cn -Cn-1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An+1 ....內插式(4)An =(Cn -Cn+1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An+1 ....內插式(5)An =(Cn -Cn+1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An-1 ....內插式(6)。
- 如申請專利範圍第15項之圖像內插程式，其中上述暫時內插值算出功能，於上述基本圖框係算出上述掉落畫素An 之兩端畫素An-1 、An+1 之平均值，於上述比較圖框係由和上述基本圖案之掉落畫素為同一位置關係的畫素Cn 與其之兩端畫素Cn-1 、Cn+1 來算出信號斜率，藉由將彼等加算之以下之內插式(7)算出，An =(An-1 +An+1 )/2+((Cn -Cn-1 )+(Cn -Cn+1 ))/2....內插式(7)。
- 如申請專利範圍第15項之圖像內插程式，其中上述暫時內插值算出功能，於上述基本圖框係算出除去上述掉落畫素An 以外的至少3畫素An-3 、An-2 、An-1 之平均值Aav ，於上述比較圖框係算出除去和上述基本圖案之掉落畫素為同一位置關係之畫素Cn 以外的至少3畫素Cn-3 、Cn-2 、Cn-1 之平均值Cav ，由彼等之平均值之差分而求出暫時內插用之偏差調整值(Aav -Cav )，藉由對該算出之暫時內插用之偏差調整值，加算和基本圖案之掉落畫素為同一位置關係之比較圖案之畫素Cn 之值的以下之內插式(8)算出，Aav =(An-3 +An-2 +An-1 )/(px-1)Cav =(Cn-3 +Cn-2 +Cn-1 )/(px-1)An =Cn +Aav -Cav ....內插式(8)其中，px為圖框之畫素數(4以上)。
- 如申請專利範圍第16項之圖像內插程式，其中上述暫時內插值算出功能，針對複數位元之缺陷畫素(An1 、..、Anm )(m為掉落畫素數)進行內插時，係取代上述內插式(1)改用以下之內插式(9)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，取代上述內插式(2)改用以下之內插式(10)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，An1 =Cn1 ×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 )Anm =Cnm ×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 )....內插式(9)An1 =(Cn1 +(An-1 +An+1 )/2)×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 +An-1 +An+1 )Anm =(Cnm +(An-1 +An+1 )/2)×(An-1 +An+1 )/(Cn-1 +Cn+1 +An-1 +An+1 )....內插式(10)其中，比較畫素Cn1 、Cnm ，係缺陷畫素An1 、Anm 對應之上述比較圖框之畫素。
- 如申請專利範圍第17項之圖像內插程式，其中上述暫時內插值算出功能，針對複數位元之缺陷畫素(An1 、..、Anm )(m為掉落畫素數)進行內插時，係取代上述內插式(3)改用以下之內插式(11)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，取代上述內插式(4)改用以下之內插式(12)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，取代上述內插式(5)改用以下之內插式(13)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，取代上述內插式(6)改用以下之內插式(14)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，An1 =(Cn1 -Cn-1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An-1 Anm =(Cnm -Cn-1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An-1 ....內插式(11)An1 =(Cn1 -Cn-1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An+1 Anm =(Cnm -Cn-1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn+1 -Cn-1 )+An+1 ....內插式(12)An1 =(Cn1 -Cn+1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An+1 Anm =(Cnm -Cn+1 )×(An-1 -An+1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An+1 ....內插式(13)An1 =(Cn1 -Cn+1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An-1 Anm =(Cm -Cn+1 )×(An+1 -An-1 )/(Cn-1 -Cn+1 )+An-1 ....內插式(14)其中，比較畫素Cn1 、Cnm ，係缺陷畫素An1 、Anm 對應之上述比較圖框之畫素。
- 如申請專利範圍第18項之圖像內插程式，其中上述暫時內插值算出功能，針對複數位元之缺陷畫素(An1 、..、Anm )(m為掉落畫素數)進行內插時，係取代上述內插式(7)改用以下之內插式(15)算出上述缺陷畫素(An1 、..、Anm )之暫時內插值An1 、..、Anm ，An1 =(An-1 +An+1 )/2+((Cn1 -Cn-1 )+(Cn1 -Cn+1 ))/2Anm =(An -1 +An+1 )/2+((Cnm -Cn-1 )+(Cnm -Cn+1 ))/2....內插式(15)其中，比較畫素Cn1 、Cnm ，係缺陷畫素An1 、Anm 對應之上述比較圖框之畫素。
- 如申請專利範圍第15項之圖像內插程式，其中上述複數個圖案匹配處理功能，係另具有：偏差調整值算出功能，其使用具有個別之上述暫時內插值的上述基本圖框及其對應之上述比較圖框，來算出偏差調整值；偏差調整值算出功能，係算出具有上述暫時內插值之上述基本圖框之平均值Aav 及其所對應之上述比較圖框之平均值Cav ，依據上述平均值Cav 與上述平均值Aav 之差分來算出偏差調整值(Cav -Aav )。
- 如申請專利範圍第23項之圖像內插程式，其中上述複數個圖案匹配處理功能，係將依上述複數個比較圖框之每一個算出之上述偏差調整值，加算於個別之上述基本圖框，將該偏差調整後之個別之上述基本圖框，和其所對應上述比較圖框之具有同一位置關係的畫素彼此之個別之差分予以合計，而算出上述差分合計。
- 如申請專利範圍第15項之圖像內插程式，其中上述複數個圖案匹配處理功能，係另具有：第1邊緣成份算出功能，用於算出具有各個上述暫時內插值的上述基本圖框之各畫素之邊緣成份；第2邊緣成份算出功能，用於算出上述比較圖框之各畫素之邊緣成份；及差分合計算出功能，用於接受上述第1及第2邊緣成份算出部之輸出，針對上述基本圖框與上述比較圖框之位於同一位置關係的畫素彼此之邊緣成份之各個差分以絕對值方式算出合計值。
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| JP2015222895A (ja) * | 2014-05-23 | 2015-12-10 | 株式会社沖データ | 画像補間装置、画像補間プログラム及び画像読取装置 |
| EP3300453B1 (en) * | 2016-09-23 | 2020-08-19 | Electrolux Appliances Aktiebolag | Method for boil detection and induction hob including a boil detection mechanism |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW464831B (en) * | 1998-11-30 | 2001-11-21 | Equator Technologies Inc | Image processing circuit and method for reducing a difference between pixel values across an image boundary |
| US20020080284A1 (en) * | 2000-12-20 | 2002-06-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for detecting repetitive motion in an interlaced video sequence apparatus for processing interlaced video signals |
| US20040257467A1 (en) * | 2003-02-19 | 2004-12-23 | Stmicroelectronics Sa | Process and device for de-interlacing by pixel analysis |
| TW200633525A (en) * | 2005-03-08 | 2006-09-16 | Mitsubishi Electric Corp | Image signal processing device, image signal processing method, and image signal displaying device |
| TW200740236A (en) * | 2005-12-14 | 2007-10-16 | Seiko Epson Corp | Method of detecting motion vector, image processing device, image display apparatus, and program |
| TW200903385A (en) * | 2007-07-09 | 2009-01-16 | Pixart Imaging Inc | Detection method for displacements with sub-pixel accuracy and apparatus using the same |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3216963B2 (ja) | 1994-11-16 | 2001-10-09 | 京セラミタ株式会社 | 網点領域判定装置 |
| JP3503372B2 (ja) * | 1996-11-26 | 2004-03-02 | ミノルタ株式会社 | 画素補間装置及びその画素補間方法 |
| JPH11122626A (ja) * | 1997-10-17 | 1999-04-30 | Nikon Corp | 画像処理方法及び装置並びに画像処理プログラムを記録した記録媒体 |
| JP2002232654A (ja) * | 2001-02-01 | 2002-08-16 | Ricoh Co Ltd | 画像処理装置、画像処理方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| JP2003101724A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-04 | Konica Corp | 画像読取装置及び画像形成装置 |
| US6784942B2 (en) * | 2001-10-05 | 2004-08-31 | Genesis Microchip, Inc. | Motion adaptive de-interlacing method and apparatus |
| JP3710452B2 (ja) * | 2003-03-11 | 2005-10-26 | キヤノン株式会社 | 画像読み取り装置、データ補間方法及び制御プログラム |
| JP3767593B2 (ja) * | 2003-10-07 | 2006-04-19 | 三菱電機株式会社 | 画素補間回路及び画素補間方法 |
| JP3810404B2 (ja) * | 2003-11-10 | 2006-08-16 | 三菱電機株式会社 | 画素補間回路、及び画素補間方法 |
| JP2005236770A (ja) * | 2004-02-20 | 2005-09-02 | Mitsubishi Electric Corp | 画素補間回路、画像読取装置、および画素補間方法 |
| US7907209B2 (en) * | 2005-05-13 | 2011-03-15 | The Hong Kong University Of Science And Technology | Content adaptive de-interlacing algorithm |
| JP4330164B2 (ja) * | 2005-11-16 | 2009-09-16 | 京セラミタ株式会社 | 画像補間装置 |
| JP4772754B2 (ja) * | 2007-06-25 | 2011-09-14 | 三菱電機株式会社 | 画像補間装置及び方法、並びに画像読取装置 |
| JP2010061565A (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-18 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 画素補間装置、画素補間方法および画像読取装置 |
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Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW464831B (en) * | 1998-11-30 | 2001-11-21 | Equator Technologies Inc | Image processing circuit and method for reducing a difference between pixel values across an image boundary |
| US20020080284A1 (en) * | 2000-12-20 | 2002-06-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for detecting repetitive motion in an interlaced video sequence apparatus for processing interlaced video signals |
| US20040257467A1 (en) * | 2003-02-19 | 2004-12-23 | Stmicroelectronics Sa | Process and device for de-interlacing by pixel analysis |
| TW200633525A (en) * | 2005-03-08 | 2006-09-16 | Mitsubishi Electric Corp | Image signal processing device, image signal processing method, and image signal displaying device |
| TW200740236A (en) * | 2005-12-14 | 2007-10-16 | Seiko Epson Corp | Method of detecting motion vector, image processing device, image display apparatus, and program |
| TW200903385A (en) * | 2007-07-09 | 2009-01-16 | Pixart Imaging Inc | Detection method for displacements with sub-pixel accuracy and apparatus using the same |
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