JP2005175547A - 傷補正回路 - Google Patents

Abstract

【課題】 一つの画像フレーム内で、最適な欠陥補正処理を施す様な傷補正方法（手段）を提供する。
【解決手段】画素欠陥の補間処理として、上下・左右・斜め等の一対の参照方向を選択し、選択方向上にある一対の参照画素を補間参照として、その値を演算することで注目画素の欠陥により損失した値を推定する処理を行い、参照画素範囲の値の変化を検出して方向参照とする参照画素の組を選択すると共に、選択された参照画素の組より方向参照とする画素対を決定し、決定された方向にある補完参照画素から欠陥補正画素に対して置換すべき補間値を計算する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、ＣＣＤ 等の固体撮像素子における欠陥画素の傷検出回路および傷補正回路に関する。

従来より、ＣＣＤ等における欠陥画素の傷補正処理は、欠陥画素の位置情報を予め記憶しておき、この傷情報に基いて欠陥画素の近隣の画素（参照画素）から得られる情報を適宜加工して、傷位置に当たる画素の予測値をその位置に置換することで行われている（特許文献１参照）。

図２（従来の補正アルゴリズム１）は、ベイヤ配列の撮像素子を想定したものであり、ラスタ毎に例えば、
R, G1, R, G1, R, G1, .....
G2, B, G2, B, G2, B, .....
の配列が連続する様な場合を想定している。図２では、参照領域を５×５の配列とし、その中心画素（図２中ref_22）を注目画素としている。

前述の様なベイヤ配列の撮像素子に対しては、従来同一色画素を参照とする為に、隣接する画素ではなく、その一つ隣の画素を参照画素としている。図２は、上下左右の参照画素から、前記置換データを作成することを想定した図示であるが、この場合、図2中ref_22の補間画素を生成する為には、ref_02, ref_42, ref_20, ref_24の4画素分を参照する。

今、図２中ref_22が欠陥画素である場合を考える。その場合、予め欠陥情報として該位置の画素が傷であることが分かっている。そこで、前記周辺画素の数値より、注目画素の補間値を計算し、そこに置換するものとする。代表的な従来例としては、ref_02とref_42の差分とref_20とref_24の差分とを比較して、その差の小さい（変化の少ないと見なせる）方向を参照方向として採択し、例えば、
| ref_02 -ref_42 | < | ref_20 - ref_24 |
であった場合、その加算平均値
( ref_02 + ref_42 ) / 2
を、補間値として採択し、欠陥位置の値と置換する。

図２は、簡単な例であり、その発展としては、図３の様に同一色画素の近隣上下左右に加えて斜め方向の画素も参照にする補正方法も、従来より実施されている。図２の方法では、撮像画像に斜め線などが存在する場合、その斜め線上に画素欠陥が存在して、前述の様な上下左右参照の補間をかけると、その置換値が本来の画素値（期待値）とかけ離れて補正の効果がないといった問題が生じている。図３の方法では、その回避が目的である。

図３では、前記同様に注目画素をref_22として、該画素が欠陥だとして補正する処理を図示している。

方向参照の決定や、補正値の算出の方法自体は、図２の内容と同じであり、それに、方向のパラメータが増えたものと考えれば良く、例えば先ず、先程同様に上下・左右の差分値の絶対値の大小評価をし（先程同様上下の差分が採択されたとしておく）、それとは別に斜めの評価をし、結果、
| ref_00 -ref_44 | < | ref_04 - ref_40 |
であった場合、次いで、
| ref_02 -ref_42 | > | ref_00 - ref_44|
となったとする。この結果を受けて、補間値は、
( ref_00 + ref_44 ) / 2
を採択することで、注目画素に対して全方向に精度の良い補間を行うことが出来る。

図４は、Circular Zone Plate (以下、CZP)に傷を付加してから欠陥補正を行ったものである。図4(a)は、傷を付加した状態のものであり、図４(b)は同一色の周辺画素を参照として図３の方法で補間した結果である。前述の如く、上下左右及び斜め方向の参照をしているにも関わらず、中心付近の斜め方向の線に対しては、補正結果の精度が低く、画像上に点傷が残っている。

図５（従来の補正アルゴリズム３）は、高空間周波数に対して最適な補正を行うために、隣接周辺画素を補正方向決定の参照画素とした欠陥補正を図示したものである。

ここでは、補正に使用する画素の方向を決定する方向参照画素を、( ref_11, ref_12, ref_13, ref_21, ref_23, ref_31, ref_32, ref_33 ) とし、それに基づいて使用する補正参照画素を、（ ref_00, ref_02, ref_04, ref_20, ref_24, ref_40, ref_42, ref_44 ） としている。方向参照画素を隣接する周辺画素にしているのは、空間周波数の変化に敏感に反応する為であり、補正参照画素を、同一色の周辺画素としているのは、偽色を抑圧する為である。

図６は、図５の補正結果を前記CZPに施した結果を添付している。このような無彩色のCZPなどでは、該方法による結果は、先の図４の欠陥補正結果よりも精度が高い。

しかしながら、ベイヤ配列の撮像素子に対して隣接画素を参照とすることは、前述の如く偽色の発生を招く要素を含む。よって、空間周波数が極端に高くない場合には、前記図３の様な同一色参照画素のみでの補正の方が欠陥補正の精度が高い。
特開平１１−２２０６６１号公報 特開平０６−３１９０８２号公報

しかしながら、画素欠陥の周辺の画像の空間周波数の高い場合には、前記同一色画素による参照画素を元にした画素補間では補正精度が落ち、結果、傷と変わらない悪影響を画像に齎す。

また、特許文献２では、画像境界を検出し、検出した周辺画素間境界の組合せに基き補間方法の採択を行うことを特徴とした提案をしているが、画像内に建物の壁面等が存在し、その境界付近に画素欠陥が存在している場合には、精度の高い結果を齎すと思われるため、空間周波数に対しては、関与は薄い。したがって、一つの画像フレーム内で、最適な欠陥補正処理を施すのは困難なのが現状である。

そこで本発明は、従来得られなかった、一つの画像フレーム内で、最適な欠陥補正処理を施す様な傷補正回路を提供するものである。

今回の問題提起として、画像の空間周波数と画素欠陥位置との問題を挙げている。よって、空間周波数が高くないのであれば、傷位置の画素色との相関関係から近隣の同一色画素のみを参照に用いる方法が、偽色の少ない補正値を得るものと考えられる。また、画像の空間周波数の高い位置に画素欠陥が生じている場合には、隣接画素から補正参照方向を検出する方が補正精度が良いことが、実験により得られている。

したがって、上記課題を解決するために本発明は、前記同一色の周辺参照画素と、隣接する参照画素各々が、補正方向決定に関与出来得る様な、選択的な演算パスと、対象画像に於ける注目画素（欠陥画素）位置周辺の空間周波数を検出する変化分検出手段を具備して、その検出結果により、方向参照の参照画素対を選択して、その結果から参照方向を判定する傷補正回路（手段）を備える装置構成となっている。

本発明により同一色の周辺参照画素と、隣接する参照画素各々が、補正方向決定に関与出来得る様に、前記注目画素に対する周辺参照画素対の範囲での空間周波数を検出する手段を設け、該検出手段の結果を反映して、方向参照の参照画素対を選択してその結果より参照方向を判定する装置構成を得ることにより、従来得られなかった、一つの画像フレーム内で最適な欠陥補正処理を施す様な傷補正回路（傷補正手段）を得ると共に、その結果より高品質な出力画像を得ることが出来る。

発明の最良の実施形態

以下に本発明の実施例について説明する。

以下に、本発明の第１の実施例について説明する。
本発明実施例の要部ブロック図を、図１に示す。図１中１０１は、注目画素及び、周辺参照画素を一時記憶しておく参照画素情報保持手段である。図１中１０２は、予め与えられた（工場調整により与えられても良いし、自己検出しても良い）傷位置情報である。欠陥補正は、傷位置情報１０２を元に、参照画素情報保持手段１０１が出力する注目画素を傷と認定した場合に、補正値と置換していく処理である。

図１中１０３は、参照画素情報保持手段１０１の出力から、どの情報を方向参照画素とするかを選択する選択手段である。図１中１０４は、選択手段１０３の出力結果よりその類似性を演算により算出する演算部である。この実施例では、相関を求める様な複雑な処理ではなく、上述の従来の技術の如く、参照画素対の差分を求めていく処理を紹介する。特に、演算部に固有の処理を指示するものではない。

図１中１０５は、演算部１０４の出力から補正参照とすべき方向を決定する判定手段である。選択手段１０３、演算部１０４、判定手段１０５の組合せは、従来欠陥補正処理に於ける手順と等価である。この実施例では、方向参照の処理パスに対して図示の如く、変化分検出手段１０６を組み合わせた処理を提案している。

図１中変化分検出手段１０６は、方向参照の参照画素を同一色周辺画素（図２,３,５中のref_00, ref_02, ref_04, ref_20, ref_24, ref_40, ref_42, ref_44）とするか、前記隣接参照画素（同、ref_11, ref_12, ref_13, ref_21, ref_23, ref_31, ref_32, ref_33）とするか選択手段１０３が判断する為の根拠となる、参照画素情報保持手段１０１の保持する参照画素領域の信号値の変化分を算出する為の手段である。

このときに、周辺参照画素が傷であれば、前述の方向参照として不適合であるとして、その選択肢から排除しなければならない。その為の情報を傷位置情報１０２から検出して、選択手段１０３及び変化分検出手段１０６へと伝達するのが、図１中の参照画素傷検出手段１０７である。

図１中１０８は、判定手段１０５により決定した参照画素対からの参照の方向により、補正参照の為の参照画素対を選択する選択手段である。選択手段１０３出力の参照情報を、演算部１０９により演算し（本実施例では、単純加算平均とする）、その出力を欠陥画素の補正情報として出力する。

図１では、これらをハードウエア構成とする場合を想定しており、その場合には図示の如く、傷位置情報１０２出力の注目画素の傷情報にあわせて、注目画素をそのまま出力とするか、補正値で置換するかをスイッチしていくことで欠陥補正が実現される。

この実施例では、注目する欠陥画素に対して取る参照画素領域の変化分の度合いにより図３に示した従来の補正アルゴリズムである同一色参照画素による補正と、図５に示した従来のアルゴリズムである隣接参照画素を用いて補正参照方向を決定する方法とを切替えて適応傷補正をする場合を提案する。補正アルゴリズム自体は、先に述べたものと同一なので、ここでの説明は割愛する。

前述の如く、参照画素領域の変化の度合いは、空間周波数の粗密（高低）が反映される。図７では、その検出方法を図示している。この実施例では、５×５の参照領域を設定している。また、撮像素子は、ＲＧＢベイヤ配列の様に想定している。配列は、画素ref_00から、画素ref_44迄をその範囲として、図７では隣接しあう４つの画素値を加算していることを図示している。該４画素の組合せは、どの位置にあっても、上述の従来の技術で言及した（Ｒ, Ｇ１, Ｂ, Ｇ２）の組合せとなるので、条件（感度等）を等価と見ることが出来るので、その総和の比較は、画像の変化を反映したものとして利用出来る。

図７では、各４画素の総和add_00〜add_33を検出する走査を図示している。走査は、４属性について行っている。第一の走査（属性分けであって、優先度は無い：順番は任意に紹介）は、左側縦方向に、
add_00 = ref_00 + ref_10 + ref_01 + ref_11
add_10 = ref_10 + ref_20 + ref_11 + ref_21
add_20 = ref_20 + ref_30 + ref_21 + ref_31
add_30 = ref_30 + ref_40 + ref_31 + ref_41
第二の走査は、上側横方向に、
add_00 = ref_00 + ref_01 + ref_10 + ref_11
add_01 = ref_01 + ref_02 + ref_11 + ref_12
add_02 = ref_02 + ref_03 + ref_12 + ref_13
add_03 = ref_03 + ref_04 + ref_13 + ref_14
第三の走査は、右側縦方向に、
add_03 = ref_03 + ref_13 + ref_04 + ref_14
add_13 = ref_13 + ref_23 + ref_14 + ref_24
add_23 = ref_23 + ref_33 + ref_24 + ref_34
add_33 = ref_33 + ref_43 + ref_34 + ref_44
第四の走査は、下側横方向に、
add_30 = ref_30 + ref_31 + ref_40 + ref_41
add_31 = ref_31 + ref_32 + ref_41 + ref_42
add_32 = ref_32 + ref_33 + ref_42 + ref_43
add_33 = ref_33 + ref_34 + ref_43 + ref_44
となる。

この総和値相互の関係から、変化分を読み取る方法を図示したのが、図８の空間周波数の判定である。図８では、上記走査による結果を図示し、(ａ)左側縦方向の走査, (ｂ)右側縦方向の走査, (ｃ)上側横方向の走査, (ｄ)下側横方向の走査、を表している。

図８（ａ）左側縦方向の走査図示では、add_00に対してadd_10が増加の位置関係にある。次いで、add_10に対しては、add_20は減少の関係にある。add_20に対してはadd_30は増加の関係にある。よって、参照領域内に於いて増加(+)、減少(-)、増加(+)と変化が交番していることは、画像の空間周波数は高い方向にある可能性がある。

増減の関係がどの程度のものかは、その差の絶対値を観察する。増減が微々たるものであれば、欠陥補正の影響に敏感ではないと考えられるが、その程度(感度)を実験的に求めたものが感度閾値である。図８(ａ)では、add_00〜add_10間、add_10〜add_20間、add_20〜add_30間で、各々の差の絶対値は感度閾値を超えており、ここでは欠陥補正の影響する程度であると判断する。

前述の如く、画像の空間周波数が高いと判断した場合には、欠陥画素の補正に対する方向参照値として隣接画素を用いる。また、そうではない場合には同一色画素を用いる。図８(ａ)では、隣接参照画素を用いることを選択する結果となる。

図８中(ｂ)〜(ｃ)では、同様な判断で空間周波数（低）と判定している。縦方向走査の結果のＯＲは、空間周波数（高）であり、横方向走査の結果のＯＲは（低）である。周辺参照画素全体の雰囲気としては、それらのＡＮＤにより決定する。空間周波数（高） ＡＮＤ 空間周波数（低） ＝ 空間周波数（低） が、図８全体の結果である。

図８のアルゴリズムをハード化（回路化）したものが、図９である。

図９では、入力する注目画素を含む周辺参照画素ref_00〜ref_44を10bitデータとして、論理回路を展開している。図９中加算器９０１〜９１６は、隣接する画素（例えば、ref_00 + ref_01）を加算する。加算器９１７〜９２８は、先の加算器９０１〜９１６の結果から前記図８記載の４画素総和を求める為の加算器であり、例えば、加算器９１７出力は、ref_00 + ref01 + ref_10 + ref_11の結果が出力される。

図９中加算器９１７〜９２８出力から、前記図８記載の変化量（差異）を求めるべく減算器（符号付加算器）が、図９中９２９〜９４０である。減算器９２９の出力は、図７,８記載のadd_10−add_00である。この減算結果より、絶対値と最上位ビット（符号）とが求められ、図８で述べた空間周波数高低の判断に使用される。

一例として、図８中(ａ)の左側縦方向の走査の判定は、
add_10 − add_00；符号は減算器９２９のＭＳＢであり、その差異は絶対値９４１出力である。

add_20 − add_10；符号は減算器９３０のＭＳＢであり、その差異は絶対値９４２出力である。

add_30 − add_20；符号は減算器９３１のＭＳＢであり、その差異は絶対値９４３出力である。

増減の変化は、排他論理和９６５, ９６６出力により得られる。増減の加減は、前述の絶対値出力が感度閾値を超えたかどうか、比較器９５３, ９５４, ９５５で判断される。先の排他論理和出力は、該比較器出力により効果を反映するかどうかＡＮＤで決められ（図９中９７３〜９７６）、図８(ａ)の判定結果としては図９中ＡＮＤゲート９７７出力がそれに当たる。

図８(ａ), (ｂ)の縦方向走査の結果は、ＡＮＤゲート９７７とＡＮＤゲート９８７とのＯＲ(図９中９９３)で決定し、図８(ｃ), (ｄ)の横方向走査の結果は、ＡＮＤゲート９８２及び９９２とのＯＲ(図９中９９４)により決定する。縦方向・横方向共変化の度合いが認められれば、ＡＮＤ９９５出力がＨｉｇｈになり、変化分検出の結果となる。

縦方向のみ、横方向のみ、の変化のみの検出では、横縞・縦縞である可能性が高いので、変化の低い方向を方向参照として補間すれば良い。この場合は、隣接参照画素による方向参照よりも、ベイヤ配列から相関の高いと思われる同一色画素を参照する方式で欠陥画素補正を行った方が誤りが小さいので、縦走査・横走査どちらかのみの変化検出では、ＡＮＤ９９５出力はＨｉｇｈとはならない。

図８(ｂ), (ｃ), (ｄ)で行われる判定動作に使用される素子の働きも前記図８(ａ)の働きと等価であるので、上記の他の素子については、説明を割愛する。

図９中９７７, ９８２, ９８７, ９９２は、入力参照画素自体が傷（欠陥）である場合には、演算結果の判定使用をマスクする為のＡＮＤゲートである。

図９中の回路をハードウエア化する場合に於いて、実際には素子遅延等の問題から、途中でＦｌｉｐ_Ｆｌｏｐ等で信号状態をラッチするパイプライン化が施される。特に、何段もの加算器のカスケード接続の場合には、キャリーの伝播による遅延は、回路の速度に支配的になる。しかし、本発明実施例図示では、動作の説明について述べているので、実際のアルゴリズムの実現に関与しない素子（実装上必要である様な）については、図示を割愛している（図１１についても同様である）。

注目画素も含め、参照画素領域の画素に於ける欠陥情報は、例えば図１０の様に与えられる。一例としては、欠陥一つ一つの情報として、欠陥画素の座標情報(Ｘ軸、Ｙ軸）、傷種類、傷レベル等が挙げられる。Ｘ軸、Ｙ軸情報は絶対アドレスで与えても良いし、ある基準点からのオフセットという形で与えても良い。傷種類とは、撮像素子の含む傷の属性であり、ここで特定されるものではない。例えば、素子自体の感度不良の問題であったり、マイクロレンズやフィルタ付加時の損傷であったりする。

例えば、感度不良では、撮影秒時や温度等の条件により、欠陥として取り扱うべきレベルが異なる場合がある。その様な場合には、傷レベルとして情報を与えることで、例えば短秒時での撮影では画素欠陥として取り扱う必要のない場合も想定される。

図１１は、参照画素傷検出手段１０７の具体例である。参照画素傷検出手段１０７出力により、周辺参照画素を補正方法切替の判断に採択するか・除外するかを決定する（図９説明参照）。

図１１中１０７０１はＨ(水平）カウンタであり、図１０のＸ座標に対して位置判定を行う為の計数手段である。図１１中１０７０２はＶ(垂直）カウンタであり、図１０のＹ座標に対して位置判定を行う為の計数手段である。本発明実施例では５×５の参照画素領域を想定しているので、注目値の位置を示すＨカウンタ１０７０１出力は符号付加算器１０７０３にて−２される（左端を示す結果となる）。勿論、最初から左端を示す様にＨカウンタ１０７０１の係数を進めておけば加算器１０７０３は必要ない。

加算器１０７０３出力は、等面コンパレータ１０７０８〜１０７１２に入力される。等面コンパレータ１０７０８〜１０７１２は、Ｈ値とＸ座標情報値とを、Ｖ値とＹ座標情報値とを、夫々比較し、各々の比較結果がイコールと判定された場合にのみ‘１’ (Ｈｉｇｈ, ｔｒｕｒｅ ｅｔｃ...) 値を出力する。図１１に於ける該コンパレータの一方の入力値としては、傷位置情報１０２の参照画素左端側のＸ座標情報・Ｙ座標情報（図１１中１０２０１〜１０２０５）がそれに当たる。

図１１中Ｖカウンタ１０７０２出力は、符号付加算器１０７０４, １０７０５及び加算器１０７０６, １０７０７に入力され、５ライン分の注目範囲の垂直指示位置を生成する。該加算器１０７０４〜１０７０７出力は等面コンパレータ１０７０８〜１０７１２に入力され、前述の比較処理が施される。

前記比較の結果、現在注目画素の左端の各ラインの参照画素各々に傷位置情報と一致するものがあれば、その参照画素は傷候補として、論理積１０７２３〜１０７２７に、’1’値を出力する。

前述の如く、対象欠陥が感度不良を主とするものであれば、前記傷レベルによるレベル判定を実施することで、設定閾値との大小比較により傷判定を行う。図１１中１０７１３〜１０７１７は、マグニチュードコンパレータであり、参照画素情報保持手段１０１からの参照値（前記ref_00, ref_10, ref_20, ref_30, ref_40の各値）と、傷位置情報１０２より図１０の傷レベル（図１１中１０２０６〜１０２１０）と、を与え、その大小比較結果を出力する。

感度不良の画素に対する傷補正としては、飽和側の値をどうするかが問題であるので、前記コンパレータ１０７１３〜１０７１７は、現在の参照画素レベルが設定閾値（図１１中１０２０６〜１０２１０）よりも高い値であれば、飽和側の傷（白傷）として’１’値を出力する。この結果は、論理積１０７２３〜１０７２７に各々出力される。その際には、ゲート回路１０７１８〜１０７２２を介して、傷種類の判断を反映させる。例えば、前記感度不良の類の傷であれば、前記コンパレータ１０７１３〜１０７１７の出力と併せて（ＡＮＤ）反映するものであり、損傷欠陥（例えば、感度に反応せず低い値のみ出力する画素：黒傷）に対しては、傷種のみで（閾値に因らず）必ず補正をかける等々の判定をする。

図１１中１０２１１〜１０２１５が前記傷種判定用のクラスデータであり、ここでは前述の如く白傷・黒傷のみを設定しているが、実際には必要な種類を反映させる様、種類を拡張しても構わない。傷と判定された参照画素については、論理積１０７２３〜１０７２７出力が夫々’１’値となる。ゲート１０７２３出力はref_00傷フラグとして、ゲート１０７２４出力はref_10傷フラグとして、ゲート１０７２５出力はref_20傷フラグとして、ゲート１０７２６出力はref_30傷フラグとして、そしてゲート１０７２７出力はref_40傷フラグ（共に、’１’値で欠陥と判定）として、出力される。

注目画素の推移は、Ｈ方向に1画素ずつ進行する。参照画素は、その周囲を取り囲む様に５×５の領域で存在する。図１１中参照画素傷検出手段107は、先ず左端縦方向（前記ref_00, ref_10, ref_20, ref_30, ref_40）の参照画素傷フラグを検出している。残る画素については、逐次推移する注目画素位置に併せて、該検出値を遅延していくことで得る。

図１１中１０７２８〜１０７３１は、ラッチ（フリップフロップ等）回路である。注目画素の推移に併せてデータを転送していくことで、参照画素位置の遅延関係が成立する。注目画素の推移は、クロック信号を基に行われるがここでは不図示である。

生成された傷フラグは、前述の変化分検出手段１０６に伝達されると共に、選択手段１０３にも伝達される。変化分検出手段１０６では、傷フラグが’１’値を示す参照画素データに係る演算結果を、変化の推定パスから外し、正常な周辺参照画素対からのみ得られた結果を基に判定・出力する。選択手段１０３では、周辺参照画素を欠陥補正処理に使用しない様な設定に切替える。

例えば、上下・左右・斜め等対になる画素の片側が傷であれば、その値を方向参照・補正参照値としては使用できないので、各対の差異から方向を決める・各対の加算平均値を置換値とするといった制御から欠陥参照画素を除外する。除外の結果、完全な適応補正というものが出来なくなる場合が想定される。その場合には、残った参照画素値の組合せにより置換値を生成する。選択手段１０３では、その様な周辺画素中の傷の位置関係も基に補正方法を選択する。勿論、その様な例外処理については事前に制御方法を指定しておかなければならないが、具体的な事例は省略する。

本発明実施例 要部ブロック図である。 従来の補正アルゴリズム１である。 従来の補正アルゴリズム２である。 同一色参照画素による傷補正結果である。 従来の補正アルゴリズム３である。 隣接画素による方向参照をした結果である。 変化分の算出図である。 空間周波数の判定（一例）図である。 変化分検出手段を示す回路図である。 傷位置情報（一例）を示す図である。 参照画素傷検出手段を示す回路図である。

符号の説明

１０１ 参照画素情報保持手段
１０２ 傷位置情報
１０３ 選択手段（方向参照画素の選択）
１０４ 演算部（方向参照決定要因の演算）
１０５ 判定手段
１０６ 変化分検出手段
１０７ 参照画素傷検出手段
１０８ 選択手段(補正参照画素の選択)
１０９ 演算部（補正値の演算）
９０１〜９２８ 加算器
９２９〜９４０ 符号付加算器（減算器として使用）
９４１〜９５２ 絶対値演算器
９５３〜９６４ マグニチュードコンパレータ
９６５〜９７２ 排他論理和（符号反転検出）
９７３〜９９２ 論理積（AND回路）
９９３, ９９４ 論理和（OR回路）
９９５ 論理積（変化分検出結果出力）
１０２０１〜１０２０２ 傷位置情報（X座標・Y座標： 左端縦方向の参照）
１０２０６〜１０２１０ 傷レベル情報（左端縦方向の参照）
１０２１１〜１０２１５ 傷種情報（左端縦方向の参照）
１０７０１ Hカウンタ
１０７０２ Vカウンタ
１０７０３〜１０７０５ 符号付加算器
１０７０６，１０７０７ 加算器
１０７０８〜１０７１２ 等面コンパレータ
１０７１３〜１０７１７ マグニチュードコンパレータ
１０７１８〜１０７２２ 組合せ回路
１０７２３〜１０７２７ 論理積（AND回路）
１０７２８〜１０７３１ ラッチ（D-Flip Flop等： CLK不図示）

Claims (5)

1. 注目画素と、前記注目画素を中心とした任意の範囲の参照画素とを情報として有し、前記注目画素が画素欠陥である場合に、前記画素欠陥の画素位置の情報を補間する傷補正手段を備える傷補正回路であって、
   前記傷補正手段は、前記画素欠陥の補間処理として、上下・左右・斜め等の一対の参照方向を選択し、選択方向上にある一対の参照画素を補間参照として、その値を演算することで前記注目画素の欠陥により損失した値を推定する処理を行い、
   前記参照画素範囲の値の変化を検出して前記方向参照とする参照画素の組を選択すると共に、選択された参照画素の組より前記方向参照とする画素対を決定し、
   前記決定された方向にある補完参照画素から前記欠陥補正画素に対して置換すべき補間値を計算することを特徴とする傷補正回路。
2. 前記傷補正回路は、Ｒ、Ｇ、 Ｂ等のベイヤ配列を持つ撮像手段より得られる画像情報に対して実施されるものであって、
   欠陥画素である注目画素に対して隣接する画素を第一の方向参照画素群とし、同注目画素に対して、最近隣の同一色画素を第二の方向参照画素群とし、前記参照画素範囲の値の変化の検出結果から、該値の変化が激しく空間周波数が高いと判断出来る場合には、前記第一の方向参照画素群を使用し、同空間周波数が低いと判断出来る場合には前記第二の方向参照画素群を使用して前記方向参照画素対を決定し、前記決定された方向にある補完参照画素より、前記欠陥補正画素に対して置換すべき補間値を計算することを特徴とする請求項１に記載の傷補正回路。
3. 前記第一及び第二の方向参照群の画素中に於ける欠陥画素の有無を検出する参照画素傷検出手段を具備し、注目画素を除く、前記第一及び第二の方向参照画素群中の任意の参照画素に欠陥を検出した場合には、前記方向参照に用いる参照画素群の設定を選択的に切り替えるという制御をしないことを特徴とする請求項１又は２に記載の傷補正回路。
4. 前記第一及び第二の方向参照群の画素中に於ける欠陥画素の有無を検出する参照画素傷検出手段を具備し、 注目画素を除く前記第一及び第二の方向参照画素群中の任意の参照画素に欠陥を検出した場合には、該欠陥参照画素の位置関係から、上下・左右・斜め等直線状の方向対となる参照画素の使用も遮断し、且つ、残る前記方向対が２以上となる場合には、継続して前記方向参照に用いる参照画素群の設定を選択的に切り替えるという制御を実施することを特徴とする請求項１又は２に記載の傷補正回路。
5. 前記第一及び第二の方向参照群の画素中に於ける欠陥画素の有無を検出する参照画素傷検出手段を具備し、前記第一の方向参照画素群中の任意の画素に欠陥が検出された場合には、第二の方向参照群のみを使用する様に切り替え制御を実施することを特徴とする請求項１又は２に記載の傷補正回路。

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