JP4958056B2 - 画像補間装置および画像補間プログラム - Google Patents

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    • G06T3/4007Interpolation-based scaling, e.g. bilinear interpolation

Description

この発明は、複数のコンタクトイメージセンサ(CIS)が連結されることにより画像読取センサが構成されている画像読取装置に用いられ、画像読取センサによって読み取られた画像データに基づいて、コンタクトイメージセンサの連結部分に対応する位置の画素データを補間する画像補間装置および画像補間プログラムに関する。
CCD素子で構成されているコンタクトイメージセンサ(CIS)は、複写機などの画像形成装置(MFP)、ファクシミリ装置、スキャナ等の機器に搭載され、原稿画像の読取装置として重要な役目を担っている。コンタクトイメージセンサは等倍センサであるため、原稿画像を読み取るためには、原稿用紙の幅以上の長さが必要となる。そこで、通常は、プリント基板上に搭載した複数のコンタクトイメージセンサを連結することにより、画像読取センサを構成している。
このように複数のコンタクトイメージセンサを連結した場合、解像度が高くなると、コンタクトイメージセンサの画像読取素子の間隔が狭くなるので、コンタクトイメージセンサの連結部分では、画素データが読み取れなくなる。
図21は、プリント基板にCCD等の画像読取素子を搭載した複数のコンタクトイメージセンサを並べて構成した画像読取センサを示している。
画像読取センサ10は、例えば第1のコンタクトイメージセンサ(CIS)10aと第2のコンタクトイメージセンサ(CIS)10bとが連結されることにより、構成されている。ここでは、2つのコンタクトイメージセンサ10a、10bとしたが、搭載される機器に応じて3つ以上のコンタクトイメージセンサが連結されるものである。全ての連結部の補間は、同じ動作で処理されるものである。各コンタクトイメージセンサ10a、10bには、等間隔をおいてCCD素子の画像読取素子20が設けられている。
そして、コンタクトイメージセンサ10a内の各画像読取素子20に対応する画素をa1〜a9で表している。また、コンタクトイメージセンサ10b内の各画像読取素子20に対応する画素をb1〜b9として表している。コンタクトイメージセンサ10aとコンタクトイメージセンサ10bとの連結部である補間対象画素は、欠落画素位置Xで表す。ここでは、欠落画素位置Xの前後9つの各画像読取素子20に対応する画素a1〜a9,b1〜b9のみを表し、他の画像読取素子は省略している。
この欠落画素を補間するものとして、特許文献1がある。この特許文献1では、コンタクトイメージセンサの連結部分に対応する補間対象画素位置が網点領域内であるか非網点領域内であるかを判別する判別手段を設けている。その判別手段によって補間対象画素位置が非網点領域であると判定された場合は、線形補間によって補間対象画素の画素データを生成し、網点領域であると判定された場合はパターンマッチングによって補間対象画素の画素データを生成して、補間対象画素位置に挿入する方法である。
特開2007−142667号公報
しなしながら、特許文献1の方法によれば、補間対象画素位置が網点領域内であるか非網点領域内であるかを判別する判別手段を必要とするものである。特許文献1では、網点領域内であるか非網点領域内であるかを判別する判別手段としては、PH8-149291(A1)号公報に記載される方法を提唱している。よって、そのような判別手段を必要とすることは画像処理装置が大きくなるばかりか、コストも余計に掛かる問題がある。
また、特許文献1の方法では、パターンマッチング処理する前の基本パターンの欠落画素には、比較パターンの対応する画素(中央の画素)をそのまま仮補間値として挿入している。これでは、比較パターンと基本パターンとの信号レベル差を考慮していないため、仮補間値の精度が低く、またパターンマッチングの検出精度も低いため、補間結果が真値より大きく外れてしまう問題がある。
この発明の第1の目的は、網点領域内であるか非網点領域内であるかを判別する判別手段を必要としない構成で、複数のコンタクトイメージセンサの連結部分に対応する位置の画素データを精度良く補間することができる画像補間回路、画像補間プログラムおよび画像処理装置を提供するものである。
また発明の第2の目的は、基本パターンの欠落画素の周辺画素および比較パターンの欠落画素に対応する周辺画素を使い、これらの信号レベル及び信号変化量に適応した仮補間値を算出し、これを基本パターンの欠落画素に挿入することにより、パターンマッチングの検出精度を向上させることができる画像補間装置および画像補間プログラムを提供するものである。
発明が解決するための手段
上記目的の達成するために、本発明の画像補間装置は、多数の画像読取素子が直線状に配列された複数のコンタクトイメージセンサの連結部を欠落画素として補間する画像補間装置において、前記欠落画素の周辺画素から、前記欠落画素を先頭又は末尾の位置とする3つ以上の連続する画素で構成される基本フレームと、少なくとも1つの画素はオーバーラップしていない連続する画素であって前記基本フレームと同じ画素数で構成される複数の比較フレームと抽出する周辺画素抽出手段と、前記欠落画素の前後の画素から成る第1の画素群と、前記複数の比較フレームの前記欠落画素と同じ位置の画素とその前後の画素から成る第2の画素群の信号レベル及び信号変化量に基づき、前記複数の比較フレーム毎に仮補間値を算出する仮補間値算出手段と、前記複数の比較フレーム毎に算出された前記仮補間値を前記基本フレームの前記欠落画素に代入し、それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームと、それに対応する比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のそれぞれの差分を絶対値で合計してパターンマッチングの度合いを算出する複数のパターンマッチング手段と、前記複数のパターンマッチング回路から出力される前記差分合計の最も小さいものに対応する前記仮補間値を正式な補間値として出力する出力手段と、を有することを特徴とする。
また、本発明の画像補間プログラムは、多数の画像読取素子が直線状に配列された複数のコンタクトイメージセンサの連結部を欠落画素として補間する画像補間プログラムであって、前記欠落画素の周辺画素から、前記欠落画素を先頭又は末尾の位置とする3つ以上の連続する画素で構成される基本フレームと、少なくとも1つの画素はオーバーラップしていない連続する画素であって前記基本フレームと同じ画素数で構成される複数の比較フレームと抽出する周辺画素抽出機能と、前記欠落画素の前後の画素から成る第1の画素群と、前記複数の比較フレームの前記欠落画素と同じ位置の画素とその前後の画素から成る第2の画素群の信号レベル及び信号変化量に基づき、前記複数の比較フレーム毎に仮補間値を算出する仮補間値算出機能と、前記複数の比較フレーム毎に算出された前記仮補間値を前記基本フレームの前記欠落画素に代入し、それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームと、それに対応する比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のそれぞれの差分を絶対値で合計してパターンマッチングの度合いを算出する複数のパターンマッチング機能と、前記複数のパターンマッチング機能から出力される前記差分合計の最も小さいものに対応する前記仮補間値を正式な補間値として出力する出力機能と、を有することを特徴とする。
この発明によれば、網点領域内であるか非網点領域内であるかを判別する判別手段を用いることなく、複数のコンタクトイメージセンサの連結部分に対応する位置の画素データを精度良く補間することができる。また、基本パターンの欠落画素の周辺画素および比較パターンの欠落画素に対応する周辺画素を使い、これらの信号レベル及び信号変化量に適応した仮補間値を算出し、これを基本パターンの欠落画素に挿入することにより、パターンマッチングの検出精度を向上させることができる。
1画面の補間イメージを示す図。 本発明のパターンマッチングの基本概念を説明するために表現した図。 本発明のパターンマッチング処理を行う基本パターンの欠落画素の位置および仮補間に使用する画素と、比較パターンの仮補間に使用する画素を示す図。 基本パターンと比較パターンの信号レベルにより算出されるオフセット調整Voffを示す図。 基本パターンの5画素の信号レベルのパターンと、比較パターンの5画素に信号レベルのマッチング度合いが高い例を示す図。 基本パターンの5画素の信号レベルのパターンと、比較パターンの5画素に信号レベルのマッチング度合いが低い例を示す図。 第1の実施形態における基本パターンである基本フレームと、複数の比較パターンである複数の比較フレームの位置関係を示す図。 第1の施形態に係わる使う画素の信号レベル及び信号変化の例を示す図。 第1の実施形態を適用して画像補間した場合と、従来技術により画像補間した場合の第1の実験例を示す図。 第1の実施形態を適用して画像補間した場合と、従来技術により画像補間した場合の第2の実験例を示す図。 第1の実施形態の画像補間装置の構成を示すブロック図。 第1の実施形態のパターンマッチング処理部の詳細な構成を示すブロック図である。 第1の実施形態の画像補間装置の動作を示すフローチャート。 第1の発明の他の実施形態の画像補間装置の構成を示すブロック図。 第1の発明の更に他の実施形態の画像補間装置の構成を示すブロック図。 第2の実施形態で用いられる2つの微分フィルタを示す図である。 第2の実施形態の画像補間装置を示すブロック図である。 第2の実施形態の画像補間装置の動作を示すフローチャートである。 第3の実施形態における複数ビットの欠陥画素の補間する場合の仮補間に使用する画素の例を示す図。 第3の実施形態における線形補間の例を示す図。 プリント基板にCCDの画像読取素子を搭載した複数のコンタクトイメージセンサを並べて構成した画像読取センサを示す図。
以下、図面を参照して、この発明の実施例について説明する。
図1は、コンタクトイメージセンサ(CIS)の1画面の補間イメージを示す図である。本発明のパターンマッチング処理は、水平方向(主走査)の1ライン単位で行い、連結部の1画素分の欠落画素は、その周辺の画素を使用する。これを垂直方向(副走査)に順次処理していくことになる。
(基本概念の説明)
次に、本発明の基本概念について説明する。図2は、本発明のパターンマッチングの基本概念を表現した図である。ここでは、マッチング処理を3画素とした例である。
図2のように、欠落画素Xと、その周辺の3画素を基本パターン10xとする。そして、基本パターン10xと、その周辺の同じ画素数の複数の比較パターン10y1,10y2,10y3,10y4,10y5,‥のそれぞれとパターンマッチングを行う。この時、基本パターン10xの欠落画素Xには、基本パターン10xの欠落画素部と同じ位置関係にある比較パターン10y1,10y2,10y3,10y4,10y5,‥の画素の値を仮補間値として挿入する。そして、基本パターン10xと比較パターン10y1,10y2,10y3,10y4,10y5,‥が最もマッチングした時の仮補間値を、正式な補間値とするものである。
本発明では、上記基本概念に加えて次の特徴点(1)〜(3)を持つ。
(1)パターンマッチング処理する際、欠落画素Xの位置は、基本パターンの先頭または末尾になる位置とする。よって、本発明では、欠落画素Xが基本パターン10xの先頭または末尾にしているので、連続データにすることによりパターンマッチングの検出精度を向上させることができる。ここでは、欠落画素Xが基本パターン10xの先頭または末尾の位置としたが、先に先頭位置で補間し、次に末尾位置で補間して、どちらか良い方を選択してもよい。又は、先に末尾位置で補間し、次に先頭位置で補間して、どちらか良い方を選択してもよい。
図3の例では、An−4〜Aの5画素からなる基本パターン10xの欠落画素Xが末尾の位置(A)とする場合を示している。勿論、欠落画素Xを先頭の位置(An−4)に設定するものであっても良い。
(2)パターンマッチング処理する前に、基本パターン10xの欠落画素X(A)の仮補間に使う画素には、欠落画素Xの両端画素(An−1,An+1)とする。また、比較パターン(例えば、比較パターン10y1とする。以下同じ)の仮補間に使う画素には、欠落画素Xとその両端画素と同じ位置関係にある比較パターン10y1の画素(Cn−1,C,Cn+1)を使う。そして、これらの画素(An−1,An+1)と(Cn−1,C,Cn+1)の信号レベル及び信号変化量に適応した仮補間値を算出し、この値を挿入する。
本発明では、欠落画素Xの周辺画素を使い、これらの信号レベル及び信号変化量に適応した仮補間値を算出し、これを基本パターンの欠落画素X(A)に挿入することにより、パターンマッチングの検出精度を向上させている。また、仮補間値が最終的な補間値となるため、補間結果そのものの精度も向上させることができる。
(3)パターンマッチング処理は、上記(2)の処理にて欠落画素X(A)に仮補間値が挿入された基本パターン10x(An−4,An−3,An−2,An−1,A)と比較パターン10y1(Cn−4,Cn−3,Cn−2,Cn−1,C)の同じ位置関係にある画素同士のそれぞれの差分を絶対値で合計する計算を行う。この差分合計の計算の前には、2つのパターン全体の信号レベルを合わせるため、図4のように2つのパターンの平均値の差からオフセット調整値Voffを求めオフセット調整する。
上記(3)のパターンマッチング処理により、ある探索範囲内で、差分の絶対値の合計が最も小さい時のパターンが、マッチング度合いが最も高いと判断できるため、この時の仮補間値を正式な補間値とする。
次に、パターンマッチング処理のマッチング度合いについて説明する。
図5は、基本パターン10xの5画素の信号レベルのパターンと、比較パターン10y1の5画素に信号レベルのマッチング度合いが高い例を示している。また、図6は、基本パターン10xの5画素の信号レベルのパターンと、比較パターン10y1の5画素に信号レベルのマッチング度合いが低い例を示している。
(第1の実施形態)
次に、本発明の第1の実施形態を、図7乃至図12を参照して説明する。
図7は、基本概念で説明した基本パターンにあたる基本フレームと、複数の比較パターンにあたる複数の比較フレームの位置関係を示す図である。
図7において、直列に並べた符号1〜19は、図示しない画像読取素子によって読み取られた画素を示し、ここでは画素10が欠落画素Xの位置とする。そして、欠落画素Xを基本フレームの末尾の位置とする場合、基本フレームFXは画素6−10となる。一方、複数の比較フレームは、基本フレームFXの周辺から探索される。基本フレームFXの画素数は特に限定されるものではないが、少なくとも3画素必要である。
例えば、パターンマッチングの探索範囲を欠落画素Xの周辺の両サイドの画素1〜19(ただし、欠落画素Xの画素10を除く)の合計18画素とし、使用する1フレームの画素を5画素とした場合は、図7のように基本フレームFXと比較フレームF1〜F12までの探索が行われる。比較フレームF1乃至F12は、少なくとも1つの画素はオーバーラップしていない連続する画素であって基本フレームFXと同じ画素数で構成されている。比較フレームF1乃至F12の数は、特に限定されるものではない。また、この時のパターンマッチング処理に使う画素(フレーム)及び、欠落画素Xの位置関係は図3のようになる。
なお、図7において、比較フレームF2乃至F12は、前段の比較フレーム(F1〜F11)から1画素ずつ後ろにスライドさせたものであり、比較フレームF1乃至F12の末尾の画素は、画素5〜画素19までを辿ることになる。この中で画素9〜11は、比較フレームの末尾となることを除外している。これは、仮補間する時に、比較フレームの末尾の画素とその両端の画素を使うが、これに画素10の欠落画素Xが含まれると、値がなく仮補間できないためである。
これにより、基本フレームFXに対する比較フレームF1は画素1−5、比較フレームF2は画素2−6、比較フレームF3は画素3−7、比較フレームF4は画素4−8、比較フレームF5は画素8−12、比較フレームF6は画素9−13、比較フレームF7は画素10−14、比較フレームF8は画素11−15、比較フレームF9は画素12−16、比較フレームF10は画素13−17、比較フレームF11は画素14−18、比較フレームF12は画素15−19となる。
次に、欠落画素Xの仮補間値の算出からパターンマッチング処理による補間値の出力までの演算処理(ステップ1〜3)について説明する。
欠落画素Xの仮補間値は、基本フレームFXの末尾になる位置とした場合、基本フレームFXの欠落画素X(A)の両端画素群(図3で説明した画素An−1,An+1)と、この欠落画素Xとその両端画素と同じ位置関係にある比較フレームFi(iは1乃至12)の画素群(図3で説明した画素Cn−1,C,Cn+1)を用いて算出する。そして、2つの画素群の信号レベル及び信号変化量に適応した仮補間値を算出し、基本フレームFXの欠落画素X(A)に挿入(代入)する。
本実施形態では、この仮補間値の計算は、2つの画素群の信号レベル及び信号変化によって、補間式を使い分けて精度を向上させている。図8は、2つの画素群の信号レベル及び信号変化の例を示す図である。
<ステップ1>
図8(a)のように、比較フレームFi(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がない凹凸型の信号変化で、かつ、比較フレームFiの信号レベルが基本フレームFX(An−1,An+1)より大きい場合は、次の補間式(1)を使う。
=C×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1) ・・・ 補間式(1)
図8(b)のように、比較フレームFi(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がない凹凸型の信号変化で、かつ、比較フレームFiの信号レベルが基本フレームFX(An−1,An+1)より小さい場合は、次の補間式(2)を使う。
=(C+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1) ・・・ 補間式(2)
図8(c)のように、比較フレームFi(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がある傾斜型で、An−1<An+1かつCn−1<Cn+1の場合は、次の補間式(3)を使う。
=(C−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1・・・補間式(3)
図8(d)のように、比較フレームFi(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がある傾斜型で、An−1>An+1かつCn−1<Cn+1の場合は、次の補間式(4)を使う。
=(C−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1・・・補間式(4)
図8(e)のように、比較フレームFi(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がある傾斜型で、An−1>An+1かつCn−1>Cn+1の場合は、次の補間式(5)を使う。
=(C−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1・・・補間式(5)
図8(f)のように、比較フレームFi(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がある傾斜型で、An−1<An+1かつCn−1>Cn+1の場合は、次の補間式(6)を使う。
=(C−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1・・・補間式(6)
上記補間式(1)乃至(6)は、図8(a)乃至(f)の信号変化に応じて選択するものであるが、図8(a)乃至(f)の信号変化に関係なく、次に示す補間式(7),(8)からも算出することができる。この計算によれば、割算処理を簡単に行うことができる。
即ち、補間式(7)による仮補間値は、基本パターンでは欠落画素X(A)の両端画素An−1,An+1の平均値を求め、比較パターンでは基本パターンの欠落画素と同じ位置関係にある画素Cnとその両端画素Cn−1,Cn+1から信号勾配を求め、これらを加算することにより欠落画素X(A)の仮補間値を求めるものである。即ち、補間式(7)は以下のようになる。
=(An−1+An+1)/2+((Cn−Cn−1)+(Cn−Cn+1))/2・・・補間式(7)
また、補間式(8)による仮補間値は、基本パターンでは欠落画素X(A)を除いた、例えば4画素An−4,An−3,An−2,An−1の平均値Aavを求める。また、比較パターンでは基本パターンの欠落画素と同じ位置関係にある画素Cを除いた例えば4画素Cn−4,Cn−3,Cn−2,Cn−1の平均値Cavを求める。そして、これらの平均値Aav,Cavの差分から仮補間用のオフセット調整値(Aav−Cav)を求める。この求めた仮補間用のオフセット調整値に、基本パターンの欠落画素と同じ位置関係にある比較パターンの画素Cの値を加算することにより欠落画素X(A)の仮補間値を求めるものである。即ち、補間式(8)は以下のようになる。
Aav=(An−4+An−3+An−2+An−1)/(px−1)
Cav=(Cn−4+Cn−3+Cn−2+Cn−1)/(px−1)
=C+Aav−Cav・・・補間式(8)
ただし、px:フレームの画素数(本実施例では5)。ここでは、4画素の平均値を求めるとしてが、少なくとも3画素であればよい。
<ステップ2>
次に、本実施形態では、基本フレームFXと比較フレームFiの2つのフレーム全体の信号レベルを合わせるためのオフセット値を算出するために、基本フレームFXと比較フレームFiのフレーム平均値Aav,Cavを算出する。図3のフレーム平均値Aav,Cavの算出式は、以下の通り。
基本フレームFXの平均値Aav=(An−4+An−3+An−2+An−1+A)/px
比較フレームFiの平均値Cav=(Cn−4+Cn−3+Cn−2+Cn−1+C)/px
pxは、フレームの画素数(実施形態では「5」)
次に、基本フレームFXと比較フレームFiの同じ位置関係にある画素同士(図3中のAn−4とCn−4,An−3とCn−3,An−2とCn−2,An−1とCn−1,AとC)のそれぞれの差分を絶対値で合計Sして算出する。
S=abs(Cn−4−(An−4+Cav−Aav)+abs(Cn−3−(An−3+Cav−Aav)+abs(Cn−2−(An−2+Cav−Aav)+abs(Cn−1−(An−1+Cav−Aav)+abs(C−(A+Cav−Aav
absは、絶対値を意味する。
この差分を算出する際は、図4のように比較フレームFiと基本フレームFXとの平均値の差でオフセット調整を行って計算される。
<ステップ3>
ステップ1とステップ2の処理を探索フレーム数だけ実行する。図7の例では、12フレーム分実行する。次に、探索フレーム数分の比較フレームFiと基本フレームFXの差分データにおいて、この中で最も差分データが小さい時のフレームがパターンマッチングの度合いが高いと判断できるため、この時の仮補間値を正式な補間値とする。
本実施形態によれば、周辺画素とのパターンマッチング処理により、最もマッチングした画素を使って補間するため、補間性能が向上し、網点画像では縦縞が改善され、画像のエッジ部では偽色が改善される。
図9および図10は、本実施形態を適用して画像補間した場合と、従来技術により画像補間した場合の例を示している。図9および図10からの明らかなように、本発明の方が、網点画像では縦縞が改善され、画像のエッジ部では偽色が改善されていることが分かる。
図11は、上述したパターンマッチング処理を実現する画像補間装置100の構成を示すブロック図である。また、図12は、図11の1つのパターンマッチング処理部120の内部処理を示すブロックである。
図11において、画像補間装置100は、欠落画素の周辺画素を抽出する周辺画素抽出部110と、探索フレーム数分のパターンマッチング処理部120-1〜120-nと、パターンマッチング処理部120-1〜120-nで算出された差分合計の中から最も小さい値を検出する最小値検出部130と、検出した最小値が得られた仮補間値を正補間値として出力する補間値出力部140とから構成される。これらの構成は、ハードウェア又はソフトウェアによって構成して良い。
周辺画素抽出部110は、コンタクトイメージセンサ(CIS)を構成する画像読取チップの数および各画像読取チップを構成するCCD素子数から、予め欠落画素Xの周辺の画素位置が設計により求められる。その求められた設計位置の画素データを取り込み、図7に示した基本フレームFXと比較フレームF1乃至F12の画素データを抽出して、各パターンマッチング処理部120-1〜120-nへ出力する。
パターンマッチング処理部120-1〜120-nは、図7で示したパターンマッチングであれば基本フレームFXと各比較フレームF1乃至F12を処理するために、12個のパターンマッチング処理部が必要となる。パターンマッチング処理部120-1〜120-nの動作は、図12で詳述する。
差分合計の最小値検出部130は、各パターンマッチング処理部120-1〜120-nで算出された、例えば12の差分合計値の中から最も小さい値を検出する。最も小さい値を検出するには、2つの信号を比較する比較回路を12個用いて検出することができる。補間値出力部140は、最小値検出部130が検出した最小値が得られた仮補間値を正補間値として出力するものである。
パターンマッチング処理部120-1〜120-nは、図12に示す回路で構成されている。
即ち、各パターンマッチング処理部120-1〜120-nは、基本フレーム画素抽出部121、比較フレーム画素抽出部122、仮補間用画素抽出部123、仮補間値算出部124、仮補間値挿入部125、オフセット調整値算出部126、オフセット調整部127、および差分合計算出部128から構成される。これらの構成は、ハードウェア又はソフトウェアによって構成して良い。
図11の周辺画素抽出部110で抽出された基本フレームFXは、基本フレーム画素抽出部121に出力される。また、周辺画素抽出部110で抽出された比較フレームFiは、比較フレーム画素抽出部122に出力される。また、周辺画素抽出部110で抽出された基本フレームFXおよび比較フレームFiの仮補間値の算出に使用する画素は、仮補間用画素抽出部123に出力される。
仮補間用画素抽出部123からの仮補間に用いられる画素は、仮補間値算出部124に入力される。また、基本フレーム画素抽出部121からの画素と、仮補間値算出部124で算出された仮補間値は、仮補間値挿入部125に入力される。
比較フレーム画素抽出部122からの画素と仮補間値挿入部125とからの画素は、オフセット調整値算出部126に出力される。そして、仮補間値挿入部125からの画素とオフセット調整値算出部126で算出されたオフセット調整値は、オフセット調整部127に出力される。オフセット調整部127は、前段の基本フレームの画素をオフセット調整した信号を生成する。このオフセット調整部127で調整された基本フレームの画素と比較フレーム画素抽出部122からの画素が差分合計算出部128に出力される。
次に、図7、図11、図12、および図13のフローチャートを参照して、画像補間装置100の動作を説明する。ここでは、パターンマッチング処理部120-1が図7の基本フレームFXと比較フレームF1とを処理するものとして説明する。
同じ考えで、パターンマッチング処理部120-2が図7の基本フレームFXと比較フレームF2とのパターンマッチング処理を行い、パターンマッチング処理部120-3が図7の基本フレームFXと比較フレームF3とのパターンマッチング処理を行い、以下同様にして、パターンマッチング処理部120-nが図7の基本フレームFXと比較フレームF12とのパターンマッチング処理を行うものとする。ただし、基本フレームFXには、それぞれの仮補間値が挿入されており、同じ画素データではない。
先ず、周辺画素抽出部110は、コンタクトイメージセンサ(CIS)の設計に基づいて、欠落画素周辺の探索範囲内の画素を抽出して取り込む(図13のステップS10)。そして、図7に示した基本フレームFXを、各パターンマッチング処理部120-1〜120-nの基本フレーム画素抽出部121へ出力する(図13のステップS20)。
図13のフローチャートでは、ステップS30〜S130までの処理を比較フレーム数だけ繰り返し実行するものとして表現している。つまり、各パターンマッチング処理部120-1〜120-nに対応して比較フレームF1〜F12の画素を設定後、各パターンマッチング処理部120-1〜120-nのそれぞれでステップS70〜S110などの演算処理が実行されることを意味している。
以下では、パターンマッチング処理部120-1を例に動作を説明する。
パターンマッチング処理部120-1では、周辺画素抽出部110で抽出された比較フレームF1(図7の画素1−5)は、比較フレーム画素抽出部122にセットされる。また、周辺画素抽出部110で抽出された基本フレームFXの仮補間に使用する画素9,11と、比較フレームF1の仮補間に使用する画素4,5,6が仮補間用画素抽出部123にセットされる(図13のステップS40)。
仮補間値算出部124は、仮補間用画素抽出部123から基本フレームFXの仮補間に使用する画素9,11と比較フレームF1の仮補間に使用する画素4,5,6を受信すると、両信号の信号レベルおよび信号変化量に応じて上述した補間式(1)乃至(6)のいずれか1つの演算処理、又は補間式(7)の演算処理、又は補間式(8)演算処理を実行して仮補間値Fx1を算出し、仮補間値挿入部125及び最小値検出部130へ出力する(図13のステップS50)。
例えば、パターンマッチング処理部120-2では、周辺画素抽出部110で抽出された比較フレームF2(図7の画素2−6)は、比較フレーム画素抽出部122にセットされる。また、周辺画素抽出部110で抽出された基本フレームFXの仮補間に使用する画素9,11と、比較フレームF2の仮補間に使用する画素5,6,7が仮補間用画素抽出部123にセットされる。仮補間値算出部124は、仮補間用画素抽出部123から基本フレームFXの仮補間に使用する画素9,11と比較フレームF2の仮補間に使用する画素5,6,7を受信すると、両信号の信号レベルおよび信号変化量に応じて上述した補間式(1)乃至(6)のいずれか1つの演算処理、又は補間式(7)の演算処理、又は補間式(8)演算処理を実行して仮補間値Fx2を算出し、仮補間値挿入部125及び最小値検出部130へ出力する。
また例えば、パターンマッチング処理部120-12では、周辺画素抽出部110で抽出された比較フレームF12(図7の画素15−19)は、比較フレーム画素抽出部122にセットされる。また、周辺画素抽出部110で抽出された基本フレームFXの仮補間に使用する画素9,11と、比較フレームF12の仮補間に使用する画素18,19,20が仮補間用画素抽出部123にセットされる。仮補間値算出部124は、仮補間用画素抽出部123から基本フレームFXの仮補間に使用する画素9,11と比較フレームF12の仮補間に使用する画素18,19,20を受信すると、両信号の信号レベルおよび信号変化量に応じて上述した補間式(1)乃至(6)のいずれか1つの演算処理、又は補間式(7)の演算処理、又は補間式(8)演算処理を実行して仮補間値Fx12を算出し、仮補間値挿入部125及び最小値検出部130へ出力する。
他のパターンマッチング処理部120-3〜120-11も同じ考え方で処理されており、その説明は省略する。
仮補間値挿入部125は、仮補間値算出部124からの仮補間値Fx1を基本フレームFXの欠落画素X(画素10)に挿入し、仮補間値Fx1を挿入した基本フレームFXをオフセット調整値算出部126とオフセット調整部127へ出力する(図13のステップS60)。
オフセット調整値算出部126は、この仮補間値Fx1を挿入した基本フレームFXの平均値Aavを算出し、また、比較フレーム画素抽出部122からの比較フレームF1の平均値Cavを算出する(図13のステップS70,S80)。更に、平均値Cavと平均値Aavの差分によりオフセット調整値(Cav−Aav)を算出してオフセット調整部127へ出力する(図13のステップS90)。平均値Aav,Cavの算出は、以下の通り。
基本フレームFXの平均値Aav=(画素6+画素7+画素8+画素9+画素10)/5
比較フレームF1の平均値Cav=(画素1+画素2+画素3+画素4+画素5)/5
欠落画素X(画素10)の値は、仮補間値Fx1である。
オフセット調整部127は、オフセット調整値算出部126で算出されたオフセット調整値(Cav−Aav)を仮補間値挿入部125からの基本フレームFXに加算して、基本フレームFXのオフセット調整を行う(図13のステップS100)。最後に、差分合計算出部128は比較フレームF1と基本フレームFXの差分を合計して、差分合計値を算出して、最小値検出部130へ出力する(図13のステップS110)。
つまり、オフセット調整部127と差分合計算出部128によって、基本フレームFXと比較フレームF1の同じ位置関係にある画素同士(図7中の画素6と画素1,画素7と画素2,画素8と画素3,画素9と画素4,画素10と画素5)のそれぞれの差分を絶対値で合計Sを算出する。
差分合計S=abs(画素1−(画素6+Cav−Aav)+abs(画素2−(画素7+Cav−Aav)+abs(画素3−(画素8+Cav−Aav)+abs(画素4−(画素9+Cav−Aav)+abs(画素5−(画素10+Cav−Aav
ただし、欠落画素X(画素10)の値は、仮補間値Fx1である。
この算出された差分合計と仮補間値は、図示しない内部メモリに保存される(図13のステップS120)。このステップS30〜S120を比較フレーム数(ここでは、比較フレームF1〜F12の12回)だけ実行して、それぞれの差分合計と仮補間値を求める。
最小値検出部130は、基本フレームFXと比較フレームF1の差分合計S1と、基本フレームFXと比較フレームF2の差分合計S2と、基本フレームFXと比較フレームF3の差分合計S3と、‥‥、基本フレームFXと比較フレームF12の差分合計S12の中から最も小さい値の差分合計を検出する(図13のステップS140)。そして、補間値出力部140は、最も小さい値の差分合計を求めた時の仮補間値を正式な補間値として出力する(図13のステップS150)。
本実施形態によれば、周辺画素とのパターンマッチング処理により、最もマッチングした画素を使って補間するため、補間性能が向上し、網点画像では縦縞が改善され、画像のエッジ部では偽色が改善される。
(第1の実施形態の変形例)
次に、本発明の第1の実施形態の変形例を、図11,図15を参照して説明する。
図11では、差分合計の最も小さい時の仮補間値を正式な補間値として出力するとしたが、他の補間技術と併用しても良い。
例えば、図14の実施形態では、図11に線形補間処理部200と補間値の切替・出力処理部210を設けた構成としている。線形補間処理部200は、欠落画素Xの両側画素の平均を算出し、補間値として出力するものである。補間値の切替・出力処理部210は、最小値検出部130から出力された差分合計の最も小さい時の仮補間値、又は線形補間処理部200から出力された補間値のどちらか一方を選択し、正式な補間値として出力するものである。
即ち、補間値の切替・出力処理部210には差分合計の閾値が予め設定されており、最小値検出部130から出力された差分合計の最小値が前記閾値以下の場合は、パターンマッチング処理120で算出した仮補間値を正式な補間値として出力し、差分合計の最小値が前記閾値を越えた場合は、線形補間処理部200で算出した補間値を正式な補間値として出力するものである。
この実施形態によれば、差分合計の最小値が大きい場合、即ち、図6のようにマッチング度合いが低い場合は、パターンマッチング処理での仮補間値の信頼性が低く、真値から大きく外れている場合があるため、従来の補間方法である線形補間の補間値を出力することによって解決するものである。
次に、図15の実施形態では、図14に信号レベル差の算出部220を更に設けた構成としている。信号レベル差の算出部220は、欠落画素Xの両側の周辺画素の信号レベル差を算出し、この信号レベル差を補間値の切替・出力処理部210に出力するものである。具体的には、欠落画素の一方側の周辺画素の平均値と、他方側の周辺画素の平均値をそれぞれ算出し、この平均値の差を信号レベル差として出力する。
補間値の切替・出力処理部210は、信号レベル差の算出部220からの信号レベル差に基づいて、最小値検出部130から出力された差分合計の最も小さい時の仮補間値、又は線形補間処理部200から出力された補間値のどちらか一方を選択して、正式な補間値として出力するものである。
即ち、信号レベル差の算出部220からの信号レベル差に閾値を設定し、信号レベル差が閾値以下の場合は、パターンマッチング処理120で算出した仮補間値を正式な補間値として出力し、信号レベル差が閾値を越えた場合は、線形補間処理部200で算出した補間値を正式な補間値として出力するものである。
この実施形態によれば、欠落画素Xに対して両側の周辺画素の信号レベル差が大きい場合、すなわち画像のエッジ部分が欠落画素になった場合、パターンマッチング処理での仮補間値の信頼性が低く、真値から大きく外れている場合があるため、従来の補間方法である線形補間の補間値を出力することによって解決するものである。
(第2の実施形態)
上述した第1の実施形態およびその変形例では、基本パターンと比較フレームの画素同士をオフセット調整してから差分を求めている方式とした。この第2の実施形態では、基本パターンと比較フレームの画素のエッジ成分をそれぞれ求め、求めたエッジ成分の差分を求める方式とするものである。なお、パターンマッチング処理する際の欠落画素位置や仮補間の方法は、第1の実施形態と同じである。
図16乃至図18は、第2の実施形態を示す。図16は、第2の実施形態で用いられる2つの微分フィルタを示す図である。図17は、第2の実施形態の画像補間装置を示すブロック図である。また、図18は、第2の実施形態の動作を示すフローチャートである。
この第2の実施形態のパターンマッチング処理においては、基本パターンと比較パターンの各画素のエッジ成分をそれぞれ求める。そして、基本パターンと比較パターンの同じ位置関係にある画素のエッジ成分の差分を絶対値で合計するものである。
このエッジ成分は、注目画素と隣接画素を使い、微分フィルタ処理して求めるものである。そして、ある探索範囲内で、エッジ成分の差分の絶対値の合計が最も小さい時のパターンが、マッチング度合いが高いと判断できるため、この時の仮補間値を正式な補間値として出力する。
図16(a)は、エッジ成分を求めるために使用する1次微分フィルタを示す図である。また、図16(b)は、エッジ成分を求めるために使用する2次微分フィルタを示す図である。第2の実施形態では、この1次微分フィルタ又は2次微分フィルタを使用して、基本フレームと比較フレームの各画素におけるエッジ成分を求める。
これを処理する画像補間装置は、図17に示す通りである。図12に示した第1の実施形態と違う点は、比較フレーム画素抽出部122と差分合計算出部128の間に比較フレームの各画素のエッジ成分を算出する算出部160が設けられていることである。また、仮補間値挿入部125と差分合計算出部128の間に仮補間値が挿入された基本フレームの各画素のエッジ成分を算出する算出部170が設けられていることである。
図18は、第2の実施形態の画像補間装置の動作を示すフローチャートであり、上述した<ステップ1>と<ステップ3>の動作は、第1の実施形態と同じある。したがって、<ステップ1>に対応する図18のステップS10乃至S60、および<ステップ3>に対応する図18のステップS120乃至S150の動作は、説明を省略する。
この第2の実施形態における<ステップ2>の工程では、エッジ成分を算出する算出部160によって比較フレームの各画素のエッジ成分を算出する(ステップS70a)。また、エッジ成分を算出する算出部170によって仮補間値が挿入された基本フレームの各画素のエッジ成分を算出する(ステップS80a)。
次に、前記算出部160,170からの出力を受ける差分合計算出部128は、基本フレームと比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のエッジ成分のそれぞれの差分を絶対値(abs)で合計Sを算出する(ステップS90a)。
例えば、エッジ成分を求めるために図16(a)の1次微分フィルタを用いた場合、差分合計算出部128によって、それぞれの差分を絶対値で合計Sを算出する値は、以下の通りである。
S=abs((Cn−3−Cn−4)−(An−3−An−4))+abs((Cn−2−Cn−3)−(An−2−An−3))+abs((Cn−1−Cn−2)−(An−1−An−2))+abs((C−Cn−1)−(A−An−1))
ここで、(Cn−3−Cn−4),(Cn−2−Cn−3),(Cn−1−Cn−2),(C−Cn−1)は、算出部160で算出される比較フレームのエッジ成分である。また、(An−3−An−4),(An−2−An−3),(An−1−An−2),(A−An−1)は、算出部170で算出される基本フレームのエッジ成分である。
また例えば、エッジ成分を求めるために図16(b)の2次微分フィルタを用いた場合、差分合計算出部128によって、それぞれの差分を絶対値(abs)で合計Sを算出する値は、以下の通りである。
gCn−3=(Cn−4−2×Cn−3+Cn−2)/2
gCn−2=(Cn−3−2×Cn−2+Cn−1)/2
gCn−1=(Cn−2−2×Cn−1+C)/2
gAn−3=(An−4−2×An−3+An−2)/2
gAn−2=(An−3−2×An−2+An−1)/2
gAn−1=(An−2−2×An−1+A)/2
S=abs(gCn−3−gAn−3)+abs(gCn−2−gAn−2)+abs(gCn−1−gAn−1
ここで、上記gCn−3,gCn−2,gCn−1は、算出部160で算出される比較フレームのエッジ成分である。また、gAn−3,gAn−2,gAn−1は、算出部170で算出される基本フレームのエッジ成分である。
そして、ステップS90aで求めた差分合計と、ステップS50で求めた仮補間値を内部メモリに保存する(ステップS120)。
上述した各実施形態によれば、複数のコンタクトイメージセンサの連結部分に対応する位置の画素データを精度良く補間することができる。また、基本パターンの欠落画素の周辺画素および比較パターンの欠落画素に対応する周辺画素を使い、これらの信号レベル及び信号変化量に適応した仮補間値を算出し、これを基本パターンの欠落画素に挿入することにより、パターンマッチングの検出精度を向上させることができる。更に、基本パターンと比較フレームの画素同士の差分を求めることにより、欠落画素に対し更に精度良く補間値を得ることができるようにした。
(第3の実施形態)
ここまでは、1ビットの欠落画素の補間処理について説明したが、複数ビットの欠落画素の補間にも適用することができる。以下、複数ビットの欠落画素の補間処理について詳細に説明する。この複数ビットの欠落画素の補間処理の場合は、第1の実施形態をそのまま適用することができるが、欠落画素数によって仮補間の計算回数が異なる点、および線形補間の計算式が異なっている。以下に、第1の実施形態と異なっている仮補間値の算出と、線形補間の計算式について説明する。
図12の仮補間用画素抽出部123は、欠落している複数ビットの画素の仮補間値の計算に使う画素を抽出する。例えば、図19に示すように、複数ビットの欠落画素An1,n2,‥Anm(mは、欠落画素数)が発生している場合、その両端画素An−1,n+1と、欠落画素とその両端画素と同じ位置関係にある比較パターンの画素Cn1,n2,‥Cnm,n−1,n+1を抽出する。
図19の例では、欠落画素An1の仮補間値の計算に使う画素はCn−1,n1,n+1,n−1,n+1である。また、欠落画素An2の仮補間値の計算に使う画素はCn−1,n2,n+1,n−1,n+1である。また、欠落画素Anmの仮補間値の計算に使う画素は、Cn−1,nm,n+1,n−1,n+1である。
欠落画素毎の仮補間値の計算に使用する画素が抽出されると、図12の仮補間値算出部124は、欠落画素An1,An2‥Anm毎の仮補間値を計算する。この仮補間値の計算は、欠落画素毎に応じて上述した補間式(1)乃至(6)のいずれか1つの演算処理、又は補間式(7)の演算処理が実行される。
ここで、上記補間式(1)乃至(6)による複数ビットの欠陥画素の仮補間値の計算式について、以下に説明する。この場合、図8(a)乃至(f)の欠陥画素Aは、図19の欠陥画素An1,An2,Anmに置き換える。また、比較画素Cは、図19の比較画素Cn1,Cn2,Cnmに置き換える。
その結果、図8(a)の信号変化の場合は、
n1=Cn1×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1)
n2=Cn2×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1)
nm=Cnm×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1)・・・ 補間式(9)
の演算により求める。
図8(b)の信号変化の場合は、
n1=(Cn1+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1)
n2=(Cn2+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1)
nm=(Cnm+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1)・・・ 補間式(10)
の演算により求める。
図8(c)の信号変化の場合は、
n1=(Cn1−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1
n2=(Cn2−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1
nm=(Cnm−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1・・・補間式(11)
の演算により求める。
図8(d)の信号変化の場合は、
n1=(Cn1−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1
n2=(Cn2−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1
nm=(Cnm−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1・・・補間式(12)
の演算により求める。
図8(e)の信号変化の場合は、
n1=(Cn1−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1
n2=(Cn2−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1
nm=(Cnm−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1・・・補間式(13)
の演算により求める。
図8(f)の信号変化の場合は、
n1=(Cn1−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1
n2=(Cn2−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1
nm=(Cnm−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1・・・補間式(14)
の演算により求める。
上記補間式(9)乃至(14)を用いない場合、仮補間値算出部124は、複数ビットの欠陥画素(An1,‥Anm)(mは欠落画素数)の仮補間値An1‥Anmを次の補間式(15)によって求めてもよい。
n1=(An−1+An+1)/2+((Cn1−Cn−1)+(Cn1−Cn+1))/2
nm=(An−1+An+1)/2+((Cnm−Cn−1)+(Cnm−Cn+1))/2・・・補間式(15)
ただし、比較画素Cn1,Cnmは、欠陥画素An1,Anmに対応する前記比較フレームの画素
次に、図14又は図15に示す線形補間処理部200は、例えば、図20に示すような信号の傾きに応じた補間処理を行う。すなわち、算出した欠落画素に対応する補間値An1,n2,‥Anmと、その両端画素An−1,n+1を使って、以下の計算式で線形補間した結果を出力する。なお、1ビットの画素欠落の場合も、下記の計算式を用いてもよい。
補間値An1=G×1+An−1
補間値An2=G×2+An−1
補間値Anm=G×m+An−1
ただし、m:欠落画素数、信号の傾きG=(An+1−An−1)/(m+1)
(2ビットの画素が欠落した場合の計算例)
次に、2ビットの画素An1,An2が欠落した場合の計算例を説明する。なお、フレーム画素数は「5」としている。
<ステップ1>
欠落画素An1,An2は、基本フレームの末尾又は先頭移動に位置させる。次に、基本フレームの欠落画素An1の両端画素An−1,An+1と、この欠落画素とその両端画素と同じ位置関係にある比較フレームの画素Cn−1,Cn1,Cn+1を使い、これらの使う画素の信号レベル及び信号変化量に適応した仮補間値An1を算出し、基本フレームの欠落画素An1に挿入する。
同様にして、基本フレームの欠落画素An2の両端画素An−1,An+1と、比較フレームの画素Cn−1,Cn2,Cn+1の画素を使い、仮補間値An2を算出し、欠落画素An2に挿入する。この仮補間値An1,An2の計算は、使う画素の信号レベル及び信号変化によって補間式(9)乃至(14)を使い分ける。
<ステップ2>
次に、基本フレームと比較フレームのフレーム平均値Aav,Cavを算出する。
比較フレームの平均値Cav=(Cn−3+Cn−2+Cn−1+Cn1+Cn2)/px
基本フレームFXの平均値Aav=(An−3+An−2+An−1+An1+An2)/px
px:フレームの画素数(本実施例では「5」)
次に、基本フレームと比較フレームの同じ位置関係にある画素同士(図20中のAn−3とCn−3,An−2とCn−2,An−1とCn−1,An1とCn1,An2とCn2)のそれぞれの差分を絶対値(abs)で合計Sして算出する。
合計S=abs(Cn−3−(An−3+Cav−Aav))+abs(Cn−2−(An−2+Cav−Aav))+abs(Cn−1−(An−1+Cav−Aav))+abs(Cn1−(An1+Cav−Aav))+abs(Cn2−(An2+Cav−Aav))
<ステップ3>
ステップ1とステップ2の処理を探索フレーム数だけ実行する。次に、探索フレーム数分の比較フレームと基本フレームの差分データにおいて、この中で最も差分データが小さい時のフレームがパターンマッチングの度合いが高いと判断できるため、この時の仮補間値を正式な補間値とする。
本実施形態によれば、複数ビットの欠陥画素が発生しても、最もマッチングした画素を使って補間できるため、補間性能が向上し、網点画像では縦縞が改善され、画像のエッジ部では偽色が改善される。
本発明は、上記した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜設計変更可能である。また、各実施形態を適宜組み合わせても良い。
FX‥基本フレーム、F1〜F12‥比較フレーム
100‥画像補間装置
110‥周辺画素抽出部
120-1〜120-n‥パターンマッチング処理部
130‥最小値検出部
140‥補間値出力部
121‥基本フレーム画素抽出部
122‥比較フレーム画素抽出部
123‥仮補間用画素抽出部
124‥仮補間値算出部
125‥仮補間値挿入部
126‥オフセット調整値算出部
127‥オフセット調整部
128‥差分合計算出部
160,170‥各画素のエッジ成分の算出部
200‥線形補間処理部
210‥補間値の切替・出力処理部
220‥信号レベル差の算出部

Claims (25)

  1. 多数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結し、その連結部を欠落画素として補間する画像補間装置において、
    前記欠落画素の周辺画素から、前記欠落画素を先頭又は末尾の位置とする3つ以上の連続する画素で構成される基本フレームと、少なくとも1つの画素はオーバーラップしていない連続する画素であって前記基本フレームと同じ画素数で構成される複数の比較フレームと抽出する周辺画素抽出手段と、
    前記欠落画素の前後の画素から成る第1の画素群と、前記複数の比較フレームの前記欠落画素と同じ位置の画素とその前後の画素から成る第2の画素群の信号レベル及び信号変化量に基づき、前記複数の比較フレーム毎に仮補間値を算出する仮補間値算出手段と、
    前記複数の比較フレーム毎に算出された前記仮補間値を前記基本フレームの前記欠落画素に代入し、それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームと、それに対応する前記比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のそれぞれの差分を絶対値で合計してパターンマッチングの度合いを算出する複数のパターンマッチング処理手段と、
    前記複数のパターンマッチング処理手段から出力される前記差分合計の最も小さいものに対応する前記仮補間値を正式な補間値として出力する出力手段と、
    を有することを特徴とする画像補間装置。
  2. 多数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結し、その連結部を欠落画素として補間する画像補間装置において、
    前記欠落画素の周辺画素から、前記欠落画素を先頭又は末尾の位置とする3つ以上の連続する画素で構成される基本フレームと、少なくとも1つの画素はオーバーラップしていない連続する画素であって前記基本フレームと同じ画素数で構成される複数の比較フレームと抽出する周辺画素抽出手段と、
    前記欠落画素の前後の画素から成る第1の画素群と、前記複数の比較フレームの前記欠落画素と同じ位置の画素とその前後の画素から成る第2の画素群の信号レベル及び信号変化量に基づき、前記複数の比較フレーム毎に仮補間値を算出する仮補間値算出手段と、
    前記複数の比較フレーム毎に算出された前記仮補間値を前記基本フレームの前記欠落画素に代入し、それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームと、それに対応する前記比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のそれぞれの差分を絶対値で合計してパターンマッチングの度合いを算出する複数のパターンマッチング処理手段と、
    前記複数のパターンマッチング処理手段から出力される前記差分合計の最も小さいものに対応する前記仮補間値を検出して検出手段と、
    前記欠落画素の両側画素の傾きに応じて補間値を出力する線形補間手段と、
    前記検出手段から出力される前記差分合計が所定の閾値以下である時は前記検出手段から出力される前記仮補間値を正式な補間値として出力し、前記差分合計が所定の閾値以上である時は前記線形補間手段から出力される補間値を正式な補間値として出力する出力手段と
    を有することを特徴とする画像補間装置。
  3. 多数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結し、その連結部を欠落画素として補間する画像補間装置において、
    前記欠落画素の周辺画素から、前記欠落画素を先頭又は末尾の位置とする3つ以上の連続する画素で構成される基本フレームと、少なくとも1つの画素はオーバーラップしていない連続する画素であって前記基本フレームと同じ画素数で構成される複数の比較フレームと抽出する周辺画素抽出手段と、
    前記欠落画素の前後の画素から成る第1の画素群と、前記複数の比較フレームの前記欠落画素と同じ位置の画素とその前後の画素から成る第2の画素群の信号レベル及び信号変化量に基づき、前記複数の比較フレーム毎に仮補間値を算出する仮補間値算出手段と、
    前記複数の比較フレーム毎に算出される前記仮補間値を前記基本フレームの前記欠落画素に代入し、それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームと、それに対応する前記比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のそれぞれの差分を絶対値で合計してパターンマッチングの度合いを算出する複数のパターンマッチング処理手段と、
    前記複数のパターンマッチング処理手段から出力される前記差分合計の最も小さいものに対応する前記仮補間値を検出する検出手段と、
    前記欠落画素の両側画素の傾きに応じて補間値を出力する線形補間手段と、
    前記欠落画素の欠落画素の一方側の周辺画素の平均値と、他方側の周辺画素の平均値をそれぞれ算出し、この平均値の差を信号レベル差として出力する信号レベル差の算出手段と、
    前記信号レベル差が所定の閾値以下である時は前記検出手段から出力される前記仮補間値を正式な補間値として出力し、前記信号レベル差が所定の閾値以上である時は前記線形補間手段から出力される補間値を正式な補間値として出力する出力手段と、
    を有することを特徴とする画像補間装置。
  4. 前記仮補間値算出手段は、
    前記第2の画素群(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がない凹凸型の信号変化で、かつ、
    前記第2の画素群(Cn−1,C,Cn+1)の信号レベルが前記第1の画素群(An−1,An+1)より大きい場合は次の補間式(1)によって前記仮補間値Aを算出し、前記第2の画素群の信号レベルが前記第1の画素群より小さい場合は次の補間式(2)によって前記仮補間値Aを算出することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の画像補間装置。
    =C×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1) ・・・ 補間式(1)
    =(C+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1) ・・・ 補間式(2)
  5. 前記仮補間値算出手段は、
    前記第2の画素群(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がある傾斜型で、かつ前記第1の画素群(An−1,An+1)と前記第2の画素群(Cn−1,C,Cn+1)の関係が、
    n−1<An+1かつCn−1<Cn+1の場合は次の補間式(3)によって前記仮補間値を算出し、An−1>An+1かつCn−1<Cn+1の場合は次の補間式(4)によって前記仮補間値を算出し、An−1>An+1かつCn−1>Cn+1の場合は次の補間式(5)によって前記仮補間値を算出し、An−1<An+1かつCn−1>Cn+1の場合は次の補間式(6)によって前記仮補間値を算出することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の画像補間装置。
    =(C−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1・・・補間式(3)
    =(C−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1・・・補間式(4)
    =(C−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1・・・補間式(5)
    =(C−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1・・・補間式(6)
  6. 前記仮補間値算出手段は、
    前記基本フレームでは前記欠落画素Aの両端画素An-1,An+1の平均値を求め、前記比較フレームでは前記基本パターンの欠落画素と同じ位置関係にある画素Cとその両端画素Cn−1,Cn+1から信号勾配を求め、これらを加算する次の補間式(7)により求めることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の画像補間装置。
    =(An−1+An+1)/2+((C−Cn−1)+(C−Cn+1))/2・・・補間式(7)
  7. 前記仮補間値算出手段は、
    前記基本フレームでは前記欠落画素Aを除いた少なくとも3画素An−3,An−2,An−1の平均値Aavを求め、前記比較フレームでは前記基本パターンの欠落画素と同じ位置関係にある画素Cを除いた少なくとも3画素Cn−3,Cn−2,Cn−1の平均値Cavを求め、これらの平均値の差分から仮補間用のオフセット調整値(Aav−Cav)を求め、この求めた仮補間用のオフセット調整値に、基本パターンの欠落画素と同じ位置関係にある比較パターンの画素Cの値を加算する次の補間式(8)により求めることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の画像補間装置。
    Aav=(An−3+An−2+An−1)/(px−1)
    Cav=(Cn−3+Cn−2+Cn−1)/(px−1)
    =C+Aav−Cav・・・補間式(8)
    ただし、px:フレームの画素数(4以上)
  8. 前記複数のパターンマッチング処理手段は、それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームと、それに対応する前記比較フレームを用いてオフセット調整値を算出するオフセット調整値算出手段を更に有し、
    前記オフセット調整値算出手段は、前記仮補間値を持つ前記基本フレームの平均値Aavとそれに対応する前記比較フレームの平均値Cavを算出し、前記平均値Cavと前記平均値Aavの差分によりオフセット調整値(Cav−Aav)を算出することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の画像補間装置。
  9. 前記仮補間値算出手段は、複数ビットの欠陥画素(An1,‥Anm)(mは欠落画素数)を補間する場合、
    前記補間式(1)に代えて次の補間式(9)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出し、
    前記補間式(2)に代えて次の補間式(10)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出する
    ことを特徴とする請求項4に記載の画像補間装置。
    n1=Cn1×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1
    nm=Cnm×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1)・・・・・・補間式(9)
    n1=(Cn1+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1)
    nm=(Cnm+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1)・・・ 補間式(10)
    ただし、比較画素Cn1,Cnmは、欠陥画素An1,Anmに対応する前記比較フレームの画素
  10. 前記仮補間値算出手段は、複数ビットの欠陥画素(An1,‥Anm)(mは欠落画素数)を補間する場合、
    前記補間式(3)に代えて次の補間式(11)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出し、
    前記補間式(4)に代えて次の補間式(12)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出し、
    前記補間式(5)に代えて次の補間式(13)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出し、
    前記補間式(6)に代えて次の補間式(14)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出する
    ことを特徴とする請求項5に記載の画像補間装置。
    n1=(Cn1−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1
    nm=(Cnm−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1・・・補間式(11)
    n1=(Cn1−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1
    nm=(Cnm−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1・・・補間式(12)
    n1=(Cn1−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1
    nm=(Cnm−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1・・・補間式(13)
    n1=(Cn1−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1
    nm=(Cnm−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1・・・補間式(14)
    ただし、比較画素Cn1,Cnmは、欠陥画素An1,Anmに対応する前記比較フレームの画素
  11. 前記仮補間値算出手段は、複数ビットの欠陥画素(An1,‥Anm)(mは欠落画素数)を補間する場合、
    前記補間式(7)に代えて次の補間式(15)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出することを特徴とする請求項6に記載の画像補間装置。
    n1=(An−1+An+1)/2+((Cn1−Cn−1)+(Cn1−Cn+1))/2
    nm=(An−1+An+1)/2+((Cnm−Cn−1)+(Cnm−Cn+1))/2・・・補間式(15)
    ただし、比較画素Cn1,Cnmは、欠陥画素An1,Anmに対応する前記比較フレームの画素
  12. 前記複数のパターンマッチング処理手段は、前記複数の比較フレーム毎に算出された前記オフセット調整値をそれぞれの前記基本フレームに加算して、このオフセット調整されたそれぞれの前記基本フレームと、それに対応する前記比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のそれぞれの差分を合計して、前記差分合計を算出する差分合計算出手段を更に有することを特徴とする請求項8に記載の画像補間装置。
  13. 前記複数のパターンマッチング処理手段は、
    それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームの各画素のエッジ成分を算出する第1エッジ成分算出部と、
    前記比較フレームの各画素のエッジ成分を算出する第2エッジ成分算出部と、
    前記第1及び第2エッジ成分算出部からの出力を受け、前記基本フレームと前記比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のエッジ成分のそれぞれの差分を絶対値で合計値を算出する差分合計算出手段と、
    を更に有することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の画像補間装置。
  14. 前記第1及び第2エッジ成分算出部は、前記基本フレームと前記比較フレームの前記エッジ成分を1次微分フィルタ又は2次微分フィルタによって算出することを特徴とする請求項13に記載の画像補間装置。
  15. 多数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結し、その連結部を欠落画素として補間する画像補間プログラムであって、
    前記欠落画素の周辺画素から、前記欠落画素を先頭又は末尾の位置とする3つ以上の連続する画素で構成される基本フレームと、少なくとも1つの画素はオーバーラップしていない連続する画素であって前記基本フレームと同じ画素数で構成される複数の比較フレームと抽出する周辺画素抽出機能と、
    前記欠落画素の前後の画素から成る第1の画素群と、前記複数の比較フレームの前記欠落画素と同じ位置の画素とその前後の画素から成る第2の画素群の信号レベル及び信号変化量に基づき、前記複数の比較フレーム毎に仮補間値を算出する仮補間値算出機能と、
    前記複数の比較フレーム毎に算出された前記仮補間値を前記基本フレームの前記欠落画素に代入し、それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームと、それに対応する前記比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のそれぞれの差分を絶対値で合計してパターンマッチングの度合いを算出する複数のパターンマッチング処理機能と、
    前記複数のパターンマッチング処理機能から出力される前記差分合計の最も小さいものに対応する前記仮補間値を正式な補間値として出力する出力機能と、
    を有することを特徴とする画像補間プログラム。
  16. 前記仮補間値算出機能は、
    前記第2の画素群(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がない凹凸型の信号変化で、かつ、
    前記第2の画素群(Cn−1,C,Cn+1)の信号レベルが前記第1の画素群(An−1,An+1)より大きい場合は次の補間式(1)によって前記仮補間値Aを算出し、前記第2の画素群の信号レベルが前記第1の画素群より小さい場合は次の補間式(2)によって前記仮補間値Aを算出することを特徴とする請求項15に記載の画像補間プログラム。
    =C×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1) ・・・ 補間式(1)
    =(C+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1) ・・・ 補間式(2)
  17. 前記仮補間値算出機能は、
    前記第2の画素群(Cn−1,C,Cn+1)の信号変化に連続性がある傾斜型で、かつ前記第1の画素群(An−1,An+1)と前記第2の画素群(Cn−1,C,Cn+1)の関係が、
    n−1<An+1かつCn−1<Cn+1の場合は次の補間式(3)によって前記仮補間値を算出し、An−1>An+1かつCn−1<Cn+1の場合は次の補間式(4)によって前記仮補間値を算出し、An−1>An+1かつCn−1>Cn+1の場合は次の補間式(5)によって前記仮補間値を算出し、An−1<An+1かつCn−1>Cn+1の場合は次の補間式(6)によって前記仮補間値を算出することを特徴とする請求項15に記載の画像補間プログラム。
    =(C−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1・・・補間式(3)
    =(C−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1・・・補間式(4)
    =(C−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1・・・補間式(5)
    =(C−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1・・・補間式(6)
  18. 前記仮補間値算出機能は、
    前記基本フレームでは前記欠落画素Aの両端画素An−1,An+1の平均値を求め、前記比較フレームでは前記基本パターンの欠落画素と同じ位置関係にある画素Cとその両端画素Cn−1,Cn+1から信号勾配を求め、これらを加算する次の補間式(7)により求めることを特徴とする請求項15に記載の画像補間プログラム。
    =(An−1+An+1)/2+((C−Cn−1)+(C−Cn+1))/2・・・補間式(7)
  19. 前記仮補間値算出機能は、
    前記基本フレームでは前記欠落画素Anを除いた少なくとも3画素An−3,An−2,An−1の平均値Aavを求め、前記比較フレームでは前記基本パターンの欠落画素と同じ位置関係にある画素Cを除いた少なくとも3画素Cn−3,Cn−2,Cn−1の平均値Cavを求め、これらの平均値の差分から仮補間用のオフセット調整値(Aav−Cav)を求め、この求めた仮補間用のオフセット調整値に、基本パターンの欠落画素と同じ位置関係にある比較パターンの画素Cの値を加算する次の補間式(8)により求めることを特徴とする請求項15に記載の画像補間プログラム。
    Aav=(An−3+An−2+An−1)/(px−1)
    Cav=(Cn−3+Cn−2+Cn−1)/(px−1)
    =C+Aav−Cav・・・補間式(8)
    ただし、px:フレームの画素数(4以上)
  20. 前記仮補間値算出機能は、複数ビットの欠陥画素(An1,‥Anm)(mは欠落画素数)を補間する場合、
    前記補間式(1)に代えて次の補間式(9)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出し、
    前記補間式(2)に代えて次の補間式(10)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出する
    ことを特徴とする請求項16に記載の画像補間プログラム。
    n1=Cn1×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1
    nm=Cnm×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1)・・・・・・補間式(9)
    n1=(Cn1+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1)
    nm=(Cnm+(An−1+An+1)/2)×(An−1+An+1)/(Cn−1+Cn+1+An−1+An+1)・・・ 補間式(10)
    ただし、比較画素Cn1,Cnmは、欠陥画素An1,Anmに対応する前記比較フレームの画素
  21. 前記仮補間値算出機能は、複数ビットの欠陥画素(An1,‥Anm)(mは欠落画素数)を補間する場合、
    前記補間式(3)に代えて次の補間式(11)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出し、
    前記補間式(4)に代えて次の補間式(12)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出し、
    前記補間式(5)に代えて次の補間式(13)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出し、
    前記補間式(6)に代えて次の補間式(14)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出する
    ことを特徴とする請求項17に記載の画像補間プログラム。
    n1=(Cn1−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1
    nm=(Cnm−Cn−1)×(An+1−An−1)/(Cn+1−Cn−1)+An−1・・・補間式(11)
    n1=(Cn1−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1
    nm=(Cnm−Cn−1)×(An−1−An+1)/(Cn+1−Cn−1)+An+1・・・補間式(12)
    n1=(Cn1−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1
    nm=(Cnm−Cn+1)×(An−1−An+1)/(Cn−1−Cn+1)+An+1・・・補間式(13)
    n1=(Cn1−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1
    nm=(Cnm−Cn+1)×(An+1−An−1)/(Cn−1−Cn+1)+An−1・・・補間式(14)
    ただし、比較画素Cn1,Cnmは、欠陥画素An1,Anmに対応する前記比較フレームの画素
  22. 前記仮補間値算出機能は、複数ビットの欠陥画素(An1,‥Anm)(mは欠落画素数)を補間する場合、
    前記補間式(7)に代えて次の補間式(15)よって前記欠陥画素(An1,‥Anm)の仮補間値An1‥Anmを算出することを特徴とする請求項18に記載の画像補間プログラム。
    n1=(An−1+An+1)/2+((Cn1−Cn−1)+(Cn1−Cn+1))/2
    nm=(An−1+An+1)/2+((Cnm−Cn−1)+(Cnm−Cn+1))/2・・・補間式(15)
    ただし、比較画素Cn1,Cnmは、欠陥画素An1,Anmに対応する前記比較フレームの画素
  23. 前記複数のパターンマッチング処理機能は、それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームと、それに対応する前記比較フレームを用いてオフセット調整値を算出するオフセット調整値算出機能を更に有し、
    オフセット調整値算出機能は、前記仮補間値を持つ前記基本フレームの平均値Aavとそれに対応する前記比較フレームの平均値Cavを算出し、前記平均値Cavと前記平均値Aavの差分によりオフセット調整値(Cav−Aav)を算出することを特徴とする請求項15に記載の画像補間プログラム。
  24. 前記複数のパターンマッチング処理機能は、前記複数の比較フレーム毎に算出された前記オフセット調整値をそれぞれの前記基本フレームに加算して、このオフセット調整されたそれぞれの前記基本フレームと、それに対応する前記比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のそれぞれの差分を合計して、前記差分合計を算出することを特徴とする請求項23に記載の画像補間プログラム。
  25. 前記複数のパターンマッチング処理機能は、
    それぞれの前記仮補間値を持つ前記基本フレームの各画素のエッジ成分を算出する第1エッジ成分算出機能と、
    前記比較フレームの各画素のエッジ成分を算出する第2エッジ成分算出機能と、
    前記第1及び第2エッジ成分算出部からの出力を受け、前記基本フレームと前記比較フレームの同じ位置関係にある画素同士のエッジ成分のそれぞれの差分を絶対値で合計値を算出する差分合計算出機能と、
    を更に有することを特徴とする請求項15に記載の画像補間プログラム。
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